JP2019165199A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2019165199A5
JP2019165199A5 JP2019001526A JP2019001526A JP2019165199A5 JP 2019165199 A5 JP2019165199 A5 JP 2019165199A5 JP 2019001526 A JP2019001526 A JP 2019001526A JP 2019001526 A JP2019001526 A JP 2019001526A JP 2019165199 A5 JP2019165199 A5 JP 2019165199A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
value
pixels
exposure
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019001526A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2019165199A (ja
JP7299705B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of JP2019165199A publication Critical patent/JP2019165199A/ja
Publication of JP2019165199A5 publication Critical patent/JP2019165199A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7299705B2 publication Critical patent/JP7299705B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2019001526A 2018-01-09 2019-01-09 非線形的線量およびブラー(ボケ)に依存するエッジ配置の補正 Active JP7299705B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP18150797 2018-01-09
EP18150797.1 2018-01-09

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2019165199A JP2019165199A (ja) 2019-09-26
JP2019165199A5 true JP2019165199A5 (enExample) 2022-01-11
JP7299705B2 JP7299705B2 (ja) 2023-06-28

Family

ID=60953712

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019001526A Active JP7299705B2 (ja) 2018-01-09 2019-01-09 非線形的線量およびブラー(ボケ)に依存するエッジ配置の補正

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP3518272B1 (enExample)
JP (1) JP7299705B2 (enExample)
KR (1) KR102652218B1 (enExample)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112172155A (zh) * 2020-08-04 2021-01-05 深圳市创必得科技有限公司 3d打印的边缘柔化方法、装置、存储介质及3d打印机
CN113529533A (zh) * 2021-07-12 2021-10-22 江苏三叶人造草坪有限公司 一种自带缓冲垫的免填充草坪
CN114093956A (zh) * 2021-11-03 2022-02-25 通威太阳能(合肥)有限公司 一种网格栅线胶水印刷质量检测方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6269472B1 (en) * 1996-02-27 2001-07-31 Lsi Logic Corporation Optical proximity correction method and apparatus
JP2000239923A (ja) * 1999-02-19 2000-09-05 Unitika Ltd 抗菌性人工芝用ヤーン及び抗菌性人工芝
US6665856B1 (en) * 2000-12-01 2003-12-16 Numerical Technologies, Inc. Displacing edge segments on a fabrication layout based on proximity effects model amplitudes for correcting proximity effects
US7302111B2 (en) 2001-09-12 2007-11-27 Micronic Laser Systems A.B. Graphics engine for high precision lithography
GB2399676B (en) 2003-03-21 2006-02-22 Ims Ionen Mikrofab Syst Apparatus for enhancing the lifetime of stencil masks
GB2414111B (en) 2004-04-30 2010-01-27 Ims Nanofabrication Gmbh Advanced pattern definition for particle-beam processing
KR101350980B1 (ko) * 2007-12-31 2014-01-15 삼성전자주식회사 Cd 선형성을 보정할 수 있는 가변 성형 빔을 이용한 노광방법 및 이를 이용한 패턴 형성 방법
US20130070222A1 (en) * 2011-09-19 2013-03-21 D2S, Inc. Method and System for Optimization of an Image on a Substrate to be Manufactured Using Optical Lithography
JP5495540B2 (ja) * 2008-09-18 2014-05-21 株式会社ニューフレアテクノロジー 描画方法及び描画装置
EP2187427B1 (en) 2008-11-17 2011-10-05 IMS Nanofabrication AG Method for maskless particle-beam exposure
EP2190003B1 (en) * 2008-11-20 2014-10-01 IMS Nanofabrication AG Constant current multi-beam patterning
US8198601B2 (en) 2009-01-28 2012-06-12 Ims Nanofabrication Ag Method for producing a multi-beam deflector array device having electrodes
JP2010250286A (ja) * 2009-03-23 2010-11-04 Toshiba Corp フォトマスク、半導体装置、荷電ビーム描画装置
JP5256106B2 (ja) * 2009-04-16 2013-08-07 ダイヤテックス株式会社 難燃性人工芝生
US8703389B2 (en) 2011-06-25 2014-04-22 D2S, Inc. Method and system for forming patterns with charged particle beam lithography
JP5743955B2 (ja) * 2012-05-28 2015-07-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン検査装置およびパターン検査方法
JP5960557B2 (ja) * 2012-09-04 2016-08-02 積水樹脂株式会社 人工芝生
EP2830083B1 (en) 2013-07-25 2016-05-04 IMS Nanofabrication AG Method for charged-particle multi-beam exposure
EP2913838B1 (en) 2014-02-28 2018-09-19 IMS Nanofabrication GmbH Compensation of defective beamlets in a charged-particle multi-beam exposure tool
EP2950325B1 (en) 2014-05-30 2018-11-28 IMS Nanofabrication GmbH Compensation of dose inhomogeneity using overlapping exposure spots
JP6399880B2 (ja) * 2014-09-26 2018-10-03 泉州敷物株式会社 抗菌用人工芝生
US9653263B2 (en) * 2015-03-17 2017-05-16 Ims Nanofabrication Ag Multi-beam writing of pattern areas of relaxed critical dimension
KR102302015B1 (ko) 2015-03-17 2021-09-15 아이엠에스 나노패브릭케이션 게엠베하 완화된 임계 치수의 패턴 에어리어의 멀티빔 기록
US10381196B2 (en) * 2015-03-23 2019-08-13 Nuflare Technology, Inc. Charged particle beam writing apparatus and method for calculating irradiation coefficient
JP2016225357A (ja) * 2015-05-27 2016-12-28 株式会社ニューフレアテクノロジー マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法
EP3258479B1 (en) 2016-06-13 2019-05-15 IMS Nanofabrication GmbH Method for compensating pattern placement errors caused by variation of pattern exposure density in a multi-beam writer
JP6838301B2 (ja) * 2016-06-27 2021-03-03 住友ゴム工業株式会社 人工芝
CN107190617A (zh) * 2017-06-30 2017-09-22 青岛青禾人造草坪股份有限公司 仿天然草的人造草坪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2016029715A5 (enExample)
JP2019165199A5 (enExample)
DE112016004540T5 (de) Kamerakalibrierung unter Verwendung von synthetischen Bildern
JP7117914B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム
JP7392805B2 (ja) 描画データ生成プログラム、マルチ荷電粒子ビーム描画プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体
US11774860B2 (en) Writing data generating method, multi charged particle beam writing apparatus, pattern inspecting apparatus, and computer-readable recording medium
JP2018520411A (ja) 車両周辺部のバーチャル画像を作成するための方法
JP2019145015A (ja) コンピュータプログラム、画像処理装置及び画像処理方法
US20100237469A1 (en) Photomask, semiconductor device, and charged beam writing apparatus
CN118024585A (zh) 三维物体表面补偿方法、装置、电子设备及存储介质
JP2012222068A (ja) 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法
JP6881168B2 (ja) マルチビーム電子線描画装置における露光強度分布を求める方法および装置
US20040089822A1 (en) Charged-particle beam writer
JP6342304B2 (ja) データ補正装置、描画装置、検査装置、データ補正方法、描画方法、検査方法およびプログラム
CN110737178A (zh) 描绘数据生成方法、计算机可读记录介质及多带电粒子束描绘装置
JP3555484B2 (ja) 電子線描画装置、および描画方法
CN116368433B (zh) 用于设置相对激光强度的设备和方法
JPWO2012035892A1 (ja) 描画方法及び描画装置
TWI900677B (zh) 用於對複數個像素設定各自相對雷射強度的裝置及方法、電腦可讀媒體、電腦程式及遮罩書寫器系統
WO2018061960A1 (ja) マルチビーム電子線描画装置における露光強度分布を求める方法および装置
WO2012049901A1 (ja) 描画方法及び描画装置
JP2018077767A (ja) 投影システム及び造形装置
JP6651776B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及び、プログラム
JP4872108B2 (ja) 濃度調整処理方法、それを実行させるためのプログラム及び濃度調整処理装置
CN113409222B (zh) 图像处理方法、打印方法、打印相关装置及可读存储介质