JP2019165162A - 抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 - Google Patents
抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019165162A JP2019165162A JP2018053134A JP2018053134A JP2019165162A JP 2019165162 A JP2019165162 A JP 2019165162A JP 2018053134 A JP2018053134 A JP 2018053134A JP 2018053134 A JP2018053134 A JP 2018053134A JP 2019165162 A JP2019165162 A JP 2019165162A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- resistance change
- ions
- resistance
- active material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000008859 change Effects 0.000 title claims abstract description 170
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 65
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 13
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 249
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 354
- 239000007774 positive electrode material Substances 0.000 description 86
- 239000007773 negative electrode material Substances 0.000 description 59
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 description 51
- 239000000463 material Substances 0.000 description 23
- 230000006870 function Effects 0.000 description 15
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 9
- 229910012851 LiCoO 2 Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 7
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 5
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 5
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 4
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 4
- 229910000625 lithium cobalt oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- BFZPBUKRYWOWDV-UHFFFAOYSA-N lithium;oxido(oxo)cobalt Chemical compound [Li+].[O-][Co]=O BFZPBUKRYWOWDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018119 Li 3 PO 4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010500 Li2.9PO3.3N0.46 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010707 LiFePO 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910014689 LiMnO Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910013290 LiNiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910012465 LiTi Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
【課題】抵抗変化素子として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようにし、その特性を向上させる。【解決手段】抵抗変化素子1を、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層2と、柱状の抵抗変化層の外周を覆うように設けられ、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3と、イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層4とを備えるものとする。【選択図】図1
Description
本発明は、抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置に関する。
従来、正極活物質層と負極活物質層の間で電解質層を通ってイオンが移動することで充電、放電を行なう二次電池の原理を用い、その構成を利用した情報記憶素子が提案されている。
ところで、記憶装置に備えられる抵抗変化素子に上述の二次電池の構成を適用する場合、例えば、正極活物質層を、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層に利用し、電解質層を、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層に利用し、負極活物質層を、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層に利用することが考えられる。
この場合、抵抗変化層とイオン吸蔵放出層の間でイオン伝導層を通ってイオンが移動することで、抵抗変化層のイオンの量が変化し、これに応じて抵抗が変化するため、抵抗変化素子として機能させることができる。
しかしながら、抵抗変化層とイオン吸蔵放出層の間でのイオン伝導層を通したイオンの移動が不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分であり、十分な特性が得られないことがわかった。
しかしながら、抵抗変化層とイオン吸蔵放出層の間でのイオン伝導層を通したイオンの移動が不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分であり、十分な特性が得られないことがわかった。
本発明は、抵抗変化素子として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようにし、その特性を向上させることを目的とする。
1つの態様では、抵抗変化素子は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層と、柱状の抵抗変化層の外周を覆うように設けられ、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層とを備える。
1つの態様では、抵抗変化素子は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層と、柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように設けられ、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層とを備える。
1つの態様では、抵抗変化素子は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層と、柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように設けられ、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層とを備える。
1つの態様では、記憶装置は、上述の抵抗変化素子と、抵抗変化素子に接続され、抵抗変化素子へ情報の書き込みを行なう書込回路と、抵抗変化素子に接続され、抵抗変化素子から情報の読み出しを行なう読出回路とを備える。
1つの態様では、抵抗変化素子の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層を形成する工程と、柱状の抵抗変化層の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、イオン伝導層の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層を形成する工程とを含む。
1つの態様では、抵抗変化素子の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層を形成する工程と、柱状の抵抗変化層の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、イオン伝導層の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層を形成する工程とを含む。
1つの態様では、抵抗変化素子の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層を形成する工程と、柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、イオン伝導層の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層を形成する工程とを含む。
1つの側面として、抵抗変化素子として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようにし、その特性を向上させることができるという効果を有する。
以下、図面により、本発明の実施の形態にかかる抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置について、図1〜図13を参照しながら説明する。
本実施形態にかかる抵抗変化素子は、正極活物質層と負極活物質層の間で電解質層を通ってイオンが移動することで充電、放電を行なう二次電池の構成を適用した抵抗変化素子である。なお、二次電池を固体二次電池又はイオン電池ともいう。
本実施形態にかかる抵抗変化素子は、正極活物質層と負極活物質層の間で電解質層を通ってイオンが移動することで充電、放電を行なう二次電池の構成を適用した抵抗変化素子である。なお、二次電池を固体二次電池又はイオン電池ともいう。
つまり、二次電池の正極活物質層を、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、このイオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層に利用し、電解質層を、このイオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層に利用し、負極活物質層を、このイオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層に利用する。
この場合、抵抗変化層とイオン吸蔵放出層の間でイオン伝導層を通ってイオンが移動することで、抵抗変化層のイオンの量が変化し、これに応じて抵抗が変化するため、抵抗変化素子として機能させることができる。
この場合、抵抗変化層とイオン吸蔵放出層の間でイオン伝導層を通ってイオンが移動することで、抵抗変化層のイオンの量が変化し、これに応じて抵抗が変化するため、抵抗変化素子として機能させることができる。
また、抵抗変化層の中のイオンの量を連続的に変化させ、その抵抗を連続的に変化させることもできるため、多くの抵抗値を記憶することができる多値抵抗変化素子を実現することも可能である。
このため、図1に示すように、本実施形態の抵抗変化素子1は、基板9上に、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、このイオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層2と、このイオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3と、このイオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層4とを備える。なお、図1では層間酸化膜は省略している。
このため、図1に示すように、本実施形態の抵抗変化素子1は、基板9上に、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、このイオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層2と、このイオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3と、このイオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層4とを備える。なお、図1では層間酸化膜は省略している。
ここで、抵抗変化層2は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、このイオンの量に応じて抵抗が変化する材料からなる。また、イオン伝導層3は、このイオンを伝導し、電子を伝導しない材料からなる。また、イオン吸蔵放出層4は、このイオンを吸蔵、放出できる材料からなる。
本実施形態では、抵抗変化層2は、イオン電池に用いられる正極活物質からなる正極活物質層であり、イオン吸蔵放出層4は、イオン電池に用いられる負極活物質からなる負極活物質層であり、イオン伝導層3は、イオン電池に用いられる固体電解質からなる固体電解質層である。
本実施形態では、抵抗変化層2は、イオン電池に用いられる正極活物質からなる正極活物質層であり、イオン吸蔵放出層4は、イオン電池に用いられる負極活物質からなる負極活物質層であり、イオン伝導層3は、イオン電池に用いられる固体電解質からなる固体電解質層である。
つまり、本実施形態の抵抗変化素子1は、固体電解質材料を含む抵抗変化素子であって、固体電解質層3を正極活物質層2と負極活物質層4で挟んだ構造を有する。
このような抵抗変化素子1では、負極活物質、固体電解質、正極活物質は、固体電解質を通るイオンによって決められる。
例えば、Liイオンを用いる場合、負極活物質は、Li、C(黒鉛)、Si、Li4Ti5O12等、固体電解質は、Li3PO4、Li9Al3(P2O7)3(PO4)2、Li2.9PO3.3N0.46、(La,Li)TiO3等、正極活物質は、LiCoO2、LiNiO2、LiTi5O12、LiMnO2、LiFePO4等を用いれば良い。
このような抵抗変化素子1では、負極活物質、固体電解質、正極活物質は、固体電解質を通るイオンによって決められる。
例えば、Liイオンを用いる場合、負極活物質は、Li、C(黒鉛)、Si、Li4Ti5O12等、固体電解質は、Li3PO4、Li9Al3(P2O7)3(PO4)2、Li2.9PO3.3N0.46、(La,Li)TiO3等、正極活物質は、LiCoO2、LiNiO2、LiTi5O12、LiMnO2、LiFePO4等を用いれば良い。
なお、Liイオン以外のイオンを用いても良い。
例えば、Zn(亜鉛)イオンを用いる場合、負極活物質は、Zn等、固体電解質は、ZnZr4(PO4)6等、正極活物質は、MnO2等を用いれば良い。
また、例えば、Cu(銅)イオンを用いる場合、負極活物質は、Cu等、固体電解質は、RbCu4I2−XCl3+X(X=0.25〜0.5)等、正極活物質は、CunMnO3(n=0.4〜0.8)等を用いれば良い。
例えば、Zn(亜鉛)イオンを用いる場合、負極活物質は、Zn等、固体電解質は、ZnZr4(PO4)6等、正極活物質は、MnO2等を用いれば良い。
また、例えば、Cu(銅)イオンを用いる場合、負極活物質は、Cu等、固体電解質は、RbCu4I2−XCl3+X(X=0.25〜0.5)等、正極活物質は、CunMnO3(n=0.4〜0.8)等を用いれば良い。
特に、本実施形態では、図1に示すように、イオン伝導層3としての固体電解質層は、柱状の抵抗変化層2としての柱状の正極活物質層の外周を覆うように設けられている。
また、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層は、イオン伝導層3としての固体電解質層3の外周を覆うように設けられている。
この場合、イオン伝導層3としての固体電解質層は、柱状の抵抗変化層2としての柱状の正極活物質層の外周全体を覆うように設けられていることが好ましい。
また、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層は、イオン伝導層3としての固体電解質層3の外周を覆うように設けられている。
この場合、イオン伝導層3としての固体電解質層は、柱状の抵抗変化層2としての柱状の正極活物質層の外周全体を覆うように設けられていることが好ましい。
また、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層は、イオン伝導層3としての固体電解質層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることが好ましい。
このように、単に、正極活物質層2上に、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造(例えば図8参照)とするのではなく、柱状の正極活物質層2の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)が覆われるように、柱状の正極活物質層2の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層するようにしている。ここでは、正極活物質層2、固体電解質層3、負極活物質層4は、同心状に形成された同心円柱状構造となる。
このように、単に、正極活物質層2上に、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造(例えば図8参照)とするのではなく、柱状の正極活物質層2の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)が覆われるように、柱状の正極活物質層2の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層するようにしている。ここでは、正極活物質層2、固体電解質層3、負極活物質層4は、同心状に形成された同心円柱状構造となる。
これにより、図2に示すように、正極活物質層2の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)の面を介して、正極活物質層2と負極活物質層4の間での固体電解質層3を通したイオンの移動が生じることになる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
特に、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層2としての正極活物質層に対して、イオンを供給する負極活物質層4から効率的にイオンを供給することができ、イオンの量を大きく変化させることができるようになる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
ところで、本実施形態では、正極活物質層2の上部に電気的に接続され、情報(抵抗値)の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第1電極5と、正極活物質層2の下部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極6と、正極活物質層2の上下方向中間部に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第3電極7とが設けられている。このように、例えば図8に示すような構造のものと比較して、必要電極数を削減することが可能である。
この場合、情報(抵抗値)の書き込みを行なうときには、第1電極5と第3電極7の間に電圧を印加するか、第2電極6と第3電極7の間に電圧を印加するか、第1電極5と第3電極7の間及び第2電極6と第3電極7の間に電圧を印加すれば良い。また、情報の読み出しを行なうときは、第1電極5と第2電極6の間に電圧を印加すれば良い。
特に、本実施形態では、第1電極5は、正極活物質層2の上面全体に接するように設けられている。また、第2電極6は、正極活物質層2の下面全体に接するように設けられている。また、負極活物質層4は、第3電極7も兼ねている。これにより、必要電極数を削減することが可能である。ここで、第1電極5及び第2電極6は、金属電極とすれば良い。
特に、本実施形態では、第1電極5は、正極活物質層2の上面全体に接するように設けられている。また、第2電極6は、正極活物質層2の下面全体に接するように設けられている。また、負極活物質層4は、第3電極7も兼ねている。これにより、必要電極数を削減することが可能である。ここで、第1電極5及び第2電極6は、金属電極とすれば良い。
なお、これに限られるものではなく、例えば、第1電極5を、正極活物質層2の上面全体に接するように設け、第2電極6を、正極活物質層2の下面全体に接するように設け、第3電極7を、負極活物質層4の表面上に設けても良い。つまり、負極活物質層4とは別に第3電極7を設けても良い。ここで、第1電極5、第2電極6及び第3電極7は、金属電極とすれば良い。
次に、本実施形態にかかる抵抗変化素子1の製造方法について説明する。
本実施形態にかかる抵抗変化素子1の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層2を形成する工程と、柱状の抵抗変化層2の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3を形成する工程と、イオン伝導層3の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層4を形成する工程とを含む。
本実施形態にかかる抵抗変化素子1の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層2を形成する工程と、柱状の抵抗変化層2の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3を形成する工程と、イオン伝導層3の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層4を形成する工程とを含む。
以下、図3〜図6を参照しながら、具体例を挙げて説明する。
まず、図3(A)に示すように、例えばシリコン基板9上にシリコン酸化膜10を形成する。
ここで、シリコン酸化膜10の形成方法は、例えば、熱酸化やCVD(Chemical Vapor Deposition)等の方法を用いれば良い。なお、シリコン酸化膜10を形成するのではなく、シリコン窒化膜やシリコン窒化酸化膜等を形成しても良い。
まず、図3(A)に示すように、例えばシリコン基板9上にシリコン酸化膜10を形成する。
ここで、シリコン酸化膜10の形成方法は、例えば、熱酸化やCVD(Chemical Vapor Deposition)等の方法を用いれば良い。なお、シリコン酸化膜10を形成するのではなく、シリコン窒化膜やシリコン窒化酸化膜等を形成しても良い。
次に、図3(B)に示すように、第2電極6を構成する材料(電極材料;金属材料)からなる膜6Aを、例えばスパッタ法や蒸着法等によって形成する。
この電極材料は、後述する正極活物質層2を構成する材料と反応しない材料とするのが好ましい。ここでは、その一例として、チタン(Ti)と白金(Pt)を積層した膜を形成する。なお、TiはPtとシリコン酸化膜の密着性を向上させるために用いるものである。
この電極材料は、後述する正極活物質層2を構成する材料と反応しない材料とするのが好ましい。ここでは、その一例として、チタン(Ti)と白金(Pt)を積層した膜を形成する。なお、TiはPtとシリコン酸化膜の密着性を向上させるために用いるものである。
次に、図3(C)、図3(D)に示すように、柱状の抵抗変化層2としての柱状の正極活物質層を形成する。
つまり、まず、図3(C)に示すように、正極活物質層2を構成する材料からなる膜2Aを、例えばスパッタ法等によって形成する。
ここで、正極活物質層2を構成する材料(正極活物質)としては、例えばコバルト酸リチウム(LiCoO2)を用いれば良い。
つまり、まず、図3(C)に示すように、正極活物質層2を構成する材料からなる膜2Aを、例えばスパッタ法等によって形成する。
ここで、正極活物質層2を構成する材料(正極活物質)としては、例えばコバルト酸リチウム(LiCoO2)を用いれば良い。
そして、正極活物質層2を構成する材料からなる膜2Aの結晶化を行なうために熱処理を行なう。
この熱処理は、例えば酸素(O2)ガスがある状態(例えば大気、Ar+O2、O2のみの雰囲気中など)で行なえば良い。
このようにして正極活物質層2を構成する材料からなる膜2Aを結晶化した後、図3(D)に示すように、この膜2Aに対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて加工を行なって、柱状の正極活物質層2を形成する。
この熱処理は、例えば酸素(O2)ガスがある状態(例えば大気、Ar+O2、O2のみの雰囲気中など)で行なえば良い。
このようにして正極活物質層2を構成する材料からなる膜2Aを結晶化した後、図3(D)に示すように、この膜2Aに対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて加工を行なって、柱状の正極活物質層2を形成する。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE(Reactive Ion Etching)等によって行なえば良い。
次に、図3(E)、図3(F)、図4(A)に示すように、柱状の正極活物質層2の外周全体を覆うように、柱状の正極活物質層2と同心円状に、イオン伝導層3としての固体電解質層を形成する。
次に、図3(E)、図3(F)、図4(A)に示すように、柱状の正極活物質層2の外周全体を覆うように、柱状の正極活物質層2と同心円状に、イオン伝導層3としての固体電解質層を形成する。
つまり、まず、図3(E)に示すように、固体電解質層3を構成する材料からなる膜3Aを、例えばスパッタ法によって形成する。
ここで、固体電解質層3を構成する材料(固体電解質)としては、例えばLi3PO4を用いれば良い。
次に、図3(F)に示すように、この膜3Aに対して、例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing)法等を用いて平坦化処理を行なう。
ここで、固体電解質層3を構成する材料(固体電解質)としては、例えばLi3PO4を用いれば良い。
次に、図3(F)に示すように、この膜3Aに対して、例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing)法等を用いて平坦化処理を行なう。
次に、図4(A)に示すように、この膜3Aに対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて加工を行なって、柱状の正極活物質層2の外周全体を覆うように、柱状の正極活物質層2と同心円状に、固体電解質層3を形成する。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE等によって行なえば良い。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE等によって行なえば良い。
次に、図4(B)に示すように、上述のようにして形成した電極材料からなる膜6A(ここではTi膜上にPt膜を積層した積層膜;Pt/Ti積層膜)に対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて加工を行なって、第2電極6を形成する。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE等によって行なえば良い。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE等によって行なえば良い。
次に、図4(C)に示すように、全体を覆うように、層間膜としてのシリコン酸化膜11を、例えばCVD法やスパッタ法等によって形成する。
次に、図4(D)に示すように、このシリコン酸化膜11に対して、例えばCMP法等を用いて平坦化処理を行なう。
次に、図4(E)に示すように、例えば炭化フッ素(CF4)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE法等によって全面エッチバックを行なう。これにより、次工程において負極活物質層4を形成する位置まで掘り下げる。
次に、図4(D)に示すように、このシリコン酸化膜11に対して、例えばCMP法等を用いて平坦化処理を行なう。
次に、図4(E)に示すように、例えば炭化フッ素(CF4)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE法等によって全面エッチバックを行なう。これにより、次工程において負極活物質層4を形成する位置まで掘り下げる。
次に、図5(A)、図5(B)に示すように、固体電解質層3の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層を形成する。
つまり、まず、図5(A)に示すように、負極活物質層4を構成する材料からなる膜4Aを、例えばスパッタ法又は蒸着法によって形成する。
ここで、負極活物質層4を構成する材料(負極活物質)としては、例えばLiを用いれば良い。
つまり、まず、図5(A)に示すように、負極活物質層4を構成する材料からなる膜4Aを、例えばスパッタ法又は蒸着法によって形成する。
ここで、負極活物質層4を構成する材料(負極活物質)としては、例えばLiを用いれば良い。
次に、図5(B)に示すように、この膜4Aに対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて加工を行なって、負極活物質層4を形成する。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE等によって行なえば良い。
次に、図5(C)に示すように、全体を覆うように、層間膜としてのシリコン酸化膜12を、例えばCVD法やスパッタ法等によって形成する。
ここで、加工は、例えば塩素(Cl2)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE等によって行なえば良い。
次に、図5(C)に示すように、全体を覆うように、層間膜としてのシリコン酸化膜12を、例えばCVD法やスパッタ法等によって形成する。
次に、図5(D)に示すように、このシリコン酸化膜12に対して、例えばCMP法等を用いて平坦化処理を行なう。このとき、固体電解質層3及び正極活物質層2の上面が露出するまでCMP処理を行なう。
次に、図5(E)に示すように、例えば炭化フッ素(CF4)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE法等によって、負極活物質層4が露出するまで全面エッチバックを行なう。
次に、図5(E)に示すように、例えば炭化フッ素(CF4)ガスとアルゴン(Ar)ガスを用いたRIE法等によって、負極活物質層4が露出するまで全面エッチバックを行なう。
次に、図6(A)に示すように、柱状の正極活物質層2及び固体電解質層3の側壁に沿って上方へ向けて突出している負極活物質層4の部分を、例えばアルゴン(Ar)リング法を用いて除去する。
このようにして、固体電解質層3の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように負極活物質層4が形成される。
このようにして、固体電解質層3の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように負極活物質層4が形成される。
次に、図6(B)に示すように、全体を覆うように、層間膜としてのシリコン酸化膜13を、例えばCVD法やスパッタ法等によって形成する。
次に、図6(C)に示すように、このシリコン酸化膜13に対して、例えばCMP法等を用いて平坦化処理を行なう。
次に、図6(D)に示すように、柱状の正極活物質層及び固体電解質層3上に、第1電極5を構成する材料(電極材料;金属材料)からなる膜5Aを、例えばスパッタ法等によって形成し、この膜5Aに対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて例えばRIE等による加工を行なって、第1電極5を形成する。
次に、図6(C)に示すように、このシリコン酸化膜13に対して、例えばCMP法等を用いて平坦化処理を行なう。
次に、図6(D)に示すように、柱状の正極活物質層及び固体電解質層3上に、第1電極5を構成する材料(電極材料;金属材料)からなる膜5Aを、例えばスパッタ法等によって形成し、この膜5Aに対して、例えばフォトレジストを用いて、露光、引き続いて例えばRIE等による加工を行なって、第1電極5を形成する。
次に、図6(E)に示すように、例えばアルミミウム(Al)やTi等を用いて、金属配線14(コンタクト部を含む)を形成する。なお、金属配線14は書込配線又は読出配線として用いられる。
このようにして、本実施形態の一例としての抵抗変化素子1を製造することができる。
ところで、上述の実施形態では、柱状の正極活物質層(抵抗変化層)2の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層(イオン伝導層)3、負極活物質層(イオン吸蔵放出層)4の順に積層した構造を例に挙げて説明しているが、これに限られるものではなく、逆に、図7に示すように、柱状の負極活物質層(イオン吸蔵放出層)4の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層(イオン伝導層)3、正極活物質層(抵抗変化層)2の順に積層した構造としても良い。
このようにして、本実施形態の一例としての抵抗変化素子1を製造することができる。
ところで、上述の実施形態では、柱状の正極活物質層(抵抗変化層)2の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層(イオン伝導層)3、負極活物質層(イオン吸蔵放出層)4の順に積層した構造を例に挙げて説明しているが、これに限られるものではなく、逆に、図7に示すように、柱状の負極活物質層(イオン吸蔵放出層)4の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層(イオン伝導層)3、正極活物質層(抵抗変化層)2の順に積層した構造としても良い。
この場合、抵抗変化素子1は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層4と、柱状のイオン吸蔵放出層4の外周を覆うように設けられ、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3と、イオン伝導層3の外周を覆うように設けられ、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層2とを備えるものとなる。
特に、イオン伝導層3は、柱状のイオン吸蔵放出層4の外周全体を覆うように設けられており、抵抗変化層2は、イオン伝導層3の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることが好ましい。
このように、単に、正極活物質層2上に、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造(例えば図8参照)とするのではなく、柱状の負極活物質層4の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)が覆われるように、柱状の負極活物質層4の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層3、正極活物質層2を順に積層するようにしている。ここでは、負極活物質層4、固体電解質層3、正極活物質層2は、同心状に形成された同心円柱状構造となる。
このように、単に、正極活物質層2上に、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造(例えば図8参照)とするのではなく、柱状の負極活物質層4の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)が覆われるように、柱状の負極活物質層4の外周上に、その径方向へ向けて、固体電解質層3、正極活物質層2を順に積層するようにしている。ここでは、負極活物質層4、固体電解質層3、正極活物質層2は、同心状に形成された同心円柱状構造となる。
これにより、負極活物質層4の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)の面を介して、負極活物質層4と正極活物質層2の間での固体電解質層3を通したイオンの移動が生じることになる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
特に、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層2としての正極活物質層に対して、イオンを供給する負極活物質層4から効率的にイオンを供給することができ、イオンの量を大きく変化させることができるようになる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
この結果、抵抗変化素子1として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようになり、その特性を向上させることができる。
この場合、イオン吸蔵放出層4の上部及び下部の少なくとも一方(ここでは下部)に電気的に接続され、情報(抵抗値)の書き込みに用いられる第1電極5Bと、イオン吸蔵放出層4及びイオン伝導層3を挟んで水平方向両側に位置する抵抗変化層2の第1部分2X及び第2部分2Yのそれぞれに電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極6B及び第3電極7Bとを備えるものとすれば良い。このように、例えば図8に示すような構造のものと比較して、必要電極数を削減することが可能である。ここで、第1電極5B、第2電極6B及び第3電極7Bは、金属電極とすれば良い。
この場合、情報(抵抗値)の書き込みを行なうときには、第1電極5Bと第2電極6Bの間に電圧を印加するか、第1電極5Bと第3電極7Bの間に電圧を印加するか、第1電極5Bと第2電極6Bの間及び第1電極5Bと第3電極7Bの間に電圧を印加すれば良い。また、情報の読み出しを行なうときは、第2電極6Bと第3電極7Bの間に電圧を印加すれば良い。
特に、本実施形態では、第1電極5Bは、イオン吸蔵放出層4の上面全体及び下面全体の少なくとも一方(ここでは下面全体)に接するように設けられており、第2電極6B及び第3電極7Bは、抵抗変化層2の第1部分2X及び第2部分2Yのそれぞれの表面上に設けられている。
この場合、抵抗変化素子1の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層4を形成する工程と、柱状のイオン吸蔵放出層4の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3を形成する工程と、イオン伝導層3の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層2を形成する工程とを含むものとすれば良い。
この場合、抵抗変化素子1の製造方法は、少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層4を形成する工程と、柱状のイオン吸蔵放出層4の外周を覆うように、イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層3を形成する工程と、イオン伝導層3の外周を覆うように、イオンを吸蔵、放出でき、イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層2を形成する工程とを含むものとすれば良い。
なお、その他の詳細は、上述の実施形態の場合と同様にすれば良い。
ところで、上述のような構成を採用しているのは、以下の理由による。
近年、人工知能(AI)と呼ばれる技術が注目を集め、技術開発が盛んに行なわれている。そのAI関連の技術の中でも、基本的な学習データを用いた機械学習が注目されている。
ところで、上述のような構成を採用しているのは、以下の理由による。
近年、人工知能(AI)と呼ばれる技術が注目を集め、技術開発が盛んに行なわれている。そのAI関連の技術の中でも、基本的な学習データを用いた機械学習が注目されている。
機械学習は、事前に基本的なデータを用いて、データの各要素の重要度に応じて重み付けをしている。この重み付けにより、新たな大量のデータに対して、機械自身が判断し、結果を予測することが可能となる。したがって、この重み付けという工程は非常に重要な工程となる。
コンピュータ内で当該重み付けを行なうために、その重みをメモリに記憶されておく方法がある。
コンピュータ内で当該重み付けを行なうために、その重みをメモリに記憶されておく方法がある。
しかしながら、毎回、その重みを読み出すことになり、処理速度低下、消費電力増大の問題点がある。
そこで、重みを抵抗素子の抵抗値の変化を用いる方法が検討されている。つまり、抵抗素子の抵抗値の変化に応じて、流れる電流が変化するため、これを重み付けとして用いる方法である。
そこで、重みを抵抗素子の抵抗値の変化を用いる方法が検討されている。つまり、抵抗素子の抵抗値の変化に応じて、流れる電流が変化するため、これを重み付けとして用いる方法である。
この抵抗素子は、重みを記憶するために不揮発性でなければならない。
不揮発性抵抗メモリとしては、磁気を利用したMRAM(Magnetoresistive Random Access Memory)、結晶状態を利用したPCRAM(Phase Change Random Access Memory)、酸化還元等を利用したReRAM(Resistive Random Access Memory)がある。
この重み付けは、例えば「0」と「1」の2値で表すよりも、例えば「0」、「1」、「2」のように多値で表す方が、より高精度の予測をする上で好ましい。
不揮発性抵抗メモリとしては、磁気を利用したMRAM(Magnetoresistive Random Access Memory)、結晶状態を利用したPCRAM(Phase Change Random Access Memory)、酸化還元等を利用したReRAM(Resistive Random Access Memory)がある。
この重み付けは、例えば「0」と「1」の2値で表すよりも、例えば「0」、「1」、「2」のように多値で表す方が、より高精度の予測をする上で好ましい。
しかしながら、上述のMRAMは、磁気の平衡、反平衡を利用している関係上、2値しか取れない。また、上述のReRAMは、酸化物状態と金属状態の2状態を利用するため、その中間状態の維持が困難である。さらに、上述のPCRAMも、結晶状態と非結晶状態を利用するため、同様に、その中間状態を維持するのが困難である。
そこで、連続で抵抗値が変化する例えばリチウム電池等の二次電池、即ち、正極活物質層と負極活物質層の間で電解質層を通ってイオンが移動することで充電、放電を行なう二次電池の原理を用い、その構成を利用して、抵抗変化素子を構成することが考えられる。
そこで、連続で抵抗値が変化する例えばリチウム電池等の二次電池、即ち、正極活物質層と負極活物質層の間で電解質層を通ってイオンが移動することで充電、放電を行なう二次電池の原理を用い、その構成を利用して、抵抗変化素子を構成することが考えられる。
例えば、図8に示すように、基板9上に、第2書込電極6X、抵抗変化層2としての正極活物質層、イオン伝導層3としての固体電解質層、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層(第1書込電極5Xを兼ねる)を積層し、正極活物質層2の両側にそれぞれ読出電極7X、8Xを設けて、抵抗変化素子を構成することが考えられる。
この場合、正極活物質層2と負極活物質層4の間で固体電解質層3を通ってイオンが移動することで、正極活物質層2のイオンの量が変化し、これに応じて抵抗が変化するため、これを読出電極7X、8X間の抵抗値として読み出すことで、抵抗変化素子として機能させることができる。
この場合、正極活物質層2と負極活物質層4の間で固体電解質層3を通ってイオンが移動することで、正極活物質層2のイオンの量が変化し、これに応じて抵抗が変化するため、これを読出電極7X、8X間の抵抗値として読み出すことで、抵抗変化素子として機能させることができる。
例えば、リチウム電池の構成を利用し、負極活物質層4にLi層を用い、正極活物質層2にLiCoO2層を用いる場合、第2書込電極6Xに正電圧を印加し、最上層の第1書込電極5Xを兼ねる負極活物質層4としてのLi層を接地させると、正極活物質層2としてのLiCoO2層からLiが抜けて、固体電解質3を通ってLi層4に吸蔵(吸収)される。
逆に、第1書込電極5Xを兼ねる負極活物質層4としてのLi層に正電圧を印加し、第2書込電極6Xを接地すると、Li層4からLiが脱離し、固体電解質3を通って正極活物質層2としてのLiCoO2層に吸蔵(吸収)される。
この場合、抵抗が変化する部分、即ち、抵抗変化層として機能するのは、正極活物質層2としてのLiCoO2層であり、その抵抗値はその内部のLi量によって変化する。
この場合、抵抗が変化する部分、即ち、抵抗変化層として機能するのは、正極活物質層2としてのLiCoO2層であり、その抵抗値はその内部のLi量によって変化する。
このため、正極活物質層2としてのLiCoO2層のLiを出し入れすることによって、Li量を変化させ、これに応じて抵抗値を変化させ、正極活物質層2としてのLiCoO2層の抵抗値をその両側に設けられた読出電極7X、8X間の抵抗値として読み出すことで、抵抗変化素子として機能させることができる。
なお、固体電解質は、絶縁材料であり、電子の導電性はないが、Liイオンは流れる。また、読出電極7X、8X間で、電気は固体電解質層3を通してではなく、正極活物質層2を通して流れることになる。
なお、固体電解質は、絶縁材料であり、電子の導電性はないが、Liイオンは流れる。また、読出電極7X、8X間で、電気は固体電解質層3を通してではなく、正極活物質層2を通して流れることになる。
しかしながら、図9に示すように、単に、正極活物質層2上に、固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造とすると、正極活物質層2の上方の1つの面を介して、正極活物質層2と負極活物質層4の間での固体電解質層3を通したイオンの移動が生じるだけである。
このため、正極活物質層2と負極活物質層4の間での固体電解質層3を通したイオンの移動が不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分であり、十分な特性が得られないことがわかった。
このため、正極活物質層2と負極活物質層4の間での固体電解質層3を通したイオンの移動が不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分であり、十分な特性が得られないことがわかった。
特に、負極活物質層4からのイオンの供給が不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分であり、十分な特性が得られないことがわかった。これは、当該イオンが固体電解質層3内を移動し、正極活物質層2に供給されることで、電気伝導するため、そのイオンの供給が不足していると、電気伝導が生じないためである。
また、正極活物質層2の上方のみに固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造とし、正極活物質層2に層状の結晶構造を有する材料を用いる場合には、イオンが層を跨いで移動しなければならないため、抵抗変化層2としての正極活物質層の上側部分のみでイオンの出し入れが行なわれるだけになり、効率的にイオンの出し入れを行なうのが難しい。このため、イオンの出し入れが不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分となり、十分な特性が得られないことがわかった。
また、正極活物質層2の上方のみに固体電解質層3、負極活物質層4を順に積層した構造とし、正極活物質層2に層状の結晶構造を有する材料を用いる場合には、イオンが層を跨いで移動しなければならないため、抵抗変化層2としての正極活物質層の上側部分のみでイオンの出し入れが行なわれるだけになり、効率的にイオンの出し入れを行なうのが難しい。このため、イオンの出し入れが不十分で、抵抗変化素子として機能させるには抵抗の変化が不十分となり、十分な特性が得られないことがわかった。
また、正極活物質層2の上面のみでイオンの出し入れが行なわれる場合、正極活物質層2の中にイオンの濃度勾配が発生してしまい、この濃度分布が抵抗ばらつきの原因となるため好ましくない。
そこで、抵抗変化素子として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようにし、その特性を向上させるために、上述のような構成を採用している(例えば図1、図2、図7参照)。
そこで、抵抗変化素子として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようにし、その特性を向上させるために、上述のような構成を採用している(例えば図1、図2、図7参照)。
これにより、正極活物質層2(又は負極活物質層4)の外周(周囲;側面;好ましくは外周全体)の面を介して、正極活物質層2と負極活物質層4の間での固体電解質層3を通したイオンの移動が生じることになる。
このため、正極活物質層2、固体電解質層3、負極活物質層4が互いに接している面の面積を大きくすることができ、効率的にイオンを移動させる(供給する)ことができ、安定して電気伝導を生じ、抵抗変化素子として機能させることが可能となる。
このため、正極活物質層2、固体電解質層3、負極活物質層4が互いに接している面の面積を大きくすることができ、効率的にイオンを移動させる(供給する)ことができ、安定して電気伝導を生じ、抵抗変化素子として機能させることが可能となる。
ところで、上述のように構成される抵抗変化素子1を備えるものとして、記憶装置を構成することができる。
この場合、例えば、上述のように構成される抵抗変化素子1(図1参照)をアレイ状に並べて配置し、例えば図10に示すように、各抵抗変化素子1の第1電極5、第2電極6及び第3電極7のそれぞれに第1配線15、第2配線16及び第3配線17を接続することによってメモリ素子30を構成すれば良い。
この場合、例えば、上述のように構成される抵抗変化素子1(図1参照)をアレイ状に並べて配置し、例えば図10に示すように、各抵抗変化素子1の第1電極5、第2電極6及び第3電極7のそれぞれに第1配線15、第2配線16及び第3配線17を接続することによってメモリ素子30を構成すれば良い。
つまり、上述のように構成される抵抗変化素子1(図1参照)をアレイ状に並べて配置し、各抵抗変化素子1の第1電極5及び第2電極6のそれぞれに連なるように第1配線15及び第2配線16を接続するとともに、第3電極7にコンタクト部18を介して第3配線17を接続することによってメモリ素子30を構成すれば良い。
なお、上述のように構成される抵抗変化素子1(図7参照)をアレイ状に並べて配置する場合には、例えば図11に示すように、各抵抗変化素子1の第1電極5B、第2電極6B及び第3電極7Bのそれぞれに第1配線19、第2配線20及び第3配線21を接続することによってメモリ素子30を構成すれば良い。
なお、上述のように構成される抵抗変化素子1(図7参照)をアレイ状に並べて配置する場合には、例えば図11に示すように、各抵抗変化素子1の第1電極5B、第2電極6B及び第3電極7Bのそれぞれに第1配線19、第2配線20及び第3配線21を接続することによってメモリ素子30を構成すれば良い。
つまり、上述のように構成される抵抗変化素子1(図7参照)をアレイ状に並べて配置し、各抵抗変化素子1の第1電極5Bに連なるように第1配線19を接続するとともに、第2電極6B及び第3電極7Bのそれぞれに第2配線20及び第3配線21を接続することによってメモリ素子30を構成すれば良い。なお、ここでは、第2電極6B及び第3電極7Bはコンタクト部を兼ねている。また、第2配線20は第1部分20Aと第2部分20Bとがコンタクト部22を介して接続されている。
そして、例えば図12に示すように、記憶装置31を、このように構成されるメモリ素子30と、列選択部32と、行選択部33と、制御部34と、検出部35とを備えるものとすれば良い。
そして、制御部34からの書き込み指令に基づいて列選択部32及び行選択部33によってメモリ素子30に備えられるいずれかの抵抗変化素子1が選択され、選択された抵抗変化素子1に情報(抵抗値)の書き込みが行なわれるようにすれば良い。
そして、制御部34からの書き込み指令に基づいて列選択部32及び行選択部33によってメモリ素子30に備えられるいずれかの抵抗変化素子1が選択され、選択された抵抗変化素子1に情報(抵抗値)の書き込みが行なわれるようにすれば良い。
ここで、例えば図1に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1への情報(抵抗値)の書き込みは、図10に示すように、例えば第2配線16及び第3配線17を介して、第2電極6と第3電極7の間に電圧を印加することによって(図中、符号Xで示す矢印参照)、抵抗変化素子1に備えられる抵抗変化層(正極活物質層)2とイオン吸蔵放出層(負極活物質層)4の間でイオン伝導層(固体電解質層)3を通してイオン(例えばLiイオンなど)を移動させ、抵抗変化層2の中のLiの量を制御して、抵抗変化層2の抵抗を変化させることによって行なわれる。
なお、これに限られるものではなく、例えば、第1配線15及び第3配線17を介して、第1電極5と第3電極7の間に電圧を印加するようにしても良いし、第2配線16及び第3配線17を介して、第2電極6と第3電極7の間に電圧を印加するとともに、第1配線15及び第3配線17を介して、第1電極5と第3電極7の間に電圧を印加するようにしても良い。
このようにして抵抗変化素子1への情報の書き込みが行なわれるため、情報の書き込みに用いられる第1配線15、第2配線16及び第3配線17、列選択部32、行選択部33、制御部34を含むものとして、書込回路36が構成される。
なお、例えば図7に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1への情報(抵抗値)の書き込みは、図11に示すように、例えば第1配線19及び第2配線20を介して、第1電極5Bと第2電極6Bの間に電圧を印加するとともに、第1配線19及び第3配線21を介して、第1電極5Bと第3電極7Bの間に電圧を印加することによって(図中、符号Xで示す矢印参照)、抵抗変化素子1に備えられる抵抗変化層(正極活物質層)2とイオン吸蔵放出層(負極活物質層)4の間でイオン伝導層(固体電解質層)3を通してイオン(例えばLiイオンなど)を移動させ、抵抗変化層2の中のLiの量を制御して、抵抗変化層2の抵抗を変化させることによって行なわれる。
なお、例えば図7に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1への情報(抵抗値)の書き込みは、図11に示すように、例えば第1配線19及び第2配線20を介して、第1電極5Bと第2電極6Bの間に電圧を印加するとともに、第1配線19及び第3配線21を介して、第1電極5Bと第3電極7Bの間に電圧を印加することによって(図中、符号Xで示す矢印参照)、抵抗変化素子1に備えられる抵抗変化層(正極活物質層)2とイオン吸蔵放出層(負極活物質層)4の間でイオン伝導層(固体電解質層)3を通してイオン(例えばLiイオンなど)を移動させ、抵抗変化層2の中のLiの量を制御して、抵抗変化層2の抵抗を変化させることによって行なわれる。
なお、これに限られるものではなく、例えば、第1配線19及び第2配線20を介して、第1電極5Bと第2電極6Bの間に電圧を印加するようにしても良いし、第1配線19及び第3配線21を介して、第1電極5Bと第3電極7Bの間に電圧を印加するようにしても良い。
このようにして抵抗変化素子1への情報の書き込みが行なわれるため、情報の書き込みに用いられる第1配線19、第2配線20及び第3配線21、列選択部32、行選択部33、制御部34を含むものとして、書込回路36が構成される。
このようにして抵抗変化素子1への情報の書き込みが行なわれるため、情報の書き込みに用いられる第1配線19、第2配線20及び第3配線21、列選択部32、行選択部33、制御部34を含むものとして、書込回路36が構成される。
また、制御部34からの読出し指令に基づいて列選択部32及び行選択部33によってメモリ素子30に備えられるいずれかの抵抗変化素子1が選択され、選択された抵抗変化素子1から検出部35によって情報(抵抗値)の読み出しが行なわれるようにすれば良い。
ここで、例えば図1に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1からの情報(抵抗値)の読み出しは、図10に示すように、第1配線15及び第2配線16を介して、第1電極5と第2電極6の間に電圧を印加し、それによって流れる電流を検出部35によって検出(例えば電流計によって計測)することによって行なわれる(図中、符号Yで示す矢印参照)。
ここで、例えば図1に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1からの情報(抵抗値)の読み出しは、図10に示すように、第1配線15及び第2配線16を介して、第1電極5と第2電極6の間に電圧を印加し、それによって流れる電流を検出部35によって検出(例えば電流計によって計測)することによって行なわれる(図中、符号Yで示す矢印参照)。
このようにして抵抗変化素子1からの情報の読み出しが行なわれるため、情報の読み出しに用いられる第1配線15及び第2配線16、列選択部32、行選択部33、制御部34、検出部35を含むものとして、読出回路37が構成される。
なお、例えば図7に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1からの情報(抵抗値)の読み出しは、図11に示すように、第2配線20及び第3配線21を介して、第2電極6Bと第3電極7Bの間に電圧を印加し、それによって流れる電流を検出部35によって検出(例えば電流計によって計測)することによって行なわれる(図中、符号Yで示す矢印参照)。
なお、例えば図7に示すように構成される抵抗変化素子1を用いる場合には、選択された抵抗変化素子1からの情報(抵抗値)の読み出しは、図11に示すように、第2配線20及び第3配線21を介して、第2電極6Bと第3電極7Bの間に電圧を印加し、それによって流れる電流を検出部35によって検出(例えば電流計によって計測)することによって行なわれる(図中、符号Yで示す矢印参照)。
このようにして抵抗変化素子1からの情報の読み出しが行なわれるため、情報の読み出しに用いられる第2配線20及び第3配線21、列選択部32、行選択部33、制御部34、検出部35を含むものとして、読出回路37が構成される。
この場合、記憶装置31は、上述のように構成される抵抗変化素子1(図1、図7参照)と、抵抗変化素子1に接続され、抵抗変化素子1へ情報の書き込みを行なう書込回路36と、抵抗変化素子1に接続され、抵抗変化素子1から情報の読み出しを行なう読出回路37とを備えるものとして構成されることになる。
この場合、記憶装置31は、上述のように構成される抵抗変化素子1(図1、図7参照)と、抵抗変化素子1に接続され、抵抗変化素子1へ情報の書き込みを行なう書込回路36と、抵抗変化素子1に接続され、抵抗変化素子1から情報の読み出しを行なう読出回路37とを備えるものとして構成されることになる。
したがって、本実施形態にかかる抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置は、抵抗変化素子として機能させるのに十分な抵抗の変化が得られるようにし、その特性を向上させることができるという効果を有する。
ここで、図13は、上述のように構成される本実施形態の抵抗変化素子(図1参照)と比較例の抵抗変化素子(図8参照)の抵抗特性を評価した結果を示している。
ここで、図13は、上述のように構成される本実施形態の抵抗変化素子(図1参照)と比較例の抵抗変化素子(図8参照)の抵抗特性を評価した結果を示している。
なお、図13中、実線Aは本実施形態の抵抗変化素子の抵抗特性を評価した結果を示しており、実線Bは比較例の抵抗変化素子の抵抗特性を評価した結果を示している。
ここでは、抵抗変化層2としての正極活物質層をコバルト酸リチウム層とし、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層をリチウム(Li)層とした。
図13において、充電又は放電電圧(充放電電圧)は、第1電極5及び第2電極6の少なくとも一方と第3電極7の間(金属電極5及び金属電極6の少なくとも一方とLi層4の間)に印加する電圧であって、充電時は金属電極5及び金属電極6の少なくとも一方が正、放電時はLi層4が正となるように電圧を印加する。また、「充3」は充電電圧3Vを意味し、「放3」は「充3」の場合と極性が逆になる3Vを意味する。また、充電及び放電電圧の上限は、正極活物質層2に用いる材料によって決まるが、ここでは、コバルト酸リチウムを用いているため、約3.9Vである。
ここでは、抵抗変化層2としての正極活物質層をコバルト酸リチウム層とし、イオン吸蔵放出層4としての負極活物質層をリチウム(Li)層とした。
図13において、充電又は放電電圧(充放電電圧)は、第1電極5及び第2電極6の少なくとも一方と第3電極7の間(金属電極5及び金属電極6の少なくとも一方とLi層4の間)に印加する電圧であって、充電時は金属電極5及び金属電極6の少なくとも一方が正、放電時はLi層4が正となるように電圧を印加する。また、「充3」は充電電圧3Vを意味し、「放3」は「充3」の場合と極性が逆になる3Vを意味する。また、充電及び放電電圧の上限は、正極活物質層2に用いる材料によって決まるが、ここでは、コバルト酸リチウムを用いているため、約3.9Vである。
図13に示すように、充電時は、抵抗変化層2としての正極活物質層であるコバルト酸リチウム層からLiが抜けるため、抵抗値が下がり、逆に、放電時は、抵抗変化層2としての正極活物質層であるコバルト酸リチウム層にLiが吸収されるため、抵抗値が上がることがわかる。
このため、情報(抵抗値)の書き込み時に、抵抗変化素子1を構成する抵抗変化層2としての正極活物質層(ここではコバルト酸リチウム層)の抵抗値を上げるには放電電圧を印加すれば良く、抵抗値を下げるには充電電圧を印加すれば良いことになる。
このため、情報(抵抗値)の書き込み時に、抵抗変化素子1を構成する抵抗変化層2としての正極活物質層(ここではコバルト酸リチウム層)の抵抗値を上げるには放電電圧を印加すれば良く、抵抗値を下げるには充電電圧を印加すれば良いことになる。
なお、情報(抵抗値)の読み出し時には、例えば、第1電極5と第2電極6の間に約0.1Vの電圧を印加した時に流れる電流から抵抗値を計算すれば良い。
また、充電又は放電の電圧を連続的に変化させることによって、抵抗値が連続的に変化することがわかる。これにより、多くの値を記憶することができる多値抵抗変化素子(多値メモリ素子)として動作可能であることがわかる。
また、充電又は放電の電圧を連続的に変化させることによって、抵抗値が連続的に変化することがわかる。これにより、多くの値を記憶することができる多値抵抗変化素子(多値メモリ素子)として動作可能であることがわかる。
特に、上述のように構成される本実施形態の抵抗変化素子(図1参照)では、比較例の抵抗変化素子(図8参照)と比較して、抵抗値の変化が大きくなることがわかる。これは、抵抗変化層2としての正極活物質層であるコバルト酸リチウム層におけるLiの出し入れが効率的に動作しているため、Liの量(濃度)を大きく変えることができているからである。
なお、本発明は、上述した実施形態に記載した構成に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形することが可能である。
以下、上述の実施形態に関し、更に、付記を開示する。
(付記1)
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層と、
前記柱状の抵抗変化層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層とを備えることを特徴とする抵抗変化素子。
以下、上述の実施形態に関し、更に、付記を開示する。
(付記1)
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層と、
前記柱状の抵抗変化層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層とを備えることを特徴とする抵抗変化素子。
(付記2)
前記イオン伝導層は、前記柱状の抵抗変化層の外周全体を覆うように設けられており、
前記イオン吸蔵放出層は、前記イオン伝導層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることを特徴とする、付記1に記載の抵抗変化素子。
(付記3)
前記抵抗変化層の上部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第1電極と、
前記抵抗変化層の下部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極と、
前記抵抗変化層の上下方向中間部に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第3電極とを備えることを特徴とする、付記2に記載の抵抗変化素子。
前記イオン伝導層は、前記柱状の抵抗変化層の外周全体を覆うように設けられており、
前記イオン吸蔵放出層は、前記イオン伝導層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることを特徴とする、付記1に記載の抵抗変化素子。
(付記3)
前記抵抗変化層の上部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第1電極と、
前記抵抗変化層の下部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極と、
前記抵抗変化層の上下方向中間部に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第3電極とを備えることを特徴とする、付記2に記載の抵抗変化素子。
(付記4)
前記第1電極は、前記抵抗変化層の上面全体に接するように設けられており、
前記第2電極は、前記抵抗変化層の下面全体に接するように設けられており、
前記イオン吸蔵放出層は、前記第3電極も兼ねていることを特徴とする、付記3に記載の抵抗変化素子。
前記第1電極は、前記抵抗変化層の上面全体に接するように設けられており、
前記第2電極は、前記抵抗変化層の下面全体に接するように設けられており、
前記イオン吸蔵放出層は、前記第3電極も兼ねていることを特徴とする、付記3に記載の抵抗変化素子。
(付記5)
前記第1電極は、前記抵抗変化層の上面全体に接するように設けられており、
前記第2電極は、前記抵抗変化層の下面全体に接するように設けられており、
前記第3電極は、前記イオン吸蔵放出層の表面上に設けられていることを特徴とする、付記3に記載の抵抗変化素子。
前記第1電極は、前記抵抗変化層の上面全体に接するように設けられており、
前記第2電極は、前記抵抗変化層の下面全体に接するように設けられており、
前記第3電極は、前記イオン吸蔵放出層の表面上に設けられていることを特徴とする、付記3に記載の抵抗変化素子。
(付記6)
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層と、
前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層とを備えることを特徴とする抵抗変化素子。
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層と、
前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層とを備えることを特徴とする抵抗変化素子。
(付記7)
前記イオン伝導層は、前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周全体を覆うように設けられており、
前記抵抗変化層は、前記イオン伝導層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることを特徴とする、付記6に記載の抵抗変化素子。
前記イオン伝導層は、前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周全体を覆うように設けられており、
前記抵抗変化層は、前記イオン伝導層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることを特徴とする、付記6に記載の抵抗変化素子。
(付記8)
前記イオン吸蔵放出層の上部及び下部の少なくとも一方に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第1電極と、
前記イオン吸蔵放出層及び前記イオン伝導層を挟んで水平方向両側に位置する前記抵抗変化層の第1部分及び第2部分のそれぞれに電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極及び第3電極とを備えることを特徴とする、付記7に記載の抵抗変化素子。
前記イオン吸蔵放出層の上部及び下部の少なくとも一方に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第1電極と、
前記イオン吸蔵放出層及び前記イオン伝導層を挟んで水平方向両側に位置する前記抵抗変化層の第1部分及び第2部分のそれぞれに電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極及び第3電極とを備えることを特徴とする、付記7に記載の抵抗変化素子。
(付記9)
前記第1電極は、前記イオン吸蔵放出層の上面全体及び下面全体の少なくとも一方に接するように設けられており、
前記第2電極及び前記第3電極は、前記抵抗変化層の前記第1部分及び前記第2部分のそれぞれの表面上に設けられていることを特徴とする、付記8に記載の抵抗変化素子。
前記第1電極は、前記イオン吸蔵放出層の上面全体及び下面全体の少なくとも一方に接するように設けられており、
前記第2電極及び前記第3電極は、前記抵抗変化層の前記第1部分及び前記第2部分のそれぞれの表面上に設けられていることを特徴とする、付記8に記載の抵抗変化素子。
(付記10)
前記抵抗変化層は、イオン電池に用いられる正極活物質からなる正極活物質層であり、
前記イオン吸蔵放出層は、前記イオン電池に用いられる負極活物質からなる負極活物質層であり、
前記イオン伝導層は、前記イオン電池に用いられる固体電解質からなる固体電解質層であることを特徴とする、付記1〜9のいずれか1項に記載の抵抗変化素子。
前記抵抗変化層は、イオン電池に用いられる正極活物質からなる正極活物質層であり、
前記イオン吸蔵放出層は、前記イオン電池に用いられる負極活物質からなる負極活物質層であり、
前記イオン伝導層は、前記イオン電池に用いられる固体電解質からなる固体電解質層であることを特徴とする、付記1〜9のいずれか1項に記載の抵抗変化素子。
(付記11)
付記1〜10のいずれか1項に記載の抵抗変化素子と、
前記抵抗変化素子に接続され、前記抵抗変化素子へ情報の書き込みを行なう書込回路と、
前記抵抗変化素子に接続され、前記抵抗変化素子から情報の読み出しを行なう読出回路とを備えることを特徴とする記憶装置。
付記1〜10のいずれか1項に記載の抵抗変化素子と、
前記抵抗変化素子に接続され、前記抵抗変化素子へ情報の書き込みを行なう書込回路と、
前記抵抗変化素子に接続され、前記抵抗変化素子から情報の読み出しを行なう読出回路とを備えることを特徴とする記憶装置。
(付記12)
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層を形成する工程と、
前記柱状の抵抗変化層の外周を覆うように、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように、前記イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層を形成する工程とを含むことを特徴とする抵抗変化素子の製造方法。
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層を形成する工程と、
前記柱状の抵抗変化層の外周を覆うように、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように、前記イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層を形成する工程とを含むことを特徴とする抵抗変化素子の製造方法。
(付記13)
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層を形成する工程と、
前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように、前記イオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層を形成する工程とを含むことを特徴とする抵抗変化素子の製造方法。
少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層を形成する工程と、
前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように、前記イオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層を形成する工程とを含むことを特徴とする抵抗変化素子の製造方法。
1 抵抗変化素子
2 抵抗変化層(正極活物質層)
2A 正極活物質層を構成する材料からなる膜
2X 第1部分
2Y 第2部分
3 イオン伝導層(固体電解質層)
3A 固体電解質層を構成する材料からなる膜
4 イオン吸蔵放出層(負極活物質層)
4A 負極活物質層を構成する材料からなる膜
5 第1電極
5A 第1電極を構成する材料からなる膜
5B 第1電極
5X 第1書込電極
6 第2電極
6A 第2電極を構成する材料からなる膜
6B 第2電極
6X 第2書込電極
7 第3電極
7B 第3電極
7X 第1読出電極
8X 第2読出電極
9 基板
10〜13 シリコン酸化膜
14 金属配線
15 第1配線
16 第2配線
17 第3配線
18 コンタクト部
19 第1配線
20 第2配線
20A 第1部分
20B 第2部分
21 第3配線
22 コンタクト部
30 メモリ素子
31 記憶装置
32 列選択部
33 行選択部
34 制御部
35 検出部
36 書込回路
37 読出回路
2 抵抗変化層(正極活物質層)
2A 正極活物質層を構成する材料からなる膜
2X 第1部分
2Y 第2部分
3 イオン伝導層(固体電解質層)
3A 固体電解質層を構成する材料からなる膜
4 イオン吸蔵放出層(負極活物質層)
4A 負極活物質層を構成する材料からなる膜
5 第1電極
5A 第1電極を構成する材料からなる膜
5B 第1電極
5X 第1書込電極
6 第2電極
6A 第2電極を構成する材料からなる膜
6B 第2電極
6X 第2書込電極
7 第3電極
7B 第3電極
7X 第1読出電極
8X 第2読出電極
9 基板
10〜13 シリコン酸化膜
14 金属配線
15 第1配線
16 第2配線
17 第3配線
18 コンタクト部
19 第1配線
20 第2配線
20A 第1部分
20B 第2部分
21 第3配線
22 コンタクト部
30 メモリ素子
31 記憶装置
32 列選択部
33 行選択部
34 制御部
35 検出部
36 書込回路
37 読出回路
Claims (12)
- 少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層と、
前記柱状の抵抗変化層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層とを備えることを特徴とする抵抗変化素子。 - 前記イオン伝導層は、前記柱状の抵抗変化層の外周全体を覆うように設けられており、
前記イオン吸蔵放出層は、前記イオン伝導層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の抵抗変化素子。 - 前記抵抗変化層の上部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第1電極と、
前記抵抗変化層の下部に電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極と、
前記抵抗変化層の上下方向中間部に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第3電極とを備えることを特徴とする、請求項2に記載の抵抗変化素子。 - 前記第1電極は、前記抵抗変化層の上面全体に接するように設けられており、
前記第2電極は、前記抵抗変化層の下面全体に接するように設けられており、
前記イオン吸蔵放出層は、前記第3電極も兼ねていることを特徴とする、請求項3に記載の抵抗変化素子。 - 前記第1電極は、前記抵抗変化層の上面全体に接するように設けられており、
前記第2電極は、前記抵抗変化層の下面全体に接するように設けられており、
前記第3電極は、前記イオン吸蔵放出層の表面上に設けられていることを特徴とする、請求項3に記載の抵抗変化素子。 - 少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層と、
前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように設けられ、前記イオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層とを備えることを特徴とする抵抗変化素子。 - 前記イオン伝導層は、前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周全体を覆うように設けられており、
前記抵抗変化層は、前記イオン伝導層の外周の上下方向中間部を部分的に覆うように設けられていることを特徴とする、請求項6に記載の抵抗変化素子。 - 前記イオン吸蔵放出層の上部及び下部の少なくとも一方に電気的に接続され、情報の書き込みに用いられる第1電極と、
前記イオン吸蔵放出層及び前記イオン伝導層を挟んで水平方向両側に位置する前記抵抗変化層の第1部分及び第2部分のそれぞれに電気的に接続され、情報の読み出しに用いられ、情報の書き込みに用いられる場合もある第2電極及び第3電極とを備えることを特徴とする、請求項7に記載の抵抗変化素子。 - 前記第1電極は、前記イオン吸蔵放出層の上面全体及び下面全体の少なくとも一方に接するように設けられており、
前記第2電極及び前記第3電極は、前記抵抗変化層の前記第1部分及び前記第2部分のそれぞれの表面上に設けられていることを特徴とする、請求項8に記載の抵抗変化素子。 - 請求項1〜9のいずれか1項に記載の抵抗変化素子と、
前記抵抗変化素子に接続され、前記抵抗変化素子へ情報の書き込みを行なう書込回路と、
前記抵抗変化素子に接続され、前記抵抗変化素子から情報の読み出しを行なう読出回路とを備えることを特徴とする記憶装置。 - 少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する柱状の抵抗変化層を形成する工程と、
前記柱状の抵抗変化層の外周を覆うように、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように、前記イオンを吸蔵、放出できるイオン吸蔵放出層を形成する工程とを含むことを特徴とする抵抗変化素子の製造方法。 - 少なくとも1種類のイオンを吸蔵、放出できる柱状のイオン吸蔵放出層を形成する工程と、
前記柱状のイオン吸蔵放出層の外周を覆うように、前記イオンを伝導し、電子を伝導しないイオン伝導層を形成する工程と、
前記イオン伝導層の外周を覆うように、前記イオンを吸蔵、放出でき、前記イオンの量に応じて抵抗が変化する抵抗変化層を形成する工程とを含むことを特徴とする抵抗変化素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018053134A JP2019165162A (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018053134A JP2019165162A (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019165162A true JP2019165162A (ja) | 2019-09-26 |
Family
ID=68064886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018053134A Pending JP2019165162A (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2019165162A (ja) |
-
2018
- 2018-03-20 JP JP2018053134A patent/JP2019165162A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW587347B (en) | Multiple data state memory cell | |
JP5712143B2 (ja) | 誘電体メモリ素子を有するメモリセル | |
US7615769B2 (en) | Nonvolatile memory device and fabrication method thereof | |
US8519376B2 (en) | Nonvolatile resistive memory devices | |
Fadeev et al. | To the issue of the memristor’s hrs and lrs states degradation and data retention time | |
US9024284B2 (en) | Superlattice phase change memory including Sb2Te3 layers containing Zr | |
US7778062B2 (en) | Resistance change memory device | |
US20070090444A1 (en) | Nonvolatile memory device including nano dot and method of fabricating the same | |
KR20140040830A (ko) | 메모리 셀 구조들 | |
JP2001502848A (ja) | 相変化性メモリ材料と誘電材料との混合物から成る複合メモリ材料 | |
US20090272958A1 (en) | Resistive Memory | |
US20090201716A1 (en) | Memory Element with Positive Temperature Coefficient Layer | |
CN110061130A (zh) | 硫属化合物存储器存取装置的自对准生长方法 | |
JPWO2019198410A1 (ja) | スイッチ素子および記憶装置ならびにメモリシステム | |
US11430952B2 (en) | Electronic device and method for manufacturing electronic device | |
US20140183432A1 (en) | MoOx-Based Resistance Switching Materials | |
US8067766B2 (en) | Multi-level memory cell | |
US20090206317A1 (en) | Phase change memory device and method for manufacturing the same | |
JP2019165161A (ja) | 抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 | |
US11328769B2 (en) | Resistance change device, manufacturing method for the same, and storage apparatus | |
JP2019165162A (ja) | 抵抗変化素子及びその製造方法、記憶装置 | |
JP2015201519A (ja) | 相変化メモリおよびその製造方法 | |
JP6044931B2 (ja) | 半導体メモリ装置およびその製造方法 | |
JP2008294207A (ja) | メモリ素子、メモリセル、及びメモリセルアレイ | |
JP5940924B2 (ja) | 低電力で動作する半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20190607 |