JP2019161296A - 光検出装置及び光検出方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】光の入射位置の検出について正確度が確保されつつ、検出速度が向上され得る光検出装置及び光検出方法を提供する。【解決手段】光検出装置1は、光の入射位置を検出する光検出装置1であって、行列状に2次元配列されていると共に、各々が第1光感応部及び第2光感応部を含む複数の画素と、複数の第1光感応部を行ごとに接続する複数の第1配線と、複数の第2光感応部を列ごとに接続する複数の第2配線と、複数の第1配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す第1読出部21と、複数の第2配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す第2読出部31と、を備える。第1読出部21は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、複数の画素の中から、第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する読出画素設定部26を有する。【選択図】図1

Description

本発明は、光検出装置及び光検出方法に関する。
行列状に2次元配列されている複数の画素の各々が一対の光感応部を有し、第1配線によって一対の光感応部の一方が行ごとに接続され、第2配線によって一対の光感応部の他方が列ごとに接続されている光検出装置が知られている(たとえば、特許文献1)。特許文献1に記載の光検出装置では、第1配線から行ごとに信号データが読み出されると共に、第2配線から列ごとに信号データが読み出される。
国際公開第2003/049190号
特許文献1に記載の光検出装置は、2次元配列されている複数の画素の各々が一対の光感応部を有し、第1配線により一対の光感応部の一方が行ごとに接続され、同様に第2配線により一対の光感応部の他方が列ごとに接続されている受光部構造を持つ。この受光部構造は複数画素を持つ1次元センサが2つ組み合わされた場合と同様であるため、一般的な2次元センサにおける出力データ量と比較して、上記光検出装置における出力データ量は少ない。この構造により、受光部に入射した光スポットにおける2次元位置の高速検出が可能である。この特性から、当該光検出装置は、測量機器による動体検出及びプリンタにおける位置決めなど多くの機器に用いられている。市場では、上述した光検出装置において、検出速度の更なる高速化が求められている。
特許文献1に記載の光検出装置では、第1配線および第2配線に各々接続された各画素における信号データが読み出される。このとき、読み出しを行う画素数が多いほど、上記入射光スポットの位置検出において解像度が高くなる。このため、上記入射光スポットの位置検出における位置検出精度(上記入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)は向上するが、読み出し速度は低下する。一方、読み出しを行う画素数が少ないほど、読み出し速度は向上する。この場合、上記入射光スポットの位置検出において解像度が低下するため、上記入射光スポットの位置検出における位置検出精度(上記入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が低下する。
本発明は、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保されつつ、検出速度が向上され得る光検出装置及び光検出方法を提供することを目的とする。
本発明に係る光検出装置は、光の入射位置を検出する光検出装置であって、行列状に2次元配列されていると共に、各々が第1光感応部及び第2光感応部を含む複数の画素と、複数の第1光感応部を行ごとに接続する複数の第1配線と、複数の第2光感応部を列ごとに接続する複数の第2配線と、複数の第1配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す第1読出部と、複数の第2配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す第2読出部と、を備える。第1読出部は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、複数の画素の中から、第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する読出画素設定部を有する。
本発明に係る光検出装置では、読出画素設定部が、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、複数の画素の中から、第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する。このため、たとえば、第1読出部は、第2フレームで、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、上記複数の画素のうち光の入射位置の検出に適した画素群が選択され信号データが読み出される。この場合、第1フレームで読み出された信号データに基づいて第2フレームで読み出す画素群が設定されるため、信号データを読み出す画素数が削減されても、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が保たれる。すなわち、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)を保ちつつ、読み出す画素数を削減することができる。読み出す画素数が削減されれば、光スポットにおける入射位置検出速度が向上され得る。したがって、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)の確保と位置検出速度の向上とが両立され得る。
読出画素設定部は、第1フレームで信号データを読み出す画素群を、複数の画素のうちの第1画素群に設定し、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を、第1画素群に接続されている複数の第1配線のうち一部の第1配線に接続されている第2画素群に設定してもよい。この場合、第2フレームで信号データを読み出す第2画素群よりも広い領域である第1画素群から画素の読み出しを行う第1フレームの信号データに基づいて第2画素群が決定されるため、読み出す画素数が削減された場合であっても、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保される。
読出画素設定部は、複数の画素が配列されている領域を区分けすることで、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける分割部と、分割部によって分けられたグループ間で、各グループから読み出された信号データを比較する比較部と、比較部での比較結果に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定する決定部と、を有してもよい。この場合、分割されたグループ間での比較結果に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群が決定される。このため、複数の第1配線から読み出された信号データが、領域を区分けすることなくそのまま画素群決定のために用いられる場合と比較して、容易かつ高速に、画素群が変更される。
第1読出部は、分割部によって分けられたグループごとに、各グループにおける複数の第1配線から出力された信号の情報を1つの信号にまとめて信号データを読み出すビニング読出部を有してもよい。比較部は、グループ間で、ビニング読出部によって読み出された信号データを比較してもよい。この場合、グループごとに複数の第1配線から出力される各信号データを、1つの信号データとしてまとめて読み出すビニング読み出しが行われる。これにより、複数の第1配線から出力された各信号データの情報が反映されつつ、複数の第1配線から出力された各信号データがそれぞれ読み出される場合と比較して、読み出し速度が向上する。
分割部は、比較部での比較結果に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分けてもよい。この場合、複数の第1配線から読み出された各信号データがそれぞれグループ分けに用いられる場合よりも、容易かつ高速に、画素群を分割する位置が変更される。これにより、光スポットにおける入射位置が移動する場合においても、その移動に追従して画素群を分割する位置が適宜変更されるため、容易かつ正確に各グループにおける信号データの比較が行われる。
分割部は、比較部での比較によって求められた比較値の時間変化量に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分けてもよい。決定部は、時間変化量に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定してもよい。この構成によれば、複数の第1配線及び複数の第2配線から読み出された信号データをそのまま用いる場合と比較して、画素群を分割する位置及び信号データを読み出す画素群を、容易かつ高速に変更することができる。光スポットにおける入射位置の移動に追従して画素群を分割する位置が適宜変更されれば、容易かつ正確に各グループにおける信号データの比較が行われる。光スポットにおける入射位置の移動に追従して信号データを読み出す画素群が適宜変更されれば、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が向上し得る。
分割部は、比較部での比較によって求められた比較値又は当該比較値の時間変化量が所定値を超えた場合に、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分けてもよい。この場合、所定値の設定に応じて適切なタイミングで画素群のグループ分けを行うことができるため、グループ分けを行う頻度が低減され得る。分割部がグループ分けを行う頻度が低減されれば、入射光スポットにおける入射位置検出速度が向上し得る。
決定部は、比較部での比較によって求められた比較値又は当該比較値の時間変化量が所定値を超えた場合に、第2フレームの前のフレームで信号データを読み出した画素群と異なる画素群を、第2フレームで信号データを読み出す画素群に決定してもよい。この場合、信号データを読み出す画素群を所定値の設定に応じて適切なタイミングで変更することができるため、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保されつつ、グループ分けを行う頻度が低減され得る。分割部がグループ分けを行う頻度が低減されれば、入射光スポットにおける入射位置検出の速度が向上し得る。
読出画素設定部は、複数の第1配線の少なくとも一部を通して出力された信号の行方向又は列方向への射影データの重心位置を演算する演算部を更に有してもよい。分割部は、演算部によって演算された重心位置から求められる分割位置によって、複数の画素が配列されている領域を区分けすることで、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分けてもよい。決定部は、演算部によって演算された重心位置に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群として設定する画素群を決定してもよい。この場合、上記重心位置に基づいてグループ分けが行われるため、グループ間における信号データが容易に比較され得る。
本発明に係る光検出方法は、行列状に2次元配列されていると共に各々が第1光感応部及び第2光感応部を含む複数の画素と、複数の第1光感応部を行ごとに接続する複数の第1配線と、複数の第2光感応部を列ごとに接続する複数の第2配線とを備えた光検出装置を用いて、複数の第1配線の少なくとも一部を通して出力される信号から行方向へ射影された信号データを読み出し、複数の第2配線の少なくとも一部を通して出力される信号から列方向へ射影された信号データを読み出し、読み出された2つの信号データから光の2次元入射位置を検出する光検出方法であって、複数のフレームで複数の第1配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す読出工程と、第1フレームで読出工程によって読み出された信号データに基づいて、複数の画素の中から、第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する画素設定工程と、を備える。
本発明に係る光検出方法では、第1フレームで読出工程によって読み出された信号データに基づいて、複数の画素の中から、第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群が設定される。このため、第2フレームで、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、上記複数の画素のうち光の入射位置の検出に適した画素群から信号データが読み出され得る。この場合、第1フレームで読み出された信号データに基づいて読み出す画素群が設定されるため、信号データを読み出す画素数が削減されても、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保される。読み出す画素数が削減されれば、入射光スポットにおける位置検出速度が向上される。
本発明によれば、光の入射位置の検出について入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保されつつ、入射位置検出速度が向上した光検出装置及び光検出方法を提供することができる。
実施形態に係る光検出装置のブロック図である。 光検出装置の概略回路図である。 光検出装置による信号データの読み出しを説明するための図である。 行方向へ射影された信号データの輝度分布を示す図である。 列方向へ射影された信号データの輝度分布を示す図である。 光検出装置による信号データの部分読み出し及びビニング読み出しを説明するための図である。 ビニング読み出しによって読み出された信号データを説明するための図である。 ビニング読み出しによって読み出された信号データを説明するための図である。 スポット光が移動した場合の処理を説明するための図である。 比較部での比較によって求められた比較値と閾値との関係を示す図である。 比較部での比較によって求められた比較値と閾値との関係を示す図である。 スポット光が移動した場合の処理を説明するための図である。 読出回路が行う処理を示すフローチャートである。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。
まず、図1〜図5を参照して、本実施形態に係る光検出装置の全体の構成について説明する。図1は、本実施形態に係る光検出装置のブロック図である。図2は、本実施形態に係る光検出装置の概略回路図である。図3は、光検出装置による信号データの読み出しを説明するための図である。図4及び図5は、光検出装置によって読み出される信号データを示す図である。
光検出装置1は、光の2次元入射位置を検出するプロファイルセンサであり、光が入射することによって発生した信号を、入射位置に応じた2次元射影データ(2次元プロファイル)として読み出す。本実施形態では、光検出装置1は、スポット光の入射位置を継続的に複数のフレームで検出する。ここで、「フレーム」は、光検出装置1で行われる一回の光検出の期間を意味する。
光検出装置1は、センサ受光部10、行方向読出部21、及び列方向読出部31(第1読出部,第2読出部)を備えている。センサ受光部10で光スポットが受光されることによって発生した信号の射影データは、行方向読出部21及び列方向読出部31によってそれぞれ読み出される。センサ受光部10は、図2に示されているように、複数の画素11と、複数の画素11を行方向読出部21に接続するための複数の配線12と、複数の画素11を列方向読出部31に接続するための複数の配線13(複数の第1配線,複数の第2配線)とを有する。
複数の画素11は、行列状に2次元配列されている。ここで、「行列状」は、ハニカム構造など2次元の最密充填構造も含む。複数の画素11の各々は、光感応部15及び光感応部16(第1光感応部又は第2光感応部)を含んでいる。各光感応部15,16は、フォトダイオードなどの受光素子によって形成されている。各光感応部15,16は、複数の受光素子によって構成されていてもよい。
同一の画素11に含まれている光感応部15及び光感応部16は、上記行方向及び列方向に直交する方向から見て、隣接して配置されている。すなわち、センサ受光部10には、複数の光感応部15と複数の光感応部16とが、画素11ごとに行方向及び列方向に配列されている。
複数の配線12は、複数の光感応部15を行ごとに接続する。各配線12は、行方向に延在しており、行方向に1列に配列された複数の光感応部15を互いに接続する。各配線12は、光感応部15に対応して設けられた複数のスイッチ素子を含んでいてもよい。この場合、各配線12において、複数のスイッチ素子がONとされることで、行方向に1列に配列された複数の光感応部15が互いに電気的に接続される。
複数の配線13は、複数の光感応部16を列ごとに接続する。各配線13は、列方向に延在しており、列方向に1列に配列された複数の光感応部16を互いに電気的に接続する。各配線13は、光感応部16に対応して設けられた複数のスイッチ素子を含んでいてもよい。この場合、各配線13において、複数のスイッチ素子がONとされることで、列方向に1列に配列された複数の光感応部16が互いに電気的に接続される。
行方向読出部21および列方向読出部31は、AND/OR/NOT/XORゲート等の各種論理回路により構成されるレジスタ、メモリ、比較器、演算器、多重器、選択器、A/Dコンバータ、及び電源制御回路等を含むハードウエアにより構成される。さらに、行方向読出部21および列方向読出部31は、一部もしくは全体がASIC(Application Specific Integrated Circuit)又はFPGA(Field Programmable Gate Array)等の集積回路によって構成されていてもよい。行方向読出部21および列方向読出部31は、内蔵および外部における制御プログラム、各種制御信号等により制御され動作する。
行方向読出部21は、更に、複数の光感応部15からの信号を外部に出力する第1出力線22と、各配線12と第1出力線22との接続状態を切り替える複数のスイッチ素子23と、を有する。複数のスイッチ素子23は、各配線12と第1出力線22との間に設けられている。スイッチ素子23がONとされることで、ONとされたスイッチ素子23に接続されている配線12と第1出力線22とが電気的に接続される。行方向読出部21は、複数のスイッチ素子23を制御することで、複数の配線12の少なくとも一部を通して信号データを読み出す。
たとえば、図3に示されているように、行方向読出部21は、複数の配線12を通して複数の光感応部15から信号データXを読み出す。信号データXは、行方向へ射影された信号データ(行方向プロファイル)であり、同一の配線12で接続されている複数の光感応部15からの出力が合算されている。図4は、行方向読出部21によって読み出された信号データXを示している。縦軸は、信号データXにおける輝度を示し、横軸は、信号を出力した画素11の列方向における位置を示す。
列方向読出部31は、更に、複数の光感応部16からの信号を外部に出力する第2出力線32と、各配線13と第2出力線32との接続状態を切り替える複数のスイッチ素子33とを有する。複数のスイッチ素子33は、各配線13と第2出力線32との間に設けられている。スイッチ素子33がONとされることで、ONとされたスイッチ素子33に接続されている配線13と第2出力線32とが電気的に接続される。列方向読出部31は、複数のスイッチ素子33を制御することで、複数の配線13の少なくとも一部を通して信号データを読み出す。
たとえば、図3に示されるように、列方向読出部31は、複数の配線13を通して、複数の光感応部16から信号データYを読み出す。信号データYは、列方向へ射影された信号データ(列方向プロファイル)であり、同一の配線13で接続されている複数の光感応部16からの出力が合算されている。図5は、列方向読出部31によって読み出された信号データYを示している。縦軸は、信号データYにおける輝度を示し、横軸は、信号を出力した画素11の行方向における位置を示す。
次に、行方向読出部21及び列方向読出部31の機能ブロックについて詳細に説明する。図1に示されているように、行方向読出部21は、部分読出部24、ビニング読出部25、及び行方向読出画素設定部26を有する。列方向読出部31は、部分読出部34、ビニング読出部35、及び列方向読出画素設定部36を有する。
部分読出部24,34は、センサ受光部10を構成する全ての画素11のうち、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36によって設定された一部の画素11のみから信号データを読み出す部分読み出しを行う。部分読み出しは、センサ受光部10のうち、予め設定された領域に配列された画素11において行われてもよいし、所定の閾値以上の輝度が検出される画素11において行われてもよい。この所定の閾値は、たとえば、検出された輝度、ピーク位置、及び信号データ(プロファイル)幅などの特徴量から求められた値であってもよく、又はユーザによって設定された任意の値であってもよい。本実施形態では、部分読出部24は、行方向読出画素設定部26によって設定された画素群に接続されている配線12のみから信号を読み出す。部分読出部34は、列方向読出画素設定部36によって設定された画素群に接続されている配線13のみから信号を読み出す。
ビニング読出部25,35は、予め設定された領域又は行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36によって設定された領域に配列された画素11(画素群)から信号データを、ビニング読み出しによって読み出す。本実施形態では、ビニング読出部25は、隣り合って配置された所定数の配線12から出力された複数の信号データを1つの信号データとしてまとめて読み出す。ビニング読出部35は、隣り合って配置された所定数の配線13から出力された複数の信号データを1つの信号データとしてまとめて読み出す。
ビニング読出部25,35は、加算回路によって、複数の配線12及び複数の配線13から出力された信号データの合算値、合算値の平均値、論理和、中央値等を上述した1つの信号データとしてまとめて読み出してもよく、複数の配線12又は複数の配線13から出力された信号を射影した信号データ(プロファイルデータ)におけるピーク値、ピーク位置、プロファイル幅等の特徴量から求められた値を、上述した1つの信号データとしてまとめて読み出してもよい。
行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、複数の画素11の中から信号データを読み出す画素群を設定する。本実施形態では、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36によって設定された上記画素群は、一つの連続した領域に配列されている。行方向読出画素設定部26は、信号データを読み出す配線12に接続されているスイッチ素子23をONにする。すなわち、行方向読出画素設定部26は、第1出力線22と配線12とを電気的に接続することで、配線12を通して信号データを読み出す画素群を設定する。列方向読出画素設定部36は、信号データを読み出す配線13に接続されているスイッチ素子33をONにする。すなわち、列方向読出画素設定部36は、第2出力線32と配線13とを電気的に接続することで、配線13を通して信号データを読み出す画素群を設定する。
行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、複数の画素11の中から、当該第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する。ここで、「第1フレーム」及び「第2フレーム」は、上述した「フレーム」と同様に、光検出装置1で行われる一回の光検出の期間を意味する。「第1フレーム」は、光検出装置1における光検出の任意のフレームである。
行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、光検出装置1の電源ON後の最初のフレーム、又は信号データの検出に失敗したフレームの次のフレームで信号データを読み出す画素群を、予め格納されている情報に基づく画素群(第1画素群)に設定する。本実施形態では、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、光検出装置1の電源ON後の最初のフレーム、又は信号データの検出に失敗したフレームの次のフレームで信号データを読み出す画素群を、センサ受光部10に配列されている全ての画素11からなる画素群に設定する。
本実施形態では、行方向読出画素設定部26は、信号データを読み出す配線12に接続されているスイッチ素子23のみをONにすることで、信号データを読み出す画素群を設定する。部分読出部24は、行方向読出画素設定部26で設定された画素群に接続されている配線12のみから信号データを読み出す。この結果、行方向読出画素設定部26で設定された画素群に含まれている複数の光感応部15から、信号データが読み出される。
ビニング読出部25によって、行方向読出画素設定部26で設定された画素群に接続されている配線12のうち、所定数の配線12ごとにビニング読み出しが行われてもよい。ビニング読み出しが行われない場合には、配線12ごとに信号データが読み出される。ビニング読出部25によってビニング読み出しが行われる場合には、所定数の配線12ごとに1つの信号データとしてまとめて読み出される。
本実施形態では、列方向読出画素設定部36は、信号データを読み出す配線13に接続されているスイッチ素子33のみをONにすることで、信号データを読み出す画素群を設定する。部分読出部34は、列方向読出画素設定部36で設定された画素群に接続されている配線13のみから信号データを読み出す。この結果、列方向読出画素設定部36で設定された画素群に含まれている複数の光感応部16から、信号データが読み出される。
ビニング読出部35によって、列方向読出画素設定部36で設定された画素群に接続されている配線13のうち、所定数の配線13ごとにビニング読み出しが行われてもよい。ビニング読み出しが行われない場合には、配線13ごとに信号データが読み出される。ビニング読出部35によってビニング読み出しが行われる場合には、所定数の配線13ごとに1つの信号データとしてまとめて読み出される。
行方向読出画素設定部26は、機能部として、演算部41、決定部42、分割部43、及び比較部44を有する。列方向読出画素設定部36は、機能部として、演算部51、決定部52、分割部53、及び比較部54を有する。
図4及び図5は、複数の配線12又は複数の配線13の少なくとも一部を通して読み出された信号データ(プロファイル)を示している。演算部41,51は、図4及び図5に示された信号データの重心位置Mpx,Mpy、ピーク位置Px,Py、信号データのプロファイル幅Wx,Wy、及びピーク位置における輝度Ix,Iyなどの特徴量を上記信号データから演算する。これによって、演算部41,51は、それぞれ、行方向及び列方向において、センサ受光部10におけるスポット光の入射位置、すなわち、センサ受光部10においてスポット光が照射されている領域を演算する。センサ受光部10におけるスポット光の入射位置は、上述した特徴量に基づいて光検出装置1の外部で演算されてもよい。
本実施形態では、演算部41,51は、当該信号データにおける重心位置Mpx,Mpyを演算する。重心位置Mpxは、複数の配線12の少なくとも一部を通して行方向へ射影された信号データにおける重心位置である。重心位置Mpyは、複数の配線13の少なくとも一部を通して列方向へ射影された信号データにおける重心位置である。上記演算された重心位置Mpx,Mpyは、実際に物理的に配置されている画素11の位置と厳密に一致しないおそれがある。このため、演算部41,51は、上述した信号データから演算された重心位置に近似する位置(たとえば、上記演算された重心位置に最も近い画素11の位置)を重心位置Mpx,Mpyとして出力してもよい。演算部41,51は、重心位置Mpx,Mpyとして、画素の値(輝度)が最大輝度(極大値)をとるピーク位置Px,Pyを出力してもよい。
決定部42,52は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、当該第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定する。決定部42によって決定された画素群は、行方向読出画素設定部26によって第2フレームで信号データを読み出す画素群として設定される。決定部52によって決定された画素群は、列方向読出画素設定部36によって第2フレームで信号データを読み出す画素群として設定される。本実施形態では、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、決定部42,52で決定された画素群を参照して、当該画素群に対応するスイッチ素子23,33をONにする。
決定部42,52は、第2フレームで信号データを読み出す画素群を、複数の配線12及び複数の配線13のうち一部の配線12,13に接続されている画素群(第2画素群)に決定する。決定部42,52は、たとえば、演算部41,51によって演算された信号データの重心位置Mpx,Mpyを中心として、行方向及び列方向において予め決められた画素数分の領域に配列されている画素群を、第2フレームで信号データを読み出す画素群として決定する。
たとえば、決定部42は、図6に示されているように、領域R1に配置されている画素群を、行方向読出部21が第2フレームで信号データを読み出す画素群に決定する。部分読出部24は、第2フレームで、領域R1に配置されている画素群の光感応部15に接続されている配線12のみを通して信号データを読み出す。
決定部52は、領域R2に配列されている画素群を、列方向読出部31が第2フレームで信号データを読み出す画素群に決定する。部分読出部34は、第2フレームで、領域R2に配列されている画素群の光感応部15に接続されている配線13のみを通して信号データを読み出す。第2フレームで、部分読み出しと共に、決定部42,52によって決定された画素群おけるビニング読み出しがビニング読出部25,35によって行われてもよい。
分割部43,53は、複数の画素11が配列されている領域を、複数の領域に区分けすることで、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける。本実施形態では、分割部43は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を、各画素11に接続されている配線12に応じて複数のグループに分ける。分割部53は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を、各画素11に接続されている配線13に応じて複数のグループに分ける。すなわち、同一の配線12,13に接続されている画素11は、同一のグループに分けられる。
分割部43,53は、たとえば、図6に示されているように、演算部41,51で演算された演算結果に基づいて、複数の画素11が配列されている領域を4つに区分けすることで、第2フレームで信号データを読み出す画素群を4つのグループに分ける。図6に示されている構成では、複数の配線12及び複数の配線13をそれぞれ2つに分けることにより、第2フレームで信号データを読み出す画素群を4つのグループに分けている。本実施形態では、分割部43,53は、演算部41,51によって演算された、信号データの重心位置Mpx,Mpyから求められる分割位置α,βによって複数の画素11が配列されている領域を4つに区分けしている。本実施形態では、分割位置αは行方向と平行であり、分割位置βは列方向と平行である。
図6に示されている構成では、分割部43は、分割位置αを基準として、複数の配線12に接続されている画素群をグループ12Aとグループ12Bに分ける。分割部53は、分割位置βを基準として、複数の配線13に接続されている画素群をグループ13Aとグループ13Bに分ける。各分割部43,53によって分けられるグループは、予め決められていてもよい。
部分読出部24,34は、分割部43,53によって分けられたグループごとに、部分読み出しを行う。たとえば、部分読出部24は、複数の配線12に接続されている一方のグループ12Aから信号データX1を読み出し、他方のグループ12Bから信号データX2を読み出す。部分読出部34は、複数の配線13に接続されている一方のグループ13Aから信号データY1を読み出し、他方のグループ13Bから信号データY2を読み出す。
図6に示されている例では、決定部42,52によって信号データを読み出す画素群が領域R1,R2に配列された画素群に決定されている。このため、部分読出部24は、複数の配線12に接続されている一方のグループ12Aのうち、領域R1に配列された画素群から信号データX1を読み出す。部分読出部24は、他方のグループ12Bのうち、領域R2に配列された画素群から信号データX2を読み出す。部分読出部34は、複数の配線13に接続されている一方のグループ13Aのうち、領域R1に配列された画素群から信号データY1を読み出す。部分読出部34は、他方のグループ13Bのうち、領域R2に配列された画素群から信号データY2を読み出す。
ビニング読出部25,35は、分割部43,53によって分けられたグループごとに、配線12又は配線13から出力された信号の情報を1つの信号にまとめることで、信号データを読み出してもよい。たとえば、ビニング読出部25は、グループ12Aから出力される信号の情報を1つの信号にまとめて信号データX1として読み出し、グループ12Bから出力される信号の情報を1つの信号にまとめて信号データX2として読み出してもよい。
たとえば、ビニング読出部35は、グループ13Aから出力される信号の情報を1つの信号にまとめて信号データY1として読み出し、グループ13Bから出力される信号の情報を1つの信号にまとめて信号データY2として読み出してもよい。この場合、たとえば、ビニング読出部25から読み出される信号データX1と信号データX2とが、図7及び図8に示されているように容易に比較され得る。
比較部44,54は、分割部43,53によって分けられたグループ間で、各グループから読み出された信号データを比較する。たとえば、比較部44,54は、比較結果として、各グループから読み出された信号データの比較によって比較値Out(x),Out(y)を求める。本実施形態では、比較部44,54は、各グループからビニング読み出しによって読み出された信号データを比較する。比較部44,54は、AD変換器、及び電圧比較回路などによって構成される。
本実施形態では、比較部44には、グループ12Aからビニング読み出しされた信号データX1とグループ12Bからビニング読み出しされた信号データX2とが入力される。比較部54には、グループ13Aからビニング読み出しされた信号データY1とグループ13Bからビニング読み出しされた信号データY2とが入力される。たとえば、比較部44は、信号データX1,X2が入力されると、以下の式によって比較値Out(X)を求める。ここで、以下の式においてIx1,Ix2はそれぞれ、信号データX1およびX2における輝度値を示す。
Out(X)=(Ix1−Ix2)/(Ix1+Ix2)
グループ12Aの画素群と、グループ12Bの画素群とに、光が均等に入射されている場合には、図7に示されているように信号データX1における輝度値Ix1と信号データX2における輝度値Ix2は等しい。この場合、比較結果として、Out(X)=0が導出される。スポット光の入射位置がグループ12B側(列方向)に変位していた場合、図8に示されているように信号データX2における輝度値Ix2は信号データX1における輝度値Ix1よりも大きい。この場合、比較結果として、Out(X)<0が導出され、入射位置の変位が検出される。
比較部54は、信号データY1,Y2が入力されると、以下の式によって比較値Out(Y)を求める。ここで、以下の式においてIy1,Iy2はそれぞれ、信号データY1およびY2における輝度値を示す。
Out(Y)=(Iy1−Iy2)/(Iy1+Iy2)
グループ13Aの画素群と、グループ13Bの画素群とに、光が均等に入射されている場合には、信号データY1における輝度値Iy1と信号データY2における輝度値Iy2は等しい。この場合、比較結果として、Out(Y)=0が導出される。スポット光の入射位置がグループ12B側(列方向)に変位していた場合、信号データY2における輝度値Iy2は信号データY1における輝度値Iy1よりも大きい。この場合、比較結果として、Out(Y)<0が導出され、入射位置の変位が検出される。
本実施形態では、比較部44,54は、比較値Out(X),Out(Y)のフレーム間における時間変化量を導出して、比較値Out(X),Out(Y)と共に、当該比較値の時間変化量を出力する。Out(X)又はOut(X)の時間変化量の出力から、列方向におけるスポット光入射位置の変位量が導出される。同様に、Out(Y)又はOut(Y)の時間変化量の出力から、行方向におけるスポット光入射位置の変位量が導出される。
上述したように、演算部41,51は、信号データの重心位置Mpx,Mpy、ピーク位置Px,Py、上記信号データのプロファイル幅Wx,Wy、及びピーク位置における輝度Ix,Iyなどの特徴量を上述した信号データから演算する。分割部43,53は、演算部41,51によって演算された演算結果から、複数の配線12に接続されている画素群と複数の配線13に接続されている画素群とをそれぞれ2つのグループに分ける。従って、比較部44,54での比較値Out(X),Out(Y)から導出されたスポット光における入射位置の変位量は、演算部41,51によって演算されたスポット光における入射位置からの変位量である。これにより、演算部41,51によって演算された入射位置との関係から、現在の入射位置が検出される。
比較部44は、比較値Out(X)又は当該比較値Out(X)の時間変化量が閾値Thx(±Thx,所定値)を超えた場合に、閾値Thxを更新する。比較部54は、比較値Out(Y)又は当該比較値Out(Y)の時間変化量が閾値Thy(±Thy,所定値)を超えた場合に、閾値Thyを更新する。閾値Thx,Thyは、ユーザによってあらかじめ設定された任意の値であってもよいし、比較値Out(X),Out(Y)、検出された輝度、ピーク位置、及びプロファイル幅などの特徴量から求められてもよい。本実施形態では、閾値Thx,Thyは、図9に示されているように入射したスポット光の中心が前のフレームで信号データを読み出す画素群から外れたことを示す値に設定されている。
決定部42,52は、比較部44,54における比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量に基づいて、後のフレーム(第2フレーム)において信号データを読み出す画素群を決定する。本実施形態では、決定部42は、比較部44での比較値Out(X)の時間変化量から求められた入射位置の変位量に合わせて、次のフレームで読み出しを行う画素群を決定する。決定部52は、比較部54での比較値Out(Y)の時間変化量から求められた入射位置の変位量に合わせて、次のフレームで読み出しを行う画素群を決定する。すなわち、決定部42,52は、検出されたスポット光における入射位置の変位に合わせて、読み出しを行う画素群を変更し、次のフレームで読み出しを行う画素群を新たに決定する。
決定部42,52は、比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が上述した閾値Thx,Thy(所定値)を超えた場合に、前のフレームで信号データを読み出した画素群とは異なる画素群を、後のフレーム(第2フレーム)において信号データを読み出す画素群に決定する。ここで、異なる画素群とは、画素群を構成する画素11の組み合わせが前のフレームと後のフレームにおいて異なっていることを示しており、画素群に含まれる画素11が前のフレームと後のフレームにおいて重複している場合も含む。本実施形態では、決定部42は、図10に示されているように、比較部44における比較値Out(X)が閾値Thxを超えた場合にのみ、次のフレームで信号データを読み出す画素群を決定する。
決定部52は、図11に示されているように、比較部54での比較値Out(Y)が閾値Thyを超えた場合にのみ、次のフレームで信号データを読み出す画素群を決定する。本実施形態では、決定部42,52は、比較部44,54での比較値Out(X),Out(Y)が閾値Thx,Thyをそれぞれ超えたと判断した場合に、次のフレームで図12に示されているように信号データを読み出す画素群を決定する。
分割部43,53は、比較部44,54での比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量に基づいて、複数の配線12に接続されている画素群と複数の配線13に接続されている画素群を新たに複数のグループに再分類する。本実施形態では、分割部43は、比較部44での比較値Out(X)の時間変化量から求められた入射位置の変位量に合わせて、複数の配線12に接続されている画素群を2つのグループに再分類する。分割部53は、比較部54での比較値Out(Y)の時間変化量から求められた入射位置の変位量に合わせて、複数の配線13に接続されている画素群を2つのグループに再分類する。すなわち、分割部43,53は、検出されたスポット光の入射位置の変位に合わせて、読み出しを行う画素群を変更し、次のフレームで読み出しを行う画素群を新たに複数のグループに再分類する。
また、分割部43,53は、比較部44,54での比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が閾値Thx,Thy(所定値)を超えた場合に、複数の配線12に接続されている画素群と複数の配線13に接続されている画素群を再分割する。本実施形態では、分割部43は、図10に示されているように、比較部44での比較値Out(X)が閾値Thxを超えた場合にのみ、複数の配線12に接続されている画素群を再分割する。分割部53は、図11に示されているように、比較部54での比較値Out(Y)が閾値Thyを超えた場合にのみ、複数の配線13に接続されている画素群を再分割する。
この際、たとえば図12に示されているように、分割部43は、次のフレームで複数の配線12に接続されている画素群を、分割位置αと異なる分割位置α’を基準として、2つのグループ12A,12Bに分ける。分割部53は、複数の配線13に接続されている画素群を、分割位置βと異なる分割位置β’を基準として、2つのグループ13A,13Bに分ける。
部分読出部24,34及びビニング読出部25,35は、分割部43,53によって再分割されたグループごとに、決定部42,52で決定された画素群から信号データを読み出す。比較部44,54は、再分割された複数のグループ間で、各グループから読み出された信号データを比較する。このように、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、決定部42,52による処理、分割部43,53による処理、部分読出部24,34及びビニング読出部25,35による処理、並びに、比較部44,54による処理を繰り返し行う。
次に、図13のフローチャートを参照して、光検出装置1を用いた光検出方法について詳細に説明する。
まず、行方向読出部21及び列方向読出部31は、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36によって、信号データを読み出す画素群、分割部43,53よるグループ分け、及び閾値Thx,Thyの設定を初期化する(ステップS1)。当該初期化によって、最初のフレームで信号データを読み出す画素群は、予め格納されている情報に基づく画素群(初期設定画素群)に設定される。本実施形態では、初期設定画素群は、センサ受光部10に配列されている全ての画素11からなる画素群である。
続いて、行方向読出部21及び列方向読出部31は、ステップS1で設定された初期設定画素群から信号データを読み出す(ステップS2)。行方向読出部21は、複数の配線12の少なくとも一部を通して出力された信号から行方向へ射影された信号データ(行方向プロファイル)を読み出す。列方向読出部31は、複数の配線13の少なくとも一部を通して出力された信号から列方向へ射影された信号データ(列方向プロファイル)を読み出す。これら2つの信号データによって、最初のフレームにおけるスポット光の2次元入射位置が検出される。
続いて、行方向読出部21及び列方向読出部31は、演算部41,51によって、ステップS2で読み出された信号データの特徴量を演算する(ステップS3)。特徴量は、たとえば、重心位置Mpx,Mpy、ピーク位置Px,Py、上記信号データのプロファイル幅Wx,Wy、及びピーク位置における輝度Ix,Iyである。
続いて、行方向読出部21及び列方向読出部31は、決定部42,52及び分割部43,53によって、ステップS2で演算された演算結果に基づいて、次のフレームで読み出す画素群の決定と、当該画素群のグループ分けとを行う(ステップS4)。本実施形態では、ステップS2で演算された重心位置Mpx,Mpyに基づいて、次のフレームで読み出す画素群の決定と、当該画素群のグループ分けとを行う。次のフレームで信号データを読み出す画素群は、ステップS4で決定部42,52によって決定された画素群に設定され、その後、処理はステップS5へ進む。
続いて、行方向読出部21及び列方向読出部31は、部分読出部24,34及びビニング読出部25,35によって、直前のステップで設定された画素群から、直前のステップで分割されたグループごとに信号データを読み出す(ステップS5)。すなわち、行方向読出部21及び列方向読出部31は、部分読出部24,34及びビニング読出部25,35によって、複数の配線12及び複数の配線13の少なくとも一部を通して信号データを読み出す。
続いて、行方向読出部21及び列方向読出部31は、比較部44,54によって、グループ間で、各グループから読み出された信号データを比較する(ステップS6)。比較部44,45での比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量からスポット光の入射位置の変位量が導出され、スポット光の2次元入射位置が検出される。
続いて、行方向読出部21及び列方向読出部31は、処理を終了するか判断する(ステップS7)。処理を終了すると判断された場合には、行方向読出部21及び列方向読出部31は、処理を終了する。処理を終了しないと判断された場合には、処理はステップS8へ進む。
行方向読出部21及び列方向読出部31は、ステップS7で処理を終了しないと判断されると、比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が閾値Thx,Thyを超えたか否かを判断する(ステップS8)。比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が閾値Thx,Thyを超えていない場合には、処理はステップS5へ進む。比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が閾値Thx,Thyを超えた場合には、処理はステップS9へ進む。
行方向読出部21及び列方向読出部31は、ステップS8で比較値Out(X),Out(Y)又は時間変化量が閾値Thx,Thyを超えたと判断されると、決定部42,52、分割部43,53、及び比較部44,54によって、次のフレームで信号データを読み出す画素群の決定と、当該画素群のグループ分けと、閾値Thx,Thyの更新とを行う(ステップS9)。次のフレームで信号データを読み出す画素群は、ステップS9で決定部42,52によって決定された画素群に設定され、その後、処理はステップS5へ進む。以上の処理工程によって、スポット光の2次元入射位置が複数のフレームで繰り返し検出される。
以上説明したように、光検出装置1では、行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36が、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、複数の画素11の中から、第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する。このため、行方向読出部21及び列方向読出部31は、第2フレームで、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、上記複数の画素11のうち光の入射位置の検出に適した画素群から信号データが読み出され得る。たとえば、光の入射位置の検出に必要な画素11のみから信号データを読み出す部分読み出しを行うことで、信号データを読み出す画素数が削減されるため、読み出し速度が向上し得る。
従来の検出装置においては、読み出す画素数が削減された場合、入射した光スポットにおける解像度が低下するため、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が低下する可能性がある。一方、光検出装置1では、第1フレームで読み出された信号データに基づいて読み出す画素群が適宜設定されるため、信号データを読み出す画素数が削減された場合であっても、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が保たれる。すなわち、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保されつつ、読み出す画素数が削減され得る。読み出す画素数が削減されれば、位置検出速度が向上され得る。したがって、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)の確保と位置検出速度の向上とが両立され得る。
行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、第1フレームで信号データを読み出す画素群を、複数の画素11のうちの第1画素群(たとえば、初期設定画素群)に設定し、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を、第1画素群に接続されている複数の配線12,13のうち一部の配線12,13に接続されている第2画素群に設定する。この構成によれば、第2フレームで信号データを読み出す第2画素群よりも広い領域である第1画素群から画素の読み出しを行う第1フレームの信号データに基づいて第2画素群が決定されるため、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が向上し得る。
行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、複数の画素11が配列されている領域を区分けすることで、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける分割部43,53と、分割部43,53によって分けられたグループ間で、各グループから読み出された信号データを比較する比較部44,54と、比較部44,54での比較結果に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定する決定部42,52と、を有している。この構成によれば、分割されたグループ間での比較結果に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群が決定される。このため、複数の配線12,13から読み出された信号データを、領域を区分けすることなくそのまま画素群決定のために用いる場合と比較して、入射光スポットが移動した場合においても、その移動に適宜追従して画素群が容易かつ高速に決定され得る。
行方向読出部21及び列方向読出部31は、分割部43,53によって分けられたグループごとに、各グループにおける複数の配線12,13から出力された信号の情報を1つの信号にまとめて信号データを読み出すビニング読出部25,35を有している。比較部44,54は、グループ間で、ビニング読出部25,35によって読み出された信号データを比較している。この構成によれば、グループごとに複数の配線12,13から出力される信号の情報を1つの信号データとしてまとめて読み出すビニング読み出しが行われる。このため、上記信号データにおける情報が反映されつつ、複数の配線12,13から読み出された信号データをまとめることなくそのまま読み出した場合と比較して、読み出し速度が向上され得る。
分割部43,53は、比較部44,54における比較結果に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分類する。この構成によれば、複数の配線12,13から読み出された信号データをグループの分類にそのまま用いる場合と比較して、容易かつ高速に、画素群を分割する位置が入射光スポットの移動に追従して変更され得る。入射光スポットの移動に追従して画素群を分割する位置が変更されれば、容易かつ正確に分類されたグループ間における信号データの比較が行われ得る。
分割部43,53は、比較部44,54での比較によって求められた比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分類する。決定部42,52は、時間変化量に基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定している。この構成によれば、画素群を分割する位置、及び、信号データを読み出す画素群を、複数の配線12,13から読み出された信号データをそのまま用いる場合と比較して、容易かつ高速に、入射光スポットの移動に追従して画素群が変更され得る。入射光スポットの移動の移動に追従して分割する位置が変更されれば、容易かつ正確に分類されたグループ間における信号データの比較が行われ得る。光の入射位置の移動に追従して信号データを読み出す画素群が変更されれば、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が向上し得る。
分割部43,53は、比較部44,54での比較によって求められた比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が閾値Thx,Thyを超えた場合に、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける。この構成によれば、適切なタイミングで画素群のグループ分けを行うことができるため、グループ分けを行う頻度が低減され得る。分割部43,53がグループ分けを行う頻度が低減されれば、入射光スポットにおける入射位置検出における処理速度が向上し得る。
決定部42,52は、比較値Out(X),Out(Y)又は当該比較値Out(X),Out(Y)の時間変化量が閾値Thx,Thyを超えた場合に、第1フレームで信号データを読み出した画素群と異なる画素群を、第2フレームで信号データを読み出す画素群に新たに決定する。この構成によれば、信号データを読み出す画素群を適切なタイミングで変更することが可能であるため、入射光スポットにおける入射位置検出精度が確保されつつ、グループ分けを行う頻度が低減され得る。分割部43,53がグループ分けを行う頻度が低減されれば、入射光スポットにおける入射位置検出における処理速度が向上し得る。
行方向読出画素設定部26及び列方向読出画素設定部36は、複数の配線12,13の少なくとも一部を通して出力された信号の行方向への射影データの重心位置Mpx,Mpyを演算する演算部41,51を更に有する。分割部43,53は、演算部41,51によって演算された重心位置Mpx,Mpyから求められる分割位置α,βによって、複数の画素が配列されている領域を区分けすることで、第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける。決定部42,52は、演算部41,51によって演算された重心位置Mpx,Mpyに基づいて、第2フレームで信号データを読み出す画素群として設定する画素群を決定する。この場合、重心位置Mpx,Mpyでグループ分けが行われるため、グループ間で信号データが容易に比較され得る。
たとえば、分割部43,53は、演算部41,51によって演算された重心位置Mpx,Mpyから求められる分割位置α,βによって、複数の配線12,13に接続されている画素群をそれぞれ2つのグループに分ける。この場合、比較部44,54による比較結果はそれぞれ、Out(X)=0,Out(Y)=0であると考えられる。このため、演算部41によって重心位置Mpxを演算したフレームにおける入射光スポットの列方向における入射位置の変位量を、Out(X)から簡易に検出することができる。同様に、演算部51によって重心位置Mpyを演算したフレームにおける入射光スポットの行方向における入射位置の変位量を、Out(Y)から簡易に検出することができる。
なお、重心位置Mpx,Mpyは、実際に物理的に配置されている画素11の位置と厳密に一致しないおそれがある。この結果、演算部41,51によって重心位置Mpx,Mpyを演算したフレームにおいて、比較部44,54による比較結果が、Out(X)=0,Out(Y)=0とならないおそれがある。この場合においても、Out(X)及びOut(Y)における時間変化量を導出することで、当該時間変化量から行方向及び列方向の入射位置の変位量を検出することができる。
以上のように、演算部41,51によって演算を行ったフレームにおいて検出された入射位置からの変位量によって、現在の入射位置が検出され得る。
本発明に係る光検出方法は、第1フレームで読出工程によって読み出された信号データに基づいて、複数の画素11の中から、第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する画素設定工程を備えている。このため、第2フレームで、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、上記複数の画素11のうち光の入射位置の検出に適した画素群から信号データが読み出され得る。この場合、第1フレームで読み出された信号データに基づいて読み出す画素群が設定されるため、信号データを読み出す画素数が削減されても、入射光スポットの位置検出における位置検出精度(入射光スポットにおける入射位置検出の正確度)が確保され得る。読み出す画素数が削減されれば、位置検出速度が向上され得る。
以上、本発明の好適な実施形態について説明してきたが、本発明は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
たとえば、行方向読出画素設定部26又は列方向読出画素設定部36が、所定のフレームで読み出された信号データに基づいて、当該所定のフレームよりも後のフレームで信号データを読み出す画素群を設定すればよく、演算部41,51、決定部42,52、分割部43,53、及び比較部44,54は、光検出装置1の外部に設けられていてもよい。
決定部42,52は、フレーム毎に、信号データを読み出す画素群を決定してもよい。同様に、分割部43,53は、フレーム毎に、再分割を行ってもよい。決定部42,52が画素群の決定を行う際のトリガーとなる閾値Thx,Thyと、分割部43,53が再分割を行う際のトリガーとなる閾値Thx,Thyとは、異なる値であってもよい。
決定部42,52は、閾値Thx,Thyとは異なる条件が満たされたときに画素群の決定を行ってもよい。分割部43,53は、閾値Thx,Thyとは異なる条件が満たされたときに再分割を行ってもよい。上記異なる条件の例として、たとえば、比較値Out(X),Out(Y)が閾値Thx,Thyを超えることではなく、分割部43,53によって分けられたグループのうち1つのグループにおいてスポット光が検出されなかったことが条件とされてもよい。決定部42,52が画素群の決定を行う際のトリガーとなる条件と、分割部43,53が再分割を行う際のトリガーとなる条件とは、異なる条件であってもよい。
本実施形態では、行方向読出部21と列方向読出部31とは、複数の配線12及び複数の配線13からの信号データを時間で分割して読み出す。しかし、複数の配線12及び複数の配線13からの信号データを分割して、同時に並列に読み出してもよい。たとえば、部分読出部24は、信号データX1と信号データX2とを同時に並列に読み出してもよく、部分読出部34は、信号データY1と信号データY2とを同時に並列に読み出してもよい。
1…光検出装置、11…画素、12,13…配線、12A,12B,13A,13B…グループ、15,16…光感応部、21…行方向読出部、31…列方向読出部、26…行方向読出画素設定部、36…列方向読出画素設定部、41,51…演算部、42,52…決定部、43,53…分割部、44,54…比較部、X,Y,X1,X2,Y1,Y2…信号データ、Out(X),Out(Y)…比較値、Thx,Thy…閾値、α,β…分割位置。

Claims (10)

  1. 光の入射位置を検出する光検出装置であって、
    行列状に2次元配列されていると共に、各々が第1光感応部及び第2光感応部を含む複数の画素と、
    複数の前記第1光感応部を行ごとに接続する複数の第1配線と、
    複数の前記第2光感応部を列ごとに接続する複数の第2配線と、
    前記複数の第1配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す第1読出部と、
    前記複数の第2配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す第2読出部と、を備え、
    前記第1読出部は、第1フレームで読み出された信号データに基づいて、前記複数の画素の中から、前記第1フレームよりも後の第2フレームで信号データを読み出す画素群を設定する読出画素設定部を有する、光検出装置。
  2. 前記読出画素設定部は、前記第1フレームで信号データを読み出す画素群を、前記複数の画素のうちの第1画素群に設定し、前記第1フレームで読み出された信号データに基づいて、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を、前記第1画素群に接続されている複数の前記第1配線のうち一部の第1配線に接続されている第2画素群に設定する、請求項1に記載の光検出装置。
  3. 前記読出画素設定部は、
    前記複数の画素が配列されている領域を区分けすることで、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける分割部と、
    前記分割部によって分けられたグループ間で、各前記グループから読み出された信号データを比較する比較部と、
    前記比較部での比較結果に基づいて、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定する決定部と、を有する、請求項1又は2に記載の光検出装置。
  4. 前記第1読出部は、前記分割部によって分けられた前記グループごとに、各前記グループにおける複数の前記第1配線から出力された信号の情報を1つの信号にまとめて信号データを読み出すビニング読出部を有し、
    前記比較部は、前記グループ間で、前記ビニング読出部によって読み出された信号データを比較する、請求項3に記載の光検出装置。
  5. 前記分割部は、前記比較部での比較結果に基づいて、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける、請求項3又は4に記載の光検出装置。
  6. 前記分割部は、前記比較部での比較によって求められた比較値の時間変化量に基づいて、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分け、
    前記決定部は、前記時間変化量に基づいて、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を決定する、請求項3〜5のいずれか一項に記載の光検出装置。
  7. 前記分割部は、前記比較部での比較によって求められた比較値又は当該比較値の時間変化量が所定値を超えた場合に、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分ける、請求項3〜6のいずれか一項に記載の光検出装置。
  8. 前記決定部は、前記比較部での比較によって求められた比較値又は当該比較値の時間変化量が所定値を超えた場合に、前記第2フレームの前のフレームで信号データを読み出した画素群と異なる画素群を、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群に決定する、請求項3〜7のいずれか一項に記載の光検出装置。
  9. 前記読出画素設定部は、前記複数の第1配線の少なくとも一部を通して出力された信号の行方向又は列方向へ射影された信号データの重心位置を演算する演算部を更に有し、
    前記分割部は、前記演算部によって演算された前記重心位置に基づいて、前記複数の画素が配列されている領域を区分けすることで、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群を複数のグループに分け、
    前記決定部は、前記演算部によって演算された前記重心位置に基づいて、前記第2フレームで信号データを読み出す画素群として設定する画素群を決定する、請求項3〜8のいずれか一項に記載の光検出装置。
  10. 行列状に2次元配列されていると共に各々が第1光感応部及び第2光感応部を含む複数の画素と、複数の前記第1光感応部を行ごとに接続する複数の第1配線と、複数の前記第2光感応部を列ごとに接続する複数の第2配線とを備えた光検出装置を用いて、前記複数の第1配線の少なくとも一部を通して出力される信号から行方向へ射影された信号データを読み出し、前記複数の第2配線の少なくとも一部を通して出力される信号から列方向へ射影された信号データを読み出し、読み出された2つの信号データから光の2次元入射位置を検出する光検出方法であって、
    複数のフレームで前記複数の第1配線の少なくとも一部を通して信号データを読み出す読出工程と、
    第1フレームで前記読出工程によって読み出された信号データに基づいて、前記複数の画素の中から、前記第1フレームよりも後の第2フレームで信号を読み出す画素群を設定する画素設定工程と、を備える光検出方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112860077B (zh) * 2021-02-26 2023-05-30 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板的信号读取方法和装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004351057A (ja) * 2003-05-30 2004-12-16 Aruze Corp 遊技機
JP2005323190A (ja) * 2004-05-10 2005-11-17 Hamamatsu Photonics Kk 撮像システムおよび撮像方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7193197B2 (en) * 2001-12-05 2007-03-20 Hamamatsu Photonics K.K. Light detection device, imaging device and distant image acquisition device
JP3965049B2 (ja) * 2001-12-21 2007-08-22 浜松ホトニクス株式会社 撮像装置
JP4972569B2 (ja) * 2008-01-24 2012-07-11 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置
US9304574B2 (en) * 2012-04-13 2016-04-05 Pixart Imaging Inc. Remote device and power saving method of interactive system
WO2017169122A1 (ja) 2016-03-30 2017-10-05 ソニー株式会社 光電変換素子および光電変換装置
US10218923B2 (en) * 2017-02-17 2019-02-26 Semiconductor Components Industries, Llc Methods and apparatus for pixel binning and readout

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004351057A (ja) * 2003-05-30 2004-12-16 Aruze Corp 遊技機
JP2005323190A (ja) * 2004-05-10 2005-11-17 Hamamatsu Photonics Kk 撮像システムおよび撮像方法

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