JP2018194501A - 測距装置 - Google Patents

測距装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018194501A
JP2018194501A JP2017100224A JP2017100224A JP2018194501A JP 2018194501 A JP2018194501 A JP 2018194501A JP 2017100224 A JP2017100224 A JP 2017100224A JP 2017100224 A JP2017100224 A JP 2017100224A JP 2018194501 A JP2018194501 A JP 2018194501A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel group
measuring device
distance measuring
light
pixels belonging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017100224A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6981043B2 (ja
Inventor
洋孝 松尾
Hirotaka Matsuo
洋孝 松尾
利明 長井
Toshiaki Nagai
利明 長井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2017100224A priority Critical patent/JP6981043B2/ja
Publication of JP2018194501A publication Critical patent/JP2018194501A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6981043B2 publication Critical patent/JP6981043B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

【課題】光の飛翔時間から被写体までの距離を求める測距装置を用いて被写体の動き検出する際に要する時間を抑制する技術を提供する。【解決手段】受光部5は、複数の画素を有する。受光制御部6は、受光部5が有する複数の画素の一部を第1画素群、第1画素群以外の複数の画素のうち少なくとも一部を第2画素群として、照射光に対する位相が互いに異なる複数種類のシャッタの中から、第1画素群および第2画素群に対して個別に選択したシャッタを適用して、受光部5に受光を行わせる。処理部7は、第1画素群での検出結果から、照射光を反射した被写体までの距離を求め、第2画素群での検出結果から、被写体の動きを検出する。受光制御部6は、第1画素群に対しては、異なる種類のシャッタを順次適用し、第2画素群に対しては、同じ種類のシャッタを連続して適用する。【選択図】図1

Description

本開示は、光の飛翔時間から被写体までの距離を求める測距装置を用いて被写体の動きを検出する技術に関する。
下記特許文献1には、位相型TOFセンサを用いて、異なるタイミングで取得した2枚の距離画像から、被写体の奥行き方向の移動ベクトルを算出する技術が記載されている。
位相型TOFセンサとは、繰り返し周期を持つパターンで変調された変調光を空間に発光し、変調光が対象物で反射した戻り光を含む入射光を受光して電荷を蓄積し、その電荷の蓄積状態に基づいて変調光と戻り光との間の位相差を計測し、自装置から対象物までの距離を計測するものである。なお、TOFは、Time Of Fightの略である。
特開2010−002326号公報
しかしながら、発明者の詳細な検討の結果、従来装置を用いて動きを検出する場合、以下の課題があることが見出された。
即ち、一般的な位相型TOFセンサは、0度、90度、180度、270度の4位相で測定した画像から1枚の距離画像を作成する。このため、距離画像を生成するには、4回の測定が必要となる。更に、従来技術では、動き検出のために、2枚の距離画像を用いるため、4位相×2回で合計8枚の画像を取得する必要があり、被写体の動き検出に時間を要する。
本開示では、光の飛翔時間から被写体までの距離を求める測距装置を用いて被写体の動き検出する際に要する時間を抑制する技術を提供する。
本開示の1つの局面による測距装置は、受光部(5)と、受光制御部(6)と、処理部(7)とを備える。 受光部は、複数の画素を有する。受光制御部は、受光部が有する複数の画素の一部を第1画素群、第1画素群以外の複数の画素のうち少なくとも一部を第2画素群として、照射光に対する位相が互いに異なる複数種類のシャッタの中から、第1画素群および第2画素群に対して個別に選択したシャッタを適用して、受光部に受光を行わせる。処理部は、第1画素群での検出結果から、照射光を反射した被写体までの距離を求め、第2画素群での検出結果から、被写体の動きを検出する。更に、受光制御部は、第1画素群に対しては、異なる種類のシャッタを順次適用し、第2画素群に対しては、同じ種類のシャッタを連続して適用する。
このような構成によれば、第1画素群と第2画素群とにより、被写体までの距離の算出に必要な画像と、被写体の動きの検出に必要な画像とが並行して取得されるため、被写体の動きを検出するまでに要する時間を抑制することができる。
なお、この欄及び特許請求の範囲に記載した括弧内の符号は、一つの態様として後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであって、本開示の技術的範囲を限定するものではない。
測距装置の全体構成を示すブロック図である。 画素の構成を示す回路図である。 4種類のシャッタを示す説明図である。 第1実施形態における受光制御部の動作を示すタイミング図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の他の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の他の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の他の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の他の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第2実施形態における受光制御部の動作を示すタイミング図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第3実施形態における受光制御部の動作を示すタイミング図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第4実施形態における受光制御部の動作を示すタイミング図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の他の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の他の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 画素の他の構成例を示す回路図である。 画素の動作を示すタイミング図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方の変形例を示す説明図である。 第1画素群および第2画素群の割り当て方の変形例、および各画素群においてシャッタの位相が変化する様子を示す説明図である。 2種類のシャッタを示す説明図である。 2種類のシャッタを使用する場合における受光制御部の動作を示すタイミング図である。 6種類のシャッタを示す説明図である。 6種類のシャッタを使用する場合における受光制御部の動作を示すタイミング図である。 8種類のシャッタを示す説明図である。 8種類のシャッタを使用する場合における受光制御部の動作を示すタイミング図である。
以下、図面を参照しながら、本開示の実施形態を説明する。
[1.第1実施形態]
[1−1.構成]
測距装置1は、いわゆる位相型TOFセンサであり、例えば、車両に搭載され、車両の運転支援制御等に必要な情報である、車両の周囲に存在する各種物体を検出するために使用される。なお、TOFは、Time Of Fightの略である。測距装置1は、図4に示すように、予め設定された期間を有する1フレームの間に複数回(本実施形態では4回)発光し、その測定結果から被写体との距離および被写体の動きを検出する動作を繰り返す。
測距装置1は、図1に示すように、受光部5と、受光制御部6と、処理部7とを備える。また、測距装置1は、信号源2と、駆動部3と、発光部4とを備えてもよい。
信号源2は、予め設定された測定周期でパルス信号を生成する。
駆動部3は、信号源2が生成したパルス信号に従って発光部4を駆動する。
発光部4は、発光素子を有し、駆動部3の駆動に従って、パルス状の照射光を出力する。発光素子は、レーザダイオードや発光ダイオード等が用いられる。
受光部5は、2次元アレイ状に配列された複数の受光素子を備える。受光素子は、フォトダイオードやアバランシェフォトダイオード等が用いられる。以下では、個々の受光素子およびその周辺回路を総称して画素ともいう。
画素は、図2に示すように、受光素子51と、キャパシタ52と、シャッタスイッチ53と、リセットスイッチ54と、リードスイッチ55とを備える。キャパシタ52は、一端が接地され、他端がリセットスイッチ54を介して電源に接続されている。受光素子51は、アノードが接地され、カソードがシャッタスイッチ53を介してキャパシタ52の非接地端に接続されている。キャパシタ52の非接地端は、更に、リードスイッチ55を介して読出線に接続されている。
このように構成された画素では、シャッタスイッチ53およびリードスイッチ55をオフした状態で、リセットスイッチ54をオンすると、キャパシタ52が既知の電圧VDDで充電された状態となる。また、リセットスイッチ54およびリードスイッチ55をオフした状態で、シャッタスイッチ53をオンすることで、受光素子51に入射する光量の大きさに応じて発生した電荷が、キャパシタ52に蓄積される。シャッタの制御信号は変調光に同期した信号であるので、自装置から対象物までの距離に応じてキャパシタ52に蓄積される電荷の電荷量が変化する。シャッタスイッチ53およびリセットスイッチ54をオフした状態で、リードスイッチ55をオンすると、読出線にキャパシタ52の非接地端の電位が読み出され、処理部7に出力される。
一般的に、位相型TOFセンサでは対象物までの距離を計測するために数μs〜数ms程度の時間の電荷の蓄積が必要である。一方、発光部4から発光される変調光の変調周波数は数十MHzである。よって、変調の1周期は数十ns程度であるため、十分な精度で距離計測を行うために、数千〜数十万回にわたって電荷の蓄積を行う。
図1に戻り、受光制御部6は、信号源2からのパルス信号のタイミング(以下、照射タイミング)に従い、各画素のシャッタスイッチ53、リセットスイッチ54、リードスイッチ55を制御する。シャッタスイッチ53は、図3に示すように、互いに位相の異なる4種類のゲート信号G1〜G4で制御される。なお、ゲート信号G1〜G4がハイレベルのときに、シャッタスイッチ53はオンする。具体的には、照射タイミングから検知最大距離からの反射光を受光するタイミングまでに要する期間を360度の位相で表現するものとして、ゲート信号G1〜G4は、以下のように定義される。ゲート信号G1は、位相が0度〜180度の期間だけハイレベルとなる信号である。ゲート信号G2は、位相が90度〜270度の期間だけハイレベルとなる信号である。ゲート信号G3は、位相が180度〜360度の期間だけハイレベルとなる信号である。ゲート信号G4は、位相が0度〜90度および270度〜360度の期間だけハイレベルとなる信号である。
受光制御部6は、受光部5に含まれる複数の画素を、第1画素群Aと第2画素群Bとを含む複数の画素群に分けて制御する。そして、図4に示すように、受光制御部6は、第1画素群Aに対しては、1フレーム中の4回の光の照射毎に、ゲート信号G1〜G4を順番に切り替えて使用する。これにより第1画素群Aからは、互いに位相の異なる4種類のシャッタを用いて取得された4つの画像が処理部7に供給される。また、受光制御部6は、第2画素群Bに対しては、先の2回の照射に対しては、ゲート信号G1を連続して使用し、後の2回の照射に対してはゲート信号G3を連続して使用する。これによりゲート信号G1を使用して異なるタイミングで得られた一対の画像と、ゲート信号G3を使用して異なるタイミングで得られた一対の画像とが得られ、これら2対の画像が処理部7に供給される。
第1画素群Aに属する画素および第2画素群Bに属する画素は、市松模様を形成する配置となるように構成されている。具体的には、受光部5の受光面は、図5に示すように、縦2画素および横2画素のサイズを有する合計4画素の単位パターンをしきつめたものとなる。ここでは、第1画素群Aに属する画素が、単位パターンの左上および右下の画素に割り当てられ、第2画素群Bに属する画素が、単位パターンの右上および左下の画素に割り当てられている。
なお、受光制御部6と受光部5との間の配線は、第1画素群Aおよび第2画素群Bをグループ単位で制御するような配線としてもよいし、画素毎に個別に制御するような配線としてもよい。但し、後者の場合、受光制御部6での制御によって、画素群を区分けする必要がある。
処理部7は、受光部5から供給される4枚の画像から、第1画素群Aに属する画素の測定値に基づき、照射光を反射した被写体までの距離を求める。また、処理部7は、受光部5から供給される4枚の画像から、第2画素群Bに属する画素の測定値に基づき、被写体の動きを算出する。また、第2画素群Bに属する画素からは距離が算出できないため、周囲にある第1画素群Aの測定値をもとに距離データを補間してもよい。これら被写体の距離の算出および被写体の動きの検出に関する具体的な処理の内容は、例えば、従来技術で示した特許文献1等に詳述されているため、ここでの説明は省略する。
処理部7は、CPUと、RAM、ROM、フラッシュメモリ等の半導体メモリ(以下、メモリ)と、を有する周知のマイクロコンピュータを備えていてもよい。この場合、処理部7の各種機能は、CPUが非遷移的実体的記録媒体に格納されたプログラムを実行することにより実現される。この例では、メモリが、プログラムを格納した非遷移的実体的記録媒体に該当する。また、このプログラムが実行されることで、プログラムに対応する方法が実行される。なお、処理部7は、1つのマイクロコンピュータを備えてもよいし、複数のマイクロコンピュータを備えてもよい。処理部7の機能を実現する手法はソフトウェアに限るものではなく、その一部又は全部の要素について、一つあるいは複数のハードウェアを用いて実現してもよい。
[1−3.効果]
以上詳述した第1実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1a)測距装置1では、受光部5を、第1画素群Aおよび第2画素群Bに分けて、画素群毎に、異なるシャッタ制御を行うことによって、被写体との距離の算出に必要な画像と、被写体の動きの検出に必要な画像とを並行して取得する。従って、被写体の動きが検出されるまでに要する時間を抑制することができる。即ち、図4に示すように、従来技術では、フレーム毎に算出された距離画像同士を比較することで、動きを検出しているため、動きの検出に2フレームを要していたが、本実施形態では、動きの検出も1フレームで完了することができる。
(1b)測距装置1では、第1画素群Aに属する各画素は、位相が90度ずつ異なる4位相のシャッタで計測を行い、第2画素群Bに属する各画素は、位相が180度異なる2位相のシャッタ、即ち、0度と180度、もしくは90度と270度で計測を行っている。これにより、照射光と反射光の位相差が0度〜360度の範囲のいずれであっても、被写体の動きを検出することができる。
(1c)測距装置1では、第1画素群Aに属する画素と、第2画素群Bに属する画素とが市松模様を形成する配置にされているため、受光面の上下方向と左右方向とで同じ分解能を得ることができる。なお、第1画素群Aに属する画素と第2画素群Bに属する画素の配置は、図20に示すように、互いに入れ替わっていても良い。すなわち第1画素群Aに属する画素が、単位パターンの右上および左下の画素に割り当てられ、第2画素群Bに属する画素が、単位パターンの左上および右下の画素に割り当てられていても良い。
[1−4.ゲート信号G1〜G4の切り替え方の変形例]
なお、ゲート信号G1〜G4の切り替え方は、上述したものに限定されるものではない。
第1画素群Aでは、1フレーム中の4回の光の照射に対して4種類のシャッタを1回ずつ適用すればよく、その順番に制限は無い。
第2画素群Bでは、例えば、ゲート信号G1とゲート信号G3の順番を入れ替えても良い。この場合、図21に示すように、先の2回の照射に対しては、ゲート信号G3(即ち、位相180度シャッタ)を連続して使用し、後の2回の照射に対してはゲート信号G1(即ち、位相0度シャッタ)を連続して使用してもよい。なお、図21では、単位パターンにおける市松模様での第1画素群Aに属する画素と第2画素群Bに属する画素との配置が、第1実施形態とは反対、即ち、図20に示したものと同様にして示している。
また、第2画素群Bでは、例えば、ゲート信号G1の代わりにゲート信号G2を適用し、かつゲート信号G3の代わりにゲート信号G4を適用しても良い。すなわち先の2回の照射に対しては、ゲート信号G2(即ち、位相90度のシャッタ)を連続して使用し、後の2回の照射に対してはゲート信号G4(即ち、位相270度のシャッタ)を連続して使用してもよい。この場合、更に、ゲート信号G2とゲート信号G4の順番を入れ替え、先の2回の照射に対しては、ゲート信号G4を連続して使用し、後の2回の照射に対してはゲート信号G2を連続して使用してもよい。
[1−5.画素配置の変形例]
本実施形態では、第1画素群Aに属する画素と、第2画素群Bに属する画素とが、市松模様を形成する配置としたが、これに限定されるものではない。
例えば、図6に示すように、4画素の単位パターンは、第1画素群Aに属する画素を単位パターンの左半分に配置し、第2画素群Bに属する画素を単位パターンの右半分に配置したものであってもよい。この場合、両画素群に属する画素が縦縞模様を形成する配置となり、上述した(1c)の効果の代わりに、受光面の上下方向の分解能を高めることができるという効果が得られる。
また、図7に示すように、4画素の単位パターンは、第1画素群Aに属する画素を単位パターンの上半分に配置し、第2画素群Bに属する画素を単位パターンの下半分に配置したものであってもよい。この場合、両画素群に属する画素が横縞模様を形成する配置となり、上述した(1c)の効果の代わりに、受光面の左右方向の分解能を高めることができるという効果が得られる。
また、図8に示すように、受光面上に注目領域(即ち、ROI)を設定すると共に、その左右両側に付加領域を設定し、第1画素群Aに属する画素を注目領域に配置し、第2画素群Bに属する画素を付加領域に配置してもよい。注目領域は、固定されていてもよいし、前回のフレームまでに検出された被写体の位置に基づいて動的に設定してもよい。例えば、自車両の前方を注目領域として設定した場合、注目領域で検出される自車線上の物体、例えば、先行車両等については、精度よく距離を求めることができる。また、付加領域で検出される物体、例えば、隣接車線から自車線に割り込もうとしている車両や、歩道から道路に進入しようとしている歩行者等については、その動きを精度よく検出することができる。
なお、図9に示すように、図8に示す場合とは反対に、第1画素群Aに属する画素を付加領域に配置し、第2画素群Bに属する画素を注目領域に配置してもよい。
また、第1画素群Aに属する画素および第2画素群Bに属する画素は、受光面内の特定の部位に集めて配置してもよい。例えば、図22に示す変形例1のように、受光面全体のうち特定の一部の領域を第2画素群Bとし、その他の領域を第1画素群Aとしても良い。この場合、例えば、ドアの開閉を第2画素群Bで監視しておき、ドアの開閉無き場合は第2画素群B以外の画素や、第2画素群B以外の領域を照らす発光部を停止させることで低消費電力化を図ることができる。また、図22に示す変形例2のように、第1画素群Aおよび第2画素群Bの少なくとも一方が、複数ヶ所にあってもよい。更に、図22に示す変形例3のように、3種類以上の画素群が存在しても良い。すなわち、受光面全体の中には、ゲート信号G1〜G4の切り替え方が、第1画素群Aおよび第2画素群Bのいずれとも異なる画素群が1つ以上あっても良い。
[2.第2実施形態]
[2−1.第1実施形態との相違点]
第2実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
第2実施形態では、受光制御部6による制御、特に第2画素群Bに対する制御が、第1実施形態と相違する。
図10および図11に示すように、本実施形態における受光制御部6は、第1画素群Aに対しては、第1実施形態の場合と同様の制御を行う。即ち、光の照射毎に、ゲート信号G1〜G4を順番に切り替えて使用し、各フレームについて、同じ制御を繰り返す。
第2画素群Bに対しては、2フレームを1サイクルとして制御を行い、一つ目のフレームでは、第1実施形態の場合と同様の制御を行う。即ち、先の2回の照射に対しては、ゲート信号G1を連続して使用し、後の2回の照射に対してはゲート信号G3を連続して使用する。そして、二つ目のフレームでは、先の2回の照射に対しては、ゲート信号G2を連続して使用し、後の2回の照射に対しては、ゲート信号G4を連続して使用する。これにより、ゲート信号G2(即ち、位相90度のシャッタ)およびゲート信号G4(即ち、位相270度のシャッタ)に対応した距離に位置する被写体について、異なるタイミングで取得された2対の画像が得られる。
[2−2.効果]
以上詳述した第2実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)〜(1c)を奏する。
なお、第2画素群Bに対して使用するゲート信号G1〜G4は、1フレーム毎、又は複数フレーム毎に切り替えてもよい。
[3.第3実施形態]
[3−1.第1実施形態との相違点]
第3実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
第3実施形態では、受光制御部6による制御が、第1実施形態と相違する。
図12および図13に示すように、本実施形態における受光制御部6は、2フレームを1サイクルとして制御を行う。1フレーム目は、第1実施形態の場合と同様の制御を実行する。2フレーム目は、第1画素群Aと第2画素群Bとで画素の位置を入れ替えて、同様の制御を実行する。
[3−2.効果]
以上詳述した第3実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)〜(1c)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
(3a)本実施形態によれば、第1画素群Aと第2画素群Bとで画素の位置が1フレーム毎に入れ替わり、それぞれの画素群A,Bが受光面を形成する全ての画素を利用して計測や検出を行うことになる。従って、本実施形態によれば、第1および第2実施形態の場合と比較して、上下方向および左右方向の分解能をいずれも向上させることができる。
[4.第4実施形態]
[4−1.第1実施形態との相違点]
第4実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
第4実施形態では、受光制御部6による制御、および画素群の構成が、第1実施形態と相違する。
図14および図15に示すように、本実施形態では、第1画素群Aが、二つの第1副画素群A1,A2に分けられ、同様に、第2画素群Bも、二つの第2副画素群B1,B2に分けられている。そして、4画素の単位パターンにおいて、第1副画素群A1に属する画素が単位パターンの左上に位置し、第1副画素群A2に属する画素を単位パターンの右下に位置する。また、4画素の単位パターンにおいて、第2副画素群B1に属する画素が右上に位置し、第2副画素群B2に属する画素が左下に位置する。
なお、図23に示す変形例1のように、第1画素群Aと第2画素群Bの配置を入れ替えても良い。また、図23に示す変形例2のように、第1副画素群A1とA2の配置を入れ替えてもよい。更に、図23に示す変形例3のように、第2副画素群B1とB2の配置を入れ替えてもよい。
本実施形態における受光制御部6は、1フレーム毎に2回の照射を行う。そして、第1副画素群A1は、1回目の照射ではゲート信号G1、2回目の照射ではゲート信号G3により制御される。第1副画素群A2は、1回目の照射ではゲート信号G2、2回目の照射ではゲート信号G4により制御される。また、第2副画素群B1は、1回目、2回目のいずれの照射もゲート信号G1により制御され、第2副画素群B2は、1回目、2回目のいずれの照射もゲート信号G3により制御される。
上記のような制御を適用することにより、第1画素群Aでは1つの画像で2位相分の情報を得ることができ、2つの画像を取得するだけで4位相分の情報を取得することができる。すなわち、2枚の画像のみで被写体までの距離を算出することができる。
また、上記制御により第2画素群Bでも同様に1つの画像で2位相分の情報を得ることができ、照射光と反射光の位相差が0度〜360度の何れの場合でも、2枚の画像を取得するだけで被写体の動きを求めることができる。
[4−2.効果]
以上詳述した第3実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)〜(1c)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
(4a)本実施形態によれば、1フレームでの照射回数が2回で済むため、第1〜第3実施形態と比較して、より短時間で、被写体との距離の算出および被写体の動きの検出を行うことができる。
[4−3.画素配置の変形例]
本実施形態では、第1画素群Aに属する画素と、第2画素群Bに属する画素とが、市松模様を形成する配置としたが、これに限定されるものではない。
例えば、図16に示すように、4画素の単位パターンは、第1副画素群A1に属する画素を左上、第1副画素群A2に属する画素を左下、第2副画素群B1に属する画素を右上、第2副画素群B2に属する画素を右下に配置したものであってもよい。
また、図17に示すように、4画素の単位パターンは、第1副画素群A1に属する画素を左上、第1副画素群A2に属する画素を右上、第2副画素群B1に属する画素を左下、第2副画素群B2に属する画素を右下に配置したものであってもよい。
なお、図16および図17に示した単位パターンにおいても、図23に示した変形例1〜3の場合と同様に、第1画素群Aと第2画素群Bの配置を入れ替えたり、第1副画素群A1とA2の配置を入れ替えたり、第2副画素群B1とB2の配置を入れ替えたりしてもよい。
[5.他の実施形態]
以上、本開示の実施形態について説明したが、本開示は上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。
(5a)上記実施形態では、各画素の構成として、図2に示すものを例示したが、これに限定されるものではない。例えば、図18に示すように、一つの受光素子51に対して、図2に示したキャパシタ52、シャッタスイッチ53、リセットスイッチ54、リードスイッチ55と同様に構成された、2セットのキャパシタ52a,52b、シャッタスイッチ53a,53b、リセットスイッチ54a,54b、リードスイッチ55a,55bを備えていてもよい。この場合、図19に示すように、二つのシャッタスイッチ53a,53bを逆位相で動作させる。そして、両キャパシタから読み出した値Da,Dbの比を、計測値として用いればよい。また、各画素を構成するキャパシタの数は、上述した1個および2個に限定されるものではなく3個以上備えていてもよい。
(5b)上記実施形態では、第2画素群Bに使用するシャッタ(即ち、ゲート信号)を2シャッタ毎に切り替えているが、同じシャッタの継続数は、3以上であってもよい。
(5b)上記実施形態では、互いに位相の異なる4種類のシャッタを用いているが、シャッタの種類数はこれに限定されるものではない。例えば、2種類のシャッタや6種類のシャッタ、8種類のシャッタあるいは、これら以外にも、360の約数で2以上のものをMで表すものとして、M種類数のシャッタを用いても良い。
2種類のシャッタを用いる場合、例えば、図24に示すように、位相が0度〜180度の期間だけハイレベルとなるゲート信号(即ち、位相0度のシャッタ)、および位相が180度〜360度の期間だけハイレベルとなるゲート信号(即ち、位相180度のシャッタ)を用いる。この場合、発光部4は、1フレーム毎に2回の照射を行う。そして、受光制御部6は、例えば、図25に示すように、第1画素群Aに対しては、2種類のゲート信号を、照射毎に交互に切り替えて使用する。第2画素群Bに対しては、2フレームを1サイクルとして制御を行い、一つ目のフレームでは、一方のゲート信号(例えば、位相0度のシャッタ)を連続して使用し、二つ目のフレームでは、他方のゲート信号(例えば、位相180度のシャッタ)を連続して使用する。
6種類のシャッタを用いる場合、例えば、図26に示すように、位相が60度ずつ異なり、それぞれ180度に相当する期間だけハイレベルとなる6種類のゲート信号を用いる。この場合、発光部4は、1フレーム毎に6回の照射を行う。そして、受光制御部6は、例えば、図27に示すように、第1画素群Aに対しては、6種類のゲート信号を順番に切り替えて使用する。第2画素群Bに対しては、先の3回の照射と後の3回の照射とで位相が180度異なるゲート信号が使用されるように切り替える。なお、第2画素群Bについては、照射を2回ずつに分割し、位相が120度ずつ異なる3種類のゲート信号が使用されるように切り替えてもよい。
8種類のシャッタを用いる場合、例えば、図28に示すように、位相が45度ずつ異なり、それぞれ180度に相当する期間だけハイレベルとなる8種類のゲート信号を用いる。この場合、発光部4は、受光制御部6は、1フレーム毎に8回の照射を行う。そして、受光制御部6は、例えば、図29に示すように、第1画素群Aに対しては、8種類のゲート信号を順番に切り替えて使用する。第2画素群Bに対しては、先の4回の照射と後の4回の照射とで位相が180度異なるゲート信号が使用されるように切り替える。なお、第2画素群Bについては、照射を2回ずつに分割し、位相が90度ずつ異なる4種類のゲート信号が使用されるように切り替えてもよい。
つまり、M種類のシャッタを用いる場合、N=360/Mとして、位相がN度ずつ異なり、m×N度〜m×N+180度に相当する期間だけハイレベルとなるM種類のゲート信号を用いればよい。なお、m=0,1,2,…,M−1である。
これら、M種類のシャッタを用いる場合も、画素群の配列や画素群毎のゲート信号の切り替え方は、4種類のシャッタを用いる上記実施形態について説明したものと同様のバリエーションを適用することができる。
(5c)上記実施形態では、第1画素群Aに属する画素と、第2画素群Bに属する画素の配置を、4画素の単位パターンで示したが、これに限定されるものではない。画素の配置は、例えば、9画素や16画素の単位パターンで示されるより複雑なパターンを有していてもよい。
(5d)上記実施形態における1つの構成要素が有する複数の機能を、複数の構成要素によって実現したり、1つの構成要素が有する1つの機能を、複数の構成要素によって実現したりしてもよい。また、複数の構成要素が有する複数の機能を、1つの構成要素によって実現したり、複数の構成要素によって実現される1つの機能を、1つの構成要素によって実現したりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加又は置換してもよい。なお、特許請求の範囲に記載した文言から特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本開示の実施形態である。
(5e)上述した測距装置の他、当該測距装置を構成要素とするシステム、シャッタ制御方法など、種々の形態で本開示を実現することもできる。
1…測距装置、2…信号源、3…駆動部、4…発光部、5…受光部、6…受光制御部、7…処理部、51…受光素子、52,52a,52b…キャパシタ、53,53a,53b…シャッタスイッチ、54,54a,54b…リセットスイッチ、55,55a,55b…リードスイッチ。

Claims (12)

  1. 位相型のTOF測距を行う測距装置であって、
    複数の画素を有する受光部(5)と、
    前記受光部が有する複数の画素の一部を第1画素群、前記第1画素群以外の複数の画素のうち少なくとも一部を第2画素群として、照射光に対する位相が互いに異なる複数種類のシャッタの中から、前記第1画素群および前記第2画素群に対して個別に選択した前記シャッタを適用して、前記受光部に受光を行わせる受光制御部(6)と、
    前記第1画素群での検出結果から、前記照射光を反射した被写体までの距離を求め、前記第2画素群での検出結果から、前記被写体の動きを検出する処理部(7)と、
    を備え、
    前記受光制御部は、前記第1画素群に対しては、異なる種類のシャッタを順次適用し、前記第2画素群に対しては、同じ種類のシャッタを連続して適用するように構成された、
    測距装置。
  2. 請求項1に記載の測距装置であって、
    前記第1画素群に属する画素と前記第2画素群に属する画素とが市松模様を形成する配置となるように構成された、
    測距装置。
  3. 請求項1に記載の測距装置であって、
    前記第1画素群に属する画素と前記第2画素群に属する画素とが縦縞模様を形成する配置となるように構成された、
    測距装置。
  4. 請求項1に記載の測距装置であって、
    前記第1画素群に属する画素と前記第2画素群に属する画素とが横縞模様を形成する配置となるように構成された、
    測距装置。
  5. 請求項1に記載の測距装置であって、
    前記受光部が形成する受光面において、設定された注目領域に前記第1画素群に属する画素が配置され、前記注目領域を挟んで位置する一対の付加領域に前記第2画素群に属する画素が配置されるように構成された、
    測距装置。
  6. 請求項1に記載の測距装置であって、
    前記受光部が形成する受光面において、設定された注目領域に前記第2画素群に属する画素が配置され、前記注目領域を挟んで位置する一対の付加領域に前記第1画素群に属する画素が配置されるように構成された、
    測距装置。
  7. 請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の測距装置であって、
    前記受光制御部は、前記第2画素群に属する画素のシャッタの位相を、Nを2以上の整数として、Nシャッタ毎に変化させるように構成された、
    測距装置。
  8. 請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の測距装置であって、
    前記受光制御部は、前記第1画素群に属する画素と前記第2画素群に属する画素とを、周期的に入れ替えるように構成された、
    測距装置。
  9. 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の測距装置であって、
    前記第1画素群は、複数の第1副画素群を有し、
    前記受光制御部は、前記複数の第1副画素群に対して、それぞれ位相の異なるシャッタを適用するように構成された、
    測距装置。
  10. 請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の測距装置であって、
    前記第2画素群は、複数の第2副画素群を有し、
    前記受光制御部は、前記複数の第2副画素群に対して、それぞれ位相の異なるシャッタを適用するように構成された、
    測距装置。
  11. 請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の測距装置であって、
    Mが2以上の整数、N=360/M、m=0,1,2,…,M−1として、
    前記受光制御部は、m×N度の位相で表現されるM個のタイミングに対応したM種類のシャッタを用いるように構成された、
    測距装置。
  12. 請求項11に記載の測距装置であって、
    Mは、2,4,6,8のいずれかである
    測距装置。
JP2017100224A 2017-05-19 2017-05-19 測距装置 Active JP6981043B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017100224A JP6981043B2 (ja) 2017-05-19 2017-05-19 測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017100224A JP6981043B2 (ja) 2017-05-19 2017-05-19 測距装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018194501A true JP2018194501A (ja) 2018-12-06
JP6981043B2 JP6981043B2 (ja) 2021-12-15

Family

ID=64568880

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017100224A Active JP6981043B2 (ja) 2017-05-19 2017-05-19 測距装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6981043B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020190419A (ja) * 2019-05-20 2020-11-26 株式会社デンソー 光測距装置およびその方法
WO2021205888A1 (ja) * 2020-04-08 2021-10-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置および測距方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070121097A1 (en) * 2005-11-29 2007-05-31 Navisense, Llc Method and system for range measurement
JP2010002326A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Stanley Electric Co Ltd 移動ベクトル検出装置
JP2012169992A (ja) * 2011-02-16 2012-09-06 Mitsubishi Electric Corp 動き検出装置及び方法、映像信号処理装置及び方法、並びに映像表示装置
JP2016099233A (ja) * 2014-11-21 2016-05-30 株式会社デンソー 光飛行型測距装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070121097A1 (en) * 2005-11-29 2007-05-31 Navisense, Llc Method and system for range measurement
JP2010002326A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Stanley Electric Co Ltd 移動ベクトル検出装置
JP2012169992A (ja) * 2011-02-16 2012-09-06 Mitsubishi Electric Corp 動き検出装置及び方法、映像信号処理装置及び方法、並びに映像表示装置
JP2016099233A (ja) * 2014-11-21 2016-05-30 株式会社デンソー 光飛行型測距装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020190419A (ja) * 2019-05-20 2020-11-26 株式会社デンソー 光測距装置およびその方法
WO2020235411A1 (ja) * 2019-05-20 2020-11-26 株式会社デンソー 光測距装置およびその方法
JP7367339B2 (ja) 2019-05-20 2023-10-24 株式会社デンソー 光測距装置およびその方法
WO2021205888A1 (ja) * 2020-04-08 2021-10-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置および測距方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6981043B2 (ja) 2021-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20220043128A1 (en) Processing time-series measurements for lidar accuracy
US20230273320A1 (en) Processing system for lidar measurements
JP7392067B2 (ja) ライダーのための正確な光検出器測定
US11624835B2 (en) Processing of LIDAR images
CN107710015B (zh) 距离测量装置以及距离图像合成方法
EP3333893B1 (en) Solid-state imaging device
US20200341144A1 (en) Independent per-pixel integration registers for lidar measurements
EP3379291A1 (en) Imaging device and solid-state imaging element used in same
KR100820261B1 (ko) 화상 처리 장치
KR20200096632A (ko) 대상물의 다차원 검출을 위한 다중 펄스 라이다 시스템
JP2019531489A (ja) イメージング・アレイ内のピクセルの露出値から背景光を差し引くための方法、及び、この方法における使用のためのピクセル
EP3334152B1 (en) Solid-state imaging device
JP6666620B2 (ja) 距離画像計測装置
KR20160032014A (ko) 타임 오브 플라이트 시스템 구동 방법
US10948596B2 (en) Time-of-flight image sensor with distance determination
US20220057520A1 (en) Distance measurement apparatus and distance measurement method
JP6981043B2 (ja) 測距装置
CN111829449B (zh) 深度数据测量头、测量装置和测量方法
JP2016099233A (ja) 光飛行型測距装置
KR102434786B1 (ko) 거리 측정을 위한 방법 및 디바이스
EP4237792B1 (en) Three dimensional imaging system
JP7060413B2 (ja) 光検出装置及び光検出方法
WO2020235411A1 (ja) 光測距装置およびその方法
US20220075070A1 (en) Distance image measurement device, distance image measurement system, and distance image measurement method
JP6238229B2 (ja) 視差センサ及び相関信号の生成方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200416

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210330

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210526

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211019

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211101

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6981043

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151