JP6554909B2 - 受光装置 - Google Patents

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Description

本発明は、受光装置に関する。
カメラやLIDAR(light detection and ranging ,laser imaging detection and ranging;レーザレーダー)に用いる受光装置としては、例えば多数の受光素子をマトリクス状に配置したものがある。このような受光装置においては、受光信号から画像を生成する場合に、情報をより高精度で得るために、受光素子の集積度を高めることが要求されている。
しかしながら、受光素子数を増やしていくと、電源配線に接続される受光素子数も多くなる。これにより、各受光素子に必要な電力を供給するために電源配線を太くしていくことが必要になる。ところが、電源配線が太くなると、その部分には受光素子を配置できなくなり、集積度を上げることが難しくなる。このため、受光面あたりの素子数の配置個数に制限があり、感度の上昇が阻害されており、この結果、視野角を広げられないという点で限界がある。
特開2014−529923号公報
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、その目的は、受光素子の数を増やすことなく、画素空間を拡大して視野角を広げることができるようにした受光装置を提供することにある。
請求項1に記載の受光装置は、受光部および受光信号処理回路を備え配置領域内に二次元的に配列された複数の受光素子と、前記複数の受光素子のうち第1方向に配置されるものに給電するように設けられ、少なくとも受光部を除いた位置に配置される電源線とを備え、前記配置領域内には、前記複数の受光素子の少なくとも一部の数の受光素子が市松状に配置される市松配置領域が設けられている。
上記構成を採用することにより、市松配置領域では受光素子の数を半減させることができ、電源線を太いパターンにすることなく広い範囲から受光信号を得るように構成することができ、受光素子の数を増やすことなく、画素空間を拡大して視野角を広げることができる。
第1実施形態を示す受光装置の概略的な平面図 第2実施形態を示す作用説明図 第3実施形態を示す信号処理の説明図 第4実施形態を示す作用説明図 第5実施形態を示す受光装置の概略的な平面図 第6実施形態を示す受光装置の概略的な平面図 信号処理の説明図(その1) 信号処理の説明図(その2) 第7実施形態を示す2つの作用説明図 第8実施形態を示す作用説明図
(第1実施形態)
以下、本発明を車両に設けるレーザレーダー(LIDAR)の受光装置に用いた場合の第1実施形態について、図1を参照して説明する。
レーザレーダーは、発光部から半導体レーザなどの発光素子によりレーザ光を前方に照射してスキャンし、その反射光を照射タイミングからの受光時間差を求めて、レーザ光照射のスキャン位置に応じて物体の距離を検出するものである。この場合、レーザ光を二次元的にスキャンすることで前方の物体の距離を二次元的に検出するようにしている。また、レーザ光の照射は、同一の位置に対して複数回行い、得られた受光時間差の値を区分してヒストグラムを作成し、最も頻度の高い受光時間差のデータに基づいて距離を算出するようにしている。
このようなレーザレーダでは、受光装置1として、レーザ光を照射した方向から反射光を受光するように複数個の受光素子2を備えていて、それらの受光素子2により受光した距離情報から前方の障害物などの情報を画素情報として作成する。
次に、このような機能を担う受光装置1の構成について図1を参照して説明する。受光装置1は、複数の受光素子2とこれらの受光信号の信号処理を行う制御回路3とから構成されている。各受光素子2は、受光部2aと受光回路2bを有する。受光回路2bは、受光素子2毎に設けられ、受光部2aによる受光信号を増幅するなどの信号処理を行う。制御回路3は、画素情報処理部として機能する。
受光装置1の受光面には、受光素子2を密に配置するマトリクス配置領域1aと受光素子2を市松状に配置した市松配置領域1b、1cとが設けられる。この場合、市松配置領域1b、1cは、マトリクス配置領域1aの上下に分けて設けている。
これは、例えば、レーザ光を投光する検出対象領域として、マトリクス配置領域1aが道路前方の中心部に相当し、下側の市松配置領域1bが道路前方の至近距離に相当し、上側の市松配置領域1cが前方の道路から上の部分に相当している。この構成では、マトリクス配置領域1aを中央部に設けることで情報を詳細に必要とする領域をカバーすることができる。
マトリクス配置領域1aの受光素子2は、行方向および列方向に並ぶように配置され、隣接するもの同士が密な状態に設けられている。また、市松配置領域1b、1cでは、行方向および列方向のそれぞれにおいて、格子点を1個置きに受光素子2を配置した状態に設けられている。つまり、受光素子2の配置密度が1/2に減らされた状態である。
制御回路3は、受光素子2を配置した領域の一端側に設けられている。また、各受光素子2に対して動作電源を供給する電源線4が列毎に設けられ、制御回路3に導かれている。この場合、電源線4は、各列に設けられる受光素子2の数が市松配置領域1b、1cで半数になるので、給電による電圧降下を低減することができるため、全てをマトリクス配置領域とした場合に比べて電流容量を小さくした比較的細い配線パターンで設けることができる。
なお、各受光素子2からは、図示していないが受光信号を制御回路3に取り込むための信号線が設けられている。信号線を介して入力される各受光素子2の受光信号は、制御回路3において信号処理が行われ、前方の対象物までの距離が受光素子2の配置位置に対応付けた状態で二次元的に検出される。
このような第1実施形態によれば、受光装置1として、受光素子2をマトリクス状に密に配置するマトリクス配置領域1aと、受光素子2を市松状に配置する市松配置領域1b、1cを設ける構成とした。これにより、制御回路3から各列の受光素子2に対して設ける電源線4の電流容量を抑制することができるので、幅広なパターンにすることを避けることができ、受光素子2の受光回路2b上あるいは受光素子2間の狭い部分に配置することができる。したがって、電源線4のために受光素子2が配置できない領域を生じさせることなく、多数の受光素子2を配置し、全体として視野角を広げた受光装置1を提供することができる。
なお、この実施形態では、画素情報が密に必要な領域としてマトリクス配置領域1aを配置し、画素情報が少なくても足りる領域に対して市松配置領域1b、1cを割り当てているので実用上においても有効なものである。
また、全体として画素情報を密にしたほうが良い場合には、受光素子が配置されていない無素子画素に対応して、補間処理などを行って画素情報を生成することで連続的な画素情報として得ることができる。
なお、上記実施形態においては、市松配置領域1b、1cを設けるようにしたが、一方だけを設ける構成とすることもできる。また、市松配置領域1bを中心に配置し、その上下にマトリクス配置領域1aを配置することも可能である。
市松配置領域1b、1cを複数行単位で設けるようにしたが、複数列単位で設けることもできる。さらには、受光装置1の受光面をブロックに分けて、ブロック別にマトリクス配置領域と市松配置領域とに設定することもできる。
(第2実施形態)
図2は第2実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。第1実施形態のものでは、受光装置1の市松配置領域1b、1cについて、受光素子2が市松状に配置されているので画像が粗くなる。この実施形態では、これを滑らかな変化をする画像として処理するために、受光素子2を配置した画素である有素子画素の情報を利用して、受光素子2が配置されていない無素子画素についても画素情報を以下に示すような補間処理により生成するものである。
この場合、図2に示すように、補間処理をする対象となる無素子画素をAとし、これと上下で隣接(画素間距離「1」で隣接)する有素子画素aについて、画素情報を左側から反時計回りでa(1)〜a(4)とする。同様にさらにその外側で隣接(画素間距離「√5」で隣接)する有素子画素bについて、画素情報を順にb(1)〜b(8)とする。
また、直接参照して利用することはできないが、複数回補間処理をすることを前提とした場合には、一度補間処理により生成した無素子画素B、Cの画素情報についても利用することができる。この場合には、無素子画素Aの周囲で斜め方向で隣接(画素間距離「√2」で隣接)する無素子画素Bの画素情報の生成結果をB(1)〜B(4)とする。同様にさらに上下方向にその外側で隣接(画素間距離「2」で隣接)する無素子画素Cの画素情報の生成結果をC(1)〜C(4)とする。
次に、補間処理について具体的に説明する。
[A]無素子画素Aの補間処理として、有素子画素a、bなどの画素情報a(1)〜a(4)、b(1)〜b(8)を直接参照する場合には、例えば次の2つの方法を用いることができる。
[A−1]無素子画素Aの画素情報Aを、画素間距離「1」の有素子画素の画素情報a(1)〜a(4)で補間処理する。
このとき、画素情報を加算する場合の重み付け係数k1〜k4を設定している。均等に画素情報を参照する場合にはk1〜k4=0.25とすることができる。また、場所によって重み付けを変えるときには異なる値を設定することもできる。さらに、これらの重み付け係数の総和が「1」になるように設定する。無素子画素Aの画素情報Aは次式(1)のようにして求めることができる。
A=k1×a(1)+k2×a(2)+k3×a(3)+k4×a(4) …(1)
[A−2]無素子画素Aの画素情報Aを、画素間距離「1」、「√5」の有素子画素の画素情報a(1)〜a(4)、b(1)〜b(8)で補間する。
ここで、画素間距離「1」の有素子画素aの画素情報a(1)〜a(4)の重み付け係数をk1〜k4とする。また、画素間距離「√5」の有素子画素bの画素情報b(1)〜b(8)の重み付け係数をm1〜m8とする。ただし、重み付け係数k1〜k4およびm1〜m8の総和は「1」である。無素子画素Aの画素情報Aは次式(2)のようにして求めることができる。
A=k1×a(1)+k2×a(2)+k3×a(3)+k4×a(4)
+m1×b(1)+m2×b(2)+m3×b(3)+m4×b(4)
+m5×b(5)+m6×b(6)+m7×b(7)+m8×b(8) …(2)
[B]無素子画素Aの補間処理として、有素子画素aの画素情報a(1)〜a(4)および無素子画素Bの画素情報B(1)〜B(4)を参照する場合には、例えば次の2つの方法を用いることができる。この場合には、1回目の補間処理では無素子画素の画素情報が存在しないので、例えば1回目の補間処理として上記した[1]の補間処理を行うことで画素情報を生成する。この後、2回目以降の補間処理として無素子画素の画素情報も間接的に利用して補間処理を行う。
[B−1]無素子画素Aの画素情報を、画素間距離「1」の有素子画素の画素情報a(1)〜a(4)、画素間距離「√2」の無素子画素Bの画素情報B(1)〜B(4)で補間する。
このとき、画素情報を加算する場合の重み付け係数k1〜k4、K1〜K4を設定している。これらの重み付け係数k1〜k4、K1〜K4の総和が「1」になるように設定する。無素子画素Aの画素情報Aは次式(3)のようにして求めることができる。
A=k1×a(1)+k2×a(2)+k3×a(3)+k4×a(4)
+K1×B(1)+K2×B(2)+K3×B(3)+K4×B(4) …(3)
[B−2]無素子画素Aの画素情報Aを、画素間距離「1」の有素子画素aの画素情報a(1)〜a(4)、画素間距離「√2」および画素間距離「2」の無素子画素B、Cの画素情報B(1)〜B(4)、C(1)〜C(4)で補間する。
このとき、画素情報を加算する場合の重み付け係数k1〜k4、K1〜K4、M1〜M4を設定している。これらの重み付け係数k1〜k4、K1〜K4、M1〜M4の総和が「1」になるように設定する。無素子画素Aの画素情報Aは次式(4)のようにして求めることができる。
A=k1×a(1)+k2×a(2)+k3×a(3)+k4×a(4)
+K1×B(1)+K2×B(2)+K3×B(3)+K4×B(4)
+M1×C(1)+M2×C(2)+M3×C(3)+M4×C(4) …(4)
このような第2実施形態によれば、市松配置領域1b、1cの無素子画素Aについて、周囲の有素子画素の画素情報を用いて画素情報を生成するので、マトリクス配置領域1aと同等の画素情報を得ることができる。
なお、上記説明では、直接参照をする[A]、間接参照もする[B]のそれぞれについて2つの例を示したが、さらに外周部に隣接する有素子画素の画素情報あるいは無素子画素の画素情報を利用して補間処理を行うこともできる。
(第3実施形態)
図3は第3実施形態を示すものである。この実施形態では、上記した第1実施形態で行う受光素子2による受光信号の処理過程、および第2実施形態において補間処理を行う場合の具体的な処理過程を示すものである。制御回路3により行う信号処理の内容を示すものである。なお、以下の処理過程は、制御回路3をマイコンなどのCPUにおいてプログラムにより実行することもできるし、論理回路を組み合わせたハードウェア回路においても実行することができる。
図3(a)では、受光装置1のマトリクス配置領域1aあるいは市松配置領域1b、1cの各受光素子2により受光される信号の処理過程を示している。制御回路3は、まず、発光部からのレーザ光の発光タイミングと、受光素子2による受光信号の受光タイミングとの時間差を時間デジタル変換により算出する。算出された時間情報は、レーザ光が投光されてから物体にあたって反射し、これが受光されるまでの時間すなわち、飛行時間(ToF;time of flight)である。この飛行時間は光が移動した距離に相当するので、物体までの距離を2倍した値と等価な情報となる。
レーザ光の照射は、同じ方向に対して複数回実施され、これによって飛行時間の情報も複数個得られる。制御回路3は、これらの飛行時間の情報を区間別にカウントしてヒストグラムを生成する。続いて、制御回路3は、複数回のレーザ光の照射により得られた飛行時間のうち、ヒストグラムの区分内の出現頻度が最も多い区間を選択してその区間の飛行時間に対応した距離を計算し、物体までの距離を求める。この結果得られた距離値の情報を画素情報として出力する。全ての受光素子2の受光信号について上記の処理を実施することで、二次元的に距離値の情報を得ることができ、これを画像として表示させることができる。
次に、第2実施形態で示した補間処理の基本的な処理方法について図3(b)を参照して説明する。上記したように、制御回路3による受光素子2の受光信号の処理は、複数回のレーザ照射により得られた飛行時間を区分したヒストグラムによって距離値を計算している。この計算結果の距離値そのものを第2実施形態で示した補間処理をすることにより、無素子画素の画素情報を生成することができる。
この実施形態では、制御回路3により、上記したヒストグラムを生成する過程の途中で補間処理を実行する場合の例について説明する。すなわち、有素子画素について距離値を算出した結果を用いるのではなく、制御回路3により、距離値算出過程で生成するヒストグラムそのものを重み付け係数を乗じて加算し、無素子画素Aについてヒストグラムを生成する。
制御回路3は、無素子画素Aのヒストグラムに基づいて距離計算をして物体までの距離値を算出する。
なお、補間処理については、前述のとおり、複数回実行することができるので、無素子画素についても補間をするときの情報として利用することができる。
このような第3実施形態によっても、第1実施形態あるいは第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第4実施形態)
図4は第4実施形態を示すものである。この実施形態では、発光部から照射するレーザ光Lを図示のように上下に広がるように設定している。例えばこの実施形態では、縦方向の1列分の画素に対応するようにレーザ光Lが広げられた状態である。この場合、広がった状態のレーザ光Lでは、図中右に、レーザ光強度の分布図で示すように、光スポットの中心部と上下の端部とでは強度が変化している。
これにより、受光部の上下の中間位置では最も受光信号のレベルが高く、上下の端部では受光信号のレベルが低くなる。このような場合に、無素子画素Aの画素情報を補間処理で得る場合に、重み付け係数に受光レベルに応じた違いを設定すると良い。例えば、図示のように無素子画素Aについて第2実施形態で示した補間処理の式(1)を用いる場合に、重み付け係数k1〜k4については、次式(5)のような大小関係を満たすように設定すると良い。
A=k1×a(1)+k2×a(2)+k3×a(3)+k4×a(4) …(1)
k2>k1=k3>k4 …(5)
このような第4実施形態によれば、発光部からのレーザ光Lの強度に応じて補間処理をする場合の重み付け係数を設定しているので、より正確な画素情報を生成することができるようになる。
(第5実施形態)
図5は第5実施形態を示すもので、以下、第4実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、第4実施形態に示したような発光部によるレーザ光Lを照射する場合の受光装置11の構成について示している。この構成においては、受光装置11は、マトリクス状に受光素子12を配置したものである。あるいは、受光装置11のマトリクス状の画素に対して受光素子12を市松状に配置するものを対象とすることもできる。
前述のように、発光部から照射するレーザ光Lは、上下に広がったビームとして車両前方に照射される。このため、図5中の右部分に示すレーザ光強度の分布のように、レーザ光Lの強度が中心部で強く、上下に離れるにしたがって弱い強度に変化する強度分布を有する。第4実施形態では、このような場合に対応して補間処理を行う場合に、重み付け係数を調整するようにした。この実施形態では、レーザ光Lの強度が低下する場合でも受光量として等しくなるように受光素子12の受光部の面積を異なるように構成している。
図5に示すように、受光装置11の受光面には受光素子12がマトリクス状に配置されている。説明のために、例えば7行9列で配置した例を示している。各受光素子12については、マトリクスで表記した添え字を付している。例えば、受光素子12(1,1)は1行1列に配置されたもの、受光素子12(7,5)は7行5列に配置されたものとして示している。
レーザ光Lは、受光装置11の中心線Cに沿って同じ位置で複数回照射し、その後横方向すなわち行方向に移動して再び照射を繰り返していく。これにより、受光装置11のの中心位置に対応する4行目の受光素子12(4,1)〜12(4,9)は、最も強いレーザ光強度となる。また、上端行の1行目の受光素子12(1,1)〜12(1,9)および下端行の7行目の受光素子12(7,1)〜12(7,9)は、最も弱いレーザ光強度となる。
この実施形態では、このようなレーザ強度の分布に対応して、中心線Cの第4行の受光素子12(4,1)〜12(4,9)は、受光面積が最も小さく設定されている。また、上下方向にずれた受光素子12の受光面積は徐々に広くなるように設定されている。これにより、各受光素子12は、レーザ光の強度に対応して受光量が等価となるようになる。
この結果、受光信号についてレーザ光Lの強度分布に応じた修正を行うことなく、受光素子12の受光信号をそのまま用いることができ、信号処理を簡素化して迅速な検出処理を行うことができる。
そして、このような第5実施形態によっても、受光素子12を市松状に配置する場合には、無素子画素の受光情報を補間処理により計算する場合に、第2実施形態、あるいは第3実施形態と同様にして求めることができる。
(第6実施形態)
図6から図8は、第6実施形態を示すもので、以下、第5実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、図6に示すように、レーザ光の強度に応じて受光素子の受光部の面積を変えるのではなく、同じ受光部の面積の受光素子を配置する構成で、面積を変えることに代えて複数個の受光素子を1個分として信号処理することで同じ効果を得るように構成している。
図6に示すように、受光装置11aの受光面には受光素子13がマトリクス状に配置されている。説明のために、例えば11行4列で配置した例を示している。各受光素子13は、マトリクスで表記した添え字を付している。例えば、受光素子13(1,1)は1行1列に配置されたもの、受光素子13(11,4)は11行4列に配置されたものとして示している。
レーザ光Lは、受光装置11aの中心線Cに沿って複数回照射する毎に横方向すなわち行方向に移動していくので、受光装置11のの中心位置に対応する6行目の受光素子13(6,1)〜13(6,4)は、最も強いレーザ光強度となる。また、上端行の1行目の受光素子13(1,1)〜13(1,4)および下端行の11行目の受光素子13(11,1)〜13(11,4)は、最も弱いレーザ光強度となる。
この実施形態では、第5実施形態と異なり、受光素子13の受光面積を異なるように設定はしていない。代わりに、つぎのように信号処理を行うようにしている。まず、中心線Cに位置する6行目の受光素子13(6,1)〜13(6,4)は、そのまま受光信号を用いる。6行目の受光素子13に隣接する5行目、7行目の受光素子13については、さらに隣接する4行目、8行目の受光素子13と組み合わせて、2行分の受光素子13の受光信号を用いるものとしている。さらに、上下に隣接する受光素子13については、3行分の受光素子13の受光信号を用いるものとしている。
この結果、受光信号についてレーザ光Lの強度分布に応じた修正を行うことなく、中心線Cから上下に離間して低下するレーザ光Lの強度に対応して、受光素子13を複数個で1個分として扱うようにした。これにより、受光素子13の受光面の面積を異なるように設定することなく対応することができる。
次に、図7を参照して、上記構成における受光信号の信号処理について説明する。なお、説明の都合で、ここでは、説明の各列の受光素子13(1,k)〜13(11,k)について、上端部のものから下端部のものまでを、順に受光素子a〜kというように対応させる。信号処理においては、列毎に複数回レーザ光Lが照射されるので、そのときの受光信号をレーザ光Lの発光タイミングからの遅延時間として検出する。
各受光素子a〜kは、発光部のレーザ光Lが照射された反射光を受光すると、その受光信号を出力する。信号処理回路では、発光制御回路によるレーザ光の発光タイミング信号を受け、受光素子a〜kによる受光信号が入力されたときの受光タイミング信号から時間差を求めてデジタル信号に変換する。これにより、レーザ光Lの飛行時間(ToF)が得られる。
そして、信号処理回路では、受光素子a〜cをグループAとし、受光素子d、eをグループBとし、受光素子fをグループCとする。同様に受光素子g、hをグループD、受光素子i〜kをグループFとする。そして、各グループA〜Fについての飛行時間の情報をまとめてヒストグラムを生成する。この後、信号処理回路は、各ヒストグラムに基づいて、最も頻度の高い時間情報を選択してこの時間情報を距離情報に変換処理を行い、距離値を算出する。このようにして、各受光位置に対応してレーザ光Lの受光強度に対応した受光素子の数で対応することにより、同等の受光条件で距離値を算出することができる。
次に、図8に示す方法について説明する。図7で示した信号処理に代えて、この図8のものでは、信号処理回路において、ヒストグラムの生成処理は、受光素子a〜kについてそれぞれ個別に行う。次に、信号処理回路は、ヒストグラムの生成結果から、最も頻度の高い時間情報を選択してこの時間情報を距離情報に変換処理を行い、この結果をグループ毎にまとめて距離値を算出する。このようにして、各受光位置に対応してレーザ光Lの受光強度に対応した受光素子の数で対応することにより、同等の受光条件で距離値を算出することができる。
したがって、このような第6実施形態によれば、受光素子13の受光部の面積をレーザ光Lの受光強度が等しくなるように調整したものとすることなく、複数個の受光素子13を一つの受光素子として信号をまとめることで第5実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
また、上記実施形態では、受光素子13をマトリクス状に配置した例として示したが、これに限らず、受光素子13を市松状に配置に構成している場合でも、無素子画素について最初に第2実施形態で示したような補間処理を行うことで受光情報を生成しておくことで、同様にして信号処理回路により信号処理を行うことができるようになる。
(第7実施形態)
図9(a)、(b)は第7実施形態を示すもので、この実施形態では、上記した第5実施形態あるいは第6実施形態において発光部のレーザ光Lを縦長の光にして列毎に照射するようにした場合について適用可能な応用例を示している。
この実施形態では、受光素子2が配置された有素子画素の受光信号について、レーザ光Lの照射範囲に対応して受光信号を取り込むようにしたものである。第1の方式として、図9(a)に示すものでは、レーザ光Lの照射範囲が列の幅を超えて広がるので、これに対応して、受光信号を両隣の列の受光素子2の受光信号を取り入れるようにしたものである。ここでは、例えば、有素子画素Aに対して、次式(6)に示すように、受光素子2の受光信号a(0)に加えて、隣接する列の受光素子2の受光情報a(1)、a(2)についても、重み付けをした上で、加算処理をしている。
受光信号A=a(0)+k1×a(1)+k2×a(2) …(6)
また、図9(b)に示すように、レーザ光Lの広がりを考慮して、さらに広い範囲の受光素子2の受光情報を取り込んで次式(7)のようにすることもできる。
受光信号A=a(0)+k1×a(1)+k2×a(2)
+m1×b(1)+m2×b(2)+m3×b(3)+m4×b(4)
+n1×c(1)+n2×c(2) …(7)
このような第7実施形態によっても第6実施形態と同様の作用効果を得ることができると共に、レーザ光Lの広がりに応じた受光情報をより効率良く検出することができるようになる。
なお、この実施形態においても、受光素子2が配置されない無素子画素を含む市松配置の場合にも適用することができる。
(第8実施形態)
図10は第8実施形態を示すもので、以下、この実施形態について説明する。
この実施形態では、発光部からのレーザ光Lを受光素子2の列に対応して垂直方向に広がるように照射することに代えて、斜めに傾斜をつけた状態で照射するようにしている。
このとき、例えば、図10(b)に示しているように、斜め方向で受光素子2が対応するようにレーザ光Lを傾斜して照射するものである。このようなレーザ光Lの照射では、図10(a)に示すように車両前方に投影される。この場合、前方に人Pなどが存在する場合には、斜めに投影したレーザ光Lの一部で人Pに照射される確率が高くなり、迅速に人物や物体などを検出することができるようになる。
なお、上記実施形態では、レーザ光Lの傾斜方向を受光素子2の配置状態に対応するように設定したが、これに限らず、任意の傾斜角度で照射することができる。この場合に、対応する受光素子2により受光信号を得て距離値を求めることができる。
また、レーザ光Lの広がりを考慮して、第7実施形態で示したような原理を用いて、レーザ光Lが漏れて一部の光を受光する受光素子の受光情報を利用することもできる。
(他の実施形態)
なお、本発明は、上述した一実施形態のみに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能であり、例えば、以下のように変形または拡張することができる。
上記各実施形態では、車両の前方にレーザ光を照射して距離を算出するレーザレーダに適用した例を示したが、これに限らず、受光装置の画素数を増やして視野角を広げる場合には、適用することができる。例えば、カメラの撮像素子などにも適用することができる。
図面中、1、11、11aは受光装置、1aはマトリクス配置領域、1b、1cは市松配置領域、2、12、13は受光素子、2aは受光部、2bは受光回路、3は制御回路(画素情報処理部)、4は電源線である。

Claims (7)

  1. 受光部(2a)および受光回路(2b)を備え配置領域内に二次元的に配列された複数の受光素子(2)と、
    前記複数の受光素子のうち第1方向に配置されるものに給電するように設けられ、少なくとも受光部を除いた位置に配置される電源線(4)とを備え、
    前記配置領域内には、前記複数の受光素子の少なくとも一部の数の受光素子が市松状に配置される市松配置領域(1b、1c)が設けられていることを特徴とする受光装置。
  2. 請求項1に記載の受光装置において、
    前記配置領域内の前記複数の受光素子の受光情報から画素情報を生成する画素情報処理部(3)を備え、
    前記画素情報処理部は、前記市松配置領域の前記受光素子の配置されない無素子画素について、当該無素子画素の周囲に位置する前記受光素子が配置された有素子画素の画素情報に基づいて補間処理を行って前記無素子画素の画素情報を生成することを特徴とする受光装置。
  3. 請求項に記載の受光装置において、
    前記画素情報処理部(3)は、前記複数の受光素子のそれぞれについて、同一条件での投光に対する前記受光素子の複数回の受光により得られた受光情報を複数レベルに区分し、出現頻度の最も高いレベルの受光信号を前記有素子画素の前記画素情報として生成し、
    前記市松配置領域の前記無素子画素については、周囲に位置する前記受光素子の受光信号を複数レベルに区分するとともに重み付け係数を乗じて加算し、出現頻度の最も高いレベルの受光信号を前記画素情報として生成する補間処理を行うことを特徴とする受光装置。
  4. 請求項2または3に記載の受光装置において、
    前記画素情報処理部(3)は、2回目以降の補間処理では、周囲に位置する有素子画素の画素情報および無素子画素の画素情報を重み付け係数を乗じて加算し、新たな画素情報を生成することを特徴とする受光装置。
  5. 受光部(2a)および受光回路(2b)を備え配置領域内に二次元的に配列された複数の受光素子(2)と、
    前記複数の受光素子のうち第1方向に配置されるものに給電するように設けられ、少なくとも受光部を除いた位置に配置される電源線(4)と、
    前記配置領域内の前記複数の受光素子の受光信号から画素情報を生成する画素情報処理部(3)とを備え、
    前記画素情報処理部は、前記複数の受光素子のそれぞれについて、投光が位置によって強度が異なる分布を有する場合には、同一条件での投光に対する受光信号に相当する重み付け処理を行うことを特徴とする受光装置。
  6. 請求項5に記載の受光装置において、
    前記複数の受光素子(2)は、前記投光が位置によって強度が異なる分布を有する場合に対応して、受光部の受光面積が同一条件での投光に対する受光信号に相当するように設けられていることを特徴とする受光装置。
  7. 請求項5に記載の受光装置において、
    前記画素情報処理部は、前記投光が位置によって強度が異なる分布を有する場合に対応して、前記複数の受光素子の受光強度が最も強いものを基準として、受光強度が弱いものについては同一条件での投光に対する受光信号に相当するように複数個の受光素子を一つの受光素子として受光信号を取り扱うように設けられていることを特徴とする受光装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4503823B2 (ja) * 2000-12-22 2010-07-14 富士フイルム株式会社 画像信号処理方法
US7714928B2 (en) * 2004-05-28 2010-05-11 Konica Minolta Holdings, Inc. Image sensing apparatus and an image sensing method comprising a logarithmic characteristic area and a linear characteristic area
JP4967296B2 (ja) * 2005-10-03 2012-07-04 株式会社ニコン 撮像素子、焦点検出装置、および、撮像システム

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