JP2019134049A - 光電変換素子および撮像装置 - Google Patents

光電変換素子および撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2019134049A
JP2019134049A JP2018014372A JP2018014372A JP2019134049A JP 2019134049 A JP2019134049 A JP 2019134049A JP 2018014372 A JP2018014372 A JP 2018014372A JP 2018014372 A JP2018014372 A JP 2018014372A JP 2019134049 A JP2019134049 A JP 2019134049A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
group
unit
conversion element
organic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018014372A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7117110B2 (ja
Inventor
修 榎
Osamu Enoki
修 榎
長谷川 雄大
Takehiro Hasegawa
雄大 長谷川
佑樹 根岸
Yuki Negishi
佑樹 根岸
巖 八木
Iwao Yagi
巖 八木
康晴 氏家
Yasuharu Ujiie
康晴 氏家
陽介 齊藤
Yosuke Saito
陽介 齊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Sony Semiconductor Solutions Corp
Original Assignee
Sony Corp
Sony Semiconductor Solutions Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp, Sony Semiconductor Solutions Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2018014372A priority Critical patent/JP7117110B2/ja
Priority to PCT/JP2019/001437 priority patent/WO2019150988A1/ja
Priority to US16/963,725 priority patent/US20210083009A1/en
Publication of JP2019134049A publication Critical patent/JP2019134049A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7117110B2 publication Critical patent/JP7117110B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/10Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/20Carbon compounds, e.g. carbon nanotubes or fullerenes
    • H10K85/211Fullerenes, e.g. C60
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/20Carbon compounds, e.g. carbon nanotubes or fullerenes
    • H10K85/211Fullerenes, e.g. C60
    • H10K85/215Fullerenes, e.g. C60 comprising substituents, e.g. PCBM
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/30Coordination compounds
    • H10K85/311Phthalocyanine
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/30Coordination compounds
    • H10K85/321Metal complexes comprising a group IIIA element, e.g. Tris (8-hydroxyquinoline) gallium [Gaq3]
    • H10K85/322Metal complexes comprising a group IIIA element, e.g. Tris (8-hydroxyquinoline) gallium [Gaq3] comprising boron
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/60Organic compounds having low molecular weight
    • H10K85/615Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/60Organic compounds having low molecular weight
    • H10K85/649Aromatic compounds comprising a hetero atom
    • H10K85/654Aromatic compounds comprising a hetero atom comprising only nitrogen as heteroatom
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/60Organic compounds having low molecular weight
    • H10K85/649Aromatic compounds comprising a hetero atom
    • H10K85/657Polycyclic condensed heteroaromatic hydrocarbons
    • H10K85/6576Polycyclic condensed heteroaromatic hydrocarbons comprising only sulfur in the heteroaromatic polycondensed ring system, e.g. benzothiophene
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
    • H10K39/30Devices controlled by radiation
    • H10K39/32Organic image sensors
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

【課題】暗電流の発生を低減することが可能な光電変換素子および撮像装置を提供する。【解決手段】光電変換素子は、R2およびR6の少なくとも一方に一般式(2)で表される置換基を有する一般式(1)で表される有機半導体材料を含む光電変換層を備える。【選択図】なし

Description

本開示は、有機半導体を用いた光電変換素子およびこれを備えた撮像装置に関する。
近年、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ、あるいはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の固体撮像装置では、画素サイズの縮小化が進んでいる。これにより、単位画素へ入射するフォトン数が減少することから感度が低下すると共に、S/N比の低下が生じている。また、カラー化のために、赤,緑,青の原色フィルタを2次元配列してなるカラーフィルタを用いた場合、赤画素では、緑と青の光がカラーフィルタによって吸収されるために、感度の低下を招いている。また、各色信号を生成する際に、画素間で補間処理を行うことから、いわゆる偽色が発生する。
そこで、例えば、特許文献1では、青色光(B)に感度を持つ有機光電変換膜、緑色光(G)に感度を持つ有機光電変換膜、赤色光(R)に感度を持つ有機光電変換膜が順次積層された多層構造の有機光電変換膜を用いたイメージセンサが開示されている。このイメージセンサでは、1画素から、B/G/Rの信号を別々に取り出すことで、感度向上が図られている。特許文献2では、1層の有機光電変換膜を形成し、この有機光電変換膜で1色の信号を取り出し、シリコン(Si)バルク分光で2色の信号を取り出す撮像素子が開示されている。
特開2003−234460号公報 特開2005−303266号公報
ところで、イメージセンサには、暗電流特性の改善が求められており、これを実現することが可能な光電変換素子の開発が望まれている。
暗電流の発生を低減することが可能な光電変換素子および撮像装置を提供することが望ましい。
本開示の一実施形態の光電変換素子は、第1電極と、第1電極と対向配置された第2電極と、第1電極と第2電極との間に設けられると共に、下記一般式(2)で表される置換基をR2およびR6の少なくとも一方に有する下記一般式(1)で表される有機半導体材料を含む光電変換層とを備えたものである。
Figure 2019134049


(R1,R3〜R5,R7〜R10,R’,X1〜X4は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、アミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基、直鎖、分岐または環状アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基、アリールアミノ基を置換基としたアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたアリール基、アリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基または、その誘導体である。nは、0または1以上4以下の整数である。mは、1以上5以下の整数である。)
本開示の一実施形態の撮像装置は、複数の画素毎に、1または複数の上記本開示の一実施形態の光電変換素子を備えたものである。
本開示の一実施形態の光電変換素子および一実施形態の撮像装置では、上記有機半導体材料を用いて光電変換層を形成するようにした。これにより、光電変換層に含まれる他の材料と適切なエネルギー準位関係を構成することが可能となる。
本開示の一実施形態の光電変換素子および一実施形態の撮像装置によれば、光電変換層の材料として上記有機半導体材料を用いるようにしたので、光電変換層を構成する他の材料と適切なエネルギー準位関係が形成される。よって、暗電流の発生を低減することが可能となる。
なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれの効果であってもよい。
本開示の一実施の形態に係る光電変換素子の構成を表す断面模式図である。 図1に示した光電変換素子の単位画素の構成を表す平面模式図である。 図1に示した光電変換素子の製造方法を説明するための断面模式図である。 図3に続く工程を表す断面模式図である。 図1に示した光電変換素子を備えた撮像装置の全体構成を表すブロック図である。 図5に示した撮像装置を用いた電子機器(カメラ)の一例を表す機能ブロック図である。 体内情報取得システムの概略的な構成の一例を示すブロック図である。 本技術が適用され得る内視鏡手術システムの概略的な構成の一例を示す図である。 図8に示したカメラヘッド及びCCUの機能構成の一例を示すブロック図である。 車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。 撮像部の設置位置の一例を示す説明図である。 実験例1および実験例2の暗電流特性を表す図である。 実験例1および実験例2のEQE特性を表す図である。 実験例1および実験例2の残像特性を表す図である。 実験例1の光電変換素子を構成する各材料のエネルギー準位を表す図である。 実験例2の光電変換素子を構成する各材料のエネルギー準位を表す図である。 DPAのUV−VISスペクトルを表す特性図である。 DBPAのUV−VISスペクトルを表す特性図である。 DTPAのUV−VISスペクトルを表す特性図である。 DBPTのUV−VISスペクトルを表す特性図である。
以下、本開示における一実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。以下の説明は本開示の一具体例であって、本開示は以下の態様に限定されるものではない。また、本開示は、各図に示す各構成要素の配置や寸法、寸法比等についても、それらに限定されるものではない。なお、説明する順序は、下記の通りである。
1.実施の形態(一般式(1)で表される有機半導体材料を含む有機光電変換層を備えた光電変換素子)
1−1.光電変換素子の構成
1−2.光電変換素子の製造方法
1−3.作用・効果
2.適用例
3.実施例
<1.実施の形態>
図1は、本開示の一実施の形態の光電変換素子(光電変換素子10)の断面構成を表したものである。光電変換素子10は、例えば、裏面照射型(裏面受光型)のCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサまたはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の撮像装置(撮像装置1)において1つの画素(単位画素P)を構成する撮像素子として用いられるものである(図5参照)。光電変換素子10は、それぞれ異なる波長域の光を選択的に検出して光電変換を行う1つの有機光電変換部11Gと、2つの無機光電変換部11B,11Rとが縦方向に積層された、いわゆる縦方向分光型のものである。本実施の形態では、有機光電変換部11Gを構成する有機光電変換層16が、一般式(1)(後出)で表される有機半導体材料(例えば、DBPA(式(1−1))等のアントラセン誘導体)を少なくとも1種含んで形成された構成を有する。
(1−1.光電変換素子の構成)
光電変換素子10は、単位画素P毎に、1つの有機光電変換部11Gと、2つの無機光電変換部11B,11Rとが縦方向に積層されたものである。有機光電変換部11Gは、半導体基板11の裏面(第1面11S1)側に設けられている。無機光電変換部11B,11Rは、半導体基板11内に埋め込み形成されており、半導体基板11の厚み方向に積層されている。有機光電変換部11Gは、p型半導体およびn型半導体を含んで構成され、層内にバルクヘテロ接合構造を有する有機光電変換層16を含む。バルクヘテロ接合構造は、p型半導体およびn型半導体が混ざり合うことで形成されたp/n接合面である。
有機光電変換部11Gと、無機光電変換部11B,11Rとは、互いに異なる波長帯域の光を選択的に検出して光電変換を行うものである。具体的には、有機光電変換部11Gでは、緑(G)の色信号を取得する。無機光電変換部11B,11Rでは、吸収係数の違いにより、それぞれ、青(B)および赤(R)の色信号を取得する。これにより、光電変換素子10では、カラーフィルタを用いることなく一つの画素において複数種類の色信号を取得可能となっている。
なお、本実施の形態では、光電変換によって生じる電子および正孔の対のうち、電子を信号電荷として読み出す場合について説明する。また、図中において、「p」「n」に付した「+(プラス)」は、p型またはn型の不純物濃度が高いことを表している。
半導体基板11は、例えば、n型のシリコン(Si)基板により構成され、所定領域にpウェル61を有している。pウェル61の第2面(半導体基板11の表面)11S2には、例えば、各種フローティングディフュージョン(浮遊拡散層)FD(例えば、FD1,FD2,FD3)と、各種トランジスタTr(例えば、縦型トランジスタ(転送トランジスタ)Tr1、転送トランジスタTr2、アンプトランジスタ(変調素子)AMPおよびリセットトランジスタRST)と、多層配線70とが設けられている。多層配線70は、例えば、配線層71,72,73を絶縁層74内に積層した構成を有している。また、半導体基板11の周辺部には、ロジック回路等からなる周辺回路(図示せず)が設けられている。
なお、図1では、半導体基板11の第1面11S1側を光入射側S1、第2面11S2側を配線層側S2と表している。
無機光電変換部11B,11Rは、例えばPIN(Positive Intrinsic Negative)型のフォトダイオードによって構成されており、それぞれ、半導体基板11の所定領域にpn接合を有する。無機光電変換部11B,11Rは、シリコン基板において光の入射深さに応じて吸収される波長帯域が異なることを利用して縦方向に光を分光することを可能としたものである。
無機光電変換部11Bは、青色光を選択的に検出して青色に対応する信号電荷を蓄積させるものであり、青色光を効率的に光電変換可能な深さに設置されている。無機光電変換部11Rは、赤色光を選択的に検出して赤色に対応する信号電荷を蓄積させるものであり、赤色光を効率的に光電変換可能な深さに設置されている。なお、青(B)は、例えば450nm〜495nmの波長帯域、赤(R)は、例えば620nm〜750nmの波長帯域にそれぞれ対応する色である。無機光電変換部11B,11Rはそれぞれ、各波長帯域のうちの一部または全部の波長帯域の光を検出可能となっていればよい。
無機光電変換部11Bおよび無機光電変換部11Rは、具体的には、図1に示したように、それぞれ、例えば、正孔蓄積層となるp+領域と、電子蓄積層となるn領域とを有する(p−n−pの積層構造を有する)。無機光電変換部11Bのn領域は、縦型トランジスタTr1に接続されている。無機光電変換部11Bのp+領域は、縦型トランジスタTr1に沿って屈曲し、無機光電変換部11Rのp+領域につながっている。
半導体基板11の第2面11S2には、上記のように、例えば、フローティングディフュージョン(浮遊拡散層)FD1,FD2,FD3と、縦型トランジスタ(転送トランジスタ)Tr1と、転送トランジスタTr2と、アンプトランジスタ(変調素子)AMPと、リセットトランジスタRSTとが設けられている。
縦型トランジスタTr1は、無機光電変換部11Bにおいて発生し、蓄積された青色に対応する信号電荷(ここでは電子)を、フローティングディフュージョンFD1に転送する転送トランジスタである。無機光電変換部11Bは半導体基板11の第2面11S2から深い位置に形成されているので、無機光電変換部11Bの転送トランジスタは縦型トランジスタTr1により構成されていることが好ましい。
転送トランジスタTr2は、無機光電変換部11Rにおいて発生し、蓄積された赤色に対応する信号電荷(ここでは電子)を、フローティングディフュージョンFD2に転送するものであり、例えばMOSトランジスタにより構成されている。
アンプトランジスタAMPは、有機光電変換部11Gで生じた電荷量を電圧に変調する変調素子であり、例えばMOSトランジスタにより構成されている。
リセットトランジスタRSTは、有機光電変換部11GからフローティングディフュージョンFD3に転送された電荷をリセットするものであり、例えばMOSトランジスタにより構成されている。
下部第1コンタクト75、下部第2コンタクト76および上部コンタクト13Bは、例えば、PDAS(Phosphorus Doped Amorphous Silicon)等のドープされたシリコン材料、または、アルミニウム(Al)、タングステン(W)、チタン(Ti)、コバルト(Co)、ハフニウム(Hf)、タンタル(Ta)等の金属材料により構成されている。
半導体基板11の第1面11S1側には、有機光電変換部11Gが設けられている。有機光電変換部11Gは、例えば、下部電極15、有機光電変換層16および上部電極17が、半導体基板11の第1面11S1の側からこの順に積層された構成を有している。下部電極15は、例えば、光電変換素子10ごとに分離形成されている。有機光電変換層16および上部電極17は、複数の光電変換素子10に共通した連続層として設けられている。有機光電変換部11Gは、選択的な波長帯域(例えば、450nm以上650nm以下)の一部または全部の波長帯域に対応する緑色光を吸収して、電子−正孔対を発生させる有機光電変換素子である。
半導体基板11の第1面11S1と下部電極15との間には、例えば、層間絶縁層12,14が半導体基板11側からこの順に積層されている。層間絶縁層12は、例えば、固定電荷を有する層(固定電荷層)12Aと、絶縁性を有する誘電体層12Bとが積層された構成を有する。上部電極17の上には、保護層18が設けられている。保護層18の上方には、オンチップレンズ19Lを構成すると共に、平坦化層を兼ねるオンチップレンズ層19が配設されている。
半導体基板11の第1面11S1と第2面11S2との間には、貫通電極63が設けられている。有機光電変換部11Gは、この貫通電極63を介して、アンプトランジスタAMPのゲートGampと、フローティングディフュージョンFD3とに接続されている。これにより、光電変換素子10では、半導体基板11の第1面11S1側の有機光電変換部11Gで生じた電荷を、貫通電極63を介して半導体基板11の第2面11S2側に良好に転送し、特性を高めることが可能となっている。
貫通電極63は、例えば、光電変換素子10の有機光電変換部11Gごとに、それぞれ設けられている。貫通電極63は、有機光電変換部11GとアンプトランジスタAMPのゲートGampおよびフローティングディフュージョンFD3とのコネクタとしての機能を有すると共に、有機光電変換部11Gにおいて生じた電荷の伝送経路となるものである。
貫通電極63の下端は、例えば、配線層71内の接続部71Aに接続されており、接続部71Aと、アンプトランジスタAMPのゲートGampとは、下部第1コンタクト75を介して接続されている。接続部71Aと、フローティングディフュージョンFD3とは、下部第2コンタクト76を介して下部電極15に接続されている。なお、図1では、貫通電極63を円柱形状として示したが、これに限らず、例えばテーパ形状としてもよい。
フローティングディフュージョンFD3の隣には、図1に示したように、リセットトランジスタRSTのリセットゲートGrstが配置されていることが好ましい。これにより、フローティングディフュージョンFD3に蓄積された電荷を、リセットトランジスタRSTによりリセットすることが可能となる。
本実施の形態の光電変換素子10では、上部電極17側から有機光電変換部11Gに入射した光は、有機光電変換層16で吸収される。これによって生じた励起子は、有機光電変換層16を構成する電子供与体と電子受容体との界面に移動し、励起子分離、即ち、電子と正孔とに解離する。ここで発生した電荷(電子および正孔)は、キャリアの濃度差による拡散や、陽極(ここでは、上部電極17)と陰極(ここでは、下部電極15)との仕事関数の差による内部電界によって、それぞれ異なる電極へ運ばれ、光電流として検出される。また、下部電極15と上部電極17との間に電位を印加することによって、電子および正孔の輸送方向を制御することができる。ここで、陽極とは、正孔を受け取る側の電極であり、陰極とは、電子を受け取る側の電極とする。
以下、各部の構成や材料等について説明する。
有機光電変換部11Gは、選択的な波長帯域(例えば、450nm以上650nm以下)の一部または全部の波長帯域に対応する緑色光を吸収して、電子−正孔対を発生させる有機光電変換素子である。
下部電極15は、半導体基板11内に形成された無機光電変換部11B,11Rの受光面と正対して、これらの受光面を覆う領域に設けられている。下部電極15は、光透過性を有する導電膜により構成され、例えば、導電性を有する金属酸化物が挙げられる。具体的には、酸化インジウム(In23)、スズドープのIn23(ITO)、結晶性ITOおよびアモルファスITOを含むインジウム−スズ酸化物(ITO)、酸化亜鉛にドーパントとしてインジウムを添加したインジウム−亜鉛酸化物(IZO)、酸化ガリウムにドーパントとしてインジウムを添加したインジウム−ガリウム酸化物(IGO)、酸化亜鉛にドーパントとしてインジウムとガリウムを添加したインジウム−ガリウム−亜鉛酸化物(IGZO,In−GaZnO4)、IFO(FドープのIn23)、酸化スズ(SnO2)、ATO(SbドープのSnO2)、FTO(FドープのSnO2)、酸化亜鉛(他元素をドープしたZnOを含む)、酸化亜鉛にドーパントとしてアルミニウムを添加したアルミニウム−亜鉛酸化物(AZO)、酸化亜鉛にドーパントとしてガリウムを添加したガリウム−亜鉛酸化物(GZO)、酸化チタン(TiO2)、酸化アンチモン、スピネル型酸化物、YbFe24構造を有する酸化物等の透明導電性材料が挙げられる。この他、下部電極15は、ガリウム酸化物、チタン酸化物、ニオブ酸化物、ニッケル酸化物等を母層とする透明電極構造としてもよい。下部電極15の厚みは、例えば、20nm以上200nm以上以下、好ましくは30nm以上100nm以下である。
有機光電変換層16は、光エネルギーを電気エネルギーに変換するものである。有機光電変換層16は、例えば1種以上の有機半導体材料を含んで構成されており、例えば、p型半導体およびn型半導体のどちらか一方あるいは両方を含んで構成されていることが好ましい。例えば、有機光電変換層16がp型半導体およびn型半導体の2種類の有機半導体材料によって構成される場合には、p型半導体およびn型半導体は、例えば、一方が可視光に対して透過性を有する材料、他方が選択的な波長域(例えば、450nm以上650nm以下)の光を光電変換する材料であることが好ましい。あるいは、有機光電変換層16は、選択的な波長域の光を光電変換する材料(光吸収体)と、可視光に対して透過性を有するn型半導体およびp型半導体との3種類の有機半導体材料によって構成されていることが好ましい。n型半導体は、有機光電変換層16内において電子輸送材料として機能し、p型半導体は、有機光電変換層16内において正孔輸送材料として機能する。本実施の形態では、p型半導体として、下記一般式(2)で表される置換基をR2およびR6の少なくとも一方に有する下記一般式(1)で表される有機半導体材料を少なくとも1種含んで構成されている。
Figure 2019134049

(R1,R3〜R5,R7〜R10,R’,X1〜X4は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、アミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基、直鎖、分岐または環状アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基、アリールアミノ基を置換基としたアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたアリール基、アリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基または、その誘導体である。nは、0または1以上4以下の整数である。mは、1以上5以下の整数である。)
上記一般式(1)で表される有機半導体材料は、例えば、波長500nm以上600nm以下の範囲に光吸収を持たないことが好ましい。なお、ここで光吸収を持たないとは、上記波長範囲における光吸収が0ではなく、後述するサブフタロシアニン等の光吸収体による吸収を妨げない、また、光電変換素子10の分光特性を妨げない範囲であれば吸収があってもよい。上記一般式(1)で表される有機半導体材料は、少なくとも、対称性、対称心および鏡面のうちのいずれかの分子形状を有することが好ましい。
上記一般式(1)で表される有機半導体材料としては、例えば、下記式(1−1)〜式(1−20)に示した化合物が挙げられる。
Figure 2019134049
Figure 2019134049
Figure 2019134049
上記一般式(1)で表される有機半導体材料は、さらに、5.4eV以上6.0eV以下のHOMO(Highest Occupied Molecular Orbital:最高被占軌道)準位を有することが好ましい。上記一般式(1)で表される有機半導体材料は、一軸方向に延伸する分子形状を有することが好ましい。また、上記一般式(1)で表される有機半導体材料のR2およびR6の少なくとも一方はオリゴパラフェニレン基であることが好ましく、具体的には、ビフェニル基またはターフェニル基であることが好ましい。以上から、上記一般式(1)で表される有機半導体材料としては、例えば、上記式(1−1)および式(1−2)等で表されるアントラセン誘導体を用いることが好ましい。
有機光電変換層16は、上記一般式(1)で表される有機半導体材料の他に、例えば、選択的な波長域の光を光電変換する材料(光吸収体)を用いることが好ましい。例えば、青色光(波長450nm)よりも長波長側に吸収極大波長を有する有機半導体材料を用いることが好ましく、より具体的には、例えば500nm以上600nm以下の波長域に極大吸収波長を有する有機半導体材料を用いることが好ましい。これにより、有機光電変換部11Gにおいて緑色光を選択的に光電変換することが可能となる。このような材料としては、例えば、下記一般式(3)に示したサブフタロシアニンまたはその誘導体が挙げられる。
Figure 2019134049


(R11〜R22は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、直鎖,分岐,または環状アルキル基、チオアルキル基、チオアリール基、アリールスルホニル基、アルキルスルホニル基、アミノ基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基からなる群から選択され、且つ、隣接した任意のR11〜R22は縮合脂肪族環または縮合芳香環の一部であってもよい。前記縮合脂肪族環または縮合芳香環は、炭素以外の1または複数の原子を含んでいてもよい。Mはホウ素または2価あるいは3価の金属である。Xは、ハロゲン、ヒドロキシ基、チオール基、イミド基、置換もしくは未置換のアルコキシ基、置換もしくは未置換のアリールオキシ基、置換もしくは未置換のアルキル基、置換もしくは未置換のアルキルチオ基、置換もしくは未置換のアリールチオ基からなる群より選択されるいずれかの置換基である。)
有機光電変換層16は、上記一般式(1)で表される有機半導体材料の他に、例えば、下記一般式(4)に示したフラーレンC60またはその誘導体、あるいは、下記一般式(5)に示したフラーレンC70またはその誘導体を用いることが好ましい。フラーレンC60およびフラーレンC70またはそれらの誘導体を少なくとも1種用いることによって、光電変換効率をさらに向上させることが可能となる。
Figure 2019134049


(R23,R24は、水素原子、ハロゲン原子、直鎖,分岐または環状のアルキル基、フェニル基、直鎖または縮環した芳香族化合物を有する基、ハロゲン化物を有する基、パーシャルフルオロアルキル基、パーフルオロアルキル基、シリルアルキル基、シリルアルコキシ基、アリールシリル基、アリールスルファニル基、アルキルスルファニル基、アリールスルホニル基、アルキルスルホニル基、アリールスルフィド基、アルキルスルフィド基、アミノ基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、カルボニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基、ニトロ基、カルコゲン化物を有する基、ホスフィン基、ホスホン基あるいはそれらの誘導体である。x,yは0または1以上の整数である。)
有機光電変換層16は、アントラセン誘導体を含む一般式(1)で表される有機半導体材料、サブフタロシアニンまたはその誘導体およびフラーレンC60,フラーレンC70またはそれらの誘導体を、例えば、それぞれ1種ずつ用いて形成されていることが好ましい。上記一般式(1)で表される有機半導体材料、サブフタロシアニンまたはその誘導体およびフラーレンC60,フラーレンC70またはそれらの誘導体は、互いに組み合わせる材料によってp型半導体またはn型半導体として機能する。
また、有機光電変換層16は、p型半導体およびn型半導体として、上記以外に下記有機半導体材料を含んでいてもよい。
p型半導体としては、例えば、ナフタレン誘導体、フェナントレン誘導体、ピレン誘導体、ペリレン誘導体、テトラセン誘導体、ペンタセン誘導体、キナクリドン誘導体が挙げられる。更に、チオフェン誘導体、チエノチオフェン誘導体、ベンゾチオフェン誘導体、ベンゾチエノベンゾチオフェン(BTBT)誘導体、ジナフトチエノチオフェン(DNTT)誘導体、ジアントラセノチエノチオフェン(DATT)誘導体、チエノビスベンゾチオフェン(TBBT)誘導体、ジベンゾチエノビスベンゾチオフェン(DBTBT)誘導体、ジチエノベンゾジチオフェン(DTBDT)誘導体、ジベンゾチエノジチオフェン(DBTDT)誘導体、ベンゾジチオフェン(BDT)誘導体、ナフトジチオフェン(NDT)誘導体、アントラセノジチオフェン(ADT)誘導体、テトラセノジチオフェン(TDT)誘導体およびペンタセノジチオフェン(PDT)誘導体に代表されるチエノアセン系材料が挙げられる。この他、トリアリルアミン誘導体、カルバゾール誘導体、ピセン誘導体、クリセン誘導体、フルオランテン誘導体、フタロシアニン誘導体、サブフタロシアニン誘導体、サブポルフィラジン誘導体、複素環化合物を配位子とする金属錯体、ポリチオフェン誘導体、ポリベンゾチアジアゾール誘導体、ポリフルオレン誘導体等を挙げられる。
n型半導体としては、例えば、フラーレンC60やフラーレンC70の他に、フラーレンC74等の高次フラーレン、内包フラーレン、またはそれらの誘導体(例えば、フラーレンフッ化物やPCBMフラーレン化合物、フラーレン多量体等)が挙げられる。この他、p型半導体よりもHOMO値およびLUMO(Lowest Unoccupied Molecular Orbital:最低空軌道)値が大きい(深い)有機半導体、透明な無機金属酸化物を挙げることができる。具体的には、窒素原子、酸素原子、硫黄原子を含有する複素環化合物、例えば、ピリジン誘導体、ピラジン誘導体、ピリミジン誘導体、トリアジン誘導体、キノリン誘導体、キノキサリン誘導体、イソキノリン誘導体、アクリジン誘導体、フェナジン誘導体、フェナントロリン誘導体、テトラゾール誘導体、ピラゾール誘導体、イミダゾール誘導体、チアゾール誘導体、オキサゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ベンズイミダゾール誘導体、ベンゾトリアゾール誘導体、ベンズオキサゾール誘導体、ベンズオキサゾール誘導体、カルバゾール誘導体、ベンゾフラン誘導体、ジベンゾフラン誘導体、サブポルフィラジン誘導体、ポリフェニレンビニレン誘導体、ポリベンゾチアジアゾール誘導体、ポリフルオレン誘導体等を分子骨格の一部に有する有機分子、有機金属錯体やサブフタロシアニン誘導体が挙げられる。フラーレン誘導体に含まれる基等としては、ハロゲン原子、直鎖または分岐もしくは環状のアルキル基またはフェニル基、直鎖もしくは縮環した芳香族化合物を有する基、ハロゲン化物を有する基、パーシャルフルオロアルキル基、パーフルオロアルキル基、シリルアルキル基、シリルアルコキシ基、アリールシリル基、アリールスルファニル基、アルキルスルファニル基、アリールスルホニル基、アルキルスルホニル基、アリールスルフィド基、アルキルスルフィド基、アミノ基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、カルボニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基、ニトロ基、カルコゲン化物を有する基、ホスフィン基、ホスホン基、これらの誘導体が挙げられる。
有機光電変換層16は、単層構造あるいは積層構造としてもよい。有機光電変換層16を単層構造として構成する場合には、上記のように、例えば、p型半導体またはn型半導体のどちらか一方あるいは両方を用いることができる。p型半導体およびn型半導体の両方を用いて構成する場合には、p型半導体およびn型半導体を混合することで、有機光電変換層16内にバルクヘテロ構造が形成される。この有機光電変換層16には、さらに、選択的な波長域の光を光電変換する材料(光吸収体)が混合されていてもよい。有機光電変換層16を積層構造として構成する場合には、例えば、p型半導体層/n型半導体層、p型半導体層/p型半導体とn型半導体との混合層(バルクヘテロ層)、n型半導体層/p型半導体とn型半導体との混合層(バルクヘテロ層)の2層構造、あるいは、p型半導体層/p型半導体とn型半導体との混合層(バルクヘテロ層)/n型半導体層の3層構造が挙げられる。なお、有機光電変換層16を構成する各層には、p型半導体およびn型半導体がそれぞれ2種以上含まれていてもよい。
有機光電変換層16の厚みは、特に限定されないが、例えば、10nm以上500nm以下、好ましくは25nm以上300nm以下、より好ましくは25nm以上200nm以下、さらに好ましくは100nm以上180nm以下を例示することができる。
なお、有機半導体は、p型またはn型と分類されることが多いが、p型とは正孔を輸送しやすいという意味であり、n型とは電子を輸送しやすいという意味である。有機半導体におけるp型およびn型は、無機半導体のように熱励起の多数キャリアとして正孔または電子を有しているという解釈に限定されない。
上部電極17は、下部電極15と同様の光透過性を有する導電膜により構成されている。光電変換素子10を1つの画素として用いた撮像装置1では、この上部電極17が画素毎に分離されていてもよいし、各画素に共通の電極として形成されていてもよい。上部電極17の厚みは、例えば、20nm以上200nm以下、好ましくは30nm以上100nm以下である。
更に、下部電極15および上部電極17は、絶縁材料によって被覆されていてもよい。下部電極15および上部電極17を被覆する被覆層の材料としては、例えば、高誘電絶縁膜を形成する、酸化ケイ素系材料、窒化ケイ素(SiNx)および酸化アルミニウム(Al23)等の金属酸化物等の無機系絶縁材料が挙げられる。この他、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリビニルフェノール(PVP)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリイミド、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリスチレンや、N−2(アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン(AEAPTMS)、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(MPTMS)およびオクタデシルトリクロロシラン(OTS)等のシラノール誘導体(シランカップリング剤)、オクタデカンチオールおよびドデシルイソシアネイト等の一端に電極と結合可能な官能基を有する直鎖炭化水素類等の有機系絶縁材料(有機ポリマー)を用いてもよい。また、これらを組み合わせて用いてもよい。これらの組み合わせを用いることもできる。なお、酸化ケイ素系材料としては、酸化シリコン(SiOX)、BPSG、PSG、BSG、AsSG、PbSG、酸化窒化シリコン(SiON)、SOG(スピンオングラス)および低誘電率材料(例えば、ポリアリールエーテル、シクロパーフルオロカーボンポリマー、ベンゾシクロブテン、環状フッ素樹脂、ポリテトラフルオロエチレン、フッ化アリールエーテル、フッ化ポリイミド、アモルファスカーボン、有機SOG)等が挙げられる。被覆層の形成方法として、例えば、後述する乾式成膜法および湿式成膜法を用いることが可能である。
なお、有機光電変換層16と下部電極15との間、および有機光電変換層16と上部電極17との間には、他の層が設けられていてもよい。例えば、下部電極15側から順に、下引き層、正孔輸送層、電子ブロッキング層 、有機光電変換層16、正孔ブロッキング層、バッファ層、電子輸送層および仕事関数調整層が積層されていてもよい。
固定電荷層12Aは、正の固定電荷を有する膜でもよいし、負の固定電荷を有する膜でもよい。負の固定電荷を有する膜の材料としては、酸化ハフニウム、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化タンタル、酸化チタン等が挙げられる。また上記以外の材料としては酸化ランタン、酸化プラセオジム、酸化セリウム、酸化ネオジム、酸化プロメチウム、酸化サマリウム、酸化ユウロピウム、酸化ガドリニウム、酸化テルビウム、酸化ジスプロシウム、酸化正孔ミウム、酸化ツリウム、酸化イッテルビウム、酸化ルテチウム、酸化イットリウム、窒化アルミニウム膜、酸窒化ハフニウム膜または酸窒化アルミニウム膜等を用いてもよい。
固定電荷層12Aは、2種類以上の膜を積層した構成を有していてもよい。それにより、例えば負の固定電荷を有する膜の場合には正孔蓄積層としての機能をさらに高めることが可能である。
誘電体層12Bの材料は特に限定されないが、例えば、シリコン酸化膜、TEOS、シリコン窒化膜、シリコン酸窒化膜等によって形成されている。
層間絶縁層14は、例えば、酸化シリコン、窒化シリコンおよび酸窒化シリコン(SiON)等のうちの1種よりなる単層膜か、あるいはこれらのうちの2種以上よりなる積層膜により構成されている。
保護層18は、光透過性を有する材料により構成され、例えば、酸化シリコン、窒化シリコンおよび酸窒化シリコン等のうちのいずれかよりなる単層膜、あるいはそれらのうちの2種以上よりなる積層膜により構成されている。この保護層18の厚みは、例えば、100nm〜30000nmである。
保護層18上には、全面を覆うように、オンチップレンズ層19が形成されている。オンチップレンズ層19の表面には、複数のオンチップレンズ19L(マイクロレンズ)が設けられている。オンチップレンズ19Lは、その上方から入射した光を、有機光電変換部11G、無機光電変換部11B,11Rの各受光面へ集光させるものである。本実施の形態では、多層配線70が半導体基板11の第2面11S2側に形成されていることから、有機光電変換部11G、無機光電変換部11B,11Rの各受光面を互いに近づけて配置することができ、オンチップレンズ19LのF値に依存して生じる各色間の感度のばらつきを低減することができる。
図2は、本開示に係る技術を適用し得る複数の光電変換部(例えば、上記無機光電変換部11B,11Rおよび有機光電変換部11G)が積層された画素を有する撮像素子の構成例を示した平面図である。即ち、図2は、例えば、図5に示した画素部1aを構成する単位画素Pの平面構成の一例を表したものである。
単位画素Pは、R(Red)、G(Green)およびB(Blue)のそれぞれの波長の光を光電変換する赤色光電変換部(図1における無機光電変換部11R)、青色光電変換部(図1における無機光電変換部11B)および緑色光電変換部(図1における有機光電変換部11G)(図2では、いずれも図示せず)が、例えば、受光面側(図1における光入射側S1)から、緑色光電変換部、青色光電変換部および赤色光電変換部の順番で3層に積層された光電変換領域1100を有する。更に、単位画素Pは、RGBのそれぞれの波長の光に対応する電荷を、赤色光電変換部、緑色光電変換部および青色光電変換部から読み出す電荷読み出し部としてのTr群1110、Tr群1120およびTr群1130を有する。撮像装置1では、1つの単位画素Pにおいて、縦方向の分光、即ち、光電変換領域1100に積層された赤色光電変換部、緑色光電変換部および青色光電変換部としての各層で、RGBのそれぞれの光の分光が行われる。
Tr群1110、Tr群1120およびTr群1130は、光電変換領域1100の周辺に形成されている。Tr群1110は、赤色光電変換部で生成、蓄積されたRの光に対応する信号電荷を画素信号として出力する。Tr群1110は、転送Tr(MOS FET)1111、リセットTr1112、増幅Tr1113および選択Tr1114で構成されている。Tr群1120は、青色光電変換部で生成、蓄積されたBの光に対応する信号電荷を画素信号として出力する。Tr群1120は、転送Tr1121、リセットTr1122、増幅Tr1123および選択Tr1124で構成されている。Tr群1130は、緑色光電変換部で生成、蓄積されたGの光に対応する信号電荷を画素信号として出力する。Tr群1130は、転送Tr1131、リセットTr1132、増幅Tr1133および選択Tr1134で構成されている。
転送Tr1111は、ゲートG、ソース/ドレイン領域S/DおよびFD(フローティングディフュージョン)1115(となっているソース/ドレイン領域)によって構成されている。転送Tr1121は、ゲートG、ソース/ドレイン領域S/D、および、FD1125によって構成される。転送Tr1131は、ゲートG、光電変換領域1100のうちの緑色光電変換部(と接続しているソース/ドレイン領域S/D)およびFD1135によって構成されている。なお、転送Tr1111のソース/ドレイン領域は、光電変換領域1100のうちの赤色光電変換部に接続され、転送Tr1121のソース/ドレイン領域S/Dは、光電変換領域1100のうちの青色光電変換部に接続されている。
リセットTr1112、1132および1122、増幅Tr1113、1133および1123ならびに選択Tr1114、1134および1124は、いずれもゲートGと、そのゲートGを挟むような形に配置された一対のソース/ドレイン領域S/Dとで構成されている。
FD1115、1135および1125は、リセットTr1112、1132および1122のソースになっているソース/ドレイン領域S/Dにそれぞれ接続されると共に、増幅Tr1113、1133および1123のゲートGにそれぞれ接続されている。リセットTr1112および増幅Tr1113、リセットTr1132および増幅Tr1133ならびにリセットTr1122および増幅Tr1123のそれぞれにおいて共通のソース/ドレイン領域S/Dには、電源Vddが接続されている。選択Tr1114、1134および1124のソースになっているソース/ドレイン領域S/Dには、VSL(垂直信号線)が接続されている。
本開示に係る技術は、以上のような撮像素子に適用することができる。
(1−2.光電変換素子の製造方法)
本実施の形態の光電変換素子10は、例えば、次のようにして製造することができる。
図3および図4は、光電変換素子10の製造方法を工程順に表したものである。まず、図3に示したように、半導体基板11内に、第1の導電型のウェルとして例えばpウェル61を形成し、このpウェル61内に第2の導電型(例えばn型)の無機光電変換部11B,11Rを形成する。半導体基板11の第1面11S1近傍にはp+領域を形成する。
半導体基板11の第2面11S2には、同じく図3に示したように、フローティングディフュージョンFD1〜FD3となるn+領域を形成したのち、ゲート絶縁層62と、縦型トランジスタTr1、転送トランジスタTr2、アンプトランジスタAMPおよびリセットトランジスタRSTの各ゲートを含むゲート配線層64とを形成する。これにより、縦型トランジスタTr1、転送トランジスタTr2、アンプトランジスタAMPおよびリセットトランジスタRSTが形成される。更に、半導体基板11の第2面11S2上に、下部第1コンタクト75、下部第2コンタクト76、接続部71Aを含む配線層71〜73および絶縁層74からなる多層配線70を形成する。
半導体基板11の基体としては、例えば、半導体基板11と、埋込み酸化膜(図示せず)と、保持基板(図示せず)とを積層したSOI(Silicon on Insulator)基板を用いる。埋込み酸化膜および保持基板は、図3には図示しないが、半導体基板11の第1面11S1に接合されている。イオン注入後、アニール処理を行う。
次いで、半導体基板11の第2面11S2側(多層配線70側)に支持基板(図示せず)または他の半導体基板等を接合して、上下反転する。続いて、半導体基板11をSOI基板の埋込み酸化膜および保持基板から分離し、半導体基板11の第1面11S1を露出させる。以上の工程は、イオン注入およびCVD(Chemical Vapor Deposition)等、通常のCMOSプロセスで使用されている技術にて行うことが可能である。
次いで、図4に示したように、例えばドライエッチングにより半導体基板11を第1面11S1側から加工し、環状の開口63Hを形成する。開口63Hの深さは、図4に示したように、半導体基板11の第1面11S1から第2面11S2まで貫通すると共に、例えば、接続部71Aまで達するものである。
続いて、図4に示したように、半導体基板11の第1面11S1および開口63Hの側面に、例えば負の固定電荷層12Aを形成する。負の固定電荷層12Aとして、2種類以上の膜を積層してもよい。それにより、正孔蓄積層としての機能をより高めることが可能となる。負の固定電荷層12Aを形成したのち、誘電体層12Bを形成する。
次に、開口63Hに、導電体を埋設して貫通電極63を形成する。導電体としては、例えば、PDAS(Phosphorus Doped Amorphous Silicon)等のドープされたシリコン材料の他、アルミニウム(Al)、タングステン(W)、チタン(Ti)、コバルト(Co)、ハフニウム(Hf)およびタンタル(Ta)等の金属材料を用いることができる。
続いて、貫通電極63上にパッド部13Aを形成したのち、誘電体層12Bおよびパッド部13A上に、下部電極15と貫通電極63(具体的には、貫通電極63上のパッド部13A)とを電気的に接続する上部コンタクト13Bおよびパッド部13Cがパッド部13A上に設けられた層間絶縁層14を形成する。
次に、層間絶縁層14上に、下部電極15、有機光電変換層16等の有機層、上部電極17および保護層18をこの順に形成する。下部電極15および上部電極17の成膜方法としては、乾式法あるいは湿式法を用いることが可能である。乾式法としては、物理的気相成長法(PVD法)および化学的気相成長法(CVD法)が挙げられる。PVD法の原理を用いた成膜法としては、抵抗加熱あるいは高周波加熱を用いた真空蒸着法、EB(電子ビーム)蒸着法、各種スパッタリング法(マグネトロンスパッタリング法、RF−DC結合形バイアススパッタリング法、ECRスパッタリング法、対向ターゲットスパッタリング法、高周波スパッタリング法)、イオンプレーティング法、レーザブレーション法、分子線エピタキシー法およびレーザ転写法が挙げられる。CVD法としては、プラズマCVD法、熱CVD法、有機金属(MO)CVD法および光CVD法が挙げられる。一方、湿式法としては、電解メッキ法や無電解メッキ法、スピンコート法、インクジェット法、スプレーコート法、スタンプ法、マイクロコンタクトプリント法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法およびディップ法等が挙げられる。パターニングについては、シャドーマスク、レーザ転写、フォトリソグラフィー等の化学的エッチングおよび紫外線やレーザ等による物理的エッチング等を利用することができる。平坦化技術として、レーザ平坦化法、リフロー法および化学機械研磨法(CMP法)等を用いることができる。
有機光電変換層16の成膜方法としては、下部電極15および上部電極17と同様に、乾式成膜法および湿式成膜法が挙げられる。乾式成膜法としては、抵抗加熱あるいは高周波加熱を用いた真空蒸着法、EB蒸着法、各種スパッタリング法(マグネトロンスパッタリング法、RF−DC結合形バイアススパッタリング法、ECRスパッタリング法、対向ターゲットスパッタリング法、高周波スパッタリング法)、イオンプレーティング法、レーザブレーション法、分子線エピタキシー法及びレーザ転写法が挙げられる。CVD法としては、プラズマCVD法、熱CVD法、MOCVD法、光CVD法を挙げることができる。一方、湿式法として、スピンコート法、インクジェット法、スプレーコート法、スタンプ法、マイクロコンタクトプリント法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、グラビア印刷法、ディップ法等が挙げられる。パターニングについては、シャドーマスク、レーザ転写、フォトリソグラフィー等の化学的エッチング、紫外線やレーザ等による物理的エッチング等を利用することができる。平坦化技術として、レーザ平坦化法、リフロー法等を用いることができる。
最後に、表面に複数のオンチップレンズ19Lを有するオンチップレンズ層19を配設する。以上により、図1に示した光電変換素子10が完成する。
光電変換素子10では、有機光電変換部11Gに、オンチップレンズ19Lを介して光が入射すると、その光は、有機光電変換部11G、無機光電変換部11B,11Rの順に通過し、その通過過程において緑、青、赤の色光毎に光電変換される。以下、各色の信号取得動作について説明する。
(有機光電変換部11Gによる緑色信号の取得)
光電変換素子10へ入射した光のうち、まず、緑色光が、有機光電変換部11Gにおいて選択的に検出(吸収)され、光電変換される。
有機光電変換部11Gは、貫通電極63を介して、アンプトランジスタAMPのゲートGampとフローティングディフュージョンFD3とに接続されている。よって、有機光電変換部11Gで発生した電子−正孔対のうちの電子が、下部電極15側から取り出され、貫通電極63を介して半導体基板11の第2面11S2側へ転送され、フローティングディフュージョンFD3に蓄積される。これと同時に、アンプトランジスタAMPにより、有機光電変換部11Gで生じた電荷量が電圧に変調される。
また、フローティングディフュージョンFD3の隣には、リセットトランジスタRSTのリセットゲートGrstが配置されている。これにより、フローティングディフュージョンFD3に蓄積された電荷は、リセットトランジスタRSTによりリセットされる。
ここでは、有機光電変換部11Gが、貫通電極63を介して、アンプトランジスタAMPだけでなくフローティングディフュージョンFD3にも接続されているので、フローティングディフュージョンFD3に蓄積された電荷をリセットトランジスタRSTにより容易にリセットすることが可能となる。
これに対して、貫通電極63とフローティングディフュージョンFD3とが接続されていない場合には、フローティングディフュージョンFD3に蓄積された電荷をリセットすることが困難となり、大きな電圧をかけて上部電極17側へ引き抜くことになる。そのため、有機光電変換層16がダメージを受けるおそれがある。また、短時間でのリセットを可能とする構造は暗時ノイズの増大を招き、トレードオフとなるため、この構造は困難である。
(無機光電変換部11B,11Rによる青色信号,赤色信号の取得)
続いて、有機光電変換部11Gを透過した光のうち、青色光は無機光電変換部11B、赤色光は無機光電変換部11Rにおいて、それぞれ順に吸収され、光電変換される。無機光電変換部11Bでは、入射した青色光に対応した電子が無機光電変換部11Bのn領域に蓄積され、蓄積された電子は、縦型トランジスタTr1によりフローティングディフュージョンFD1へと転送される。同様に、無機光電変換部11Rでは、入射した赤色光に対応した電子が無機光電変換部11Rのn領域に蓄積され、蓄積された電子は、転送トランジスタTr2によりフローティングディフュージョンFD2へと転送される。
(1−3.作用・効果)
前述したように、近年、有機薄膜を用いた様々なデバイスの開発が行われている。有機光電変換素子はその一つであり、これを用いた有機薄膜太陽電池や撮像素子が提案されている。特に撮像素子は、デジタルカメラ、ビデオカムコーダの他に、スマートフォン用カメラ、監視向けカメラ、自動車用のバックモニター、衝突防止用センサとしても応用が拡がり、注目されている。このため、撮像素子を構成する有機光電変換素子には、何れの用途にも対応できるように、性能の向上が求められている。
そこで、撮像素子を構成する有機光電変換素子を、光吸収体、正孔輸送材料および電子輸送材料の3種類の有機化合物を混合して形成することが考えられる。正孔輸送材料としては、例えばチオフェン誘導体であるベンゾジチオフェン(BDT)またはジチエノチオフェン(DTT)を母骨格とした有機化合物が挙げられる。しかしながら、これらを用いた場合、暗電流が十分に低減されない虞がある。
これに対して、本実施の形態では、有機光電変換層16の材料として、アントラセン誘導体を含む上記一般式(1)で表される有機半導体材料を用いるようにした。これにより、有機光電変換層16を構成する他の材料と適当なエネルギー準位関係を構成することが可能となる。
以上のことから、本実施の形態の光電変換素子10は、アントラセン誘導体を含む上記一般式(1)で表される有機半導体材料を用いて有機光電変換層16を形成するようにしたので、有機光電変換層16内において他の材料と適当なエネルギー準位関係が形成される。よって、光電変換効率を維持したまま、暗電流の発生を低減することが可能となる。
また、上記一般式(1)で表される有機半導体材料の中でもアントラセン誘導体は、他の有機半導体材料と比較して製造が容易である。このため、製造時のコストを低減および環境への負荷を低減することが可能となる。
<2.適用例>
(適用例1)
図5は、例えば、上記実施の形態において説明した光電変換素子10を各画素に用いた撮像装置1の全体構成を表したものである。この撮像装置1は、CMOSイメージセンサであり、半導体基板11上に、撮像エリアとしての画素部1aを有すると共に、この画素部1aの周辺領域に、例えば、行走査部131、水平選択部133、列走査部134およびシステム制御部132からなる周辺回路部130を有している。
画素部1aは、例えば、行列状に2次元配置された複数の単位画素P(例えば、光電変換素子10に相当)を有している。この単位画素Pには、例えば、画素行ごとに画素駆動線Lread(具体的には行選択線およびリセット制御線)が配線され、画素列ごとに垂直信号線Lsigが配線されている。画素駆動線Lreadは、画素からの信号読み出しのための駆動信号を伝送するものである。画素駆動線Lreadの一端は、行走査部131の各行に対応した出力端に接続されている。
行走査部131は、シフトレジスタやアドレスデコーダ等によって構成され、画素部1aの各単位画素Pを、例えば、行単位で駆動する画素駆動部である。行走査部131によって選択走査された画素行の各単位画素Pから出力される信号は、垂直信号線Lsigの各々を通して水平選択部133に供給される。水平選択部133は、垂直信号線Lsigごとに設けられたアンプや水平選択スイッチ等によって構成されている。
列走査部134は、シフトレジスタやアドレスデコーダ等によって構成され、水平選択部133の各水平選択スイッチを走査しつつ順番に駆動するものである。この列走査部134による選択走査により、垂直信号線Lsigの各々を通して伝送される各画素の信号が順番に水平信号線135に出力され、当該水平信号線135を通して半導体基板11の外部へ伝送される。
行走査部131、水平選択部133、列走査部134および水平信号線135からなる回路部分は、半導体基板11上に直に形成されていてもよいし、あるいは外部制御ICに配設されたものであってもよい。また、それらの回路部分は、ケーブル等により接続された他の基板に形成されていてもよい。
システム制御部132は、半導体基板11の外部から与えられるクロックや、動作モードを指令するデータ等を受け取り、また、撮像装置1の内部情報等のデータを出力するものである。システム制御部132はさらに、各種のタイミング信号を生成するタイミングジェネレータを有し、当該タイミングジェネレータで生成された各種のタイミング信号を基に行走査部131、水平選択部133および列走査部134等の周辺回路の駆動制御を行う。
(適用例2)
上述の撮像装置1は、例えば、デジタルスチルカメラやビデオカメラ等のカメラシステムや、撮像機能を有する携帯電話等、撮像機能を備えたあらゆるタイプの電子機器(撮像装置)に適用することができる。図6に、その一例として、カメラ2の概略構成を示す。このカメラ2は、例えば、静止画または動画を撮影可能なビデオカメラであり、撮像装置1と、光学系(光学レンズ)310と、シャッタ装置311と、撮像装置1およびシャッタ装置311を駆動する駆動部313と、信号処理部312とを有する。
光学系310は、被写体からの像光(入射光)を撮像装置1の画素部1aへ導くものである。この光学系310は、複数の光学レンズから構成されていてもよい。シャッタ装置311は、撮像装置1への光照射期間および遮光期間を制御するものである。駆動部313は、撮像装置1の転送動作およびシャッタ装置311のシャッタ動作を制御するものである。信号処理部312は、撮像装置1から出力された信号に対し、各種の信号処理を行うものである。信号処理後の映像信号Doutは、メモリ等の記憶媒体に記憶されるか、あるいは、モニタ等に出力される。
(適用例3)
<体内情報取得システムへの応用例>
更に、本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、内視鏡手術システムに適用されてもよい。
図7は、本開示に係る技術(本技術)が適用され得る、カプセル型内視鏡を用いた患者の体内情報取得システムの概略的な構成の一例を示すブロック図である。
体内情報取得システム10001は、カプセル型内視鏡10100と、外部制御装置10200とから構成される。
カプセル型内視鏡10100は、検査時に、患者によって飲み込まれる。カプセル型内視鏡10100は、撮像機能及び無線通信機能を有し、患者から自然排出されるまでの間、胃や腸等の臓器の内部を蠕動運動等によって移動しつつ、当該臓器の内部の画像(以下、体内画像ともいう)を所定の間隔で順次撮像し、その体内画像についての情報を体外の外部制御装置10200に順次無線送信する。
外部制御装置10200は、体内情報取得システム10001の動作を統括的に制御する。また、外部制御装置10200は、カプセル型内視鏡10100から送信されてくる体内画像についての情報を受信し、受信した体内画像についての情報に基づいて、表示装置(図示せず)に当該体内画像を表示するための画像データを生成する。
体内情報取得システム10001では、このようにして、カプセル型内視鏡10100が飲み込まれてから排出されるまでの間、患者の体内の様子を撮像した体内画像を随時得ることができる。
カプセル型内視鏡10100と外部制御装置10200の構成及び機能についてより詳細に説明する。
カプセル型内視鏡10100は、カプセル型の筐体10101を有し、その筐体10101内には、光源部10111、撮像部10112、画像処理部10113、無線通信部10114、給電部10115、電源部10116、及び制御部10117が収納されている。
光源部10111は、例えばLED(light emitting diode)等の光源から構成され、撮像部10112の撮像視野に対して光を照射する。
撮像部10112は、撮像素子、及び当該撮像素子の前段に設けられる複数のレンズからなる光学系から構成される。観察対象である体組織に照射された光の反射光(以下、観察光という)は、当該光学系によって集光され、当該撮像素子に入射する。撮像部10112では、撮像素子において、そこに入射した観察光が光電変換され、その観察光に対応する画像信号が生成される。撮像部10112によって生成された画像信号は、画像処理部10113に提供される。
画像処理部10113は、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)等のプロセッサによって構成され、撮像部10112によって生成された画像信号に対して各種の信号処理を行う。画像処理部10113は、信号処理を施した画像信号を、RAWデータとして無線通信部10114に提供する。
無線通信部10114は、画像処理部10113によって信号処理が施された画像信号に対して変調処理等の所定の処理を行い、その画像信号を、アンテナ10114Aを介して外部制御装置10200に送信する。また、無線通信部10114は、外部制御装置10200から、カプセル型内視鏡10100の駆動制御に関する制御信号を、アンテナ10114Aを介して受信する。無線通信部10114は、外部制御装置10200から受信した制御信号を制御部10117に提供する。
給電部10115は、受電用のアンテナコイル、当該アンテナコイルに発生した電流から電力を再生する電力再生回路、及び昇圧回路等から構成される。給電部10115では、いわゆる非接触充電の原理を用いて電力が生成される。
電源部10116は、二次電池によって構成され、給電部10115によって生成された電力を蓄電する。図7では、図面が煩雑になることを避けるために、電源部10116からの電力の供給先を示す矢印等の図示を省略しているが、電源部10116に蓄電された電力は、光源部10111、撮像部10112、画像処理部10113、無線通信部10114、及び制御部10117に供給され、これらの駆動に用いられ得る。
制御部10117は、CPU等のプロセッサによって構成され、光源部10111、撮像部10112、画像処理部10113、無線通信部10114、及び、給電部10115の駆動を、外部制御装置10200から送信される制御信号に従って適宜制御する。
外部制御装置10200は、CPU,GPU等のプロセッサ、又はプロセッサとメモリ等の記憶素子が混載されたマイクロコンピュータ若しくは制御基板等で構成される。外部制御装置10200は、カプセル型内視鏡10100の制御部10117に対して制御信号を、アンテナ10200Aを介して送信することにより、カプセル型内視鏡10100の動作を制御する。カプセル型内視鏡10100では、例えば、外部制御装置10200からの制御信号により、光源部10111における観察対象に対する光の照射条件が変更され得る。また、外部制御装置10200からの制御信号により、撮像条件(例えば、撮像部10112におけるフレームレート、露出値等)が変更され得る。また、外部制御装置10200からの制御信号により、画像処理部10113における処理の内容や、無線通信部10114が画像信号を送信する条件(例えば、送信間隔、送信画像数等)が変更されてもよい。
また、外部制御装置10200は、カプセル型内視鏡10100から送信される画像信号に対して、各種の画像処理を施し、撮像された体内画像を表示装置に表示するための画像データを生成する。当該画像処理としては、例えば現像処理(デモザイク処理)、高画質化処理(帯域強調処理、超解像処理、NR(Noise reduction)処理及び/又は手ブレ補正処理等)、並びに/又は拡大処理(電子ズーム処理)等、各種の信号処理を行うことができる。外部制御装置10200は、表示装置の駆動を制御して、生成した画像データに基づいて撮像された体内画像を表示させる。あるいは、外部制御装置10200は、生成した画像データを記録装置(図示せず)に記録させたり、印刷装置(図示せず)に印刷出力させてもよい。
以上、本開示に係る技術が適用され得る体内情報取得システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、例えば、撮像部10112に適用され得る。これにより、検出精度が向上する。
(適用例4)
<4.内視鏡手術システムへの応用例>
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、内視鏡手術システムに適用されてもよい。
図8は、本開示に係る技術(本技術)が適用され得る内視鏡手術システムの概略的な構成の一例を示す図である。
図8では、術者(医師)11131が、内視鏡手術システム11000を用いて、患者ベッド11133上の患者11132に手術を行っている様子が図示されている。図示するように、内視鏡手術システム11000は、内視鏡11100と、気腹チューブ11111やエネルギー処置具11112等の、その他の術具11110と、内視鏡11100を支持する支持アーム装置11120と、内視鏡下手術のための各種の装置が搭載されたカート11200と、から構成される。
内視鏡11100は、先端から所定の長さの領域が患者11132の体腔内に挿入される鏡筒11101と、鏡筒11101の基端に接続されるカメラヘッド11102と、から構成される。図示する例では、硬性の鏡筒11101を有するいわゆる硬性鏡として構成される内視鏡11100を図示しているが、内視鏡11100は、軟性の鏡筒を有するいわゆる軟性鏡として構成されてもよい。
鏡筒11101の先端には、対物レンズが嵌め込まれた開口部が設けられている。内視鏡11100には光源装置11203が接続されており、当該光源装置11203によって生成された光が、鏡筒11101の内部に延設されるライトガイドによって当該鏡筒の先端まで導光され、対物レンズを介して患者11132の体腔内の観察対象に向かって照射される。なお、内視鏡11100は、直視鏡であってもよいし、斜視鏡又は側視鏡であってもよい。
カメラヘッド11102の内部には光学系及び撮像素子が設けられており、観察対象からの反射光(観察光)は当該光学系によって当該撮像素子に集光される。当該撮像素子によって観察光が光電変換され、観察光に対応する電気信号、すなわち観察像に対応する画像信号が生成される。当該画像信号は、RAWデータとしてカメラコントロールユニット(CCU: Camera Control Unit)11201に送信される。
CCU11201は、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)等によって構成され、内視鏡11100及び表示装置11202の動作を統括的に制御する。さらに、CCU11201は、カメラヘッド11102から画像信号を受け取り、その画像信号に対して、例えば現像処理(デモザイク処理)等の、当該画像信号に基づく画像を表示するための各種の画像処理を施す。
表示装置11202は、CCU11201からの制御により、当該CCU11201によって画像処理が施された画像信号に基づく画像を表示する。
光源装置11203は、例えばLED(light emitting diode)等の光源から構成され、術部等を撮影する際の照射光を内視鏡11100に供給する。
入力装置11204は、内視鏡手術システム11000に対する入力インタフェースである。ユーザは、入力装置11204を介して、内視鏡手術システム11000に対して各種の情報の入力や指示入力を行うことができる。例えば、ユーザは、内視鏡11100による撮像条件(照射光の種類、倍率及び焦点距離等)を変更する旨の指示等を入力する。
処置具制御装置11205は、組織の焼灼、切開又は血管の封止等のためのエネルギー処置具11112の駆動を制御する。気腹装置11206は、内視鏡11100による視野の確保及び術者の作業空間の確保の目的で、患者11132の体腔を膨らめるために、気腹チューブ11111を介して当該体腔内にガスを送り込む。レコーダ11207は、手術に関する各種の情報を記録可能な装置である。プリンタ11208は、手術に関する各種の情報を、テキスト、画像又はグラフ等各種の形式で印刷可能な装置である。
なお、内視鏡11100に術部を撮影する際の照射光を供給する光源装置11203は、例えばLED、レーザ光源又はこれらの組み合わせによって構成される白色光源から構成することができる。RGBレーザ光源の組み合わせにより白色光源が構成される場合には、各色(各波長)の出力強度及び出力タイミングを高精度に制御することができるため、光源装置11203において撮像画像のホワイトバランスの調整を行うことができる。また、この場合には、RGBレーザ光源それぞれからのレーザ光を時分割で観察対象に照射し、その照射タイミングに同期してカメラヘッド11102の撮像素子の駆動を制御することにより、RGBそれぞれに対応した画像を時分割で撮像することも可能である。当該方法によれば、当該撮像素子にカラーフィルタを設けなくても、カラー画像を得ることができる。
また、光源装置11203は、出力する光の強度を所定の時間ごとに変更するようにその駆動が制御されてもよい。その光の強度の変更のタイミングに同期してカメラヘッド11102の撮像素子の駆動を制御して時分割で画像を取得し、その画像を合成することにより、いわゆる黒つぶれ及び白とびのない高ダイナミックレンジの画像を生成することができる。
また、光源装置11203は、特殊光観察に対応した所定の波長帯域の光を供給可能に構成されてもよい。特殊光観察では、例えば、体組織における光の吸収の波長依存性を利用して、通常の観察時における照射光(すなわち、白色光)に比べて狭帯域の光を照射することにより、粘膜表層の血管等の所定の組織を高コントラストで撮影する、いわゆる狭帯域光観察(Narrow Band Imaging)が行われる。あるいは、特殊光観察では、励起光を照射することにより発生する蛍光により画像を得る蛍光観察が行われてもよい。蛍光観察では、体組織に励起光を照射し当該体組織からの蛍光を観察すること(自家蛍光観察)、又はインドシアニングリーン(ICG)等の試薬を体組織に局注するとともに当該体組織にその試薬の蛍光波長に対応した励起光を照射し蛍光像を得ること等を行うことができる。光源装置11203は、このような特殊光観察に対応した狭帯域光及び/又は励起光を供給可能に構成され得る。
図9は、図8に示すカメラヘッド11102及びCCU11201の機能構成の一例を示すブロック図である。
カメラヘッド11102は、レンズユニット11401と、撮像部11402と、駆動部11403と、通信部11404と、カメラヘッド制御部11405と、を有する。CCU11201は、通信部11411と、画像処理部11412と、制御部11413と、を有する。カメラヘッド11102とCCU11201とは、伝送ケーブル11400によって互いに通信可能に接続されている。
レンズユニット11401は、鏡筒11101との接続部に設けられる光学系である。鏡筒11101の先端から取り込まれた観察光は、カメラヘッド11102まで導光され、当該レンズユニット11401に入射する。レンズユニット11401は、ズームレンズ及びフォーカスレンズを含む複数のレンズが組み合わされて構成される。
撮像部11402を構成する撮像素子は、1つ(いわゆる単板式)であってもよいし、複数(いわゆる多板式)であってもよい。撮像部11402が多板式で構成される場合には、例えば各撮像素子によってRGBそれぞれに対応する画像信号が生成され、それらが合成されることによりカラー画像が得られてもよい。あるいは、撮像部11402は、3D(dimensional)表示に対応する右目用及び左目用の画像信号をそれぞれ取得するための1対の撮像素子を有するように構成されてもよい。3D表示が行われることにより、術者11131は術部における生体組織の奥行きをより正確に把握することが可能になる。なお、撮像部11402が多板式で構成される場合には、各撮像素子に対応して、レンズユニット11401も複数系統設けられ得る。
また、撮像部11402は、必ずしもカメラヘッド11102に設けられなくてもよい。例えば、撮像部11402は、鏡筒11101の内部に、対物レンズの直後に設けられてもよい。
駆動部11403は、アクチュエータによって構成され、カメラヘッド制御部11405からの制御により、レンズユニット11401のズームレンズ及びフォーカスレンズを光軸に沿って所定の距離だけ移動させる。これにより、撮像部11402による撮像画像の倍率及び焦点が適宜調整され得る。
通信部11404は、CCU11201との間で各種の情報を送受信するための通信装置によって構成される。通信部11404は、撮像部11402から得た画像信号をRAWデータとして伝送ケーブル11400を介してCCU11201に送信する。
また、通信部11404は、CCU11201から、カメラヘッド11102の駆動を制御するための制御信号を受信し、カメラヘッド制御部11405に供給する。当該制御信号には、例えば、撮像画像のフレームレートを指定する旨の情報、撮像時の露出値を指定する旨の情報、並びに/又は撮像画像の倍率及び焦点を指定する旨の情報等、撮像条件に関する情報が含まれる。
なお、上記のフレームレートや露出値、倍率、焦点等の撮像条件は、ユーザによって適宜指定されてもよいし、取得された画像信号に基づいてCCU11201の制御部11413によって自動的に設定されてもよい。後者の場合には、いわゆるAE(Auto Exposure)機能、AF(Auto Focus)機能及びAWB(Auto White Balance)機能が内視鏡11100に搭載されていることになる。
カメラヘッド制御部11405は、通信部11404を介して受信したCCU11201からの制御信号に基づいて、カメラヘッド11102の駆動を制御する。
通信部11411は、カメラヘッド11102との間で各種の情報を送受信するための通信装置によって構成される。通信部11411は、カメラヘッド11102から、伝送ケーブル11400を介して送信される画像信号を受信する。
また、通信部11411は、カメラヘッド11102に対して、カメラヘッド11102の駆動を制御するための制御信号を送信する。画像信号や制御信号は、電気通信や光通信等によって送信することができる。
画像処理部11412は、カメラヘッド11102から送信されたRAWデータである画像信号に対して各種の画像処理を施す。
制御部11413は、内視鏡11100による術部等の撮像、及び、術部等の撮像により得られる撮像画像の表示に関する各種の制御を行う。例えば、制御部11413は、カメラヘッド11102の駆動を制御するための制御信号を生成する。
また、制御部11413は、画像処理部11412によって画像処理が施された画像信号に基づいて、術部等が映った撮像画像を表示装置11202に表示させる。この際、制御部11413は、各種の画像認識技術を用いて撮像画像内における各種の物体を認識してもよい。例えば、制御部11413は、撮像画像に含まれる物体のエッジの形状や色等を検出することにより、鉗子等の術具、特定の生体部位、出血、エネルギー処置具11112の使用時のミスト等を認識することができる。制御部11413は、表示装置11202に撮像画像を表示させる際に、その認識結果を用いて、各種の手術支援情報を当該術部の画像に重畳表示させてもよい。手術支援情報が重畳表示され、術者11131に提示されることにより、術者11131の負担を軽減することや、術者11131が確実に手術を進めることが可能になる。
カメラヘッド11102及びCCU11201を接続する伝送ケーブル11400は、電気信号の通信に対応した電気信号ケーブル、光通信に対応した光ファイバ、又はこれらの複合ケーブルである。
ここで、図示する例では、伝送ケーブル11400を用いて有線で通信が行われていたが、カメラヘッド11102とCCU11201との間の通信は無線で行われてもよい。
以上、本開示に係る技術が適用され得る内視鏡手術システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、撮像部11402に適用され得る。撮像部11402に本開示に係る技術を適用することにより、検出精度が向上する。
なお、ここでは、一例として内視鏡手術システムについて説明したが、本開示に係る技術は、その他、例えば、顕微鏡手術システム等に適用されてもよい。
(適用例5)
<移動体への応用例>
本開示に係る技術は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット、建設機械、農業機械(トラクター)などのいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
図10は、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例である車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。
車両制御システム12000は、通信ネットワーク12001を介して接続された複数の電子制御ユニットを備える。図10に示した例では、車両制御システム12000は、駆動系制御ユニット12010、ボディ系制御ユニット12020、車外情報検出ユニット12030、車内情報検出ユニット12040、及び統合制御ユニット12050を備える。また、統合制御ユニット12050の機能構成として、マイクロコンピュータ12051、音声画像出力部12052、及び車載ネットワークI/F(interface)12053が図示されている。
駆動系制御ユニット12010は、各種プログラムにしたがって車両の駆動系に関連する装置の動作を制御する。例えば、駆動系制御ユニット12010は、内燃機関又は駆動用モータ等の車両の駆動力を発生させるための駆動力発生装置、駆動力を車輪に伝達するための駆動力伝達機構、車両の舵角を調節するステアリング機構、及び、車両の制動力を発生させる制動装置等の制御装置として機能する。
ボディ系制御ユニット12020は、各種プログラムにしたがって車体に装備された各種装置の動作を制御する。例えば、ボディ系制御ユニット12020は、キーレスエントリシステム、スマートキーシステム、パワーウィンドウ装置、あるいは、ヘッドランプ、バックランプ、ブレーキランプ、ウィンカー又はフォグランプ等の各種ランプの制御装置として機能する。この場合、ボディ系制御ユニット12020には、鍵を代替する携帯機から発信される電波又は各種スイッチの信号が入力され得る。ボディ系制御ユニット12020は、これらの電波又は信号の入力を受け付け、車両のドアロック装置、パワーウィンドウ装置、ランプ等を制御する。
車外情報検出ユニット12030は、車両制御システム12000を搭載した車両の外部の情報を検出する。例えば、車外情報検出ユニット12030には、撮像部12031が接続される。車外情報検出ユニット12030は、撮像部12031に車外の画像を撮像させるとともに、撮像された画像を受信する。車外情報検出ユニット12030は、受信した画像に基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等の物体検出処理又は距離検出処理を行ってもよい。
撮像部12031は、光を受光し、その光の受光量に応じた電気信号を出力する光センサである。撮像部12031は、電気信号を画像として出力することもできるし、測距の情報として出力することもできる。また、撮像部12031が受光する光は、可視光であっても良いし、赤外線等の非可視光であっても良い。
車内情報検出ユニット12040は、車内の情報を検出する。車内情報検出ユニット12040には、例えば、運転者の状態を検出する運転者状態検出部12041が接続される。運転者状態検出部12041は、例えば運転者を撮像するカメラを含み、車内情報検出ユニット12040は、運転者状態検出部12041から入力される検出情報に基づいて、運転者の疲労度合い又は集中度合いを算出してもよいし、運転者が居眠りをしていないかを判別してもよい。
マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車内外の情報に基づいて、駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置の制御目標値を演算し、駆動系制御ユニット12010に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両の衝突回避あるいは衝撃緩和、車間距離に基づく追従走行、車速維持走行、車両の衝突警告、又は車両のレーン逸脱警告等を含むADAS(Advanced Driver Assistance System)の機能実現を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車両の周囲の情報に基づいて駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置等を制御することにより、運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で取得される車外の情報に基づいて、ボディ系制御ユニット12020に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で検知した先行車又は対向車の位置に応じてヘッドランプを制御し、ハイビームをロービームに切り替える等の防眩を図ることを目的とした協調制御を行うことができる。
音声画像出力部12052は、車両の搭乗者又は車外に対して、視覚的又は聴覚的に情報を通知することが可能な出力装置へ音声及び画像のうちの少なくとも一方の出力信号を送信する。図10の例では、出力装置として、オーディオスピーカ12061、表示部12062及びインストルメントパネル12063が例示されている。表示部12062は、例えば、オンボードディスプレイ及びヘッドアップディスプレイの少なくとも一つを含んでいてもよい。
図11は、撮像部12031の設置位置の例を示す図である。
図11では、撮像部12031として、撮像部12101,12102,12103,12104,12105を有する。
撮像部12101,12102,12103,12104,12105は、例えば、車両12100のフロントノーズ、サイドミラー、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部等の位置に設けられる。フロントノーズに備えられる撮像部12101及び車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として車両12100の前方の画像を取得する。サイドミラーに備えられる撮像部12102,12103は、主として車両12100の側方の画像を取得する。リアバンパ又はバックドアに備えられる撮像部12104は、主として車両12100の後方の画像を取得する。車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として先行車両又は、歩行者、障害物、信号機、交通標識又は車線等の検出に用いられる。
なお、図11には、撮像部12101ないし12104の撮影範囲の一例が示されている。撮像範囲12111は、フロントノーズに設けられた撮像部12101の撮像範囲を示し、撮像範囲12112,12113は、それぞれサイドミラーに設けられた撮像部12102,12103の撮像範囲を示し、撮像範囲12114は、リアバンパ又はバックドアに設けられた撮像部12104の撮像範囲を示す。例えば、撮像部12101ないし12104で撮像された画像データが重ね合わせられることにより、車両12100を上方から見た俯瞰画像が得られる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、距離情報を取得する機能を有していてもよい。例えば、撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、複数の撮像素子からなるステレオカメラであってもよいし、位相差検出用の画素を有する撮像素子であってもよい。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を基に、撮像範囲12111ないし12114内における各立体物までの距離と、この距離の時間的変化(車両12100に対する相対速度)を求めることにより、特に車両12100の進行路上にある最も近い立体物で、車両12100と略同じ方向に所定の速度(例えば、0km/h以上)で走行する立体物を先行車として抽出することができる。さらに、マイクロコンピュータ12051は、先行車の手前に予め確保すべき車間距離を設定し、自動ブレーキ制御(追従停止制御も含む)や自動加速制御(追従発進制御も含む)等を行うことができる。このように運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を元に、立体物に関する立体物データを、2輪車、普通車両、大型車両、歩行者、電柱等その他の立体物に分類して抽出し、障害物の自動回避に用いることができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両12100の周辺の障害物を、車両12100のドライバが視認可能な障害物と視認困難な障害物とに識別する。そして、マイクロコンピュータ12051は、各障害物との衝突の危険度を示す衝突リスクを判断し、衝突リスクが設定値以上で衝突可能性がある状況であるときには、オーディオスピーカ12061や表示部12062を介してドライバに警報を出力することや、駆動系制御ユニット12010を介して強制減速や回避操舵を行うことで、衝突回避のための運転支援を行うことができる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、赤外線を検出する赤外線カメラであってもよい。例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在するか否かを判定することで歩行者を認識することができる。かかる歩行者の認識は、例えば赤外線カメラとしての撮像部12101ないし12104の撮像画像における特徴点を抽出する手順と、物体の輪郭を示す一連の特徴点にパターンマッチング処理を行って歩行者か否かを判別する手順によって行われる。マイクロコンピュータ12051が、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在すると判定し、歩行者を認識すると、音声画像出力部12052は、当該認識された歩行者に強調のための方形輪郭線を重畳表示するように、表示部12062を制御する。また、音声画像出力部12052は、歩行者を示すアイコン等を所望の位置に表示するように表示部12062を制御してもよい。
<3.実施例>
次に、本開示の実施例について詳細に説明する。
[実験1:光電変換素子の特性評価]
(実験例1)
上記一般式(1)で表される有機半導体材料として上記式(1−1)に示したDBPAを用いて光電変換素子を作製した。まず、スパッタ装置にて、石英基板上にITO膜を120nmの厚さに成膜したのち、フォトマスクを用いたリソグラフィー技術を用いてパターニングして下部電極を形成した。続いて、石英基板を蒸着装置の基板ホルダに固定した後、蒸着室を5.5×10-5Paに減圧した。次いで、シャドーマスクを用いた真空蒸着成膜にて、DBPA、下記式(6)に示したフッ素化サブフタロシアニン(F6−SubPc−OC65)および下記式(7)に示したC60フラーレンを蒸着速度比4:4:2で共蒸着し、厚さ200nmの有機光電変換層を成膜した。続いて、バッファ層として、下記式(8)に示したB4PyMPMを10nmの厚みとなるように蒸着した。最後に、上部電極としてアルミニウム合金(AlSiCu)を100nmの厚みとなるように蒸着し、光電変換素子(実験例1)を作製した。
Figure 2019134049

(実験例2)
次に、DBPAに代えて下記式(9)に示した化合物BP−rBDTを用いた以外は、実験例1と同様の方法を用いて光電変換素子(実験例2)を作製した。
Figure 2019134049

光電変換素子(実験例1および実験例2)の評価は、以下の方法を用いて行った。まず、光電変換素子を、予め60℃に加温したプローバーステージに置き、下部電極と上部電極との間に−2.6V(所謂逆バイアス電圧2.6V)の電圧を印加しながら、波長560nm、2μW/cm2の条件で光照射を行って明電流を測定した。その後、光照射を止め、暗電流を測定した。次に、明電流と暗電流から以下の式に従って、外部量子効率(EQE=|((明電流−暗電流)×100/(2×10^−6))×(1240/560)×100|)を求めた。また、残像評価については、下部電極と上部電極との間に−2.6Vを印加しながら、波長560nm、2μW/cm2の光を照射し、次いで、光の照射を中止した時、光照射中止直前に第2電極と第1電極との間を流れる電流量をI0とし、光照射中止から電流量が(0.03×I0)となるまでの時間(T0)を残像時間とした。
図12は、実験例1および実験例2の暗電流特性を表したものである。図13は、実験例1および実験例2のEQE特性を表わしたものである。図14は、実験例1および実験例2の残像特性を表したものである。図12〜図14の結果から、DBPAは、暗電流特性において、BP−rBDTよりも優れた特性が得られることがわかった。EQE億性および斬族特性については同程度の結果が得られた。以上のことから、有機光電変換層を構成する正孔輸送材料としてDBPAを用いることで、光電変換効率および残像特性を維持したまま、暗電流の発生を低減することができることがわかった。
[実験2:有機半導体材料の物性評価]
上記実験例1に用いたDBPAおよび実験例2に用いたBP−rBDTについて、以下の方法を用いてエネルギー評価を行った。まず、HOMO準位(イオン化ポテンシャル)は、Si基板上に厚さ20nmのDBPAおよびBP−rBDTの薄膜をそれぞれ成膜し、その表面を紫外線光電子分光法(UPS)によって測定して求めた。LUMO(Lowest Unoccupied Molecular Orbital:最低空軌道)準位は、DBPAおよびBP−rBDTの各薄膜の吸収スペクトルの吸収端から光学的なエネルギーギャップを算出し、HOMO準位とのエネルギーギャップの差分から算出した(LUMO=−1*||HOMO|−エネルギーギャップ|)。
図15は、DBPAおよび実験例1において光電変換素子を構成した各材料のエネルギー準位を表したものである。図16は、BP−rBDTおよび実験例2において光電変換素子を構成した各材料のエネルギー準位を表したものである。図15および図16の結果から、DBPAは、BP−rBDTよりもHOMO準位が低く、これにより、暗電流の発生が低く抑えられたことがわかった。このことから、上記一般式(1)で表される有機半導体材料は、5.4eV以上の深さのHOMO準位を有することが好ましく、上限としては、例えば6.0eV以下である。
更に、量子化学計算により、上記式(1−2)〜式(1−20)に示した化合物のエネルギー準位を算出し、その結果を表1および表2にまとめた。また、式(1−3)に示したDPA、式(1−1)に示したDBPA、式(1−2)に示したDTPAおよび式(1−17)に示したDBPTについて、量子化学計算により分光形状を予測した。その結果を図17〜20に示した。
Figure 2019134049
Figure 2019134049
表1および表2の結果から、本開示の有機光電変換層16に用いる材料としては、上記一般式(1)で表される有機半導体材料の中でも、特に、式(1−1)に示したDBPA、式(1−2)に示したDTPA、式(1−3)に示したDPA、式(1−4)に示したDQPAおよび式(1−5)に示したDPPAが好ましいことがわかった。また、分子形状は、必ずしも対称でなくてもよく、R2およびR6に異なる置換基を用いた非対称構造を有する一般式(1)で表される有機半導体材料でも、HOMO準位は大きく変化しないことがわかった。
以上、実施の形態および実施例を挙げて説明したが、本開示内容は上記実施の形態等に限定されるものではなく、種々変形が可能である。例えば、上記実施の形態では、光電変換素子として、緑色光を検出する有機光電変換部11Gと、青色光,赤色光をそれぞれ検出する無機光電変換部11Bおよび無機光電変換部11Rとを積層させた構成としたが、本開示内容はこのような構造に限定されるものではない。即ち、有機光電変換部において赤色光あるいは青色光を検出するようにしてもよいし、無機光電変換部において緑色光を検出するようにしてもよい。
更に、有機光電変換部および無機光電変換部の数やその比率も限定されるものではなく、2以上の有機光電変換部を設けてもよいし、有機光電変換部だけで複数色の色信号が得られるようにしてもよい。その場合には、各有機光電変換部は、縦分光型やベイヤ配列に限らず、例えば、インターライン配列、GストライプRB市松配列、GストライプRB完全市松配列、市松補色配列、ストライプ配列、斜めストライプ配列、原色色差配列、フィールド色差順次配列、フレーム色差順次配列、MOS型配列、改良MOS型配列、フレームインターリーブ配列、フィールドインターリーブ配列を挙げることができる。更にまた、有機光電変換部および無機光電変換部を縦方向に積層させる構造に限らず、基板面に沿って並列させてもよい。
また、上記実施の形態では、裏面照射型の撮像装置の構成を例示したが、本開示内容は表面照射型の撮像装置にも適用可能である。更に、本開示の光電変換素子では、上記実施の形態で説明した各構成要素を全て備えている必要はなく、また逆に他の層を備えていてもよい。
更にまた、撮像素子あるいは撮像装置には、必要に応じて、遮光層を設けてもよいし、撮像素子を駆動するための駆動回路や配線を設けるようにしてもよい。更にまた、必要に応じて、撮像素子への光の入射を制御するためのシャッタを配設してもよいし、撮像装置の目的に応じて光学カットフィルターを具備してもよい。
なお、本明細書中に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、また、他の効果があってもよい。
なお、本開示は、以下のような構成であってもよい。
[1]
第1電極と、
前記第1電極と対向配置された第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に設けられると共に、下記一般式(2)で表される置換基をR2およびR6の少なくとも一方に有する下記一般式(1)で表される有機半導体材料を含む光電変換層と
を備えた光電変換素子。
Figure 2019134049


(R1,R3〜R5,R7〜R10,R’,X1〜X4は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、アミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基、直鎖、分岐または環状アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基、アリールアミノ基を置換基としたアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたアリール基、アリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基または、その誘導体である。nは、0または1以上4以下の整数である。mは、1以上5以下の整数である。)
[2]
前記R2およびR6の少なくとも一方はオリゴパラフェニレン基である、前記[1]に記載の光電変換素子。
[3]
前記R2およびR6の少なくとも一方はビフェニル基またはターフェニル基である、前記[1]または[2]に記載の光電変換素子。
[4]
前記有機半導体材料は、5.4eV以上6.0eV以下のHOMO(Highest Occupied Molecular Orbital)準位を有する、前記[1]乃至[3]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[5]
前記有機半導体材料は、500nm以上600nm以下の範囲に光吸収を持たない、前記[1]乃至[4]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[6]
前記有機半導体材料は、一軸方向に延伸する分子形状を有する、前記[1]乃至[5]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[7]
前記有機半導体材料は対称性を有する、前記[1]乃至[6]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[8]
前記有機半導体材料は対称心を有する、前記[1]乃至[7]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[9]
前記有機半導体材料は鏡面を有する、前記[1]乃至[8]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[10]
前記有機半導体材料は、下記式(1−1)または下記式(1−2)に示した化合物である、前記[1]乃至[6]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
Figure 2019134049

[11]
前記有機半導体材料は正孔輸送材料である、前記[1]乃至[10]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[12]
前記光電変換層は、さらにサブフタロシアニンまたはサブフタロシアニン誘導体を含む、前記[1]乃至[11]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[13]
前記光電変換層は、さらにフラーレンまたはフラーレン誘導体を含む、前記[1]乃至[12]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[14]
1または複数の前記光電変換層を有する有機光電変換部と、前記有機光電変換部とは異なる波長域の光電変換を行う1または複数の無機光電変換部とが積層されている、前記[1]乃至[13]のうちのいずれかに記載の光電変換素子。
[15]
前記無機光電変換部は、半導体基板に埋め込み形成され、
前記有機光電変換部は、前記半導体基板の第1面側に形成されている、前記[14]に記載の光電変換素子。
[16]
前記半導体基板の第2面側に多層配線層が形成されている、前記[15]に記載の光電変換素子。
[17]
前記有機光電変換部が緑色光の光電変換を行い、
前記半導体基板の内部に、青色光の光電変換を行う無機光電変換部と、赤色光の光電変換を行う無機光電変換部とが積層されている、前記[15]または[16]に記載の光電変換素子。
[18]
1または複数の光電変換素子がそれぞれ設けられている複数の画素を備え、
前記光電変換素子は、
第1電極と、
前記第1電極と対向配置された第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に設けられると共に、下記一般式(2)で表される置換基をR2およびR6の少なくとも一方に有する下記一般式(1)で表される有機半導体材料を含む光電変換層と
を備えた撮像装置。
Figure 2019134049

(R1,R3〜R5,R7〜R10,R’,X1〜X4は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、アミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基、直鎖、分岐または環状アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基、アリールアミノ基を置換基としたアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたアリール基、アリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基または、その誘導体である。nは、0または1以上4以下の整数である。mは、1以上5以下の整数である。)
1…撮像装置、10…光電変換素子、11G…有機光電変換部、11B,11R…無機光電変換部、12A…固定電荷層、12B…誘電体層、13A,13C…パッド部、13B…上部コンタクト、14…層間絶縁層、15…下部電極、16…有機光電変換層、17…上部電極、18…保護層、19…オンチップレンズ層。

Claims (18)

  1. 第1電極と、
    前記第1電極と対向配置された第2電極と、
    前記第1電極と前記第2電極との間に設けられると共に、下記一般式(2)で表される置換基をR2およびR6の少なくとも一方に有する下記一般式(1)で表される有機半導体材料を含む光電変換層と
    を備えた光電変換素子。
    Figure 2019134049

    (R1,R3〜R5,R7〜R10,R’,X1〜X4は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、アミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基、直鎖、分岐または環状アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基、アリールアミノ基を置換基としたアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたアリール基、アリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基または、その誘導体である。nは、0または1以上4以下の整数である。mは、1以上5以下の整数である。)
  2. 前記R2およびR6の少なくとも一方はオリゴパラフェニレン基である、請求項1に記載の光電変換素子。
  3. 前記R2およびR6の少なくとも一方はビフェニル基またはターフェニル基である、請求項1に記載の光電変換素子。
  4. 前記有機半導体材料は、5.4eV以上6.0eV以下のHOMO(Highest Occupied Molecular Orbital)準位を有する、請求項1に記載の光電変換素子。
  5. 前記有機半導体材料は、500nm以上600nm以下の範囲に光吸収を持たない、請求項1に記載の光電変換素子。
  6. 前記有機半導体材料は、一軸方向に延伸する分子形状を有する、請求項1に記載の光電変換素子。
  7. 前記有機半導体材料は対称性を有する、請求項1に記載の光電変換素子。
  8. 前記有機半導体材料は対称心を有する、請求項1に記載の光電変換素子。
  9. 前記有機半導体材料は鏡面を有する、請求項1に記載の光電変換素子。
  10. 前記有機半導体材料は、下記式(1−1)または下記式(1−2)に示した化合物である、請求項1に記載の光電変換素子。
    Figure 2019134049
  11. 前記有機半導体材料は正孔輸送材料である、請求項1に記載の光電変換素子。
  12. 前記光電変換層は、さらにサブフタロシアニンまたはサブフタロシアニン誘導体を含む、請求項1に記載の光電変換素子。
  13. 前記光電変換層は、さらにフラーレンまたはフラーレン誘導体を含む、請求項1に記載の光電変換素子。
  14. 1または複数の前記光電変換層を有する有機光電変換部と、前記有機光電変換部とは異なる波長域の光電変換を行う1または複数の無機光電変換部とが積層されている、請求項1に記載の光電変換素子。
  15. 前記無機光電変換部は、半導体基板に埋め込み形成され、
    前記有機光電変換部は、前記半導体基板の第1面側に形成されている、請求項14に記載の光電変換素子。
  16. 前記半導体基板の第2面側に多層配線層が形成されている、請求項15に記載の光電変換素子。
  17. 前記有機光電変換部が緑色光の光電変換を行い、
    前記半導体基板の内部に、青色光の光電変換を行う無機光電変換部と、赤色光の光電変換を行う無機光電変換部とが積層されている、請求項15に記載の光電変換素子。
  18. 1または複数の光電変換素子がそれぞれ設けられている複数の画素を備え、
    前記光電変換素子は、
    第1電極と、
    前記第1電極と対向配置された第2電極と、
    前記第1電極と前記第2電極との間に設けられると共に、下記一般式(2)で表される置換基をR2およびR6の少なくとも一方に有する下記一般式(1)で表される有機半導体材料を含む光電変換層と
    を備えた撮像装置。
    Figure 2019134049

    (R1,R3〜R5,R7〜R10,R’,X1〜X4は、各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、アミノ基、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシルアミノ基、アシルオキシ基、フェニル基、カルボキシ基、カルボキソアミド基、カルボアルコキシ基、アシル基、スルホニル基、シアノ基およびニトロ基、直鎖、分岐または環状アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基、アリールアミノ基を置換基としたアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたアリール基、アリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基、ヘテロアリールアミノ基を置換基としたヘテロアリール基または、その誘導体である。nは、0または1以上4以下の整数である。mは、1以上5以下の整数である。)
JP2018014372A 2018-01-31 2018-01-31 光電変換素子および撮像装置 Active JP7117110B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018014372A JP7117110B2 (ja) 2018-01-31 2018-01-31 光電変換素子および撮像装置
PCT/JP2019/001437 WO2019150988A1 (ja) 2018-01-31 2019-01-18 光電変換素子および撮像装置
US16/963,725 US20210083009A1 (en) 2018-01-31 2019-01-18 Photoelectric conversion element and imaging device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018014372A JP7117110B2 (ja) 2018-01-31 2018-01-31 光電変換素子および撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019134049A true JP2019134049A (ja) 2019-08-08
JP7117110B2 JP7117110B2 (ja) 2022-08-12

Family

ID=67479756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018014372A Active JP7117110B2 (ja) 2018-01-31 2018-01-31 光電変換素子および撮像装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20210083009A1 (ja)
JP (1) JP7117110B2 (ja)
WO (1) WO2019150988A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021172121A1 (ja) * 2020-02-25 2021-09-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 多層膜および撮像素子
WO2021187208A1 (ja) * 2020-03-16 2021-09-23 ソニーグループ株式会社 光電変換素子、固体撮像素子および電子機器

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3098988B1 (fr) * 2019-07-19 2022-08-26 St Microelectronics Crolles 2 Sas Capteur d'image
CN112694388A (zh) * 2019-10-22 2021-04-23 中国科学院化学研究所 一种并四苯类衍生物及其制备方法与应用

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008082178A1 (en) * 2006-12-29 2008-07-10 Doosan Corporation Diaryl trianthracene derivatives and organic light emitting layer or diode comprising the same
JP2008294184A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Sony Corp 有機電界発光素子、表示装置、および有機材料
JP2009529035A (ja) * 2006-03-06 2009-08-13 エルジー・ケム・リミテッド 新規なアントラセン誘導体およびこれを用いた有機電子素子
WO2009154207A1 (ja) * 2008-06-17 2009-12-23 出光興産株式会社 アントラセン誘導体及びそれを用いた有機エレクトロルミネッセンス素子
JP2010522744A (ja) * 2007-03-28 2010-07-08 グラセル・ディスプレイ・インコーポレーテッド チアゾール系有機電界発光化合物およびこれを使用する有機発光ダイオード
JP2014519190A (ja) * 2011-05-12 2014-08-07 メルク パテント ゲーエムベーハー 有機イオン性機能材料、組成物および電子素子
WO2016129298A1 (ja) * 2015-02-12 2016-08-18 ソニー株式会社 光電変換膜、固体撮像素子、および電子機器
WO2017033736A1 (ja) * 2015-08-27 2017-03-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光電変換素子および撮像素子ならびに電子機器

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102114092B1 (ko) * 2012-11-06 2020-05-25 소니 주식회사 광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기
JP6135109B2 (ja) * 2012-12-07 2017-05-31 ソニー株式会社 固体撮像素子および固体撮像素子の製造方法ならびに電子機器

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009529035A (ja) * 2006-03-06 2009-08-13 エルジー・ケム・リミテッド 新規なアントラセン誘導体およびこれを用いた有機電子素子
WO2008082178A1 (en) * 2006-12-29 2008-07-10 Doosan Corporation Diaryl trianthracene derivatives and organic light emitting layer or diode comprising the same
JP2010522744A (ja) * 2007-03-28 2010-07-08 グラセル・ディスプレイ・インコーポレーテッド チアゾール系有機電界発光化合物およびこれを使用する有機発光ダイオード
JP2008294184A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Sony Corp 有機電界発光素子、表示装置、および有機材料
WO2009154207A1 (ja) * 2008-06-17 2009-12-23 出光興産株式会社 アントラセン誘導体及びそれを用いた有機エレクトロルミネッセンス素子
JP2014519190A (ja) * 2011-05-12 2014-08-07 メルク パテント ゲーエムベーハー 有機イオン性機能材料、組成物および電子素子
WO2016129298A1 (ja) * 2015-02-12 2016-08-18 ソニー株式会社 光電変換膜、固体撮像素子、および電子機器
WO2017033736A1 (ja) * 2015-08-27 2017-03-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光電変換素子および撮像素子ならびに電子機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021172121A1 (ja) * 2020-02-25 2021-09-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 多層膜および撮像素子
WO2021187208A1 (ja) * 2020-03-16 2021-09-23 ソニーグループ株式会社 光電変換素子、固体撮像素子および電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019150988A1 (ja) 2019-08-08
US20210083009A1 (en) 2021-03-18
JP7117110B2 (ja) 2022-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7208148B2 (ja) 光電変換素子および撮像装置
US11730004B2 (en) Solid-state imaging element and solid-state imaging apparatus
JP7109240B2 (ja) 光電変換素子および固体撮像装置
CN111066166B (zh) 光电转换器件和成像装置
US20230292614A1 (en) Photoelectric conversion element and solid-state imaging device
US11910624B2 (en) Solid-state imaging element and solid-state imaging device
WO2019150988A1 (ja) 光電変換素子および撮像装置
JP7242655B2 (ja) 撮像素子の駆動方法
US11968846B2 (en) Photoelectric conversion element and solid-state imaging apparatus
JP7312166B2 (ja) 光電変換素子および光電変換素子の製造方法
US20230027447A1 (en) Photoelectric conversion element and imaging device
US20220285442A1 (en) Imaging element and imaging device
WO2019203013A1 (ja) 光電変換素子および撮像装置
US20220223802A1 (en) Photoelectric conversion element and imaging device
CN113950823A (zh) 摄像元件和摄像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211130

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220405

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220530

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220705

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220801

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7117110

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150