JP2019128188A - マススペクトル処理装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
個々の部分ごとにイオン強度を特定することが可能である。なお、複数の部分は、マススペクトル全体から抽出された複数の代表部分とも言い得る。
Claims (11)
- 試料に対して設定された観測領域を構成する複数のピクセルに対応する複数のマススペクトルに基づいて、マススペクトル単位でマススペクトル全体についての特徴を示す指標を演算する指標演算手段と、
前記複数のピクセルに対応する複数の指標に基づいて、前記観測領域に対応した指標分布像を生成する生成手段と、
を含むことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記試料はポリマーである、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記指標は、数平均分子量、重量平均分子量、多分散度、数平均重合度、重量平均重合度又は総イオン量である、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記指標演算手段は、前記マススペクトル単位でマススペクトル全体についての複数の特徴を示す複数の指標からなる指標セットを演算し、
前記生成手段は、前記複数のピクセルに対応する複数の指標セットに基づいて、単一の指標分布像又は複数の指標分布像を生成する、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記指標演算手段は、
前記複数のマススペクトルから複数のイオン強度列を演算する手段と、
前記複数のイオン強度列に基づいて前記複数の指標を演算する手段と、
を含むことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項5記載の装置において、
前記各イオン強度列は前記各マススペクトルにおいて離散的に存在する複数の部分に基づいて演算される、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項6記載の装置において、
前記試料はポリマーであり、
前記複数の部分は前記ポリマーが有する複数の重合度に対応する、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項5記載の装置において、
前記各イオン強度列は前記各マススペクトルにおいて相互に連なって存在する複数の部分に基づいて演算される、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記複数のマススペクトルに基づいて複数のマスイメージを生成する手段を含み、
前記指標演算手段は前記複数のマスイメージに基づいて前記複数のピクセルに対応する前記複数の指標を演算する、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 試料に対して設定された複数のピクセルに対応する複数のマススペクトルに基づいて、マススペクトル単位でマススペクトル全体についての複数の特徴を示す複数の指標からなる指標セットを演算する工程と、
前記複数のピクセルに対応する複数の指標セットに基づいて、複数の指標分布像を生成する工程と、
を含むことを特徴とするマススペクトル処理方法。 - 情報処理装置においてマススペクトル処理方法を実行するためのプログラムにおいて、
試料に対して設定された観測領域を構成する複数のピクセルに対応する複数のマススペクトルに基づいて、マススペクトル単位でマススペクトル全体についての特徴を示す指標を演算する機能と、
前記複数のピクセルに対応する複数の指標に基づいて、前記観測領域に対応した指標分布像を生成する機能と、
を含むことを特徴とするプログラム。
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