JP2019126008A - 投影装置及びその制御方法、投影システム並びにプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】レーザスポットの重なりに起因する投影画像中の文字の視認性低下を抑制する。【解決手段】投影装置１００は、投影面１５０に投影する画像の画像信号を取得する画像処理部１０２、レーザ光源１０４〜１０６の駆動を制御するレーザ制御部１０３、レーザ光源１０４〜１０６から出射されるレーザ光を走査して投影面１５０に画像を投影する走査ミラー１１０、レーザ光により投影面１５０に点描画されたレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する画素密度算出部１１２、及び、算出された画素密度と予め定められた基準値とを比較した結果に基づいて投影面１５０に投影される文字が変更されるように画像信号を処理する文字処理部１１３を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、投影装置及びその制御方法、投影システム並びにプログラムに関し、特に、画素値に応じて変調されたレーザ光を走査ミラーで２次元に走査して画像を投影する技術に関する。

赤色、緑色、青色の各レーザ光を画素値に応じて変調した後に光学素子で１本のレーザ光に合成し、微小ミラーで反射して２次元にラスター走査する投影装置が知られている。このような投影装置では、ラスター走査線上の画素に相当する位置で各レーザ光のパルス出力を制御して画素を点描画することで、投影面上に画像を形成している。以下の説明では、こうして点描画された画素を「レーザスポット」と称呼する。

ラスター走査線上の画素の間隔は投影装置から投影面までの距離によって決まり、この距離が短い場合には、画素間隔が狭くなってレーザスポットが重なってしまうことにより解像度が低下してしまう。この問題に対して、特許文献１は、光学系を用いてレーザ光径を調整することにより、投影面におけるレーザスポットの重なりを抑制する技術を提案している。

特開２００９−１８０８２１号公報

投影画像における解像度の低下は視認性を低下させるため、投影画像内に文字がある場合には、ユーザは投影されている文字情報を正確に読み取ることが困難になる。この問題に対して上記特許文献１に記載された技術を適用した場合、上記特許文献１に記載された技術では光学系を用いてレーザ光径を調整することによりレーザスポットの重なりを抑制するため、投影装置が大型化し、また、装置コストが上昇してしまう。

本発明は、レーザスポットの重なりに起因して投影画像中の文字の視認性が低下してしまうのを簡素な構成で抑制することができるレーザ走査型の投影装置を提供することを目的とする。

本発明に係る投影装置は、レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影手段と、前記投影面に投影する画像の画像信号を取得する取得手段と、前記画像信号に基づいて前記投影手段により走査されるレーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された画素密度と予め定められた基準値とを比較した結果に基づいて前記投影面に投影される文字が変更されるように前記画像信号を処理する文字処理手段と、を備え、前記投影手段は、前記文字処理手段により処理された画像信号に基づく画像を前記投影面に投影することを特徴とする。

本発明によれば、レーザスポットの重なりに起因して投影画像中の文字の視認性が低下するのを簡素な構成で抑制することができる。

第１実施形態に係る投影装置の概略構成を示すブロック図である。 第１実施形態に係る投影装置の動作を説明するフローチャートである。 投影面上でのレーザ光の横方向のスキャン幅を求める手法の模式図である。 文字の拡大処理を説明する図である。 第２実施形態に係る投影装置を有する投影システムの概略構成を示すブロック図である。 第２実施形態に係る投影装置の動作を説明するフローチャートである。

以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。

＜第１実施形態＞
図１は、第１実施形態に係る投影装置１００の概略構成を示すブロック図である。投影装置１００は、ＣＰＵユニット１０１、画像処理部１０２、レーザ制御部１０３、レーザ光源１０４〜１０６、ダイクロミックミラー１０７、レンズ１０８、走査ミラー制御部１０９及び走査ミラー１１０を備える。また、投影装置１００は、測距部１１１、画素密度算出部１１２、文字処理部１１３、メモリ１１４及びバス１１５を備える。

ＣＰＵユニット１０１は、ＣＰＵ、投影装置１００で実行される各種の処理を実行するためのプログラムを格納したＲＯＭ、ＣＰＵがプログラムを実行する際に各種データを記憶するためのＲＡＭ等を有する。ＣＰＵユニット１０１は、バス１１５に接続された各部の動作を制御することにより投影装置１００の全体的な制御を行う。画像処理部１０２は、外部装置（不図示）から画像信号（画像データ）を取得し、メモリ１１４に書き込む。また、画像処理部１０２は、走査ミラー制御部１０９から供給される水平同期信号と垂直同期信号によって規定されたタイミングでメモリ１１４から画像データを読み出してレーザ制御部１０３へ出力する。

レーザ制御部１０３は、画像処理部１０２から出力された画像の画素値に応じた駆動電流と画素値に適用する波形パターンを決定する。レーザ光源１０４〜１０６はそれぞれ、レーザ制御部１０３により決定された駆動電流と波形パターンに基づいて、不図示のレーザ光源ドライバを介して、互いに独立して駆動される。レーザ光源１０４からは赤色成分のレーザ光が、レーザ光源１０５からは緑色成分のレーザ光が、レーザ光源１０６からは青色成分のレーザ光がそれぞれ、画素値に応じた強度で出力される。ダイクロミックミラー１０７は、特定の波長のレーザ光のみを透過し、それ以外の波長のレーザ光を反射することにより、レーザ光源１０４〜１０６から出射された各色のレーザ光を合成する。ダイクロミックミラー１０７によって合成されたレーザ光は、レンズ１０８を介して走査ミラー１１０へ出力される。

走査ミラー制御部１０９は、走査ミラー１１０に入力されるレーザ光が所定の画像領域を所定の周波数で走査するように、走査ミラー１１０を制御する。また、走査ミラー制御部１０９は、メモリ１１４から画像データを読み出すための水平同期信号と垂直同期信号を生成して画像処理部１０２へ出力する。走査ミラー１１０に入力されたレーザ光は、走査ミラー制御部１０９による走査ミラー１１０の振れ角に応じて、投影面１５０へ反射される。その際、投影面１５０において互いに直交する第１の方向（例えば、横方向）と第２の方向（例えば、縦方向）にラスター状に走査ミラー１１０が走査されることで、投影面１５０に画像が形成（投影）される。走査ミラー１１０としては、例えば、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）を用いることができるが、これに限られるものではない。

測距部１１１は、投影装置１００から投影面１５０までの距離（以下「投影距離」という）を測定する。例えば、測距部１１１は、パルス変調されたレーザ光源１０４〜１０６からレーザ光を投影面１５０へ出射したときの投影面１５０からの反射光を測距センサ（不図示）で受光するタイミングの位相差を検出することにより、投影距離を測定する。但し、測距部１１１の構成は、これに限定されるものではない。

画素密度算出部１１２は、投影面１５０上に形成されたレーザスポット同士の重なり度合い（以下「画素密度」という）を算出する。文字処理部１１３は、画素密度に応じて投影画像での文字の特徴を変更するように画像信号を処理する。文字の特徴とは、文字のサイズ、文字における線の太さ、中抜き文字や色文字等の文字飾りの有無を指す。なお、画素密度算出部１１２と文字処理部１１３での各処理の詳細については後述する。メモリ１１４は、画像データやパラメータ等の情報を一時的に記憶する。バス１１５に接続された各部は、メモリ１１４に対して画像データやパラメータの読み書きを行うことができる。

図２は、投影装置１００の動作を説明するフローチャートである。図２のフローチャートの各処理（Ｓ番号で示すステップ）は、ＣＰＵユニット１０１においてＣＰＵがＲＯＭに格納されたプログラムをＲＡＭに展開することにより、ＣＰＵユニット１０１が投影装置１００の各部の動作を統括的に制御することにより実現される。

Ｓ２０１ではＣＰＵユニット１０１は、画像処理部１０２により、入力画像の解像度を取得し、取得した解像度をメモリ１１４に記憶させる。なお、入力画像の解像度は、例えば、入力画像の属性情報から取得することができる。Ｓ２０２ではＣＰＵユニット１０１は、測距部１１１により投影距離を測定し、測定された投影距離をメモリ１１４に記憶させる。Ｓ２０３ではＣＰＵユニット１０１は、走査ミラー１１０の所定のタイミングでのスキャン角を取得し、取得したスキャン角をメモリ１１４に記憶させる。所定のタイミングでのスキャン角とは、ラスター走査線上の所定の画素に相当する位置にレーザ光を出射するための角度を指す。

Ｓ２０４ではＣＰＵユニット１０１は、投影面１５０上に投影されるレーザスポット径（レーザスポットの直径）を取得し、テーブルデータとしてメモリ１１４に記憶させる。具体的には、波形パターンの幅とレーザスポット径との関係は予め計測されており、テーブルデータとしてＣＰＵユニット１０１のＲＯＭに格納されている。ＣＰＵユニット１０１は、レーザ制御部１０３の波形パターンを取得し、取得した波形パターンの幅をＲＯＭに格納されているテーブルデータと照合して、レーザスポット径を取得する。但し、レーザスポット径の取得方法は、これに限られるものではない。

Ｓ２０５ではＣＰＵユニット１０１は、投影面１５０上でのレーザ光のスキャン幅を算出し、算出したスキャン幅をメモリ１１４に記憶させる。図３（ａ）は、投影面１５０上でのレーザ光の横方向のスキャン幅Ｓ_Ｘを求める手法を示す模式図である。スキャン幅Ｓ_Ｘは、Ｓ２０２で測定した投影距離Ｌと走査ミラー１１０が特性値として備えているスキャン角範囲θを用いて、下記式１により求めることができる。なお、投影面１５０上の縦方向は、紙面と直交する方向となる（図３（ａ）に線で示す投影面１５０は縦方向から見ていることとなる）。投影面１５０上でのレーザ光の縦方向のスキャン幅Ｓ_Ｙは、横方向のスキャン幅Ｓ_Ｘと同様に求めることができるため、ここでの説明を省略する。

Ｓ２０６ではＣＰＵユニット１０１は、画素密度算出部１１２により、投影面１５０上における画素密度Ｍ_Ｘを算出し、算出した画素密度Ｍ_Ｘをメモリ１１４に記憶させる。図３（ｂ）は、横方向のラスター走査線上に形成されるレーザスポットを説明する模式図である。横方向のラスター走査線のスキャン幅Ｓ_Ｘの範囲内に、水平方向の解像度分のレーザスポットが形成される。横方向のラスター走査線上のレーザスポット間隔Ｐ_Ｘは、下記式２により求められる。なお、縦方向のラスター走査線上のレーザスポット間隔Ｐ_Ｙは、レーザスポット間隔Ｐ_Ｘと同様に求めることができ、ここでの説明を省略する。

図３（ｃ）は、レーザスポット径Ｂ_Ｗと画素密度Ｍ_Ｘとの関係を示す模式図である。画素密度Ｍｘは、レーザスポット間隔Ｐ_Ｘとレーザスポット径Ｂ_Ｗを用いて、下記式３により求められる。画素密度Ｍ_Ｘが大きいことは、レーザスポット同士が重なる領域が多いことを意味している。投影面１５０上での縦方向での画素密度Ｍ_Ｙは、画素密度Ｍ_Ｘと同様に求めることができ、ここでの説明を省略する。

図２のフローチャートの説明に戻る。Ｓ２０７ではＣＰＵユニット１０１は、Ｓ２０６で算出した画素密度Ｍ_Ｘ，Ｍ_Ｙの少なくとも一方が予め設定されている基準値よりも大きいか否かを判定する。これに限らず、Ｓ２０６の判定は、画素密度Ｍ_Ｘ，Ｍ_Ｙの両方を基準値と比較するようにしてもよいし、画素密度Ｍ_Ｘ，Ｍ_Ｙのいずれか一方を選択し、選択した画素密度を基準値と比較するようにしてもよい。Ｓ２０７の判定で用いる基準値は、例えば、基準値を種々に変えた投影画像を目視で確認することにより適切と判断される値に事前に決定されており、ＣＰＵユニット１０１のＲＯＭに格納されているものとする。

ＣＰＵユニット１０１は、画素密度Ｍ_Ｘ，Ｍ_Ｙの両方が基準値以下であると判定した場合（Ｓ２０７でＮＯ）、投影する画像の文字を拡大する処理を文字処理部１１３により行うことなく、本処理を終了させる。なお、図２のフローチャートには不図示であるが、実際には、投影終了の指示があるまで投影は継続され、その間、Ｓ２０１〜Ｓ２０８の処理が繰り返される。

一方、ＣＰＵユニット１０１は、画素密度Ｍ_Ｘ，Ｍ_Ｙの少なくとも一方が基準値よりも大きいと判定した場合（Ｓ２０７でＹＥＳ）、処理をＳ２０８へ進める。Ｓ２０８ではＣＰＵユニット１０１は、文字処理部１１３により、投影面１５０に投影する画像中の文字の拡大処理を行う。文字の拡大には、映像データにおける文字のフォントサイズを変換する方法、画像から文字を抽出して画像処理により拡大する方法、フォントの線の太さを変更する方法等が挙げられる。

図４は、Ｓ２０８での文字拡大処理を説明する図である。図４（ａ）は、Ｓ２０７の判定に用いた画素密度に応じてユーザによる視認を容易にするための文字の大きさを求める変換テーブルの一例を示している。この変換テーブルは、ＣＰＵユニット１０１のＲＯＭに格納されていてもよいし、文字処理部１１３が記憶していてもよい。変換テーブルここでは、画素密度が基準値よりも大きい場合（画素密度：大）に、フォントサイズが２０に変更されることが定められている。但し、変換テーブルは、これに限定されず、元のフォントサイズに対する拡大倍率（例えば、１．２倍、１．５倍、２倍等）で変更後のフォントサイズが定められていてもよい。変換テーブルには、画素密度が基準値以下の場合（画素密度：小）には、文字サイズの変換を行わないことが定められている。

図４（ｂ）は、画素密度が大きい状態の一例を示す模式図である。画素密度が大きい場合には、レーザスポットの重なり度合いが大きくなっている。ＣＰＵユニット１０１は、レーザスポットの重なり度合いが基準値より大きいと判定した場合に、投影する文字のフォントサイズを文字処理部１１３により変換テーブルの画素密度「大」に対応するフォントサイズへ変更し、投影を行う。図４（ｃ）は、画素密度が小さい状態の一例を示す模式図である。画素密度が小さい場合には、レーザスポットの重なり度合いは小さいか又は重なりがない。ＣＰＵユニット１０１は、画素の重なり度合いが基準値より小さいと判定した場合に、変換テーブルの画素密度「小」での定義に従い、フォントサイズを変更せずに投影を行う。Ｓ２０８の処理により、本処理は終了となる。なお、前述の通り、投影終了の指示があるまで投影は継続され、その間、Ｓ２０１〜Ｓ２０８の処理が繰り返される。

上記説明の通り、本実施形態では、画素密度が基準値より大きい場合に文字を拡大して表示する。これにより、簡素な構成で視認性の低下を抑制することが可能になる。したがって、投影装置の大型化と装置コストの上昇を抑制することができる。

＜第２実施形態＞
図５は、第２実施形態に係る投影装置５００を有する投影システムの概略構成を示すブロック図である。投影システムは、投影装置５００と、投影装置５００と通信可能に接続される画像出力装置５０１を備える。投影装置５００は、画像出力装置５０１から取得した画像を投影面１５０に投影する。

ここでは、投影装置５００を構成する機能部であって、第１実施形態に係る投影装置１００を構成する機能部と同じものについては、同じ符号を付して、ここでの説明を省略する。投影装置５００は、投影装置１００が備える各機能部に加えて、バス１１５に接続された通信部５１０を備える点で投影装置１００と異なる。ＣＰＵユニット１０１は、通信部５１０を介した画像出力装置５０１との間の通信を制御し、その際の通信方式は限定されない。画像処理部１０２は、通信部５１０を介して、画像出力装置５０１から投影画像の画像データを取得する。文字処理部１１３は、画素密度に応じて文字サイズ情報を生成し、通信部５１０を介して、生成した文字サイズ情報を画像出力装置５０１へ通知する。

画像出力装置５０１は、通信部５１０を介して取得した文字サイズ情報に基づいて、画像処理部１０２へ送る画像に含まれる文字のフォントサイズを変更する。なお、文字サイズ情報にはフォントの太さ情報を含ませることができるものとし、画像出力装置５０１は、画像に含まれる文字のフォントサイズと太さを変換することができるものとする。

図６は、投影システムでの投影装置５００の動作を説明するフローチャートである。図６に各処理（Ｓ番号で示すステップ）は、ＣＰＵユニット１０１においてＣＰＵがＲＯＭに格納されたプログラムをＲＡＭに展開することにより、ＣＰＵユニット１０１が投影装置１００の各部の動作を統括的に制御することにより実現される。

Ｓ６０１〜Ｓ６０７の処理はそれぞれ、図２のフローチャートのＳ２０１〜Ｓ２０７の処理と同じであるため、説明を省略する。ＣＰＵユニット１０１は、画素密度が基準値より大きいと判定した結果、Ｓ６０７の判定結果がＹＥＳとなった場合には、処理をＳ６０８へ進める。Ｓ６０８ではＣＰＵユニット１０１は、画像出力装置５０１へ出力する文字サイズ情報を文字処理部１１３により生成させ、生成させた文字サイズ情報を取得する。続くＳ６０９ではＣＰＵユニット１０１は、Ｓ６０８で取得した文字サイズ情報を通信部５１０を介して画像出力装置５０１へ通知する。これにより、投影装置５００での処理は終了となる。なお、画像出力装置５０１は、Ｓ６０９により投影装置５００から取得した文字サイズ情報に基づいて、画像処理部１０２へ送る画像に含まれる文字のフォントサイズを変更する。

上記説明の通り、本実施形態でも第１実施形態と同様に、レーザスポットの重なり度合いが基準値より大きい場合に文字が拡大して表示され、よって、第１実施形態と同様の効果を得ることができることがわかる。なお、図６のフローチャートで説明した処理は、画像出力装置５０１から取得した画像のフレーム毎に実施することもできる。本実施形態に係る投影システムでは、投影装置５００のＣＰＵユニット１０１が、通信部５１０を介して、画素密度算出部１１２が算出した画素密度の値を画像出力装置５０１へ通知する構成となっていてもよい。その場合、画像出力装置５０１がＳ６０７の判定処理を行う構成となるため、画像出力装置５０１が基準値を保持しているか又は投影装置５００のＣＰＵユニット１０１が画像出力装置５０１へ基準値を通知するように構成される。更に、画像出力装置５０１が複数の文字サイズのオンスクリーンディスプレイ（ＯＳＤ）を記憶しており、取得した文字サイズ情報又は画素密度の値に応じて適切なＯＳＤを選択して、投影装置５００へ送る画像に合成する構成を取ることもできる。

以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本発明はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。更に、上述した各実施形態は本発明の一実施形態を示すものにすぎず、各実施形態を適宜組み合わせることも可能である。

本発明は、上述した実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

１００，５００ 投影装置
１０１ ＣＰＵユニット
１０２ 画像処理部
１０３ レーザ制御部
１１０ 走査ミラー
１１１ 測距部
１１２ 画素密度算出部
１１３ 文字処理部
５０１ 画像出力装置
５１０ 通信部

Claims (15)

1. レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影手段と、
   前記投影面に投影する画像の画像信号を取得する取得手段と、
   前記画像信号に基づいて前記投影手段により走査されるレーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された画素密度と予め定められた基準値とを比較した結果に基づいて前記投影面に投影される文字が変更されるように前記画像信号を処理する文字処理手段と、を備え、
   前記投影手段は、前記文字処理手段により処理された画像信号に基づく画像を前記投影面に投影することを特徴とする投影装置。
2. 前記算出手段は、前記走査手段でのレーザ光のスキャン角範囲と、前記レーザスポットの直径と、前記画像の解像度と、投影距離とに基づいて前記画素密度を算出することを特徴とする請求項１に記載の投影装置。
3. 前記文字処理手段は、前記算出手段により算出された画素密度が前記基準値よりも大きい場合に前記投影面に投影される文字のサイズを大きし、前記画素密度が前記基準値以下である場合に前記投影面に投影される文字を変更しない処理を行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の投影装置。
4. 前記文字処理手段は、前記算出手段により算出された画素密度が前記基準値よりも大きい場合に、前記投影面に投影される文字の線の太さを太くし、前記画素密度が前記基準値以下である場合に前記投影面に投影される文字を変更しない処理を行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の投影装置。
5. 投影装置と画像出力装置とが通信可能に接続されてなる投影システムであって、
   前記投影装置は、
   レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影手段と、
   前記投影面に投影する画像の画像信号を前記画像出力装置から取得する取得手段と、
   前記画像信号に基づいて前記投影手段により走査されるレーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された画素密度に基づいて文字サイズ情報を生成する生成手段と、
   前記生成手段により生成された文字サイズ情報を前記画像出力装置へ通知する通知手段と、を備え、
   前記画像出力装置は、
   前記投影装置から取得した前記文字サイズ情報に基づいて前記投影装置へ出力する画像に含まれる文字を処理した画像信号を前記投影装置へ出力する出力手段を備えることを特徴とする投影システム。
6. 前記画像出力装置は、
   文字サイズの異なるＯＳＤを記憶した記憶手段と、
   前記通知手段から取得した前記文字サイズ情報に基づいて所定の文字サイズのＯＳＤを選択する選択手段と、を備え、
   前記出力手段は、前記選択手段により選択されたＯＳＤを含む画像信号を前記投影装置へ出力することを特徴とする請求項５に記載の投影システム。
7. 投影装置と画像出力装置とが通信可能に接続されてなる投影システムであって、
   前記投影装置は、
   レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影手段と、
   前記投影面に投影する画像の画像信号を前記画像出力装置から取得する取得手段と、
   前記画像信号に基づいて前記投影手段により走査されるレーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された画素密度を前記画像出力装置へ通知する通知手段と、を備え、
   前記画像出力装置は、
   前記通知手段から取得した画素密度に基づいて前記投影装置へ出力する画像に含まれる文字を処理した画像信号を前記投影装置へ出力する出力手段を備えることを特徴とする投影システム。
8. 前記画像出力装置は、
   文字サイズの異なるＯＳＤを記憶した記憶手段と、
   前記通知手段から取得した前記画素密度に基づいて所定の文字サイズのＯＳＤを選択する選択手段と、を備え、
   前記出力手段は、前記選択手段により選択されたＯＳＤを含む画像信号を前記投影装置へ出力することを特徴とする請求項７に記載の投影システム。
9. レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影装置の制御方法であって、
   前記投影面に投影する画像の画像信号を取得する取得ステップと、
   前記レーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出ステップと、
   前記算出ステップで算出された画素密度と予め定められた基準値とを比較した結果に基づいて前記投影面に投影される文字が変更されるように前記画像信号を処理する処理ステップと、
   前記処理ステップで処理された画像信号に基づき、前記レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して前記投影面に前記画像を投影する投影ステップと、を有することを特徴とする投影装置の制御方法。
10. 前記算出ステップでは、前記レーザ光源から出射されるレーザ光のスキャン角範囲と、前記レーザ光の前記投影面でのレーザスポットの直径と、前記投影面に投影される画像の解像度と、投影距離とに基づいて前記画素密度が算出されることを特徴とする請求項９に記載の投影装置の制御方法。
11. 前記処理ステップでは、前記算出ステップで算出された画素密度が前記基準値よりも大きい場合に前記投影面に投影される文字のサイズを大きくし、前記画素密度が前記基準値以下である場合に前記投影面に投影される文字を変更しないことを特徴とする請求項９又は１０に記載の投影装置の制御方法。
12. 前記処理ステップでは、前記算出ステップで算出された画素密度が前記基準値よりも大きい場合に前記投影面に投影される文字の線の太さを太くし、前記画素密度が前記基準値以下である場合に前記投影面に投影される文字を変更しないことを特徴とする請求項９又は１０に記載の投影装置の制御方法。
13. レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影装置の制御方法であって、
    画像出力装置から前記投影面に投影する画像の画像信号を取得する取得ステップと、
    前記レーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出ステップと、
    前記算出ステップで算出された画素密度に基づいて文字サイズ情報を生成する生成ステップと、
    前記生成ステップで生成された文字サイズ情報を前記画像出力装置へ通知する通知ステップと、を有し、
    前記取得ステップでは、前記画像出力装置により前記通知ステップで通知された前記文字サイズ情報に基づいて前記投影装置へ出力する画像に含まれる文字が処理された画像信号を取得することを特徴とする投影装置の制御方法。
14. レーザ光源から出射されるレーザ光を走査して投影面に画像を投影する投影装置の制御方法であって、
    画像出力装置から前記投影面に投影する画像の画像信号を取得する取得ステップと、
    前記レーザ光によって前記投影面に点描画されるレーザスポットの重なり度合いを示す画素密度を算出する算出ステップと、
    前記算出ステップで算出された画素密度を前記画像出力装置へ通知する通知ステップと、を有し、
    前記取得ステップでは、前記画像出力装置により前記通知ステップで通知された画素密度に基づいて前記投影装置へ出力する画像に含まれる文字が処理された画像信号を取得することを特徴とする投影装置の制御方法。
15. 請求項９乃至１４のいずれか１項に記載の投影装置の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。

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