JP2019122523A - X線ct装置及び画像処理方法 - Google Patents
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 103
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 96
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 45
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 16
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- NPEZSCRKHFTLPE-MYXGOWFTSA-N abt-431 Chemical compound Cl.CC(=O)OC1=C(OC(C)=O)C=C2[C@H]3C(C=C(S4)CCC)=C4CN[C@@H]3CCC2=C1 NPEZSCRKHFTLPE-MYXGOWFTSA-N 0.000 description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000342 Monte Carlo simulation Methods 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000001015 abdomen Anatomy 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
Description
本発明は寝台上の被写体の周囲を周回するX線源から照射され前記被写体を透過したX線フォトンを検出する検出器と、該検出器によって検出されたX線フォトンを収集し処理することにより、予め定めた複数のエネルギー範囲について、エネルギー範囲毎に計数データを出力するデータ収集部と、複数の被写体のサイズ毎に生成された複数種類の散乱線情報を格納した記憶部と、前記被写体のサイズに基づいて、複数種類の散乱線情報から散乱線除去処理に適用する散乱線情報を選択する補正データ選択部と、前記補正データ選択部により選択された散乱線情報を用いて前記計数データの散乱線を除去する補正部と、前記補正部により散乱線が除去された計数データを用いて再構成処理を行うことにより画像を生成する画像生成部と、を備えたX線CT装置を提供する。
(第1の実施形態)
本実施形態に係るX線CT装置は、フォトンカウンティング方式の検出器を備えたフォトンカウンティングCT装置(PCCT装置)であり、被写体を透過したX線に由来する光子(X線フォトン)を検出器において計数する。個々のX線フォトンは、異なるエネルギーを有しており、検出器では、X線フォトンを予め定めたエネルギー帯毎に弁別して計数する。これにより、当該エネルギー帯毎のX線フォトンの数、すなわちX線強度を得る。
UI部200は、キーボードやマウス等からなる入力部210と、表示部(モニタ)やプリンタ等の出力部220とを備え、ユーザからの入力を受け付け、演算部400による処理結果をユーザに提示する。表示部として、液晶ディスプレイやCRT(Cathode Ray Tube)等を適用することができる他、表示部がタッチパネル機能を有し、入力装置210として機能するようにすることもできる。
図2に、X線検出器321の一部を例示する。本実施形態のX線検出器321は、複数の検出素子322、カウンティング回路324、及びX線検出器321への入射方向を制限するコリメータ323と、を備えている。
なお、製作を容易にするために平面状の検出器(検出器モジュール)を複数作成し、平面の中心部分が円弧になるように配置して疑似的に円弧状に配列し、X線検出器321としてもよい。
DAS431では各検出素子322から得られた信号をエネルギー範囲毎に束ねて計数データとして、後述する演算部400に送信する。送信後、カウンティング回路324のカウンタはすべて0にリセットされ、次の撮影を行う。
図1及び図3に示すように、演算部400は、ユーザからUI200を介して入力された撮像条件に従って計測部300に撮像を実行させ、得られたデータの各種処理を行って断層像を生成する中央処理装置(以下、「CPU」という)401と、処理の際の作業領域となるメモリ402と、予め必要なプログラムや画像処理に用いるデータ、処理中に生成されるデータ、処理の結果得られるデータ等を記憶したHDD(Hard disk drive)装置403を備えている。なお、演算部400による処理結果は、UI部200のディスプレイ等の出力装置220にも出力される。
すなわち、ステップS11では、例えば、モンテカルロシミュレーション法などを用いて、予め定められた複数の被写体を模擬した形状に対して散乱線分布を作成する。すなわち、例えば、頭部を模擬した直径140cm、150cm、160cm、170cmの円筒や腹部を模擬した310cm、350cm、400cmの円筒などにおいて、たとえばモンテカルロシミュレーション法などを用いて散乱線を計算する。また、円筒だけでなく、楕円形を模擬した形状に対して散乱線を計算してもよい。
まず、CPU401が、UI部200を介して、ユーザから撮像条件を受け付ける(ステップS111)。ここで入力を受け付ける撮像条件には、管電圧、管電流、X線フィルタ312の厚み、形状、ボウタイフィルタ313の形状などがある。次にスキャノグラムを撮像する(ステップS112)。撮像は、回転板を回転させずに収集する。
なお、ここで、被写体は必ずしも円筒ではないものの、HDD装置403に格納されている補正データが、円筒に近似した被写体サイズ毎のデータある場合には、必要に応じて補正データの修正を行ってもよい。
上述した第1の実施形態に係るPCCT装置においては、HDD装置403に格納された補正データはモンテカルロシミュレーション法等を用いて計算により算出したが、実測により生成することもできる。例えば140cmの水の入ったファントムを準備し、その上に遮蔽材(たとえば鉛やタングステンなど)を配置する。
上述した第1の実施形態に係るPCCT装置では、散乱線除去のための補正データを被写体サイズの推定値に基づいて選択していた。ところが、例えば、被写体に人工関節などの金属が含まれる場合、X線は金属をほとんど透過しないため、上述した第1の実施形態における補正データ(散乱/直接比)をそのまま適用することができない。従って、本実施形態においては、被検体に金属が含まれる場合にも、散乱線を精度良く除去するPCCT装置について説明する。
まず、被写体サイズ推定部410は、被写体サイズの推定と同様にB5の計数データを空気領域と非空気領域に区分し、区分された非空気領域についてデータ収集ごと(900回分)データ収集ごとに長さを算出し、これらの平均値を算出する。ここまでの計算は、被写体サイズの推定の際に算出した結果をそのまま利用することができる。金属領域の推定の際は、これに加え、図8に示すように、B5の計数データを再構成して各々の画素のCT値を求める。得られたCT値について、閾値処理を行うことにより、例えばCT値が(水を0としたとき)2000以上の領域を金属領域とする。
まず、CPU401が、ステップS211でUI部200を介して、ユーザから撮像条件を受け付け、ステップS212でスキャノグラムを撮像し、ステップS213でカウンティング回路324のエネルギー範囲を設定又は変更する。次のステップS214で、CPU41は、ステップS112で設定された撮像条件に従って撮像を実行し、検出器において各検出素子322から得られた信号をエネルギー範囲毎に束ねて計数データとしてDAS431に出力する。
これにより、金属で減衰した位置でもより正確に散乱線を求めることができる。
上述した第1の実施形態に係るPCCT装置では、散乱線除去のための補正データを被写体が円筒であるとして推定値を算出していたが、本実施形態では、被写体の断面を楕円として扱う。
この場合、被写体サイズ推定部410は、被写体サイズの推定値算出を計数データを収集した角度ごとに行う。
Claims (7)
- 寝台上の被写体の周囲を周回するX線源から照射され前記被写体を透過したX線フォトンを検出する検出器と、
該検出器によって検出されたX線フォトンを収集し処理することにより、予め定めた複数のエネルギー範囲について、エネルギー範囲毎に計数データを出力するデータ収集部と、
複数の被写体のサイズ毎に生成された複数種類の散乱線情報を格納した記憶部と、
前記被写体のサイズに基づいて、複数種類の散乱線情報から散乱線除去処理に適用する散乱線情報を選択する補正データ選択部と、
前記補正データ選択部により選択された散乱線情報を用いて前記計数データの散乱線を除去する補正部と、
前記補正部により散乱線が除去された計数データを用いて再構成処理を行うことにより画像を生成する画像生成部と、を備えたX線CT装置。 - 複数種類の前記散乱線情報が、被写体の直径毎に生成され、前記検出器の位置に対する前記エネルギー範囲毎の散乱線/直接入射X線の比で表された情報である請求項1記載のX線CT装置。
- 前記散乱線情報が、予め計算機によるシミュレーションにより生成された情報である請求項1記載のX線CT装置。
- 前記散乱線情報が、予め実測により得られた情報である請求項1記載のX線CT装置。
- 前記散乱線情報が、金属を含む被写体を模擬したファントムを用いて予め実測により得られた情報である請求項1記載のX線CT装置。
- 前記被写体が金属を含む場合において、前記補正部が前記散乱線情報を用いて前記計数データの散乱線を除去すると共に、前記被写体の金属領域について該金属領域の周囲の計数データに基づいて補間することにより散乱線を除去する請求項5記載のX線CT装置。
- 寝台上の被写体の周囲を周回するX線源から照射され前記被写体を透過したX線フォトンを検出し、
検出されたX線フォトンを収集し処理することにより、予め定めた複数のエネルギー範囲についてエネルギー範囲毎に計数データを出力し、
複数の被写体のサイズ毎に生成された複数種類の散乱線情報から散乱線除去処理に適用する散乱線情報を選択し、
選択された前記散乱線情報を用いて前記計数データの散乱線を除去し、
前記補正処理による散乱線が除去された計数データを用いで再構成処理を行うことにより画像を生成する画像処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018004296A JP7002341B2 (ja) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | X線ct装置及び画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018004296A JP7002341B2 (ja) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | X線ct装置及び画像処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019122523A true JP2019122523A (ja) | 2019-07-25 |
JP7002341B2 JP7002341B2 (ja) | 2022-01-20 |
Family
ID=67397415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018004296A Active JP7002341B2 (ja) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | X線ct装置及び画像処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7002341B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200428 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
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