JP2019122473A - Ｘ線診断装置及び放射線診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質の画像データを迅速に提供すること。【解決手段】実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線管と、検出器と、制御部とを備える。Ｘ線管は、被検体に対してＸ線を照射する。検出器は、前記被検体を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。制御部は前記検出器の温度を取得し、取得した温度に基づいて待機期間中の前記検出器の電源を制御することにより、前記検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置及び放射線診断装置に関する。

Ｘ線診断装置は、Ｘ線管から被検体に対してＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線を検出器により検出することで、Ｘ線画像データを収集する装置である。また、検出器としては、例えば、ＦＰＤ（Flat Panel Detector）が利用される。

ここで、ＦＰＤによるＸ線検出の精度は、ＦＰＤの温度の影響を受ける場合がある。具体的には、適切な温度になっていないＦＰＤを用いてＸ線を検出する場合、オフセットレベルが安定しないため、オフセット成分を適切に補正することができず、得られるＸ線画像データの画質も安定しない。そのため、ＦＰＤは、安定した画質のＸ線画像データを収集することができる安定温度に調整された上で使用される。

特開２００７−２２００８７号公報

本発明が解決しようとする課題は、待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質の画像データを迅速に提供することである。

実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線管と、検出器と、制御部とを備える。Ｘ線管は、被検体に対してＸ線を照射する。検出器は、前記被検体を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。制御部は、前記検出器の温度を取得し、取得した温度に基づいて待機期間中の前記検出器の電源を制御することにより、前記検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する。

図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示すブロック図である。 図２は、第１の実施形態に係る検出器の一例を示す図である。 図３は、第１の実施形態に係る検出器の電源の制御の一例を示す図である。 図４は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。 図５は、第２の実施形態に係る検出器の電源の制御の一例を示す図である。 図６は、第２の実施形態に係る検出器の電源の制御の一例を示す図である。 図７は、第３の実施形態に係る検出器の電源の制御の一例を示す図である。 図８は、第３の実施形態に係るＸ線診断装置の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。 図９は、第４の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示すブロック図である。 図１０は、第４の実施形態に係る検出器の電源の制御の一例を示す図である。

以下、図面を参照して、Ｘ線診断装置及び放射線診断装置の実施形態について詳細に説明する。

（第１の実施形態）
まず、図１を用いて第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００の構成の一例を説明する。図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００の構成の一例を示すブロック図である。図１に示すように、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、Ｘ線高電圧装置１０１と、Ｘ線管１０２と、Ｘ線絞り器１０３と、天板１０４と、Ｃアーム１０５と、検出器１０６と、温度センサ１０７と、メモリ１０８と、ディスプレイ１０９と、入力インターフェース１１０と、処理回路１１１とを備える。

Ｘ線高電圧装置１０１は、処理回路１１１による制御の下、Ｘ線管１０２に高電圧を供給する。例えば、Ｘ線高電圧装置１０１は、変圧器（トランス）及び整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１０２に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、Ｘ線管１０２が照射するＸ線に応じた出力電圧の制御を行うＸ線制御装置とを有する。なお、高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であってもよい。

Ｘ線管１０２は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１０２は、Ｘ線高電圧装置１０１から供給される高電圧を用いて、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することにより、Ｘ線を発生する。

Ｘ線絞り器１０３は、Ｘ線管１０２により発生されたＸ線の照射範囲を絞り込むコリメータと、Ｘ線管１０２から曝射されたＸ線を調節するフィルタとを有する。

Ｘ線絞り器１０３におけるコリメータは、例えば、スライド可能な４枚の絞り羽根を有する。コリメータは、絞り羽根をスライドさせることで、Ｘ線管１０２が発生したＸ線を絞り込んで被検体Ｐに照射させる。ここで、絞り羽根は、鉛などで構成された板状部材であり、Ｘ線の照射範囲を調整するためにＸ線管１０２のＸ線照射口付近に設けられる。

Ｘ線絞り器１０３におけるフィルタは、被検体Ｐに対する被曝線量の低減とＸ線画像データの画質向上を目的として、その材質や厚みによって透過するＸ線の線質を変化させ、被検体Ｐに吸収されやすい軟線成分を低減したり、Ｘ線画像データのコントラスト低下を招く高エネルギー成分を低減したりする。また、フィルタは、その材質や厚み、位置などによってＸ線の線量及び照射範囲を変化させ、Ｘ線管１０２から被検体Ｐへ照射されるＸ線が予め定められた分布になるようにＸ線を減衰させる。

例えば、Ｘ線絞り器１０３は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１１による制御の下、駆動機構を動作させることによりＸ線の照射を制御する。例えば、Ｘ線絞り器１０３は、処理回路１１１から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、コリメータの絞り羽根の開度を調整して、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。また、例えば、Ｘ線絞り器１０３は、処理回路１１１から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、フィルタの位置を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の線量の分布を制御する。

天板１０４は、被検体Ｐを載せるベッドであり、図示しない寝台の上に配置される。なお、被検体Ｐは、Ｘ線診断装置１００に含まれない。例えば、寝台は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１１による制御の下、駆動機構を動作させることにより天板１０４の移動を制御する。例えば、寝台は、処理回路１１１から受け付けた制御信号に応じて、駆動電圧を駆動機構に付加することにより、天板１０４を移動させる。

Ｃアーム１０５は、Ｘ線管１０２及びＸ線絞り器１０３と検出器１０６とを、被検体Ｐを挟んで対向するように保持する。例えば、Ｃアーム１０５は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１１による制御の下、駆動機構を動作させることにより、回転したり移動したりする。例えば、Ｃアーム１０５は、処理回路１１１から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、Ｘ線管１０２及びＸ線絞り器１０３と検出器１０６とを被検体Ｐに対して回転・移動させ、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。なお、図１では、Ｘ線診断装置１００がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であってもよい。

検出器１０６は、例えば、マトリクス状に配列された検出素子を有するＸ線平面検出器（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）である。検出器１０６は、Ｘ線管１０２から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出して、検出したＸ線量に対応した検出信号を処理回路１１１へと出力する。なお、検出器１０６は、グリッド、シンチレータアレイ及び光センサアレイを有する間接変換型の検出器であってもよいし、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。

温度センサ１０７は、検出器１０６の温度を検知するセンサである。例えば、温度センサ１０７は、熱電対等の接触式のセンサや、赤外線温度センサ等の非接触式のセンサである。温度センサ１０７は、後述する処理回路１１１による制御の下、検出器１０６における１又は複数箇所の温度を検知する。なお、検出器１０６の温度については後述する。

メモリ１０８は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。メモリ１０８は、例えば、処理回路１１１によって生成されたＸ線画像データを受け付けて記憶する。また、メモリ１０８は、処理回路１１１によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。

ディスプレイ１０９は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ１０９は、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）や、処理回路１１１によって生成された各種のＸ線画像データを表示する。例えば、ディスプレイ１０９は、液晶ディスプレイやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイである。

入力インターフェース１１０は、各種指示や各種設定などを行うためのマウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、タッチパネル等によって実現される。入力インターフェース１１０は、操作者から受け取った入力操作を電気信号へ変換し処理回路１１１へと出力する。

処理回路１１１は、Ｘ線診断装置１００全体の動作を制御する。例えば、処理回路１１１は、制御機能１１１ａ、生成機能１１１ｂ及び表示制御機能１１１ｃを有する。

処理回路１１１の各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態でメモリ１０８へ記憶されている。処理回路１１１は、メモリ１０８からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路１１１は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。なお、図１においては、制御機能１１１ａ、生成機能１１１ｂ及び表示制御機能１１１ｃの各処理機能が単一の処理回路１１１によって実現される場合を示したが、実施形態はこれに限られるものではない。例えば、処理回路１１１は、複数の独立したプロセッサを組み合わせて構成され、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。また、処理回路１１１が有する各処理機能は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。

例えば、処理回路１１１は、メモリ１０８から制御機能１１１ａに相当するプログラムを読み出して実行することにより、待機期間中の検出器１０６の電源を制御する。なお、この点については後述する。

また、例えば、制御機能１１１ａは、入力インターフェース１１０を介して入力された操作者の指示に従って、Ｘ線高電圧装置１０１を制御し、Ｘ線管１０２に供給する電圧を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線量やオン／オフを制御する。また、例えば、制御機能１１１ａは、Ｘ線絞り器１０３の動作を制御し、コリメータが有する絞り羽根の開度を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。また、例えば、制御機能１１１ａは、Ｘ線絞り器１０３の動作を制御し、フィルタの位置を調整することで、Ｘ線の線量の分布を制御する。また、例えば、制御機能１１１ａは、Ｃアーム１０５の動作を制御することで、Ｃアーム１０５を回転させたり、移動させたりする。また、例えば、制御機能１１１ａは、寝台の動作を制御することで、天板１０４を移動させる。

また、処理回路１１１は、メモリ１０８から生成機能１１１ｂに相当するプログラムを読み出して実行することにより、検出器１０６によってＸ線から変換された検出信号を用いてＸ線画像データを生成し、生成したＸ線画像データをメモリ１０８に格納する。例えば、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から受信した検出信号に対して、電流・電圧変換やＡ（Analog）／Ｄ（Digital）変換、パラレル・シリアル変換を行い、Ｘ線画像データを生成する。

また、生成機能１１１ｂは、メモリ１０８が記憶するＸ線画像データに対して各種画像処理を行う。例えば、生成機能１１１ｂは、Ｘ線画像データに対して、画像処理フィルタによるノイズ低減処理や、散乱線補正を実行する。また、例えば、生成機能１１１ｂは、Ｘ線画像データに対して、オフセット成分を除去するためのオフセット補正を実行する。なお、オフセット補正については後述する。

また、処理回路１１１は、メモリ１０８から表示制御機能１１１ｃに相当するプログラムを読み出して実行することにより、ディスプレイ１０９において、生成機能１１１ｂによる各種画像処理が施されたＸ線画像データを表示する。また、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩを表示する。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理医療デバイス（例えば、単純プログラマブル論理医療デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理医療デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサはメモリ１０８に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、メモリ１０８にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態のプロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。

次に、検出器１０６の一例について、図２を用いて説明する。図２は、第１の実施形態に係る検出器１０６の一例を示す図である。例えば、検出器１０６は、図２に示すように、検出膜や画素容量部、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）等から構成されるＦＰＤである。検出膜は、照射されたＸ線のエネルギーを電荷に変換する。画素容量部は、検出膜により変換された電荷を蓄積するコンデンサであり、検出膜から電荷の入力を受けるための画素電極や、絶縁膜に挟まれた金属、リーク電流を放出するための接地電極などを有する。ＴＦＴは、各画素容量部から電荷を取り出す半導体スイッチであり、図示しない駆動回路からの駆動信号を入力するゲート線や、画素容量部から取り出した電荷を流す信号線に接続される。

以上、Ｘ線診断装置１００の構成の一例について説明した。かかる構成のもと、本実施形態に係るＸ線診断装置１００は、以下、詳細に説明する処理回路１１１による処理によって、待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供する。以下、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００が行う処理について詳細に説明する。

まず、Ｘ線診断装置１００は常時使用されるものではなく、Ｘ線の照射及び検出を行わない待機期間が存在する。待機期間においては、消費電力を低減する観点から、検出器１０６等の電源をオフにすることが考えられる。この場合、検出器１０６の温度は室温に向けて低下する。

ここで、温度が低下したままの検出器１０６を用いてＸ線画像データを収集すると、Ｘ線画像データの画質が不安定になる場合がある。具体的には、生成機能１１１ｂは、図２に示した検出膜やＴＦＴからのリーク電荷等によって生じるオフセット成分を除去するため、Ｘ線画像データについてオフセット補正を実行するが、検出器１０６の温度が一定の温度範囲外にある場合、オフセットレベルが安定しないために適切なオフセット補正を実行することができず、得られるＸ線画像データの画質が不安定なものとなる。なお、以下では、Ｘ線画像データの画質が安定する温度を、安定温度と記載する。

一方で、温度が低下した検出器１０６を安定温度まで昇温してからＸ線画像データを収集することとすると、検出器１０６の昇温を行なっている間は待ち時間となり、Ｘ線画像データの提供が遅延する。そこで、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６の電源を制御し、検出器１０６の温度を第１の温度よりも高い状態に維持することにより、待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供する。

以下、図３を用いて、制御機能１１１ａが待機期間中の検出器１０６の電源を制御し、検出器１０６の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する場合について説明する。図３は、第１の実施形態に係る検出器１０６の電源の制御の一例を示す図である。なお、図３においては、第１の温度よりも高い状態の一例として、第１の温度から第２の温度までの温度範囲について説明する。即ち、図３においては、制御機能１１１ａが、待機期間中の検出器１０６の電源を制御し、検出器１０６の温度を第１の温度から第２の温度までの温度範囲において維持する場合について説明する。

図３において、縦軸は検出器１０６の温度Ｔｄを示し、横軸は時間ｔを示す。即ち、図３は、検出器１０６の温度Ｔｄの経時的な変化を示す。また、図３においては、室温Ｔｒを破線で示す。なお、以下では、説明の便宜のため、室温Ｔｒは固定値とする。また、図３においては、第１の温度として、安定温度の下限Ｌ１を破線で示す。また、図３においては、第２の温度として、安定温度の上限Ｌ２を破線で示す。この場合、第１の温度から第２の温度までの温度範囲は、安定温度に対応する。

なお、制御機能１１１ａは、温度センサ１０７を用いて検出器１０６の温度Ｔｄを取得し、取得した温度Ｔｄに基づいて待機期間中の検出器１０６の電源を制御する。例えば、制御機能１１１ａは、熱電対である温度センサ１０７を用いて、図２に示したＴＦＴの温度を測定し、測定結果を温度Ｔｄとして取得する。ここで、制御機能１１１ａは、マトリクス状に配置されたＴＦＴにおける１箇所の温度を測定してもよいし、複数箇所の温度を測定してもよい。

例えば、検出器１０６の構造及び材質により、検出器１０６内での温度分布が生じにくい場合、制御機能１１１ａは、マトリクス状に配置されたＴＦＴのうち１箇所（例えば、中心に位置するＴＦＴ）の温度を測定する。また、例えば、検出器１０６内での温度分布が生じやすい場合、制御機能１１１ａは、マトリクス状に配置されたＴＦＴのうち複数箇所の温度を測定する。一例を挙げると、制御機能１１１ａは、高温になりやすい位置のＴＦＴ及び低温になりやすい位置のＴＦＴの温度を測定する。この場合、制御機能１１１ａは、複数箇所で測定した複数の温度のうち、安定温度の中心値（例えば、図３の下限Ｌ１及び上限Ｌ２の平均値）との差の絶対値が最も大きい温度を、検出器１０６の温度Ｔｄとして取得する。

なお、温度センサ１０７は熱電対に限られるものではなく、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄを取得するため、接触式又は非接触式の任意のセンサを用いることができる。また、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源がオンになっているかオフになっているかに関わらず、検出器１０６の温度Ｔｄを取得することができる。

図３の時間ｔ１１において、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ１１から時間ｔ１２までの間、被検体Ｐ１に対してＸ線を照射する。また、時間ｔ１１から時間ｔ１２までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ１を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ１のＸ線画像データを生成する。なお、被検体Ｐ１は、被検体Ｐの一例である。

ここで、時間ｔ１１における検出器１０６の温度Ｔｄは安定温度であり、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ１１から時間ｔ１２までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。

また、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ１２において、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の下限Ｌ１と略同一の温度になる時間ｔ１３に、検出器１０６の電源をオンにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、検出器１０６内で発生するジュール熱等によって上昇する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の上限Ｌ２と略同一の温度になる時間ｔ１４に、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。

上述したように、制御機能１１１ａは、温度Ｔｄが下限Ｌ１と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオンとし、温度Ｔｄが上限Ｌ２と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオフとすることにより、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ１２以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、安定温度に対応する温度範囲において維持する。これにより、Ｘ線診断装置１００は、待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。

例えば、時間ｔ１５において、急患である被検体Ｐ２が搬入された場合、制御機能１１１ａは、時間ｔ１５において検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ１５から時間ｔ１６までの間、被検体Ｐ２に対してＸ線を照射する。即ち、制御機能１１１ａは、検出器１０６の昇温を行なうことなく、Ｘ線の照射を開始する。また、検出器１０６は、時間ｔ１５から時間ｔ１６までの間、被検体Ｐ２を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ２のＸ線画像データを生成する。なお、被検体Ｐ２は、被検体Ｐの一例である。

ここで、時間ｔ１５の時点で検出器１０６は安定温度となっており、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ１５から時間ｔ１６までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。更に、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ１６以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、安定温度に対応する温度範囲において維持する。

次に、Ｘ線診断装置１００による処理の手順の一例を、図４を用いて説明する。図４は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。ステップＳ１０１、ステップＳ１０２、ステップＳ１０３、ステップＳ１０４、ステップＳ１０５及びステップＳ１０６は、制御機能１１１ａに対応するステップである。ステップＳ１０７及びステップＳ１０８は、生成機能１１１ｂに対応するステップである。ステップＳ１０９は、表示制御機能１１１ｃに対応するステップである。

まず、処理回路１１１は、Ｘ線の照射を開始するか否かを判定する（ステップＳ１０１）。Ｘ線の照射を開始しない場合（ステップＳ１０１否定）、処理回路１１１は、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の下限Ｌ１より低いか否かを判定する（ステップＳ１０２）。ここで、温度Ｔｄが下限Ｌ１より低い場合（ステップＳ１０２肯定）、処理回路１１１は、検出器１０６の電源をオンに切り替え、または検出器１０６の電源をオンのまま維持する（ステップＳ１０３）。

一方で、温度Ｔｄが下限Ｌ１より高い場合（ステップＳ１０２否定）、又は、ステップＳ１０３の後、処理回路１１１は、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の上限Ｌ２より高いか否かを判定する（ステップＳ１０４）。ここで、温度Ｔｄが上限Ｌ２より高い場合（ステップＳ１０４肯定）、処理回路１１１は、検出器１０６の電源をオフに切り替え、または検出器１０６の電源をオフのまま維持する（ステップＳ１０５）。一方で、温度Ｔｄが上限Ｌ２より低い場合（ステップＳ１０４否定）、又は、ステップＳ１０５の後、処理回路１１１は、再度ステップＳ１０１に移行する。

Ｘ線の照射を開始する場合（ステップＳ１０１肯定）、処理回路１１１は、被検体Ｐに対してＸ線の照射を開始する（ステップＳ１０６）。ここで、検出器１０６は、被検体Ｐを透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、処理回路１１１は、検出信号を用いて、被検体ＰのＸ線画像データを生成し（ステップＳ１０７）、生成したＸ線画像データに対するオフセット補正を実行する（ステップＳ１０８）。更に、処理回路１１１は、ディスプレイ１０９においてＸ線画像データを表示し（ステップＳ１０９）、再度ステップＳ１０１に移行する。

なお、ステップＳ１０２及びステップＳ１０３と、ステップＳ１０４及びステップＳ１０５との順番は逆でもよい。この場合、処理回路１１１は、ステップＳ１０１においてＸ線の照射を開始しないと判定した後、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の上限Ｌ２より高いか否かを判定する（ステップＳ１０４）。ここで、温度Ｔｄが上限Ｌ２より高い場合（ステップＳ１０４肯定）、処理回路１１１は、検出器１０６の電源をオフに切り替え、または検出器１０６の電源をオフのまま維持する（ステップＳ１０５）。一方で、温度Ｔｄが上限Ｌ２より低い場合（ステップＳ１０４否定）、又は、ステップＳ１０５の後、処理回路１１１は、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の下限Ｌ１より低いか否かを判定する（ステップＳ１０２）。ここで、温度Ｔｄが下限Ｌ１より低い場合（ステップＳ１０２肯定）、処理回路１１１は、検出器１０６の電源をオンに切り替え、または検出器１０６の電源をオンのまま維持する（ステップＳ１０３）。一方で、温度Ｔｄが下限Ｌ１より高い場合（ステップＳ１０２否定）、又は、ステップＳ１０３の後、処理回路１１１は、再度ステップＳ１０１に移行する。

上述したように、第１の実施形態によれば、Ｘ線管１０２は、被検体Ｐに対してＸ線を照射する。また、検出器１０６は、被検体Ｐを透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄを取得し、取得した温度Ｔｄに基づいて待機期間中の検出器１０６の電源を制御することにより、検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度から第２の温度までの温度範囲において維持する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、待機期間中の消費電力を低減させつつも、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。

また、第１の実施形態によれば、制御機能１１１ａは、待機期間において、検出器１０６の温度Ｔｄが安定温度の下限Ｌ１と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオンとし、検出器１０６の温度Ｔｄが安定温度の上限Ｌ２と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオフとすることにより、検出器１０６の温度Ｔｄを安定温度に対応する温度範囲において維持する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、検出器１０６の温度Ｔｄを安定温度の範囲において維持しつつも、検出器１０６のオン／オフの切り替えの回数を低減し、検出器１０６のオン／オフに係る回路系への負担を軽減することができる。

（第２の実施形態）
上述した第１の実施形態では、待機期間における検出器１０６の電源の制御として、図３に示す一例についてのみ説明した。これに対して、第２の実施形態では、待機期間における検出器１０６の電源の制御のバリエーションについて説明する。

第２の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、図１に示したＸ線診断装置１００と同様の構成を有し、制御機能１１１ａによる処理の一部が相違する。そこで、第１の実施形態において説明した構成と同様の構成を有する点については、図１と同一の符号を付し、説明を省略する。

例えば、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６の電源を制御することにより、検出器１０６の温度Ｔｄを、安定温度及び安定温度に近接した温度に対応する温度範囲において維持する。以下、この点について、図５を用いて説明する。図５は、第２の実施形態に係る検出器１０６の電源の制御の一例を示す図である。

図５において、縦軸は検出器１０６の温度Ｔｄを示し、横軸は時間ｔを示す。即ち、図５は、検出器１０６の温度Ｔｄの経時的な変化を示す。また、図５においては、室温Ｔｒ、安定温度の下限Ｌ１及び安定温度の上限Ｌ２を破線で示す。また、図５においては、第１の温度として、安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’を破線で示す。また、図５においては、第２の温度として、安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’を破線で示す。この場合、第１の温度から第２の温度までの温度範囲は、安定温度及び安定温度に近接した温度に対応する。

ここで、安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’は、安定温度の下限Ｌ１よりも低い温度範囲のうち、急患の検査であっても最低限必要となる準備期間内に安定温度の下限Ｌ１まで昇温可能な温度範囲において設定される。また、安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’は、安定温度の上限Ｌ２よりも高い温度範囲のうち、急患の検査であっても最低限必要となる準備期間内に安定温度の上限Ｌ２まで冷却可能な温度範囲において設定される。

図５の時間ｔ２１において、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ２１から時間ｔ２２までの間、被検体Ｐ１に対してＸ線を照射する。また、時間ｔ２１から時間ｔ２２までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ１を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ１のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ２１における検出器１０６の温度Ｔｄは安定温度であり、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ２１から時間ｔ２２までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。

また、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ２２において、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’と略同一の温度になる時間ｔ２３に、検出器１０６の電源をオンにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、検出器１０６内で発生するジュール熱等によって上昇する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’と略同一の温度になる時間ｔ２４に、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。

上述したように、制御機能１１１ａは、温度Ｔｄが下限Ｌ１’と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオンとし、温度Ｔｄが上限Ｌ２’と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオフとすることにより、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ２２以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、下限Ｌ１’から上限Ｌ２’までの範囲において維持する。これにより、Ｘ線診断装置１００は、消費電力を低減させつつ、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。

例えば、温度Ｔｄが下限Ｌ１’と略同一の温度になった時間ｔ２５において、急患である被検体Ｐ２が搬入された場合、制御機能１１１ａは、時間ｔ２５において検出器１０６の電源をオンにする。ここで、急患である被検体Ｐ２に対しては検査が迅速に行われるとしても、被検体Ｐ２が搬入されてからＸ線管１０２がＸ線の照射を開始するまでには準備期間があり、その間は検出器１０６の昇温が可能である。特に、検出器１０６の電源をオンにした直後は発熱が大きいため、短い期間でも一定の昇温が可能である。

図５に示すように、制御機能１１１ａは、時間ｔ２５から時間ｔ２６までの間、検出器１０６を昇温し、時間ｔ２６から時間ｔ２７までの間、被検体Ｐ２に対してＸ線を照射する。また、時間ｔ２６から時間ｔ２７までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ２を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ２のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ２６の時点で検出器１０６は安定温度の範囲内となっており、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ２５から時間ｔ２７までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。更に、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ２７以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、下限Ｌ１’から上限Ｌ２’までの範囲において維持する。

同様に、温度Ｔｄが上限Ｌ２’と略同一の温度になった時間において急患である被検体Ｐ２が搬入された場合、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２が搬入された時点で検出器１０６の電源をオフにする。これにより、準備期間中に検出器１０６の温度Ｔｄは安定温度の上限Ｌ２以下まで低下する。その後、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対してＸ線を照射し、検出器１０６は、被検体Ｐ２を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ２のＸ線画像データを生成する。ここで、Ｘ線の照射を開始した時点で検出器１０６は安定温度の範囲内となっており、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。更に、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対するＸ線の照射が終了した後の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、下限Ｌ１’から上限Ｌ２’までの温度範囲において維持する。

なお、図５においては、安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’が第１の温度に対応し、安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’が第２の温度に対応するものとして説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、制御機能１１１ａは、安定温度の下限Ｌ１が第１の温度に対応し、安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’が第２の温度に対応するものとして、検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度から第２の温度までの温度範囲において維持してもよい。また、例えば、制御機能１１１ａは、安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’が第１の温度に対応し、安定温度の上限Ｌ２が第２の温度に対応するものとして、検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度から第２の温度までの温度範囲において維持してもよい。

上述したように、第２の実施形態に係る制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６の電源を制御することにより、検出器１０６の温度Ｔｄを、安定温度及び安定温度に近接した温度に対応する温度範囲において維持する。従って、第２の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することを可能にしつつも、検出器１０６のオン／オフの切り替えの回数を更に低減することができる。

次に、図６を用いて、待機期間における検出器１０６の電源の制御について別の例を説明する。図６は、第２の実施形態に係る検出器１０６の電源の制御の一例を示す図である。

図６において、縦軸は検出器１０６の温度Ｔｄを示し、横軸は時間ｔを示す。即ち、図６は、検出器１０６の温度Ｔｄの経時的な変化を示す。また、図６においては、室温Ｔｒを破線で示す。また、図６においては、第１の温度として、安定温度の下限Ｌ１を破線で示す。また、図６においては、第２の温度として、安定温度の上限Ｌ２を破線で示す。この場合、第１の温度から第２の温度までの温度範囲は、安定温度に対応する。

図６の時間ｔ３１において、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ３１から時間ｔ３２までの間、被検体Ｐ１に対してＸ線を照射する。また、時間ｔ３１から時間ｔ３２までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ１を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ１のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ３１における検出器１０６の温度Ｔｄは安定温度であり、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ３１から時間ｔ３２までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。

また、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ３２において、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の下限Ｌ１と略同一の温度になる時間ｔ３３に、検出器１０６の電源をパルス状にオンにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、検出器１０６内で発生するジュール熱等によって上昇した後、室温Ｔｒに向けて再度低下する。

次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが再度下限Ｌ１と略同一の温度になる時間ｔ３４に、検出器１０６の電源をパルス状にオンにする。更に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが再度下限Ｌ１と略同一の温度になる時間ｔ３５に、検出器１０６の電源をパルス状にオンにする。即ち、制御機能１１１ａは、待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄが下限Ｌ１と略同一の温度になる毎に、検出器１０６の電源をパルス状にオンにする処理を繰り返す。

上述したように、制御機能１１１ａは、温度Ｔｄが下限Ｌ１と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をパルス状にオンとすることにより、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ３２以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、下限Ｌ１に近い温度において維持する。下限Ｌ１よりも高く、かつ、下限Ｌ１に近い温度において維持する。ここで、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに近いほど変化が緩やかであり、温度制御に要するエネルギーも低減される。従って、Ｘ線診断装置１００は、温度Ｔｄを下限Ｌ１に近い温度において維持することにより、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することを可能にしつつも、消費電力を更に低減させることができる。

例えば、時間ｔ３６において、急患である被検体Ｐ２が搬入された場合、制御機能１１１ａは、時間ｔ３６において検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ３６から時間ｔ３７までの間、被検体Ｐ２に対してＸ線を照射する。即ち、制御機能１１１ａは、検出器１０６の昇温を行なうことなく、Ｘ線の照射を開始する。また、時間ｔ３６から時間ｔ３７までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ２を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ２のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ３６の時点で検出器１０６は安定温度の範囲内となっており、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ３６から時間ｔ３７までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。更に、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ３７以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、下限Ｌ１に近い温度において維持する。

なお、図６においては、安定温度の下限Ｌ１が第１の温度に対応し、安定温度の上限Ｌ２が第２の温度に対応するものとして説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、制御機能１１１ａは、第１の温度として、図５に示した安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’を用いてもよい。また、例えば、制御機能１１１ａは、第２の温度として、図５に示した安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’を用いてもよい。

（第３の実施形態）
上述した第１〜第２の実施形態では、待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、第１の温度よりも高い状態に維持する場合について説明した。これに対して、第３の実施形態では、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点で検出器１０６の温度Ｔｄが第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間中に検出器１０６の電源をオンにする場合について説明する。

第３の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、図１に示したＸ線診断装置１００と同様の構成を有し、制御機能１１１ａによる処理の一部が相違する。そこで、第１の実施形態において説明した構成と同様の構成を有する点については、図１と同一の符号を付し、説明を省略する。

例えば、制御機能１１１ａは、検査情報を用いて、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点から、検出器１０６を第１の温度まで昇温するために必要な時間の分だけ早い時点に、検出器１０６の電源をオンにする。なお、以下では、検出器１０６を第１の温度まで昇温するために必要な時間を、昇温時間と記載する。以下、この点について、図７を用いて説明する。図７は、第３の実施形態に係る検出器１０６の電源の制御の一例を示す図である。なお、図７においては、第１の温度よりも高い状態の一例として、第１の温度から第２の温度までの温度範囲について説明する。即ち、図７においては、制御機能１１１ａが、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点で検出器１０６の温度Ｔｄが第１の温度から第２の温度までの温度範囲内なるように、待機期間中に検出器１０６の電源をオンにする場合について説明する。

図７において、縦軸は検出器１０６の温度Ｔｄを示し、横軸は時間ｔを示す。即ち、図７は、検出器１０６の温度Ｔｄの経時的な変化を示す。また、図７においては、室温Ｔｒを破線で示す。また、図７においては、第１の温度として、安定温度の下限Ｌ１を破線で示す。また、図７においては、第２の温度として、安定温度の上限Ｌ２を破線で示す。この場合、第１の温度から第２の温度までの温度範囲は、安定温度に対応する。

図７の時間ｔ４１において、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ４１から時間ｔ４２までの間、被検体Ｐ１に対してＸ線を照射する。また、時間ｔ４１から時間ｔ４２までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ１を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ１のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ４１における検出器１０６の温度Ｔｄは安定温度であり、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ４１から時間ｔ４２までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。また、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ４２において、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。

次に、制御機能１１１ａは、検査情報を用いて、時間ｔ４２以降にＸ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点を取得する。ここで、検査情報とは、過去に実施された検査、現在実施されている検査及び予約されている検査に関する種々の情報である。以下、過去に実施された検査に関する情報を、検査履歴と記載する。また、予約されている検査に関する情報を、検査予約情報と記載する。

例えば、制御機能１１１ａは、検査予約情報として、予約されている検査の開始時刻を取得する。次に、制御機能１１１ａは、検査の開始時刻から、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する前に行なわれる手順（例えば、Ｘ線画像データ収集の要否を判断するための診断や、検査着への着替え等）に要する時間の分だけ後の時点を、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点として取得する。

また、例えば、制御機能１１１ａは、検査履歴として、曜日及び依頼科の少なくとも一方と、過去に実施された検査とを対応付けた情報を取得する。一例を挙げると、制御機能１１１ａは、各曜日の各時間帯について、依頼科ごとに、過去にＸ線画像データの収集が実施された割合を取得する。そして、制御機能１１１ａは、該当する曜日及び依頼科における検査について、取得した割合が閾値よりも高い時間帯の開始時刻を、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点として取得する。

また、例えば、制御機能１１１ａは、検査情報として、ルーチン検査においてＸ線診断装置１００の前に使用される医用画像診断装置の稼働に関する情報を取得する。ここで、ルーチン検査とは、１の被検体Ｐについて、連続的に複数種類の画像データを収集する検査である。以下では、ルーチン検査の一例として、ＰＥＴ（Positron Emission computed Tomography）装置を用いたＰＥＴ画像データの収集の後、Ｘ線診断装置１００を用いたＸ線画像データの収集が連続的に行われる場合について説明する。一例を挙げると、制御機能１１１ａは、まず、ＰＥＴ装置の稼働に関する情報として、ＰＥＴ装置を用いた検査の開始時刻を取得する。次に、制御機能１１１ａは、ＰＥＴ装置を用いた検査の開始時刻から、ＰＥＴ装置を用いた検査の所要時間の分だけ後の時点を、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点として取得する。

以下では、図７に示す時間ｔ４４が、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点であるものとして説明する。制御機能１１１ａは、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時間ｔ４４から、昇温時間の分だけ早い時点を取得し、取得した時点に検出器１０６の電源をオンにする。ここで、制御機能１１１ａは、昇温時間として、検出器１０６の温度Ｔｄに応じた値を用いてもよいし、固定値を用いてもよい。

例えば、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄ及び時間ｔと、第１の温度である安定温度の下限Ｌ１及びＸ線管１０２がＸ線の照射を開始する時間ｔ４４と、検出器１０６の電源をオンにした場合の単位時間あたりの温度変化ΔＴとに基づいて、昇温時間を算出する。具体的には、制御機能１１１ａは、図７において、（ｔ，Ｔｄ）＝（ｔ４４，Ｌ１）となる点を通り、かつ、検出器１０６の電源をオンにした場合の単位時間あたりの温度変化ΔＴを傾きとする一次関数を算出する。その後、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄと、時間ｔとについて、一次関数を満たすか否かを経時的に判定する。そして、制御機能１１１ａは、一次関数を満たした時間ｔ４３から、時間ｔ４４までを、昇温時間として算出する。更に、制御機能１１１ａは、時間ｔ４４から昇温時間の分だけ早い時間ｔ４３に、検出器１０６の電源をオンにする。この場合、検出器１０６の温度Ｔｄは、図７に示すように、時間ｔ４４において第１の温度である安定温度の下限Ｌ１と同程度となる。

また、例えば、制御機能１１１ａは、昇温時間として、第１の温度である安定温度の下限Ｌ１及び室温Ｔｒに応じた固定値を設定する。具体的には、制御機能１１１ａは、下限Ｌ１と室温Ｔｒとの差を、検出器１０６の電源をオンにした場合の単位時間あたりの温度変化ΔＴで除することにより、昇温時間を固定値として設定する。更に、制御機能１１１ａは、時間ｔ４４から昇温時間の分だけ早い時点に、検出器１０６の電源をオンにする。この場合、検出器１０６の温度Ｔｄは、時間ｔ４４において、検出器１０６の電源をオンにした時点における温度Ｔｄと室温Ｔｒとの差の分だけ、下限Ｌ１よりも高い温度となる。最も、電源をオフにされた検出器１０６の温度Ｔｄは室温Ｔｒに向けて低下しているため、検出器１０６の電源をオンにした時点における温度Ｔｄと室温Ｔｒとの差は小さく、多くの場合、温度Ｔｄは時間ｔ４４において下限Ｌ１と同程度となる。なお、この場合、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄを取得しないこととしてもよい。

上述したように、制御機能１１１ａは、検査情報を用いて、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時間ｔ４４で、検出器１０６の温度Ｔｄが第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間中に検出器１０６の電源をオンにする。従って、Ｘ線診断装置１００は、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時間ｔ４４の直前を除く待機期間中の検出器１０６の電源をオフにして消費電力を更に低減させることができる。また、Ｘ線診断装置１００は、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時間ｔ４４に、検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度よりも高い状態にしておくことにより、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。

例えば、制御機能１１１ａは、時間ｔ４４において検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ４４から時間ｔ４５までの間、被検体Ｐ２に対してＸ線を照射する。即ち、制御機能１１１ａは、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時間ｔ４４において、検出器１０６の昇温のための待ち時間を生じさせることなく、Ｘ線の照射を開始する。また、時間ｔ４４から時間ｔ４５までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ２を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ２のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ４４の時点で検出器１０６は安定温度の範囲内となっており、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。なお、時間ｔ４３から時間ｔ４５までの間は、検出器１０６の電源がオンになっているため、検出器１０６内で発生するジュール熱等により、検出器１０６の温度Ｔｄは上昇する。更に、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ４５において検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて再度低下する。

次に、Ｘ線診断装置１００による処理の手順の一例を、図８を用いて説明する。図８は、第３の実施形態に係るＸ線診断装置１００の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。ステップＳ２０１、ステップＳ２０２、ステップＳ２０３、ステップＳ２０４及びステップＳ２０５は、制御機能１１１ａに対応するステップである。ステップＳ２０６及びステップＳ２０７は、生成機能１１１ｂに対応するステップである。ステップＳ２０８は、表示制御機能１１１ｃに対応するステップである。

まず、処理回路１１１は、Ｘ線の照射を開始するか否かを判定する（ステップＳ２０１）。Ｘ線の照射を開始しない場合（ステップＳ２０１否定）、処理回路１１１は、検出器１０６の電源をオフにする（ステップＳ２０２）。次に、処理回路１１１は、Ｘ線の照射を開始する時点から昇温時間の分だけ早い時点を取得し、取得した時点に現在時刻が到達したか否かを判定する（ステップＳ２０３）。

ここで、Ｘ線の照射を開始する時点から昇温時間の分だけ早い時点に到達していない場合（ステップＳ２０３否定）、処理回路１１１は、待機状態となる。一方で、Ｘ線の照射を開始する時点から昇温時間の分だけ早い時点に到達した場合（ステップＳ２０３肯定）、処理回路１１１は、検出器１０６の電源をオンにする（ステップＳ２０４）。

そして、ステップＳ２０４において検出器１０６の電源をオンにした後、又は、ステップＳ２０１においてＸ線の照射を開始すると判定した場合（ステップＳ２０１肯定）、処理回路１１１は、被検体Ｐに対してＸ線の照射を開始する（ステップＳ２０５）。ここで、検出器１０６は、被検体Ｐを透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、処理回路１１１は、検出信号を用いて、被検体ＰのＸ線画像データを生成し（ステップＳ２０６）、生成したＸ線画像データに対するオフセット補正を実行する（ステップＳ２０７）。更に、処理回路１１１は、ディスプレイ１０９においてＸ線画像データを表示し（ステップＳ２０８）、再度ステップＳ２０１に移行する。

なお、制御機能１１１ａは、検査終了時点（例えば、Ｘ線の照射が終了した時間ｔ４２や時間ｔ４５等）において、検査終了時点の後の待機期間が昇温時間よりも長い場合、検出器１０６の電源をオフにすることとしてもよい。これは、Ｘ線の照射を行わない期間が昇温時間よりも短いのに検出器１０６の電源をオフにしてしまうと、その後に検出器１０６の電源をオンにしても、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点で温度Ｔｄが安定温度の下限Ｌ１に届かない可能性があるためである。

例えば、制御機能１１１ａは、検査終了時点において、待機期間と昇温時間とを比較する。ここで、制御機能１１１ａは、検査終了時点の後の待機期間が夜間である場合等、待機期間が昇温時間よりも長い場合は検出器１０６の電源をオフにする。一方で、検査終了時点の後の待機期間が昼休みである場合等、待機期間が昇温時間よりも短い場合は検出器１０６の電源をオンのまま維持する。

また、図７においては、時間ｔ４３において検出器１０６の電源をオンにするまでの待機期間中、検出器１０６の電源を常にオフにするものとして説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、制御機能１１１ａは、時間ｔ４３において検出器１０６の電源をオンにするまでの待機期間の一部において、検出器１０６の温度Ｔｄを、第１の温度よりも高い状態に維持してもよい。

例えば、制御機能１１１ａは、まず、待機期間中の各時間帯について、追加の検査を受け入れ可能か否かを判定する。一例を挙げると、制御機能１１１ａは、予約は入っていないものの診療時間内であり、医師や技師等が病院内で待機している時間帯については、追加の検査を受け入れ可能と判定する。一方で、制御機能１１１ａは、診療時間外であって医師や技師等が病院内にいない時間帯については、追加の検査を受け入れることができないと判定する。なお、以下では、待機期間のうち追加の検査を受け入れ可能な時間帯を第１の期間と記載し、待機期間のうち第１の期間を除く時間帯を第２の期間と記載する。

そして、制御機能１１１ａは、第１の期間においては、検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度よりも高い状態に維持する。これにより、制御機能１１１ａは、第１の期間において、消費電力を低減しつつ、急患が来た場合でも安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。また、制御機能１１１ａは、第２の期間においては、Ｘ線の照射を開始する時点で温度Ｔｄが安定温度の範囲内となるように、待機期間中に検出器１０６の電源をオンにする。これにより、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源をオンにするまでの第２の期間中、検出器１０６の電源をオフにしておき、消費電力を更に低減することができる。

（第４の実施形態）
上述した第１〜第３の実施形態では、Ｘ線診断装置１００の構成として、図１の一例のみを説明した。これに対して、第４の実施形態では、図９を用いて、Ｘ線診断装置１００の構成の別の例を説明する。図９は、第４の実施形態に係るＸ線診断装置１００の構成の一例を示すブロック図である。

図９に示すように、第４の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、図１に示したＸ線診断装置１００と同様、Ｘ線高電圧装置１０１と、Ｘ線管１０２と、Ｘ線絞り器１０３と、天板１０４と、Ｃアーム１０５と、検出器１０６と、温度センサ１０７と、メモリ１０８と、ディスプレイ１０９と、入力インターフェース１１０と、処理回路１１１とを備える。以下、第１の実施形態において説明した構成については、図１と同一の符号を付し、説明を省略する。また、図９に示すように、第４の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、図１に示したＸ線診断装置１００と比較し、熱交換器１１２及び温度制御装置１１３を更に有する点で相違する。

熱交換器１１２は、検出器１０６との間で熱交換を行なう。例えば、熱交換器１１２は、ポンプ及びラジエターを含み、検出器１０６に冷却液を供給することで検出器１０６を冷却する水冷装置である。また、例えば、熱交換器１１２は、羽根及びモータ等から構成されるファンを含み、検出器１０６への送風を行なうことで検出器１０６を冷却する空冷装置である。また、例えば、熱交換器１１２は、別種の金属が接合されたペルチェ素子を含み、ペルチェ効果を利用して検出器１０６を冷却する。

温度制御装置１１３は、熱交換器１１２を制御することにより、検出器１０６の冷却を行なう。例えば、温度制御装置１１３は、Ｘ線照射期間中、検出器１０６の温度Ｔｄが一定の温度で推移するように、熱交換器１１２を制御する。なお、この点については後述する。

次に、図１０を用いて、第４の実施形態に係るＸ線診断装置１００が行う温度制御の一例について説明する。なお、図１０においては、一例として、制御機能１１１ａが、待機期間中の検出器１０６の電源を制御し、検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度から第２の温度までの温度範囲において維持する場合について説明する。なお、図１０は、第４の実施形態に係る検出器１０６の電源の制御の一例を示す図である。

図１０において、縦軸は検出器１０６の温度Ｔｄを示し、横軸は時間ｔを示す。即ち、図１０は、検出器１０６の温度Ｔｄの経時的な変化を示す。また、図１０においては、室温Ｔｒを破線で示す。また、図１０においては、第１の温度として、安定温度の下限Ｌ１を破線で示す。また、図１０においては、第２の温度として、安定温度の上限Ｌ２を破線で示す。この場合、第１の温度から第２の温度までの温度範囲は、安定温度に対応する。

図１０の時間ｔ５１において、制御機能１１１ａは、検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ５１から時間ｔ５２までの間、被検体Ｐ１に対してＸ線を照射する。ここで、温度制御装置１１３は、検出器１０６の温度Ｔｄが一定の温度で推移するように熱交換器１１２を制御する。例えば、温度制御装置１１３は、検出器１０６内でジュール熱等により発生する熱量と、検出器１０６から熱交換器１１２へと移動する熱量とが等しくなるように熱交換器１１２を制御することで、温度Ｔｄを一定の温度で推移させる。

なお、図１０において、時間ｔ５１の温度Ｔｄは安定温度の上限Ｌ２に近い値となっている。かかる場合において、時間ｔ５１から時間ｔ５２までの間に温度Ｔｄが上昇してしまうと、温度Ｔｄが安定温度の範囲外になる可能性がある。これに対し、温度制御装置１１３は、温度Ｔｄを一定の温度で推移させることで、時間ｔ５１から時間ｔ５２までの間、温度Ｔｄを安定温度の範囲内で維持することができる。

また、時間ｔ５１から時間ｔ５２までの間、検出器１０６は、被検体Ｐ１を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ１のＸ線画像データを生成する。ここで、時間ｔ５１から時間ｔ５２までの間、検出器１０６の温度Ｔｄは安定温度であり、オフセットレベルは安定している。従って、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。

また、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ５２において、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の下限Ｌ１と略同一の温度になる時間ｔ５３に、検出器１０６の電源をオンにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、検出器１０６内で発生するジュール熱等によって上昇する。次に、制御機能１１１ａは、検出器１０６の温度Ｔｄが、安定温度の上限Ｌ２と略同一の温度になる時間ｔ５４に、検出器１０６の電源をオフにする。これにより、検出器１０６の温度Ｔｄは、室温Ｔｒに向けて低下する。

上述したように、制御機能１１１ａは、温度Ｔｄが下限Ｌ１と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオンとし、温度Ｔｄが上限Ｌ２と略同一の温度になった時に検出器１０６の電源をオフとすることにより、被検体Ｐ１に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ５２以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを安定温度に対応する温度範囲において維持する。これにより、Ｘ線診断装置１００は、待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。

例えば、時間ｔ５５において、急患である被検体Ｐ２が搬入された場合、制御機能１１１ａは、時間ｔ５５において検出器１０６の電源をオンとし、時間ｔ５５から時間ｔ５６までの間、被検体Ｐ２に対してＸ線を照射する。即ち、制御機能１１１ａは、検出器１０６の昇温を行なうことなく、Ｘ線の照射を開始する。

ここで、温度制御装置１１３は、時間ｔ５５から時間ｔ５６までの間、検出器１０６の温度Ｔｄが一定の温度で推移するように熱交換器１１２を制御する。これにより、温度制御装置１１３は、時間ｔ５５から時間ｔ５６までの間に温度Ｔｄが安定温度の範囲外になることを防ぎ、時間ｔ５５から時間ｔ５６までの間、温度Ｔｄを安定温度の範囲内で維持することができる。また、検出器１０６は、時間ｔ５５から時間ｔ５６までの間、被検体Ｐ２を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する。また、生成機能１１１ｂは、検出器１０６から出力された検出信号を用いて、被検体Ｐ２のＸ線画像データを生成する。

ここで、時間ｔ５５から時間ｔ５６までの間、検出器１０６は安定温度となっており、オフセットレベルは安定しているため、生成機能１１１ｂは、オフセット補正を適切に実行し、安定した画質のＸ線画像データを生成することができる。そして、表示制御機能１１１ｃは、ディスプレイ１０９において、オフセット補正が施されたＸ線画像データを表示する。更に、制御機能１１１ａは、被検体Ｐ２に対するＸ線の照射が終了した時間ｔ５６以降の待機期間中、検出器１０６の温度Ｔｄを、安定温度に対応する温度範囲において維持する。

上述したように、第４の実施形態に係るＸ線診断装置１００は、検出器１０６の冷却を行なう温度制御装置１１３を備える。従って、Ｘ線診断装置１００は、Ｘ線照射期間中においても、検出器１０６の温度Ｔｄが安定温度の範囲内となるように温度制御を行ない、より安定した画質のＸ線画像データを提供することができる。

なお、図１０においては、温度制御装置１１３が、Ｘ線照射期間中に検出器１０６の冷却を行なう点についてのみ説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、温度制御装置１１３は、更に、熱交換器１１２を用いて検出器１０６の加熱を行なってもよい。また、例えば、温度制御装置１１３は、待機期間中に検出器１０６の冷却を行なってもよい。

一例を挙げると、制御機能１１１ａは、図５に示した準備期間中、検出器１０６をオンにするとともに、温度制御装置１１３に検出器１０６の加熱を実行させる。これにより、準備期間内に安定温度の下限Ｌ１まで昇温可能な温度範囲が拡大し、安定温度に近接した温度の下限Ｌ１’をより低温に設定することができる。また、一例を挙げると、制御機能１１１ａは、準備期間中、検出器１０６をオフにするとともに、温度制御装置１１３に検出器１０６の冷却を実行させる。これにより、準備期間内に安定温度の上限Ｌ２まで冷却可能な温度範囲が拡大し、安定温度に近接した温度の上限Ｌ２’をより高温に設定することができる。そして、下限Ｌ１’をより低温に設定したり、上限Ｌ２’をより高温に設定したりすることにより、制御機能１１１ａは、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することを可能にしつつも、検出器１０６のオン／オフの切り替えの回数を更に低減することができる。

（第５の実施形態）
さて、これまで第１〜第４の実施形態について説明したが、上述した第１〜第４の実施形態以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。

上述した実施形態では、制御機能１１１ａが、Ｘ線診断装置１００に関する検査情報を用いて、検出器１０６の温度Ｔｄを制御する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、制御機能１１１ａは、Ｘ線診断装置１００以外の他のＸ線診断装置に関する情報を用いて、温度Ｔｄを制御する場合であってもよい。例えば、病院内に複数のＸ線診断装置が配置されている場合において、制御機能１１１ａは、Ｘ線診断装置１００以外の他のＸ線診断装置の稼働に関する情報を用いて、待機期間中の検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度よりも高い状態に維持するか否かを判定する。

一例を挙げると、制御機能１１１ａは、病院内の他のＸ線診断装置のうち、緊急検査用のＸ線診断装置の稼働に関する情報を取得する。なお、緊急検査用のＸ線診断装置とは、予約の有無に関わらず、迅速に使用可能な状態で管理されるＸ線診断装置である。例えば、急患が搬入された場合、緊急検査用のＸ線診断装置を用いて検査が実行される。

ここで、緊急検査用のＸ線診断装置が稼働していない場合（緊急検査用のＸ線診断装置を用いた検査が実行されていない場合）、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６の電源をオフにする。即ち、急患が来たとしても緊急検査用のＸ線診断装置により対応できるため、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６の電源をオフにすることにより、消費電力を更に低減する。

一方で、緊急検査用のＸ線診断装置が稼働している場合（緊急検査用のＸ線診断装置を用いた検査が実行されている場合）、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６の温度Ｔｄを第１の温度よりも高い状態に維持すると判定する。即ち、緊急検査用のＸ線診断装置が既に稼働している時に急患が来た場合、緊急検査用のＸ線診断装置では対応できないため、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６を急患に対応できる状態で維持する。

また、上述した実施形態では、制御機能１１１ａが検出器１０６の電源を制御し、検出器１０６の電源のオン／オフを切り替える場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、制御機能１１１ａは、待機期間中の検出器１０６に供給する電力を増減することにより、検出器１０６の温度Ｔｄを、第１の温度よりも高い状態に維持してもよい。

また、上述した実施形態では、Ｘ線診断装置１００が制御機能１１１ａを有する処理回路１１１を有する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、Ｘ線診断装置１００とネットワークを介して接続された医用情報処理装置が、制御機能１１１ａに対応した機能を有する処理回路を備える場合であってもよい。

この場合、医用情報処理装置は、検出器１０６の温度Ｔｄを取得し、取得した温度Ｔｄに基づいて待機期間中の検出器１０６の制御内容（例えば、電源をオンにする時間及びオフにする時間）を算出し、算出した制御内容をＸ線診断装置１００に通知することにより、検出器１０６の温度Ｔｄを、第１の温度よりも高い状態に維持する。或いは、医用情報処理装置は、検査情報を用いて、Ｘ線管１０２がＸ線の照射を開始する時点で検出器１０６の温度Ｔｄが第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間のうち検出器１０６の電源をオンにする時間を算出し、算出した時間をＸ線診断装置１００に通知する。

また、制御機能１１１ａに対応した機能を有する処理回路を備える医用情報処理装置は、複数のＸ線診断装置と接続されてもよい。この場合、医用情報処理装置は、検査情報を用いて、待機期間中に検出器の電源を制御するＸ線診断装置を選択してもよい。例えば、医用情報処理装置は、待機期間中の複数のＸ線診断装置のうち１つのＸ線診断装置について、検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する。これにより、医用情報処理装置及び複数のＸ線診断装置を含んだ医用情報処理システムは、待機期間中の消費電力を低減させつつ、例え急患が来たとしても、安定した画質のＸ線画像データを迅速に提供することができる。

また、上述した実施形態では、Ｘ線診断装置１００について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、ＰＥＴ装置やＸ線ＣＴ（Computed Tomography）装置など、種々の放射線診断装置について適用することができる。

例えば、ＰＥＴ装置は、被検体から放出されたガンマ線を検出して検出信号を出力する検出器と、制御機能１１１ａに対応した機能を有する処理回路とを備える。そして、ＰＥＴＴ装置は、検出器の温度を取得し、取得した温度に基づいて待機期間中の検出器の電源を制御することにより、検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する。或いは、ＰＥＴ装置は、検査情報を用いて、検出器が放射線の検出を開始する時点で検出器の温度が第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間中に検出器の電源をオンにする。

また、例えば、Ｘ線ＣＴ装置は、被検体に対してＸ線を照射するＸ線管と、被検体を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する検出器と、制御機能１１１ａに対応した機能を有する処理回路とを備える。そして、Ｘ線ＣＴ装置は、検出器の温度を取得し、取得した温度に基づいて待機期間中の検出器の電源を制御することにより、検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する。或いは、Ｘ線ＣＴ装置は、検査情報を用いて、検出器が放射線の検出を開始する時点（Ｘ線管がＸ線の照射を開始する時点）で検出器の温度が第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間中に検出器の電源をオンにする。

上述した実施形態に係る各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。更に、各装置にて行われる各処理機能は、その全部又は任意の一部が、ＣＰＵ及び当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現されうる。

また、上述した実施形態で説明した制御方法は、予め用意された制御プログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この制御プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、待機期間中の消費電力を低減させつつ、安定した画質の画像データを迅速に提供することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１００ Ｘ線診断装置
１１１ａ 制御機能
１１１ｂ 生成機能
１１１ｃ 表示制御機能

Claims (19)

1. 被検体に対してＸ線を照射するＸ線管と、
   前記被検体を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する検出器と、
   前記検出器の温度を取得し、取得した温度に基づいて待機期間中の前記検出器の電源を制御することにより、前記検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する制御部と
   を備える、Ｘ線診断装置。
2. 前記制御部は、前記検出器の温度を前記第１の温度から当該第１の温度よりも高い第２の温度までの温度範囲において維持する、請求項１に記載のＸ線診断装置。
3. 前記制御部は、前記待機期間において、前記検出器の温度が前記第１の温度と略同一の温度になった時に前記検出器の電源をオンとし、前記検出器の温度が前記第２の温度と略同一の温度になった時に前記検出器の電源をオフとすることにより、前記検出器の温度を前記温度範囲において維持する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
4. 前記制御部は、前記待機期間において、前記検出器の温度を、前記第１の温度よりも高く、かつ、前記第１の温度に近い温度において維持する、請求項１に記載のＸ線診断装置。
5. 前記制御部は、他のＸ線診断装置の稼働に関する情報を用いて、前記待機期間中の前記検出器の温度を前記第１の温度よりも高い状態に維持するか否かを判定する、請求項１〜４のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
6. 前記制御部は、他のＸ線診断装置のうち緊急検査用のＸ線診断装置が稼働している場合、前記待機期間中の前記検出器の温度を前記第１の温度よりも高い状態に維持すると判定する、請求項５に記載のＸ線診断装置。
7. 前記制御部は、前記待機期間のうち追加の検査を受け入れ可能な第１の期間においては前記検出器の温度を前記第１の温度よりも高い状態に維持し、前記待機期間のうち前記第１の期間を除く第２の期間においては、前記検出器の電源をオフにした後、検査情報を用いて、前記Ｘ線管がＸ線の照射を開始する時点で前記検出器の温度が前記第１の温度よりも高い状態になるように、前記待機期間中に前記検出器の電源をオンにする、請求項１〜４のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
8. 被検体に対してＸ線を照射するＸ線管と、
   前記被検体を透過したＸ線を検出して検出信号を出力する検出器と、
   検査情報を用いて、前記Ｘ線管がＸ線の照射を開始する時点で前記検出器の温度が第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間中に前記検出器の電源をオンにする制御部と
   を備える、Ｘ線診断装置。
9. 前記制御部は、前記Ｘ線管がＸ線の照射を開始する時点で前記検出器の温度が前記第１の温度から当該第１の温度よりも高い第２の温度までの温度範囲内となるように、待機期間中に前記検出器の電源をオンにする、請求項８に記載のＸ線診断装置。
10. 前記制御部は、前記Ｘ線管がＸ線の照射を開始する時点から、前記検出器を前記第１の温度まで昇温するために必要な昇温時間の分だけ早い時点に、前記検出器の電源をオンにする、請求項８又は９に記載のＸ線診断装置。
11. 前記制御部は、検査終了時点において、当該検査終了時点の後の前記待機期間が、前記検出器を前記第１の温度まで昇温するために必要な昇温時間よりも長い場合、前記検出器の電源をオフにする、請求項８〜１０のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
12. 前記制御部は、前記検査情報として、ルーチン検査においてＸ線診断装置の前に使用される医用画像診断装置の稼働に関する情報を用いて、前記Ｘ線管がＸ線の照射を開始する時点で前記検出器の温度が前記第１の温度よりも高い状態になるように、前記待機期間中に前記検出器の電源をオンにする、請求項７〜１１のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
13. 前記検査情報は、検査予約情報及び検査履歴の少なくとも一つである、請求項７〜１１のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
14. 前記検査履歴は、曜日及び依頼科の少なくとも一方と、過去に実施された検査とを対応付けた情報である、請求項１３に記載のＸ線診断装置。
15. 前記温度範囲は、前記検出信号から生成されるＸ線画像データの画質が安定する安定温度に対応する範囲である、請求項２又は９に記載のＸ線診断装置。
16. 前記温度範囲は、前記検出信号から生成されるＸ線画像データの画質が安定する安定温度、及び、当該安定温度に近接した温度に対応する範囲である、請求項２又は９に記載のＸ線診断装置。
17. 前記検出器の冷却を行なう温度制御装置を更に備える、請求項１〜１６のいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
18. 放射線を検出して検出信号を出力する検出器と、
    前記検出器の温度を取得し、取得した温度に基づいて待機期間中の前記検出器の電源を制御することにより、前記検出器の温度を第１の温度よりも高い状態に維持する制御部と
    を備える、放射線診断装置。
19. 放射線を検出して検出信号を出力する検出器と、
    検査情報を用いて、前記検出器が放射線の検出を開始する時点で前記検出器の温度が第１の温度よりも高い状態になるように、待機期間中に前記検出器の電源をオンにする制御部と
    を備える、放射線診断装置。

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