JP2019120496A - 金属皮膜の熱伝導率計測方法 - Google Patents
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Abstract
Description
以下、赤外線放射温度計を利用した熱伝導率測定の原理、測定結果について説明する。
λ:抵抗体皮膜の熱伝導率[W/(m・K)]
L,W,t:抵抗体皮膜の寸法[m]
Q:抵抗体皮膜全体の発熱量[W]
qX:微小区間dXを通過する熱流束[W/m2]
T0:抵抗体皮膜の表面温度[℃]
Tt:アルミナ基板の表面温度[℃]
x:抵抗体皮膜表面からの距離[m]
dx:距離xの位置での微小区間[m]
dR:微小区間dxの熱抵抗[K/W]
dT:微小区間dxで発生する温度差[K]
hcon :自然対流の平均熱伝達率 [W/(m2K)]
hrad :放射の平均熱伝達率[W/(m2K)]
C :寸法,設置状態により決まる係数[ - ]
S :サンプル,ワイヤーハーネスの表面積[m2]
K :代表長 [m]
σ :ステファンボルツマン係数[W/(m2・K4)]
ε :放射率[ - ]
Tcel :表面の摂氏温度 [°C]
Tad :表面の絶対温度 [K]
定常温度上昇時の抵抗体皮膜の上下面の温度差を赤外線放射温度計により計測している。対象とする抵抗体皮膜(厚膜)のサンプルを使用し皮膜上面の温度を測定し、抵抗体皮膜(薄膜)を形成したサンプルを使用し基材上面温度を計測する方法をとっている。
体積発熱体である抵抗体皮膜(厚膜)の上下面温度差は関係式(2)により表すことができ、この関係式を利用することで簡単に熱伝導率を算出することができる。
測定時のサンプル取り付け条件(放熱グリース4の選定・サンプル固定時のトルク管理・基材の種類・冷却プレート側の表面粗さなど)の工夫により、測定精度を向上させることが可能である。
また、本発明の各構成要素は、任意に取捨選択することができ、取捨選択した構成を具備する発明も本発明に含まれるものである。
例えば、本発明の対象は、上記に記載の熱伝導率計測方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであっても良く、当該プログラムを記録するコンピュータ読み取り可能な記録媒体であっても良い。
3 抵抗体皮膜
4 放熱グリース
5a,5b 金属端子(電極)
7 冷却プレート
21 赤外線放射温度計
Claims (3)
- 板体に形成された金属皮膜の熱伝導率を測定演算する方法であって、
前記板体を冷却プレートに固定し、
熱平衡が得られるまで前記金属皮膜に対して熱を加え、
金属皮膜の表面温度と、板体の表面温度若しくは金属皮膜の下面温度である基準温度とから、金属皮膜の熱伝導率を測定するステップを有する前記方法。 - 前記金属皮膜の熱伝導率を測定するステップは、
前記金属皮膜の表面温度を赤外線放射温度計により測定するステップを含む請求項1に記載の方法。 - 前記板体の表面温度を、基準温度とすることを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
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- 2017-12-28 JP JP2017252869A patent/JP7060378B2/ja active Active
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