JP2019113318A - データ収録量を最適化する方法 - Google Patents

データ収録量を最適化する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019113318A
JP2019113318A JP2017244535A JP2017244535A JP2019113318A JP 2019113318 A JP2019113318 A JP 2019113318A JP 2017244535 A JP2017244535 A JP 2017244535A JP 2017244535 A JP2017244535 A JP 2017244535A JP 2019113318 A JP2019113318 A JP 2019113318A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling
measurement data
data
condition
mode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017244535A
Other languages
English (en)
Inventor
渡辺 智之
Tomoyuki Watanabe
智之 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Sokki Kenkyujo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Sokki Kenkyujo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Sokki Kenkyujo Co Ltd filed Critical Tokyo Sokki Kenkyujo Co Ltd
Priority to JP2017244535A priority Critical patent/JP2019113318A/ja
Publication of JP2019113318A publication Critical patent/JP2019113318A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Recording Measured Values (AREA)

Abstract

【課題】データ収録量を最適化できるシステムや方法を提供する。【解決手段】測定データを受信する受信部3と、データ記憶部5と、サンプリング間隔が異なる複数のサンプリングモードについて、サンプリング周波数と、サンプリング周波数を変化させるためのサンプリング条件とを記憶するサンプリング条件記憶部7と、測定データを解析し、サンプリング条件と比較することで、測定データに対するサンプリング間隔を制御するサンプリング間隔制御部9と、サンプリング間隔制御部9によって制御されたサンプリング間隔で、測定データに対するサンプリングデータを得るサンプリングデータ取得部11と、サンプリングデータ記憶部13とを有する測定データサンプリングシステム。【選択図】図1

Description

本発明は測定データを記憶する際に必要な部分を残し,必定出ない部分の情報量を軽減できる,データ収録量を最適化するためのシステムや,方法に関する。
特許第5023434号公報には,サンプリング周波数変換装置が記載されている。
特許第5023434号公報
上記のようにサンプリングする周波数を変化させる装置は,知られている。一方,例えば,ひずみゲージのように必要な情報を観測した時間が極めて短く,残りの時間の測定データはほぼ意味がないものがある。そのような場合に,測定した全ての時間のデータを同じ時間間隔で記憶し続けることは,記憶容量の無駄である。このため,不要なデータを減らし,データの収録量を最適化することが望ましい。
本発明は,データ収録量を最適化できるシステムや方法を提供することを目的とする。
上記の課題は,基本的には,あらかじめサンプリング条件を記憶させておき,測定データが記憶されたサンプリング条件と一致した場合に,サンプリング周波数を変化させることでサンプリング間隔を最適化することにより解決される。
本発明は,測定データサンプリングシステムに関する。
この測定データサンプリングシステムは,受信部3と,データ記憶部5と,サンプリング条件記憶部7と,サンプリング間隔制御部9と,サンプリングデータ取得部11と,サンプリングデータ記憶部13とを有する。
受信部3は,測定データを受信する要素である。
データ記憶部5は,受信部3が受信した測定データを記憶する要素である。
サンプリング条件記憶部7は,サンプリング間隔が異なる複数のサンプリングモードについて,サンプリング周波数と,サンプリング周波数を変化させるためのサンプリング条件とを記憶するための要素である。
サンプリング間隔制御部9は,測定データを解析し,サンプリング条件と比較することで,測定データに対するサンプリング間隔を制御するための要素である。
サンプリングデータ取得部11は,サンプリング間隔制御部9によって制御されたサンプリング間隔で,測定データに対するサンプリングデータを得るための要素である。
サンプリングデータ記憶部13は,サンプリングデータ取得部11が得たサンプリングデータを記憶する要素である。
この測定データサンプリングシステムは,以下のように動作する。
受信部3が受信した測定データをデータ記憶部5に記憶する。サンプリング間隔制御部9が,サンプリング条件に基づいて測定データを解析して,サンプリング間隔を制御する。
サンプリングデータ取得部11が,サンプリング間隔にて測定データをサンプリングしてサンプリングデータを得る。
そして,サンプリングデータ記憶部13が得られたサンプリングデータを記録する。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
つまり,複数のサンプリングモードは,第1のサンプリングモード及び第2のサンプリングモードを含む。
そして,サンプリング条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM1→2条件を含む。
1→2条件は,測定データの振幅又は振幅変動に関する第1の振幅閾値を超えることに関する第1の頻度閾値を含む。
この測定データサンプリングシステムは,所定の閾値を超えた場合にサンプリング間隔を変えるものに関する。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第1のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM2→1条件を含む。
そして,M2→1条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化した後所定時間を経過したことである。
サンプリングデータ取得部11は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化した後所定時間が経過した後に,第1のサンプリングモードでの測定データに対するサンプリングデータを得る。
この測定データサンプリングシステムは,時間が経過した場合にサンプリング間隔を変えるものに関する。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第3のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM2→3条件を含む。
そして,M2→3条件は,第2のサンプリングモードの状態において,測定データの振幅又は振幅変動に関する第2の振幅閾値を超えることに関する第2の頻度閾値を含む。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
受信部3は,第2の測定データをさらに受信する。
データ記憶部5は,第2の測定データをさらに記憶する。
サンプリング条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させるための条件である第2のM1→2条件を含む。
第2のM1→2条件は,第2の測定データの振幅又は振幅変動に関する第3の閾値を含む。
第2の測定データが第2のM1→2条件を満たした場合に,測定データのサンプリング条件を,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させる。
このシステムは,特に測定点が複数存在し,複数の測定点からの測定データが所定の場合に,測定周波数を変化させるものに関する。
本発明は,データ収録が必要な測定データを効率的に収録することで,データ収録量を最適化できるシステムや方法を提供できる。
図1は,測定データサンプリングシステムのブロック図である。 図2は,測定データ及びサンプリング周波数の例を示す概念図である。 図3は,測定データ,サンプリング周波数,測定データのサンプリング周波数及び収録データの例を示す概念図である。 図4は,複数の測定データに基づいてサンプリングを行う例に関し,測定データ,サンプリング周波数,測定データのサンプリング周波数及び収録データの例を示す概念図である。
以下,図面を用いて本発明を実施するための形態について説明する。本発明は,以下に説明する形態に限定されるものではなく,以下の形態から当業者が自明な範囲で適宜修正したものも含む。
図1は,測定データサンプリングシステムのブロック図である。図1に示されるように,この測定データサンプリングシステムは,受信部3と,データ記憶部5と,サンプリング条件記憶部7と,サンプリング間隔制御部9と,サンプリングデータ取得部11と,サンプリングデータ記憶部13とを有する。測定データサンプリングシステムは,1又は複数の測定機器と接続されている。そして,測定データサンプリングシステムは,測定機器から受け取った測定データを適切にサンプリングして記憶するためのシステムである。この測定データサンプリングシステムは,通常のコンピュータと同様に,入力部,出力部,演算部,制御部及び記憶部を有していてもよい。そして,各要素は,情報の授受を行うことができるようにバスなどで接続されている。制御部は,記憶部に記憶された制御プログラムの制御指令に基づき,入力部から入力されたデータや記憶部に記憶されたデータを読み出し,演算部に各種演算を行わせる。そして,演算部は,各種演算により求めた情報を記憶部に記憶させる。制御部は,記憶部に記憶した情報を出力部から出力する。このようにして,各種処理を行うことができるようにされていればよい。
受信部3は,測定データを受信する要素である。受信部3は,1又は複数の測定機器21と接続されている。測定機器の例は,各種センサである。センサの例は,ひずみゲージである。ひずみゲージは,観測期間に対し,一般的にひずみによる測定データが生ずる時間が極めて短い場合がある。このため,本発明は,1又は複数のひずみゲージから測定データを受け取り,サンプリングして収録するために効果的に用いることができる。受信部3は,無線により測定データを受け取るものであってもよいし,有線により測定データを受け取るものであってもよい。無線により測定データを受け取る場合の受信部3の例はアンテナである。
データ記憶部5は,受信部3が受信した測定データを記憶する要素である。データ記憶部5は,受信部3から情報を受け取ることができるようにバス23などの配線により接続されていればよい。データ記憶部5の例は,コンピュータにおける記憶装置であり,具体的な例は,ハードディスクやメモリである。
サンプリング条件記憶部7は,サンプリング間隔が異なる複数のサンプリングモードについて,サンプリング周波数と,サンプリング周波数を変化させるためのサンプリング条件とを記憶するための要素である。サンプリング条件記憶部7は,上記したコンピュータにおける記憶装置において,サンプリング条件を読み出すことができるように記憶されていればよい。
サンプリング周波数は,測定データを記憶する時間間隔である。サンプリング周波数の例は,1/100秒,1/60秒,1/30秒,1/10秒,1秒,1分,及び10分である。サンプリング条件は,測定データを各サンプリング周波数で格納するように変化させるための条件である。サンプリング条件の例については,後述する。
サンプリング間隔制御部9は,測定データを解析し,サンプリング条件と比較することで,測定データに対するサンプリング間隔を制御するための要素である。サンプリング間隔制御部9は,測定データをデータ記憶部5から読み出すとともに,サンプリング条件記憶部7からサンプリング条件を読み出して,サンプリング条件に合致したサンプリング周波数を求める。そして,サンプリング間隔制御部9は,求めたサンプリング周波数を適宜記憶部に記憶すればよい。
サンプリングデータ取得部11は,サンプリング間隔制御部9によって制御されたサンプリング間隔で,測定データに対するサンプリングデータを得るための要素である。サンプリングデータ取得部11は,記憶部に記憶されたサンプリング周波数を読み出し,測定データの内,所定の領域(時間領域やサンプリング条件を満たした領域)について,読み出したサンプリング周波数で,データをサンプリング(量子化)する。このようにすることで,連続的な測定データの記憶量を軽減できる。
サンプリングデータ記憶部13は,サンプリングデータ取得部11が得たサンプリングデータを記憶する要素である。例えば,測定データの変動が少ない領域については,小さいサンプリング周波数で,測定データをサンプリングすることで,格納データ量を大幅に軽減できる。また,例えば,ひずみが生じたといった観測したい部分を示す測定データについては,高いサンプリング周波数で測定データをサンプリングすることで,比較的精度高く,測定データをサンプリングできる。なお,測定データをサンプリングした後は,サンプリングした部分に対応するデータ記憶部5に記憶されたデータを削除すればよい。そのようにすることで,記憶装置におけるデータ容量を軽減できる。
この測定データサンプリングシステムは,以下のように動作する。受信部3が測定データを受信する。受信部3が,受信した測定データをデータ記憶部5に記憶する。サンプリング間隔制御部9が,データ記憶部5に記憶された測定データや,サンプリング条件記憶部7に記憶されたサンプリング条件を読み出す。サンプリング間隔制御部9が,サンプリング条件に基づいて測定データを解析して,サンプリング間隔を制御する。サンプリングデータ取得部11が,サンプリング間隔制御部9が求めたサンプリング間隔にて測定データをサンプリングしてサンプリングデータを得る。そして,サンプリングデータ記憶部13が,得られたサンプリングデータを記録する。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
つまり,複数のサンプリングモードは,第1のサンプリングモード及び第2のサンプリングモードを含む。そして,サンプリング条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM1→2条件を含む。M1→2条件は,測定データの振幅又は振幅変動に関する第1の振幅閾値を超えることに関する第1の頻度閾値を含む。この測定データサンプリングシステムは,所定の閾値を超えた場合にサンプリング間隔を変えるものに関する。閾値は,ユーザが適宜設定したものを記憶すればよい。また,閾値は,測定対象となるデータに関連するデータ(例えば従前のデータ)から予測したものや,関連するデータから閾値を求め,サンプリング条件記憶部7などの記憶部に記憶させればよい。
図2に基づいてこのサンプリング条件について説明する。図2は,測定データ及びサンプリング周波数の例を示す概念図である。この測定データは,連続的である。図2の横軸は時間を示し,縦軸は振幅を示す。つまり,対象の挙動は,測定データの振幅として表れている。図2に示される例では,第1のサンプリングモードのサンプリング周波数は,第2のサンプリングモードのサンプリング周波数に比べて小さい。つまり,振幅変動が大きい部分について,短い時間間隔で,測定データを残すものに関する。サンプリング条件記憶部7は,M1→2条件と,第1のサンプリングモードのサンプリング周波数や,第2のサンプリングモードのサンプリング周波数,及び第2のサンプリングモードの継続時間を記憶している。そして,サンプリング間隔制御部9は,測定データを解析し,測定データとM1→2条件とを比較する。図2の例では,M1→2条件は,振幅又は振幅変動(所定時間内における振幅の変化の量)が,所定の値(閾値)を超えたことである。所定の時間や継続時間は,データの種類により適切な値が異なるので,ユーザが入力したものを記憶してもよいし,関連するデータを分析し,あらかじめ適切な時間を求めておいて,サンプリング条件記憶部7などの記憶部に記憶させればよい。そのような時間の例は,サンプリング周波数の例と同様である。
サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第1のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM2→1条件を含む。そして,M2→1条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化した後所定時間を経過したことである。サンプリングデータ取得部11は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化した後所定時間が経過した後に,第1のサンプリングモードで測定データに対するサンプリングデータを得る。図2の例では,M1→2条件を満たした際に,サンプリング周波数が,第1のサンプリングモードのサンプリング周波数から,第2のサンプリングモードのサンプリング周波数へと切り替えられ,あらかじめ記憶しておいた継続時間分,第2のサンプリングモードが続いている。なお,サンプリング間隔制御部9は,M1→2条件を満たし続ける間,測定データを第2のサンプリングモードのサンプリング周波数でサンプリングしてもよい。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第3のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM2→3条件を含む。そして,M2→3条件は,第2のサンプリングモードの状態において,測定データの振幅又は振幅変動に関する第2の振幅閾値を超えることに関する第2の頻度閾値を含む。
図3に基づいてこのサンプリング条件について説明する。図3は,測定データ,サンプリング周波数,測定データのサンプリング周波数及び収録データの例を示す概念図である。この測定データは,連続的である。図3の横軸は時間を示し,縦軸は振幅を示す。つまり,対象の挙動は,測定データの振幅として表れている。図3に示される例では,第1のサンプリングモードのサンプリング周波数は,第2のサンプリングモードのサンプリング周波数に比べて小さい。そして,第3のサンプリングモードのサンプリング周波数は,第1及び第2のサンプリングモードの周波数の中間の値である。図3の例では,測定データが,正に第1の閾値(M1→2条件)を超えた際に,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへ変化する。そして,第2のサンプリングモードの期間中に,振幅の減少が第2の閾値(M2→3条件)を超えた際に,第2のサンプリングモードから第3のサンプリングモードへ変化する。なお,図3に示される例では,第3のサンプリングモードにおいて,振幅変動が所定の閾値より小さくなった場合に,第1のサンプリングモードへと変化している。図3には,測定データのサンプリング周波数,各モードのサンプリング周波数,各モードにてサンプリングを行ったサンプリングデータ記憶部13への収録データが記載されている。
この測定データサンプリングシステムの好ましいものは,以下のとおりである。
受信部3は,第1の測定データのみならず,第2の測定データを受信する。データ記憶部5は,第1の測定データのみならず,第2の測定データをさらに記憶する。
サンプリング条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させるための条件である第2のM1→2条件を含む。サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第1のサンプリングモードへと変化させるための条件である第2のM2→1条件をさらに含んでもよい。
第2のM1→2条件は,第2の測定データの振幅又は振幅変動に関する第3の閾値を含む。
サンプリング間隔制御部9は,測定データをデータ記憶部5から読み出すとともに,サンプリング条件記憶部7からサンプリング条件を読み出して,サンプリング条件に合致したサンプリング周波数を求める。具体的に説明すると,サンプリング間隔制御部9は,データ記憶部5から測定データを読み出すとともに,サンプリング条件記憶部7から第2のM1→2条件及び第2のM2→1条件を読み出す。そして,サンプリング間隔制御部9は,測定データを解析し,第2のM1→2条件及び第2のM2→1条件と比較する。このようにして,測定データに対するサンプリングモードを決定し,サンプリング間隔を制御すればよい。例えば,第2の測定データが第2のM1→2条件を満たした場合に,第1の測定データのサンプリング条件を,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させる。そして,サンプリング間隔制御部9は,求めたサンプリング周波数を適宜記憶部に記憶すればよい。このシステムは,特に測定点が複数存在し,複数の測定点からの測定データが所定の場合に,測定周波数を変化させるものに関する。
図4に基づいてこのサンプリング条件について説明する。図4は,複数の測定データに基づいてサンプリングを行う例に関し,測定データ,サンプリング周波数,測定データのサンプリング周波数及び収録データの例を示す概念図である。この測定データは,連続的である。図4の横軸は時間を示し,縦軸は振幅を示す。つまり,対象の挙動は,測定データの振幅として表れている。図4に示される例では,入力1が第2の測定データ,入力2が測定データに対応する。そして,第1のサンプリングモードのサンプリング周波数は,第2のサンプリングモードのサンプリング周波数に比べて小さい。入力1(第2の測定データ)の振幅又は振幅変動が正に所定の閾値を超えた場合に,入力2(第1の測定データ)のサンプリングモードが第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化する。一方,第2のサンプリングモード中に,入力1の振幅又は振幅変動が負に所定の閾値以上変動した場合,入力2(第1の測定データ)のサンプリングモードが第2から第1へと変化する。図4には,上記のようにサンプリング周波数を制御した際の,入力2の収録データも記載されている。図4に示されるように,感度の高い測定データ(入力1)に基づいて,感度の低い測定データ(入力2)のサンプリング周波数を制御することで,振幅が小さい変動の測定データに関しても,最適なサンプリングを行うことができることとなる。
本発明は,測定機器の分野にて利用されうる。
3 受信部
5 データ記憶部
7 サンプリング条件記憶部
9 サンプリング間隔制御部
11 サンプリングデータ取得部
13 サンプリングデータ記憶部
21 測定機器
23 バス

Claims (6)

  1. 測定データを受信する受信部(3)と,
    前記受信部(3)が受信した測定データを記憶するデータ記憶部(5)と,
    サンプリング間隔が異なる複数のサンプリングモードについて,サンプリング周波数と,サンプリング周波数を変化させるためのサンプリング条件とを記憶するサンプリング条件記憶部(7)と,
    前記測定データを解析し,前記サンプリング条件と比較することで,前記測定データに対するサンプリング間隔を制御するサンプリング間隔制御部(9)と,
    前記サンプリング間隔制御部(9)によって制御されたサンプリング間隔で,前記測定データに対するサンプリングデータを得るサンプリングデータ取得部(11)と,
    前記サンプリングデータ取得部(11)が得たサンプリングデータを記憶するサンプリングデータ記憶部(13)と,
    を有し,
    前記受信部(3)が受信した測定データを前記データ記憶部(5)に記憶し,前記サンプリング間隔制御部(9)がサンプリング条件に基づいて前記測定データを解析して,サンプリング間隔を制御し,サンプリングデータ取得部(11)が,前記サンプリング間隔にて前記測定データをサンプリングしてサンプリングデータを得て,前記サンプリングデータ記憶部(13)が得られた前記サンプリングデータを記録する,
    測定データサンプリングシステム。
  2. 請求項1に記載の測定データサンプリングシステムであって,
    前記複数のサンプリングモードは,第1のサンプリングモード及び第2のサンプリングモードを含み,
    前記サンプリング条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM1→2条件を含み,
    1→2条件は,前記測定データの振幅又は振幅変動に関する第1の振幅閾値を超えることに関する第1の頻度閾値を含む,システム。
  3. 請求項2に記載の測定データサンプリングシステムであって,
    前記サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第1のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM2→1条件を含み,
    2→1条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化した後所定時間を経過したことであり,
    サンプリングデータ取得部(11)は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化した後所定時間が経過した後に,第1のサンプリングモードで前記測定データに対するサンプリングデータを得る,システム。
  4. 請求項2に記載の測定データサンプリングシステムであって,
    前記サンプリング条件は,第2のサンプリングモードから第3のサンプリングモードへと変化させるための条件であるM2→3条件を含み,
    2→3条件は,第2のサンプリングモードの状態において,前記測定データの振幅又は振幅変動に関する第2の振幅閾値を超えることに関する第2の頻度閾値を含む,システム。
  5. 請求項2に記載の測定データサンプリングシステムであって,
    前記受信部(3)は,第2の測定データをさらに受信し,
    前記データ記憶部(5)は,第2の測定データをさらに記憶し,
    前記サンプリング条件は,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させるための条件である第2のM1→2条件を含み,
    第2のM1→2条件は,前記第2の測定データの振幅又は振幅変動に関する第3の閾値を含み,
    第2の測定データが前記第2のM1→2条件を満たした場合に,前記測定データのサンプリング条件を,第1のサンプリングモードから第2のサンプリングモードへと変化させる,
    システム。
  6. 受信した測定データをデータ記憶部(5)が記憶し,
    サンプリング間隔制御部(9)が,サンプリング条件に基づいて前記測定データを解析して,サンプリング間隔を制御し,
    サンプリングデータ取得部(11)が,前記サンプリング間隔にて前記測定データをサンプリングしてサンプリングデータを得て,
    サンプリングデータ記憶部(13)が得られた前記サンプリングデータを記録する,
    測定データサンプリング方法。
JP2017244535A 2017-12-20 2017-12-20 データ収録量を最適化する方法 Pending JP2019113318A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017244535A JP2019113318A (ja) 2017-12-20 2017-12-20 データ収録量を最適化する方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017244535A JP2019113318A (ja) 2017-12-20 2017-12-20 データ収録量を最適化する方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019113318A true JP2019113318A (ja) 2019-07-11

Family

ID=67222474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017244535A Pending JP2019113318A (ja) 2017-12-20 2017-12-20 データ収録量を最適化する方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2019113318A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014219244A (ja) * 2013-05-07 2014-11-20 日置電機株式会社 測定装置
JP2016522049A (ja) * 2013-05-31 2016-07-28 ナイキ イノベイト シーブイ 動的サンプリング

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014219244A (ja) * 2013-05-07 2014-11-20 日置電機株式会社 測定装置
JP2016522049A (ja) * 2013-05-31 2016-07-28 ナイキ イノベイト シーブイ 動的サンプリング

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101277426B1 (ko) A/d 변환 장치 및 프로그래머블 컨트롤러 시스템
JP6374466B2 (ja) センサインタフェース装置、測定情報通信システム、測定情報通信方法、及び測定情報通信プログラム
JP2017135673A (ja) 信号処理装置、信号処理装置の制御方法、制御プログラム、および記録媒体
JP2011069821A (ja) ランダムノイズ信号の検出及びフィルタリング方法
JP6714462B2 (ja) 無線センサ端末、無線センサシステムおよびセンサデータ収集方法
JP6611991B1 (ja) 状態監視装置
JP2008171285A (ja) センサシステム及び当該センサシステムにより測定する方法
JP2019113318A (ja) データ収録量を最適化する方法
US10893341B2 (en) Data transmission device, non-transitory computer readable medium, and data reception device
JP6616251B2 (ja) 無線センサ端末、無線センサシステムおよびセンサデータ収集方法
JP4756347B2 (ja) 波形測定装置
JP5365288B2 (ja) 記録装置
US10571438B2 (en) Structural health monitoring and baseline deviation assessment
JP7266376B2 (ja) 波形表示装置及び波形表示プログラム
TW201908744A (zh) 處理連續感測器訊號的方法和感測器系統
JP2019117083A (ja) 振動解析システム、および振動解析方法
US20220232511A1 (en) Data collection device, signal generation position identification system, data collection method, signal generation position identification method, and program
JP6977597B2 (ja) 記録装置及び記録方法
JP2008171284A (ja) センサシステム及び当該センサシステムにより測定する方法
CN109580196A (zh) 桥梁阻尼器减震监测系统及方法
JP2006317362A (ja) データ圧縮型記録装置
KR101583705B1 (ko) 다대역 주파수 모니터링 방법
JP6811168B2 (ja) 電源劣化判定方法、電源劣化評価方法、電源劣化判定装置、電源劣化評価装置、およびプログラム
US10594874B2 (en) Malfunction determining apparatus, malfunction determining system, malfunction determining method, and recording medium
US20220335964A1 (en) Model generation method, model generation apparatus, and program

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200930

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210803

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20220222