JP2019086455A - データ処理装置及びデータ処理方法 - Google Patents
データ処理装置及びデータ処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019086455A JP2019086455A JP2017216301A JP2017216301A JP2019086455A JP 2019086455 A JP2019086455 A JP 2019086455A JP 2017216301 A JP2017216301 A JP 2017216301A JP 2017216301 A JP2017216301 A JP 2017216301A JP 2019086455 A JP2019086455 A JP 2019086455A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- end point
- peak area
- spectrum
- data processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/227—Measuring photoelectric effect, e.g. photoelectron emission microscopy [PEEM]
- G01N23/2273—Measuring photoelectron spectrum, e.g. electron spectroscopy for chemical analysis [ESCA] or X-ray photoelectron spectroscopy [XPS]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Description
る取得部と、前記スペクトルにおいてバックグラウンド除去の対象とするエネルギー範囲を設定し、設定した前記エネルギー範囲に基づいて前記スペクトルのバックグラウンドを除去するデータ処理部とを含み、前記データ処理部は、前記スペクトルの最大点に前記エネルギー範囲の一方の端点を仮設定し、前記スペクトルの最大エネルギー点又は最小エネルギー点に前記エネルギー範囲の他方の端点を仮設定し、前記一方の端点を前記他方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積を求め、当該ピーク面積が最大となる点を前記一方の端点として確定し、前記スペクトルの最大点に前記他方の端点を仮設定し、前記他方の端点を前記一方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積を求め、当該ピーク面積が最大となる点を前記他方の端点として確定する。
ネルギー範囲をより適切に決定することができる。
図1に、本実施形態に係るデータ処理装置の機能ブロック図の一例を示す。なお本実施形態のデータ処理装置は図1の構成要素(各部)の一部を省略した構成としてもよい。
含んでいる。
次に本実施形態の手法について図面を用いて説明する。ここでは、バックグラウンド除去後の値が極力負とならない位置にバックグラウンド除去範囲の境界を設定するための2つの方法について説明する。
第1の手法では、バックグラウンド除去後のピーク面積が境界内で最大となる点を、バックグラウンド除去範囲の境界(開始点、終了点)として設定する。
(一方の端点)を仮設定し、スペクトルの最大エネルギー点にバックグラウンド除去範囲の終了点(他方の端点)を仮設定する(ステップS12)。次に、データ処理部24は、開始点を低エネルギー側(他方の端点から遠ざかる方向)に変化させながら、バックグラウンド除去後の開始点‐終了点(ステップS12で仮設定した終了点)間のピーク面積を算出し(ステップS13)、算出したピーク面積が最大となる点を開始点として確定する(ステップS14)。バックグラウンド除去後の開始点‐終了点間のピーク面積とは、開始点‐終了点間のスペクトルから、開始点‐終了点間でShirley法又は線形法により決定したバックグラウンドを差し引いた面積である。
第2の手法では、バックグラウンド除去によって値が負となる領域のピーク面積が最大
(最も0に近い値)となる点を、バックグラウンド除去範囲の境界(開始点、終了点)として設定する。但し、値が負となる領域のピーク面積が最大となる点が複数存在する場合には、第1の手法と同様に、バックグラウンド除去後の開始点‐終了点間のピーク面積が最大となる点を、バックグラウンド除去範囲の境界として設定する。
り適切に自動で決定することができる。
Claims (5)
- 分光分析装置で測定されたスペクトルを取得する取得部と、
前記スペクトルにおいてバックグラウンド除去の対象とするエネルギー範囲を設定し、設定した前記エネルギー範囲に基づいて前記スペクトルのバックグラウンドを除去するデータ処理部とを含み、
前記データ処理部は、
前記スペクトルの最大点に前記エネルギー範囲の一方の端点を仮設定し、前記スペクトルの最大エネルギー点又は最小エネルギー点に前記エネルギー範囲の他方の端点を仮設定し、前記一方の端点を前記他方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積を求め、当該ピーク面積が最大となる点を前記一方の端点として確定し、
前記スペクトルの最大点に前記他方の端点を仮設定し、前記他方の端点を前記一方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積を求め、当該ピーク面積が最大となる点を前記他方の端点として確定する、データ処理装置。 - 請求項1において、
前記データ処理部は、
前記一方の端点を前記他方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積とバックグラウンド除去によって値が負となる領域のピーク面積とを求め、前記値が負となる領域のピーク面積が最大となる点が複数存在する場合には、バックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積が最大となる点を前記一方の端点として確定し、前記値が負となる領域のピーク面積が最大となる点が1つのみ存在する場合には、前記値が負となる領域のピーク面積が最大となる点を前記一方の端点として確定し、
前記他方の端点を前記一方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積とバックグラウンド除去によって値が負となる領域のピーク面積とを求め、前記値が負となる領域のピーク面積が最大となる点が複数存在する場合には、バックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積が最大となる点を前記他方の端点として確定し、前記値が負となる領域のピーク面積が最大となる点が1つのみ存在する場合には、前記値が負となる領域のピーク面積が最大となる点を前記他方の端点として確定する、データ処理装置。 - 請求項1又は2において、
前記データ処理部は、
前記スペクトルを平滑化する処理を行った後、前記エネルギー範囲を設定する、データ処理装置。 - 請求項1乃至3のいずれか1項において、
前記データ処理部は、
前記スペクトルの最大エネルギー点及び最小エネルギー点を除く範囲において前記スペクトルの最大点を検出する、データ処理装置。 - 分光分析装置で測定されたスペクトルを取得する取得ステップと、
前記スペクトルにおいてバックグラウンド除去の対象とするエネルギー範囲を設定し、設定した前記エネルギー範囲に基づいて前記スペクトルのバックグラウンドを除去するデータ処理ステップとを含み、
前記データ処理ステップでは、
前記スペクトルの最大点に前記エネルギー範囲の一方の端点を仮設定し、前記スペクト
ルの最大エネルギー点又は最小エネルギー点に前記エネルギー範囲の他方の端点を仮設定し、前記一方の端点を前記他方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積を求め、当該ピーク面積が最大となる点を前記一方の端点として確定し、
前記スペクトルの最大点に前記他方の端点を仮設定し、前記他方の端点を前記一方の端点から遠ざかる方向に変化させながらバックグラウンド除去後の前記エネルギー範囲のピーク面積を求め、当該ピーク面積が最大となる点を前記他方の端点として確定する、データ処理方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017216301A JP6887935B2 (ja) | 2017-11-09 | 2017-11-09 | データ処理装置及びデータ処理方法 |
EP18205263.9A EP3486641B1 (en) | 2017-11-09 | 2018-11-08 | Data processing apparatus and data processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017216301A JP6887935B2 (ja) | 2017-11-09 | 2017-11-09 | データ処理装置及びデータ処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019086455A true JP2019086455A (ja) | 2019-06-06 |
JP6887935B2 JP6887935B2 (ja) | 2021-06-16 |
Family
ID=64664012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017216301A Active JP6887935B2 (ja) | 2017-11-09 | 2017-11-09 | データ処理装置及びデータ処理方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3486641B1 (ja) |
JP (1) | JP6887935B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111239175B (zh) * | 2020-03-12 | 2021-04-27 | 福州大学 | 三维拓扑绝缘体Bi2Te3上下表面态光致反常霍尔电流区分方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05264484A (ja) * | 1992-03-18 | 1993-10-12 | Jeol Ltd | Epma等における特性x線のピーク位置及びバックグラウンド位置検出方法及びそのための装置 |
JPH11316199A (ja) * | 1998-05-06 | 1999-11-16 | Shimadzu Corp | 半導体検出器のx線スペクトルのピーク強度計算方法 |
KR101440236B1 (ko) * | 2013-06-13 | 2014-09-12 | 전북대학교산학협력단 | X선 형광 분석 방법 및 이를 위한 백그라운드 제거 방법 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08110313A (ja) | 1994-10-11 | 1996-04-30 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Xps定量分析法 |
US20050285023A1 (en) * | 2004-06-23 | 2005-12-29 | Lambda Solutions, Inc. | Automatic background removal for input data |
WO2014094039A1 (en) * | 2012-12-19 | 2014-06-26 | Rmit University | A background correction method for a spectrum of a target sample |
-
2017
- 2017-11-09 JP JP2017216301A patent/JP6887935B2/ja active Active
-
2018
- 2018-11-08 EP EP18205263.9A patent/EP3486641B1/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05264484A (ja) * | 1992-03-18 | 1993-10-12 | Jeol Ltd | Epma等における特性x線のピーク位置及びバックグラウンド位置検出方法及びそのための装置 |
JPH11316199A (ja) * | 1998-05-06 | 1999-11-16 | Shimadzu Corp | 半導体検出器のx線スペクトルのピーク強度計算方法 |
KR101440236B1 (ko) * | 2013-06-13 | 2014-09-12 | 전북대학교산학협력단 | X선 형광 분석 방법 및 이를 위한 백그라운드 제거 방법 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
西澤 侑吾ほか: "初期端点の自動調整機能を付加したactive Shirley法によるXPSバックグラウンドの自動推定", JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS, vol. Vol.24 No.1 (2017), JPN7021001420, 31 October 2017 (2017-10-31), JP, pages 36 - 46, ISSN: 0004495481 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3486641B1 (en) | 2021-04-07 |
JP6887935B2 (ja) | 2021-06-16 |
EP3486641A1 (en) | 2019-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6094684B2 (ja) | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 | |
Yu et al. | Chemometric strategy for automatic chromatographic peak detection and background drift correction in chromatographic data | |
JP5375411B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析データ解析方法及び装置 | |
JP6088177B2 (ja) | 解析装置、解析方法、プログラム | |
JP6465121B2 (ja) | 分析データ処理方法及び装置 | |
JPWO2017094170A1 (ja) | ピーク検出方法及びデータ処理装置 | |
CN109996269A (zh) | 一种无线通信网络异常原因确定方法、装置、设备及介质 | |
WO2018134952A1 (ja) | 分析データ解析方法および分析データ解析装置 | |
Zhang et al. | A new approach to analysis of surface topography | |
Krishnan et al. | Instrument and process independent binning and baseline correction methods for liquid chromatography–high resolution-mass spectrometry deconvolution | |
JP5757264B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析データ処理装置 | |
US10359404B2 (en) | Noise level estimation method, measurement data processing device and program for processing measurement data | |
Seraj et al. | Robust electroencephalogram phase estimation with applications in brain-computer interface systems | |
JP6748085B2 (ja) | 干渉検出および着目ピークのデコンボルーション | |
JP2017129534A (ja) | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム | |
JP2019086455A (ja) | データ処理装置及びデータ処理方法 | |
WO2014064790A1 (ja) | 包括的2次元クロマトグラフ用データ処理装置 | |
JP5947567B2 (ja) | 質量分析システム | |
WO2017208304A1 (ja) | ピーク検出方法及びデータ処理装置 | |
CN104062498A (zh) | 对称频谱信号的中心频率的质心估计方法 | |
Rodgers et al. | Peakmatch: A Java program for multiplet analysis of large seismic datasets | |
Wenig | Post-optimization of Py-GC/MS data: A case study using a new digital chemical noise reduction filter (NOISERA) to enhance the data quality utilizing OpenChrom mass spectrometric software | |
JP2008002895A (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
JP2016173346A (ja) | マススペクトルデータ処理装置 | |
Liu et al. | A survey of the baseline correction algorithms for real-time spectroscopy processing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200717 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210414 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210427 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210519 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6887935 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |