JP2019074391A - 質量分析用データ処理装置及び質量分析用データ処理方法 - Google Patents
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Abstract
Description
<質量分析装置>
図1は、本発明の一実施形態の質量分析装置の概略を示す構成図である。図1に示す第1の実施の形態に係る質量分析装置1は、クロマトグラフで分離した試料成分を順次に質量分析するものであって、試料分離部101及び質量分析部102と共に、第1の実施の形態の質量分析用データ処理装置1aを備える。以下、質量分析装置1が備えるこれらの構成要素の詳細を説明する。
試料分離部101は、分析対象となる混合物試料を成分毎に分離するクロマトグラフの一例である。この試料分離部101は、分析対象となる混合物試料を導入するための試料導入部101aと、試料導入部101aから導入された試料を成分毎に分離するためのカラム101bとを備える。カラム101bは、試料導入部101aから導入された試料を通過させる固定相が充填されたものである。固定相を通過する速度に応じて時間的に分離された成分は、各成分に固有の保持時間[RT:Retention Time]で質量分析部102に供給される。
質量分析部102は、試料分離部101で分離され、時間差を持って供給される各成分を順次にイオン化し、イオン化した各成分のイオンをさらに質量電荷比[m/z]に応じて分離して検出する。質量分析部102は、イオン化部102aと質量分離部102bと検出器102cとを備える。
質量分析用データ処理装置1aは、試料に含まれる化合物が定量分析の対象となる定量対象化合物であることを同定するための定性分析を行うとともに、定量対象化合物の濃度が所定の基準値を超えるか否かを確認するスクリーニングを行う。そして、スクリーニングの結果、定量対象化合物の濃度が所定の基準値濃度を超えたことが検知された場合には、その旨を、音声等でユーザーに報知する。本実施形態の質量分析用データ処理装置1aは、例えば、未知の試料中における爆発物や汚染物質等の含有量(濃度)が、許容範囲内の量、すなわち、基準値以下の量であるか否かを判定することを要する装置等に適用することができる。
(1)定量対象化合物を含む標準試料を測定する。
(2)予め設定された定量条件と、(1)で行った標準試料の測定結果を用いて、標準試料の定性分析を行う。
(3)(2)で行った標準試料の定性分析の結果得られた実測値と、定量条件に基づいて行った定量分析の測定値とを用いて、スクリーニング条件を作成する。なお、スクリーニング条件設定部14によるスクリーニング条件の作成処理の詳細については、質量分析用データ処理装置1aにより行われるメイン処理の手順を示す図5を参照して詳述する。
・化合物名
・保持時間[RT]
・定量イオンの質量電荷比[m/z]
・基準値
・ピーク検出時間範囲
・化合物名
・保持時間[RT]の実測値
・定量イオンの質量電荷比[m/z]
・ピーク検出時間範囲
・ピーク強度
・標準物質濃度
・基準値
・基準値ライン強度
次に、図4を参照して、表示部20の画面の表示領域の構成例について説明する。図4は、表示部20の画面の表示領域の構成例を示す説明図である。
・保持時間[RT](分)
・定量イオンの質量電荷比[m/z](図においては「定量イオン」と表記)
・ピーク検出時間範囲(分)
・標準物質濃度(ppm)
・ピーク強度(ピークの高さ)
・基準値(ppm)
・基準値ライン強度
・検出結果
次に、図5〜図7を参照して、本実施形態に係る質量分析用データ処理装置1aによる質量分析用データ処理手法について説明する。図5は、本実施形態に係る質量分析用データ処理装置1aによる質量分析用データ処理のメイン処理の手順を示すフローチャートである。図6及び図7は、質量分析用データ処理のメイン処理において実行されるスクリーニングの手順を示すフローチャートである。
次に、図6及び図7を参照して、図5のステップS5で実行されるスクリーニングの処理内容について説明する。
上記実施形態では、スクリーニング条件設定部14によって、定量対象化合物を含む標準試料の濃度に対する基準値の高さに相当する基準値ライン強度が設定される。そして、画像データ作成部17によって、定量対象化合物の定量イオンの抽出イオンクロマトグラムを表示した画面上に、基準値ライン強度に対応する基準値強度ラインを重畳して表示するための画像データが作成される。それゆえ、上記実施形態によれば、定量対象化合物の定量イオンの強度が所定の基準値(閾値)を超えているか否かの情報を、定量対象化合物の定量イオンの抽出イオンクロマトグラムと対応させて確認することができる。
Claims (6)
- クロマトグラフによって保持時間に応じて分離した試料成分を順次質量分析して得られたデータに基づいて、前記試料成分の同定及び定量を行うための質量分析用データ処理装置であって、
定量対象化合物の定量イオンの抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部と、
前記定量イオンに対して設定された所定の基準値の強度の、前記定量対象化合物を含む標準試料の濃度に対する高さに相当する基準値ライン強度を設定するスクリーニング条件設定部と、
前記抽出イオンクロマトグラムを表示した画面上に前記基準値ライン強度に対応する基準値強度ラインを重畳して表示するための画像データを作成する画像データ作成部と、
前記抽出イオンクロマトグラムが生成されている前記定量対象化合物の定量イオンの強度が前記基準値ライン強度を超えたか否かをスクリーニングするとともに、前記定量イオンの強度が前記基準値を超えた場合にその旨を報知するスクリーニング部と、を備える
質量分析用データ処理装置。 - 前記スクリーニング条件設定部は、既知の単一の濃度の対象成分を含む1つの標準試料を測定し、前記標準試料の測定結果を用いて前記基準値ライン強度の設定を行う
請求項1に記載の質量分析用データ処理装置。 - 前記スクリーニング部は、前記定量対象化合物に対して予め設定された、前記定量対象化合物の保持時間を中心とする前後所定の時間幅を含むピーク検出時間範囲において、前記定量対象化合物の定量イオンのピークサーチを行い、
前記画像データ作成部は、前記スクリーニング部で前記定量イオンのピークサーチが行われている抽出イオンクロマトグラムを前記画面に表示させるための画像データを作成する
請求項1又は2に記載の質量分析用データ処理装置。 - 前記試料成分が前記定量対象化合物であることを同定する同定部をさらに備え、
前記同定部は、前記ピーク検出時間範囲内で前記定量対象化合物の定量イオンのピークを検出した場合に、前記ピークが検出された化合物を前記定量対象化合物と同定する
請求項3に記載の質量分析用データ処理装置。 - 前記同定部は、前記定量対象化合物の定量イオンの強度に対する参照イオンの強度の比を示すI/Q比の実測値である実測I/Q比と、前記定量対象化合物の定量を行うための定量条件に設定されたI/Q比である設定I/Q比とを比較し、
前記比較の結果得られる両I/Q比の差が予め設定された許容誤差の範囲に収まっている場合、及び/又は、前記ピーク検出時間範囲内で前記定量対象化合物の定量イオンのピークを検出した場合に、測定中の化合物が定量対象化合物であると同定する
請求項4に記載の質量分析用データ処理装置。 - クロマトグラフによって保持時間に応じて分離した試料成分を順次質量分析して得られたデータに基づいて、前記試料成分の同定及び定量を行うための質量分析用データ処理方法であって、
定量対象化合物の定量イオンの抽出イオンクロマトグラムを作成することと、
前記定量イオンに対して設定された所定の基準値の強度の、前記定量対象化合物を含む標準試料の濃度に対する高さに相当する基準値ライン強度を設定することと、
前記抽出イオンクロマトグラムを表示した画面上に前記基準値ライン強度に対応する基準値強度ラインを重畳して表示するための画像データを作成することと、 前記抽出イオンクロマトグラムが生成されている前記定量対象化合物の定量イオンの強度が前記基準値ライン強度を超えたか否かをスクリーニングするとともに、前記定量イオンの強度が前記基準値を超えた場合にその旨を報知することと、を含む
質量分析用データ処理方法。
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