JP2019053481A - 情報処理システムおよび情報処理方法 - Google Patents
情報処理システムおよび情報処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019053481A JP2019053481A JP2017176705A JP2017176705A JP2019053481A JP 2019053481 A JP2019053481 A JP 2019053481A JP 2017176705 A JP2017176705 A JP 2017176705A JP 2017176705 A JP2017176705 A JP 2017176705A JP 2019053481 A JP2019053481 A JP 2019053481A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- item
- risk
- evaluation
- product
- items
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims abstract description 68
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 38
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 84
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 54
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 11
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 230000008520 organization Effects 0.000 claims 1
- 238000011161 development Methods 0.000 abstract description 24
- 238000013461 design Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q10/00—Administration; Management
- G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
- G06Q10/063—Operations research, analysis or management
- G06Q10/0637—Strategic management or analysis, e.g. setting a goal or target of an organisation; Planning actions based on goals; Analysis or evaluation of effectiveness of goals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2846—Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
- G06F17/10—Complex mathematical operations
- G06F17/15—Correlation function computation including computation of convolution operations
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q10/00—Administration; Management
- G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q10/00—Administration; Management
- G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
- G06Q10/063—Operations research, analysis or management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q10/00—Administration; Management
- G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
- G06Q10/063—Operations research, analysis or management
- G06Q10/0635—Risk analysis of enterprise or organisation activities
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q10/00—Administration; Management
- G06Q10/10—Office automation; Time management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q50/00—Information and communication technology [ICT] specially adapted for implementation of business processes of specific business sectors, e.g. utilities or tourism
- G06Q50/04—Manufacturing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2812—Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2111/00—Details relating to CAD techniques
- G06F2111/20—Configuration CAD, e.g. designing by assembling or positioning modules selected from libraries of predesigned modules
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Business, Economics & Management (AREA)
- Human Resources & Organizations (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Strategic Management (AREA)
- Economics (AREA)
- Entrepreneurship & Innovation (AREA)
- General Business, Economics & Management (AREA)
- Tourism & Hospitality (AREA)
- Marketing (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Educational Administration (AREA)
- Operations Research (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Development Economics (AREA)
- Game Theory and Decision Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Primary Health Care (AREA)
- Geometry (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Computational Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Algebra (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
Description
図1は、第1実施形態に係る情報処理システムの構成を表すブロック図である。
第1実施形態に係る情報処理システム1は、例えば、既存製品と仕様が異なる新規製品の設計及び開発を行う際に用いられる。例えば、顧客からの要求に基づき既存製品のある仕様を向上させる場合に用いられる。
記憶部13は、例えば図2に表した相関情報を記憶している。この相関情報は、仕様項目群100と、要素項目群200と、リスク項目群300と、を含む。相関情報は、例えば、あらかじめ入力部11を用いて情報処理システム1に入力され、記憶部13に記憶される。
図3に表したフローチャートは、第1実施形態に係る情報処理方法に対応する。
ここでは、情報処理システム1が、図2に表した相関情報を用いる場合を例に説明する。
図4は、第1実施形態に係る情報処理システムの他の動作を表すフローチャートである。
図5は、リスク情報の一例を表す表である。
図6は、第2実施形態に係る情報処理システムの構成を表すブロック図である。
第2実施形態に係る情報処理システム2は、製造要素を変更した後の新規製品において、仕様が未達となるリスクがどの程度存在するか見積もるために用いることができる。
図7は、評価項目および特性値を例示する表である。
この例では、特性値群は、第1特性値および第2特性値に加え、第3特性値をさらに含む。第3特性値は、新規製品の評価に関する第3評価項目の特性を表す。第3評価項目は、例えば、第1群から選択される別の1つである。
評価数は、評価を行った試作品やシミュレーションの数(回数)である。評価数が増えるほど、性能の繰り返し再現性や性能のばらつきをより正確に評価することができる。シミュレーションの解析結果に基づいて評価を行う場合は、寸法、特性、またはそれらの組み合わせなどのばらつきをパラメータとしてシミュレーションを実施することが望ましい。評価数を評価項目として用いる場合、例えば、評価数が多いほど、高い特性値が設定される。
また、評価期間は、実験やシミュレーションなどを用いた新規製品の評価に要する期間を表す。評価に要する期間が長いほど、開発期間が延びる可能性が高まる。そのため、評価期間が長いほど、その新規製品の設計及び開発におけるリスクが高まる。従って、評価期間を評価項目として用いる場合、例えば、評価期間が長いほど、低い特性値が設定される。
また、新規製品の設計及び開発には、コストを要する。例えば、新規製品のために変更する製造要素が決定された後は、それに伴う設計及び開発に要するコストの見積りが行われる。このコストが高いほど、その新規製品の設計及び開発におけるリスクが高まる。従って、評価コストを評価項目として用いる場合、例えば、推定されるコストが高いほど、低い特性値が設定される。
図8は、第2実施形態に係る情報処理システムの動作を表すフローチャートである。
このフローチャートは、第2実施形態に係る情報処理方法に対応する。
第2実施形態によれば、新規製品について、特性値群を入力することで、新規製品において第1リスクが生じる可能性を示す予測値を得ることができる。従って、この予測値を確認することで、新規製品において、第1リスクが生じる可能性を確認することができる。例えば第1リスクが高い場合は、開発を進めても、第1リスクが顕在化し、新規製品が第1リスクに関する仕様を達成できない可能性が高い。このため、早い段階で製造要素のさらなる設計変更を行うなどの対応を行うことが考えられる。この結果、設計や開発のやり直し等の発生を抑制し、効率的な設計および開発が可能となる。
第1実施形態に係る情報処理システム1において、第2実施形態に係る情報処理システム2と同様の動作がさらに実行されても良い。すなわち、入力部11、処理部12、記憶部13、および出力部14が、それぞれ、さらに、入力部21、処理部22、記憶部23、および出力部24として機能しても良い。
支援装置3は、例えば、入力装置31、出力装置32、およびコンピュータ33を備える。コンピュータ33は、例えば、ROM(Read Only Memory)34、RAM(Random Access Memory)35、CPU(Central Processing Unit)36、および記憶装置としてのHDD(Hard Disk Drive)37を有する。
出力装置32は、情報処理システムによって得られる出力結果を、ユーザに対して出力するためのものである。出力装置32は、ディスプレイ、プリンタ、またはスピーカなどである。出力装置32は、出力部14または24として機能する。
Claims (10)
- 製品の仕様に関する複数の仕様項目を含む仕様項目群と、前記製品の製造要素に関する複数の要素項目を含む要素項目群と、前記複数の仕様項目および前記複数の要素項目と相関を有し、前記製品のリスクに関する複数のリスク項目を含むリスク項目群と、を含む相関情報を記憶する記憶部と、
変更される1つの前記仕様項目を選択する第1操作および1つの前記要素項目を選択する第2操作が入力される入力部と、
処理部であって、
前記第1操作が入力された際に、前記相関情報を参照し、前記リスク項目群を介して前記1つの仕様項目と相関を有する少なくとも1つの前記要素項目を抽出し、
前記少なくとも1つの要素項目のうち前記第2操作により選択された1つの要素項目と相関を有する少なくとも1つの前記リスク項目を抽出する、前記処理部と、
を備えた情報処理システム。 - 前記複数の要素項目は、前記製品の製造に用いられる構成部品に関する複数の構成部品項目と、前記製品の製造工程に関する製造工程項目と、を含む請求項1記載の情報処理システム。
- 前記仕様項目群および前記要素項目群は、それぞれ独立した木構造を有する請求項1または2に記載の情報処理システム。
- 前記複数の構成部品項目を含む構成部品項目群および前記複数の製造工程項目を含む製造工程項目群は、それぞれ独立した木構造を有する請求項2記載の情報処理システム。
- 出力部をさらに備え、
前記記憶部は、
前記仕様または前記製造要素と、前記リスクと、の相関のメカニズムを含むメカニズム情報と、
前記仕様または前記製造要素が関係して前記リスクが発生した事例を含む事例情報と、
の少なくともいずれかを含むリスク情報をさらに記憶し、
前記処理部は、前記リスク情報を参照し、抽出された前記少なくとも1つのリスク項目に関する前記リスク情報を抽出し、
前記出力部は、抽出された前記リスク情報を出力する請求項1〜4のいずれか1つに記載の情報処理システム。 - 製造要素を変更した後の製品の評価に関する第1評価項目の特性を表す第1特性値および前記製品の第1リスクの評価に関する第2評価項目の特性を表す第2特性値を含む特性値群と、前記製品において前記第1リスクが生じる可能性を示す予測値と、の関係を表す第1式を記憶する記憶部と、
前記特性値群が入力される入力部と、
入力された前記特性値群と前記第1式とを用いて前記予測値を算出する処理部と、
を備えた情報処理システム。 - 前記第1評価項目は、評価対象、評価方法、および評価数からなる第1群より選択された1つであり、
前記第2評価項目は、評価結果、評価機関、および評価コストからなる第2群より選択された1つである請求項6記載の情報処理システム。 - 前記第1評価項目は、前記評価方法であり、
前記第1特性値は、前記製品の評価方法が新規製品を用いた試験であることを示す第1値と、前記製品の評価方法がシミュレーションであることを示す第2値と、を含む群から選択される請求項7記載の情報処理システム。 - 製品の仕様に関する複数の仕様項目を含む仕様項目群と、前記製品の製造要素に関する複数の要素項目を含む要素項目群と、前記複数の仕様項目および前記複数の要素項目と関連付けられた複数のリスク項目を含むリスク項目群と、を含む相関情報に基づき、前記リスク項目群を介して変更される1つの前記仕様項目と相関を有する少なくとも1つの前記要素項目を抽出し、
前記少なくとも1つの前記要素項目から1つの前記要素項目を選択し、
前記1つの要素項目と相関を有する少なくとも1つの前記リスク項目を抽出する情報処理方法。 - 製造要素を変更した後の製品の評価に関する第1評価項目の特性を表す第1特性値および前記製品の第1リスクの評価に関する第2評価項目の特性を表す第2特性値を含む特性値群と、前記製品において前記第1リスクが生じる可能性を示す予測値と、の関係を表す第1式に、前記特性値群を入力し、前記予測値を算出する情報処理方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017176705A JP6806651B2 (ja) | 2017-09-14 | 2017-09-14 | 情報処理システムおよび情報処理方法 |
US16/013,377 US11402427B2 (en) | 2017-09-14 | 2018-06-20 | Information processing system and information processing method |
TW107121829A TWI711001B (zh) | 2017-09-14 | 2018-06-26 | 資訊處理系統及資訊處理方法 |
KR1020180077150A KR20190030582A (ko) | 2017-09-14 | 2018-07-03 | 정보 처리 시스템 및 정보 처리 방법 |
DE102018211196.0A DE102018211196A1 (de) | 2017-09-14 | 2018-07-06 | Informationsverarbeitungssystem und Informationsverarbeitungsverfahren |
KR1020200092295A KR102360631B1 (ko) | 2017-09-14 | 2020-07-24 | 정보 처리 시스템 및 정보 처리 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017176705A JP6806651B2 (ja) | 2017-09-14 | 2017-09-14 | 情報処理システムおよび情報処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019053481A true JP2019053481A (ja) | 2019-04-04 |
JP6806651B2 JP6806651B2 (ja) | 2021-01-06 |
Family
ID=65441691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017176705A Active JP6806651B2 (ja) | 2017-09-14 | 2017-09-14 | 情報処理システムおよび情報処理方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11402427B2 (ja) |
JP (1) | JP6806651B2 (ja) |
KR (2) | KR20190030582A (ja) |
DE (1) | DE102018211196A1 (ja) |
TW (1) | TWI711001B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7164038B2 (ja) * | 2019-06-21 | 2022-11-01 | 日本電信電話株式会社 | 部品情報管理装置、部品情報管理方法および部品情報管理プログラム |
US20220159029A1 (en) * | 2020-11-13 | 2022-05-19 | Cyberark Software Ltd. | Detection of security risks based on secretless connection data |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004295210A (ja) * | 2003-03-25 | 2004-10-21 | Toshiba Corp | 設計支援装置、設計支援方法および設計支援プログラム |
JP2005284513A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 商品開発システム |
JP2006031212A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Hitachi Ltd | 設計支援方法およびそのシステム |
JP2007109073A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-04-26 | Itid Consulting:Kk | 製品開発プロセス支援システム及び製品開発プロセス支援方法 |
JP2010066955A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Alpine Electronics Inc | 設計支援装置、設計支援システム、設計支援方法および設計支援プログラム |
JP2014132438A (ja) * | 2012-12-05 | 2014-07-17 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置、情報処理プログラム及び情報処理方法 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7130807B1 (en) * | 1999-11-22 | 2006-10-31 | Accenture Llp | Technology sharing during demand and supply planning in a network-based supply chain environment |
US6684349B2 (en) * | 2000-01-18 | 2004-01-27 | Honeywell International Inc. | Reliability assessment and prediction system and method for implementing the same |
US7451065B2 (en) * | 2002-03-11 | 2008-11-11 | International Business Machines Corporation | Method for constructing segmentation-based predictive models |
DE102004029222A1 (de) | 2003-06-24 | 2005-02-17 | Omron Corp. | Verbesserungsunterstützungssystem |
US11710489B2 (en) * | 2004-06-14 | 2023-07-25 | Wanda Papadimitriou | Autonomous material evaluation system and method |
US8731983B2 (en) * | 2005-02-24 | 2014-05-20 | Sap Ag | System and method for designing effective business policies via business rules analysis |
US7689945B2 (en) * | 2005-09-15 | 2010-03-30 | D&R Solutions, LLC | Product reliability analysis |
US8468244B2 (en) * | 2007-01-05 | 2013-06-18 | Digital Doors, Inc. | Digital information infrastructure and method for security designated data and with granular data stores |
JP2009075993A (ja) | 2007-09-25 | 2009-04-09 | Hitachi Ltd | 設計支援システム |
JP5210328B2 (ja) | 2008-01-23 | 2013-06-12 | 株式会社アイティアイディコンサルティング | 情報処理システム、プログラム、および情報処理方法 |
JP5017176B2 (ja) * | 2008-05-21 | 2012-09-05 | 株式会社日立製作所 | 製造指示評価支援システム、製造指示評価支援方法、および製造指示評価支援プログラム |
US20140324521A1 (en) * | 2009-02-11 | 2014-10-30 | Johnathan Mun | Qualitative and quantitative analytical modeling of sales performance and sales goals |
JP2012099074A (ja) | 2010-11-01 | 2012-05-24 | Akihiro Nishimoto | 仕様優先順位確認システムおよび方法 |
US9461876B2 (en) * | 2012-08-29 | 2016-10-04 | Loci | System and method for fuzzy concept mapping, voting ontology crowd sourcing, and technology prediction |
JP6081133B2 (ja) * | 2012-10-16 | 2017-02-15 | 株式会社東芝 | ウィンドファームの出力制御装置、方法、及びプログラム |
JP5981313B2 (ja) * | 2012-11-09 | 2016-08-31 | 株式会社東芝 | 電力抑制型蓄電蓄熱最適化装置、最適化方法及び最適化プログラム |
JP5689571B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2015-03-25 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 暗号処理装置 |
JP6330314B2 (ja) | 2013-12-19 | 2018-05-30 | トヨタ自動車株式会社 | 設計方針導出装置、設計方針導出方法、設計方針導出方法を実行させるためのプログラム、および、設計方針導出方法を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
SG11201610035RA (en) * | 2014-06-30 | 2017-01-27 | Evolving Machine Intelligence Pty Ltd | A system and method for modelling system behaviour |
US9680855B2 (en) * | 2014-06-30 | 2017-06-13 | Neo Prime, LLC | Probabilistic model for cyber risk forecasting |
JP6290029B2 (ja) * | 2014-07-30 | 2018-03-07 | 株式会社東芝 | 生産制御支援装置、生産制御支援方法およびプログラム |
CN104166800A (zh) | 2014-08-11 | 2014-11-26 | 工业和信息化部电子第五研究所 | 基于失效机理的元器件fmea分析方法与系统 |
EP3183698A1 (en) * | 2014-08-20 | 2017-06-28 | Cassantec AG | Malfunction prediction for components and units of technical entities |
WO2017056194A1 (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社 東芝 | 情報機器または情報通信端末および、情報処理方法 |
JP6749127B2 (ja) | 2016-03-31 | 2020-09-02 | 株式会社三共 | 障害釘整備装置、障害釘整備方法、障害釘整備システム及び管理装置 |
-
2017
- 2017-09-14 JP JP2017176705A patent/JP6806651B2/ja active Active
-
2018
- 2018-06-20 US US16/013,377 patent/US11402427B2/en active Active
- 2018-06-26 TW TW107121829A patent/TWI711001B/zh active
- 2018-07-03 KR KR1020180077150A patent/KR20190030582A/ko not_active Application Discontinuation
- 2018-07-06 DE DE102018211196.0A patent/DE102018211196A1/de active Pending
-
2020
- 2020-07-24 KR KR1020200092295A patent/KR102360631B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004295210A (ja) * | 2003-03-25 | 2004-10-21 | Toshiba Corp | 設計支援装置、設計支援方法および設計支援プログラム |
JP2005284513A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 商品開発システム |
JP2006031212A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Hitachi Ltd | 設計支援方法およびそのシステム |
JP2007109073A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-04-26 | Itid Consulting:Kk | 製品開発プロセス支援システム及び製品開発プロセス支援方法 |
JP2010066955A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Alpine Electronics Inc | 設計支援装置、設計支援システム、設計支援方法および設計支援プログラム |
JP2014132438A (ja) * | 2012-12-05 | 2014-07-17 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置、情報処理プログラム及び情報処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI711001B (zh) | 2020-11-21 |
US11402427B2 (en) | 2022-08-02 |
US20190079127A1 (en) | 2019-03-14 |
TW201915913A (zh) | 2019-04-16 |
JP6806651B2 (ja) | 2021-01-06 |
KR20200092916A (ko) | 2020-08-04 |
DE102018211196A1 (de) | 2019-03-14 |
KR20190030582A (ko) | 2019-03-22 |
KR102360631B1 (ko) | 2022-02-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102360631B1 (ko) | 정보 처리 시스템 및 정보 처리 방법 | |
JP2015027726A (ja) | 組立工程においてツーリング作業を実行するための、リアルタイムのフィードバックコントロール | |
JP5876580B2 (ja) | 設計支援システム及びその処理方法、プログラム | |
US20120137263A1 (en) | Timing closure in chip design | |
JP2015094717A (ja) | 熱疲労寿命予測装置、熱疲労寿命予測方法、プログラム | |
JP2015111359A (ja) | 設計プログラム、設計装置及び設計方法 | |
JP5509062B2 (ja) | 生産シミュレーション装置 | |
JP2014026440A (ja) | シミュレーションプログラム、シミュレーション装置およびシミュレーション方法 | |
JP2016045536A (ja) | 設計支援装置 | |
CN106462653B (zh) | 用于设计部分的材料定义的细化 | |
JP2023010734A (ja) | 温度条件の評価方法 | |
JP7266471B2 (ja) | 設計支援装置及び設計支援方法 | |
US20140039867A1 (en) | Information processing apparatus and method thereof | |
JP2019148936A (ja) | 製品設計支援システム | |
JP2009048505A (ja) | 回路動作検証装置、回路動作検証方法、半導体集積回路の製造方法、制御プログラム、およびコンピュータ読み取り可能な可読記憶媒体 | |
Lin et al. | Sheet metal optimization forming technology used in server chassis design and analysis | |
JP2016212841A (ja) | 熱的連成解析における使用のための方法及び装置 | |
US10572781B2 (en) | Support apparatus and method thereof | |
WO2022145164A1 (ja) | 材料の加工方法並びにプロセス設計計算機及びそのプログラム | |
US20170235861A1 (en) | Method of calculating thermal path and information processing device | |
KR20110045262A (ko) | 아키텍쳐 설계 시스템 및 이를 이용한 아키텍쳐 설계 방법 | |
WO2015019458A1 (ja) | 解決案検索装置、解決案検索方法、および、解決案検索プログラム | |
JP2019197312A (ja) | 製品設計支援システム | |
JP2020086789A (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム | |
JP2017004407A (ja) | 多次元データ分析支援装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180619 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190325 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200423 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200624 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200721 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201105 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201204 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6806651 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |