JP2019035607A - 分析装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】壁面におけるガス管路の取り付けに必要な面積を小さくできる。【解決手段】分析装置は、複数のガス供給管路と接続されるバルブ組立体と、バルブ組立体からの複数のガスが供給されるガス供給室とを備え、バルブ組立体は、複数のガス供給管路を介してガス供給室に供給される複数のガスの流量を調整する複数のバルブと、複数のバルブを一体的に固定する固定部材と、複数のバルブを固定部材に対してそれぞれシールする複数の第1シール部材と、固定部材に締結することにより、第1シール部材を固定部材に一体に押し付けるリテーナとを備える。【選択図】図2

Description

本発明は、分析装置に関する。
複数のガス貯蔵容器から複数の種類のガスを導入する真空室を備える分析装置が知られている。特許文献1には、イオントラップ内のイオンが持つ運動エネルギーを減衰させるためのクーリングガスとしてヘリウムを導入し、イオンと衝突させて衝突誘起解離(Collision−Induced Dissociation:CID)を起こすためのCIDガスとしてアルゴンガスを導入するイオントラップを備える分析装置が記載されている。
国際公開第2015/022815号
分析装置を小型化する観点から、複数のガス貯蔵容器からの複数のガス管路を真空室に接続する接続部は、真空室の密閉性を保ちつつ、できるだけコンパクトにすることが必要である。
本発明の好ましい実施形態による分析装置は、複数のガス供給管路と接続されるバルブ組立体と、前記バルブ組立体からの複数のガスが供給されるガス供給室とを備える分析装置において、前記バルブ組立体は、前記複数のガス供給管路を介して前記ガス供給室に供給される前記複数のガスの流量を調整する複数のバルブと、前記複数のバルブを一体的に固定する固定部材と、前記複数のバルブを前記固定部材に対してそれぞれシールする複数の第1シール部材と、前記固定部材に締結することにより、前記第1シール部材を前記固定部材に一体に押し付けるリテーナとを備える。
さらに好ましい実施形態では、前記リテーナによって前記複数の第1シール部材をそれぞれ前記固定部材に押圧する複数の押圧部材をさらに有する。
さらに好ましい実施形態では、前記リテーナは、前記複数のバルブにガスを導く前記複数のガス供給管路に接続される複数の継手の一つ、または複数を支持する支持部を備える。
さらに好ましい実施形態では、前記ガス供給管路に一端が接続される前記継手の他端には、他端が前記バルブに接続される接続管路をさらに備える。
さらに好ましい実施形態では、前記リテーナは、前記固定部材に締結される第1板状部材と、前記支持部を備える第2板状部材とを備える。
さらに好ましい実施形態では、前記第1板状部材および前記第2板状部材は、前記第1板状部材がなす面と前記第2板状部材がなす面とが交差するように配置されている。
さらに好ましい実施形態では、前記バルブはパルスバルブである。
さらに好ましい実施形態では、前記バルブ組立体は、前記分析装置の隔壁に取り付けられる取付部材と、前記取付部材の裏面側に突設し、前記隔壁を貫通する貫通部材を含み、前記取付部材が第2シール部材を介して前記隔壁に取り付けられ、前記分析装置内の真空室を密閉状態とする。
さらに好ましい実施形態では、前記ガス供給室内にイオンと前記ガスとが供給される質量分析計を備え、前記ガス供給室は、前記イオンを制御する電極を備え、前記複数のバルブで流量調節される複数のガスのそれぞれは、少なくともクーリングガス用のガス種と、CIDガス用のガス種とを含む。
本発明によれば、分析装置の真空室における、ガス管路の接続部の取り付けに必要な面積を小さくでき、また組立作業性を向上することができる。
図1は、本実施の形態の分析装置の概略構成を示す斜視図である。 図2は、本実施の形態の分析装置における、真空室側面でのバルブ組立体の接続部を示す斜視図である。 図3は、バルブ組立体の分解図である。 図4は、バルブ組立体と、イオントラップとを示す断面図である。
以下、図を参照して本発明を質量分析装置に適用した実施の形態について説明する。
−第1の実施の形態−
図1〜図4を参照して第1の実施の形態を説明する。図1は、第1の実施の形態の質量分析装置1の概略構成を示す斜視図である。図2は、質量分析装置1における、真空室側面でのバルブ組立体の接続部を示す斜視図である。図3は、バルブ組立体の分解図である。図4は、バルブ組立体とイオントラップとの断面図である。
質量分析装置1は、ガス貯蔵容器Ga,Gbのレギュレータ(以下、レギュレータと呼ぶ)8a,8b、真空室20、レギュレータ8a,8bに接続され真空室20へ導入されるガスを供給するガス供給管路9a,9b、および、ガス供給管路9a,9bと真空室20との接続部となるバルブ組立体10とを備える(図1参照)。真空室20は、内部にイオントラップ30を備える(図4参照)。質量分析装置1に導入された分析対象となる試料は、イオン化された後、不図示の管からイオントラップ30に導入され、電極31(図4参照)に印加される電圧によって生じた電磁場により制御され、適宜イオントラップ30から放出されて検出される。
ガス貯蔵容器Ga,Gbに貯蔵されたガスは、それぞれレギュレータ8a,8bで流量制御されガス供給管路9a,9bおよびバルブ組立体10を介して真空室20の内部のイオントラップ30に供給される。例えば、ガス貯蔵容器Gaには、クーリングガスとしてヘリウムガス等が貯蔵される。また、例えば、ガス貯蔵容器Gbには、CIDガスとしてアルゴンガス等が貯蔵される。
なお、ガス貯蔵容器Ga,Gbに貯蔵されるガスの種類は特に限定されない。また、レギュレータ8a,8b、すなわちガス貯蔵容器Ga,Gbの個数は複数であれば特に限定されない
バルブ組立体10は、シール部材であるOリング21を介して真空室隔壁22に組み付けられる(図2参照)。バルブ組立体10は、真空室隔壁22に組み付けられた後、継手11a、11b(図3参照)とガス供給管路9a,9bとをそれぞれ接続することにより、真空室20の密閉性を実現しながら、ガス貯蔵容器Ga,Gbからの複数のガスを真空室20の内部に導入することができる。本実施形態において「真空室」とはその内部を外部とは異なる気圧に維持できるような室を指す。
図3の分解図に示されるように、バルブ組立体10は、継手11a,11bと、パルスバルブ13a,13bと、継手11a,11bとパルスバルブ13a,13bとをそれぞれ接続するL字形状の接続管路12a,12bと、リテーナ14と、押圧部材17a,17bと、Oリング18a,18bと、ガス導入管路16a,16bと、バルブ組立体10の各部を支持し固定するための固定部材15とを備える。リテーナ14は、第1板状部材141と第2板状部材142とを備え、第1板状部材141がなす面と第2板状部材142がなす面とは略90度の角度で交差している。固定部材15は、取付板151と、パルスバルブ受け部材152と、貫通孔150a,150bとを備える。
リテーナ14は、後述するように、二つの押圧部材17a、17bを一体に押圧する機能と、二つの継手11a,11bを一体に保持する機能とを有する。前者が第1板状部材141であり、後者が第2板状部材142である。
継手11a,11bは、一端にガス供給管路9a,9bがそれぞれ接続され、他端に接続管路12a,12bがそれぞれ接続される。すなわち、継手11a,11bは、パルスバルブ13a,13bにガスを供給する管路9a,9bをバルブ組立体10に接続するための部材である。継手11a,11bは、リテーナ14の第2板状部材142にある支持部143にある切欠き部分と嵌合するよう、外周面に凹部110a,110bをそれぞれ備えている。
バルブ組立体10が真空室20の隔壁22に取り付けられた後、ガス供給管路9a,9bに外力が作用すると、外力がバルブ組立体10、すなわち継手11a、11bに働くことがある。継手11a,11bは凹部110a,110bを介してリテーナ14の第2板状部材142にそれぞれ支持されている(図2参照)。したがって、接続管路12a,12bや、パルスバルブ13a,13bの接続管路12a,12bとの接続部に、ガス供給管路9a,9bにかかった外力が伝わり破損することを防ぐことができる。
このように継手11a,11bを支持する観点からは、リテーナ14の第2板状部材142は、第1板状部材141と必ずしも略90度の角度で交差しなくともよい。しかし、第2板状部材142を第1板状部材141と略90度の角度で交差するよう配置すると、真空室20の隔壁22に沿って継手11a,11bおよびガス供給管路9a,9bを配置することができるため、質量分析装置1をよりコンパクトにすることができる。すなわち、継手11a,11bおよびガス供給管路9a,9bの軸線を隔壁22の外面に沿って平行、もしくはほぼ平行に延在させてコンパクト化を図っている。
上述のとおり、接続管路12a,12bは、L字型の形状をしており、パルスバルブ13a,13bに一体的に設けられている。接続管路12a,12bの一端は継手11a,11bに接続されている。継手11a,11bにはガス供給管路9a,9bが接続されている。継手11a,11bにより、ガス供給管路9a,9bとパルスバルブ13a,13bとがそれぞれ接続される。
なお、継手11a,11bの形状や、接続管路12a,12bと継手11a,11bとの接続の方法は特に限定されない。
パルスバルブ13a,13bは、パルスバルブ13a,13bを制御する不図示の制御装置からの信号を制御コードC(図3参照)を介して受け取り、当該信号に基づいてガス貯蔵容器Ga,Gbからのガスを流量調整し、適切なタイミングでガス導入管路16a,16bを介してイオントラップ30へガスをそれぞれ放出する。
ガス導入管路16a,16bとパルスバルブ13a,13bとは次のように接続されている。
図4を参照して説明する。固定部材15は、隔壁22の外面に当接する取付板151と、隔壁22の矩形開口22aに挿入されて真空室20まで延在するパルスバルブ受け部材152(破線で囲まれた固定部材15の部分)とを有する。取付板151には貫通孔150a,150bが穿孔されている。貫通孔150a,150bはパルスバルブ受け部材152の奥方まで伸びている。貫通孔150a,150bは入口側の内径がOリング18a,18bの外径に対応した寸法とされ、奥側、すなわち、パルスバルブ受け部材152の内側の内径はパルスバルブ13a,13bの外径よりやや大きい程度の内径とされる。すなわち、貫通孔150a、150bは大径通路と小径通路の段付き孔である。
パルスバルブ受け部材152の底部壁には、ガス導入管路16a,16bの軸部が挿通される貫通孔が穿孔されている。パルスバルブ13a,13bとガス導入管路16a,16bのそれぞれは、取付板151の表面側から貫通孔150a,150bに挿通され、ガス導入管路16a,16bの先端が固定部材15から突出し、内部管路160を介して真空室20のイオントラップ30に接続されている。パルスバルブ13a,13bとガス導入管路16a,16bは貫通孔150a,150b内で接続されている。
リテーナ14は、第1板状部材141と固定部材15とが、ねじ45(図4参照)によりねじ止めされ締結される。この締結に先立って、固定部材151の貫通孔150a,150bにはそれぞれガス導入管路16a,16bとパルスバルブ12a.12bをその順番に挿通し、ガス導入管路16a,16bの先端を固定部材15の裏面側から突出させておく。この状態でリテーナ14を固定部材15にねじ45で締結することにより、リテーナ14の第1板状部材141は、押圧部材17a,17bを押圧し、押圧部材17a,17bはシール部材であるOリング18a,18bをそれぞれ固定部材15に一体に押しつける(図4参照)。押圧されたOリング18a,18bにより、パルスバルブ13a,13bと固定部材15との間が密封される。図2、図3では、ねじ45の図示が省略されている。
なお、押圧部材17a,17bを挟まずリテーナ14がOリング18a,18bを直接固定部材15に押圧する構成にしてもよい。また、シール部材として、Oリング18a,18bの代わりにゴムブッシュ等を用いてもよい。
リテーナ14は、第1板状部材141により、Oリング18a,18bを介して複数のパルスバルブ13a,13bを一体的に固定部材15に固定してバルブ組立体10を構成する、そのため、固定されたパルスバルブ13a,13bの間隔(固定部材15の貫通孔150a,150bの間隔)を短くすることができる。従って、真空室20の隔壁22における、ガス管路の接続部の取り付けに必要な面積を小さくできる。
すなわち、予めバルブ組立体10としてサブアッセンブリ化することにより、組み立て作業の自由度が向上するので、パルスバルブを直接分析装置に取り付ける作業に比べてパルスバルブの間隔を狭くしても継手11a,11bを無理なく接続管路12a,12bに接続することができる。
パルスバルブ13a,13bから、それぞれガス導入管路16a,16bと真空室20の内部管路160を介してイオントラップ30にガスが導入される。
なお、ガス導入管路16a,16bに放出されたガスは、内部管路160を介さず、直接供給先の室に挿入されてもよい。すなわち、図4に示すように、この実施の形態では、固定部材15の裏面から突出するガス導入管路16a、16bを真空室20内の内部管路160と接続するように構成しているが、ガス導入管路16a,16bを直接イオントラップ30に接続するように構成してもよい。
上述の第1の実施の形態の質量分析装置によれば、次の作用効果が得られる。
(1)本実施の形態の質量分析装置1は、複数のガス供給管路16a,16bと接続されるバルブ組立体10と、バルブ組立体10からの複数のガスが供給されるイオントラップ30とを備える。そして、バルブ組立体10は、複数のガス供給管路16a,16bを介してイオントラップ30に供給される複数のガスの流量を調整する複数のパルスバルブ13a,13bと、複数のパルスバルブ13a,13bを一体的に固定する固定部材15と、複数のパルスバルブ13a,13bを固定部材15に対してそれぞれシールする複数のOリング18a,18bと、固定部材15に締結することにより、Oリング18a,18bを固定部材15に一体に押し付けるリテーナ14とを備える。
このように構成した分析装置では、二つのガスバルブ13a,13bを固定部材15に対してシールする二つのOリング18a,18bを一つのリテーナ14で押圧することができるので、組立作業性がよい。とくに、実施の形態のように、バルブ組立体10として予めサブアッセンブリすることにより、十分な作業空間で二つの継手11a,11bと接続管路12a,12b等の組立作業が可能となる。その結果、二つの継手11a,11bの間隔、ひいては、二つのパルスバルブ13a,13bの間隔を狭くしても作業空間を確保できる。換言すると、分析装置1に直接二つのパルスバルブ13a,13bを取り付ける場合には、それらの間隔を実施の形態の寸法に比べて広く取る必要がある。すなわち、実施の形態の分析装置は小型に構成することができる。
(2)本実施形態の質量分析装置1において、リテーナ14によって複数のOリング18a,18bをそれぞれ固定部材15に押圧する複数の押圧部材17a,17bをさらに有する。これにより、Oリング18a,18bに合わせた押圧部材17a,17bを用いることで、パルスバルブ13a,13bと固定部材15との間の密封を一層確実にすることができる。
(3)本実施形態の質量分析装置1において、リテーナ14は、複数のパルスバルブ13a,13bにガスを導く複数のガス供給管路9a,9bに接続される複数の継手11a,11bの一つ、若しくは複数を支持する支持部143を備える。これにより、接続管路12a,12bや、パルスバルブ13a,13bの接続管路12a,12bとの接続部に、ガス供給管路9a,9bにかかった外力が伝わり破損することを防ぐことができる。
(4)本実施形態の質量分析装置1において、ガス供給管路9a,9bに一端が接続される継手11a,11bの他端には、他端がパルスバルブ13a,13bに接続される接続管路12a,12bをさらに備える。これにより、継手11a,11bとパルスバルブ13a,13bとの位置関係を適宜調節することができ、質量分析装置1をよりコンパクトに構成することが可能である。
(5)本実施形態の質量分析装置1において、リテーナ14は、固定部材15に締結される第1板状部材141と、支持部143を備える第2板状部材142とを備える。これにより、接続管路12a,12bや、パルスバルブ13a,13bの接続管路12a,12bとの接続部に、ガス供給管路9a,9bにかかった外力が伝わり破損することを防ぐことができ、かつバルブ組立体10をコンパクトに構成できる。
(6)本実施形態の質量分析装置1において、第1板状部材141および第2板状部材142は、第1板状部材141がなす面と第2板状部材142がなす面とが交差するように配置されている。これにより、パルスバルブ13a,13bへガスを供給する管路を折り畳み、質量分析装置1をコンパクトに構成することができる。
(7)本実施形態の質量分析装置1において、真空室20の内部に導入されるガスの制御にパルスバルブ13a,13bが用いられている。このようなパルスバルブが用いられる装置は、一度に使用するガス量が少なく、小型のガス貯蔵容器を内蔵し携帯可能に構成され得るため、装置をコンパクトにする需要が高く、本発明をより好適に適用することができる。
(8)本実施形態の質量分析装置1において、バルブ組立体10は、質量分析装置1の隔壁22に取り付けられる取付板151と、取付板の裏面側に突設し、隔壁22を貫通する貫通部材152を含み、取付板151がOリング21を介して隔壁22に取り付けられ、これにより、質量分析装置1内の真空室20を密閉状態とする。このように、バルブ組立体10を真空室20から分離可能に構成したため、パルスバルブ13a,13bの交換が容易になると共に、バルブ組立体10におけるリークを真空室20と切り分けてチェックすることができる。
(9)本実施形態の質量分析装置1は、イオントラップ30にイオンとガスとが供給される質量分析計を備え、複数のパルスバルブ13a,13bで流量調節される複数のガスのそれぞれは、少なくともクーリングガス用のガス種と、CIDガス用のガス種とを含む。イオントラップ型質量分析計は、卓上に配置されたり携帯されて用いられるので、コンパクトにする需要が強く、本発明が好適に用いられる。
なお、本発明は、ガス貯蔵容器を取り付ける分析装置であれば、質量分析計を備えないものにも適用でき、分析装置の種類は特に限定されない。また、真空室以外の室にバルブ組立体10を取り付けてもよい。
本発明は上記実施形態の内容に限定されるものではない。本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の態様も本発明の範囲内に含まれる。
1…質量分析装置、8,8a,8b…レギュレータ、9,9a,9b…ガス供給管路、10…バルブ組立体、11,11a,11b…継手、13,13a,13b…パルスバルブ、14…リテーナ、15…固定部材、16,16a,16b…ガス導入管路、17,17a,17b…押圧部材、18,18a,18b,21…Oリング、20…真空室、22…隔壁、22a…矩形開口、30…イオントラップ、31…電極、141…第1板状部材、142…第2板状部材、151…取付板、152…パルスバルブ受け部材、160…内部管路、G,Ga,Gb…ガス貯蔵容器。

Claims (9)

  1. 複数のガス供給管路と接続されるバルブ組立体と、前記バルブ組立体からの複数のガスが供給されるガス供給室とを備える分析装置において、
    前記バルブ組立体は、
    前記複数のガス供給管路を介して前記ガス供給室に供給される前記複数のガスの流量を調整する複数のバルブと、
    前記複数のバルブを一体的に固定する固定部材と、
    前記複数のバルブを前記固定部材に対してそれぞれシールする複数の第1シール部材と、
    前記固定部材に締結することにより、前記第1シール部材を前記固定部材に一体に押し付けるリテーナとを備える分析装置。
  2. 請求項1に記載の分析装置において、
    前記リテーナによって前記複数の第1シール部材をそれぞれ前記固定部材に押圧する複数の押圧部材をさらに有する分析装置。
  3. 請求項1または2に記載の分析装置において、
    前記リテーナは、前記複数のバルブにガスを導く前記複数のガス供給管路に接続される複数の継手の一つ、または複数を支持する支持部を備える分析装置。
  4. 請求項3に記載の分析装置において、
    前記ガス供給管路に一端が接続される前記継手の他端には、他端が前記バルブに接続される接続管路をさらに備える分析装置。
  5. 請求項3または4に記載の分析装置において、
    前記リテーナは、前記固定部材に締結される第1板状部材と、前記支持部を備える第2板状部材とを備える分析装置。
  6. 請求項5に記載の分析装置において、
    前記第1板状部材および前記第2板状部材は、前記第1板状部材がなす面と前記第2板状部材がなす面とが交差するように配置されている分析装置。
  7. 請求項1から6までのいずれか一項に記載の分析装置において、
    前記バルブはパルスバルブである分析装置。
  8. 請求項1から7までのいずれか一項に記載の分析装置において、
    前記バルブ組立体は、前記分析装置の隔壁に取り付けられる取付部材と、前記取付部材の裏面側に突設し、前記隔壁を貫通する貫通部材を含み、前記取付部材が第2シール部材を介して前記隔壁に取り付けられ、前記分析装置内の真空室を密閉状態とする分析装置。
  9. 請求項1から8までのいずれか一項に記載の分析装置において、
    前記ガス供給室内にイオンと前記ガスとが供給される質量分析計を備え、
    前記ガス供給室は、前記イオンを制御する電極を備え、
    前記複数のバルブで流量調節される複数のガスのそれぞれは、少なくともクーリングガス用のガス種と、CIDガス用のガス種とを含む分析装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3118567B2 (ja) * 1999-05-26 2000-12-18 工業技術院長 高沸点気体状分子導入用誘導結合プラズマトーチ
JP3936908B2 (ja) * 2002-12-24 2007-06-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及び質量分析方法
US7418978B2 (en) * 2004-01-30 2008-09-02 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for providing fluid to a semiconductor device processing apparatus
JP4214925B2 (ja) * 2004-02-26 2009-01-28 株式会社島津製作所 質量分析装置
GB2439107B (en) * 2006-06-16 2011-12-14 Kratos Analytical Ltd Method and apparatus for thermalization of ions
JP5378706B2 (ja) * 2008-05-22 2013-12-25 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置及びそれに用いられる処理ガス供給装置
CN101629933B (zh) * 2008-07-16 2012-06-20 同方威视技术股份有限公司 离子迁移谱仪
JP2013520673A (ja) * 2010-02-26 2013-06-06 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド 質量分析計の反応および衝突セルのためのガス送達システム
CN102269663B (zh) * 2010-06-04 2013-01-30 武汉新芯集成电路制造有限公司 Icp-ms在线取样装置及金属杂质在线监测方法
GB2509412B (en) * 2012-02-21 2016-06-01 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Apparatus and methods for ion mobility spectrometry
JP5871057B2 (ja) * 2012-03-21 2016-03-01 株式会社島津製作所 放電イオン化電流検出器を備えた分析装置
KR101528458B1 (ko) * 2013-01-18 2015-06-18 (주) 유앤아이솔루션 슬라이딩 역압 차단 밸브
CN203324065U (zh) * 2013-05-24 2013-12-04 中国石油天然气股份有限公司 用于制备岩石中稀有气体的制样装置
JP6168571B2 (ja) 2013-08-14 2017-07-26 株式会社リガク 試料分析方法とその装置
CN204226864U (zh) * 2014-11-17 2015-03-25 安徽江淮汽车股份有限公司 一种汽车空调管路固定支架

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