JP2019015600A - ひずみゲージ、及び、3軸力センサ - Google Patents

ひずみゲージ、及び、3軸力センサ Download PDF

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Abstract

【課題】 周囲温度の変化に起因する計測誤差の発生が抑制されたひずみゲージ、及び、3軸力センサを提供する。
【解決手段】 ひずみゲージ20は、基材21と回路パターンCPとを備える。基材21は、受感領域21sと、不感領域21n1,21n2と、連結領域21c1,21c2と、を有する。回路パターンCPは、第1ホイートストンブリッジ回路を構成するひずみ受感素子X,X及び固定抵抗素子RX,RXと、第2ホイートストンブリッジ回路を構成するひずみ受感素子Y,Y及び固定抵抗素子RY,RYと、第3ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの受感素子Z,Zと、を含む。ひずみ受感素子X,X,Y,Y,Z,Z、及び、固定抵抗素子RX,RX,RY,RYは同一材料で形成されている。
【選択図】図4

Description

本発明は、ひずみゲージ、及び、これを備える3軸力センサに関する。
ひずみゲージを備える3軸力センサは、ロボット、ゲーム機器、各種計測機器、その他の機器において広く活用されている。例えば特許文献1、2には、ひずみゲージを含む3軸力センサの一例が開示されている。
特開第2010−164495号公報 特許第5008188号公報
ひずみゲージを備える3軸力センサにおいては、周囲温度の変化に起因する計測誤差の存在が認識されており、その抑制が望まれている。
そこで本発明は、周囲温度の変化に起因する計測誤差の発生が抑制されたひずみゲージ、及び、これを備える3軸力センサを提供することを目的とする。
本発明に係るひずみゲージは、荷重を受けてひずむ起歪部材に取り付けられて、起歪部材の第1方向に作用する荷重の第1ホイートストンブリッジ回路による検出、起歪部材の第1方向に直交する第2方向に作用する荷重の第2ホイートストンブリッジ回路による検出、並びに起歪部材の第1及び第2方向に直交する第3方向に作用する荷重の第3ホイートストンブリッジ回路による検出に用いられるひずみゲージであって、可撓性の基材と、基材上に形成された回路パターンと、を備え、基材は、起歪部材の荷重を受けてひずみが生じる起歪領域に取り付けられる受感領域と、起歪領域の外側に配置される一対の不感領域と、受感領域と不感領域とを連結する連結領域と、を有し、連結領域の、受感領域と不感領域とが連結される方向に直交する直交方向の寸法が、受感領域及び不感領域の直交方向の寸法よりも小さく、回路パターンは、第1ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第1方向ひずみ受感素子と、第2ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第2方向ひずみ受感素子と、第3ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第3方向ひずみ受感素子と、第1ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第1方向固定抵抗素子と、第2ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第2方向固定抵抗素子と、を含み、第1方向ひずみ受感素子、第2方向ひずみ受感素子、第3方向ひずみ受感素子、並びに第1方向固定抵抗素子及び第2方向固定抵抗素子は同一材料で形成されており、第1方向ひずみ受感素子、第2方向ひずみ受感素子及び第3方向ひずみ受感素子は、受感領域に形成されており、第1方向固定抵抗素子及び第2方向固定抵抗素子は、不感領域に形成されており、第3方向ひずみ受感素子は、第1ホイートストンブリッジ回路と第2ホイートストンブリッジ回路とを接続して第3ホイートストンブリッジ回路を構成する。
本発明に係る3軸力センサは、上記のひずみゲージと、板状の起歪部材と、起歪部材に接続された荷重作用部と、を備える。
本発明に係る3軸力センサにおいては、起歪部材の荷重作用部が接続される面とは反対側の面の周縁部から、第3方向に直立する周壁、をさらに備え、不感領域が、周壁の内周面に貼り付けられていてもよい。
本発明のひずみゲージ、及び、これを備える3軸力センサにおいては、周囲温度の変化に起因する計測誤差の発生が抑制されている。
本発明の実施形態に係る3軸力センサを適用した電子ペンの断面図である。 本発明の実施形態に係る3軸力センサの斜視図である。 図2に示す3軸力センサを、軸Aを含むyz面で切断した断面図である。 本発明の実施形態に係るひずみゲージの配線パターンを示す図である。 図4に示すひずみゲージの配線パターンに対応する回路図である。 3軸力センサにおける計測の様子を示す説明図である。
<実施形態>
本発明に係るひずみゲージ、及び、3軸力センサの実施形態について、これらを電子ペンへ適用する場合を例として、図1〜図6を参照して説明する。
図1に示すように、電子ペン200は、ティップ31及び32と、3軸力センサ100と、ホルダ33と、ボディ34と、フロントキャップ35とを備える。
ティップ31は、例えばプラスチックにより形成され、ペン先として機能する。ティップ32は、例えばSUSにより形成され、その一端がティップ31へ接続されると共に、他端が3軸力センサ100へ接続される。これにより、ペン先を介して加えられる外部からの荷重が3軸力センサ100で計測されることとなる。
ホルダ33は、3軸力センサ100の動作に必要な信号処理回路や電源の他、各種回路が実装されたPCBA(Printed Circuit Board Assembly)を保持する。ボディ34は、3軸力センサ100の一部分とホルダ33とを覆い、フロントキャップ35は、3軸力センサ100の残り部分とティップ32とを覆う。
次に、図2及び図3に示すように、本実施形態の3軸力センサ100は、軸Aの周りに回転対称な本体部10を備える。本体部10は、軸Aを回転軸とする円板状の起歪板(板状の起歪部材)11と、起歪板11の表面11aの中央から軸方向に直立する荷重作用部12と、起歪板11の裏面11bの周縁部から軸方向に直立する周壁13とを含む。また、荷重作用部12は、図1に示したティップ32に嵌合される。本体部10は、例えば合成樹脂素材により一体成形されている。
以降の説明においては、図2に示す如く、起歪板11の直交する2つの径方向を3軸力センサ100及び本体部10のx方向(第1方向)及びy方向(第2方向)とする。また、x方向及びy方向に直交する軸Aの方向を3軸力センサ100及び本体部10のz方向(第3方向)とする。
起歪板11は、荷重作用部12を介して加えられる外部からの荷重を受けてひずむ円板である。起歪板11におけるひずみは、起歪板11の表面11a及び裏面11b(図2において軸Aに直交する上下面)において生じ、周壁13(図2において軸Aと平行な周面)では生じないか無視できるほど小さい。本明細書においては、本実施形態における起歪板11の表面11a及び裏面11bのように、外部荷重を受けてひずむ領域を「起歪領域」と呼ぶこととする。起歪板11の径及び厚さは任意である。
荷重作用部12は、外部からの荷重を受けて移動し、起歪板11にひずみを生じさせる。荷重作用部12は、その中心軸が起歪板11の回転軸(軸A)と一致するよう、即ち起歪板11と同軸状に、起歪板11の表面11aに設けられている。
周壁13は、起歪板11の裏面11bの外周に沿って裏面11bから直立し、裏面11bを囲んでいる。なお、図2においては、周壁13の外周面が円筒状である場合について例示しているが、次のように周壁13を変更してもよい。すなわち、x軸方向における周壁13の一方側又は両側において、x軸に交差(直交)する平面部分を周壁13の外周面に形成してもよい。或いは、y軸方向における周壁13の一方側又は両側において、y軸に交差(直交)する平面部分を周壁13の外周面に形成してもよい。
特に、x軸方向における周壁13の一方側のみに平面部分を設ける場合には、y軸方向についても周壁13の一方側のみに平面部分を設けることができる。この場合には、周壁13の外周面に対して2つの平面部分が設けられることになる。また、x軸方向における周壁13の両側に平面部分を設ける場合には、y軸方向についても周壁13の両側に平面部分を設けることができる。この場合には、周壁13の外周面に対して4つの平面部分が設けられることになる。
このように周壁13の外周面に平面部分を設けることにより、当該平面部分を利用して、電子ペン200のホルダ33に対する本体部10(すなわち、3軸力センサ100)の位置決めを容易且つ確実に行うことが可能になる。なお、図2のような円筒状の外周面を有する周壁13に対して、アライメントマークを設けることによって、ホルダ33に対する本体部10の位置決めを可能としてもよい。
本実施形態のひずみゲージ20は、その基材21(図4参照)の一部分(受感領域21s)が起歪板11の裏面11bに貼り付けられ、残り部分(不感領域21n1、21n2)が周壁13の内周面に折り曲げられて貼り付けられる。
図4に、ひずみゲージ20が起歪板11に取り付けられる前の状態(展開図)を示す。ひずみゲージ20は、図4に示す如く、基材21と、基材21の表面上にプリントされた回路パターンCPとを含む。基材21は、受感領域21s及びこれを挟む不感領域21n1、21n2を有し、回路パターンCPは、6つのひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Zと、4つの固定抵抗素子RX、RX、RY、RYと、8つの端子T〜Tと、これらを接続する配線Wとを含む。なお、以下の説明では、不感領域21n1、21n2が受感領域21sを挟む方向をy方向(第2方向)とし、基材21の表面上においてy方向に直交する方向をx方向(第1方向)とする。
基材21は、可撓性を有する樹脂フィルムであり、中央の円形状の受感領域21sと、受感領域21sを挟む一対の不感領域21n1、21n2と、受感領域21sと一対の不感領域21n1、21n2とをそれぞれ連結する一対の連結領域21c1、21c2とを有する。樹脂フィルムは容易に折り曲げが行えるような柔軟で屈曲性の高いものを用いることが望ましく、具体例としては、ポリエステル、ポリイミド等を使用することができる。また、受感領域21s、不感領域21n1、21n2、連結領域21c1、21c2をそれぞれ異なる材料より形成することも可能であるが、これらを同一の材料により形成して全領域の温度特性(抵抗温度係数等)を等しくすることが望ましい。また、この場合は、一体に形成された材料(例えばポリエステル、ポリイミド等のシート)内の近傍の部位より受感領域21s、不感領域21n1、21n2、連結領域21c1、21c2を一体に切り出して基材21を形成することがより望ましい。これにより各領域の温度特性をより均一にすることができる。
受感領域21sは、本体部10の起歪板11の裏面11bに貼り付けられる領域であるため、起歪板11の裏面11bと同等かそれより小さい径を有する。受感領域21sの一面上には、中心cをx方向に挟んでひずみ受感素子(第1方向ひずみ受感素子)X、Xが、y方向に挟んでひずみ受感素子(第2方向ひずみ受感素子)Y、Yが形成されており、外周に沿ってひずみ受感素子(第3方向ひずみ受感素子)Z、Zが形成されている。
ひずみ受感素子X、Xは、それぞれ円弧状であり、図4に破線で示す荷重作用部12の輪郭に沿った周方向をグリッドの幅方向として、x方向に対向して形成されている。また、ひずみ受感素子Xとひずみ受感素子Xとは、それぞれ中心cから等距離の位置に形成されている。
ひずみ受感素子Y、Yは、それぞれ円弧状であり、荷重作用部12の輪郭に沿った周方向をグリッドの幅方向として、y方向に対向して形成されている。また、ひずみ受感素子Yとひずみ受感素子Yとは、それぞれ中心cから等距離の位置に形成されている。
ひずみ受感素子Z、Zは、それぞれ円弧状であり、受感領域21sの周方向をグリッドの幅方向として、x方向に対向して形成されている。そして、ひずみ受感素子Z、Zは、ひずみ受感素子X、X、Y、Yの中心cとは反対側(外側)に配置されている。
一対の不感領域21n1、21n2は、y方向に受感領域21sを挟んでおり、それぞれx方向を長辺方向、y方向を短辺方向とする矩形状である。
不感領域21n1の表面上における受感領域21sから遠い部分には、それぞれx方向に延びる固定抵抗素子(第1方向固定抵抗素子)RX、RXが、x方向に並んで形成されており、受感領域21sに近い部分には、x方向に並ぶ4つの端子T、T、T、Tが形成されている。すなわち、不感領域21n1においては、固定抵抗素子RX、RXが端子T〜Tの、受感領域21sとは反対側に配置されている。
同様に、不感領域21n2の表面上における受感領域21sから遠い部分には、それぞれx方向に延びる固定抵抗素子(第2方向固定抵抗素子)RY、RYが、x方向に並んで形成されており、受感領域21sに近い部分には、x方向に並ぶ4つの端子T、T、T、Tが形成されている。すなわち、不感領域21n2においては、固定抵抗素子RY、RYが端子T〜Tの、受感領域21sとは反対側に配置されている。
受感領域21sと不感領域21n1、21n2とを連結する連結領域21c1、21c2は、それぞれ、受感領域21sと不感領域21n1、21n2とが連結されるy方向に直交するx方向(直交方向)の寸法(幅)が受感領域21s、不感領域21n1、21n2のx方向の寸法(幅)より小さい。そのため基材21は、連結領域21c1、21c2においてくびれた形状となっている。
図4及び図5に示すように、配線Wは、ひずみ受感素子X、X、固定抵抗素子RX、RXを接続して第1ブリッジ回路(第1ホイートストンブリッジ回路)BC1を構成している。また、ひずみ受感素子Xと固定抵抗素子RXとの間に端子Tが、ひずみ受感素子X、Xの間に端子Tが、固定抵抗素子RX、RXの間に端子Tが、ひずみ受感素子Xと固定抵抗素子RXとの間に端子Tが接続されている。
同様に、配線Wは、ひずみ受感素子Y、Y、固定抵抗素子RY、RYを接続して第2ブリッジ回路(第2ホイートストンブリッジ回路)BC2を構成している。ひずみ受感素子Yと固定抵抗素子RYの間に端子Tが、ひずみ受感素子Y、Yの間に端子Tが、固定抵抗素子RY、RYの間に端子Tが、ひずみ受感素子Yと固定抵抗素子RYの間に端子Tが接続されている。
ひずみ受感素子Zの一端はひずみ受感素子Xと固定抵抗素子RXとの間において第1ブリッジ回路BC1に接続されており、他端はひずみ受感素子Yと固定抵抗素子RYとの間において第2ブリッジ回路BC2に接続されている。同様に、ひずみ受感素子Zの一端はひずみ受感素子Xと固定抵抗素子RXとの間において第1ブリッジ回路BC1に接続されており、他端はひずみ受感素子Yと固定抵抗素子RYとの間において第2ブリッジ回路BC2に接続されている。これにより、一対の対辺部に第1ブリッジ回路BC1と第2ブリッジ回路BC2をそれぞれ有し、他の一対の対辺部にひずみ受感素子Z、Zをそれぞれ有する第3ブリッジ回路(第3ホイートストンブリッジ回路)BC3を構成している。
回路パターンCPに含まれるひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Z、固定抵抗素子RX、RX、RY、RY、配線Wは互いに同じ材料により、さらに好ましくは一つの材料内の近傍の部位により形成されている。この材料は、一例として銅、銅/ニッケルなどの銅合金等である。回路パターンCPの基材21上へのプリントは、フォトエッチング、印刷、蒸着、スパッタリング等により行うことができる。
図3に示すように、ひずみゲージ20は、基材21の、回路パターンCPが形成された面とは反対側の面が起歪板11の裏面11bに接するように、本体部10に貼り付けられている。
具体的には、基材21の受感領域21sは、そのx方向及びy方向が本体部10のx方向及びy方向にそれぞれ一致し、中心cが軸Aに一致するように、起歪板11の裏面11bに貼り付けられている。すなわち、受感領域21sは、起歪板11の荷重を受けてひずみが生じる起歪領域に取り付けられている。したがって、基材21の受感領域21sを起歪板11に貼り付けた状態においては、ひずみ受感素子X、X及びひずみ受感素子Y、Yは、それぞれ、x方向及びy方向において荷重作用部12の外側の、ひずみが比較的大きく生じる領域に配置される。
基材21の一対の不感領域21n1、21n2は、それぞれ、折り曲げられて周壁13の内周面に貼り付けられている。すなわち、不感領域21n1、21n2は、起歪領域の外側に配置される。したがって、不感領域21n1に形成された端子T、T、T、T、不感領域21n2に形成された端子T、T、T、Tは、周壁13の径方向内側を向いて露出している。
次に、本実施形態の3軸力センサ100、及びひずみゲージ20の使用方法と動作について説明する。
3軸力センサ100を電子ペン200に用いる場合には、まず、荷重作用部12をペン先(すなわち、ティップ32)に嵌合させる。次いで、端子T〜Tと信号処理回路(不図示)とを、それぞれ、リード線L〜Lを用いて接続する。端子T〜Tとリード線L〜Lの接合は任意の方法で行うことができ、例えばはんだや異方性導電フィルム(ACF)を用いて行うことができる。
端子T、Tは、それぞれ、リード線L、Lにより、電源(不図示)に接続される。端子T、T、端子T、T、端子T、Tは、それぞれ、リード線L、L、リード線L、L、リード線L、Lにより、信号処理回路内のアンプ(不図示)を介して、信号処理回路内の演算部(不図示)に接続される。
3軸力センサ100の動作時には、電源により端子Tと端子Tとの間に入力電圧Eiをかける。第1ブリッジ回路BC1、第2ブリッジ回路BC2、第3ブリッジ回路BC3を構成する各ひずみ受感素子の抵抗値及び各固定抵抗素子の抵抗値は、基材21の受感領域21sにたわみがない状態において、端子T、T間で電圧が等しくなり、端子T、T間で電圧が等しくなり、端子T、T間で電圧が等しくなるように調整されている。
したがって、図6(a)に示す如く起歪板11にひずみが生じておらず、受感領域21sにたわみがない状態においては、端子T、T間、端子T、T間、端子T、T間に電位差はなく、演算部はひずみを算出しない。
次に、図6(b)に示す如く荷重作用部12にx方向の荷重が付加されると、荷重作用部12が荷重を受けて移動し、起歪板11にひずみを生じさせる。この時、起歪板11に貼り付けられたひずみゲージ20の基材21の受感領域21sも起歪板11と一体にたわみ、ひずみ受感素子Xには圧縮ひずみが、ひずみ受感素子Xには伸びひずみが生じる。
これにより、ひずみ受感素子X、Xの抵抗値がそれぞれ変化し、ひずみ受感素子X、Xを含む第1ブリッジ回路BC1の端子T、T間に電位差が生じる。演算部はこの電位差に基づいて、起歪板11に生じたひずみの量を求め、荷重作用部12に作用したc方向の荷重の大きさを求める。なおこの時、周壁13にはひずみは生じておらず、固定抵抗素子RX、RXの抵抗値は一定である。
荷重作用部12にy方向の荷重が付加された場合も、同様にして作用したy方向の荷重の大きさを求める。
荷重作用部12にz方向の荷重が付加された場合には、起歪板11及び基材21の受感領域21sは中心が突出するように湾曲するため、ひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Zの全てにおいて延びひずみが生じる。これにより、第1ブリッジ回路BC1の合成抵抗、第2ブリッジ回路BC2の合成抵抗、ひずみ受感素子Z、Zの抵抗値がそれぞれ変化し、第3ブリッジ回路BC3の端子T、T間に電位差が生じる。演算部はこの電位差に基づいて、起歪板11に生じたひずみの量を求め、荷重作用部12に作用したz方向の荷重の大きさを求める。
ここで、第1ブリッジ回路BC1の固定抵抗素子RX、RX、第2ブリッジ回路BC2の固定抵抗素子RY、RYを基材21上にプリントし、ひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Zと同一の材料により形成する意義について説明する。
(1)固定抵抗素子RX、RX、RY、RYをこのように形成することにより、固定抵抗素子RX、RX、RY、RYが、ひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Zと同一の材料で、且つこれらに近接した位置に形成されることになる。ここで、温度変化に対する抵抗値の変化の割合を示す抵抗温度係数は、材料に依存する物性値であるため、本実施形態では全ひずみ受感素子と全固定抵抗素子の抵抗温度係数は等しい。また、固定抵抗素子RX、RX、RY、RYが基材21上に形成されており、ひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Zの近傍に形成されているため、全ひずみ受感素子と全固定抵抗素子に影響する周囲温度の変化は実質的に同一となる。したがって、周囲温度に変化が生じた場合には、全ひずみ受感素子の抵抗値と全固定抵抗素子の抵抗値は同一の割合で変化する。
第1ブリッジ回路BC1、第2ブリッジ回路BC2、第3ブリッジ回路BC3においては、それぞれに含まれる抵抗素子(ひずみ受感素子及び固定抵抗素子)の間で抵抗値のバランスが変化した場合に、端子T、T間、端子T、T間、端子T、T間に電位差が生じ、これに基づきひずみが検出される。したがって周囲温度の変化によりひずみ受感素子の抵抗値及び固定抵抗素子の抵抗値の間のバランスが変化した場合には、このバランスの変化により計測誤差が生じ得る。しかしながら、本実施形態においては、周囲温度に変化が生じた場合には、全ひずみ受感素子の抵抗値と全固定抵抗素子の抵抗値が同一の割合で変化するため、周囲の温度が変化した場合でも各素子間の抵抗値のバランスは変化せず、計測誤差の発生が抑制される。なお、回路パターンCPの形成時に、一体の塊りとして準備された材料(銅、銅合金等)の近傍の部位を用いてひずみ受感素子等を形成することで、ひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Z、固定抵抗素子RX、RX、RY、RY、配線Wの抵抗温度係数をより均一とでき、計測誤差の発生をより良好に抑制することができる。
(2)本実施形態のように、第1ブリッジ回路BC1の固定抵抗素子RX、RX、第2ブリッジ回路BC2の固定抵抗素子RY、RYを、基材21の不感領域21n1、21n2に形成し、不感領域21n1、21n2を、本体部10のひずみが生じない部分(起歪領域の外側)に貼り付けた場合には、固定抵抗素子RX、RX、RY、RYを温度補償用のダミーゲージとして作用させることができる。したがって、周囲温度の変化により起歪板11を含む本体部10に膨張や収縮が生じた場合にも、この膨張や収縮によるひずみ受感素子X、X、Y、Yの抵抗値の変化を補償して、計測誤差の発生を抑制することができる。
(3)固定抵抗素子RX、RX、RY、RYを基材21上にプリントして形成することにより、第1ブリッジ回路BC1、第2ブリッジ回路BC2、第3ブリッジ回路BC3を、それぞれ、基材21上で完結した閉回路として形成することができる。
ブリッジ回路を構成するひずみ受感素子を基材上にプリントし、ブリッジ回路を構成する固定抵抗素子を基材の外部、例えば信号処理回路に設ける場合には、ブリッジ回路を閉回路とするために、基材上のひずみ受感素子と信号処理部の固定抵抗素子とをリード線等により接続する必要がある。この場合、基材上の配線とリード線との接続は、基材上に設けられた電極にリード線を接合して行うが、電極とリード線との接合部に接合抵抗が生じるとこれがブリッジ回路内の抵抗となり大きなひずみ検出誤差の原因となるため、接合方法は、接合抵抗が実質的に無視できるほど小さいはんだ接合に限られている。
しかしながら、はんだ接合を良好に行うためには、基材上に比較的大きな電極を設け、且つ複数の電極間のピッチを確保する必要があるため、基材が大きくなってしまう。また、はんだ接合を良好に行うためにはある程度の厚みを有してはんだを盛る必要があるため、3軸力センサの小型化の妨げにもなる。
これに対し、本実施形態では、第1ブリッジ回路BC1、第2ブリッジ回路BC2、第3ブリッジ回路BC3が、それぞれ、基材21上で完結した閉回路として形成されており、端子T〜Tを介した基材21と信号処理部との接続は、第1ブリッジ回路BC1、第2ブリッジ回路BC2、第3ブリッジ回路BC3を電源や演算部に接続するための接合にすぎない。したがって、本実施形態においては、端子T〜Tとリード線L〜Lとの接合部において接合抵抗の発生が許容され、はんだ接合以外の任意の接合方法、例えば異方性導電フィルムを用いた接合を採用することができる。なお、異方性導電フィルムを用いることにより、電極の大きさ、電極間のピッチ、接合部の厚さをいずれもはんだ接合の場合の10分の1程度に抑えることができるため、3軸力センサ100の小型化を望む場合には異方性導電フィルムによる接合が有利である。
本実施形態のひずみゲージ20、及び、3軸力センサ100の効果は以下の通りである。
ひずみゲージ20は、第1ブリッジ回路BC1の固定抵抗素子RX、RX、第2ブリッジ回路BC2の固定抵抗素子RY、RYを基材21上に形成しているため、上記(2)、(3)の効果を奏することができ、更に固定抵抗素子RX、RX、RY、RYをひずみ受感素子X、X、Y、Yと同一の材料により形成しているため上記(1)の効果を奏することができる。
ひずみゲージ20においては、受感領域21sには、ひずみ受感素子X、X、Y、Y、Z、Zのみが形成されており、端子T〜T及び固定抵抗素子RX、RX、RY、RYは不感領域21n1、21n2に形成されている。したがって、受感領域21sの径(寸法)を小さくすることができ、ひいては3軸力センサ100の起歪板11を小さくすることができる。起歪板11の小型化は3軸力センサ100の小型化につながり好もしい。
ひずみゲージ20においては、端子T〜Tが不感領域21n1、21n2に設けられているため、必要に応じて、受感領域21sの径を大きくすることなく、端子T〜Tの寸法を大きくし、リード線等との接合作業を容易とすることができる。
ひずみゲージ20の基材21は、受感領域21sと不感領域21n1、21n2の間に、受感領域21s及び不感領域21n1、21n2よりも幅の狭い連結領域21c1、21c2を有するため、受感領域21s及び不感領域21n1、21n2を、連結領域21c1、21c2との接続部に規制されることなく様々な態様で配置することができる。
本実施形態の3軸力センサ100及び電子ペン200は、ひずみゲージ20を備えるため、ひずみゲージ20の効果と同様の効果を奏することができる。
本発明の特徴を維持する限り、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。
10 本体部
11 起歪板(起歪部材)
12 荷重作用部
13 周壁
20 ひずみゲージ
21 基材
21s 受感領域
21c1、21c2 連結領域
21n1、21n2 不感領域
31、32 ティップ
33 ホルダ
34 ボディ
35 フロントキャップ
100 3軸力センサ
200 電子ペン
BC1 第1ブリッジ回路(第1ホイートストンブリッジ回路)
BC2 第2ブリッジ回路(第2ホイートストンブリッジ回路)
BC3 第3ブリッジ回路(第3ホイートストンブリッジ回路)
RX、RX 固定抵抗素子(第1方向固定抵抗素子)
RY、RY 固定抵抗素子(第2方向固定抵抗素子)
〜T 端子
、X ひずみ受感素子(第1方向ひずみ受感素子)
、Y ひずみ受感素子(第2方向ひずみ受感素子)
、Z ひずみ受感素子(第3方向ひずみ受感素子)

Claims (3)

  1. 荷重を受けてひずむ起歪部材に取り付けられて、前記起歪部材の第1方向に作用する荷重の第1ホイートストンブリッジ回路による検出、前記起歪部材の第1方向に直交する第2方向に作用する荷重の第2ホイートストンブリッジ回路による検出、並びに前記起歪部材の第1及び第2方向に直交する第3方向に作用する荷重の第3ホイートストンブリッジ回路による検出に用いられるひずみゲージであって、
    可撓性の基材と、
    前記基材上に形成された回路パターンと、を備え、
    前記基材は、前記起歪部材の荷重を受けてひずみが生じる起歪領域に取り付けられる受感領域と、前記起歪領域の外側に配置される一対の不感領域と、前記受感領域と前記不感領域とを連結する連結領域と、を有し、
    前記連結領域の、前記受感領域と前記不感領域とが連結される方向に直交する直交方向の寸法が、前記受感領域及び前記不感領域の前記直交方向の寸法よりも小さく、
    前記回路パターンは、前記第1ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第1方向ひずみ受感素子と、前記第2ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第2方向ひずみ受感素子と、前記第3ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第3方向ひずみ受感素子と、前記第1ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第1方向固定抵抗素子と、前記第2ホイートストンブリッジ回路を構成する2つの第2方向固定抵抗素子と、を含み、
    前記第1方向ひずみ受感素子、前記第2方向ひずみ受感素子、前記第3方向ひずみ受感素子、並びに前記第1方向固定抵抗素子及び前記第2方向固定抵抗素子は同一材料で形成されており、
    前記第1方向ひずみ受感素子、前記第2方向ひずみ受感素子及び前記第3方向ひずみ受感素子は、前記受感領域に形成されており、
    前記第1方向固定抵抗素子及び前記第2方向固定抵抗素子は、前記不感領域に形成されており、
    前記第3方向ひずみ受感素子は、前記第1ホイートストンブリッジ回路と前記第2ホイートストンブリッジ回路とを接続して前記第3ホイートストンブリッジ回路を構成する、
    ひずみゲージ。
  2. 請求項1に記載のひずみゲージと、
    板状の前記起歪部材と、
    前記起歪部材に接続された荷重作用部と、
    を備えた3軸力センサ。
  3. 前記起歪部材の前記荷重作用部が接続される面とは反対側の面の周縁部から、前記第3方向に直立する周壁、をさらに備え、
    前記不感領域が、前記周壁の内周面に貼り付けられている、
    請求項2に記載の3軸力センサ。
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