JP2019012058A - 位置検知検出器及び光検出器搭載光学試験装置を使用する光アレイの極性、パワー、及び損失の測定 - Google Patents

Abstract

【課題】ｆａｉｂａケーブルの光学試験装置が提供される。【解決手段】試験装置は、第１の波長範囲に光学的に応答する光検知エリアを有する位置検知検出器１１８（position sensing detector、ＰＳＤ）を含む。ＰＳＤは、第１の範囲内の波長を有し、かつそれぞれの複数の光ファイバを通して放出された複数の光信号を受信し、アレイの極性を判定するために、光信号が光検知エリアに衝突した複数の位置を検出する。ＰＳＤは、第１の範囲内の波長を有する複数の第１の光信号を受信し、第１の光信号の極性及び複数の光強度を検出する。試験装置は、第１の範囲とは異なる第２の波長範囲に光学的に応答する光検出器１２０を含む。光検出器は、第２の範囲内の複数の第２の光信号を受信し、第２の光信号の複数の光強度を検出する。【選択図】図２

Description

本出願は、光アレイの極性及び光信号の強度又は損失を判定する光学試験装置、特に、位置検知検出器及び光検出器の両方が搭載されている光学試験装置を対象とする。

光学試験装置は、益々汎用的になっており、広範囲の機能が搭載されている。汎用性の向上は、試験を求められる様々な光ファイバ、コネクタ及びケーブルの数の増加の結果である。光試験装置の広範囲の機能は、ユーザ体験を向上させ、データセンタ技術者等のユーザが、１つの多面的かつ多機能試験装置の方を選び、多数の試験装置なしで済ませることを可能にする。

光アレイの極性並びに光信号の強度及び／又は損失を判定し得る光学試験装置を有することが望ましい。また、光学試験装置が、光の強度及び／又は損失並びにそれらのそれぞれの光送信波長についてシングルモード及びマルチモード光ファイバの両方を評価することも望ましい。

米国特許第５，２１２，５３７号

一実施形態において、光学試験装置は、第１の波長範囲に対して感光性である第１の材料の光検知エリアを有する位置検知検出器を含む。一実施形態において、位置検知検出器は、光ファイバケーブルのそれぞれの複数の光ファイバを通して放出された複数の第１の光信号を受信するように構成され、複数の第１の光信号は、第１の波長範囲内の波長を有する。一実施形態において、位置検知検出器は、複数の第１の光信号が光検知エリアにそれぞれ衝突する複数の位置を検出し、複数の第１の光信号の複数の第１の光強度をそれぞれ検出し、複数の位置及び複数の第１の光強度を表すデータを出力するように構成されている。一実施形態において、光学試験装置は、第１の材料とは異なり、かつ第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に対して感光性である第２の材料の光検出器を含む。一実施形態において、光検出器は、光ファイバケーブルの複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第２の光信号を受信するように構成され、複数の第２の光信号は、第２の波長範囲内の波長を有する。

一実施形態において、光検出器は、複数の第２の光信号の複数の第２の光強度をそれぞれ検出し、複数の第２の光強度を表すデータを出力するように構成されている。一実施形態において、光学試験装置は、複数の位置を表すデータ、複数の第１の光強度を表すデータ、及び複数の第２の光強度を表すデータを受信し、複数の位置を表すデータに基づいて光ファイバケーブルの極性を判定し、複数の第１の光強度のうちの第１の光強度に基づいて少なくとも１つの第１の光信号の光損失を判定し、複数の第２の光強度のうちの第２の光強度に基づいて少なくとも１つの第２の光信号の光損失を判定し、光ファイバケーブルの判定された極性、少なくとも１つの第１の光信号の光損失、及び少なくとも１つの第２の光信号の光損失を出力するように構成された、プロセッサを含む。

一実施形態において、位置検知検出器及び光検出器は、位置検知検出器の少なくとも一部分が光検出器の検知領域の少なくとも一部分で光検出器と重なるように積層される。一実施形態において、位置検知検出器は、第１の波長範囲の外側の波長を有する光を通過させるように構成されている。一実施形態において、複数の第２の光信号の波長は、第１の波長範囲の外側であり、光検出器は、複数の第２の光信号が位置検知検出器を通過した後に複数の第２の光信号を受信するように構成されている。

一実施形態において、位置検知検出器は、位置検知検出器が光検出器の検知領域のいずれの部分も覆わないように、光学試験装置内で位置付けられる。一実施形態において、光学試験装置は、複数の第１の光信号及び複数の第２の光信号を受信するように位置付けられた波長選択光スプリッタを含む。一実施形態において、波長選択光スプリッタは、第１の波長範囲内の波長を有する複数の第１の光信号を位置検知検出器に選択的に出力し、第２の波長範囲内の波長を有する複数の第２の光信号を位置検知検出器に選択的に出力するように構成されている。

一実施形態において、第１の材料は、シリコンであり、第２の材料は、ゲルマニウム又はヒ化インジウムガリウムである。一実施形態において、第１の波長範囲は、３５０〜１０００ｎｍであり、第２の波長範囲は、７００〜１６００ｎｍである。一実施形態において、複数の光ファイバは、シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバである。一実施形態において、複数の第１の光信号が位置検知検出器によって受信された順序を示す情報を受信し、複数の第１の光信号が受信された順序を示す情報、複数の第１の光信号が複数の光ファイバを通して放出された順序を示す情報、及び複数の位置を表すデータに基づいて、光ファイバケーブルの極性を判定するように構成されている。

一実施形態において、位置検知検出器は、複数の第１の光信号のそれぞれの複数のシグネチャを検出し、かつそれぞれの複数のシグネチャを表すデータを出力するように構成されている。一実施形態において、プロセッサは、それぞれの複数のシグネチャを表すデータを受信し、それぞれの複数のシグネチャを表すデータに基づいて複数の第１の光信号の複数の送信位置を判定し、複数の送信位置、及び複数の第１の光信号が位置検知検出器の光検知エリアにそれぞれ衝突する複数の位置を表すデータに基づいて光ファイバケーブルの極性を判定するように構成されている。

一実施形態において、位置検知検出器及び光検出器は、それらの間の結合剤によって積層される。一実施形態において、位置検知検出器は、第１の波長範囲内の波長を有する光を通過させるとともに、第１の波長範囲の外側かつ第２の波長範囲内の波長を有する光を反射するように構成された反射コートによって被覆される。一実施形態において、光検出器は、反射コートによって反射された光を受信するように位置付けられる。

一実施形態において、光学試験装置は、第１の波長範囲に対して感光性である第１の材料の光検知エリアを有する位置検知検出器を含む。一実施形態において、位置検知検出器は、光ファイバケーブルのそれぞれの複数の光ファイバを通して放出された複数の第１の光信号を受信するように構成され、複数の第１の光信号は、第１の波長範囲内の波長を有する。一実施形態において、位置検知検出器は、複数の第１の光信号が光検知エリアにそれぞれ衝突した複数の位置を検出し、かつ複数の位置を表すデータを出力するように構成されている。

実施形態において、光学試験装置は、第１の材料とは異なり、かつ第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に対して感光性である第２の材料の光検出器を含む。一実施形態において、光検出器は、光ファイバケーブルの複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第２の光信号を受信するように構成され、複数の第２の光信号は、第２の波長範囲内の波長を有する。一実施形態において、光検出器は、光ファイバケーブルの複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第３の光信号を受信するように構成され、複数の第３の光信号は、第２の波長範囲内かつ複数の第２の光信号の波長とは異なる波長を有する。一実施形態において、光検出器は、複数の第２の光信号の複数の第１の強度をそれぞれ検出し、複数の第３の光信号の複数の第２の強度をそれぞれ検出し、複数の第１の強度を表すデータ及び複数の第２の強度を表すデータを出力するように構成されている。

一実施形態において、光学試験装置は、複数の位置を表すデータ、複数の第１の強度を表すデータ、及び複数の第２の強度を表すデータを受信し、複数の位置を表すデータに少なくとも部分的に基づいて光ファイバケーブルの極性を判定し、複数の第１の強度のうちの対応する第１の強度に基づいて複数の第２の光信号のうちの少なくとも１つの第２の光信号の光損失を判定し、複数の第２の強度のうちの対応する第２の強度に基づいて複数の第３の光信号のうちの少なくとも１つの第３の光信号の光損失を判定し、光ファイバケーブルの判定された極性、少なくとも１つの第２の光信号の光損失、及び少なくとも１つの第３の光信号の光損失を出力するように構成された、プロセッサを含む。

一実施形態において、位置検知検出器及び光検出器は、それらの間の結合剤によって積層される。一実施形態において、位置検知検出器は、第１の波長範囲内の波長を有する光を通過させるとともに、第１の波長範囲の外側かつ第２の波長範囲内の波長を有する光を反射するように構成された反射コートによって被覆される。一実施形態において、光検出器は、反射コートによって反射された光を受信するように位置付けられる。

一実施形態において、光学試験装置は、可視光スペクトルの少なくとも一部分を含む第１の波長範囲に光学的に応答する画像センサを含む。一実施形態において、画像センサは、光ファイバケーブルのそれぞれ複数の光ファイバを通して放出された複数の第１の光信号を受信し、複数の第１の光信号が第１の波長範囲内の波長を有し、複数の第１の光信号が画像センサにそれぞれ衝突する複数の位置を検出し、複数の位置を表すデータを出力するように構成されている。一実施形態において、試験装置は、第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に光学的に応答する光検出器を含む。一実施形態において、光検出器は、複数の光ファイバからそれぞれ放出された複数の第２の光信号を受信し、複数の光信号が第２の波長範囲内の波長を有し、複数の第２の光信号の複数の光強度をそれぞれ検出し、複数の光強度を表すデータを出力するように構成されている。

一実施形態において、光学試験装置は、複数の位置を表すデータ及び複数の光強度を表すデータを受信し、複数の位置を表すデータに基づいて光ファイバケーブルの極性を判定し、複数の第２の光信号の複数の光強度に基づいてそれぞれ複数の光損失又は光強度を判定するように構成された、プロセッサを含む。一実施形態において、第１の波長範囲は、可視光スペクトルの少なくとも一部分及び可視光スペクトルの一端と１０００ｎｍとの間にある光学的範囲を含む。

図１は光ファイバケーブルの光コネクタに連結可能である光学試験装置の一実施形態を例示する。 図２は一実施形態による光学試験装置のブロック図を示す。 図３は一実施形態による光ファイバケーブルに接続された光学試験装置を示す。 図４は一実施形態による光ファイバケーブルに接続された光学試験装置を示す。 図５Ａはマルチモード光ファイバケーブルを試験するための方法のフロー図を示す。 図５Ｂはシングルモード光ファイバケーブルを試験するための方法のフロー図を示す。 図６は光ファイバアレイの極性の実例を示す。 図７は光ファイバアレイから発信された光信号を受信する位置検知検出器の実例を示す。 図８は光ファイバアレイの極性を判定するための方法のフロー図を示す。 図９は一実施形態による光ファイバケーブルに接続された光学試験装置を示す。 図１０は光ファイバケーブルを試験するための方法のフロー図を示す。

図１は、光ファイバケーブル１０４の光コネクタ１０２に接続可能である光学試験装置１００の少なくとも１つの実施形態を例示する。光ファイバケーブル１０４は、ケーブル光コネクタ１０２で終結される複数の光ファイバ１０６を含む。複数の光ファイバ１０６のそれぞれ複数の端面１０８は、ケーブル光コネクタ１０２で光ファイバアレイ１１０を形成する。

光学試験装置１００は、装置光コネクタ１１２及びインターフェース１１４を含む。装置光コネクタ１１２は、図１に示されるように装置光ケーブル１１５を使用して光学試験装置１００に接続されるが、装置光ケーブル１１５の使用は、必須ではない。装置光コネクタ１１２は、光学試験装置１００のハウジング上に配設され得る。例えば、装置光コネクタ１１２は、光学試験装置１００の前又は後に配設され得る。

装置光コネクタ１１２は、ケーブル光コネクタ１０２に接続可能である。装置光コネクタ１１２がケーブル光コネクタ１０２に連結されているとき、複数の光ファイバ１０６を通して放出された光信号が、光学試験装置１００によって受信される。光学試験装置１００は、光ファイバアレイ１１０の極性を判定するために光信号を試験する。

さらに、光学試験装置１００は、光ファイバ１０６から発信された光信号の強度を判定するために使用され得る。強度は、光信号の強さ又はパワーを反映し得る。強度はまた、光信号が光ファイバ１０６を通過するときの光信号と関連付けられた損失を測定するために使用され得る。光信号は、例えば、光ファイバ１０６内の欠陥又は光ファイバ１０６の端面上の粉塵によって強さ又はパワーの損失に遭遇し得る。損失は、光ファイバ１０６内に送信された光信号の強度と光学試験装置１００によって受信された光信号の強度との間の差に少なくとも部分的に基づいて計算され得る。

光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６（又は光ファイバケーブル１０４自体）は、シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバであり得る。シングルモード光ファイバは、マルチモード光ファイバよりも低量の反射及び屈折を伴って通過光を搬送することができる。その結果、マルチモード光ファイバは、シングルモード光ファイバよりも大きなマルチパス効果と関連し、光信号のパルスの拡散を結果として生じる。シングルモード光ファイバにおけるマルチパス効果及びパルス拡散の軽減は、マルチモード光ファイバ内よりも長い送信波長の使用を可能にする。

マルチモード光ファイバは、とりわけ、８５０ナノメートル（ｎｍ）又は１３００ｎｍの波長を有する光信号を搬送することができる。シングルモード光ファイバは、マルチモード光ファイバよりも長い波長を有する光信号を搬送することができる。例えば、シングルモード光ファイバは、とりわけ、１３１０又は１５５０ｎｍの波長を有する光信号を搬送することができる。光学試験装置１００は、シングルモード波長及びマルチモード波長の両方の光強度及び損失を試験することができる。光学試験装置１００は、広範囲の光信号波長に対して光ファイバ１０６を試験することができる。

光学試験装置１００のインターフェース１１４は、光学試験装置１００によって実施された試験又は測定の結果をユーザに提供するために使用され得る。インターフェース１１４は、図１内で画面であるように示されるが、様々な実施形態においてインターフェース１１４は、とりわけ、スピーカ又は発光ダイオード（light emitting diode、ＬＥＤ）パネルであってもよい。さらに、インターフェース１１４は、光ファイバケーブル１０４に対して試験を実施する個人等のユーザに試験若しくは測定の結果を表示するか、又は結果を記憶するために、とりわけ、コンピュータ、タブレット、スマートフォン又はサーバ等の、別の装置に試験結果又は測定結果を送信する無線モデム又は有線モデムを含み得る。

光学試験装置１００は、光ファイバ１０６を試験すべく、光ファイバ１０６を通して光信号を放出するために使用され得ることに留意する。例えば、光学試験装置１００は、光ファイバケーブル１０４の送信端（図示せず）に連結され得る第２の装置光コネクタを含み得る。これに代えて、別の装置が、光ファイバ１０６を通して光信号を放出するように使用され得る。

図２は、一実施形態による光学試験装置１００のブロック図を示す。光学試験装置１００は、プロセッサ１１６、位置検知検出器１１８、光検出器１２０、インターフェース１１４及びメモリ１２１を含む。位置検知検出器１１８、光検出器１２０、インターフェース１１４及びメモリ１２１は、プロセッサ１１６に通信自在に連結される。

位置検知検出器１１８は、光検知エリアを有する任意の種類の装置であってよく、光検知エリアに衝突する光信号を受信する。位置検知検出器１１８は、光信号が光検知エリアに衝突した位置を表すデータを出力し得る。位置検知検出器１１８はまた、光信号の強度を表すデータを出力し得る。位置検知検出器の例としては、ＯＳＩ ＯｐｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓのＰｈｏｔｏｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ Ｐｌａｎａｒ Ｄｉｆｆｕｓｅｄ Ｓｉｌｉｃｏｎ Ｐｈｏｔｏｄｉｏｄｅを含み、その仕様書が参照によって本明細書に組み込まれる。本明細書に参照によって組み込まれる米国特許第９，５１８，８９２号は、光信号の損失及び強度を判定し、また光ファイバアレイの極性を判定するための、位置検知検出器１１８等の位置検知検出器の使用を開示する。位置検知検出器１１８は、任意のサイズの光検知エリアを有し得る。光検知エリアは、シリコン（silicon、Ｓｉ）等の材料からなり得、このため低コスト様式で生産され得る。

シリコン光検知エリアは、第１の波長範囲に対して高い応答性を有し得る。第１の波長範囲は、３５０〜１０００ｎｍ又は５００〜１０００ｎｍであり得る。マルチモード光ファイバを通して放出されたいくつかの光信号は、第１の波長範囲内に収まり得る。例えば、マルチモード光ファイバを通して放出される６５０ｎｍ及び８５０ｎｍの波長を有する光信号は、位置検知検出器１１８によって捉えられ得る。

上述の第１の波長範囲の外側の波長（例えば、第１の範囲を超える第２の波長範囲内）は、シリコン位置検知検出器１１８による微小吸収を受ける。シリコン位置検知検出器１１８は、第２の範囲内の波長を有する光信号を通過させる。シリコン位置検知検出器１１８が裏材を有しない場合、光信号は、位置検知検出器１１８の後ろに積層されたか又はシリコン位置検知検出器１１８と軸方向に整列された光検出器１２０等の装置によって受信され得る。

高い応答性又は感光性は、光検知エリアが一定波長の光に対して０．２アンペアワット比（Ａ／Ｗ）以上の応答性を有する場合に達成され得る。０．２Ａ／Ｗ以上の応答性は、光信号を確実に検出することを可能にする。応答性が０．２Ａ／Ｗ未満である場合、位置検知検出器は、光検知エリアに衝突する光信号を確実に捉えることができない場合があり、したがって、光信号が確実に検出されない場合がある。

光検出器１２０は、光信号を受信して光信号の光強度を表すデータを出力可能である任意の種類の装置であってよい。例えば、光検出器１２０は、フォトダイオードであり得る。フォトダイオードは、位置検知検出器１１８によって検知される第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に対して感光性を有し得る。例えば、光検出器１２０は、ゲルマニウム（germanium、Ｇｅ）又はヒ化インジウムガリウム（indium gallium arsenide、ＩｎＧａＡｓ）であり得、７００〜１６００ｎｍの波長に対して光応答性であり得る。このため、光検出器１２０は、８５０ｎｍ及び１３００ｎｍの波長を有する光信号等のマルチモード光ファイバを通して送信された光信号、並びに１３１０ｎｍ及び１５５０ｎｍの波長を有する光信号等のシングルモード光ファイバを通して送信された光信号の光強度を検出可能であり得る。

メモリ１２１は、非一時的コンピュータ可読記憶媒体であり得る。メモリ１２１は、例えば、とりわけ、ランダムアクセスメモリ（random access memory、ＲＡＭ）又は読み出し専用メモリ（read-only memory、ＲＯＭ）であり得、メモリ１２１は、静的であっても動的であってもよい。メモリ１２１は、プロセッサ１１６によって実行されるとき、プロセッサ１１６に本明細書に説明されるように動作させる、実行可能命令を記憶するように構成され得る。例えば、メモリ１２１は、プロセッサ１１６によって実行されるとき、プロセッサ１１６に、位置検知検出器１１８又は光検出器１２０からデータを受信し、光のパワー若しくは損失又は極性をデータに基づいて判定し、光のパワー若しくは損失又は極性を表すデータを出力させる、実行可能命令を記憶するように構成され得る。

プロセッサ１１６は、中央処理装置（central processing unit、ＣＰＵ）等の処理ユニットを備える任意の種類の装置であってよい。例えば、プロセッサ１１６は、マイクロコントローラ又はコントローラであり得る。プロセッサ１１６は、メモリ１２１内に記憶された命令を取得又は受信し、命令を実行し、結果として、本明細書に説明されるように動作し得る。

プロセッサ１１６は、光信号が光検知エリアに衝突した位置を表すデータを位置検知検出器１１８から受信する。プロセッサ１１６は、位置を表すデータに基づいて、本明細書に説明されるように光ファイバケーブル１０４又はその光ファイバアレイ１１０の極性を判定する。

さらに、プロセッサ１１６は、光信号の強度を表すデータを位置検知検出器１１８又は光検出器１２０から受信する。プロセッサ１１６は、光信号の強度を表すデータに基づいて、光信号と関連付けられた光損失を判定する。

位置検知検出器１１８が上記の第１の波長範囲に光学的に応答するので、プロセッサ１１６、及びその結果、光学試験装置１００は、第１の波長範囲内の波長についての光損失又は光のパワー若しくは強度を判定するために位置検知検出器１１８から取得されたデータを利用する。

さらに、光検出器１２０が上記の第２の波長範囲に光学的に応答するので、プロセッサ１１６（又は光学試験装置１００）は、第２の波長範囲内の波長についての光損失又は光パワー若しくは強度を判定するために光検出器１１６から受信されたデータを利用する。

したがって、位置検知検出器１１８及び光検出器１２０の使用は、シングルモード光ファイバ及びマルチモード光ファイバの両方に対する送信波長を包含する第１の波長範囲及び第２の波長範囲の両方内の様々な光送信波長についての光ファイバ１０６に対する光損失を判定することを可能にする。同時に光ファイバアレイ１１０の極性は、第１の波長範囲内の波長についての位置検知検出器１１８によって出力されたデータに基づいて判定され得る。

光学試験装置１００はまた、低コストで生産され得る。第１の波長範囲に対して確実に応答し、かつ位置検知性能を有する、シリコン位置検知検出器は、第２の波長範囲内のより高い波長に確実に応答する他の位置検知検出器よりも経済的に有利である。光学試験装置１００は、第１の波長範囲内の光信号の極性を検出するために位置検知検出器の位置検知性能を使用する。必要であれば、光学試験装置１００は、第１の波長範囲内の光信号の強度又は損失を検出するために位置検知検出器の強度検出性能を使用する。

第２の波長範囲の光信号の強度又は損失を検出するために、光学試験装置１００は、光検出器１２０を使用する。その位置検知検出器対応物と異なり、第２の波長範囲に応答するゲルマニウム又はＩｎＧａＡｓ光検出器は、経済的に有利である。光学試験装置１００は、第２の波長範囲内の光信号の強度又は損失を検出するためにゲルマニウム又はＩｎＧａＡｓ光検出器を使用する。

したがって、光学試験装置１００の経済的有利性は、光検出器１２０を組み込み、第２の波長範囲内の光信号の検出の強度又は損失を光検出器１２０にシフトすることによって改善される。そのようにすることは、極性測定について、より高価なゲルマニウム又はＩｎＧａＡｓ位置検知検出器に代えてシリコン位置検知検出器を使用することを可能にする。全体として、光学試験装置１００のコスト及び経済的有利性が、実質的に改善される。

図３は、一実施形態による、光ファイバケーブル１０４に接続された光学試験装置１００ａを示す。図２を参照して説明された光学試験装置１００のものと類似の光学試験装置１００ａの要素は、同一参照番号を有する。光学試験装置１００ａは、プロセッサ１１６、位置検知検出器１１８、光検出器１２０、光スプリッタ１２３及び装置光コネクタ１１２を含む。光ファイバケーブル１０４は、複数の光ファイバ１０６を含む。光ファイバケーブル１０４の一端は、ケーブル光コネクタ１０２で終結される。ケーブル光コネクタ１０２は、光学試験装置１００ａの光コネクタ１１２に接続される。光ファイバケーブル１０４の複数の光ファイバ１０６によって放出される光信号は、光ファイバ１０６と関連付けられた光損失、光信号のパワー、及び／又は光ファイバケーブル１０４、そのコネクタ１０２若しくはその光ファイバアレイ１１０の極性を判定するために光学試験装置１００ａによって評価される。

光スプリッタ１２３は、光信号を受信し、かつ光信号を位置検知検出器１１８又は光検出器１２０に出力するように構成される、任意の種類の波長選択装置であり得る。光スプリッタ１２３は、例えば、ビームスプリッタであり得る。光スプリッタ１２３は、光信号を位置検知検出器１１８又は光検出器１２０に選択的に出力し得る。光スプリッタ１２３は、光信号をいずれかの装置に方向付けるか又は光信号をいずれかの装置の方向に導くことによって、光信号を選択的に出力し得る。光スプリッタ１２３は、光信号を反射又は屈折することによって光信号を出力し得る。光スプリッタ１２３が光信号を出力する方向は、光信号の波長に基づき得る（例えば、その関数）。

図３に示されるように、光スプリッタ１２３は、ケーブル光コネクタ１０２が装置光コネクタ１１２に接続されたとき、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６から発信された光信号が光スプリッタ１２３に衝突するように、光学試験装置１００ａ内に位置付けられ得る。位置検知検出器１１８は、第１の波長範囲（上で説明されたもの）内の波長を有する光信号が出力される方向で光スプリッタ１２３に関連して位置付けられ得る。さらに光検出器１２０は、第２の波長範囲（上で説明されたもの）内の波長を有する光信号が出力される方向で光スプリッタ１２３に関連して位置付けられ得る。

図３に示されるように、光スプリッタ１２３は、第１の波長範囲内の波長を有する光信号を反射し、第２の波長範囲内の波長を有する光信号を屈折させる。光検出器１２０及び光スプリッタ１２３は、第１の光軸上に位置付けられる。光検出器１２０は、光スプリッタ１２３によって屈折された光信号を受信する。位置検知検出器１１８及び光スプリッタ１２３は、第１の光軸に交差する第２の光軸上に位置付けられる。位置検知検出器１１８は、光スプリッタ１２３によって反射された光信号を受信する。位置検知検出器１１８は、光検出器１２０の検知領域を覆わない又は遮蔽しないように位置付けられ、逆もまた同様である。

様々な実施形態において、光学試験装置１００ａが、光信号を集光する１つ以上のレンズを含み得ることに留意する。例えば、レンズは、光スプリッタ１２３に衝突する光信号を集光するように位置付けられ得る。代替的に又は追加的に、レンズは、位置検知検出器１１８又は光検出器１２０の検知領域内に位置付けられ得る。レンズは、光スプリッタ１２３によって出力された光信号を集光し得る。万一、位置検知検出器１１８又は光検出器１２０の検知領域が、それぞれ、第１の波長範囲又は第２の波長範囲内の全ての光信号を包含するには十分に大きくない場合には、レンズは、光信号を検知領域内に集光し得る。

一実施形態において、パワースプリッタが波長選択スプリッタの代わりに使用されてもよい。パワースプリッタは、とりわけ、５０％／５０％スプリッタであり得る。波長選択スプリッタは、信号の波長に基づいて光信号を選択的に出力するが、パワースプリッタは、その様々な出力の中で信号のパワーを分割して低パワー光信号を各出力に出力する。

パワースプリッタが光学試験装置１００ａ内で使用されるとき、位置検知検出器１１８及び光検出器１２０の両方は、パワー低下光信号を受信する。光信号に対する位置検知検出器１１８及び光検出器１２０の応答性に依存して、検出器の一方又は両方は、光信号の光パワーを測定し、光パワーを表すデータをプロセッサ１１６に出力する。プロセッサ１１６は、データを受信する。プロセッサ１１６は、パワースプリッタと関連付けられたパワー低下パラメータによって構成され得る。例えば、パワースプリッタが５０％／５０％スプリッタである場合、パワー低下パラメータは、０．５又は３ｄＢであり得る。プロセッサは、パワースプリッタによるパワー低下を考慮して、光信号の検出された光パワーを拡縮し得る。例えば、５０％／５０％スプリッタが使用されるとき、プロセッサ１１６は、光信号の検出された光パワーを倍化し得る。

図４は、一実施形態による、光ファイバケーブル１０４に接続された光学試験装置１００ｂを示す。図３を参照して説明された光学試験装置１００ａのものと類似である光学試験装置１００ｂの要素は、同一参照番号を有する。ただし図３と異なり、図４の位置検知検出器１１８及び光検出器１２０は、積層又は重ねられている（例えば、それらの間の結合剤によって）。位置検知検出器１１８は、光検出器１２０の検知領域内に位置付けられ得、光検出器１２０を少なくとも部分的に覆い得る。さらに、位置検知検出器１１８及び光検出器１２０の検知領域は、重ねられ得る。

位置検知検出器１１８は、第１の波長範囲（例えば、上記の第１の波長範囲）内の光信号を吸収し、かつ第１の波長範囲の外側の光信号を光学的に通過させるように構成され得る。第１の波長範囲の外側の波長を有する光信号は、その後、光検出器１２０に衝突する。第１の波長範囲と第２の波長範囲との間が重なる場合において、位置検知検出器１１８は、第１の範囲の外側である第２の範囲内の光信号を通過させ得る。位置検知検出器１１８は、第１の範囲の外側である第２の範囲内の光信号のパワーのいくらかを吸収し得る。通過する光信号は、その後、光検出器１２０に衝突する。本明細書に説明されるように、位置検知検出器１１８は、第１の波長範囲内の受信された光信号の強度又はパワーを表すデータをプロセッサ１１６に出力する。さらに、位置検知検出器１１８は、極性判定のために、光信号が位置検知検出器１１８に衝突した位置を表すデータを出力し得る。光検出器１２０は、第２の波長範囲内の受信された光信号の強度又はパワーを表すデータをプロセッサ１１６に出力する。

図５Ａは、マルチモード光ファイバケーブル１０４を試験するための方法のフロー図を示す。マルチモード光ファイバケーブル１０４は、２つのマルチモード送信波長である、第１のマルチモード波長及び第２のマルチモード波長において試験され得る。第１のマルチモード波長は、例えば、８５０ｎｍであり得、したがって、第１の波長範囲内にあり得る。第２のマルチモード波長は、例えば、１３００ｎｍであり得、したがって、第１の波長範囲の外側、かつ第２の波長範囲内にあり得る。

方法５００において、図１を参照して説明された光学試験装置１００等の光学試験装置は、５０２において、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して、第１の波長を有する第１の光信号を放出する。

図２を参照して説明された位置検知検出器１１８等の位置検知検出器は、第１の光信号を捉える。位置検知検出器は、５０４において、第１の光信号が位置検知検出器に衝突した位置を検出する。位置検知検出器は、５０６において、第１の光信号の強度を検出する。本明細書に説明されるように、位置検知検出器は、図１を参照して説明されたプロセッサ１１６等のプロセッサに位置及び強度を表すデータを出力する。

第１の信号を放出した後、光学試験装置は、５０８において、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して第２の光信号を放出する。第２の光信号は、図２を参照して説明された光検出器１２０等の光検出器によって捉えられる。５１０において、光検出器は、第２の光信号の強度を検出する。光検出器は、本明細書に説明されるように、プロセッサ１１６に検出された強度を出力する。

５１２において、プロセッサ１１６は、その後、光ファイバケーブル（又は光ファイバアレイ１１０）の光ファイバの全てが試験されたか否かを判定する。否定的判定がなされた場合、光学試験装置は、５１４において次の光ファイバを試験し、これによって工程５０２〜５１０が次の光ファイバに対して実施される。

肯定的判定がなされた場合、プロセッサ１１６は、５１６において、光ファイバケーブルの極性並びに第１の波長及び第２の波長についての光のパワー又は損失を出力する。極性は、５０４で取得された位置情報に基づいて判定される。８５０ｎｍであり得る第１の波長が、極性を判定すること、及び８５０ｎｍのマルチモード送信波長に対して光ファイバを試験することの二重の目的のために使用され得ることに留意する。

一実施形態において、光学試験装置は、６３５ｎｍ又は６５０ｎｍ等の可視光波長を放出するビジュアルフォルトロケータ（Visual Fault Locator、ＶＦＬ）を含み得る。可視光スペクトルは、４００ｎｍ〜７００ｎｍの範囲にある。可視光光信号は、極性を判定するために使用され得る。ただし、光ファイバによるより短い波長のより大きな減衰によって、非可視光８５０ｎｍ放出体を代わりに利用することによって性能面の利点があり得る。

極性が光信号波長とは独立しているので、極性は、位置検知検出器の応答範囲内の波長を有する複数の第１の光信号を使用して判定され得る。複数の第２の光信号は、光ファイバの光損失を試験するために使用され得る。

一実施形態において、光学試験装置は、ビジュアルフォルトロケータによって放出された、５５０ｎｍ等の第１の波長に対して位置検知検出器によって捉えられた位置情報に基づいて極性を判定するために、光ファイバケーブルの光ファイバを通して繰り返し得る。その後、光学試験装置は、光検出器によって捉えられたパワー又は損失の情報に基づいて、８５０ｎｍ等の第２の送信波長についての光のパワー又は損失を判定するために光ファイバを試験し得る。光学試験装置は、その後、１３００ｎｍ等の第３の送信波長についての光のパワー又は損失を試験し得る。

図５Ｂは、シングルモード光ファイバケーブル１０４を試験するための方法５５０のフロー図を示す。シングルモード光ファイバに対する従来の波長は、シリコン位置検知検出器の応答範囲の外側である。さらに、非シングルモード波長は、極性を判定するために使用され、これに対し光のパワー又は損失は、従来のシングルモード波長に対して判定される。

方法５５０において、図１を参照して説明された光学試験装置１００等の光学試験装置は、５５２において、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して、第１の波長を有する第１の光信号を放出する。第１の波長は、６３５ｎｍ又は６５０ｎｍ等の可視光波長であり得る。さらに、第１の光信号は、光学試験装置のビジュアルフォルトロケータによって放出され得る。

図２を参照して説明された位置検知検出器１１８等の位置検知検出器は、第１の光信号を捉える。位置検知検出器は、５５４において、第１の光信号が位置検知検出器に衝突した位置を検出する。本明細書に説明されるように、位置検知検出器は、図１を参照して説明されたプロセッサ１１６等のプロセッサに位置及び強度を表すデータを出力する。

第１の信号を放出した後、光学試験装置は、５５６において、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して第２の光信号を放出する。第２の光信号は、第２の波長範囲内で、１３１０ｎｍ等の従来のシングルモード波長を有し得る。第２の光信号は、図２を参照して説明された光検出器１２０等の光検出器によって捉えられる。５５８において、光検出器は、第２の光信号の強度を検出する。光検出器は、本明細書に説明されるように、プロセッサ１１６に検出された強度を出力する。

５６０において、光学試験装置は、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して第３の光信号を放出する。第３の光信号は、１５５０ｎｍ等の従来のシングルモード波長を有し得、それは、第２の波長範囲内にある。第３の光信号は、図２を参照して説明された光検出器１２０等の光検出器によって捉えられる。５６２において、光検出器は、第３の光信号の強度を検出する。光検出器は、本明細書に説明されるように、プロセッサ１１６に検出された強度を出力する。

５６４において、プロセッサ１１６は、その後、光ファイバケーブル（又は光ファイバアレイ１１０）の光ファイバの全てが試験されたか否かを判定する。否定的判定がなされた場合、光学試験装置は、５６６において次の光ファイバを試験し、これによって工程５５２〜５６２が次の光ファイバに対して実施される。

５６４において肯定的判定がなされた場合、プロセッサ１１６は、５６８において、光ファイバケーブルの極性並びに第２の波長及び第３の波長についての光のパワー又は損失を出力する。極性は、５５４で検出された位置情報に基づいて判定される。第１の光信号がシングルモード光ファイバの極性判定に使用されることに留意する。第２の光信号及び第３の光信号は、光のパワー／損失を判定するために使用される。

光ファイバによるより短い波長のより大きな減衰によって、一定の実施形態において光学試験装置にとって８５０ｎｍ又は９５０ｎｍ等のより長い波長で光信号を放出する放出体を含むことに性能利点があり得る。ただし、放出体の追加は、光学試験装置のコストを上昇させる。

図６は、光ファイバアレイの極性の実例を示す。図６において、光ファイバケーブル１０４の送信端１２４の光コネクタ１２２が示される。本明細書に説明されるように、光ファイバケーブル１０４は、複数の光ファイバ１０６を含む。複数の光ファイバ１０６は、送信端１２４の光コネクタ１２２で終結される。複数の光ファイバ１０６のそれぞれ複数の端面１２６は、送信端１２４の光コネクタ１２２で光ファイバアレイ１２８を形成する。３つの極性タイプに従って光ファイバケーブル１０４の受信端１３２の３つの光コネクタ１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃがまた、それぞれ示される。複数の光ファイバ１０６のそれぞれ複数の端面１０８は、光ファイバアレイ１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃを形成する。光ファイバアレイ１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃは、受信端１３２の光コネクタ１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃでそれぞれ形成される。各光ファイバアレイ１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃは、それぞれ極性を有する。

光ファイバアレイ１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃの極性は、送信端１２４の光ファイバアレイ１２８内の送信位置と受信端１３２の光ファイバアレイ１１０内の受信位置との間の関係を指す。

第１の光ファイバアレイ１１０ａは、第１の極性１３８ａ（米国国家規格協会／米国電気通信工業会５６８仕様（ＡＮＳＩ／ＴＩＡ−５６８）によって定義された「タイプＡ」極性として知られている）を有する。第１の極性１３８ａによれば、光ファイバ１０６の受信位置は、光ファイバ１０６の送信位置と同一である。送信位置及び受信位置は、光コネクタ１０２、１２２のキー１４０によって参照され得る。例えば、第１の位置は、キー１４０に対して最も左の位置であってもよく、第２の位置は、キー１４０に対して左から２番目の位置などであってもよい。図４において光ファイバアレイ１１０、１２８は、１列の端面１０８、１２６を含むように示されるが、他の実施形態においては光ファイバアレイ１１０、１２８が、１列よりも多い光ファイバ端面１０８、１２６を有する配置を含む異なる配置を有し得ることに留意する。

第２の光ファイバアレイ１１０ｂは、第２の極性１３８ｂ（「タイプＢ」極性として知られている）を有する。第２の極性１３８ｂによれば、光ファイバ１０６の受信位置が送信位置に対して転置される。したがって、キー１４０に対して最も左の位置で光ファイバ１０６内に送信される光信号は、受信端１３２の光ファイバアレイ１１０ｂ上のキー１４０に対して最も右の位置で受信されることになる。同様に、送信端上でキー１４０に対して左から３番目の位置で光ファイバ内に送信される光信号は、受信端１３２上の右から３番目の位置で受信されることになる。

第３の光コネクタ１１０ｃは、第３の極性１３８ｃ（「タイプＣ」極性として知られている）を有する。第３の極性１３８ｃによれば、光信号の受信位置は送信位置に対して対ごとに転置されることになる。したがって、送信端１２４上でキー１４０に対して最も左の位置で光ファイバ１０６に送信される光信号は、受信端１３２でキー１４０に対して左から２番目の位置で受信されることになり、その逆も同様である。同様に、送信端１２４上でキー１４０に対して左から３番目の位置で光ファイバ１０６内に送信される光信号は、受信端１３２上の左から４番目の位置で受信されることになる。

図２を再び参照すると、光信号が位置検知検出器１１８に衝突した位置を表すデータは、受信端１３２の光ファイバアレイ１１０内の光信号の受信位置を判定するために使用され得る。受信位置が一旦判定されると、光ファイバケーブル１０４又は光ファイバアレイ１１０の極性は、判定された受信位置及び光信号の既知の送信位置に基づいて、プロセッサ１１６によって判定され得る。

図７は、光ファイバアレイ１１０から発信された光信号を受信する位置検知検出器１１８の実例を示す。説明の容易化のため、光スプリッタ１２３又はレンズの効果又は使用が、図７において無視されることに留意する。位置検知検出器１１８は、光信号を受信する。光信号が位置検知検出器１１８上で受信される位置は、光ファイバアレイ１１０内の光ファイバ１０６（これを通して光信号が送信される）の端面１０８の位置に対応する。光信号が受信される位置は、光ファイバアレイ１１０内の光信号を放出する端面１０８の位置を示す。位置検知検出器１１８は、光信号が位置検知検出器１１８に衝突した位置を検出し、位置を表すデータを出力する。データは、プロセッサ１１６に出力され得る。プロセッサは、光ファイバケーブル１０４又はそのアレイ１１０の極性を判定するためにデータを使用し得る。

複数の光ファイバケーブル１０４を判定するために、試験規則が採用され得る。光ファイバケーブル１０４を試験する間、光信号は、特定の順序で複数の光ファイバ１０６を介して送信され得る。例えば、光信号は、複数の光ファイバ１０６を介して、最も左の送信位置から最も右の送信位置まで連続して送信され得る。光ファイバ信号の受信順序が最も左の受信位置から最も右の受信位置までであると判定された場合、光ファイバケーブル１０４の極性は、図６を参照して説明する第１の極性１３８ａであると判定され得る。逆に、受信順序が最も右の受信位置から最も左の受信位置までであると判定された場合、光ファイバケーブル１０４の極性は、図６を参照して説明する第２の極性１３８ｂであると判定され得る。代替的に、受信順序が、送信順序に関して対ごとに転置されていると判定された場合、光ファイバケーブル１０４の極性は、図６を参照して説明する第３の極性１３８ｃであると判定され得る。

試験規則として本明細書に説明された送信順序及び受信順序を使用することの代替として、固有シグネチャを有する光信号が、ケーブルの送信端で特定送信位置を有する光ファイバケーブルを介して送信されてもよい。シグネチャは、光信号の変調又は光信号と関連付けられた波長に基づき得る。例えば、特定の送信位置を有する光ファイバケーブルを介して送信される光信号は、とりわけ、固有のオンオフキーイングパターンを使用して変調されてもよい。代替的に又は追加的に、特定の送信位置を有する光ファイバケーブルを介して送信される光信号は固有の波長を有していてもよい。シグネチャは、光学試験装置１００に先験的に既知であってもよい。受信された光信号のシグネチャは、位置検知検出器１１８によって検出され得、プロセッサ１１６に出力され得る。例えば、受信された光信号のオンオフキーイングパターンが識別され得る。シグネチャは、送信位置を示し得る。プロセッサ１１６は、既知の送信位置及び光信号の検出された固有シグネチャに基づいて判定された光信号の検出された受信位置に基づいて、光ファイバケーブル１０４の極性を判定し得る。

図８は、光ファイバケーブル１０４の極性を判定するための方法８００のフロー図を示す。方法８００において、図２を参照して説明された光学試験装置１００等の光学試験装置は、８０２において、第１の波長範囲内の波長を有する１つ以上の光信号を放出する。１つ以上の光信号は、それぞれ、光ファイバケーブルの１つ以上の光ファイバを通して放出され得る。本明細書に説明されるように、１つ以上の光信号は、特定順序で１つ以上のそれぞれの光ファイバを通して放出され得る。順序は、１つ以上の光信号の送信位置を示し得る。代替的に又は追加的に、１つ以上の光信号は、その送信位置を示す固有シグネチャを有し得る。１つ以上の光信号が第１の波長範囲内の波長を有するので、１つ以上の光信号は、例えば、上記のようにシリコン光検知エリアを有する位置検知検出器によって確実に検出可能である。

８０４において、図２を参照して説明される位置検知検出器１１８等の位置検知検出器は、１つ以上のそれぞれの受信位置で１つ以上の光信号を受信する。位置検知検出器は、上記のようにそれぞれの受信位置を判定し、１つ以上の受信位置を表すデータを出力し得る。データは、図２を参照して説明されたプロセッサ１１６等のプロセッサに出力され得る。

８０６において、光学試験装置は、光ファイバケーブルの極性を判定する。本明細書に説明されるように、光ファイバケーブルの極性は、１つ以上の光信号の１つ以上の受信位置及び１つ以上のそれぞれの送信位置に基づいて判定され得る。

一実施形態において、光学試験装置の光スプリッタは、反射コートによって置換され得る。反射コートは、第２の波長範囲内の波長を有する光信号を反射し、第１の波長範囲内の波長を有する光信号を反射することなく通過させ得る。

図９は、一実施形態による、光ファイバケーブル１０４に接続された光学試験装置１００ｃを示す。図３を参照して説明された光学試験装置１００ａのものと類似である光学試験装置１００ｃの要素は、同一参照番号を有する。

位置検知検出器は、反射コート１３６によって被覆される。反射コートは、透明であり得、第１の波長範囲内の波長（例えば、９５０ｎｍ未満）を有する光信号を通過させ得る。反射コートは、第１の波長範囲の外側又は第２の範囲（例えば、９５０ｎｍを超える）波長を有する光信号を反射し得る。位置検知検出器１１８及び反射コート１３６は、第１の光軸上に位置付けられる。位置検知検出器１１８は、反射コート１３６を通過する光信号を受信する。光検出器１２０及び反射コート１３６は、第１の光軸に交差する第２の光軸上に位置付けられる。光検出器１２０は、反射コート１３６によって反射される光信号を受信する。

一実施形態において、光学試験装置１００は、位置検知検出器１１８の定位置に画像センサを含み得る。画像センサは、極性判定のために使用され得る。画像センサは、光信号が画像センサに衝突した位置を判定可能であり得、光信号は、可視光波長を有する可視光信号であるか又は可視光範囲近傍の波長を有し得る。画像センサは、光信号並びに近赤外線（near infrared、ＮＩＲ）信号及び短波赤外線（short wave infrared、ＳＷＩＲ）信号に応答し得る。例えば、画像センサは、可視光スペクトルの一端と１０００ｎｍとの間の光信号に応答し得る。画像センサは、可視光スペクトル内の光信号の強度を判定可能ではない場合がある。

図１０は、光ファイバケーブル１０４を試験するための方法１０００のフロー図を示す。光ファイバケーブル１０４は、マルチモード又はシングルモードの光ファイバケーブルであり得る。光ファイバケーブル１０４がマルチモード光ファイバケーブル１０４であるとき、光ファイバケーブル１０４の光のパワー又は損失は、８５０ｎｍ及び１３００ｎｍ等のマルチモード送信波長で試験され得る。光ファイバケーブル１０４がシングルモード光ファイバケーブル１０４であるとき、光ファイバケーブル１０４の光のパワー又は損失は、１３１０ｎｍ及び１５５０ｎｍ等のシングルモード送信波長で試験され得る。

方法１０００は、図１を参照して説明された光学試験装置１００等の光学試験装置によって実施され得る。光学試験装置は、本明細書に説明されるようにビジュアルフォルトディテクタ（Visual Fault Detector）を備え得、可視光を放出し得る。さらに、光学試験装置は、画像センサを備え得、これは、可視光光信号が画像センサに衝突した位置を判定する。光ファイバケーブル１０４の極性は、本明細書に説明されるように画像センサによって判定された位置に少なくとも部分的に基づいて判定され得る。

方法１０００において、図１を参照して説明された光学試験装置１００等の光学試験装置は、１００２において、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して、可視光スペクトル内の第１の波長を有する第１の光信号を放出する。さらに、第１の光信号は、近赤外線（ＮＩＲ）範囲又は短波赤外線（ＳＷＩＲ）範囲内の波長を有し得る。例えば、第１の光信号は、１０００ｎｍまでの波長を有し得る。画像センサは、１００４において、第１の光信号が画像センサに衝突した位置を検出する。画像センサは、プロセッサ１１６に位置を出力する。

第１の光信号を放出した後、光学試験装置は、光ファイバケーブル１０４の光のパワー又は損失を試験するように進む。光学試験装置は、１００６において、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して第２の光信号を放出する。第２の光信号は、第２の波長を有する。光ファイバケーブル１０４がマルチモードケーブルであるとき、第２の波長は、８５０ｎｍ等のマルチモード送信波長であり得る。光ファイバケーブル１０４がシングルモードケーブルであるとき、第２の波長は、１３１０ｎｍ等のシングルモード送信波長であり得る。

第２の光信号は、図２を参照して説明された光検出器１２０等の光検出器によって捉えられる。１００８において、光検出器は、第２の光信号の強度を検出する。光検出器は、本明細書に説明されるように、プロセッサ１１６に検出された強度を出力する。

１０１０において、プロセッサ１１６は、その後、光ファイバケーブル１０４の光ファイバ１０６を通して第３の光信号を放出する。第３の光信号波、第３の波長を有する。光ファイバ１０６又は光ケーブル１０４がマルチモードである場合、第３の波長は、１３００ｎｍ等のマルチモード送信波長であり得る。光ファイバ１０６又は光ケーブル１０４がシングルモードである場合、第３の波長は、１５５０ｎｍ等のシングルモード送信波長であり得る。

第３の光信号は、図２を参照して説明された光検出器１２０等の光検出器によって捉えられる。１０１２において、光検出器は、第３の光信号の強度を検出する。光検出器は、本明細書に説明されるように、プロセッサ１１６に検出された強度を出力する。

プロセッサ１１６は、その後、１０１４において光ファイバケーブル（又は光ファイバアレイ１１０）の光ファイバの全てが試験されたか否かを判定する。否定的判定がなされた場合、光学試験装置は、１０１４において次の光ファイバを試験し、これによって工程１００２〜１０１２が次の光ファイバに対して実施される。

肯定的判定がなされた場合、プロセッサ１１６は、１０１８において、光ファイバケーブルの極性並びに第２の波長及び第３の波長についての光のパワー又は損失を出力する。極性は、画像センサによって検出された位置情報に基づいて判定される。

上に記載した種々の実施形態を組み合わせ、さらなる実施形態を得てもよい。上記の発明を実施するための形態を考慮すれば、これら及び他の変更が実施形態に加えられ得る。一般的に、以下の特許請求の範囲において、使用される用語は、特許請求の範囲を、本明細書及び特許請求の範囲に開示される具体的な実施形態に限定するものと解釈すべきではなく、むしろ、このような特許請求の範囲が権利を有する均等物の全範囲とともに全ての可能な実施形態を含むものと解釈すべきである。したがって、特許請求の範囲は、本開示によって制限されるものではない。

Claims (23)

1. 第１の波長範囲に対して感光性である第１の材料の光検知エリアを有する位置検知検出器であって、前記位置検知検出器が、
   光ファイバケーブルのそれぞれの複数の光ファイバを通して放出された複数の第１の光信号であって、前記複数の第１の光信号が、前記第１の波長範囲内の波長を有する、複数の第１の光信号を受信し、
   前記複数の第１の光信号が前記光検知エリアにそれぞれ衝突する複数の位置を検出し、
   前記複数の第１の光信号の複数の第１の光強度をそれぞれ検出し、
   前記複数の位置及び前記複数の第１の光強度を表すデータを出力するように構成されている、位置検知検出器と、
   前記第１の材料とは異なり、かつ前記第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に対して感光性である第２の材料の光検出器であって、前記光検出器が、
   前記光ファイバケーブルの前記複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第２の光信号であって、前記複数の第２の光信号が、前記第２の波長範囲内の波長を有する、複数の第２の光信号を受信するように構成されている、光検出器と、を備える、光学試験装置。
2. 前記光検出器は、
   前記複数の第２の光信号の複数の第２の光強度をそれぞれ検出し、
   前記複数の第２の光強度を表すデータを出力するように構成されている、請求項１に記載の光学試験装置。
3. 前記複数の位置を表す前記データ、前記複数の第１の光強度を表す前記データ、及び前記複数の第２の光強度を表す前記データを受信し、
   前記複数の位置を表す前記データに基づいて前記光ファイバケーブルの極性を判定し、
   前記複数の第１の光強度のうちの第１の光強度に基づいて少なくとも１つの第１の光信号の光損失を判定し、
   前記複数の第２の光強度のうちの第２の光強度に基づいて少なくとも１つの第２の光信号の光損失を判定し、
   前記光ファイバケーブルの前記判定された極性、前記少なくとも１つの第１の光信号の前記光損失、及び前記少なくとも１つの第２の光信号の前記光損失を出力するように構成された、プロセッサをさらに備える、請求項２に記載の光学試験装置。
4. 前記位置検知検出器及び前記光検出器は、前記位置検知検出器の少なくとも一部分が、前記光検出器の検知領域の少なくとも一部分で前記光検出器と重なるように積層されている、請求項１に記載の光学試験装置。
5. 前記位置検知検出器は、前記第１の波長範囲の外側の波長を有する光を通過させるように構成され、前記複数の第２の光信号の波長は、前記第１の波長範囲の外側であり、前記光検出器は、前記複数の第２の光信号が前記位置検知検出器を通過した後に前記複数の第２の光信号を受信するように構成されている、請求項４に記載の光学試験装置。
6. 前記位置検知検出器は、前記位置検知検出器が前記光検出器の検知領域のいずれの部分も覆わないように前記光学試験装置内で位置付けられている、請求項１に記載の光学試験装置。
7. 前記複数の第１の光信号及び前記複数の第２の光信号を受信するように位置付けられた波長選択光スプリッタであって、
   前記第１の波長範囲内の波長を有する前記複数の第１の光信号を前記位置検知検出器に選択的に出力し、
   前記第２の波長範囲内の波長を有する前記複数の第２の光信号を前記光検出器に選択的に出力するように構成された、波長選択光スプリッタをさらに備える、請求項６に記載の光学試験装置。
8. 前記第１の材料は、シリコンであり、前記第２の材料は、ゲルマニウム又はヒ化インジウムガリウムである、請求項１に記載の光学試験装置。
9. 前記第１の波長範囲は、３５０〜１０００ｎｍであり、前記第２の波長範囲は、７００〜１６００ｎｍである、請求項１に記載の光学試験装置。
10. 前記複数の光ファイバは、シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバである、請求項１に記載の光学試験装置。
11. 前記プロセッサは、
    前記複数の第１の光信号が前記位置検知検出器によって受信された順序を示す情報を受信し、
    前記複数の第１の光信号が受信された前記順序を示す前記情報、前記複数の第１の光信号が前記複数の光ファイバを通して放出された順序を示す情報、及び前記複数の位置を表す前記データに基づいて、前記光ファイバケーブルの前記極性を判定するように構成されている、請求項３に記載の光学試験装置。
12. 前記位置検知検出器は、前記複数の第１の光信号のそれぞれの複数のシグネチャを検出し、かつ前記それぞれの複数のシグネチャを表すデータを出力するように構成され、前記プロセッサは、
    前記それぞれの複数のシグネチャを表す前記データを受信し、
    前記それぞれの複数のシグネチャを表す前記データに基づいて前記複数の第１の光信号の複数の送信位置を判定し、
    前記複数の送信位置、及び前記複数の第１の光信号が前記位置検知検出器の前記光検知エリアにそれぞれ衝突する前記複数の位置を表す前記データに基づいて、前記光ファイバケーブルの前記極性を判定するように構成されている、請求項３に記載の光学試験装置。
13. 前記位置検知検出器及び前記光検出器は、それらの間の結合剤によって積層されている、請求項１に記載の光学試験装置。
14. 前記位置検知検出器は、前記第１の波長範囲内の波長を有する光を通過させるとともに、前記第１の波長範囲の外側かつ前記第２の波長範囲内の波長を有する光を反射するように構成された反射コートによって被覆されている、請求項１に記載の光学試験装置。
15. 前記光検出器は、前記反射コートによって反射された光を受信するように位置付けられている、請求項１４に記載の光学試験装置。
16. 第１の波長範囲に対して感光性である第１の材料の光検知エリアを有する位置検知検出器であって、前記位置検知検出器が、
    光ファイバケーブルのそれぞれの複数の光ファイバを通して放出された複数の第１の光信号であって、前記複数の第１の光信号が、前記第１の波長範囲内の波長を有する、複数の第１の光信号を受信し、
    前記複数の第１の光信号が前記光検知エリアにそれぞれ衝突した複数の位置を検出し、
    前記複数の位置を表すデータを出力するように構成されている、位置検知検出器と、
    前記第１の材料とは異なり、かつ前記第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に対して感光性である第２の材料の光検出器であって、前記光検出器が、
    前記光ファイバケーブルの前記複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第２の光信号であって、前記複数の第２の光信号が、前記第２の波長範囲内の波長を有する、複数の第２の光信号を受信し、
    前記光ファイバケーブルの前記複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第３の光信号であって、前記複数の第３の光信号が、前記第２の波長範囲内かつ前記複数の第２の光信号の波長とは異なる波長を有する、複数の第３の光信号を受信し、
    前記複数の第２の光信号の複数の第１の光強度をそれぞれ検出し、
    前記複数の第３の光信号の複数の第２の強度をそれぞれ検出し、
    前記複数の第１の強度を表すデータ及び前記複数の第２の強度を表すデータを出力するように構成されている、光検出器と、を備える、光学試験装置。
17. 前記複数の位置を表す前記データ、前記複数の第１の強度を表す前記データ、及び前記複数の第２の強度を表す前記データを受信し、
    前記複数の位置を表す前記データに少なくとも部分的に基づいて前記光ファイバケーブルの極性を判定し、
    前記複数の第１の強度のうちの対応する第１の強度に基づいて前記複数の第２の光信号のうちの少なくとも１つの第２の光信号の光損失を判定し、
    前記複数の第２の強度のうちの対応する第２の強度に基づいて前記複数の第３の光信号のうちの少なくとも１つの第３の光信号の光損失を判定し、
    前記光ファイバケーブルの前記判定された極性、前記少なくとも１つの第２の光信号の前記光損失、及び前記少なくとも１つの第３の光信号の前記光損失を出力するように構成された、プロセッサをさらに備える、請求項１６に記載の光学試験装置。
18. 前記位置検知検出器及び前記光検出器は、それらの間の結合剤によって積層されている、請求項１６に記載の光学試験装置。
19. 前記位置検知検出器は、前記第１の波長範囲内の波長を有する光を通過させるとともに、前記第１の波長範囲の外側かつ前記第２の波長範囲内の波長を有する光を反射するように構成された反射コートによって被覆されている、請求項１６に記載の光学試験装置。
20. 前記光検出器は、前記反射コートによって反射された光を受信するように位置付けられている、請求項１９に記載の光学試験装置。
21. 可視光スペクトルの少なくとも一部分を含む第１の波長範囲に光学的に応答する画像センサであって、前記画像センサが、
    光ファイバケーブルのそれぞれの複数の光ファイバを通して放出された複数の第１の光信号であって、前記複数の第１の光信号が、前記第１の波長範囲内の波長を有する、複数の第１の光信号を受信し、
    前記複数の第１の光信号が前記画像センサにそれぞれ衝突する複数の位置を検出し、
    前記複数の位置を表すデータを出力するように構成されている、画像センサと、
    前記第１の波長範囲とは異なる第２の波長範囲に光学的に応答する光検出器であって、前記光検出器が、
    前記複数の光ファイバを通してそれぞれ放出された複数の第２の光信号であって、前記複数の第２の光信号が、前記第２の波長範囲内の波長を有する、複数の第２の光信号を受信し、
    前記複数の第２の光信号の複数の光強度をそれぞれ検出し、
    前記複数の光強度を表すデータを出力するように構成されている、光検出器と、を備える、光学試験装置。
22. 前記複数の位置を表す前記データ及び前記複数の光強度を表す前記データを受信し、
    前記複数の位置を表す前記データに基づいて前記光ファイバケーブルの極性を判定し、
    前記複数の第２の光信号の前記複数の光強度に基づいてそれぞれの複数の光損失又は光強度を判定するように構成された、プロセッサをさらに備える、請求項２１に記載の光学試験装置。
23. 第１の波長範囲は、前記可視光スペクトルの少なくとも前記一部分及び前記可視光スペクトルの一端と１０００ｎｍとの間にある光学的範囲を含む、請求項２１に記載の光学試験装置。

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