JP2019010784A - 記録装置および記録方法 - Google Patents

Abstract

【課題】記録媒体の幅方向に対して傾いて配置された吐出口列を有する記録ヘッドを用いる場合において、重複部からの記録における画質低下を抑制する。【解決手段】インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子と、記録素子と対応するように設けられた複数の吐出口と、がそれぞれ設けられた第１吐出口列と第２吐出口列を有し、第１、第２吐出口列は、それぞれ第１方向に対して所定の傾きで傾いて複数の吐出口が配列されており、制御手段は、記録媒体上で第１吐出口列の一部の吐出口と第２吐出口列の一部の吐出口が第２方向に同じ位置にインクを吐出されるように、所定の傾きに応じた調整量で第２吐出口列からの吐出タイミングを調整する。【選択図】図９

Description

本発明は、記録装置および記録方法に関する。

インクを吐出する複数の吐出口を有する記録ヘッドを用いて記録媒体に画像を記録する記録装置が知られている。このような記録装置において、近年では記録媒体の幅よりも長い範囲に吐出口が配列された記録ヘッドを用いることもまた知られている。

ここで、吐出口を長い範囲で一列に配列すると製造コストが増加したり、吐出口の製造誤差が生じ易くなってしまったりすることがある。この点を鑑み、ある程度短い範囲で吐出口が配列された吐出口列を複数用い、複数の吐出口列が記録媒体の幅方向に並んで配置された記録ヘッドを用いることがある。更に、隣接する２つの吐出口列の幅方向端部の吐出口が幅方向における同じ位置に位置する重複部を設けながら、複数の吐出口列を幅方向に並べて配置した記録ヘッドを用いることもまた知られている。この記録ヘッドを用い、重複部からは２つの吐出口列で分担して記録を行うことにより、吐出口列間での吐出特性の違いによる画質低下を抑制することができる。

しかしながら、吐出口内の記録素子を複数の駆動ブロックに分割し、駆動ブロックごとに異なるタイミングで記録素子を駆動する、所謂時分割駆動を考えると、上述の重複部を設けた記録ヘッドを用いる場合であっても、画質が十分とならない虞がある。隣接する２つの吐出口列の重複部の吐出口内の記録素子が駆動される順番が異なると、幅方向に同じ位置に位置する吐出口からの吐出であっても、幅方向と交差する方向においてドットの着弾位置がずれてしまい、画質を損なってしまう。これに対し、特許文献１には、隣接する２つの吐出口列の重複部に対応する記録素子が互いに同じ順番で駆動されるように、吐出口列間で記録素子の駆動順序を異ならせることが開示されている。

特開２００６−３３４８９９号公報

ここで、吐出口列を記録媒体の幅方向に対して所定の傾きで傾けた記録ヘッドを用いると、記録媒体に着弾する幅方向におけるドット間の距離を、吐出口列内の吐出口の配列間隔よりも短くすることができるため、高精細な画像を記録可能となる。しかしながら、このような所定の傾きの吐出口列を有する記録ヘッドを用いると、その傾きに応じて幅方向と異なる方向においてドットの着弾位置がずれてしまう。この結果、特許文献１に開示された技術を用いたとしても、重複部において吐出口列間でドットの着弾位置が異なってしまい、十分な画質の画像を得ることができない虞がある。

本発明は上記の課題を鑑みて為されたものであり、記録媒体の幅方向に対して傾いて配置された吐出口列を有する記録ヘッドを用いる場合において、重複部からの記録における画質低下を抑制することを目的とする。

そこで、本発明は、インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子と、前記記録素子と対応するように設けられた複数の吐出口と、がそれぞれ設けられた第１吐出口列と第２吐出口列を有し、前記第１吐出口列の第１方向の一方の端部に配置された一部の吐出口と、前記第２吐出口列の前記第１方向の他方の端部に配置された一部の吐出口と、が前記第１方向に同じ位置に位置するように、前記第１、第２吐出口列が前記第１方向にずれて配置された記録ヘッドと、前記記録ヘッドと記録媒体の少なくとも一方を前記第１方向と交差する第２方向に移動させる移動手段と、前記第２吐出口列からの吐出タイミングを制御する制御手段と、を有する記録装置であって、前記第１、第２吐出口列は、それぞれ前記第１方向に対して所定の傾きで傾いて前記複数の吐出口が配列されており、前記制御手段は、前記記録媒体上で前記第１吐出口列の前記一部の吐出口と前記第２吐出口列の前記一部の吐出口が前記第２方向に同じ位置にインクを吐出されるように、前記所定の傾きに応じた第１調整量で前記第２吐出口列からの前記吐出タイミングを調整することを特徴とする。

本発明に係る記録装置によれば、記録媒体の幅方向に対して傾いて配置された吐出口列を有する記録ヘッドを用いる場合において、重複部からの記録における画質低下を抑制することが可能となる。

実施形態における記録装置の内部構成を示す図である。 実施形態における記録ヘッドを示す図である。 実施形態における記録制御系を示す図である。 時分割駆動による駆動ずれを説明するための図である。 吐出口列の傾きによる傾きずれを説明するための図である。 実施形態における時分割駆動順序を説明するための図である。 実施形態におけるパルスディレイを説明するための図である。 実施形態における各ずれ量を説明するための図である。 実施形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 比較形態における各ずれ量を説明するための図である。 比較形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 比較形態における各ずれ量を説明するための図である。 比較形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 実施形態における傾き調整を説明するための図である。 実施形態における各ずれ量を説明するための図である。 実施形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 実施形態における各ずれ量を説明するための図である。 実施形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 実施形態における各ずれ量を説明するための図である。 実施形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 実施形態における各ずれ量を説明するための図である。 実施形態におけるずれ量の合計を説明するための図である。 実施形態におけるパルスディレイを説明するための図である。

（第１の実施形態）
図１は、本実施形態におけるインクジェット記録装置（以下、記録装置とも称する）の内部構成を示す図である。

給送部１０１から給送される記録媒体Ｐは、搬送ローラ対１０３および１０４に挟持されながら、＋Ｘ方向（搬送方向、交差方向）に所定の速度で搬送され、排送部１０２へと排送される。上流側の搬送ローラ対１０３と下流側の搬送ローラ対１０４の間には、搬送方向に沿って記録ヘッド１０５〜１０８が並んで配列しており、記録データに従って＋Ｚ方向にインクを吐出する。記録ヘッド１０５、１０６、１０７、１０８は、それぞれシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックのインクを吐出する。

ここで、記録データは記録媒体上に記録される画像に対応するＲＧＢ値で表される画像データに対して色変換処理、量子化処理等の種々の処理を実行して生成されるデータである。この記録データは、記録媒体上の各画素に対してインクの吐出または非吐出を示す情報が画素ごとに定められることで構成されている。

なお、本実施形態において、記録媒体Ｐは供給部１０１にロール状に保持された連続紙であっても良いし、あらかじめ規格サイズに切断されたカット紙であっても良い。連続紙の場合は、記録ヘッド１０５〜１０８による記録動作が終了した後、カッタ１０９によって所定の長さに切断され、排出部１０２にてサイズごとに排紙トレイに分類される。

図２は本実施形態における記録ヘッドを示す図である。なお、ここでは記録ヘッド１０５〜１０８のうちシアンインクの記録ヘッド１０５のみを示しているが、他の記録ヘッド１０６〜１０８についても記録ヘッド１０５と同様の構成である。

記録ヘッド１０５には、それぞれ１つの吐出口列が設けられた４つのチップＣＨ０〜ＣＨ３が設けられている。チップＣＨ０〜ＣＨ３には、それぞれ８つの吐出口ｓｅｇ０〜ｓｅｇ７が配置されている。各チップＣＨ０〜ＣＨ３の各吐出口ｓｅｇ０〜ｓｅｇ７と対向する位置（記録ヘッドの内部）には記録素子（電気熱変換素子）が設けられており、この記録素子を駆動することによりエネルギーを生成してインクの吐出動作を行う。なお、以降の説明では簡単のため、吐出口とその内部に位置する記録素子をまとめて吐出口ｓｅｇとも称する。また、以降の説明では簡単のため、各吐出口ｓｅｇ０〜７の数字部分を指してｓｅｇナンバーとも称する。

ここで、各チップＣＨ０〜ＣＨ３内には、Ｙ方向（記録媒体の幅方向）に対して角度θだけ傾いて吐出口ｓｅｇ０〜ｓｅｇ７が配列されている。上述の角度θの傾きにより、同一の吐出口列間であっても、吐出口によってＸ方向（搬送方向）における位置が異なる。以降の説明では簡単のため、各チップＣＨ０〜ＣＨ３における吐出口ｓｅｇ０と吐出口ｓｅｇ４の間のＸ方向における間隔をｄと記載する。ここで、本実施形態では、この間隔ｄが記録媒体上の１画素に相当する（ｄ＝１）。

この記録ヘッド１０５には、Ｙ方向に隣接する２つの吐出口列の一部の吐出口がＹ方向において同じ位置に位置することで重複部を形成するよう、各吐出口列が配置されている。例えば、チップＣＨ０、ＣＨ１間では、チップＣＨ０の＋Ｙ方向端部の吐出口ｓｅｇ６、ｓｅｇ７と、チップＣＨ１の−Ｙ方向端部の吐出口ｓｅｇ０、ｓｅｇ１がＹ方向に同じ位置に配置され、チップＣＨ０、ＣＨ１間の重複部を形成している。チップＣＨ１、ＣＨ２間、およびチップＨ２、ＣＨ３間でも同様に重複部が形成されているが、以降の説明では簡単のためチップＣＨ０、ＣＨ１間の重複部についてのみ記載する。

図３は、本実施形態における制御系の概略構成を示すブロック図である。主制御部３００は、演算、選択、判別、制御などの処理動作を実行するＣＰＵ３０１と、ＣＰＵ３０１によって実行すべき制御プログラム等を格納するＲＯＭ３０２と、記録データのバッファ等として用いられるＲＡＭ３０３、画像データやマスクパターンを格納するＥＥＰＲＯＭ３１３、および入出力ポート３０４を備えている。入出力ポート３０４には、搬送モータ（ＬＦモータ）３１０、シアンインクの記録ヘッド（Ｃ記録ヘッド）１０５、マゼンタインクの記録ヘッド（Ｍ記録ヘッド）１０６、イエローインクの記録ヘッド（Ｙ記録ヘッド）１０７、ブラックインクの記録ヘッド（Ｋ記録ヘッド）１０８に対応する各駆動回路３０９、３０５、３０６、３０７、３０８が接続されている。さらに、主制御部３００はインターフェイス回路３１１を介してホストコンピュータであるＰＣ３１２に接続されている。

（ドットの着弾位置ずれとその調整）
以下、ドットの着弾位置ずれと、本実施形態における調整方法について詳細に説明する。

なお、以降の説明では簡単のため、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ０から吐出されて着弾したドットのＸ方向における位置を基準位置とし、その着弾位置の基準位置からのＸ方向における変位を着弾位置ずれ量として説明する。

１．時分割駆動によるドットの着弾位置ずれ
本実施形態では、同一のチップに属する吐出口ｓｅｇ０〜７内の記録素子が同時に駆動されないよう、吐出口ｓｅｇ０〜７を複数の駆動ブロックに分割し。互いに異なるタイミングで駆動する時分割駆動を行う。なお、ここでは吐出口ｓｅｇ０〜７それぞれが１つの駆動ブロックを構成するとして説明する。この時分割駆動により、同一のタイミングで同時に記録素子が駆動されることを抑制し、過大な電流が発生することを抑えることができる。

但し、この時分割駆動を行った場合、吐出口ｓｅｇ０〜７からのドットの着弾位置が互いにずれてしまう。

図４は時分割駆動によるドットの着弾位置ずれを説明するための図である。なお、ここでは時分割駆動に由来するドットの着弾位置ずれのみを説明するため、実施形態で用いる吐出口列とは異なるが、図４（ａ）に示すような吐出口ｓｅｇ０〜７がＹ方向に沿って配列された吐出口列を用いることとして説明する。

ここでは、吐出口ｓｅｇ０、２、４、６、１、３、５、７の順で駆動する。言い換えると、吐出口ｓｅｇ０〜７の駆動される順番は、吐出口ｓｅｇ０が「１」、吐出口ｓｅｇ１が「５」、吐出口ｓｅｇ２が「２」、吐出口ｓｅｇ３が「６」、吐出口ｓｅｇ４が「３」、吐出口ｓｅｇ５が「７」、吐出口ｓｅｇ６が「４」、吐出口ｓｅｇ７が「８」となる。以降の説明では、ｓｅｇナンバーが１増えるごとの駆動される順番の推移を駆動順序と称する。上述の場合、吐出口ｓｅｇ０〜７の駆動順序は１、５、２、６、３、７、４、８となる。

上記の駆動順序で駆動されると、図４（ｂ）に示すように、最初に吐出口ｓｅｇ０にパルスが印加されて駆動が行われる。そしてその後、同様にして吐出口ｓｅｇ２、４、６、１、３、５、７の順番でパルスが印加され、順次駆動が行われる。そのため、記録媒体上には吐出口ｓｅｇ０、２、４、６、１、３、５、７の順でドットが着弾することになる（図４（ｃ））。

ここで、吐出口ｓｅｇ０〜７が順次駆動されている間にも、記録媒体Ｐは＋Ｘ方向に搬送されている。そのため、時分割駆動により吐出口ごとに駆動タイミングをずらすことにより、記録媒体Ｐの搬送速度に応じた距離だけ各吐出口から吐出されたドットがＸ方向にずれてしまう。なお、以降の説明では駆動タイミングが１つずれるとドット間の距離が１／８×ｄ（＝０．１２５）だけＸ方向に離間するような搬送速度となっている場合について記載する。

図４（ｄ）は上述の条件において時分割駆動を行った際に各吐出口ｓｅｇ０〜７から着弾するドットの位置を示す図である。まず、最も早いタイミングで駆動される吐出口ｓｅｇ０からのドットが、最も−Ｘ側の位置に着弾する。次に吐出口ｓｅｇ２が駆動されるが、吐出口ｓｅｇ２からのドットは吐出口ｓｅｇ０からのドット（基準位置）よりも１／８×ｄ（＝０．１２５）だけ＋Ｘ方向にずれた位置に着弾する。その次に吐出口ｓｅｇ４が駆動され、このドットは基準位置よりも２／８×ｄ（＝０．２５）だけ＋Ｘ方向にずれた位置に着弾する。以降同様に、駆動タイミングが１つ遅れるごとに、ドットの記録媒体Ｐ上の着弾位置は＋Ｘ方向に１／８×ｄ（＝０．１２５）だけずれることになる。最も遅いタイミングで駆動される吐出口ｓｅｇ７からのドットは、最も＋Ｘ方向側の位置に着弾し、その着弾位置は基準位置よりも７／８×ｄ（＝０．８７５）だけＸ方向にずれた位置となる。

このように、時分割駆動を行った場合、駆動タイミングが１つ遅れるごとに１／８×ｄ（＝０．１２５）だけ＋Ｘ方向にずれた位置にドットが着弾することになる。

２．吐出口列の傾きによるドットの着弾位置ずれ
図２を用いて説明したように、本実施形態では吐出口ｓｅｇ０〜７がＹ方向に対して角度θだけ傾いた方向に配列された吐出口列を用いる。この吐出口列の傾きによっても、吐出口ｓｅｇ０〜７からのドットの着弾位置が互いにずれてしまう。

図５は吐出口列の傾きによるドットの着弾位置ずれを説明するための図である。なお、ここでは吐出口列の傾きに由来するドットの着弾位置ずれのみを説明するため、実施形態とは異なり、吐出口ｓｅｇ０〜７が同時に駆動されるとして説明する。

上述したように、本実施形態では吐出口ｓｅｇ０と吐出口ｓｅｇ４の間のＸ方向における間隔がｄ（＝１）である（図５（ａ））。そのため、隣接する吐出口、例えば吐出口ｓｅｇ０と吐出口ｓｅｇ１の間のＸ方向における間隔は１／４×ｄ（＝０．２５）となる。このような吐出口列を用い、吐出口ｓｅｇ０〜７を同時駆動する（図５（ｂ））と、吐出口列の傾きがドットの着弾位置にそのまま反映されることになる。

図５（ｃ）は角度θの傾きを有する吐出口列を用いて同時駆動を行った際に各吐出口ｓｅｇ０〜７から着弾するドットの位置を示す図である。吐出口ｓｅｇ０からのドットが最も−Ｘ方向側に着弾し、ｓｅｇナンバーが大きくなるごとに１／４×ｄ（＝０．２５）だけ＋Ｘ方向にずれた位置にドットが着弾することになる。そして、吐出口ｓｅｇ７からのドットが最も＋Ｘ方向に着弾し、そのドットは基準位置よりも＋Ｘ方向に７／４×ｄ（＝１．７５）だけずれた位置に着弾する。

このように、傾きを有する吐出口列を用いる場合、ｓｅｇナンバーが大きくなるごとに１／４×ｄ（＝０．２５）だけ＋Ｘ方向にずれた位置にドットが着弾することになる。

３．駆動順序オフセットによるＣＨ間着弾位置ずれ調整
上述したような時分割駆動や吐出口列の傾きによるドット着弾位置ずれが生じると、ＣＨ間の重複部において画質低下が生じてしまう。そこで、本実施形態では、一方のチップにおける駆動順序のオフセットを行い、チップ間で同一の重複部を形成する吐出口については同じ順番で駆動されるようにする。この制御により、重複部における時分割駆動によるドット着弾位置ずれの影響はキャンセルすることができる。

図６（ａ）は本実施形態においてチップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７を時分割駆動する際の駆動順序を示している。チップＣＨ０については、吐出口ｓｅｇ０〜７が１、５、２、６、３、７、４、８の駆動順序で時分割駆動される。この駆動順序は、図４で説明した駆動順序と同じである。

一方、図６（ｂ）は本実施形態においてチップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７を時分割駆動する際の駆動順序を示している。ここで、本実施形態では、重複部を形成するチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１が駆動される順番が、同じく重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７が駆動される順番と同じとなる量だけ、チップＣＨ０の駆動順序をオフセットし、そのオフセット後の駆動順序をチップＣＨ１の駆動順序とする。

図６（ａ）からわかるようにチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７が駆動される順番は４、８番目である。したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１が駆動される順番も４、８番目となるように、ＣＨ０の駆動順序を後方向に２つだけオフセットする。このオフセットの結果、４、８、１、５、２、６、３、７という駆動順序が得られ、この駆動順序をＣＨ１の駆動順序とする。

以上のようにチップＣＨ１の駆動順序をチップＣＨ０の駆動順序をオフセットすることにより、重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７とチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１が駆動される順番を４、８番目と同じ順番とすることができる。これにより、重複部における時分割駆動に由来するチップ間でのドットの着弾位置ずれを低減することができる。

４．ＣＨ間パルスディレイによるＣＨ間着弾位置ずれ調整
上述したように駆動順序をオフセットしただけでは、２つのチップ間での重複部において、時分割駆動に由来するドット着弾位置ずれは抑えられるものの、吐出口列の傾きに由来するドット着弾位置ずれは抑制することができない。

例えば、重複部の一方を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７は吐出口列の傾きによる基準位置からの＋Ｘ方向へのずれ量が６／４×ｄ（＝１．５）、７／４×ｄ（＝１．７５）である。一方で、重複部の他方を形成するチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１は吐出口列の傾きによる基準位置からの＋Ｘ方向へのずれ量が０／４×ｄ（＝０）、１／４×ｄ（＝０．２５）である。すなわち、チップＣＨ０、ＣＨ１間で吐出口列の傾きに由来する着弾位置ずれが１．５（＝１．５−０、および、＝１．７５−０．２５）だけ発生する。

この点を鑑み、本実施形態ではチップＣＨ１に対して駆動パルスを印加するタイミングを、チップＣＨ０に対して印加するタイミングに比べて１．５画素分に相当する時間だけ遅くする（ディレイさせる）。以降の説明ではこれをパルスディレイ制御と称する。

このパルスディレイ制御は、ディレイさせる量（パルスディレイ量）に関しては適宜異なる値とすることができる。本実施形態では１．５画素分に相当する時間だけ遅くしたが、例えば０．５画素分に相当する時間だけ遅くしても良いし、３．０画素分に相当する時間だけ遅くしても良い。つまり、パルスディレイ量は記録データの画素サイズの整数倍（例えば３．０画素）に限定されず、記録データの画素サイズの整数倍以外の量（例えば１．５画素や０．５画素）も設定可能である。また、遅くするだけでなく、早くすることも可能である。

但し、パルスディレイ制御においては、同一のチップ（吐出口列）に属する吐出口は、いずれも同じ量だけディレイさせなければならないという制限がある。同一チップに属する吐出口内の複数の記録素子に対し、ディレイさせるための信号を伝送する配線が共通化されているため、記録素子ごとにパルスディレイ量を異ならせることができないのである。

図７、図２３はパルスディレイ制御を説明するための図である。なお、ここでは簡単のため、吐出口ｓｅｇ０〜７がＹ方向に沿って配列された（Ｙ方向に対して傾いていない）吐出口列（図７（ａ）、図２３（ａ））を用い、且つ、吐出口ｓｅｇ０〜７の駆動順序が１、２、３、４、５、６、７、８である（図７（ｂ）、図２３（ｂ））場合について記載する。なお、図７では実施形態と同様に、チップＣＨ０についてはパルスディレイ制御を行わず、チップＣＨ１については１．５画素分のパルスディレイ制御を行う場合について説明する。また、図７はチップＣＨ０とチップＣＨ１がＸ方向において同じ位置に設けられた場合を、図２３はチップＣＨ０とチップＣＨ１がＸ方向にずれた位置に設けられた場合を、それぞれ示している。

図７（ｂ）、図２３（ｂ）に示すように、本実施形態ではチップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７は、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７に比べて１．５画素分だけ駆動タイミングが遅くなる。

そのため、チップＣＨ０、チップＣＨ１がＸ方向に同じ位置に設けられている場合には、図７（ｃ）に示すように、チップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７から形成されたドットは、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７から形成されたドットよりも＋Ｘ方向に１．５画素だけずれた位置に着弾することになる。

ここから、図２３（ａ）に示すようにチップＣＨ１がチップＣＨ０から−Ｘ方向に１．５画素分だけずれた位置に設けられている場合には、図２３（ｃ）に示すように、チップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７から形成されたドットと、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７から形成されたドットは、Ｘ方向に互いに同じ位置に着弾することになる。

本実施形態では、上述のパルスディレイ制御を行うことにより、重複部における吐出口列の傾きに由来するドットの着弾位置ずれを低減する。

５．第１の実施形態におけるＣＨ間着弾位置
図８（ａ）は本実施形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図８（ｂ）は本実施形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

なお、以降の説明では簡単のため、各ドットを形成する吐出口のＹ方向における位置に応じて座標を設定して説明する。ここでは位置が＋Ｙ方向になるほど座標が大きくなるとして説明する。詳細には、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ０から形成されたドットを座標「０」とする。同様に、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ１〜５から形成されたドットをそれぞれ座標「１」〜「５」とする。チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６とチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０はＹ方向に同じ位置に位置するため、これらの吐出口から形成されたドットを座標「６」とする。また、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７とチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１はＹ方向に同じ位置に位置するため、これらの吐出口から形成されたドットを座標「７」とする。更に、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ２〜７から形成されたドットを座標「８」〜「１３」とする。

まずチップＣＨ０について説明する。

時分割駆動ずれによる着弾位置ずれの量（以下、駆動ずれ量とも称する）については、上述したように、駆動される順番が１大きくなるごとに１／８×ｄ（＝０．１２５）ずつ大きくなる。吐出口ｓｅｇ０〜７は、１、５、２、６、３、７、４、８の駆動順序で駆動されるため、駆動ずれ量は図８（ａ）の「駆動ずれ量」に示す量となる。

一方、吐出口列の傾きによるずれ量（以下、傾きずれ量とも称する）については、上述したように、ｓｅｇナンバーが１大きくなるごとに１／４×ｄ（＝０．２５）ずつ大きくなる。したがって、傾きずれ量は図８（ａ）の「傾きずれ量」に示す量となる。

これらの駆動ずれ量と傾きずれ量をＣＨ０内の吐出口ごとに足した量がチップＣＨ０内の基準位置からのずれ量（ドット着弾位置）となる。詳細には、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのすれ量（ドット着弾位置）は、図８（ａ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０〜７は、上述したように４、８、１、５、２、６、３、７の駆動順序で駆動される。そのため、駆動ずれ量は図８（ｂ）の「駆動ずれ量」に示す量となる。

一方、吐出口列の傾きはチップＣＨ０、ＣＨ１間で同じであるため、図８（ｂ）の「傾きずれ量」に示すように、チップＣＨ１における傾きずれ量はチップＣＨ０における傾きずれ量と同じとなる。

ここで、本実施形態では、チップＣＨ１については上述したようにパルスディレイ制御を行う。このとき、上述したようにチップＣＨ１からの着弾位置がチップＣＨ０よりも１．５画素分だけ＋Ｘ方向側にずれるように、駆動パルスの印加タイミングをずらす。したがって、チップＣＨ１では「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」に加え、図８（ｂ）の「パルスディレイ量」も足した量だけ、ドットの着弾位置はずれることになる。この結果、チップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのすれ量（ドット着弾位置）は、図８（ｂ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

ここで、重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ６は４番目、吐出口ｓｅｇ７は８番目に駆動されため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ６で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ７で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図８（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で１．８７５（＝０．３７５＋１．５）、吐出口ｓｅｇ７で２．６２５（＝０．８７５＋１．７５）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ０は４番目、吐出口ｓｅｇ１は８番目に駆動されため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ０で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ１で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。また、チップＣＨ１に関しては上述のようにパルスディレイ制御も行われる。このパルスディレイによるずれ量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに１．５である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図８（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で１．８７５（＝０．３７５＋０＋１．５）、吐出口ｓｅｇ１で２．６２５（＝０．８７５＋０．２５＋１．５）となる。

まとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０はいずれもドット着弾位置が１．８７５となり、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１はいずれもドット着弾位置が２．６２５となる。このように重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドット間の着弾位置を同じとすることができるため、重複部における画質の低下を抑制することができる。

図９は本実施形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図９では横軸を図８（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図８（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図９からわかるように、本実施形態を用いた場合、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」で、○印と×印が重畳している。すなわち、本実施形態によれば、これらの座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間の着弾位置を同じとすることが可能となる。

（第１の比較形態）
次に、第１の実施形態に対する比較例である第１の比較形態について説明する。なお、第１の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

第１の比較形態では、駆動順序のオフセット、ＣＨ間パルスディレイのどちらも行わない。

図１０（ａ）は第１の比較形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図１０（ｂ）は第１の比較形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

まずチップＣＨ０について説明する。

チップＣＨ０については、第１の比較形態でも第１の実施形態と同じく駆動順序のオフセット、ＣＨ間パルスディレイを行わないため、図１０（ａ）に示すように、各ずれ量（駆動ずれ量、傾きずれ量、ずれ量合計）は図８（ａ）に示す第１の実施形態における各ずれ量と同じとなる。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１については、第１の実施形態と異なり駆動順序のオフセットを行わない。そのため、吐出口ｓｅｇ０〜７は、チップＣＨ０と同じく、１、５、２、６、３、７、４、８の駆動順序で駆動される。そのため、駆動ずれ量は図１０（ｂ）の「駆動ずれ量」に示す量となる。なお、第１の比較形態ではチップＣＨ０、ＣＨ１間で駆動順序が変わらないため、「駆動ずれ量」もチップＣＨ０、ＣＨ１間で同じとなる。

また、吐出口列の傾きはチップＣＨ０、ＣＨ１間で同じであるため、図１０（ｂ）の「傾きずれ量」に示すように、チップＣＨ１における傾きずれ量は図１０（ａ）に示すチップＣＨ０における傾きずれ量と同じとなる。

ここで、本実施形態ではＣＨ間パルスディレイを行わないため、駆動ずれ量と傾きずれ量をＣＨ１内の吐出口ごとに足した量がずれ量合計となる。詳細には、図１０（ｂ）に示す「ずれ量合計」となる。

次に重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１と、に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ６は４番目、吐出口ｓｅｇ７は８番目に駆動されため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ６で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ７で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図１０（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で１．８７５（＝０．３７５＋１．５）、吐出口ｓｅｇ７で２．６２５（＝０．８７５＋１．７５）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ０は１番目、吐出口ｓｅｇ１は５番目に駆動されるため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ０で０／８×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で４／８×ｄ（＝０．５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図１０（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で０（＝０＋０）、吐出口ｓｅｇ１で０．７５（＝０．５＋０．２５）となる。

重複部のドット着弾位置をまとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６では１．８７５、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０では０となり、Ｙ方向に同じ位置に位置する吐出口に対応するにもかかわらず、Ｘ方向に異なる位置にドットが形成される。また、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７では２．６２５、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０で０．７５となり、こちらについてもＹ方向に同じ位置に位置する吐出口に対応するにもかかわらず、Ｘ方向に異なる位置にドットが形成される。このように、第１の比較形態では、重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドットの着弾位置を同じとすることができない。したがって、画質が低下してしまう。

図１１は第１の比較形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図１１では横軸を図１０（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図１０（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図１１からわかるように、第１の比較形態を用いた場合、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」でも、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」でも、○印と×印が重畳せず、異なる位置となる。このように、第１の比較形態では、重複部に対応する座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間でドットの着弾位置が異なってしまう。

（第２の比較形態）
次に、第１の実施形態に対する比較例である第２の比較形態について説明する。なお、第１の比較形態と同様の部分については説明を省略する。

第２の比較形態では、駆動順序のオフセットは第１の実施形態と同様に行うが、ＣＨ間パルスディレイを行わない。

図１２（ａ）は第２の比較形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図１２（ｂ）は第２の比較形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

まずチップＣＨ０について説明する。

チップＣＨ０については、第２の比較形態でも第１の実施形態や第１の実施形態と同じく駆動順序のオフセット、ＣＨ間パルスディレイを行わない。そのため、図１２（ａ）に示すように、各ずれ量（駆動ずれ量、傾きずれ量、ずれ量合計）は図８（ａ）に示す第１の実施形態や図１０（ａ）に示す第１の比較形態における各ずれ量と同じとなる。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１については、第１の実施形態と同じく、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１が駆動される順番がチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７が駆動される順番と同じとなるように、駆動順序のオフセットが行われる。詳細には、チップＣＨ０の駆動順序を後方向に２だけオフセットした４、８、１、５、２、６、３、７という順序がチップＣＨ１の駆動順序となる。そのため、駆動ずれ量は図１２（ｂ）の「駆動ずれ量」に示す量となる。なお、この「駆動ずれ量」は図８（ｂ）で示した第１の実施形態における「駆動ずれ量」と同じである。

また、吐出口列の傾きはチップＣＨ０、ＣＨ１間で同じであるため、図１２（ｂ）の「傾きずれ量」に示すように、チップＣＨ１における傾きずれ量は図１２（ａ）に示すチップＣＨ０における傾きずれ量と同じとなる。

ここで、本実施形態ではＣＨ間パルスディレイを行わないため、駆動ずれ量と傾きずれ量をＣＨ１内の吐出口ごとに足した量がずれ量合計となる。詳細には、図１２（ｂ）に示す「ずれ量合計」となる。

次に重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１と、に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ６は４番目、吐出口ｓｅｇ７は８番目に駆動されため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ６で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ７で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図１２（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で１．８７５（＝０．３７５＋１．５）、吐出口ｓｅｇ７で２．６２５（＝０．８７５＋１．７５）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１については、駆動順序のオフセットを行うことにより、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ０は４番目、吐出口ｓｅｇ１は８番目に駆動されるため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ０で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ１で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図１２（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で０．３７５（＝０．３７５＋０）、吐出口ｓｅｇ１で１．１２５（＝０．８７５＋０．２５）となる。

重複部のドット着弾位置をまとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６では１．８７５、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０では０．３７５となり、Ｙ方向に同じ位置に位置する吐出口に対応するにもかかわらず、Ｘ方向に異なる位置にドットが形成される。また、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７では２．６２５、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０で１．１２５となり、こちらについてもＹ方向に同じ位置に位置する吐出口に対応するにもかかわらず、Ｘ方向に異なる位置にドットが形成される。このように、第２の比較形態によっても、重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドットの着弾位置を同じとすることができない。したがって、画質が低下してしまう。

図１３は第２の比較形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図１３では横軸を図１２（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図１２（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図１３からわかるように、第２の比較形態を用いた場合、図１１に示す第１の比較形態に比べれば○印と×印の位置を近づける、すなわちチップＣＨ０、ＣＨ１間でのドットの着弾位置を近づけることができる。しかしながら、第２の比較形態を用いた場合であっても、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」でも、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」でも、○印と×印が重畳せず、異なる位置となってしまう。このように、第２の比較形態によっても、重複部に対応する座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間でドットの着弾位置が異なってしまう。

以上、第１、第２の比較形態と比較することにより、第１の実施形態で記載したような駆動順序のオフセットとＣＨ間のパルスディレイを実行することで重複部の画質低下を抑制可能であることがわかる。

（第２の実施形態）
上述した第１の実施形態では、駆動順序のオフセットとパルスディレイを実行する形態について記載した。

これに対し、本実施形態では、駆動順序のオフセットとパルスディレイに加え、各チップ内で吐出口列の傾き調整（以下、簡単のため粗調とも称する）を更に行う形態について記載する。

なお、上述した第１の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

１．ＣＨ内傾き調整（粗調）
まず、本実施形態で行うＣＨ内傾き調整（粗調）について説明する。

上述したように、Ｙ方向に対して所定の角度θで傾いて吐出口列が設けられていると、各チップ内において、ｓｅｇナンバーが１大きくなるごとに０．２５ずつ＋Ｘ方向に着弾位置がずれてしまう。

この点を鑑み、本実施形態では、各吐出口列の複数の吐出口を配列方向に沿って複数の区画に分割し、区画ごとに異なる調整量で傾き調整を行う。詳細には、まず、吐出口ｓｅｇ０〜７を吐出口ｓｅｇ０〜３からなる区画と吐出口ｓｅｇ４〜７からなる区画に分割する。そして、記録に用いるｓｅｇ０〜７に対応する記録データのうち、ｓｅｇ４〜７に対応する記録データだけを１画素分だけ−Ｘ方向側にずらす（シフトさせる）。ｓｅｇ４〜７からのドットの着弾位置は、吐出口列の傾きによって１画素以上＋Ｘ方向側にずれてしまうため、記録データを−Ｘ方向側にシフトすることにより、傾きによる影響をある程度キャンセルするのである。以降の説明ではこれを傾き調整（粗調）と称する。

傾き調整では、同一チップ（吐出口列）に属する吐出口であっても、吐出口に応じて異なる量だけ記録データをシフトさせることができる。つまり、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ０〜７のうち、吐出口ｓｅｇ０〜３に対応する記録データはシフトさせず、吐出口ｓｅｇ４〜７に対応する記録データは−Ｘ方向側に１画素分だけシフトする、といったことができる。

一方、傾き調整は、画素ごとに記録または非記録が定められた記録データをシフトする処理であるため、そのシフト量（粗調量）は画素サイズの整数倍にしか設定することができない。言い換えると、傾き調整によるシフト量（粗調量）は、画素サイズの整数倍以外の量は設定不可能である。例えば、ある吐出口に対応する記録データを１画素分、あるいは２画素分だけシフトさせることはできるが、１．５画素分だけシフトさせることはできない。

図１４は傾き調整を説明するための図である。図１４（ａ１）、（ｂ１）、（ｃ１）は傾き調整を行わなかった場合を、図１４（ａ２）、（ｂ２）、（ｃ２）は傾き調整を行った場合をそれぞれ示している。なお、ここでは簡単のため、吐出口ｓｅｇ０〜７を同時駆動した場合について説明する。なお、吐出口列は図２に示すチップＣＨ０〜ＣＨ３の吐出口列と同様のものを用いる（図１４（ａ１）、（ａ２））。

図１４（ｂ１）は入力される記録データの一例を示す図である。ここでは、Ｘ方向に４画素、Ｙ方向に８画素の合計３２画素のうち、＋Ｘ方向側から２画素目の８つの画素にインクの吐出を示す情報が定められた記録データが入力された場合について示している。

図１４（ｃ１）は傾き調整を行わず、図１４（ａ１）の吐出口列を用いて図１４（ｂ１）の記録データにしたがって記録を行った際に形成されるドットを示す模式図である。図１４（ｂ１）のようにＸ方向に同じ位置にインクの吐出が定められた記録データが入力されたとしても、図１４（ｃ１）に示すように、吐出口列の傾きによってドットの着弾位置はＸ方向にずれてしまう。詳細にはｓｅｇナンバーが１大きくなるごとに０．２５画素だけ＋Ｘ方向にずれた位置となってしまう。

一方、傾き調整では上述したように吐出口ｓｅｇ０〜７のうち、吐出口ｓｅｇ４〜７に対応する記録データを−Ｘ方向側にシフトする。吐出口ｓｅｇ４〜７は、傾き調整を行わなかった場合にドットが１画素以上着弾位置がずれる吐出口である。

図１４（ｂ２）は図１４（ｂ１）に示す記録データに対し、傾き調整を行った後の記録データを示す図である。吐出口ｓｅｇ０〜３に対応する記録データでは傾き調整を行う前と変わらず＋Ｘ方向側から２画素目にインクの吐出を示す情報が定められている。一方、吐出口ｓｅｇ４〜７に対応する記録データでは、傾き調整によって−Ｘ方向に１画素だけシフトされた結果、＋Ｘ方向側から３画素目にインクの吐出を示す情報が定められることになる。

図１４（ｃ２）は傾き調整を行い、図１４（ａ２）の吐出口列を用いて図１４（ｂ２）の記録データにしたがって記録を行った際に形成されるドットを示す模式図である。図１４（ｃ２）に示すように、吐出口ｓｅｇ０〜３については、傾き調整を行わない図１４（ｃ１）と変わらない位置にドットが着弾する。一方、吐出口ｓｅｇ４〜７については、図１４（ｃ１）に比べてドットの着弾位置が−Ｘ方向に１画素分ずれることになる。この結果、図１４（ｃ２）に示すように、吐出口ｓｅｇ０〜７からのドットの着弾位置を右肩上がりとせず、Ｘ方向にある程度の範囲内（１画素分）に収まるようにすることができる。これにより、吐出口列の傾きに由来する画質の低下をある程度キャンセルすることができる。

２．ＣＨ間パルスディレイによるＣＨ間着弾位置ずれ調整
本実施形態においても、第１の実施形態と同様にパルスディレイによるＣＨ間の着弾位置ずれ調整を実行する。但し、本実施形態では第１の実施形態と異なり、ＣＨ内傾き調整を行っている。本実施形態では、このＣＨ内傾き調整による影響も考慮し、パルスディレイ制御におけるパルスディレイ量を決定する。

例えば重複部の一方を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７は吐出口列の傾きによる基準位置からの＋Ｘ方向へのずれ量が６／４×ｄ（＝１．５）、７／４×ｄ（＝１．７５）である。

但し、吐出口ｓｅｇ４〜７に対応する記録データは上述のように−Ｘ方向に１画素分のＣＨ内傾き調整が行われる。チップＣＨ０内の吐出口ｓｅｇ６、７については、このＣＨ内傾き調整による＋Ｘ方向のずれ量が−１（＝−Ｘ方向へのずれ量が１）だけ加わることになる。

したがって、チップＣＨ０の吐出口列の傾きに由来するずれ量は、傾き調整でキャンセルされる分も踏まえると、吐出口ｓｅｇ６で０．５（＝１．５−１）、吐出口ｓｅｇ７で０．７５（＝１．７５−１）となる。

一方で、重複部の他方を形成するチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１は吐出口列の傾きによる基準位置からの＋Ｘ方向へのずれ量が０／４×ｄ（＝０）、１／４×ｄ（＝０．２５）である。吐出口ｓｅｇ０、１についてはＣＨ内傾き調整は行われない。

以上より、チップＣＨ０、ＣＨ１間で吐出口列の傾きに由来する着弾位置ずれの差分が０．５（＝０．５−０、および、＝０．７５−０．２５）だけ発生することになる。

この点を鑑み、本実施形態ではパルスディレイ量を０．５画素分とする。これにより、重複部におけるチップ間での吐出口列の傾きに由来する着弾位置ずれの差分を解消することが可能となる。

３．第２の実施形態におけるＣＨ間着弾位置
図１５（ａ）は本実施形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図１５（ｂ）は本実施形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

まずチップＣＨ０について説明する。

駆動ずれ量については、第１の実施形態と同様に、駆動される順番が１大きくなるごとに１／８×ｄ（＝０．１２５）ずつ大きくなる。吐出口ｓｅｇ０〜７は、１、５、２、６、３、７、４、８の駆動順序で駆動されるため、駆動ずれ量は図１５（ａ）の「駆動ずれ量」に示す量となる。

一方、傾きずれ量についても、第１の実施形態と同様に、ｓｅｇナンバーが１大きくなるごとに１／４×ｄ（＝０．２５）ずつ大きくなる。したがって、傾きずれ量は図１５（ａ）の「傾きずれ量」に示す量となる。

そして、傾き調整によって吐出口ｓｅｇ４〜７については記録データを−Ｘ方向に１画素分だけシフトするため、吐出口ｓｅｇ４〜７ではこの傾き調整による調整量（以下、粗調量とも称する）が−１づつ加わる（図１５（ａ）の「粗調量」）。一方で、吐出口ｓｅｇ０〜３では粗調量は０である。

これらの駆動ずれ量、傾きずれ量、粗調量をＣＨ０内の吐出口ごとに足した量がチップＣＨ０内の基準位置からのずれ量（ドット着弾位置）となる。詳細には、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのすれ量（ドット着弾位置）は、図１５（ａ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０〜７は、第１の実施形態と同様に駆動順序のオフセットが行われるため、４、８、１、５、２、６、３、７の駆動順序で駆動される。そのため、駆動ずれ量は図１５（ｂ）の「駆動ずれ量」に示す量となる。

一方、吐出口列の傾きはチップＣＨ０、ＣＨ１間で同じであるため、図１５（ｂ）の「傾きずれ量」に示すように、チップＣＨ１における傾きずれ量はチップＣＨ０における傾きずれ量と同じとなる。

また、チップＣＨ１についても傾き調整はチップＣＨ０と同様に行われるため、図１５（ｂ）の「粗調量」に示すように、チップＣＨ１における粗調量はチップＣＨ０における粗調量と同じとなる。

そして、本実施形態では、チップＣＨ１については上述したようにパルスディレイ制御を行う。このとき、上述したようにチップＣＨ１からの着弾位置がチップＣＨ０よりも０．５画素分だけ＋Ｘ方向側にずれるように、駆動パルスの印加タイミングをずらす。したがって、チップＣＨ１では「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「粗調量」、「パルスディレイ量」を足した量だけ、ドットの着弾位置はずれることになる。この結果、チップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのすれ量（ドット着弾位置）は、図１５（ｂ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

ここで、重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ６は４番目、吐出口ｓｅｇ７は８番目に駆動されるため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ６で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ７で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。更に、吐出口ｓｅｇ６、７ともに粗調量は−１である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図１５（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で０．８７５（＝０．３７５＋１．５−１）、吐出口ｓｅｇ７で１．６２５（＝０．８７５＋１．７５−１）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ０は４番目、吐出口ｓｅｇ１は８番目に駆動されるため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ０で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ１で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。また、パルスディレイ量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０．５である。更に、粗調量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図１５（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で０．８７５（＝０．３７５＋０＋０．５−０）、吐出口ｓｅｇ１で１．６２５（＝０．８７５＋０．２５＋０．５−０）となる。

まとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０はいずれもドット着弾位置が０．８７５となり、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１はいずれもドット着弾位置が１．６２５となる。このように重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドット間の着弾位置を同じとすることができるため、重複部における画質の低下を抑制することができる。

図１６は本実施形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図１６では横軸を図１５（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図１５（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図１６からわかるように、本実施形態を用いた場合、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」で、○印と×印が重畳している。すなわち、本実施形態によれば、これらの座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間の着弾位置を同じとすることが可能となる。

更に、図１６（第２の実施形態）と図９（第１の実施形態）を比較するとわかるように、本実施形態によれば、着弾位置をある程度の範囲内に収めることが可能となる。

図９に示す第１の実施形態では、例えば座標「１１」、「１２」、「１３」では基準位置から３画素以上離れた位置にドットが着弾してしまっていた。

これに対し、図１６に示す本実施形態では、座標「１１」、「１２」、「１３」であっても、基準位置から２画素以下の位置にドットの着弾位置が収まっている。これは、傾き調整を行うことにより、傾きずれの影響が大きいチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ５、６、７（座標「１１」、「１２」、「１３」に対応）の記録データを−Ｘ方向にシフトし、基準位置からの＋Ｘ方向へのずれ量を低減することができるためである。

（第３の実施形態）
上述した第２の実施形態では、駆動順序のオフセット、パルスディレイ、傾き調整を実行する形態について記載した。

これに対し、本実施形態では、第２の実施形態における上記の制御に加え、傾き調整の開始位置（以下、粗調開始位置とも称する）をずらす制御を実行する。

なお、上述した第２の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

１．粗調開始位置のずらし
第２の実施形態では、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０〜７に対し、０．５画素分のパルスディレイを行った。この０．５画素分という値は、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７における傾きずれ量と粗調量の影響をチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１においてキャンセルし、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７とチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１の着弾位置を揃えるために必要な量である。

ここで、チップＣＨ１の重複部を構成しない吐出口、例えば吐出口ｓｅｇ２、３については、他のチップの吐出口と分担してＹ方向に同じ位置に吐出を行うことがないため、本来であれば０．５画素分のパルスディレイを行う必要はない。

しかしながら、パルスディレイにおいては、上述のように同一のチップ（吐出口列）に属する吐出口にはいずれも同じ量だけ駆動パルスの印加タイミングをディレイさせなければならないという制限がある。そのため、本来は印加タイミングをディレイさせる必要のない吐出口ｓｅｇ２、３についても０．５画素分のパルスディレイを行っていた。つまり、第２の実施形態では、この０．５画素分だけ、吐出口ｓｅｇ２、３からのドットの着弾位置を＋Ｘ方向に不要にずらしてしまっていた。

この点を鑑み、本実施形態では、チップＣＨ１における租調開始位置をチップＣＨ０における粗調開始位置よりも早める。

第２の実施形態では、チップＣＨ０、ＣＨ１ともに、吐出口ｓｅｇ０〜３は粗調を行わず、吐出口ｓｅｇ４〜７は−１の粗調量で粗調を行った。つまり、租調開始位置（租調を開始する吐出口）は吐出口ｓｅｇ４であった。

これに対し、本実施形態では、チップＣＨ１について、租調開始位置を２つの吐出口分だけずらし、吐出口ｓｅｇ２とする。詳細には、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１は粗調を行わず、吐出口ｓｅｇ２〜５は−１の粗調量で粗調を行い、吐出口ｓｅｇ６、７は−２の粗調量で粗調を行う。

つまり、第２の実施形態ではチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ２、３については粗調を行わなかったのに対し、本実施形態ではチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ２、３で−１の粗調を行う。これにより、上述のパルスディレイによるチップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ２、３における不要なドットの着弾位置のずれをなるべくキャンセルすることが可能となる。

２．第３の実施形態におけるＣＨ間着弾位置
図１７（ａ）は本実施形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図１７（ｂ）は本実施形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

まずチップＣＨ０について説明する。

チップＣＨ０については、各吐出口ｓｅｇ０〜７の「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「粗調量」ともに第２の実施形態と同じ量である。したがって、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのずれ量（ドット着弾位置）も、図１７（ａ）の「ずれ量合計」に示すように、図１５（ａ）に示す第２の実施形態における「ずれ量合計」と同じである。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１について、各吐出口ｓｅｇ０〜７の「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「パルスディレイ量」は第２の実施形態と同じ量となる。

一方、粗調量については第２の実施形態と異なり、上述した粗調開始位置のずらしが行われる。そのため、粗調量は図１７（ｂ）の「租調量」に示す量となる。

これらの「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「粗調量」、「パルスディレイ量」を足した量がチップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのずれ量となる。詳細には、図１７（ｂ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

ここで、重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ６は４番目、吐出口ｓｅｇ７は８番目に駆動されため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ６で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ７で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。更に、吐出口ｓｅｇ６、７ともに粗調量は−１である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図１７（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で０．８７５（＝０．３７５＋１．５−１）、吐出口ｓｅｇ７で１．６２５（＝０．８７５＋１．７５−１）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ０は４番目、吐出口ｓｅｇ１は８番目に駆動されるため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ０で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ１で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。また、パルスディレイ量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０．５である。また、粗調量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図１７（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で０．８７５（＝０．３７５＋０＋０．５−０）、吐出口ｓｅｇ１で１．６２５（＝０．８７５＋０．２５＋０．５−０）となる。

まとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０はいずれもドット着弾位置が０．８７５となり、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１はいずれもドット着弾位置が１．６２５となる。このように重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドット間の着弾位置を同じとすることができるため、重複部における画質の低下を抑制することができる。

なお、重複部については、チップＣＨ０、ＣＨ１ともにドット着弾位置は第２の実施形態と同じとなる。

図１８は本実施形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図１８では横軸を図１７（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図１７（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図１８からわかるように、本実施形態を用いた場合、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」で、○印と×印が重畳している。すなわち、本実施形態によれば、これらの座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間の着弾位置を同じとすることが可能となる。

更に、図１８（第３の実施形態）と図１６（第２の実施形態）を比較するとわかるように、本実施形態によれば、重複部を形成しない吐出口の着弾位置のずれ量を第２の実施形態よりも更に小さくすることが可能となる。

図１６に示す第２の実施形態では、例えば座標「８」、「９」では基準位置から１画素以上離れた位置にドットが着弾していた。

これに対し、図１８に示す本実施形態では、座標「８」、「９」については、基準位置から１画素未満の位置にドットの着弾位置が収まっている。これは、粗調開始位置をずらすことにより、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ２、３（座標「８」、「９」に対応）についても−１の粗調量で粗調を行い、パルスディレイによる重複部を形成しない吐出口における不要なドットの着弾位置ずれを小さくすることができるためである。

（第４の実施形態）
上述した第３の実施形態では、駆動順序のオフセット、パルスディレイ、傾き調整（租調）、粗調開始位置のずらしを実行する形態について記載した。

これに対し、本実施形態では、第２の実施形態における上記の制御に加え、各吐出口の着弾位置が所定の範囲内（基準範囲内）に収まらない場合、吐出口ごとに記録データをシフトし、基準範囲内に着弾するように、吐出口ごとの調整（以下、微調とも称する）を実行する。

なお、上述した第３の実施形態と同様の部分については説明を省略する。

１．吐出口ごとの着弾調整（微調）
本実施形態で行う吐出口ごとの着弾調整（微調）について説明する。

本実施形態では、第３の実施形態の各制御を行った後、駆動ずれ量、傾きずれ量、粗調量、パルスディレイ量の合計量が１画素以上である吐出口について、記録データを−Ｘ方向にシフトする。このときのシフト量は、画素サイズの整数倍であり、シフト後の着弾位置が１画素未満となるような量に設定される。

詳細について説明する。図１８に示すように、第３の実施形態の各制御を行っても、ずれ量合計が１画素以上となっている吐出口がある。例えばチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ３ではずれ量合計が１．３７５、チップＣＨＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７ではずれ量合計が１．６２５と、１画素以上となっている。他にも、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１、５についても、ずれ量合計が１画素以上である。

したがって、本実施形態における吐出口ごとの着弾調整（微調）では、上述のチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ３、７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１、５に対応する記録データに対し、−１の微調量で微調を行う。言い換えると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ３、７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１、５に対応する記録データを、−Ｘ方向に１画素分だけシフトする。

この微調を行うことにより、チップＣＨ０、ＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７からのドットをいずれも１画素以内の範囲内に収めることができる。これにより、各吐出口からの着弾位置のばらつきを低減し、画質低下を抑制することができる。

２．第４の実施形態におけるＣＨ間着弾位置
図１９（ａ）は本実施形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図１９（ｂ）は本実施形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

まずチップＣＨ０について説明する。

チップＣＨ０については、各吐出口ｓｅｇ０〜７の「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「粗調量」は第３の実施形態と同じ量である。

一方、上述したように吐出口ｓｅｇ３、７については、図１９（ａ）の「微調量」に示すように、−１の微調量が設定される。他の吐出口ｓｅｇ０〜２、４〜６については微調量は０である。

これらの「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「粗調量」、「微調量」を足した量がチップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのずれ量となる。詳細には、図１９（ａ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１について、各吐出口ｓｅｇ０〜７の「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「租調量」、「パルスディレイ量」は第３の実施形態と同じ量となる。

一方、上述したように吐出口ｓｅｇ１、５については、図１９（ｂ）の「微調量」に示すように、−１の微調量が設定される。他の吐出口ｓｅｇ０、２〜４、６〜７については、微調量は０となる。

これらの「駆動ずれ量」、「傾きずれ量」、「粗調量」、「微調量」、「パルスディレイ量」を足した量がチップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのずれ量となる。詳細には、図１９（ｂ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

ここで、重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ６は４番目、吐出口ｓｅｇ７は８番目に駆動されため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ６で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ７で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。また、吐出口ｓｅｇ６、７ともに粗調量は−１である。更に、微調量は吐出口ｓｅｇ６で０、吐出口ｓｅｇ７で−１である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図１９（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で０．８７５（＝０．３７５＋１．５−１−０）、吐出口ｓｅｇ７で０．６２５（＝０．８７５＋１．７５−１−１）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１については、時分割駆動では吐出口ｓｅｇ０は４番目、吐出口ｓｅｇ１は８番目に駆動されるため、駆動ずれ量は吐出口ｓｅｇ０で３／８×ｄ（＝０．３７５）、吐出口ｓｅｇ１で７／８×ｄ（＝０．８７５）である。また、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。また、パルスディレイ量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０．５である。また、粗調量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０である。更に、微調量は吐出口ｓｅｇ０で０、吐出口ｓｅｇ１で−１である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図１９（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で０．８７５（＝０．３７５＋０＋０．５−０）、吐出口ｓｅｇ１で０．６２５（＝０．８７５＋０．２５＋０．５−１）となる。

まとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０はいずれもドット着弾位置が０．８７５となり、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１はいずれもドット着弾位置が０．６２５となる。このように重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドット間の着弾位置を同じとすることができるため、重複部における画質の低下を抑制することができる。

図２０は本実施形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図２０では横軸を図１９（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図１９（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図２０からわかるように、本実施形態を用いた場合、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」で、○印と×印が重畳している。すなわち、本実施形態によれば、これらの座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間の着弾位置を同じとすることが可能となる。

更に、図２０（第４の実施形態）と図１８（第３の実施形態）を比較するとわかるように、本実施形態によれば、着弾位置のずれ量を第３の実施形態よりも更に小さくすることが可能となる。

図１８に示す第３の実施形態では、例えば座標「３」、「７」、「１１」では基準位置から１画素以上離れた位置にドットが着弾していた。

これに対し、図２０に示す本実施形態では、座標「３」、「７」、「１１」についても、基準位置から１画素以下の位置にドットの着弾位置が収まっている。このように、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ３、７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１、５（座標「３」、「７」、「１１」に対応）について−１の微調量で微調を行うことで、第３の実施形態を用いても着弾位置ずれ量が１画素以下となっていなかった吐出口についても、ドットの着弾位置ずれを小さくすることができる。

（第５の実施形態）
上述した各実施形態では時分割駆動を行う形態について記載した。

これに対し、本実施形態では吐出口列内の複数の吐出口を同時に駆動する、いわゆる同時駆動を行う場合について説明する。詳細には、上述した各制御のうち、傾き調整とＣＨ間パルスディレイのみを行う。

なお、上述した各実施形態と同様の部分については説明を省略する。

１．第５の実施形態におけるＣＨ間着弾位置
図２１（ａ）は本実施形態でのチップＣＨ０におけるドット着弾位置を説明するための図である。また、図２１（ｂ）は本実施形態でのチップＣＨ１におけるドット着弾位置を説明するための図である。

まずチップＣＨ０について説明する。

本実施形態では、同時駆動を行うため、駆動ずれは発生しない（駆動ずれ量は０である）。

一方、傾きずれ量は、各実施形態と同様に、ｓｅｇナンバーが１大きくなるごとに１／４×ｄ（＝０．２５）ずつ大きくなる。したがって、傾きずれ量は図２１（ａ）の「傾きずれ量」に示す量となる。

そして、第２の実施形態と同様に、吐出口ｓｅｇ４〜７については傾き調整（粗調）が行われる。吐出口ｓｅｇ４〜７では粗調量は−１である。また、吐出口ｓｅｇ０〜３では粗調量は０である。

これらの傾きずれ量、粗調量をＣＨ０内の吐出口ごとに足した量がチップＣＨ０内の基準位置からのずれ量（ドット着弾位置）となる。詳細には、チップＣＨ０の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのすれ量（ドット着弾位置）は、図２１（ａ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

次にチップＣＨ１について説明する。

チップＣＨ１についても、同時駆動を行うため、駆動ずれは発生しない（駆動ずれ量は０である）。

一方、吐出口列の傾きはチップＣＨ０、ＣＨ１間で同じであるため、図２１（ｂ）の「傾きずれ量」に示すように、チップＣＨ１における傾きずれ量はチップＣＨ０における傾きずれ量と同じとなる。

また、チップＣＨ１についても傾き調整はチップＣＨ０と同様に行われるため、図２１（ｂ）の「粗調量」に示すように、チップＣＨ１における粗調量はチップＣＨ０における粗調量と同じとなる。

そして、チップＣＨ１についてはパルスディレイ制御を行う。このとき、チップＣＨ１からの着弾位置がチップＣＨ０よりも０．５画素分だけ＋Ｘ方向側にずれるように、駆動パルスの印加タイミングをずらす。

したがって、チップＣＨ１では「傾きずれ量」、「粗調量」、「パルスディレイ量」を足した量だけ、ドットの着弾位置はずれることになる。この結果、チップＣＨ１の各吐出口ｓｅｇ０〜７における基準位置からのすれ量（ドット着弾位置）は、図２１（ｂ）の「ずれ量合計」に示す量となる。

ここで、重複部を形成するチップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７と、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１に着目し、それらの吐出口からのドットの着弾位置について詳細に説明する。

チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７について、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ６で６／４×ｄ（＝１．５）、吐出口ｓｅｇ７で７／４×ｄ（＝１．７５）である。更に、吐出口ｓｅｇ６、７ともに粗調量は−１である。

したがって、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、７からのドット着弾位置は、図２１（ａ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ６で０．５（＝１．５−１）、吐出口ｓｅｇ７で０．７５（＝１．７５−１）となる。

一方、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１について、傾きずれ量は、吐出口ｓｅｇ０で０／４×ｄ（＝０）、吐出口ｓｅｇ１で１／４×ｄ（＝０．２５）である。また、パルスディレイ量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０．５である。更に、粗調量は吐出口ｓｅｇ０、１ともに０である。

したがって、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０、１からのドット着弾位置は、図２１（ｂ）の「ずれ量合計」で示すように、吐出口ｓｅｇ０で０．５（＝０＋０．５−０）、吐出口ｓｅｇ１で０．７５（＝０＋０．２５＋０．５−０）となる。

まとめると、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０はいずれもドット着弾位置が０．５となり、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１はいずれもドット着弾位置が０．７５となる。このように重複部を形成するチップＣＨ０、ＣＨ１間でドット間の着弾位置を同じとすることができるため、重複部における画質の低下を抑制することができる。

図２２は本実施形態を適用した場合の座標とドット着弾位置の相関を示す図である。図２２では横軸を図２１（ａ）、（ｂ）に示す座標、縦軸を図２１（ａ）、（ｂ）に示すずれ量合計（ドット着弾位置）としている。また、○印がチップＣＨ０からのドットの着弾位置を、×印がチップＣＨ１からのドットの着弾位置をそれぞれ示している。

図２２からわかるように、本実施形態を用いた場合、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ６、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ０に相当する座標「６」、チップＣＨ０の吐出口ｓｅｇ７、チップＣＨ１の吐出口ｓｅｇ１に相当する座標「７」で、○印と×印が重畳している。すなわち、本実施形態によれば、同時駆動を行う場合であっても、これらの座標「６」、「７」においてチップＣＨ０、ＣＨ１間の着弾位置を同じとすることが可能となる。

（その他の実施形態）
各実施形態では、シアン、マゼンタ、イエロー、ブラックのインクが異なる記録ヘッド１０５〜１０８から吐出される形態について記載したが、他の形態による実施も可能である。１つの記録ヘッドからシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックのインクが吐出されるような形態であっても良い。更に、同一のヒータボード内にシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックのインクを吐出する吐出口列が設けられていても良い。

また、各実施形態ではチップＣＨ０、ＣＨ１のうち、チップＣＨ１についてＣＨ間パルスディレイを行い、チップＣＨ０、ＣＨ１間の重複部で同じ位置にインクを吐出可能とする形態について記載したが、他の形態による実施も可能である。チップＣＨ０の吐出タイミング（駆動パルスの印加タイミング）を早めるような調整を行っても良い。また、チップＣＨ０の吐出タイミングを早くするような調整と、チップＣＨ１の吐出タイミングを遅くするような調整と、の両方を行っても良い。

また、第２から第５の実施形態では吐出口列がＹ方向に対して角度θで傾いており、傾き調整（租調）においてｓｅｇナンバーが４つ増加するごとに粗調量を１ずつ小さく（粗調量の絶対値を１ずつ大きく）し、吐出口列の傾きの影響を低減した。この粗調量は、吐出口列の傾き角度に応じて異なる量とすることができる。例えば、吐出口列がＹ方向に対して角度２θで傾いている場合、ｓｅｇナンバーが２つ増加するごとに粗調量を１ずつ小さく（粗調量の絶対値を１ずつ大きく）すれば、傾きの影響を低減することができる。また、粗調量自体を角度２θのときは角度θのときに比べて２倍としても良い。

また、各実施形態では記録媒体の幅よりも長尺な記録ヘッドを用い、記録媒体を搬送させながら記録を行う形態について記載したが、他の形態による実施も可能である。例えば、記録ヘッドを吐出口の配列方向と交差する方向へ走査させながらインクを吐出する記録動作と、走査間に記録媒体を配列方向に搬送する搬送動作と、を繰り返し行い、複数回の走査（移動）によって記録媒体への記録を完了する形態であっても良い。

１０５〜１０８ 記録ヘッド
ｓｅｇ０〜ｓｅｇ７ 吐出口

Claims (12)

1. インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子と、前記記録素子と対応するように設けられた複数の吐出口と、がそれぞれ設けられた第１吐出口列と第２吐出口列を有し、前記第１吐出口列の第１方向の一方の端部に配置された一部の吐出口と、前記第２吐出口列の前記第１方向の他方の端部に配置された一部の吐出口と、が前記第１方向に同じ位置に位置するように、前記第１、第２吐出口列が前記第１方向にずれて配置された記録ヘッドと、
   前記記録ヘッドと記録媒体の少なくとも一方を前記第１方向と交差する第２方向に移動させる移動手段と、
   前記第２吐出口列からの吐出タイミングを制御する制御手段と、を有する記録装置であって、
   前記第１、第２吐出口列は、それぞれ前記第１方向に対して所定の傾きで傾いて前記複数の吐出口が配列されており、
   前記制御手段は、前記記録媒体上で前記第１吐出口列の前記一部の吐出口と前記第２吐出口列の前記一部の吐出口が前記第２方向に同じ位置にインクを吐出されるように、前記所定の傾きに応じた第１調整量で前記第２吐出口列からの前記吐出タイミングを調整することを特徴とする記録装置。
2. 前記制御手段は、前記２吐出口列の複数の吐出口すべてに対し、前記第１調整量で前記吐出タイミングを調整することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
3. 前記第１調整量は、記録データの画素サイズの整数倍以外の量となり得ることを特徴とする請求項１または２に記載の記録装置。
4. 前記第１、第２吐出口列それぞれの前記複数の記録素子を複数の駆動ブロックに分割し、駆動ブロックごとに所定の駆動順序で前記記録素子を時分割駆動する駆動手段を更に有し、
   前記駆動手段は、前記第１吐出口列の前記一部の吐出口内の記録素子と、前記第２吐出口列の前記一部の吐出口内の記録素子と、が互いに同じ順番にて駆動されるように、前記複数の記録素子を時分割駆動することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の記録装置。
5. 前記第２吐出口列における前記所定の駆動順序は、前記第１吐出口列における前記所定の駆動順序をオフセットした順序であることを特徴とする請求項４に記載の記録装置。
6. 前記制御手段は、前記第１、第２吐出口列それぞれの複数の吐出口を前記所定の傾きの方向に沿って所定数ごとに複数の区画に分割し、前記所定の傾きに応じて前記区画ごとの第２調整量で、前記区画ごとに吐出タイミングを更に調整し、
   前記第１調整量は、前記所定の傾きと前記第２調整量に基づいた量であることを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の記録装置。
7. 前記区画の前記第２方向における位置が基準位置から離れるほど、当該区画の前記第２調整量の絶対値が大きくなることを特徴とする請求項６に記載の記録装置。
8. 前記第２調整量の絶対値の増加が開始される前記第２吐出口列内の吐出口の前記第１方向における位置は、前記第２調整量の絶対値の増加が開始される前記第１吐出口列内の吐出口の前記第１方向における位置と異なることを特徴とする請求項６または７記載の記録装置。
9. 前記第２調整量は、記録データの画素サイズの整数倍以外の量とならないことを特徴とする請求項６から８のいずれか１項に記載の記録装置。
10. 前記制御手段は、前記第１調整量および前記第２調整量での調整の結果、前記第２方向における所定の範囲内にインクが吐出されない吐出口に対し、前記所定の範囲内にインクが吐出されるように、第３調整量で当該吐出口の吐出タイミングを更に調整することを特徴とする請求項６から９のいずれか１項に記載の記録装置。
11. 前記第３調整量は、画素サイズの整数倍以外の量とならないことを特徴とする請求項１０に記載の記録装置。
12. インクを吐出するためのエネルギーを生成する複数の記録素子と、前記記録素子と対応するように設けられた複数の吐出口と、がそれぞれ設けられた第１吐出口列と第２吐出口列を有し、前記第１吐出口列の第１方向の一方の端部に配置された一部の吐出口と、前記第２吐出口列の前記第１方向の他方の端部に配置された一部の吐出口と、が前記第１方向に同じ位置に位置するように、前記第１、第２吐出口列が前記第１方向にずれて配置された記録ヘッドを用いて記録を行う記録方法であって、
    前記記録ヘッドと記録媒体の少なくとも一方を前記第１方向と交差する第２方向に移動させる移動工程と、
    前記第２吐出口列からの吐出タイミングを制御する制御工程と、を有し、
    前記第１、第２吐出口列は、それぞれ前記第１方向に対して所定の傾きで傾いて前記複数の吐出口が配列されており、
    前記制御工程において、前記記録媒体上で前記第１吐出口列の前記一部の吐出口と前記第２吐出口列の前記一部の吐出口が前記第２方向に同じ位置にインクを吐出されるように、前記所定の傾きに応じた第１調整量で前記第２吐出口列からの前記吐出タイミングを調整することを特徴とする記録方法。
    

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