JP2019009131A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6386195B2 (ja) 2015-11-17 2018-09-05 アトナープ株式会社 分析装置及びその制御方法
CN112154529B (zh) * 2018-05-23 2024-10-22 株式会社岛津制作所 飞行时间质谱分析装置
US10985002B2 (en) * 2019-06-11 2021-04-20 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Ionization sources and methods and systems using them
JP7445507B2 (ja) * 2020-04-22 2024-03-07 シャープ株式会社 分析装置
CN115836220B (zh) * 2020-07-14 2025-01-17 株式会社岛津制作所 气相色谱质量分析装置
US12216039B2 (en) 2021-02-11 2025-02-04 Viken Detection Corporation Drift tube field driving system and method

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3665185A (en) * 1970-10-19 1972-05-23 Minnesota Mining & Mfg Ion scattering spectrometer with neutralization
JPS5831698B2 (ja) * 1980-01-18 1983-07-07 工業技術院長 電界蒸発型イオンビ−ム発生装置
JPS62223660A (ja) * 1986-03-26 1987-10-01 Toshiba Corp イオン励起オ−ジエ電子分光装置
US4808820A (en) * 1987-09-23 1989-02-28 Hewlett-Packard Company Electron-emission filament cutoff for gas chromatography + mass spectrometry systems
JP2672949B2 (ja) * 1987-10-20 1997-11-05 株式会社芝浦製作所 エミッションコントロール装置
JP2672950B2 (ja) * 1987-10-20 1997-11-05 株式会社芝浦製作所 エミッションコントロール装置
US5164593A (en) * 1991-02-28 1992-11-17 Kratos Analytical Limited Mass spectrometer system including an ion source operable under high pressure conditions, and a two-stage pumping arrangement
EP0730149A3 (en) * 1995-03-02 1997-05-21 Orion Research Linearized potentiometric electrode
JP2000067808A (ja) * 1998-08-25 2000-03-03 Shimadzu Corp イオン化装置
JP3750386B2 (ja) * 1998-12-09 2006-03-01 株式会社島津製作所 四重極質量分析装置
US8740587B2 (en) * 2005-12-22 2014-06-03 Thermo Finnigan Llc Apparatus and method for pumping in an ion optical device
JP4720536B2 (ja) * 2006-02-24 2011-07-13 株式会社島津製作所 電子線源装置
JP4958258B2 (ja) * 2006-03-17 2012-06-20 株式会社リガク ガス分析装置
US8426805B2 (en) * 2008-02-05 2013-04-23 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for response and tune locking of a mass spectrometer
JP5055157B2 (ja) * 2008-02-08 2012-10-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US8253098B2 (en) 2008-06-27 2012-08-28 University Of Yamanashi Ionization analysis method and apparatus
JP5407616B2 (ja) * 2009-07-14 2014-02-05 株式会社島津製作所 イオントラップ装置
CN102280348A (zh) * 2010-06-08 2011-12-14 江苏天瑞仪器股份有限公司 电子轰击离子源控制系统
JP5454416B2 (ja) * 2010-08-20 2014-03-26 株式会社島津製作所 質量分析装置
US9035240B2 (en) * 2010-08-31 2015-05-19 Atonarp Inc. Ion transfer device
WO2012067195A1 (ja) * 2010-11-19 2012-05-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置および質量分析方法
CN102636555B (zh) * 2011-12-19 2014-04-02 中国科学院合肥物质科学研究院 一种适用于高场不对称波形离子迁移管的小型化测控系统
JP6025406B2 (ja) * 2012-06-04 2016-11-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
JP5970274B2 (ja) * 2012-07-18 2016-08-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
JP5568117B2 (ja) * 2012-09-21 2014-08-06 ファナック株式会社 放電加工機の加工液供給装置
US8704193B1 (en) * 2012-11-16 2014-04-22 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh RF transformer
DE102013201499A1 (de) 2013-01-30 2014-07-31 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung von Gasgemischen sowie Massenspektrometer hierzu
CN105493228B (zh) 2013-08-30 2017-11-14 Atonarp株式会社 分析装置
CN103702498B (zh) * 2013-12-12 2015-07-15 兰州空间技术物理研究所 一种用于磁偏转质谱计的在线可调灯丝电压源电路
JP5759036B2 (ja) 2014-03-06 2015-08-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US8921774B1 (en) * 2014-05-02 2014-12-30 908 Devices Inc. High pressure mass spectrometry systems and methods
JP6386195B2 (ja) 2015-11-17 2018-09-05 アトナープ株式会社 分析装置及びその制御方法
US9991105B2 (en) * 2015-12-23 2018-06-05 University Of Maryland, College Park Active stabilization of ion trap radiofrequency potentials
TWI721041B (zh) * 2016-08-17 2021-03-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 驅動電路、顯示裝置及電子裝置

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