JP2018530167A - Insulating layer manufacturing method and multilayer printed circuit board manufacturing method - Google Patents

Insulating layer manufacturing method and multilayer printed circuit board manufacturing method Download PDF

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Abstract

本発明は、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法、および前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法に関する。The present invention is obtained from a method for manufacturing an insulating layer capable of realizing a uniform and fine pattern and ensuring excellent mechanical properties while improving efficiency in terms of cost and productivity, and the method for manufacturing the insulating layer. The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed circuit board using an insulating layer.

Description

[関連出願の相互参照]
本出願は、2016年8月9日付の韓国特許出願第10−2016−0101419号および2017年7月28日付の韓国特許出願第10−2017−0096355号に基づく優先権の利益を主張し、当該韓国特許出願の文献に開示された全ての内容は本明細書の一部として含まれる。
[Cross-reference of related applications]
This application claims the benefit of priority based on Korean Patent Application No. 10-2016-0101419 dated August 9, 2016 and Korean Patent Application No. 10-2017-0096355 dated July 28, 2017, and All the contents disclosed in the Korean patent application literature are included as part of this specification.

本発明は、絶縁層の製造方法および多層印刷回路基板の製造方法に関する。より詳しくは、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法および前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an insulating layer manufacturing method and a multilayer printed circuit board manufacturing method. In more detail, while improving efficiency in terms of cost and productivity, it is possible to realize a uniform and fine pattern and to ensure excellent mechanical properties, and an insulating layer obtained from the insulating layer manufacturing method The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed circuit board using layers.

最近の電子機器は、ますます小型化、軽量化、高機能化している。このために、小型機器を中心としてビルドアップPCB(Build−up Printed Circuit Board)の応用分野が急速に拡大することによって、多層印刷回路基板の使用が急速に増えている。   Recent electronic devices are becoming smaller, lighter and more functional. For this reason, the use of multilayer printed circuit boards is rapidly increasing as the application field of build-up PCB (Build-up Printed Circuit Board) is rapidly expanding mainly in small devices.

多層印刷回路基板は、平面的配線から立体的な配線が可能であり、特に産業用電子分野では、IC(integrated circuit)、LSI(large scale integration)などの機能素子の集積度向上と共に電子機器の小型化、軽量化、高機能化、構造的な電気的機能統合、組立時間の短縮およびコスト節減などに有利な製品である。   Multi-layer printed circuit boards can be used in three-dimensional wiring from planar wiring. Especially in the industrial electronics field, the integration of functional elements such as integrated circuits (ICs) and large scale integrations (LSIs) has been improved. This product is advantageous for downsizing, weight reduction, high functionality, structural electrical function integration, assembly time reduction and cost saving.

このような応用領域に使用されるビルドアップPCBは、必ず各層間の連結のためにビアホール(via hole)を形成するが、ビアホールとは、多層印刷回路基板の層間電気的連結通路に当たるものであって、既存では機械的ドリル(Mechanical Drill)で加工したが、回路の微細化によってホールの口径が小さくなりながら、機械的ドリル加工による加工費の増加と微細ホール加工の限界によってレーザを利用した加工方式が代案として浮上してきた。   The build-up PCB used in such an application area always forms a via hole for connection between the layers, and the via hole corresponds to an interlayer electrical connection path of the multilayer printed circuit board. In addition, existing machining is performed with a mechanical drill, but the hole diameter is reduced due to miniaturization of the circuit, while machining using a laser is increased due to the increase in machining cost due to mechanical drilling and the limitations of fine hole machining. A method has emerged as an alternative.

しかし、レーザを利用した加工方式の場合、COまたはYAGレーザドリルを使用しているが、レーザドリルによってビアホールの大きさが決定されるため、例えば、COレーザドリルの場合、40μm以下の直径を有するビアホールを製造しにくいという限界がある。また、多数のビアホールを形成しなければならない場合、コスト負担が大きいという限界もある。 However, in the case of a processing method using a laser, a CO 2 or YAG laser drill is used. Since the size of a via hole is determined by the laser drill, for example, in the case of a CO 2 laser drill, a diameter of 40 μm or less. There is a limit that it is difficult to manufacture a via hole having a gap. In addition, when a large number of via holes must be formed, there is a limit that the cost burden is large.

そこで、上述したレーザ加工技術の代わりに、感光性絶縁材料を利用して低コストで微細な直径を有するビアホールを形成する方法が提案された。具体的に、前記感光性絶縁材料としては、感光性を利用して微細な開口パターンを形成できるソルダレジストといわれる感光性絶縁フィルムが挙げられる。   Therefore, a method for forming a via hole having a fine diameter at low cost using a photosensitive insulating material instead of the laser processing technique described above has been proposed. Specifically, examples of the photosensitive insulating material include a photosensitive insulating film called a solder resist capable of forming a fine opening pattern using photosensitivity.

このような感光性絶縁材料やソルダレジストは、パターン形成のために炭酸ナトリウム現像液を使用する場合と、異なる現像液を使用する場合に分かれる。異なる現像液を使用する場合、感光性絶縁材料やソルダレジストは環境的、コスト的な理由によって実際の工程上で適用が難しいという限界がある。   Such photosensitive insulating materials and solder resists are divided into a case where a sodium carbonate developer is used for pattern formation and a case where a different developer is used. In the case of using different developing solutions, there is a limit that the photosensitive insulating material and the solder resist are difficult to apply in an actual process for environmental and cost reasons.

反面、炭酸ナトリウム現像液を使用する場合、環境親和的であるという長所がある。この場合、感光性を付与するために多数のカルボン酸とアクリレート基を含む酸変性アクリレート樹脂を使用しているが、大部分のアクリレート基とカルボキシ基はエステル結合で連結されるので、所望の形に重合するために重合禁止剤などを含むようになり、紫外線照射によってラジカル反応を起こすために光開始剤なども含むようになる。   On the other hand, the use of a sodium carbonate developer has the advantage of being environmentally friendly. In this case, an acid-modified acrylate resin containing a large number of carboxylic acids and acrylate groups is used to impart photosensitivity, but most of the acrylate groups and carboxy groups are linked by ester bonds, so that the desired shape is obtained. In order to polymerize, a polymerization inhibitor or the like is included, and in order to cause a radical reaction by ultraviolet irradiation, a photoinitiator or the like is also included.

しかし、前記重合禁止剤または光開始剤などは高温条件で樹脂外部に拡散されつつ、半導体パッケージ工程中または完了後に、絶縁層や導電層との界面脱着を発生させることができる。また、樹脂内のエステル結合は、高い湿度で加水分解反応を起こし、樹脂の架橋密度を減少させて樹脂の吸湿率を上昇させる原因となり、このように吸湿率が高い場合、重合禁止剤または光開始剤などが高温条件で樹脂外部に拡散されて半導体パッケージ工程中または完了後に絶縁層や導電層との界面脱着を発生させることができ、HAST特性も悪くなるという限界があった。   However, the polymerization inhibitor or the photoinitiator is diffused to the outside of the resin under a high temperature condition, and can cause interface desorption with the insulating layer or the conductive layer during or after the semiconductor package process. In addition, the ester bond in the resin causes a hydrolysis reaction at high humidity, causing a decrease in the crosslinking density of the resin and increasing the moisture absorption rate of the resin. Initiators and the like are diffused to the outside of the resin under high temperature conditions, so that interface desorption with the insulating layer and the conductive layer can occur during or after the semiconductor package process, and the HAST characteristics are also deteriorated.

そこで、絶縁層や導電層との界面脱着を防止しながら、低廉なコストで均一で微細なパターンを実現できる絶縁層の製造方法の開発が要求されている。   Therefore, development of a method for manufacturing an insulating layer capable of realizing a uniform and fine pattern at a low cost while preventing interface desorption with an insulating layer or a conductive layer is required.

本発明は、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法を提供するものである。   The present invention provides a method for manufacturing an insulating layer capable of realizing a uniform and fine pattern and ensuring excellent mechanical properties while improving efficiency in terms of cost and productivity.

また、本発明は、前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法を提供するものである。   Moreover, this invention provides the manufacturing method of the multilayer printed circuit board using the insulating layer obtained from the manufacturing method of the said insulating layer.

本明細書において、一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階;前記キャリアフィルム上にパターン化された感光性樹脂層を形成する段階;前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階;前記パターン化された金属層からキャリアフィルムを分離して除去する段階;
前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階;および前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含む、絶縁層の製造方法が提供される。
In the present specification, a step of adhering an opposite surface of a metal layer having a carrier film bonded to one surface onto a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder; patterned photosensitivity on the carrier film Forming a resin layer; removing a carrier film and a metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer; and forming a carrier film from the patterned metal layer. Separating and removing;
There is provided a method for producing an insulating layer, comprising: alkali-developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer; and thermally curing the polymer resin layer after the alkali development.

また、本明細書において、前記絶縁層の製造方法によって製造された絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階を含む、多層印刷回路基板の製造方法が提供される。   The present specification also provides a method for manufacturing a multilayer printed circuit board, including a step of forming a metal substrate having a pattern formed on an insulating layer manufactured by the method for manufacturing an insulating layer.

以下、発明の具体的な実施形態による絶縁層の製造方法および多層印刷回路基板の製造方法についてより詳細に説明する。   Hereinafter, an insulating layer manufacturing method and a multilayer printed circuit board manufacturing method according to specific embodiments of the present invention will be described in more detail.

本明細書において、ハロゲン基の例としてはフッ素、塩素、臭素またはヨウ素がある。   In the present specification, examples of the halogen group include fluorine, chlorine, bromine or iodine.

本明細書において、前記アルキル基は直鎖または分枝鎖であってもよく、炭素数は特に限定されないが、1〜40が好ましい。一実施形態によれば、前記アルキル基の炭素数は1〜20である。また一つの実施形態によれば、前記アルキル基の炭素数は1〜10である。また一つの実施形態によれば、前記アルキル基の炭素数は1〜6である。アルキル基の具体的な例としてはメチル、エチル、プロピル、n−プロピル、イソプロピル、ブチル、n−ブチル、イソブチル、tert−ブチル、sec−ブチル、1−メチル−ブチル、1−エチル−ブチル、ペンチル、n−ペンチル、イソペンチル、ネオペンチル、tert−ペンチル、ヘキシル、n−ヘキシル、1−メチルペンチル、2−メチルペンチル、4−メチル−2−ペンチル、3,3−ジメチルブチル、2−エチルブチル、ヘプチル、n−ヘプチル、1−メチルヘキシル、シクロペンチルメチル、シクロヘキシルメチル、オクチル、n−オクチル、tert−オクチル、1−メチルヘプチル、2−エチルヘキシル、2−プロピルペンチル、n−ノニル、2,2−ジメチルヘプチル、1−エチル−プロピル、1,1−ジメチル−プロピル、イソヘキシル、2−メチルペンチル、4−メチルヘキシル,5−メチルヘキシルなどが挙げられるが、これらに限定されるものではない。   In the present specification, the alkyl group may be linear or branched, and the number of carbon atoms is not particularly limited, but 1 to 40 is preferable. According to one embodiment, the alkyl group has 1 to 20 carbon atoms. According to another embodiment, the alkyl group has 1 to 10 carbon atoms. According to another embodiment, the alkyl group has 1 to 6 carbon atoms. Specific examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, n-propyl, isopropyl, butyl, n-butyl, isobutyl, tert-butyl, sec-butyl, 1-methyl-butyl, 1-ethyl-butyl and pentyl. N-pentyl, isopentyl, neopentyl, tert-pentyl, hexyl, n-hexyl, 1-methylpentyl, 2-methylpentyl, 4-methyl-2-pentyl, 3,3-dimethylbutyl, 2-ethylbutyl, heptyl, n-heptyl, 1-methylhexyl, cyclopentylmethyl, cyclohexylmethyl, octyl, n-octyl, tert-octyl, 1-methylheptyl, 2-ethylhexyl, 2-propylpentyl, n-nonyl, 2,2-dimethylheptyl, 1-ethyl-propyl, 1,1-dimethyl- Propyl, isohexyl, 2-methylpentyl, 4-methylhexyl, 5-and methyl hexyl and the like, but is not limited thereto.

本明細書において、アリール基は特に限定されないが、炭素数6〜60が好ましく、単環式アリール基または多環式アリール基であってもよい。一実施形態によれば、前記アリール基の炭素数は6〜30である。一実施形態によれば、前記アリール基の炭素数は6〜20である。前記アリール基が単環式アリール基としてはフェニル基、ビフェニル基、ターフェニル基などが挙げられるが、これに限定されるものではない。前記多環式アリール基としてはナフチル基、アントラセニル基、フェナントリル基、ピレニル基、ペリレニル基、クリセニル基、フルオレニル基などが挙げられるが、これに限定されるものではない。   In the present specification, the aryl group is not particularly limited, but preferably has 6 to 60 carbon atoms, and may be a monocyclic aryl group or a polycyclic aryl group. According to one embodiment, the aryl group has 6 to 30 carbon atoms. According to one embodiment, the aryl group has 6 to 20 carbon atoms. Examples of the monocyclic aryl group as the aryl group include, but are not limited to, a phenyl group, a biphenyl group, and a terphenyl group. Examples of the polycyclic aryl group include, but are not limited to, naphthyl group, anthracenyl group, phenanthryl group, pyrenyl group, perylenyl group, chrycenyl group, and fluorenyl group.

発明の一実施形態によれば、一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階;前記キャリアフィルム上にパターン化された感光性樹脂層を形成する段階;前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階;前記パターン化された金属層からキャリアフィルムを分離して除去する段階;前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階;および前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含む、絶縁層の製造方法が提供され得る。   According to one embodiment of the invention, the opposite surface of the metal layer having the carrier film bonded on one side thereof is adhered on the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin and the thermosetting binder; and patterned on the carrier film. Forming a patterned photosensitive resin layer; removing a carrier film and a metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer; and forming the patterned metal layer. Separating and removing the carrier film from the substrate; alkali-developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer; and thermosetting the polymer resin layer after the alkali development; A method for manufacturing an insulating layer may be provided.

本発明者らは、前記一実施形態の絶縁層の製造方法によれば、アルカリ可溶性を有する高分子樹脂層上に導入されたパターンを有する金属層が高分子樹脂層に対するアルカリ現像時にマスクの役割を果たすことによって、前記金属層パターンによって露出した高分子樹脂層の部分はアルカリ現像を通して除去され、前記金属層パターンによって露出しない高分子樹脂層の部分は、アルカリ現像液から保護されて化学的方法を通して高分子樹脂層に微細パターンを実現できることを確認した。   According to the manufacturing method of the insulating layer of the one embodiment, the inventors of the present invention have a role of a mask when a metal layer having a pattern introduced on a polymer resin layer having alkali solubility is subjected to alkali development on the polymer resin layer. The portion of the polymer resin layer exposed by the metal layer pattern is removed through alkali development, and the portion of the polymer resin layer that is not exposed by the metal layer pattern is protected from the alkaline developer by a chemical method. It was confirmed that a fine pattern could be realized in the polymer resin layer.

また、前記方法で微細パターンが形成された絶縁層は、レーザ加工を通して製造された絶縁層に比べて、より均一で微細なパターンを低廉なコストで速やかに形成することができ、製造された最終絶縁層に優れた物性を実現できることを実験を通して確認して発明を完成した。   In addition, the insulating layer on which the fine pattern is formed by the above method can form a more uniform and fine pattern promptly at a low cost compared to the insulating layer manufactured through laser processing. The invention was completed by confirming through experiments that excellent physical properties could be realized in the insulating layer.

しかも、最終製造される絶縁層には、非感光性絶縁材料である熱硬化性樹脂の硬化物が含まれることによって、従来の感光性絶縁材料を通した絶縁層の製造時より光開始剤または重合禁止剤の含有量が非常に減少した。これによって、光開始剤または重合禁止剤によって発生可能な絶縁層や導電層との界面脱着性が減少するなど、優れた機械的物性を有する絶縁層を製造することができる。   Moreover, the final manufactured insulating layer contains a cured product of a thermosetting resin that is a non-photosensitive insulating material, so that a photoinitiator or The content of polymerization inhibitor was greatly reduced. This makes it possible to produce an insulating layer having excellent mechanical properties, such as an interface desorption property with an insulating layer or a conductive layer that can be generated by a photoinitiator or a polymerization inhibitor is reduced.

特に、前記一実施形態の絶縁層の製造方法では、高分子樹脂層上にマスクとして金属層を導入する時、金属層上にキャリアフィルムが接着された状態で工程を行うことによって、キャリアフィルムによって容易に金属層を積層できるだけでなく、キャリアフィルムが金属層と同じエッチング液によって同時に除去されるので、キャリアフィルムが接着された状態でも容易に金属層をエッチングすることができる。   In particular, in the method of manufacturing an insulating layer according to the embodiment, when a metal layer is introduced as a mask on the polymer resin layer, the carrier film is used by performing the process with the carrier film adhered to the metal layer. Not only can the metal layer be easily laminated, but also the carrier film is removed simultaneously with the same etching solution as the metal layer, so that the metal layer can be easily etched even when the carrier film is adhered.

また、キャリアフィルムと金属層にパターンを形成するために、キャリアフィルム上に導入された感光性樹脂層をキャリアフィルムと金属層との間の物理的剥離を通して容易に除去できるので、感光性樹脂層の除去のために別途の剥離液を処理しなくても良いという工程効率上の長所がある。   In addition, in order to form a pattern on the carrier film and the metal layer, the photosensitive resin layer introduced on the carrier film can be easily removed through physical peeling between the carrier film and the metal layer. There is an advantage in terms of process efficiency that it is not necessary to process a separate stripping solution for the removal.

そして、前記一実施形態の絶縁層の製造方法で使用されたアルカリ可溶性樹脂は、分子構造内に酸性作用基と共に特徴的なアミノ基で置換された環状イミド作用基を含むことによって、酸性作用基によってアルカリ可溶性を実現でき、アミノ基で置換された環状イミド作用基によって熱硬化性バインダーとの反応時に硬化密度を高めて耐熱信頼性および機械的性質を向上させることができ、他の界面との接着力を高めることができる。   The alkali-soluble resin used in the method for manufacturing an insulating layer according to the embodiment includes an acidic functional group in the molecular structure including a cyclic imide functional group substituted with a characteristic amino group together with the acidic functional group. Can achieve alkali solubility, and the cyclic imide functional group substituted with an amino group can increase the curing density upon reaction with a thermosetting binder to improve heat resistance reliability and mechanical properties. Adhesion can be increased.

したがって、前記アルカリ可溶性樹脂が含まれている高分子樹脂層は、上部に積層される金属層との界面接着力が高くなることができ、具体的に、金属層上部に積層されたキャリアフィルムと金属層との間の界面接着力より高い接着力を有することができるので、前述のように、キャリアフィルムと金属層との間の物理的剥離が可能になる。   Therefore, the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin can increase the interfacial adhesive force with the metal layer laminated on the upper part, specifically, the carrier film laminated on the metal layer upper part and Since it can have an adhesive force higher than the interfacial adhesive force between the metal layer, as described above, physical peeling between the carrier film and the metal layer becomes possible.

具体的に、前記絶縁層の製造方法は、一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階;前記キャリアフィルム上にパターン化された感光性樹脂層を形成する段階;前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階;前記パターン化された金属層からキャリアフィルムを分離して除去する段階;前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階;および前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含むことができる。   Specifically, the method for producing the insulating layer includes the step of adhering the opposite surface of the metal layer having the carrier film adhered to one surface onto a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder; Forming a patterned photosensitive resin layer; removing a carrier film and a metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer; Separating and removing the carrier film from the metal layer; developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer with an alkali; and thermosetting the polymer resin layer after the alkali development. Can be included.

以下、各段階別に具体的な内容を説明する。   Hereinafter, specific contents will be described for each stage.

一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階   Adhering the opposite side of the metal layer with the carrier film on one side onto a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder

前記一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階で、前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂組成物の乾燥を通して形成されたフィルムを意味する。   In the step of adhering the opposite surface of the metal layer having the carrier film adhered to the one surface onto the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin and the thermosetting binder, the polymer resin layer is made of the alkali-soluble resin and the thermosetting resin. It means a film formed through drying of a polymer resin composition containing a binder.

前記高分子樹脂層は単独で存在したり、回路基板、シート、多層プリント配線板などの半導体材料を含む基材上に形成された状態で存在することができ、前記高分子樹脂層を基材上に形成する方法の例は特に限定されないが、例えば、前記高分子樹脂組成物を基材上に直接コーティングしたり、キャリアフィルムまたはキャリアフィルムが接着された金属層上に高分子樹脂組成物を塗布した以後、基材とラミネートする方法などを使用することができる。   The polymer resin layer can be present alone or in a state where it is formed on a base material containing a semiconductor material such as a circuit board, a sheet, or a multilayer printed wiring board. Examples of the method of forming the upper layer are not particularly limited. For example, the polymer resin composition is directly coated on a substrate, or the polymer resin composition is coated on a carrier film or a metal layer to which the carrier film is bonded. After the application, a method of laminating with a substrate can be used.

また、前記一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる方法の例としては、前記一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面にアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂組成物を塗布し、乾燥させる方法を使用することができる。   In addition, as an example of a method for adhering the opposite surface of the metal layer having the carrier film adhered to the one surface onto the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin and the thermosetting binder, the carrier film is adhered to the one surface. A method of applying a polymer resin composition containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder to the opposite surface of the metal layer and drying it can be used.

前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含むことができる。   The polymer resin layer may include an alkali-soluble resin and a thermosetting binder.

前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対して熱硬化性バインダー1〜150重量部、または10〜100重量部、または20〜50重量部を含むことができる。前記熱硬化性バインダーの含有量が多すぎると前記高分子樹脂層の現像性が落ちて、強度が低下することができる。反対に、熱硬化性バインダーの含有量が少なすぎると、前記高分子樹脂層が過度に現像されるだけでなく、コーティング時に均一性が低下することができる。   The polymer resin layer may include 1 to 150 parts by weight, 10 to 100 parts by weight, or 20 to 50 parts by weight of a thermosetting binder with respect to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When there is too much content of the said thermosetting binder, the developability of the said polymeric resin layer will fall, and intensity | strength can fall. On the other hand, when the content of the thermosetting binder is too small, not only the polymer resin layer is excessively developed but also the uniformity during coating can be lowered.

前記熱硬化性バインダーは、熱硬化可能な作用基、オキセタニル基、環状エーテル基、環状チオエーテル基、シアノ基、マレイミド基およびベンゾオキサジン基からなる群より選択された1種以上の作用基およびエポキシ基を含むことができる。すなわち、前記熱硬化性バインダーはエポキシ基を必ず含み、エポキシ基以外に、オキセタニル基、環状エーテル基、環状チオエーテル基、シアノ(cyanide)基、マレイミド(maleimide)基、ベンゾオキサジン(benzoxazine)基、またはこれらの2種以上を混合して含むことができる。このような熱硬化性バインダーは、熱硬化によってアルカリ可溶性樹脂などと架橋結合を形成して、絶縁層の耐熱性または機械的物性を担保することができる。   The thermosetting binder includes at least one functional group selected from the group consisting of a thermosetting functional group, an oxetanyl group, a cyclic ether group, a cyclic thioether group, a cyano group, a maleimide group, and a benzoxazine group, and an epoxy group. Can be included. That is, the thermosetting binder necessarily includes an epoxy group, and besides the epoxy group, an oxetanyl group, a cyclic ether group, a cyclic thioether group, a cyanoide group, a maleimide group, a benzoxazine group, or Two or more of these may be mixed and included. Such a thermosetting binder can ensure the heat resistance or mechanical properties of the insulating layer by forming a cross-linking bond with an alkali-soluble resin or the like by thermosetting.

より具体的に、前記熱硬化性バインダーとしては、分子中に上述した作用基を2つ以上含む多官能性樹脂化合物を使用することができる。   More specifically, as the thermosetting binder, a multifunctional resin compound containing two or more functional groups described above in the molecule can be used.

前記多官能性樹脂化合物は、分子中に2個以上の環状エーテル基および/または環状チオエーテル基(以下、環状(チオ)エーテル基という)を含む樹脂を含んでもよい。   The polyfunctional resin compound may include a resin containing two or more cyclic ether groups and / or cyclic thioether groups (hereinafter referred to as cyclic (thio) ether groups) in the molecule.

前記分子中に2個以上の環状(チオ)エーテル基を含む熱硬化性バインダーは、分子中に3、4または5員環の環状エーテル基、または環状チオエーテル基のうちのいずれか一方または2種の基を少なくとも2個以上有する化合物を含んでもよい。   The thermosetting binder containing two or more cyclic (thio) ether groups in the molecule is either one or two of three, four or five-membered cyclic ether groups or cyclic thioether groups in the molecule. A compound having at least two groups may be included.

前記分子中に2個以上の環状チオエーテル基を有する化合物としては、例えば、ジャパンエポキシレジン社製のビスフェノールA型エピスルフィド樹脂YL7000などが挙げられる。   Examples of the compound having two or more cyclic thioether groups in the molecule include bisphenol A type episulfide resin YL7000 manufactured by Japan Epoxy Resins.

また、前記多官能性樹脂化合物は、分子中に少なくとも2個以上のエポキシ基を含む多官能エポキシ化合物、分子中に少なくとも2個以上のオキセタニル基を含む多官能オキセタン化合物、または分子中に2個以上のチオエーテル基を含むエピスルフィド樹脂、分子中に少なくとも2個以上のシアノ基を含む多官能シアネートエステル化合物、または分子中に少なくとも2個以上のベンゾオキサジン基を含む多官能ベンゾオキサジン化合物などを含んでもよい。   The polyfunctional resin compound is a polyfunctional epoxy compound containing at least two or more epoxy groups in the molecule, a polyfunctional oxetane compound containing at least two oxetanyl groups in the molecule, or two in the molecule. Including an episulfide resin containing the above thioether group, a polyfunctional cyanate ester compound containing at least two cyano groups in the molecule, or a polyfunctional benzoxazine compound containing at least two benzoxazine groups in the molecule Good.

前記多官能エポキシ化合物の具体的な例としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、水素添加ビスフェノールA型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、N−グリシジル型エポキシ樹脂、ビスフェノールAのノボラック型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビフェノール型エポキシ樹脂、キレート型エポキシ樹脂、グリオキサル型エポキシ樹脂、アミノ基含有エポキシ樹脂、ゴム変性エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエンフェノリック型エポキシ樹脂、ジグリシジルフタレート樹脂、ヘテロサイクリックエポキシ樹脂、テトラグリシジルキシレノイルエタン樹脂、シリコン変性エポキシ樹脂、ε−カプロラクトン変性エポキシ樹脂などが挙げられる。また、難燃性付与のために、リンなどの原子がその構造中に導入されたものを使用してもよい。これらのエポキシ樹脂は熱硬化することにより、硬化被膜の密着性、はんだ耐熱性、無電解メッキ耐性などの特性を向上させる。   Specific examples of the polyfunctional epoxy compound include, for example, bisphenol A type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, brominated bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, and novolak. Type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, N-glycidyl type epoxy resin, bisphenol A novolac type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin, biphenol type epoxy resin, chelate type epoxy resin, glyoxal type epoxy Resin, amino group-containing epoxy resin, rubber-modified epoxy resin, dicyclopentadiene phenolic epoxy resin, diglycidyl phthalate resin, heterocyclic epoxy resin, Tiger glycidyl xylenoyl yl ethane resins, silicone-modified epoxy resins, such as ε- caprolactone-modified epoxy resin. Moreover, you may use what introduced atoms, such as phosphorus, in the structure for flame retardance provision. These epoxy resins are thermally cured to improve properties such as adhesion of the cured film, solder heat resistance, and electroless plating resistance.

前記多官能オキセタン化合物としては、ビス[(3−メチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エーテル、ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エーテル、1,4−ビス[(3−メチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、1,4−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、(3−メチル−3−オキセタニル)メチルアクリレート、(3−エチル−3−オキセタニル)メチルアクリレート、(3−メチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレート、(3−エチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレートやこれらのオリゴマーまたは共重合体などの多官能オキセタン類以外に、オキセタンアルコールとノボラック樹脂、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、カルド型ビスフェノール類、カリックスアレーン類、カリックスレゾルシンアレーン類、またはシルセスキオキサンなどのヒドロキシ基を有する樹脂とのエーテル化物などが挙げられる。その他の、オキセタン環を有する不飽和モノマーとアルキル(メト)アクリレートとの共重合体なども挙げられる。   Examples of the polyfunctional oxetane compound include bis [(3-methyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether, bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether, 1,4-bis [(3-methyl -3-Oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, (3-methyl-3-oxetanyl) methyl acrylate, (3-ethyl-3-oxetanyl) In addition to polyfunctional oxetanes such as methyl acrylate, (3-methyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate, (3-ethyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate and oligomers or copolymers thereof, oxetane alcohol and novolak resin, Poly (p-hydroxystyrene), cardo bisphenol , Calixarenes, calix resorcin arenes, or the like ethers of a resin having a hydroxy group such as silsesquioxane and the like. Other examples include a copolymer of an unsaturated monomer having an oxetane ring and an alkyl (meth) acrylate.

前記多官能シアネートエステル化合物の例としては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールF型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールS型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールM型シアネートエステル樹脂、ノボラック型シアネートエステル樹脂、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂、クレゾールノボラック型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールAのノボラック型シアネートエステル樹脂、ビフェノール型シアネートエステル樹脂やこれらのオリゴマーまたは共重合体などが挙げられる。   Examples of the polyfunctional cyanate ester compound include bisphenol A type cyanate ester resin, bisphenol E type cyanate ester resin, bisphenol F type cyanate ester resin, bisphenol S type cyanate ester resin, bisphenol M type cyanate ester resin, and novolak type cyanate ester. Examples thereof include resins, phenol novolac-type cyanate ester resins, cresol novolac-type cyanate ester resins, bisphenol A novolac-type cyanate ester resins, biphenol-type cyanate ester resins and oligomers or copolymers thereof.

前記多官能マレイミド化合物の例としては、4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド(4,4’−diphenylmethane bismaleimide)、フェニルメタンビスマレイミド(phenylmethane bismaleimide)、m−フェニルメタンビスマレイミド(m−phenylmethane bismaleimide)、ビスフェノールAジフェニルエーテルビスマレイミド(bisphenol A diphenylether bismaleimide)、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド(3,3’−dimethyl−5,5’−diethyl−4,4’−diphenylmethane bismaleimide)、4−メチル−1,3−フェニレンビスマレイミド(4−methyl−1,3−phenylene bismaleimide)、1,6’−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサン(1,6’−bismaleimide−(2,2,4−trimethyl)hexane)などが挙げられる。   Examples of the polyfunctional maleimide compound include 4,4'-diphenylmethane bismaleimide (4,4'-diphenylmethane bismaleimide), phenylmethane bismaleimide, m-phenylmethane bismaleimide, and m-phenylmethane bismaleimide. Bisphenol A diphenyl ether bismaleimide, 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diphenylmethane bismaleimide (3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4) , 4'-diphenylmethane bismaleimide), 4 Methyl-1,3-phenylenebismaleimide (4-methyl-1,3-phenylene bismaleimide), 1,6′-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane (1,6′-bismaleimide- (2 , 2,4-trimethyl) hexane) and the like.

前記多官能ベンゾオキサジン化合物の例としては、ビスフェノールA型ベンゾオキサジン樹脂、ビスフェノールF型ベンゾオキサジン樹脂、フェノールフタレイン型ベンゾオキサジン樹脂、チオジフェノール型ベンゾオキサジン樹脂、ジシクロペンタジエン型ベンゾオキサジン樹脂、3,3’−(メチレン−1,4−ジフェニレン)ビス(3,4−ジヒドロ−2H−1,3−ベンゾオキサジン(3,3’−(methylene−1,4−diphenylene)bis(3,4−dihydro−2H−1,3−benzoxazine)樹脂などが挙げられる。   Examples of the polyfunctional benzoxazine compound include bisphenol A type benzoxazine resin, bisphenol F type benzoxazine resin, phenolphthalein type benzoxazine resin, thiodiphenol type benzoxazine resin, dicyclopentadiene type benzoxazine resin, 3 , 3 ′-(methylene-1,4-diphenylene) bis (3,4-dihydro-2H-1,3-benzoxazine (3,3 ′-(methylene-1,4-diphenylene) bis (3,4) dihydro-2H-1,3-benzoxazine) resin and the like.

前記多官能性樹脂化合物のより具体的な例としては、国都化学(株)製のYDCN−500−80P、ロンザジャパン(株)製のフェノールノボラック型シアネートエステル樹脂PT−30S、大和化成工業(株)製のフェニルメタン型マレイミド樹脂BMI−2300、四国化成工業(株)製のP−d型ベンゾオキサジン樹脂などが挙げられる。   More specific examples of the polyfunctional resin compound include YDCN-500-80P manufactured by Kokuto Chemical Co., Ltd., phenol novolak-type cyanate ester resin PT-30S manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd. And phenylmethane type maleimide resin BMI-2300 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. and Pd type benzoxazine resin.

一方、前記アルカリ可溶性樹脂は酸性作用基;およびアミノ基で置換された環状イミド作用基をそれぞれ少なくとも1つ以上、または2つ以上含むことができる。前記酸性作用基の例は特に限定されないが、例えば、カルボキシ基またはフェノール基を含むことができる。前記アルカリ可溶性樹脂は、酸性作用基を少なくとも1つ以上、または2つ以上含んで前記高分子樹脂層がより高いアルカリ現像性を示すようにし、高分子樹脂層の現像速度を調節できる。   Meanwhile, the alkali-soluble resin may include at least one or two or more cyclic imide functional groups each substituted with an amino group; and an amino group. Although the example of the said acidic functional group is not specifically limited, For example, a carboxy group or a phenol group can be included. The alkali-soluble resin contains at least one or two or more acidic functional groups so that the polymer resin layer exhibits higher alkali developability, and the development speed of the polymer resin layer can be adjusted.

前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、作用基構造内にアミノ基と環状イミド基を含んでおり、少なくとも1つ以上、または2つ以上含まれることができる。前記アルカリ可溶性樹脂が前記アミノ基で置換された環状イミド作用基を少なくとも1つ以上、または2つ以上含有することによって、前記アルカリ可溶性樹脂は、アミノ基に含まれている活性水素が多数存在する構造を有するようになり、熱硬化時に熱硬化性バインダーとの反応性が向上しながら硬化密度を高めて、耐熱信頼性および機械的性質を高めることができる。   The cyclic imide functional group substituted with the amino group includes an amino group and a cyclic imide group in the functional group structure, and may be included in at least one or two or more. When the alkali-soluble resin contains at least one or two or more cyclic imide functional groups substituted with the amino group, the alkali-soluble resin has a large number of active hydrogens contained in the amino group. It has a structure and can improve the heat density and mechanical properties by increasing the curing density while improving the reactivity with the thermosetting binder during thermosetting.

また、前記環状イミド作用基がアルカリ可溶性樹脂内に多数存在することによって、環状イミド作用基に含まれているカルボニル基と3級アミン基によって極性が高くなって、前記アルカリ可溶性樹脂の界面接着力を高めることができる。これによって、前記アルカリ可溶性樹脂が含まれている高分子樹脂層は、上部に積層される金属層との界面接着力が高くなることができ、具体的に、金属層上部に積層されたキャリアフィルムと金属層との間の界面接着力より高い接着力を有することができるので、後述するように、キャリアフィルムと金属層との間の物理的剥離が可能になる。   Further, since a large number of the cyclic imide functional groups are present in the alkali-soluble resin, the polarity is increased by the carbonyl group and the tertiary amine group contained in the cyclic imide functional group, and the interfacial adhesive force of the alkali-soluble resin is increased. Can be increased. As a result, the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin can increase the interfacial adhesive force with the metal layer laminated on the upper part, specifically, the carrier film laminated on the metal layer upper part. As described later, physical peeling between the carrier film and the metal layer becomes possible.

より具体的に、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、下記の化学式1で表される作用基を含むことができる。   More specifically, the cyclic imide functional group substituted with the amino group may include a functional group represented by the following chemical formula 1.

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記化学式1において、Rは炭素数1〜10、または1〜5、または1〜3のアルキレン基またはアルケニル基であり、“”は結合点を意味する。前記アルキレン基は、アルカン(alkane)から由来する2価の作用基であって、例えば、直鎖型、分枝型または環状のメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソブチレン基、sec−ブチレン基、tert−ブチレン基、ペンチレン基、へキシレン基などが挙げられる。前記アルキレン基に含まれている一つ以上の水素原子は異なる置換基で置換されていてもよく、前記置換基の例としては炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜12のヘテロアリール基、炭素数6〜12のアリールアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、アミジノ基、ニトロ基、アミド基、カルボニル基、ヒドロキシ基、スルホニル基、カルバメート基、炭素数1〜10のアルコキシ基などが挙げられる。 In Chemical Formula 1, R 1 is an alkylene group or alkenyl group having 1 to 10 carbon atoms, 1 to 5 carbon atoms, or 1 to 3 carbon atoms, and “ * ” means a point of attachment. The alkylene group is a divalent functional group derived from alkane, for example, a linear, branched or cyclic methylene group, ethylene group, propylene group, isobutylene group, sec-butylene group, Examples thereof include a tert-butylene group, a pentylene group, and a hexylene group. One or more hydrogen atoms contained in the alkylene group may be substituted with different substituents. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms. , Alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, heteroaryl group having 2 to 12 carbon atoms, arylalkyl group having 6 to 12 carbon atoms, halogen atom, cyano group, amino group, amidino group , A nitro group, an amide group, a carbonyl group, a hydroxy group, a sulfonyl group, a carbamate group, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, and the like.

前記「置換」という用語は、化合物内の水素原子の代わりに、他の作用基が結合することを意味し、置換される位置は、水素原子の置換される位置すなわち、置換基が置換可能な位置であれば限定はなく、2つ以上置換される場合、2つ以上の置換基は、互いに同一または異なっていてもよい。   The term “substituted” means that another functional group is bonded in place of a hydrogen atom in a compound, and the substituted position is a position where a hydrogen atom is substituted, that is, the substituent can be substituted. There is no limitation as long as it is a position, and when two or more substituents are substituted, the two or more substituents may be the same or different from each other.

前記アルケニル基は、上述したアルキレン基の中間や末端に炭素−炭素二重結合を1個以上含有していることを意味し、例えば、エチレン、プロピレン、ブチレン、へキシレン、アセチレンなどが挙げられる。前記アルケニル基のうちの一つ以上の水素原子は、前記アルキレン基の場合と同様の置換基で置換可能である。   The alkenyl group means that one or more carbon-carbon double bonds are contained in the middle or terminal of the above-described alkylene group, and examples thereof include ethylene, propylene, butylene, hexylene, and acetylene. One or more hydrogen atoms in the alkenyl group can be substituted with the same substituent as in the alkylene group.

好ましくは、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、下記の化学式2で表される作用基でありうる。   Preferably, the cyclic imide functional group substituted with the amino group may be a functional group represented by the following chemical formula 2.

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記化学式2において、“”は結合点を意味する。 In Chemical Formula 2, “ * ” means a point of attachment.

前記アルカリ可溶性樹脂は前述のように、酸性作用基と共にアミノ基で置換された環状イミド作用基を含み、具体的に、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基の少なくとも一つの末端に酸性作用基が結合することができる。この時、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基と酸性作用基は置換もしくは非置換のアルキレン基または置換もしくは非置換のアリーレン基を媒介として結合でき、例えば、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているアミノ基の末端に置換もしくは非置換のアルキレン基または置換もしくは非置換のアリーレン基を媒介として酸性作用基が結合でき、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているイミド作用基の末端に置換もしくは非置換のアルキレン基または置換もしくは非置換のアリーレン基を媒介として酸性作用基が結合することができる。   As described above, the alkali-soluble resin includes a cyclic imide functional group substituted with an amino group together with an acidic functional group. Specifically, the alkali-soluble resin has an acidic function on at least one terminal of the cyclic imide functional group substituted with the amino group. Groups can be attached. At this time, the cyclic imide functional group substituted with the amino group and the acidic functional group can be bonded via a substituted or unsubstituted alkylene group or a substituted or unsubstituted arylene group, for example, a cyclic group substituted with the amino group. An acidic functional group can be bonded to the terminal of the amino group contained in the imide functional group via a substituted or unsubstituted alkylene group or a substituted or unsubstituted arylene group, and the cyclic imide functional group substituted with the amino group An acidic functional group can be bonded to the terminal of the contained imide functional group via a substituted or unsubstituted alkylene group or a substituted or unsubstituted arylene group.

より具体的に、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているアミノ基の末端とは、前記化学式1でアミノ基に含まれている窒素原子を意味し、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているイミド作用基の末端とは、前記化学式1で環状イミド作用基に含まれている窒素原子を意味する。   More specifically, the terminal of the amino group contained in the cyclic imide functional group substituted with the amino group means a nitrogen atom contained in the amino group in the chemical formula 1, and is substituted with the amino group. The term “end of the imide functional group contained in the cyclic imide functional group” means a nitrogen atom contained in the cyclic imide functional group in Chemical Formula 1.

前記アルキレン基は、アルカン(alkane)から由来する2価の作用基であって、例えば、直鎖型、分枝型または環状のメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソブチレン基、sec−ブチレン基、tert−ブチレン基、ペンチレン基、へキシレン基などが挙げられる。前記アルキレン基に含まれている一つ以上の水素原子は異なる置換基で置換されていてもよく、前記置換基の例としては炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜12のヘテロアリール基、炭素数6〜12のアリールアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、アミジノ基、ニトロ基、アミド基、カルボニル基、ヒドロキシ基、スルホニル基、カルバメート基、炭素数1〜10のアルコキシ基などが挙げられる。   The alkylene group is a divalent functional group derived from alkane, for example, a linear, branched or cyclic methylene group, ethylene group, propylene group, isobutylene group, sec-butylene group, Examples thereof include a tert-butylene group, a pentylene group, and a hexylene group. One or more hydrogen atoms contained in the alkylene group may be substituted with different substituents. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms. , Alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, heteroaryl group having 2 to 12 carbon atoms, arylalkyl group having 6 to 12 carbon atoms, halogen atom, cyano group, amino group, amidino group , A nitro group, an amide group, a carbonyl group, a hydroxy group, a sulfonyl group, a carbamate group, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, and the like.

前記アリーレン基は、アレーン(arene)から由来する2価の作用基であって、例えば、環状のフェニル基、ナフチル基などが挙げられる。前記アリーレン基に含まれている一つ以上の水素原子は異なる置換基で置換されていてもよく、前記置換基の例としては炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜12のヘテロアリール基、炭素数6〜12のアリールアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、アミジノ基、ニトロ基、アミド基、カルボニル基、ヒドロキシ基、スルホニル基、カルバメート基、炭素数1〜10のアルコキシ基などが挙げられる。   The arylene group is a divalent functional group derived from arene, and examples thereof include a cyclic phenyl group and a naphthyl group. One or more hydrogen atoms contained in the arylene group may be substituted with different substituents. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms. , Alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, heteroaryl group having 2 to 12 carbon atoms, arylalkyl group having 6 to 12 carbon atoms, halogen atom, cyano group, amino group, amidino group , A nitro group, an amide group, a carbonyl group, a hydroxy group, a sulfonyl group, a carbamate group, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, and the like.

前記アルカリ可溶性樹脂を製造する方法の例は特に限定されないが、例えば、環状不飽和イミド化合物;およびアミン化合物の反応を通して製造されることができる。この時、前記環状不飽和イミド化合物;およびアミン化合物のうちの少なくとも一つ以上は末端に置換された酸性作用基を含むことができる。すなわち、前記環状不飽和イミド化合物、アミン化合物、またはこれら2種の化合物いずれも末端に酸性作用基が置換されることができる。前記酸性作用基に対する内容は、上述した通りである。   Although the example of the method of manufacturing the said alkali-soluble resin is not specifically limited, For example, it can manufacture through reaction of a cyclic unsaturated imide compound; and an amine compound. At this time, at least one of the cyclic unsaturated imide compound and the amine compound may include an acidic functional group substituted at a terminal. That is, the cyclic unsaturated imide compound, the amine compound, or any of these two compounds can be substituted with an acidic functional group at the terminal. The contents for the acidic functional group are as described above.

前記環状イミド化合物は、上述した環状イミド作用基を含む化合物であり、前記環状不飽和イミド化合物は、環状イミド化合物内に不飽和結合、すなわち、二重結合または三重結合を少なくとも1つ以上含む化合物を意味する。   The cyclic imide compound is a compound containing the above-mentioned cyclic imide functional group, and the cyclic unsaturated imide compound is a compound containing at least one unsaturated bond, that is, at least one double bond or triple bond in the cyclic imide compound. Means.

前記アルカリ可溶性樹脂は、前記アミン化合物に含まれているアミノ基と、環状不飽和イミド化合物に含まれている二重結合または三重結合の反応を通して製造されることができる。   The alkali-soluble resin can be produced through a reaction between an amino group contained in the amine compound and a double bond or triple bond contained in the cyclic unsaturated imide compound.

前記環状不飽和イミド化合物およびアミン化合物を反応させる重量比率の例は特に限定されないが、例えば、前記環状不飽和イミド化合物100重量部に対して、前記アミン化合物を10〜80重量部、または30〜60重量部で混合して反応させることができる。   Although the example of the weight ratio with which the said cyclic unsaturated imide compound and an amine compound are made to react is not specifically limited, For example, the said amine compound is 10-80 weight part with respect to 100 weight part of the said cyclic unsaturated imide compound, or 30- It can be made to react by mixing at 60 parts by weight.

前記環状不飽和イミド化合物の例としては、N−置換マレイミド化合物が挙げられる。N−置換とは、マレイミド化合物に含まれている窒素原子に結合した水素原子の代わりに、作用基が結合したことを意味し、前記N−置換マレイミド化合物は、N−置換されたマレイミド化合物の個数により、単官能N−置換マレイミド化合物と多官能N−置換マレイミド化合物に分類される。   Examples of the cyclic unsaturated imide compound include N-substituted maleimide compounds. N-substituted means that a functional group is bonded instead of a hydrogen atom bonded to a nitrogen atom contained in the maleimide compound, and the N-substituted maleimide compound is an N-substituted maleimide compound. According to the number, it is classified into a monofunctional N-substituted maleimide compound and a polyfunctional N-substituted maleimide compound.

前記単官能N−置換マレイミド化合物は、一つのマレイミド化合物に含まれている窒素原子に作用基が置換された化合物であり、前記多官能N−置換マレイミド化合物は、2つ以上のマレイミド化合物それぞれに含まれている窒素原子が作用基を媒介として結合した化合物である。   The monofunctional N-substituted maleimide compound is a compound in which an active group is substituted on a nitrogen atom contained in one maleimide compound, and the polyfunctional N-substituted maleimide compound is added to each of two or more maleimide compounds. It is a compound in which the contained nitrogen atom is bonded through a functional group.

前記単官能N−置換マレイミド化合物において、前記マレイミド化合物に含まれている窒素原子に置換される作用基は、公知の多様な脂肪族、脂環族または芳香族作用基を制限なく含むことができ、前記窒素原子に置換される作用基は、脂肪族、脂環族または芳香族作用基に酸性作用基が置換された作用基を含むこともできる。前記酸性作用基に対する内容は、上述した通りである。   In the monofunctional N-substituted maleimide compound, the functional group substituted by the nitrogen atom contained in the maleimide compound can include various known aliphatic, alicyclic or aromatic functional groups without limitation. The functional group substituted by the nitrogen atom may also include a functional group in which an acidic functional group is substituted for an aliphatic, alicyclic or aromatic functional group. The contents for the acidic functional group are as described above.

前記単官能N−置換マレイミド化合物の具体的な例としては、o−メチルフェニルマレイミド、p−ヒドロキシフェニルマレイミド、p−カルボキシフェニルマレイミド、またはドデシルマレイミドなどが挙げられる。   Specific examples of the monofunctional N-substituted maleimide compound include o-methylphenylmaleimide, p-hydroxyphenylmaleimide, p-carboxyphenylmaleimide, and dodecylmaleimide.

前記多官能N−置換マレイミド化合物において、2つ以上のマレイミド化合物それぞれに含まれている窒素原子間の結合を媒介する作用基は、公知の多様な脂肪族、脂環族または芳香族作用基を制限なく含むことができ、具体的な例としては、4,4’−ジフェニルメタン(diphenylmethane)作用基などを使用することができる。前記窒素原子に置換される作用基は、脂肪族、脂環族または芳香族作用基に酸性作用基が置換された作用基を含むこともできる。前記酸性作用基に対する内容は、上述した通りである。   In the polyfunctional N-substituted maleimide compound, the functional group that mediates the bond between nitrogen atoms contained in each of the two or more maleimide compounds may be a variety of known aliphatic, alicyclic, or aromatic functional groups. As a specific example, a 4,4′-diphenylmethane functional group or the like can be used. The functional group substituted with the nitrogen atom may include a functional group in which an acidic functional group is substituted for an aliphatic, alicyclic or aromatic functional group. The contents for the acidic functional group are as described above.

前記多官能N−置換マレイミド化合物の具体的な例としては、4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド(大和化成工業(株)製のBMI−1000、BMI−1100など)、フェニルメタンビスマレイミド、m−フェニレンメタンビスマレイミド、ビスフェノールAジフェニルエーテルビスマレイミド、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド、4−メチル−1,3−フェニレンビスマレイミド、1,6’−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサンなどが挙げられる。   Specific examples of the polyfunctional N-substituted maleimide compound include 4,4′-diphenylmethane bismaleimide (BMI-1000, BMI-1100, etc. manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.), phenylmethane bismaleimide, m- Phenylenemethane bismaleimide, bisphenol A diphenyl ether bismaleimide, 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diphenylmethane bismaleimide, 4-methyl-1,3-phenylenebismaleimide, 1,6 ′ -Bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane and the like.

前記アミン化合物は、分子構造内にアミノ基(−NH)を少なくとも1つ以上含む1級アミン化合物を使用することができ、より好ましくは、アミノ基で置換されたカルボン酸化合物、2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物またはこれらの混合物を使用することができる。 As the amine compound, a primary amine compound having at least one amino group (—NH 2 ) in the molecular structure can be used, and more preferably, a carboxylic acid compound substituted with an amino group, two or more. A polyfunctional amine compound containing any amino group or a mixture thereof can be used.

前記アミノ基で置換されたカルボン酸化合物において、カルボン酸化合物は、分子中にカルボン酸(−COOH)作用基を含む化合物であって、カルボン酸作用基と結合した炭化水素の種類により、脂肪族、脂環族または芳香族カルボン酸を全て含むことができる。前記アミノ基で置換されたカルボン酸化合物を通して前記アルカリ可溶性樹脂内に酸性作用基のカルボン酸作用基が多数含まれながら、前記アルカリ可溶性樹脂の現像性が向上することができる。   In the carboxylic acid compound substituted with the amino group, the carboxylic acid compound is a compound containing a carboxylic acid (—COOH) functional group in the molecule, and is aliphatic depending on the type of hydrocarbon bonded to the carboxylic acid functional group. All of the alicyclic or aromatic carboxylic acids can be included. The development property of the alkali-soluble resin can be improved while a large number of carboxylic acid functional groups of the acidic functional group are contained in the alkali-soluble resin through the carboxylic acid compound substituted with the amino group.

前記「置換」という用語は、化合物内の水素原子の代わりに、他の作用基が結合することを意味し、前記カルボン酸化合物にアミノ基が置換される位置は、水素原子が置換される位置であれば限定はなく、置換されるアミノ基の個数は1つ以上であってもよい。   The term “substituted” means that another functional group is bonded instead of a hydrogen atom in the compound, and the position where the amino group is substituted in the carboxylic acid compound is the position where the hydrogen atom is substituted. As long as it is not limited, the number of substituted amino groups may be one or more.

前記アミノ基で置換されたカルボン酸化合物の具体的な例としては、タンパク質の原料として知られた約20種のα−アミノ酸、4−アミノブタン酸,5−アミノペンタン酸、6−アミノヘキサン酸、7−アミノヘプタン酸、8−アミノオクタン酸、4−アミノベンゾ酸、4−アミノフェニル酢酸、4−アミノシクロヘキサンカルボン酸などが挙げられる。   Specific examples of the carboxylic acid compound substituted with the amino group include about 20 kinds of α-amino acids, 4-aminobutanoic acid, 5-aminopentanoic acid, 6-aminohexanoic acid known as protein raw materials, Examples include 7-aminoheptanoic acid, 8-aminooctanoic acid, 4-aminobenzoic acid, 4-aminophenylacetic acid, and 4-aminocyclohexanecarboxylic acid.

また、前記2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物は、分子中に2つ以上のアミノ基(−NH)を含む化合物であって、アミノ基と結合した炭化水素の種類により、脂肪族、脂環族または芳香族多官能アミンを全て含むことができる。前記2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物を通して前記アルカリ可溶性樹脂の可撓性、靭性、銅箔密着力などが向上することができる。 In addition, the polyfunctional amine compound containing two or more amino groups is a compound containing two or more amino groups (—NH 2 ) in the molecule, and depending on the type of hydrocarbon bonded to the amino group, All aromatic, alicyclic or aromatic polyfunctional amines can be included. The flexibility, toughness, copper foil adhesion, etc. of the alkali-soluble resin can be improved through the polyfunctional amine compound containing two or more amino groups.

前記2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物の具体的な例としては、1,3−シクロヘキサンジアミン、1,4−シクロヘキサンジアミン、1,3−ビス(アミノメチル)−シクロヘキサン、1,4−ビス(アミノメチル)−シクロヘキサン、ビス(アミノメチル)−ノルボルネン、オクタヒドロ−4,7−メタノインデン−1(2),5(6)−ジメタンアミン、4,4’−メチレンビス(シクロヘキシルアミン)、4,4’−メチレンビス(2−メチルシクロヘキシルアミン)、イソホロンジアミン、1,3−フェニレンジアミン、1,4−フェニレンジアミン、2,5−ジメチル−1,4−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラメチル−1,4−フェニレンジアミン、2,4,5,6−テトラフルオロ−1,3−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラフルオロ−1,4−フェニレンジアミン、4,6−ジアミノレゾシノール、2,5−ジアミノ−1,4−ベンゼンジチオール、3−アミノベンジルアミン、4−アミノベンジルアミン、m−キシレンジアミン、p−キシレンジアミン、1,5−ジアミノナフタレン、2,7−ジアミノフルオレン、2,6−ジアミノアントラキノン、m−トリジン、o−トリジン、3,3’,5,5’−テトラメチルベンジジン(TMB)、o−ジアニシジン、4,4’−メチレンビス(2−クロロアニリン)、3,3’−ジアミノベンジジン、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−ベンジジン、4,4’−ジアミノオクタフルオロビフェニル、4,4’−ジアミノ−p−ターフェニル、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−メチレンビス(2−エチル−6−メチルアニリン)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジエチルアニリン)、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−エチレンジアニリン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジメチルビベンジル、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2’−ビス(3−アミノフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(3−アミノ−4−メチルフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、α,α’−ビス(4−アミノフェニル)−1,4−ジイソプロピルベンゼン、1,3−ビス[2−(4−アミノフェニル)−2−プロピル]ベンゼン、1,1’−ビス(4−アミノフェニル)−シクロヘキサン、9,9’−ビス(4−アミノフェニル)−フルオレン、9,9’−ビス(4−アミノ−3−クロロフェニル)フルオレン、9,9’−ビス(4−アミノ−3−フルオロフェニル)フルオレン、9,9’−ビス(4−アミノ−3−メチルフェニル)フルオレン、3,4’−ジアミノジフェニルエテール、4,4’−ジアミノジフェニルエテール、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)−ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)−ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)−ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェノキシ)−ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)−ビフェニル、2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−フェニル]プロパン、2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−フェニル]ヘキサフルオロプロパン、ビス(2−アミノフェニル)スルフィド、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ)スルホン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)−フェニル]スルホン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−フェニル]スルホン、o−トリジンスルホン、3,6−ジアミノカルバゾール、1,3,5−トリス(4−アミノフェニル)−ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノプロピル)−テトラメチルジシロキサン、4,4’−ジアミノベンズアニリド、2−(3−アミノフェニル)−5−アミノベンズイミダゾール、2−(4−アミノフェニル)−5−アミノベンゾオキサゾール、1−(4−アミノフェニル)−2,3−ジヒドロ−1,3,3−トリメチル−1H−インデン−5−アミン、4,6−ジアミノレゾルシノール、2,3,5,6−ピリジンテトラアミン、信越シリコーンのシロキサン構造を含む多官能アミン(PAM−E、KF−8010、X−22−161A、X−22−161B、KF−8012,KF−8008、X−22−1660B−3,X−22−9409),ダウコーニングのシロキサン構造を含む多官能アミン(Dow Corning3055)、ポリエーテル構造を含む多官能アミン(Huntsman社、BASF社)などが挙げられる。   Specific examples of the polyfunctional amine compound containing two or more amino groups include 1,3-cyclohexanediamine, 1,4-cyclohexanediamine, 1,3-bis (aminomethyl) -cyclohexane, 1,4 -Bis (aminomethyl) -cyclohexane, bis (aminomethyl) -norbornene, octahydro-4,7-methanoindene-1 (2), 5 (6) -dimethanamine, 4,4'-methylenebis (cyclohexylamine), 4, 4'-methylenebis (2-methylcyclohexylamine), isophoronediamine, 1,3-phenylenediamine, 1,4-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-1,4-phenylenediamine, 2,3,5,6- Tetramethyl-1,4-phenylenediamine, 2,4,5,6-tetrafluoro-1,3-pheny Diamine, 2,3,5,6-tetrafluoro-1,4-phenylenediamine, 4,6-diaminoresinol, 2,5-diamino-1,4-benzenedithiol, 3-aminobenzylamine, 4- Aminobenzylamine, m-xylenediamine, p-xylenediamine, 1,5-diaminonaphthalene, 2,7-diaminofluorene, 2,6-diaminoanthraquinone, m-tolidine, o-tolidine, 3,3 ', 5 5'-tetramethylbenzidine (TMB), o-dianisidine, 4,4'-methylenebis (2-chloroaniline), 3,3'-diaminobenzidine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) -benzidine, 4 , 4′-diaminooctafluorobiphenyl, 4,4′-diamino-p-terphenyl, 3,3′-diaminodiphe Rumethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldiphenylmethane, 4,4'-methylenebis (2-ethyl-6-methylaniline), 4,4′-methylenebis (2,6-diethylaniline), 3,3′-diaminobenzophenone, 4,4′-diaminobenzophenone, 4,4′-ethylenedianiline, 4,4′-diamino-2,2 '-Dimethylbibenzyl, 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, 2,2'-bis (3-aminophenyl) -hexafluoropropane, 2,2'-bis (4- Aminophenyl) -hexafluoropropane, 2,2′-bis (3-amino-4-methylphenyl) -hexafluoropropane, 2,2′- Bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -hexafluoropropane, α, α′-bis (4-aminophenyl) -1,4-diisopropylbenzene, 1,3-bis [2- (4-aminophenyl) -2-propyl] benzene, 1,1′-bis (4-aminophenyl) -cyclohexane, 9,9′-bis (4-aminophenyl) -fluorene, 9,9′-bis (4-amino-3- Chlorophenyl) fluorene, 9,9′-bis (4-amino-3-fluorophenyl) fluorene, 9,9′-bis (4-amino-3-methylphenyl) fluorene, 3,4′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (3-aminophenoxy) -benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) -benzene, 1,4- (4-aminophenoxy) -benzene, 1,4-bis (4-amino-2-trifluoromethylphenoxy) -benzene, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) -biphenyl, 2,2′- Bis [4- (4-aminophenoxy) -phenyl] propane, 2,2′-bis [4- (4-aminophenoxy) -phenyl] hexafluoropropane, bis (2-aminophenyl) sulfide, bis (4- Aminophenyl) sulfide, bis (3-aminophenyl) sulfone, bis (4-aminophenyl) sulfone, bis (3-amino-4-hydroxy) sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) -phenyl] sulfone, Bis [4- (4-aminophenoxy) -phenyl] sulfone, o-tolidinesulfone, 3,6-diaminocarbazole, 1,3,5- Tris (4-aminophenyl) -benzene, 1,3-bis (3-aminopropyl) -tetramethyldisiloxane, 4,4′-diaminobenzanilide, 2- (3-aminophenyl) -5-aminobenzimidazole 2- (4-aminophenyl) -5-aminobenzoxazole, 1- (4-aminophenyl) -2,3-dihydro-1,3,3-trimethyl-1H-indene-5-amine, 4,6 -Diaminoresorcinol, 2,3,5,6-pyridinetetraamine, polyfunctional amine containing siloxane structure of Shin-Etsu silicone (PAM-E, KF-8010, X-22-161A, X-22-161B, KF-8012) , KF-8008, X-22-1660B-3, X-22-9409), a polyfunctional amine containing Dow Corning siloxane structure Dow Corning3055), polyfunctional amine containing polyether structure (Huntsman Corporation, BASF Corporation).

また、前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式3で表される反復単位;および下記の化学式4で表される反復単位をそれぞれ少なくとも1つ以上含むことができる。   The alkali-soluble resin may include at least one repeating unit represented by the following chemical formula 3; and at least one repeating unit represented by the following chemical formula 4.

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記化学式3において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、“”は結合点を意味し、 In Formula 3, R 2 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms, and “ * ” means a bonding point. ,

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記化学式4において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、Rは−H、−OH、−NR、ハロゲン、または炭素数1〜20のアルキル基であり、前記RおよびRは、それぞれ独立に、水素、炭素数1〜20のアルキル基、または炭素数6〜20のアリール基であってもよく、“”は結合点を意味する。 In Formula 4, R 3 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms, and R 4 is —H, —OH, -NR 5 R 6, halogen, or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, wherein R 5 and R 6 are each independently hydrogen, alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or 6 to 20 carbon atoms, It may be an aryl group, and “ * ” means a point of attachment.

好ましくは、前記化学式3において、Rはフェニレンであり、前記化学式4において、Rはフェニレンであり、Rは−OHであってもよい。 Preferably, in Chemical Formula 3, R 2 may be phenylene, and in Chemical Formula 4, R 3 may be phenylene and R 4 may be —OH.

一方、前記アルカリ可溶性樹脂は、前記化学式3で表される反復単位;および前記化学式4で表される反復単位以外に、追加でビニル系反復単位をさらに含むことができる。前記ビニル系反復単位は、分子中に少なくとも1つ以上のビニル基を含むビニル系単量体の単独重合体に含まれる反復単位であって、前記ビニル系単量体の例は特に限定されるものではなく、例えば、エチレン、プロピレン、イソブチレン、ブタジエン、スチレン、アクリル酸、メタアクリル酸、無水マレイン酸、またはマレイミドなどが挙げられる。   Meanwhile, the alkali-soluble resin may further include a vinyl-based repeating unit in addition to the repeating unit represented by Chemical Formula 3; and the repeating unit represented by Chemical Formula 4. The vinyl repeating unit is a repeating unit contained in a homopolymer of a vinyl monomer containing at least one vinyl group in the molecule, and examples of the vinyl monomer are particularly limited. Examples thereof include ethylene, propylene, isobutylene, butadiene, styrene, acrylic acid, methacrylic acid, maleic anhydride, and maleimide.

上述した化学式3で表される反復単位;および化学式3で表される反復単位を、それぞれ少なくとも1つ以上含むアルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式5で表される反復単位を含む重合体、下記の化学式6で表されるアミン、および下記の化学式7で表されるアミンの反応で製造されることができる。   The alkali-soluble resin containing at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3 and at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3 is a polymer containing a repeating unit represented by Chemical Formula 5 below, It can be produced by the reaction of an amine represented by Chemical Formula 6 and an amine represented by Chemical Formula 7 below.

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記化学式5乃至7において、R〜Rは前記化学式3、4で上述した内容と同様であり、“”は結合点を意味する。 In the chemical formulas 5 to 7, R 2 to R 4 are the same as those described above in the chemical formulas 3 and 4, and “ * ” means a bonding point.

前記化学式5で表される反復単位を含む重合体の具体的な例は特に限定されないが、例えば、Cray valley社のSMA、Polyscope社のXiran、Solenis社のScripset、Kuraray社のIsobam、Chevron Phillips Chemical社のPolyanhydride resin、Lindau Chemicals社のMaldeneなどが挙げられる。   Specific examples of the polymer including the repeating unit represented by Formula 5 are not particularly limited. For example, SMA from Cray valley, Xiran from Polyscope, Scripes from Solenis, Isobam from Kuraray, and Chevron Phillips Chemical Polyhydride resin of the company, Maldene of Lindau Chemicals, and the like.

また、上述した化学式3で表される反復単位;および化学式3で表される反復単位を、それぞれ少なくとも1つ以上含むアルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式8で表される化合物および下記の化学式9で表される化合物の反応で製造されることができる。   Further, the alkali-soluble resin containing at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3; and at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3 is represented by the following compound represented by Chemical Formula 8 and Chemical Formula 9 below. It can be produced by the reaction of the compound represented.

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記化学式8乃至9において、R〜Rは前記化学式3および4で上述した内容と同様である。 In the chemical formulas 8 to 9, R 2 to R 4 are the same as those described above in the chemical formulas 3 and 4.

また、前記アルカリ可溶性樹脂は、分子中にカルボキシ基またはフェノール基を含有している公知慣用のカルボキシ基含有樹脂またはフェノール基含有樹脂を使用することができる。好ましくは、前記カルボキシ基含有樹脂または前記カルボキシ基含有樹脂にフェノール基含有樹脂を混合して使用することができる。   The alkali-soluble resin may be a known and commonly used carboxy group-containing resin or phenol group-containing resin containing a carboxy group or a phenol group in the molecule. Preferably, a phenol group-containing resin can be mixed with the carboxy group-containing resin or the carboxy group-containing resin.

前記カルボキシ基含有樹脂の例としては、以下に列記する(1)乃至(7)の樹脂が挙げられる。   Examples of the carboxy group-containing resin include the resins (1) to (7) listed below.

(1)多官能エポキシ樹脂に飽和または不飽和モノカルボキシ基を反応させた後、多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(2)2官能エポキシ樹脂に2官能フェノール、および(または)ジカルボキシ基を反応させた後、多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(3)多官能フェノール樹脂に分子中に1個のエポキシ基を有する化合物を反応させた後、多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(4)分子中に2個以上のアルコール性水酸基を有する化合物に多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(5)ジアミン(diamine)とジアンヒドリド(dianhydride)を反応させたポリアミック酸樹脂またはポリアミック酸樹脂の共重合体樹脂、
(6)アクリル酸を反応させたポリアクリル酸樹脂またはポリアクリル酸樹脂の共重合体、
(7)マレイン酸無水物を反応させたポリマレイン酸無水物樹脂およびポリマレイン酸無水物樹脂共重合体の無水物を弱酸、ジアミン、イミダゾール(imidazole)、ジメチルスルホキシド(dimethyl sulfoxide)で開環させて製造した樹脂などが挙げられるが、これらに限定されるものではない。
(1) A carboxy group-containing resin obtained by reacting a polyfunctional epoxy resin with a saturated or unsaturated monocarboxy group and then reacting with a polybasic acid anhydride,
(2) a carboxy group-containing resin obtained by reacting a bifunctional epoxy resin with a bifunctional phenol and / or a dicarboxy group and then reacting with a polybasic acid anhydride,
(3) A carboxy group-containing resin obtained by reacting a polyfunctional phenol resin with a compound having one epoxy group in the molecule and then reacting with a polybasic acid anhydride,
(4) a carboxy group-containing resin obtained by reacting a polybasic acid anhydride with a compound having two or more alcoholic hydroxyl groups in the molecule;
(5) A polyamic acid resin obtained by reacting diamine and dianhydride or a copolymer resin of polyamic acid resin,
(6) A polyacrylic acid resin reacted with acrylic acid or a copolymer of polyacrylic acid resin,
(7) Manufactured by ring-opening polymaleic anhydride resin and maleic anhydride resin copolymer anhydride reacted with maleic anhydride with weak acid, diamine, imidazole, dimethyl sulfoxide However, it is not limited to these.

前記カルボキシ基含有樹脂のより具体的な例としては、日本化薬(株)製のCCR−1291H、SHIN−A T&C製のSHA−1216CA60、Lubrizol社製のNoverite K−700、またはこれらの2種以上の混合物などが挙げられる。   More specific examples of the carboxy group-containing resin include CCR-1291H manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., SHA-1216CA60 manufactured by SHIN-A T & C, Novelite K-700 manufactured by Lubrizol, or two of these. The above mixture etc. are mentioned.

前記フェノール基含有樹脂の例は特に限定されないが、例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールF(BPF)ノボラック樹脂などのボラック樹脂、または4,4’−(1−(4−(2−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン−2−イル)フェニル)エタン−1,1−ジイル)ジフェノール[4,4’−(1−(4−(2−(4−Hydroxyphenyl)propan−2−yl)phenyl)ethane−1,1−diyl)diphenol]などのビスフェノールA系樹脂をそれぞれ単独で、または混合して使用することができる。   Examples of the phenol group-containing resin are not particularly limited. For example, a phenolic novolac resin, a cresol novolac resin, a borac resin such as bisphenol F (BPF) novolac resin, or 4,4 ′-(1- (4- (2- (4-Hydroxyphenyl) propan-2-yl) phenyl) ethane-1,1-diyl) diphenol [4,4 ′-(1- (4- (2- (4-hydroxyphenyl) propan-2-yl) Bisphenol A resins such as phenyl) ether-1,1-diyl) diphenol] can be used alone or in combination.

前記高分子樹脂層は、熱硬化触媒、無機フィラー、レベリング剤、分散剤、離型剤および金属密着力増進剤からなる群より選択された1種以上の添加剤をさらに含むことができる。   The polymer resin layer may further include one or more additives selected from the group consisting of a thermosetting catalyst, an inorganic filler, a leveling agent, a dispersant, a release agent, and a metal adhesion promoter.

前記アルカリ可溶性樹脂は、KOH滴定によって求められる酸価(acid value)が50mg KOH/g乃至250mg KOH/g、または70mg KOH/g乃至200mg KOH/gであることができる。前記アルカリ可溶性樹脂の酸価を測定する方法の例は特に限定されないが、例えば、次のような方法を使用することができる。ベース溶媒(base solution)として0.1Nの濃度のKOH溶液(溶媒:メタノール)を準備し、標識子(indicator)としては、アルファ−ナフトールベンゼイン(alpha−naphtholbenzein)(pH:0.8〜8.2 yellow、10.0 blue green)を準備した。次いで、試料のアルカリ可溶性樹脂約1〜2gを採取してジメチルフォルムアルデヒド(DMF)溶媒50gに溶かした後、標識子を添加した後、ベース溶媒で滴定した。滴定完了時点で使用されたベース溶媒の量で酸価(acid value)をmg KOH/gの単位で求めた。   The alkali-soluble resin may have an acid value determined by KOH titration of 50 mg KOH / g to 250 mg KOH / g, or 70 mg KOH / g to 200 mg KOH / g. Although the example of the method of measuring the acid value of the said alkali-soluble resin is not specifically limited, For example, the following methods can be used. A 0.1N concentration KOH solution (solvent: methanol) was prepared as a base solution, and alpha-naphtholbenzene (pH: 0.8-8) was used as an indicator. .2 yellow, 10.0 blue green). Next, about 1 to 2 g of an alkali-soluble resin as a sample was collected and dissolved in 50 g of a dimethylformaldehyde (DMF) solvent, and after adding a label, it was titrated with a base solvent. The acid value was determined in units of mg KOH / g by the amount of base solvent used at the completion of the titration.

前記アルカリ可溶性樹脂の酸価が50mg KOH/g未満に減少しすぎると、前記アルカリ可溶性樹脂の現像性が低くなって現像工程を進行しにくいこともある。また、前記アルカリ可溶性樹脂の酸価が250mg KOH/gを超過して増加しすぎると、極性の増大によって他の樹脂との相分離が発生することができる。   If the acid value of the alkali-soluble resin is too low to be less than 50 mg KOH / g, the developability of the alkali-soluble resin may be lowered and the development process may be difficult to proceed. If the acid value of the alkali-soluble resin exceeds 250 mg KOH / g and increases too much, phase separation from other resins may occur due to the increase in polarity.

前記熱硬化性触媒は、熱硬化性バインダーの熱硬化を促進させる役割を果たす。前記熱硬化性触媒としては、例えばイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、4−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−(2−シアノエチル)−2−エチル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール誘導体;ジシアンジアミド、ベンジルジメチルアミン、4−(ジメチルアミノ)−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メトキシ−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メチル−N,N−ジメチルベンジルアミンなどのアミン化合物;アジピン酸ジヒドラジド、セバシン酸ジヒドラジドなどのヒドラジン化合物;トリフェニルホスフィンなどのリン化合物などが挙げられる。また、市販されているものとしては、例えば、四国化成工業社製の2MZ−A、2MZ−OK、2PHZ、2P4BHZ、2P4MHZ(全てイミダゾール系化合物の商品名)、サンアプロ社製のU−CAT3503N、UCAT3502T(全てジメチルアミンのブロックイソシアネート化合物の商品名)、DBU、DBN、U−CATS A102、U−CAT5002(全て二環式アミジン化合物およびその塩)などが挙げられる。特にこれらに限定されるものではなく、エポキシ樹脂やオキセタン化合物の熱硬化触媒、またはエポキシ基および/またはオキセタニル基とカルボキシ基の反応を促進するものであってもよく、単独でまたは2種以上を混合して使用することもできる。また、グアナミン、アセトグアナミン、ペンゾグアナミン、メラミン、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン−イソシアヌル酸付加物、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン−イソシアヌル酸付加物などのS−トリアジン誘導体を用いることもでき、好ましくは、これら密着性付与剤としても機能する化合物を前記熱硬化性触媒と併用することができる。   The thermosetting catalyst plays a role of promoting thermosetting of the thermosetting binder. Examples of the thermosetting catalyst include imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 4-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1 Imidazole derivatives such as-(2-cyanoethyl) -2-ethyl-4-methylimidazole; dicyandiamide, benzyldimethylamine, 4- (dimethylamino) -N, N-dimethylbenzylamine, 4-methoxy-N, N-dimethyl Examples include amine compounds such as benzylamine and 4-methyl-N, N-dimethylbenzylamine; hydrazine compounds such as adipic acid dihydrazide and sebacic acid dihydrazide; and phosphorus compounds such as triphenylphosphine. Examples of commercially available products include 2MZ-A, 2MZ-OK, 2PHZ, 2P4BHZ, 2P4MHZ (all trade names of imidazole compounds) manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., U-CAT3503N and UCAT3502T manufactured by San Apro. (All are trade names of blocked isocyanate compounds of dimethylamine), DBU, DBN, U-CATS A102, U-CAT5002 (all bicyclic amidine compounds and salts thereof), and the like. It is not particularly limited to these, and may be a thermosetting catalyst for an epoxy resin or an oxetane compound, or a catalyst that promotes a reaction between an epoxy group and / or an oxetanyl group and a carboxy group. It can also be used by mixing. Also, guanamine, acetoguanamine, benzoguanamine, melamine, 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine, 2-vinyl-4,6-diamino-S-triazine, 2-vinyl-4,6 S-triazine derivatives such as -diamino-S-triazine-isocyanuric acid adduct and 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine-isocyanuric acid adduct can also be used. A compound that also functions as an imparting agent can be used in combination with the thermosetting catalyst.

前記無機フィラーの例としては、シリカ、硫酸バリウム、チタン酸バリウム、タルク、クレー、炭酸マグネシウム、炭酸カルシウム、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、マイカまたはこれらの2種以上の混合物が挙げられる。   Examples of the inorganic filler include silica, barium sulfate, barium titanate, talc, clay, magnesium carbonate, calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, mica, or a mixture of two or more thereof.

前記無機フィラーの含有量の例は特に限定されないが、前記高分子樹脂層の高い剛性を達成するために、高分子樹脂層内に含まれているすべての樹脂成分100重量部に対して、前記無機フィラーを100重量部以上、または100〜600重量部、または100〜500重量部で添加することができる。   An example of the content of the inorganic filler is not particularly limited, but in order to achieve high rigidity of the polymer resin layer, with respect to 100 parts by weight of all the resin components contained in the polymer resin layer, The inorganic filler can be added at 100 parts by weight or more, or 100 to 600 parts by weight, or 100 to 500 parts by weight.

前記離型剤の例としては、低分子量ポリプロピレン、低分子量ポリエチレンなどのポリアルキレンワックス、エステルワックス、カルナバ(carnauba)ワックス、パラフィンワックスなどが挙げられる。   Examples of the release agent include polyalkylene waxes such as low molecular weight polypropylene and low molecular weight polyethylene, ester waxes, carnauba waxes, and paraffin waxes.

前記金属密着力増進剤は、金属素材の表面変質や透明性に問題が発生しない物質、例えば、シランカップリング剤または有機金属カップリング剤などを使用することができる。   As the metal adhesion promoter, a substance that does not cause a problem in surface modification or transparency of a metal material, for example, a silane coupling agent or an organometallic coupling agent can be used.

前記レベリング剤は、フィルムコーティング時に表面のポッピングやクレーターを除去する役割を果たし、例えば、BYK−Chemie GmbHのBYK−380N、BYK−307、BYK−378、BYK−350などを使用することができる。   The leveling agent serves to remove surface popping and craters during film coating. For example, BYK-Chemie GmbH's BYK-380N, BYK-307, BYK-378, and BYK-350 can be used.

また、前記高分子樹脂層は、相分離を誘発できる分子量5000以上の樹脂またはエラストマーをさらに含むことができる。これによって、前記高分子樹脂層の硬化物の粗化処理が可能になる。   The polymer resin layer may further include a resin or elastomer having a molecular weight of 5000 or more that can induce phase separation. This makes it possible to roughen the cured product of the polymer resin layer.

前記分子量5000以上の樹脂またはエラストマーの分子量測定方法の例は特に限定されるものではなく、例えば、GPC法によって測定したポリスチレン換算重量平均分子量を意味する。前記GPC法によって測定したポリスチレン換算の重量平均分子量を測定する過程では、通常公知の分析装置と示差屈折検出器(Refractive Index Detector)などの検出器および分析用カラムを用いることができ、通常適用される温度条件、溶媒、流量(flow rate)を適用することができる。前記測定条件の具体的な例として、30℃の温度、クロロホルム溶媒(Chloroform)および1mL/minの流量(flow rate)が挙げられる。   The example of the molecular weight measuring method of the resin or elastomer having a molecular weight of 5000 or more is not particularly limited, and means, for example, a polystyrene-equivalent weight average molecular weight measured by GPC method. In the process of measuring the polystyrene-equivalent weight average molecular weight measured by the GPC method, a commonly known analyzer and a detector such as a differential refractive index detector (Refractive Index Detector) and an analytical column can be used. Temperature conditions, solvent, flow rate can be applied. Specific examples of the measurement conditions include a temperature of 30 ° C., a chloroform solvent (Chloroform), and a flow rate of 1 mL / min.

また、前記高分子樹脂層は、前記高分子樹脂層に光硬化性性質を付与するために、光反応性不飽和基を含む熱硬化性バインダーまたは光反応性不飽和基を含むアルカリ可溶性樹脂と光開始剤をさらに含むことができる。前記光反応性不飽和基を含む熱硬化性バインダー、光反応性不飽和基を含むアルカリ可溶性樹脂および光開始剤の具体的な例は特に限定されず、光硬化性樹脂組成物の関連技術分野で使用される多様な化合物を制限なく使用することができる。   The polymer resin layer includes a thermosetting binder containing a photoreactive unsaturated group or an alkali-soluble resin containing a photoreactive unsaturated group in order to impart photocurable properties to the polymer resin layer. A photoinitiator can further be included. Specific examples of the thermosetting binder containing the photoreactive unsaturated group, the alkali-soluble resin containing the photoreactive unsaturated group, and the photoinitiator are not particularly limited, and the related technical field of the photocurable resin composition The various compounds used in can be used without limitation.

一方、前記高分子樹脂層上には一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面を接着させることができる。前記金属層に含まれている金属の例としては金、銀、銅、錫、ニッケルアルミニウム、チタンなどの金属またはこれらの2種以上の混合物を含む合金などが挙げられ、前記金属層の厚さは10nm乃至10μmでありうる。前記金属層の厚さが10μmを超過して増加しすぎると、前記金属層を形成するために過剰の金属が必要になるにつれて、原料コストが増加して経済的な面で効率性が減少することができる。   On the other hand, on the polymer resin layer, the opposite surface of the metal layer having a carrier film adhered on one surface can be adhered. Examples of the metal contained in the metal layer include metals such as gold, silver, copper, tin, nickel aluminum, and titanium, or alloys containing a mixture of two or more of these, and the thickness of the metal layer. May be 10 nm to 10 μm. If the thickness of the metal layer exceeds 10 μm and increases too much, raw material costs increase and economical efficiency decreases as excess metal is required to form the metal layer. be able to.

前記金属層の一面には、キャリアフィルムが接着されている。前記キャリアフィルムは、金属層の一面に接着されて金属層を移動、接着するなどの工程で金属層表面に対する直接的な接触を防止することができ、金属層を接着させた後には物理的剥離が可能で、容易に除去されることができる。前記キャリアフィルムの具体的な例は特に限定されるものではなく、例えば、高分子、金属、ゴムなどの有機、無機素材が多様に適用可能である。前記一実施形態では、キャリアフィルムの素材として、好ましくは前記金属層と同じ素材を使用することができる。したがって、後述するように、キャリアフィルムと金属層が同じエッチング液によって同時にエッチングされて、パターンを形成することができる。   A carrier film is bonded to one surface of the metal layer. The carrier film is bonded to one surface of the metal layer to prevent direct contact with the surface of the metal layer in a process such as moving or bonding the metal layer. After the metal layer is bonded, the carrier film is physically peeled off. Can be easily removed. Specific examples of the carrier film are not particularly limited, and various organic and inorganic materials such as polymers, metals, and rubbers can be applied. In the said one Embodiment, Preferably the same raw material as the said metal layer can be used as a raw material of a carrier film. Therefore, as will be described later, the carrier film and the metal layer can be simultaneously etched with the same etchant to form a pattern.

一方、前記キャリアフィルムが接着された金属層の一面の反対面は、高分子樹脂層と接着することができる。金属層の一面の反対面とは、金属層の一面と平行で互いに向き合う面を意味し、前記キャリアフィルムが接着された金属層の一面の反対面は、高分子樹脂層と接着されることによって、高分子樹脂層上に金属層、金属層上にキャリアフィルムが順次積層された構造を形成することができる。   Meanwhile, the opposite surface of the metal layer to which the carrier film is bonded can be bonded to the polymer resin layer. The opposite surface of one surface of the metal layer means a surface parallel to the one surface of the metal layer and facing each other, and the opposite surface of the one surface of the metal layer to which the carrier film is bonded is bonded to the polymer resin layer. A structure in which a metal layer on a polymer resin layer and a carrier film on the metal layer are sequentially laminated can be formed.

この時、前記キャリアフィルムと金属層との間の接着力が、前記高分子樹脂層と金属層との間の接着力より小さくてもよい。したがって、後述するように、キャリアフィルムと金属層との物理的剥離時に高分子樹脂層と金属層との剥離を防止することができる。前記キャリアフィルムと金属層との間の接着力より高分子樹脂層と金属層との間の接着力が小さいと、キャリアフィルムと金属層との物理的剥離時に高分子樹脂層と金属層が剥離されて、高分子樹脂層に対する微細パターン形成が難しくなる。   At this time, the adhesive force between the carrier film and the metal layer may be smaller than the adhesive force between the polymer resin layer and the metal layer. Therefore, as will be described later, it is possible to prevent peeling between the polymer resin layer and the metal layer during physical peeling between the carrier film and the metal layer. If the adhesive force between the polymer resin layer and the metal layer is smaller than the adhesive force between the carrier film and the metal layer, the polymer resin layer and the metal layer are peeled off when the carrier film and the metal layer are physically peeled off. Thus, it is difficult to form a fine pattern on the polymer resin layer.

キャリアフィルム上にパターン化された感光性樹脂層を形成する段階   Forming a patterned photosensitive resin layer on a carrier film;

前記感光性樹脂層は、パターンが形成された状態で前記キャリアフィルム上に積層されるか、または積層された以降にパターンが形成されることができるが、より好ましくは、前記キャリアフィルム上に積層された以降にパターンが形成されることができる。   The photosensitive resin layer may be laminated on the carrier film in a state where a pattern is formed, or a pattern may be formed after being laminated, more preferably, the layer is formed on the carrier film. A pattern can be formed after being applied.

前記感光性樹脂層の例としては、アルカリ可溶性や非熱硬化性の感光性ドライフィルムレジスト(DFR)などが挙げられる。   Examples of the photosensitive resin layer include alkali-soluble and non-thermosetting photosensitive dry film resist (DFR).

前記キャリアフィルム上にパターンが形成された保護層を形成する段階は、前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階を含むことができる。この場合、前記感光性樹脂層がキャリアフィルムに対する保護層、またはパターニングマスクとして用いられる。   The step of forming a protective layer having a pattern formed on the carrier film may include a step of exposing and alkali developing the photosensitive resin layer formed on the carrier film. In this case, the photosensitive resin layer is used as a protective layer for the carrier film or a patterning mask.

前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階で、前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層の厚さは、1μm乃至500μm、または3μm乃至500μm、または3μm乃至200μm、または1μm乃至60μm、または5μm乃至30μmであることができる。前記感光性樹脂層の厚さが増加しすぎると、前記高分子樹脂層の解像度が減少することができる。   In the step of exposing and alkali developing the photosensitive resin layer formed on the carrier film, the thickness of the photosensitive resin layer formed on the carrier film is 1 μm to 500 μm, or 3 μm to 500 μm, or 3 μm to It can be 200 μm, or 1 μm to 60 μm, or 5 μm to 30 μm. If the thickness of the photosensitive resin layer increases too much, the resolution of the polymer resin layer can be reduced.

前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階で、前記キャリアフィルム上に感光性樹脂層を形成する方法は特に限定されず、例えば、感光性ドライフィルムレジストのようなフィルム形状の感光性樹脂をキャリアフィルム上に積層させる方法、またはスプレーやディッピング方法で感光性樹脂組成物をキャリアフィルム上にコーティングし、圧着する方法などを使用することができる。   The method of forming the photosensitive resin layer on the carrier film in the step of exposing and alkali developing the photosensitive resin layer formed on the carrier film is not particularly limited. For example, a photosensitive dry film resist is used. A method of laminating a photosensitive resin in the form of a film on a carrier film, a method of coating a photosensitive resin composition on a carrier film by a spraying or dipping method, and press-bonding can be used.

前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階で、前記感光性樹脂層を露光する方法の例は特に限定されないが、例えば、前記感光性樹脂層に所定のパターンの形成されたフォトマスクを接触し紫外線を照射したり、マスクに含まれている所定のパターンをプロジェクション対物レンズを通してイメージングした後、紫外線を照射したり、レーザダイオード(Laser Diode)を光源に使用して直接イメージングした後、紫外線を照射するなどの方式などを通して選択的に露光することができる。この時、紫外線照射条件の例としては、5mJ/cm乃至600mJ/cmの光量で照射することが挙げられる。 An example of a method of exposing the photosensitive resin layer in the stage of exposing and alkali developing the photosensitive resin layer formed on the carrier film is not particularly limited. For example, a predetermined pattern is formed on the photosensitive resin layer. The formed photomask is contacted and irradiated with ultraviolet rays, or a predetermined pattern included in the mask is imaged through a projection objective lens, and then irradiated with ultraviolet rays, or a laser diode (Laser Diode) is used as a light source. After direct imaging, it can be selectively exposed through a method such as irradiation with ultraviolet rays. In this case, examples of ultraviolet irradiation conditions include irradiating light quantity of 5 mJ / cm 2 to 600 mJ / cm 2.

また、前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階で、前記感光性樹脂層を現像する方法の例としては、アルカリ現像液を処理する方法が挙げられる。前記アルカリ現像液の例は特に限定されないが、例えば、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、燐酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、アンモニア、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、アミン類などのアルカリ水溶液を使用することができ、好ましくは、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を使用することができる。前記アルカリ現像液の具体的な使用量は、特に限定されない。   An example of a method of developing the photosensitive resin layer at the stage of exposing and alkali developing the photosensitive resin layer formed on the carrier film is a method of treating an alkaline developer. Examples of the alkaline developer are not particularly limited. For example, an alkaline aqueous solution such as potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, sodium phosphate, sodium silicate, ammonia, tetramethylammonium hydroxide, amines may be used. Preferably, a 30 ° C., 1% sodium carbonate developer can be used. The specific usage amount of the alkali developer is not particularly limited.

前記アルカリ現像液を処理するとき、感光性樹脂層の一部分が現像によって除去されるだけで、下部に位置したアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層はキャリアフィルムによって保護されて、現像されることを防ぐことができる。したがって、高分子樹脂層の現像を防止するための別途の工程、例えば、高分子樹脂層を予め硬化させるか、または2種以上の異なる金属層を導入して互いに異なるエッチング液で順次パターニングを行う工程なしに、高分子樹脂層上に形成された微細金属層をレジストマスクとして用いて縦横比を低くすることで、ビアホールの解像度を高めることができる。   When processing the alkali developer, only a part of the photosensitive resin layer is removed by development, the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin and the thermosetting binder located at the bottom is protected by the carrier film, Development can be prevented. Therefore, a separate process for preventing the development of the polymer resin layer, for example, the polymer resin layer is cured in advance, or two or more different metal layers are introduced and sequentially patterned with different etchants. By using a fine metal layer formed on the polymer resin layer as a resist mask without using a process, the aspect ratio can be lowered to increase the resolution of the via hole.

パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去して、パターン化された金属層を形成する段階   Removing the exposed carrier film and metal layer by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer

前記感光性樹脂層パターンによって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去する段階で、前記感光性樹脂パターンは、キャリアフィルムおよび金属層にパターンを形成するためのレジストの役割に使用される。したがって、前記感光性樹脂層パターンによって露出したキャリアフィルムおよび金属層とは、表面で感光性樹脂層と接触しないキャリアフィルムおよび金属層部分を意味する。   In the step of removing the carrier film and the metal layer exposed by the photosensitive resin layer pattern, the photosensitive resin pattern is used as a resist for forming a pattern on the carrier film and the metal layer. Therefore, the carrier film and the metal layer exposed by the photosensitive resin layer pattern mean a carrier film and a metal layer portion that do not come into contact with the photosensitive resin layer on the surface.

具体的に、前記感光性樹脂層パターンによって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去する段階は、エッチング液がパターンが形成された感光性樹脂層を通過してキャリアフィルムおよび金属層に接触する段階を含むことができる。   Specifically, the step of removing the carrier film and the metal layer exposed by the photosensitive resin layer pattern includes the step of contacting the carrier film and the metal layer with the etching solution passing through the photosensitive resin layer on which the pattern is formed. Can be included.

前記エッチング液は、キャリアフィルムおよび金属層の種類によって選択され、可能な限り下部の銅回線に影響を少なく与え、感光性樹脂層にも影響を与えない物質を使用するのが好ましい。   The etchant is selected according to the type of the carrier film and the metal layer, and it is preferable to use a substance that has as little influence on the lower copper line as possible and does not affect the photosensitive resin layer.

ただし、前述のように、前記一実施形態では、キャリアフィルムの素材として、好ましくは、前記金属層と同じ素材を用いることによって、キャリアフィルムと金属層が同じエッチング液によって同時または順次に除去されて、容易にパターンを形成することができる。   However, as described above, in the embodiment, the carrier film and the metal layer are preferably removed simultaneously or sequentially with the same etching solution by using the same material as the metal layer as the material of the carrier film. A pattern can be easily formed.

一方、前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階で、高分子樹脂層が除去される比率が全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下でありうる。高分子樹脂層が除去される比率が、全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下ということは、高分子樹脂層が除去される程度が非常に微小であったり、高分子樹脂層が除去されないことを意味する。   Meanwhile, in the step of forming the patterned metal layer by removing the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer, the ratio of the polymer resin layer to be removed is the entire polymer resin layer It may be 0.01% by weight or less with respect to the weight of. When the ratio of the polymer resin layer to be removed is 0.01% by weight or less with respect to the weight of the entire polymer resin layer, the degree to which the polymer resin layer is removed is very small, Means not removed.

すなわち、前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階で使用されるエッチング液は、高分子樹脂層に対して物理的、化学的に全く影響を与えなく、そのため、微細金属パターン層を形成するまで高分子樹脂層が安定的に維持されることができ、微細金属パターン層をレジストマスクとして用いて縦横比を低くすることで、ビアホールの解像度を高めることができる。   That is, the etchant used in the step of removing the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form the patterned metal layer is physically applied to the polymer resin layer. The polymer resin layer can be stably maintained until the fine metal pattern layer is formed, and the aspect ratio is reduced by using the fine metal pattern layer as a resist mask. As a result, the resolution of the via hole can be increased.

前記パターン化された金属層からキャリアフィルムを分離して除去する段階   Separating and removing the carrier film from the patterned metal layer;

前述のように、パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階を経た以降には、高分子樹脂層上にパターン化された金属層、パターン化されたキャリアフィルムおよびパターン化された感光性樹脂層が順次積層されることができる。   As described above, after the step of forming the patterned metal layer by removing the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer, it is patterned on the polymer resin layer. A metal layer, a patterned carrier film, and a patterned photosensitive resin layer can be sequentially laminated.

この時、絶縁層形成のためには高分子樹脂層と前記高分子樹脂層上に形成されたパターン化された金属層を除いた残りの層を全て除去しなければならない。このため、従来にはパターン形成のために使用された感光性樹脂層の除去のためにアルカリ現像液を使用しており、この時、アルカリ現像液が高分子樹脂層を同時または順次に現像するという問題があった。また、パターン形成のために使用された金属層を用いた場合には、これを除去するためにエッチング液を使用して、下部の銅回線が腐食されるなどの問題が発生することができる。   At this time, in order to form the insulating layer, all of the remaining layers except the polymer resin layer and the patterned metal layer formed on the polymer resin layer must be removed. For this reason, conventionally, an alkaline developer is used to remove the photosensitive resin layer used for pattern formation. At this time, the alkaline developer develops the polymer resin layer simultaneously or sequentially. There was a problem. Further, when the metal layer used for pattern formation is used, problems such as corrosion of the lower copper line can be caused by using an etching solution to remove the metal layer.

反面、前記一実施形態の場合、キャリアフィルムと金属層を分離させて除去する単純な方法を通して高分子樹脂層と前記高分子樹脂層上に形成されたパターン化された金属層を除いた残りの層を容易に除去することができる。   On the other hand, in the case of the one embodiment, the remaining portions except for the polymer resin layer and the patterned metal layer formed on the polymer resin layer through a simple method of separating and removing the carrier film and the metal layer are removed. The layer can be easily removed.

前記一実施形態では、前記キャリアフィルムと金属層との間の接着力が前記高分子樹脂層と金属層との間の接着力より小さいため、キャリアフィルムと金属層との物理的剥離時に高分子樹脂層と金属層との剥離を防止することができる。   In the embodiment, since the adhesive force between the carrier film and the metal layer is smaller than the adhesive force between the polymer resin layer and the metal layer, the polymer is physically separated from the carrier film and the metal layer. Peeling between the resin layer and the metal layer can be prevented.

また、前記キャリアフィルムと金属層を分離する過程で、キャリアフィルムおよび前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層は、接着または剥離された状態で共に除去されるため、別途の現像液やエッチング液を使用せずとも、容易に微細金属パターンマスクだけを高分子樹脂層上に残して、後述するパターニング工程を通して縦横比を低くすることで、ビアホールの解像度を高めることができる。   Further, in the process of separating the carrier film and the metal layer, the carrier film and the photosensitive resin layer formed on the carrier film are removed together in an adhered or peeled state. Even without using a liquid, it is possible to easily increase the resolution of the via hole by leaving only the fine metal pattern mask on the polymer resin layer and reducing the aspect ratio through a patterning process described later.

パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階   A step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer

また、前記絶縁層の製造方法は、前記金属層パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階を含むことができる。前述のように、前記金属層に形成された微細パターンを通して露出した一部の高分子樹脂層表面だけがアルカリ現像液と選択的に接触する過程を通して、従来のレーザによるエッチング工程を代替しつつも、これと同等水準以上の精密度およびより高い工程経済性を確保できる。   The method for manufacturing the insulating layer may include a step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the metal layer pattern. As described above, through the process of selectively contacting the surface of a part of the polymer resin layer exposed through the fine pattern formed on the metal layer with an alkaline developer, the conventional laser etching process may be substituted. Therefore, it is possible to ensure a precision equal to or higher than this level and a higher process economy.

前記金属層パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階で、前記金属層パターンは、高分子樹脂層にパターンを形成するためのレジストの役割に使用される。したがって、前記金属層パターンによって露出した高分子樹脂層とは、表面が金属層と接触しない高分子樹脂層部分を意味する。   In the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the metal layer pattern, the metal layer pattern is used as a resist for forming a pattern on the polymer resin layer. Therefore, the polymer resin layer exposed by the metal layer pattern means a polymer resin layer portion whose surface does not contact the metal layer.

具体的に、前記金属層パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階は、アルカリ現像液がパターンが形成された金属層を通過して高分子樹脂層に接触する段階を含むことができる。   Specifically, the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the metal layer pattern may include a step in which an alkali developer passes through the metal layer having the pattern and contacts the polymer resin layer. .

前記高分子樹脂層はアルカリ可溶性樹脂を含むことによって、アルカリ現像液によって溶解するアルカリ可溶性を有しているので、前記高分子樹脂層でアルカリ現像液が接触した部位は溶解されて、除去されることができる。   Since the polymer resin layer contains an alkali-soluble resin, the polymer resin layer has an alkali-solubility that is dissolved by an alkali developer. Therefore, a portion of the polymer resin layer in contact with the alkali developer is dissolved and removed. be able to.

一方、前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階以降に、前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層の全体重量を基準に0.1重量%乃至85重量%、または0.1重量%乃至50重量%、または0.1重量%乃至10重量%が残留することができる。これは、高分子樹脂層に含まれているアルカリ可溶性樹脂がアルカリ現像液によって除去されたが、アルカリ現像性が殆どない熱硬化性バインダーまたは無機フィラーなどが除去されないで残留するためである。   On the other hand, after the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer, 0.1 wt% or more based on the total weight of the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer. 85% by weight, or 0.1% to 50% by weight, or 0.1% to 10% by weight can remain. This is because the alkali-soluble resin contained in the polymer resin layer is removed by the alkali developer, but the thermosetting binder or the inorganic filler having almost no alkali developability remains without being removed.

これによって、必要に応じてパターン化された金属層をエッチング液処理で除去する場合、パターンによって露出した下部の銅箔が共にエッチングされて、エッチバック(etch back)が発生することを最少化できる。   As a result, when the patterned metal layer is removed by an etchant treatment as necessary, it is possible to minimize the occurrence of etch back due to the etching of the lower copper foil exposed by the pattern together. .

一方、前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階以降に残留している高分子樹脂層は、剥離液などを処理して除去することができる。すなわち、パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階以降に、剥離液を処理する段階をさらに含むことができ、剥離液の種類および処理方法は特に限定されない。   Meanwhile, the polymer resin layer remaining after the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer can be removed by treating with a stripping solution or the like. In other words, after the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer, a step of treating the stripping solution can be further included, and the type and processing method of the stripping solution are not particularly limited.

特に、前記無機フィラーと熱硬化性バインダーが残留する程度を調節するために、アルカリ可溶性樹脂対比熱硬化性バインダーおよび無機フィラーの重量比率、無機フィラー表面の酸性作用基比率などを調節することができ、好ましくは、アルカリ可溶性樹脂100重量部対比熱硬化性バインダーを20〜100重量部、無機フィラーを100〜600重量部で添加することができ、無機フィラー表面の酸価(acid value)は、0mgKOH/g乃至5mgKOH/g、または0.01mgKOH/g乃至5mgKOH/gでありうる。前記酸価に関する内容は、前記アルカリ可溶性樹脂の酸価を測定する方法と同様である。   In particular, in order to adjust the degree to which the inorganic filler and the thermosetting binder remain, the weight ratio of the alkali-soluble resin to the thermosetting binder and the inorganic filler, the acidic functional group ratio on the surface of the inorganic filler, and the like can be adjusted. Preferably, 100 to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin and 20 to 100 parts by weight of the thermosetting binder and 100 to 600 parts by weight of the inorganic filler can be added, and the acid value on the surface of the inorganic filler is 0 mgKOH. / G to 5 mg KOH / g, or 0.01 mg KOH / g to 5 mg KOH / g. The contents relating to the acid value are the same as the method for measuring the acid value of the alkali-soluble resin.

前記アルカリ現像液の例は特に限定されないが、例えば、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、燐酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、アンモニア、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、アミン類などのアルカリ水溶液を使用することができ、好ましくは、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を使用することができる。前記アルカリ現像液の具体的な使用量は特に限定されない。   Examples of the alkaline developer are not particularly limited. For example, an alkaline aqueous solution such as potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, sodium phosphate, sodium silicate, ammonia, tetramethylammonium hydroxide, amines may be used. Preferably, a 30 ° C., 1% sodium carbonate developer can be used. The specific usage amount of the alkali developer is not particularly limited.

アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階   Step of thermosetting the polymer resin layer after alkali development

また、前記絶縁層の製造方法は、前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含むことができる。前記高分子樹脂層を熱硬化する段階は、100℃乃至250℃の温度で行うことができる。   The method for manufacturing the insulating layer may include a step of thermosetting the polymer resin layer after the alkali development. The step of thermosetting the polymer resin layer may be performed at a temperature of 100 ° C. to 250 ° C.

一方、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階以降に、前記高分子樹脂層上の金属層を除去する段階をさらに含むことができる。前記金属層を除去する方法は、前記高分子樹脂層下部の銅回線を除去しなかったり一部だけを除去したりしながら、金属層を除去できる方法を使用することができる。   Meanwhile, the method may further include the step of removing the metal layer on the polymer resin layer after the step of thermosetting the polymer resin layer. As the method for removing the metal layer, a method in which the metal layer can be removed while removing the copper line below the polymer resin layer or removing only a part thereof can be used.

具体的な例としては、金属層の銅箔厚さを3μm以下と非常に薄くして、下部の銅回線を一部除去しながら金属層を除去したり、金属層は除去されるが、下部の銅回線に影響を与えないエッチング液を使用することができる。   As a concrete example, the copper foil thickness of the metal layer is made very thin as 3 μm or less, and the metal layer is removed while removing a part of the lower copper line, or the metal layer is removed, An etchant that does not affect the copper line can be used.

一方、発明の他の実施形態によれば、前記一実施形態で製造された絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階を含む、多層印刷回路基板の製造方法が提供されることができる。   Meanwhile, according to another embodiment of the invention, there is provided a method of manufacturing a multilayer printed circuit board, including a step of forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer manufactured in the one embodiment. Can do.

本発明者らは、前記一実施形態で製造された絶縁層が一定の開口パターンを含むことによって、前記絶縁層上に金属基板をさらに積層する過程で、前記開口パターンの内部が金属で満たされることによって、絶縁層を基準に上部と下部に位置した金属基板が互いに連結されて、多層印刷回路基板を製造できることを確認し、発明を完成した。   The inventors of the present invention include that the insulating layer manufactured in the embodiment includes a certain opening pattern, so that the inside of the opening pattern is filled with metal in the process of further laminating a metal substrate on the insulating layer. As a result, it was confirmed that the metal substrates positioned at the upper part and the lower part with respect to the insulating layer were connected to each other to manufacture a multilayer printed circuit board, and the invention was completed.

前記絶縁層は、多層印刷回路基板の層間絶縁材料として用いることができ、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーの熱硬化物を含むことができる。前記アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーに関する内容は、前記一実施形態で上述した内容を含む。前記絶縁層表面には、必要に応じて5μm以下の厚さを有する銅箔層が形成されることもある。   The insulating layer can be used as an interlayer insulating material for a multilayer printed circuit board, and can include an alkali-soluble resin and a thermoset of a thermosetting binder. The content regarding the alkali-soluble resin and the thermosetting binder includes the content described above in the embodiment. If necessary, a copper foil layer having a thickness of 5 μm or less may be formed on the surface of the insulating layer.

前記絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階は、当業界でSemi Additive Process(SAP)またはModified Semi Additive Process(MSAP)と知られている微細回路パターンの形成工程であって、前記SAP工程は、絶縁層上に何もない状態で微細回路パターンを形成することを意味し、前記MSAP工程は、前記絶縁層上に5μm以下の銅箔が形成された状態で微細回路パターンを形成することを意味する。   The step of forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer is a fine circuit pattern forming process known in the art as Semi-Additive Process (SAP) or Modified Semi-Additive Process (MSAP). The SAP process means forming a fine circuit pattern with nothing on the insulating layer, and the MSAP process forms a fine circuit pattern with a copper foil of 5 μm or less formed on the insulating layer. It means to form.

より具体的には、前記絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階は、例えば、前記絶縁層上に金属薄膜を形成する段階;前記金属薄膜上にパターンが形成された感光性樹脂層を形成する段階;前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属薄膜上に金属を蒸着させる段階;および前記感光性樹脂層を除去し、露出した金属薄膜を除去する段階を含むことができる。   More specifically, the step of forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer includes, for example, a step of forming a metal thin film on the insulating layer; and a photosensitivity having a pattern formed on the metal thin film. Forming a resin layer; depositing a metal on the metal thin film exposed by the photosensitive resin layer pattern; and removing the photosensitive resin layer and removing the exposed metal thin film.

前記絶縁層上に金属薄膜を形成する段階で、金属薄膜の形成方法の例としては、乾式蒸着工程または湿式蒸着工程が挙げられ、具体的な前記乾式蒸着工程の例としては、真空蒸着、イオンプレーティング、スパッタリング方法などが挙げられる。一方、具体的な前記湿式蒸着工程の例としては、多様な金属の無電解メッキなどが挙げられ、より具体的には、無電解銅メッキを使用することができる。また、前記蒸着前または以後に粗化処理工程をさらに含むことができる。   In the step of forming the metal thin film on the insulating layer, examples of the method of forming the metal thin film include a dry deposition process or a wet deposition process. Specific examples of the dry deposition process include vacuum deposition and ion deposition. Examples thereof include plating and sputtering methods. Meanwhile, specific examples of the wet deposition process include electroless plating of various metals, and more specifically, electroless copper plating can be used. In addition, a roughening process may be further included before or after the vapor deposition.

また、前記絶縁層上に金属薄膜を形成する方法として、前記一実施形態の絶縁層の製造方法で保護層として金属層を使用する場合、金属層を除去する工程を行わない場合に製造される絶縁層をそのまま使用することもできる。   In addition, as a method of forming a metal thin film on the insulating layer, when the metal layer is used as a protective layer in the method for manufacturing an insulating layer according to the embodiment, it is manufactured when the step of removing the metal layer is not performed. The insulating layer can be used as it is.

前記粗化処理工程においても、条件により乾式および湿式方法があり、前記乾式方法の例としては、真空、常圧、気体別プラズマ処理、気体別エキシマ(Excimer)UV処理などが挙げられ、前記湿式方法の例としては、デスミア処理を使用することができる。このような粗化処理工程を通して、前記金属薄膜の表面粗さを高めて、金属薄膜上に蒸着される金属との密着力を向上させることができる。   Also in the roughening treatment step, there are dry and wet methods depending on conditions. Examples of the dry method include vacuum, normal pressure, plasma treatment by gas, and excimer UV treatment by gas. As an example of the method, desmear treatment can be used. Through such a roughening treatment step, the surface roughness of the metal thin film can be increased to improve the adhesion with the metal deposited on the metal thin film.

また、前記絶縁層上に金属薄膜を形成する段階は、前記金属薄膜を蒸着する前に、前記絶縁層上に表面処理層を形成する段階をさらに含むことができる。これによって、前記金属薄膜と絶縁層との間の接着力が向上することができる。   In addition, forming the metal thin film on the insulating layer may further include forming a surface treatment layer on the insulating layer before depositing the metal thin film. Thereby, the adhesive force between the metal thin film and the insulating layer can be improved.

具体的に、前記絶縁層上に表面処理層を形成する方法の一例を挙げると、イオン補助反応法、イオンビーム処理法、プラズマ処理法のうちの少なくともいずれか一つを使用することができる。プラズマ処理法は、常圧プラズマ処理法、DCプラズマ処理法、RFプラズマ処理法のうちのいずれか一つを含むことができる。前記表面処理工程の結果、前記絶縁層の表面に反応性作用基を含む表面処理層が形成されることができる。前記絶縁層上に表面処理層を形成する方法の他の例としては、前記絶縁層表面に50nm乃至300nm厚さのクロム(Cr)、チタニウム(Ti)金属を蒸着する方法が挙げられる。   Specifically, as an example of a method for forming a surface treatment layer on the insulating layer, at least one of an ion-assisted reaction method, an ion beam treatment method, and a plasma treatment method can be used. The plasma processing method may include any one of a normal pressure plasma processing method, a DC plasma processing method, and an RF plasma processing method. As a result of the surface treatment step, a surface treatment layer containing a reactive functional group can be formed on the surface of the insulating layer. As another example of the method of forming the surface treatment layer on the insulating layer, a method of vapor-depositing chromium (Cr) or titanium (Ti) metal having a thickness of 50 nm to 300 nm on the surface of the insulating layer can be given.

一方、前記金属薄膜上にパターンが形成された感光性樹脂層を形成する段階は、前記金属薄膜上に形成された感光性樹脂層を露光および現像する段階を含むことができる。前記感光性樹脂層と露光および現像に対する内容は、前記一実施形態で上述した内容を含むことができる。   Meanwhile, forming the photosensitive resin layer having the pattern formed on the metal thin film may include exposing and developing the photosensitive resin layer formed on the metal thin film. The contents for the photosensitive resin layer and exposure and development may include the contents described above in the embodiment.

前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属薄膜上に金属を蒸着させる段階で、前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属薄膜とは、表面で感光性樹脂層と接触しない金属薄膜部分を意味する。前記蒸着される金属は銅を使用することができ、前記蒸着方法の例は特に限定されず、公知の多様な物理的または化学的蒸着方法を制限なく使用でき、汎用の一例としては、電解銅メッキ方法を使用することができる。   The metal thin film exposed by the photosensitive resin layer pattern in the step of depositing a metal on the metal thin film exposed by the photosensitive resin layer pattern means a metal thin film portion that does not contact the photosensitive resin layer on the surface. The metal to be vapor-deposited can use copper, examples of the vapor deposition method are not particularly limited, and various known physical or chemical vapor deposition methods can be used without limitation. A plating method can be used.

前記感光性樹脂層を除去し、露出した金属薄膜を除去する段階で、前記感光性樹脂層の除去方法の例としては、フォトレジスト剥離液を用いることができ、前記感光性樹脂層の除去によって露出する金属薄膜の除去方法の例としては、エッチング液を使用することができる。   In the step of removing the photosensitive resin layer and removing the exposed metal thin film, as an example of the method for removing the photosensitive resin layer, a photoresist stripping solution can be used, and by removing the photosensitive resin layer, As an example of the method for removing the exposed metal thin film, an etching solution can be used.

前記多層印刷回路基板の製造方法によって製造された多層印刷回路基板は、再びビルドアップ材料として用いることができ、例えば、前記多層印刷回路基板上に前記一実施形態の絶縁層の製造方法により絶縁層を形成する第1工程と、前記絶縁層上に前記他の実施形態の多層印刷回路基板の製造方法により金属基板を形成する第2工程とを繰り返して行うことができる。   The multilayer printed circuit board manufactured by the multilayer printed circuit board manufacturing method can be used again as a build-up material. For example, the insulating layer is formed on the multilayer printed circuit board by the insulating layer manufacturing method of the embodiment. The first step of forming the metal substrate and the second step of forming the metal substrate on the insulating layer by the multilayer printed circuit board manufacturing method of the other embodiment can be performed repeatedly.

そのため、前記多層印刷回路基板の製造方法によって製造される多層印刷回路基板に含まれている積層された層数も特に限定されず、使用目的、用途により、例えば1乃至20層を有することができる。   Therefore, the number of stacked layers included in the multilayer printed circuit board manufactured by the multilayer printed circuit board manufacturing method is not particularly limited, and may include, for example, 1 to 20 layers depending on the purpose of use and application. .

本発明によれば、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法および前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法が提供されることができる。   According to the present invention, while improving efficiency in terms of cost and productivity, a uniform and fine pattern can be realized, and excellent mechanical properties can be secured, and the insulating layer manufacturing method and the insulating layer manufacturing method can be obtained. A method for manufacturing a multilayer printed circuit board using an insulating layer may be provided.

実施例1の絶縁層の製造工程を概略的に示した図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing a manufacturing process of an insulating layer of Example 1. 実施例2の多層印刷回路基板の製造工程を概略的に示した図である。FIG. 10 is a diagram schematically illustrating a manufacturing process of a multilayer printed circuit board according to Example 2.

本発明を下記の実施例でより詳しく説明する。ただし、下記の実施例は本発明を例示するものに過ぎず、本発明の内容がこれらの実施例によって限定されるのではない。   The invention is explained in more detail in the following examples. However, the following examples are merely illustrative of the present invention, and the content of the present invention is not limited by these examples.

<製造例:アルカリ可溶性樹脂の製造>
製造例1
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてジメチルホルムアミド(Dimethylformamide、DMF)632g、N−置換マレイミド化合物として、BMI−1100(大和化成工業(株)製)358g、アミン化合物として、4−アミノフェニル酢酸151gを混合し、85℃で24時間攪拌して、固形分含有量50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
<Production example: Production of alkali-soluble resin>
Production Example 1
In a reaction vessel having a volume of 2 liters that can be heated and cooled, equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter, 632 g of dimethylformamide (DMF) as a solvent, BMI as an N-substituted maleimide compound -1100 (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.), 151 g of 4-aminophenylacetic acid as an amine compound were mixed and stirred at 85 ° C. for 24 hours to produce an alkali-soluble resin solution having a solid content of 50%. .

製造例2
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてジメチルホルムアミド(Dimethylformamide、DMF)632g、N−置換マレイミド化合物として、p−カルボキシフェニルマレイミド434g、アミン化合物として、4,4’−ジアミノジフェニルメタン198gを混合し、85℃で24時間攪拌して、固形分含有量50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
Production Example 2
In a reaction vessel having a volume of 2 liters that can be heated and cooled, equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter, 632 g of dimethylformamide (DMF) as a solvent, p as an N-substituted maleimide compound -Carboxyphenylmaleimide (434 g) and 4,4′-diaminodiphenylmethane (198 g) as an amine compound were mixed and stirred at 85 ° C. for 24 hours to prepare an alkali-soluble resin solution having a solid content of 50%.

製造例3
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてジメチルアセトアミド(Dimethylacetamide、DMAc)543gを入れて、Cray Valley社製のSMA1000 350g、4−アミノ安息香酸(4−aminobenzoic acid、PABA)144g、4−アミノフェノール(4−aminophenol、PAP)49gを投入した後、混合した。窒素雰囲気下で反応器の温度を80℃とし、24時間持続して酸無水物とアニリン誘導体が反応してアミック酸を形成した後、反応器の温度を150℃とし、24時間持続してイミド化反応を進行して、固形分50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
Production Example 3
543 g of dimethylacetamide (DMAc) as a solvent was placed in a reaction vessel having a volume of 2 liters that can be heated and cooled, equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter, and manufactured by Cray Valley. 350 g of SMA1000, 144 g of 4-aminobenzoic acid (PABA) and 49 g of 4-aminophenol (4-aminophenol, PAP) were added and mixed. Under a nitrogen atmosphere, the temperature of the reactor was set at 80 ° C., and the acid anhydride and the aniline derivative reacted to form an amic acid for 24 hours. After that, the temperature of the reactor was set at 150 ° C. and the temperature was maintained for 24 hours. The alkali-soluble resin solution having a solid content of 50% was produced by proceeding with the conversion reaction.

製造例4
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてメチルエチルケトン(Methylethylketone、MEK)516gを入れて、p−カルボキシフェニルマレイミド(p−carboxyphenylmaleimide)228g、p−ヒドロキシフェニルマレイミド(p−hydroxyphenylmaleimide)85g、スチレン(styrene)203g、アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)0.12gを投入した後、混合した。窒素雰囲気下で反応器の温度を70℃に徐々に上げた後、24時間持続して固形分50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
Production Example 4
Methylethylketone (MEK) 516 g was placed in a 2 liter reaction vessel equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter and capable of heating and cooling, and p-carboxyphenylmaleimide (MEK) was added. 228 g of p-carbophenylmaleimide), 85 g of p-hydroxyphenylmaleimide (p-hydroxyphenylmaleimide), 203 g of styrene, and 0.12 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) were added and mixed. After gradually raising the temperature of the reactor to 70 ° C. under a nitrogen atmosphere, an alkali-soluble resin solution having a solid content of 50% was produced for 24 hours.

<実施例1:絶縁層の製造>
下記図1の内容を参照すれば、前記製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(Adamatech社製)35gを混合した高分子樹脂組成物をキャリア銅箔5が接着された3μm厚さの極薄銅箔4(MT18SD−H;三井金属鉱業社製)に塗布し乾燥させて、15μm厚さの高分子樹脂層1を製造した。そして、銅回線2が銅箔積層板3に形成された回路基板上に、前記高分子樹脂層1を85℃で真空ラミネートし、前記キャリア銅箔5上に15μm厚さの感光性ドライフィルムレジスト(KL1015;コーロンインダストリー(株)製)6を110℃でラミネートした。
<Example 1: Production of insulating layer>
Referring to the contents of FIG. 1 below, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and 35 g of SC2050 MTO (manufactured by Adamatech) as an inorganic filler are mixed. The polymer resin composition was applied to a 3 μm-thick ultrathin copper foil 4 (MT18SD-H; manufactured by Mitsui Mining Co., Ltd.) to which a carrier copper foil 5 was adhered and dried, and a polymer resin layer having a thickness of 15 μm was dried. 1 was produced. Then, the polymer resin layer 1 is vacuum laminated at 85 ° C. on a circuit board on which copper lines 2 are formed on the copper foil laminate 3, and a photosensitive dry film resist having a thickness of 15 μm is formed on the carrier copper foil 5. (KL1015; manufactured by Kolon Industry Co., Ltd.) 6 was laminated at 110 ° C.

前記感光性ドライフィルムレジスト6上に直径が30μmの円形のネガ型フォトマスクを接触させ、紫外線を照射(25mJ/cmの光量)した後、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を通して前記感光性ドライフィルムレジスト6を現像して、一定のパターンを形成した。 A circular negative photomask having a diameter of 30 μm is brought into contact with the photosensitive dry film resist 6 and irradiated with ultraviolet rays (light amount of 25 mJ / cm 2 ), and then the photosensitive property is passed through a 1% sodium carbonate developer at 30 ° C. The dry film resist 6 was developed to form a certain pattern.

以降、エッチング液を処理してキャリア銅箔5と極薄銅箔4をエッチングした。この時、前記パターンが形成された感光性ドライフィルムレジスト6がキャリア銅箔5と極薄銅箔4の保護層として作用して、キャリア銅箔5と極薄銅箔4にも感光性ドライフィルムレジスト6と同じパターンを形成した。   Thereafter, the carrier copper foil 5 and the ultrathin copper foil 4 were etched by treating the etching solution. At this time, the photosensitive dry film resist 6 on which the pattern is formed functions as a protective layer for the carrier copper foil 5 and the ultrathin copper foil 4, and the photosensitive dry film is also applied to the carrier copper foil 5 and the ultrathin copper foil 4. The same pattern as the resist 6 was formed.

以降、極薄銅箔4とキャリア銅箔5を分離して、キャリア銅箔5とキャリア銅箔5上にラミネートされた感光性ドライフィルムレジスト6を除去した。   Thereafter, the ultrathin copper foil 4 and the carrier copper foil 5 were separated, and the photosensitive copper film 5 and the photosensitive dry film resist 6 laminated on the carrier copper foil 5 were removed.

以降、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を通して高分子樹脂層1を現像した。この時、パターンが形成された極薄銅箔4が高分子樹脂層1の保護層として作用して、高分子樹脂層1にも極薄銅箔4と同じパターンが形成され、ビアホール7を形成した。   Thereafter, the polymer resin layer 1 was developed through a 1% sodium carbonate developer at 30 ° C. At this time, the ultrathin copper foil 4 on which the pattern is formed acts as a protective layer for the polymer resin layer 1, and the same pattern as the ultrathin copper foil 4 is formed on the polymer resin layer 1 to form a via hole 7. did.

以降、100℃の温度で1時間熱硬化させた後、エッチング液を処理して極薄銅箔4を除去し、200℃の温度で1時間熱硬化させる過程をさらに行い、絶縁層を製造した。   Thereafter, after thermosetting at a temperature of 100 ° C. for 1 hour, the etching solution was processed to remove the ultrathin copper foil 4 and further a process of thermosetting at a temperature of 200 ° C. for 1 hour to produce an insulating layer. .

<実施例2:多層印刷回路基板の製造>
下記図2の内容を参照すれば、前記実施例1で製造された絶縁層1の上面とビアホール7の側面にアルゴンと酸素の混合ガスを蒸着装備で供給しながら、スパッタリング法を通してチタニウム(Ti)金属を50nm、銅(Cu)金属を0.5μm厚さに蒸着してシード層(seed layer)8を形成した。
<Example 2: Production of multilayer printed circuit board>
Referring to the contents of FIG. 2 below, titanium (Ti) is formed through a sputtering method while supplying a mixed gas of argon and oxygen to the top surface of the insulating layer 1 and the side surface of the via hole 7 manufactured in Example 1 by vapor deposition equipment. A seed layer 8 was formed by evaporating metal to a thickness of 50 nm and copper (Cu) metal to a thickness of 0.5 μm.

以降、前記シード層8上に感光性樹脂層を露光および現像して、感光性樹脂パターン9を形成した。そして、電解メッキを通して前記シード層8上に銅からなる金属基板10を形成した。次いで、感光性樹脂剥離液を使用して前記感光性樹脂パターン9を除去し、これによって露出したシード層8をエッチングを通して除去して、多層印刷回路基板を製造した。   Thereafter, the photosensitive resin layer was exposed and developed on the seed layer 8 to form a photosensitive resin pattern 9. Then, a metal substrate 10 made of copper was formed on the seed layer 8 through electrolytic plating. Subsequently, the photosensitive resin pattern 9 was removed using a photosensitive resin stripping solution, and the exposed seed layer 8 was removed by etching, thereby manufacturing a multilayer printed circuit board.

<実施例3:絶縁層の製造>
前記実施例1の絶縁層の製造段階で、製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂の代わりに、製造例2で合成したアルカリ可溶性樹脂を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で絶縁層を製造した。
<Example 3: Production of insulating layer>
Except that the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 2 was used in place of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1 at the production stage of the insulating layer of Example 1, the same as in Example 1 above. The insulating layer was manufactured by the method.

<実施例4:絶縁層の製造>
前記実施例1の絶縁層の製造段階で、製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂の代わりに、製造例3で合成したアルカリ可溶性樹脂を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で絶縁層を製造した。
<Example 4: Production of insulating layer>
The same procedure as in Example 1 except that the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 3 was used in place of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1 at the production stage of the insulating layer of Example 1. The insulating layer was manufactured by the method.

<実施例5:絶縁層の製造>
前記実施例1の絶縁層の製造段階で、製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂の代わりに、製造例4で合成したアルカリ可溶性樹脂を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で絶縁層を製造した。
<Example 5: Production of insulating layer>
The same procedure as in Example 1 except that the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 4 was used instead of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1 at the production stage of the insulating layer in Example 1. The insulating layer was manufactured by the method.

<比較例1:絶縁層の製造>
前記製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(Adamatech社製)35gを混合した高分子樹脂組成物を25μmのPETフィルムに塗布し乾燥させて、15μm厚さの高分子樹脂層を製造した。そして、銅回線2が銅箔積層板3に形成された回路基板上に、前記高分子樹脂層1を85℃で真空ラミネートし、PETフィルムを除去した。
<Comparative Example 1: Production of insulating layer>
A polymer resin composition obtained by mixing 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and 35 g of SC2050 MTO (manufactured by Adamatech) as an inorganic filler is 25 μm PET. The film was applied to a film and dried to produce a polymer resin layer having a thickness of 15 μm. Then, the polymer resin layer 1 was vacuum laminated at 85 ° C. on the circuit board on which the copper line 2 was formed on the copper foil laminate 3 to remove the PET film.

前記高分子樹脂層上に、15μm厚さの感光性ドライフィルムレジスト(KL1015;コーロンインダストリー(株)製)を110℃でラミネートした。前記感光性ドライフィルムレジスト上に直径が30μmの円形のネガ型フォトマスクを接触させ、紫外線を照射(25mJ/cmの光量)した後、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を通して前記感光性ドライフィルムレジストと高分子樹脂層を順次現像した。 A photosensitive dry film resist (KL1015; manufactured by Kolon Industry Co., Ltd.) having a thickness of 15 μm was laminated on the polymer resin layer at 110 ° C. A circular negative photomask having a diameter of 30 μm is brought into contact with the photosensitive dry film resist, irradiated with ultraviolet rays (light amount of 25 mJ / cm 2 ), and then the photosensitive dry film is passed through a 1% sodium carbonate developer at 30 ° C. The film resist and the polymer resin layer were successively developed.

この時、前記感光性ドライフィルムレジストが高分子樹脂層の保護層として作用して、高分子樹脂層にも感光性ドライフィルムレジストと同じパターンを形成しながら、ビアホールが形成された。   At this time, the photosensitive dry film resist acted as a protective layer for the polymer resin layer, and via holes were formed in the polymer resin layer while forming the same pattern as the photosensitive dry film resist.

以降、100℃の温度で1時間熱硬化させた後,50℃、3%水酸化ナトリウムレジスト剥離液を処理して感光性ドライフィルムレジストを除去し、200℃の温度で1時間熱硬化させて、絶縁層を製造した。   Thereafter, after thermosetting at a temperature of 100 ° C. for 1 hour, the photosensitive dry film resist is removed by treating a 3% sodium hydroxide resist stripping solution at 50 ° C., and thermosetting at a temperature of 200 ° C. for 1 hour. An insulating layer was manufactured.

<比較例2:多層印刷回路基板の製造>
実施例1で製造された絶縁層の代わりに、比較例1で製造された絶縁層を使用したことを除いては、前記実施例2と同様に多層印刷回路基板を製造した。
<Comparative Example 2: Production of multilayer printed circuit board>
A multilayer printed circuit board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that the insulating layer manufactured in Comparative Example 1 was used instead of the insulating layer manufactured in Example 1.

<実験例:実施例および比較例で得られた絶縁層および多層印刷回路基板の物性測定>
前記実施例および比較例で得られた絶縁層の物性を下記方法で測定し、その結果を表1に示した。
<Experimental Example: Measurement of Physical Properties of Insulating Layer and Multilayer Printed Circuit Board Obtained in Examples and Comparative Examples>
The physical properties of the insulating layers obtained in the examples and comparative examples were measured by the following methods, and the results are shown in Table 1.

1.ビアホールの直径
前記実施例1、3乃至7および比較例1で得られた絶縁層に対して、光学顕微鏡を通して上段開口面(ビアホール)の直径を測定した。
1. Via Hole Diameter The diameter of the upper opening surface (via hole) was measured through an optical microscope for the insulating layers obtained in Examples 1, 3 to 7 and Comparative Example 1.

2.吸湿による金属密着力
前記実施例2および比較例2で得られた多層印刷回路基板に対して135℃、85%吸湿状態で48時間放置させた後、IPC−TM−650基準により、金属の剥離強度を測定して、これより金属密着力を求めた。
2. Metal adhesion due to moisture absorption After leaving the multilayer printed circuit board obtained in Example 2 and Comparative Example 2 to stand at 135 ° C. and 85% moisture absorption for 48 hours, metal peeling according to the IPC-TM-650 standard The strength was measured, and the metal adhesion was determined from this.

3.HAST(Highly Accelerated Temp & Humidity Stress Test)特性
前記実施例2および比較例2で得られた多層印刷回路基板に対して、JESD22−A101基準により、HAST特性を確認した。具体的に、幅、間隔、厚さがそれぞれ50μm,50μm、12μmの試片回路基板に対して、3Vの電圧を印加し、168時間放置した後、以下の基準下に試片回路基板の外観上の異常の有無を確認した。
OK:被膜外観に異常が観察されない
NG:被膜に水泡または剥がれが観察される
3. HAST (Highly Accelerated Temp & Humidity Stress Test) Characteristics HAST characteristics of the multilayer printed circuit boards obtained in Example 2 and Comparative Example 2 were confirmed according to JESD22-A101 standards. Specifically, a voltage of 3 V is applied to a specimen circuit board having a width, interval, and thickness of 50 μm, 50 μm, and 12 μm, respectively, and the specimen circuit board is allowed to stand for 168 hours, and then the appearance of the specimen circuit board is as follows. The above abnormality was confirmed.
OK: No abnormality is observed in the coating appearance NG: Water bubbles or peeling is observed in the coating

Figure 2018530167
Figure 2018530167

前記表1に示されているように、感光性ライフィルムだけを保護層として使用してビアホールを形成した比較例1の絶縁層の場合、ビアホールの直径が45μmである反面、実施例1、3乃至5で製造された絶縁層に含まれているビアホールの直径は、32μmまたは33μmに減少して、前記実施例の場合、より微細なパターンが実現可能であることが確認できた。   As shown in Table 1, in the case of the insulating layer of Comparative Example 1 in which the via hole was formed using only the photosensitive rye film as the protective layer, the diameter of the via hole was 45 μm, whereas Examples 1 and 3 The diameters of the via holes included in the insulating layers manufactured in the first to fifth methods are reduced to 32 μm or 33 μm, and it has been confirmed that a finer pattern can be realized in the case of the above example.

また、比較例1の絶縁層から得られた比較例2の多層印刷回路基板の場合、金属密着力が0.3kgf/cmに測定された反面、前記実施例2の多層印刷回路基板の場合は、金属密着力が0.4kgf/cmに高く測定されて、絶縁層と導電層との間の界面接合力が向上し、優れたHAST特性を示すことが確認できた。   Further, in the case of the multilayer printed circuit board of Comparative Example 2 obtained from the insulating layer of Comparative Example 1, the metal adhesion was measured to 0.3 kgf / cm, while in the case of the multilayer printed circuit board of Example 2 above. The metal adhesion strength was measured as high as 0.4 kgf / cm, and it was confirmed that the interfacial bonding force between the insulating layer and the conductive layer was improved and excellent HAST characteristics were exhibited.

1:高分子樹脂層
2:銅回線
3:銅箔積層板
4:極薄銅箔
5:キャリア銅箔
6:感光性ドライフィルムレジスト(DFR)
7:ビアホール
8:シード層
9:感光性樹脂パターン
10:金属基板
<1>乃至<8>:工程の進行順序
1: Polymer resin layer 2: Copper line 3: Copper foil laminate 4: Ultra-thin copper foil 5: Carrier copper foil 6: Photosensitive dry film resist (DFR)
7: Via hole 8: Seed layer 9: Photosensitive resin pattern 10: Metal substrate
<1> to <8>: Order of process progress

Claims (20)

一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階;
前記キャリアフィルム上にパターン化された感光性樹脂層を形成する段階;
前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階;
前記パターン化された金属層からキャリアフィルムを分離して除去する段階;
前記パターン化された金属層によって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階;および
前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含む、絶縁層の製造方法。
Adhering the opposite side of the metal layer having the carrier film bonded on one side onto a polymer resin layer comprising an alkali-soluble resin and a thermosetting binder;
Forming a patterned photosensitive resin layer on the carrier film;
Removing the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer;
Separating and removing the carrier film from the patterned metal layer;
A method for producing an insulating layer, comprising: alkali-developing the polymer resin layer exposed by the patterned metal layer; and thermally curing the polymer resin layer after the alkali development.
前記一面にキャリアフィルムが接着された金属層の反対面をアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層上に接着させる段階で、
前記キャリアフィルムと金属層との間の接着力が前記高分子樹脂層と金属層との間の接着力より小さい、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
In the step of adhering the opposite surface of the metal layer to which the carrier film is bonded to the one surface onto the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin and the thermosetting binder,
The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein an adhesive force between the carrier film and the metal layer is smaller than an adhesive force between the polymer resin layer and the metal layer.
前記パターン化された金属層からキャリアフィルムを分離して除去する段階で、
キャリアフィルムおよび前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層が共に除去される、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
Separating and removing the carrier film from the patterned metal layer;
The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein both the carrier film and the photosensitive resin layer formed on the carrier film are removed.
前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階で、
前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層は、同じエッチング液によって同時または順次に除去される、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
Removing the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer;
The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer are removed simultaneously or sequentially with the same etching solution.
前記パターン化された感光性樹脂層によって露出したキャリアフィルムおよび金属層を除去してパターン化された金属層を形成する段階で、
高分子樹脂層が除去される比率が、全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下である、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
Removing the carrier film and the metal layer exposed by the patterned photosensitive resin layer to form a patterned metal layer;
The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein a ratio of removing the polymer resin layer is 0.01% by weight or less with respect to the weight of the whole polymer resin layer.
前記キャリアフィルム上にパターン化された感光性樹脂層を形成する段階は、
前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階を含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
The step of forming a patterned photosensitive resin layer on the carrier film,
The manufacturing method of the insulating layer of Claim 1 including the step which exposes and alkali develops the photosensitive resin layer formed on the said carrier film.
前記キャリアフィルム上に形成された感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像する段階で、
前記キャリアフィルムによって高分子樹脂層が保護される、請求項6に記載の絶縁層の製造方法。
In the step of exposing and alkali developing the photosensitive resin layer formed on the carrier film,
The method for producing an insulating layer according to claim 6, wherein the polymer resin layer is protected by the carrier film.
前記高分子樹脂層を熱硬化する段階以降に、
前記高分子樹脂層上の金属層を除去する段階をさらに含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
After the step of thermosetting the polymer resin layer,
The method of manufacturing an insulating layer according to claim 1, further comprising removing a metal layer on the polymer resin layer.
前記アルカリ可溶性樹脂は、酸性作用基;およびアミノ基で置換された環状イミド作用基をそれぞれ少なくとも1つ以上含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin includes at least one acidic functional group; and at least one cyclic imide functional group substituted with an amino group. 前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、下記の化学式1で表される作用基を含む、請求項9に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018530167
前記化学式1において、Rは炭素数1〜10のアルキレン基またはアルケニル基であり、“”は結合点を意味する。
The method for producing an insulating layer according to claim 9, wherein the cyclic imide functional group substituted with the amino group includes a functional group represented by the following chemical formula 1:
Figure 2018530167
In the chemical formula 1, R 1 is an alkylene group or alkenyl group having 1 to 10 carbon atoms, and “ * ” means a point of attachment.
前記アルカリ可溶性樹脂は、環状不飽和イミド化合物;およびアミン化合物の反応を通して製造され、前記環状不飽和イミド化合物とアミン化合物のうちの少なくとも一つ以上は末端に置換された酸性作用基を含む、請求項9に記載の絶縁層の製造方法。   The alkali-soluble resin is produced through a reaction of a cyclic unsaturated imide compound; and an amine compound, and at least one of the cyclic unsaturated imide compound and the amine compound includes an acidic functional group substituted at a terminal. Item 10. A method for producing an insulating layer according to Item 9. 前記アミン化合物は、アミノ基で置換されたカルボン酸化合物、および2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物からなる群より選択された1種以上を含む、請求項11に記載の絶縁層の製造方法。   12. The insulating layer according to claim 11, wherein the amine compound includes one or more selected from the group consisting of a carboxylic acid compound substituted with an amino group and a polyfunctional amine compound containing two or more amino groups. Production method. 前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式3で表される反復単位;および下記の化学式4で表される反復単位をそれぞれ少なくとも1つ以上含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018530167
前記化学式3において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、“”は結合点を意味し、
Figure 2018530167
前記化学式4において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、
は−H、−OH、−NR、ハロゲン、または炭素数1〜20のアルキル基であり、
前記RおよびRはそれぞれ独立に、水素、炭素数1〜20のアルキル基、または炭素数6〜20のアリール基であってもよく、
”は結合点を意味する。
The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin includes at least one repeating unit represented by the following chemical formula 3; and at least one repeating unit represented by the following chemical formula 4:
Figure 2018530167
In Formula 3, R 2 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms, and “ * ” means a bonding point. ,
Figure 2018530167
In Formula 4, R 3 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms,
R 4 is —H, —OH, —NR 5 R 6 , halogen, or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms;
R 5 and R 6 may be independently hydrogen, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms,
* ” Means a point of attachment.
前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式5で表される反復単位を含む重合体、下記の化学式6で表されるアミン、および下記の化学式7で表されるアミンの反応で製造される、請求項13に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018530167
前記化学式5乃至7において、R〜Rは請求項13で定義した通りであり、“”は結合点を意味する。
The alkali-soluble resin is produced by a reaction of a polymer containing a repeating unit represented by the following chemical formula 5, an amine represented by the following chemical formula 6, and an amine represented by the following chemical formula 7. The manufacturing method of the insulating layer as described in 13:
Figure 2018530167
In the chemical formulas 5 to 7, R 2 to R 4 are as defined in claim 13 and “ * ” means a point of attachment.
前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式8で表される化合物、および下記の化学式9で表される化合物の反応で製造される、請求項13に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018530167
前記化学式8乃至9において、R〜Rは請求項13で定義した通りである。
The method for producing an insulating layer according to claim 13, wherein the alkali-soluble resin is produced by a reaction of a compound represented by the following chemical formula 8 and a compound represented by the following chemical formula 9:
Figure 2018530167
In the chemical formulas 8 to 9, R 2 to R 4 are as defined in claim 13.
前記アルカリ可溶性樹脂は、KOH滴定によって求められる酸価(acid value)が50mgKOH/g乃至250mgKOH/gである、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   2. The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin has an acid value determined by KOH titration of 50 mgKOH / g to 250 mgKOH / g. 前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対して、熱硬化性バインダー1〜150重量部を含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The said polymeric resin layer is a manufacturing method of the insulating layer of Claim 1 containing 1-150 weight part of thermosetting binders with respect to 100 weight part of alkali-soluble resin. 前記熱硬化性バインダーは、オキセタニル基、環状エーテル基、環状チオエーテル基、シアノ基、マレイミド基およびベンゾオキサジン基からなる群より選択された1種以上の作用基およびエポキシ基を含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The thermosetting binder comprises at least one functional group selected from the group consisting of an oxetanyl group, a cyclic ether group, a cyclic thioether group, a cyano group, a maleimide group, and a benzoxazine group, and an epoxy group. The manufacturing method of the insulating layer of description. 前記高分子樹脂層は、熱硬化触媒、無機フィラー、レベリング剤、分散剤、離型剤および金属密着力増進剤からなる群より選択された1種以上をさらに含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   2. The insulation according to claim 1, wherein the polymer resin layer further includes at least one selected from the group consisting of a thermosetting catalyst, an inorganic filler, a leveling agent, a dispersant, a release agent, and a metal adhesion promoter. Layer manufacturing method. 請求項1乃至19のいずれか一項に記載の方法で製造された絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階を含む、多層印刷回路基板の製造方法。   A method for manufacturing a multilayer printed circuit board, comprising: forming a metal substrate having a pattern formed on an insulating layer manufactured by the method according to any one of claims 1 to 19.
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