JP2018526055A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2018526055A5
JP2018526055A5 JP2017567399A JP2017567399A JP2018526055A5 JP 2018526055 A5 JP2018526055 A5 JP 2018526055A5 JP 2017567399 A JP2017567399 A JP 2017567399A JP 2017567399 A JP2017567399 A JP 2017567399A JP 2018526055 A5 JP2018526055 A5 JP 2018526055A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
imaging device
ray imaging
ray detector
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017567399A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2018526055A (ja
JP6820870B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/EP2016/064649 external-priority patent/WO2017001294A1/en
Publication of JP2018526055A publication Critical patent/JP2018526055A/ja
Publication of JP2018526055A5 publication Critical patent/JP2018526055A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6820870B2 publication Critical patent/JP6820870B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2017567399A 2015-06-30 2016-06-24 全視野検出器を備える走査ｘ線装置 Active JP6820870B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP15174413.3 2015-06-30
EP15174413 2015-06-30
PCT/EP2016/064649 WO2017001294A1 (en) 2015-06-30 2016-06-24 Scanning x-ray apparatus with full-field detector

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018526055A JP2018526055A (ja) 2018-09-13
JP2018526055A5 true JP2018526055A5 (enExample) 2019-07-25
JP6820870B2 JP6820870B2 (ja) 2021-01-27

Family

ID=53510685

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017567399A Active JP6820870B2 (ja) 2015-06-30 2016-06-24 全視野検出器を備える走査ｘ線装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10945690B2 (enExample)
EP (1) EP3316782B8 (enExample)
JP (1) JP6820870B2 (enExample)
CN (1) CN107847199B (enExample)
BR (1) BR112017028283A2 (enExample)
RU (1) RU2720292C2 (enExample)
WO (1) WO2017001294A1 (enExample)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6533006B2 (ja) * 2015-07-14 2019-06-19 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． 強化されたｘ線放射を用いた撮像
FI127695B (fi) * 2017-03-17 2018-12-14 Planmeca Oy Röntgenkuvauslaite ja potilastukijärjestely
EP3378397A1 (en) * 2017-03-24 2018-09-26 Koninklijke Philips N.V. Sensitivity optimized patient positioning system for dark-field x-ray imaging
JP6798408B2 (ja) * 2017-04-21 2020-12-09 株式会社島津製作所 Ｘ線位相イメージング装置
EP3459461A1 (en) 2017-09-25 2019-03-27 Koninklijke Philips N.V. X-ray imaging reference scan
US10276276B1 (en) * 2018-01-26 2019-04-30 Shimadzu Corporation Radiation phase-contrast image capturing device
US10948428B2 (en) * 2018-05-25 2021-03-16 Delavan Inc. Reducing scatter for computed tomography
WO2020039654A1 (ja) * 2018-08-22 2020-02-27 株式会社島津製作所 Ｘ線位相イメージング装置
CN109646027B (zh) * 2018-12-24 2021-11-05 深圳先进技术研究院 乳腺成像系统及其光路装置
US10881371B2 (en) 2018-12-27 2021-01-05 Medtronic Navigation, Inc. System and method for imaging a subject
US11071507B2 (en) * 2018-12-27 2021-07-27 Medtronic Navigation, Inc. System and method for imaging a subject
EP3922179A1 (en) * 2020-06-08 2021-12-15 Koninklijke Philips N.V. Stepping strategy for defect compensation in dax imaging
CN111839579B (zh) * 2020-09-02 2025-06-27 上海联影医疗科技股份有限公司 一种x射线成像设备的限束器及x射线成像设备

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004325183A (ja) * 2003-04-23 2004-11-18 M & C:Kk 放射線検出方法、放射線検出器、及び、この検出器を搭載した放射線撮像システム
JP2006255281A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Shimadzu Corp Ｘ線撮影装置
DE102006046034A1 (de) 2006-02-01 2007-08-16 Siemens Ag Röntgen-CT-System zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
JP2007330530A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Toshiba Corp Ｘ線検査方法およびｘ線検査装置
JP5049739B2 (ja) * 2006-11-01 2012-10-17 キヤノン株式会社 放射線撮像装置
WO2009076700A1 (en) 2007-12-14 2009-06-25 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Phase-contrast imaging method and apparatus
EP2168488B1 (de) * 2008-09-30 2013-02-13 Siemens Aktiengesellschaft Röntgen-CT-System zur Röntgen-Phasenkontrast-und/oder Röntgen-Dunkelfeld-Bildgebung
JP2010236986A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Fujifilm Corp 放射線位相画像撮影装置
JP2012090945A (ja) * 2010-03-30 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム
JP5796976B2 (ja) * 2010-05-27 2015-10-21 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置
JP2012045099A (ja) * 2010-08-25 2012-03-08 Fujifilm Corp 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに放射線画像撮影システム
JP2014012030A (ja) * 2010-10-28 2014-01-23 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP5792961B2 (ja) * 2011-01-25 2015-10-14 キヤノン株式会社 トールボット干渉計及び撮像方法
JP2013050441A (ja) * 2011-08-03 2013-03-14 Canon Inc 波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにｘ線撮像装置
US8826949B2 (en) * 2012-02-08 2014-09-09 Progressive International Corporation Canning funnel
EP2867655B1 (en) * 2012-06-27 2019-05-08 Koninklijke Philips N.V. Dark-field imaging
WO2014030115A1 (en) * 2012-08-20 2014-02-27 Koninklijke Philips N.V. Aligning source-grating-to-phase-grating distance for multiple order phase tuning in differential phase contrast imaging
JP2016032573A (ja) * 2014-07-31 2016-03-10 キヤノン株式会社 トールボット干渉計、トールボット干渉システム、及び縞走査法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2018526055A5 (enExample)
RU2018103191A (ru) Сканирующее рентгеновское устройство с полноформатным детектором
JP2020534904A5 (enExample)
JP2015529510A5 (enExample)
JP5777360B2 (ja) Ｘ線撮像装置
CN111107787B (zh) X射线成像参考扫描
Beckers et al. Drift correction in ptychographic diffractive imaging
JP2016523157A5 (enExample)
US8859977B2 (en) Wavefront measuring apparatus, wavefront measuring method, and computer-readable medium storing program
JP2016501630A5 (enExample)
RU2016119367A (ru) Рентгеновская система, в частности система томосинтеза и способ получения изображения объекта
JP2016533789A5 (enExample)
RU2015147861A (ru) Способ и устройство для формирования рентгеновского изображения с энергетическим разрешением с адаптированным порогом энергии
JP2013161795A5 (enExample)
JP6438157B2 (ja) リソグラフィのｉｎ−ｓｉｔｕ高速高空間解像度の波面収差測定デバイス及び測定方法
RU2015109738A (ru) Юстировка расстояния от решетки источника до фазовой решетки для фазовой настройки в несколько порядков при дифференциальной фазово-контрастной визуализации
JP5675169B2 (ja) Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
JP2017521170A5 (enExample)
JP2014507810A5 (enExample)
JP2012110472A5 (enExample)
RU2015144476A (ru) Устройство получения дифференциального фазоконтрастного изображения с подвижной решеткой(-ами)
JP2015536731A5 (enExample)
JP6838531B2 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP2013042983A (ja) トモシンセシス撮像装置及びトモシンセシス画像の撮像方法
Vittoria et al. Retrieving the ultrasmall-angle X-ray scattering signal with polychromatic radiation in speckle-tracking and beam-tracking phase-contrast imaging