JP2018515759A - オブジェクトの光学的3d測定のためのデバイス - Google Patents

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Abstract

本発明は、光学的深度を走査する測定方法を用いるオブジェクト(2)の光学的3D測定のためのデバイスであって、少なくとも2つの光源(3、4)と、型押しパターン(30、34)を生成するための少なくとも2つの光学的手段(5、6)と、少なくとも1つの記録手段(7)とを備え、第1のパターン(30)は、第1の光学的手段(5)を用いて生成され、第1の投射ビーム(13)として記録されるようにオブジェクト(2)上に投射され、第2のパターン(14)は、第2の光学的手段(6)を用いて生成され、第2の投射ビーム(14)として記録されるようにオブジェクト(2)上に投射され、撮像オプティクス(8)は、鮮鋭な焦点面(18)がデバイスの光軸(24)に沿って漸進的に変化するように制御されおよび調整されるデバイスに関する。デバイスは、第1の光源(3)および第2の光源(4)が、制御装置(23)によって交互に起動され、第1のパターン(30)および第2のパターン(34)が、交互にオブジェクト(2)上に投射され、第1のパターン(30)の第1の投射ビーム(13)および第2のパターン(34)の第2の投射ビーム(14)が、第1のビームスプリッタ(9)を用いてオブジェクト(2)に向かって1つの共通の照射方向(15)に偏向するように構成される。【選択図】図1

Description

本発明は、少なくとも2つの光源と、型押しパターンを生成するための少なくとも2つの光学的手段と、少なくとも1つの記録手段とを備え、第1のパターンは、第1の光学的手段を用いて生成され、第1の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射され、第2のパターンは、第2の光学的手段を用いて生成され、第2の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射され、第1のパターンおよび第2のパターンは、観察ビームとしてオブジェクトから反射され、オブジェクトの3Dデータセットを作り出すために記録手段により記録される、光学的深度を走査する測定方法を用いるオブジェクトの光学的3D測定のためのデバイスに関する。
光学的3D測定のための多くのデバイスが現状技術から公知である。
EP2051042B1は、平行ストライプの少なくとも2つのパターンを重ね合わせることにより、オブジェクトの表面上に投射されたモアレパターンを作り出す光学的コヒーレンス方法を開示する。三次元形状のオブジェクトは、モアレラインの走査位置に基づいて定められる。
WO2010/145669A1は、チェッカーボードのような投射パターンがオブジェクト上に投射される共焦点測定方法を開示する。コントラストの経時的推移も、オブジェクトの深度情報を得るために定められる。時間的に変化するパターンは、開口ホイールなどの機械的に駆動するスクリーニング手段を用いて生成される。
この方法の1つの不都合は、時間的に変化するパターンは、機械的に駆動するスクリーニング手段を用いて生成されるため、結果として測定エラーが発生し得る点である。
したがって、本発明の課題は、オブジェクトの信頼性が高く正確な測定を可能にするデバイスを提供することである。
本発明は、少なくとも2つの光源と、型押しパターンを生成するための少なくとも2つの光学的手段と、少なくとも1つの記録手段とを備え、第1のパターンは、第1の光学的手段を用いて生成され、第1の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射され、第2のパターンは、第2の光学的手段を用いて生成され、第2の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射される、光学的深度を走査する測定方法を用いるオブジェクトの光学的3D測定のためのデバイスに関する。その際、第1のパターンおよび第2のパターンは、観察ビームとしてオブジェクトから反射され、オブジェクトの3Dデータセットを作り出すために記録手段によって記録され、デバイスは、オブジェクト上へのパターンの投射のために撮像オプティクスを備え、撮像オプティクスは、鮮鋭な焦点面がデバイスの光軸に沿って漸進的に変化するように制御されおよび調整され、鮮鋭な焦点面の各走査位置に、第1のパターンが、第1の光学イメージを生成するために投射され、ついで少なくとも第2のパターンが、第2の光学イメージを生成するためにオブジェクト上に投射される。デバイスは、第1の光源および第2の光源が、制御装置によって交互に起動され、第1のパターンおよび第2のパターンが、交互にオブジェクト上に投射され、第1のパターンの第1の投射ビームおよび第2のパターンの第2の投射ビームが、第1のビームスプリッタを用いてオブジェクトに向かって1つの共通の照射方向に偏向するように構成される。
光学的3D測定のためのデバイスは、ハンドピースの形状で従来のハウジングに組み込まれるカメラであることができる。光学的深度を走査する測定方法は、例えば、デプス・フロム・デフォーカス法(DFD)を用いた共焦点測定方法であり得る。この目的のために、チェッカーボードのような投射パターンが交互にオブジェクト上に投射される。続いて、オブジェクトの測定ポイントの深度情報は、投射されたチェッカーボードパターンの焦点、すなわち鮮鋭度の値を定めることにより決定される。この値を基準として、オブジェクトの表面に対する鮮鋭な焦点面の距離が定められ得る。
光源は、例えば、カラーLED、白色LEDまたはレーザLEDであり得る。光学的手段は、投射パターンを生成する投射グレーティングまたは投射マスクであることができる。光学的手段はまた、適切に制御されおよび投射パターンを生成する、液体素子(LCD)で作られるデジタル投光機であることができる。記録手段は、CCDセンサなどの従来の光学センサであることができる。第1のパターンおよび第2のパターンは、そのため交互にオブジェクト上に投射される。合焦オプティクスは、調節可能であり、光軸に沿って漸進的に変化する設けられた鮮鋭な焦点面上に投射されるパターンに焦点を合わせるため、すべてのオブジェクトが走査され得る。走査位置は、互いに0.1ミリメートルの距離を有することができるため、例えば、10ミリメートルの高さにおけるオブジェクトの深度走査が、100の走査位置で実施され得る。したがって、光軸に沿った解像度が、この距離で定義される。合焦オプティクスの調節は、継続的に実行され得、画像の画像データのみが、定義された走査位置から個別に読み取られる。
したがって、すべての走査位置で、第1の投射パターンでの第1の画像および第2の投射パターンでの少なくとも1つの第2の画像が生成される。結果として、この方法によれば、輝度および輝度の変化が、センサのあらゆる変化ごとに記録され得る。このようにして、第1の画像および第2の画像の輝度値間の差が定められ得、それから2つの画像のコントラストまたは鮮鋭度が定められ得る。ついで、コントラスト値または鮮鋭度を基準として、鮮鋭な焦点の面に対して測定されるオブジェクトの表面の焦点距離が定められる。オブジェクト表面が、鮮鋭な焦点の面から外れて測定されると、オブジェクトは画像内でぼやけて見える。鮮鋭な焦点の面の焦点距離、すなわち合焦オプティクスの焦点距離がわかると、ついで、カメラに対するオブジェクト表面の距離が算定され得る。デプス・フロム・デフォーカス法(DFD)によってオブジェクトの3次元画像データを定めるために、異なる走査位置で記録された画像は、オブジェクトの3次元画像データを定めるように互いに統合される。各ピクセルで、例えば、輝度値はフレーム番号の関数として、およびひいては時間および焦点位置の関数としてプロットされる。オブジェクトが焦点位置にない場合、コントラストは低下する。オブジェクトが焦点位置にある場合、コントラストはその最大となる。最大コントラストをもつ画像がこうしてカメラの焦点位置に記録される。このようにして、カメラに対するオブジェクトの距離が定められる。
デバイスの制御は、高周波で交互に2つの光源を起動するように構成されるため、2つのパターンが交互にオブジェクト上に投射される。ビームスプリッタは、異なる方向から入る第1のパターンの第1の投射ビームおよび第2のパターンの第2の投射ビームを1つの共通の照射方向へ偏向する、従来のプリズムであることができる。
このデバイスの1つの有利な点は、パターンが機械的な手段の使用なしに変化されることである。そのような機械的な手段により生じ得る測定エラーをこのようにして防ぐことができる。
このデバイスのさらなる有利な点は、2つの光源間の電子的なスイッチングの結果として、機械的な手段を用いた場合よりも、はるかに高周波の変化するパターンが生成され得ることである。これにより、測定所要時間の短縮または走査位置数の減少が可能となり、ひいてはオブジェクトのために生成される3Dデータセットの解像度の向上を可能にする。
有利には、デバイスは、第2の光源に加えて第3の光源、第3の光学的手段および第2のビームスプリッタを備えることができ、第3のパターンは、第3の光学的手段を用いて生成され、第3の投射ビームは、第2のビームスプリッタを用いて共通の照射方向に偏向される。
第1のパターン、第2のパターンおよび第3のパターンが、このようにして連続的に交互にオブジェクト上に投射される。複数のパターンを用いることにより、横方向の解像度が向上され得る。
有利には、第1のビームスプリッタおよび第2のビームスプリッタが結合してダイクロイックプリズムにされ得、第1、第2および第3の投射ビームがこのダイクロイックプリズムによって共通の照射方向に偏向される。
ダイクロイックプリズムは、光ビームを異なるスペクトルまたは色の2つのビームに分ける光学プリズムである。一般にガラスで作られ、そのある表面は前記光の波長に応じて光を反射または光の透過を可能にするダイクロイックミラーが設けられる。そのようなダイクロイックプリズムの使用は、こうして異なる方向から入る3つの投射ビームを1つの共通の照射方向に偏向させることを可能にする。第1の投射ビームは赤成分を有することができ、第2の投射ビームは緑成分を有することができ、および第3の投射ビームは青成分を有することができる。有色の投射ビームが、例えば、光源のダウンストリームに配置される、有色のLEDを用いることによってまたは色フィルタを用いることによって生成され得る。
有利には、パターンを生成するための光学的手段は、光学格子または液晶素子(LCD)であることができる。
光学格子またはLCDはこうして投射パターンを生成する。LCDは適宜制御される。
有利には、投射パターンは平行ストライプの形状であり得る。
したがって、用いられた深度走査方法に従って、コントラストおよびさらに深度情報が、暗い平行ストライプと明るい平行ストライプとの間の変移領域内で定められる。
2つの光源のみが存在するとき、有利には、平行ストライプの幅は平行ストライプ間の距離に対応することができる。
第1のパターンおよび第2のパターンがこうして平行ストライプに追加されることにより、第2のパターンの暗いストライプが、第1のパターンの明るいストライプの走査位置に配置され、逆もまた同じである。したがって、結果として、コントラストおよび深度情報が、オブジェクトの同じ測定ポイントについて定められ、測定の正確さの改善を可能にする。
有利には、投射パターンは、正方形パターン要素をもつチェッカーボードの形状を有する。
コントラスト値およびさらに深度情報は、こうして投射パターンのチェッカーボード形状によって明るいパターン要素と暗いパターン要素との間の変移領域内で定められ、オブジェクトの3Dデータセットの解像度の向上を可能にする。
有利には、第1のパターンは第1のチェッカーボード風パターンであることができ、および第2のパターンは第2のチェッカーボード風パターンであることができ、第2のチェッカーボード風パターンの暗い正方形パターン要素が、第1のチェッカーボード風パターンの明るい正方形パターン要素の走査位置に配置され、逆もまた同じである。そのため、2つのチェッカーボード風パターンの明るいパターン要素および暗いパターン要素が、それぞれ交互にオブジェクト上に投射される。
2つのチェッカーボード風パターンがこのように互いに相補的であることにより、オブジェクト表面上の同じ測定ポイントについてのコントラスト値およびさらに深度情報が定められるが、これにより潜在的な測定エラーの減少が可能となる。
有利には、デバイスは、少なくとも3000ヘルツの周波数で、交互に光源のオンとオフの切替えをする制御装置を備えることができる。
比較的高周波な変化するパターンを用いて、オブジェクトは、短い測定時間で深度走査方法により測定され得る
有利には、周波数は5000ヘルツから10000ヘルツであることができる。
デバイスの一例において、周波数は8000ヘルツである。この場合、すべてのオブジェクトの全体の深度走査は20ヘルツで実行され、両方のパターンはそれぞれ200の各深度位置について投射され、両方の画像が記録される。そのような速い測定を用いる場合、手持ち式カメラの形状のデバイスを自由に持つことができるが、それは20ヘルツでの全測定の間、患者の歯または歯型模型などのオブジェクトに対する手持ち式カメラの動きがごく僅かであるからである。
光学画像または走査を生成するために、有利には、鮮鋭な焦点面の少なくとも100の走査位置が位置付けられ、漸進的に測定され得る。
100の走査位置があると、例えば、測定する歯の典型的な深度走査範囲は20ミリメートルであるので、走査位置間の距離は0.2ミリメートルであることができる。
有利には、鮮鋭な焦点面の少なくとも200の走査位置が、画像ごとに位置付けられ得る。
光軸に沿った解像度が、より多数の走査位置により向上される。走査位置間の距離は、例えば、0.1ミリメートルであることができる。
有利には、パターンの明るい要素と暗い要素との間のコントラスト値が各光学画像について定められ、オブジェクトの3D深度情報がコントラスト値を基準として定められ得る。
用いられた深度走査方法に従って、コントラスト値がパターンの明るい要素と暗い要素との間の変移領域内で定められ、ついで、それらから深度情報が定められる。
有利には、鮮鋭な焦点の面のすべての位置付けられた走査位置でのコントラスト値のプロファイルが、オブジェクトのすべての測定ポイントについて定められ得、続いて、オブジェクトのこの測定ポイントについてのオブジェクト表面の深度情報を示すこのプロファイルの最大値が、定められる。
このようにして、したがって、明るい要素と暗い要素との間の変移領域内におけるオブジェクト表面の測定ポイントについての深度情報が定められる。変化したパターンの個々の光学画像からのオブジェクトの3Dデータセットの評価が、コンピュータを用いて実行され得る。
本発明を図表の参照により説明する。図面は以下を示す。
オブジェクトの光学3D測定のためのデバイスの略図 チェッカーボード風投射パターンの略図 暗いストライプおよび明るいストライプから成る投射パターンの略図 時間の関数としての輝度値の線図 時間の関数としての差分値の線図 焦点距離の関数としての差分値の線図
図1は、オブジェクト2の光学3D測定のためのデバイス1の略図を示す。デバイス1は、オブジェクト2(例えば、患者の歯または歯型模型)を測定するための手持ち式歯科用カメラである。カメラ1は、型押しパターンを生成するための第1の光源3、第2の光源4、第1の光学的手段5および第2の光学的手段6、記録手段7、撮像オプティクス8、第1のビームスプリッタ9、第2のビームスプリッタ10、ミラー11およびハウジング12を備える。光源3および4は、純粋なLED、有色のLED、白色LEDまたはレーザLEDとして実現され得る。光源5および6は、投射パターンを生成するために適宜制御される、光学格子としてまたはLCDとして実現され得る。第1の光学的手段5を用いて、第1のパターンが、第1の投射ビーム13として、第1のビームスプリッタ9の方向に投射および放射される。第2の光学的手段6を用いて、第2のパターンが、第2の投射ビーム14として、第1のビームスプリッタ9の方向に放射される。第1のビームスプリッタ9を用いて、投射ビーム13および14は、オブジェクト2に向けて1つの共通の照射方向15に偏向される。記録手段7は、CCTセンサなどの光学センサである。撮像オプティクス8は、カメラ1に対する鮮鋭な焦点の面18の焦点距離17が複数の定義された走査位置19、20および21間に漸進的に調節されるように制御される、複数のレンズ16を備える。すべての走査位置18,19,20および21に、第1の投射パターンをもつ第1の画像が生成され、および第2の投射パターンをもつ第2の画像が生成される。投射パターンは、例えば、チェッカーボードのような外形状を有し、またはいくつかのパターンから成ることができる。投射パターンは、こうしてオブジェクト2上に投射され、および観察ビーム22としてオブジェクト2から反射され、第2のビームスプリッタ10により偏向され、および記録手段7を用いて記録される。光源3および4は、制御装置23によって交互に起動されるため、第1のパターンおよび第2のパターンは、交互にオブジェクト2上に投射される。制御装置23によるスイッチング動作は、例えば、8000ヘルツの周波数で効果的であり得る。走査位置18、19、20および21は、例えば、互いに0.1ミリメートルの距離で配置され得る。光軸24に沿った解像度が、こうして走査位置間の前記距離によって定義される。チェッカーボード風パターンは、複数の明るいおよび暗い正方形パターン要素から成ることができ、記録手段7の投射面における1つのパターン要素の幅は、使用されるセンサの1ピクセルの幅に対応することができる。明るいパターン要素の第1の輝度値および暗いパターン要素の第2の輝度値が、こうしてセンサのすべてのピクセル用に定められ、第1の輝度値と第2の輝度値との間の差分値が、コンピュータなどの演算装置25を用いて減算により定められ得る。演算装置25はまた、カメラ1に組み込まれるマイクロコンピュータまたはチップであることができる。演算装置25はまた、外部コンピュータであることができる。各走査手順の後、異なる走査位置18、19、20および21について生成された光学画像は統合され、オブジェクト2の3Dデータセット26が、前記画像から生成される。画像はまた、演算装置25を用いた別の方法によって統合され得る。例えば、複数のコントラスト値が、明るいパターン要素と暗いパターン要素との間の変移領域で定められ、深度情報が前記値から算出され得る。センサ7の画像データは、各光学的な記録の後に読み出され、矢印27によって示すように演算装置25に送られる。オブジェクト2の完全な測定の後、オブジェクト表面28上の測定ポイントの定められた座標が、3Dデータセット26を算出するために用いられる。3Dデータセット26は、モニターなどの表示デバイス29によって表示される。
図2は、第1の投射ビーム13として第1の光源3により放射され、図1の第1の走査位置18においてセンサ7によって記録された、第1のチェッカーボード風投射パターン30の略図を示す。それらの寸法において、第1の投射パターン30の暗いパターン要素31および第1の投射パターン30の明るいパターン要素32は、センサ7の個々のピクセル33に対応する。第1の光源3をオフに切り替えるおよび第2の光源4をオンに切り替えることにより、第2の投射ビーム14として第2の光源3により放射され図1の第1の走査位置18においてセンサ7によって記録される第2の投射パターン34が、こうしてオブジェクト2上に投射される。第1の投射パターン30が第2の投射パターン34に外形において対応することにより、第2のパターン34は横方向に位置を変え、変位35はピクセル33の幅に対応する。このようにして、センサ7のすべてのピクセルが、明るいパターン要素32または暗いパターン要素31を用いて交互に照射される。第1のパターン30の第1の画像からおよび第2のパターン34の第2の画像から、こうしてすべてのピクセルに対して1つの個別の明るいおよび暗いパターン要素の輝度値を定めることが可能になる。鮮鋭な層がオブジェクト2のオブジェクト表面28と一致すると、個々のピクセルの輝度値の差分値が最大であるように、投射パターン30が鮮鋭な画像としてセンサ7上に再現される。
図3は、暗いストライプ41および明るいストライプ42から成る第1の投射パターン30の略図を示す。第1の投射パターンと比較すると、図2におけるように、第2の投射パターン34は、センサ7のピクセル幅に対応する変位35だけ位置を変える。光源3および4が交互に起動する結果として、センサ7のすべてのピクセルは、明るいストライプ42または暗いストライプ41によって交互に照射される。
図4は、x軸上の時間51の関数としてのy軸上の輝度値50の線図を示す。第1のパターン30を用いたオブジェクトの照射の間、0から1の尺度で、第1の輝度値52が第1の画像から定められ、第2のパターン34を用いたオブジェクトの照射の間、第2の輝度値53が第2の画像から定められる。輝度値は、図1の走査位置18、19、20および21について定められる。
図5は本方法を図示するための線図を示し、ここにおいて、輝度値52と53とを減算することにより、第1の差分値60が第1の走査位置19に関して定められ、第2の差分値61が第2の走査位置20に関して定められ、第3の差分値62が第3の走査位置21に関して定められ、および第4の差分値63が第4の走査位置18に関して定められる。差分値は、時間51の関数としてプロットされる。第4の走査位置18において、差分値63は最大であるため、この走査位置18において、鮮鋭な焦点の面7はオブジェクトの表面28と一致する。オブジェクトの表面28上の対応する測定ポイントの深度情報は、こうしてすべてのピクセルについて定められ得る。
図6は、センサ7の1つの個別のピクセルに関する焦点距離17の関数としての差分値70を示す。コントラストは、図2の投射パターン30、34が鮮鋭な画像を再現するので、差分値の最大71で最大である。
1 デバイス
2 オブジェクト
3 第1の光源
4 第2の光源
5 第1の光学的手段
6 第2の光学的手段
7 記録手段
8 撮像オプティクス
9 第1のビームスプリッタ
10 第2のビームスプリッタ
11 ミラー
12 ハウジング
13 第1の投射ビーム
14 第2の投射ビーム
15 照射方向
16 レンズ
17 焦点距離
18 鮮鋭な焦点の面
18 走査位置
19 走査位置
20 走査位置
21 走査位置
22 観察ビーム
23 制御装置
24 光軸
25 演算装置
26 3Dデータセット
27 矢印
28 オブジェクト表面
29 表示デバイス
30 第1の投射パターン
31 暗いパターン要素
32 明るいパターン要素
33 ピクセル
34 第2の投射パターン
35 変位
41 暗いストライプ
42 明るいストライプ
50 輝度値
51 時間
52 第1の輝度値
53 第2の輝度値
60 第1の差分値
61 第2の差分値
62 第3の差分値
63 第4の差分値
70 差分値
本発明は、少なくとも2つの光源と、型押しパターンを生成するための少なくとも2つの光学的手段と、少なくとも1つの記録手段とを備え、第1のパターンは、第1の光学的手段を用いて生成され、第1の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射され、第2のパターンは、第2の光学的手段を用いて生成され、第2の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射され、第1のパターンおよび第2のパターンは、観察ビームとしてオブジェクトから反射され、オブジェクトの3Dデータセットを作り出すために記録手段により記録される、光学的深度を走査する測定方法を用いるオブジェクトの光学的3D測定のためのデバイスに関する。
光学的3D測定のための多くのデバイスが現状技術から公知である。
WO2008/125605A2は、第1の照度分布および第2の照度分布がオブジェクト上に投射される、具体的には顕微鏡領域におけるオブジェクトの光学イメージングのための方法と配置を開示する。2つの投射された照度分布はそれらのフェーズに対して180度異なり得る。照度構造は同時にオブジェクト上に投射され、および偏光またはスペクトル特性によって特徴付けられる。
EP2051042B1は、平行ストライプの少なくとも2つのパターンを重ね合わせることにより、オブジェクトの表面上に投射されたモアレパターンを作り出す光学的コヒーレンス方法を開示する。三次元形状のオブジェクトは、モアレラインの走査位置に基づいて定められる。
WO2010/145669A1は、チェッカーボードのような投射パターンがオブジェクト上に投射される共焦点測定方法を開示する。コントラストの経時的推移も、オブジェクトの深度情報を得るために定められる。時間的に変化するパターンは、開口ホイールなどの機械的に駆動するスクリーニング手段を用いて生成される。
この方法の1つの不都合は、時間的に変化するパターンは、機械的に駆動するスクリーニング手段を用いて生成されるため、結果として測定エラーが発生し得る点である。
したがって、本発明の課題は、オブジェクトの信頼性が高く正確な測定を可能にするデバイスを提供することである。
本発明は、少なくとも2つの光源と、型押しパターンを生成するための少なくとも2つの光学的手段と、少なくとも1つの記録手段とを備え、第1のパターンは、第1の光学的手段を用いて生成され、第1の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射され、第2のパターンは、第2の光学的手段を用いて生成され、第2の投射ビームとして記録されるようにオブジェクト上に投射される、光学的深度を走査する測定方法を用いるオブジェクトの光学的3D測定のためのデバイスに関する。その際、第1のパターンおよび第2のパターンは、観察ビームとしてオブジェクトから反射され、オブジェクトの3Dデータセットを作り出すために記録手段によって記録され、デバイスは、オブジェクト上へのパターンの投射のために撮像オプティクスを備え、撮像オプティクスは、鮮鋭な焦点面がデバイスの光軸に沿って漸進的に変化するように制御されおよび調整され、鮮鋭な焦点面の各走査位置に、第1のパターンが、第1の光学イメージを生成するために投射され、ついで少なくとも第2のパターンが、第2の光学イメージを生成するためにオブジェクト上に投射される。デバイスは、第1の光源および第2の光源が、制御装置によって交互に起動され、第1のパターンおよび第2のパターンが、交互にオブジェクト上に投射され、第1のパターンの第1の投射ビームおよび第2のパターンの第2の投射ビームが、第1のビームスプリッタを用いてオブジェクトに向かって1つの共通の照射方向に偏向するように構成される。
光学的3D測定のためのデバイスは、ハンドピースの形状で従来のハウジングに組み込まれるカメラであることができる。
光学的深度を走査する測定方法は、デプス・フロム・デフォーカス法(DFD)を用いた共焦点測定方法であり得る。この目的のために、チェッカーボードのような投射パターンが交互にオブジェクト上に投射される。続いて、オブジェクトの測定ポイントの深度情報は、投射されたチェッカーボードパターンの焦点、すなわち鮮鋭度の値を定めることにより決定される。この値を基準として、オブジェクトの表面に対する鮮鋭な焦点面の距離が定められ得る
光源は、例えば、カラーLED、白色LEDまたはレーザLEDであり得る。光学的手段は、投射パターンを生成する投射グレーティングまたは投射マスクであることができる。光学的手段はまた、適切に制御されおよび投射パターンを生成する、液体素子(LCD)で作られるデジタル投光機であることができる。記録手段は、CCDセンサなどの従来の光学センサであることができる。第1のパターンおよび第2のパターンは、そのため交互にオブジェクト上に投射される。合焦オプティクスは調節可能であり、光軸に沿って漸進的に変化する設けられた鮮鋭な焦点面上に投射されるパターンに焦点を合わせるため、すべてのオブジェクトが走査され得る。走査位置は、互いに0.1ミリメートルの距離を有することができるため、例えば、10ミリメートルの高さにおけるオブジェクトの深度走査が、100の走査位置で実施され得る。したがって、光軸に沿った解像度が、この距離で定義される。合焦オプティクスの調節は、継続的に実行され得、画像の画像データのみが、定義された走査位置から個別に読み取られる。
したがって、すべての走査位置で、第1の投射パターンでの第1の画像および第2の投射パターンでの少なくとも1つの第2の画像が生成される。結果として、この方法によれば、輝度および輝度の変化が、センサのあらゆる変化ごとに記録され得る。このようにして、第1の画像および第2の画像の輝度値間の差が定められ得、それから2つの画像のコントラストまたは鮮鋭度が定められ得る。ついで、コントラスト値または鮮鋭度を基準として、鮮鋭な焦点の面に対して測定されるオブジェクトの表面の焦点距離が定められる。オブジェクト表面が、鮮鋭な焦点の面から外れて測定されると、オブジェクトは画像内でぼやけて見える。鮮鋭な焦点の面の焦点距離、すなわち合焦オプティクスの焦点距離がわかると、ついで、カメラに対するオブジェクト表面の距離が算定され得る。デプス・フロム・デフォーカス法(DFD)によってオブジェクトの3次元画像データを定めるために、異なる走査位置で記録された画像は、オブジェクトの3次元画像データを定めるように互いに統合される。各ピクセルで、例えば、輝度値はフレーム番号の関数として、およびひいては時間および焦点位置の関数としてプロットされる。オブジェクトが焦点位置にない場合、コントラストは低下する。オブジェクトが焦点位置にある場合、コントラストはその最大となる。最大コントラストをもつ画像がこうしてカメラの焦点位置に記録される。このようにして、カメラに対するオブジェクトの距離が定められる。
デバイスの制御は、高周波で交互に2つの光源を起動するように構成されるため、2つのパターンが交互にオブジェクト上に投射される。ビームスプリッタは、異なる方向から入る第1のパターンの第1の投射ビームおよび第2のパターンの第2の投射ビームを1つの共通の照射方向へ偏向する、従来のプリズムであることができる。
このデバイスの1つの有利な点は、パターンが機械的な手段の使用なしに変化されることである。そのような機械的な手段により生じ得る測定エラーをこのようにして防ぐことができる。
このデバイスのさらなる有利な点は、2つの光源間の電子的なスイッチングの結果として、機械的な手段を用いた場合よりも、はるかに高周波の変化するパターンが生成され得ることである。これにより、測定所要時間の短縮または走査位置数の減少が可能となり、ひいてはオブジェクトのために生成される3Dデータセットの解像度の向上を可能にする。
有利には、デバイスは、第2の光源に加えて第3の光源、第3の光学的手段および第2のビームスプリッタを備えることができ、第3のパターンは、第3の光学的手段を用いて生成され、第3の投射ビームは、第2のビームスプリッタを用いて共通の照射方向に偏向される。
第1のパターン、第2のパターンおよび第3のパターンが、このようにして連続的に交互にオブジェクト上に投射される。複数のパターンを用いることにより、横方向の解像度が向上され得る。
有利には、第1のビームスプリッタおよび第2のビームスプリッタが結合してダイクロイックプリズムにされ得、第1、第2および第3の投射ビームがこのダイクロイックプリズムによって共通の照射方向に偏向される。
ダイクロイックプリズムは、光ビームを異なるスペクトルまたは色の2つのビームに分ける光学プリズムである。一般にガラスで作られ、そのある表面は前記光の波長に応じて光を反射または光の透過を可能にするダイクロイックミラーが設けられる。そのようなダイクロイックプリズムの使用は、こうして異なる方向から入る3つの投射ビームを1つの共通の照射方向に偏向させることを可能にする。第1の投射ビームは赤成分を有することができ、第2の投射ビームは緑成分を有することができ、および第3の投射ビームは青成分を有することができる。有色の投射ビームが、例えば、光源のダウンストリームに配置される、有色のLEDを用いることによってまたは色フィルタを用いることによって生成され得る。
有利には、パターンを生成するための光学的手段は、光学格子または液晶素子(LCD)であることができる。
光学格子またはLCDはこうして投射パターンを生成する。LCDは適宜制御される。
有利には、投射パターンは平行ストライプの形状であり得る。
したがって、用いられた深度走査方法に従って、コントラストおよびさらに深度情報が、暗い平行ストライプと明るい平行ストライプとの間の変移領域内で定められる。
2つの光源のみが存在するとき、有利には、平行ストライプの幅は平行ストライプ間の距離に対応することができる。
第1のパターンおよび第2のパターンがこうして平行ストライプに追加されることにより、第2のパターンの暗いストライプが、第1のパターンの明るいストライプの走査位置に配置され、逆もまた同じである。したがって、結果として、コントラストおよび深度情報が、オブジェクトの同じ測定ポイントについて定められ、測定の正確さの改善を可能にする。
有利には、投射パターンは、正方形パターン要素をもつチェッカーボードの形状を有する。
コントラスト値およびさらに深度情報は、こうして投射パターンのチェッカーボード形状によって明るいパターン要素と暗いパターン要素との間の変移領域内で定められ、オブジェクトの3Dデータセットの解像度の向上を可能にする。
有利には、第1のパターンは第1のチェッカーボード風パターンであることができ、および第2のパターンは第2のチェッカーボード風パターンであることができ、第2のチェッカーボード風パターンの暗い正方形パターン要素が、第1のチェッカーボード風パターンの明るい正方形パターン要素の走査位置に配置され、逆もまた同じである。そのため、2つのチェッカーボード風パターンの明るいパターン要素および暗いパターン要素が、それぞれ交互にオブジェクト上に投射される。
2つのチェッカーボード風パターンがこのように互いに相補的であることにより、オブジェクト表面上の同じ測定ポイントについてのコントラスト値およびさらに深度情報が定められるが、これにより潜在的な測定エラーの減少が可能となる。
有利には、デバイスは、少なくとも3000ヘルツの周波数で、交互に光源のオンとオフの切替えをする制御装置を備えることができる。
比較的高周波な変化するパターンを用いて、オブジェクトは、短い測定時間で深度走査方法により測定され得る
有利には、周波数は5000ヘルツから10000ヘルツであることができる。
デバイスの一例において、周波数は8000ヘルツである。この場合、すべてのオブジェクトの全体の深度走査は20ヘルツで実行され、両方のパターンはそれぞれ200の各深度位置について投射され、両方の画像が記録される。そのような速い測定を用いる場合、手持ち式カメラの形状のデバイスを自由に持つことができるが、それは20ヘルツでの全測定の間、患者の歯または歯型模型などのオブジェクトに対する手持ち式カメラの動きがごく僅かであるからである。
光学画像または走査を生成するために、有利には、鮮鋭な焦点面の少なくとも100の走査位置が位置付けられ、漸進的に測定され得る。
100の走査位置があると、例えば、測定する歯の典型的な深度走査範囲は20ミリメートルであるので、走査位置間の距離は0.2ミリメートルであることができる。
有利には、鮮鋭な焦点面の少なくとも200の走査位置が、画像ごとに位置付けられ得る。
光軸に沿った解像度が、より多数の走査位置により向上される。走査位置間の距離は、例えば、0.1ミリメートルであることができる。
有利には、パターンの明るい要素と暗い要素との間のコントラスト値が各光学画像について定められ、オブジェクトの3D深度情報がコントラスト値を基準として定められ得る。
用いられた深度走査方法に従って、コントラスト値がパターンの明るい要素と暗い要素との間の変移領域内で定められ、ついで、それらから深度情報が定められる。
有利には、鮮鋭な焦点の面のすべての位置付けられた走査位置でのコントラスト値のプロファイルが、オブジェクトのすべての測定ポイントについて定められ得、続いて、オブジェクトのこの測定ポイントについてのオブジェクト表面の深度情報を示すこのプロファイルの最大値が、定められる。
このようにして、したがって、明るい要素と暗い要素との間の変移領域内におけるオブジェクト表面の測定ポイントについての深度情報が定められる。変化したパターンの個々の光学画像からのオブジェクトの3Dデータセットの評価が、コンピュータを用いて実行され得る。
本発明を図表の参照により説明する。図面は以下を示す。
オブジェクトの光学3D測定のためのデバイスの略図 チェッカーボード風投射パターンの略図 暗いストライプおよび明るいストライプから成る投射パターンの略図 時間の関数としての輝度値の線図 時間の関数としての差分値の線図 焦点距離の関数としての差分値の線図
図1は、オブジェクト2の光学3D測定のためのデバイス1の略図を示す。デバイス1は、オブジェクト2(例えば、患者の歯または歯型模型)を測定するための手持ち式歯科用カメラである。カメラ1は、型押しパターンを生成するための第1の光源3、第2の光源4、第1の光学的手段5および第2の光学的手段6、記録手段7、撮像オプティクス8、第1のビームスプリッタ9、第2のビームスプリッタ10、ミラー11およびハウジング12を備える。光源3および4は、純粋なLED、有色のLED、白色LEDまたはレーザLEDとして実現され得る。光源5および6は、投射パターンを生成するために適宜制御される、光学格子としてまたはLCDとして実現され得る。第1の光学的手段5を用いて、第1のパターンが、第1の投射ビーム13として、第1のビームスプリッタ9の方向に投射および放射される。第2の光学的手段6を用いて、第2のパターンが、第2の投射ビーム14として、第1のビームスプリッタ9の方向に放射される。第1のビームスプリッタ9を用いて、投射ビーム13および14は、オブジェクト2に向けて1つの共通の照射方向15に偏向される。記録手段7は、CCTセンサなどの光学センサである。撮像オプティクス8は、カメラ1に対する鮮鋭な焦点の面18の焦点距離17が複数の定義された走査位置19、20および21間に漸進的に調節されるように制御される、複数のレンズ16を備える。すべての走査位置18,19,20および21に、第1の投射パターンをもつ第1の画像が生成され、および第2の投射パターンをもつ第2の画像が生成される。投射パターンは、例えば、チェッカーボードのような外形状を有し、またはいくつかのパターンから成ることができる。投射パターンは、こうしてオブジェクト2上に投射され、および観察ビーム22としてオブジェクト2から反射され、第2のビームスプリッタ10により偏向され、および記録手段7を用いて記録される。光源3および4は、制御装置23によって交互に起動されるため、第1のパターンおよび第2のパターンは、交互にオブジェクト2上に投射される。制御装置23によるスイッチング動作は、例えば、8000ヘルツの周波数で効果的であり得る。走査位置18、19、20および21は、例えば、互いに0.1ミリメートルの距離で配置され得る。光軸24に沿った解像度が、こうして走査位置間の前記距離によって定義される。チェッカーボード風パターンは、複数の明るいおよび暗い正方形パターン要素から成ることができ、記録手段7の投射面における1つのパターン要素の幅は、使用されるセンサの1ピクセルの幅に対応することができる。明るいパターン要素の第1の輝度値および暗いパターン要素の第2の輝度値が、こうしてセンサのすべてのピクセル用に定められ、第1の輝度値と第2の輝度値との間の差分値が、コンピュータなどの演算装置25を用いて減算により定められ得る。演算装置25はまた、カメラ1に組み込まれるマイクロコンピュータまたはチップであることができる。演算装置25はまた、外部コンピュータであることができる。各走査手順の後、異なる走査位置18、19、20および21について生成された光学画像は統合され、オブジェクト2の3Dデータセット26が、前記画像から生成される。画像はまた、演算装置25を用いた別の方法によって統合され得る。例えば、複数のコントラスト値が、明るいパターン要素と暗いパターン要素との間の変移領域で定められ、深度情報が前記値から算出され得る。センサ7の画像データは、各光学的な記録の後に読み出され、矢印27によって示すように演算装置25に送られる。オブジェクト2の完全な測定の後、オブジェクト表面28上の測定ポイントの定められた座標が、3Dデータセット26を算出するために用いられる。3Dデータセット26は、モニターなどの表示デバイス29によって表示される。
図2は、第1の投射ビーム13として第1の光源3により放射され、図1の第1の走査位置18においてセンサ7によって記録された、第1のチェッカーボード風投射パターン30の略図を示す。それらの寸法において、第1の投射パターン30の暗いパターン要素31および第1の投射パターン30の明るいパターン要素32は、センサ7の個々のピクセル33に対応する。第1の光源3をオフに切り替えるおよび第2の光源4をオンに切り替えることにより、第2の投射ビーム14として第2の光源3により放射され図1の第1の走査位置18においてセンサ7によって記録される第2の投射パターン34が、こうしてオブジェクト2上に投射される。第1の投射パターン30が第2の投射パターン34に外形において対応することにより、第2のパターン34は横方向に位置を変え、変位35はピクセル33の幅に対応する。このようにして、センサ7のすべてのピクセルが、明るいパターン要素32または暗いパターン要素31を用いて交互に照射される。第1のパターン30の第1の画像からおよび第2のパターン34の第2の画像から、こうしてすべてのピクセルに対して1つの個別の明るいおよび暗いパターン要素の輝度値を定めることが可能になる。鮮鋭な層がオブジェクト2のオブジェクト表面28と一致すると、個々のピクセルの輝度値の差分値が最大であるように、投射パターン30が鮮鋭な画像としてセンサ7上に再現される。
図3は、暗いストライプ41および明るいストライプ42から成る第1の投射パターン30の略図を示す。第1の投射パターンと比較すると、図2におけるように、第2の投射パターン34は、センサ7のピクセル幅に対応する変位35だけ位置を変える。光源3および4が交互に起動する結果として、センサ7のすべてのピクセルは、明るいストライプ42または暗いストライプ41によって交互に照射される。
図4は、x軸上の時間51の関数としてのy軸上の輝度値50の線図を示す。第1のパターン30を用いたオブジェクトの照射の間、0から1の尺度で、第1の輝度値52が第1の画像から定められ、第2のパターン34を用いたオブジェクトの照射の間、第2の輝度値53が第2の画像から定められる。輝度値は、図1の走査位置18、19、20および21について定められる。
図5は本方法を図示するための線図を示し、ここにおいて、輝度値52と53とを減算することにより、第1の差分値60が第1の走査位置19に関して定められ、第2の差分値61が第2の走査位置20に関して定められ、第3の差分値62が第3の走査位置21に関して定められ、および第4の差分値63が第4の走査位置18に関して定められる。差分値は、時間51の関数としてプロットされる。第4の走査位置18において、差分値63は最大であるため、この走査位置18において、鮮鋭な焦点の面7はオブジェクトの表面28と一致する。オブジェクトの表面28上の対応する測定ポイントの深度情報は、こうしてすべてのピクセルについて定められ得る。
図6は、センサ7の1つの個別のピクセルに関する焦点距離17の関数としての差分値70を示す。コントラストは、図2の投射パターン30、34が鮮鋭な画像を再現するので、差分値の最大71で最大である。
1 デバイス
2 オブジェクト
3 第1の光源
4 第2の光源
5 第1の光学的手段
6 第2の光学的手段
7 記録手段
8 撮像オプティクス
9 第1のビームスプリッタ
10 第2のビームスプリッタ
11 ミラー
12 ハウジング
13 第1の投射ビーム
14 第2の投射ビーム
15 照射方向
16 レンズ
17 焦点距離
18 鮮鋭な焦点の面
18 走査位置
19 走査位置
20 走査位置
21 走査位置
22 観察ビーム
23 制御装置
24 光軸
25 演算装置
26 3Dデータセット
27 矢印
28 オブジェクト表面
29 表示デバイス
30 第1の投射パターン
31 暗いパターン要素
32 明るいパターン要素
33 ピクセル
34 第2の投射パターン
35 変位
41 暗いストライプ
42 明るいストライプ
50 輝度値
51 時間
52 第1の輝度値
53 第2の輝度値
60 第1の差分値
61 第2の差分値
62 第3の差分値
63 第4の差分値
70 差分値

Claims (14)

  1. 光学的深度を走査する測定方法を用いるオブジェクト(2)の光学的3D測定のためのデバイスであって、少なくとも2つの光源(3、4)と、型押しパターン(30、34)を生成するための少なくとも2つの光学的手段(5、6)と、少なくとも1つの記録手段(7)とを備え、第1のパターン(30)が、第1の光学的手段(5)を用いて生成され、第1の投射ビーム(13)として記録されるように前記オブジェクト(2)上に投射され、第2のパターン(14)が、第2の光学的手段(6)を用いて生成され、第2の投射ビーム(14)として記録されるように前記オブジェクト(2)上に投射され、前記第1のパターン(30)および前記第2のパターン(34)が、観察ビーム(22)として前記オブジェクト(2)から反射され、前記オブジェクトの3Dデータセットを作り出すために前記記録手段(7)によって記録され、前記デバイス(1)が、前記オブジェクト(2)上への前記パターン(30、34)の投射のために撮像オプティクス(8)を備え、前記撮像オプティクス(8)が、鮮鋭な焦点面(18)が前記デバイスの光軸(24)に沿って漸進的に変化するように制御されおよび調整され、前記鮮鋭な焦点面の各走査位置(18、19、20、21)に、前記第1のパターン(30)が、第1の光学イメージを生成するために投射され、ついで少なくとも前記第2のパターン(34)が、第2の光学イメージを生成するために前記オブジェクト(2)上に投射され、前記デバイスが、前記第1の光源(3)および前記第2の光源(4)が、制御装置(23)によって交互に起動され、前記第1のパターン(30)および前記第2のパターン(34)が、交互に前記オブジェクト(2)上に投射され、前記第1のパターン(30)の前記第1の投射ビーム(13)および前記第2のパターン(34)の前記第2の投射ビーム(14)が、第1のビームスプリッタ(9)を用いて前記オブジェクト(2)に向かって1つの共通の照射方向(15)に偏向するように構成されることを特徴とするデバイス。
  2. 前記デバイス(1)が、前記第2の光源(4)に加えて第3の光源、第3の光学的手段および第2のビームスプリッタを備え、第3のパターンが、前記第3の光学的手段を用いて生成され、第3の投射ビームが、前記第2のビームスプリッタを用いて前記共通の照射方向(15)に偏向されることを特徴とする請求項1に記載のデバイス。
  3. 前記第1のビームスプリッタ(9)および前記第2のビームスプリッタが、結合してダイクロイックプリズムにされ、前記第1、第2および第3の投射ビームが、このダイクロイックプリズムによって前記共通の照射方向に偏向されることを特徴とする請求項2に記載のデバイス。
  4. 前記パターンを生成するための前記光学的手段(5、6)が、光学格子または液晶素子(LCD)であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のデバイス。
  5. 前記投射パターン(30、34)が、平行ストライプ(41、42)の形状で表されることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のデバイス。
  6. 2つの光源(3、4)のみが存在するとき、前記平行ストライプの幅が、前記平行ストライプ間の距離に対応することを特徴とする請求項5に記載のデバイス。
  7. 前記投射パターン(30、34)が、正方形パターン要素(31、32)をもつチェッカーボードの形状で表されることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のデバイス。
  8. 前記第1のパターン(30)が第1のチェッカーボード風パターンであり、および前記第2のパターン(34)が第2のチェッカーボード風パターンであり、前記第2のチェッカーボード風パターン(34)の暗い正方形パターン(31)が、前記第1のチェッカーボード風パターン(30)の明るい正方形パターン要素(32)の前記走査位置に配置され、逆もまた同じである、したがって、前記2つのチェッカーボード風パターン(30、34)の前記明るいパターン要素(32)および前記暗いパターン要素(31)が、それぞれ交互に前記オブジェクト(2)上に投射されることを特徴とする請求項7に記載のデバイス。
  9. 前記デバイスが、少なくとも3000ヘルツの周波数で、交互に前記光源のオンとオフの切替えをする制御装置を備えることを特徴とする1〜8のいずれか一項に記載のデバイス。
  10. 前記周波数が、有利には5000ヘルツから10000ヘルツであることを特徴とする請求項9に記載のデバイス。
  11. 前記鮮鋭な焦点面の少なくとも100の走査位置(18、19、20、21)が、漸進的に位置付けられ、および光学画像または走査を生成するために測定されることを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項に記載のデバイス。
  12. 前記鮮鋭な焦点面の少なくとも200の走査位置(18、19、20、21)が、画像ごとに位置付けられることを特徴とする請求項11に記載のデバイス。
  13. 前記パターン(30、34)の前記明るい要素と前記暗い要素(31、32)との間のコントラスト値が、各光学画像について定められ、前記オブジェクト(2)の3D深度情報が、前記コントラスト値(52、53、60、61、62、63)によって定められることを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載のデバイス。
  14. 前記コントラスト値(52、53、60、61、62、63)のプロファイルが、前記鮮鋭な焦点の面のすべての前記位置付けられた走査位置(18、19、20、21)での前記オブジェクトの各測定ポイントについて定められ、続いて、前記オブジェクトのこの測定ポイントについてのオブジェクト表面の前記深度情報を示す、このプロファイルの最大値が定められることを特徴とする請求項13に記載のデバイス。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022552743A (ja) * 2019-10-19 2022-12-19 シークライト ゲノミクス ユーエス,インコーポレイテッド 仮想基準

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1607041B1 (en) 2004-06-17 2008-01-16 Cadent Ltd. Method for providing data associated with the intraoral cavity
JP6377295B2 (ja) * 2016-03-22 2018-08-22 三菱電機株式会社 距離計測装置及び距離計測方法
US11529056B2 (en) 2016-10-18 2022-12-20 Dentlytec G.P.L. Ltd. Crosstalk reduction for intra-oral scanning using patterned light
CA3092639A1 (en) * 2018-02-12 2019-08-15 Midmark Corporation Projected texture pattern for intra-oral 3d imaging
EP3784111A2 (en) * 2018-04-25 2021-03-03 Dentlytec G.P.L. Ltd. Properties measurement device
JP7096701B2 (ja) * 2018-05-10 2022-07-06 日立Astemo株式会社 撮像装置
US10753734B2 (en) * 2018-06-08 2020-08-25 Dentsply Sirona Inc. Device, method and system for generating dynamic projection patterns in a confocal camera
US10986328B2 (en) 2018-06-08 2021-04-20 Dentsply Sirona Inc. Device, method and system for generating dynamic projection patterns in a camera
CN109143753A (zh) * 2018-09-08 2019-01-04 深圳阜时科技有限公司 一种光学组件、光学投影模组、感测装置及设备
CN109143754A (zh) * 2018-09-08 2019-01-04 深圳阜时科技有限公司 一种光学组件、光学投影模组、感测装置及设备
CN109211142B (zh) * 2018-09-19 2020-10-20 苏州佳世达光电有限公司 三维扫描系统
JP7418455B2 (ja) 2018-11-08 2024-01-19 成都頻泰鼎豐企業管理中心(有限合夥) 三次元測定機器及び測定システム
TWI704907B (zh) * 2018-11-29 2020-09-21 財團法人金屬工業研究發展中心 牙體建模裝置以及牙體建模方法
US11450083B2 (en) * 2019-09-27 2022-09-20 Honeywell International Inc. Dual-pattern optical 3D dimensioning
US11639846B2 (en) 2019-09-27 2023-05-02 Honeywell International Inc. Dual-pattern optical 3D dimensioning
US11162784B2 (en) 2019-12-30 2021-11-02 Industrial Technology Research Institute Profile measurement system and profile measurement method

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10508107A (ja) * 1995-06-07 1998-08-04 ザ トラスティース オブ コロンビア ユニヴァーシティー イン ザ シティー オブ ニューヨーク 能動型照明及びデフォーカスに起因する画像中の相対的なぼけを用いる物体の3次元形状を決定する装置及び方法
JP2010019762A (ja) * 2008-07-14 2010-01-28 V Technology Co Ltd 表面形状測定方法及び表面形状測定装置
US20100108873A1 (en) * 2007-04-13 2010-05-06 Michael Schwertner Method and assembly for optical reproduction with depth discrimination
JP2012530267A (ja) * 2009-06-17 2012-11-29 3シェイプ アー/エス 焦点操作装置
JP2013040851A (ja) * 2011-08-16 2013-02-28 Ckd Corp 基板検査装置
JP2015505039A (ja) * 2011-12-12 2015-02-16 ザイゴ コーポレーションZygo Corporation 変調光を使用した非接触表面形状評価
WO2015036467A1 (de) * 2013-09-11 2015-03-19 Sirona Dental Systems Gmbh Optisches system zur erzeugung eines sich zeitlich ändernden musters für ein konfokalmikroskop

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE487111T1 (de) 2007-10-18 2010-11-15 Nectar Imaging S R L Vorrichtung zur tomografischen erfassung von objekten
US8717416B2 (en) * 2008-09-30 2014-05-06 Texas Instruments Incorporated 3D camera using flash with structured light
JP5433381B2 (ja) * 2009-01-28 2014-03-05 合同会社IP Bridge1号 口腔内測定装置及び口腔内測定方法
DE102009001086B4 (de) * 2009-02-23 2014-03-27 Sirona Dental Systems Gmbh Handgehaltene dentale Kamera und Verfahren zur optischen 3D-Vermessung
CA2771727C (en) * 2009-11-04 2013-01-08 Technologies Numetrix Inc. Device and method for obtaining three-dimensional object surface data
US9769455B2 (en) * 2010-12-21 2017-09-19 3Shape A/S 3D focus scanner with two cameras
US9860520B2 (en) * 2013-07-23 2018-01-02 Sirona Dental Systems Gmbh Method, system, apparatus, and computer program for 3D acquisition and caries detection
US20150347833A1 (en) * 2014-06-03 2015-12-03 Mark Ries Robinson Noncontact Biometrics with Small Footprint
US9261358B2 (en) * 2014-07-03 2016-02-16 Align Technology, Inc. Chromatic confocal system
US9693839B2 (en) * 2014-07-17 2017-07-04 Align Technology, Inc. Probe head and apparatus for intraoral confocal imaging using polarization-retarding coatings
DE102015209404B4 (de) * 2015-05-22 2018-05-03 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren und Kamera zur dreidimensionalen Vermessung eines dentalen Objekts

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10508107A (ja) * 1995-06-07 1998-08-04 ザ トラスティース オブ コロンビア ユニヴァーシティー イン ザ シティー オブ ニューヨーク 能動型照明及びデフォーカスに起因する画像中の相対的なぼけを用いる物体の3次元形状を決定する装置及び方法
US20100108873A1 (en) * 2007-04-13 2010-05-06 Michael Schwertner Method and assembly for optical reproduction with depth discrimination
JP2010019762A (ja) * 2008-07-14 2010-01-28 V Technology Co Ltd 表面形状測定方法及び表面形状測定装置
JP2012530267A (ja) * 2009-06-17 2012-11-29 3シェイプ アー/エス 焦点操作装置
JP2013040851A (ja) * 2011-08-16 2013-02-28 Ckd Corp 基板検査装置
JP2015505039A (ja) * 2011-12-12 2015-02-16 ザイゴ コーポレーションZygo Corporation 変調光を使用した非接触表面形状評価
WO2015036467A1 (de) * 2013-09-11 2015-03-19 Sirona Dental Systems Gmbh Optisches system zur erzeugung eines sich zeitlich ändernden musters für ein konfokalmikroskop

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022552743A (ja) * 2019-10-19 2022-12-19 シークライト ゲノミクス ユーエス,インコーポレイテッド 仮想基準

Also Published As

Publication number Publication date
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