JP7418455B2 - 三次元測定機器及び測定システム - Google Patents
三次元測定機器及び測定システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7418455B2 JP7418455B2 JP2021547618A JP2021547618A JP7418455B2 JP 7418455 B2 JP7418455 B2 JP 7418455B2 JP 2021547618 A JP2021547618 A JP 2021547618A JP 2021547618 A JP2021547618 A JP 2021547618A JP 7418455 B2 JP7418455 B2 JP 7418455B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- light source
- optical path
- target object
- monochromatic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 31
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 43
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 37
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 34
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 14
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 11
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 11
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2509—Color coding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/22—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring depth
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2531—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object using several gratings, projected with variable angle of incidence on the object, and one detection device
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
- G01C11/02—Picture taking arrangements specially adapted for photogrammetry or photographic surveying, e.g. controlling overlapping of pictures
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10024—Color image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
- G06T2207/10152—Varying illumination
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N13/00—Stereoscopic video systems; Multi-view video systems; Details thereof
- H04N13/20—Image signal generators
- H04N13/204—Image signal generators using stereoscopic image cameras
- H04N13/239—Image signal generators using stereoscopic image cameras using two 2D image sensors having a relative position equal to or related to the interocular distance
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N13/00—Stereoscopic video systems; Multi-view video systems; Details thereof
- H04N13/20—Image signal generators
- H04N13/204—Image signal generators using stereoscopic image cameras
- H04N13/254—Image signal generators using stereoscopic image cameras in combination with electromagnetic radiation sources for illuminating objects
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Claims (13)
- 照明システム(I)及びイメージングシステム(II)を含む三次元測定機器であって、前記照明システム(I)は、照明光路に沿ったN色の光源(8)、ビーム整形装置(7)、パターン変調装置(6)及び投影レンズ(2)を含み、前記パターン変調装置(6)はNスペクトルパターン変調装置であり、N個のスペクトルチャネルを含む符号化パターンを形成するために使用され、前記ビーム整形装置(7)は光源(8)から発光した光をほぼ平行な光に整形するために使用され、前記投影レンズ(2)は符号化パターンを目標物体に投射するために使用され、
前記イメージングシステム(II)は、イメージング光路に沿ったイメージングレンズ(3)、第1の分光システム、及びN個のイメージセンサを含むイメージセンサ群を含み、前記第1の分光システムはイメージングレンズ(3)によって受信された、目標物体(1)に投射された符号化パターンをイメージセンサ群のN個のイメージセンサに送信して、N個の画像信号を形成するために使用され、
N>1であり、
前記N色の光源(8)は、同時に照射するN個の単色LEDまたはN個の単色レーザの複合光源を含み、
前記パターン変調装置(6)は、グレーティング、DMD、または投影パターンフィルムを含み、
前記照明システム(I)は、テクスチャイメージセンサ(4)と第2の分光システムをさらに含み、前記第2の分光システムは前記照明光路に位置するとともに、前記テクスチャイメージセンサ(4)に前記目標物体(1)の表面画像信号を取得させることができ、
前記第2の分光システムはテクスチャ分光器(5)或いはテクスチャプリズム(22)を含み、前記テクスチャイメージセンサ(4)は前記テクスチャ分光器(5)或いは前記テクスチャプリズム(22)の反射光路に位置することを特徴とする三次元測定機器。 - 前記第1の分光システムは、イメージング光路に位置するN-1個の分光器を含み、前記N-1個の分光器は互いに平行或いは交互に垂直であり、前記N個のイメージセンサのうちの1つはイメージング光路に位置し、他のN-1個のイメージセンサはイメージング光路の同じ側に位置するか或いは交互にイメージング光路の両側の、N-1個の分光器の反射光路に位置することを特徴とする請求項1に記載の三次元測定機器。
- N=3である時、前記イメージセンサ群は、第1のイメージセンサ(9)、第2のイメージセンサ(10)、及び第3のイメージセンサ(11)を含み、前記第1の分光システムは、イメージング光路に位置する第1の分光器(12)と第2の分光器(13)を含み、好ましくは、イメージセンサは白黒イメージセンサであることを特徴とする請求項2に記載の三次元測定機器。
- 前記第1のイメージセンサ(9)は前記第1の分光器(12)の反射光路に位置し、前記第2のイメージセンサ(10)は第2の分光器(13)の反射光路に位置し、前記第3のイメージセンサ(11)は前記第1の分光器(12)と第2の分光器(13)の透過光路に位置することを特徴とする請求項3に記載の三次元測定機器。
- 第1の分光システムはイメージング光路に位置するプリズム(21)を含み、前記プリズム(21)による分光を通じて、照射された目標物体(1)の画像信号がそれぞれ第1のイメージセンサ(9)、第2のイメージセンサ(10)、第3のイメージセンサ(11)に送信されることを特徴とする請求項1に記載の三次元測定機器。
- 目標物体(1)を照射するための照明装置(14)をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の三次元測定機器。
- 請求項1~6のいずれか1項に記載の三次元測定機器を含む測定システムであって、照明システム(I)と同様な第2の照明システムをさらに含むことを特徴とする測定システム。
- 請求項1~6のいずれか1項に記載の三次元測定機器を含む測定システムであって、イメージングシステム(II)と同様な第2のイメージングシステムをさらに含むことを特徴とする測定システム。
- 前記光源(8)がN個の単色LEDの複合光源を含む場合、前記ビーム整形装置(7)はコリメート素子を含むことができ、前記コリメート素子はLED光源から発光した光をほぼ平行な光に整形するために使用されることを特徴とする請求項1~6のいずれか1項に記載の三次元測定機器。
- 前記光源(8)がN個の単色レーザの複合光源を含む場合、前記ビーム整形装置(7)はコリメート素子と散逸素子を含むことができ、前記コリメート素子はレーザ光源から発光した光をほぼ平行な光に整形するために使用され、前記散逸素子はレーザ光源から発光した光のコヒーレンスを排除するために使用されることを特徴とする請求項1~6のいずれか1項に記載の三次元測定機器。
- 前記光源(8)は白色光源を含み、前記三次元測定機器は目標物体(1)を照射するための照明装置(14)をさらに含むことを特徴とする請求項3~5のいずれか1項に記載の三次元測定機器。
- 前記照明装置(14)は単色白色光LED光源(例えば複数の均一に分布している単色白色光LEDを含み、或いは、複数の均一に分布している単色白色光LED及びLEDから発光した光を目標物体に伝達することができる光ファイバおよび/またはレンズを含む)、または単色RGB時分割光源(例えば単色RGB時分割光源を含み、或いは、RGB時分割光源及びRGB時分割光源から発光した光を目標物体に伝達することができる光ファイバおよび/またはレンズを含む)を含むことを特徴とする請求項6または11に記載の三次元測定機器。
- 前記イメージセンサ群の第1のイメージセンサ(9)、第2のイメージセンサ(10)、及び第3のイメージセンサ(11)は、第1の時間で、目標物体(1)に投射された、三次元データを分析するための符号化パターン情報を取得し、第2の時間で、それぞれ目標物体(1)でのカラーテクスチャ画像を合成できるRGB色を取得することができることを特徴とする請求項11または12に記載の三次元測定機器。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/CN2018/114611 WO2020093321A1 (zh) | 2018-11-08 | 2018-11-08 | 三维测量设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022514440A JP2022514440A (ja) | 2022-02-10 |
JP7418455B2 true JP7418455B2 (ja) | 2024-01-19 |
Family
ID=70611293
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021547618A Active JP7418455B2 (ja) | 2018-11-08 | 2018-11-08 | 三次元測定機器及び測定システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11953313B2 (ja) |
EP (1) | EP3879226B1 (ja) |
JP (1) | JP7418455B2 (ja) |
CN (1) | CN112930468B (ja) |
WO (1) | WO2020093321A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112930468B (zh) | 2018-11-08 | 2022-11-18 | 成都频泰鼎丰企业管理中心(有限合伙) | 三维测量设备 |
CN115167067A (zh) * | 2022-05-30 | 2022-10-11 | 歌尔股份有限公司 | 一种投影系统以及头戴设备 |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003528303A (ja) | 2000-03-24 | 2003-09-24 | ソルビション インコーポレイテッド | 物体の三次元検査用多重移相パターンの同時投影装置 |
US20040125205A1 (en) | 2002-12-05 | 2004-07-01 | Geng Z. Jason | System and a method for high speed three-dimensional imaging |
JP2008170281A (ja) | 2007-01-11 | 2008-07-24 | Nikon Corp | 形状測定装置及び形状測定方法 |
JP2009025189A (ja) | 2007-07-20 | 2009-02-05 | Nikon Corp | 計測器 |
JP2010525404A (ja) | 2007-04-24 | 2010-07-22 | デグデント・ゲーエムベーハー | 対象物の3次元測定のための配置および方法 |
JP2011191170A (ja) | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Omron Corp | 画像処理装置 |
CN103228228A (zh) | 2010-07-12 | 2013-07-31 | 3形状股份有限公司 | 使用纹理特征的3d对象建模 |
JP2013245980A (ja) | 2012-05-24 | 2013-12-09 | Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd | 撮像装置および撮像方法 |
US20150103358A1 (en) | 2012-03-09 | 2015-04-16 | Galil Soft Ltd. | System and method for non-contact measurement of 3d geometry |
CN104634323A (zh) | 2015-02-15 | 2015-05-20 | 四川川大智胜软件股份有限公司 | 一种多级摄像三维照相系统及方法 |
CN104655051A (zh) | 2014-12-29 | 2015-05-27 | 四川大学 | 一种高速结构光三维面形垂直测量方法 |
JP2017037089A (ja) | 2016-10-14 | 2017-02-16 | 株式会社キーエンス | 形状測定装置 |
CN108038898A (zh) | 2017-11-03 | 2018-05-15 | 华中科技大学 | 一种单帧二值结构光编解码方法 |
JP2018515769A (ja) | 2015-05-22 | 2018-06-14 | シロナ・デンタル・システムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 歯科用オブジェクトの3d測定のためのカメラおよび手法 |
JP2018515760A (ja) | 2015-05-22 | 2018-06-14 | シロナ・デンタル・システムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 歯科用オブジェクトの3d測定のための方法およびカメラ |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4349277A (en) * | 1980-06-11 | 1982-09-14 | General Electric Company | Non-contact measurement of surface profile |
CA1253620A (en) * | 1985-04-30 | 1989-05-02 | Jon Claesson | Method relating to three dimensional measurement of objects |
JPH11148806A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Fuji Xerox Co Ltd | 三次元物体及びその表面画像の読取装置 |
CN1093935C (zh) * | 1998-12-30 | 2002-11-06 | 西安交通大学 | 一种快速投影结构光的三维轮廓相位测量方法及装置 |
DE10232690A1 (de) * | 2002-07-18 | 2004-02-12 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur dreidimensionalen Erfassung von Objekten sowie Verwendung der Vorrichtung und des Verfahrens |
JP4379056B2 (ja) * | 2003-08-12 | 2009-12-09 | 富士ゼロックス株式会社 | 三次元画像撮像装置および方法 |
FR2869112B1 (fr) * | 2004-04-20 | 2007-03-09 | Airbus France Sas | Systeme de mesure a trois dimensions |
CN101165471B (zh) * | 2006-10-17 | 2010-12-29 | 财团法人工业技术研究院 | 多角度多通道检测装置 |
DE102008023264B4 (de) * | 2008-05-13 | 2017-01-05 | Smart Optics Sensortechnik Gmbh | Verfahren zur flexiblen Erfassung der geometrischen Form von Objekten mit optischer 3D-Messtechnik |
CN101881599B (zh) * | 2010-07-12 | 2012-01-25 | 华中科技大学 | 一种纳米结构三维形貌测量方法及装置 |
US9128036B2 (en) * | 2011-03-21 | 2015-09-08 | Federal-Mogul Corporation | Multi-spectral imaging system and method of surface inspection therewith |
WO2012129788A1 (zh) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | 青岛海信信芯科技有限公司 | 激光投影光源模块及投影机 |
CN202875522U (zh) * | 2012-11-06 | 2013-04-17 | 艾博莱特(苏州)科技有限公司 | 一种光学彩色三维图像成像装置 |
EP2840353B1 (en) * | 2013-06-21 | 2019-08-07 | 3Shape A/S | Scanning apparatus with patterned probe light |
JP2015012442A (ja) * | 2013-06-28 | 2015-01-19 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像方法、画像生成装置、画像生成方法、及び、プログラム |
FI131015B1 (fi) * | 2013-09-25 | 2024-07-31 | Pictm Tech Oy | Mallinnusjärjestely ja menetelmät ja järjestelmä kolmiulotteisen pinnan topografian mallintamiseksi |
CN104567758B (zh) * | 2013-10-29 | 2017-11-17 | 同方威视技术股份有限公司 | 立体成像系统及其方法 |
CN103884703B (zh) * | 2014-03-10 | 2016-10-05 | 北京理工大学 | 分光瞳激光差动共焦布里渊-拉曼光谱测量方法及装置 |
CN103954602B (zh) * | 2014-03-10 | 2016-08-17 | 北京理工大学 | 激光双轴差动共焦布里渊-拉曼光谱测量方法与装置 |
JP2016045120A (ja) * | 2014-08-25 | 2016-04-04 | 国立大学法人 鹿児島大学 | 3次元計測システム及び3次元計測方法 |
CN105892257B (zh) * | 2014-12-10 | 2019-09-03 | 青岛理工大学 | 正弦结构光记录全息图的方法及装置 |
CN104634277B (zh) * | 2015-02-12 | 2018-05-15 | 上海图漾信息科技有限公司 | 拍摄设备和方法、三维测量系统、深度计算方法和设备 |
DE102015209402A1 (de) * | 2015-05-22 | 2016-11-24 | Sirona Dental Systems Gmbh | Vorrichtung zur optischen 3D-Vermessung eines Objekts |
CN205246014U (zh) * | 2015-11-11 | 2016-05-18 | 深圳市德利欧科技有限公司 | 一种结构光投影的高速三维测量系统 |
CN205317164U (zh) * | 2015-12-15 | 2016-06-15 | 宁波频泰光电科技有限公司 | 一种彩色3d测量系统用的照明装置 |
CN105333838B (zh) * | 2015-12-15 | 2018-07-17 | 宁波频泰光电科技有限公司 | 一种彩色3d测量系统 |
CN107796330B (zh) * | 2017-09-30 | 2018-09-21 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种白光干涉三维形貌测量光学系统 |
CN207675118U (zh) * | 2017-11-30 | 2018-07-31 | 青岛全维医疗科技有限公司 | 数字全息三维显微系统 |
CN112930468B (zh) | 2018-11-08 | 2022-11-18 | 成都频泰鼎丰企业管理中心(有限合伙) | 三维测量设备 |
-
2018
- 2018-11-08 CN CN201880098411.5A patent/CN112930468B/zh active Active
- 2018-11-08 JP JP2021547618A patent/JP7418455B2/ja active Active
- 2018-11-08 WO PCT/CN2018/114611 patent/WO2020093321A1/zh unknown
- 2018-11-08 EP EP18939238.4A patent/EP3879226B1/en active Active
-
2021
- 2021-05-04 US US17/306,953 patent/US11953313B2/en active Active
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003528303A (ja) | 2000-03-24 | 2003-09-24 | ソルビション インコーポレイテッド | 物体の三次元検査用多重移相パターンの同時投影装置 |
US20040125205A1 (en) | 2002-12-05 | 2004-07-01 | Geng Z. Jason | System and a method for high speed three-dimensional imaging |
JP2008170281A (ja) | 2007-01-11 | 2008-07-24 | Nikon Corp | 形状測定装置及び形状測定方法 |
JP2010525404A (ja) | 2007-04-24 | 2010-07-22 | デグデント・ゲーエムベーハー | 対象物の3次元測定のための配置および方法 |
JP2009025189A (ja) | 2007-07-20 | 2009-02-05 | Nikon Corp | 計測器 |
JP2011191170A (ja) | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Omron Corp | 画像処理装置 |
CN103228228A (zh) | 2010-07-12 | 2013-07-31 | 3形状股份有限公司 | 使用纹理特征的3d对象建模 |
US20150103358A1 (en) | 2012-03-09 | 2015-04-16 | Galil Soft Ltd. | System and method for non-contact measurement of 3d geometry |
JP2013245980A (ja) | 2012-05-24 | 2013-12-09 | Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd | 撮像装置および撮像方法 |
CN104655051A (zh) | 2014-12-29 | 2015-05-27 | 四川大学 | 一种高速结构光三维面形垂直测量方法 |
CN104634323A (zh) | 2015-02-15 | 2015-05-20 | 四川川大智胜软件股份有限公司 | 一种多级摄像三维照相系统及方法 |
JP2018515769A (ja) | 2015-05-22 | 2018-06-14 | シロナ・デンタル・システムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 歯科用オブジェクトの3d測定のためのカメラおよび手法 |
JP2018515760A (ja) | 2015-05-22 | 2018-06-14 | シロナ・デンタル・システムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 歯科用オブジェクトの3d測定のための方法およびカメラ |
JP2017037089A (ja) | 2016-10-14 | 2017-02-16 | 株式会社キーエンス | 形状測定装置 |
CN108038898A (zh) | 2017-11-03 | 2018-05-15 | 华中科技大学 | 一种单帧二值结构光编解码方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210254969A1 (en) | 2021-08-19 |
EP3879226A4 (en) | 2021-11-10 |
EP3879226A1 (en) | 2021-09-15 |
WO2020093321A1 (zh) | 2020-05-14 |
JP2022514440A (ja) | 2022-02-10 |
US11953313B2 (en) | 2024-04-09 |
CN112930468A (zh) | 2021-06-08 |
EP3879226B1 (en) | 2023-01-04 |
CN112930468B (zh) | 2022-11-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11680790B2 (en) | Multiple channel locating | |
JP6626335B2 (ja) | 構造化光プロジェクタおよびそうしたプロジェクタを含む3次元スキャナ | |
US8515528B2 (en) | Measuring arrangement and method for the three-dimensional measurement of an object | |
US9998678B2 (en) | Camera for acquiring optical properties and spatial structure properties | |
JP7418455B2 (ja) | 三次元測定機器及び測定システム | |
CN112710253B (zh) | 三维扫描仪和三维扫描方法 | |
CN105791640A (zh) | 摄像装置 | |
CN112712583B (zh) | 三维扫描仪、三维扫描系统和三维扫描方法 | |
JP7298025B2 (ja) | 三次元スキャナー及び三次元走査方法 | |
US20230320825A1 (en) | Method and intraoral scanner for detecting the topography of the surface of a translucent object, in particular a dental object | |
CN110793942B (zh) | 基于彩色相机的二维材料形貌快速表征系统和方法 | |
KR20100123519A (ko) | 입체형상측정을 위한 광학시스템 | |
CN220230446U (zh) | 一种三维扫描系统 | |
US20240344824A1 (en) | Single pattern shift projection optical system for 3d scanner | |
Tominaga et al. | Spectral imaging with a programmable light source | |
WO2015159803A1 (ja) | 画像形成装置 | |
Tominaga et al. | Real-time color measurement using active illuminant | |
US20220074738A1 (en) | Three dimensional imaging |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210428 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220531 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220830 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230317 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230627 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230926 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231212 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240109 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7418455 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |