JP2018511028A - シンチレータ結晶内の光子の収集を最適化する方法、結晶、およびその使用 - Google Patents
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 58
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 5
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005457 optimization Methods 0.000 claims description 6
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 4
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 10
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 3
- 239000005041 Mylar™ Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 229920002620 polyvinyl fluoride Polymers 0.000 description 3
- FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M sodium iodide Chemical compound [Na+].[I-] FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 229910052765 Lutetium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004775 Tyvek Substances 0.000 description 2
- 229920000690 Tyvek Polymers 0.000 description 2
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- OHSVLFRHMCKCQY-UHFFFAOYSA-N lutetium atom Chemical compound [Lu] OHSVLFRHMCKCQY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002600 positron emission tomography Methods 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 241000894006 Bacteria Species 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005372 Plexiglas® Polymers 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000009518 sodium iodide Nutrition 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
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- G01T1/2002—Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
Description
・シンチレータ結晶の屈折率にほぼ等しい屈折率「n」を有する材料を前記シンチレータの結晶の一つの面上に堆積するステップと、
・構造化手段により、前記材料を構造化するステップと、
・前記材料中に回折限界以下の構造を作り、シンチレータ結晶と前記面上の材料との間の屈折率の適合を可能とし、および/または、前記材料中に回折限界の構造を1次元ブレーズド回折格子の形で作り、側面で反射した光子を結晶の前記面に向けて直接戻すことにより、時間的分布を低減するステップ。
・肉眼での観察を可能とする蛍光スクリーンとして。このスクリーンは、コンピュータへの取り込みを可能にするデジタルカメラ(CCDタイプ)に結合されていることが多い。
・シンチレーション検出器として。シンチレータ材料により放出された光(光子)は、光電子増倍管(PM)によって増幅され、その後、光子が計数される。これにより、シンチレータを通過する光子の流れを推定する。生成される光の量と付与されたエネルギーとの間の単純な関係は、シンチレーション現象を引き起こしており、これにより検出された放射線のエネルギーを求めることが可能となる(スペクトロメトリー法またはスペクトロスコピー法)。
Claims (15)
- シンチレータ結晶中の光子管理を最適化する方法であって、
シンチレータ結晶(1)の屈折率にほぼ等しい屈折率「n」を有する材料(5)を前記シンチレータの結晶の一つの面(2)上に堆積するステップと、
構造化手段により、前記材料(5)を構造化するステップと、
前記材料中(5)に回折限界以下の寸法の構造(6)を作り、シンチレータ結晶(1)と前記面(2)上の材料(5)との間の屈折率の適合を可能とし、および/または、前記材料(5)中に回折限界の構造(6)を1次元ブレーズド回折格子の形で作り、前記結晶の側面(20)で反射した光子を前記結晶の前記面(2)に向けて直接戻すことにより、時間的分布を低減するステップと
を含むことを特徴とする方法。 - 前記構造(6)は、光子の波長をλとして、底面が最大でλ/2n、好ましくはλ/4nに等しい直径を有する円錐形または実質的に円錐形である、請求項1に記載の最適化方法。
- 前記円錐の高さを少なくともλに等しくして、円滑な移行を可能とする、請求項2に記載の最適化方法。
- 前記面(2)はシンチレータ結晶(1)の出射面(10)である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の最適化方法。
- 前記面(2)はシンチレータ結晶(1)の側面(20)である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の最適化方法。
- 前記面(2)はシンチレータ結晶(1)の入射面(30)である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の最適化方法。
- 屈折率整合ゲルを構造化された材料(5)に堆積し、前記結晶(1)の屈折率と前記屈折率整合ゲルの屈折率との間の変調を可能にする、請求項1〜6のいずれか1項に記載の最適化方法。
- 前記結晶の屈折率とゲルの屈折率との間の変調の後の最終屈折率を、前記構造化された材料の円錐台の形状を変化させることにより変調する、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
- 前記ブレーズド回折格子のピッチは、光子の波長をλとして、λ/2とλ/2nの間である、請求項1に記載の方法。
- 側面(20)で反射された光子は出射面(10)に向けられる、請求項1に記載の方法。
- 前記シンチレータ結晶(1)の入射面は金属蒸着されている、請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法。
- 前記材料(5)は、予め作られたマスクを転写することにより構造化される、請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
- 前記材料(5)は、ナノインプリントにより構造化される、請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
- 屈折率「n」を有する材料(5)を含むシンチレータ結晶(1)であって、屈折率「n」が前記シンチレータ結晶の屈折率にほぼ等しく、前記材料(5)がシンチレータ結晶(1)の1つの面(2)上に堆積されており、前記材料(5)が構造化されており、前記結晶(1)が請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法により光子管理のために最適化されていることを特徴とするシンチレータ結晶。
- 請求項14に記載のシンチレータ結晶の、粒子検出システムおよび/または医療用画像処理および/または保安システムおよび/または放射線に関する監視目的における使用。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP14305365.0 | 2014-03-13 | ||
EP14305365.0A EP2919037A1 (fr) | 2014-03-13 | 2014-03-13 | Procédé d'optimisation de la collection de photons dans des cristaux scintillateurs, cristal et utilisations associés |
PCT/FR2015/000060 WO2015136165A1 (fr) | 2014-03-13 | 2015-03-13 | Procédé d'optimisation de la collection de photons dans des cristaux scintillateurs, cristal et utilisations associés |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018511028A true JP2018511028A (ja) | 2018-04-19 |
Family
ID=50774797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016574496A Pending JP2018511028A (ja) | 2014-03-13 | 2015-03-13 | シンチレータ結晶内の光子の収集を最適化する方法、結晶、およびその使用 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (2) | EP2919037A1 (ja) |
JP (1) | JP2018511028A (ja) |
WO (1) | WO2015136165A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3057361B1 (fr) | 2016-10-07 | 2018-11-23 | Napa Technologies | Structuration de cristaux scintillants visant a optimiser l'extraction de lumiere, structure quasi periodique et utilisation associee |
FR3075979B1 (fr) | 2017-12-22 | 2020-10-16 | Commissariat Energie Atomique | Scintillateur plastique nanostructure |
FR3118055B1 (fr) | 2020-12-21 | 2024-03-22 | Commissariat Energie Atomique | Scintillateurs plastiques permettant une emission intrinseque amplifiee par effet purcell. |
EP4033271A1 (en) * | 2021-01-26 | 2022-07-27 | Multiwave Metacrystal S.A. | Devices and methods for detecting gamma radiation |
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JP2012154733A (ja) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線画像取得装置 |
JP2013019914A (ja) * | 2012-10-29 | 2013-01-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出器 |
JP2013195295A (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Toshiba Corp | 放射線検出装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7750306B2 (en) * | 2007-09-07 | 2010-07-06 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Reduced edge effect detector |
KR101202777B1 (ko) * | 2011-05-26 | 2012-11-19 | 신동준 | 회절격자를 이용한 디지털 이미지 검출기 및 검출방법 |
US9164181B2 (en) * | 2011-12-30 | 2015-10-20 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Scintillation crystals having features on a side, radiation detection apparatuses including such scintillation crystals, and processes of forming the same |
-
2014
- 2014-03-13 EP EP14305365.0A patent/EP2919037A1/fr not_active Withdrawn
-
2015
- 2015-03-13 WO PCT/FR2015/000060 patent/WO2015136165A1/fr active Application Filing
- 2015-03-13 EP EP15719259.2A patent/EP3117243B1/fr active Active
- 2015-03-13 JP JP2016574496A patent/JP2018511028A/ja active Pending
Patent Citations (6)
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WO2004077098A1 (ja) * | 2003-02-27 | 2004-09-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X線検出器とそれを用いたx線検査装置 |
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WO2010137384A1 (ja) * | 2009-05-29 | 2010-12-02 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線検出装置及びその製造方法 |
JP2012154733A (ja) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線画像取得装置 |
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JP2013019914A (ja) * | 2012-10-29 | 2013-01-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出器 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2919037A1 (fr) | 2015-09-16 |
EP3117243B1 (fr) | 2021-03-03 |
WO2015136165A1 (fr) | 2015-09-17 |
EP3117243A1 (fr) | 2017-01-18 |
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