JP2018205023A - 画像検査装置、画像検査方法、画像検査装置の設定方法、画像検査プログラム、画像装置の設定検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】照明部20から検査対象物に照射された照明光が該検査対象物で反射された反射光を集光する集光光学系12と、集光光学系12にて集光された反射光を受光するためのラインカメラ11とを備える撮像部10と、撮像部10内に設けられ、集光光学系12の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、撮像部10のX軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力可能な撮像傾きセンサ13と、撮像傾きセンサ13から出力された傾きを示す値に基づいて、撮像部10のX軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部50に表示させるための表示制御部33とを備える。
【選択図】図2A
Description
(画像検査システム1000)
(操作部40)
(表示部50)
(画像検査装置100)
(撮像傾きセンサ13)
(演算処理部31)
(警告出力部35)
(表示部50)
(撮像模式図143)
(不安定な面の識別表示機能)
(照明部20)
(デフレクトメトリ)
(深さ輪郭画像)
(形状積み上げ)
(デフレクトメトリ処理の詳細)
(映り込み画像)
(正反射成分)
(正反射角度)
(平均画像)
(拡散反射画像)
好ましくは、三角測距を用いない。また、縮小画像を多段に持つ、階層型方法とする。なお、縮小画像と通常画像との差分を持つ方法とすることもできる。
(デフレクトメトリの画像)
(正反射画像)
(拡散反射画像)
(光沢比画像)
(形状画像)
(深さ輪郭画像)
(ラインカメラを用いた撮像条件を設定する手順)
(光軸調整画面110)
(トリガ設定画面121)
(縦横比調整画面130)
(サブ工程設定欄)
(縦方向伸縮部)
(Y方向伸縮欄131)
(画素分解能算出欄132)
(画素分解能算出部)
(画素分解能算出画面160X、160Y)
(撮像パラメータ調整部)
(撮像パラメータ調整欄133)
(姿勢表示機能)
(カメラ姿勢表示画面140)
(照明姿勢表示画面150)
(カメラ部、照明部の姿勢を画面に表示する手順)
(姿勢変化警告機能)
(警告条件設定欄144)
(カメラ部、照明部の姿勢の表示を画像検査装置の立ち上げに組み込んだ場合の手順)
100、100’…画像検査装置
10…撮像部
11…ラインカメラ
12…集光光学系
13…撮像傾きセンサ
20…照明部
23…照明傾きセンサ
31…演算処理部;31A…光軸調整用画像生成部;31B…画素分解能算出用画像生成部;31C…計測位置指定部;31D…計測部;31E…寸法入力部;31F…画素分解能算出パラメータ設定部;31G…間隔調整部;31H…検査用画像生成部
32…記憶部;32a…傾き値登録部;32b…照明登録部
33…表示制御部
35…警告出力部;35b…照明警告出力部
40…操作部
50…表示部
60…外部制御機器
110…光軸調整画面
111…設定欄
112…画像表示欄
113…タイトル欄
114…説明欄
115…「姿勢の確認」ボタン
116…「明るさのパラメータ調整」ボタン
117…確認欄
118…全画像表示領域
119…左右拡大表示領域
120…情報表示領域
121…トリガ設定画面
122…トリガモード設定欄
123…ラインスキャン間隔設定欄
130…縦横比調整画面
131…Y方向伸縮欄;131a…伸張ボタン;131b…ライン数設定欄
132…画素分解能算出欄;132a…画素分解能算出ボタン;132b…画素分解能演算結果表示欄
133…撮像パラメータ調整欄;133a…縦横比調整実行ボタン;133b…撮像パラメータ調整結果表示欄
134…明るさパラメータ調整部
140…カメラ姿勢表示画面
141…模式姿勢表示欄
142…姿勢情報表示欄
143…撮像模式図
144…警告条件設定画面
145…システム変数割付欄
146…角度許容誤差欄
147…確認タイミング設定欄
150…照明姿勢表示画面
151…模式姿勢表示欄
152…姿勢情報表示欄
153…照明模式図
154…照明光模式図
160X、160Y…画素分解能算出画面
161X…「X方向」タブ;161Y…「Y方向」タブ
162X、162Y…抽出条件設定欄
162a…幅/ピッチ間隔選択欄
162b…編集ボタン
162c…検出方向指定欄
162d…エッジ方向指定欄
162e…エッジ感度指定欄
163X、163Y…補正係数算出欄
163a…実寸指定欄
163b…計測値表示欄
163c…補正係数表示欄
164X、164Y…サイズ選択欄
165…再計算ボタン
166…「OK」ボタン
WK、WK1、WK2、WK3、WKCP…ワーク
WC…ワーク搬送機構
Claims (23)
- 検査対象物の外観検査を行うための画像検査装置であって、
検査対象物に照明光を照射するための照明部と、
前記照明部とは別体に設けられ、
前記照明部から検査対象物に照射された照明光が該検査対象物で反射された反射光を集光する集光光学系と、
複数の撮像素子がライン状に並べて配列され、前記集光光学系にて集光された反射光を受光するためのラインカメラと、
を備える撮像部と、
前記撮像部内に設けられ、前記集光光学系の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ前記撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、前記X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、前記撮像部の前記X軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力可能な撮像傾きセンサと、
前記撮像傾きセンサから出力された傾きを示す値に基づいて、前記撮像部の前記X軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部に表示させるための表示制御部と、
を備える画像検査装置。 - 請求項1に記載の画像検査装置であって、さらに、
前記表示制御部に接続された表示部を備えており、
前記表示部において、前記少なくともいずれか2つの傾きの度合いをリアルタイムに更新して表示可能としてなる画像検査装置。 - 請求項2に記載の画像検査装置であって、
前記表示部において、前記撮像部の外観を模した撮像模式図を所定の基準姿勢で表示させると共に、前記少なくともいずれか2つの傾きに応じた角度分だけ傾斜させた傾斜軸を重ねて表示させるよう構成してなる画像検査装置。 - 請求項3に記載の画像検査装置であって、
前記表示部において、前記撮像模式図に対し、重力方向に沿った鉛直線を重ねて表示させ、前記少なくともいずれか2つの傾きに応じた角度分だけ傾斜させた傾斜軸を重ねて表示させるよう構成してなる画像検査装置。 - 請求項3又は4に記載の画像検査装置であって、
前記表示部において、前記撮像模式図を、YZ平面(X軸)、XZ平面(Y軸)、XY平面(Z軸)で表示させた平面図にてそれぞれ表示させてなる画像検査装置。 - 請求項3〜5のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、
前記表示部において、前記撮像模式図を立体的に表示させてなる画像検査装置。 - 請求項3〜6のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、
前記表示部において、前記撮像模式図に対し、不安定な面を他の部位と区別して表示可能としてなる画像検査装置。 - 請求項7に記載の画像検査装置であって、
前記表示部において、前記不安定な面を、他の部位よりも透過度を高めて表示させてなる、あるいは非表示としてなる画像検査装置。 - 請求項2〜8のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、さらに
前記撮像部の傾きを示す値を登録する傾き値登録部を備えており、
前記表示部は、前記傾き値登録部に登録された傾き値と、前記撮像傾きセンサが出力した現在の撮像部の傾き値とを同時に表示可能に構成してなる画像検査装置。 - 請求項1〜9のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、
前記照明部が、少なくとも一方向に複数の照明素子を配列した照明である画像検査装置。 - 請求項10に記載の画像検査装置であって、さらに
照明光の光軸と平行な方向をZ軸、
Z軸と直交し、且つ照明素子の配列方向と平行な方向をX軸、
前記X軸およびZ軸と直交する方向をY軸
とし、前記照明部の、前記X軸、Y軸およびZ軸の水平方向または重力方向に対する傾きを示す値を出力可能な照明傾きセンサを備える画像検査装置。 - 請求項11のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、
前記表示部は、前記照明部を模した照明模式図を、X軸、Y軸、Z軸の傾きの度合いを示す模式図を表示するよう構成してなる画像検査装置。 - 請求項12に記載の画像検査装置であって、
前記表示部は、前記照明模式図の内、照明光を発する発光面を他の面と区別して表示するよう構成してなる画像検査装置。 - 請求項12又は13に記載の画像検査装置であって、
前記表示部は、前記照明模式図に、前記照明部が発する照明光を付加して表示させてなる画像検査装置。 - 検査対象物の外観検査を行うための画像検査装置であって、
検査対象物に照明光を照射するための照明部と、
照明部とは別体に設けられ、
照明部から検査対象物に照射された照明光が該検査対象物で反射された反射光を集光する集光光学系と、
複数の撮像素子を二次元状に並べて配列され、集光光学系にて集光された反射光を受光するためのエリアカメラと、
を備える撮像部と、
撮像部内に設けられ、集光光学系の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、撮像部のX軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力可能な撮像傾きセンサと、
撮像傾きセンサから出力された傾きを示す値に基づいて、撮像部のX軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部に表示させるための表示制御部と、
を備える画像検査装置。 - 請求項1〜15のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、
前記撮像傾きセンサが、重力加速度センサを含む画像検査装置。 - 請求項1〜16のいずれか一項に記載の画像検査装置であって、
前記撮像部は、検査対象物の正反射光を受光する位置に配置され、デフレクトメトリの原理を利用して検査対象物の形状画像を生成するよう構成してなる画像検査装置。 - 検査対象物の外観検査を行うための画像検査方法であって、
撮像部内に設けられた撮像傾きセンサで、前記集光光学系の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ前記撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、前記X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、前記撮像部の前記X軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力させる工程と、
前記撮像傾きセンサから出力された傾きを示す値に基づいて、前記撮像部の前記X軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部に表示させる工程と、
検査対象物に照明部から照明光を照射し、前記照明部とは別体に設けられた集光光学系で、前記照明部から検査対象物に照射された照明光が該検査対象物で反射された反射光を集光し、複数の撮像素子がライン状に並べて配列されたラインカメラで、前記集光光学系にて集光された反射光を受光する工程と、
を含む画像検査方法。 - 検査対象物の外観検査を行うための画像検査装置の設定方法であって、
撮像部内に設けられた撮像傾きセンサで、前記集光光学系の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ前記撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、前記X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、前記撮像部の前記X軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力させる工程と、
前記撮像傾きセンサから出力された傾きを示す値に基づいて、前記撮像部の前記X軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部に表示させる工程と、
を含む画像検査装置の設定方法。 - 検査対象物の外観検査を行うための画像検査プログラムであって、
撮像部内に設けられた撮像傾きセンサで、前記集光光学系の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ前記撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、前記X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、前記撮像部の前記X軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力させる機能と、
前記撮像傾きセンサから出力された傾きを示す値に基づいて、前記撮像部の前記X軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部に表示させる機能と、
検査対象物に照明部から照明光を照射し、前記照明部とは別体に設けられた集光光学系で、前記照明部から検査対象物に照射された照明光が該検査対象物で反射された反射光を集光し、複数の撮像素子がライン状に並べて配列されたラインカメラで、前記集光光学系にて集光された反射光を受光する機能と
をコンピュータに実現させるための画像検査プログラム。 - 請求項20に記載の画像検査プログラムであって、さらに、
前記撮像部による検査対象物の撮像条件を、撮像条件を構成するパラメータ毎に設定するようユーザに促すガイダンス機能をコンピュータに実現させるための画像検査プログラム。 - 検査対象物の外観検査を行うための画像検査装置の設定検査プログラムであって、
撮像部内に設けられた撮像傾きセンサで、前記集光光学系の光軸と平行な方向をZ軸、該Z軸と直交し、且つ前記撮像素子の並び方向と平行な方向をX軸、前記X軸およびZ軸と直交する方向をY軸とし、前記撮像部の前記X軸、Y軸およびZ軸の水平方向又は重力方向に対する傾きを示す値を出力させる機能と、
前記撮像傾きセンサから出力された傾きを示す値に基づいて、前記撮像部の前記X軸、Y軸、Z軸の傾きの内、少なくともいずれか2つの傾きの度合いを示す図又は値を表示部に表示させる機能と、
をコンピュータに実現させるための画像装置の設定検査プログラム。 - 請求項22に記載のプログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体または記憶した機器。
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JP2018205023A true JP2018205023A (ja) | 2018-12-27 |
JP6961394B2 JP6961394B2 (ja) | 2021-11-05 |
Family
ID=64279512
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2017108093A Active JP6961394B2 (ja) | 2017-05-31 | 2017-05-31 | 画像検査装置、画像検査方法、画像検査装置の設定方法、画像検査プログラム、画像装置の設定検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
Country Status (3)
Country | Link |
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US (1) | US10560634B2 (ja) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180352163A1 (en) | 2018-12-06 |
DE102018208449A1 (de) | 2018-12-06 |
US10560634B2 (en) | 2020-02-11 |
JP6961394B2 (ja) | 2021-11-05 |
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