JP2018171348A

JP2018171348A - Ｏｃｔ装置

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Publication number: JP2018171348A
Application number: JP2017072616A
Authority: JP
Inventors: 佳史村田; Keishi Murata; 健治青木; Kenji Aoki
Original assignee: Nidek Co Ltd
Current assignee: Nidek Co Ltd
Priority date: 2017-03-31
Filing date: 2017-03-31
Publication date: 2018-11-08
Anticipated expiration: 2037-03-31
Also published as: JP6988133B2

Abstract

【課題】少なくとも参照光学系をコンパクトに構成しやすいＯＣＴ装置を提供する。【解決手段】光分割器１３０を有し、測定光と参照光とのスペクトル干渉信号を検出するＯＣＴ光学系１００を備え、ＯＣＴ光学系１００から出力されるスペクトル干渉信号を処理して被検眼のＯＣＴデータを取得可能なＯＣＴ装置であって、光分割器１３０からの測定光を偏向し、被検眼Ｅの組織上で走査する光スキャナ１５６と、光スキャナ１５６からの測定光を被検眼Ｅへ導く対物光学系１５８と、対物光学系１５８の焦点と光スキャナ１５６との相対位置を光軸方向に関して切替える第１切替部と、測定光路における光分割部１３０と光スキャナ１５６との間の光路長を切替えることで、第１切替部によって相対位置が切替えられることによる測定光路と参照光路との光路長差の変化の少なくとも一部を相殺する、第２切替部と、を備える。【選択図】図１

Description

本開示は、被検物（例えば、眼）のＯＣＴデータを得るＯＣＴ装置に関する。

被検物のＯＣＴデータを得るＯＣＴ装置として、例えば、ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理してＯＣＴデータを取得可能な装置が知られており、近年では、広範囲の断層画像を得るための構成が開示されている。例えば、前眼部と眼底の両方を撮像可能なＯＣＴ装置が提案されている。

例えば、特許文献１の装置では、測定光路上の部材を駆動し、光スキャナの光学的な位置を、対物光学系の焦点位置と、瞳共役位置と、に切替えることで、前眼部と眼底とのＯＣＴデータを、それぞれ得る。

特開２０１６−２０９５７７号公報

しかしながら、特許文献１の装置の場合、光スキャナの光学的な位置が切替えられることによって、測定光路と参照光路との光路長差が大きく変化してしまうことが考えられる。その場合、光スキャナの光学的な位置が切替えられる度に、参照光学系の光路長を変更し、光路長差を調整する必要があった。このように、測定光路の動作に伴う光路長差の変化を、参照光学系側のみで吸収させようとすると、参照光学系において、光路長の調整マージンを大きく確保する必要があり、結果として、装置が大型化しやすかった。

本開示は、従来技術の少なくとも一つの問題点を解決できるＯＣＴ装置であって、少なくとも参照光学系を小型化させやすいＯＣＴ装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。本開示の第１態様に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための光分割器を有し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を備え、前記ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理して被検眼のＯＣＴデータを取得可能なＯＣＴ装置であって、前記光分割器からの前記測定光を偏向し、被検眼の組織上で走査する光スキャナと、前記光スキャナからの測定光を被検眼へ導く対物光学系と、前記対物光学系の焦点と前記光スキャナとの相対位置を光軸方向に関して切替える第１切替手段と、前記測定光路における前記光分割部と前記光スキャナとの間の光路長を切替えることで、前記第１切替手段によって前記相対位置が切替えられることによる前記測定光路と前記参照光路との光路長差の変化の少なくとも一部を相殺する、２切替手段と、を備える。

本開示の第２態様に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための光分割器を有し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を備え、前記ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理して被検眼のＯＣＴデータを取得可能なＯＣＴ装置であって、前記光分割器からの前記測定光を偏向し、被検眼の組織上で走査する光スキャナと、前記光スキャナからの測定光を被検眼へ導く対物光学系であって、アタッチメント光学系の着脱に基づいて、前記ＯＣＴデータが取得される深さ領域、前記測定光の走査範囲、および、ＯＣＴデータの分解能のうち少なくとも一方が変更される対物光学系と、前記測定光路における前記光分割部と前記光スキャナとの間の光路長を切替えることで、前記アタッチメント光学系の着脱に伴う前記測定光路と前記参照光路との光路長差の変化の少なくとも一部を相殺する、切換手段と、
を備える。

本開示によれば、従来技術の少なくとも一つの問題点を解決し、少なくとも参照光学系を小型化させやすい。

本開示の実施形態の一例について図面に基づいて説明する。図１〜図１９は本実施形態の実施例に係る図である。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立又は関連して利用されうる。

本実施形態に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光学系を備え、ＯＣＴ光学系の検出器から出力されるスペクトル干渉信号を処理してＯＣＴデータを取得可能であってもよい。この場合、ＯＣＴ光学系は、例えば、フーリエドメインＯＣＴ光学系（ＳＳ−ＯＣＴ光学系、ＳＤ−ＯＣＴ光学系）であってもよく、ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための光分割器を有し、測定光路を介して被検物に導かれた測定光と参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出してもよい。

＜複数検出器、ＦＰＮ光学系＞
ＯＣＴ光学系は、複数の参照光路を備えてもよく、例えば、第１の参照光路と第１の参照光路とは異なる第２の参照光路を備えてもよい。この場合、例えば、ＯＣＴ光学系は、第１の参照光路からの参照光と測定光との第１の干渉信号を検出するための第１の検出器と、第１の検出器とは異なる第２の検出器であって、第２の参照光路からの参照光と測定光との第２の干渉信号を検出するための第２の検出器と、を備えてもよい。

＜ＦＰＮ光学系＞
ＯＣＴ光学系は、ＦＰＮ信号を生成するためのＦＰＮ生成光学系を設けられてもよく、例えば、ＦＰＮ生成光学系は、ＦＰＮを発生させる光学部材を少なくとも一つ備えてもよい。ＦＰＮ生成光学系は、測定光路に配置されてもよいし、参照光路に配置されてもよい。なお、ＦＰＮは、Fixed Pattern Noiseであり、例えば、ＯＣＴデータ上において固定的なノイズ信号として発生される。

第１の検出器と第２の検出器の少なくとも一つは、ＦＰＮ信号を検出可能であり、ＦＰＮ信号を用いてＯＣＴデータを補正できる（例えば、画像合成、マッピング状態の補正等）。ＦＰＮ信号が用いられることで、良好なＯＣＴデータが得られる。この場合、第１の検出器と第２の検出器の両方が、ＦＰＮ信号を検出可能であってもよく、これにより、ＦＰＮ信号を用いた処理をより高精度に行うことができる。

＜第２の光分割器＞
ＯＣＴ光学系は、第２の光分割器を備えてもよく、例えば、第２の光分割器は、測定光路を、被検物に向かう光路とＦＰＮ生成光学系の光路に分割するために設けられてもよい。例えば、第２の光分割器は、さらに、被検物からの光とＦＰＮ生成光学系からの光を、第１の検出器に向かう光路と、第１の光分割器を介して第２の検出器に向かう光路とに分割してもよい。

ここで、ＯＣＴ光学系が、被検物からの反射光を第１の光分割器を介さず第２の光分割器を介して第１の検出器に導く第１の光路と、被検物からの反射光を第２の光分割器及び第１分割器を介して第２の検出器に導く第２の光路とを備えることによって、被検物からの反射光を効率よく複数の検出器に導くことができる。

なお、ＯＣＴ光学系としては、上記構成に限定されず、被検物からの反射光を第１の光分割器を介さず第２の光分割器を介して第１の検出器と第２の検出器に導く光路を備える構成であってもよく、この場合、ＯＣＴ光学系は、第２の光分割器よりも検出器側において、被検物からの反射光を、第１の検出器に向かう光路と、第２の検出器に向かう光路とに分割する第３の光分割器を備えてもよい。

＜光量分割比＞
前述の第２の光分割器による被検物からの反射光の光量分割比に関して、光量分割比が、第１の検出器に向かう光路＜第１の光分割器を介して第２の検出器に向かう光路となるように設定されてもよい。これによって、第１の検出器にて検出される第１の干渉信号と、第２の検出器にて検出される第２の干渉信号とを、適度なバランスにて検出できる。

また、第２の光分割器の光量分割比に関して、光量分割比が、光源に向かう光路＜第２検出器に向かう光路となるように設定されてもよい。これによって、被検物からの反射光を効率よく第２の検出器に導くことができる。

なお、第１の光分割器及び第２の光分割器の光量分割比に関して、結果として、第１の検出器に向かう光路と第２の検出器に向かう光路との光量比が同一となるように互いに設定されてもよい。これによって、第１の干渉信号と第２の干渉信号の強度を均一化できるので、結果として、各干渉信号に基づく良好なＯＣＴデータを取得できる。

また、第１の光分割器及び第２の光分割器の光量分割比に関して、第１の検出器と第２の検出器によって検出されるＯＣＴデータの撮影部位での反射光量の違いを考慮して、光量分割比が設定されてもよい。

＜ＦＰＮを用いた画像合成＞
ＯＣＴ装置は、例えば、ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理して被検物のＯＣＴデータを取得するための演算処理部（例えば、プロセッサ）を備えてもよい。この場合、演算処理部は、例えば、第１の干渉信号に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の干渉信号に基づく第２のＯＣＴデータとを、第１の検出器によって検出されたＦＰＮと第２の検出器によって検出されたＦＰＮとに基づいて合成することによって合成ＯＣＴデータを得てもよい。これによって、複数のＯＣＴデータを精度よく合成できる。合成によって、一つのＯＣＴデータでは足りない領域が補われる。

この場合、演算処理部は、ＦＰＮ発生用の光学部材によって生成されたＦＰＮを、ＯＣＴデータの合成に利用することによって、二つのＯＣＴデータの相対的な位置情報を得て、データの合成を正確に行うことができる。例えば、演算処理部は、ＦＰＮ発生用の光学部材の表面反射によって生成されたＦＰＮを、ＯＣＴデータの合成に利用してもよく、この結果として、ＦＰＮの信号強度（ＳＮＲ）の低下等を軽減できる。もちろん、演算処理部は、裏面反射や、コーティング等が施された面によって生成されたＦＰＮを用いてＯＣＴデータを合成してもよく、この場合、信号強度が減衰しているが、データ合成として一定の効果は得られる。

上記構成において、例えば、ＦＰＮ生成光学系は、第１のＦＰＮを発生させる第１の光学部材と、第１のＦＰＮとは異なる位置に第２のＦＰＮを発生させる第２の光学部材と、を少なくとも備え、少なくとも２つのＦＰＮ信号を生成するためのＦＰＮ生成光学系であってもよい。

この場合、演算処理部は、例えば、第１の干渉信号に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の干渉信号に基づく第２のＯＣＴデータとを、第１の検出器によって検出された第１の光学部材によるＦＰＮと第２の検出器によって検出された第２の光学部材によるＦＰＮとに基づいて合成することによって合成ＯＣＴデータを得てもよい。これによれば、例えば、深さ方向の撮像レンジを広くできる。この場合、例えば、第１の光学部材によるＦＰＮと第２の光学部材によるＦＰＮとの離間に基づいて、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとが位置合わせされてもよい。
例えば、二つのＯＣＴ系で共通の部分のある範囲を撮影する場合は、異なるデータ間の重複領域を少なくすることが出来る。更に、二つの撮影領域の間には不連続な領域があってもよい。前眼部の撮影時に、第１のＯＣＴデータは角膜前面から水晶体前面までを含み、第２のＯＣＴデータは水晶体後面のみといった構成であってもよい。このような構成は、二つのＯＣＴ系で検出器を変えて、深さレンジが異なるような場合に特に有用である。

なお、ＦＰＮ生成光学系は、光路分割部材を備えてもよく、第１の光学部材は、光路分割部材によって分割された第１の光路に配置され、第２の光学部材は、光路分割部材によって分割された第２の光路に配置されてもよい。二つのＦＰＮ信号を用いる場合、感度が低い信号は精度を下げてしまうので、それぞれの信号強度は同程度に高いことが好ましく、これによって、各光学部材からの光を独立に制御することが可能となる。この場合、例えば、第１の光路と第２の光路は、互いに異なる光路長を持つと共に、第１の光路の分散量と、第２の光路の分散量とが等しくてもよい。これによって、各ＦＰＮ信号における分散の影響を均一化でき、各ＦＰＮ信号を均一よく検出でき、画像合成を精度よく行うことができる。また、前記の光路長差は、第１または第２のＯＣＴデータの取得レンジに両方が収まる程度に小さければいっそう良い。両方が取得レンジ内に収まるようなＯＣＴデータを取得し、これを解析することで、任意のタイミングで二つのＦＰＮの離間をキャリブレーションすることが出来る。例えばＦＰＮの位置そのものは、装置の使用環境（温度など）によって変動してしまう上、ＦＰＮの離間も光源の経年劣化に伴う波長ズレ等の影響によって、変動してしまうことが考えうる。しかし、本実施形態に係る合成に際してはＦＰＮ同士の離間情報を用い、またそれを任意のタイミングで測定・キャリブレーションを行うことで、像を長く安定に合成するよう保つことが出来る。

なお、第１の光路と第２の光路は、少なくとも片方のOCTチャンネルのDepth-rangeに収まる範囲で互いに異なる光路長を持つと共に、第１の光路の分散量と、前記第２の光路の分散量とが等しくてもよい。これによって、片方のＯＣＴチャネルで精度よくキャリブレーションを行うことができる。

なお、上記説明においては、少なくとも２つのＦＰＮ信号を生成するためのＦＰＮ生成光学系を用いたデータ合成を示したが、これに限定されず、例えば、演算処理部は、互いに共通する一つの光学部材によるＦＰＮ信号を用いて、異なるＯＣＴデータを生成してもよい。この場合、ＦＰＮ生成光学系の構成を簡略化できる。

＜波数マッピング補正＞
演算処理部は、ＦＰＮ信号を、ＯＣＴデータの合成と、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報の取得とで、兼用してもよい。これによって、波数マッピングの補正情報を精度よく取得でき、合成ＯＣＴデータを好適に取得できる。

この場合、例えば、演算処理部は、第１の検出器及び第２の検出器によって検出されたＦＰＮ信号を処理し、ＦＰＮ信号に基づく各波数成分のマッピング情報に基づいて、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を得ると共に、第１の干渉信号に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の干渉信号に基づく第２のＯＣＴデータとを補正情報を用いて取得してもよい。さらに、演算処理部は、第１の検出器によって検出されたＦＰＮと第２の検出器によって検出されたＦＰＮとに基づいて合成してもよい。

＜偏波調整機構＞
ＯＣＴ光学系の光路には、例えば、偏光調整部（ポラライザ）が設けられてもよく、偏光調整部は、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光状態を調整するために設けられてもよい。偏光調整部は、測定光の光路と参照光の光路の少なくともいずれかに配置されてもよい。なお、偏光調整部は、測定光の光路と参照光の光路が分岐される後の光路に配置され、測定光と参照光の偏光状態を一致させるために用いられてもよい。

例えば、偏光調整部は、光路中の光ファイバーを回転させたり圧力を加えて、偏光方向を調整してもよい。また、偏光調整部は、１／２波長板又は１／４波長板を用いて偏光方向を調整してもよい。また、偏光調整部は、１／２波長板又は１／４波長板と同様の効果を持つプリズム（例えば、フレネルロム）等を組み合わせて実現してもよい。なお、偏光調整部は、少なくとも、Ｓ偏光の直線偏光、Ｐ偏光の直線偏光、円偏光との間で偏光方向を調整可能な構成であってもよい。

偏光調整部は、例えば、第１の参照光路と第２の参照光路の少なくともいずれかに配置され、参照光の偏光状態を調整してもよい。この場合、例えば、複数の偏光調整部が設けられてもよく、第１例として、偏光調整部は、第１の参照光路と第２の参照光路にそれぞれ配置され、第１の参照光路を通過する参照光の偏光状態と、第２の参照光路を通過する参照光の偏光状態とを、それぞれ調整してもよい。また、第２例として、偏光調整部は、第１の参照光路と第２の参照光路のいずれか一方と、測定光路とに配置され、第１の参照光路と第２の参照光路のいずれか一方を通過する参照光の偏光状態と、測定光路を通過する測定光の偏光状態とを、それぞれ調整してもよい。このように偏光調整部が複数設けられることによって、例えば、第１の検出器に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の検出器に基づく第２に基づく第２のＯＣＴデータと、をそれぞれ適正に検出可能となる。

ＯＣＴ装置において、偏光調整部を制御する偏光制御部が設けられてもよく、例えば、制御部は、複数の偏光調整部を制御し、第１の検出器に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の検出器に基づく第２に基づく第２のＯＣＴデータとがそれぞれ、所定の許容条件を満たすように偏光状態を調整してもよい。この場合、所定の許容条件としては、例えば、ＯＣＴデータが所定の信号強度に達した状態、又は、ＯＣＴデータの信号強度がピーク付近に達した状態であってもよい。この場合、第１のＯＣＴデータに基づいて偏光状態を調整すると共に、第２のＯＣＴに基づいて偏光状態を調整することで、各ＯＣＴデータを良好な状態で取得できる。この場合、例えば、偏光状態が変更される毎に、信号強度を評価するための評価値が算出され、評価値に基づいて偏光状態が調整されてもよい。

また、例えば、偏光制御部は、偏光調整部を制御し、第１の検出器によって検出されたＦＰＮと第２の検出器によって検出されたＦＰＮとの間の信号強度比が所定の許容条件を満たすように偏光状態を調整してもよい。この場合、所定の許容条件としては、例えば、信号強度比が所定の信号強度比に達した状態、又は、信号強度の差異が最も小さい状態であってもよい。この場合、例えば、偏光状態が変更される毎に、信号強度を評価するための評価値が算出され、評価値に基づいて偏光状態が調整されてもよい。また、第１または第２のＯＣＴデータでＦＰＮ信号の分散が等しい場合は、信号の広がり（ＰＳＦ）の類似度によって評価するのでも良い。例えば、各ＦＰＮは光源の分布によって特有のサイドローブを持つが、ピーク高さが一致するように係数倍を行ったときに、両者の相関（重なり具合）がどれだけかによって、偏光の一致度合いを判断するのでもよい。

なお、偏光調整部は、例えば、ＦＰＮ生成光学系の光路に配置され、ＦＰＮ生成光学系を通過する光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。この場合、例えば、偏光制御部は、偏光調整部を制御し、二つのＯＣＴ系のうちのいずれかで取得される、ＦＰＮ信号の信号強度を調整してもよい。これによって、ＦＰＮ信号を適正な信号強度にて取得できるので、ＦＰＮ信号を用いた各種処理を適正に行うことができる。その後更に他方のＯＣＴ系がもう一つの偏光調整部材を持つ場合は、これを制御して同ＦＰＮが所定の強度比またはＰＳＦ特性に従い、偏光調整を行ってもよい。

＜測定光路の制御による深さ領域の変更＞
ＯＣＴ装置は、光分割器と被検物との間の測定光路上に、光スキャナ、および、対物光学系、を有し、更に、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置を、光軸方向に関して変更可能であってもよい。相対位置の変更は、被検物が眼である場合に、ＯＣＴデータが取得される深さ領域を切替えるうえで、有用である。対物光学系は、測定光路上であって、光スキャナと被検物との間に配置される。対物光学系は、正のパワーを持ち、光スキャナからの測定光を、光軸側へ屈折させる。対物光学系は、光スキャナにおける測定光の旋回位置と共役な位置に、測定光の旋回点を形成する。

＜第１切替手段＞
ＯＣＴ装置は、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置を、光軸方向に関して変更する第１切替手段を有していてもよい。

第１切替手段としては、種々の構成が考えられる。例えば、第1切替手段は、光スキャナ、または、光スキャナと被検物との間に配置される光学部材、の位置を、装置内部で切替える（換言すれば、離散的に変位させる）切替機構を含んでいてもよい。また、対物光学系におけるパワーを変更し、その結果として焦点位置を変更してもよい。例えば、液晶レンズ等の可変焦点レンズが、第１切替手段の中に含まれていてもよい。

更に、切替機構の駆動部（アクチュエータ）を制御する、ＯＣＴ装置の制御部（プロセッサ）が、第１切替手段として含まれていてもよい。切替機構が駆動することによって、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置が切り替えられてもよい。

第１切替手段によって、対物レンズの焦点位置と光スキャナとの相対位置が変更された結果として、対物光学系によって形成される旋回点の位置が変更される。第１切替手段による相対位置の切替は、被検物が眼である場合において、ＯＣＴデータが取得される深さ領域を切替るために行われてもよい。眼底のＯＣＴデータを取得する場合、前眼部（より好ましくは、瞳位置）に旋回点が形成されるように、相対位置が設定されてもよい。これにより、虹彩によってケラレることなく、測定光が眼底まで到達しやすくなる。一方、前眼部に旋回点があると、前眼部においてＯＣＴデータが得られる範囲が、旋回点の近傍に限定されてしまう。そこで、前眼部においてＯＣＴデータを取得する場合、前眼部から離れた位置に旋回点が形成されるように、相対位置が切替えられてもよい。このように、第１切替手段は、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置を、前眼部の深さ領域と対応する第１位置と、眼底の深さ領域と対応する第２位置と、の間で切替えてもよい。例えば、第１位置と、第２位置と、は測定光路上における離散的な位置であって、制御部が切替機構を駆動することで、相対位置は、第１位置と第２位置とのいずれかに設定されてもよい。なお、ここでいう、第１位置は、光スキャナが焦点と一致される相対位置であってもよい。また、第２位置は、光スキャナが焦点に対して対物光学系の遠位側に配置される相対位置であってもよい。

＜第２切替手段＞
第１切替手段によって対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置が切替えられることにより、相対位置の切替の前後で、測定光路と参照光路と間に、光路長差が生じてしまうことが考えられる。これに対し、ＯＣＴ装置は、測定光路における光分割部と光スキャナとの間の光路長を切替える第２切替手段を有していてもよい。第1切替手段による相対位置の変更の前後での光路長差の変化の少なくとも一部が、第２切替手段によって相殺されてもよい。

第２切替手段は、光スキャナと光分割部との間の光路長を切替える（離散的に変化させる）ものであればよく、種々の構成が考えられる。

また、例えば、第２切替手段には、光分割部と光スキャナとの間において、１又は複数の光学部材（第２光学部材）を挿脱する切替機構が含まれ、第２光学部材の挿脱によって、光分割部と光スキャナとの間の光路長を切替えてもよい。

また、第２切替手段は、光スキャナ、光分割部、および、その両者の間に配置され測定光路を形成する光学部材、のうちいずれかを位置を、装置内部で移動させる切替機構が含まれ、該切替機構によって、光分割部と光スキャナとの間の光路長が切替えられてもよい。

なお、第２切替手段は、測定光路上において測定光がコリメートされる範囲において、光路長を切替えてもよい。

更に、上記の切替機構を駆動制御する制御部が、第２切替手段として含まれていてもよい。切替機構は、第１切替手段と第２切替手段との間で共用されてもよいし、それぞれ設けられていてもよい。切替機構の駆動部（アクチュエータ）を制御する、ＯＣＴ装置の制御部（プロセッサ）が、第２切替手段として含まれていてもよい。

ここで、第１切替手段の動作に伴い、被写体（ＯＣＴデータの取得対象となる深さ領域）が、前眼部と、眼底と、の間で切換えられる。このため、眼軸長相当量の光路長差を、考慮する必要がある。そこで、光路長差の変化が相殺された結果として、ある程度の光路長差の変化が、第１切替手段による相対位置の変更の前後において許容されてもよい。例えば、被検眼のＯＣＴデータを得る場合、相対位置が前眼部の深さ領域と対応する第１位置と、眼底の深さ領域と対応する第２位置と、の間で変位される場合に、第２切替手段によって光路長差の変化が軽減された結果として、眼軸長に相当する光路長差の変化が許容されてもよい。眼軸長に相当する光路長差の変化があることで、前眼部の深さ領域と対応する第１位置と、眼底の深さ領域と対応する第２位置と、の間で、相対位置を切替えた後での参照光学系の調整を省略、或いは、簡略化できる。結果、参照光学系をコンパクトに構成しやすく、装置をコンパクト化しやすくなる。なお、このとき、第１切替手段における光路長差の変化量ΔＬ１と、第２切替手段における光路長差の変化量ΔＬ２とは、次の式（１）の範囲であることが好ましい。
３０mm≦｜ΔＬ１+ΔＬ２｜≦５０mｍ・・・（１）
但し、ΔＬ１，ΔＬ２は、符号付きの空気換算長である。また、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置が第１位置（前眼部の深さ領域に対応）から第２位置（眼底の深さ領域に対応）へ切替えられる場合におけるΔＬ１+ΔＬ２は、負の値となり、第２位置から第１位置へ切替えられる場合におけるΔＬ１+ΔＬ２は、符号が正の値となっていることが、相対位置を切替えた後での参照光学系の調整を省略、或いは、簡略化するうえで好ましい。

第１切替手段が旋回点の位置を移動させるための駆動部（アクチュエータ）が設けられている場合において、第２切替手段において上記のような光学部材を駆動するための駆動部は、第１切替手段の駆動部と別体であってもよいし、第１切替手段の駆動部と共用されていてもよい。駆動部は、ＯＣＴ装置の制御部（プロセッサ）によって制御される。

第１切替手段と第２切替手段とにおいて、駆動部が別体である場合、制御部は、第１切替手段における駆動部の制御と連動して、第２駆動部における駆動部を制御することにより、第１切替手段と第２切替手段とのそれぞれによる光路長変化を相殺させてもよい。

また、第１切替手段と第２切替手段とにおいて、駆動部が共用される場合、第１切替手段と第２切替手段とを、それぞれによる光路長差の変化を相殺させるように連動させる機構が、更に、ＯＣＴ装置に設けられていてもよい。例えば、第１切替手段における光学部材と、第２切替手段における光学部材とが、１つのステージ上に配置されており、そのステージを１つの駆動部で駆動させることによって、第１切替手段と第２切替手段とが連動されてもよい。勿論、第１切替手段と第２切替手段をと連動させる機構は、ステージに限られるものではない。第１切替手段と第２切替手段との駆動部が共用されることによって、装置をコンパクト化しやすくなるうえ、部品点数を抑制しやすくなる。

＜アタッチメントの着脱＞
また、ＯＣＴ装置の対物光学系は、アタッチメント光学系の着脱に基づいて、ＯＣＴデータが取得される深さ領域、および、測定光の走査範囲、のうち少なくとも一方が変更されてもよい。アタッチメント光学系は、レンズ、ミラー、またはその両者を含むものであってもよい。アタッチメント光学系は、例えば、対物光学系に対して、被検眼側の位置で、挿脱（着脱）されてもよい。

ＯＣＴ装置は、アタッチメント光学系が着脱されることにより、被検眼における撮影部位までの測定光路の光路長が変更される。多くの場合において、アタッチメント光学系が装着されることによって、その分、撮影部位までの光路長が増加すると考えられる。このとき、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置が変更される場合もあり得る。

アタッチメント光学系が着脱されることにより、対物光学系の焦点と光スキャナとの相対位置が変更される場合、アタッチメント光学系およびその着脱部は、上記の第１切替手段の１種として利用されてもよい。対物光学系におけるパワー（屈折力）が、アタッチメント光学系の着脱に基づいて切替えられ、その結果、焦点の位置が移動されてもよい。この場合、例えば、アタッチメント光学系は、装着されることで、対物光学系の一部として機能し、対物光学系におけるパワーを補正してもよい。

また、アタッチメント光学系は、必ずしも対物光学系のパワーを変更するものである必要はない。例えば、アフォーカルなアタッチメント光学系によって、ＯＣＴ装置における画角（換言すれば、測定光の走査範囲），および，分解能等が変更されてもよい。

アタッチメント光学系の着脱によって、対物光学系における焦点の位置が変更される場合、ＯＣＴ装置には、アタッチメント光学系の着脱を検出する検出器（センサ）が設けられていてもよい。

制御部は、検出器からの検出信号に基づいて、切替手段（第１切替手段，第２切替手段）を駆動し、アタッチメントの着脱に伴う光路長差の変化を、少なくとも一部相殺してもよい。つまり、アタッチメント光学系が取付けられる場合は、切替手段は、測定光路の光路長を減じる方向に光路長を調整する。アタッチメント光学系が取り外される場合は、切替手段は、測定光路の光路長を増加させる方向に光路長を調整する。アタッチメント着脱の前後における光路長差の変化が抑制されることで、着脱後、スムーズに、所望の撮影部位のＯＣＴデータを取得できる。

なお、アタッチメントの着脱によって、前眼部撮影モードと、眼底撮影モードと、に切替る場合に、そのアタッチメントの着脱によって生じる光路長差が切替手段によって補正された結果として、眼軸長相当量の光路長差が生じるように、切替手段は駆動されてもよい。

＜実施例＞
本実施例では、ＯＣＴ装置として、図１に示される光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）装置が用いられる。本実施例に係るＯＣＴ装置は、例えば、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept Source-OCT）を基本的構成とし、波長可変光源１０２、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００、演算制御器（演算制御部）７０と、を含む。その他、ＯＣＴ装置には、メモリ７２、表示部７５、図示無き正面像観察系及び固視標投影系が設けられてもよい。演算制御器（以下、制御部）７０は、波長可変光源１０２、干渉光学系１００、メモリ７２、表示部７５に接続されている。

干渉光学系１００は、導光光学系１５０によって測定光を眼Ｅに導く。干渉光学系１００は、参照光学系１１０に参照光を導く。干渉光学系１００は、眼Ｅによって反射された測定光と参照光との干渉、によって取得される干渉信号光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。さらに、本実施例の干渉光学系１００は、ＦＰＮ生成光学系２００を備える（詳しくは後述する）。なお、干渉光学系１００は、図示無き筐体（装置本体）内に搭載され、ジョイスティック等の操作部材を介して周知のアライメント移動機構により眼Ｅに対して筐体を３次元的に移動させることによって被検眼に対するアライメントが行われてもよい。

干渉光学系１００には、ＳＳ−ＯＣＴ方式が用いられ、光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）が用いられる。光源１０２は、例えば、レーザ媒体、共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタが挙げられる。また、光源１０２として、ＶＣＳＥＬ式波長可変光源が用いられてもよい。

カップラ（スプリッタ）１０４は、第１の光分割器として用いられ、光源１０２から出射された光を測定光路と参照光路に分割する。カップラー１０４は、例えば、光源１０２からの光を測定光路側の光ファイバー１０５に導光すると共に、参照光路側の参照光学系１１０に導光する。

カップラ（スプリッタ）１３０は、第２の光分割器として用いられ、光ファイバー１０５からの光（測定光）を、導光光学系１５０の光路とＦＰＮ生成光学系２００の光路に分割する。つまり、測定光路には、導光光学系１５０とＦＰＮ生成光学系２００が設けられている。カップラ（スプリッタ）１３０は、ビームスプリッタであってもよいし、サーキュレータであってもよい。

＜導光光学系＞
導光光学系１５０は、測定光を眼Ｅに導くために設けられる。導光光学系１５０には、例えば、光ファイバー１５２、カップラー１５３、コリメータレンズ１５４、光スキャナ１５６、及び対物レンズ系１５８が順次設けられてもよい。この場合、測定光は、光ファイバー１５２、カップラー１５３を介して、コリメータレンズ１５４によって平行ビームとなり、光スキャナ１５６に向かう。光スキャナ１５６を通過した光は、対物レンズ系１５８を介して、眼Ｅに照射される。測定光は、前眼部及び後眼部の両方に照射され、各組織にて散乱・反射される。

光スキャナ１５６は、眼Ｅ上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させてもよい。光スキャナ１５６は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構によって任意に調整される。光源１０２から出射された光束は、その反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。光スキャナ１５６としては、例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられてもよい。

この場合、測定光による眼Ｅからの散乱光（反射光）は、対物レンズ系１５８、光スキャナ１５６、コリメータレンズ１５４、カップラー１５３、光ファイバー１５２を経た後、カップラ―１３０に達する。カップラ１３０は、光ファイバー１５２からの光を、第１の検出器１２０ａに向かう光路（例えば、光ファイバー１１５〜カップラー３５０ａ）と、第２の検出器１２０ｂに向かう光路（例えば、光ファイバー１０５〜カップラー１０４〜光ファイバー１１７〜カップラー３５０ｂ）に分割する。

カップラー１３０によって分割された測定光のうち、第１の検出器１２０ａに向かう光路を経由した測定光は、カップラ３５０ａにて、第１の参照光路１１０ａからの参照光と合波されて干渉する。また、第２の検出器１２０ｂに向かう光路を経由した測定光は、カップラ３５０ｂにて、第２の参照光路１１０ｂからの参照光と合波されて干渉する。

＜参照光学系＞
参照光学系１１０は、眼Ｅでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０を経由した参照光は、カップラ（例えば、カップラ３５０ａ、３５０ｂ）にて測定光路からの光と合波されて干渉する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであってもよい。

参照光学系１１０は、例えば、反射光学系によって形成され、カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することにより検出器１２０に導いてもよい。参照光学系１１０は、透過光学系によって形成されてもよい。この場合、参照光学系１１０は、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。

なお、測定光路と参照光路の少なくともいずれかには、測定光と参照光との光路長差を調整するための光学部材が配置されてもよい。例えば、コリメータレンズ１５４とカップラー１５３とが一体的に移動されることで、測定光の光路長が調整され、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。もちろん、参照光路に配置された光学部材が移動されることによって、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。

本実施例において、参照光学系１１０として、複数の参照光路が設けられてもよく、例えば、第１の参照光路１１０ａと、第２の参照光路１１０ｂとが設けられてもよい。

参照光学系１１０は、例えば、参照光路を第１の参照光路１１０ａと、第２の参照光路１１０ｂに分割するための光分割器（例えば、カップラ１１１）が設けられてもよい。第１の参照光路１１０ａと、第２の参照光路１１０ｂの少なくともいずれかには、例えば、参照光の光路長を変更するために移動される光学部材１１２が設けられてもよい。光学部材１１２は、制御部７０によって制御される図示なき駆動部によって移動されてもよい。

例えば、カップラ１０４からの参照光は、カップラ１１１によって第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１１０ｂに分割される。第１の参照光路１１０ａを経由した参照光は、カップラ３５０ａにて、光ファイバ１１５からの測定光と合波されて干渉する。第２の参照光路１１０ｂを経由した参照光は、カップラ３５０ｂにて、光ファイバ１１７からの測定光と合波されて干渉する。

第１の参照光路１１０ａと、第２の参照光路１１０ｂは、互いに異なる光路長に設定されてもよい。これによって、例えば、互いに異なる深さ領域に対応する干渉信号を同時に取得でき、結果として、広範囲のＯＣＴデータを同時に取得できる。

例えば、第１の参照光路１１０ａが、被検眼における第１の深さ領域（例えば、水晶体、眼底）に対応する干渉信号を得るために設けられ、第２の参照光路１１０ｂは、被検眼における第２の深さ領域（例えば、角膜）に対応する干渉信号を得るために設けられてもよい。この場合、第２の深さ領域は、第１の深さ領域に対して異なる領域に設定される。この場合、第１の深さ領域と第２の深さ領域は、互いに分離した領域であってもよいし、互いに隣接した領域であってもよいし、一部が重複した領域であってもよい。

なお、第１の参照光路１１０ａと、第２の参照光路１１０ｂは、同じ光路長に設定されてもよい。これによって、例えば、同一の深さ領域に対応する干渉信号を同時に取得でき、結果として、同一領域に関する複数のＯＣＴデータを同時に取得できる。

＜光検出器＞
検出器１２０は、測定光路からの光と参照光路からの光による干渉を検出するために設けられている。なお、検出器１２０は、受光素子であってもよく、例えば、受光部が一つのみからなるポイントセンサであって、例えば、アバランシェ・フォト・ダイオードが用いられてもよい。

本実施例では、検出器１２０として、第１の検出器１２０ａと、第１の検出器１２０ａとは異なる第２の検出器１２０ｂと、が設けられてもよい。第１の検出器１２０ａは、第１の参照光路１１０ａからの参照光と光ファイバー１１５からの測定光との第１の干渉信号を検出するための検出器として設けられてもよい。第２の検出器１２０ｂは、第２の参照光路１１０ｂからの参照光と光ファイバ１１７からの測定光との第２の干渉信号を検出するための検出器として設けられてもよい。この場合、第１の検出器１２０ａにて第１の干渉信号を検出すると同時に、第２の検出器１２０ｂにて第２の干渉信号を検出することによって、第１の干渉信号と第２の干渉信号を同時に検出可能である。

なお、第１の検出器１２０ａ、第２の検出器１２０ｂは、それぞれ平衡検出器であってもよい。この場合、第１の検出器１２０ａ、第２の検出器１２０ｂは、複数の受光素子をそれぞれ備え、第１受光素子からの干渉信号と第２受光素子からの干渉信号との差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減できる。

＜ＦＰＮ生成光学系＞
ＦＰＮ生成光学系２００は、ＦＰＮ信号を生成するために設けられてもよい。ＦＰＮ生成光学系２００は、ＦＰＮを発生させる光学部材（例えば、第１の光学部材２０４又は第２の光学部材２０６）を少なくとも一つ備えてもよい。本実施例において、ＦＰＮ生成光学系２００は、測定光が被検眼に向かう光路から分岐された位置に配置されている。

ＦＰＮ生成光学系２００としては、例えば、反射光学系であってもよく、ＦＰＮ発生用光学部材としては、例えば、光反射部材（例えば、ミラー）が用いられてもよい。なお、本実施例においては、ＦＰＮを発生させる光学部材を複数設けたが、これに限定されず、ＦＰＮ生成光学系２００は、ＦＰＮを発生させる光学部材を一つ備える構成であってもよい。

第１の検出器１２０ａには、第１の干渉信号と共にＦＰＮ信号が検出され、第２の検出器１２０ｂには、第２の干渉信号と共にＦＰＮ信号が検出される。ＦＰＮ信号は、例えば、第１の干渉信号に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の干渉信号に基づく第２のＯＣＴデータとの合成（詳しくは後述する）、各干渉信号の波数マッピング補正、偏光調整等に用いられてもよい。

例えば、ＦＰＮ生成光学系２００は、第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号を生成するために設けられてもよい。例えば、ＦＰＮ生成光学系２００は、第１のＦＰＮを発生させる第１の光学部材２０４と、第２のＦＰＮを発生させる第２の光学部材２０６と、を少なくとも備えてもよい。第２の光学部材２０６は、第２の光学部材を経由した光が、第１の光学部材２０４を経由した光による光路長とは異なるように配置されてもよい。これによって、第２のＦＰＮは、第１のＦＰＮに対して異なる位置に発生される。なお、後述するゼロディレイ位置は、ＯＣＴデータ上において、測定光の光路長と参照光の光路長とが一致する位置に対応する。

第１の光学部材２０４と第２の光学部材２０６とが同時に使用されることによって、２つのＦＰＮ信号を同時に生成することが可能であり、これによって、２つのＦＰＮ信号を処理する際の時間的なずれの影響を軽減できる。なお、ＦＰＮ光学系２００は、３つ以上のＦＰＮ発生用光学部材を備えてもよく、これらが同時に使用されることによって、３つ以上のＦＰＮ信号を同時に生成することが可能である。

ＦＰＮ生成光学系２００としては、例えば、反射光学系であってもよく、ＦＰＮ発生用光学部材としては、例えば、光反射部材（例えば、ミラー）が用いられてもよい。本実施例では、第１のＦＰＮ発生用光学部材２０４、第２のＦＰＮ発生用光学部材２０６としてミラーが用いられているが、これに限定されない。

この場合、カップラ１３０からの光は、第１の光学部材２０４又は第２の光学部材２０６を経由した後、カップラ１３０に戻され、導光光学系１５０からの光と同様の経路を経て、カップラ３５０ａ，カップラ３５０ｂに達する。ＦＰＮ生成光学系２００からの光は、カップラ３５０ａ，３５０ｂにて参照光と合波されて干渉する。なお、光源１０２〜ＦＰＮ生成光学系２００〜カップラ３５０ａ，３５０ｂの光路長と、光源１０２〜参照光学系１１０〜カップラ３５０ａ，３５０ｂまでの光路長は、ほぼ同じ長さに設定されてもよい。

例えば、第１の光学部材２０４を経由した光が参照光と干渉することによって、第１のＦＰＮに対応する干渉信号光が生成され、検出器１２０には第１のＦＰＮ信号が生成され、第２の光学部材２０６を経由した光が参照光と干渉することによって、第２のＦＰＮに対応する干渉信号光が生成され、検出器１２０には第２のＦＰＮ信号が生成される。結果として、例えば、検出器１２０には、第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号の両方が同時に検出される。

ＦＰＮ信号を所定の処理に用いる場合、検出器１２０ａ、検出器１２０ｂのそれぞれにおいて、第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号の両方が同時に検出されてもよいし、検出器１２０ａにおいて一方のＦＰＮ信号が検出され、検出器１２０ｂにおいて他方のＦＰＮ信号が検出されてもよい。また、検出器１２０ａ、検出器１２０ｂの一方において、第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号の両方が同時に検出され、検出器１２０ａ、検出器１２０ｂの他方において第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号の一方が検出されてもよい。また、検出器１２０ａ、検出器１２０ｂの一方において、少なくとも一つのＦＰＮ信号が検出され、また、検出器１２０ａ、検出器１２０ｂの他方において、ＦＰＮ信号が検出されなくてもよい。

なお、ＦＰＮ生成光学系２００には、光量モニタ２１０が配置されてもよく、光源１０２からの光は、ビームスプリッタ２０８を介して光量モニタ１２０によって検出される。光量モニタ１２０からの出力信号は、光源１０２の出射光量が適正か否かを判定するために用いられてもよい。

＜光量分岐比＞
ここで、カップラー１３０は、カップラー１０４からの光を、導光光学系１５０の光路とＦＰＮ生成光学系２００の光路に分割すると共に、導光光学系１５０及びＦＰＮ生成光学系２００からの光を、第１の検出器３５０ａへと向かう光路（例えば、光ファイバー１１５〜カップラー３５０ａ）と、カップラー１０４へと向かう光路（例えば、光ファイバー１０５〜カップラー１０４〜光ファイバー１１７〜カップラー３５０ｂ）と、に分割する。

ファイバー１０５からの光を分割する際のカップラー１３０の光量分割比Ｓ１は、導光光学系１５０よりもＦＰＮ生成光学系２００に多くの光が導かれるように設定されてもよい。この場合、ファイバー１０５からの光がカップラ１３０―によって分割される光量比は、導光光学系１５０＜ＦＰＮ生成光学系２００となる。

導光光学系１５０からの光を分割する際のカップラー１３０の光量分割比Ｓ２は、光量分割比Ｓ１に依存する。この結果、導光光学系１５０からの光に関し、第１の検出器１２０ａに向かう光路よりも、第２の検出器１２０ａに向かう光路に、多くの光が導かれる。この場合、導光光学系１５０からの光がカップラー１３０によって分割される光量比は、第１の検出器１２０ａに向かう光路＜カップラー１０４に向かう光路となる。

第１の検出器１２０ａに向かう光路を経由した測定光は、第１の参照光路１１０ａからの光と干渉した後、第１の検出器１２０ａにて第１の干渉信号として検出される。一方、カップラー１０４に向かう測定光は、カップラー１０４によって、光源１０２に向かう光路と、第２の検出器１２０ｂに向かう光路（例えば、光ファイバー１１７〜カップラー３５０ｂ）に分割される。カップラー１３０からの光を分割する際の光量分割比Ｓ４は、光源１０２からの光を測定光路と参照光路とに分割する際の光量分割比Ｓ３に依存する。光量分割比Ｓ３が、測定光路よりも参照光路に多くの光が導かれるように設定された場合、カップラー１３０からの光がカップラー１０４によって分割される光量比は、光源１０２に向かう光路＜第２の検出器１２０ｂに向かう光路となる。この結果、カップラ１３０からの光に関し、光源１０２に向かう光路よりも、第２の検出器１２０ｂに向かう光路に多くの光が導かれる。第２の検出器１２０ｂに向かう光路を経由した測定光は、第２の参照光路１１０ｂからの光と干渉した後、第２の検出器１２０ｂにて第２の干渉信号として検出される。

上記構成をまとめると、カップラー１３０の光量分割比Ｓ２に関して、第１の検出器１２０ａに向かう光路＜カップラー１０４に向かう光路であり、カップラー１０４の光量分割比Ｓ４に関して、光源１０２に向かう光路＜第２の検出器１２０ｂに向かう光路にて設定されている。

この結果として、第１の検出器１２０ａにて検出される第１の干渉信号と、第２の検出器１２０ｂにて検出される第２の干渉信号と、を適度なバランスにて検出できる。つまり、カップラー１０４を経由して第２の検出器１２０ｂに向かう光路の場合、導光光学系１５０からの光は、複数の光分割器（例えば、カップラ１３０、カップラー１０４）を経由するので、光量減衰の回数が多いのに対し、第１の検出器１２０ａに向かう光路の場合、導光光学系１５０からの光は、カップラー１３０を経由して第１の検出器１２０ａに達するので、光量減衰の回数が相対的に少ない。

そこで、カップラー１３０の光量分割比Ｓ２に関して、第１の検出器１２０ａに向かう光路＜カップラー１０４に向かう光路であり、カップラー１０４の光量分割比Ｓ４に関して、光源１０２に向かう光路＜第２の検出器１２０ｂに向かう光路であることで、光量減衰が複数回行われたとしても、光量減衰を軽減でき、結果として、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂとの間で信号強度の差異を少なくできる。したがって、第１の検出器１２０ａによって得られるＯＣＴデータと第２の検出器１２０ｂによって得られるＯＣＴデータとの信号強度の差異が少なくなり、それぞれ適正なＯＣＴデータを取得できる。

なお、カップラー１３０の光量分割比Ｓ２と、カップラー１０４の光量分割比Ｓ４に関して、第１の検出器１２０ａに向かう光路と第２の検出器１２０ｂに向かう光路との光量比が同一となるように設定されてもよい。その一例としては、カップラー１３０の光量分割比Ｓ２に関して、第１の検出器１２０ａに向かう光路：カップラー１０４に向かう光路＝６：４、カップラー１０２の光量分割比Ｓ４に関して、光源１０２に向かう光路：第２の検出器１２０ｂに向かう光路＝１：２となるように設定されてもよい。

上記限定されず、カップラー１３０の光量分割比Ｓ２と、カップラー１０４の光量分割比Ｓ４に関して、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂによって検出されるＯＣＴデータの撮影部位での反射光量の違いを考慮して、光量分割比が設定されてもよい。つまり、被検眼の角膜からの反射光は、反射光量が大きいが、水晶体及び眼底からの光は、反射光量が相対的に少ない。そこで、撮影部位による反射光量比を考慮して、結果として、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂとの間でのＯＣＴデータの信号強度が同一となるように、カップラー１３０の光量分割比Ｓ２と、カップラー１０４の光量分割比Ｓ４が設定されてもよい。

なお、本実施例において、導光光学系１５０からの光を複数の検出器に導光させる際、１つの光分割器（例えば、カップラー１３０）を介して第１の検出器１２０ａに向かう光と、複数のカップラー（例えば、カップラー１３０、カップラー１０４）を介して第２の検出器１２０ｂに向かう光に分けたのは、導光光学系１５０からの光をより多く効率的に各検出器に導かれるためである。このような光学配置は、光源１２０の出射光量が限られており、被検眼からの反射光が微弱であるような場合に、特に有利である。

図２は、本実施例に係るＦＰＮ生成光学系の一例を示す図である。ＦＰＮ生成光学系２００は、例えば、第１の光学部材２０４を備える第１の光路２０３と、第２の光学部材２０６を備える第２の光路２０５とを少なくとも備えてもよい。ここで、第１の光路２０３と第２の光路２０５との間において、第１の光路２０３の光路長と第２の光路２０５の光路長が異なることによって、第２のＦＰＮは、第１のＦＰＮとは異なる位置に生成される。例えば、第２の光路２０５の光路長が第１の光路２０３の光路長よりも長いことによって、第１のＦＰＮよりもゼロディレイから離れた位置に生成される。

ＦＰＮ生成光学系２００は、光路分割部材２０２（例えば、ビームスプリッタ）を備えてもよく、光路分割部材２０２は、光源側の光路を、第１の光路２０３と第２の光路２０５とに分割するために設けられてもよい。第１の光学部材２０４は、光路分割部材２０２によって分割された第１の光路２０３に配置されており、第２の光学部材２０６は、光路分割部材２０２によって分割された第２の光路に配置されている。

第１の光路２０３と第２の光路２０５は、互いに異なる光路長を持つ。つまり、光路分割部材２０２の分岐位置から第１の光学部材２０４までの光路長と、光路分割部材２０２の分岐位置から第２の光学部材２０６までの光路長は異なる。この結果として、第１の光学部材２０４によって形成される第１のＦＰＮと、第２の光学部材２０６によって形成される第２のＦＰＮは、ＯＣＴ画像上において深さ方向に異なる位置に形成される。なお、深さ方向における第１のＦＰＮと第２のＦＰＮとの間の距離は、第１の光路２０３と第２の光路２０５との間の光路長差に起因する。

また、第１の光路２０３と第２の光路２０５は、互いに等しい光学的分散量に設定（構築）されている。この結果として、第１のＦＰＮを用いて算出される各波数成分のマッピング情報（以下、第１の波数マッピング情報）と、第２のＦＰＮを用いて算出される各波数成分のマッピング情報（以下、第２の波数マッピング情報）との間の差分に基づいて、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を演算により求める際、各マッピング情報に含まれる分散成分を適正にキャンセルできるので、補正情報を精度よく求めることができる（詳しくは、後述する）。この場合、互いに等しい分散量としては、厳密に同一である必要は必ずしもなく、一定の精度を確保し、分散成分を適正にキャンセルできればよい。

＜偏波調整機構＞
本実施例のＯＣＴ光学系１００において、複数の偏光調整部が設けられてもよく、例えば、ＯＣＴ光学系１００の光路には、第１の偏光調整部３００、第２の偏光調整部３０２、第３の偏光調整部３０４が設けられてもよい（図１参照）。

第１の偏光調整部３００は、第１の参照光路１１０ａの光路に配置され、第１の参照光路１１０ａを経由する参照光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。第２の偏光調整部３０２は、第２の参照光路１１０ｂの光路に配置され、第２の参照光路１１０ｂを経由する参照光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。第３の偏光調整部３０４は、ＦＰＮ生成光学系２００の光路に配置され、ＦＰＮ生成光学系２００の光路を経由する光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。

＜深さ情報の取得＞
光源１０２により出射波長が変化されると、これに対応する干渉信号光が検出器１２０に受光され、結果的に、スペクトル信号として検出器１２０によって検出される。制御部７０は、検出器１２０によって検出されたスペクトル信号を処理（フーリエ解析）し、被検眼のＯＣＴデータを得る。

スペクトル信号（スペクトルデータ）は、波長λの関数として書き換えられ、波数ｋ（＝２π／λ）に関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）に変換されてもよい。あるいは、初めから波数ｋに関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）として取得されてもよい（Ｋ―ＣＬＯＣＫ技術）。演算制御器は、波数ｋ空間でのスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さ（Ｚ）領域におけるＯＣＴデータを得てもよい。

さらに、フーリエ変換後の情報は、Ｚ空間での実数成分と虚数成分を含む信号として表されてもよい。制御部７０は、Ｚ空間での信号における実数成分と虚数成分の絶対値を求めることによりＯＣＴデータを得てもよい。

本実施例では、制御部７０は、第１の検出器１２０ａによって検出された第１の干渉信号を処理して第１のＯＣＴデータを得ると共に、第２の検出器１２０ｂによって検出された第２の干渉信号を処理して第２のＯＣＴデータを得てもよい。ここで、第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１２０ｂとが異なる光路長に設定される場合、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータは、深さ方向に関して少なくとも一部が異なる領域のＯＣＴデータが取得され、第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１２０ｂとが同じ光路長に設定される場合、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータは、深さ方向に関して同じ領域のＯＣＴデータが取得される。

＜制御系＞
制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備えてもよい（図１参照）。例えば、制御部７０のＣＰＵは、ＯＣＴ装置の制御を司ってもよい。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、ＯＣＴ装置の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されてもよい。

制御部７０には、記憶部としての不揮発性メモリ（以下、メモリに省略する）７２、表示部７５等が電気的に接続されてもよい。メモリ７２には、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体が用いられてもよい。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および、ＯＣＴ装置に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等をメモリ７２として使用することができる。メモリ７２には、ＯＣＴデータの取得及びＯＣＴ画像の撮影を制御するための制御プログラムが記憶されてもよいし、ＦＰＮを用いてＯＣＴ画像を合成するための演算処理プログラム、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を得る演算処理プログラム等が記憶されてもよい。また、メモリ７２には、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像の他、撮影に関する各種情報が記憶されてもよい。表示部７５は、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像を表示してもよい。

＜ＦＰＮを用いた画像合成＞
制御部７０は、第１の干渉信号に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の干渉信号に基づく第２のＯＣＴデータとを、第１の検出器１２０ａによって検出されたＦＰＮ信号と第２の検出器１２０ｂによって検出されたＦＰＮ信号とに基づいて合成することによって合成ＯＣＴデータを得てもよい（図３〜図５参照）。つまり、ＦＰＮ信号は、複数のＯＣＴデータを合成するための基準信号として用いられてもよい。ここで、第２のＯＣＴデータは、第１のＯＣＴデータに対して被検眼上の深さ領域の少なくとも一部が異なってもよい。

一例としては、ＦＰＮ生成光学系２００においてＦＰＮ発生用の光学部材（例えば、光学部材２０４、２０６）の配置位置は既知であるから、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの位置関係をＦＰＮ信号を用いて設定してもよい。

これによって、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの位置関係を適正に設定できる。なお、本実施例では、第１のＯＣＴデータが第１の検出器１２０ａにて検出されると同時に、第２のＯＣＴデータが第２の検出器１２０ｂにて検出されるので、被検眼の移動などによる位置ズレも軽減できる。

例えば、ＦＰＮ生成光学系２００は、第１のＦＰＮを発生させる第１の光学部材（例えば、第１の光学部材２０４）と、第１のＦＰＮとは異なる位置に第２のＦＰＮを発生させる第２の光学部材（例えば、第２の光学部材２０６）と、を少なくとも備え、少なくとも２つのＦＰＮ信号を生成するためのＦＰＮ生成光学系であってもよい。

制御部７０は、第１の干渉信号に基づく第１のＯＣＴデータと、第２の干渉信号に基づく第２のＯＣＴデータとを、第１の検出器１２０ａによって検出された第１の光学部材によるＦＰＮと第２の検出器１２０ｂによって検出された第２の光学部材によるＦＰＮとに基づいて合成することによって合成ＯＣＴデータを得てもよい。

図３、４はＦＰＮ信号を用いて複数のＯＣＴデータを合成する場合のデータの一例を示す図であり、図３は合成前、図４は合成後のイメージ図である。ＦＰＮ１は、第１の光学部材２０４によって生成されたＦＰＮ信号であり、ＦＰＮ２は、第２の光学部材２０６によって生成されたＦＰＮ信号である。

図３においては、第１のＯＣＴデータには、ＦＰＮ１が形成され、第２のＯＣＴデータ
には、ＦＰＮ２が形成される。第１のＯＣＴデータは、第１の参照光路１１０ａ及び第１の検出器１１０ａを用いて取得され、第２のＯＣＴデータは、第２の参照光路１１０ｂ及び第２の検出器１１０ｂを用いて取得されてもよい。

ＦＰＮ信号を用いてＯＣＴデータ間の位置関係を設定する場合、制御部７０は、例えば、第１のＯＣＴデータに含まれるＦＰＮ１と第２のＯＣＴデータに含まれるＦＰＮ２を用いてＯＣＴデータ間の位置関係を設定してもよい。ここで、制御部７０は、深さ方向におけるＦＰＮの位置を検出し、ＦＰＮの検出位置を基準として複数のＯＣＴデータを合成してもよい（図４参照）。

ここで、第１の光学部材２０４と第２の光学部材２０４との間の位置関係は既知であるから（例えば、光路長ΔＤ）、制御部７０は、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとを合成する場合、ＦＰＮ１とＦＰＮ２の位置を検出し、ＦＰＮ１の検出位置とＦＰＮ２の検出位置とが光路長ΔＤ分離間するように合成してもよい。なお、複数のＯＣＴデータ間の重複部分に関する合成について、いずれか一方のＯＣＴデータを用いるようにしてもよいし、両方のＯＣＴデータの平均を求めるようにしてもよい。

制御部７０は、上記のようにして合成された合成ＯＣＴデータに基づいて被検眼の寸法（例えば、前房深度、眼軸長等）を測定してもよく、さらに、得られた測定結果を表示部７５上に表示してもよい。

図５は、ＦＰＮ信号を用いて複数のＯＣＴデータを合成する場合のデータの変容例を示す図であり、第３のＯＣＴデータには、ＦＰＮ１とＦＰＮ２が形成されている。ここで、第３のＯＣＴデータは、第１の参照光路１１０ａ及び第１の検出器１１０ａを用いて取得されてもよく、第１の参照光路１１０ａの光路長が調整されることで、第３のＯＣＴデータが取得されてもよい。

ここで、制御部７０は、第３のＯＣＴデータを利用して、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの位置関係を設定してもよい。この場合、制御部７０は、例えば、第１のＯＣＴデータ上でのＦＰＮ１の検出位置と、第３のＯＣＴデータ上でのＦＰＮ１の検出位置が、深さ方向に関して同じ位置となるように位置関係を設定してもよく、さらに、制御部７０は、例えば、第２のＯＣＴデータ上でのＦＰＮ２の検出位置と、第３のＯＣＴデータ上でのＦＰＮ２の検出位置が、深さ方向に関して同じ位置となるように位置関係を設定してもよい。これによれば、仮に、ＦＰＮ発生用の光学部材の位置が経年変化によって変動したとしても、実際の位置関係を利用できるので、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの位置関係をより安定的に設定可能である。

なお、深さ方向におけるＦＰＮの位置を検出する場合、例えば、制御部７０は、検出器１２０ａ、１２０ｂにて取得されたＯＣＴデータを処理し、ＦＰＮ発生用の光学部材（例えば、第１の光学部材２０４又は第２の光学部材２０６）によるＦＰＮ信号を抽出してもよい。ＦＰＮ信号の信号強度は既知であるから、制御部７０は、例えば、ＯＣＴデータの各輝度信号に対し、ＦＰＮ信号を得るために設定された閾値を超えるか否を判定することによって、ＦＰＮ発生用の光学部材に対応するＦＰＮ信号（基準信号）を抽出できる。なお、ＦＰＮ１とＦＰＮ２は、既知の配置を利用して判別可能である。

なお、上記手法に限定されず、図５の第３のＯＣＴデータを第１のＯＣＴデータとし、図５の第２のＯＣＴデータとして、これらを合成するようにしてもよい（図６参照）。この場合、第１のＯＣＴデータには、ＦＰＮ１とＦＰＮ２が形成され、第２のＯＣＴデータには、ＦＰＮ２が形成される。第１のＯＣＴデータは、第１の参照光路１１０ａ及び第１の検出器１１０ａを用いて取得され、第２のＯＣＴデータは、第２の参照光路１１０ｂ及び第２の検出器１１０ｂを用いて取得されてもよい。

この場合、制御部７０は、ＦＰＮ２の位置を検出し、その検出位置を利用してＯＣＴデータ間の位置関係を設定してもよいし、第１のＯＣＴデータのＦＰＮ２と、第２のＯＣＴデータのＦＰＮ２とを画像処理によってマッチングさせることによって位置関係を設定してもよい。この場合、制御部７０は、合成ＯＣＴデータにおいて、第１のＯＣＴデータのＦＰＮ１と第２のＯＣＴデータのＦＰＮ１とが深さ方向において一致するように合成を行ってもよい。

なお、本実施例において、ＦＰＮ生成光学系２００について、第１の光学部材２０４が配置された第１の光路２０３と、第２の光学部材２０６が配置された第２の光路２０５は、互いに等しい光学的分散量に設定（構築）されている。この結果として、ＦＰＮによるＰＳＦ信号は相似形となるので、例えば光源の質が悪く、ＰＳＦが単峰性でない場合などでも、相応するピーク位置を検出しやすく、離間を容易に決定することが出来る。

図６は、一つのＦＰＮを用いて画像合成を行う一例として考えることも可能である。ＦＰＮ１の生成は必ずしも必須ではない。つまり、本実施例のＦＰＮ光学系２００が、一つのＦＰＮ発生用の光学部材を備える場合であっても、画像合成は可能であり、装置の構成の簡略化が可能だが、複数のＦＰＮ信号を用いる場合と比較して深さ方向の撮像レンジが狭くなると共に、異なるＯＣＴデータ間での重複領域が多くなる。一方、共通領域を設ける場合は、複数のＦＰＮ信号を用いることで、深さ方向の撮像レンジが広くできると共に、異なるＯＣＴデータ間での重複領域を少なくできる。その他、間に不連続な領域を含んでもよい。この場合も、両者の離間が正確にわかるので、例えば眼の調節機能を調べたりする場合に有用である。

なお、本実施例に係るＦＰＮ生成光学系２００について、ＯＣＴデータの合成に用いるＦＰＮ発生用の光学部材（例えば、第１の光学部材２０４、第２の光学部材２０６）は空気中に配置されており、その表面反射によって生成されたＦＰＮが画像合成に利用されるので、この結果として、ＦＰＮの信号強度（ＳＮＲ）の低下等を軽減できるので、ＦＰＮを用いたＯＣＴデータの合成を正確に行うことができる。

なお、ＦＰＮ信号を得るタイミングとしては、例えば、電源投入時に実施されてもよいし、被検者が変更される毎に実施されてもよい。また、ＯＣＴ光学系における撮影条件を最適化する最適化制御の際に実施されてもよい。もちろん、これに限定されず、常時実施されてもよい。例えば、制御部は、ＦＰＮ信号を含むＯＣＴデータを予め取得しておき、予め取得されたＦＰＮ信号を用いて、後に取得されたＯＣＴデータの合成、マッピング状態の補正、偏光調整等を行うようにしてもよい。

＜遮光部材＞
なお、ＦＰＮ生成光学系２００の光路に遮光部材又は減光部材が配置されることによって、被検眼の観察又は撮影に用いるＯＣＴデータのＦＰＮ信号を軽減するようにしてもよい。この場合、第１の光路と第２の光路との少なくともいずれかが遮光又は減光されることで、ＯＣＴデータ上でのＦＰＮ信号を軽減するようにしてもよい。これらは、診断・観察等に用いるＯＣＴデータを得る場合において有効である。また、これに限定されず、ＯＣＴデータに含まれるＦＰＮ信号を信号処理によって除去するようにしてもよい。

例えば、ＦＰＮ生成光学系２００の光路には、第１の光路を遮光するための第１の遮光部材２１０と、第２の光路を遮光するための第２の遮光部材２１２と、が各光路に対して挿脱可能に配置されてもよい。

＜波数マッピングの補正＞
図７は、本実施例に係るＯＣＴデータの一例を示す図であり、ＯＣＴデータ上には、第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号とが同時に形成されている。なお、ＯＣＴデータ上には、被検眼のＯＣＴ画像が含まれていてもよい。

この場合、制御部７０は、第１のＦＰＮと第２のＦＰＮの両方を同時に含む信号を処理して、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を取得しても追い。つまり、制御部７０は、例えば、補正情報を得る演算処理器として用いられてもよい。また、ＯＣＴ光学系を駆動させる制御部とは異なるプロセッサによって、補正情報が取得されてもよい。なお、制御部７０は、例えば、ＯＣＴ画像の撮影中ないし撮影前に、光源１０２により波長が掃引されることに伴う少なくとも２つのＦＰＮ信号の位相差情報を利用して、補正情報を生成してもよい。

より詳細には、制御部７０は、サンプリングポイントｐに対する各波長成分（波数成分）のマッピング状態（波数サンプリングマッピング）を、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成される少なくとも２つのＦＰＮ信号に基づいて補正してもよい。

制御部７０は、例えば、ＦＰＮの強度レベルを解析することによって、ＦＰＮに対応する位置でのスペクトル信号におけるφ（ｋ）を求めてもよい。φ（ｋ）は、掃引波長（波数）に応じたスペクトル信号の位相φの変化を示す。φ（ｋ）は、横軸：波数ｋ、縦軸：位相φである関数で表されてもよい。信号強度（振幅）の大きい波数ｋ領域でのφ（ｋ）に関して多項式フィッティングを行い、信号強度が小さい波数ｋ領域でのφ（ｋ）を外挿又は内挿によって求めてもよい。例えば、φ（ｋ）は、ＦＰＮに対応する深さ位置におけるフーリエ変換値（強度値）Ｆの実数部RealＦと虚数部ImagＦの比のArc Tangent（逆正接）から求められてもよい。ここで、Arc Tangent処理によってフーリエ変換値の実数部と虚数部の比の逆正接が算出され、φ（ｋ）が得られる。

少なくとも２つのＦＰＮ信号を同時に得た場合、制御部７０は、第１のＦＰＮを処理して第１の波数マッピング情報φ１（ｋ）を求めると共に、第２のＦＰＮを処理して第２の波数マッピング情報φ２（ｋ）を求めてもよい（図８参照）。この場合、各波数マッピング情報は、各波数成分の位相情報として求められてもよい。

さらに、制御部７０は、第１の波数マッピング情報φ１（ｋ）と第２の波数マッピング情報φ２（ｋ）との間の差分情報Δφ（ｋ）を求めてもよい（図５参照）。なお、差分情報は、各波数成分の位相差情報として求められてもよい。差分情報Δφ（ｋ）を得る場合、第２のＦＰＮの方が位相の進みが早いので、Δφ（ｋ）＝φ２（ｋ）−φ１（ｋ）にて差分情報が得られてもよい。なお、差分情報を求めることで、各波数マッピング情報に含まれる分散成分をキャンセルできる。この場合、前述したように、第１の光路２０３と第２の光路２０５との間の分散量を等しくしておくことが好ましい。

ここで、第１のＦＰＮと第２のＦＰＮとの間の光学的距離（光路長差）をΔＺとし、仮に、差分情報Δφ（ｋ）が理想的であれば、以下の式（１）

に示されるような直線となるはずである。

ここでΔＺは次のように求められる。干渉成分はexp（ikz）と一般化でき、ｋとｚにはkz＝２πの関係がある。これから、ｚはＮをサンプリングポイント数、ｋmaxとｋminを各サンプリングポイントで検出されるｋ値の最大・最小値として、以下の式（２）

として、表すことができる。なお、ｉ＝０，１，２，・・・，Ｎ／２
ここで、ΔＺに相当する干渉信号が、ｉ（ΔＺ）に対応するサンプリングポイントで検出されるとすると、ΔＺは以下の式（３）

と表すことができる。

Δφ（ｋ）は理想的には傾きΔＺ、切片０の直線になるはずなので、２次、３次の非線形項をσとすると、ｋは以下の式（４）

と補正される。これから補正された波長λ´がλ´＝２π／ｋ´と決まる。ここでσは以下の式（５）

と展開したときの非線形項σ＝ｂ_２ｋ^２+ｂ_３ｋ^３である。なお、上記例では、非線形項が３次となっているが、これに限定されず、さらに多い非線形項であってもよい。例えば、９次程度であってもよい。あるいは、他のフィット方法（チャープされた正弦波によるフィット方法）が用いられてもよい。

なお、図９は、補正演算を行うことにより、補正されるスペクトル信号のマッピングを模式的に示した図である。また、補正されたΔφ（ｋmin）、Δφ（ｋmax）の値が、理想値であるｚ（peak）・ｋmin、ｚ（peak）・ｋmaxから所定の許容範囲内（例えば、１Ｅ^−５程度）であれば収束したと判断し、この条件が満たされなければ、上述の補正されたλ´を用いて再度同様の演算を繰り返す。

上記のようにして、制御部７０は、ＦＰＮ生成光学系２００を用いて生成される少なくとも２つのＦＰＮ信号から補正情報を演算により求め、得られた補正情報をメモリ７２に記憶させてもよい。これにより、検出器１２０にて検出された各波長成分と、各サンプリングポイントとの対応関係がより正確に求められる。得られた補正情報は、ＯＣＴデータの取得に用いられてもよい。なお、ＦＰＮからφ（ｋ）を求める手法、波数マッピング情報を求める手法については、特開２０１３−１５６２２９号、特開２０１５−６８７７５号公報等を参考になされたい。

なお、上記説明においては、ＳＳ−ＯＣＴにおいて波数マッピング情報を補正する場合を示したが、これに限定されず、ＳＤ−ＯＣＴにおいて波数マッピング情報を補正する場合においても、本実施例の適用は可能である。この場合、例えば、制御部７０は、スペクトロメータの各受光素子に対する各波長（波数）分のマッピング状態を、ＦＰＮ生成光学系２００によって生成される少なくとも２つのＦＰＮ信号に基づいて補正してもよい。この場合、特開２０１０−２２０７７４号公報が参考されてもよい。

なお、本実施例に係る波数マッピング補正については、特願２０１７−０１７１５６を参照されたい。

なお、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を取得するタイミングとしては、例えば、電源投入時に実施されてもよいし、被検者が変更される毎に実施されてもよい。また、ＯＣＴ光学系における撮影条件を最適化する最適化制御の際に実施されてもよい。もちろん、これに限定されず、常時実施されてもよい。なお、マッピング状態の補正後、ノイズ除去処理によってＯＣＴ画像上のＦＰＮが除去されてもよい。

また、上記説明においては、測定光路から分岐した位置にＦＰＮ生成光学系が設けられたが、これに限定されず、ＯＣＴ光学系の光路中であれば、これに限定されない。例えば、ＯＣＴ光学系の参照光路から分岐した位置にＦＰＮ生成光学系が配置されてもよい。この場合、例えば、ＦＰＮ生成光学系からの光と参照光（又は測定光）との干渉によるＦＰＮ信号が得られてもよい。また、例えば、測定光路と参照光路とが合流した後の光路から分岐した位置にＦＰＮ生成光学系が配置されてもよい。この場合、例えば、干渉光の光路に直接向かう干渉光と、干渉光の光路から分岐された位置に設けられたＦＰＮ生成光学系からの干渉光との干渉によるＦＰＮ信号が得られ、検出器１２０によって検出されてもよい。なお、検出器１２０が第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂを備える場合、各検出器の光路に分割される前に、ＦＰＮ生成光学系が配置されることで、各検出器に同様のＦＰＮ信号が検出されてもよい。

＜被検眼への適用例＞
本装置は、被検眼のＯＣＴデータを取得するための眼科用ＯＣＴ装置であってもよい。例えば、眼科用ＯＣＴ装置としては、眼底のＯＣＴデータと、角膜及び水晶体を含む前眼部のＯＣＴデータと、を取得可能な構成であってもよく、さらに、角膜及び眼底のＯＣＴデータに基づいて眼軸長を測定可能な構成であってもよい。

例えば、眼科用ＯＣＴ装置は、自動又は手動によるモード切換信号に応じて、ＯＣＴ光学系１００の光学配置を切換可能な構成であってもよい。以下、眼底撮影モード、前眼部撮影モード、眼軸長測定モードとの間でモード切換を行う場合の一例について説明する。

＜眼底撮影モード＞
眼底撮影モードに設定された場合、制御部７０は、導光光学系１５０を制御し、眼底のＯＣＴデータを得るための光学配置に切り替えてもよい。この場合、例えば、制御部７０は、被検眼瞳孔上に測定光の旋回点が形成されると共に、測定光の集光位置が眼底上に形成されるように、導光光学系１５０の光学配置を切り換えてもよい。なお、導光光学系１５０の光学配置の切換に係る構成については、例えば、特開２０１６−２０９５７７号公報を参照されたい。

眼底撮影モードに設定された場合、制御部７０は、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長を調整し、ＯＣＴデータの取得領域を眼底に設定してもよい。この場合、例えば、制御部７０は、複数の参照光路の少なくともいずれかを経由した参照光の光路長が、眼底を経由した測定光の光路長と一致するように、測定光と参照光との間の光路長差を調整してもよい。なお、光路長差が調整される場合、ゼロディレイ位置よりも網膜が奥側に形成された状態でＯＣＴデータが取得されるように調整されてもよいし、ゼロディレイ位置よりも脈絡膜が前側に形成された状態でＯＣＴデータが取得されるように調整されてもよい。

本実施例では、例えば、眼底からの測定光の光路長と、第１の参照光路１１０ａからの参照光とが一致するように、測定光路に配置された光学部材が移動されることによって、測定光の光路長が調整されてもよい。これによって、少なくとも、第１の検出器１１０ａからの出力信号に基づいて得られる第１のＯＣＴデータには、眼底のＯＣＴデータが含まれる。

図１０は眼底撮影モードにおいて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図である。制御部７０は、光学部材１１２を移動させ、第１の参照光路１１０ａと同一の光路長となるように、第２の参照光路１１０ｂの光路長を調整してもよい。この結果、第１の検出器１１０ａに基づく第１のＯＣＴデータと、第２の検出器１１０ｂに基づく第２のＯＣＴデータとが、眼底の同一領域となる。この場合、制御部７０は、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとに基づく合成ＯＣＴデータ（例えば、加算平均画像、超解像画像、等）を得てもよい。これによって、短時間で、所定の撮像領域に関する良好な眼底のＯＣＴデータが得られる。

＜眼軸長測定モード＞
眼軸長測定モードに設定された場合、制御部７０は、導光光学系１５０を制御し、前述の眼底撮影モードと同一の光学配置に切り替えてもよい。この場合、例えば、制御部７０は、瞳孔上に測定光の旋回点が形成される共に、測定光の集光位置が眼底上に形成されるように、導光光学系１５０の光学配置を切り換えられてもよい。これによって、眼軸長測定の際に得られるＯＣＴデータにおいて、眼底の形態情報（例えば、黄斑付近の情報）を詳細に取得でき、結果として、被検眼の眼軸長を精度よく測定可能となる。

眼軸長測定モードに設定された場合、制御部７０は、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長を調整し、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの一方によるＯＣＴデータの取得領域を眼底に設定し、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの他方によるＯＣＴデータの取得領域を角膜に設定してもよい。

図１１は眼軸長撮影モードにおいて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図である。本実施例では、例えば、眼底からの測定光の光路長と、第１の参照光路１１０ａからの参照光とが一致するように、測定光路に配置された光学部材が移動されることによって、測定光の光路長が調整されてもよい。これによって、少なくとも、第１の検出器１１０ａからの出力信号に基づいて得られる第１のＯＣＴデータには、眼底のＯＣＴデータが含まれる。

第１のＯＣＴデータに眼底のＯＣＴデータが含まれるように、測定光路に配置された光学部材の位置が調整された状態において、例えば、制御部７０は、角膜からの測定光の光路長と、第２の参照光路１１０ｂからの参照光とが一致するように、第２の参照光路１１０ｂに配置された光学部材１１２が移動されることによって、第２の参照光路１１０ｂの参照光の光路長が調整されてもよい。これによって、第２の検出器１１０ｂからの出力信号に基づいて得られる第２のＯＣＴデータには、角膜のＯＣＴデータが含まれる。

眼底のＯＣＴデータと角膜のＯＣＴデータが取得されると、制御部７０は、眼底のＯＣＴデータに基づいて網膜位置を検出すると共に、角膜のＯＣＴデータに基づいて角膜位置を検出してもよい。制御部７０は、網膜位置の検出結果と、角膜位置の検出結果と、第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１１０ｂとの光路長差を利用して眼軸長を測定してもよい。

この場合、例えば、第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１１０ｂとの光路長差は、光学部材１１２を移動させるための駆動部の駆動位置によって求められてもよいし、光学部材１１２の位置に基づいて検出されてもよい。なお、第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１１０ｂとの光路長差が固定の場合、既知の光路長差が用いられてもよい。また、これに限定されず、ＦＰＮ生成光学系２００において、角膜に対応するＦＰＮ信号を生成するためのＦＰＮ発生用光学部材と眼底に対応するＦＰＮ信号を生成するＦＰＮ発生用光学部材を備える構成とし、既知の光学部材の位置を利用して、光路長差を取得してもよい。この場合、光路長差に対応すべく、３つ以上のＦＰＮ発生用光学部材が用いられてもよい。

＜前眼部撮影モード＞
前眼部撮影モードに設定された場合、制御部７０は、導光光学系１５０を制御し、角膜及び水晶体を含む前眼部のＯＣＴデータを得るための光学配置に切り替えてもよい。この場合、被検眼瞳孔よりも装置側に測定光の旋回点が形成されると共に、測定光の集光位置が前眼部上に形成されるように、導光光学系１５０の光学配置を切り換えてもよい。なお、導光光学系１５０の光学配置の切換に係る構成については、例えば、特開２０１６−２０９５７７号公報を参照されたい。

前眼部撮影モードに設定された場合、制御部７０は、制御部７０は、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長を調整し、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの一方によるＯＣＴデータの取得領域を水晶体に設定し、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの他方によるＯＣＴデータの取得領域を角膜に設定してもよい。ここで、第１の検出器１２０ａによって取得されるＯＣＴデータと、第２の検出器１２０ｂによって取得されるＯＣＴデータとは、被検眼上の取得領域の少なくとも一部が深さ方向に関して異なる。これによって、角膜領域を含むＯＣＴデータと、水晶体領域を含むＯＣＴデータが取得されてもよい。この場合、角膜領域を含むＯＣＴデータに、角膜及び水晶体前面が少なくとも含まれ、水晶体領域を含むＯＣＴデータに、水晶体後面が少なくとも含まれてもよい。つまり、前眼部領域における前側領域のＯＣＴデータと、前眼部領域における後側領域のＯＣＴデータとが、それぞれ別々に取得されてもよい。

なお、制御部７０は、例えば、水晶体領域を含むＯＣＴデータと、角膜領域を含むＯＣＴデータとを合成してもよい。この場合、前述のＦＰＮ信号を用いた合成処理が用いられてもよく、角膜及び水晶体からの測定光の光路長と、ＦＰＮ生成光学系２００を経由した測定光の光路長が一致するように、ＦＰＮ生成光学系２００の光路長が設定されてもよい。いいかえれば、角膜領域を含むＯＣＴデータと水晶体領域を含むＯＣＴデータとを取得できるように導光光学系１５０の測定光と参照光との光路長差が設定された状態において、各ＯＣＴデータにＦＰＮ信号が含まれるように、ＦＰＮ生成光学系２００が設定されてもよい。

なお、光路長差が調整される場合、ゼロディレイ位置よりも角膜前面が奥側に形成された状態で角膜領域を含むＯＣＴデータが取得されるように調整され、ゼロディレイ位置よりも水晶体後面が前側に形成された状態で水晶体領域を含むＯＣＴデータが取得されるように調整されてもよい。これにより、画像合成時のミラーイメージによる影響を回避できる。また、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの間において、深さ方向において被検眼上の取得領域の一部が重複するように、第１の参照光路１１０ａと第２の参照光路１１０ｂの光路長差が設定されてもよい。これによって、画像合成における連結をスムーズに行うことができる。

図１２は前眼部撮影モードにおいて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図である。本実施例では、例えば、水晶体からの測定光の光路長と、第１の参照光路１１０ａからの参照光とが一致するように、測定光路に配置された光学部材が移動されることによって、測定光の光路長が調整されてもよい。これによって、少なくとも、第１の検出器１１０ａからの出力信号に基づいて得られる第１のＯＣＴデータには、水晶体領域のＯＣＴデータが含まれる。

第１のＯＣＴデータに水晶体のＯＣＴデータが含まれるように、測定光路に配置された光学部材の位置が調整された状態において、例えば、制御部７０は、角膜からの測定光の光路長と、第２の参照光路１１０ｂからの参照光とが一致するように、第２の参照光路１１０ｂに配置された光学部材１１２が移動されることによって、第２の参照光路１１０ｂの参照光の光路長が調整されてもよい。これによって、第２の検出器１１０ｂからの出力信号に基づいて得られる第２のＯＣＴデータには、角膜のＯＣＴデータが含まれる。

水晶体のＯＣＴデータと角膜のＯＣＴデータが取得されると、例えば、制御部７０は、水晶体のＯＣＴデータと角膜のＯＣＴデータを合成し、合成ＯＣＴデータを取得してもよい。さらに、制御部７０は、合成ＯＣＴデータに基づいて角膜位置、水晶体位置等を検出し、被検眼の前房深度、水晶体厚等を測定してもよい。

＜他のＯＣＴデータに含まれるＦＰＮ信号を用いたＯＣＴデータの補正＞
制御部７０は、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータの一方にてＦＰＮ信号を含むＯＣＴデータを取得し、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータの他方においてＦＰＮ信号を含まないＯＣＴデータを取得してもよい。また、制御部７０は、ＦＰＮ信号を含むＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号に基づいて波数マッピング情報を得て、ＦＰＮ信号を含まないＯＣＴデータを補正するようにしてもよい。当該構成によれば、複数の検出器を用いる場合において、各検出器に応じてＦＰＮ生成光学系を設ける必要が必ずしもなくなる。この場合、制御部７０は、ＦＰＮ信号を含まないＯＣＴデータをリアルタイムで補正するようにしてもよく、これによれば、ＯＣＴデータの補正をさらに精度よく補正できる。

この場合、例えば、制御部７０は、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長を調整し、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの一方によるＯＣＴデータの取得領域を所定の撮影部位（例えば、眼底、角膜、水晶体）に設定してもよい。また、制御部７０は、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの他方によるＯＣＴデータの取得領域をＦＰＮ生成光学系２００の光学部材（例えば、光学部材２０４、光学部材２０６）に設定する。

図１３は眼底撮影モードにおいてリアルタイム補正を適用する場合の一例を示す図である。例えば、制御部７０は、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長を調整し、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの一方によるＯＣＴデータの取得領域を眼底に設定する（上記眼底撮影モード参照）。

また、制御部７０は、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂの他方によるＯＣＴデータの取得領域をＦＰＮ生成光学系２００の光学部材（例えば、光学部材２０４、光学部材２０６）に設定する。この場合、ＦＰＮ生成光学系２００の光路長は、眼底を経由して検出器１２０ａに達した測定光の光路長とは異なる長さに設定される。例えば、制御部７０は、複数の参照光路の少なくともいずれかを経由した参照光の光路長が、ＦＰＮ生成光学系２００を経由した測定光の光路長と一致するように、測定光と参照光との間の光路長差を調整してもよい。

また、制御部７０は、第１のＯＣＴデータに眼底のＯＣＴデータが含まれるように、測定光路に配置された光学部材の位置が調整された状態において、例えば、制御部７０は、ＦＰＮ生成光学系２００の光学部材からの測定光の光路長と、第２の参照光路１１０ｂからの参照光とが一致するように、第２の参照光路１１０ｂに配置された光学部材１１２が移動されることによって、第２の参照光路１１０ｂの参照光の光路長が調整されてもよい。これによって、第２の検出器１１０ｂからの出力信号に基づいて得られる第２のＯＣＴデータには、ＦＰＮ信号を含むＯＣＴデータが含まれる。この場合、結果として、ＦＰＮ信号に加えて、角膜、水晶体等の信号が含まれてもよい。

なお、上記説明においては、眼底撮影モードでの適用例を示したが、これに限定されず、他の撮影モードにおいて、上記構成が適用されてもよい。

なお、上記説明において、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータの一方にてＦＰＮ信号（例えば、ＦＰＮ信号のみ）を含むＯＣＴデータを取得し、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータの他方にてＦＰＮ信号を含まない被検眼のＯＣＴデータを取得するような場合、上記のような光路長調整に限定されず、遮光部材が用いられてもよい。例えば、制御部７０は、遮光部材２１０を第１の光路中に配置することによって、ＦＰＮ（例えば、ＦＰＮ１）を含まない第１のＯＣＴデータを得てもよい。この場合、第２の光路中から遮光部材２１２が外されているので、ＦＰＮ（例えば、ＦＰＮ２）を含む第２のＯＣＴデータが得られる。なお、ＦＰＮ信号のみが得られる場合、ＦＰＮ信号を用いた補正を精度よく行うことができる。

＜偏光調整＞
制御部７０は、偏光調整部（例えば、第１の偏光調整部３００、第２の偏光調整部３０２、第３の偏光調整部３０４）を制御し、ＯＣＴデータを得る際の偏光状態を調整するようにしてもよい。なお、偏光状態を調整するタイミングとしては、例えば、電源投入時に実施されてもよいし、被検者が変更される毎に実施されてもよい。また、ＯＣＴ光学系における撮影条件を最適化する最適化制御の際に実施されてもよい。

以下、前眼部撮影モードにおける偏光状態の調整を例として説明する。図１４は、前眼部撮影モードにおいて偏光調整を行う場合のＯＣＴデータの一例を示す図である。まず、制御部７０は、第２の偏光調整部３０２を制御し、第２のＯＣＴデータにおける角膜像の信号強度が最大となるように偏光状態を調整する。これによって、第２のＯＣＴデータにおける角膜像が良好な信号強度で取得される。

図１５はＦＰＮの信号強度の一例を示す図である。次に、制御部７０は、第３の偏光調整部３０４を制御し、第２のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号の信号強度が最大となるように偏光状態を調整する。これによって、第２のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号が良好な信号強度で取得される。この結果、第２のＯＣＴデータにおける角膜像とＦＰＮ信号とが良好な信号強度で取得される。

次に、制御部７０は、第１の偏光調整部３００を制御し、第２のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号と第１のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号との間の信号強度比が、所定の信号強度比（例えば、互いの信号強度比が等しい状態）となるように偏光状態を調整する。これによって、第１のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号が良好な信号強度で取得されると共に、第１のＯＣＴデータにおける水晶体像が良好な信号強度で取得される。

上記のような制御によれば、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの間での信号強度のバランスを調整できる。さらに、水晶体を含むＯＣＴデータに関する偏光状態の調整において、第２のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号と第１のＯＣＴデータにおけるＦＰＮ信号との間の信号強度比を用いることで、水晶体像を用いて偏光状態を調整するよりも、精度よく偏光状態が調整される。つまり、この場合の水晶体像は、水晶体後面の情報のみに限定される可能性があり、画像としての情報量が比較的少ないため、信号評価値としての精度が低くなる可能性がある。その結果、良好な偏光状態に調整できない場合がある。これに対し、ＦＰＮ信号が用いられることで、安定的な信号強度を確保できるので、信号評価値としての精度を確保でき、偏光状態を良好に調整できる。

加えて、水晶体後面の情報のみに最適化された偏光状態である場合、第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの間で検出している偏光のミスマッチが生じ、これにより両者の接続領域で強度信号のギャップが生じてしまう。これは例えば、水晶体がギャップ位置にある場合などに顕著である。すなわち水晶体の（一般には弱い）強度信号が不連続になるということであり、混濁具合などを定量評価しようとした場合に致命的となりうる。一方、本実施例により第１のＯＣＴデータと第２のＯＣＴデータとの間で検出している偏光のミスマッチが解消されていれば、このようなギャップは生じない。

また、上記説明において、ＦＰＮ生成光学系の偏光状態が調整されることで、ＦＰＮ信号を精度よく検出できるので、ＦＰＮ信号を用いた各種処理を適正に行うことができる。

なお、上記説明においては、ＦＰＮ信号を用いて水晶体を含むＯＣＴデータに関する偏光状態を調整したが、これに限定されず、ＯＣＴデータにおける水晶体像全体の信号強度を用いて偏光状態を調整してもよい。

なお、上記説明においては、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂを用いる場合に、第１の検出器１２０ａによって得られるＯＣＴデータと、第２の検出器１２０ｂによって得られるＯＣＴデータのそれぞれに関して、偏光状態を調整することで、各ＯＣＴデータを良好な信号強度にて取得できる。もちろん、これに限定されず、一方のＯＣＴデータに関してのみ、偏光状態が調整されてもよい。

また、第１の検出器１２０ａと第２の検出器１２０ｂのいずれか一方を用いる場合には、例えば、使用される検出器によって得られるＯＣＴデータに関して、偏光状態が調整されてもよい。

＜導光光学系の光学配置の切替に係る構成＞
ここで、導光光学系１５０の光学配置の切替に係る構成の例を、図１６を参照して説明する。

図１６は、導光光学系１５０に対し、光学配置の切替に係る構成の一例を適用したものである。図１６では、導光光学系１５０における光学配置を、眼底撮影モードと、前眼部撮影モードと、のモード切替に応じて切り替えるために、主に、第１切替部４１０と第２切替部４２０とが、更に、ＯＣＴ装置に設けられている。

一例として、図１６に示した第１切替部４１０は、ミラー４１１，４１２を含み、ミラー４１１，４１２を移動させることで、対物光学系１５８と光スキャナ１５６との間の光路長を変更する（図１６Ａ⇔図１６Ｂ）。対物光学系１５８と光スキャナ１５６との間の光路長が変更された結果として、対物光学系１５８における焦点と、光スキャナ１５６との相対位置が切り替えられる。

図１６に示した第１切替部４１０におけるミラー４１１，４１２は、ステージ４４０上に配置されており、駆動部４３０がステージ４４０を駆動することによって移動され、対物光学系１５８と光スキャナ１５６との間の光路長を変更する。なお、駆動部４３０は、制御部７０によって駆動される。光路長の変更に伴って、相対位置は、第１位置（光スキャナ１５６が対物光学系１５６の焦点と略一致して配置される位置、図１６Ａ参照）と、第２位置対物光学系１５８に関して光スキャナ１５６と前眼部とが共役関係になる位置、図１６Ｂ参照）との２つの間で切替る。

第１位置の場合、光スキャナ１５６を経て、対物光学系１５８を通過した測定光は、物体側にテレセントリックな光またはテレセントリックに近い光（つまり、光軸上における無限遠点に、又は、その近傍に、旋回点を持つ光）として、被検眼Ｅへ照射される。結果、前眼部Ｅａの広範囲において、ＯＣＴデータを取得可能になる。

このように、対物光学系１５８における焦点位置と光スキャナ１５６との相対位置が、第１切替部４１０によって切り替えられることで、前眼部と眼底のそれぞれにおいて、ＯＣＴデータを良好に取得できる。但し、このとき、第１切替部４１０は、測定光路と参照光路との光路長差が変化される。図１６において、この光路長差の変動の少なくとも一部は、第２切替部４２０によって相殺される。

図１６において、第２切替部４２０は、ミラー４２１〜４２４を有している。第２切替部４２０は、ミラー４２１〜４２４が測定光路上から退避される退避状態と、測定光路上に配置される挿入状態と、に切替えられる。ミラー４２１〜４２４のうち、ミラー４２１，４２２は、ステージ４４０上に配置されており、駆動部４３０がステージ４４０を駆動することによって、測定光路に対して挿脱される。ミラー４２１，４２２が測定光路に対して挿入されることにより、ミラー４２１〜４２４は迂回光路を形成し、挿入前に対して、カップラー１５３と光スキャナ１５６との間における光路長を増大させる。このようにして、第２切替部４２０によって、光スキャナ１５６とカップラー１５３との間における測定光路の光路長が変更される。

ここでは、第１切替部４１０のミラー４１１，４１４、および、第２切替部４２０のミラー４２１，４２２が、１つのステージ４４０の上に配置されており、各ミラー４１１，４１４，４２１，４２２が一体的に変位することによって、第１切替部４１０と第２切替部４２０とが、連動される。即ち、第１切替部４１０によって光スキャナ１５６と被検眼Ｅとの間の光路が短縮される場合に、第２切替部４２０において、ミラー４２１〜４２４による迂回光路が形成され、その結果、光スキャナ１５６からカップラー１５３までの光路は延長される（図１６Ｂ→図１６Ａ）。このとき、測定光路と参照光路の光路長差は、ステージ４４０の駆動の前後で増大される。その結果として、駆動後において参照光学系の調整を省略、或いは、簡略化できる。反対に、第１切替部４１０によって光スキャナ１５６と被検眼Ｅとの間の光路が短縮される場合には、第２切替部４２０において、ミラー４２１，４２２が測定光路から退避されることに伴って、測定光の迂回は解消され、その結果、光スキャナ１５６からカップラー１５３までの光路は短縮される（図１６Ａ→図１６Ｂ）。このとき、測定光路と参照光路の光路調査は、ステージ４４０の駆動の前後で減少される。その結果として、駆動後において参照光学系の調整を省略、或いは、簡略化できる。また、第２切換部４２０は、折り返された２つの光路において、光路長が調整されるので、駆動量が少なく済み、装置のコンパクト化に貢献できる。

このようにして、第１切替部４１０による旋回点の位置変更に伴う測定光路における光路長変化（換言すれば、測定光路と参照光路との光路長差の変化）が、第２切替部４２０によって軽減される。

なお、図１６において、第１切替部４１０におけるミラー４１１，４１２および第２切替部４２０におけるミラー４２１〜４２４は、例えば、プリズム等に置き換えられてもよい。

＜アタッチメント光学系取付け時の光学配置の切替に係る構成＞
図１６に示した導光光学系１５０を持つ、ＯＣＴ装置１は、更に、アタッチメント光学系５００が着脱可能であってもよい。図１７を参照してに、アタッチメント光学系５００を装着するときの、光学配置の切替動作を説明する。図１７に示すアタッチメント光学系５００は、眼底撮影モードにおいて、装置に装着され、これにより、眼底における測定光の走査範囲を広角化する。

アタッチメント光学系５００が装着されると、カップラー１５３から眼底までの光路長が増大される。このとき、増大する光路長は、第１切替部４１０，第２切替部４２０によって相殺されてもよい。例えば、図１７に示すように、第１切替部４１０および第２切替部４２０とのうち、第１切替部４１０のみが、アタッチメント光学系５００の装着前に対して光路長を短縮化し、これにより、アタッチメント光学系５００の装着による光路長差の増大が少なくとも一部、相殺されてもよい。

図１７では、第１切替部４１０，第２切替部４２０が、共通の駆動部４３０によって一体的に駆動されるが、第１切替部４１０と、第２切替部４２０と、独立に駆動可能である場合（換言すれば、第１切替部４１０，第２切替部４２０のそれぞれに、駆動部がある場合）、第２切替部４２０のみを駆動して、アタッチメント光学系５００が装着されるときの光路長差の増大が、抑制されてもよい。つまり、第２切替部４２０は、光路長差を、一定量、離散的に変更する。この変更量と、アタッチメント装着時に増大する光路長差の変化量と、が一致されていてもよい。

なお、上記説明においては、ＳＳ−ＯＣＴを例としたが、これに限定されず、ＳＤ−ＯＣＴにおいて本実施例が適用されてもよい。この場合、複数の検出器として、複数のスペクトロメータが用いられてもよい。

なお、上記説明においては、被検眼を撮影するためのＯＣＴ装置を例としたが、これに限定されず、被検物のＯＣＴデータを撮影するためのＯＣＴ装置において、本実施形態が適用されてもよい。また、被検物は、例えば、眼（前眼部、眼底等）、皮膚など生体のほか、生体以外の材料であってもよい。

本実施例に係るＯＣＴ装置の一例を示す図である。本実施例に係るＦＰＮ生成光学系の一例を示す図である。ＦＰＮ信号を用いて複数のＯＣＴデータを合成する場合のデータの一例を示す図であり、合成前を示す図である。ＦＰＮ信号を用いて複数のＯＣＴデータを合成する場合のデータの一例を示す図であり、合成後のイメージ図である。ＦＰＮ信号を用いて複数のＯＣＴデータを合成する場合のデータの変容例を示す図である。ＦＰＮ信号を用いて複数のＯＣＴデータを合成する場合のデータの変容例を示す図である。波数マッピング補正に用いるＯＣＴデータの一例を示す図である。ＦＰＮを処理して得られる波数マッピング情報の一例を示す図である。第１の波数マッピング情報φ１（ｋ）と第２の波数マッピング情報φ２（ｋ）との間の差分情報Δφ（ｋ）を求める場合、マッピング状態を補正するための一例を示す図である。眼底撮影モードにおいて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図である。眼軸長撮影モードにおいて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図である。前眼部撮影モードにおいて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図である。眼底撮影モードにおいてリアルタイム補正を適用する場合の一例を示す図である。前眼部撮影モードにおいて偏光調整を行う場合のＯＣＴデータの一例を示す図である。ＦＰＮの信号強度の一例を示す図である。導光光学系における、光学配置の切替動作を説明するための図である。アタッチメント光学系の着脱による、導光光学系における光学配置の切替動作を説明する図である。

７０制御部
１００干渉光学系
１０２光源
１０４カップラ
１３０カップラ
１５０導光光学系
１５６光スキャナ
１５８対物光学系
４１０第１切換部
４２０第２切換部
４３０駆動部
４４０ステージ
５００アタッチメント光学系

Claims

ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための光分割器を有し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を備え、前記ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理して被検眼のＯＣＴデータを取得可能なＯＣＴ装置であって、
前記光分割器からの前記測定光を偏向し、被検眼の組織上で走査する光スキャナと、
前記光スキャナからの測定光を被検眼へ導く対物光学系と、
前記対物光学系の焦点と前記光スキャナとの相対位置を光軸方向に関して切替える第１切替手段と、
前記測定光路における前記光分割部と前記光スキャナとの間の光路長を切替えることで、前記第１切替手段によって前記相対位置が切替えられることによる前記測定光路と前記参照光路との光路長差の変化の少なくとも一部を相殺する、第２切替手段と、
を備えることを特徴とするＯＣＴ装置。
前記第１切替手段は、前記相対位置を、前眼部の深さ領域と対応する第１位置と、眼底の深さ領域と対応する第２位置と、の間で切替え、
前記第２切替手段は、前記相対位置が前記第１位置と前記第２位置との間で切替えられるときの前記光路長差の変化を相殺した結果として前記光路長差が眼軸長相当量だけ変化される請求項１記載のＯＣＴ装置。
前記第１位置は、前記対物光学系における焦点との共役位置であって、前記第２位置は、前記対物光学系に対して前記共役位置よりも遠方側の位置である請求項２記載のＯＣＴ装置。
前記補正手段は、前記駆動部を前記第１切替手段と前記第２切替手段との共通の駆動源とし、前記第１切替手段と前記第２切替手段とを、それぞれによる前記光路長差の変化が相殺するように連動させる機構である請求項２または３記載のＯＣＴ装置。
前記第２切替手段は、前記駆動部とは別体の第２駆動部を持ち、前記第２駆動部の駆動に基づいて前記光分割部と前記光スキャナとの間の光路長を切替え、
前記補正手段は、前記制御手段による前記駆動部の制御と連動して前記第２駆動部を制御することにより、前記第１切替手段と前記第２切替手段とのそれぞれによる光路長変化を相殺させる請求項２または３記載のＯＣＴ装置。
ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための光分割器を有し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を備え、前記ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理して被検眼のＯＣＴデータを取得可能なＯＣＴ装置であって、
前記光分割器からの前記測定光を偏向し、被検眼の組織上で走査する光スキャナと、
前記光スキャナからの測定光を被検眼へ導く対物光学系であって、アタッチメント光学系の着脱に基づいて、前記ＯＣＴデータが取得される深さ領域、前記測定光の走査範囲、および、ＯＣＴデータの分解能のうち少なくとも一方が変更される対物光学系と、
前記測定光路における前記光分割部と前記光スキャナとの間の光路長を切替えることで、前記アタッチメント光学系の着脱に伴う前記測定光路と前記参照光路との光路長差の変化の少なくとも一部を相殺する、切換手段と、
を備えることを特徴とするＯＣＴ装置。
前記切替手段は、前記対物光学系と前記光スキャナとの間における前記測定光路の光路長を切替える、請求項６記載のＯＣＴ装置。
前記切替手段は、前記光スキャナと前記光分割部との間における前記測定光路の光路長を切替える、請求項６記載のＯＣＴ装置。
前記切替手段は、前記対物光学系と前記光スキャナとの間における前記測定光路の光路長を切替える第１切替手段と、前記光スキャナと前記光分割部との間における前記測定光路の光路長を切替える、第２切替手段とを含み、
前記補正手段は、前記アタッチメントの着脱に応じて、前記第１切替手段と前記第２切替手段との両方を駆動させ、前記光路長差の変化の少なくとも一部を相殺する請求項６記載のＯＣＴ装置。
前記アタッチメント光学系の着脱状態を検出する検出手段を有し、
前記補正手段は、前記検出手段からの検出信号に基づいて前記切替手段を駆動制御する請求項６から９のいずれかに記載のＯＣＴ装置。