JP2018160333A - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018160333A
JP2018160333A JP2017055854A JP2017055854A JP2018160333A JP 2018160333 A JP2018160333 A JP 2018160333A JP 2017055854 A JP2017055854 A JP 2017055854A JP 2017055854 A JP2017055854 A JP 2017055854A JP 2018160333 A JP2018160333 A JP 2018160333A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power
processing apparatus
plasma processing
microwave
microwave generator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017055854A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6850645B2 (ja
Inventor
和史 金子
Kazufumi Kaneko
和史 金子
洋平 石田
Yohei Ishida
洋平 石田
先 田村
Hajime Tamura
先 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2017055854A priority Critical patent/JP6850645B2/ja
Priority to KR1020180030378A priority patent/KR102469576B1/ko
Priority to US15/922,215 priority patent/US20180277339A1/en
Publication of JP2018160333A publication Critical patent/JP2018160333A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6850645B2 publication Critical patent/JP6850645B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • H01J37/32211Means for coupling power to the plasma
    • H01J37/32238Windows
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • H01J37/32266Means for controlling power transmitted to the plasma
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
    • C23C16/511Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/321Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
    • H01J37/3211Antennas, e.g. particular shapes of coils
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/321Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
    • H01J37/32119Windows
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • H01J37/32211Means for coupling power to the plasma
    • H01J37/3222Antennas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32394Treating interior parts of workpieces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32532Electrodes
    • H01J37/32577Electrical connecting means

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】そのサイズ及び重量が小さいマイクロ波発生器を有するプラズマ処理装置を提供する。【解決手段】プラズマ処理装置のマイクロ波発生器は、第1のモジュール、第2のモジュール、及び、合成器を備える。第1のモジュールは、高周波電気信号を分配する分配器を含み、複数の高周波電気信号を出力する。第2のモジュールの複数の増幅器モジュールは、第1のモジュールからの複数の高周波電気信号をそれぞれ増幅して複数のマイクロ波を出力する。合成器は、複数の増幅器モジュールからの複数のマイクロ波を合成してマイクロ波を出力する。複数の増幅器モジュールの各々は、DC/DC変換器及び増幅器を有する。DC/DC変換器は、外部の直流電源からの第1の直流電力の電圧を降圧させて第2の直流電力を出力する。増幅器は、第2の直流電力を用いて高周波電気信号を増幅して、マイクロ波を出力する。【選択図】図4

Description

本開示の実施形態は、プラズマ処理装置に関するものである。
電子デバイスの製造においては、基板に対するプラズマエッチング、又は、基板上への成膜のようなプラズマ処理のために、プラズマ処理装置が用いられている。プラズマ処理装置では、チャンバに供給されたガスが励起されることにより、チャンバ内においてプラズマが生成される。プラズマ処理装置では、ガスを励起させるために、高周波電力(電気エネルギー)が用いられる。このため、プラズマ処理装置は高周波電源部を有している。このようなプラズマ処理装置は、特許文献1に記載されている。
特許文献1に記載されたプラズマ処理装置では、高周波電源部は、発振器及び増幅器を有している。発振器は高周波電気信号を発生し、増幅器は、発振器からの高周波電気信号を増幅して、ガスの励起のために高周波電力を出力する。増幅器は、高周波電気信号の増幅において、直流電源部から供給される直流電力を用いる。直流電源部は、スイッチング電源であり、商用交流電力を、増幅器の駆動に適した電圧を有する直流電力に変換する。増幅器と直流電源部とはケーブルを介して接続されている。
特開2004−247401号公報
プラズマ処理装置の一種として、マイクロ波によってチャンバ内のガスを励起するプラズマ処理装置が用いられている。この種のプラズマ処理装置においては、マグネトロンを有するマイクロ波発生器、又は、半導体素子を用いて増幅を行う増幅器を有するマイクロ発生器が用いられる。後者、即ち、増幅器を有するマイクロ波発生器は、直流電力を用いて高周波電気信号を増幅することにより、マイクロ波を生成する。
ところで、プラズマ処理装置には、それが配置されるエリアが小さいことが求められる。例えば、プラズマ処理装置がクリーンルームにおいて用いられる場合には、クリーンルームにおいて当該プラズマ処理装置が占有するエリアが小さいことが望まれる。そのためには、プラズマ処理装置のマイクロ波発生器のサイズは小さいことが求められる。また、プラズマ処理装置のマイクロ波発生器の重量も小さいことが求められる。
一態様においては、マイクロ波発生器を備えるプラズマ処理装置が提供される。マイクロ波発生器は、第1のモジュール、第2のモジュール、及び、合成器を備える。第1のモジュールは、高周波電気信号を分配する分配器を含み、複数の高周波電気信号を出力するように、構成されている。第2のモジュールは、複数の増幅器モジュールを含む。複数の増幅器モジュールは、第1のモジュールからの複数の高周波電気信号をそれぞれ増幅して複数のマイクロ波を出力する。合成器は、複数の増幅器モジュールからの複数のマイクロ波を空間合成により合成してマイクロ波を出力する。複数の増幅器モジュールの各々は、DC/DC変換器及び増幅器を有する。DC/DC変換器は、外部の直流電源からの第1の直流電力の電圧を降圧させて第2の直流電力を出力する。増幅器は、第2の直流電力を用いて第1のモジュールからの複数の高周波電気信号のうち対応の高周波電気信号を増幅してマイクロ波を出力する。
増幅器において高周波電気信号を増幅するためには、当該増幅器の駆動に適した電圧の直流電力が増幅器に与えられなければならない。かかる直流電力を得るための一つの策は、マイクロ波発生器にスイッチング電源を一体化することである。このスイッチング電源は、商用交流電力を増幅器の駆動に適した電圧の直流電力に変換するスイッチング電源である。このようなスイッチング電源が一体化されたマイクロ波発生器は、そのサイズ及び重量の双方において大きくなる。別の策は、商用交流電力を増幅器の駆動に適した電圧の直流電力に変換するスイッチング電源を、マイクロ波発生器とは別体として提供し、当該スイッチング電源とマイクロ波発生器とを電力伝送用のケーブルによって接続することである。しかしながら、この策では、ケーブルに流れる電流が大きくなるので、ケーブルの断面積が大きくなり、ケーブルの重量が重くなるので、当該ケーブルの取り扱いは容易ではない。
一態様に係るプラズマ処理装置のマイクロ波発生器では、複数の増幅器モジュールのそれぞれにおいて増幅器により高周波電気信号を増幅することによって生成された複数のマイクロ波を合成して、マイクロ波を出力する。このマイクロ波発生器では、各増幅器モジュールがDC/DC変換器及び増幅器を有している。DC/DC変換器は、外部の直流電源、即ち、商用交流電力を直流電力に変換するスイッチング電源からの第1の直流電力を受けて、当該第1の直流電力の電圧を降圧させた第2の直流電力を増幅器に与える。即ち、一態様に係るプラズマ処理装置のマイクロ波発生器は、別体の直流電源(スイッチング電源)からの第1の直流電力を各増幅器モジュールのDC/DC変換器において低電圧の直流電力に変換して、当該直流電力を増幅器で用いている。したがって、マイクロ波発生器がそのサイズ及び重量の双方において小さくなる。また、一態様に係るプラズマ処理装置のマイクロ波発生器では、別体の直流電源から供給される第1の直流電力の電圧が複数の増幅器モジュールの各々のDC/DC変換器において降圧されるので、当該マイクロ波発生器と直流電源との間に設けられたケーブルに流れる電流が小さくなる。したがって、当該マイクロ波発生器と直流電源との間のケーブルとして、その断面積及び重量が小さいケーブルを用いることができる。故に、マイクロ波発生器と直流電源との間のケーブルとして、取り扱いの容易なケーブルを用いることができる。
一実施形態において、複数の増幅器モジュールは、第1のモジュールを囲むように周方向に沿って均等に配列されている。この実施形態によれば、第1のモジュールの周囲のスペースが、複数の増幅器モジュールを配置するためのスペースとして効率的に利用される。したがって、マイクロ波発生器のサイズが小さくなる。
一実施形態において、プラズマ処理装置のマイクロ波発生器は、複数の増幅器モジュールを冷却するための複数のヒートシンクを更に備える。複数の増幅器モジュールと複数のヒートシンクは周方向に沿って交互に配列されている。この実施形態によれば、複数の増幅器モジュールが配列されている第1のモジュールの周囲のスペース内で複数のヒートシンクが効率的に配置される。したがって、複数のヒートシンクを更に備え、小さいサイズを有するマイクロ波発生器が提供される。
一実施形態において、プラズマ処理装置のマイクロ波発生器は、上記高周波電気信号を生成する波形発生器を更に備える。第1のモジュールが当該波形発生器を含んでいてもよい。
一実施形態において、プラズマ処理装置は、直流電源、及び、ケーブルを更に備える。直流電源は、上述の第1の直流電力を発生する。ケーブルは、直流電源とマイクロ波発生器の複数の増幅器モジュールとの間で第1の直流電力を伝送するように構成されている。
上記実施形態のプラズマ処理装置では、マイクロ波発生器と直流電源が別体である。したがって、マイクロ波発生器のサイズは小さく、当該マイクロ波発生器が占有するエリアが小さくなる。また、マイクロ波発生器が配置されるスペースと別のスペース(例えば用力室)に直流電源を配置することができる。
一実施形態では、ケーブルは、キャブタイヤケーブルである。ケーブルは、その重量が20kg以下であり、その外径が20mm以下であり、その最小曲げ半径が100mm以下であり、その耐電圧が600V以下であることを満たす。また、ケーブルは、当該ケーブル中の一以上の導体の総断面積が8mm以下であることを満たす多芯ケーブルである。かかる重量、外径、曲げ半径、及び、耐電圧を有するケーブルの取り扱いは容易である。また、かかる断面積を有する多芯ケーブルによれば、マイクロ波の生成のために必要な電力を許容電流の範囲内で伝送することが可能である。
一実施形態において、プラズマ処理装置は、チャンバを提供するチャンバ本体、及び、アンテナを更に備える。アンテナは、マイクロ波発生器に接続されており、チャンバに供給されるガスを励起させるためにマイクロ波をチャンバに導入する。このプラズマ処理装置において用いられるマイクロ波発生器は小さいので、プラズマ処理装置のサイズも小さくなる。したがって、プラズマ処理装置が占有するエリアが小さくなる。
一実施形態において、プラズマ処理装置は、各々が上述した一態様又は種々の実施形態のうち何れかにおけるマイクロ波発生器である複数のマイクロ波発生器を備える。このプラズマ処理装置は、直流電源、及び、複数のケーブルを更に備える。直流電源は、上述の第1の直流電力を発生する。複数のケーブルは、直流電源と複数のマイクロ波発生器の複数の増幅器モジュールとの間で第1の直流電力を伝送する。このプラズマ処理装置によれば、複数のマイクロ波発生器に単一の直流電源から直流電力が供給される。
一実施形態において、プラズマ処理装置は、複数のチャンバ本体、及び、複数のアンテナを更に備える。複数のアンテナは、複数のマイクロ波発生器に接続されており、複数のチャンバ本体それぞれによって提供される複数のチャンバに供給されるガスを励起させるためにマイクロ波を複数のチャンバにそれぞれ導入する。このプラズマ処理装置では、単一の直流電源からの直流電力が複数のチャンバ用の複数のマイクロ波発生器に供給される。
以上説明したように、そのサイズ及び重量が小さいマイクロ波発生器が提供される。
一実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 図1に示すプラズマ処理装置の一部を破断して示す図である。 図1に示すプラズマ処理装置の導波部を、マイクロ波発生器及び制御部と共に示す図である。 図1に示すプラズマ処理装置のマイクロ波発生器の構成を示す図である。 図4に示す波形発生器における高周波電気信号の生成原理を説明する図である。 一実施形態に係るマイクロ波発生器の斜視図である。 図6に示すマイクロ波発生器のメインユニットの分解斜視図である。 図6に示すマイクロ波発生器の第1のモジュールの底面側を示す平面図である。 図6に示すマイクロ波発生器の第2のモジュールの平面図である。 図6に示すマイクロ波発生器の第2のモジュールの側面図である。 図6に示すマイクロ波発生器の第2のモジュールの冷却構造を示す側面図である。 図7に示すメインユニットの合成器を示す断面図である。 図7に示すメインユニットの合成器を示す平面図である。 別の実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。
以下、図面を参照して種々の実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
図1は、一実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図1に示すプラズマ処理装置1は、チャンバ本体2、アンテナ4、マイクロ波発生器6、ケーブル8、及び、直流電源10を備えている。また、プラズマ処理装置1は、導波部9を更に備え得る。チャンバ本体2、アンテナ4、マイクロ波発生器6、及び、導波部9は、例えばクリーンルームに配置される。直流電源10は、例えば用力室といった別の部屋に配置される。マイクロ波発生器6と直流電源10とは、ケーブル8を介して電気的に接続される。このプラズマ処理装置1では、チャンバ本体2内のガスが、アンテナ4から導入されるマイクロ波によって励起される。マイクロ波は、マイクロ波発生器6によって生成され、導波部9を介してアンテナ4に供給される。
マイクロ波発生器6は、固体電力増幅器を構成しており、マイクロ波の生成のための電力増幅において直流電源10からの直流電力を用いる。直流電力は、ケーブル8を介して直流電源10からマイクロ波発生器6に供給される。直流電源10は、スイッチング電源である。直流電源10は、商用交流電力を直流電力(第1の直流電力)に変換する。直流電源10は、例えば、交流200Vの電力を200V以上600V以下の電圧を有する直流電力に変換する。
図2は、図1に示すプラズマ処理装置の一部を破断して示す図である。図2に示すように、チャンバ本体2は、その内部空間をチャンバ2cとして提供している。チャンバ本体2は、側壁2a及び底部2bを有している。側壁2aは、略筒形状を有している。この側壁2aの中心軸線は、鉛直方向に延びる軸線AZに略一致している。底部2bは、側壁2aの下端側に設けられている。底部2bには、排気用の排気孔2hが設けられている。また、側壁2aの上端部には開口が設けられている。
側壁2aの上端部の上には誘電体窓12が設けられている。この誘電体窓は、石英又は酸化アルミニウムといった誘電体から形成されている。誘電体窓12は、略円盤形状を有している。誘電体窓12は、下面12aを有している。下面12aは、チャンバ2c側の誘電体窓12の表面である。誘電体窓12は、側壁2aの上端部の開口を閉じている。誘電体窓12と側壁2aの上端部との間にはOリング13が設けられている。このOリング13により、チャンバ本体2と誘電体窓12との間において気密が確保される。
チャンバ2c内には、ステージ14が設けられている。ステージ14は、誘電体窓12の下方に設けられており、チャンバ2c内の空間を介して誘電体窓12と対面している。ステージ14は、その上に載置される被加工物Wを支持するように構成されている。被加工物Wは、ウエハのように円盤形状を有する。
ステージ14は、基台14a及び静電チャック14cを含み得る。基台14aは、略円盤形状を有しており、アルミニウムといった導電性の材料から形成されている。基台14aの中心軸線は、軸線AZに略一致している。この基台14aは、筒状支持部15によって支持されている。筒状支持部15は、絶縁性の材料から形成されており、底部2bから上方に延びている。筒状支持部15の外周には、導電性の筒状支持部16が設けられている。筒状支持部16は、筒状支持部15の外周に沿ってチャンバ本体2の底部2bから上方に延びている。この筒状支持部16と側壁2aとの間には、環状の排気路17が形成されている。
排気路17の上部には、バッフル板18が設けられている。バッフル板18は、環形状を有している。バッフル板18には、当該バッフル板18をその板厚方向に貫通する複数の貫通孔が形成されている。このバッフル板18の下方には排気孔2hが設けられている。排気孔2hには、排気管19を介して排気装置20が接続されている。排気装置20は、自動圧力制御弁(Automatic Pressure Control valve)と、ターボ分子ポンプといった真空ポンプと、を有している。この排気装置20により、チャンバ2cを減圧することができる。
基台14aは、高周波電極として用いられる。基台14aには、給電棒21及びマッチングユニット22を介して、RFバイアス用の高周波電源23が電気的に接続されている。高周波電源23は、バイアス用の高周波(高周波エネルギー)を出力する。高周波電源23によって出力される高周波は、被加工物Wに引き込まれるイオンのエネルギーを制御するのに適した周波数を有する。高周波電源23によって出力される高周波の周波数は、例えば13.56MHzであり得る。マッチングユニット22は、高周波電源23側のインピーダンスと、主に電極、プラズマ、チャンバ本体2といった負荷側のインピーダンスとの間で整合をとるための整合器を有している。この整合器は、自己バイアス生成用のブロッキングコンデンサを含んでいる。
基台14a上には、静電チャック14cが設けられている。静電チャック14cは、静電力を発生するよう構成されている。静電チャック14cは、静電力により被加工物Wを当該静電チャック14cに引き付けて、当該被加工物Wを保持する。静電チャック14cは、絶縁層、及び、当該絶縁層内に設けられた膜状の電極を有する。静電チャック14cは、略円盤形状を有している。静電チャック14cの中心軸線は軸線AZに略一致している。この静電チャック14cの電極には、直流電源24がスイッチ25を介して電気的に接続されている。直流電源24によって静電チャック14cの電極に直流電圧が印加されると、静電チャック14cは静電力を発生する。基台14a上には、静電チャック14c及び被加工物Wを囲むように、フォーカスリングFRが配置される。
基台14aの内部には、流路14gが形成されている。流路14gは、例えば、軸線AZを中心に渦巻状に延在している。この流路14gには、チラーユニットからの冷媒が配管26を介して供給される。流路14gに供給された冷媒は、配管27を介してチラーユニットに戻される。この冷媒の温度がチラーユニットによって調整されることにより、静電チャック14cの温度、ひいては被加工物Wの温度が調整される。
また、プラズマ処理装置1には、ガス供給ライン28が設けられている。ガス供給ライン28は、ステージ14を通って、静電チャック14cの上面まで延びている。ガス供給ライン28は、伝熱ガス(例えばHeガス)を、静電チャック14cの上面と被加工物Wの裏面との間に供給するために設けられている。
上述したように、誘電体窓12上には、アンテナ4が設けられている。即ち、アンテナ4は、誘電体窓12の面12b上に設けられている。面12bは、誘電体窓12の下面12aと反対側の面である。アンテナ4は、マイクロ波をチャンバ2cに導入するよう構成されている。一実施形態では、アンテナ4は、スロット板30、誘電体板31、及び、冷却ジャケット32を含んでいる。
スロット板30は、誘電体窓12の面12b上に設けられている。スロット板30は、導電性を有する金属から形成されており、略円盤形状を有している。スロット板30の中心軸線は軸線AZに略一致している。スロット板30には、複数のスロット孔30aが形成されている。複数のスロット孔30aは、一例においては、複数のスロット対を構成している。複数のスロット対の各々は、互いに交差する方向に延びる略長孔形状の二つのスロット孔30aを含んでいる。複数のスロット対は、軸線AZ周りの一以上の同心円に沿って配列されている。また、スロット板30の中央部には、後述する導管が通過可能な貫通孔30dが形成される。
誘電体板31は、スロット板30上に設けられている。誘電体板31は、石英又は酸化アルミニウムといった誘電体材料から形成されており、略円盤形状を有している。この誘電体板31の中心軸線は、軸線AZに略一致している。冷却ジャケット32は、誘電体板31上に設けられている。冷却ジャケット32の表面は、導電性を有する。誘電体板31は、マイクロ波の導波路を提供するよう、冷却ジャケット32とスロット板30との間に設けられている。冷却ジャケット32の内部には、流路32aが形成されている。この流路32aには、冷媒が供給されるようになっている。
アンテナ4は、導波部9を介してマイクロ波発生器6に接続されている。図3は、図1に示すプラズマ処理装置の導波部を、マイクロ波発生器及び制御部と共に示す図である。図3に示すように、一実施形態において、導波部9は、導波管34、方向性結合器35、測定部36、サーキュレータ37、導波管38、導波管39、方向性結合器40、測定部41、ロード42、チューナ43、チューナ制御部44、モード変換器45、及び、同軸導波管46を有している。
導波管34の一端は、マイクロ波発生器6の出力に接続されている。導波管34の一端と他端との間には、方向性結合器35が設けられている。方向性結合器35は、導波管34の一端から他端に伝搬するマイクロ波(即ち、進行波)の一部を分岐させて、当該進行波の一部を出力するように構成されている。測定部36は、方向性結合器35から出力された進行波の一部のパワーを測定し、当該進行波の一部のパワーの値を利用して、進行波のパワーを求めるように構成されている。測定部36は、求めた進行波のパワーの値を、マイクロ波発生器6の後述するパワー制御部に出力する。
導波管34の他端はサーキュレータ37の第1のポートに接続されている。サーキュレータ37は、第1のポート、第2のポート、及び、第3のポートを有する。サーキュレータ37は、第1のポートに入力されるマイクロ波(進行波)を第2のポートに出力し、第2のポートに入力されるマイクロ波(反射波)を第3のポートに出力する。サーキュレータ37の第2のポートには、導波管38の一端が接続されている。サーキュレータ37の第3のポートには、導波管39の一端が接続されている。
導波管39の一端と他端との間には、方向性結合器40が設けられている。方向性結合器40は、導波管39の一端から他端に向けて伝搬するマイクロ波(反射波)の一部を分岐させて、当該反射波の一部を出力するように構成されている。測定部41は、方向性結合器40から出力された反射波の一部のパワーを測定し、当該反射波の一部のパワーの値を利用して、反射波のパワーを求めるように構成されている。測定部41は、求めた反射波のパワーの値を、マイクロ波発生器6の後述するパワー制御部に出力する。
導波管39の他端には、ロード42が接続されている。ロード42は、導波管39の一端から他端に伝搬したマイクロ波(反射波)を吸収する。ロード42は、例えば、マイクロ波のエネルギーを熱に変換する。
導波管38の一端と他端との間には、チューナ43が設けられている。チューナ43は、複数の可動部(可動板又は可動ロッド)を有している。複数の可動部の各々は、導波管38の内部空間に対するその突出量を調整可能なように構成されている。チューナ43は、基準位置に対する複数の可動部の位置を調整することにより、マイクロ波発生器6のインピーダンスと、チャンバ本体2側の負荷のインピーダンスとを整合させる。チューナ43の制御は、チューナ制御部44によって実行される。チューナ制御部44は、プラズマ処理装置1の制御部CUから与えられる制御信号により、チューナ43を制御する。
導波管38の他端には、モード変換器45が接続されている。モード変換器45は、導波管38から入力されるマイクロ波のモードを変換する。モード変換器45には、同軸導波管46の一端が接続されている。モード変換器45によるモード変換後のマイクロ波は、同軸導波管46に供給される。
図2に示すように、同軸導波管46は、外側導体46a及び内側導体46bを含んでいる。外側導体46aは、略円筒形状を有しており、その中心軸線は軸線AZに略一致している。内側導体46bは、略円筒形状を有しており、外側導体46aの内側で延在している。内側導体46bの中心軸線は、軸線AZに略一致している。この同軸導波管46は、モード変換器45からのマイクロ波をアンテナ4に伝送する。
上述の冷却ジャケット32の上部表面には、同軸導波管46の外側導体46aの下端が電気的に接続されている。また、内側導体46bの下端部は、冷却ジャケット32及び誘電体板31の中央部分に形成された孔を通って、スロット板30に電気的に接続されている。同軸導波管46からのマイクロ波は、誘電体板31内を伝搬して、スロット板30の複数のスロット孔30aから誘電体窓12に供給される。誘電体窓12に供給されたマイクロ波は、チャンバ2cに導入される。
同軸導波管46の内側導体46bの内孔には、導管47が通されている。上述したように、スロット板30の中央部には、導管47が通過可能な貫通孔30dが形成されている。導管47は、内側導体46bの内孔を通って延在しており、ガス供給系48に接続されている。
ガス供給系48は、被加工物Wを処理するためのガスを導管47に供給する。ガス供給系48は、一以上のガス源48a、一以上の開閉弁48b、及び、一以上の流量制御器48cを含み得る。一以上の開閉弁48bは、一以上のガス源48aからのガスの供給及び供給停止を切り替える。一以上の流量制御器48cは、例えば、マスフローコントローラであり、一以上のガス源48aからのガスの流量を調整する。
プラズマ処理装置1は、インジェクタ49を更に備え得る。インジェクタ49は、導管47からのガスを誘電体窓12に形成された貫通孔12hに供給する。誘電体窓12の貫通孔12hに供給されたガスは、チャンバ2cに供給される。そして、誘電体窓12からチャンバ2cに導入されるマイクロ波によって、当該ガスが励起される。これにより、チャンバ2c内でプラズマが生成され、当該プラズマからのイオン及び/又はラジカルといった活性種により、被加工物Wが処理される。
図1に示すように、プラズマ処理装置1は、制御部CUを更に備え得る。制御部CUは、プラズマ処理装置1の各部を統括制御する。制御部CUは、CPUといったプロセッサ、ユーザインタフェース、及び、記憶部を備え得る。
プロセッサは、記憶部に記憶されたプログラム及びプロセスレシピを実行することにより、マイクロ波発生器6、チューナ制御部44、排気装置20、マッチングユニット22、高周波電源23、スイッチ25、ガス供給系48等の各部を統括制御する。
ユーザインタフェースは、オペレータがプラズマ処理装置1を管理するためにコマンドの入力操作等を行うキーボード又はタッチパネル、プラズマ処理装置1の稼働状況等を可視化して表示するディスプレイ等を含んでいる。
記憶部には、プラズマ処理装置1で実行される各種処理をプロセッサの制御によって実現するための制御プログラム(ソフトウエア)、及び、処理条件データ等を含むプロセスレシピ等が保存されている。プロセッサは、ユーザインタフェースからの指示等、必要に応じて、各種の制御プログラムを記憶部から呼び出して実行する。このようなプロセッサの制御下で、プラズマ処理装置1において所望の処理が実行される。
以下、マイクロ波発生器6について詳細に説明する。マイクロ波発生器6は、チャンバ2c内のガスを励起させるためのマイクロ波を出力する。マイクロ波発生器6は、マイクロ波の周波数、パワー、及び、帯域幅を可変に調整するよう構成されている。マイクロ波発生器6は、例えば、マイクロ波の帯域幅を略0に設定することによって、単一周波数のマイクロ波を発生することができる。また、マイクロ波発生器6は、その帯域幅内に複数の周波数成分を含むマイクロ波を発生することができる。これら複数の周波数成分のパワーは同一のパワーであってもよく、帯域内の中心周波数成分のみが他の周波数成分のパワーよりも大きいパワーを有していてもよい。
一例において、マイクロ波発生器6は、マイクロ波のパワーを0W〜最大出力パワーの範囲内で調整することができる。最大出力パワーは、例えば6000W以上のパワーであり得る。また、マイクロ波発生器6は、マイクロ波の周波数又は中心周波数を2400MHz〜2500MHzの範囲内で調整することでき、マイクロ波の帯域幅を〜100MHzの範囲で調整することができる。また、マイクロ波発生器6は、帯域内におけるマイクロ波の複数の周波数成分の周波数のピッチ(キャリアピッチ)を0〜25kHzの範囲内で調整することができる。
図4は、図1に示すプラズマ処理装置のマイクロ波発生器の構成を示す図である。図4に示すように、マイクロ波発生器6は、第1のモジュール61、第2のモジュール62、及び、合成器63を備えている。第1のモジュール61は、高周波電気信号を分配する分配器615を含み、複数の高周波電気信号を出力するよう構成されている。一実施形態では、第1のモジュール61は、波形発生器611、パワー制御部612、減衰器613、アンプ614、及び、調整部616を更に含み得る。なお、波形発生器611は、第1のモジュール61の外部に設けられていてもよい。
波形発生器611は、制御端子6cを介して、制御部CUに接続されている。また、波形発生器611は、パワー制御部612に接続されている。パワー制御部612は、制御端子6cを介して、制御部CU、測定部36、及び、測定部41に接続されている。波形発生器611は、制御部CUからの制御信号によって指定される設定周波数、設定帯域幅、及び、設定ピッチにそれぞれ応じた周波数(又は中心周波数)、帯域幅、及び、キャリアピッチを有する高周波電気信号を発生する。なお、制御部CUが帯域内の複数の周波数成分のパワーをパワー制御部612を介して指定している場合には、波形発生器611は、制御部CUによって指定された複数の周波数成分のパワーを反映したパワーをそれぞれ有する複数の周波数成分を含む高周波電気信号を発生してもよい。
図5は、図4に示す波形発生器における高周波電気信号の生成原理を説明する図である。波形発生器611は、例えば、PLL(Phase Locked Loop)発振器と、PLL発振器に接続されたIQデジタル変調器とを有する。PLL発振器は、基準周波数と位相を同期させた高周波電気信号を発振する。波形発生器611は、PLL発振器において発振される高周波電気信号の周波数を制御部CUから指定された設定周波数に設定する。そして、波形発生器611は、PLL発振器からの高周波電気信号と、当該PLL発振器からの高周波電気信号に対して90°の位相差を有する高周波電気信号とを、IQデジタル変調器を用いて変調する。これにより、波形発生器611は、帯域内において複数の周波数成分を含む高周波電気信号、又は、単一周波数の高周波電気信号を生成する。
図5に示すように、波形発生器611は、例えば、N個の複素データシンボルに対する逆離散フーリエ変換を行って連続信号を生成することにより、複数の周波数成分を含む高周波電気信号を生成する。この信号の生成方法は、ディジタルテレビ放送等で用いられるOFDMA(Orthogonal Frequency−Division Multiple Access)変調方式と同様の方法であり得る(例えば特許5320260号参照)。
一例では、波形発生器611は、予めデジタル化された符号の列で表された波形データを有している。波形発生器611は、波形データを量子化し、量子化したデータに対して逆フーリエ変換を適用することにより、IデータとQデータとを生成する。そして、波形発生器611は、Iデータ及びQデータの各々に、D/A(Digital/Analog)変換を適用して、二つのアナログ信号を得る。波形発生器611は、これらアナログ信号を、低周波成分のみを通過させるLPF(ローパスフィルタ)に入力する。波形発生器611は、LPFから出力された二つのアナログ信号を、PLL発振器からの高周波電気信号、PLL発振器からの高周波電気信号に対して90°の位相差を有する高周波電気信号とそれぞれミキシングする。そして、波形発生器611は、ミキシングによって生成された高周波電気信号を合成する。これにより、波形発生器611は、一又は複数の周波数成分を含む高周波電気信号を生成する。
波形発生器611の出力は、減衰器613に接続されている。減衰器613には、パワー制御部612が接続されている。パワー制御部612は、例えば、プロセッサであり得る。パワー制御部612は、制御部CUから指定された設定パワーに応じたパワーを有するマイクロ波がマイクロ波発生器6から出力されるよう、減衰器613における高周波電気信号の減衰率を制御する。また、パワー制御部612は、制御端子6cを介して、測定部36から進行波のパワーの値を受け、測定部41から反射波のパワーの値を受ける。パワー制御部612は、進行波のパワーの値と反射波のパワーの値の差、即ちロードパワーが、制御部CUによって指定される設定パワーに一致するよう、減衰器613を制御し、必要に応じて波形発生器611を制御する。
減衰器613の出力は、アンプ614を介して、分配器615に接続されている。アンプ614は、減衰器613から受けた高周波電気信号を所定の増幅率で増幅し、増幅した高周波電気信号を出力するようになっている。分配器615は、アンプ614から出力された高周波電気信号を分配して、その複数の出力から複数の高周波電気信号をそれぞれ出力する。分配器615の複数の出力はそれぞれ、複数の調整部616に接続されている。
複数の調整部616の各々は、振幅位相調整部616a及びプリドライバアンプ616bを有している。振幅位相調整部616aは、例えば、可変減衰器と移相器とを含み、入力された高周波電気信号の振幅及び位相を調整する。振幅位相調整部616aは、その振幅及び位相が調整された高周波電気信号をプリドライバアンプ616bに出力する。プリドライバアンプ616bは、入力された高周波電気信号を増幅する。プリドライバアンプ616bは、増幅した高周波電気信号を出力する。複数の調整部616の各々における振幅の調整量及び位相の調整量は個別に調整可能となっている。複数の調整部616それぞれにおける振幅の調整量及び位相の調整量は、これら調整部616から出力される高周波電気信号の振幅及び位相が互いに等しくなるように調整される。第1のモジュール61は、複数の出力端子617を有している。複数の調整部616のプリドライバアンプ616bの出力は、複数の出力端子617にそれぞれ接続されている。
第2のモジュール62は、複数の増幅器モジュール621を備えている。複数の増幅器モジュール621の個数は、第1のモジュール61の複数の出力端子617の個数、即ち、第1のモジュール61から出力される複数の高周波電気信号の個数と同数である。一実施形態において、複数の増幅器モジュール621の個数は、マイクロ波発生器6の仕様上の最大出力パワーを当該複数の増幅器モジュール621の最大動作点での出力パワーの平均値で除することによって得られる商に1を加算することによって得られる値以上の個数である。複数の増幅器モジュール621の個数は、図示の例においては16個であるが、任意の個数であり得る。複数の増幅器モジュール621の各々は、入力端子622、増幅器623、増幅器624、DC/DC変換器625、及び、出力端子626を有している。
複数の増幅器モジュール621の各々の入力端子622は、第1のモジュール61の複数の出力端子617のうち対応の出力端子617に接続されている。複数の増幅器モジュール621の各々において、入力端子622は、増幅器623の入力に接続されている。増幅器623は、半導体素子を含む増幅器であり、ドライバアンプである。増幅器623の出力は、増幅器624の入力に接続されている。増幅器624は、半導体素子を含む増幅器であり、ファイナルアンプである。増幅器624の出力は、出力端子626に接続されている。複数の増幅器モジュール621の各々は、第1のモジュール61の対応の出力端子617から受けた高周波電気信号を増幅器623及び増幅器624によって増幅して、マイクロ波を生成する。生成されたマイクロ波は出力端子626から出力される。
複数の増幅器モジュール621の各々の増幅器623及び増幅器624は、DC/DC変換器625から与えられる直流電力(第2の直流電力)を用いて、高周波電気信号を増幅する。マイクロ波発生器6の端子6pには、ケーブル8を介して直流電源10が接続されている。端子6pと複数の増幅器モジュール621のDC/DC変換器625は、複数の配線によって接続されている。複数の増幅器モジュール621の各々のDC/DC変換器625には、直流電源10からの直流電力(第1の直流電力)が供給される。複数の増幅器モジュール621の各々において、DC/DC変換器625は、直流電源10からの直流電力(第1の直流電力)の電圧を、増幅器623及び増幅器624の駆動に適した電圧に降圧させる。複数の増幅器モジュール621の各々は、直流電源10からの直流電力の電圧を、例えば30Vに降圧させる。複数の増幅器モジュール621の各々において、DC/DC変換器625によって電圧が降圧された直流電力(第2の直流電力)は、増幅器623及び増幅器624に与えられる。
合成器63は、複数の入力端子631を有している。複数の増幅器モジュール621の出力端子626はそれぞれ、合成器63の複数の入力端子631に接続されている。合成器63は、複数の入力端子631にそれぞれ入力された複数のマイクロ波を空間合成により合成して、マイクロ波を出力する。合成器63の出力、即ち、マイクロ波発生器6の出力は、導波管34の一端に接続されている。
増幅器において高周波電気信号を増幅するためには、当該増幅器の駆動に適した電圧の直流電力が増幅器に与えられなければならない。かかる直流電力を得るための一つの策は、マイクロ波発生器にスイッチング電源を一体化することである。このスイッチング電源は、商用交流電力を増幅器の駆動に適した電圧の直流電力に変換するスイッチング電源である。このようなスイッチング電源が一体化されたマイクロ波発生器は、そのサイズ及び重量の双方において大きくなる。別の策は、商用交流電力を増幅器の駆動に適した電圧の直流電力に変換するスイッチング電源を、マイクロ波発生器とは別体として提供し、当該スイッチング電源とマイクロ波発生器とを電力伝送用のケーブルによって接続することである。しかしながら、この策では、ケーブルに流れる電流が大きくなるので、ケーブルの断面積が大きくなり、ケーブルの重量が重くなるので、当該ケーブルの取り扱いは容易ではない。
一方、マイクロ波発生器6では、各増幅器モジュール621が、DC/DC変換器625、並びに、増幅器623及び624を有している。DC/DC変換器625は、直流電源10、即ち、商用交流電力を直流電力に変換するスイッチング電源からの第1の直流電力を受けて、当該第1の直流電力の電圧を降圧させた第2の直流電力を増幅器623及び624に与える。即ち、マイクロ波発生器6は、別体の直流電源(スイッチング電源)からの第1の直流電力を各増幅器モジュール621のDC/DC変換器625において低電圧の直流電力に変換して、当該直流電力を増幅器623及び624で用いている。したがって、マイクロ波発生器6はそのサイズ及び重量の双方において小さくなる。
また、マイクロ波発生器6では、別体の直流電源10から供給される第1の直流電力の電圧が複数の増幅器モジュール621の各々のDC/DC変換器625において降圧されるので、マイクロ波発生器6と直流電源10との間に設けられたケーブル8に流れる電流が小さくなる。したがって、マイクロ波発生器6と直流電源10との間のケーブル8として、その断面積及び重量が小さいケーブルを用いることができる。故に、マイクロ波発生器6と直流電源10との間のケーブル8として、取り扱いの容易なケーブルを用いることができる。
一実施形態において、ケーブル8は、その重量が20kg以下であり、その外径が20mm以下であり、その最小曲げ半径が100mm以下であり、その耐電圧が600V以下であるとの第1の条件を満たす。一般的な半導体処理装置は、その中でプロセス処理が行われるクリーンルームと、クリーン度の低い補機エリアにわたって配置される。即ち、クリーン度が要求される箇所に配置されるべき半導体処理装置の構成要素はクリーンルームに配置され、半導体処理装置の他の構成要素は補機エリアに配置される。そして、クリーンルームに配置された構成要素と補機エリアに配置された構成要素とを接続するケーブルの長さは、30m以下であるとの条件を満たす必要がある。したがって、第1の条件においてケーブルの重量は、30mあたり20kg以下であり得る。第1の条件を満たすケーブル8の取り扱いは容易である。したがって、このようなケーブル8の敷設作業は容易である。
また、一実施形態において、ケーブル8は、当該ケーブル中の一以上の導体の総断面積が8mm以下であるとの第2の条件を更に満たす多芯ケーブルである。第2の条件を更に満たす多芯ケーブルを、ケーブル8として用いることにより、マイクロ波の生成のために必要な電力をケーブル8の許容電流の範囲内で伝送することが可能である。例えば、チャンバ2cに供給されるべきマイクロ波のパワーが3000Wであり、直流電力から当該マイクロ波のパワーへの変換効率が50%であるものとすると、マイクロ波発生器6には、6000Wの直流電力が与えられる必要がある。直流電源10からマイクロ波発生器6に与えられる直流電力の電圧が200Vであるものとすると、ケーブル8の許容電流は30A以上である必要がある。一以上の導体の総断面積が8mm以下の多芯ケーブルであるキャブタイヤケーブル、例えば、ゴムキャブタイヤケーブルによれば、第1の条件を満たし、且つ、このような許容電流を有するケーブル8を得ることができる。例えば、(1)導体の数(芯数)が6且つペア数が3であり、六つの導体の総断面積が2mmのゴムキャブタイヤケーブル、(2)導体の数(芯数)が8且つペア数が4であり、八つの導体の総断面積が2mmのゴムキャブタイヤケーブル、(3)導体の数(芯数)が4且つペア数が2であり、四つの導体の総断面積が3.5mmのゴムキャブタイヤケーブル、(4)導体の数(芯数)が2且つペア数が1であり、二つの導体の総断面積が5.5mmのゴムキャブタイヤケーブル、(5)導体の数(芯数)が4且つペア数が2であり、四つの導体の総断面積が5.5mmのゴムキャブタイヤケーブル、又は、(6)導体の数(芯数)が2且つペア数が1であり、二つの導体の総断面積が8mmのゴムキャブタイヤケーブルが、上記条件を満たすケーブル8として利用され得る。なお、ケーブル8は、30mあたりの電圧降下率が1%以下であるとの条件を更に満たしていてもよい。
以下、マイクロ波発生器6の構造について説明する。図6は、一実施形態に係るマイクロ波発生器の斜視図である。図7は、図6に示すマイクロ波発生器のメインユニットの分解斜視図である。図8は、図6に示すマイクロ波発生器の第1のモジュールの底面側を示す平面図である。
図6に示すように、マイクロ波発生器6は、筐体6h、及び、メインユニット6mを備えている。また、マイクロ波発生器6は、管642及び管643を更に備え得る。管642は、筐体6hの内部から外部に延びている。管642は、マイクロ波発生器6の複数の増幅器モジュール621を冷却するための冷媒(例えば、冷却水)を、筐体6hの外部から内部に供給するための管である。管643は、筐体6hの内部から外部に延びている。管643は、筐体6hの内部から外部に冷媒を排出するための管である。なお、冷媒の供給及び排出に関連する構造の詳細については、後述する。
図7に示すように、メインユニット6mは、第1のモジュール61、第2のモジュール62、及び、合成器63を備えている。第1のモジュール61は、略円柱状に形成されている。第2のモジュール62は、略円柱状の空間をその内側に提供するように、略円筒状に形成されている。第2のモジュール62によって提供される空間内には、第1のモジュール61が配置されている。合成器63は、第1のモジュール61及び第2のモジュール62の上に配置されている。
第1のモジュール61は、制御端子6cを提供している。制御端子6cは、第1のモジュール61の上面側、即ち、合成器63と対面する面側に設けられている。図8に示すように、第1のモジュール61の複数の出力端子617は、第1のモジュール61の底面側に設けられている。複数の出力端子617は、軸線AXに対して周方向に沿って配列されており、軸線AXの周囲に均等に配置されている。なお、軸線AXは、第1のモジュール61、第2のモジュール62、及び、合成器63が共有する中心軸線である。複数の出力端子617からは、上述したように、複数の高周波電気信号が第2のモジュール62に出力される。
図9は、図6に示すマイクロ波発生器の第2のモジュールの平面図である。図10は、図6に示すマイクロ波発生器の第2のモジュールの側面図である。図11は、図6に示すマイクロ波発生器の第2のモジュールの冷却構造を示す側面図である。図9及び図10に示すように、第2のモジュール62の複数の増幅器モジュール621は、第1のモジュール61がその中に配置される上記空間を提供するように、軸線AXに対して周方向に沿って配列されている。また、複数の増幅器モジュール621は、軸線AXの周囲に均等に配置されている。
複数の増幅器モジュール621の各々は、略直方体形状に形成されている。即ち、複数の増幅器モジュール621の各々は、長手方向、及び、該長手方向に直交する短手方向に延在する一対の側面を有している。複数の増幅器モジュール621の各々の一対の側面間の距離は、その長手方向における長さ及びその短手方向における長さよりも短い。複数の増幅器モジュール621の各々の長手方向は、軸線AXと略平行である。また、複数の増幅器モジュール621の各々の短手方向は、軸線AXに略直交する方向である。即ち、複数の増幅器モジュール621の各々の短手方向は、軸線AXに対する半径方向に略一致している。なお、複数の増幅器モジュール621の各々の短手方向の長さは、第2のモジュール62の外周と軸線AXとの間の距離、即ち、第2のモジュール62の半径よりも短くなっている。かかる複数の増幅器モジュール621の配置により、第2のモジュール62は、その中に第1のモジュール61が配置される上記空間を画成している。
複数の増幅器モジュール621の各々は、その上面、即ち、合成器63に対面する側の面側に、出力端子626を提供している。複数の増幅器モジュール621によって提供される複数の出力端子626は、軸線AXに対して周方向に沿って配列されており、軸線AXの周囲に均等に配置されている。複数の出力端子626は、合成器63の複数の入力端子631にそれぞれ接続されている。複数の出力端子626は、例えば、合成器63の複数の入力端子631にそれぞれ直接的に接続されている。
また、複数の増幅器モジュール621の各々は、その上面と反対側の下面に入力端子622を提供している。複数の増幅器モジュール621によって提供される複数の入力端子622はそれぞれ、第1のモジュール61の複数の出力端子617に、例えばケーブルを介して接続されている。
図9〜図11に示すように、第2のモジュール62は、複数のヒートシンク627を更に備え得る。複数のヒートシンク627は、複数の増幅器モジュール621をそれぞれ冷却するための要素である。複数のヒートシンク627の各々の内部には、その中に冷媒が供給される空間が形成されている。複数のヒートシンク627の各々は、例えば水冷式のヒートシンクである。複数のヒートシンク627は、複数の増幅器モジュール621と交互に、周方向に沿って配列されている。複数のヒートシンク627の各々は、複数の増幅器モジュール621のうち隣接する一つの増幅器モジュール621の一対の側面のうち一方に接するように配置されている。複数のヒートシンク627の各々は、例えば、略直方体形状を有している。
第2のモジュール62は、管628及び管629を更に備え得る。管628は、軸線AX中心に延在する環状の管である。管628は、第2のモジュール62によって提供される上述の空間の直径よりも小さい外径を有しており、当該空間内に配置されている。なお、管628は、第1のモジュール61よりも下方に配置されている。管628には、上述の管642の一端が接続されている。また、管628には、複数の開口が形成されており、当該複数の開口は、軸線AXに対して周方向に配列されており、管628の全周にわたって均等に配置されている。管628の当該複数の開口には、複数の管627aの一端が接続されている。複数の管627aの他端は、複数のヒートシンク627それぞれの底部に提供されている複数の第1の開口にそれぞれ接続されている。管642から管628に供給される冷媒は、複数の管627aを介して複数のヒートシンク627にそれぞれ供給されるようになっている。これにより、複数のヒートシンク627には、略均等に冷媒が供給され得る。
管629は、軸線AX中心に延在する環状の管である。管629は、管628の外径よりも大きい外径を有し得る。管629は、複数の増幅器モジュール621の下方に設けられている。管629には、上述の管643の一端が接続されている。また、管629には、複数の開口が形成されており、当該複数の開口は、軸線AXに対して周方向に配列されており、管629の全周にわたって均等に配置されている。管629の当該複数の開口には、複数の管627bの一端が接続されている。複数の管627bの他端は、複数のヒートシンク627それぞれの底部に提供されている複数の第2の開口にそれぞれ接続されている。複数のヒートシンク627からは、複数の管627b及び管629を介して管643に冷媒が排出されるようになっている。これにより、複数のヒートシンク627から同様に冷媒が排出され得る。
以下、再び図7を参照する。また、図7と共に、図12及び図13を参照する。図12は、図7に示すメインユニットの合成器を示す断面図である。図13は、図7に示すメインユニットの合成器を示す平面図である。合成器63は、複数の増幅器モジュール621からの複数のマイクロ波を合成して、マイクロ波を出力するように構成されている。合成器63は、複数の入力端子631及び本体632を有している。合成器63は、モード変換器633、及び、導波管634を更に有し得る。
合成器63の本体632は、円筒形状に形成されている。本体632の中心軸線は、軸線AXに略一致している。本体632は、略円盤状の内部空間を画成している。本体632の内部空間の中心軸線は、軸線AXに略一致している。本体632は、側壁632s、上壁632t、及び、下壁632bを有している。側壁632sは、円筒形状を有しており、その中心軸線は軸線AXに略一致している。
下壁632bは、側壁632sの下端に連続しており、軸線AXに略直交する方向に延在している。複数の入力端子631の一端は、下壁632bに形成されている複数の開口内に設けられている。複数の入力端子631は、下壁632bの下方且つ本体632の外部まで延びている。複数の入力端子631は、軸線AXに対して周方向に配列されており、軸線AXの周囲に均等に配置されている。複数の入力端子631の各々と軸線AXとの間の距離は、複数の出力端子626の各々と軸線AXとの間の距離と略等しい。したがって、第2のモジュール62上に合成器63が搭載された状態では、合成器63の複数の入力端子631は複数の出力端子626に対面する。合成器63の複数の入力端子631はそれぞれ、複数の出力端子626に直接的に接続される。
上壁632tは、側壁632sの上端に連続しており、軸線AXに略直交する方向に延在している。上壁632tは、その中央部分、即ち、軸線AXに略直交する部分に開口を提供している。上壁632tの中央部分にはモード変換器633が取り付けられている。複数の入力端子631から本体632の内部空間に導入された複数のマイクロ波は、本体632内において合成される。本体632内での複数のマイクロ波の合成によって生成されたマイクロ波は、モード変換器633に入力される。モード変換器633は、入力されたマイクロ波のモードを変換して、導波管634にマイクロ波を出力する。導波管634は、モード変換器633上に設けられている。導波管634は、例えば矩形導波管であり、軸線AXに対して直交する方向に延在している。導波管634は、マイクロ波発生器6の出力を構成しており、導波部9の入力、即ち、導波管34の一端に接続されている。
以上説明したマイクロ波発生器6では、第1のモジュール61の周囲のスペースが、複数の増幅器モジュール621を配置するためのスペースとして効率的に利用される。したがって、マイクロ波発生器6のサイズが小さくなる。
また、複数の増幅器モジュール621が配列されている第1のモジュール61の周囲のスペース内で複数のヒートシンク627が効率的に配置される。したがって、複数のヒートシンク627を更に備え、小さいサイズを有するマイクロ波発生器6が提供される。
また、プラズマ処理装置1において用いられるマイクロ波発生器6は小さいので、プラズマ処理装置1のサイズも小さくなる。したがって、プラズマ処理装置1が占有するエリアが小さくなる。
以下、別の実施形態に係るプラズマ処理装置について説明する。図14は、別の実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図14に示すプラズマ処理装置100は、複数のチャンバ本体2A、複数のアンテナ4A、複数のマイクロ波発生器6A、複数のケーブル8A、及び、直流電源10Aを備えている。
複数のチャンバ本体2Aの各々は、プラズマ処理装置1のチャンバ本体2と同様のチャンバ本体である。複数のアンテナ4Aは、プラズマ処理装置1のアンテナ4と同様のアンテナである。複数のアンテナ4Aは、複数のチャンバ本体2Aのうち対応のチャンバ本体内にマイクロ波を導入するよう、当該チャンバ本体と組み合わされている。
複数のマイクロ波発生器6Aは、プラズマ処理装置1のマイクロ波発生器6と同様のマイクロ波発生器である。複数のマイクロ波発生器6Aは、複数のアンテナ4Aのうち対応の一つのアンテナに導波部9Aを介して接続されている。導波部9Aは、プラズマ処理装置1の導波部9と同様の導波部である。
複数のマイクロ波発生器6Aはそれぞれ、複数のケーブル8Aを介して、単一の直流電源10Aに接続されている。複数のケーブル8Aは、プラズマ処理装置1のケーブル8と同様のケーブルである。直流電源10Aは、プラズマ処理装置1の直流電源10と同様の直流電源である。複数のマイクロ波発生器6Aの各々では、直流電源10Aから供給される直流電力(第1の直流電力)の電圧が、複数の増幅器モジュール621の各々のDC/DC変換器625によって降圧される。複数の増幅器モジュール621の各々では、DC/DC変換器625によって電圧が降圧された電力(第2の直流電力)が、増幅器623及び増幅器624による高周波電気信号の増幅に利用される。このように、単一の直流電源10Aからの直流電力が、複数のマイクロ波発生器6Aに供給されてもよい。
1…プラズマ処理装置、2…チャンバ本体、2c…チャンバ、4…アンテナ、6…マイクロ波発生器、8…ケーブル、10…直流電源、61…第1のモジュール、611…波形発生器、615…分配器、617…出力端子、62…第2のモジュール、621…増幅器モジュール、622…入力端子、623…増幅器、624…増幅器、625…DC/DC変換器、626…出力端子、627…ヒートシンク、63…合成器、631…入力端子。

Claims (11)

  1. マイクロ波発生器を備えるプラズマ処理装置であって、前記マイクロ波発生器は、
    高周波電気信号を分配する分配器を含み、複数の高周波電気信号を出力する第1のモジュールと、
    前記第1のモジュールからの前記複数の高周波電気信号をそれぞれ増幅して複数のマイクロ波を出力する複数の増幅器モジュールを含む第2のモジュールと、
    前記複数の増幅器モジュールからの前記複数のマイクロ波を空間合成により合成してマイクロ波を出力する合成器と、
    を備え、
    前記複数の増幅器モジュールの各々は、外部の直流電源からの第1の直流電力の電圧を降圧させて第2の直流電力を出力するDC/DC変換器、及び、該第2の直流電力を用いて前記第1のモジュールからの前記複数の高周波電気信号のうち対応の高周波電気信号を増幅してマイクロ波を出力する増幅器を有する、プラズマ処理装置。
  2. 前記複数の増幅器モジュールの個数は、前記マイクロ波発生器の仕様上の最大出力パワーを該複数の増幅器モジュールの最大動作点の出力パワーの平均値で除することによって得られる商に1を加算することによって得られる値以上の個数である、請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  3. 前記複数の増幅器モジュールは、前記第1のモジュールを囲むように周方向に沿って均等に配列されている、請求項1又は2に記載のプラズマ処理装置。
  4. 前記マイクロ波発生器は、前記複数の増幅器モジュールを冷却するための複数のヒートシンクを更に備え、
    前記複数の増幅器モジュールと前記複数のヒートシンクは前記周方向に沿って交互に配列されている、
    請求項3に記載のプラズマ処理装置。
  5. 前記マイクロ波発生器は、前記高周波電気信号を生成する波形発生器を更に備える、請求項1〜4の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
  6. 前記第1のモジュールが前記波形発生器を含む、請求項5に記載のプラズマ処理装置。
  7. 前記第1の直流電力を発生する直流電源と、
    前記直流電源と前記マイクロ波発生器の前記複数の増幅器モジュールとの間で前記第1の直流電力を伝送するためのケーブルと、
    を更に備える請求項1〜6の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
  8. 前記ケーブルは、キャブタイヤケーブルであり、
    前記ケーブルは、その重量が20kg以下であり、その外径が20mm以下であり、その最小曲げ半径が100mm以下であり、その耐電圧が600V以下であることを満たし、
    前記ケーブルは、該ケーブル中の一以上の導体の総断面積が8mm以下であることを満たす多芯ケーブルである、
    請求項7に記載のプラズマ処理装置。
  9. チャンバを提供するチャンバ本体と、
    前記マイクロ波発生器に接続されたアンテナであって、前記チャンバに供給されるガスを励起させるためにマイクロ波を前記チャンバに導入する該アンテナと、
    を更に備える請求項7又は8に記載のプラズマ処理装置。
  10. 各々が前記マイクロ波発生器である複数のマイクロ波発生器を備え、
    前記第1の直流電力を発生する直流電源と、
    前記直流電源と前記複数のマイクロ波発生器の前記複数の増幅器モジュールとの間で前記第1の直流電力を伝送するための複数のケーブルと、
    を更に備える、
    請求項1〜6の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
  11. 複数のチャンバ本体と、
    前記複数のマイクロ波発生器に接続された複数のアンテナであって、前記複数のチャンバ本体それぞれによって提供される複数のチャンバに供給されるガスを励起させるためにマイクロ波を前記複数のチャンバにそれぞれ導入する該複数のアンテナと、
    を備える請求項10に記載のプラズマ処理装置。
JP2017055854A 2017-03-22 2017-03-22 プラズマ処理装置 Active JP6850645B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017055854A JP6850645B2 (ja) 2017-03-22 2017-03-22 プラズマ処理装置
KR1020180030378A KR102469576B1 (ko) 2017-03-22 2018-03-15 플라즈마 처리 장치
US15/922,215 US20180277339A1 (en) 2017-03-22 2018-03-15 Plasma processing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017055854A JP6850645B2 (ja) 2017-03-22 2017-03-22 プラズマ処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018160333A true JP2018160333A (ja) 2018-10-11
JP6850645B2 JP6850645B2 (ja) 2021-03-31

Family

ID=63582911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017055854A Active JP6850645B2 (ja) 2017-03-22 2017-03-22 プラズマ処理装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20180277339A1 (ja)
JP (1) JP6850645B2 (ja)
KR (1) KR102469576B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021015889A1 (en) * 2019-07-22 2021-01-28 Tokyo Electron Limited Power generation systems and methods for plasma stability and control

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10334569B2 (en) * 2013-06-05 2019-06-25 Texas Instruments Incorporated NLOS wireless backhaul downlink communication
US10748745B2 (en) 2016-08-16 2020-08-18 Applied Materials, Inc. Modular microwave plasma source
US10707058B2 (en) 2017-04-11 2020-07-07 Applied Materials, Inc. Symmetric and irregular shaped plasmas using modular microwave sources
US11037764B2 (en) 2017-05-06 2021-06-15 Applied Materials, Inc. Modular microwave source with local Lorentz force
US11081317B2 (en) 2018-04-20 2021-08-03 Applied Materials, Inc. Modular high-frequency source
US11393661B2 (en) 2018-04-20 2022-07-19 Applied Materials, Inc. Remote modular high-frequency source
US10504699B2 (en) 2018-04-20 2019-12-10 Applied Materials, Inc. Phased array modular high-frequency source
WO2020200442A1 (en) * 2019-04-03 2020-10-08 Applied Materials, Inc. Sputter deposition source, sputter deposition apparatus, and method of powering a sputter deposition source
US11050394B2 (en) * 2019-06-14 2021-06-29 Tokyo Electron Limited Modules, multi-stage systems, and related methods for radio frequency power amplifiers

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11340755A (ja) * 1998-05-27 1999-12-10 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波モジュール
JP2004128141A (ja) * 2002-10-01 2004-04-22 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2004128385A (ja) * 2002-10-07 2004-04-22 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2006094214A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Nihon Koshuha Co Ltd マグネトロン発振装置
JP2009230915A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Tokyo Electron Ltd 電力合成器およびマイクロ波導入機構

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5064924B2 (ja) * 2006-08-08 2012-10-31 パナソニック株式会社 マイクロ波処理装置
US20120109080A1 (en) * 2010-11-02 2012-05-03 Allergan, Inc. Puncture resistant composite materials
JP2012109080A (ja) * 2010-11-16 2012-06-07 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
JP5935184B2 (ja) * 2011-07-21 2016-06-15 矢崎総業株式会社 自動車用高圧ワイヤハーネス及びこの製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11340755A (ja) * 1998-05-27 1999-12-10 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波モジュール
JP2004128141A (ja) * 2002-10-01 2004-04-22 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2004128385A (ja) * 2002-10-07 2004-04-22 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2006094214A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Nihon Koshuha Co Ltd マグネトロン発振装置
JP2009230915A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Tokyo Electron Ltd 電力合成器およびマイクロ波導入機構
US20110018651A1 (en) * 2008-03-19 2011-01-27 Tokyo Electron Limited Power combiner and microwave introduction mechanism

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021015889A1 (en) * 2019-07-22 2021-01-28 Tokyo Electron Limited Power generation systems and methods for plasma stability and control
US11094507B2 (en) 2019-07-22 2021-08-17 Tokyo Electron Limited Power generation systems and methods for plasma stability and control
US11721524B2 (en) 2019-07-22 2023-08-08 Tokyo Electron Limited Power generation systems and methods for plasma stability and control

Also Published As

Publication number Publication date
JP6850645B2 (ja) 2021-03-31
KR102469576B1 (ko) 2022-11-22
KR20180107728A (ko) 2018-10-02
US20180277339A1 (en) 2018-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6850645B2 (ja) プラズマ処理装置
US8163128B2 (en) Plasma processing apparatus
KR101314485B1 (ko) 마이크로파 도입 기구, 마이크로파 플라즈마원 및 마이크로파 플라즈마 처리 장치
KR101208884B1 (ko) 마이크로파 도입 기구, 마이크로파 플라즈마원 및 마이크로파 플라즈마 처리 장치
TWI430358B (zh) Microwave plasma source and plasma processing device
US9734990B2 (en) Plasma apparatus and substrate-processing apparatus
KR20210032420A (ko) 플라즈마 공정을 위한 제어 시스템 및 방법
CN101978794B (zh) 电力合成器以及微波导入机构
JP5222744B2 (ja) プラズマ処理装置
JP2005285564A (ja) プラズマ処理装置
KR20130088797A (ko) 마이크로파 방사 기구 및 표면파 플라즈마 처리 장치
KR20160143527A (ko) 전력 합성기 및 마이크로파 도입 기구
JP2018006718A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
JP2010170974A (ja) プラズマ源およびプラズマ処理装置
JP2000260747A (ja) 平面アンテナ部材、これを用いたプラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
US10879045B2 (en) Plasma processing apparatus
JP2014160557A (ja) プラズマ処理装置
WO2018207705A1 (ja) マイクロ波出力装置及びプラズマ処理装置
JP2012049353A (ja) プラズマ処理装置
US20210020406A1 (en) Plasma processing apparatus
JP2016100312A (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP5656504B2 (ja) 真空処理装置およびプラズマ処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191002

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200827

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200908

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201009

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210209

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210308

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6850645

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250