JP2018159685A - 距離測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本開示の実施形態1に係る距離測定装置の概略構成図である。図1の距離測定装置は、発光部20と、受光部30と、制御部40と、測光センサ60と、発光部20又は受光部30に付着した異物11,12を除去するための洗浄部50とを備える。発光部20は、発光レンズ及びスキャナを介してパルス状のレーザ光Lを放射するレーザダイオード(LD)部を有する光源である。受光部30は、集光のための光学系31と、特定の波長の光だけを透過するバンドパスフィルタ(BPF)32と、各々光電変換素子としてのフォトダイオード(PD)を含む複数の画素をアレイ状に配列してなるPD部33とを有する測距カメラである。PD部33のフォトダイオードは、アバランシェフォトダイオード(APD)としてもよい。APDはアバランシェ効果による内部増幅作用によって、遠く離れた目標対象物からの微弱な光を高い感度で検出することが可能である。制御部40は、発光部(LD部)20にLD駆動制御信号DR1を、PD部33にPD駆動制御信号DR2をそれぞれ供給し、PD部33から受光信号RVを、測光センサ60から環境光信号ENVをそれぞれ受け取る。また、制御部40は、ワイパー、ウォッシャ等で構成された洗浄部50へ洗浄命令Wを供給し、洗浄部50から完了信号Cを受け取る。
本開示の実施形態2に係る距離測定装置も、実施形態1の場合と同様に、タイムオブフライト法の原理を用いて各画素にて目標対象物までの距離を実測し、そのうち最大距離の実測値が急激に小さくなった場合に、発光部又は受光部の光路上に異物が付着したものと判定するものである。ただし、測光センサを用いて最大距離の推定値を得るのではなく、距離算出履歴をもとに最大距離の推定値を得る点が、実施形態1の場合と異なる。すなわち、実施形態2に係る距離測定装置の構成は、図1及び図2から測光センサ60を除去し、図2中の距離算出部45の出力を最大距離推定部48へ供給するように変更したものに相当する。
上記実施形態1、2において、PD部33にて撮像された画面全体の画素で最大距離が低下した場合には、発光部(LD部)20への異物11の付着が疑われる。画面の一部のみの画素で最大距離が低下した場合には、受光部30の光学系31への異物12の付着が疑われる。これらの状況に応じて、洗浄部50による洗浄対象を選択すればよい。
20 発光部[LD(レーザダイオード)部]
30 受光部
31 光学系
32 BPF(バンドパスフィルタ)
33 PD(フォトダイオード)部
40 制御部
41 LD駆動制御部
43 PD駆動制御部
45 距離算出部
47 洗浄処理部
48 最大距離推定部
49 比較部
50 洗浄部
60 測光センサ
Claims (4)
- 光を間欠的に放射する発光部と、
各々前記発光部から放射された光に対する反射光を受光し、光電変換して受光信号を生成する複数の光電変換素子を有する受光部と、
前記発光部から光を放射してから、前記受光部によって反射光を受光するまでの時間差に基づいて、目標対象物までの距離を算出する距離算出部と、
前記距離算出部における距離算出履歴をもとに、前記距離算出部にて算出され得る最大距離を推定する最大距離推定部と、
前記最大距離推定部にて推定された最大距離の推定値と、前記距離算出部にて算出された最大距離の実測値とを比較する比較部とを備えた距離測定装置。 - 光を間欠的に放射する発光部と、
各々前記発光部から放射された光に対する反射光を受光し、光電変換して受光信号を生成する複数の光電変換素子を有する受光部と、
前記発光部から光を放射してから、前記受光部によって反射光を受光するまでの時間差に基づいて、目標対象物までの距離を算出する距離算出部と、
環境光の強度を測定する測光センサと、
前記測光センサにより測定された環境光の強度に応じて、前記距離算出部にて算出され得る最大距離を推定する最大距離推定部と、
前記最大距離推定部にて推定された最大距離の推定値と、前記距離算出部にて算出された最大距離の実測値とを比較する比較部とを備えた距離測定装置。 - 請求項1又は2に記載の距離測定装置において、
前記実測値が前記推定値から所定の割合以上小さくなった場合に、前記発光部又は前記受光部に異物が付着していると判定する距離測定装置。 - 請求項3に記載の距離測定装置において、
前記発光部又は前記受光部に異物が付着していると前記比較部にて判定された場合に、前記発光部又は前記受光部に付着した異物を除去するように洗浄を行う洗浄部を更に備えた距離測定装置。
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