JP2018147537A - 磁気ディスク装置及びライト方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 信頼性を向上できる磁気ディスク装置及びライト方法を提供することである。【解決手段】 本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、ディスクに対してデータをライトし、ディスクからデータをリードするヘッドと、ディスクの第１偏心量に基づいて第１補正値を算出し、第１補正値に基づいて、第１目標位置で第１トラックをライトし、第１補正値に基づいて、第１目標位置から径方向に従う第１方向に第１距離で離間した第２目標位置で第２トラックを第１トラックに重ね書きし、第２トラックを第１トラックに重ね書きしている際に、第２トラックの第１位置でライトを中断し、第１位置から第２トラックのライトを再開する場合、ディスクの第２偏心量を測定し、第１偏心量と第２偏心量とを比較し、第１偏心量と第２偏心量とが異なる場合に、第１位置から第１方向に第２距離で離間した第２位置から第２トラックのライトを再開するコントローラと、を備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びライト方法に関する。

近年、磁気ディスク装置の高記録容量化するための様々な技術が開発されている。これら技術の一つとして瓦記録方式（Shingled write Magnetic Recording（ＳＭＲ））でデータをライトする磁気ディスク装置がある。磁気ディスク装置は、瓦記録方式でディスクにデータをライトする場合、１つ前にライトした隣接するトラック（以下、単に、隣接トラックと称する）の一部に重ねて現在のトラックをライトする。磁気ディスク装置は、瓦記録方式でデータをライトすることにより、通常の記録方式でライトするよりもディスクのトラック密度（Track Per Inch：ＴＰＩ）を向上できる。

一般的に、磁気ディスク装置では、ディスクとスピンドルモータとの取り付け誤差等を要因として、ディスク偏心が発生する。ディスク偏心が発生すると、ディスクが１回転したときにリードライトオフセット値が１周内で変動するダイナミックオフセット（ＤＯ）が発生する。そのため、磁気ディスク装置では、ダイナミックオフセットを制御するために、ライト時に、Ｒ／Ｗオフセット値を調整するライトダイナミックオフセット制御（ＷＤＯＣ）が実行される。磁気ディスク装置は、ＷＤＯＣを実行する場合、偏心量を測定し、測定した偏心量に基づいて補正値を算出し、算出した補正値に基づいてＷＤＯＣを実行する。ディスクの偏心状態は、外部からの衝撃等により変化する可能性がある。ディスクの偏心状態が変化した場合、磁気ディスク装置は、再度、偏心量を測定し、測定した偏心量に基づいて補正値を算出し、算出した補正値に基づいてＷＤＯＣを実行する。
瓦記録方式の磁気ディスク装置では、ディスクの偏心状態が変化する前と変化した後で補正値が異なる場合、隣接するトラックにライトされたデータを消去する可能性がある。

特許第４８１０６０３号公報

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、信頼性を向上できる磁気ディスク装置及びライト方法を提供することである。

本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記ディスクの第１偏心量に基づいて第１補正値を算出し、前記第１補正値に基づいて、第１目標位置で第１トラックをライトし、前記第１補正値に基づいて、前記第１目標位置から径方向に従う第１方向に第１距離で離間した第２目標位置で第２トラックを前記第１トラックに重ね書きし、前記第２トラックを前記第１トラックに重ね書きしている際に、前記第２トラックの第１位置でライトを中断し、前記第１位置から前記第２トラックのライトを再開する場合、前記ディスクの第２偏心量を測定し、前記第１偏心量と前記第２偏心量とを比較し、前記第１偏心量と前記第２偏心量とが異なる場合に、前記第１位置から前記第１方向に前記第２距離で離間した第２位置から前記第２トラックのライトを再開するコントローラと、を備える。

図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、データがライトされた瓦記録領域の一例を示す模式図である。 図３Ａは、Ｒ／Ｗオフセットが発生していない場合のヘッドの状態の一例を示す概要図である。 図３Ｂは、Ｒ／Ｗオフセットが発生している場合のヘッドの状態の一例を示す概要図である。 図４は、データのライト処理の制御の一例を示す概要図である。 図５は、バンド領域の内の１つのトラックの途中から再開するライト処理の一例を示す図である。 図６は、実施形態に係るバンド領域の内の１つのトラックの途中から再開するライト処理の一例を示す図である。 図７は、実施形態に係る磁気ディスク装置での偏心量の測定処理の一例を示すフローチャートである。 図８は、実施形態に係る磁気ディスク装置のライト動作の一例を示すフローチャートである。 図９は、実施形態に係るライトデータの軌跡の確認処理の一例を示すフローチャートである。

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（実施形態）
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（head-disk assembly：ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣと称する）３０と、揮発性メモリ７０と、不揮発性メモリ８０と、バッファメモリ（バッファ）９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（ホスト）１００と接続される。

ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスク）１０と、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１４とを有する。ディスク１０は、ＳＰＭ１２に回転可能に取り付けられている。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられていてもよい。

ディスク１０は、データ領域に、瓦記録領域（（Shingled Magnetic Recording：ＳＭＲ）領域）１０ｓと、メディアキャッシュ（media cache）領域１０ｍと、が割り当てられている。瓦記録領域１０ｓは、ホスト１００からライト要求されたユーザデータ等が記録される。メディアキャッシュ領域１０ｍは、瓦記録領域１０ｓのキャッシュとして利用され得る。瓦記録領域１０ｓは、トラックの一部に次にライトされたトラックが重ね書きされている記録領域である。このように複数のトラックが重ね書きされていることで、瓦記録領域１０ｓのトラック密度（Track Per Inch：ＴＰＩ）は、重ね書きされていない通常の記録領域のトラック密度よりも高くなる。瓦記録領域１０ｓにおいて、複数のトラックが重ね書きされたトラック群をバンド領域と称する。瓦記録領域１０ｓは、複数のバンド領域を含み得る。バンド領域は、隣接トラックの一部分に重ね書きされた少なくとも１つのトラック（瓦記録トラック）と、最後に重ね書きされたトラック（最終トラック）とを含む。最終トラックは、他のトラックを重ね書きされていないため、瓦記録トラックよりもトラック幅が広い。以下で、バンド領域において、ディスク１０にライトしたトラックをライトトラックと称する。また、バンド領域において、重ね書きによって上書きされた領域を除いた残りのライトトラックの領域をリードトラックと称する。なお、“トラック”という用語を“ライトトラック”及び“リードトラック”を含む用語として用いる場合もある。また、ライトトラックのトラック幅をライトトラック幅と称し、リードトラックのトラック幅をリードトラック幅と称する場合もある。
また、瓦記録領域１０ｓは、テスト領域ＴＲを備えている。図１に示した例では、瓦記録領域１０ｓは、内側にテスト領域ＴＲを備えている。なお、瓦記録領域１０ｓは、内側以外の領域にテスト領域ＴＲを備えていてもよい。

図２は、データがライトされた瓦記録領域１０ｓの一例を示す模式図である。図２において、横軸をディスク１０の周方向とし、縦軸を周方向に対して直交するディスク１０の径方向とする。周方向は、ディスク１０の回転方向と平行な方向である。周方向において、一方向を右方向とし、右方向と反対方向を左方向とする。また、周方向において、データをライトする方向を進行方向と称する。例えば、進行方向は、回転方向と反対方向である。図２において、進行方向は、右方向と同じ方向である。なお、進行方向は、左方向と同じ方向であってもよい。径方向において、ディスク１０の内周から外周へ向かう方向を外方向（外側）ＯＤとし、外方向ＯＤと反対方向を内方向（内側）ＩＤとする。また、径方向において、データをライトする方向を順方向と称する。図２おいて、順方向は、外方向ＯＤと同じ方向である。なお、順方向は、内方向ＩＤと同じ方向であってもよい。

図２には、瓦記録領域１０ｓにライトされたバンド領域ＢＡｋとバンド領域ＢＡｋ−１とを示している。図２では、説明の便宜上、各トラックをあるトラック幅で周方向に沿って延出する直線で示しているが、実際には周方向に沿った曲線である。つまり、バンド領域ＢＡｋ及びバンド領域ＢＡｋ−１において、各トラックは、ディスク１０の１周に亘って配置され、周方向で左方向の端部と右方向の端部とが一致している。また、図２において、各トラックは、外乱やその他の構造等の影響によるずれ等が調整されている。なお、図２では、バンド領域ＢＡｋとバンド領域ＢＡｋ−１との２つのバンド領域を示している。

バンド領域ＢＡｋ及びバンド領域ＢＡｋ−１は、径方向で互いに隣接している。バンド領域ＢＡｋとバンド領域ＢＡｋ−１との間には、上書き等を防止するためにギャップ（Ｇａｐ）（又は、ガード領域）が設けられている。バンド領域ＢＡｋとバンド領域ＢＡｋ−１とはほぼ同じトラック構成である。以下で、バンド領域ＢＡｋを用いてバンド領域のトラック構成について説明するが、バンド領域ＢＡｋ−１のトラック構成についてもバンド領域ＢＡｋのトラック構成と同じ説明ができる。

図示した例では、バンド領域ＢＡｋにおいて、ライトトラックＷｔ１、Ｗｔ２、及びＷｔ３が径方向に順に重ね書きされている。図示していないが、ライトトラックＷｔ１、Ｗｔ２、及びＷｔ３は、それぞれ、複数のセクタを含む。なお、バンド領域ＢＡｋは、３つのトラックを含むように記載したが、少なくとも１つ以上のトラックを含んでいればよい。

ライトトラックＷｔ１は、トラックエッジＴｇ１１とトラックエッジＴｇ１２とを有している。図示した例では、トラックエッジＴｇ１１は、ライトトラックＷｔ１の順方向と反対方向（内側ＩＤ）の端部であり、トラックエッジＴｇ１２は、ライトトラックＷｔ２の順方向（外側ＯＤ）の端部である。ライトトラックＷｔ２は、トラックエッジＴｇ２１とトラックエッジＴｇ２２とを有している。図示した例では、トラックエッジＴｇ２１は、ライトトラックＷｔ２の順方向と反対方向（内側ＩＤ）の端部であり、トラックエッジＴｇ２２は、ライトトラックＷｔ２の順方向（外側ＯＤ）の端部である。ライトトラックＷｔ３は、トラックエッジＴｇ３１とトラックエッジＴｇ３２と有している。図示した例では、トラックエッジＴｇ３１は、ライトトラックＷｔ３の順方向と反対方向（内側ＩＤ）の端部であり、トラックエッジＴｇ３２は、ライトトラックＷｔ２の順方向（外側ＯＤ）の端部である。

図２において、ライトトラック幅Ｗｔｗ１は、ライトトラックＷｔ１のトラックエッジＴｇ１１及びＴｇ１２の間の径方向の距離である。ライトトラック幅Ｗｔｗ２１は、トラックエッジＴｇ２１及びＴｇ２２の間の径方向の距離である。ライトトラック幅Ｗｔｗ３１は、トラックエッジＴｇ３１及びＴｇ３２の間の径方向の距離である。また、図２には、ライトトラックＷｔ１のトラックセンタＷｔｃ１と、ライトトラックＷｔ２のトラックセンタＷｔｃ２と、ライトトラックＷｔ３のトラックセンタＷｔｃ３とを示している。トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、及びＷｔｃ３は、それぞれ、ライトトラックＷｔ１、Ｗｔ２、及びＷｔ３におけるヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）の位置決めの径方向の目標位置（以下、単に、目標位置と称する）である。図２に示した例では、トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、及びＷｔｃ３は、それぞれ、ライトトラックＷｔ１、Ｗｔ２、及びＷｔ３のライトトラック幅の中心の位置を通っている。また、トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、及びＷｔ３は、径方向に等間隔で配設されている。図示した例では、トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、及びＷｔｃ３は、それぞれ、周方向に沿って直線で示しているが、実際にはディスク１０の周方向に沿った曲線である。トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、及びＷｔｃ３は、例えば、アクチュエータの回転中心（ピボット）を中心とするディスク１０上の円軌道である。

リードトラックＲｔ１は、順方向にライトトラックＷｔ２が重ね書きされたライトトラックＷｔ１の一部以外の残りの領域である。リードトラックＲｔ２は、順方向にライトトラックＷｔ３が重ね書きされたライトトラックＷｔ２の一部以外の残りの領域である。図２において、リードトラックＲｔ３は、ライトトラックＷｔ３に対応する。図２に示した例では、リードトラックＲｔ１及びＲｔ２が、瓦記録トラックに相当し、リードトラックＲｔ３が、最終トラックに相当する。

図２において、リードトラック幅Ｒｔｗ１は、トラックエッジＴｇ１１及びＴｇ２１の間の距離である。リードトラック幅Ｒｔｗ２は、トラックエッジＴｇ２１及びＴｇ３１の間の距離である。図２では、リードトラック幅Ｒｔｗ３は、ライトトラック幅Ｗｔｗ３１に対応する。図２において、リードトラック幅Ｒｔｗ１、Ｒｔｗ２、及びＲｔｗ３は、それぞれ、周方向に一定である。また、リードトラック幅Ｒｔｗ１とＲｔｗ２とは、同じ幅である。リードトラック幅Ｒｔｗ１及びＲｔｗ２は、リードトラック幅Ｒｔｗ３よりも小さい。

トラックピッチ（第１距離）は、通常のライトの場合、径方向のトラックセンタ間の距離を示すが、瓦記録の場合、トラックエッジ間の距離を示す。そのため、リードトラックＲｔ１とリードトラックＲｔ２と間のトラックピッチＴｐ１は、リードトラック幅Ｒｔｗ１に相当する。同様に、リードトラックＲｔ２とリードトラックＲｔ３と間のトラックピッチＴｐ２は、リードトラック幅Ｒｔｗ２に相当する。

ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗ、及びリードヘッド１５Ｒを備える。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０上のデータトラックにライトされているデータを読み込む（リードする）。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０上にデータを書き込む（ライトする）。

ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。ドライバＩＣ２０は、アクチュエータ（ＶＣＭ１４）の駆動を制御することで、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０上の目標半径位置まで移動制御する。ドライバＩＣ２０は、ＳＰＭ１２の駆動を制御することで、ディスク１０を回転させる。

ヘッド１５において、リードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとは、それぞれ、一定の間隔を空けて別々に設けられている。そのため、ヘッド１５の半径位置に応じて、リードヘッド１５Ｒの半径方向の位置とライトヘッド１５Ｗの目標位置と間に、オフセット（位置ずれ）が発生する。このオフセットをリードライト（Ｒ／Ｗ）オフセットと称する。

図３Ａは、Ｒ／Ｗオフセットが発生していない場合のヘッド１５の状態の一例を示す概要図である。図３Ｂは、Ｒ／Ｗオフセットが発生している場合のヘッド１５の状態の一例を示す概要図である。図３Ａおよび図３Ｂにおいて、ライトトラックＷｔｒは、目標位置（トラックセンタ）Ｗｔｒｃをライトヘッド１５Ｗの中心で追従することでディスク１０上にライトされている。トラックセンタＷｔｒｃは、例えば、アクチュエータの回転中心を中心とするディスク１０上の円軌道であるものとする。図３Ａおよび図３Ｂに示すように、リードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとは、Ｒ／ＷギャップＧｒｗを空けて別々に設けられている。

図３Ａに示すように、ヘッド１５がトラックセンタＷｔｒｃに対して水平に位置する場合、リードヘッド１５Ｒの中心の軌跡とライトヘッド１５Ｗの中心の軌跡との間に、Ｒ／Ｗオフセット（位置ずれ）が、ほぼ発生しない。

一方、図３Ｂに示すように、ヘッド１５がライトトラックＷｒｔのトラックセンタＷｔｒｃに対してスキュ角（アジマス角度）θで傾斜している場合、リードヘッド１５Ｒの中心の軌跡とライトヘッド１５Ｗの中心の軌跡との間に、Ｒ／Ｗオフセット値ＯＦｒｗが発生する。図３Ｂに示した例では、Ｒ／Ｗオフセット値ＯＦｒｗは、ＯＦｒｗ＝Ｇｒｗ×ｓｉｎθで示される。なお、図３Ｂに示した例では、後述するディスク偏心による影響を考慮していないため、Ｒ／Ｗオフセット値ＯＦｒｗは、各トラックで一定の値となる。スキュ角θは、アクチュエータの回転中心と、ヘッド１５の中心点とを結ぶ線と、トラック円弧の接線との角度を表している。スキュ角θは、ヘッド１５の位置、ＳＰＭ１２の回転中心の位置、及びアクチュエータの回転中心の位置により決定される。すなわち、スキュ角θは、リード動作又はライト動作を実行するトラック位置（シリンダ位置）、換言すると、ディスク１０上の半径方向の位置（以下、半径位置）により変化する。なお、製造工程において、磁気ディスク装置１は、Ｒ／Ｗオフセット値ＯＦｒｗをディスク１０のトラック毎に検出し、メモリ、例えば、不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。また、製造工程において、磁気ディスク装置１は、Ｒ／Ｗオフセット値ＯＦｒｗを算出するためのパラメータをメモリ、例えば、不揮発性メモリ８０等に保持していてもよい。パラメータは、例えば、ディスク１０上の各位置でのスキュ角θや、Ｒ／ＷギャップＧｒｗ等の値である。

ヘッドアンプＩＣ３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるライトデータに応じたライト電流をヘッド１５に出力する。

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。

不揮発性メモリ８０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ８０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。

バッファメモリ９０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ９０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ９０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。

システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(SoC)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０とを含む。

Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータ及びライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。
ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送を制御する。
ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるライトデータの保存先を選択する。

ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１と、偏心測定部６３と、オフセット制御部６５と、軌跡検出部６７とを含む。ＭＰＵ６０は、これら各部の処理をファームウェア上で実行してもよい。
リード／ライト制御部６１は、ホスト１００からのコマンドに従って、データのリード処理およびライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０上の目標位置に位置決めし、リード処理又はライト処理を実行する。例えば、リード／ライト制御部６１は、ライト処理を実行する際に、各トラックのトラックセンタを目標位置として、瓦記録を実行する。

図４は、データのライト処理の制御の一例を示す概要図である。図４には、ディスク１０の径方向の内周ＩＣ、切り換え位置ＣＣ、メディアキャッシュ領域１０ｍと瓦記録領域１０ｓとの境界位置ＢＰ、及びディスク１０の径方向の外周ＯＣを示している。また、図４には、内周ＩＣから外周ＯＣへ向かう外側ＯＤと、外周ＯＣから内周ＩＣへ向かう内側ＩＤとを示している。切り換え位置ＣＣは、径方向においてデータをライトする方向（順方向）を切り換える位置である。切り換え位置ＣＣは、内周ＩＣと境界位置ＢＰとの間に位置している。例えば、切り換え位置ＣＣは、ディスク１０において、ヘッド１５のスキュ角がほぼ０になる半径方向の位置である。なお、切り換え位置ＣＣは、ヘッド、ディスクや磁気ディスク装置毎に異なる位置に設定されていてもよい。

リード／ライト制御部６１は、順方向を外側ＯＤ又は内側ＩＤに切り換えてデータをライトする。一例として、リード／ライト制御部６１は、内周ＩＣから切り換え位置ＣＣまで外側ＯＤにデータを瓦記録した後に、境界位置ＢＰから切り換え位置ＣＣまで内側ＩＤにデータを瓦記録する。また、リード／ライト制御部６１は、境界位置ＢＰから切り換え位置ＣＣまで内側ＩＤにデータを瓦記録した後に、内周ＩＣから切り換え位置ＣＣまで外側ＯＤにデータを瓦記録してもよい。なお、リード／ライト制御部６１は、順方向を切り換え位置ＣＣで外側ＯＤ又は内側ＩＤに切り換えるとしたが、順方向を切り換えなくともよい。例えば、リード／ライト制御部６１は、順方向を内側ＩＤ又は外側ＯＤのいずれか一方に固定してデータを瓦記録してもよい。なお、リード／ライト制御部６１は、瓦記録ではない通常のライト処理を実行してもよい。

磁気ディスク装置１の製造工程時のディスク１０とＳＰＭ１２との取り付け誤差などを要因として、ディスク偏心が発生し得る。ディスク偏心が発生すると、ディスクが１回転したときにＲ／Ｗオフセット値が１周内で変動するダイナミックオフセット（ＤＯ）が生じる。このダイナミックオフセット（ＤＯ）を抑制するために、リード／ライト制御部６１は、後述するオフセット制御部に従って、ライト処理時にＲ／Ｗオフセット値を調整するライトダイナミックオフセット制御（ＷＤＯＣ）を実行する。このＷＤＯＣを適切に実行する場合には、ディスク１０の偏心量を高精度に測定する必要がある。

偏心測定部６３は、ディスク１０の偏心量を測定し、測定したディスク１０の偏心量に基づいてダイナミックオフセットの補正値（以下、単に、補正値と称する）を算出し、測定した偏心量や算出した補正値をディスク１０やメモリ、例えば、不揮発性メモリ８０にライトする。例えば、偏心測定部６３は、ディスク１０の各トラックをリードし、トラックからリードしたデータに対応する電流値から偏心量を算出し、算出した偏心量に基づいて補正値を算出してもよい。また、偏心測定部６３は、ヘッド１５を内周に押し付けてディスク１０にライトされたサーボ情報をリードすることによって偏心量を算出し、算出した偏心量から補正値を算出してもよい。偏心測定部６３は、製造工程時に、ディスク１０の偏心量を測定し、測定した偏心量から補正値を算出し、測定した偏心量や算出した補正値をディスク１０やメモリ等にライトしている。製造工程時に測定した補正値を初期値と称する場合もある。

また、磁気ディスク装置１では、ディスク１０の偏心状態、例えば、１次偏心の状態が変化する可能性がある。例えば、磁気ディスク装置１では、製品出荷後に、電源がＯＦＦのときに外部からの衝撃等でディスクの中心がずれるディスクシフトが生じる可能性もある。ディスク１０の偏心状態が変化した場合、ディスク１０の偏心状態が変化した後の偏心量は、ディスク１０の偏心状態が変化する前の偏心量と異なる可能性がある。そのため、偏心測定部６３は、あるタイミング、例えば、磁気ディスク装置を起動した時に、ディスク１０の偏心量（以下、現在の偏心量と称する）を測定し、測定した現在の偏心量と、前回測定した偏心量（以下、前の偏心量と称する）とを比較する。偏心測定部６３は、現在の偏心量と前の偏心量とが異なる場合、現在の偏心量に基づいて現在の補正値を算出し、現在の偏心量をメモリにライトし、ＷＤＯＣで使用する補正値を前の補正値から現在の補正値に変更する。偏心測定部６３は、ＷＤＯＣで使用する補正値を変更したことを示すフラグ（以下、変更フラグ（第１フラグ）と称する）と、変更した補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトしたトラック（データ）の軌跡を確認していなことを示すフラグ（以下、未確認フラグ（第２フラグ）と称する）を設定する。偏心測定部６３は、現在の偏心量と前の偏心量とが同じ、又は差が許容範囲内である場合には、ＷＤＯＣで使用する補正値を前の補正値のままにする。

オフセット制御部６５は、リード／ライト制御部６１を介して、補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する。オフセット制御部６５は、幾つかのトラックがライトされているバンド領域の内の１つのトラックの途中の位置、又はセクタ（以下、再開セクタと称する）からライト処理を再開する場合、変更フラグが設定されているか設定されていないかを判定する。オフセット制御部６５は、変更フラグが設定されていないと判定した場合、リード／ライト制御部６１を介して、前の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する。オフセット制御部６５は、変更フラグが設定されていると判定した場合、未確認フラグが設定されているかどうかを判定する。オフセット制御部６５は、未確認フラグが設定されていないと判定した場合、対象とするトラック（以下、対象トラックと称する）の目標位置から順方向にある距離で離間した（シフトした）位置から、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を再開する。例えば、ＤＯＣ部６５は、対象トラックの目標位置から順方向に１トラックピッチ、又は１トラック分シフトした位置からライト処理を再開する。オフセット制御部６５は、未確認フラグが設定されていると判定した場合、リード／ライト制御部６１を介して、後述する軌跡検出部６７でのトラックの軌跡の検出結果に応じて、ＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する。なお、変更フラグが設定されていると判定した場合に、オフセット制御部６５は、未確認フラグが設定されているか設定されていないかを判定しなくとも、対象トラックの目標位置から順方向にある距離でシフトした位置から、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する構成であってもよい。

図５は、バンド領域の内の１つのトラックの途中から再開するライト処理の一例を示す図である。図５において、図２と同じ部分については、説明を省略し、図２と異なる部分について説明する。
図示した例では、バンド領域ＢＡｋにおいて、ライトトラックＷｔ１、Ｗｔ２、Ｗｔ３、及びＷｔ４が順方向に沿って順に重ね書きされている。図５には、ライトトラックＷｔ３でライト処理を開始したセクタ（以下、単に、開始セクタと称する）ＳＳ３と、ライト処理を中断したセクタＩＳ３（以下、単に、中断セクタと称する）と、ライト処理を再開した再開セクタＲＳ３と、ライトトラックＷｔ３でライト処理を終了するセクタＥＳ３（以下、単に、終了セクタ）ＥＳ３とを示している。ライトトラックＷｔ３は、開始セクタＳＳ３から中断セクタＩＳ３までのライトデータ領域ＷＤＲ３１と、再開セクタＲＳ３から終了セクタＥＳ３までのライトデータ領域ＷＤＲ２とを含む。

ライトトラックＷｔ４は、トラックエッジＴｇ４１とトラックエッジＴｇ４２とを有している。図示した例では、トラックエッジＴｇ４１は、ライトトラックＷｔ４の順方向と反対方向（内方向ＩＤ）の端部であり、トラックエッジＴｇ４２は、ライトトラックＷｔ４の順方向（外方向ＯＤ）の端部である。ライトトラック幅Ｗｔｗ４は、ライトトラックＷｔ４のトラックエッジＴｇ４１及びＴｇ４２の間の径方向の距離である。図５には、ライトトラックＷｔ４のトラックセンタＷｔｃ４を示している。トラックセンタＷｔｃ４は、ライトトラックＷｔ４の目標位置である。図５では、トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、Ｗｔｃ３、及びＷｔｃ４は、径方向に等間隔で配設されている。図示した例では、トラックセンタＷｔｃ４は、周方向に沿って直線で示しているが、実際にはディスク１０の周方向に沿った曲線である。トラックセンタＷｔｃ４は、例えば、アクチュエータの回転中心（ピボット）を中心とするディスク１０上の円軌道であるものとする。

図５に示す例では、リードトラックＲｔ３は、ライトトラックＷｔ４が重ね書きされたライトトラックＷｔ３の一部以外の残りの領域である。リードトラックＲｔ３は、ライトデータ領域ＷＤＲ３１に対応するリードデータ領域ＲＤＲ３１と、ライトデータ領域ＷＤＲ３２に対応するリードデータ領域ＲＤＲ３２とを含む。リードトラックＲｔ２は、リードデータ領域ＲＤＲ３１の順方向と反対方向に位置する領域ＮＲ１と、リードデータ領域ＲＤＲ３２の順方向と反対方向に位置する領域ＮＲ２とを含む。リードデータ領域ＲＤＲ３２は、領域ＮＲ１の順方向に位置する領域ＥＲ１と、領域ＮＲ２の順方向に位置する領域ＥＲ２とを含む。領域ＥＲ１において、トラックエッジＴｇ３１は、順方向の反対方向に隣接するリードトラック（以下、前の隣接リードトラックと称する）のトラックエッジＴｇ２１とほぼ平行である。領域ＥＲ２は、前の隣接リードトラックの一部（領域ＮＲ２）に突出している。図５において、リードトラックＲｔ４は、ライトトラックＷｔ４に対応する。図５に示した例では、リードトラックＲｔ１、Ｒｔ２及びＲｔ３が、瓦記録トラックに相当し、リードトラックＲｔ４が、最終トラックに相当する。

図５では、リードトラック幅Ｒｔｗ３は、トラックエッジＴｇ３１及びＴｇ４１の間の距離である。リードトラック幅Ｒｔｗ４は、ライトトラック幅Ｗｔｗ４に対応する。図５において、リードトラック幅Ｒｔｗ１、Ｒｔｗ２、及びＲｔｗ３は、それぞれ、周方向で変動する。リードトラック幅Ｒｔｗ４は、周方向で一定である。また、リードトラック幅Ｒｔｗ１、Ｒｔｗ２、Ｒｔｗ３、及びＲｔｗ４は、それぞれ、異なる幅である。

リードトラックＲｔ３とリードトラックＲｔ４と間のトラックピッチＴｐ３は、リードトラック幅Ｒｔｗ３に相当する。図５において、トラックピッチＴｐ２は、周方向において、領域ＮＲ１で一定であり、領域ＮＲ２で変動している。トラックピッチＴｐ２は、領域ＮＲ１のトラックピッチＴｐ２１と、領域ＮＲ２のトラックピッチＴｐ２２とを含む。トラックピッチＴｐ３は、周方向で変動している。トラックピッチＴｐ３は、領域ＥＲ１でのトラックピッチＴｐ３１と、領域ＥＲ２でのトラックピッチＴｐ３２を含む。トラックピッチＴｐ３１とトラックピッチＴｐ３２とは、互いに異なる幅である。

例えば、オフセット制御部６５は、ライトトラックＷｔ１、ライトトラックＷｔ２、及びライトデータ領域ＷＤＲ３１と順方向に順に、補正値（前の補正値）に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行し、ある位置、例えば、中断セクタＩＳ３でライト処理を中断する。このとき、外部からの衝撃等により磁気ディスク装置１でディスク１０の偏心状態が変化した場合、偏心測定部６３は、現在の補正値を算出し、ＷＤＯＣで使用する補正値を前の補正値から現在の補正値に変更する。オフセット制御部６５は、再開セクタＲＳ３からライト処理を再開し、ライトデータ領域ＷＤＲ３２及びライトトラックＷｔ４を順方向に順に、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する。

このとき、偏心測定部６３で算出された現在の補正値の精度が不十分であった場合、図５に示すように、前の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行した領域と、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行した領域とが異なる変動をする。そのため、オフセット制御部６５は、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行した場合、前の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトした順方向と反対方向に隣接するライトトラック（以下、前の隣接ライトトラックと称する）を部分的に消去（イレーズ）する可能性がある。図５に示した例では、リードトラックＲｔ３の領域ＥＲ２がリードトラックＲｔ２の領域ＮＲ２に突出しているため、領域ＮＲ２のトラックピッチＴｐ２２は、領域ＮＲ１のトラックピッチＴｐ２１よりも小さくなっている。そのため、本実施形態では、オフセット制御部６５は、変更フラグが設定されていることと、未確認フラグが設定されていないことを確認した場合、対象トラックの目標位置から順方向にある距離でシフトした位置から、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する。

図６は、本実施形態に係るバンド領域の内の１つのトラックの途中から再開するライト処理の一例を示す図である。図６において、図５と同じ部分については、説明を省略し、図５と異なる部分について説明する。図６には、トラックセンタＷｔｃ５を示している。図２では、トラックセンタＷｔｃ１、Ｗｔｃ２、Ｗｔｃ３、Ｗｔｃ４、及びＷｔｃ５は、径方向に等間隔で配設されている。

オフセット制御部６５は、ライトトラックＷｔ１、ライトトラックＷｔ２、及びライトトラックＷｔ３と順方向に順に、補正値（前の補正値）に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を実行し、ある位置（第１位置）でライト処理を中断する。この位置（第１位置）からライト処理を再開する場合、オフセット制御部６５は、変更フラグが設定されていることと、未確認フラグが設定されていないことを確認した場合、この位置に対応する目標位置から順方向にオフセット量（第２距離）ＯＦａ分シフトした（ずらした）位置（第２位置）から、現在の補正値に基づいてＷＤＯＣに従ってライト処理を再開する。

図６に示した例では、オフセット制御部６５は、ライトトラックＷｔ３の目標位置であるトラックセンタＷｔｃ３上の中断セクタＩＳ３から順方向にオフセット量ＯＦａ、例えば、１トラックピッチ分シフトしたトラックセンタＷｔｃ４上の再開セクタＲＳ３からライト処理を再開する。オフセット制御部６５は、トラックセンタＷｔｃ４上のライトデータ領域ＷＤＲ３２からトラックセンタＷｔｃ５上のライトトラックＷｔ４に順方向に順に、現在の補正値に基づいてＷＤＯＣに従ってライト処理を実行する。この場合、オフセット制御部６５は、再開セクタＲＳ３の目標位置であるトラックセンタＷｔｃ４から順方向に１トラックピッチ分シフトしたトラックセンタＷｔｃ５を目標位置として、ライトトラックＷｔ４をライトデータ領域ＷＤＲ３２に重ね書きする。なお、オフセット量ＯＦａは、１トラックピッチ分よりも小さくてもよいし、１トラックピッチ分よりも大きくてもよい。

軌跡検出部６７は、あるタイミングで、補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトしたライトトラック（データ）の軌跡を検出する。軌跡検出部６７は、ライトトラックの軌跡が前の隣接ライトトラックをイレーズすることを検出した場合、変更フラグ及び未確認フラグをそのまま残す。すなわち、軌跡検出部６７は、ライトトラックの軌跡が前の隣接ライトトラックをイレーズすることを検出した場合、中断した位置から順方向にある距離シフトした位置からライト処理を再開するように制御する。また、軌跡検出部６７は、ライトトラックの軌跡が前の隣接ライトトラックをイレーズしないことを検出した場合、変更フラグ及び未確認フラグを消去する。すなわち、軌跡検出部６７は、ライトトラックの軌跡が前の隣接ライトトラックをイレーズしないことを検出した場合、中断した位置から現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を再開するように制御する。換言すると、前の補正値に基づくＷＤＯＣに従うライトトラックの軌跡と、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従うライトトラックの軌道とがほぼ同じである場合、すなわち、算出した現在の補正値の精度が高い場合、軌跡検出部６７は、中断した位置から現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライト処理を再開するように制御する。この場合、中断した位置から順方向にシフトした位置からライトを再開しないため、バンド領域を高密度に保つことができる。また、前の補正値が現在の補正値に変更された場合にのみ、磁気ディスク装置１が起動した時にライトトラックの軌跡を検出するため、磁気ディスク装置１が起動する度にライトトラックの軌跡を検出することと比較して、起動時間の低下を低減することができる。

例えば、軌跡検出部６７は、アイドル時に、変更フラグ及び未確認フラグが設定されているか、設定されていないかを判定する。軌跡検出部６７は、変更フラグ及び未確認フラグが設定されていると判定した場合、ディスク１０のテスト領域ＴＲにおいて、前の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトした前の隣接ライトトラックに、現在の補正値に基づくＷＤＯＣによりライトトラックを重ね書きする。軌跡検出部６７は、前の隣接ライトトラックに対応する前の隣接リードトラックをリードし、正常にデータをリードできるかできないかを判定する。軌跡検出部６７は、正常にデータをリードできないと判定した場合、変更フラグ及び未確認フラグをそのまま残す。軌跡検出部６７は、正常にデータをリードできると判定した場合、変更フラグ及び未確認フラグを消去する。変更フラグ及び未確認フラグを消去した場合、軌跡検出部６７は、テスト領域ＴＲから前の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトしたライトトラックを消去し、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトしたライトトラックをライトしてもよい。

図７は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１での偏心量の測定処理の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、ＳＰＭ１２を介してディスク１０を回転し（Ｂ７０１）、ヘッド１５を対象トラックに移動する（Ｂ７０２）。
ＭＰＵ６０は、オントラックした対象トラックで現在の偏心量を検出する（Ｂ７０３）。例えば、ＭＰＵ６０は、対象トラックの目標位置とリードしたサーボデータから復調したヘッド１５（リードヘッド１５Ｒ）の位置との差を測定し、測定結果から現在の偏心量を算出する。また、ＭＰＵ６０は、位置決めした対象トラックをリードし、リードしたデータに対応する電流の１次成分が最小になるようにリードヘッド１５Ｒを調整することで、現在の偏心量を算出してもよい。

ＭＰＵ６０は、前の偏心量と、現在の偏心量とを比較する（Ｂ７０４）。ＭＰＵ６０は、前の偏心量と現在の偏心量とに差がないかあるかを判定する（Ｂ７０５）。前の偏心量と現在の偏心量とに差がないと判定した場合（Ｂ７０５のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、ＷＤＯＣで前の補正値を使用するように設定し（Ｂ７０６）、磁気ディスク装置１を起動する。なお、ＭＰＵ６０は、前の偏心量と現在の偏心量とが同じ、又は差が許容範囲内である場合には、差がないと判定するように構成されていてもよい。

前の偏心量と現在の偏心量とに差があると判定した場合（Ｂ７０５のＮо）、ＭＰＵ６０は、現在の偏心量に基づいて現在の補正値を算出する（Ｂ７０７）。ＭＰＵ６０は、ＷＤＯＣで使用する補正値を前の補正値から現在の補正に変更する（Ｂ７０８）。ＭＰＵ６０は、変更フラグを設定し（Ｂ７０９）、未確認フラグを設定し（Ｂ７１０）、磁気ディスク装置１を起動する。

図８は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１のライト動作の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、データをライトするセクタを検出し（Ｂ８０１）、データをライトするライト位置がバンド領域の途中であるか、途中でないかを判定する（Ｂ８０２）。データをライト位置がバンド領域の途中でないと判定した場合（Ｂ８０２のＮо）、ＭＰＵ６０は、Ｂ８０６の処理へ進む。データをライトするライト位置がバンド領域の途中であると判定した場合（Ｂ８０２のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、変更フラグが設定されているか、設定されていないかを判定する（Ｂ８０３）。変更フラグが設定されていないと判定した場合（Ｂ８０３のＮо）、ＭＰＵ６０は、Ｂ８０６の処理へ進む。変更フラグが設定されていると判定した場合（Ｂ８０３のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、未確認フラグが設定されているか、設定されていないかを判定する（Ｂ８０４）。未確認フラグが設定されていないと判定した場合（Ｂ８０４のＮо）、ＭＰＵ６０は、Ｂ８０６の処理へ進む。

未確認フラグが設定されていると判定した場合（Ｂ８０４のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、ライト位置を順方向にシフトする（Ｂ８０５）。例えば、ＭＰＵ６０は、ライト位置を順方向に１トラックピッチ×ｎ（ｎ＝１、２、３…）分シフトする。ＭＰＵ６０は、ヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を順方向にシフトしたライト位置にシークし（Ｂ８０６）、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってデータをライトする（Ｂ８０７）。

図９は、本実施形態に係るライトデータの軌跡の確認処理の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、ホストから一定時間以上アクセスがあるかアクセスがないかを検出する（Ｂ９０１）。つまり、ＭＰＵ６０は、アイドル時であるかアイドル時でないかを判定する。アイドル時でないと判定した場合（Ｂ９０１のＮо）、ＭＰＵ６０は、処理Ｂ９０１に戻る。アイドル時であると判定した場合（Ｂ９０１のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、変更フラグが設定されているか、設定されていないかを判定する（Ｂ９０２）。変更フラグが設定されていないと判定した場合（Ｂ９０２のＮｏ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。変更フラグが設定されていると判定した場合（Ｂ９０２のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、未確認フラグが設定されているか、設定されていないかを判定する（Ｂ９０３）。

未確認フラグが設定されていないと判定した場合（Ｂ９０３のＮｏ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。未確認フラグが設定されていると判定した場合（Ｂ９０３のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトしたトラックの軌跡を確認する（Ｂ９０４）。例えば、ＭＰＵ６０は、テスト領域ＴＲにおいて、前の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってライトトラック（前のライトトラック）をライトし、この前のライトトラックの順方向に現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従って現在のライトトラックを重ね書きする。ＭＰＵ６０は、前のライトトラックに対応する前のリードトラックをリードすることで現在のライトトラックの軌跡を確認する。

ＭＰＵ６０は、変更フラグをクリアし（Ｂ９０５）、順方向と反対方向に隣接するトラック（前の隣接トラック）をイレーズしていないか、イレーズしているか（Ｂ９０６）を判定する。前の隣接トラックをイレーズしていると判定した場合（Ｂ９０６のＮо）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。前の隣接トラックをイレーズしていないと判定した場合（Ｂ９０６のＹｅｓ）、ＭＰＵ６０は、未確認フラグをクリアする（Ｂ９０７）。ＭＰＵ６０は、ディスク１０やメモリ、例えば、不揮発性メモリ８０等に現在の偏心量を保持し（Ｂ９０８）、ＷＤＯＣで現在の補正値を使用するように設定する（Ｂ９０９）。つまり、ＭＰＵ６０は、バンド領域の途中からライト処理を再開する場合に、ライト位置を順方向にシフトせずに、現在の補正値に基づくＷＤＯＣに従ってデータをライトする。ＷＤＯＣで現在の補正値を使用するように設定した（Ｂ９０９）後に、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。
本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、バンド領域の内の１つのトラックの途中からライト処理を再開する場合、現在の偏心量を測定し、前の偏心量と現在の偏心量とを比較する。磁気ディスク装置１は、前の偏心量と現在の偏心量とが異なる場合、現在の偏心量に基づいて現在の補正値を算出し、ＷＤＯＣに使用する補正値を前の補正値から現在の補正値に変更する。磁気ディスク装置１は、ライト処理を再開するセクタから順方向にある距離、例えば、１トラックピッチ分シフトした位置からライト処理を再開する。そのため、磁気ディスク装置１は、ライト処理を中断した際に、ディスク１０の偏心量が変化した場合でも、ライト性能への影響を低減し、且つ前の隣接ライトトラックをイレーズすることなくライト処理を実行できる。したがって、信頼性を向上できる磁気ディスク装置が提供できる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ｓ…瓦記録領域、１０ｍ…メディアキャッシュ領域、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…不揮発性メモリ、９０…バッファメモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。

Claims (11)

1. ディスクと、
   前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
   前記ディスクの第１偏心量に基づいて第１補正値を算出し、前記第１補正値に基づいて、第１目標位置で第１トラックをライトし、前記第１補正値に基づいて、前記第１目標位置から径方向に従う第１方向に第１距離で離間した第２目標位置で第２トラックを前記第１トラックに重ね書きし、前記第２トラックを前記第１トラックに重ね書きしている際に、前記第２トラックの第１位置でライトを中断し、前記第１位置から前記第２トラックのライトを再開する場合、前記ディスクの第２偏心量を測定し、前記第１偏心量と前記第２偏心量とを比較し、前記第１偏心量と前記第２偏心量とが異なる場合に、前記第１位置から前記第１方向に第２距離で離間した第２位置から前記第２トラックのライトを再開するコントローラと、を備える磁気ディスク装置。
2. 前記コントローラは、前記第２トラックのライトを再開する際に、前記第２偏心量に基づいて第２補正値を算出し、前記第２位置から前記第２補正値に基づいて前記第２トラックのライトを再開する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記コントローラは、前記第１偏心量と前記第２偏心量とが異なることを確認した場合、前記第１補正値から前記第２補正値に変更したことを示す第１フラグを設定する、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記コントローラは、前記第１偏心量と前記第２偏心量とが異なることを確認した場合、前記第２補正値に基づいて、第３目標位置にライトした第３トラックの軌跡を確認していないことを示す第２フラグを設定する、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記コントローラは、前記第１フラグ及び前記第２フラグが設定されていることを検出した場合、前記第２位置から前記第２トラックのライトを再開する、請求項４に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記コントローラは、前記第１フラグ及び前記第２フラグが設定されていることを検出した場合、前記第１補正値に基づいて、第４目標位置に第４トラックをライトし、前記第２補正値に基づいて、前記第４目標位置から前記第１方向に前記第１距離で離間した前記第３目標位置に前記第３トラックを前記第４トラックに重ね書きし、前記第３トラックが重ね書きされた前記第４トラックの第１領域と異なる第２領域をリードすることで、前記第３トラックの軌跡を確認する、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記コントローラは、前記第２領域をリードできた場合、前記第１フラグ及び前記第２フラグをクリアする、請求項６に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記コントローラは、前記第１フラグ及び前記第２フラグをクリアした場合、前記第２補正値に基づいて、前記第１位置から前記第２トラックのライトを再開する、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
9. 前記第２距離は、前記第１距離と同じである、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
10. 前記コントローラは、前記第１偏心量と前記第２偏心量とが同じ場合、前記第２偏心量に基づいて第２補正値を算出し、前記第２補正値に基づいて前記第１位置から前記第２トラックのライトを再開する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
11. ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドとを備える磁気ディスク装置に適用されるライト方法であって、
    前記ディスクの第１偏心量に基づいて第１補正値を算出し、
    前記第１補正値に基づいて、第１目標位置に第１トラックをライトし、
    前記第１補正値に基づいて、前記第１目標位置から径方向に従う第１方向に第１距離で離間した第２目標位置に第２トラックを前記第１トラックに重ね書きし、
    前記第２トラックを前記第１トラックに重ね書きしている際に、前記第２トラックの第１位置でライトを中断し、
    前記第１位置から前記第２トラックのライトを再開する場合、前記ディスクの第２偏心量を測定し、前記第１偏心量と前記第２偏心量とを比較し、
    前記第１偏心量と前記第２偏心量とが異なる場合に、前記第１位置から前記第１方向に第２距離で離間した第２位置から前記第２トラックのライトを再開する、ライト方法。

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