JP2018146358A - インピーダンス測定装置および測定方法 - Google Patents
インピーダンス測定装置および測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018146358A JP2018146358A JP2017040912A JP2017040912A JP2018146358A JP 2018146358 A JP2018146358 A JP 2018146358A JP 2017040912 A JP2017040912 A JP 2017040912A JP 2017040912 A JP2017040912 A JP 2017040912A JP 2018146358 A JP2018146358 A JP 2018146358A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impedance
- under test
- circuit
- measured
- circuit under
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Description
図1は、実施形態1に係るインピーダンス測定装置の概略構成を示す構成図である。図2は、実施形態1に係るインピーダンス測定装置における被測定回路の共振周波数特性の一例を示す図である。図3は、実施形態1に係るインピーダンス測定装置における被測定回路の位相特性の一例を示す図である。図4は、実施形態1に係るインピーダンス測定装置における被測定回路の共振特性の鋭さを示す模式図である。図5は、実施形態1に係る被測定回路に対応する等価回路の概略構成を示す図である。
図6は、実施形態2に係るインピーダンス測定装置の概略構成を示す構成図である。図7は、実施形態2に係る被測定回路に対応する等価回路の概略構成を示す図である。
10A,10B 被測定回路
11,13 信号線
15,17 端子
100 2端子用ネットワークアナライザ
101 第1ポート
103 第2ポート
200 パーソナルコンピュータ
Claims (6)
- 未知のインピーダンスを有する被測定物と、既知のインピーダンスを有する少なくとも1つの受動素子とで構成され、かつ電気的に共振するように接続される被測定回路と、
前記被測定回路に接続する2つの端子を有し、2つの前記端子に接続された前記被測定回路のSパラメータを測定する電気特性測定装置と、
前記電気特性測定装置により測定された前記Sパラメータに基づいて前記被測定回路のインピーダンスを算出し、前記被測定回路のインピーダンスおよび前記受動素子の既知のインピーダンスに基づいて前記被測定物のインピーダンスを算出する算出装置と、
を備えることを特徴とするインピーダンス測定装置。 - 前記被測定回路は、2つの前記端子間に直列に接続される2つの前記受動素子と、2つの前記受動素子間とGNDとの間に接続される前記被測定物とからなるT型等価回路であり、
2つの前記受動素子はいずれも、既知のインダクタンスを有するインダクタ、または、既知のキャパシタンスを有するキャパシタであり、
前記被測定物は、未知のインピーダンスを有する素子を含む
請求項1に記載のインピーダンス測定装置。 - 前記被測定回路は、2つの前記端子間に接続される前記被測定物と、各前記端子とGNDとの間に接続される2つの前記受動素子とからなるπ型等価回路であり、
2つの前記受動素子はいずれも、既知のインダクタンスを有するインダクタ、または、既知のキャパシタンスを有するキャパシタであり、
前記被測定物は、未知のインピーダンスを有する素子を含む
請求項1に記載のインピーダンス測定装置。 - 前記被測定物はさらに、インダクタおよびキャパシタを含み、前記インダクタおよび前記キャパシタのうち、一方が未知のインピーダンスを有する素子であり、他方が既知のインピーダンスを有する前記受動素子である
請求項1〜3のいずれか1項に記載のインピーダンス測定装置。 - 前記被測定回路は、前記被測定回路が有する共振周波数特性の鋭さを表すQ値を所定値以上にすることが可能な前記受動素子を含む
請求項1〜4のいずれか1項に記載のインピーダンス測定装置。 - 被測定物のインピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、
未知のインピーダンスを有する被測定物と、既知のインピーダンスを有する少なくとも1つの受動素子とで構成され、かつ電気的に共振するように接続される被測定回路を、2つの端子を有する電気特性測定装置に接続し、2つの前記端子に接続された前記被測定回路のSパラメータを測定する測定ステップと、
前記測定ステップにて測定された前記Sパラメータに基づいて前記被測定回路のインピーダンスを算出し、前記被測定回路のインピーダンスおよび前記受動素子の既知のインピーダンスに基づいて前記被測定物のインピーダンスを算出する算出ステップと、
を備えることを特徴とするインピーダンス測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017040912A JP6957168B2 (ja) | 2017-03-03 | 2017-03-03 | インピーダンス測定装置および測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017040912A JP6957168B2 (ja) | 2017-03-03 | 2017-03-03 | インピーダンス測定装置および測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018146358A true JP2018146358A (ja) | 2018-09-20 |
JP6957168B2 JP6957168B2 (ja) | 2021-11-02 |
Family
ID=63592021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017040912A Active JP6957168B2 (ja) | 2017-03-03 | 2017-03-03 | インピーダンス測定装置および測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6957168B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113899998A (zh) * | 2021-09-03 | 2022-01-07 | 深圳供电局有限公司 | Igbt参数的测试方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006250743A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Murata Mfg Co Ltd | π型インピーダンス回路網のインピーダンス測定方法および測定装置 |
JP2006266833A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 特性インピーダンス測定方法、特性インピーダンス測定装置及び特性インピーダンス算出プログラム |
JP2009194193A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Panasonic Corp | コンデンサの検査装置及びこれを用いた検査方法 |
JP2010160000A (ja) * | 2009-01-06 | 2010-07-22 | Renesas Electronics Corp | インピーダンス測定方法 |
US20110107292A1 (en) * | 2009-10-29 | 2011-05-05 | Sun Microsystems, Inc. | Extraction of Component Models from PCB Channel Scattering Parameter Data by Stochastic Optimization |
-
2017
- 2017-03-03 JP JP2017040912A patent/JP6957168B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006250743A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Murata Mfg Co Ltd | π型インピーダンス回路網のインピーダンス測定方法および測定装置 |
JP2006266833A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 特性インピーダンス測定方法、特性インピーダンス測定装置及び特性インピーダンス算出プログラム |
JP2009194193A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Panasonic Corp | コンデンサの検査装置及びこれを用いた検査方法 |
JP2010160000A (ja) * | 2009-01-06 | 2010-07-22 | Renesas Electronics Corp | インピーダンス測定方法 |
US20110107292A1 (en) * | 2009-10-29 | 2011-05-05 | Sun Microsystems, Inc. | Extraction of Component Models from PCB Channel Scattering Parameter Data by Stochastic Optimization |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113899998A (zh) * | 2021-09-03 | 2022-01-07 | 深圳供电局有限公司 | Igbt参数的测试方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN113899998B (zh) * | 2021-09-03 | 2024-05-24 | 深圳供电局有限公司 | Igbt参数的测试方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6957168B2 (ja) | 2021-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7383140B2 (en) | Capacitance, inductance and impedance measurements using multi-tone stimulation and DSP algorithms | |
US11204379B2 (en) | Structures and methods for RF de-embedding | |
CN107076789B (zh) | 测量和确定噪声参数的系统和方法 | |
CN208547670U (zh) | 射频器件测试系统 | |
KR20140049551A (ko) | 고전압들을 측정하기 위한 교정된 주파수 특성을 가지는 적응형 전압 분배기 | |
CA2938595A1 (en) | System and method for measuring wideband noise parameters using an impedance generator | |
KR20130117841A (ko) | 측정 오차의 보정방법 및 전자부품 특성 측정장치 | |
JP6957168B2 (ja) | インピーダンス測定装置および測定方法 | |
JP4009876B2 (ja) | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP2009058371A (ja) | T型伝送回路の等価回路抽出方法 | |
US7834641B1 (en) | Phase-gain calibration of impedance/admittance meter | |
US20220317169A1 (en) | Noise-independent loss characterization of networks | |
JP2019211314A (ja) | ベクトルネットワークアナライザを用いた反射係数の測定方法 | |
Satish et al. | Measurement automation to implement evaluation procedure of four-terminal-pair capacitance standards using S-parameters | |
US2461286A (en) | Radio-frequency bridge | |
JP5458817B2 (ja) | 電子部品の電気特性測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | |
JP4525391B2 (ja) | π型インピーダンス回路網のインピーダンス測定方法および測定装置 | |
US8810256B1 (en) | Impedance meter calibration | |
US20050028117A1 (en) | Method and apparatus for designing high-frequency circuit, and display method for use in designing high-frequency circuit | |
US10168411B2 (en) | Measuring device and a method for measuring a high-frequency signal with deembedding | |
CN117310292B (zh) | 一种高频电源探头输入阻抗的测量系统、方法及介质 | |
US10712398B1 (en) | Measuring complex PCB-based interconnects in a production environment | |
Walker | Using a VNA for Power Plane Impedance Analysis | |
KR20230047122A (ko) | 용량성 전압 변환기의 상태를 결정하기 위한 방법 및 장치 | |
JPH11281689A (ja) | 振動子の測定治具における対地間容量および損失の決定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200219 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210302 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210406 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210528 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210803 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210913 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20211005 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20211006 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6957168 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |