JP2018133383A - 波長可変光源の制御装置および制御方法 - Google Patents

波長可変光源の制御装置および制御方法 Download PDF

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Abstract

【課題】半導体光増幅器に印加する電圧の方向を反転する時間を短縮すること。【解決手段】半導体レーザ素子と半導体光増幅器とを有する波長可変光源の制御装置であって、第1電圧源から半導体光増幅器を介して第2電圧源に流れる電流を制御する第1電流制御素子と、少なくとも第1電圧源から第3電圧源に流れる電流を遮断する第1電流遮断素子と、第1電圧源の電位変動の影響を平滑化する第1のローパスフィルタと、第1電圧源から第3電圧源に流れる電流を抑制する第1電流抑制手段と、を備えることを特徴とする波長可変光源の制御装置。【選択図】図2

Description

本発明は、波長可変光源の制御装置および制御方法に関する。
光通信分野では、複数の波長の光を切替えて用いる光源が利用されている。例えば国際電気連合(International Telecommunication Union、ITU)では、いわゆるITUグリッドと呼ばれる、波長のグリッドが標準化されており、この標準に従った波長の光を切替えて出力することができる波長可変光源が各種開発されている。
ところで、1つの光源で波長を切替えるには、少なからず波長切替時間を必要とする。この波長切替時間を短縮することは、利便性の向上に寄与するので、波長切換時間を短縮するための試みもなされている(例えば特許文献1参照)。
特開2015−144191号公報
ここで、波長切替時間を細分化すると、出力停止のための時間と波長変更のための時間と出力再開の時間とに分けられる。半導体レーザ素子と半導体光増幅器とを有する波長可変光源にあっては、出力停止のための時間には、半導体光増幅器の駆動電流が所定値以下に減少させてから、通常とは逆方向に電圧を印加するといういわゆる逆バイアス電圧を印加するための時間が含まれ、出力再開のための時間には、逆バイアス電圧が所定値以下に減少してから順方向に駆動電流を流すための時間が含まれる。しかも、一般に半導体光増幅器には、ノイズ耐性を高めるために駆動電流が変動し難くなるような機構が含まれており、半導体光増幅器の駆動電流を瞬時に制御することへの妨げとなっている。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、その目的は、半導体光増幅器に印加する電圧の方向を反転する時間を短縮し、レーザ光の波長切換、および波長可変光源の光出力の立ち上げ、立ち下げ時の全体時間も短縮することができる波長可変光源の制御装置および制御方法を提供することにある。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の一態様に係る波長可変光源の制御装置は、半導体レーザ素子と前記半導体レーザ素子が発振するレーザ光を増幅する半導体光増幅器とを有する波長可変光源の制御装置であって、第1電圧源と、前記第1電圧源よりも電位が低い第2電圧源と、前記第2電圧源よりも電位が低いまたは等しい第3電圧源と、前記第1電圧源と前記半導体光増幅器との間の回路に配置され、前記第1電圧源から前記半導体光増幅器を介して前記第2電圧源に流れる電流を制御する第1電流制御素子と、前記第3電圧源と前記半導体光増幅器との間の回路に配置され、少なくとも前記第1電圧源から前記第3電圧源に流れる電流を遮断する第1電流遮断素子と、前記第1電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第1電圧源と前記第3電圧源との間の回路に配置される第1のローパスフィルタと、前記第3電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第1電圧源と前記第3電圧源との間の回路に配置され、前記第1電圧源から前記第3電圧源に流れる電流を抑制する第1電流抑制手段と、を備えることを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変光源の制御装置は、前記第2電圧源は、接地電源であり、前記第3電圧源は、負電圧源である、ことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変光源の制御装置は、前記第2電圧源よりも電位が高い第4電圧源と、前記第4電圧源と前記半導体光増幅器との間の回路に配置され、前記第4電圧源から前記半導体光増幅器に流れる電流を遮断する第2電流遮断素子と、前記第2電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第4電圧源と前記第2電圧源との間の回路に配置され、前記第4電圧源から前記第2電圧源へ流れる電流を遮断する第3電流遮断素子と、前記第4電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第4電圧源と前記第2電圧源との間の回路に配置され、前記第4電圧源から前記第2電圧源に流れる電流を抑制する第2電流抑制手段と、を備えることを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変光源の制御装置は、前記第1電圧源および前記第4電圧源は、電位が等しく、前記第2電圧源および前記第3電圧源は、接地電源である、ことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変光源の制御装置は、前記第1電流制御素子の応答性を調節する第2のローパスフィルタを備えることを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る波長可変光源の制御方法は、上記波長可変光源の制御装置を用いた波長可変光源の制御方法であって、前記第1電流制御素子を制御して前記半導体光増幅器に流れる電流を停止する駆動電流停止ステップと、前記第1電流遮断素子を導通して前記半導体光増幅器に逆バイアス電圧を印加する逆バイアス印加ステップと、前記半導体レーザ素子が発振するレーザ光の波長を変更するチューニングステップと、前記第1電流遮断素子を遮断して前記半導体光増幅器の逆バイアス電圧の印加を解除する逆バイアス解除ステップと、前記第1電流制御素子を制御して前記半導体光増幅器に流れる電流を再開する駆動電流再開ステップと、を有することを特徴とする。
本発明に係る波長可変光源の制御装置および制御方法は、半導体光増幅器に印加する電圧の方向を反転する時間を短縮し、レーザ光の波長切換、および波長可変光源の立ち上げ、立ち下げ時の全体時間も短縮することができるという効果を奏する。
図1は、第1実施形態に係る波長可変光源の制御装置の制御ブロックを示す図である。 図2は、第1実施形態に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。 図3は、波長変更時の制御方法の手順を示すフローチャートである。 図4は、比較例に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。 図5は、比較例に係る光増幅器制御回路における波長変更時のタイミングチャートである。 図6は、第1実施形態に係る光増幅器制御回路における波長変更時のタイミングチャートである。 図7は、第2実施形態に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。 図8は、第2実施形態に係る光増幅器制御回路における波長変更時のタイミングチャートである。 図9は、第3実施形態に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る波長可変光源の制御装置および制御方法を詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態により本発明が限定されるものではない。また、各図面において、同一または対応する構成要素には適宜同一の符号を付している。また、図面は模式的なものであり、各部の大きさやその比率などは現実のものとは異なることに留意すべきである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る波長可変光源の制御装置の制御ブロックを示す図である。
図1に示すように、波長可変光源100は、レーザモジュール10と制御装置20とに大きく分けられる。レーザモジュール10は、制御装置20からの制御に応じて所望の波長および強度のレーザ光を出力し、後段の通信機器等に当該レーザ光を供給する。制御装置20は、例えばユーザーインターフェイスを備えた上位の制御装置と接続されており、当該上位の制御装置を介したユーザーからの指示に従って、レーザモジュール10を制御する。なお、制御装置20を構成する回路基板上にレーザモジュール10を載置して、レーザモジュール10と制御装置20とを一体的にモジュール化することも可能である。
図1に示すように、レーザモジュール10は、熱電素子11を有し、熱電素子11上に温度監視素子12と半導体レーザ素子アレイ13とアレイ導波路回折格子14と半導体光増幅器15と第1光検出器16と第2光検出器17と第3光検出器18と波長依存素子19とを備えている。
熱電素子11は、たとえばペルチェ素子であり、供給する電流に応じて、熱電素子11の上に配置された機器を冷却ないし加熱することができ、その温度は温度監視素子12によって監視されている。温度監視素子12は、例えばサーミスタを用いることができる。本構成では、熱電素子11を用いて、半導体レーザ素子アレイ13およびアレイ導波路回折格子14と、半導体光増幅器15、第1光検出器16、第2光検出器17、第3光検出器18、および波長依存素子19を温度制御することができる。
半導体レーザ素子アレイ13は、例えばDFB−LD(Distributed Feedback Laser Diode:分布帰還型レーザダイオード)がアレイ状に配列された半導体素子である。半導体レーザ素子アレイ13では、これらDFB−LDの発振波長が3nm〜4nm程度の間隔でずらして設計されており、各DFB−LDの発振波長は、温度の変更によって3nm〜4nm程度の範囲で変更が可能である。したがって、熱電素子11の上に配置された半導体レーザ素子アレイ13は、各DFB−LDの切り替えおよび温度の変更の組み合わせによって、広範囲の波長帯にわたって発振波長を連続的に変更することが可能である。なお、WDM通信用の波長帯域全体(例えば1.53μm〜1.56μmのCバンド又は1.57μm〜1.61μmのLバンド)をカバーするためには、それぞれ3nm〜4nmの範囲内で発振波長を変化させることが可能な例えば12個のDFB−LDを用いればよい。
アレイ導波路回折格子14は、光合波器の一種であり、光路差を設けた導波路をアレイ状に配置し、当該光路差による回折効果を利用して、光を合波する素子である。アレイ導波路回折格子14は、半導体レーザ素子アレイ13の各DFB−LDで発振したレーザ光を一つの導波路に合波するように配置されている。なお、半導体レーザ素子アレイ13とアレイ導波路回折格子14は同一基板上の半導体素子として構成することが可能である。
半導体光増幅器15は、半導体レーザ素子アレイ13からアレイ導波路回折格子14を介して出射されたレーザ光を入射し、当該レーザ光を増幅した後に出射するための素子である。半導体光増幅器15には、駆動電流が供給され、当該駆動電流の大きさに従ってレーザ光を増幅する利得が調節される。また、半導体光増幅器15は、通常とは逆方向に電圧(これを逆バイアス電圧という)を印加することによって光遮断器(シャッター)として機能させることができる。半導体レーザ素子アレイ13で発振するレーザ光の波長を変更する際には、半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加し、不必要なレーザ光が波長可変光源100から出射されないようにする。なお、波長可変光源100から出射するレーザ光の波長変更のプロセスは後に詳述するものとする。
第1光検出器16、第2光検出器17、および第3光検出器18は、例えばフォトダイオードであり、入射された光の強度を検出し、検出結果を制御装置20に送信することが可能なように構成されている。第1光検出器16および第2光検出器17は、半導体レーザ素子アレイ13から出射されたレーザ光の波長を監視するためのものであり、第3光検出器18は、半導体光増幅器15から出射されたレーザ光の強度を監視するためのものである。
波長依存素子19は、例えばエタロンフィルタであり、入射されるレーザ光の波長に依存して透過率が変わる素子である。第1光検出器16は、半導体レーザ素子アレイ13から出射されたレーザ光の強度を波長依存素子19を介さず測定し、第2光検出器17は、半導体レーザ素子アレイ13から出射されたレーザ光の強度を波長依存素子19を介して測定する。これにより、第1光検出器16と第2光検出器17とが検出したレーザ光の強度比から半導体レーザ素子アレイ13から出射されたレーザ光の波長を測定することが可能となる。
制御装置20は、デジタル演算器21とレーザ素子制御回路22と温度制御回路23と光増幅器制御回路30とを備えている。
デジタル演算器21は、一般にCPUと呼ばれるような演算素子であり、メモリに記憶された制御プログラムを実行するように構成されている。デジタル演算器21は、レーザモジュール10から受信した測定信号を解析し、レーザ素子制御回路22、温度制御回路23、および光増幅器制御回路30に制御指令を送信する。
レーザ素子制御回路22は、半導体レーザ素子アレイ13におけるDFB−LDの切り替えおよび駆動電流を制御するための制御回路である。温度制御回路23は、熱電素子11の温度を制御するための制御回路である。デジタル演算器21は、温度監視素子12、第1光検出器16、第2光検出器17、および第3光検出器18からの測定信号を解析し、所望の波長のレーザ光を出力するように、半導体レーザ素子アレイ13におけるDFB−LDの切り替えおよび熱電素子11の温度を制御するための制御信号をレーザ素子制御回路22と温度制御回路23とに送信し、所望の強度のレーザ光を出力するように、半導体レーザ素子アレイ13に供給する駆動電流の大きさを制御するための制御信号をレーザ素子制御回路22に送信する。
光増幅器制御回路30は、半導体光増幅器15の駆動電流の大きさを制御し、波長切り替え時には、半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加するための制御回路である。デジタル演算器21は、第3光検出器18からの測定信号を解析し、所望の強度のレーザ光を出力するように、半導体光増幅器15の駆動電流の大きさを制御するための制御信号を光増幅器制御回路30に送信し、波長切り替え時には、半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加するための制御信号を光増幅器制御回路30に送信する。
図2は、第1実施形態に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。図2に示す回路構成は、図1におけるデジタル演算器21から半導体光増幅器15までの光増幅器制御回路30の概略構成を示すものである。
図2に示すように、光増幅器制御回路30は、第1電圧源(V1)と第2電圧源(V2)と第3電圧源(V3)とを有する。第1電圧源(V1)は、通常の正の電位の電圧源である。第2電圧源(V2)は、接地電源(GND)であり、第1電圧源よりも電位が低い。第3電圧源(V3)は、接地電源(GND)である第2電圧源(V2)よりも電位が低い負電圧源である。
また、光増幅器制御回路30は、第1電流制御素子31と第1電流遮断素子32と第1フィルタ33と第1電流抑制手段34とを備えている。
第1電流制御素子31は、第1電圧源(V1)と半導体光増幅器15との間の回路に配置され、第1電圧源(V1)から半導体光増幅器15を介して第2電圧源(V2)に流れる電流を制御するためのものであり、例えば、いわゆるFETが用いられる。第1電圧源(V1)から半導体光増幅器15を介して第2電圧源(V2)へ正方向Fに流れる電流は、半導体光増幅器15における利得の大きさを決める駆動電流である。また、第1電流制御素子31には、デジタル―アナログ変換器35および第2フィルタ36を介して、デジタル演算器21から制御信号が送信される。したがって、第1電流制御素子31は、デジタル演算器21から受信した制御信号に従って、半導体光増幅器15の駆動電流の大きさを制御するように構成されている。なお、デジタル―アナログ変換器35は、デジタル演算器21が出力するデジタル信号をアナログ信号へ変換するためのものであり、第2フィルタ36は、半導体光増幅器15の出力の立ち上がりおよび立ち下がりの時間を調整するためのものである。
第1電流遮断素子32は、第3電圧源(V3)と半導体光増幅器15との間の回路に配置され、第1電圧源(V1)および半導体光増幅器15から第3電圧源(V3)に流れる電流を遮断するためのものであり、例えば、いわゆるFETが用いられる。第2電圧源(V2)から半導体光増幅器15を介して第3電圧源(V3)へ逆方向Bに流れる電流は、半導体光増幅器15の通常運転時には必要なく、波長切り替え時に、半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加するために用いられる。第1電流遮断素子32は、デジタル演算器21から受信した制御信号に従って、波長切り替え時に第3電圧源(V3)と半導体光増幅器15との間の回路を導通する。一方、半導体光増幅器15の通常運転時には、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)に流れる電流を遮断するために、第1電流遮断素子32は遮断されている。
第1フィルタ33は、第1電圧源(V1)と半導体光増幅器15との間かつ第1電圧源(V1)と第3電圧源(V3)との間の回路に配置され、第1電圧源(V1)の電位変動の影響を平滑化するためのものである。第1電圧源(V1)は、一定の電位を保つように設計されてはいるものの、多かれ少なかれ電位に変動が生じ得る。第1電圧源(V1)は、半導体光増幅器15に駆動電流を供給するための電源であるので、この電位が変動すると半導体光増幅器15も駆動電流も変動することになる。結果、半導体光増幅器15における利得も変動し、波長可変光源100から出力されるレーザ光の強度も変動してしまうことになる。このような事態を防ぐために、第1フィルタ33は、第1電圧源(V1)の電位に多少の変動が生じても、それを吸収し得るように、いわゆるローパスフィルタが用いられる。
第1電流抑制手段34は、第3電圧源(V3)と半導体光増幅器15との間かつ第1電圧源(V1)と第3電圧源(V3)との間の回路に配置され、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)に流れる電流を抑制するためのものであり、例えば抵抗器が用いられる。後に詳述するように、波長切り替え時には、第1電流制御素子31を制御して駆動電流を停止し、第1電流遮断素子32を制御して逆バイアス電圧を印加する。しかしながら、第1フィルタ33および第2フィルタ36の影響で、デジタル演算器21が駆動電流を停止する制御信号を送信しても、瞬時に駆動電流が停止する訳ではない。そして、駆動電流が停止しきらない状態で第1電流遮断素子32の回路を導通すると、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)に貫通電流が流れてしまうことになる。第1電流抑制手段34は、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)に貫通電流が流れてしまうことを抑制するために電気抵抗を高める機能を担っている。結果、駆動電流を停止する制御信号を送信してから、駆動電流が停止するまでには数十μsから5ms程度かかるため、それに対応する処理待ち時間が通常は発生するところ、本実施形態の制御装置20ではこの待ち時間を、数十μs以下に短縮することができ、第1電流制御素子31の制御から第1電流遮断素子32の制御までの時間を短く設定できる。さらに、より好ましい設定として、この処理待ち時間を0秒にすること(制御信号を同時に送信すること)も可能である。
第1電流抑制手段34における電気抵抗Rは、以下のように設定することができる。目標とする光遮断性能を得るために必要な半導体光増幅器15の逆バイアスに必要な電流および電圧をそれぞれIrevおよびVrevとし、第1電流遮断素子32のON抵抗の最大値をRon_maxとし、第3電圧源(V3)の負電位をV3とする(第3電圧源(V3)の負電位であり、第2電圧源が接地であるため)と、第1電流抑制手段34のおける電気抵抗Rの上限は、以下の関係式で定まる。尚、Ron_maxの値としては、例えば数十Ωとすることができる。
revR+Irevon_max≦V3−Vrev
また、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)に電流が流れてしまう際、電圧の容量を超過せず、かつ破損しないレベルの電流値に抑えること等が好ましいが、この場合に許容可能な電流値をImaxとすると、第1電流制御素子31および第1フィルタ33の電気抵抗は可能な限り小さいことが望まれることから0Ωであるとし、第1電圧源(V3)の負電位をV1とすると、第1電流抑制手段34における電気抵抗Rの下限は、以下の関係式で定まる。尚、電気抵抗Rの下限値としては、例えば数Ωとすることができる。
maxR+Imaxon_max≧V1+V3
上記の式からもわかるように、第1電流遮断素子32のON抵抗を高めれば、第1電流抑制手段34における電気抵抗Rを小さくすることも可能である。すなわち、本実施形態では、第1電流抑制手段34は、独立した抵抗器であるものとして説明をしてきたが、第1電流遮断素子32のON抵抗を高めることで、第1電流抑制手段34を第1電流遮断素子32の一部に組み入れることも可能である。また、第1電流遮断素子32に用いるFETのゲート電圧を適切な値で止めることで、第1電流遮断素子32の抵抗値を第1電流抑制手段34における電気抵抗Rとして機能させることも可能である。
(制御方法)
ここで、実施形態に係る波長可変光源における波長変更時の制御方法について説明する。図3は、波長変更時の制御方法の手順を示すフローチャートである。なお、以下の説明では、理解を容易ならしめるために図2に示した構成を参照するが、以下に説明する制御方法は、後に開示される実施形態においても同様に適用され得る。
図3に示すように、波長可変光源100における波長変更時の制御方法は、ステップS1にて、半導体光増幅器15の駆動電流の停止が行われる。具体的には、制御装置20は、第1電流制御素子31を制御して半導体光増幅器15に流れる電流を停止する。
次に、ステップS2にて、半導体光増幅器15に逆バイアス電圧が印加される。具体的には、制御装置20は、第1電流遮断素子32における回路を導通して半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加する。この状態では、半導体光増幅器15は光遮断器として機能し、半導体レーザ素子アレイ13から出射されるレーザ光が装置の外へ出射されるのを遮断している。
次に、ステップS3にて、波長可変光源100が出力するレーザ光の波長を変更する。このステップS3は、波長可変光源100の構成にも依存するが、変更後の駆動条件の算出や、半導体レーザ素子アレイ13におけるDFB−LDの選択や、DFB−LDの温度の変更や、エタロンフィルタの温度の変更や、自動波長制御の開始など、一連の波長変更プロセスが含まれている。
その後、ステップS4にて、半導体光増幅器15の逆バイアス電圧が解除される。具体的には、制御装置20は、第1電流遮断素子32における回路を遮断して半導体光増幅器15の逆バイアス電圧の印加を解除する。
その後、ステップS5にて、半導体光増幅器15へ駆動電流の供給が再開される。具体的には、第1電流制御素子31を制御して半導体光増幅器15に流れる電流を再開する。尚、本実施形態に係る波長可変光源における波長変更時の制御方法においては、後述する通り、駆動電流の供給再開を、逆バイアス電圧の解除と同時、またはより先に行なう様にしてもよい。
(効果の比較)
ここで、本実施形態の効果を検証するために比較例との比較を行う。図4は、比較例に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。図5は、比較例に係る光増幅器制御回路における波長変更時のタイミングチャートであり、図6は、第1実施形態に係る光増幅器制御回路における波長変更時のタイミングチャートである。図2と図4とを比較すると解るように、比較例に係る光増幅器制御回路30aは、実施形態に係る光増幅器制御回路30から第1電流抑制手段34を取り除いたものであり、その他の構成については第1実施形態に係る光増幅器制御回路30と同じであるのでその説明は省略する。
図5および図6には、それぞれ、波長変更時の光増幅器制御回路30aおよび光増幅器制御回路30の(a)第1電圧源(V1)の電位、(b)デジタル―アナログ変換器35の出力電圧、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧、(d)半導体光増幅器15のアノード電極の電圧、(e)第1電流遮断素子32のゲート電圧、(f)第1電流制御素子31に流れる電流、(g)第1電流遮断素子32に流れる電流、(h)半導体光増幅器15に流れる電流(アノードからカソードを+とする)、(i)半導体光増幅器15から出力されるレーザ光の出力が、タイミングを合わせて並列に記載されている。横軸のタイミングP1〜P7は、それぞれ、P1:波長切替指令の受信時、P2:半導体光増幅器15の電流停止指令時、P3:逆バイアス電圧印加の指令時、P4:レーザ光の出力が停止する時、P5:逆バイアス電圧の解除指令時、P6:駆動電流の再開指令時、P7:波長変更制御が終了する時である。
図5および図6に示すように、比較例および実施形態の何れにおいても、最初の波長切替指令の受信時(P1)では、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧は低い状態であり、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流は高い状態である。その後、デジタル演算器21が半導体光増幅器15の電流停止指令を送信すると、(b)デジタル―アナログ変換器35の出力電圧が高い状態に変化する。しかし、デジタル―アナログ変換器35と第1電流制御素子31のゲート電極の間には第2フィルタ36が挿入されているので、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧は直ちに上昇せず、ある程度の勾配で上昇する。そして、これに合わせて、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流も直ちに減少はせず、ある程度の勾配で減少する。
ここで、図5に示すように、比較例に係る光増幅器制御回路30aでは、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が規定値(一般にはおよそ0mA)まで減少するまで待ってから、逆バイアス電圧印加の指令(P3)を行っていた。(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が規定値(一般にはおよそ0mA)まで減少することを待たずに、(e)第1電流遮断素子32のゲート電圧を上げる(回路を導通)と、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)へ大きな貫通電流が流れてしまうからである。
一方、図6に示すように、本実施形態に係る光増幅器制御回路30では、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が規定値(一般にはおよそ0mA)まで減少するのを待たずに、逆バイアス電圧印加の指令(P3)を行うことができる。この場合、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧と(e)第1電流遮断素子32のゲート電圧が同時に導通状態となり、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)へ貫通電流(図6中1点鎖線内)が流れることになるが、実施形態に係る光増幅器制御回路30では、第1電流抑制手段34が設けられているので、(g)第1電流遮断素子32に流れる電流(Ipen_C1)が許容電流(Ipmax)以下に抑えられている。
したがって、図5と図6を比較すると解るように、実施形態に係る光増幅器制御回路30では、比較例に係る光増幅器制御回路30aよりも、逆バイアス電圧印加の指令(P3)のタイミングを早めることができ、これに伴いレーザ光の出力が停止する時(P4)も早まる。
駆動電流の再開時にも同様なことがいえる。
図5に示すように、比較例に係る光増幅器制御回路30aでは、逆バイアス電圧の解除指令時(P5)から、(d)半導体光増幅器15のアノード電極の電圧および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が負から零まで戻るまで待って、駆動電流の再開指令(P6)を行っていた。
一方、図6に示すように、実施形態に係る光増幅器制御回路30では、(d)半導体光増幅器15のアノード電極の電圧および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が負から零まで戻るのを待たず、逆バイアス電圧の解除指令時(P5)と同時またはより先に駆動電流の再開指令(P6)を行うことができる。この場合、(d)半導体光増幅器15のアノード電極の電圧がまだ負なので、(f)第1電流制御素子31および(g)第1電流遮断素子32に突入電流(図6中2点鎖線内)が流れてしまうが、この突入電流の大きさは許容範囲内のものである。
以上、図5と図6を比較すると解るように、本実施形態に係る光増幅器制御回路30では、比較例に係る光増幅器制御回路30aよりも、逆バイアス電圧印加の指令(P3)のタイミングを早めることができ、かつ、駆動電流の再開指令(P6)のタイミングを早めることができる。したがって、本実施形態に係る光増幅器制御回路30では、比較例に係る光増幅器制御回路30aよりも、半導体光増幅器15に印加する電圧の方向を反転する時間を短縮することができるので、レーザ光の波長切換の全体時間も短縮することができる。
(第2実施形態)
ここで、第2実施形態に係る波長可変光源の制御装置について説明する。第2実施形態に係る波長可変光源の制御装置は、光増幅器制御回路の構成以外は第1実施形態と同じであるので、ここでは、第2実施形態に係る光増幅器制御回路の構成および波長変更時のタイミングチャートのみ開示する。
図7は、第2実施形態に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。図7に示す光増幅器制御回路30bの回路構成は、図1におけるデジタル演算器21から半導体光増幅器15までの光増幅器制御回路30に対応するものである。また、図7と図2とを比較すると解るように、第2実施形態に係る光増幅器制御回路30bは、第1実施形態に係る光増幅器制御回路30から第2フィルタ36を取り除いた構成である。したがって、第2実施形態に係る光増幅器制御回路30bにおけるその他の構成は、第1実施形態に係る光増幅器制御回路30と同じであるのでその説明を省略する。
図8は、第2実施形態に係る光増幅器制御回路における波長変更時のタイミングチャートである。図8には、図5および図6と同様に、(a)〜(i)のタイミングチャートが記載されており、その凡例は図5および図6と同様である。
図8に示すように、第2実施形態に係る光増幅器制御回路30bでも、最初の波長切替指令の受信時(P1)では、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧は低い状態であり、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流は高い状態である。
一方、第2実施形態に係る光増幅器制御回路30bでは、第2フィルタ36が設けられていないので、デジタル演算器21が半導体光増幅器15の電流停止指令を送信すると、(b)デジタル―アナログ変換器35の出力電圧が高い状態に変化すると同時に、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧も直ちに上昇する。先述したように、第2フィルタ36は、半導体光増幅器15の出力の立ち上がりおよび立ち下がりの速度を調整するためのものであるので、用途によっては、第2フィルタ36を必要としないこともある。
しかしながら、第2フィルタ36が設けられていなくとも、第2実施形態に係る光増幅器制御回路30bも第1フィルタ33が設けられているので、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流も直ちには減少しない。したがって、第2実施形態に係る光増幅器制御回路30bでも、第1電流抑制手段34が設けられていることの効果を享受できる。
すなわち、図8に示すように、本実施形態に係る光増幅器制御回路30bでも、(f)第1電流制御素子31に流れる電流および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が規定値(一般にはおよそ0mA)まで減少するのを待たずに、逆バイアス電圧印加の指令(P3)を行うことができる。この場合、(c)第1電流制御素子31のゲート電圧と(e)第1電流遮断素子32のゲート電圧が同時に導通状態となり、第1電圧源(V1)から第3電圧源(V3)へ貫通電流(図6中1点鎖線内)が流れることになるが、本実施形態に係る光増幅器制御回路30bでは、第1電流抑制手段34が設けられているので、(g)第1電流遮断素子32に流れる電流(Ipen_C1)が許容電流(Ipmax)以下に抑えられている。また、図8に示すように、本実施形態に係る光増幅器制御回路30bでも、(d)半導体光増幅器15のアノード電極の電圧および(h)半導体光増幅器15に流れる電流が負から零まで戻るのを待たず、逆バイアス電圧の解除指令時(P5)と同時またはより先に、駆動電流の再開指令(P6)を行うことができる。
以上のように、本実施形態に係る光増幅器制御回路30bでも、逆バイアス電圧印加の指令(P3)のタイミングを早めることができ、かつ、駆動電流の再開指令(P6)のタイミングを早めることができる。したがって、本実施形態に係る光増幅器制御回路30bでは、半導体光増幅器15に印加する電圧の方向を反転する時間を短縮することができるので、レーザ光の波長切換の全体時間も短縮することができる。
(第3実施形態)
ここで、第3実施形態に係る波長可変光源の制御装置について説明する。第3実施形態に係る波長可変光源の制御装置は、光増幅器制御回路の構成以外は第1実施形態と同じであり、制御タイミングも同じであるので、ここでは、第3実施形態に係る光増幅器制御回路の構成のみ開示する。
図9は、第3実施形態に係る光増幅器制御回路の回路構成を概略的に示す図である。図9に示す光増幅器制御回路30cの回路構成は、図1におけるデジタル演算器21から半導体光増幅器15までの光増幅器制御回路30に対応するものである。
図9に示すように、光増幅器制御回路30cは、第1電圧源(V1)と第2電圧源(V2)と第3電圧源(V3)と第4電圧源(V4)を有する。第1電圧源(V1)および第4電圧源(V4)は、通常の正の電位の電圧源であり、共通の電源とすることも可能である。第2電圧源(V2)および第3電圧源(V3)は、接地電源(GND)であり、第1電圧源(V1)および第4電圧源(V4)よりも電位が低い。
図9と図2を比較すると解るように、光増幅器制御回路30cは、第1実施形態では負電圧源であった第3電圧源(V3)が接地電源(GND)となっている。一般に、負電圧源は用途が少ないので、これを回路内に設けるのは装置を割高にしてしまう。第3実施形態に係る光増幅器制御回路30cは、負電圧源を必要としない点で、第1実施形態に係る光増幅器制御回路30よりも有利である。
また、図9に示すように、光増幅器制御回路30cも、第1実施形態と同様に、第1電流制御素子31と第1電流遮断素子32と第1フィルタ33と第1電流抑制手段34とを備えている。また、第1電流制御素子31には、デジタル―アナログ変換器35および第2フィルタ36を介して、デジタル演算器21から制御信号が送信される。これら第1電流制御素子31、第1電流遮断素子32、第1フィルタ33、第1電流抑制手段34、デジタル―アナログ変換器35、および第2フィルタ36の機能は第1実施形態と同じであるので説明は省略する。
一方、図9に示すように、光増幅器制御回路30cでは、第1実施形態の構成に加えて、第2電流遮断素子37と第3電流遮断素子38と第2電流抑制手段39とをさらに備えている。
第2電流遮断素子37は、第4電圧源(V4)と半導体光増幅器15との間の回路に配置され、第4電圧源(V4)から半導体光増幅器15に流れる電流を遮断するためのものであり、例えば、いわゆるFETが用いられる。第4電圧源(V4)から半導体光増幅器15を介して第3電圧源(V3)へ逆方向Bに流れる電流は、半導体光増幅器15の通常運転時には必要なく、波長切り替え時に、半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加するために用いられる。光増幅器制御回路30cでは、第3電圧源(V3)が接地電源であるので、第2電圧源(V2)から第3電圧源(V3)へは電流が流れない。そこで、光増幅器制御回路30cでは、第4電圧源(V4)から半導体光増幅器15を介して第3電圧源(V3)へ逆方向Bに流れる電流を用いて半導体光増幅器15に逆バイアス電圧を印加する。なお、第2電流遮断素子37は、デジタル演算器21から受信した制御信号に従って、波長切り替え時に第4電圧源(V4)と半導体光増幅器15との間の回路を導通する。
第3電流遮断素子38は、第2電圧源(V2)と半導体光増幅器15との間かつ第4電圧源(V4)と第2電圧源(V2)との間の回路に配置され、第4電圧源(V4)から第2電圧源(V2)へ流れる電流を遮断するためのものであり、例えば、いわゆるFETが用いられる。上記のように、光増幅器制御回路30cでは、第4電圧源(V4)から半導体光増幅器15を介して第3電圧源(V3)へ逆方向Bに電流が流れる必要がある。そこで、波長切り替え時に、第3電流遮断素子38が遮断され、第4電圧源(V4)から第2電圧源(V2)へ流れる電流が遮断される。
第2電流抑制手段39は、第4電圧源(V4)と半導体光増幅器15との間かつ第4電圧源(V4)と第2電圧源(V2)との間の回路に配置され、第4電圧源(V4)から第2電圧源(V2)に流れる電流を抑制するためのものであり、例えば抵抗器が用いられる。上記のように、光増幅器制御回路30cでは、波長切り替え時に、第2電流遮断素子37が導通され、第3電流遮断素子38が遮断され、その後、第2電流遮断素子37が遮断され、第3電流遮断素子38が導通される。したがって、待ち時間を設けないと第4電圧源(V4)から第2電圧源(V2)へ大きな貫通電流が流れてしまう虞があるが、第2電流抑制手段39は、この貫通電流を許容範囲内に抑えるために設けられている。
なお、第2電流抑制手段39における電気抵抗の大きさは、第1電流抑制手段34の場合と同様に、第4電圧源(V4)の電位や第2電流遮断素子37のON抵抗や半導体光増幅器15の逆バイアスに必要な電流および電圧などから決定することが可能である。また、第2電流遮断素子37のON抵抗を高めれば、第2電流抑制手段39における電気抵抗を小さくすることも可能であり、第2電流遮断素子37のON抵抗を高めることや、第2電流遮断素子37のゲート電圧を適切な値で止めることで、第2電流遮断素子37の電気抵抗を第2電流抑制手段39における電気抵抗として機能させることも可能である。
以上、本発明を実施形態に基づいて説明したが、上記説明した実施形態により本発明が限定されるものではない。上記各実施形態の各構成要素を適宜組み合わせて構成したものも本発明に含まれる。例えば、第3実施形態は、第1実施形態における負電圧源を接地電源に変更したものだが、同様に第2実施形態における負電圧源を接地電源に変更する実施形態を構成することも可能である。また、本発明は、波長切替処理に限定するものではなく、逆バイアスの印加および解除動作を伴う、光出力のOFF/ON処理の高速化にも適用可能である。上記実施形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明に含まれる。
100 波長可変光源
10 レーザモジュール
11 熱電素子
12 温度監視素子
13 半導体レーザ素子アレイ
14 アレイ導波路回折格子
15 半導体光増幅器
16 第1光検出器
17 第2光検出器
18 第3光検出器
19 波長依存素子
20 制御装置
21 デジタル演算器
22 レーザ素子制御回路
23 温度制御回路
30,30a,30b,30c 光増幅器制御回路
31 第1電流制御素子
32 第1電流遮断素子
33 第1フィルタ
34 第1電流抑制手段
35 デジタル―アナログ変換器
36 第2フィルタ
37 第2電流遮断素子
38 第3電流遮断素子
39 第2電流抑制手段

Claims (6)

  1. 半導体レーザ素子と前記半導体レーザ素子が発振するレーザ光を増幅する半導体光増幅器とを有する波長可変光源の制御装置であって、
    第1電圧源と、
    前記第1電圧源よりも電位が低い第2電圧源と、
    前記第2電圧源よりも電位が低いまたは等しい第3電圧源と、
    前記第1電圧源と前記半導体光増幅器との間の回路に配置され、前記第1電圧源から前記半導体光増幅器を介して前記第2電圧源に流れる電流を制御する第1電流制御素子と、
    前記第3電圧源と前記半導体光増幅器との間の回路に配置され、少なくとも前記第1電圧源から前記第3電圧源に流れる電流を遮断する第1電流遮断素子と、
    前記第1電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第1電圧源と前記第3電圧源との間の回路に配置される第1のローパスフィルタと、
    前記第3電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第1電圧源と前記第3電圧源との間の回路に配置され、前記第1電圧源から前記第3電圧源に流れる電流を抑制する第1電流抑制手段と、
    を備えることを特徴とする波長可変光源の制御装置。
  2. 前記第2電圧源は、接地電源であり、前記第3電圧源は、負電圧源である、ことを特徴とする請求項1に記載の波長可変光源の制御装置。
  3. 前記第2電圧源よりも電位が高い第4電圧源と、
    前記第4電圧源と前記半導体光増幅器との間の回路に配置され、前記第4電圧源から前記半導体光増幅器に流れる電流を遮断する第2電流遮断素子と、
    前記第2電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第4電圧源と前記第2電圧源との間の回路に配置され、前記第4電圧源から前記第2電圧源へ流れる電流を遮断する第3電流遮断素子と、
    前記第4電圧源と前記半導体光増幅器との間かつ前記第4電圧源と前記第2電圧源との間の回路に配置され、前記第4電圧源から前記第2電圧源に流れる電流を抑制する第2電流抑制手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の波長可変光源の制御装置。
  4. 前記第1電圧源および前記第4電圧源は、電位が等しく、
    前記第2電圧源および前記第3電圧源は、接地電源である、
    ことを特徴とする請求項3に記載の波長可変光源の制御装置。
  5. 前記第1電流制御素子の応答性を調節する第2のローパスフィルタを備えることを特徴とする請求項1から請求項4の何れか1項に記載の波長可変光源の制御装置。
  6. 請求項1から請求項5の何れか1項に記載の波長可変光源の制御装置を用いた波長可変光源の制御方法であって、
    前記第1電流制御素子を制御して前記半導体光増幅器に流れる電流を停止する駆動電流停止ステップと、
    前記第1電流遮断素子を導通して前記半導体光増幅器に逆バイアス電圧を印加する逆バイアス印加ステップと、
    前記半導体レーザ素子が発振するレーザ光の波長を変更するチューニングステップと、
    前記第1電流遮断素子を遮断して前記半導体光増幅器の逆バイアス電圧の印加を解除する逆バイアス解除ステップと、
    前記第1電流制御素子を制御して前記半導体光増幅器に流れる電流を再開する駆動電流再開ステップと、
    を有することを特徴とする波長可変光源の制御方法。
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