JP2018124234A - 接触状態改善装置 - Google Patents
接触状態改善装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018124234A JP2018124234A JP2017018491A JP2017018491A JP2018124234A JP 2018124234 A JP2018124234 A JP 2018124234A JP 2017018491 A JP2017018491 A JP 2017018491A JP 2017018491 A JP2017018491 A JP 2017018491A JP 2018124234 A JP2018124234 A JP 2018124234A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminals
- terminal
- state
- signal
- contact state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 105
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
【解決手段】測定装置の出力端子に接続可能な第1端子11a,11bと、測定装置の入力端子に接続可能な第2端子12a,12bと、出力信号を供給する各プローブをそれぞれ接続可能な第3端子13a,13bと、各第2端子12a,12bにそれぞれ接続されると共に入力信号を入力する各プローブをそれぞれ接続可能な第4端子14a,14bと、第3端子13a,13bと第4端子14a,14bとの間に供給する接触改善用信号Sbを生成する信号生成部21a,21bと、第1端子11a,11bと第3端子13a,13bとをそれぞれ接続する第1状態、および第1端子11a,11bと第3端子13a,13bとを非接続とすると共に信号生成部21a,21bと第3端子13a,13bとをそれぞれ接続する第2状態を切り替える切替え部31a,31bとを備えている。
【選択図】図1
Description
11a,11b 第1端子
12a,12b 第2端子
13a,13b 第3端子
14a,14b 第4端子
21a,21b 信号生成部
31a,31b 切替え部
41a,41b 判定部
50,70 測定装置
60a〜60d プローブ
100 電子部品
101a,101b 被接触部
Sb 接触改善用信号
Si 入力信号
So 出力信号
Claims (4)
- 測定対象の被接触部に接触させたプローブを介して入出力する出力信号および入力信号に基づいて当該測定対象の被測定量を測定する測定装置に接続可能に構成されて、前記被接触部と前記プローブとの接触状態を改善する接触状態改善装置であって、
前記測定装置における前記出力信号を出力するための一対の出力端子にそれぞれ接続可能な一対の第1端子と、前記測定装置における前記入力信号を入力するための一対の入力端子にそれぞれ接続可能な一対の第2端子と、前記出力信号を前記被接触部に供給するための一対の前記プローブをそれぞれ接続可能な一対の第3端子と、前記各第2端子にそれぞれ接続されると共に前記入力信号を入力するための一対の前記プローブをそれぞれ接続可能な一対の第4端子と、前記第3端子と第4端子との間に供給する接触改善用信号を生成する信号生成部と、前記各第1端子と前記各第3端子とをそれぞれ接続する第1状態、および前記各第1端子の少なくとも一方と当該少なくとも一方の第1端子に対応する前記第3端子とを非接続とすると共に前記信号生成部と当該第3端子とを接続する第2状態を切り替える切替え部とを備えている接触状態改善装置。 - 前記切替え部は、第2状態において前記各第1端子の双方と当該各第1端子にそれぞれ対応する前記各第3端子の双方とをそれぞれ非接続とすると共に前記信号生成部と当該各第3端子の双方とを接続する請求項1記載の接触状態改善装置。
- 前記信号生成部は、前記切替え部によって前記第1状態から前記第2状態への切替えが実行されたときに前記接触改善用信号を生成する請求項1または2記載の接触状態改善装置。
- 前記被接触部と前記プローブとの接触状態の良否を判定する判定部を備え、
前記判定部は、前記被接触部と前記プローブとの接触状態が不良と判定したときに前記切替え部に対して、第1状態から前記第2状態への切替えを実行させる請求項1から3のいずれかに記載の接触状態改善装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017018491A JP6808517B2 (ja) | 2017-02-03 | 2017-02-03 | 接触状態改善装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017018491A JP6808517B2 (ja) | 2017-02-03 | 2017-02-03 | 接触状態改善装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018124234A true JP2018124234A (ja) | 2018-08-09 |
JP6808517B2 JP6808517B2 (ja) | 2021-01-06 |
Family
ID=63110220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017018491A Active JP6808517B2 (ja) | 2017-02-03 | 2017-02-03 | 接触状態改善装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6808517B2 (ja) |
-
2017
- 2017-02-03 JP JP2017018491A patent/JP6808517B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6808517B2 (ja) | 2021-01-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6415566B2 (ja) | 電圧検出装置 | |
JP5437183B2 (ja) | 測定装置および基板検査装置 | |
JP2014106220A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JP2016170931A (ja) | コンタクタの故障判定装置 | |
JP5897393B2 (ja) | 抵抗測定装置 | |
JP4346318B2 (ja) | 耐圧試験器 | |
JP6808517B2 (ja) | 接触状態改善装置 | |
JP2015137989A (ja) | 信号切替回路およびインピーダンス測定装置 | |
JP5474718B2 (ja) | 漏れ電流測定装置 | |
JP6128921B2 (ja) | 非停電絶縁診断装置及び非停電絶縁診断方法 | |
JP6512604B2 (ja) | 電圧検出センサおよび測定装置 | |
CN110857953A (zh) | 一种测量通电回路中导体连接点电阻的测试仪及测量方法 | |
JP6608234B2 (ja) | 接触判定装置および測定装置 | |
KR102126836B1 (ko) | 절연 검사 방법 및 절연 검사 장치 | |
JP5439033B2 (ja) | 絶縁監視装置の試験装置 | |
JP2010169600A (ja) | 測定装置 | |
JP2015032209A (ja) | 定電流発生回路、定電流発生装置、および定電流発生方法、並びに、抵抗測定装置、および、抵抗測定方法 | |
JP2006030131A (ja) | 抵抗測定方法およびその装置 | |
JP5386231B2 (ja) | 絶縁監視装置の試験装置及び絶縁監視装置の試験方法 | |
JP2004184374A (ja) | インピーダンス測定装置 | |
JP5501136B2 (ja) | 試験装置 | |
JP2006177765A (ja) | アーステスター及びその接地抵抗測定方法 | |
JP2008039637A (ja) | 測定装置 | |
JP6542094B2 (ja) | 接触判定装置および測定装置 | |
JP6430819B2 (ja) | 導通状態判定方法および測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191220 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201124 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201209 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6808517 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |