JP2018116958A - Manufacturing method of circuit board device - Google Patents

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綾 池田
Aya Ikeda
綾 池田
聡 植原
Satoshi Uehara
聡 植原
天童 一良
Kazuyoshi Tendo
一良 天童
柴田 智章
Tomoaki Shibata
智章 柴田
俊亮 大竹
Shunsuke Otake
俊亮 大竹
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of a circuit board device which is excellent in connection reliability and hardly causes troubles even when stress due to bending and pulling is applied.SOLUTION: A manufacturing method of a semiconductor device that is a manufacturing method of a circuit board device including a deformable circuit board 4, an electronic member 3 provided on at least one main surface of the circuit board, and a resin cured product 1 for sealing at least a part of the electronic member includes a sealing step for sealing the electronic member by providing a liquid resin composition 5 on the main surface of the circuit board on which the electronic member is provided and a curing step of curing the liquid resin composition to obtain the resin cured product 1, and a resin composition having a stretch recovery ratio of 80% or more after curing is used as the liquid resin composition.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、回路基板装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a circuit board device.

近年、電子機器には、小型であることに加え、身体に装着しやすいように、身体のような曲面に使用できること、及び、脱着しても接続不良が生じにくいことが求められており、フレキシブル性及び伸縮性を有するウェアラブル機器への要望が高まっている。   In recent years, in addition to being small in size, electronic devices have been required to be usable on curved surfaces such as the body so that they can be easily worn on the body, and to be difficult to cause poor connection even when attached and detached. There is an increasing demand for wearable devices having flexibility and elasticity.

フレキシブルプリント回路基板(FPC:Flexible Printed Circuit)は、屈曲性を有しているが、伸縮性を有していない。そこで、波型(蛇腹状)にエッチングされたFPCにリジット基板を積層した回路基板が知られている(特許文献1)。この回路基板は、FPCはねじれによって変形可能であるが、FPC自体が伸縮するものではない。   A flexible printed circuit (FPC) has flexibility but does not have elasticity. Therefore, a circuit board is known in which a rigid substrate is laminated on a corrugated FPC etched (Patent Document 1). In this circuit board, the FPC can be deformed by twisting, but the FPC itself does not expand and contract.

また、それ自体が伸縮性を有する回路基板を提供するために、伸縮性を有するシート状の基材に伸縮性を有する配線から構成されているストレッチャブルケーブルが提案されている(特許文献2、3)。   In addition, in order to provide a circuit board having elasticity, a stretchable cable composed of a wiring having elasticity on a sheet-like base material having elasticity has been proposed (Patent Document 2,). 3).

特表2009−533839号公報Special table 2009-533839 特開2016−178121号公報JP 2016-178121 A 特許第6002322号公報Japanese Patent No. 6002322

フレキシブルプリント回路基板はねじれ及び折り曲げによって変形可能であり、また、ストレッチャブルケーブルはそれ自体が変形可能である。その一方で、IC(Integrated Circuit) チップ、メモリ、コンデンサ、インダクタ等の半導体素子を含む電子部品は従来の変形しない部品のままである。この部品を、変形可能な回路基板(例えば、ストレッチャブルケーブル等)に搭載した場合、ねじり、折り曲げ、引き伸ばし(引っ張り)等による応力(変形応力)によって、接続不良が生じる、電子部品が外れる等の不具合が発生する場合がある。また、変形し得ない配線が回路基板上に設けられている場合、ねじり、折り曲げ、引き伸ばし(引っ張り)等による応力(変形応力)によって断線等の不具合が発生する場合がある。   The flexible printed circuit board can be deformed by twisting and bending, and the stretchable cable itself can be deformed. On the other hand, electronic components including semiconductor elements such as IC (Integrated Circuit) chips, memories, capacitors, inductors, etc. remain as conventional undeformed components. When this component is mounted on a deformable circuit board (for example, a stretchable cable), a connection failure occurs due to stress (deformation stress) caused by twisting, bending, stretching, etc. A bug may occur. In addition, when wiring that cannot be deformed is provided on the circuit board, problems such as disconnection may occur due to stress (deformation stress) caused by twisting, bending, stretching (pulling), or the like.

また、半導体装置等の回路基板装置には、上記不具合の発生の抑制に加え、接続信頼性の向上が求められている。   Further, circuit board devices such as semiconductor devices are required to improve connection reliability in addition to the suppression of the occurrence of the above problems.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、接続信頼性に優れると共に、折り曲げ及び引っ張りによる応力が加わった場合でも不具合が生じにくい回路基板装置の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a circuit board device that is excellent in connection reliability and that is less likely to fail even when stress due to bending and pulling is applied. .

本発明の一側面に係る回路基板装置の製造方法は、変形可能な回路基板と、回路基板の少なくとも一方の主面上に設けられた電子部材(例えば、電子部品、配線等)と、電子部材の少なくとも一部を封止する樹脂硬化物と、を備える回路基板装置の製造方法であって、電子部材が設けられた回路基板の主面上に液状の樹脂組成物(a)を設けることにより、電子部材を封止する封止工程と、液状の樹脂組成物(a)を硬化させて樹脂硬化物を得る硬化工程と、を備える。この製造方法では、液状の樹脂組成物(a)として、硬化後の伸縮回復率が80%以上である樹脂組成物を用いる。   A method for manufacturing a circuit board device according to one aspect of the present invention includes a deformable circuit board, an electronic member (for example, an electronic component, wiring, etc.) provided on at least one main surface of the circuit board, and an electronic member. And a cured resin product that seals at least a part of the circuit board device, wherein the liquid resin composition (a) is provided on the main surface of the circuit board on which the electronic member is provided. A sealing step of sealing the electronic member, and a curing step of curing the liquid resin composition (a) to obtain a cured resin. In this production method, as the liquid resin composition (a), a resin composition having a stretch recovery rate after curing of 80% or more is used.

上記回路基板装置の製造方法では、電子部材が、伸縮回復率が80%以上である樹脂硬化物により封止されるため、接続信頼性に優れる。また、液状の樹脂組成物を用いるため、樹脂組成物が様々な高さのある電子部材(例えば、電子部品、配線等)に起因する回路基板上の凹凸に追従することができる。また、当該樹脂組成物(a)は、硬化後に80%以上の伸縮回復率を有するため、折り曲げ及び引っ張りによる応力を緩和することができる。したがって、上記製造方法により得られる回路基板装置(電子部材が封止された回路基板装置)では、折り曲げ及び引っ張りによる応力によって発生する、不具合(例えば、電子部品の割れ及び破損、配線の切断、接続不良等)が低減される。すなわち、上記製造方法によれば、応力による不具合が生じにくい回路基板装置を得ることができる。   In the method for manufacturing a circuit board device, the electronic member is sealed with a cured resin having an expansion / contraction recovery rate of 80% or more, and thus the connection reliability is excellent. Further, since the liquid resin composition is used, the resin composition can follow the unevenness on the circuit board caused by electronic members having various heights (for example, electronic components, wirings, etc.). Moreover, since the said resin composition (a) has the expansion-contraction recovery rate of 80% or more after hardening, it can relieve | moderate the stress by bending and a tension | pulling. Therefore, in the circuit board device (circuit board device in which the electronic member is sealed) obtained by the manufacturing method described above, defects (for example, cracking and breakage of electronic components, cutting of wiring, connection) caused by stress due to bending and pulling. Defects). That is, according to the manufacturing method, it is possible to obtain a circuit board device that is less prone to problems due to stress.

また、上記製造方法では、液状の樹脂組成物を回路基板上の凹部に塗布し、硬化させることで回路基板上の凹凸による段差を緩和できる。そのため、凹凸部分に集中する応力を緩和することができると共に、見た目よく回路基板の主面全体を覆うことができる。また、上記製造方法では、必要な部分(例えば、封止される電子部品又は配線の上、及びその周辺部分)にのみ樹脂組成物を設けることで、回路基板装置の回路基板を伸縮する際に加わる応力を一層低減することができる。   Moreover, in the said manufacturing method, the level | step difference by the unevenness | corrugation on a circuit board can be eased by apply | coating a liquid resin composition to the recessed part on a circuit board, and making it harden | cure. Therefore, the stress concentrated on the concavo-convex portion can be relieved and the entire main surface of the circuit board can be covered with good appearance. Moreover, in the said manufacturing method, when providing the resin composition only in the required part (for example, on the electronic component or wiring to be sealed, and its peripheral part), when expanding and contracting the circuit board of a circuit board apparatus, The applied stress can be further reduced.

ところで、本発明者らは、フィルム状の樹脂組成物(以下、「樹脂組成物フィルム」ともいう。)により電子部材を封止することについても検討した。その結果、フィルム状の樹脂組成物では、QFP(Quad Flat Package)、SOP(Small Outline Package)等の電子部品の細かなピン部分(特に基板側)を十分に充填出来ないことが明らかになった。また、通常、加熱により樹脂を流動させて、ラミネータ等で樹脂組成物の貼り付けを行う場合、ICチップ等における角の部分では樹脂の厚さが薄くなりやすく、樹脂組成物フィルムの厚さによっては、樹脂組成物フィルムが裂けてしまう場合があった。フィルムが裂けることを防止するためにフィルムの樹脂厚を厚くすることも考えられるが、この場合、折り曲げ及び引っ張りに要する力(フィルムを変形させるために必要な力)が大きくなるため、本用途には適さない。また、本発明者らの検討によれば、樹脂組成物フィルムは、通常塗液をナイフコータ、カーテンコータ等のコータを用いてPET(Polyethylene terephthalate)フィルム等の基材に塗布し、乾燥させることによって得られるため、厚膜(例えば厚さ0.3mm以上の膜)とすることが困難であった。上記回路基板装置の製造方法では、このようなフィルム状の樹脂組成物を用いることによる不具合を解消することもできる。   By the way, the present inventors also examined sealing an electronic member with a film-like resin composition (hereinafter also referred to as “resin composition film”). As a result, it has been clarified that the film-like resin composition cannot sufficiently fill fine pin portions (particularly on the substrate side) of electronic components such as QFP (Quad Flat Package) and SOP (Small Outline Package). . In addition, when the resin composition is usually flowed by heating and the resin composition is pasted with a laminator or the like, the thickness of the resin tends to be thin at the corners of the IC chip or the like, and depending on the thickness of the resin composition film In some cases, the resin composition film was torn. Although it is conceivable to increase the resin thickness of the film in order to prevent the film from tearing, in this case, the force required for bending and pulling (the force necessary to deform the film) increases, so this application Is not suitable. Further, according to the study by the present inventors, the resin composition film is usually obtained by applying a coating solution to a substrate such as a PET (Polyethylene terephthalate) film using a coater such as a knife coater or a curtain coater, and then drying. Therefore, it is difficult to obtain a thick film (for example, a film having a thickness of 0.3 mm or more). In the method of manufacturing a circuit board device, problems caused by using such a film-like resin composition can be solved.

一態様において、樹脂組成物(a)は光硬化性であってよい。この場合、室温で樹脂組成物(a)を硬化させることができる。   In one embodiment, the resin composition (a) may be photocurable. In this case, the resin composition (a) can be cured at room temperature.

一態様において、回路基板は、少なくとも一方の主面上に変形可能な配線を有してよい。この場合、配線部分を折り曲げたり、ねじったり、伸縮させたりできる。   In one aspect, the circuit board may have a deformable wiring on at least one main surface. In this case, the wiring portion can be bent, twisted, and expanded / contracted.

一態様において、樹脂組成物(a)は、(A)スチレン系エラストマと、(B)アルキル鎖を有する単官能の(メタ)アクリレートと、(C)脂環式骨格を有する単官能の(メタ)アクリレートと、(D)2個以上のエチレン性不飽和基を有する2官能以上の化合物と、(E)重合開始剤と、を含有してよい。かかる樹脂組成物(a)は、伸縮性及び密着性に優れるため、本態様では、上記応力による不具合(例えば、電子部品の剥がれ及び割れ、配線の切断等)の発生が一層抑制される傾向がある。また、上記樹脂組成物(a)を用いることにより、回路基板装置の接続信頼性が更に向上する傾向がある。本態様により接続信頼性が更に向上する原因は、明らかではないが、原因の一つとして、(A)成分であるスチレン系エラストマが接続信頼性の向上に寄与していると考えられる。すなわち、高温(100℃以上)での物性には樹脂組成中のエラストマ(高分子)成分が大きく影響するところ、スチレン系エラストマはスチレン骨格を有するため、高温(100℃以上)での弾性率低下を抑制できる。また、スチレン系エラストマは疎水性であるため高温での透湿率及び給水率を低くすることができる。このように、スチレン系エラストマは高温高湿下での信頼性向上に寄与する。本態様では、エラストマ成分である(A)成分が高温での信頼性の向上に寄与するため、回路基板装置の接続信頼性が更に向上すると考えられる。   In one embodiment, the resin composition (a) comprises (A) a styrenic elastomer, (B) a monofunctional (meth) acrylate having an alkyl chain, and (C) a monofunctional (meta) having an alicyclic skeleton. ) An acrylate, (D) a bifunctional or higher functional compound having two or more ethylenically unsaturated groups, and (E) a polymerization initiator. Since this resin composition (a) is excellent in stretchability and adhesion, in this embodiment, the occurrence of problems due to the stress (for example, peeling and cracking of electronic components, cutting of wiring, etc.) tends to be further suppressed. is there. Moreover, there exists a tendency for the connection reliability of a circuit board apparatus to improve further by using the said resin composition (a). The reason why the connection reliability is further improved by this embodiment is not clear, but it is considered that one of the causes is that the styrene-based elastomer as the component (A) contributes to the improvement of the connection reliability. In other words, the elastomer (polymer) component in the resin composition greatly affects the physical properties at high temperatures (100 ° C or higher). Since the styrene elastomer has a styrene skeleton, the elastic modulus decreases at high temperatures (100 ° C and higher). Can be suppressed. Further, since the styrene elastomer is hydrophobic, the moisture permeability and water supply rate at high temperatures can be lowered. As described above, the styrene elastomer contributes to the improvement of reliability under high temperature and high humidity. In this aspect, the component (A), which is an elastomer component, contributes to the improvement of reliability at high temperatures, so that it is considered that the connection reliability of the circuit board device is further improved.

一態様において、上記(A)成分は水素添加型エラストマであってよい。この場合、耐候性に優れる傾向がある。   In one embodiment, the component (A) may be a hydrogenated elastomer. In this case, the weather resistance tends to be excellent.

一態様において、上記(E)成分は光ラジカル重合開始剤であってよい。この場合、常温硬化が可能であることに加え、硬化速度が速いため、作業性に優れる。   In one embodiment, the component (E) may be a radical photopolymerization initiator. In this case, in addition to being able to cure at room temperature, the workability is excellent because the curing speed is high.

一態様において、上記(B)成分におけるアルキル鎖の炭素数は12以下であってよい。この場合、(A)成分(特に水素添加型スチレン系エラストマ)との相溶性に優れるため、樹脂組成物(a)が白濁しにくい傾向がある。   In one embodiment, the carbon number of the alkyl chain in the component (B) may be 12 or less. In this case, since the compatibility with the component (A) (particularly the hydrogenated styrene elastomer) is excellent, the resin composition (a) tends not to be clouded.

一態様において、上記(D)成分の含有量は、(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分の総量に対して、0.3〜20質量%であってよい。   In one embodiment, the content of the component (D) may be 0.3 to 20% by mass with respect to the total amount of the component (A), the component (B), the component (C), and the component (D). .

一態様において、回路基板装置の製造方法は、樹脂組成物(a)を硬化させた後、樹脂硬化物が形成された回路基板の主面上に、硬化後に伸縮性を有するフィルム状の樹脂組成物(b)を貼り付ける工程を更に備えてよい。本態様では、電子部材の表面がフィルム状の樹脂組成物(b)によっても覆われることで、応力がさらに緩和されるため、上記応力による不具合(例えば、電子部品の剥がれ及び割れ、配線の切断等)の発生が一層抑制される傾向がある。加えて、回路基板及び電子部材が水、ごみ等の異物から守られるため、回路基板装置の接続信頼性が一層向上する傾向がある。   In one aspect, a method for producing a circuit board device comprises a film-like resin composition having a stretchability after curing on a main surface of a circuit board on which a resin cured product is formed after the resin composition (a) is cured. You may further provide the process of affixing a thing (b). In this embodiment, since the surface of the electronic member is also covered with the film-like resin composition (b), the stress is further relieved, so that the trouble due to the stress (for example, peeling and cracking of the electronic component, cutting of the wiring) Etc.) tends to be further suppressed. In addition, since the circuit board and the electronic member are protected from foreign matters such as water and dust, the connection reliability of the circuit board device tends to be further improved.

一態様において、上記樹脂組成物(b)は、(A’)スチレン系エラストマと、(F)重合性化合物と、(E’)重合開始剤と、を含有する樹脂組成物であってよい。かかるフィルム状の樹脂組成物(b)は、伸縮性及び密着性に優れるため、本態様では、上記応力による不具合(例えば、電子部品の剥がれ及び割れ、配線の切断等)の発生がより一層抑制される傾向がある。また、上記フィルム状の樹脂組成物(b)を用いることにより、回路基板装置の接続信頼性が一層向上する傾向がある。   In one embodiment, the resin composition (b) may be a resin composition containing (A ′) a styrenic elastomer, (F) a polymerizable compound, and (E ′) a polymerization initiator. Since this film-like resin composition (b) is excellent in stretchability and adhesion, in this embodiment, the occurrence of problems due to the stress (for example, peeling and cracking of electronic components, cutting of wiring, etc.) is further suppressed. Tend to be. Moreover, there exists a tendency for the connection reliability of a circuit board apparatus to improve further by using the said film-form resin composition (b).

本発明によれば、接続信頼性に優れると共に、折り曲げ及び引っ張りによる応力が加わった場合でも不具合が生じにくい回路基板装置の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, while being excellent in connection reliability, even when the stress by bending and a tension | pulling is added, the manufacturing method of a circuit board apparatus which cannot produce a malfunction easily can be provided.

図1は、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a circuit board device according to the present embodiment. 図2は、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法を示す上面図である。FIG. 2 is a top view showing the method for manufacturing the circuit board device according to the present embodiment. 図3は、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法における切断工程を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cutting step in the method of manufacturing the circuit board device according to the present embodiment. 図4は、一実施形態における電子部材の封止状態を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a sealed state of the electronic member in one embodiment. 図5は、一実施形態における電子部材の封止状態を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a sealed state of the electronic member in one embodiment. 図6は、本実施形態に係る樹脂硬化物(a)及び樹脂硬化物(b)の伸縮回復率の測定例を示した図である。FIG. 6 is a diagram showing a measurement example of the stretch recovery rate of the cured resin (a) and the cured resin (b) according to the present embodiment.

以下、図面を参照しつつ、発明の好適な実施形態について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付すこととし、重複する説明は省略する場合がある。また、上下左右等の位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。さらに、図示の便宜上、図面の寸法比率は説明のものと必ずしも一致しない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant descriptions may be omitted. Further, the positional relationship such as up, down, left and right is based on the positional relationship shown in the drawings unless otherwise specified. Furthermore, for convenience of illustration, the dimensional ratios in the drawings do not necessarily match those described.

本実施形態に係る回路基板装置(例えば、半導体装置等)の製造方法は、変形可能な回路基板と、回路基板の少なくとも一方の主面上に設けられた電子部材(例えば、電子部品、配線等)と、電子部材の少なくとも一部を封止する樹脂硬化物と、を備える回路基板装置の製造方法であって、電子部材が設けられた回路基板の主面上に液状の樹脂組成物(a)を設けることにより、電子部材を封止する封止工程(以下、「第一の封止工程」ともいう。)と、液状の樹脂組成物(a)を硬化させて樹脂硬化物(以下、「樹脂硬化物(a)」ともいう。)を得る硬化工程(以下、「第一の硬化工程」ともいう。)と、を備える。この製造方法では、液状の樹脂組成物(a)として、硬化後の伸縮回復率が80%以上である樹脂組成物を用いる。   A manufacturing method of a circuit board device (for example, a semiconductor device) according to the present embodiment includes a deformable circuit board and an electronic member (for example, an electronic component, a wiring, etc.) provided on at least one main surface of the circuit board. And a cured resin that seals at least a part of the electronic member, and a liquid resin composition (a) on the main surface of the circuit board on which the electronic member is provided. ), A sealing step for sealing the electronic member (hereinafter, also referred to as “first sealing step”), a liquid resin composition (a) is cured, and a cured resin (hereinafter, A curing step (hereinafter also referred to as “first curing step”) to obtain “resin cured product (a)”. In this production method, as the liquid resin composition (a), a resin composition having a stretch recovery rate after curing of 80% or more is used.

本実施形態に係る製造方法によれば、接続信頼性に優れると共に、折り曲げ及び引っ張りによる応力が加わった場合でも、不具合(例えば、電子部品の剥がれ及び割れ、配線の切断等)が生じにくい回路基板装置が得られる。また、本実施形態に係る製造方法により得られる回路基板装置においては、ねじりによる応力が加わった場合でも不具合(例えば、電子部品の剥がれ及び割れ、配線の切断等)が生じにくい。   According to the manufacturing method according to the present embodiment, the circuit board has excellent connection reliability and is less likely to cause defects (for example, peeling and cracking of electronic components, cutting of wiring, etc.) even when stress due to bending and pulling is applied. A device is obtained. Moreover, in the circuit board device obtained by the manufacturing method according to the present embodiment, even when stress due to torsion is applied, defects (for example, peeling and cracking of electronic components, cutting of wiring, etc.) are unlikely to occur.

本実施形態に係る回路基板装置の製造方法は、変形可能な回路基板の少なくとも一方の主面上に電子部材(例えば、電子部品)を搭載する実装工程を更に備えてよく、液状の樹脂組成物(a)を硬化させた後、樹脂硬化物(a)が形成された回路基板の主面上に、硬化後に伸縮性を有するフィルム状の樹脂組成物(b)を貼り付ける工程(以下、「第二の封止工程」ともいう。)を更に備えてもよく、フィルム状の樹脂組成物(b)を硬化させて樹脂硬化物(以下、「樹脂硬化物(b)」ともいう。)を得る工程(以下、「第二の硬化工程」ともいう。)を更に備えてもよく、回路基板を切断し分離することにより、電子部材を有する複数の回路基板装置を得る切断工程を更に備えてもよい。   The method for manufacturing a circuit board device according to the present embodiment may further include a mounting step of mounting an electronic member (for example, an electronic component) on at least one main surface of the deformable circuit board, and the liquid resin composition After curing (a), a step of attaching a film-like resin composition (b) having stretchability after curing on the main surface of the circuit board on which the cured resin (a) is formed (hereinafter, “ It may be further provided with a “second sealing step”), and the film-shaped resin composition (b) is cured to obtain a cured resin (hereinafter also referred to as “resin cured product (b)”). A step of obtaining a plurality of circuit board devices having an electronic member by cutting and separating the circuit board may be further provided. Also good.

以下、図面を参照しつつ、各工程の詳細を説明する。なお、以下では、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法の一例として、電子部材として半導体素子を含む電子部品を備える半導体装置を製造する方法を説明する。   Hereinafter, details of each step will be described with reference to the drawings. Hereinafter, as an example of the method for manufacturing the circuit board device according to the present embodiment, a method for manufacturing a semiconductor device including an electronic component including a semiconductor element as an electronic member will be described.

(工程1:実装工程)
図1は、本実施形態に係る回路基板装置(半導体装置)の製造方法を示す断面図であり、図2は、本実施形態に係る回路基板装置(半導体装置)の製造方法を示す上面図である。実装工程では、まず、図1(a)及び図2(a)に示すように、変形可能な回路基板4の上に電子部材(電子部品)3を実装(搭載)する。これにより、変形可能な回路基板の主面上に半導体素子を含む電子部材が搭載された回路基板装置(半導体装置)10(未封止)を得る。
(Process 1: Mounting process)
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a circuit board device (semiconductor device) according to the present embodiment, and FIG. 2 is a top view illustrating the method for manufacturing the circuit board device (semiconductor device) according to the present embodiment. is there. In the mounting process, first, as shown in FIGS. 1A and 2A, an electronic member (electronic component) 3 is mounted (mounted) on a deformable circuit board 4. As a result, a circuit board device (semiconductor device) 10 (unsealed) in which an electronic member including a semiconductor element is mounted on the main surface of the deformable circuit board is obtained.

回路基板4は、折り曲げ及び引っ張りによって変形可能な回路基板である。回路基板4はねじりによって変形可能な回路基板であってもよい。例えば、ねじり及び折り曲げが可能なFPC回路基板、それ自体が伸縮できるよう構造的に工夫を加えたFPC回路基板(例えばミアンダ構造を有するFPC回路基板)、伸縮性を有するシート状の基材に、伸縮性を有する配線が設けられた構成を有するストレッチャブル回路基板等である。   The circuit board 4 is a circuit board that can be deformed by bending and pulling. The circuit board 4 may be a circuit board that can be deformed by twisting. For example, an FPC circuit board that can be twisted and bent, an FPC circuit board that is structurally devised so that it can expand and contract itself (for example, an FPC circuit board having a meander structure), a sheet-like base material having elasticity, A stretchable circuit board or the like having a configuration in which a wiring having elasticity is provided.

回路基板4の構成材料としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、シリコ−ン樹脂、ポリエチレングリコール樹脂、ビスマレイミド樹脂等が目的に応じて適宜使用される。回路基板4の構成材料は、回路基板4の伸縮性及び可撓性に優れる点から、シロキサン構造、脂肪族エーテル構造、又はジエン構造を有するポリイミド樹脂;アクリル樹脂;シリコーン樹脂;長鎖アルキル基(例えば、炭素数5〜20のアルキル基)を有するビスマレイミド樹脂;エポキシ樹脂;及びロタキサン構造を有するポリエチレングリコール樹脂からなる群から選ばれる1種であってもよい。これらは1種を単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。   As a constituent material of the circuit board 4, a polyimide resin, an epoxy resin, an acrylic resin, a urethane resin, a silicone resin, a polyethylene glycol resin, a bismaleimide resin, or the like is appropriately used depending on the purpose. The constituent material of the circuit board 4 is a polyimide resin having a siloxane structure, an aliphatic ether structure, or a diene structure; an acrylic resin; a silicone resin; a long-chain alkyl group (from the point that the circuit board 4 is excellent in stretchability and flexibility. For example, it may be one selected from the group consisting of a bismaleimide resin having an alkyl group having 5 to 20 carbon atoms; an epoxy resin; and a polyethylene glycol resin having a rotaxane structure. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

本実施形態において、回路基板4は、少なくとも一方の主面上に、ねじり、折り曲げ、引っ張り等によって変形し得ない配線を有していてよく、ねじり、折り曲げ、引っ張り等によって変形可能な配線を有してよい。回路基板4が変形可能な配線(配線部)を有している場合、配線部である導電材料は必ずしもそれ自体が伸縮性を有していなくともよく、配線の形状の工夫(例えば配線を細くし、且つ、回路基板の幅を狭くした上で、ジグザグ構造、ミアンダ構造又はらせん構造とする)などによってねじり、折り曲げ、引っ張り等の力による変形に追従できればよい。   In this embodiment, the circuit board 4 may have wiring that cannot be deformed by twisting, bending, pulling, or the like on at least one main surface, and has wiring that can be deformed by twisting, bending, pulling, or the like. You can do it. When the circuit board 4 has a deformable wiring (wiring portion), the conductive material that is the wiring portion does not necessarily have to be stretchable, and the wiring shape is devised (for example, the wiring is thinned). In addition, the width of the circuit board is narrowed, and it is only necessary to be able to follow deformation caused by a force such as twisting, bending, and pulling by a zigzag structure, a meander structure, or a spiral structure.

電子部材3として、電子部品は、1種類が実装されていてもよく、2種類以上が混在して実装されていてもよい。また、電子部品は、1個が実装されていてもよく、複数個が実装されていてもよい。また、電子部品は、回路基板4の一方の主面に実装されていてよく、両方の主面上に実装されていてもよい。複数個の電子部品の高さ(回路基板4の表面からの高さ)は、それぞれ同一であっても異なっていてもよい。電子部品は、例えば発光ダイオード(LED)、メモリーチップ、温度センサ、加速度センサ、NMOS、PMOS、コイル、電池、スイッチ、ダイオード、コンデンサ等の半導体素子を含む実装部品であってよい。   As the electronic member 3, one type of electronic component may be mounted, or two or more types may be mixed and mounted. Further, one electronic component may be mounted, or a plurality of electronic components may be mounted. Further, the electronic component may be mounted on one main surface of the circuit board 4 or may be mounted on both main surfaces. The height of the plurality of electronic components (the height from the surface of the circuit board 4) may be the same or different. The electronic component may be a mounted component including semiconductor elements such as a light emitting diode (LED), a memory chip, a temperature sensor, an acceleration sensor, an NMOS, a PMOS, a coil, a battery, a switch, a diode, and a capacitor.

(工程2:第一の封止工程)
第一の封止工程では、図1(b)及び図2(b)に示すように、電子部材3を液状の樹脂組成物(a)で封止する。この際、回路基板4を封止してもよい。電子部材3及び回路基板4の封止は、例えば、印刷法、ディスペンス法、ディッピング法等によって行うことができる。具体的には、例えば、液状の樹脂組成物(a)5を回路基板4の実装面に印刷すること、又は、液状の樹脂組成物(a)5に回路基板4を浸漬し、乾燥することにより封止することができる。この中でも、Roll to Rollのプロセスで使用できる方法が製造工程を短縮できる点から好ましい。
(Step 2: First sealing step)
In the first sealing step, as shown in FIGS. 1B and 2B, the electronic member 3 is sealed with a liquid resin composition (a). At this time, the circuit board 4 may be sealed. The electronic member 3 and the circuit board 4 can be sealed by, for example, a printing method, a dispensing method, a dipping method, or the like. Specifically, for example, the liquid resin composition (a) 5 is printed on the mounting surface of the circuit board 4, or the circuit board 4 is immersed in the liquid resin composition (a) 5 and dried. Can be sealed. Among these, the method that can be used in the roll-to-roll process is preferable because the manufacturing process can be shortened.

第一の封止工程では、図4に示すように、液状の樹脂組成物(a)5が電子部品の底部(回路基板4側のピン部分)及び側面を覆うように封止してよく、図5に示すように、液状の樹脂組成物(a)5が電子部品の全面を覆うように封止してもよい。なお、図4及び図5中、符号30〜36は電子部材を示す。具体的には、符号30はセンサを示し、符号31はSOP(Small Outline Package)を示し、符号32〜34及び36はLED、積層セラミックコンデンサ(キャパシタ)、固定インダクタ、積層チップEMCフィルタ、又は角型チップ抵抗器のような表面実装部品を示し、符号35はBGA(Ball Grid Array)又はCSP(Chip Size/Scale Package)のようなICパッケージを示す。また、符号41はFPC(Flexible Printed Circuit)を示す。また、符号7はアンダーフィル材を示す。   In the first sealing step, as shown in FIG. 4, the liquid resin composition (a) 5 may be sealed so as to cover the bottom part (pin part on the circuit board 4 side) and the side surface of the electronic component, As shown in FIG. 5, the liquid resin composition (a) 5 may be sealed so as to cover the entire surface of the electronic component. 4 and 5, reference numerals 30 to 36 denote electronic members. Specifically, reference numeral 30 indicates a sensor, reference numeral 31 indicates an SOP (Small Outline Package), reference numerals 32-34 and 36 indicate an LED, a multilayer ceramic capacitor (capacitor), a fixed inductor, a multilayer chip EMC filter, or a corner. A surface mount component such as a type chip resistor is shown, and a reference numeral 35 denotes an IC package such as BGA (Ball Grid Array) or CSP (Chip Size / Scale Package). Reference numeral 41 denotes FPC (Flexible Printed Circuit). Reference numeral 7 denotes an underfill material.

電子部材3が回路基板4の両方の主面に実装されている場合、図4及び図5に示すように、回路基板4の両方の主面に実装されている電子部材3の封止を行ってよい。また、図5に示すように、回路基板4の全面(表面及び側面)を覆うように電子部材の封止を行ってよい。これにより、樹脂硬化物(a)1からなる層の厚さが増し、伸縮回復率が更に向上する。また、回路基板4の全面(表面及び側面)を樹脂硬化物(a)1で覆うことで、水、ごみ等から電子部材3を守ることができる。吸湿率及び透湿率の低い樹脂硬化物(a)1を用いれば、防水性が向上し、回路基板ごと洗濯できるようになる。第一の封止工程では、図2(b)に示すように、回路基板4の主面上の少なくとも一部にのみ樹脂組成物(a)5を設けてよく、回路基板4の主面全体に樹脂組成物(a)を設けてもよい。例えば、樹脂組成物(a)5を電子部材3上及びその周辺部分にのみ設けてよい。また、回路基板4が配線を有する場合、配線を樹脂組成物(a)で封止してもよい。なお、回路基板4が電子部材として配線のみを有する場合、第一の工程では配線を液状の樹脂組成物で封止する。液状の樹脂組成物(a)の詳細は後述する。   When the electronic member 3 is mounted on both main surfaces of the circuit board 4, as shown in FIGS. 4 and 5, the electronic member 3 mounted on both main surfaces of the circuit board 4 is sealed. It's okay. Further, as shown in FIG. 5, the electronic member may be sealed so as to cover the entire surface (surface and side surfaces) of the circuit board 4. Thereby, the thickness of the layer which consists of resin hardened | cured material (a) 1 increases, and an expansion-contraction recovery rate further improves. Further, by covering the entire surface (surface and side surfaces) of the circuit board 4 with the cured resin (a) 1, the electronic member 3 can be protected from water, dust and the like. If the cured resin (a) 1 having a low moisture absorption rate and moisture permeability is used, the waterproof property is improved, and the entire circuit board can be washed. In the first sealing step, as shown in FIG. 2B, the resin composition (a) 5 may be provided only on at least a part of the main surface of the circuit board 4, and the entire main surface of the circuit board 4 is provided. The resin composition (a) may be provided. For example, you may provide the resin composition (a) 5 only on the electronic member 3 and its peripheral part. Moreover, when the circuit board 4 has wiring, you may seal a wiring with the resin composition (a). In addition, when the circuit board 4 has only wiring as an electronic member, wiring is sealed with a liquid resin composition at a 1st process. Details of the liquid resin composition (a) will be described later.

樹脂組成物(a)5からなる層の厚さ(回路基板の表面からの高さ)は、特に限定されないが、乾燥後の厚さが0.1μm〜4mmであることが好ましい。厚さが0.1μm以上であると、樹脂組成物(a)5からなる層が膜の形状を保持できる。厚さが4mm以下であると、均一に硬化でき、曲げによる変形時の内径と外径に差があっても応力を十分に緩和でき、引っ張る場合に必要な応力も大きくならずに済む。   The thickness of the layer made of the resin composition (a) 5 (height from the surface of the circuit board) is not particularly limited, but the thickness after drying is preferably 0.1 μm to 4 mm. When the thickness is 0.1 μm or more, the layer made of the resin composition (a) 5 can maintain the shape of the film. When the thickness is 4 mm or less, it can be uniformly cured, and even if there is a difference between the inner and outer diameters when deformed by bending, the stress can be sufficiently relaxed, and the stress required for pulling does not need to be increased.

(工程3:第一の硬化工程)
第一の硬化工程では、図1(c)及び図2(c)に示すように、第一の封止工程において電子部材3を液状の樹脂組成物(a)5で封止した後、液状の樹脂組成物(a)5を硬化させる。これにより、樹脂硬化物(a)1を形成し、電子部材3が樹脂硬化物(a)1により封止された回路基板装置(半導体装置)50を得る。硬化としては、例えば、加熱による熱硬化、又は、露光による光硬化を行うことができる。
(Step 3: First curing step)
In the first curing step, as shown in FIGS. 1C and 2C, the electronic member 3 is sealed with the liquid resin composition (a) 5 in the first sealing step, and then the liquid state. The resin composition (a) 5 is cured. Thereby, the resin substrate (semiconductor device) 50 in which the resin cured material (a) 1 is formed and the electronic member 3 is sealed with the resin cured material (a) 1 is obtained. As the curing, for example, heat curing by heating or photocuring by exposure can be performed.

(工程4:第二の封止工程)
第二の封止工程では、図1(d)及び図2(d)に示すように、樹脂硬化物(a)1で封止された電子部材3を硬化後に伸縮性を有するフィルム状の樹脂組成物(b)6で封止する。具体的には、樹脂硬化物(a)1が形成された回路基板4の主面上に、フィルム状の樹脂組成物(b)を貼り付けて、樹脂硬化物(a)1と共に電子部材3を被覆する。封止は、ロールラミネータ、真空ラミネータ等によって行うことができる。この中でも、Roll to Rollのプロセスで使用できる方法(例えば、ロールラミネータを用いる方法)が製造工程を短縮できる点から好ましい。本実施形態では、樹脂硬化物(a)1とフィルム状の樹脂組成物(b)6の間に電子部材及び/又は配線が設けられていてもよい。また、本実施形態では、図1(d)及び図2(d)に示すように、回路基板4の主面全体を覆うようにフィルム状の樹脂組成物(b)を設けてよく、回路基板4の主面上の少なくとも一部にのみフィルム状の樹脂組成物(b)を設けてもよい。フィルム状の樹脂組成物(b)の詳細は後述する。
(Step 4: Second sealing step)
In the second sealing step, as shown in FIGS. 1 (d) and 2 (d), a film-like resin having elasticity after curing the electronic member 3 sealed with the cured resin (a) 1 Seal with composition (b) 6. Specifically, a film-shaped resin composition (b) is attached to the main surface of the circuit board 4 on which the cured resin (a) 1 is formed, and the electronic member 3 together with the cured resin (a) 1. Coating. Sealing can be performed by a roll laminator, a vacuum laminator or the like. Among these, a method that can be used in the Roll to Roll process (for example, a method that uses a roll laminator) is preferable because the manufacturing process can be shortened. In this embodiment, an electronic member and / or wiring may be provided between the cured resin (a) 1 and the film-like resin composition (b) 6. Moreover, in this embodiment, as shown in FIG.1 (d) and FIG.2 (d), a film-form resin composition (b) may be provided so that the whole main surface of the circuit board 4 may be covered, and a circuit board is provided. The film-shaped resin composition (b) may be provided only on at least a part of the main surface of 4. Details of the film-like resin composition (b) will be described later.

(工程5:第二の硬化工程)
第二の硬化工程では、図1(e)及び図2(e)に示すように、フィルム状の樹脂組成物(b)6を硬化させる。これにより、樹脂硬化物(b)2を形成し、回路基板装置(半導体装置)100を得る。回路基板装置100は、樹脂硬化物(a)1によって封止された電子部材3と、樹脂硬化物(a)と共に電子部材3を覆うように設けられた樹脂硬化物(b)と、を備える。
(Step 5: Second curing step)
In the second curing step, as shown in FIGS. 1E and 2E, the film-like resin composition (b) 6 is cured. Thereby, the cured resin (b) 2 is formed, and the circuit board device (semiconductor device) 100 is obtained. The circuit board device 100 includes an electronic member 3 sealed with a cured resin (a) 1 and a cured resin (b) provided so as to cover the electronic member 3 together with the cured resin (a). .

(工程5:切断工程)
図3は、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法における切断工程を示す断面図ある。切断工程では、図3に示すように、回路基板を切断し分離することにより、電子部材(例えば回路部品)を有する複数の回路基板装置(半導体装置)200を得る。これにより、複数の回路基板装置を一度に大面積で製造することが可能となり、製造工程を減らすことが容易となる。
(Process 5: Cutting process)
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cutting step in the method of manufacturing the circuit board device according to the present embodiment. In the cutting step, as shown in FIG. 3, the circuit board is cut and separated to obtain a plurality of circuit board devices (semiconductor devices) 200 having electronic members (for example, circuit components). As a result, a plurality of circuit board devices can be manufactured at a large area at a time, and the manufacturing process can be easily reduced.

次に、本実施形態に係る液状の樹脂組成物(a)について説明する。   Next, the liquid resin composition (a) according to this embodiment will be described.

本実施形態に係る液状の樹脂組成物(a)は、25℃において液状を示す。ここで、「液状」とは、25℃に保持された樹脂組成物の粘度を0.5rpmでE型粘度計を用いて測定した値が1000Pa・s以下であることを意味する。   The liquid resin composition (a) according to this embodiment is liquid at 25 ° C. Here, “liquid” means that the value of the viscosity of the resin composition maintained at 25 ° C. measured with an E-type viscometer at 0.5 rpm is 1000 Pa · s or less.

本実施形態に係る液状の樹脂組成物(a)は、硬化後の伸縮回復率が80%以上である。伸縮回復率は、液状の樹脂組成物(a)を硬化して得られる樹脂硬化物(a)を測定サンプルとして用いた引張試験において求められる。具体的には、1回目の引っ張り試験で加えたひずみ(変位量)をX、次に初期位置に戻し再度引っ張り試験を行ったときに荷重が掛かり始めるときの位置とXとの差をYとしたとき、式:R(%)=Y/X×100で計算されるRが、伸縮回復率として定義される。本実施形態において、伸縮回復率は、Xを50%として測定した値である。図6に伸縮回復率の測定例を示す。伸縮回復率が80%以上であれば、ねじり、折り曲げ、引っ張り等による応力が加わった場合でも不具合(例えば、電子部品の剥がれ及び割れ、配線の断線等)が生じにくく、繰り返しの使用に耐えることができる。このような観点から、伸縮回復率は85%以上であることがより好ましく、90%以上であることが更に好ましい。   The liquid resin composition (a) according to this embodiment has a stretch recovery rate after curing of 80% or more. The expansion / contraction recovery rate is determined in a tensile test using a cured resin (a) obtained by curing the liquid resin composition (a) as a measurement sample. Specifically, the strain (displacement) applied in the first tensile test is X, and the difference between X and the position at which the load starts when the tensile test is performed again after returning to the initial position is Y. Then, R calculated by the formula: R (%) = Y / X × 100 is defined as the expansion / contraction recovery rate. In the present embodiment, the expansion / contraction recovery rate is a value measured when X is 50%. FIG. 6 shows a measurement example of the expansion / contraction recovery rate. If the expansion / contraction recovery rate is 80% or more, even if stress is applied due to twisting, bending, pulling, etc., defects (for example, peeling and cracking of electronic parts, disconnection of wiring, etc.) are unlikely to occur, and it can withstand repeated use. Can do. From such a viewpoint, the expansion / contraction recovery rate is more preferably 85% or more, and further preferably 90% or more.

本実施形態に係る液状の樹脂組成物(a)は、紫外線等の活性光線の照射又は加熱によって硬化する樹脂組成物であることが好ましい。樹脂組成物(a)が加熱によって硬化する樹脂組成物である場合、電子部材(例えば電子部品3)の耐熱性の観点から、低温で硬化する樹脂組成物であることが好ましい。樹脂組成物(a)は、室温で硬化できる観点から、光硬化性であることが好ましい。具体的には、例えば、(A)スチレン系エラストマ(以下、「(A)成分」ともいう)と、(B)アルキル鎖を有する単官能の(メタ)アクリレート(以下、「(B)成分」ともいう)と、(C)脂環式骨格を有する単官能の(メタ)アクリレート(以下、「(C)成分」ともいう)と、(D)2個以上のエチレン性不飽和基を有する2官能以上の化合物(以下、「(D)成分」ともいう)と、(E)重合開始剤(以下、「(E)成分」ともいう)を含有する樹脂組成物であってよい。この場合、樹脂組成物を硬化して得られる樹脂硬化物(a)の伸縮性及び密着性に優れると共に、回路基板装置の接続信頼性が更に向上する傾向がある。   The liquid resin composition (a) according to this embodiment is preferably a resin composition that is cured by irradiation with actinic rays such as ultraviolet rays or heating. When the resin composition (a) is a resin composition that is cured by heating, it is preferably a resin composition that is cured at a low temperature from the viewpoint of heat resistance of the electronic member (for example, the electronic component 3). The resin composition (a) is preferably photocurable from the viewpoint that it can be cured at room temperature. Specifically, for example, (A) a styrene elastomer (hereinafter also referred to as “(A) component”) and (B) a monofunctional (meth) acrylate having an alkyl chain (hereinafter referred to as “(B) component”). And (C) a monofunctional (meth) acrylate having an alicyclic skeleton (hereinafter also referred to as “(C) component”), and (D) 2 having two or more ethylenically unsaturated groups. It may be a resin composition containing a functional or higher compound (hereinafter also referred to as “component (D)”) and (E) a polymerization initiator (hereinafter also referred to as “component (E)”). In this case, the resin cured product (a) obtained by curing the resin composition is excellent in stretchability and adhesion, and the connection reliability of the circuit board device tends to be further improved.

[(A)成分]
スチレン系エラストマとは、スチレン骨格を有するエラストマを意味する。例えば、ハードセグメントであるポリスチレンと、ソフトセグメントである、不飽和二重結合を含むジエン系エラストマと、を含有する共重合体であってよい。
[(A) component]
Styrenic elastomer means an elastomer having a styrene skeleton. For example, it may be a copolymer containing polystyrene as a hard segment and a diene elastomer containing an unsaturated double bond as a soft segment.

ジエン系エラストマは、例えば、ポリエチレン、ポリブチレン及びポリイソプレンから選ばれる。   The diene elastomer is selected from, for example, polyethylene, polybutylene, and polyisoprene.

スチレン系エラストマの市販品としては、例えばJSR(株)製「ダイナロンSEBSシリーズ」、クレイトンポリマージャパン(株)製「クレイトンDポリマーシリーズ」、及び、アロン化成(株)製「ARシリーズ」が好適である。   Examples of commercially available styrene elastomers include “Dynalon SEBS Series” manufactured by JSR Corporation, “Clayton D Polymer Series” manufactured by Kraton Polymer Japan Co., Ltd., and “AR Series” manufactured by Aron Kasei Co., Ltd. is there.

スチレン系エラストマは、ハードセグメントであるポリスチレンと、前記ジエン系エラストマの不飽和結合(二重結合)に水素を付加反応させて形成された、ジエン系エラストマの水素付加体(水素添加によって二重結合が飽和されたジエン系エラストマ)と、を含有する共重合体であってもよい。本明細書では、ソフトセグメントが上記ジエン系エラストマの水素付加体であるスチレン系エラストマを水素添加型スチレン系エラストマと称する。スチレン系エラストマが水素添加型スチレン系エラストマである場合、耐候性等の点でより優れた効果が期待できる。   Styrene elastomer is a hydrogen adduct of diene elastomer (double bond by hydrogenation) formed by adding hydrogen to the hard segment polystyrene and unsaturated bond (double bond) of the diene elastomer. May be a diene elastomer saturated with a diene elastomer). In the present specification, a styrene elastomer whose soft segment is a hydrogenated product of the diene elastomer is referred to as a hydrogenated styrene elastomer. When the styrene elastomer is a hydrogenated styrene elastomer, more excellent effects can be expected in terms of weather resistance and the like.

水素添加型スチレン系エラストマは、例えばJSR(株)製「ダイナロンHSBRシリーズ」、クレイトンポリマージャパン(株)製「クレイトンGポリマーシリーズ」、旭化成(株)製「タフテックシリーズ」、及び、(株)クラレ製「セプトンシリーズ」が好適である。具体的には、水添スチレンイソプレン共重合ポリマー((株)クラレ製、商品名「セプトン2002」)、水素添加型スチレンブタジエン共重合ポリマー(クレイトンポリマージャパン(株)製、商品名「クレイトンMD6951」)、水素添加型スチレンブタジエンラバー(JSR(株)製、商品名「ダイナロン2324P」等が挙げられる。   Hydrogenated styrene elastomers are, for example, “Dynalon HSBR Series” manufactured by JSR Corporation, “Clayton G Polymer Series” manufactured by Kraton Polymer Japan Co., Ltd., “Tough Tech Series” manufactured by Asahi Kasei Corporation, and Kuraray Co., Ltd. The “Septon series” manufactured by the company is suitable. Specifically, hydrogenated styrene isoprene copolymer (made by Kuraray Co., Ltd., trade name “Septon 2002”), hydrogenated styrene butadiene copolymer (made by Kraton Polymer Japan Co., Ltd., trade name “Clayton MD6951”). ), Hydrogenated styrene butadiene rubber (manufactured by JSR Corporation, trade name “Dynalon 2324P”).

スチレン系エラストマの重量平均分子量は、塗膜性の観点から、30,000〜200,000であることが好ましく、50,000〜150,000であることがより好ましい。重量平均分子量(Mw)は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)による標準ポリスチレン換算値から求めることができる。   The weight average molecular weight of the styrene elastomer is preferably 30,000 to 200,000, more preferably 50,000 to 150,000, from the viewpoint of coating properties. A weight average molecular weight (Mw) can be calculated | required from the standard polystyrene conversion value by a gel permeation chromatography (GPC).

(A)成分の含有量は、(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分の総量に対して、10〜50質量%であることが好ましく、20〜40質量%であることがより好ましい。(A)成分の含有量が10質量%以上である場合、伸縮性が十分となる傾向があり、伸縮性が著しく向上する傾向がある。(A)成分の含有量が50質量%以下である場合、粘度が高くなりすぎないため塗布作業を行いやすい。   It is preferable that content of (A) component is 10-50 mass% with respect to the total amount of (A) component, (B) component, (C) component, and (D) component, and 20-40 mass%. It is more preferable that When the content of the component (A) is 10% by mass or more, the stretchability tends to be sufficient, and the stretchability tends to be remarkably improved. (A) When content of a component is 50 mass% or less, since a viscosity does not become high too much, it is easy to perform a coating operation.

[(B)成分]
アルキル鎖を有する単官能の(メタ)アクリレートとは、1個の(メタ)アクリロイル基及び直鎖状又は分枝鎖状のアルキル基を有するエステル化合物である。
[Component (B)]
The monofunctional (meth) acrylate having an alkyl chain is an ester compound having one (meth) acryloyl group and a linear or branched alkyl group.

アルキル鎖を有する単官能の(メタ)アクリレートとしては、例えば、イソオクチル(メタ)アクリレート、イソデシル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、イソステアリルアクリレート、ステアリルアクリレート及びトリデシルアクリレートが挙げられる。これらの化合物は、単独で又は2種類以上組み合わせて使用することができ、さらにその他の重合性化合物と組み合わせて使用することもできる。   Examples of the monofunctional (meth) acrylate having an alkyl chain include isooctyl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, isostearyl acrylate, stearyl acrylate and tridecyl acrylate. These compounds can be used alone or in combination of two or more, and can also be used in combination with other polymerizable compounds.

(B)成分におけるアルキル鎖の炭素数は12以下が好ましく、10以下がより好ましい。上記炭素数が12以下の場合、スチレン系エラストマ(特に、水素添加型スチレン系エラストマ)との相溶性に優れるため、樹脂組成物(a)が白濁しにくい。このような(B)成分としては、例えば、イソオクチル(メタ)アクリレート、イソデシル(メタ)アクリレート及びラウリル(メタ)アクリレートが挙げられる。   (B) Carbon number of the alkyl chain in component is preferably 12 or less, more preferably 10 or less. When the number of carbon atoms is 12 or less, the resin composition (a) is not easily clouded because of excellent compatibility with styrene elastomers (particularly hydrogenated styrene elastomers). Examples of such component (B) include isooctyl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate, and lauryl (meth) acrylate.

(B)成分の含有量は、(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分の総量に対して、10〜50質量%であることが好ましく、20〜40質量%であることがより好ましい。(B)成分の含有量が10質量%以上である場合、樹脂硬化物(a)に含有される樹脂が剛直になり難い。そのため、樹脂硬化物(a)の弾性率が高くなり難く、伸縮性が著しく向上する傾向がある。(B)成分の含有量が50質量%以下である場合、密着性に優れる傾向がある。   The content of the component (B) is preferably 10 to 50% by mass with respect to the total amount of the components (A), (B), (C) and (D), and 20 to 40% by mass. It is more preferable that When content of (B) component is 10 mass% or more, resin contained in resin hardened | cured material (a) cannot become rigid easily. For this reason, the elastic modulus of the cured resin (a) is hardly increased and the stretchability tends to be remarkably improved. When content of (B) component is 50 mass% or less, there exists a tendency for it to be excellent in adhesiveness.

[(C)成分]
脂環式骨格を有する単官能の(メタ)アクリレートとしては、例えば、シクロヘキシルアクリレート、3,3,5−トリメチルシクロヘキサノ−ル(メタ)アクリレート、4−tert−ブチルシクロヘキサノール(メタ)アクリレート、イソボルニルアクリレート、トリシクロデシルアクリレート及びテトラヒドロフルフリルアクリレートが挙げられる。これらの化合物は、単独で又は2種類以上組み合わせて使用することができ、さらにその他の重合性化合物と組み合わせて使用することもできる。
[Component (C)]
Examples of the monofunctional (meth) acrylate having an alicyclic skeleton include cyclohexyl acrylate, 3,3,5-trimethylcyclohexanol (meth) acrylate, 4-tert-butylcyclohexanol (meth) acrylate, Examples include bornyl acrylate, tricyclodecyl acrylate and tetrahydrofurfuryl acrylate. These compounds can be used alone or in combination of two or more, and can also be used in combination with other polymerizable compounds.

(C)成分の含有量は、(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分の総量に対して、10〜50質量%であることが好ましく、20〜40質量%であることがより好ましい。(C)成分の含有量が10質量%以上である場合、密着性が著しく向上する傾向がある。(C)成分の含有量が50質量%以下である場合、樹脂硬化物(a)に含有される樹脂が剛直になり難い。そのため、樹脂硬化物(a)の弾性率が高くなり難く、伸縮性が著しく向上する傾向がある。   The content of the component (C) is preferably 10 to 50% by mass with respect to the total amount of the components (A), (B), (C) and (D), and 20 to 40% by mass. It is more preferable that (C) When content of a component is 10 mass% or more, there exists a tendency for adhesiveness to improve remarkably. When content of (C) component is 50 mass% or less, resin contained in resin hardened | cured material (a) cannot become rigid easily. For this reason, the elastic modulus of the cured resin (a) is hardly increased and the stretchability tends to be remarkably improved.

[(D)成分]
2個以上のエチレン性不飽和基を有する2官能以上の化合物((A)成分に該当する化合物は除く)としては、例えば、(メタ)アクリレート、ハロゲン化ビニリデン、ビニルエーテル、ビニルエステル、ビニルピリジン、ビニルアミド及びアリール化ビニルが挙げられる。これらのうち樹脂硬化物(a)の透明性の観点から、(メタ)アクリレート又はアリール化ビニルのうち少なくとも一方であることが好ましい。
[(D) component]
Examples of the bifunctional or higher functional compound having two or more ethylenically unsaturated groups (excluding compounds corresponding to the component (A)) include (meth) acrylate, vinylidene halide, vinyl ether, vinyl ester, vinyl pyridine, Vinylamide and arylated vinyl are mentioned. Among these, from the viewpoint of the transparency of the cured resin (a), at least one of (meth) acrylate and arylated vinyl is preferable.

2個の(メタ)アクリロイル基を有する2官能(メタ)アクリレートとしては、例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、エトキシ化ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、3−メチル−1,5−ペンタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレート、グリセリンジ(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化2−メチル−1,3−プロパンジオールジ(メタ)アクリレート等の脂肪族(メタ)アクリレート;シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、プロポキシ化シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、プロポキシ化トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化水添ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化水添ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化水添ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化水添ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化水添ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化水添ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート等の脂環式(メタ)アクリレート;エトキシ化ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化ビスフェノールAFジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ビスフェノールAFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ビスフェノールAFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化フルオレン型ジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化フルオレン型ジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化フルオレン型ジ(メタ)アクリレート等の芳香族(メタ)アクリレート;エトキシ化イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート等の複素環式(メタ)アクリレート;これらのカプロラクトン変性体;ネオペンチルグリコール型エポキシ(メタ)アクリレート等の脂肪族エポキシ(メタ)アクリレート;シクロヘキサンジメタノール型エポキシ(メタ)アクリレート、水添ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート、水添ビスフェノールF型エポキシ(メタ)アクリレート等の脂環式エポキシ(メタ)アクリレート;レゾルシノール型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールF型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAF型エポキシ(メタ)アクリレート、フルオレン型エポキシ(メタ)アクリレート等の芳香族エポキシ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。   Examples of the bifunctional (meth) acrylate having two (meth) acryloyl groups include ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di ( (Meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, propylene glycol di (meth) acrylate, dipropylene glycol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, tetrapropylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (Meth) acrylate, ethoxylated polypropylene glycol di (meth) acrylate, 1,3-butanediol di (meth) acrylate, 1,4-butanedio Di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, 3-methyl-1,5-pentanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 2-butyl-2-ethyl -1,3-propanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, 1,10-decanediol di (meth) acrylate, glycerin di (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol ( Aliphatic (meth) acrylates such as meth) acrylate and ethoxylated 2-methyl-1,3-propanediol di (meth) acrylate; cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, ethoxylated cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, propoxylation Cyclohexane Dime Nord (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol (meth) acrylate, ethoxylated tricyclodecane dimethanol (meth) acrylate, propoxylated tricyclodecane dimethanol (meth) Acrylate, ethoxylated propoxylated tricyclodecanedimethanol (meth) acrylate, ethoxylated hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate, propoxylated hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated hydrogenated bisphenol A di ( (Meth) acrylate, ethoxylated hydrogenated bisphenol F di (meth) acrylate, propoxylated hydrogenated bisphenol F di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated hydrogenated bisphenol F-aliphatic (meth) acrylates such as di (meth) acrylate; ethoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxy Bisphenol F di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol F di (meth) acrylate, ethoxylated propoxy bisphenol F di (meth) acrylate, ethoxylated bisphenol AF di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol AF di (meth) acrylate , Ethoxylated propoxylated bisphenol AF di (meth) acrylate, ethoxylated fluorene di (meth) acrylate, propoxylated fluorene di (meth) acrylate, ethoxylated propo Aromatic (meth) acrylates such as silylated fluorene di (meth) acrylate; ethoxylated isocyanuric acid di (meth) acrylate, propoxylated isocyanuric acid di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated isocyanuric acid di (meth) acrylate, etc. Heterocyclic (meth) acrylates; modified caprolactones thereof; aliphatic epoxy (meth) acrylates such as neopentyl glycol type epoxy (meth) acrylate; cyclohexanedimethanol type epoxy (meth) acrylate, hydrogenated bisphenol A type epoxy Aliphatic epoxy (meth) acrylate such as (meth) acrylate, hydrogenated bisphenol F type epoxy (meth) acrylate; resorcinol type epoxy (meth) acrylate, bisphenol A type epoxy (meth) acrylate Relate, bisphenol F type epoxy (meth) acrylate, bisphenol AF type epoxy (meth) acrylates, and aromatic epoxy (meth) acrylates such as fluorene epoxy (meth) acrylate.

3個以上の(メタ)アクリロイル基を有する3官能以上の多官能(メタ)アクリレートとしては、例えばトリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、プロポキシ化トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等の脂肪族(メタ)アクリレート;エトキシ化イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート、プロポキシ化イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート等の複素環式(メタ)アクリレート;これらのカプロラクトン変性体;フェノールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート、クレゾールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート等の芳香族エポキシ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。   Examples of the trifunctional or higher polyfunctional (meth) acrylate having 3 or more (meth) acryloyl groups include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, ethoxylated trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and propoxylated trimethylolpropane. Tri (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, ethoxylated pentaerythritol tri (meth) acrylate, propoxylated pentaerythritol tri (meth) acrylate, ethoxylated propoxy Pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ethoxylated pentaerythritol tetra (meth) acrylate, Aliphatic (meth) acrylates such as poxylated pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetraacrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate; ethoxylated isocyanuric acid tri Heterocyclic (meth) acrylates such as (meth) acrylate, propoxylated isocyanuric acid tri (meth) acrylate and ethoxylated propoxylated isocyanuric acid tri (meth) acrylate; modified caprolactone thereof; phenol novolac-type epoxy (meth) acrylate And aromatic epoxy (meth) acrylates such as cresol novolac type epoxy (meth) acrylate.

これらの中でもスチレン系エラストマとの相溶性、樹脂硬化物(a)の透明性及び耐熱性、並びに、ポリイミド及び銅箔への密着性の観点から、シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート等の脂環構造をもった(メタ)アクリレートであることが好ましい。これらの化合物は、単独で又は2種類以上組み合わせて使用することができ、さらにその他の重合性化合物と組み合わせて使用することもできる。   Among these, cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, tricyclodecanedi from the viewpoints of compatibility with styrene elastomer, transparency and heat resistance of the cured resin (a), and adhesion to polyimide and copper foil. A (meth) acrylate having an alicyclic structure such as methanol (meth) acrylate is preferred. These compounds can be used alone or in combination of two or more, and can also be used in combination with other polymerizable compounds.

(D)成分の含有量は、(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分の総量に対して、0.3〜20質量%であることが好ましく、0.5〜10質量%であることがより好ましく、1〜5質量%であることが更に好ましい。(D)成分の含有量が0.3質量%以上である場合、十分に硬化することができるため、タック性が残り難く、また、伸縮性が著しく向上する傾向がある。(D)成分の含有量が20質量%以下である場合、樹脂硬化物(a)に含有される樹脂が剛直になり難い。そのため、樹脂硬化物(a)の弾性率が高くなり難く、伸縮性が著しく向上する傾向がある。   The content of the component (D) is preferably 0.3 to 20% by mass with respect to the total amount of the components (A), (B), (C) and (D), and 0.5 More preferably, it is 10 mass%, More preferably, it is 1-5 mass%. When content of (D) component is 0.3 mass% or more, since it can fully harden | cure, tackiness does not remain easily and there exists a tendency for a stretching property to improve remarkably. When content of (D) component is 20 mass% or less, resin contained in resin hardened | cured material (a) does not become rigid easily. For this reason, the elastic modulus of the cured resin (a) is hardly increased and the stretchability tends to be remarkably improved.

[(E)成分]
重合開始剤としては、加熱又は紫外線等の活性光線を照射することによって重合を開始させるものであれば特に制限はなく、例えば、(B)成分、(C)成分及び(D)成分のような(メタ)アクリレートを用いる場合、熱ラジカル重合開始剤及び光ラジカル重合開始が挙げられる。(E)成分は、硬化速度が速く常温硬化が可能なことから、光ラジカル重合開始剤であることが好ましい。
[(E) component]
The polymerization initiator is not particularly limited as long as it initiates polymerization by heating or irradiation with actinic rays such as ultraviolet rays. For example, the components (B), (C) and (D) When (meth) acrylate is used, a thermal radical polymerization initiator and photoradical polymerization initiation are exemplified. The component (E) is preferably a radical photopolymerization initiator because the curing speed is high and room temperature curing is possible.

熱ラジカル重合開始剤としては、例えば、メチルエチルケトンパーオキシド、シクロヘキサノンパーオキシド、メチルシクロヘキサノンパーオキシド等のケトンパーオキシド;1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)−2−メチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン等のパーオキシケタール;p−メンタンヒドロパーオキシド等のヒドロパーオキシド;α、α’−ビス(t−ブチルパーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、ジクミルパーオキシド、t−ブチルクミルパーオキシド、ジ−t−ブチルパーオキシド等のジアルキルパーオキシド;オクタノイルパーオキシド、ラウロイルパーオキシド、ステアリルパーオキシド、ベンゾイルパーオキシド等のジアシルパーオキシド;ビス(4−t−ブチルシクロヘキシル)パーオキシジカーボネート、ジ−2−エトキシエチルパーオキシジカーボネート、ジ−2−エチルヘキシルパーオキシジカーボネート、ジ−3−メトキシブチルパーオキシカーボネート等のパーオキシカーボネート;t−ブチルパーオキシピバレート、t−ヘキシルパーオキシピバレート、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、2,5−ジメチル−2,5−ビス(2−エチルヘキサノイルパーオキシ)ヘキサン、t−ヘキシルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシイソブチレート、t−ヘキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−3,5,5−トリメチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシラウリレート、t−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキシルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシベンゾエート、t−ヘキシルパーオキシベンゾエート、2,5−ジメチル−2,5−ビス(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシアセテート等のパーオキシエステル;2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2’−ジメチルバレロニトリル)等のアゾ化合物などが挙げられる。これらの中で、樹脂組成物(a)の硬化性、並びに、樹脂硬化物(a)の透明性及び耐熱性の観点から、上記ジアシルパーオキシド、パーオキシエステル及びアゾ化合物からなる群より選択される少なくとも一種であることが好ましい。   Examples of the thermal radical polymerization initiator include ketone peroxides such as methyl ethyl ketone peroxide, cyclohexanone peroxide, and methylcyclohexanone peroxide; 1,1-bis (t-butylperoxy) cyclohexane, 1,1-bis (t- Butylperoxy) -2-methylcyclohexane, 1,1-bis (t-butylperoxy) -3,3,5-trimethylcyclohexane, 1,1-bis (t-hexylperoxy) cyclohexane, 1,1- Peroxyketals such as bis (t-hexylperoxy) -3,3,5-trimethylcyclohexane; hydroperoxides such as p-menthane hydroperoxide; α, α′-bis (t-butylperoxy) diisopropylbenzene , Dicumyl peroxide, t-butylcumylperoxy Dialkyl peroxides such as di- and t-butyl peroxide; diacyl peroxides such as octanoyl peroxide, lauroyl peroxide, stearyl peroxide and benzoyl peroxide; bis (4-t-butylcyclohexyl) peroxydicarbonate Peroxycarbonates such as di-2-ethoxyethyl peroxydicarbonate, di-2-ethylhexyl peroxydicarbonate, di-3-methoxybutyl peroxycarbonate; t-butyl peroxypivalate, t-hexyl peroxy Pivalate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate, 2,5-dimethyl-2,5-bis (2-ethylhexanoylperoxy) hexane, t-hexylper Oxy-2-ethylhexano Tate, t-butylperoxy-2-ethylhexanoate, t-butylperoxyisobutyrate, t-hexylperoxyisopropyl monocarbonate, t-butylperoxy-3,5,5-trimethylhexanoate , T-butyl peroxylaurate, t-butyl peroxyisopropyl monocarbonate, t-butyl peroxy-2-ethylhexyl monocarbonate, t-butyl peroxybenzoate, t-hexyl peroxybenzoate, 2,5-dimethyl- Peroxyesters such as 2,5-bis (benzoylperoxy) hexane and t-butylperoxyacetate; 2,2′-azobisisobutyronitrile, 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) ), 2,2′-azobis (4-methoxy-2′-) Such as methyl valeronitrile) and azo compounds, and the like. Among these, from the viewpoint of the curability of the resin composition (a) and the transparency and heat resistance of the cured resin (a), the resin composition is selected from the group consisting of the diacyl peroxide, peroxy ester and azo compound. It is preferable that it is at least one kind.

光ラジカル重合開始剤としては、例えば、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン等のベンゾインケタール;1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン等のα−ヒドロキシケトン;2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタン−1−オン、1,2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン等のα−アミノケトン;1−[4−(フェニルチオ)フェニル]−1,2−オクタジオン−2−(ベンゾイル)オキシム等のオキシムエステル;ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキシド、ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチルペンチルホスフィンオキシド、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド等のホスフィンオキシド;2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体;ベンゾフェノン、N,N,N’,N’−テトラメチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン、N,N,N’,N’−テトラエチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4−メトキシ−4’−ジメチルアミノベンゾフェノン等のベンゾフェノン化合物;2−エチルアントラキノン、フェナントレンキノン、2−tert−ブチルアントラキノン、オクタメチルアントラキノン、1,2−ベンズアントラキノン、2,3−ベンズアントラキノン、2−フェニルアントラキノン、2,3−ジフェニルアントラキノン、1−クロロアントラキノン、2−メチルアントラキノン、1,4−ナフトキノン、9,10−フェナントラキノン、2−メチル−1,4−ナフトキノン、2,3−ジメチルアントラキノン等のキノン化合物;ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル;ベンゾイン、メチルベンゾイン、エチルベンゾイン等のベンゾイン化合物;ベンジルジメチルケタール等のベンジル化合物;9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9、9’−アクリジニルヘプタン)等のアクリジン化合物:N−フェニルグリシン、クマリンなどが挙げられる。   Examples of the photo radical polymerization initiator include benzoinketals such as 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one; 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropane Α-hydroxy ketones such as -1-one and 1- [4- (2-hydroxyethoxy) phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one; 2-benzyl-2-dimethylamino- Α-amino ketones such as 1- (4-morpholinophenyl) -butan-1-one and 1,2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one; Oxime esters such as [4- (phenylthio) phenyl] -1,2-octadion-2- (benzoyl) oxime; bis (2,4,6-tri Phosphine oxides such as methylbenzoyl) phenylphosphine oxide, bis (2,6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethylpentylphosphine oxide, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide; 2- (o-chlorophenyl) ) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer 2,4,5-triaryl such as 2-mer, 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer Imidazole dimer; benzophenone, N, N, N ′, N′-tetramethyl-4, Benzophenone compounds such as '-diaminobenzophenone, N, N, N', N'-tetraethyl-4,4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone; 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone, 2- tert-butylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone, 2,3-diphenylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-methylanthraquinone, 1,4-naphthoquinone Quinone compounds such as 9,10-phenanthraquinone, 2-methyl-1,4-naphthoquinone and 2,3-dimethylanthraquinone; benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin phenyl ether Benzoin ethers such as benzoin; benzoin compounds such as benzoin, methylbenzoin and ethylbenzoin; benzyl compounds such as benzyldimethyl ketal; acridines such as 9-phenylacridine and 1,7-bis (9,9′-acridinylheptane) Compound: N-phenylglycine, coumarin and the like can be mentioned.

前記2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体において、2つのトリアリールイミダゾール部位のアリール基の置換基は、同一で対称な化合物を与えてもよく、相違して非対称な化合物を与えてもよい。また。ジエチルチオキサントンとジメチルアミノ安息香酸の組み合わせのように、チオキサントン化合物と3級アミンとを組み合わせてもよい。   In the 2,4,5-triarylimidazole dimer, the aryl group substituents of the two triarylimidazole moieties may give the same and symmetric compound, or differently give the asymmetric compound. Good. Also. A thioxanthone compound and a tertiary amine may be combined, such as a combination of diethylthioxanthone and dimethylaminobenzoic acid.

光ラジカル重合開始剤は、樹脂組成物(a)の硬化性、並びに、樹脂硬化物(a)の透明性及び耐熱性の観点から、上記α−ヒドロキシケトン又は上記ホスフィンオキシドのうちの少なくとも一方であることが好ましい。これらの熱及び光ラジカル重合開始剤は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。さらに、適切な増感剤と組み合わせて用いることもできる。   From the viewpoint of the curability of the resin composition (a) and the transparency and heat resistance of the resin cured product (a), the radical photopolymerization initiator is at least one of the α-hydroxy ketone and the phosphine oxide. Preferably there is. These thermal and photo radical polymerization initiators can be used alone or in combination of two or more. Furthermore, it can also be used in combination with an appropriate sensitizer.

(E)成分の含有量は、(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分の総量100質量部に対して、0.1〜10質量部であることが好ましい。(E)成分の含有量が0.1質量部以上であると、硬化が十分となる傾向があり、(E)成分の含有量が10質量部以下であると、十分な光透過性が得られやすい。これらの観点から、(E)成分の含有量は、0.3〜7質量部であることがより好ましく、0.5〜5質量部であることが更に好ましい。   It is preferable that content of (E) component is 0.1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of total amounts of (A) component, (B) component, (C) component, and (D) component. When the content of the component (E) is 0.1 parts by mass or more, curing tends to be sufficient, and when the content of the component (E) is 10 parts by mass or less, sufficient light transmittance is obtained. It is easy to be done. From these viewpoints, the content of the component (E) is more preferably 0.3 to 7 parts by mass, and further preferably 0.5 to 5 parts by mass.

液状の樹脂組成物(a)は、必要に応じて、以上説明した成分に加えて、酸化防止剤、黄変防止剤、紫外線吸収剤、可視光吸収剤、着色剤、可塑剤、安定剤、充填剤等のいわゆる添加剤を本発明の効果に悪影響を与えない割合で含有してもよい。   The liquid resin composition (a) is optionally added to the above-described components, in addition to antioxidants, yellowing inhibitors, ultraviolet absorbers, visible light absorbers, colorants, plasticizers, stabilizers, You may contain what is called additives, such as a filler, in the ratio which does not have a bad influence on the effect of this invention.

また、本実施形態に係る液状の樹脂組成物(a)は、好適な有機溶剤を用いて希釈された、樹脂ワニスであってもよい。有機溶剤としては、樹脂組成物(a)を溶解しえるものであれば特に制限はなく、例えば、トルエン、キシレン、メシチレン、クメン、p−シメン等の芳香族炭化水素;テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン等の環状エーテル;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン等のケトン;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン等のエステル;エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート等の炭酸エステル;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミドなどが挙げられる。これらの中で、溶解性及び沸点の観点から、トルエン又はN,N−ジメチルアセトアミドのうち少なくとも一方であることが好ましい。これらの有機溶剤は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。樹脂ワニス中の固形分濃度は、通常20〜80質量%であることが好ましい。   The liquid resin composition (a) according to the present embodiment may be a resin varnish diluted with a suitable organic solvent. The organic solvent is not particularly limited as long as it can dissolve the resin composition (a). For example, aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene, mesitylene, cumene, p-cymene; tetrahydrofuran, 1,4- Cyclic ethers such as dioxane; Ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, 4-hydroxy-4-methyl-2-pentanone; methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl lactate, ethyl lactate, γ-butyrolactone, etc. And esters such as ethylene carbonate and propylene carbonate; amides such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. Among these, from the viewpoints of solubility and boiling point, at least one of toluene and N, N-dimethylacetamide is preferable. These organic solvents can be used alone or in combination of two or more. It is preferable that the solid content concentration in the resin varnish is usually 20 to 80% by mass.

本実施形態に係る樹脂硬化物(a)の弾性率は、0.1MPa以上100MPa以下であることが好ましく、0.2MPa以上50MPa以下であることがより好ましく、0.3MPa以上30MPa以下であることが更に好ましい。弾性率が0.1MPa以上である場合、ブロッキングにより樹脂硬化物同士が貼り付くといった問題が起こりにくい。弾性率が100MPa以下である場合、樹脂硬化物(a)に含有される樹脂が剛直になり難い。そのため、樹脂硬化物(a)の柔軟性及び伸縮性がより十分となる傾向がある。   The elastic modulus of the cured resin (a) according to this embodiment is preferably 0.1 MPa or more and 100 MPa or less, more preferably 0.2 MPa or more and 50 MPa or less, and 0.3 MPa or more and 30 MPa or less. Is more preferable. When the elastic modulus is 0.1 MPa or more, the problem that the cured resin products stick to each other due to blocking is unlikely to occur. When the elastic modulus is 100 MPa or less, the resin contained in the cured resin (a) is difficult to be rigid. Therefore, there exists a tendency for the softness | flexibility and elasticity of resin cured | curing material (a) to become more enough.

樹脂硬化物(a)の破断伸び率は、100%以上であることが好ましい。100%以上であればより十分な伸縮性を得ることができる。破断伸び率は、150%以上であることがより好ましく、200%以上であることが更に好ましい。   The elongation at break of the cured resin (a) is preferably 100% or more. If it is 100% or more, more sufficient stretchability can be obtained. The elongation at break is more preferably 150% or more, and further preferably 200% or more.

本実施形態に係る樹脂硬化物(a)は、分光ヘイズメータ(日本電色工業(株)製、分光ヘイズメータ「SH7000」)で測定した全光線透過率が80%以上、Yellowness Index(YI)が5.0以下、ヘイズが5.0%以下であることが好ましい。この範囲にあれば十分な透明性が得られる。全光線透過率が85%以上、Yellowness Indexが4.0以下、ヘイズが4.0%以下であることがより好ましく、全光線透過率が90%以上、Yellowness Indexが3.0以下、ヘイズが3.0%以下であることが更に好ましい。   The resin cured product (a) according to this embodiment has a total light transmittance of 80% or more measured with a spectral haze meter (manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., spectral haze meter “SH7000”), and a yellowness index (YI) of 5 0.0 or less and haze is preferably 5.0% or less. If it is in this range, sufficient transparency can be obtained. More preferably, the total light transmittance is 85% or more, the Yellowness Index is 4.0 or less, and the haze is 4.0% or less, the total light transmittance is 90% or more, the Yellowness Index is 3.0 or less, and the haze is More preferably, it is 3.0% or less.

次に、本実施形態に係るフィルム状の樹脂組成物(b)について説明する。   Next, the film-like resin composition (b) according to this embodiment will be described.

本実施形態に係るフィルム状の樹脂組成物(b)は、硬化後に伸縮性を有する樹脂組成物である。   The film-like resin composition (b) according to the present embodiment is a resin composition having elasticity after curing.

フィルム状の樹脂組成物(b)は、紫外線等の活性光線の照射又は加熱によって硬化する伸縮性の樹脂組成物であることが好ましい。具体的には、例えば、(A’)スチレン系エラストマ(以下、「(A’)成分」ともいう)と、(F)重合性化合物(以下、「(F)成分」ともいう)と、(E’)重合開始剤(以下、「(E’)成分」ともいう)と、を含有する樹脂組成物であってよい。   The film-like resin composition (b) is preferably a stretchable resin composition that is cured by irradiation with actinic rays such as ultraviolet rays or heating. Specifically, for example, (A ′) a styrene-based elastomer (hereinafter also referred to as “(A ′) component”), (F) a polymerizable compound (hereinafter also referred to as “(F) component”), ( It may be a resin composition containing E ′) a polymerization initiator (hereinafter also referred to as “component (E ′)”).

[(A’)成分]
(A’)成分の具体例は、上述した(A)成分と同様である。(A’)成分の含有量は、(A’)成分及び(F)成分の総量に対して、50〜90質量%であることが好ましい。(A’)成分の含有量が50質量%以上であると、硬化後の伸縮性が十分となりやすい。(A’)成分の含有量が90質量%以下であれば、露光時に(F)成分によって絡め込まれて容易に硬化する傾向がある。以上の観点から、(A’)成分の含有量は、55〜85質量%であることがより好ましく、60〜80質量%であることが更に好ましい。
[(A ′) component]
Specific examples of the component (A ′) are the same as the component (A) described above. It is preferable that content of (A ') component is 50-90 mass% with respect to the total amount of (A') component and (F) component. When the content of the component (A ′) is 50% by mass or more, the stretchability after curing tends to be sufficient. When the content of the component (A ′) is 90% by mass or less, there is a tendency to be easily entangled by the component (F) during exposure. From the above viewpoint, the content of the component (A ′) is more preferably 55 to 85% by mass, and further preferably 60 to 80% by mass.

[(E’)成分]
(E’)成分の具体例は、上述した(E)成分と同様である。(E’)成分の含有量は、(A’)成分及び(F)成分の総量100質量部に対して、0.1〜10質量部であることが好ましい。(E’)成分の含有量が0.1質量部以上であると、硬化が十分となりやすい。(E’)成分の含有量が10質量部以下であると、十分な光透過性が得られやすい。以上の観点から、(E’)成分の含有量は、0.3〜7質量部であることがより好ましく、0.5〜5質量部であることが更に好ましい。
[(E ′) component]
Specific examples of the component (E ′) are the same as the component (E) described above. It is preferable that content of (E ') component is 0.1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of total amounts of (A') component and (F) component. When the content of the component (E ′) is 0.1 part by mass or more, curing is likely to be sufficient. When the content of the component (E ′) is 10 parts by mass or less, sufficient light transmittance is easily obtained. From the above viewpoint, the content of the component (E ′) is more preferably 0.3 to 7 parts by mass, and further preferably 0.5 to 5 parts by mass.

[(F)成分]
重合性化合物としては、加熱又は紫外線等の活性光線の照射によって重合するものであれば特に制限はないが、材料の選択性及び入手の容易さの観点から、例えばエチレン性不飽和基等の重合性置換基を有する化合物が好適に挙げられる。具体的には、(メタ)アクリレート、ハロゲン化ビニリデン、ビニルエーテル、ビニルエステル、ビニルピリジン、ビニルアミド及びアリール化ビニルが挙げられる。透明性の観点から、(メタ)アクリレート又はアリール化ビニルのうちの少なくとも一方であることが好ましい。(メタ)アクリレートとしては、1官能のもの、2官能のもの又は多官能のもののいずれも用いることができる。十分な硬化性を得る観点では、2官能のもの又は多官能のものを用いることが好ましい。
[(F) component]
The polymerizable compound is not particularly limited as long as it is polymerized by heating or irradiation with actinic rays such as ultraviolet rays, but from the viewpoint of material selectivity and availability, for example, polymerization of ethylenically unsaturated groups and the like. Preferred examples include compounds having an ionic substituent. Specific examples include (meth) acrylates, vinylidene halides, vinyl ethers, vinyl esters, vinyl pyridines, vinyl amides, and arylated vinyls. From the viewpoint of transparency, at least one of (meth) acrylate or arylated vinyl is preferable. As the (meth) acrylate, any of monofunctional, bifunctional, or polyfunctional ones can be used. From the viewpoint of obtaining sufficient curability, it is preferable to use a bifunctional or polyfunctional one.

単官能(メタ)アクリレートとしては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、tert−ブチル(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、イソアミル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、ヘプチル(メタ)アクリレート、オクチルヘプチル(メタ)アクリレート、ノニル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、ウンデシル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、トリデシル(メタ)アクリレート、テトラデシル(メタ)アクリレート、ペンタデシル(メタ)アクリレート、ヘキサデシル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、ベヘニル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、3−クロロ−2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、メトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、エトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、エトキシポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、モノ(2−(メタ)アクリロイロキシエチル)スクシネート等の脂肪族(メタ)アクリレート;シクロペンチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、シクロペンチル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、モノ(2−(メタ)アクリロイロキシエチル)テトラヒドロフタレート、モノ(2−(メタ)アクリロイロキシエチル)ヘキサヒドロフタレート等の脂環式(メタ)アクリレート;ベンジル(メタ)アクリレート、フェニル(メタ)アクリレート、o−ビフェニル(メタ)アクリレート、1−ナフチル(メタ)アクリレート、2−ナフチル(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、p−クミルフェノキシエチル(メタ)アクリレート、o−フェニルフェノキシエチル(メタ)アクリレート、1−ナフトキシエチル(メタ)アクリレート、2−ナフトキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−フェノキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−(o−フェニルフェノキシ)プロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−(1−ナフトキシ)プロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−(2−ナフトキシ)プロピル(メタ)アクリレート等の芳香族(メタ)アクリレート;2−テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、N−(メタ)アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、2−(メタ)アクリロイロキシエチル−N−カルバゾール等の複素環式(メタ)アクリレート、これらのカプロラクトン変性体などが挙げられる。これらの中でもスチレン系エラストマとの相溶性、並びに、樹脂硬化物(b)の透明性及び耐熱性の観点から、上記脂肪族(メタ)アクリレート又は上記芳香族(メタ)アクリレートのうち少なくとも一方であることが好ましい。   Examples of the monofunctional (meth) acrylate include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, tert-butyl (meth) acrylate, butoxyethyl (meth) acrylate, Isoamyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octylheptyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, undecyl (meth) acrylate , Lauryl (meth) acrylate, tridecyl (meth) acrylate, tetradecyl (meth) acrylate, pentadecyl (meth) acrylate, hexadecyl (meth) acrylate, stearyl (Meth) acrylate, behenyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3-chloro-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, Aliphatics such as methoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, ethoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, methoxypolypropylene glycol (meth) acrylate, ethoxypolypropylene glycol (meth) acrylate, mono (2- (meth) acryloyloxyethyl) succinate ( (Meth) acrylate; cyclopentyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, cyclopentyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) Alicyclic rings such as acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, mono (2- (meth) acryloyloxyethyl) tetrahydrophthalate, mono (2- (meth) acryloyloxyethyl) hexahydrophthalate Formula (meth) acrylate; benzyl (meth) acrylate, phenyl (meth) acrylate, o-biphenyl (meth) acrylate, 1-naphthyl (meth) acrylate, 2-naphthyl (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, p -Cumylphenoxyethyl (meth) acrylate, o-phenylphenoxyethyl (meth) acrylate, 1-naphthoxyethyl (meth) acrylate, 2-naphthoxyethyl (meth) acrylate, phenoxypolyethylene glycol (Meth) acrylate, nonylphenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate, phenoxypolypropylene glycol (meth) acrylate, 2-hydroxy-3-phenoxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxy-3- (o-phenylphenoxy) propyl (meta Aromatic (meth) acrylates such as acrylate, 2-hydroxy-3- (1-naphthoxy) propyl (meth) acrylate, 2-hydroxy-3- (2-naphthoxy) propyl (meth) acrylate; 2-tetrahydrofurfuryl Heterocyclic (meth) acrylates such as (meth) acrylate, N- (meth) acryloyloxyethyl hexahydrophthalimide, 2- (meth) acryloyloxyethyl-N-carbazole, modified caprolactone thereof, etc. And the like. Among these, at least one of the aliphatic (meth) acrylate and the aromatic (meth) acrylate from the viewpoints of compatibility with the styrene-based elastomer and transparency and heat resistance of the cured resin (b). It is preferable.

2官能(メタ)アクリレートとしては、例えばエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、エトキシ化ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、3−メチル−1,5−ペンタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレート、グリセリンジ(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化2−メチル−1,3−プロパンジオールジ(メタ)アクリレート等の脂肪族(メタ)アクリレート;シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、プロポキシ化シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化シクロヘキサンジメタノール(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、プロポキシ化トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化トリシクロデカンジメタノール(メタ)アクリレート、エトキシ化水添ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化水添ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化水添ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化水添ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化水添ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化水添ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート等の脂環式(メタ)アクリレート;エトキシ化ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エトキシ化ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化ビスフェノールAFジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ビスフェノールAFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ビスフェノールAFジ(メタ)アクリレート、エトキシ化フルオレン型ジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化フルオレン型ジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化フルオレン型ジ(メタ)アクリレート等の芳香族(メタ)アクリレート;エトキシ化イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート、プロポキシ化イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化イソシアヌル酸ジ(メタ)アクリレート等の複素環式(メタ)アクリレート;これらのカプロラクトン変性体;ネオペンチルグリコール型エポキシ(メタ)アクリレート等の脂肪族エポキシ(メタ)アクリレート;シクロヘキサンジメタノール型エポキシ(メタ)アクリレート、水添ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート、水添ビスフェノールF型エポキシ(メタ)アクリレート等の脂環式エポキシ(メタ)アクリレート;レゾルシノール型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールF型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAF型エポキシ(メタ)アクリレート、フルオレン型エポキシ(メタ)アクリレート等の芳香族エポキシ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。これらの中でもスチレン系エラストマとの相溶性、並びに、樹脂硬化物(b)の透明性及び耐熱性の観点から、上記脂肪族(メタ)アクリレート又は上記芳香族(メタ)アクリレートのうち少なくとも一方であることが好ましい。   Examples of the bifunctional (meth) acrylate include ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, and polyethylene glycol di (meth) acrylate. , Propylene glycol di (meth) acrylate, dipropylene glycol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, tetrapropylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, ethoxylated polypropylene glycol di ( (Meth) acrylate, 1,3-butanediol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, neopentyl Recall di (meth) acrylate, 3-methyl-1,5-pentanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 2-butyl-2-ethyl-1,3-propanediol di ( (Meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, 1,10-decanediol di (meth) acrylate, glycerin di (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol (meth) acrylate, ethoxylated 2-methyl Aliphatic (meth) acrylates such as 1,3-propanediol di (meth) acrylate; cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, ethoxylated cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, propoxylated cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, ethoxy Propoxylated cyclohexanedimethanol (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol (meth) acrylate, ethoxylated tricyclodecane dimethanol (meth) acrylate, propoxylated tricyclodecane dimethanol (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated tricyclo Decandimethanol (meth) acrylate, ethoxylated hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate, propoxylated hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxylated hydrogenated Alicyclic (such as bisphenol F di (meth) acrylate, propoxylated hydrogenated bisphenol F di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated hydrogenated bisphenol F di (meth) acrylate, etc. Meth) acrylate; ethoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, ethoxylated bisphenol F di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol F Di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated bisphenol F di (meth) acrylate, ethoxylated bisphenol AF di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol AF di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated bisphenol AF di (meth) acrylate, Ethoxylated fluorene-type di (meth) acrylate, propoxylated fluorene-type di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated fluorene-type di (meth) acrylate Aromatic (meth) acrylates such as: heterocyclic (meth) acrylates such as ethoxylated isocyanuric acid di (meth) acrylate, propoxylated isocyanuric acid di (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated isocyanuric acid di (meth) acrylate; These modified caprolactones; aliphatic epoxy (meth) acrylates such as neopentyl glycol type epoxy (meth) acrylate; cyclohexanedimethanol type epoxy (meth) acrylate, hydrogenated bisphenol A type epoxy (meth) acrylate, hydrogenated bisphenol F Type epoxy (meth) acrylate and other cycloaliphatic epoxy (meth) acrylates; resorcinol type epoxy (meth) acrylate, bisphenol A type epoxy (meth) acrylate, bisphenol F type epoxy Meth) acrylate, bisphenol AF type epoxy (meth) acrylates, and aromatic epoxy (meth) acrylates such as fluorene epoxy (meth) acrylate. Among these, at least one of the aliphatic (meth) acrylate and the aromatic (meth) acrylate from the viewpoints of compatibility with the styrene-based elastomer and transparency and heat resistance of the cured resin (b). It is preferable.

3官能以上の多官能(メタ)アクリレートとしては、例えばトリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、プロポキシ化トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、プロポキシ化ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等の脂肪族(メタ)アクリレート;エトキシ化イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート、プロポキシ化イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート、エトキシ化プロポキシ化イソシアヌル酸トリ(メタ)アクリレート等の複素環式(メタ)アクリレート;これらのカプロラクトン変性体;フェノールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート、クレゾールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート等の芳香族エポキシ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。これらの中でもスチレン系エラストマとの相溶性、並びに、樹脂硬化物(b)の透明性及び耐熱性の観点から、上記脂肪族(メタ)アクリレート又は上記芳香族(メタ)アクリレートのうち少なくとも一方であることが好ましい。   Examples of the trifunctional or higher polyfunctional (meth) acrylate include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, ethoxylated trimethylolpropane tri (meth) acrylate, propoxylated trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and ethoxylated propoxylated tri Methylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, ethoxylated pentaerythritol tri (meth) acrylate, propoxylated pentaerythritol tri (meth) acrylate, ethoxylated propoxylated pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol Tetra (meth) acrylate, ethoxylated pentaerythritol tetra (meth) acrylate, propoxylated pentaerythritol tetra (me ) Aliphatic (meth) acrylates such as acrylate, ethoxylated propoxylated pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetraacrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate; ethoxylated isocyanuric acid tri (meth) acrylate, propoxylated Heterocyclic (meth) acrylates such as isocyanuric acid tri (meth) acrylate and ethoxylated propoxylated isocyanuric acid tri (meth) acrylate; these caprolactone modified products; phenol novolac epoxy (meth) acrylate, cresol novolac epoxy (meta) ) Aromatic epoxy (meth) acrylate such as acrylate. Among these, at least one of the aliphatic (meth) acrylate and the aromatic (meth) acrylate from the viewpoints of compatibility with the styrene-based elastomer and transparency and heat resistance of the cured resin (b). It is preferable.

これらの化合物は、単独で又は2種類以上組み合わせて使用することができ、さらにその他の重合性化合物と組み合わせて使用することもできる。   These compounds can be used alone or in combination of two or more, and can also be used in combination with other polymerizable compounds.

(F)成分の含有量は、(A’)成分及び(F)成分の総量に対して、10〜50質量%であることが好ましい。(F)成分の含有量が10質量%以上であると、(A’)スチレン系エラストマとともに硬化しやすくなる傾向がある。(F)成分の含有量が50質量%以下であれば、樹脂硬化物(b)の強度及び伸縮性が十分となりやすい。以上の観点から、(F)成分の含有量は15〜40質量%であることがより好ましい。   It is preferable that content of (F) component is 10-50 mass% with respect to the total amount of (A ') component and (F) component. When the content of the component (F) is 10% by mass or more, it tends to be easily cured together with the (A ′) styrenic elastomer. When the content of the component (F) is 50% by mass or less, the strength and stretchability of the cured resin (b) are likely to be sufficient. From the above viewpoint, the content of the component (F) is more preferably 15 to 40% by mass.

フィルム状の樹脂組成物(b)は、必要に応じて、以上説明した成分に加えて、酸化防止剤、黄変防止剤、紫外線吸収剤、可視光吸収剤、着色剤、可塑剤、安定剤、充填剤等のいわゆる添加剤を本発明の効果に悪影響を与えない割合で含有してもよい。   The film-shaped resin composition (b) may contain, in addition to the components described above, an antioxidant, an anti-yellowing agent, an ultraviolet absorber, a visible light absorber, a colorant, a plasticizer, and a stabilizer, as necessary. In addition, so-called additives such as fillers may be contained in proportions that do not adversely affect the effects of the present invention.

樹脂硬化物(b)の弾性率は、0.1MPa以上1000MPa以下であることが好ましい。0.1MPa以上1000MPa以下であれば、フィルムとしての扱い性及び樹脂硬化物(b)の伸縮性に優れる。この観点から、弾性率は、0.3MPa以上100MPa以下であることがより好ましく、0.5MPa以上50MPa以下であることが更に好ましい。   The elastic modulus of the cured resin (b) is preferably from 0.1 MPa to 1000 MPa. If it is 0.1 MPa or more and 1000 MPa or less, it is excellent in the handleability as a film and the elasticity of the resin cured product (b). From this viewpoint, the elastic modulus is more preferably 0.3 MPa or more and 100 MPa or less, and further preferably 0.5 MPa or more and 50 MPa or less.

樹脂硬化物(b)の破断伸び率は、100%以上であることが好ましい。100%以上であれば十分な伸縮性を得ることができる。この観点から、破断伸び率は、300%以上であることがより好ましく、500%以上であることが更に好ましい。   The elongation at break of the cured resin (b) is preferably 100% or more. If it is 100% or more, sufficient stretchability can be obtained. From this viewpoint, the elongation at break is more preferably 300% or more, and further preferably 500% or more.

樹脂硬化物(b)の伸縮回復率は80%以上であることが好ましい。なお、樹脂硬化物(b)の伸縮回復率は、樹脂硬化物(a)の伸縮回復率と同様に定義され、ひずみ−応力の関係において樹脂硬化物(a)と同じ挙動を示す。その一例が図6に示される。伸縮回復率が80%以上であれば、ねじり、折り曲げ、引っ張り等による応力を一層緩和することができ、繰り返しの使用に耐えることができる。このため、伸縮回復率は、85%以上であることがより好ましく、90%以上であることが更に好ましい。   The stretch recovery rate of the cured resin (b) is preferably 80% or more. The stretch recovery rate of the cured resin (b) is defined in the same manner as the stretch recovery rate of the cured resin (a), and exhibits the same behavior as the cured resin (a) in the strain-stress relationship. An example is shown in FIG. If the expansion / contraction recovery rate is 80% or more, stress due to twisting, bending, pulling, etc. can be further relaxed, and it can withstand repeated use. For this reason, the expansion / contraction recovery rate is more preferably 85% or more, and still more preferably 90% or more.

樹脂硬化物(b)は、分光ヘイズメータ(日本電色工業(株)製、分光ヘイズメータ「SH7000」)で測定した全光線透過率が80%以上、Yellowness Indexが5.0以下、ヘイズが5.0%以下であることが好ましい。この範囲にあれば十分な透明性が得られる。この観点から、全光線透過率が85%以上、Yellowness Indexが4.0以下、ヘイズが4.0%以下であることがより好ましく、全光線透過率が90%以上、Yellowness Indexが3.0以下、ヘイズが3.0%以下であることが更に好ましい。   The cured resin (b) has a total light transmittance of 80% or more, a Yellowness Index of 5.0 or less, and a haze of 5. or less as measured with a spectral haze meter (manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., spectral haze meter “SH7000”). It is preferably 0% or less. If it is in this range, sufficient transparency can be obtained. From this viewpoint, it is more preferable that the total light transmittance is 85% or more, the Yellowness Index is 4.0 or less, and the haze is 4.0% or less. The total light transmittance is 90% or more, and the Yellowness Index is 3.0. Hereinafter, the haze is more preferably 3.0% or less.

樹脂硬化物(b)は、樹脂組成物(b)をシリコン基材又はポリイミド基材へ積層し硬化した後、90°ピール試験(引き剥がし速度50mm/分、試料幅10mm)を行った場合に、5N/cm以上の密着強度を有することが好ましい。密着強度は高いほど実用的であり、この観点から7N/cmであることがより好ましく、10N/cmであることが更に好ましい。   The cured resin (b) is obtained when a 90 ° peel test (peeling speed 50 mm / min, sample width 10 mm) is performed after the resin composition (b) is laminated and cured on a silicon substrate or a polyimide substrate. It preferably has an adhesion strength of 5 N / cm or more. The higher the adhesion strength is, the more practical it is. From this viewpoint, it is more preferably 7 N / cm, and further preferably 10 N / cm.

フィルム状の樹脂組成物(b)の厚さは特に限定されないが、乾燥後の厚さが5〜1000μmであることが好ましい。5μm以上であると、厚さが十分であるためフィルム状の樹脂組成物(b)又はフィルム状の樹脂組成物(b)の硬化物(樹脂硬化物(b))の強度が十分であり、1000μm以下であると、乾燥が十分に行えるためフィルム状の樹脂組成物(b)中の残留溶媒量が増えることなく、フィルム状の樹脂組成物(b)の硬化物を加熱したときに発泡することがない。   Although the thickness of a film-form resin composition (b) is not specifically limited, It is preferable that the thickness after drying is 5-1000 micrometers. When the thickness is 5 μm or more, the strength of the film-shaped resin composition (b) or a cured product of the film-shaped resin composition (b) (cured resin product (b)) is sufficient because the thickness is sufficient, When the thickness is 1000 μm or less, since the drying can be sufficiently performed, the amount of residual solvent in the film-like resin composition (b) does not increase, and foaming occurs when the cured product of the film-like resin composition (b) is heated. There is nothing.

本実施形態に係るフィルム状の樹脂組成物(b)は、例えば、前記(A’)成分、(F)成分、(E’)成分及び有機溶剤を含有する樹脂ワニスを好適な基材フィルムに塗布し、溶媒を除去することにより容易に製造することができる。このようにして得られた樹脂フィルムは、例えばロール状に巻き取ることによって容易に保存することができる。または、ロール状のフィルムを好適なサイズに切り出して、シート状にして保存することもできる。   The film-like resin composition (b) according to the present embodiment includes, for example, a resin substrate varnish containing the component (A ′), the component (F), the component (E ′) and an organic solvent as a suitable base film. It can be easily manufactured by applying and removing the solvent. The resin film thus obtained can be easily stored, for example, by winding it into a roll. Alternatively, a roll-shaped film can be cut into a suitable size and stored in a sheet shape.

有機溶剤としては、該樹脂組成物を溶解しえるものであれば特に制限はなく、例えば、トルエン、キシレン、メシチレン、クメン、p−シメン等の芳香族炭化水素;ヘキサン、ヘプタン等の脂肪族炭化水素;メチルシクロヘキサン等の環状アルカン;テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン等の環状エーテル;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン等のケトン;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン等のエステル;エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート等の炭酸エステル;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミドなどが挙げられる。これらの中で、溶解性及び沸点の観点から、トルエン、キシレン、ヘプタン及びシクロヘキサンからなる群より選択される少なくとも一種であることが好ましい。これらの有機溶剤は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。樹脂ワニス中の固形分濃度は、通常20〜80質量%であることが好ましい。   The organic solvent is not particularly limited as long as it can dissolve the resin composition. For example, aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene, mesitylene, cumene and p-cymene; aliphatic carbonization such as hexane and heptane. Hydrogen; Cyclic alkanes such as methylcyclohexane; Cyclic ethers such as tetrahydrofuran and 1,4-dioxane; Ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, 4-hydroxy-4-methyl-2-pentanone; Methyl acetate, acetic acid Esters such as ethyl, butyl acetate, methyl lactate, ethyl lactate and γ-butyrolactone; carbonates such as ethylene carbonate and propylene carbonate; amides such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone Can be mentionedAmong these, from the viewpoints of solubility and boiling point, it is preferably at least one selected from the group consisting of toluene, xylene, heptane and cyclohexane. These organic solvents can be used alone or in combination of two or more. It is preferable that the solid content concentration in the resin varnish is usually 20 to 80% by mass.

基材フィルムを構成する材料としては、特に制限はなく、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル;ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン;ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエーテルスルフィド、ポリエーテルスルホン、ポリエーテルケトン、ポリフェニレンエーテル、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、ポリスルホン、液晶ポリマなどが挙げられる。基材フィルムを構成する材料は、柔軟性及び強靭性の観点から、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリフェニレンエーテル、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート又はポリスルホンであることが好ましい。   The material constituting the base film is not particularly limited. For example, polyesters such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate; polyolefins such as polyethylene and polypropylene; polycarbonates, polyamides, polyimides, polyamideimides, polyetherimides , Polyether sulfide, polyether sulfone, polyether ketone, polyphenylene ether, polyphenylene sulfide, polyarylate, polysulfone, liquid crystal polymer, and the like. The materials constituting the base film are polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polypropylene, polycarbonate, polyamide, polyimide, polyamideimide, polyphenylene ether, polyphenylene sulfide, polyarylate or polysulfone from the viewpoints of flexibility and toughness. It is preferable that

基材フィルムの厚さは、目的とする柔軟性により適宜変えてよいが、3〜250μmであることが好ましい。3μm以上であるとフィルム強度が十分であり、250μm以下であると十分な柔軟性が得られる。以上の観点から、5〜200μmであることがより好ましく、7〜150μmであることが更に好ましい。なお、フィルム状の樹脂組成物(b)との剥離性向上の観点から、シリコーン系化合物、含フッ素化合物等により離型処理が施されたフィルムを必要に応じて用いてもよい。   The thickness of the base film may be appropriately changed depending on the intended flexibility, but is preferably 3 to 250 μm. When it is 3 μm or more, the film strength is sufficient, and when it is 250 μm or less, sufficient flexibility is obtained. From the above viewpoint, the thickness is more preferably 5 to 200 μm, and further preferably 7 to 150 μm. In addition, from the viewpoint of improving releasability from the film-like resin composition (b), a film that has been subjected to a release treatment with a silicone compound, a fluorine-containing compound, or the like may be used as necessary.

基材フィルム上に樹脂ワニスを塗布して製造した樹脂フィルムは、必要に応じて保護フィルムをフィルム状の樹脂組成物(b)上に貼り付け、基材フィルム、フィルム状の樹脂組成物(b)及び保護フィルムからなる3層構造としてもよい。   A resin film produced by applying a resin varnish on a base film is applied with a protective film on the film-like resin composition (b) as necessary, and the base film and the film-like resin composition (b ) And a protective film.

保護フィルムとしては、特に制限はなく、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル;ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィンなどが挙げられる。これらの中で、柔軟性及び強靭性の観点から、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル;ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィンであることが好ましい。なお、フィルム状の樹脂組成物(b)との剥離性向上の観点から、シリコーン系化合物、含フッ素化合物などにより離型処理が施されたフィルムを必要に応じて用いてもよい。保護フィルムの厚みは、目的とする柔軟性により適宜変えてよいが、10〜250μmであることが好ましい。10μm以上であるとフィルム強度が十分であり、250μm以下であると十分な柔軟性が得られる。以上の観点から、15〜200μmであることがより好ましく、20〜150μmであることが更に好ましい。   The protective film is not particularly limited, and examples thereof include polyesters such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate; polyolefins such as polyethylene and polypropylene. Among these, from the viewpoint of flexibility and toughness, polyesters such as polyethylene terephthalate; polyolefins such as polyethylene and polypropylene are preferable. In addition, from the viewpoint of improving releasability from the film-like resin composition (b), a film subjected to a release treatment with a silicone compound, a fluorine-containing compound, or the like may be used as necessary. The thickness of the protective film may be appropriately changed depending on the intended flexibility, but is preferably 10 to 250 μm. When it is 10 μm or more, the film strength is sufficient, and when it is 250 μm or less, sufficient flexibility is obtained. From the above viewpoint, the thickness is more preferably 15 to 200 μm, further preferably 20 to 150 μm.

フィルム状の樹脂組成物(b)は、ウェアラブル機器用可撓性基材、電気回路保護層、封止樹脂として好適であり、特に、ウェアラブル機器用の樹脂封止材として好適である。同様に本実施形態に係る樹脂フィルムは、ウェアラブル機器用可撓性基材、電気回路保護層、封止フィルムとして好適である。   The film-like resin composition (b) is suitable as a flexible substrate for wearable devices, an electrical circuit protective layer, and a sealing resin, and particularly suitable as a resin sealing material for wearable devices. Similarly, the resin film according to the present embodiment is suitable as a flexible substrate for wearable devices, an electrical circuit protective layer, and a sealing film.

以上、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法について説明したが、本実施形態に係る回路基板装置の製造方法は上記態様に限定されない。   The manufacturing method of the circuit board device according to the present embodiment has been described above, but the manufacturing method of the circuit board device according to the present embodiment is not limited to the above aspect.

例えば、フィルム状の樹脂組成物(b)に代えて、硬化後に伸縮性を有する液状の樹脂組成物(c)を用いてもよい。液状の樹脂組成物(c)は、例えば、上述の液状の樹脂組成物(a)として用いることができる樹脂組成物であってよく、フィルム状の樹脂組成物(b)を、好適な有機溶剤を用いて希釈し、樹脂ワニスとしたものであってもよい。ここで用いる有機溶剤は上述の有機溶剤と同様である。   For example, instead of the film-like resin composition (b), a liquid resin composition (c) having elasticity after curing may be used. The liquid resin composition (c) may be, for example, a resin composition that can be used as the above-described liquid resin composition (a), and the film-like resin composition (b) is replaced with a suitable organic solvent. The resin varnish may be diluted with The organic solvent used here is the same as the organic solvent described above.

以下の本発明の実施例をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例になんら限定されるものではない。   The following examples of the present invention will be described more specifically, but the present invention is not limited to these examples.

<樹脂組成物の調製>
[硬化後に伸縮性のある液状の樹脂組成物(a)LB1の調製]
(A)成分として、水添スチレンイソプレン共重合ポリマー((株)クラレ製、商品名「セプトン2002」)30質量部、(B)成分として、イソデシルアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「SR395」)30質量部、(C)成分として4−tert−ブチルシクロヘキサノールアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「SR217」)37質量部、(D)成分としてトリシクロデカンジメタノールジアクリレート(新中村化学工業(株)製、商品名「NKエステルA−DCP」)2質量部、(E)成分として、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキシド(BASF社製、商品名「イルガキュア819」)1質量部を500mlフラスコに加え、一定温度(60℃)で攪拌して混合し、液状の樹脂組成物(a)LB1を得た。
<Preparation of resin composition>
[Preparation of liquid resin composition (a) LB1 having elasticity after curing]
As component (A), 30 parts by mass of a hydrogenated styrene isoprene copolymer (trade name “Septon 2002” manufactured by Kuraray Co., Ltd.), and as component (B), isodecyl acrylate (manufactured by Arkema Co., Ltd., product name “ SR395 ") 30 parts by mass, (C) component 4-tert-butylcyclohexanol acrylate (manufactured by Arkema Co., Ltd., trade name" SR217 ") 37 parts by mass, (D) component tricyclodecane dimethanol diacrylate ( Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., trade name “NK Ester A-DCP”) 2 parts by mass, as component (E), bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) phenylphosphine oxide (manufactured by BASF, trade name) "Irgacure 819") 1 part by weight is added to a 500 ml flask and mixed by stirring at a constant temperature (60 ° C). It was obtained Narubutsu (a) LB1.

[樹脂ワニスVA1の調製]
(A’)成分として、水素添加型スチレンブタジエンラバー(JSR(株)製、商品名「ダイナロン2324P」重量平均分子量:1.0×10)80質量部、(F)成分として、ノナンジオールジアクリレート(日立化成(株)製、商品名「ファンクリルFA−129AS」)20質量部、(E’)成分として、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキシド(BASF社製、商品名「イルガキュア819」)1.5質量部、及び溶剤としてトルエン125質量部を攪拌しながら混合し、樹脂ワニスVA1を得た。
[Preparation of resin varnish VA1]
As component (A ′), hydrogenated styrene butadiene rubber (manufactured by JSR Corporation, trade name “Dynalon 2324P”, weight average molecular weight: 1.0 × 10 5 ), 80 parts by mass, and as component (F), nonanediol di 20 parts by mass of acrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name “Fancryl FA-129AS”), (E ′) component, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) phenylphosphine oxide (manufactured by BASF Name “Irgacure 819”) 1.5 parts by mass and 125 parts by mass of toluene as a solvent were mixed with stirring to obtain a resin varnish VA1.

[フィルム状の樹脂組成物(b)FA1の作製]
基材フィルムに表面離型処理PETフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製、商品名「ピューレックスA31」、厚さ:25μm)を用い、この離型処理面上にナイフコータ((株)康井精機製、商品名「SNC−350」)を用いて樹脂ワニスVA1を塗布した。次いで、乾燥機((株)二葉科学製、商品名「MSO−80TPS」)中、100℃で20分乾燥した後、保護フィルムとして前記表面離型処理PETフィルムを離型処理面が樹脂側になるよう貼付け、フィルム状の樹脂組成物(b)FA1を得た。フィルム状の樹脂組成物(b)FA1の厚さは、塗工機のギャップを調節することで任意に調整可能であるが、本実施例では硬化後の膜厚が、100μmとなるように調節した。
[Production of Film Resin Composition (b) FA1]
Surface release-treated PET film (manufactured by Teijin DuPont Films, trade name “Purex A31”, thickness: 25 μm) is used as a base film, and a knife coater (Yasui Seiki Co., Ltd.) is formed on the release-treated surface. The resin varnish VA1 was applied using a product name “SNC-350”). Next, after drying for 20 minutes at 100 ° C. in a dryer (trade name “MSO-80TPS”, manufactured by Futaba Kagaku Co., Ltd.), the surface release treatment PET film is placed on the resin side as a protective film. The film-shaped resin composition (b) FA1 was obtained. The thickness of the film-like resin composition (b) FA1 can be arbitrarily adjusted by adjusting the gap of the coating machine, but in this example, the thickness after curing is adjusted to 100 μm. did.

上記方法と同様にして、表1〜3に示す配合比に従い、液状の樹脂組成物(a)LB2〜LB14を得た。なお、表1〜3において、「カヤフレックスBPAM−155」は(A)スチレン系エラストマではないが、便宜上、(A)成分として記載した。   In the same manner as in the above method, liquid resin compositions (a) LB2 to LB14 were obtained according to the blending ratios shown in Tables 1 to 3. In Tables 1 to 3, “Kayaflex BPAM-155” is not (A) a styrene elastomer, but is described as a component (A) for convenience.

<樹脂硬化物の評価>
[物性評価用の硬化膜の作製]
表面離型処理PETフィルム(帝人デュポンフィルム(株)製、商品名「ピューレックスA31」、厚さ:25μm)を用い、この離型処理面上にナイフコータ((株)康井精機製、商品名「SNC−350」)を用いて液状の樹脂組成物(a)LB1〜LB14を塗布した。その後、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射し、物性評価用の硬化膜(樹脂硬化物(a)からなる膜)を得た。このとき硬化膜の厚さは、塗工機のギャップを調節することで任意に調整可能であるが、本実施例では硬化後の膜厚が100μmとなるように調節した。
<Evaluation of cured resin>
[Preparation of cured film for physical property evaluation]
Surface release treatment PET film (trade name “Purex A31”, manufactured by Teijin DuPont Films Co., Ltd., thickness: 25 μm) is used, and knife coater (manufactured by Yasui Seiki Co., Ltd., product name) on this release treatment surface. The liquid resin compositions (a) LB1 to LB14 were applied using “SNC-350”). Thereafter, ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) were irradiated with an exposure amount of 2000 mJ / cm 2 with an ultraviolet exposure machine (trade name “ML-320FSAT” manufactured by Mikasa Co., Ltd.), and a cured film for evaluating physical properties (resin cured product) A film comprising (a) was obtained. At this time, the thickness of the cured film can be arbitrarily adjusted by adjusting the gap of the coating machine, but in this example, the thickness after curing was adjusted to 100 μm.

[弾性率、伸び率の評価]
上記で得られた物性評価用の硬化膜を長さ40mm、幅10mmの短冊状に切り出し、測定用サンプルを作製した。この測定用サンプルの弾性率及び伸び率を、25℃の環境の下、オートグラフ((株)島津製作所製、商品名「EZ−S」)を用い、応力−ひずみ曲線を測定し、そのグラフ(応力−ひずみ曲線)から硬化膜の弾性率及び伸び率を求めた。測定時のチャック間距離は20mm、引っ張り速度は50mm/minとした。なお、ここでは、弾性率は加重0.5から1.0Nにおける値を測定し、伸び率はフィルムが破断した際の値(破断伸び率)を測定した。結果を表1〜3に示す。
[Evaluation of elastic modulus and elongation]
The cured film for physical property evaluation obtained above was cut into a strip shape having a length of 40 mm and a width of 10 mm to prepare a measurement sample. The elastic modulus and elongation of the measurement sample were measured under an environment of 25 ° C. using an autograph (manufactured by Shimadzu Corporation, trade name “EZ-S”), and a stress-strain curve was measured. The elastic modulus and elongation of the cured film were determined from (stress-strain curve). The distance between chucks at the time of measurement was 20 mm, and the pulling speed was 50 mm / min. In addition, the elasticity modulus measured here the value in the load of 0.5 to 1.0N, and the elongation rate measured the value at the time of a film fracture | rupture (breaking elongation rate). The results are shown in Tables 1-3.

[伸縮回復率の評価]
上記で得られた物性評価用の硬化膜を長さ70mm、幅5mmの短冊状に切り出し、測定用サンプルを作製した。この測定用サンプルの伸縮回復率を、25℃の環境の下、マイクロフォース試験機(Illinois Tool Works Inc製、商品名「Instron 5948」)を用い測定した。ここで伸縮回復率とは、1回目の引っ張り試験で加えた変位量(ひずみ)をX、次に初期位置に戻し再度引っ張り試験を行ったときに荷重が掛かり始めるときの位置とXとの差をYとし、式:R(%)=Y/X×100で計算されるRを指す。本測定では初期長さ(チャック間の距離)を50mm、Xを25mm(ひずみ50%)とした。結果を表1〜3に示す。
[Evaluation of stretch recovery rate]
The cured film for physical property evaluation obtained above was cut into a strip shape having a length of 70 mm and a width of 5 mm to prepare a measurement sample. The expansion / contraction recovery rate of the measurement sample was measured using a microforce tester (manufactured by Illinois Tool Works Inc., trade name “Instron 5948”) in an environment of 25 ° C. Here, the expansion / contraction recovery rate is the difference between X when the displacement amount (strain) applied in the first tensile test is X, and then when the tensile test is performed again after returning to the initial position and when the load starts to be applied. Is Y, and refers to R calculated by the formula: R (%) = Y / X × 100. In this measurement, the initial length (distance between chucks) was 50 mm, and X was 25 mm (strain 50%). The results are shown in Tables 1-3.

[全光線透過率、YI、ヘイズの評価]
上記で得られた物性評価用の硬化膜を長さ30mm、幅30mmの短冊状に切り出し、測定用サンプルを作製した。この測定用サンプルの全光線透過率、YI(Yellowness Index)及びヘイズを、25℃の環境の下、分光ヘイズメータ(日本電色工業(株)製、商品名「SH7000」)を用いて測定した。結果を表1〜3に示す。
[Evaluation of total light transmittance, YI, haze]
The cured film for physical property evaluation obtained above was cut into a strip shape having a length of 30 mm and a width of 30 mm to prepare a measurement sample. The total light transmittance, YI (Yellowness Index) and haze of this measurement sample were measured using a spectroscopic haze meter (manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd., trade name “SH7000”) under an environment of 25 ° C. The results are shown in Tables 1-3.

[密着性の評価]
厚さ50μmのポリイミドフィルム(東レ・デュポン(株)製、商品名「カプトン100H」)上にナイフコータ((株)康井精機製、商品名「SNC−350」)を用いて液状の樹脂組成物(a)LB1〜LB14を、硬化後の膜厚が100μmになるように塗布した。その後、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射した。その後、得られた硬化膜を長さ50mm、幅10mmの短冊状に切り出し、評価用サンプルを得た。得られた評価用サンプルの硬化膜側を接着剤(セメダイン(株)製、商品名「セメダインスーパーXゴールド」)を用いて銅板に固定し、25℃の環境の下、オートグラフ((株)島津製作所製、商品名「EZ−S」)を用いて、銅板に固定した硬化膜からポリイミドフィルムを剥離し、密着強度を測定することにより密着性を評価した。ポリイミドフィルムの剥離は、硬化膜と剥離したポリイミドフィルムが90度の角度を成すように50mm/minの速度でポリイミドフィルムを引き剥がすことにより行った。結果を表1〜3に示す。
[Evaluation of adhesion]
Liquid resin composition using a knife coater (trade name “SNC-350”, manufactured by Yasui Seiki Co., Ltd.) on a polyimide film (trade name “Kapton 100H”, manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.) having a thickness of 50 μm. (A) LB1 to LB14 were applied so that the film thickness after curing was 100 μm. Thereafter, ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) were irradiated with an exposure amount of 2000 mJ / cm 2 using an ultraviolet exposure machine (trade name “ML-320FSAT” manufactured by Mikasa Co., Ltd.). Thereafter, the obtained cured film was cut into a strip having a length of 50 mm and a width of 10 mm to obtain a sample for evaluation. The cured film side of the obtained sample for evaluation was fixed to a copper plate using an adhesive (trade name “Cemedine Super X Gold” manufactured by Cemedine Co., Ltd.), and the autograph (Co., Ltd.) under an environment of 25 ° C. Using a product name “EZ-S” manufactured by Shimadzu Corporation, the polyimide film was peeled from the cured film fixed to the copper plate, and the adhesion strength was evaluated by measuring the adhesion strength. The polyimide film was peeled off by peeling off the polyimide film at a speed of 50 mm / min so that the cured film and the peeled polyimide film formed an angle of 90 degrees. The results are shown in Tables 1-3.

Figure 2018116958
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1)水添スチレンイソプレン共重合ポリマー((株)クラレ製、商品名「セプトン2002」)、重量平均分子量:55,000
2)水素添加型スチレンブタジエン共重合ポリマー(クレイトンポリマージャパン(株)製、商品名「クレイトンMD6951」)、重量平均分子量:60,000
3)ゴム変性ポリアミド(日本化薬(株)製、商品名「カヤフレックスBPAM−155」)、重量平均分子量:31,000
4)イソデシルアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「サートマーSR395」)
5)イソオクチルアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「サートマーSR440」)
6)ラウリルアクリレート(大阪有機化学工業(株)製、商品名「LA」)
7)4−tert−ブチルシクロヘキサノールアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「サートマーSR217」)
8)3,3,5−トリメチルシクロヘキサノールアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「サートマーSR420」)
9)トリシクロデシルアクリレート(日立化成(株)製、商品名「ファンクリルFA−513AS」)
10)シクロヘキシルアクリレート(日油(株)製、商品名「ブレンマーCHA」)
11)トリシクロデカンジメタノールジアクリレート(新中村化学工業(株)製、商品名「NKエステルA−DCP」)
12)シクロヘキサンジメタノールジアクリレート(アルケマ(株)製、商品名「サートマーCD406」)
13)ノナンジオールジアクリレート(日立化成(株)製、商品名「ファンクリルFA−129AS」)
14)ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキシド(BASFジャパン(株)製、商品名「イルガキュア819」)
1) Hydrogenated styrene isoprene copolymer (trade name “Septon 2002” manufactured by Kuraray Co., Ltd.), weight average molecular weight: 55,000
2) Hydrogenated styrene-butadiene copolymer (Clayton Polymer Japan Co., Ltd., trade name “Clayton MD6951”), weight average molecular weight: 60,000
3) Rubber-modified polyamide (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name “Kayaflex BPAM-155”), weight average molecular weight: 31,000
4) Isodecyl acrylate (trade name “Sartomer SR395” manufactured by Arkema Co., Ltd.)
5) Isooctyl acrylate (manufactured by Arkema Co., Ltd., trade name “Sartomer SR440”)
6) Lauryl acrylate (manufactured by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd., trade name “LA”)
7) 4-tert-butylcyclohexanol acrylate (manufactured by Arkema Co., Ltd., trade name “Sartomer SR217”)
8) 3,3,5-trimethylcyclohexanol acrylate (manufactured by Arkema Co., Ltd., trade name “Sartomer SR420”)
9) Tricyclodecyl acrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name “Fancryl FA-513AS”)
10) Cyclohexyl acrylate (manufactured by NOF Corporation, trade name “Blemmer CHA”)
11) Tricyclodecane dimethanol diacrylate (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., trade name “NK Ester A-DCP”)
12) Cyclohexanedimethanol diacrylate (trade name “Sartomer CD406” manufactured by Arkema Co., Ltd.)
13) Nonanediol diacrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name “Fancryl FA-129AS”)
14) Bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) phenylphosphine oxide (manufactured by BASF Japan Ltd., trade name “Irgacure 819”)

LB1〜10は表1〜3に示したように、光ラジカル重合させることによって得られる樹脂硬化物が伸縮性(伸び率及び伸縮回復率)及び密着性に優れている。(B)成分を含まない組成であるLB12、及び、(D)成分を過剰に含む組成であるLB13では、弾性率があがり、伸び率及び伸縮回復性が大きく低下した。また、LB14は、(A)成分を含まない組成であり、伸び率及び伸縮回復性が大きく低下した。   As shown in Tables 1 to 3, LB1 to LB10 are excellent in stretchability (elongation rate and stretch recovery rate) and adhesion as a cured resin obtained by photoradical polymerization. In LB12 which is a composition which does not contain (B) component, and LB13 which is a composition which contains (D) component excessively, an elasticity modulus rose and elongation rate and expansion-contraction recovery property fell significantly. Moreover, LB14 is a composition which does not contain (A) component, and elongation rate and expansion-contraction recovery property fell significantly.

(実施例1)
[半導体装置Aの作製]
銅めっきされたポリイミド基板上に、厚さ1.2mm、サイズ10mm×10mmのSOPを実装して半導体装置Aを得た。
Example 1
[Fabrication of Semiconductor Device A]
A SOP having a thickness of 1.2 mm and a size of 10 mm × 10 mm was mounted on a copper-plated polyimide substrate to obtain a semiconductor device A.

[半導体装置Bの作製]
銅めっきされたポリイミド基板上に、厚さ0.1mm、サイズ10mm×10mmのシリコンチップを実装して半導体装置Bを得た。
[Fabrication of Semiconductor Device B]
A semiconductor device B was obtained by mounting a silicon chip having a thickness of 0.1 mm and a size of 10 mm × 10 mm on a copper-plated polyimide substrate.

[回路基板Cの作製]
メタロイヤル(東レフィルム加工(株)製、商品名、カプトンEN:25μm、めっき銅:7.5μm、「メタロイヤル」は登録商標)上の銅箔をエッチングして、くし形パターン(金めっき無、ライン35μm、スペース35μm、リード本数:マイナス側35本、プラス側34本)を形成し、回路基板Cを得た。
[Fabrication of circuit board C]
Metal foil (product name, Kapton EN: 25 μm, plated copper: 7.5 μm, “METAL ROYAL” is a registered trademark) is etched on the metal foil and comb pattern (no gold plating) , Line 35 μm, space 35 μm, number of leads: minus side 35, plus side 34), and circuit board C was obtained.

[外観評価用の半導体装置の作製]
半導体装置Aの実装面に液状の樹脂組成物(a)LB1をディスペンス法により塗布してSOPを封止した後、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射した。これにより、外観評価用の半導体装置を得た。
[Fabrication of semiconductor device for appearance evaluation]
After applying the liquid resin composition (a) LB1 to the mounting surface of the semiconductor device A by the dispensing method and sealing the SOP, with an ultraviolet exposure machine (trade name “ML-320FSAT” manufactured by Mikasa Co., Ltd.) Ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) were irradiated at an exposure amount of 2000 mJ / cm 2 . Thereby, a semiconductor device for appearance evaluation was obtained.

[剥離・割れ評価用の半導体装置の作製]
半導体装置Aに代えて半導体装置Bを用いたこと以外は、外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、剥離・割れ評価用の半導体装置を得た。
[Fabrication of semiconductor device for peeling / cracking evaluation]
Except for using the semiconductor device B instead of the semiconductor device A, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation was obtained in the same manner as the production of the semiconductor device for appearance evaluation.

[接続信頼性評価用の回路基板の作製]
半導体装置Aに代えて回路基板Cを用いたこと以外は、外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、接続信頼性評価用の回路基板を得た。
[Production of circuit board for connection reliability evaluation]
A circuit board for connection reliability evaluation was obtained in the same manner as the production of the semiconductor device for appearance evaluation, except that the circuit board C was used instead of the semiconductor device A.

(実施例2)
LB1に代えてLB2を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 2)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB2 was used instead of LB1.

(実施例3)
LB1に代えてLB3を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 3)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB3 was used instead of LB1.

(実施例4)
LB1に代えてLB4を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
Example 4
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peel / crack evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB4 was used instead of LB1.

(実施例5)
LB1に代えてLB5を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 5)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB5 was used instead of LB1.

(実施例6)
LB1に代えてLB6を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 6)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB6 was used instead of LB1.

(実施例7)
LB1に代えてLB7を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 7)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB7 was used instead of LB1.

(実施例8)
LB1に代えてLB8を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 8)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB8 was used instead of LB1.

(実施例9)
LB1に代えてLB9を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
Example 9
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB9 was used instead of LB1.

(実施例10)
LB1に代えてLB10を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 10)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB10 was used instead of LB1.

(実施例11)
[外観評価用の半導体装置の作製]
真空ラミネータ(ニッコー・マテリアルズ(株)製、商品名「V130」)を用いて、下記の条件で、実施例1で得た外観評価用の半導体装置の実装面にフィルム状の樹脂組成物(b)FA1をラミネートした。
・ヒーター温度:上部90℃、下部40℃
・時間:60s
・圧力:0.5MPa
(Example 11)
[Fabrication of semiconductor device for appearance evaluation]
Using a vacuum laminator (trade name “V130” manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.), a film-like resin composition (on the mounting surface of the semiconductor device for appearance evaluation obtained in Example 1 under the following conditions ( b) FA1 was laminated.
・ Heater temperature: upper 90 ℃, lower 40 ℃
・ Time: 60s
・ Pressure: 0.5 MPa

次いで、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名:「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射し、FA1を光硬化させることにより、外観評価用の半導体装置を得た。 Next, ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) are irradiated with an exposure amount of 2000 mJ / cm 2 with an ultraviolet exposure machine (trade name: “ML-320FSAT”, manufactured by Mikasa Co., Ltd.), and FA1 is photocured, whereby the external appearance is obtained. A semiconductor device for evaluation was obtained.

[剥離・割れ評価用の半導体装置の作製]
実施例1で得た剥離・割れ評価用の半導体装置を用いたこと以外は、上記外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、剥離・割れ評価用の半導体装置を得た。
[Fabrication of semiconductor device for peeling / cracking evaluation]
Except for using the semiconductor device for peeling / cracking evaluation obtained in Example 1, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation was obtained in the same manner as in the production of the semiconductor device for appearance evaluation.

[接続信頼性評価用の回路基板の作製]
実施例1で得た接続信頼性評価用の回路基板を用いたこと以外は、上記外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、接続信頼性評価用の回路基板を得た。
[Production of circuit board for connection reliability evaluation]
A circuit board for connection reliability evaluation was obtained in the same manner as in the production of the semiconductor device for appearance evaluation except that the circuit board for connection reliability evaluation obtained in Example 1 was used.

(実施例12)
[外観評価用の半導体装置の作製]
半導体装置Aを液状の樹脂組成物(a)LB1にディッピングした後、金網に載せ、不要なLB1を落とした。次いで、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射した。これにより、外観評価用の半導体装置を得た。
(Example 12)
[Fabrication of semiconductor device for appearance evaluation]
After dipping the semiconductor device A into the liquid resin composition (a) LB1, the semiconductor device A was placed on a wire mesh, and unnecessary LB1 was dropped. Next, ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) were irradiated at an exposure amount of 2000 mJ / cm 2 using an ultraviolet exposure machine (trade name “ML-320FSAT” manufactured by Mikasa Corporation). Thereby, a semiconductor device for appearance evaluation was obtained.

[剥離・割れ評価用の半導体装置の作製]
半導体装置Aに代えて半導体装置Bを用いたこと以外は、上記外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、剥離・割れ評価用の半導体装置を得た。
[Fabrication of semiconductor device for peeling / cracking evaluation]
Except that the semiconductor device B was used in place of the semiconductor device A, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation was obtained in the same manner as in the production of the semiconductor device for appearance evaluation.

[接続信頼性評価用の回路基板の作製]
半導体装置Aに代えて回路基板Cを用いたこと以外は、上記外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、接続信頼性評価用の回路基板を得た。
[Production of circuit board for connection reliability evaluation]
A circuit board for connection reliability evaluation was obtained in the same manner as the fabrication of the semiconductor device for appearance evaluation, except that the circuit board C was used instead of the semiconductor device A.

(実施例13)
[外観評価用の半導体装置の作製]
実施例12で得た外観評価用の半導体装置を用いたこと以外は、実施例11と同様にして、外観評価用の半導体装置を得た。
(Example 13)
[Fabrication of semiconductor device for appearance evaluation]
A semiconductor device for appearance evaluation was obtained in the same manner as in Example 11 except that the semiconductor device for appearance evaluation obtained in Example 12 was used.

[剥離・割れ評価用の半導体装置の作製]
実施例12で得た剥離・割れ評価用の半導体装置を用いたこと以外は、実施例11と同様にして、剥離・割れ評価用の半導体装置を得た。
[Fabrication of semiconductor device for peeling / cracking evaluation]
A semiconductor device for peeling / cracking evaluation was obtained in the same manner as in Example 11 except that the semiconductor device for peeling / cracking evaluation obtained in Example 12 was used.

[接続信頼性評価用の回路基板の作製]
実施例12で得た接続信頼性評価用の回路基板を用いたこと以外は、実施例11と同様にして、接続信頼性評価用の回路基板を得た。
[Production of circuit board for connection reliability evaluation]
A circuit board for connection reliability evaluation was obtained in the same manner as in Example 11 except that the circuit board for evaluation of connection reliability obtained in Example 12 was used.

(実施例14)
LB1に代えてLB2を用いたこと以外は実施例11と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(実施例15)
LB1に代えてLB11を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Example 14)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 11 except that LB2 was used instead of LB1.
(Example 15)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB11 was used instead of LB1.

(比較例1)
比較例1では、剥離・割れ評価用のサンプルとして、半導体装置Bを用意し、接続信頼性評価用のサンプルとして、回路基板Cを用意した。なお、比較例1では、外観評価は行わなかった。
(Comparative Example 1)
In Comparative Example 1, a semiconductor device B was prepared as a sample for peeling / cracking evaluation, and a circuit board C was prepared as a sample for evaluating connection reliability. In Comparative Example 1, no appearance evaluation was performed.

(比較例2)
比較例2では、電子部品に起因する段差を液状の樹脂組成物(a)で緩和しなかった。具体的には、真空ラミネータ(ニッコー・マテリアルズ(株)製、商品名「V130」)を用いて、下記の条件で、半導体装置A及びB並びに回路基板Cの実装面にフィルム状の樹脂組成物(b)FA1をラミネートし、次いで、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射し、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
・ヒーター温度:上部90℃、下部40℃
・時間:60s
・圧力:0.5MPa
(Comparative Example 2)
In Comparative Example 2, the step caused by the electronic component was not relaxed with the liquid resin composition (a). Specifically, using a vacuum laminator (product name “V130” manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.), a resin composition in the form of a film on the mounting surfaces of the semiconductor devices A and B and the circuit board C under the following conditions: The product (b) FA1 was laminated, and then irradiated with ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) at an exposure amount of 2000 mJ / cm 2 using an ultraviolet exposure machine (trade name “ML-320FSAT” manufactured by Mikasa Co., Ltd.). A semiconductor device for evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained.
・ Heater temperature: upper 90 ℃, lower 40 ℃
・ Time: 60s
・ Pressure: 0.5 MPa

(比較例3)
[外観評価用の半導体装置の作製]
半導体装置Aの実装面に液状の樹脂組成物(a)LB1をディスペンス法により塗布してSOPを封止した後、LB1を硬化せずに、真空ラミネータ(ニッコー・マテリアルズ(株)製、商品名「V130」)を用いて、下記の条件で、前記半導体装置Aの実装面にフィルム状の樹脂組成物(b)FA1をラミネートし、次いで、紫外線露光機(ミカサ(株)製、商品名「ML−320FSAT」)にて紫外線(波長:365nm)を2000mJ/cmの露光量で照射し、外観評価用の半導体装置を得た。
・ヒーター温度:上部90℃、下部40℃
・時間:60s
・圧力:0.5MPa
(Comparative Example 3)
[Fabrication of semiconductor device for appearance evaluation]
After applying the liquid resin composition (a) LB1 to the mounting surface of the semiconductor device A by the dispensing method and sealing the SOP, the LB1 is not cured, and a vacuum laminator (manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., product) The film-shaped resin composition (b) FA1 is laminated on the mounting surface of the semiconductor device A under the following conditions using the name “V130”), and then the ultraviolet exposure machine (Mikasa Co., Ltd., trade name) Ultraviolet rays (wavelength: 365 nm) were irradiated with an exposure dose of 2000 mJ / cm 2 with “ML-320FSAT”) to obtain a semiconductor device for appearance evaluation.
・ Heater temperature: upper 90 ℃, lower 40 ℃
・ Time: 60s
・ Pressure: 0.5 MPa

[剥離・割れ評価用の半導体装置の作製]
半導体装置Aに代えて半導体装置Bを用いたこと以外は、上記外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、剥離・割れ評価用の半導体装置を得た。
[Fabrication of semiconductor device for peeling / cracking evaluation]
Except that the semiconductor device B was used in place of the semiconductor device A, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation was obtained in the same manner as in the production of the semiconductor device for appearance evaluation.

[接続信頼性評価用の回路基板の作製]
半導体装置Aに代えて回路基板Cを用いたこと以外は、上記外観評価用の半導体装置の作製と同様にして、接続信頼性評価用の回路基板を得た。
[Production of circuit board for connection reliability evaluation]
A circuit board for connection reliability evaluation was obtained in the same manner as the fabrication of the semiconductor device for appearance evaluation, except that the circuit board C was used instead of the semiconductor device A.

(比較例4)
LB1に代えてLB12を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Comparative Example 4)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB12 was used instead of LB1.

(比較例5)
LB1に代えてLB13を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Comparative Example 5)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peel / crack evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB13 was used instead of LB1.

(比較例6)
LB1に代えてLB14を用いたこと以外は実施例1と同様にして、外観評価用の半導体装置、剥離・割れ評価用の半導体装置及び接続信頼性評価用の回路基板を得た。
(Comparative Example 6)
A semiconductor device for appearance evaluation, a semiconductor device for peeling / cracking evaluation, and a circuit board for connection reliability evaluation were obtained in the same manner as in Example 1 except that LB14 was used instead of LB1.

<実装評価>
実施例1〜15及び比較例1〜6について、外観評価、剥離・割れ評価、接続信頼性評価を行った。
<Mounting evaluation>
About Examples 1-15 and Comparative Examples 1-6, external appearance evaluation, peeling / cracking evaluation, and connection reliability evaluation were performed.

(段差追従性の評価:外観評価)
外観評価用の半導体装置を目視で観察し段差追従性の評価を行った。気泡が含まれていない場合を「A」とし、気泡が含まれていた場合、又はその他不具合がある場合を「B」とした。結果を表4〜6に示す。
(Evaluation of step following ability: Appearance evaluation)
The semiconductor device for appearance evaluation was visually observed to evaluate the step following ability. The case where bubbles were not included was designated as “A”, and the case where bubbles were contained, or the case where there were other defects was designated as “B”. The results are shown in Tables 4-6.

(巻き付け試験:剥離・割れ評価)
剥離・割れ評価用の半導体装置を直径22mmの管に巻き付けることにより、半導体装置に折り曲げ及び引っ張りによる応力を加えた。その後、半導体装置を目視で観察しシリコンチップの剥離及び割れの有無を評価した。変化がない場合を「A」とし、シリコンチップのはく離又は割れが発生した場合を「B」とした。結果を表4〜6に示す。
(Winding test: peeling / cracking evaluation)
A semiconductor device for peeling / cracking evaluation was wound around a tube having a diameter of 22 mm, thereby applying stress by bending and pulling to the semiconductor device. Thereafter, the semiconductor device was visually observed to evaluate the presence or absence of peeling and cracking of the silicon chip. The case where there was no change was designated as “A”, and the case where peeling or cracking of the silicon chip occurred was designated as “B”. The results are shown in Tables 4-6.

(耐HAST性の測定:接続信頼性評価)
接続信頼性評価用の回路基板を加速寿命試験装置(HIRAYAMA製、商品名「PL−422R8」)に設置し、130℃、85%、100時間の条件で、絶縁抵抗を測定した。接続信頼性の評価では、100時間を通して、絶縁抵抗が10Ωを超えるものを「A」とし、10Ω未満のものを「B」とした。結果を表4〜6に示す。
(Measurement of HAST resistance: connection reliability evaluation)
A circuit board for connection reliability evaluation was placed in an accelerated life test apparatus (trade name “PL-422R8” manufactured by HIRAYAMA), and the insulation resistance was measured under the conditions of 130 ° C., 85%, 100 hours. In the evaluation of connection reliability, over 100 hours, the case where the insulation resistance exceeded 10 6 Ω was “A”, and the case where the insulation resistance was less than 10 6 Ω was “B”. The results are shown in Tables 4-6.

Figure 2018116958
Figure 2018116958

Figure 2018116958
Figure 2018116958

Figure 2018116958

*光硬化させず
Figure 2018116958

* No photo-curing

比較例1は、剥離・割れ評価においてシリコンチップの割れがあった。接続信頼性評価では、1時間未満で抵抗が下がり始め、絶縁抵抗が10Ω未満となった。比較例2は、真空ラミネートを実施した際に、SOPのピン部分を十分に埋め込むことができず、ピン部分と樹脂組成物との間に空隙が生じた状態となっていた。比較例3は、液状の樹脂組成物(a)が硬化されず液状のままであったため、真空ラミネートの真空引きが出来ず、フィルム状の樹脂組成物(b)を形成できなかった。比較例4及び5は、外観評価及び接続信頼性はAであったが、剥離・割れ評価はBであった。比較例6は、外観評価はAであったが、剥離・割れ評価及び接続信頼性はBであった。 In Comparative Example 1, there was a crack of the silicon chip in the peeling / cracking evaluation. In connection reliability evaluation, the resistance began to decrease in less than 1 hour, and the insulation resistance was less than 10 6 Ω. In Comparative Example 2, when the vacuum lamination was performed, the pin portion of the SOP could not be sufficiently embedded, and a gap was generated between the pin portion and the resin composition. In Comparative Example 3, since the liquid resin composition (a) was not cured and remained in a liquid state, the vacuum laminate could not be evacuated and a film-like resin composition (b) could not be formed. In Comparative Examples 4 and 5, appearance evaluation and connection reliability were A, but peeling / cracking evaluation was B. In Comparative Example 6, the appearance evaluation was A, but the peeling / cracking evaluation and the connection reliability were B.

1…液状の樹脂組成物(a)の硬化物、2…フィルム状の樹脂組成物(b)の硬化物、3…電子部材、4…回路基板、5…液状の樹脂組成物(a)、6…フィルム状の樹脂組成物(b)、10…回路基板装置(未封止)、50,100,200…回路基板装置(封止後)。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Hardened | cured material of liquid resin composition (a), 2 ... Hardened | cured material of film-like resin composition (b), 3 ... Electronic member, 4 ... Circuit board, 5 ... Liquid resin composition (a), 6 ... Film-like resin composition (b), 10 ... Circuit board device (unsealed), 50, 100, 200 ... Circuit board device (after sealing).

Claims (10)

変形可能な回路基板と、
前記回路基板の少なくとも一方の主面上に設けられた電子部材と、
前記電子部材の少なくとも一部を封止する樹脂硬化物と、を備える回路基板装置の製造方法であって、
前記電子部材が設けられた前記回路基板の主面上に液状の樹脂組成物(a)を設けることにより、前記電子部材を封止する封止工程と、
前記液状の樹脂組成物(a)を硬化させて前記樹脂硬化物を得る硬化工程と、を備え、
前記液状の樹脂組成物(a)として、硬化後の伸縮回復率が80%以上である樹脂組成物を用いる、回路基板装置の製造方法。
A deformable circuit board;
An electronic member provided on at least one main surface of the circuit board;
A resin cured product that seals at least a part of the electronic member, and a manufacturing method of a circuit board device comprising:
A sealing step of sealing the electronic member by providing a liquid resin composition (a) on the main surface of the circuit board provided with the electronic member;
A curing step of curing the liquid resin composition (a) to obtain the cured resin,
A method for producing a circuit board device, wherein a resin composition having a recovery rate of expansion / contraction after curing of 80% or more is used as the liquid resin composition (a).
前記樹脂組成物(a)が光硬化性である、請求項1に記載の回路基板装置の製造方法。   The method for manufacturing a circuit board device according to claim 1, wherein the resin composition (a) is photocurable. 前記回路基板が、少なくとも一方の主面上に変形可能な配線を有する、請求項1又は2に記載の回路基板装置の製造方法。   The method for manufacturing a circuit board device according to claim 1, wherein the circuit board has a deformable wiring on at least one main surface. 前記樹脂組成物(a)が
(A)スチレン系エラストマと、
(B)アルキル鎖を有する単官能の(メタ)アクリレートと、
(C)脂環式骨格を有する単官能の(メタ)アクリレートと、
(D)2個以上のエチレン性不飽和基を有する2官能以上の化合物と、
(E)重合開始剤と、を含有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の回路基板装置の製造方法。
The resin composition (a) is (A) a styrenic elastomer,
(B) a monofunctional (meth) acrylate having an alkyl chain;
(C) a monofunctional (meth) acrylate having an alicyclic skeleton;
(D) a bifunctional or higher functional compound having two or more ethylenically unsaturated groups;
(E) The manufacturing method of the circuit board apparatus as described in any one of Claims 1-3 containing a polymerization initiator.
前記(A)成分が水素添加型スチレン系エラストマである、請求項4に記載の回路基板装置の製造方法。   The method for manufacturing a circuit board device according to claim 4, wherein the component (A) is a hydrogenated styrene elastomer. 前記(E)成分が光ラジカル重合開始剤である、請求項4又は5に記載の回路基板装置の製造方法。   The method for manufacturing a circuit board device according to claim 4, wherein the component (E) is a radical photopolymerization initiator. 前記(B)成分における前記アルキル鎖の炭素数が12以下である、請求項4〜6のいずれか一項に記載の回路基板装置の製造方法。   The method for manufacturing a circuit board device according to claim 4, wherein the alkyl chain in the component (B) has 12 or less carbon atoms. 前記(D)成分の含有量が、前記(A)成分、前記(B)成分、前記(C)成分及び前記(D)成分の総量に対して、0.3〜20質量%である、請求項4〜7のいずれか一項に記載の回路基板装置の製造方法。   Content of the said (D) component is 0.3-20 mass% with respect to the total amount of the said (A) component, the said (B) component, the said (C) component, and the said (D) component. Item 8. A method for manufacturing a circuit board device according to any one of Items 4 to 7. 前記樹脂組成物(a)を硬化させた後、前記樹脂硬化物が形成された前記回路基板の主面上に、硬化後に伸縮性を有するフィルム状の樹脂組成物(b)を貼り付ける工程を更に備える、請求項1〜8のいずれか一項に記載の回路基板装置の製造方法。   After curing the resin composition (a), a step of attaching a film-like resin composition (b) having stretchability after curing onto the main surface of the circuit board on which the resin cured product is formed. Furthermore, the manufacturing method of the circuit board apparatus as described in any one of Claims 1-8 provided. 前記樹脂組成物(b)が、
(A’)スチレン系エラストマと、
(F)重合性化合物と、
(E’)重合開始剤と、を含有する、請求項9に記載の回路基板装置の製造方法。
The resin composition (b)
(A ′) a styrenic elastomer,
(F) a polymerizable compound;
(E ') The manufacturing method of the circuit board apparatus of Claim 9 containing a polymerization initiator.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2020184110A1 (en) * 2019-03-12 2020-09-17 積水ポリマテック株式会社 Photocurable composition and electronic board

Cited By (1)

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WO2020184110A1 (en) * 2019-03-12 2020-09-17 積水ポリマテック株式会社 Photocurable composition and electronic board

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