JP2018089079A - 自覚式検眼装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 被検者の顔の傾きを考慮し、より正確な乱視軸角度を測定することが可能な検眼装置を提供する。
【解決手段】 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を備え、矯正光学系の乱視軸角度成分に基づいて、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、被検眼の傾き情報を取得する取得手段と、取得手段によって、取得された傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルするための補正手段と、を備え、補正手段によって、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度が取得可能である。
【選択図】 図１

Description

本開示は、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定するための自覚式検眼装置に関する。

被検者眼の前に球面レンズや柱面（乱視）レンズ等の光学素子を配置し、配置された光学素子を通して被検者眼に視標を呈示することによって、被検者眼の屈折力等を検査（測定）する自覚式検眼装置が知られている（特許文献１参照）。このとき、被検者は、検査窓を覗き込むことによって、呈示された視標の見え具合を確認している。

特開平５−１７６８９３号公報

ところで、自覚式検眼装置において、測定時において、被検者の顔が傾くことがあり、被検眼に傾きが生じることあった。被検者眼が乱視軸角度を有している場合、被検者の顔が傾いた状態で被検眼の測定を行うと、被検眼の実際の乱視軸角度がわからなくなってしまうことがあった。このため、被検眼の乱視軸角度を精度よく測定することが困難な場合があった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、被検者の顔の傾きを考慮し、より正確な乱視軸角度を測定することが可能な検眼装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するため、本開示は以下の構成を備えることを特徴とする。

（１） 本開示の第１態様に係る自覚式検眼装置は、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を備え、前記矯正光学系の乱視軸角度成分に基づいて、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、被検眼の傾き情報を取得する取得手段と、前記取得手段によって、取得された前記傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルするための補正手段と、を備え、前記補正手段によって、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度が取得可能であることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る検眼プログラムは、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を備え、前記矯正光学系の乱視軸角度成分に基づいて、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定する自覚式検眼装置において用いられる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサによって実行されることで、左右の被検眼の前眼部画像を取得する前眼部取得ステップと、前記前眼部画像を解析して、被検眼の傾き情報を取得する取得ステップと、前記取得ステップによって、取得された前記傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルする補正ステップと、を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする。

本実施例に係る自覚式検眼装置の外観図である。 測定手段の構成を説明するための図である。 自覚式検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。 制御部が取得する傾き情報を説明するための図である。 乱視軸角度成分の補正を説明するための図である。 表示手段の表示画面の一例を示す図である。 傾き情報を位置情報から求める変容例を説明する図である。

＜概要＞
以下、典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１〜図９は、本実施形態に係る自覚式検眼装置及び検眼プログラムを説明するための図である。なお、本開示においては、本実施例に記載した装置に限定されない。例えば、下記実施例の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

以下、本開示における自覚式検眼装置について説明する。例えば、自覚式検眼装置としては、自覚式測定手段を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置としては、他覚式測定手段を備えていてもよい。なお、本実施例においては、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、をどちらも備えた自覚式検眼装置を例に挙げて説明する。

例えば、本実施形態において、自覚式検眼装置（例えば、自覚式検眼装置１）は、矯正光学系（例えば、矯正光学系６０）を備える。例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系の乱視軸角度成分に基づいて、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定する。例えば、矯正光学系は、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系（例えば、投光光学系３０）の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する。

例えば、自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報を取得する取得手段（例えば、制御部７０）を備える。例えば、自覚式検眼装置は、補正手段（例えば、制御部７０）を備える。例えば、補正手段は、取得手段によって、取得された傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルするために用いられる。例えば、自覚式検眼装置において、補正手段によって、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度が取得可能である。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報を取得する取得手段と、被検眼の傾き情報に基づいて被検眼の傾きをキャンセルするための補正手段と、を備え、被検眼の傾きがキャンセルされた状態における被検眼の乱視軸角度が取得可能である。これによって、検者は、自覚測定の際に被検者の被検眼が傾いていても、被検眼の乱視軸角度を精度良く測定することができる。

例えば、投光光学系は、視標光束を照射する光源（例えば、ディスプレイ３１）を有する。また、例えば、投光光学系は、視標光束を投影する光源から投影された視標光束を被検眼に向けて導光する少なくとも１つ以上の光学部材等を有してもよい。

例えば、視標光束を投影する光源としては、ディスプレイ（例えば、ディスプレイ３１）を用いる構成であってもよい。例えば、ディスプレイとしては、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）や有機ＥＬ（Electro Luminescence）等が用いられる。例えば、ディスプレイには、ランドルト環視標等の検査視標等が表示される。また、例えば、視標光束を投影する光源としては、ＤＭＤ（Digital Micromirror Device）を用いてもよい。一般的に、ＤＭＤは反射率が高く明るい。そのため、偏光を用いる液晶ディスプレイを用いた場合と比べ、視標光束の光量を維持できる。また、例えば、視標光束を投影する光源としては、視標呈示用可視光源と、視標板と、を有する構成であってもよい。この場合、例えば、視標板は、回転可能なディスク板であり、複数の視標を持つ。複数の視標は、例えば、自覚測定時に使用される視力検査用視標、等を含んでいる。例えば、視力検査用視標は、視力値毎の視標（視力値０．１、０．３、・・・、１．５）が用意されている。例えば、視標板はモータ等によって回転され、視標は、被検眼に視標光束が導光される光路上で切換え配置される。もちろん、視標光束を投影する光源としては、上記構成以外の光源を用いてもよい。

例えば、本実施形態において、投光光学系は、左右一対に設けられた右眼用投光光学系と左眼用投光光学系を有するようにしてもよい。例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とが、同一の部材によって構成されていてもよい。また、例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とで少なくとも一部の部材が異なる部材によって構成されていてもよい。例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とで少なくとも一部の部材が兼用されている構成であってもよい。また、例えば、右眼用投光光学系と左眼用投光光学系は、右眼用投光光学系を構成する部材と左眼用投光光学系を構成する部材とが、別途それぞれ設けられている構成であってもよい。

例えば、傾き情報は、被検眼が水平方向から傾いた傾斜角度であってもよい。言い換えると、例えば、傾き情報は、視標光軸（例えば、投光光学系３０における光軸Ｌ２）を中心とした傾き情報であってもよい。

例えば、取得手段は、被検眼の前眼部画像を解析（解析処理）して、被検眼の傾き情報を取得するようにしてもよい。この場合、例えば、自覚式検眼装置は、左右の被検眼の前眼部画像を取得するための前眼部取得手段（例えば、撮像光学系１００）を備えてもよい。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、左右の被検眼における前眼部画像を取得するための前眼部取得手段を備える。また、前眼部取得手段が取得した前眼部画像を解析する取得手段を備える。これによって、被検眼の前眼部画像を用いて、被検眼の傾き情報を容易に取得することができる。なお、例えば、前眼部取得手段は、自覚式検眼装置とは別途、異なる装置の撮像光学系によって撮影された前眼部画像を、受信することによって取得する構成であってもよい。

例えば、解析処理としては、各部位（例えば、黒目部分、虹彩部分、瞳孔部分、強膜部分（白目部分）等）を検出する処理であってもよい。また、例えば、解析処理としては、被検眼の角膜に指標を投影し、被検眼の角膜に形成される指標像を検出する処理であってもよい。もちろん、解析処理としては、各部位又は指標像とは異なる部位を検出する処理であってもよい。

例えば、解析処理によって、各部位又は指標像を検出する処理としては、エッジ検出を行う処理であってもよい。この場合、例えば、エッジ検出としては、輝度の立ち上がり、立ち下がりを検出する構成であってもよい。もちろん、解析処理としては、各部位又は指標像を画像処理によって検出できる処理であればよい。

例えば、取得手段は、解析処理によって各部位又は指標像を検出し、検出結果に基づいて、被検眼の傾き情報が取得されてもよい。例えば、被検眼の傾き情報は、瞳孔情報、角膜頂点情報、等の少なくともいずれかであってもよい。なお、被検眼の傾き情報とは、上記構成に限定されない。例えば、被検眼の傾き情報とは、被検眼の視線位置（視軸位置）が取得できる情報であってもよい。

例えば、被検眼の傾き情報を取得する際に瞳孔情報を用いる場合、取得手段は、前眼部画像を解析処理することによって、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、瞳孔位置に基づいて傾き情報を取得するようにしてもよい。例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、検出した瞳孔位置に基づいて傾き情報を取得する構成を備える。これによって、簡易的な構成で容易に被検眼の傾き情報を取得することができる。

例えば、被検眼の傾き情報を取得する際に角膜頂点情報を用いる場合、取得手段は、前眼部画像を解析処理することによって、左右の被検眼の角膜に投影された指標像を検出することで角膜頂点位置を検出し、検出した角膜頂点位置に基づいて傾き情報を取得する。なお、角膜頂点情報は、指標像を用いることなく、前眼部画像から角膜位置を検出することによって、取得する構成であってもよい。もちろん、例えば、傾き情報は、瞳孔位置情報及び角膜頂点位置情報から算出される情報であってよい。

なお、例えば、取得手段は、少なくとも１つ以上の左右の被検眼の前眼部画像に基づいて、傾き情報を取得するようにしてもよい。例えば、複数の左右の被検眼の前眼部画像を平均処理した前眼部画像を取得し、取得した前眼部画像を解析処理することによって、傾き情報を取得するようにしてもよい。また、例えば、複数の左右の被検眼の前眼部画像から傾き情報をそれぞれ取得し、取得された複数の傾き情報を平均処理することによって、傾き情報を取得するようにしてもよい。

例えば、左右の被検眼の前眼部画像を取得する構成として、前眼部取得手段は、１つの前眼部画像に左右の被検眼の前眼部が含まれるように前眼部画像を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、左右の前眼部を撮影範囲に含める範囲で撮影できる前眼部撮影光学系を用いて、前眼部の撮影を行うようにしてもよい。

また、例えば、左右の被検眼の前眼部画像を取得する構成として、同時に取得された複数の前眼部画像に左右の被検眼の前眼部が含まれるような前眼部画像を取得する構成であってもよい。例えば、左右の被検眼それぞれで１つずつ前眼部画像を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、左右の被検眼をそれぞれ撮影するために設けられた前眼部撮像光学系をそれぞれ設け、左右それぞれの前眼部撮像光学系によって左右の前眼部をそれぞれ撮影する構成であってもよい。また、この場合、例えば、１つの前眼部撮像光学系が左右の被検眼をそれぞれ撮影できる位置に移動して左右の前眼部画像を撮影する構成であってもよい。

なお、例えば、左右の被検眼の前眼部画像としては、左右の被検眼における黒目部分（例えば、瞳孔部分及び虹彩部分）を含む構成であってもよい。また、例えば、左右の被検眼の前眼部画像としては、左右の被検眼の瞳孔部分を含む構成であってもよい。また、例えば、左右の被検眼の前眼部画像としては、左右の被検眼全体を含む構成であってもよい。

例えば、矯正光学系は、左右一対に設けられた右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系を有してもよい。例えば、右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系は、被検眼に対してそれぞれ位置合わせができる構成であってもよい。この場合、例えば、取得手段は、右被検眼用矯正光学系を右の被検眼に位置合わせした際の第１位置情報と、左被検眼用矯正光学系を左の被検眼に位置合わせした際の第２位置情報と、を検出し、第１位置情報と、第２位置情報と、に基づいて、傾き情報を取得するようにしてもよい。

例えば、第１位置情報は、右被検眼用矯正光学系における光軸Ｌ２と、右被検眼ＥＲの視軸と、を位置合わせした際における、右被検眼用矯正光学系における少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。例えば、第２位置情報は、左被検眼用矯正光学系における光軸Ｌ２と、左被検眼ＥＬの視軸と、を位置合わせした際における、左被検眼用矯正光学系における少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置には、右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系が左右一対に設けられている。このため、被検眼が傾いた状態であっても、左右の被検眼に対して、それぞれの矯正光学系を正確に位置合わせすることができる。
また、例えば、本実施形態における自覚式検眼装置では、取得手段が、右被検眼用矯正光学系を右被検眼に位置合わせした際の第１位置情報と、左被検眼用矯正光学系を左被検眼に位置合わせした際の第２位置情報と、に基づいて被検眼の傾き情報を取得する。これによって、自覚測定における測定位置に位置合わせされた矯正光学系の位置情報を利用することができ、被検眼の傾きを精度よく取得することができる。

例えば、第１位置情報と第２位置情報は、矯正光学系の位置が特定できる情報であればよい。この場合、例えば、第１位置情報と第２位置情報は、矯正光学系の位置座標であってもよい。また、例えば、第１位置情報と第２位置情報は、矯正光学系の移動量であってもよい。

例えば、補正手段は、傾き情報に基づいて、矯正光学系の乱視軸角度成分を補正することで被検眼の傾きをキャンセルする構成であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系の乱視軸角度成分を補正する構成としては、矯正光学系が用いられてもよい。また、この場合、例えば、矯正光学系の乱視軸角度成分を補正する構成としては、別途、補正用の補正光学系が設けられてもよい。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報に基づいて、乱視矯正光学系における乱視軸角度成分を補正し、被検眼の傾きをキャンセルする。これによって、被検眼に傾きが生じていた場合には、その傾きを考慮した乱視軸角度成分が求められ、より精度の高い自覚測定を行うことができる。

また、例えば、補正手段は、傾き情報に基づいて、乱視軸角度成分を示す乱視軸角度成分情報を補正することで被検眼の傾きをキャンセルする構成であってもよい。この場合、例えば、補正手段は、補正された乱視軸角度成分情報を表示手段（例えば、モニタ４）に表示するようにしてもよい。

また、例えば、補正手段は、傾き情報と、乱視軸角度成分を示す乱視軸角度成分情報と、を表示手段（例えば、モニタ４）の同一画面上に表示することで、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度を取得可能とするようにしてもよい。これによって、被検眼に傾きが生じていた場合には、その傾きを考慮した乱視軸角度成分が求められ、より精度の高い自覚測定を行うことができる。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報に基づいて、乱視軸角度成分を示す乱視軸角度成分情報を補正し、被検眼の傾きをキャンセルする。これによって、被検眼に傾きが生じていた場合には、その傾きを考慮した乱視軸角度成分情報が求められる。すなわち、被検者の乱視軸角度成分が補正されていても、被検眼がもつ本来の乱視軸角度を、乱視軸角度成分情報として求めることができる。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、補正手段は、補正された乱視軸角度成分情報を、表示手段に表示する。すなわち、表示手段には、被検者の乱視軸角度成分が補正されていても、乱視軸角度成分情報として、被検者がもつ本来の乱視軸角度が表示される。これによって、検者は、被検眼が傾いていた場合であっても、被検者の乱視軸角度を容易に知ることができる。

例えば、矯正光学系は、視標光束の光学特性（例えば、球面度数、円柱度数、円柱軸、偏光特性、及び収差量、等の少なくともいずれか）を変更する構成であればよい。例えば、視標光束の光学特性を変更する構成として、光学素子を制御する構成であってもよい。例えば、光学素子としては、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム、波面変調素子等の少なくともいずれかを用いる構成であってもよい。もちろん、例えば、光学素子としては、上記記載の光学素子とは異なる光学素子を用いるようにしてもよい。

例えば、矯正光学系は、被検眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変えられることにより、被検眼の球面度数が矯正される構成であってもよい。この場合、例えば、視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変更する構成としては、光源（例えば、ディスプレイ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。また、この場合、例えば、光路中に配置された光学素子（例えば、球面レンズ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。もちろん、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と組み合わせた構成であってもよい。

例えば、矯正光学系としては、被検眼の眼前に配置される光学素子を切り換えて配置する検眼ユニット（フォロプタ）であってもよい。例えば、検眼ユニットは、複数の光学素子が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるための駆動手段と、を有し、駆動手段（例えば、モータ）の駆動により光学素子を電気的に切り換える構成であってもよい。

例えば、矯正光学系としては、投光光学系から視標光束を被検眼に向けて導光するための光学部材と、視標呈示手段と、間に光学素子を配置して、光学素子を制御することによって、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正手段としては、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束が光学部材を介して被検眼に導光される。

例えば、矯正光学系は、左右一対に設けられた右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系を有してもよい。この場合、例えば、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される光学部材であって、矯正光学系によって矯正された視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、を備えてもよい。

例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、において共有される光学部材を備える。この光学部材は、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する。このような自覚式検眼装置では被検眼に傾きが生じやすいが、被検眼の傾きをキャンセルする補正手段によって、より精度の高い自覚測定を行うことができる。

なお、例えば、本実施形態において、自覚式検眼装置は、傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをリアルタイムにキャンセルするようにしてもよい。この場合、例えば、前眼部取得手段は、前眼部画像をリアルタイムで取得してもよい。例えば、取得手段は、前眼部画像を解析して、傾き情報をリアルタイムで取得するようにしてもよい。例えば、補正手段は、取得手段によって、取得された傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをリアルタイムにキャンセルするようにしてもよい。

＜実施例＞
図１は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の外観図である。例えば、自覚式検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、モニタ４、顎台５、基台６、前眼部撮像光学系（撮像光学系）１００等を備える。例えば、筐体２は、内部に測定手段７（図１における点線部）を備える。例えば、測定手段７は、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒを備える。例えば、本実施例における左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒは、同一の部材を備えている。すなわち、本実施例における自覚式検眼装置１は、左右一対の自覚式測定手段と左右一対の他覚式測定手段を有する。もちろん、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒは、少なくとも一部の部材が異なる構成であってもよい。なお、測定手段７についての詳細は後述する。

例えば、呈示窓３は、被検者に視標を呈示するために用いられる。例えば、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒからの視標光束が、呈示窓３を介して被検眼Ｅに投影される。

例えば、モニタ（ディスプレイ）４は、タッチパネルである。すなわち、本実施例においては、モニタ４が操作部（コントローラ）として機能する。例えば、モニタ４は、入力された操作指示に応じた信号を後述する制御部７０に出力する。また、例えば、モニタ４には、被検眼Ｅの光学特性結果（例えば、球面度数成分情報、円柱度数成分情報、乱視軸角度成分情報θ’等）が表示される。もちろん、モニタ４と操作部は別に設けられる構成であってもよい。例えば、操作部には、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。

例えば、モニタ４は、自覚式検眼装置１が備える筺体２に搭載されたディスプレイであってもよいし、自覚式検眼装置１が備える筺体２に接続されたディスプレイであってもよい。もちろん、モニタ４はタッチパネル式でなくともよい。例えば、パーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」）のディスプレイを用いてもよい。また、例えば、複数のディスプレイが併用されてもよい。

例えば、顎台５によって、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離が一定に保たれる。例えば、基台６には、顎台５と、筐体２が固定されている。なお、本実施例においては、顎台５を用いて、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つ構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。本実施例においては、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つことが可能であればよい。すなわち、額当てや顔当て等を用いる構成であってもよい。

＜前眼部撮像光学系＞
例えば、撮像光学系１００は、図示なき撮像素子とレンズによって構成される。例えば、撮像光学系１００は、被検者の左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの前眼部画像を取得する。例えば、本実施例おける撮像光学系１００は、被検者の左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲの前眼部を撮影した１枚の前眼部画像を取得する。もちろん、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲの前眼部画像は、片眼ずつ取得されてもよい。この場合には、例えば、撮像光学系１００が左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲをそれぞれ撮影することによって、前眼部画像を取得する構成が挙げられる。また、例えば、前眼部画像を片眼ずつ取得する場合には、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒに備えられた後述する観察系光学系５０を用いて、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲをそれぞれ撮像することによって、前眼部画像を取得する構成が挙げられる。例えば、撮像光学系１００が取得した前眼部画像は、後述する制御部７０（取得手段７１）によって解析される。なお、例えば、本実施例における撮像光学系１００は、前眼部画像をリアルタイムで取得する構成であってもよい。

＜測定手段＞
図２は、測定手段７の構成を説明するための図である。本実施例においては、左眼用測定手段７Ｌを例に挙げて説明する。なお、右眼用測定手段７Ｒは、左眼用測定手段７Ｌと同様の構成であるため、その説明については省略する。例えば、左眼用測定手段７Ｌは、自覚式測定光学系２５、他覚式測定光学系１０、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０等を備える。

＜自覚式光学系＞
例えば、自覚式測定光学系２５は、被検眼Ｅの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼Ｅの光学特性としては、眼屈折力、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能等）等が挙げられる。なお、本実施例においては、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する自覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系（視標投光系）３０と、矯正光学系６０と、補正光学系９０とで構成される。

例えば、投光光学系３０は、視標光束を被検眼Ｅに向けて投影する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４等を備える。例えば、ディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４の順に光学部材を経由して、被検眼Ｅに投影される。

例えば、ディスプレイ３１には、ランドルト環視標等の検査視標（後述する自覚測定時等に用いられる）、被検眼Ｅを固視させるための固視標（後述する他覚測定時等に用いられる）等が表示される。例えば、ディスプレイ３１からの視標光束は、被検眼Ｅに向けて投影される。例えば、本実施例においては、ディスプレイ３１として、ＬＣＤを用いた場合を例に挙げて以下の説明を行う。なお、ディスプレイとしては、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイやプラズマディスプレイ等を用いることもできる。

例えば、矯正光学系６０は、投光光学系３０の光路中に配置される。例えば、矯正光学系６０は、視標光束の光学特性を変化させる。例えば、本実施例では、矯正光学系６０として、左眼用測定手段７Ｌが備える左被検眼用の矯正光学系について説明する。なお、本実施例では説明を省略しているが、右眼用測定手段７Ｒは、右被検眼用の矯正光学系を備えている。すなわち、矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左被検眼用矯正光学系と右被検眼用矯正光学系とを有しており、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲに対してそれぞれ位置合わせ（アライメント）を行うことができる。例えば、このような位置合わせによって、左被検眼用矯正光学系における光軸Ｌ２と、左被検眼ＥＬの視軸と、が一致する。また、右被検眼用矯正光学系における光軸Ｌ２と、右被検眼ＥＲの視軸と、が一致する。

例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３と駆動機構３９を備える。例えば、乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３４と投光レンズ３３との間に配置されている。例えば、乱視矯正光学系６３は、被検眼Ｅの円柱度数や円柱軸（乱視軸）等を矯正するために用いられる。例えば、乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａと６１ｂから構成される。円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂは、それぞれ回転機構６２ａと６２ｂの駆動によって、光軸Ｌ２を中心として各々が独立に回転される。なお、本実施例においては、乱視矯正光学系６３として、２枚の正の円柱レンズ６１ａと６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、乱視軸等を矯正できる構成であればよい。この場合には、例えば、矯正レンズを投光光学系３０の光路に出し入れする構成でも良い。

例えば、乱視矯正光学系６３は、被検者の乱視軸角度を求めるために用いられる。例えば、本実施例における被検者の乱視軸角度は、乱視矯正光学系６３における円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂが、光軸Ｌ２を中心として回転することによって設定される円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂの乱視軸角度成分θを検出することによって取得できる。すなわち、被検者の乱視軸角度を円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂの回転によってキャンセルした際の円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂによって設定されている乱視軸角度成分θを検出することで、被検者の乱視軸角度を求めることができる。例えば、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂによって設定されている乱視軸角度成分θが４５度であった場合、被検者の乱視軸角度は４５度と求めることができる。

なお、乱視軸角度成分θは、本実施例のようにレンズの乱視軸の変更によって設定される乱視軸角度成分であってもよいし、波面を変調させる波面変調素子の乱視成分の変調によって設定される乱視軸角度成分であってもよい。例えば、本実施例における自覚式検眼装置１では、矯正光学系の乱視軸角度成分θに基づいて、被検者の被検眼Ｅにおける乱視軸角度が自覚的に測定される。

例えば、駆動機構３９は、モータ及びスライド機構からなる。例えば、駆動機構３９によって、ディスプレイ３１は光軸Ｌ２の方向に一体的に移動される。例えば、自覚測定時においては、ディスプレイ３１が移動することによって、被検眼Ｅに対する視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変えられ、被検眼Ｅの球面屈折力が矯正される。すなわち、ディスプレイ３１の移動によって、球面度数の矯正光学系が構成される。なお、球面度数の矯正光学系としてはこれに限定されない。例えば、球面度数の矯正光学系は、多数の光学素子を有し、光路中に光学素子が配置されることによって矯正を行う構成であってもよい。また、例えば、光路中に配置されたレンズを光軸方向に移動させる構成であってもよい。

例えば、補正光学系９０は、対物レンズ１４と後述する偏向ミラー８１の間に配置される。例えば、補正光学系９０は、自覚測定において生じる光学収差（例えば、非点収差等）を補正するために用いられる。例えば、補正光学系９０は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ９１ａと９１ｂから構成される。例えば、補正光学系９０は、円柱度数と乱視軸を調整することによって、非点収差を補正する。円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂは、それぞれ回転機構９２ａと９２ｂの駆動によって、光軸Ｌ３を中心として各々が独立に回転される。なお、本実施例では、補正光学系９０として、２枚の正の円柱レンズ９１ａと９１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系９０は、非点収差を矯正できる構成であればよい。この場合には、例えば、補正レンズを光軸Ｌ３に出し入れする構成でも良い。

＜他覚式光学系＞
例えば、他覚式測定光学系１０は、被検眼Ｅの光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼Ｅの光学特性としては、眼屈折力、眼軸長、角膜形状等が挙げられる。なお、本実施例においては、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する他覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａ、受光光学系１０ｂ、補正光学系９０、で構成される。
例えば、投影光学系（投光光学系）１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、受光光学系１０ｂは、眼底から反射された眼底反射光を、瞳孔周辺部を介してリング状に取り出し、二次元撮像素子２２にリング状の眼底反射像を撮像させる。

例えば、投影光学系１０ａは、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１上に配置された、測定光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、駆動部（モータ）２３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、及び対物レンズ１４を含む。例えば、プリズム１５は、光束偏向部材である。例えば、駆動部２３は、光軸Ｌ１を中心としてプリズム１５を回転駆動させる。例えば、光源１１は被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。また、ホールミラー１３のホール部は被検眼Ｅの瞳孔と共役な関係となっている。例えば、プリズム１５は被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置されており、通過する光束を光軸Ｌ１に対して偏心させる。なお、プリズム１５に代えて、光束偏向部材として平行平面板を光軸Ｌ１上に斜めに配置する構成でも良い。

例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光路と、他覚式測定光学系１０の光路と、を共通にする。すなわち、例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、を同軸にする。例えば、光路分岐部材であるダイクロイックミラー２９は、自覚測定光学系２５による光束及び投影光学系１０ａによる測定光を反射して、被検眼Ｅに導く。

例えば、受光光学系１０ｂは、投影光学系１０ａの対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３を共用し、ホールミラー１３の反射方向の光路に配置されたリレーレンズ１６、ミラー１７、ミラー１７の反射方向の光路に配置された受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、ＣＣＤ等の二次元撮像素子２２を備える。例えば、受光絞り１８及び二次元撮像素子２２は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。例えば、リングレンズ２０は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用のコーティングを施した遮光部と、から構成され、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。例えば、二次元撮像素子２２からの出力は、制御部７０に入力される。

例えば、ダイクロイックミラー２９は、被検眼Ｅの眼底に導かれた投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０に向けて反射する。また、例えば、ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過して、観察光学系５０に導く。例えば、ダイクロイックミラー３５は、被検眼Ｅの眼底に導かれた投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０に向けて反射する。

例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、二次元撮像素子２２は、光軸方向に一体的に移動可能となっている。本実施例において、例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、二次元撮像素子２２は、ディスプレイ３１を駆動させる駆動機構３９により光軸Ｌ１の方向に一体的に移動される。すなわち、ディスプレイ３１、投影光学系１０ａの光源１１、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、二次元撮像素子２２は、駆動ユニット９５として同期し、一体的に移動する。もちろん、別途、それぞれが駆動される構成としてもよい。

例えば、駆動ユニット９５は、外側のリング光束が各経線方向に関して二次元撮像素子２２上に入射されるように、他覚式測定光学系１０の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系１０の一部を被検眼Ｅの球面屈折誤差（球面屈折力）に応じて光軸Ｌ１方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼眼底に対して光源１１、受光絞り１８及び二次元撮像素子２２が光学的に共役になるようにする。駆動機構３９の移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。なお、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、駆動ユニット９５の移動量に拘わらず、被検眼Ｅの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。

上記の構成において、光源１１から出射された測定光束は、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、を経て被検眼Ｅの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３におけるホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。眼底に投影された点光源像は、反射・散乱されて被検眼Ｅから射出し、対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、高速回転するプリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７を介して受光絞り１８の位置に再び集光され、コリメータレンズ１９とリングレンズ２０とによって二次元撮像素子２２にリング状の像が結像する。

例えば、プリズム１５は、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂとの共通光路に配置されている。このため、眼底からの反射光束は、投影光学系１０ａと同じプリズム１５を通過するため、それ以降の光学系ではあたかも瞳孔上における投影光束・反射光束（受光光束）の偏心が無かったかのように逆走査される。

例えば、本実施例における補正光学系９０は、自覚式測定光学系２５と兼用される。もちろん、別途、他覚式測定光学系１０で用いる補正光学系を設ける構成としてもよい。

＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
本実施例においては、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、補正光学系９０と、偏向ミラー８１との間に配置される。もちろん、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の配置位置は、これに限定されない。例えば、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６は、筐体２のカバーに備えられていてもよい。この場合には、例えば、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、呈示窓３の周囲に配置される構成が挙げられる。

第１指標投影光学系４５は、光軸Ｌ３を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されており、光軸Ｌ３を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置されている。第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置された６つの赤外光源を備える。この場合、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影し、第２指標投影光学系４６は被検眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する構成となっている。なお、便宜上、図２には、第１指標投影光学系４５と、第２指標投影光学系４６の一部のみが図示されている。なお、第２指標投影光学系４６は、被検眼Ｅの前眼部を照明する前眼部照明としても用いられる。また、角膜形状測定用の指標としても利用できる。また、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６は、点状光源に限定されない。例えば、リング状光源やライン状の光源であってもよい。

＜観察光学系＞
観察光学系（撮像光学系）５０は、自覚式測定光学系２５及び他覚式測定光学系１０における対物レンズ１４とダイクロイックミラー２９が共用され、撮像レンズ５１及び二次元撮像素子５２を備える。例えば、撮像素子５２は、被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ。例えば、撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これによって、被検眼Ｅの前眼部画像は二次元撮像素子５２により撮像され、モニタ４上に表示される。なお、この観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によって、被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部７０によってアライメント指標像の位置が検出される。

＜自覚式検眼装置内部構成＞
以下、自覚式検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を正面方向（図１のＡ方向）から見た概略構成図である。図４は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を側面方向（図１のＢ方向）から見た概略構成図である。図５は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を上面方向（図１のＣ方向）から見た概略構成図である。なお、図３では、説明の便宜上、ハーフミラー８４の反射を示す光軸については省略している。また、図４では、説明の便宜上、左眼用測定手段７Ｌの光軸のみを示している。また、図５では、説明の便宜上、左眼用測定手段７Ｌの光軸のみを示している。

例えば、自覚式検眼装置１は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、を備える。例えば、自覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、駆動手段８２、駆動手段８３、ハーフミラー８４、凹面ミラー８５、で構成される。もちろん、自覚式測定手段は、この構成に限定されない。例えば、他覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、ハーフミラー８４、凹面ミラー８５、で構成される。もちろん、他覚式測定手段は、この構成に限定されない。

例えば、自覚式検眼装置１は、左眼用駆動手段９Ｌと右眼用駆動手段９Ｒとを有し、左眼用測定手段７Ｌ及び右眼用測定手段７ＲをそれぞれＸ方向に移動することができる。例えば、左眼用測定手段７Ｌ及び右眼用測定手段７Ｒが移動されることによって、偏向ミラー８１と測定手段７との間の距離が変更され、Ｚ方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系６０によって矯正された視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系６０によって矯正された視標光束の像が被検眼Ｅの眼底に形成されるように、測定手段７をＺ方向に調整することができる。

例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた、右眼用の偏向ミラー８１Ｒと左眼用の偏向ミラー８１Ｌとを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と被検眼Ｅとの間に配置される。すなわち、矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは左眼用矯正光学系と左眼ＥＲの間に配置され、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは右眼用矯正光学系と右眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳の共役位置に配置されることが好ましい。

例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定手段７Ｌから投影される光束を反射し、被検者の左眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼ＥＬで反射された反射光を反射し、左眼用測定手段７Ｌに導光する。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定手段７Ｒから投影される光束を反射し、被検者の右眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼ＥＲで反射された反射光を反射し、右眼用測定手段７Ｒに導光する。なお、本実施例においては、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。偏向部材は、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズムやレンズ等が挙げられる。

例えば、駆動手段８３は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８３は、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８３Ｒと、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８３Ｌとを有する。例えば、駆動手段８３の駆動によって、偏向ミラー８１はＸ方向に移動する。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒ及び左眼用の偏向ミラー８１Ｌが移動されることによって、右眼用の偏向ミラー８１Ｒ及び左眼用の偏向ミラー８１Ｌとの間の距離が変更され、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて右眼用光路と左眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。

例えば、駆動手段８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８２は、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８２Ｒと、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８２Ｌとを有する。例えば、駆動手段８２の駆動によって、偏向ミラー８１は回転移動する。例えば、駆動手段８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動手段８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。

例えば、凹面ミラー８５は、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌとで共有される。例えば、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、共有される構成でなくてもよい。すなわち、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼Ｅの眼前に形成する。なお、本実施例においては、凹面ミラー８５を用いる構成を例に挙げているがこれに限定されない。種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズや平面ミラー等を用いることができる。

例えば、凹面ミラー８５は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、で兼用される。例えば、自覚測定光学系２５から投影された視標光束は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。また、例えば、他覚測定光学系１０から投影された測定光は、凹面ミラー８５を介して被検眼Ｅに投影される。また、例えば、他覚測定光学系１０から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される。なお、本実施例においては、他覚測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。他覚測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介さない構成であってもよい。

より詳細には、例えば、本実施例においては、自覚式測定手段における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、他覚式測定手段における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。例えば、本実施例においては、ダイクロイックミラー３５によって、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１とが合成され、同軸となっている。

＜自覚測定手段の光路＞
以下、自覚測定手段の光路について説明する。例えば、自覚測定手段は、矯正光学系６０を通過した視標光束を、凹面ミラー８５によって被検眼方向に反射することで被検眼Ｅに視標光束を導光し、矯正光学系６０を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼Ｅの眼前に形成する。すなわち、凹面ミラー８５は、視標光束を略平行光束にするように反射する。このため、被検者から見た視標像は、被検眼Ｅからディスプレイ３１までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー８５を用いることで、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標像を呈示することができる。

より詳細に説明する。なお、以下の説明においては、左眼用光路を例に挙げて説明する。右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定手段において、左眼用測定手段７Ｌのディスプレイ１３から投影された視標光束は、投光レンズ３３を介して、乱視矯正光学系６３に入射する。乱視矯正光学系６３を通過した視標光束は、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４を経由して、補正光学系９０に入射される。補正光学系９０を通過した視標光束は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された視標光束は、ハーフミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された視標光束は、ハーフミラー８４を透過して、左眼ＥＬに到達する。

これによって、左眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点から１２ｍｍ程度）を基準として矯正光学系６０によって矯正された視標像が左眼ＥＬの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたこと、及び、球面度数の矯正光学系（本実施例においては、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたこと、と等価になっており、被検者は凹面ミラー８５を介して自然な状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、両被検眼ＥＲ，ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点から１２ｍｍ程度）を基準として、左右一対の矯正光学系６０によって矯正された視標像が両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、検査視標が適正に見えるまで矯正光学系６０による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。

＜他覚測定手段の光路＞
次いで、他覚測定手段の光路について説明する。なお、以下の説明においては、左眼用光路を例に挙げて説明する。右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定手段において、他覚式測定光学系１０における投影光学系１０ａの光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２から対物レンズ１４までを介して、補正光学系９０に入射される。補正光学系９０を通過した測定光は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された測定光は、ハーフミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、ハーフミラー８４を透過して、左眼ＥＬに到達し、左眼ＥＬの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５により、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は、高速に偏心回転される。

左眼ＥＬの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Ｅを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７までを介する。ミラー１７までを介した反射光は、受光絞り１８の開口上で再び集光され、コリメータレンズ１９にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２０によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２２に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼Ｅの光学特性を測定することができる。

＜制御部＞
例えば、制御部７０（図２参照）は、被検眼Ｅの傾き情報を取得するための取得手段７１、被検眼Ｅの傾きをキャンセルするための補正手段７２を兼ねる。また、例えば、制御部７０は、乱視軸角度成分情報θ’を表示する。また、例えば、制御部７０には、モニタ（表示手段）４、不揮発性メモリ７５、各種の部材等が電気的に接続されている。

例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。例えば、制御部７０のＣＰＵは、自覚式検眼装置１の各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、自覚式検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

例えば、不揮発性メモリ７５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、不揮発性メモリ７５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、及び自覚式検眼装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を使用することができる。例えば、メモリ７５には、自覚式測定手段及び他覚式測定手段を制御するための制御プログラムが記憶されている。

＜被検眼の傾き情報＞
ここで、例えば、本実施例においては、自覚式検眼装置１は、自覚測定において、被検眼の傾き情報を取得し、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする処理を行う。これによって、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度を取得する。以下、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする処理について説明する。

例えば、本実施例において、制御部７０は、被検眼の傾き情報を取得する。例えば、本実施例において、制御部７０は、取得された傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルする。

例えば、制御部７０は、撮像光学系１００が撮影した被検眼Ｅの前眼部画像を解析処理することによって、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲの瞳孔位置を検出する。また、例えば、制御部７０は、検出した瞳孔位置に基づいて、被検眼Ｅの傾き情報を取得する。なお、本実施例においては、瞳孔位置として瞳孔中心位置を用いる構成を例として挙げるが、瞳孔位置は瞳孔部位のいずれかの部分の位置であってもよい。

例えば、本実施例における被検眼Ｅの傾き情報としては、視標光軸（例えば、投光光学系３０における光軸Ｌ２）を中心とした傾き情報であってもよい。言い換えると、被検眼Ｅの傾き情報は、被検眼Ｅが水平方向を基準位置とし、基準位置から傾いた傾斜角度として示されてもよい。なお、本実施例では、被検眼Ｅの傾き情報として、被検眼Ｅの水平方向（基準位置）に対する傾斜角度αを求める構成を例に挙げて説明する。

例えば、図６は制御部７０が取得する傾き情報について説明する図である。例えば、左被検眼ＥＬにおける瞳孔位置ＰＬと、右被検眼ＥＲにおける瞳孔位置ＰＲと、を結んだ線分が水平状態にある場合（左右の被検眼が水平状態にある場合（図６の点線で示した被検眼））、被検眼Ｅの傾斜角度は０度となる。すなわち、水平方向を示す基準線Ｆと、左右の被検眼Ｅを結んだ直線と、の成す角度が０度となる。

例えば、左被検眼ＥＬにおける瞳孔位置ＰＬと、右被検眼ＥＲにおける瞳孔位置ＰＲと、を結んだ線分が水平状態にない場合（左右の被検眼が傾いている場合（図６の実線で示した被検眼））、被検眼Ｅは傾斜角度αだけ傾斜していることになる。すなわち、水平方向を示す基準線Ｆと、傾きのある左右の被検眼Ｅを結んだ直線Ｇと、の成す角度が、傾斜角度αとなる。

なお、例えば、水平状態とは、左右の被検眼の瞳孔位置がＹ方向において同一の高さにあることであってもよい。すなわち、Ｙ方向において、左右の被検眼の瞳孔位置が同一の位置にある場合には、被検眼が水平状態であることを示す。

例えば、本実施例において、被検眼Ｅの水平方向に対する傾斜角度αは、左被検眼ＥＬにおける瞳孔位置ＰＬが上下方向に移動した偏位量ｄＬと、右被検眼ＥＲにおける瞳孔位置ＰＲが上下方向に移動した偏位量ｄＲと、を用いて算出される。より詳細には、例えば、被検眼Ｅの瞳孔間距離ＰＤがわかっていたときは、被検眼Ｅの水平方向における傾斜角度αを下記の数式にて示すことができる。

また、被検眼Ｅの瞳孔間距離ＰＤがわかっていなくても、被検眼Ｅの左右方向における距離Ｗを用いて、被検眼Ｅの水平方向における傾斜角度αは以下の数式にて示すことができる。

例えば、制御部７０は、このような演算を行うことによって、被検眼Ｅが水平状態から傾いた傾斜角度αを、被検眼Ｅの傾き情報として取得する。

なお、例えば、本実施例における制御部７０は、被検眼Ｅの傾き情報をリアルタイムで取得する構成であってもよい。すなわち、制御部７０は、撮像光学系１００がリアルタイムに撮影した被検眼Ｅの前眼部画像を常時解析することによって、常時、被検眼Ｅの水平方向における傾斜角度αを取得してもよい。

＜乱視軸角度成分の補正＞
例えば、制御部７０は、取得した被検眼Ｅの傾き情報に基づいて、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする。すなわち、本実施例における制御部７０は、算出した被検眼Ｅの傾斜角度αに基づいて、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする。例えば、本実施例では、矯正光学系６０が備える乱視矯正光学系６３において、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの光学配置を傾き情報に基づいて補正する。これによって、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂによって設定されている乱視軸角度成分θが、傾き情報を考慮した（傾き情報にて補正した）乱視軸角度成分θとして設定することができる。

図７は乱視軸角度成分θの補正について説明するための図である。例えば、本実施例では、被検者の左被検眼ＥＬについて、乱視軸角度成分θを傾き情報を考慮した乱視軸角度成分θに補正する場合を例に挙げて説明する。なお、右被検眼ＥＲについては、左被検眼ＥＬにおいて行う乱視軸角度成分θの補正と同様に処理することができるため、その説明を省略する。例えば、図７（ａ）は、被検者の顔が左に傾いていた場合（Ｙ方向において、左被検眼ＥＬが右被検眼ＥＲよりも下側に位置した場合）の左被検眼ＥＬを示している。また、例えば、図７（ｂ）は、被検者の顔が右に傾いていた場合（Ｙ方向において、右被検眼ＥＲが左被検眼ＥＬよりも下側に位置した場合）の左被検眼ＥＬを示している。

例えば、本実施例においては、上述の演算式を用いて制御部７０が取得した被検眼Ｅの傾斜角度αを、キャンセルした状態より自覚式検査を実施する。例えば、被検眼Ｅの傾斜角度αが検出された場合に、制御部７０は、予め、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの設定において、実際の乱視軸角度成分θの０度の位置からα分傾いた角度の位置を、乱視軸角度成分θが０度の角度として設定する（補正する）。すなわち、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂにおいてα分傾いた角度が円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂにおける０度の角度として設定される。そして、検者によって、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂによって設定される乱視軸角度成分θが変更され、自覚式検査が行われる。検者によって、乱視軸角度成分θの変更が完了した後、完了した際における円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂによって設定された乱視軸角度成分θを被検者の乱視軸角度として算出する。

例えば、図７（ａ）に示すように、左被検眼ＥＬが左下がり（被検者を正面からみた場合には右下がり）にα分傾いていたとき、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂにおける実際の乱視軸角度成分θが０度の位置Ｏ１に対して、α分傾いた角度を０度の位置Ｏ２として設定する。すなわち、被検眼ＥＬが左下がり（被検者を正面からみた場合には右下がり）にα分傾いていたとき、実際の乱視軸角度成分θが０度の位置Ｏ１に対して、α分減算した位置Ｏ２を０度の角度の位置として設定する。

例えば、検者によって、自覚式検査が行われ、検査完了後の乱視軸角度成分θが乱視軸角度成分θ１とされたとする。この場合、例えば、配置されている円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂにおいては、乱視軸角度成分θ１が設定されるように配置されている。しかしながら、実際の乱視軸角度成分θは、乱軸角度成分θ２として算出される（乱視角度成分θ２が結果として出力される）。この場合、例えば、検者は、設定されている乱軸角度成分θ２を被検者の乱視軸角度として算出できる。

より詳細には、例えば、図７（ａ）に示すように、左被検眼ＥＬが左下がりに５度分傾いていたと検出された場合に、−５度の位置が０度の位置とされる。この場合、例えば、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂによって乱視軸角度成分θ１が４０度に設定された場合に、実際の乱視軸角度成分θ２は、乱視軸角度成分θ１に、予め減算していた傾斜角度５度分を加算した角度４５度として設定されることになる。すなわち、被検者の乱視軸角度は４５度として算出できる。

また、例えば、図７（ｂ）に示すように、左被検眼ＥＬが左上がりにα分傾いていたとき、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂにおける実際の乱視軸角度成分θが０度の位置Ｏ３に対して、α分傾いた角度を０度の位置Ｏ４として設定する（補正する）。すなわち、被検眼ＥＬが左上がりにα分傾いていたとき、実際の乱視軸角度成分θが０度の位置Ｏ３に対して、α分加算した位置Ｏ４を０度の角度の位置として設定する。

例えば、検者によって、自覚式検査が行われ、検査完了後の乱視軸角度成分θが乱視軸角度成分θ３とされたとする。この場合、例えば、配置されている円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂにおいては、乱視軸角度成分θ３が設定されるように配置されている。しかしながら、実際の乱視軸角度成分θは、乱軸角度成分θ４として算出される（乱視角度成分θ４が結果として出力される）。この場合、例えば、検者は、設定されている乱軸角度成分θ４を被検者の乱視軸角度として算出できる。

より詳細には、例えば、図７（ｂ）に示すように、左被検眼ＥＬが左上がりに５度分傾いていたと検出された場合に、＋５度の位置が０度の位置とされる。この場合、例えば、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂによって乱視軸角度成分θ３が５０度に設定された場合に、実際の乱視軸角度成分θ４は、乱視軸角度成分θ３に加算していた傾斜角度５度分を減算した角度４５度として設定されることになる。すなわち、被検者の乱視軸角度は４５度として算出できる。

なお、例えば、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの傾斜方向は、撮像光学系１００が撮影した被検眼Ｅの前眼部画像を、制御部７０が解析処理することによって検出した左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲの瞳孔位置を検出し、左右の瞳孔位置を結んだ直線の傾斜角度から判断されてもよい。

＜乱視軸角度成分情報の補正＞
なお、例えば、自覚測定中において、制御部７０は、傾き情報を考慮した乱視軸角度成分θをモニタ４上に表示する。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの乱視軸角度成分θを数値で示す乱視軸角度成分情報θ’をモニタ４上に表示する。例えば、制御部７０は、傾き情報に基づいて、乱視軸角度成分情報θ’を補正し、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする。
以下、乱視軸角度成分情報θ’の補正について説明する。例えば、図８はモニタ４の表示画面の一例を示す図である。例えば、制御部７０は、乱視軸角度成分情報θ’として、傾き情報を考慮した（傾き情報にて補正した）乱視軸角度成分情報θ’をモニタ４上に表示する。

例えば、図７（ａ）の状態では、制御部７０によって、被検眼Ｅの傾斜角度αを考慮して、乱視軸角度成分θ１が設定されるように円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂが配置されている。例えば、制御部７０は、この乱視軸角度成分θ１に対して、傾斜角度αを加算することで、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする。すなわち、制御部７０は、乱視軸角度成分θ１に被検眼Ｅの傾斜角度αを加算した乱視軸角度成分θ２の数値を、被検眼Ｅの傾き情報を考慮した乱視軸角度成分情報θ’としてモニタ４上に表示する。

また、例えば、図７（ｂ）の状態では、制御部７０によって、被検眼Ｅの傾斜角度αを考慮して、乱視軸角度成分θ３が設定されるように円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂが配置されている。例えば、制御部７０は、この乱視軸角度成分θ３に対して、被検眼Ｅの傾き情報を考慮するために加算した傾斜角度αを減算することで、被検眼Ｅの傾きをキャンセルする。すなわち、制御部７０は、乱視軸角度成分θ３から被検眼Ｅの傾斜角度αを減算した乱視軸角度成分θ４の数値を、被検眼Ｅの傾き情報を考慮した乱視軸角度成分情報θ’としてモニタ４上に表示する。検者は、乱視軸角度成分情報θ’を確認することによって、左被検眼ＥＬが有する乱視軸角度を取得することができる。

なお、本実施例では、制御部７０によって、モニタ４に乱視軸角度成分情報θ’が表示される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、制御部７０は、傾き情報αと、傾きが考慮される前の乱視軸角度成分情報θと、をモニタ４の同一画面上に表示することで、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度を取得可能とするようにしてもよい。この場合には、被検眼Ｅの傾斜角度αと、傾きが考慮される前の乱視軸角度成分θと、をどちらも表示する構成であってもよい。また、例えば、被検眼Ｅの傾斜角度αと、乱視軸角度成分情報θ’と、をどちらも表示する構成であってもよい。また、例えば、被検眼Ｅの傾斜角度αと、傾きが考慮される前の乱視軸角度成分θと、乱視軸角度成分情報θ’と、がすべて表示される構成であってもよい。これらによって、被検眼に傾きが生じていた場合には、その傾きを考慮した乱視軸角度成分が求められ、より精度の高い自覚測定を行うことができる。

また、本実施例では、制御部７０によって、モニタ４に乱視軸角度成分情報θ’が表示される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、補正された乱視軸角度成分情報θ’は、印刷される構成であってもよい。この場合には、例えば、乱視軸角度成分情報θ’が、通信ケーブル等を介してプリンタ等に出力転送される構成が挙げられる。なお、上述のように、被検眼Ｅの傾斜角度αや、傾きが考慮される前の乱視軸角度成分θ等が印刷されてもよい。また、例えば、本実施例における制御部７０は、被検眼Ｅの傾き情報に基づいて、被検眼Ｅの傾きをリアルタイムにキャンセルする構成であってもよい。すなわち、制御部７０は、リアルタイムに取得された被検眼Ｅの傾き情報が変化する度に、被検眼Ｅの傾きをキャンセルしてもよい。

＜制御動作＞
以上の構成を備える自覚式検眼装置１について、その動作について説明する。なお、本実施例においては、遠用時における被検眼Ｅの光学特性を測定する動作を説明する。なお、近用時においても、遠用時と同様にして被検眼Ｅの光学特性を測定することができる。例えば、本実施例における自覚式検眼装置１は、アライメント操作、他覚式検眼（他覚測定）、自覚式検眼（自覚測定）、の順に検眼を行う。

なお、本実施例では、上述の構成を備える他覚測定光学系を用いて被検眼Ｅの他覚測定が行われ、被検眼Ｅの光学特性（他覚値）として、球面屈折度１．５０、円柱屈折度−０．７５、乱視軸角度４５．０を得た場合を例に挙げ、その後の動作から説明する。
検者は、被検者の被検眼Ｅに対する他覚測定が終了すると、モニタ４に表示されたモード選択スイッチを操作して、他覚屈折力測定モードから自覚屈折力測定モードへと切り換える。例えば、自覚屈折力測定モードが選択されると、制御部７０はディスプレイ３１を制御して、光軸Ｌ２上に所要の視力値視標を表示して、自覚測定を開始できる状態にする。

自覚測定を開始する際には、他覚測定において取得された他覚値が初期値として用いられ、ディスプレイ３１の位置や、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの回転角度に反映される。例えば、制御部７０によって被検眼Ｅに傾きが生じていないことが検出されたときには、球面屈折度が１．５０に設定される位置にディスプレイ３１が移動するように、駆動機構３９が制御される。また、制御部７０は回転機構６２а及び６２ｂを制御し、円柱屈折度が−０．７５に設定され、さらに乱視軸角度成分θが４５．０に設定されるように、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂを調整する。

しかし、ここで、被検眼Ｅに傾きが生じており、制御部７０によって被検眼Ｅの傾斜角度αが取得された場合には、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの乱視軸角度成分θに、被検眼Ｅの傾斜角度αが加味される。例えば、制御部７０は、撮像光学系１００によって、被検眼Ｅの前眼部画像を撮影する。また、例えば、制御部７０は、撮影した前眼部画像を解析することによって、左被検眼ＥＬの瞳孔位置と右被検眼ＥＲの瞳孔位置を検出し、上記の演算処理によって、被検眼Ｅの傾斜角度αを取得する。

例えば、制御部７０によって、被検眼Ｅが左下がりに傾いており、その傾斜角度αが５度であると演算された場合を例に挙げて説明する。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの傾き情報をキャンセルするために、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの回転角度において、傾斜角度５度分を減算した位置を０度の位置として設定する。このとき、実際の円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの設定が５度とされていた場合であっても、モニタ４の乱視軸角度成分情報θ’は、０度と表示される。すなわち、制御部７０は、傾き情報に基づいて、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの設定を補正するとともに、傾き情報に基づいて、乱視軸角度成分情報θ’を補正する。

検者は、このような状態から被検眼Ｅの遠用視力測定を行う。例えば、検者は、モニタ４に表示された所定のスイッチを操作して、ディスプレイ３１に表示する視力値視標を切り換える。被検者は、検査窓３から視力値視標を観察し、視力値視標の見え具合を検者に伝える。例えば、検者は、視力値視標の見え具合を被検者に問い、被検者の回答が正答の場合には、１段階高い視力値の視標に切り換える。また、被検者の回答が誤答の場合には、１段階低い視力値の視標に切り換える。制御部７０は、検者が操作するモニタ４からの視力値変更信号に基づいて、ディスプレイ３１に表示する視力値視標を切り換える。また、検者は、モニタ４を用いて、矯正光学系６０の矯正度数を変更し、被検眼Ｅの遠用自覚値（球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、乱視軸角度Ａ）を求めてもよい。なお、矯正光学系６０の矯正度数は、左右被検眼において別々の度数に設定されてもよいし、左右被検眼において同一の度数に設定されてもよい。

例えば、被検眼の乱視軸角度を求める場合、検者は、モニタ４に表示された乱視軸角度成分情報θ’を変更しながら、検査を行っていく。例えば、検者によって、モニタ４に表示された乱視軸角度成分情報θ’が変更されるに伴って、円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂの回転角度が変更され、変更された乱視軸角度成分情報θ’に応じた乱視軸角度成分θが設定される。より詳細には、例えば、検者がモニタ４に表示された乱視軸角度成分情報θ’を４５度に設定した場合、実際の円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂは４５度から検眼Ｅの傾斜角度５度を減算した４０度となるように設定される。

一方、実際の円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂは４０度で設定されているものの、モニタ４には、被検眼Ｅの傾き情報をキャンセルするために、実際の円柱レンズ６１ａ及び円柱レンズ６１ｂは４０度に対して５度分を加算した乱視軸角度成分情報θ’として４５度が表示されていることになる。例えば、検者は、モニタ４に表示された乱視軸角度成分情報θ’を変更しながら、自覚式検査の完了の値を４５度と設定した場合に、４５度を被検眼の乱視軸角度として取得することができる。

なお、本実施例では、自覚測定を開始する際に被検眼Ｅが傾いていることを検出し、この傾き情報に基づいて乱視軸角度成分θ及び乱視軸角度成分情報θ’を補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、乱視軸角度成分θ及び乱視軸角度成分情報θ’の補正は、自覚測定中に常時行われる構成であってもよい。この場合には、リアルタイムで被検眼Ｅの傾き情報を検出し、常に補正した乱視軸角度成分及び乱視軸角度成分情報を自覚測定中に反映させる構成が挙げられる。

以上説明したように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報を取得する取得手段と、被検眼の傾き情報に基づいて被検眼の傾きをキャンセルする補正手段と、を備え、被検眼の傾きがキャンセルされた状態における被検眼の乱視軸角度を取得する。これによって、検者は、自覚測定の際に被検者の被検眼が傾いていても、被検者の乱視軸角度を精度良く測定することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、左右の被検眼における前眼部画像を取得する前眼部取得手段を備える。また、前眼部取得手段が取得した前眼部画像を解析する取得手段を備える。これによって、被検眼の前眼部画像を用いて、被検眼の傾き情報を容易に取得することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置には、右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系が左右一対に設けられている。このため、被検眼が傾いた状態であっても、左右の被検眼に対してそれぞれの矯正光学系を位置合わせし、被検眼の正確な位置を知ることができる。従って、本実施例における自覚式検眼装置では、被検眼の傾き情報を精度良く取得することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置では、取得手段が、右被検眼用矯正光学系を右被検眼に位置合わせした際の第１位置情報と、左被検眼用矯正光学系を左被検眼に位置合わせした際の第２位置情報と、に基づいて被検眼の傾き情報を取得する。これによって、自覚測定における測定位置に位置合わせされた矯正光学系の位置情報を利用することができ、被検眼の傾きを精度よく取得することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報に基づいて、乱視矯正光学系における乱視軸角度成分を補正し、被検眼の傾きをキャンセルする。これによって、被検眼に傾きが生じていた場合には、その傾きを考慮した乱視軸角度成分が求められ、より精度の高い自覚測定を行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼の傾き情報に基づいて、乱視軸角度成分を示す乱視軸角度成分情報を補正し、被検眼の傾きをキャンセルする。これによって、被検眼に傾きが生じていた場合には、その傾きを考慮した乱視軸角度成分情報が求められる。すなわち、被検者の乱視軸角度成分が補正されていても、被検者がもつ本来の乱視軸角度を、乱視軸角度成分情報として求めることができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、補正手段が補正された乱視軸角度成分情報を、表示手段に表示する。すなわち、表示手段には、被検者の乱視軸角度成分が補正されていても、乱視軸角度成分情報として、被検者がもつ本来の乱視軸角度が表示される。これによって、検者は、被検眼が傾いていた場合であっても、被検者の乱視軸角度を容易に知ることができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、検出した瞳孔位置に基づいて傾き情報を取得する構成を備える。これによって、簡易的な構成で容易に被検眼の傾き情報を取得することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、において共有される光学部材を備える。この光学部材は、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する。このような自覚式検眼装置には額当てがなく、顎台を用いて被検者の顔を固定するため、被検眼に傾きが生じやすい。本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼の傾きをキャンセルする補正手段を備えることによって、より精度の高い自覚測定を行うことができる。

＜変容例＞
なお、本実施例における撮像光学系１００は、左右被検眼Ｅの前眼部画像を取得する構成としたがこれに限定されない。本実施例においては、撮像光学系１００によって、少なくとも左右被検眼Ｅの前眼部画像が取得される構成であればよい。この場合には、例えば、撮像光学系１００が、被検者の顔全体を撮影した顔画像を取得する構成であってもよい。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０が、球面度数、円柱度数、円柱軸（乱視軸）を矯正する構成としたがこれに限定されない。例えば、矯正光学系６０は、プリズム値を矯正する構成を備えていてもよい。この場合には、プリズム値を矯正する矯正光学系を設けることによって、被検者が斜位眼であっても、視標光束が被検眼に投影されるように矯正することができる。

なお、本実施例における矯正光学系６０は、被検眼Ｅの眼前に配置された光学素子を切り換えて配置する検眼ユニット（フォロプタ）であってもよい。例えば、検眼ユニットとしては、複数の光学素子が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるための駆動手段と、を有し、駆動手段（例えば、モータ）の駆動によって、光学素子を電気的に切り換える構成を備えていてもよい。この場合には、例えば、検眼ユニット内の左眼用のレンズディスク及び右眼用のレンズディスクが備える光学素子が、傾斜角度αを考慮した角度にそれぞれ独立に回転することによって、左右の被検眼Ｅに対して位置合わせを行うことができる。また、例えば、検眼ユニットは、検眼ユニット全体を被検眼Ｅの傾斜角度αと一致するように傾けることによって、左右の被検眼Ｅに対して位置合わせを行う構成とすることもできる。

また、例えば、本実施例における矯正光学系６０は、投光光学系から視標光束を被検眼に向けて導光するための光学部材と、投光光学系の光源と、の間に光学素子を配置し、光学素子を制御することによって、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正手段としては、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合には、例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束が光学部材を介して被検眼に導光される。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０とは別に補正光学系９０を配置する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系６０が補正光学系９０を兼用する構成であってもよい。この場合には、被検眼Ｅの円柱度数と円柱軸（乱視軸）が非点収差量に応じて補正される。すなわち、矯正光学系６０が、非点収差量を考慮した（補正した）円柱度数や乱視軸に矯正するように駆動される。例えば、矯正光学系６０と補正光学系９０とを兼用することによって、複雑な制御を必要としないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。また、例えば、矯正光学系６０と補正光学系９０とを兼用することによって、光学収差用の補正光学系を別途設ける必要がないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。

なお、本実施例においては、円柱度数及び円柱軸（乱視軸）を矯正するための乱視矯正光学系６３と、球面度数を矯正するための矯正光学系（例えば、駆動手段３９）と、を別途設ける構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系としては、球面度数、円柱度、乱視軸が矯正される矯正光学系を備える構成であればよい。すなわち、本実施例における矯正光学系は、波面を変調させる光学系であってもよい。また、例えば、矯正光学系としては、球面度数、円柱度数、乱視軸等を矯正する光学系であってもよい。この場合には、例えば、矯正光学系は、多数の光学素子（球面レンズ、円柱レンズ、分散プリズム、等）が同一円周上に配置されたレンズディスクを備える構成が挙げられる。レンズディスクは駆動部（アクチュエータ等）によって回転制御され、検者が所望する光学素子（例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム等）が、検者が所望する回転角度にて、光軸Ｌ２に配置される。例えば、光軸Ｌ２に配置される光学素子の切換え等は、モニタ４等の操作によって行われてもよい。

なお、本実施例においては、左眼用光路と右眼用光路にそれぞれ１枚の偏向ミラー８１を儲ける構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。偏向ミラーは、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設ける構成であってもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とで、２つの偏向ミラーがそれぞれ設けられる（例えば、左眼用光路で２つの偏向ミラー等）構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動することによって、矯正光学系６０の像を被検眼Ｅの眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させ、像の形成位置を光学的に補正することができる。

なお、本実施例においては、被検眼Ｅの水平方向における傾斜角度αを瞳孔位置から算出する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、傾斜角度αは、被検眼Ｅの角膜頂点位置から算出することもできる。この場合には、制御部７０が前眼部画像を解析することによって、左右被検眼Ｅの角膜に投影された指標像を検出する。また、制御部７０は、検出した指標像の位置に基づいて角膜頂点位置を特定する。例えば、このようにして取得した左被検眼ＥＬの角膜頂点位置と、右被検眼ＥＲの角膜頂点位置と、被検眼Ｅの瞳孔間距離ＰＤと、を用いることによって、被検眼Ｅの水平方向における傾斜角度αを算出する構成であってもよい。

また、本実施例では、被検眼Ｅの水平方向における傾斜角度αを瞳孔位置から算出する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系６０を被検眼Ｅに位置合わせした際の位置情報を用いて算出することもできる。図９は傾き情報を位置情報から求める変容例を説明する図である。例えば、制御部７０は、第１位置情報ｄ１と、第２位置情報ｄ２と、を検出し、これらの位置情報に基づいて被検眼Ｅの傾き情報を取得する。

例えば、本実施例における第１位置情報ｄ１とは、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際の位置情報である。また、例えば、本実施例における第２位置情報ｄ２とは、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際の位置情報である。例えば、第１位置情報ｄ１と、第２位置情報ｄ２と、は自覚式測定を行う際において測定位置に位置合わせされた状態で検出される。例えば、第１位置情報ｄ１及び第２位置情報ｄ２とは、位置座標であってもよいし、移動量であってもよい。本実施例においては、第１位置情報ｄ１及び第２位置情報ｄ２として、移動量が用いられる場合を例に挙げて説明する。

例えば、第１位置情報ｄ１としては、少なくとも、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報であってもよい。例えば、第１位置情報ｄ１としては、Ｙ軸方向の位置情報に加えて、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＸ軸方向の位置情報を含んでもよい。また、例えば、第１位置情報ｄ１としては、Ｙ軸方向の位置情報に加えて、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＺ軸方向の位置情報を含んでもよい。もちろん、例えば、第１位置情報ｄ１としては、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報、Ｘ軸方向の位置情報、Ｚ軸方向の位置情報を含んでもよい。

例えば、第２位置情報ｄ２としては、少なくとも、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報であってもよい。例えば、第２位置情報ｄ２としては、Ｙ軸方向の位置情報に加えて、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＸ軸方向の位置情報を含んでもよい。また、例えば、第２位置情報ｄ２としては、Ｙ軸方向の位置情報に加えて、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＺ軸方向の位置情報を含んでもよい。もちろん、例えば、第２位置情報ｄ１としては、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報、Ｘ軸方向の位置情報、Ｚ軸方向の位置情報を含んでもよい。

例えば、第１位置情報ｄ１としては、少なくとも、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報であってもよい。例えば、本実施例において、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＺ方向に一体的に移動した移動量ｄ１ｚを求める構成が用いられる。すなわち、第１位置情報ｄ１としては、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＺ方向に一体的に移動した移動量ｄ１ｚを求める。例えば、本実施例においては、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＺ方向に一体的に移動することによって、右被検眼用矯正光学系６０Ｒと右被検眼ＥＲの上下方向における位置合わせを行うことができる。例えば、制御部７０は、移動量ｄ１ｚに基づいて、Ｙ軸方向の位置情報を取得する。

また、例えば、第２位置情報ｄ２としては、少なくとも、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報であってもよい。例えば、本実施例において、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＺ方向に一体的に移動した移動量ｄ２ｚを求める構成が用いられる。すなわち、第２位置情報ｄ２としては、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＺ方向に一体的に移動した移動量ｄ２ｚを求める。例えば、本実施例においては、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＺ方向に一体的に移動することによって、左被検眼用矯正光学系６０Ｌと左被検眼ＥＬの上下方向における位置合わせを行うことができる。例えば、制御部７０は、移動量ｄ２ｚに基づいて、Ｙ軸方向の位置情報を取得する。

例えば、上記のように第１位置情報ｄ１と第２位置情報ｄ２が求められた場合には、測定手段７及び偏光ミラー８１のＺ方向における移動量（移動量ｄ１ｚ及び移動量ｄ２ｚ）と、被検眼の瞳孔間距離ＰＤと、に基づいて、被検眼Ｅの傾き情報を算出することができる。すなわち、移動量に基づいて取得されたＹ軸方向の位置情報と、被検眼の瞳孔間距離ＰＤと、に基づいて、被検眼Ｅの傾き情報を算出することができる。なお、本実施例においては、矯正光学系６０を、被検者の被検眼Ｅに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７及び偏光ミラー８１のＺ方向における移動量を求める構成を例に挙げているがこれに限定されない。矯正光学系６０を、被検者の被検眼Ｅに位置合わせした際のＹ軸方向の位置情報を取得できる構成であればよい。

また、例えば、第１位置情報ｄ１としては、Ｙ軸方向の位置情報に加えて、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＸ軸方向の位置情報を含んでもよい。例えば、本実施例において、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＸ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＸ方向に一体的に移動した移動量ｄ１ｘを求める構成が用いられる。すなわち、第１位置情報ｄ１としては、移動量ｄ１ｚに加えて、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＸ方向に一体的に移動した移動量ｄ１ｘを求めるようにしてもよい。例えば、本実施例においては、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＸ方向に一体的に移動することによって、右被検眼用矯正光学系６０Ｒと右被検眼ＥＲの左右方向における位置合わせを行うことができる。例えば、制御部７０は、移動量ｄ１ｘに基づいて、Ｘ軸方向の位置情報を取得する。

また、例えば、第２位置情報ｄ２としては、Ｙ軸方向の位置情報に加えて、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＸ軸方向の位置情報を含んでもよい。例えば、本実施例において、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＸ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＸ方向に一体的に移動した移動量ｄ２ｘを求める構成が用いられる。すなわち、第２位置情報ｄ２としては、移動量ｄ２ｚに加えて、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＸ方向に一体的に移動した移動量ｄ２ｘを求めるようにしてもよい。例えば、本実施例においては、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＸ方向に一体的に移動することによって、左被検眼用矯正光学系６０Ｌと左被検眼ＥＬの左右方向における位置合わせを行うことができる。例えば、制御部７０は、移動量ｄ２ｘに基づいて、Ｘ軸方向の位置情報を取得する。

例えば、上記のように第１位置情報ｄ１と第２位置情報ｄ２が求められた場合には、測定手段７及び偏光ミラー８１のＺ方向における移動量（移動量ｄ１ｚ及び移動量ｄ２ｚ）とＸ方向における移動量（移動量ｄ１ｘ及び移動量ｄ２ｘ）に基づいて、被検眼Ｅの傾き情報を算出することもできる。すなわち、移動量に基づいて取得されたＹ軸方向の位置情報と、移動量に基づいて取得されたＸ軸方向の位置情報と、に基づいて、被検眼Ｅの傾き情報を算出することができる。

また、例えば、第１位置情報ｄ１としては、さらに、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＺ軸方向の位置情報を含んでもよい。例えば、本実施例において、右被検眼用矯正光学系６０Ｒを、被検者の右被検眼ＥＲに位置合わせした際のＺ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＹ方向に一体的に移動した移動量を求める構成が用いられる。すなわち、第１位置情報ｄ１としては、さらに、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＹ方向に一体的に移動した移動量を求めるようにしてもよい。例えば、本実施例においては、測定手段７Ｒと偏光ミラー８１ＲがＹ方向に一体的に移動することによって、右被検眼用矯正光学系６０Ｒと右被検眼ＥＲの前後方向における位置合わせを行うことができる。例えば、制御部７０は、移動量に基づいて、Ｚ軸方向の位置情報を取得する。

また、例えば、第２位置情報ｄ２としては、さらに、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＺ軸方向の位置情報を含んでもよい。例えば、本実施例において、左被検眼用矯正光学系６０Ｌを、被検者の左被検眼ＥＬに位置合わせした際のＺ軸方向の位置情報を得るための構成として、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＹ方向に一体的に移動した移動量を求める構成が用いられる。すなわち、第２位置情報ｄ２としては、さらに、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＹ方向に一体的に移動した移動量を求めるようにしてもよい。例えば、本実施例においては、測定手段７Ｌと偏光ミラー８１ＬがＹ方向に一体的に移動することによって、左被検眼用矯正光学系６０Ｌと左被検眼ＥＬの前後方向における位置合わせを行うことができる。例えば、制御部７０は、移動量に基づいて、Ｚ軸方向の位置情報を取得する。

例えば、上記のように第１位置情報ｄ１と第２位置情報ｄ２が求められた場合には、測定手段７及び偏光ミラー８１のＺ方向における移動量（移動量ｄ１ｚ及び移動量ｄ２ｚ）とＸ方向における移動量（移動量ｄ１ｘ及び移動量ｄ２ｘ）とＹ方向における移動量（左右それぞれの移動量）を用いて、被検眼Ｅの傾き情報を算出することもできる。すなわち、移動量に基づいて取得されたＹ軸方向の位置情報と、移動量に基づいて取得されたＸ軸方向の位置情報と、移動量に基づいて取得されたＺ軸方向の位置情報と、に基づいて、被検眼Ｅの傾き情報を算出することができる。これによって、左右被検眼Ｅの上下方向及び左右方向の傾きに加え、左右被検眼Ｅの前後方向における傾きを考慮することができる。

なお、本実施例において、以上のような位置合わせを行った際には、光軸の長さを調節するために、駆動手段８３によって偏光ミラー８１の回転角度が調節されてもよい。

なお、例えば、被検眼Ｅの傾き情報は、上述のように矯正光学系６０を被検眼Ｅに位置合わせした際の位置情報を用いて算出してもよいし、撮像光学系１００が撮像した左右被検眼Ｅの前眼部画像と、矯正光学系６０を被検眼Ｅに位置合わせした際の位置情報と、の双方を用いて算出する構成であってもよい。

なお、本実施例においては、被検眼Ｅの前眼部画像から検出された瞳孔位置を、基準データと比較することによって、被検眼Ｅの傾斜角度αを算出することもできる。例えば、基準データとは、水平方向に対する傾きが無い（０度）場合を示すデータ（水平状態を示すデータ）である。なお、基準データは、水平方向に対する傾きが完全に無い（０度）である必要はなく、略水平状態を示すデータであってもよい。例えば、基準データは、予め、シミュレーションや実験等によって算出されていてもよい。この場合、例えば、基準データはメモリ７５に記憶される。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの傾斜角度αを算出する際に、メモリ７５より基準データを呼び出し、基準データに対する左右の瞳孔位置を結んだ直線の傾きを算出する。なお、本実施例においては、基準データとして、水平方向を示す基準線（水平線）を用いる構成とすることもできる。例えば、制御部７０は、基準データ（水平線）に対する左右の瞳孔位置を結んだ直線の傾きを算出することによって、被検眼Ｅの傾斜角度αを算出する。

なお、例えば、本開示の技術は、角膜の形状より取得された乱視軸情報に対しても適用することができる。この場合には、例えば、被検眼Ｅの角膜に指標を投影して、角膜から反射された角膜反射光を撮像することにより、角膜反射像を取得する。例えば、制御部７０は、この角膜反射像に基づいて、角膜の乱視軸を検出する。また、例えば、制御部７０は、検出した角膜乱視軸に対して被検眼の傾斜角度αを考慮した補正を行うようにしてもよい。

１ 自覚式検眼装置
２ 筺体
４ モニタ
５ 顎台
７ 測定手段
１０ 他覚式測定光学系
２５ 自覚式測定光学系
３０ 投光光学系
４５ 第１指標投影光学系
４６ 第２指標投影光学系
５０ 観察光学系
６０ 矯正光学系
７０ 制御部
７１ 取得手段
７２ 補正手段
７５ メモリ
８１ 偏向ミラー
８４ ハーフミラー
８５ 凹面ミラー
９０ 補正光学系
１００ 撮像光学系

Claims (11)

1. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を備え、前記矯正光学系の乱視軸角度成分に基づいて、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、
   被検眼の傾き情報を取得する取得手段と、
   前記取得手段によって、取得された前記傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルするための補正手段と、
   を備え、
   前記補正手段によって、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度が取得可能であることを特徴とする自覚式検眼装置。
2. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   左右の被検眼の前眼部画像を取得するための前眼部取得手段を備え、
   前記取得手段は、前記前眼部画像を解析して、被検眼の傾き情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
3. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記矯正光学系は、左右一対に設けられた右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系を有し、前記右被検眼用矯正光学系と前記左被検眼用矯正光学系は、被検眼に対してそれぞれ位置合わせができ、
   前記取得手段は、前記右被検眼用矯正光学系を右の被検眼に位置合わせした際の第１位置情報と、前記左被検眼用矯正光学系を左の被検眼に位置合わせした際の第２位置情報と、を検出し、前記第１位置情報と、前記第２位置情報と、に基づいて、前記傾き情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、前記傾き情報に基づいて、前記矯正光学系の前記乱視軸角度成分を補正することで被検眼の傾きをキャンセルすることを特徴とする自覚式検眼装置。
5. 請求項１〜４のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、前記傾き情報と、前記乱視軸角度成分を示す乱視軸角度成分情報と、を表示手段の同一画面上に表示することで、被検眼の傾きがキャンセルされた状態での被検眼の乱視軸角度を取得可能とすることを特徴とする自覚式検眼装置。
6. 請求項１〜５のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、前記傾き情報に基づいて、前記乱視軸角度成分を示す乱視軸角度成分情報を補正することで被検眼の傾きをキャンセルすることを特徴とする自覚式検眼装置。
7. 請求項６の自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、補正された前記乱視軸角度成分情報を表示手段に表示することを特徴とする自覚式検眼装置。
8. 請求項２の自覚式検眼装置において、
   前記取得手段は、前記前眼部画像を解析処理することによって、左右の被検眼の瞳孔位置を検出し、前記瞳孔位置に基づいて前記傾き情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
9. 請求項２の自覚式検眼装置において、
   前記前眼部取得手段は、前記前眼部画像をリアルタイムで取得し、
   前記取得手段は、前記前眼部画像を解析して、前記傾き情報をリアルタイムで取得し、
   前記補正手段は、前記取得手段によって、取得された前記傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをリアルタイムにキャンセルすることを特徴とする自覚式検眼装置。
10. 請求項１〜９のいずれかの自覚式検眼装置において、
    前記矯正光学系は、左右一対に設けられた右被検眼用矯正光学系と左被検眼用矯正光学系を有し、
    前記右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、前記左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される光学部材であって、前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、
    を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。
11. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を備え、前記矯正光学系の乱視軸角度成分に基づいて、被検眼の乱視軸角度を自覚的に測定する自覚式検眼装置において用いられる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサによって実行されることで、
    左右の被検眼の前眼部画像を取得する前眼部取得ステップと、
    前記前眼部画像を解析して、被検眼の傾き情報を取得する取得ステップと、
    前記取得ステップによって、取得された前記傾き情報に基づいて、被検眼の傾きをキャンセルする補正ステップと、
    を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする検眼プログラム。