JP2018171229A - 自覚式検眼装置 - Google Patents

Abstract

【課題】容易に精度よく自覚式検査を行うことができる自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラムを提供する。
【解決手段】視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系３０と、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する矯正光学系６０と、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材と、を備え、視標光束は光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光され、被検眼に導光された視標光束の像を用いて被検眼の光学特性を自覚的に測定するための自覚式検眼装置であって、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段と、を備える。
【選択図】図２

Description

本開示は、被検眼の光学特性を測定するための自覚式検眼装置に関する。

被検者の眼前に球面レンズや柱面レンズ等の光学部材を配置し、この光学部材を介して被検眼に検査視標を呈示することによって、被検眼の光学特性（屈折力等）を測定する自覚式検眼装置が知られている（特許文献１参照）。

特開平５−１７６８９３号公報

自覚式検査においては、被検眼と自覚式検眼装置との位置合わせ（アライメント）が行われ、被検眼の眼屈折力に応じた検査視標が被検眼に呈示されている。ところが、光学部材に対して視標光束を軸外から入射させた場合には、被検眼に対する視標光束の集光位置が、検査視標の中心領域と周辺領域でずれてしまうことがある。この状態では、被検眼に導光される検査視標の像の像面が傾斜して、被検眼の光学特性を正しく測定することが困難であった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、容易に精度よく自覚式検査を行うことができる自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラムを提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するため、本開示は以下の構成を備えることを特徴とする。

（１） 本開示の第１態様に係る自覚式検眼装置は、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、を備え、前記視標光束は前記光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光され、前記被検眼に導光された前記視標光束の像を用いて前記被検眼の光学特性を自覚的に測定するための自覚式検眼装置であって、前記視標光束が前記光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる前記視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る自覚式検眼プログラムは、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、を備え、前記視標光束は前記光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光され、前記被検眼に導光された前記視標光束を用いて前記被検眼の光学特性を自覚的に測定するための自覚式検眼装置において用いられる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサによって実行されることで、前記視標光束が前記光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる前記視標光束の像の像面の傾きを補正する補正ステップを前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする。

本実施例に係る自覚式検眼装置の外観図である。 測定手段の構成について説明する図である。 自覚式検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の制御系を示す図である。 被検眼の前眼部画像を示す図である。 アライメント制御について説明する図である。 視標光束の像の像面の傾きを説明する図である。 ディスプレイの傾斜による視標光束の像の像面を示す図である。 視標光束の歪を説明する図である。 視標光束における歪の補正について説明する図である。

＜概要＞
以下、典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１〜図１２は本実施形態に係る自覚式検眼装置を説明する図である。なお、本開示においては、本実施例に記載した装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立又は関連して利用されうる。

以下の説明においては、自覚式検眼装置の奥行き方向（被検者の前後方向）をＺ方向、奥行き方向に垂直な平面上の水平方向（被検者の左右方向）をＸ方向、奥行き方向に垂直な平面上の鉛直方向（被検者の上下方向）をＹ方向として説明する。なお、符号に付されるＬ及びＲは、それぞれ左眼用及び右眼用を示すものとする。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置（例えば、自覚式検眼装置１）は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。例えば、自覚式検眼装置は、投光光学系（例えば、投光光学系３０）を備えていてもよい。例えば、投光光学系は、視標光束を被検眼に向けて投光して視標を被検眼に投影する。また、例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系（例えば、矯正光学系６０、自覚式測定光学系２５）を備えていてもよい。例えば、矯正光学系は、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する。また、例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材（例えば、凹面ミラー８５）を備えていてもよい。

例えば、視標光束は、光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光される。例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、被検眼に導光された視標光束の像を用いて、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。また、例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、被検眼に導光された視標光束を用いて、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。

例えば、自覚的に測定される被検眼の光学特性としては、眼屈折力（例えば、球面度数、円柱度数、乱視軸角度等の少なくともいずれか）、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能等の少なくともいずれか）等の少なくともいずれかであってもよい。

＜投光光学系＞
例えば、投光光学系は、視標光束を照射する光源（例えば、ディスプレイ３１）を有する。また、例えば、投光光学系は、視標光束を照射する光源から投影された視標光束を被検眼に向けて導光する少なくとも１つ以上の光学部材等を有してもよい。例えば、視標光束を投影する光源としては、ディスプレイを用いる構成であってもよい。例えば、ディスプレイとしては、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）や有機ＥＬ（Electro Luminescence）等が用いられる。例えば、ディスプレイには、ランドルト環視標等の検査視標等が表示される。また、例えば、視標光束を投影する光源としては、光源とＤＭＤ（Digital Micromirror Device）を用いてもよい。一般的に、ＤＭＤは反射率が高く明るい。このため、偏光を用いる液晶ディスプレイを用いた場合と比べ、視標光束の光量を維持することができる。

例えば、視標光束を投影する光源としては、視標呈示用可視光源と、視標板と、を有する構成であってもよい。この場合、例えば、視標板は回転可能なディスク板であり、複数の視標をもつ。例えば、複数の視標は、自覚測定時に使用される視力検査用視標等を含む。例えば、視力検査用視標としては、視力値毎の視標（視力値０．１、０．３、・・・、１．５）が用意されている。例えば、視標板はモータ等によって回転され、被検眼に視標光束が導光される光路上において視標が切換え配置される。もちろん、視標光束を投影する光源としては、上記構成以外の光源を用いてもよい。

例えば、投光光学系は、左右一対に設けられた左眼用投光光学系と右眼用投光光学系を有するようにしてもよい。例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、が同一の部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が異なる部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が兼用される構成であってもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。

＜矯正光学系＞
例えば、矯正光学系は、視標光束の光学特性（例えば、球面度数、円柱度数、円柱軸、偏光特性、及び収差量等の少なくともいずれか）を変更する構成であればよい。例えば、視標光束の光学特性を変更する構成としては、光学素子を制御する構成であってもよい。例えば、光学素子としては、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム、波面変調素子等の少なくともいずれかを用いる構成であってもよい。もちろん、例えば、光学素子としては、上記記載の光学素子とは異なる光学素子を用いるようにしてもよい。

例えば、矯正光学系は、被検眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変えることにより、被検眼の球面度数を矯正する構成であってもよい。この場合、例えば、視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更する構成としては、光源（例えば、ディスプレイ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。また、例えば、視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更する構成としては、光路中に配置された光学素子（例えば、球面レンズ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。もちろん、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と、光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と、を組み合わせた構成であってもよい。

例えば、矯正光学系としては、投光光学系から視標光束を被検眼に向けて導光するための光学部材と、投光光学系の光源と、の間に光学素子を配置して、光学素子を制御することによって、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正手段としては、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束が、光学部材を介して被検眼に導光される。

例えば、矯正光学系は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系を有するようにしてもよい。例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、が同一の部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が異なる部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が兼用される構成であってもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。

＜光学部材＞
例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材は、視標光束、あるいは視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼に導光する光学部材であってもよい。例えば、光学部材は、凹面ミラーを用いてもよい。例えば、凹面ミラーを用いることによって、自覚式検査手段において光学的に所定の検査距離に視標を呈示することが可能となり、所定の検査距離に視標を呈示する際に、実際の距離となるように部材等を配置する必要がなくなる。これによって、余分な部材、スペースが必要なくなり、装置を小型化することができる。もちろん、例えば、光学部材は、凹面ミラーに限定されない。例えば、光学部材は、視標光束、あるいは視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼に導光する構成であればよい。この場合、例えば、光学部材として、レンズ等を用いるようにしてもよい。

＜視標光束における像の像面の補正＞
例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、補正手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、補正手段は、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。言い換えると、補正手段は、被検眼眼底に投影される視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。

これによって、視標光束の像の像面の傾きを軽減させた状態において、被検眼の光学特性を自覚的に測定することができる。このため、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、補正手段は、視標光束における像の像面の少なくとも一部を補正してもよい。すなわち、補正手段は、視標光束の少なくとも一部の集光位置を補正してもよい。また、例えば、補正手段は、視標光束における像の像面の全体を補正してもよい。すなわち、補正手段は、視標光束の全体の集光位置を補正してもよい。

例えば、補正手段は、光軸に対するディスプレイの面の角度を変更することで、視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系はディスプレイを有し、ディスプレイに視標が表示されることで、視標光束が出射される構成であればよい。例えば、ディスプレイの面の角度を変更する構成によって、検者は視標光束の像の像面の傾きを容易に補正することができる。

例えば、ディスプレイは、ディスプレイの鉛直方向（Ｙ方向）に伸びる回転軸を中心として回転駆動可能な構成であってもよい。例えば、ディスプレイが鉛直方向（上下方向）に伸びる回転軸を中心として回転されることで、ディスプレイが投光光学系の光軸方向に対して水平方向（Ｘ方向）に傾斜する。すなわち、例えば、ディスプレイは、投光光学系の光軸に対して水平方向（左右方向）における回転角度が変更可能な構成であってもよい。

例えば、ディスプレイは、ディスプレイの水平方向（Ｘ方向）に伸びる回転軸を中心として回転駆動可能な構成であってもよい。例えば、ディスプレイが水平方向（左右方向）に伸びる回転軸を中心として回転されることで、ディスプレイが投光光学系の光軸方向に対して鉛直方向（Ｙ方向）に傾斜する。すなわち、例えば、ディスプレイは、投光光学系の光軸に対して、鉛直方向（上下方向）における回転角度が変更可能な構成であってもよい。

例えば、ディスプレイは、二次元的に回転可能である構成としてもよい。この場合、例えば、ディスプレイが、駆動手段の駆動によって、左右方向に伸びる回転軸及び上下方向に伸びる回転軸を中心としてそれぞれ回転駆動可能な構成であってもよい。すなわち、例えば、ディスプレイは、投光光学系の光軸に対してＸＹ方向における回転角度が変更可能な構成であってもよい。

また、例えば、補正手段は、駆動手段を制御して光学部材を移動することで、視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系は、投光光学系の光路において移動可能な移動光学部材と、移動光学部材を投光光学系の光路において移動させる駆動手段と、を備える構成であってもよい。例えば、移動光学部材としては、レンズ、プリズム、ミラー等を用いてもよい。また、例えば、移動光学部材としては、投光光学系のいずれかの光学部材を用いてもよい。また、例えば、移動光学部材としては、投光光学系の光学部材とは別途設けられた異なる部材を用いてもよい。例えば、駆動手段を制御して光学部材を移動する構成によって、検者は、被検眼に対して光学部材を適切な位置に配置し、視標光束の像の像面の傾きを精度よく補正することができる。

＜矯正度数に基づく像面の補正＞
例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数を取得する取得手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。この場合、例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数に基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。これによって、被検眼の眼屈折力に応じて矯正光学系の矯正度数が変化することで生じる視標光束の像の像面の傾きを抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数に基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正するための補正量を設定する補正量設定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、補正量設定手段によって設定された補正量に基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、補正量設定手段は、予め、矯正光学系の矯正度数に基づく補正量が設定されている構成であってもよい。この場合には、例えば、矯正光学系の矯正度数に基づく補正テーブルが記憶手段（例えば、メモリ７５）に記憶され、記憶手段から補正量を呼び出すことによって、補正量を設定するようにしてもよい。また、例えば、補正量設定手段は、矯正光学系の矯正度数に基づいて演算処理を行い、補正量を算出する構成であってもよい。

例えば、取得手段は、自覚式検眼装置が備える他覚測定光学系（例えば、他覚式測定光学系１０）によって被検眼の眼屈折力を測定することで、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。また、例えば、取得手段は、自覚式検眼装置が備える自覚測定光学系（例えば、他覚式測定光学系２５）によって被検眼の眼屈折力を測定することで、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、眼屈折力は、自覚測定中のタイミングで取得されている眼屈折力であってもよい。また、例えば、眼屈折力は、自覚測定中とは異なるタイミングで取得された眼屈折力であってもよい。

例えば、取得手段は、自覚式検眼装置とは異なる装置の他覚測定光学系または自覚測定光学系により測定された被検眼の眼屈折力を受信することによって、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。また、例えば、取得手段は、検者が操作手段を操作することにより入力した被検眼の眼屈折力を受信することによって、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。

＜被検眼に対する視標光束の位置ずれに基づく像面の補正＞
例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、投光光学系を収納する測定ユニット（例えば、測定手段７）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、被検眼に対する視標光束の位置ずれを検出するずれ検出手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、検出された位置ずれに基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。これによって、被検眼に対する視標光束の位置ずれによって生じる視標光束の像の像面の傾きを抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、位置ずれに基づく補正は、位置ずれを直接用いた補正であってもよいし、位置ずれに基づいて移動された測定ユニットの位置情報を用いた補正（位置ずれを間接的に用いた補正）であってもよい。

例えば、ずれ検出手段は、被検眼に対してアライメント光を投光し、角膜周辺にアライメント指標を形成させるアライメント指標投光光学系（例えば、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６）を用いることが挙げられる。この場合、例えば、ずれ検出手段は、前眼部観察光学系（例えば、観察光学系５０）によって撮影されたアライメント指標に基づいて、アライメント状態を検出することで、被検眼と視標光束の投影位置（投光光学系の光軸）との相対位置を検出する構成であってもよい。また、例えば、ずれ検出手段は、前眼部観察光学系により撮像された前眼部正面像から瞳孔位置を検出し、検出された瞳孔位置と視標光束の投影位置（投光光学系の光軸）との相対位置を検出する構成であってもよい。

例えば、自覚式検眼装置は、位置ずれに基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正するための補正量を設定する補正量設定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、補正量設定手段によって設定された補正量に基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、補正量設定手段は、予め、位置ずれ量に基づく補正量が設定されている構成であってもよい。この場合には、例えば、位置ずれ量に基づく補正テーブルが記憶手段に記憶され、記憶手段から補正量を呼び出すことによって、補正量を設定するようにしてもよい。また、例えば、補正量設定手段は、位置ずれ量に基づいて演算処理を行い、補正量を算出する構成であってもよい。

例えば、位置ずれに基づいて移動された測定ユニットの位置情報を用いた補正を行う場合、自覚式検眼装置は、ずれ検出手段によって検出された検出結果に基づいて、測定手段ユニットを移動する移動手段を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、測定ユニットの位置情報を取得する位置情報取得手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、位置情報に基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正する構成であってもよい。これによって、被検眼と測定手段との位置合わせを行った際に生じる視標光束の像の像面の傾きを抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、位置情報取得手段は、測定ユニットの位置情報を取得できる構成であればよい。例えば、測定ユニットの位置情報を取得する構成としては、測定ユニットの移動（例えば、測定ユニットの位置情報）を検出する構成であってもよい。なお、測定ユニットの位置情報を検出する構成としては、測定ユニットの位置を検出する構成であってもよいし、測定ユニットの移動量を検出する構成であってもよい。なお、測定ユニットの位置情報は、測定ユニット全体の位置情報であってもよいし、測定ユニットに収納された投光光学系の少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。また、測定ユニットの位置情報は、自覚式検眼装置１において、測定ユニットとともに移動される光学部材（例えば、偏向ミラー８１）の位置情報であってもよい。この場合、測定ユニットとともに移動される光学部材は、測定ユニットと一体的に移動される構成であってもよい。

また、例えば、測定ユニットの位置情報を取得する構成としては、被検眼（例えば、被検眼の角膜頂点位置または瞳孔位置等）と測定ユニットとの相対位置情報を取得する構成であってもよい。なお、例えば、位置情報取得手段は、被検眼と測定ユニットの相対位置情報を取得する場合、被検眼の位置と測定ユニットの位置をそれぞれ検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、被検眼と測定ユニットの相対位置情報を取得する場合、測定ユニットの位置を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め測定ユニットの位置が記憶手段に記憶されていてもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、測定ユニットの移動量を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め設定された初期位置から測定ユニットが移動した移動量を検出するようにしてもよい。なお、測定ユニットの位置情報は、測定ユニット全体の位置情報であってもよいし、測定ユニットに収納された投光光学系の少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。

また、例えば、測定ユニットの位置情報を取得する構成としては、光学部材と測定ユニットの相対位置情報を取得することで、測定ユニットの位置情報を取得する構成としてもよい。なお、例えば、位置情報取得手段は、光学部材と測定ユニットとの相対位置情報を取得する場合、光学部材の位置と測定ユニットの位置をそれぞれ検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、光学部材と測定ユニットの相対位置情報を取得する場合、測定ユニットの位置を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め光学部材の位置が記憶手段に記憶されていてもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、測定ユニットの移動量を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め設定された初期位置から測定ユニットが移動した移動量を検出するようにしてもよい。なお、測定ユニットの位置情報は、測定ユニット全体の位置情報であってもよいし、測定ユニットに収納された投光光学系の少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。

＜視標光束における歪補正＞
例えば、補正手段は、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の歪を補正する構成であってもよい。言い換えると、補正手段は、被検眼眼底に投影される視標光束の歪を補正する構成であってもよい。これによって、視標光束の歪を軽減させた状態において、被検眼の光学特性を自覚的に測定することができる。このため、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、補正手段は、視標光束の歪の少なくとも一部を補正してもよいし、視標光束の歪の全体を補正してもよい。例えば、補正手段は、ディスプレイ（例えば、ディスプレイ３１）に表示される視標を変形することで、視標光束の歪を補正する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系はディスプレイを有し、ディスプレイに視標が表示されることで、視標光束が出射される構成であればよい。

ディスプレイを用いた補正を行う場合、例えば、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における縦方向のサイズを変更してもよい。また、例えば、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における横方向のサイズを変更してもよい。また、例えば、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における視標を移動させてもよい。すなわち、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における縦方向のサイズの変更と、横方向のサイズの変更と、視標の移動と、の少なくともいずれかの処理を行う構成であればよい。例えば、ディスプレイに表示する視標を変形させる構成によって、検者は視標光束の歪を容易に補正することができる。

また、例えば、補正手段は、駆動手段を制御して光学部材を移動することで、視標光束の歪を補正する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系は、投光光学系の光路において移動可能な移動光学部材と、移動光学部材を投光光学系の光路において移動させる駆動手段と、を備える構成であればよい。例えば、移動光学部材としては、レンズ、プリズム、ミラー等を用いてもよい。また、例えば、移動光学部材としては、投光光学系のいずれかの光学部材を用いてもよいし、投光光学系の光学部材とは別途設けられた異なる部材を用いてもよい。例えば、駆動手段を制御して光学部材を移動する構成によって、検者は視標光束の歪を精度よく補正することができる。

＜矯正度数に基づく歪の補正＞
例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数を取得する取得手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。この場合、例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数に基づいて、視標光束の歪を補正する構成であってもよい。これによって、被検眼の眼屈折力に応じて矯正光学系の矯正度数が変化することで生じる視標光束の像の歪を抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数に基づいて、視標光束の歪を補正するための補正量を設定する補正量設定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、補正量設定手段によって設定された補正量に基づいて、視標光束の像の歪を補正する補正手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、補正量設定手段は、予め、矯正光学系の矯正度数に基づく補正量が設定されている構成であってもよい。この場合には、例えば、矯正光学系の矯正度数に基づく補正テーブルが記憶手段（例えば、メモリ７５）に記憶され、記憶手段から補正量を呼び出すことによって、補正量を設定するようにしてもよい。また、例えば、補正量設定手段は、矯正光学系の矯正度数に基づいて演算処理を行い、補正量を算出する構成であってもよい。

例えば、取得手段は、自覚式検眼装置が備える他覚測定光学系（例えば、他覚式測定光学系１０）によって被検眼の眼屈折力を測定することで、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。また、例えば、取得手段は、自覚式検眼装置が備える自覚測定光学系（例えば、他覚式測定光学系２５）によって被検眼の眼屈折力を測定することで、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、眼屈折力は、自覚測定中のタイミングで取得されている眼屈折力であってもよい。また、例えば、眼屈折力は、自覚測定中とは異なるタイミングで取得された眼屈折力であってもよい。

例えば、取得手段は、自覚式検眼装置とは異なる装置の他覚測定光学系または自覚測定光学系により測定された被検眼の眼屈折力を受信することによって、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。また、例えば、取得手段は、検者が操作手段を操作することにより入力した被検眼の眼屈折力を受信することによって、矯正光学系の矯正度数を取得する構成であってもよい。

＜被検眼に対する視標光束の位置ずれに基づく歪の補正＞
例えば、本実施形態における自覚式検眼装置は、投光光学系を収納する測定ユニット（例えば、測定手段７）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、被検眼に対する視標光束の位置ずれを検出するずれ検出手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、検出された位置ずれに基づいて、視標光束の像の歪を補正する構成であってもよい。これによって、被検眼に対する視標光束の位置ずれによって生じる視標光束の像の歪を抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、位置ずれに基づく補正は、位置ずれを直接用いた補正であってもよいし、位置ずれに基づいて移動された測定ユニットの位置情報を用いた補正（位置ずれを間接的に用いた補正）であってもよい。

例えば、ずれ検出手段は、被検眼に対してアライメント光を投光し、角膜周辺にアライメント指標を形成させるアライメント指標投光光学系（例えば、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６）を用いることが挙げられる。この場合、例えば、ずれ検出手段は、前眼部観察光学系（例えば、観察光学系５０）によって撮影されたアライメント指標に基づいて、アライメント状態を検出することで、被検眼と視標光束の投影位置（投光光学系の光軸）との相対位置を検出する構成であってもよい。また、例えば、ずれ検出手段は、前眼部観察光学系により撮像された前眼部正面像から瞳孔位置を検出し、検出された瞳孔位置と視標光束の投影位置（投光光学系の光軸）との相対位置を検出する構成であってもよい。

例えば、自覚式検眼装置は、位置ずれに基づいて、視標光束の像の歪を補正するための補正量を設定する補正量設定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、補正量設定手段によって設定された補正量に基づいて、視標光束の像の歪を補正する補正手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、補正量設定手段は、予め、位置ずれ量に基づく補正量が設定されている構成であってもよい。この場合には、例えば、位置ずれ量に基づく補正テーブルが記憶手段に記憶され、記憶手段から補正量を呼び出すことによって、補正量を設定するようにしてもよい。また、例えば、補正量設定手段は、位置ずれ量に基づいて演算処理を行い、補正量を算出する構成であってもよい。

例えば、位置ずれに基づいて移動された測定ユニットの位置情報を用いた補正を行う場合、自覚式検眼装置は、ずれ検出手段によって検出された検出結果に基づいて、測定手段ユニットを移動する移動手段を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、測定ユニットの位置情報を取得する位置情報取得手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、位置情報に基づいて、視標光束の歪を補正する構成であってもよい。これによって、被検眼と測定手段との位置合わせを行った際に生じる視標光束の歪を抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

例えば、位置情報取得手段は、測定ユニットの位置情報を取得できる構成であればよい。例えば、測定ユニットの位置情報を取得する構成としては、測定ユニットの移動（例えば、測定ユニットの位置情報）を検出する構成であってもよい。なお、測定ユニットの位置情報を検出する構成としては、測定ユニットの位置を検出する構成であってもよいし、測定ユニットの移動量を検出する構成であってもよい。なお、測定ユニットの位置情報は、測定ユニット全体の位置情報であってもよいし、測定ユニットに収納された投光光学系の少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。また、測定ユニットの位置情報は、自覚式検眼装置１において、測定ユニットとともに移動される光学部材（例えば、偏向ミラー８１）の位置情報であってもよい。この場合、測定ユニットとともに移動される光学部材は、測定ユニットと一体的に移動される構成であってもよい。

また、例えば、測定ユニットの位置情報を取得する構成としては、被検眼（例えば、被検眼の角膜頂点位置または瞳孔位置等）と測定ユニットとの相対位置情報を取得する構成であってもよい。なお、例えば、位置情報取得手段は、被検眼と測定ユニットの相対位置情報を取得する場合、被検眼の位置と測定ユニットの位置をそれぞれ検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、被検眼と測定ユニットの相対位置情報を取得する場合、測定ユニットの位置を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め測定ユニットの位置が記憶手段に記憶されていてもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、測定ユニットの移動量を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め設定された初期位置から測定ユニットが移動した移動量を検出するようにしてもよい。なお、測定ユニットの位置情報は、測定ユニット全体の位置情報であってもよいし、測定ユニットに収納された投光光学系の少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。

また、例えば、測定ユニットの位置情報を取得する構成としては、光学部材と測定ユニットの相対位置情報を取得することで、測定ユニットの位置情報を取得する構成としてもよい。なお、例えば、位置情報取得手段は、光学部材と測定ユニットとの相対位置情報を取得する場合、光学部材の位置と測定ユニットの位置をそれぞれ検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、光学部材と測定ユニットの相対位置情報を取得する場合、測定ユニットの位置を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め光学部材の位置が記憶手段に記憶されていてもよい。また、例えば、位置情報取得手段は、測定ユニットの移動量を検出することによって、相対位置情報を取得する構成であってもよい。この場合には、例えば、予め設定された初期位置から測定ユニットが移動した移動量を検出するようにしてもよい。なお、測定ユニットの位置情報は、測定ユニット全体の位置情報であってもよいし、測定ユニットに収納された投光光学系の少なくとも１つの部材の位置情報であってもよい。

＜実施例＞
以下、本実施例における自覚式検眼装置について説明する。例えば、自覚式検眼装置としては、自覚式測定手段を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置としては、他覚式測定手段を備えていてもよい。なお、本実施例においては、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、をどちらも備えた自覚式検眼装置を例に挙げて説明する。

図１は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の外観図を示す。例えば、自覚式検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、モニタ４、顎台５、基台６、前眼部撮像光学系１００等を備える。例えば、筐体２は、その内部に測定手段７を備える（詳細については後述する）。例えば、呈示窓３は、被検者に視標を呈示するために用いる。例えば、被検者の被検眼Ｅには、測定手段７からの視標光束が呈示窓３を介して投影される。

例えば、モニタ（ディスプレイ）４は、被検眼Ｅの光学特性結果（例えば、球面屈折度Ｓ、円柱屈折度Ｃ、乱視軸角度Ａ、プリズム値Δ等）を表示する。例えば、モニタ４はタッチパネルである。すなわち、本実施例においては、モニタ４が操作部（コントローラ）として機能する。例えば、モニタ４から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部７０に出力される。なお、モニタ４はタッチパネル式でなくてもよいし、モニタ４と操作部とを別に設ける構成であってもよい。例えば、この場合には、操作部として、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。

例えば、モニタ４は、筺体２に搭載されたディスプレイであってもよいし、筺体２に接続されたディスプレイであってもよい。例えば、この場合には、パーソナルコンピュータのディスプレイを用いる構成としてもよい。また、複数のディスプレイを併用してもよい。

例えば、顎台５によって、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離が一定に保たれる。なお、本実施例では、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つために顎台５を用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例においては、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つために、額当てや顔当て等を用いる構成であってもよい。例えば、基台６には、顎台５と筐体２が固定されている。

例えば、前眼部撮像光学系１００は、図示なき撮像素子とレンズによって構成される。例えば、前眼部撮像光学系１００は、被検者の顔を撮像するために用いる。

＜測定手段＞
例えば、測定手段７は、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒを備える。すなわち、本実施例における自覚式検眼装置１は、左右一対の自覚式測定手段と左右一対の他覚式測定手段を有する。なお、本実施例においては、自覚式検眼装置１が左眼用測定手段７Ｌあるいは右眼用測定手段７Ｒのどちらか片方を備え、これが左右方向に移動することによって、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲのそれぞれに視標光束を投影する構成としてもよい。例えば、本実施例における左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒは、同一の部材を備えている。もちろん、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒは、少なくとも一部の部材が異なる構成であってもよい。

図２は、測定手段７の構成について説明する図である。例えば、本実施例においては、左眼用測定手段７Ｌを例に挙げて説明する。なお、右眼用測定手段７Ｒは、左眼用測定手段７Ｌと同様の構成であるため、その説明を省略する。例えば、左眼用測定手段７Ｌは、自覚式測定光学系２５、他覚式測定光学系１０、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０等を備える。

＜自覚式光学系＞
例えば、自覚式測定光学系２５は、被検眼Ｅの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼Ｅの光学特性としては、眼屈折力、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能等）等が挙げられる。なお、本実施例においては、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する自覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系（視標投光系）３０と、矯正光学系６０と、補正光学系９０とで構成される。

例えば、投光光学系３０は、視標光束を被検眼Ｅに向けて投影する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４等を備える。例えば、ディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４の順に光学部材を経由して、被検眼Ｅに投影される。

例えば、ディスプレイ３１には、ディスプレイ３１を上下方向に回転させる（チルトさせる）ための駆動機構３７（例えば、モータ等）が備えられている。例えば、ディスプレイ３１は、駆動機構３７によって、ディスプレイ３１の中心から左右方向に伸びる軸の軸回りに回転する。なお、ディスプレイ３１は、ディスプレイ３１の中心とは異なる位置から左右方向に伸びる軸の軸回りに回転してもよい。これによって、ディスプレイ３１は光軸Ｌ２方向に対して上下に傾斜する。また、例えば、ディスプレイ３１には、ディスプレイ３１を左右方向に回転させる（パンさせる）ための駆動機構３８（例えば、モータ等）が備えられている。例えば、ディスプレイ３１は、駆動機構３８によって、ディスプレイ３１の中心から上下方向に伸びる軸の軸回りに回転する。なお、ディスプレイ３１は、ディスプレイ３１の中心とは異なる位置から上下方向に伸びる軸の軸回りに回転してもよい。これによって、ディスプレイ３１は光軸Ｌ２方向に対して左右に傾斜する。

例えば、ディスプレイ３１には、ランドルト環視標等の検査視標、被検眼Ｅを固視させるための固視標等が表示される。例えば、ディスプレイ３１からの視標光束が、被検眼Ｅに向けて投影される。例えば、本実施例においては、ディスプレイ３１として、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）を用いた場合を例に挙げて以下の説明を行う。なお、ディスプレイとしては、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイやプラズマディスプレイ等を用いることもできる。

例えば、矯正光学系６０は、投光光学系３０の光路中に配置される。例えば、矯正光学系６０は、視標光束の光学特性を変化させる。例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３と駆動機構３９を備える。例えば、乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３３と投光レンズ３４との間に配置されている。例えば、乱視矯正光学系６３は、被検眼Ｅの円柱度数や円柱軸（乱視軸）等を矯正するために用いられる。例えば、乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａと６１ｂから構成される。円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂは、それぞれ回転機構６２ａと６２ｂの駆動によって、光軸Ｌ２を中心として各々が独立に回転される。なお、本実施例においては、乱視矯正光学系６３として、２枚の正の円柱レンズ６１ａと６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、乱視軸等を矯正できる構成であればよい。この場合には、例えば、矯正レンズを投光光学系３０の光路に出し入れする構成でもよい。

例えば、駆動機構３９は、モータ及びスライド機構からなる。例えば、駆動機構３９によって、ディスプレイ３１は光軸Ｌ２の方向に一体的に移動される。例えば、自覚測定時においては、ディスプレイ３１が移動することによって、被検眼Ｅに対する視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変えられ、被検眼Ｅの球面屈折力が矯正される。すなわち、ディスプレイ３１の移動によって、球面度数の矯正光学系が構成される。また、例えば、他覚測定時においては、ディスプレイ３１が移動することによって、被検眼Ｅに雲霧が掛けられる。なお、球面度数の矯正光学系としてはこれに限定されない。例えば、球面度数の矯正光学系は、多数の光学素子を有し、光路中に光学素子が配置されることによって矯正を行う構成であってもよい。また、例えば、球面度数の矯正光学系は、光路中に配置されたレンズを光軸方向に移動させる構成であってもよい。

なお、本実施例においては、球面度数、円柱度数、円柱軸を矯正する矯正光学系を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。例えば、プリズム値を矯正する矯正光学系を設けてもよい。プリズム値の矯正光学系を設けることによって、被検者が斜位眼であっても、視標光束が被検眼Ｅに投影されるように矯正することができる。

なお、本実施例においては、円柱度数及び円柱軸（乱視軸）を矯正するための乱視矯正光学系６３と、球面度数を矯正するための矯正光学系（例えば、駆動手段３９）と、を別途設ける構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系としては、球面度数、円柱度、乱視軸を矯正する矯正光学系を備える構成であればよい。すなわち、本実施例における矯正光学系は、波面を変調させる光学系であってもよい。また、例えば、矯正光学系としては、球面度数、円柱度数、乱視軸等を矯正する光学系であってもよい。この場合には、例えば、矯正光学系が、同一円周上に多数の光学素子（球面レンズ、円柱レンズ、分散プリズム等）を配置したレンズディスクを備える構成が挙げられる。レンズディスクは駆動部（アクチュエータ、ステッピングモータ等）によって回転制御され、検者が所望する光学素子（例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム等）が、検者が所望する回転角度にて、光軸Ｌ２に配置される。例えば、光軸Ｌ２に配置される光学素子の切換え等は、モニタ４等の操作によって行われてもよい。

レンズディスクは、１つのレンズディスク、又は複数のレンズディスクからなる。複数のレンズディスクが配置された場合、各レンズディスクに対応する駆動部がそれぞれ設けられる。例えば、レンズディスク群として、各レンズディスクが開口（又は０Ｄのレンズ）及び複数の光学素子を備える。各レンズディスクの種類としては、度数の異なる複数の球面レンズを有する球面レンズディスク、度数の異なる複数の円柱レンズを有する円柱レンズディスク、複数種類の補助レンズを有する補助レンズディスクが代表的である。補助レンズディスクには、赤フィルタ／緑フィルタ、プリズム、クロスシリンダレンズ、偏光板、マドックスレンズ、オートクロスシリンダレンズの少なくともいずれかが配置される。また、円柱レンズは、駆動部により光軸Ｌ２を中心に回転可能に配置され、ロータリプリズム及びクロスシリンダレンズは、駆動部により各光軸を中心に回転可能に配置されてもよい。

例えば、補正光学系９０は、対物レンズ１４と後述する偏向ミラー８１の間に配置される。例えば、補正光学系９０は、自覚測定において生じる光学収差（例えば、非点収差等）を補正するために用いられる。例えば、補正光学系９０は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ９１ａと９１ｂから構成される。例えば、補正光学系９０は、円柱度数と乱視軸を調整することによって、非点収差を補正する。円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂは、それぞれ回転機構９２ａと９２ｂの駆動によって、光軸Ｌ３を中心として各々が独立に回転される。なお、本実施例では、補正光学系９０として、２枚の正の円柱レンズ９１ａと９１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系９０は、非点収差を矯正できる構成であればよい。この場合には、例えば、補正レンズを光軸Ｌ３に出し入れする構成でもよい。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０とは別に補正光学系９０を配置する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系６０が補正光学系９０を兼用する構成であってもよい。この場合には、被検眼Ｅの円柱度数と円柱軸（乱視軸）が非点収差量に応じて補正される。すなわち、矯正光学系６０が、非点収差量を考慮した（補正した）円柱度数や乱視軸に矯正するように駆動される。例えば、矯正光学系６０と補正光学系９０とを兼用することによって、複雑な制御を必要としないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。また、例えば、矯正光学系６０と補正光学系９０とを兼用することによって、光学収差用の補正光学系を別途設ける必要がないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。

＜他覚式光学系＞
例えば、他覚式測定光学系１０は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼Ｅの光学特性としては、眼屈折力、眼軸長、角膜形状等が挙げられる。本実施例においては、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する他覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａ、受光光学系１０ｂ、補正光学系９０、で構成される。

例えば、投影光学系（投光光学系）１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、受光光学系１０ｂは、眼底から反射された眼底反射光を、瞳孔周辺部を介してリング状に取り出し、二次元撮像素子２２にリング状の眼底反射像を撮像させる。

例えば、投影光学系１０ａは、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１上に配置された測定光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、駆動部（モータ）２３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、及び対物レンズ１４を含む。例えば、プリズム１５は光束偏向部材である。例えば、駆動部２３は、光軸Ｌ１を中心としてプリズム１５を回転駆動させる。例えば、光源１１は被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。また、ホールミラー１３のホール部は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な関係となっている。例えば、プリズム１５は被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置されており、通過する光束を光軸Ｌ１に対して偏心させる。なお、プリズム１５に代えて、光束偏向部材として平行平面板を光軸Ｌ１上に斜めに配置する構成でもよい。

例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光路と、他覚式測定光学系１０の光路と、を共通にする。すなわち、例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、を同軸にする。例えば、光路分岐部材であるダイクロイックミラー２９は、自覚測定光学系２５による光束及び投影光学系１０ａによる測定光を反射して、被検眼Ｅに導く。

例えば、受光光学系１０ｂは、投影光学系１０ａの対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３を共用し、ホールミラー１３の反射方向の光路に配置されたリレーレンズ１６、ミラー１７、ミラー１７の反射方向の光路に配置された受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、ＣＣＤ等の二次元撮像素子２２を備える。例えば、受光絞り１８及び二次元撮像素子２２は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。例えば、リングレンズ２０は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用のコーティングを施した遮光部と、から構成され、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。例えば、二次元撮像素子２２からの出力は、制御部７０に入力される。

例えば、ダイクロイックミラー２９は、被検眼Ｅの眼底に導かれた投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０に向けて反射する。また、例えば、ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過して、観察光学系５０に導く。例えば、ダイクロイックミラー３５は、被検眼Ｅの眼底に導かれた投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０に向けて反射する。

なお、他覚式測定光学系１０は上記のものに限らず、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影して瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、二次元撮像素子２２にリング状の眼底反射像を受光させる構成等、周知のものが使用できる。

なお、他覚式測定光学系１０は上記のものに限らず、被検眼Ｅの眼底に向けて測定光を投光する投光光学系と、眼底における測定光の反射によって取得される反射光を受光素子によって受光する受光光学系と、を有する測定光学系であればよい。例えば、眼屈折力測定光学系は、シャックハルトマンセンサーを備えた構成であってもよい。もちろん、他の測定方式を備えた装置を利用してもよい（例えば、スリットを投影する位相差方式の装置）。

例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、二次元撮像素子２２は、光軸方向に一体的に移動可能となっている。本実施例において、例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、二次元撮像素子２２は、ディスプレイ３１を駆動させる駆動機構３９により、光軸Ｌ１の方向に一体的に移動される。すなわち、ディスプレイ３１、投影光学系１０ａの光源１１、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、二次元撮像素子２２は、駆動ユニット９５として同期し、一体的に移動する。もちろん、別途、それぞれが駆動される構成としてもよい。

例えば、駆動ユニット９５は、外側のリング光束が各経線方向に関して二次元撮像素子２２上に入射するように、他覚式測定光学系１０の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系１０の一部を被検眼Ｅの球面屈折誤差（球面屈折力）に応じて光軸Ｌ１方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼Ｅの眼底に対して光源１１、受光絞り１８及び二次元撮像素子２２が光学的に共役になるようにする。例えば、駆動機構３９の移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。なお、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、駆動ユニット９５の移動量に拘わらず、被検眼Ｅの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。

上記の構成において、光源１１から出射された測定光束は、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、を経て被検眼Ｅの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３におけるホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。眼底に投影された点光源像は、反射・散乱されて被検眼Ｅから射出し、対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、高速回転するプリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７を介して受光絞り１８の位置に再び集光され、コリメータレンズ１９とリングレンズ２０とによって二次元撮像素子２２にリング状の像が結像する。

例えば、プリズム１５は、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂの共通光路に配置されている。例えば、眼底からの反射光束は投影光学系１０ａと同じプリズム１５を通過するため、それ以降の光学系では、あたかも瞳孔上における投影光束・反射光束（受光光束）の偏心がなかったかのように逆走査される。
例えば、補正光学系９０は、自覚式測定光学系２５と兼用される。もちろん、別途、他覚式測定光学系１０で用いる補正光学系を設ける構成としてもよい。

＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
例えば、本実施例においては、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、補正光学系９０と、偏向ミラー８１との間に配置される。もちろん、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の配置位置は、これに限定されない。例えば、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６は、筐体２のカバーに備えられていてもよい。例えば、この場合には、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、呈示窓３の周囲に配置される構成が挙げられる。

例えば、第１指標投影光学系４５は、光軸Ｌ３を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されており、光軸Ｌ３を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置されている。例えば、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。例えば、第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置された６つの赤外光源を備える。この場合、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影し、第２指標投影光学系４６は被検眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する構成となっている。なお、便宜上、図２には第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６の一部のみを図示している。なお、第２指標投影光学系４６は、被検眼Ｅの前眼部を照明する前眼部照明としても用いられる。また、第２指標投影光学系４６は、角膜形状測定用の指標としても利用できる。なお、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６は、点状光源に限定されない。例えば、リング状の光源やライン状の光源であってもよい。

＜観察光学系＞
例えば、観察光学系（撮像光学系）５０は、自覚式測定光学系２５及び他覚式測定光学系１０における対物レンズ１４とダイクロイックミラー２９を共用し、撮像レンズ５１及び二次元撮像素子５２を備える。例えば、撮像素子５２は、被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置された撮像面をもつ。例えば、撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これによって、被検眼Ｅの前眼部画像は二次元撮像素子５２により撮像され、モニタ４上に表示される。なお、この観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によって、被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部７０によってアライメント指標像の位置が検出される。

＜自覚式検眼装置内部構成＞
以下、自覚式検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を正面方向（図１のＡ方向）から見た概略構成図である。図４は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を側面方向（図１のＢ方向）から見た概略構成図である。図５は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を上面方向（図１のＣ方向）から見た概略構成図である。なお、図４及び図５では、説明の便宜上、左眼用測定手段７Ｌの光軸のみを示している。

例えば、自覚式検眼装置１は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、を備える。例えば、自覚式測定手段及び他覚式測定手段において、測定手段７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌから外れた光路を通過して被検眼Ｅに導光される。例えば、本実施例における光軸Ｌとは、凹面ミラー８５の球中心に向かう軸である。すなわち、本実施例では、視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射され、その反射光束が被検眼Ｅに導光される。

例えば、自覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、駆動手段８２、駆動手段８３、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、自覚式測定手段はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束が、偏光ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく凸レンズを配置した構成であってもよい。

例えば、他覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、他覚式測定手段はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束が、偏光ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく凸レンズを配置した構成であってもよい。

例えば、自覚式検眼装置１は、左眼用駆動手段９Ｌと右眼用駆動手段９Ｒとを有し、左眼用測定手段７Ｌ及び右眼用測定手段７ＲをそれぞれＸ方向に移動することができる。例えば、左眼用測定手段７Ｌ及び右眼用測定手段７Ｒが移動されることによって、偏向ミラー８１と測定手段７との間の距離が変更され、Ｚ方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系６０によって矯正された視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系６０によって矯正された視標光束の像が被検眼Ｅの眼底に形成されるように、測定手段７をＺ方向に調整することができる。

例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた、右眼用の偏向ミラー８１Ｒと左眼用の偏向ミラー８１Ｌとを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と被検眼Ｅとの間に配置される。すなわち、本実施例における矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは左眼用矯正光学系と左眼ＥＲの間に配置され、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは右眼用矯正光学系と右眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳の共役位置に配置されることが好ましい。

例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定手段７Ｌから投影される光束を反射し、左被検眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左被検眼ＥＬで反射された反射光を反射し、左眼用測定手段７Ｌに導光する。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定手段７Ｒから投影される光束を反射し、右被検眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右被検眼ＥＲで反射された反射光を反射し、右眼用測定手段７Ｒに導光する。なお、本実施例においては、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。偏向部材は、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズムやレンズ等が挙げられる。

例えば、駆動手段８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８２は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８２Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８２Ｒと、を有する。例えば、駆動手段８２の駆動によって、偏向ミラー８１は回転移動する。例えば、駆動手段８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動手段８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。

例えば、駆動手段８３は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８３は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８３Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８３Ｒと、を有する。例えば、駆動手段８３の駆動によって、偏向ミラー８１はＸ方向に移動する。例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒが移動されることによって、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒとの間の距離が変更され、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて、左眼用光路と右眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。

なお、例えば、偏向ミラー８１は、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設けられてもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて、２つの偏向ミラーが設けられる（例えば、左眼用光路で２つの偏向ミラー等）構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動されることによって、矯正光学系６０の像を被検眼の眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させることにより、像の形成位置を光学的に補正することができる。

例えば、凹面ミラー８５は、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌとで共有される。例えば、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、右眼用光路と左眼用光路とで共有される構成でなくてもよい。すなわち、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼Ｅの眼前に形成する。なお、本実施例においては凹面ミラー８５を用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されず、種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズや平面ミラー等を用いることができる。

例えば、凹面ミラー８５は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、で兼用される。例えば、自覚測定光学系２５から投影された視標光束は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。例えば、他覚測定光学系１０から投影された測定光は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。また、例えば、他覚測定光学系１０から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される。なお、本実施例においては、他覚測定光学系１０による測定光の反射光が、凹面ミラー８５を介して、他覚測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、他覚測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介さない構成であってもよい。

より詳細には、例えば、本実施例においては、自覚式測定手段における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、他覚式測定手段における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。例えば、本実施例においては、ダイクロイックミラー３５によって、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１とが合成され、同軸となっている。

＜自覚測定手段の光路＞
以下、自覚測定手段の光路について説明する。例えば、自覚測定手段は、矯正光学系６０を通過した視標光束を、凹面ミラー８５によって被検眼方向に反射することで被検眼Ｅに視標光束を導光し、矯正光学系６０を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼Ｅの眼前に形成する。例えば、このとき、矯正光学系６０を通過した視標光束は、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過して凹面ミラー８５へ入射し、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過するように反射され、被検眼Ｅに導光される。例えば、被検者から見た視標像は、被検眼Ｅからディスプレイ３１までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー８５を用いることで被検眼Ｅに対する視標の呈示距離を延長し、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標像を呈示することができる。

より詳細に説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定手段において、左眼用測定手段７Ｌのディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３を介して、乱視矯正光学系６３に入射する。乱視矯正光学系６３を通過した視標光束は、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４を経由して、補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した視標光束は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて導光される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された視標光束は、反射ミラー８４により凹面ミラー８５に向けて反射される。例えば、ディスプレイ３１から出射した視標光束は、このように光学部材を経由することで左被検眼ＥＬに到達する。

これによって、左被検眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、矯正光学系６０により矯正された視標像が左被検眼ＥＬの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたことと、球面度数の矯正光学系（本実施例においては、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたことと、が等価になっており、被検者は凹面ミラー８５を介して自然な状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、両被検眼ＥＲ及びＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、左右一対の矯正光学系６０により矯正された視標像が、両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、検査視標が適正に見えるまで矯正光学系６０による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。

＜他覚測定手段の光路＞
次いで、他覚測定手段の光路について説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定手段において、他覚式測定光学系１０における投影光学系１０ａの光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２から対物レンズ１４までを介して補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した測定光は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された測定光は、反射ミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、反射ミラー８４を透過して左被検眼ＥＬに到達し、左被検眼ＥＬの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。

左被検眼ＥＬの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Ｅを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ１４により集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７までを介する。ミラー１７までを介した反射光は、受光絞り１８の開口上で再び集光され、コリメータレンズ１９にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２０によってリング状光束として取り出され、リング像として二次元撮像素子２２に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼Ｅの光学特性を測定することができる。

＜制御部＞
図６は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部７０には、モニタ４、不揮発性メモリ７５（以下、メモリ７５）、測定手段７が備える測定光源１１、二次元撮像素子２２、ディスプレイ３１、二次元撮像素子５２等の各種部材が電気的に接続されている。また、例えば、制御部７０には、駆動手段９、駆動機構３９、回転機構６２ａと６２ｂ、駆動手段８３、回転機構９２ａと９２ｂがそれぞれ備える図示なき駆動部が電気的に接続されている。

例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。例えば、ＣＰＵは、自覚式検眼装置１における各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、自覚式検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

例えば、メモリ７５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、メモリ７５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、及び自覚式検眼装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を使用することができる。例えば、メモリ７５には、自覚式測定手段及び他覚式測定手段を制御するための制御プログラムが記憶されている。

＜制御動作＞
以上の構成を備える自覚式検眼装置１において、その動作を説明する。例えば、本実施例においては、自覚測定を開始する前に、上述の構成を備える他覚測定光学系を用いて、被検眼Ｅに対する他覚測定が行われる。この場合、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅがもつ球面屈折度Ｓ、円柱屈折度Ｃ、乱視軸角度Ａ、プリズム値Δ等の他覚的に測定された屈折力を取得する。すなわち、制御部７０は、被検眼Ｅの他覚眼屈折力（他覚値）を取得する。また、例えば、制御部７０はメモリ７５に他覚値を記憶する。

例えば、自覚測定を開始するときには、取得した被検眼Ｅの他覚眼屈折力（他覚値）に基づいて矯正光学系６０が制御される。例えば、制御部７０は、他覚的に測定された被検眼Ｅの球面屈折度Ｓ、円柱屈折度Ｃ、乱視軸角度Ａ、プリズム値Δ等のうち、少なくともいずれかに基づいてディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向に移動させ、被検眼Ｅの眼屈折力を矯正する。

例えば、投光光学系３０が備えるディスプレイ３１の配置位置は、被検眼Ｅの眼屈折力によって変化する。例えば、ディスプレイ３１は、矯正をしていない視標光束（すなわち、０Ｄの視標光束）を被検眼Ｅに投影する待機位置に配置されている。例えば、眼屈折力が０Ｄの被検眼Ｅに対しては、ディスプレイ３１の待機位置が、ディスプレイ３１の初期位置として設定される。例えば、眼屈折力が０Ｄでない被検眼Ｅに対しては、被検眼Ｅの眼屈折力を０Ｄに矯正するようにディスプレイ３１が移動し、ディスプレイ３１の待機位置とは異なる位置に、ディスプレイ３１の初期位置が設定される。例えば、これによって、制御部７０は矯正光学系６０の矯正度数を取得することができる。すなわち、制御部７０は、ディスプレイ３１の配置位置から、被検眼Ｅを矯正して０Ｄの眼屈折力とするための矯正度数を取得することができる。

また、例えば、自覚測定を開始するときには、制御部７０によって、ディスプレイ３１に所要の視力値視標（例えば、視力値１．０の視標）が表示される。例えば、被検眼Ｅに視力値視標が呈示されると、検者は被検眼Ｅに対する遠用視力測定を行う。例えば、ディスプレイ３１に表示する視力値視標は、モニタ４における所定のスイッチを選択して切換えることができる。例えば、検者は、被検者の回答が正答の場合には、１段階高い視力値視標に切換える。一方で、被検者の回答が誤答の場合には、１段階低い視力値視標に切換える。つまり、制御部７０は、モニタ４からの視力値視標を変更する信号に基づいて、ディスプレイ３１に表示する視標を切換える。なお、本実施例においては、遠用視力測定を例に挙げて説明するがこれに限定されない。例えば、近用視力測定についても、遠用視力測定と同様にして行うことができる。

例えば、上記のように被検眼Ｅの眼屈折力を矯正し、ディスプレイ３１に所要の視力値視標が表示された状態で、検者は被検者に、顎を顎台５にのせて呈示窓３を観察し、視標を固視するよう指示する。例えば、前眼部撮像光学系１００によって被検眼Ｅの前眼部が検出されると、制御部７０は被検眼Ｅと測定手段７との位置合わせを開始する。すなわち、制御部７０は自動アライメントを開始する。

図７は被検眼Ｅの前眼部画像を示す図である。例えば、アライメント状態を検出する際には、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が備える光源が点灯する。これによって、被検眼Ｅには指標像Ｍａ〜Ｍｈがリング状に投影される。例えば、制御部７０は、指標像Ｍａ〜ＭｈにおけるＸＹ中心座標（図７に示す十字マーク）を略角膜頂点位置Ｋとして検出する。例えば、指標像Ｍａ及びＭｅは無限遠であり、指標像Ｍｈ及びＭｆは有限遠である。

例えば、被検眼Ｅの左右方向（Ｘ方向）及び上下方向（Ｙ方向）におけるアライメント状態は、予め設定されたアライメント基準位置Ｏ１（図８参照）を用いて判定される。例えば、本実施例においては、このようなアライメント基準位置Ｏ１が、被検眼Ｅの角膜頂点位置と、凹面ミラー８５に反射されて被検眼Ｅへと向かう視標光束の光軸Ｌ４ＬまたはＬ４Ｒと、が一致する位置に設定されている。また、例えば、アライメント基準位置Ｏ１を中心とした所定の領域は、アライメントの適否を判定するためのアライメント許容範囲Ａ１（図８参照）として設定されている。

図８はアライメント制御について説明する図である。例えば、制御部７０は、検出した被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋと、アライメント基準位置Ｏ１と、の偏位量Δｄを求めることによって、被検眼Ｅに対する視標光束のＸＹ方向における位置ずれを検出する。例えば、被検眼Ｅに対する視標光束の位置ずれが検出されると、制御部７０はその検出結果に基づいて測定手段７を移動する。例えば、本実施例では、偏向ミラー８１及び測定手段７をＸ方向に一体的に移動させることによって、被検眼ＥのＸ方向（左右方向）におけるアライメントを行うことができる。また、例えば、本実施例においては、偏光ミラー８１及び測定手段７をＺ方向に一体的に移動させることによって、被検眼ＥのＹ方向（上下方向）におけるアライメントを行うことができる。なお、偏向ミラー８１と測定手段７は、一体的でなく、それぞれが別に移動する構成であってもよい。例えば、制御部７０は、偏位量Δｄがアライメント許容範囲Ａ１におさまるようにＸ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。

例えば、被検眼Ｅに対して上記のように測定手段７が移動し、アライメントが完了すると、被検眼Ｅに対する自覚測定が開始される。

＜視標光束における像の像面の補正＞
例えば、本実施例においては、図２〜図５で示したように、ディスプレイ３１から出射した視標光束が、光軸Ｌ２、光軸Ｌ３、及び光軸Ｌ４（光軸Ｌ４Ｌまたは光軸Ｌ４Ｒ）を順に通過して被検眼Ｅに導光される。このとき、ディスプレイ３１から出射した視標光束は、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過して、被検眼Ｅに導光されている。また、本実施例においては、被検眼Ｅに導光された視標光束、あるいは被検眼Ｅに導光された視標光束の像を用いることによって、被検眼Ｅの光学特性が自覚的に測定される。例えば、本実施例における自覚式検眼装置１のように、視標光束が光学部材（本実施例においては、凹面ミラー８５）の光軸Ｌから外れた光路を通過する場合には、被検眼眼底に投影される視標光束の像の像面Ｉ（図９参照）が光軸に対して略垂直とならず、像面Ｉに傾きが生じる。言い換えると、視標光束が光学部材の光軸Ｌから外れた光路を通過することにより、視標光束が被検眼Ｅの眼底ＯＦ（図９参照）において結像した際の結像面が傾く。

図９は視標光束の像の像面Ｉの傾きを説明する図である。なお、図９では、説明の便宜上、左被検眼ＥＬ、凹面ミラー８５、ディスプレイ３１のみを図示し、その他の部材については図示を省略する。また、図９における点線部分は、左被検眼ＥＬの一部を拡大して示したものである。例えば、ディスプレイ３１からは視標光束が様々な方向に照射される。なお、例えば、本実施例では、ディスプレイ３１における中心領域からの視標光束として、ディスプレイ３１の中央から照射される視標光束を図示している。例えば、図９における集光位置ＣＡは、ディスプレイ３１の中央から照射される視標光束の集光位置である。また、例えば、本実施例では、ディスプレイ３１における周辺領域からの視標光束として、ディスプレイ３１の上下方向における両端から照射される視標光束を図示している。例えば、図９における集光位置ＰＡ１は、ディスプレイ３１の上端から照射される視標光束の集光位置である。また、例えば、図９における集光位置ＰＡ２は、ディスプレイ３１の下端から照射される視標光束の集光位置である。

例えば、視標光束の像の像面Ｉは、視標の光軸方向に対して傾く。例えば、図９においては、視標光束の像の像面Ｉが、光軸Ｌ４Ｌに対して上下方向（Ｙ方向）に傾く場合を例に挙げている。なお、本実施例では説明を省略するが、視標光束の像の像面Ｉは、光軸方向に対して左右方向（Ｘ方向）に傾く場合もある。例えば、図９のように、視標光束における中心領域の集光位置ＣＡと、視標光束における周辺領域の集光位置ＰＡ１及びＰＡ２と、が左被検眼ＥＬの眼底ＯＦに対してずれていると、左被検眼ＥＬに導光される視標光束の像の像面Ｉが傾斜する。このため、例えば、視標の中央に焦点を合わせる光学系であれば、中心領域には焦点が合っているが、周辺領域には焦点が合っていない視標が左被検眼ＥＬに呈示される。つまり、左被検眼ＥＬには、視標の周辺領域がぼやけてみえる。

そこで、例えば、制御部７０は、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。例えば、本実施例においては、視標光束の結像性能（例えば、スポットダイアグラム、ＭＴＦ（Modulated Transfer Function）等）が最適となるように、視標光束の像の像面Ｉの傾きが補正される。例えば、視標光束の像の像面Ｉの傾きは、光軸に対してディスプレイ３１の面の角度を変更することによって補正することができる。言い換えると、視標光束の像の像面Ｉの傾きは、光軸に対してディスプレイ３１（ディスプレイ３１の面）を傾斜させることによって補正することができる。

図１０は、ディスプレイ３１の傾斜による視標光束の像の像面Ｉを示す図である。例えば、ディスプレイ３１が傾斜していない状態では、視標光束における中心領域の集光位置ＣＡと、周辺領域の集光位置ＰＡ１及びＰＡ２と、が左被検眼ＥＬの眼底ＯＦにおいてずれ、視標光束の像の像面Ｉが光軸Ｌ４Ｌに対して傾く（図９参照）。このため、例えば、本実施例における制御部７０は、像面Ｉの傾きを補正するために、ディスプレイ３１を光軸Ｌ４Ｌに対して上下方向（図１０における矢印ｃ方向）に回転させる。また、例えば、本実施例における制御部７０は、像面Ｉの傾きを補正するために、ディスプレイ３１を光軸Ｌ４Ｌに対して左右方向（図１０における矢印ｄ方向）に回転させる。例えば、制御部７０がこのようにディスプレイ３１を回転させることで、視標光束における中心領域の集光位置ＣＡと、周辺領域の集光位置ＰＡ１及びＰＡ２と、が光軸Ｌ４Ｌに対して略垂直となり、視標光束の像の像面Ｉの傾きが補正される。つまり、視標光束が左被検眼ＥＬの眼底ＯＦにおいて結像した際の結像面が略垂直に補正される。このため、左被検眼ＥＬには、視標光束の中心領域及び周辺領域に焦点の合った視標が呈示されるようになる。

なお、本実施例では説明を省略するが、右被検眼ＥＲにおいても、視標光束の像の像面Ｉが光軸Ｌ４Ｒに対して上下方向（Ｙ方向）及び左右方向（Ｘ方向）に傾く。例えば、この場合には、左被検眼ＥＬと同様に、光軸Ｌ４Ｒに対してディスプレイ３１の面の角度を変更することによって、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正することができる。

例えば、視標光束の像の像面Ｉの傾きは、ディスプレイ３１から照射される視標光束が、凹面ミラー８５へと入射する位置によって変化する。例えば、視標光束が凹面ミラーに入射する位置は、被検眼Ｅの眼屈折力を矯正するための矯正度数の変化により異なる。すなわち、自覚測定を開始する際に、被検眼Ｅの眼屈折力に応じてディスプレイ３１が移動するため、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置が変化する。また、例えば、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置は、被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態によって異なる。すなわち、自覚測定を開始する際に、被検眼Ｅに対して測定手段７が移動することで位置合わせがなされるため、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置が変化する。もちろん、視標光束の像の像面Ｉの傾きは、ディスプレイ３１から照射される視標光束が、凹面ミラー８５へと入射する際の位置を変化させるものであれば生じる。このため、ディスプレイ３１から照射される視標光束が、凹面ミラー８５へと入射する際の位置を変化させる場合には、像面Ｉの傾きを補正することが好ましい。

以下、視標光束の像の像面Ｉが矯正度数の変化によって傾斜する場合と、視標光束の像の像面Ｉがアライメント状態によって傾斜する場合と、について順に説明する。

＜矯正度数に基づく像面の補正＞
例えば、視標光束の像の像面Ｉが矯正度数の変化によって傾斜する場合、制御部７０は、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、被検眼眼底に投影される視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。このとき、例えば、制御部７０は、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するための補正量を設定する。すなわち、制御部７０は、被検眼Ｅの眼屈折力に応じて移動させたディスプレイ３１の位置に基づいて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するための補正量を設定する。

例えば、制御部７０が備えるメモリ７５には、矯正光学系６０の矯正度数を、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するための補正量に変換するための補正テーブルが記憶されている。例えば、このような補正テーブルは、実験やシミュレーションを行うことで矯正度数毎に予め設定されていてもよい。例えば、制御部７０は、補正テーブルに基づいて、矯正光学系６０の矯正度数に対応した補正量を設定する。なお、本実施例においては、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するために、矯正光学系６０の矯正度数毎に補正量を設定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系６０の矯正度数が所定のステップ（例えば、０Ｄ〜５Ｄ、５Ｄ〜１０Ｄ等の５Ｄステップ）で区切られており、補正量がこのステップ毎に設定される構成であってもよい。

また、制御部７０は、設定された補正量に基づいて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。例えば、本実施例においては、制御部７０が、上述したように光軸に対してディスプレイ３１の面の角度を上下及び左右方向に変更し、矯正光学系６０の矯正度数によって傾斜した視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。これによって、視標光束の像の像面Ｉが光軸Ｌ４（光軸Ｌ４Ｌまたは光軸Ｌ４Ｒ）に対して略垂直となり、被検眼Ｅには視標光束の中心領域と周辺領域のどちらにも焦点の合った視標が呈示される。

＜アライメント状態による像面の補正＞
例えば、測定手段７が移動したことで視標光束の像の像面Ｉが傾斜する場合（すなわち、アライメント状態によって視標光束の像の像面Ｉが傾斜する場合）、制御部７０は、測定手段７の位置情報に基づいて、被検眼眼底に投影される視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。このとき、例えば、制御部７０は、測定手段７の位置情報を取得する。例えば、測定手段７の位置情報としては、測定手段７の移動量が取得されてもよいし、測定手段７の位置座標が取得されてもよい。また、例えば、測定手段７の位置情報としては、凹面ミラー８５と測定手段７との相対位置情報が取得されてもよいし、被検眼Ｅと測定手段７との相対位置情報が取得されてもよい。例えば、この場合、制御部７０は、凹面ミラー８５あるいは被検眼Ｅと、測定手段７と、の相対的な位置関係を取得する。例えば、このような相対位置情報は、制御部７０が、凹面ミラー８５あるいは被検眼Ｅの位置と、測定手段７の位置と、をそれぞれ検出することで取得されてもよい。

なお、例えば、測定手段７の位置情報は、測定手段７の全体の位置が調整されたことによって変化した位置情報を利用する構成でもよい。また、例えば、測定手段７の位置情報は、測定手段７が備える投光光学系３０のうち、少なくとも１つの部材（例えば、レンズやディスプレイ等）の位置が調整されて変化した位置情報を利用する構成でもよい。

なお、上記では測定手段７の位置情報を取得する構成を例に挙げて説明したが、偏向ミラー８１の位置情報を取得する構成であってもよい。例えば、本実施例においては、偏光ミラー８１と測定手段７とが一体的に移動することで被検眼Ｅに対するアライメントが行われるので、偏向ミラー８１の移動量や位置座標を用いて、間接的に測定手段７の位置情報を取得してもよい。

例えば、制御部７０は、取得した測定手段７の位置情報に基づいて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するための補正量を設定する。例えば、制御部７０が備えるメモリ７５には、測定手段７の位置情報を、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するための補正量に変換するための補正テーブルが記憶されている。例えば、このような補正テーブルは、実験やシミュレーションを行うことで予め設定されていてもよい。例えば、制御部７０は、補正テーブルに基づいて、測定手段７の位置情報に対応した補正量を設定する。

また、例えば、制御部７０は、設定された補正量に基づいて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。例えば、本実施例においては、制御部７０が、上述したように光軸に対するディスプレイ３１の面の角度を上下及び左右方向に変更し、アライメント状態によって傾斜した視標光束の像の像面の傾きＩを補正する。これによって、視標光束の像の像面Ｉが光軸Ｌ４（光軸Ｌ４Ｌまたは光軸Ｌ４Ｒ）に対して略垂直となり、被検眼Ｅには視標光束の中心領域と周辺領域のどちらにも焦点の合った視標が呈示される。

なお、本実施例においては、視標光束の像の像面Ｉが、矯正光学系６０の矯正度数によって傾斜した場合と、被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態によって傾斜した場合と、のそれぞれにおいて補正される例を挙げて説明したがこれに限定されない。もちろん、本実施例における自覚式検眼装置１では、矯正光学系６０の矯正度数、及び被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態の両方を考慮して、視標光束における像の像面Ｉを補正する構成としてもよい。

＜視標光束における歪の補正＞
例えば、視標光束が光学部材（本実施例においては、凹面ミラー８５）の光軸から外れた光路を通過する場合には、被検眼眼底に投影される視標光束に歪が生じる。そこで、以下においては、被検眼眼底に投影される視標光束における歪の補正について説明する。

図１１は視標光束の歪を説明する図である。なお、本実施例においては、説明の便宜上、縦方向のサイズ及び横方向のサイズが同一な基本形状のグリッドＢＦが視標としてディスプレイ３１に表示され、被検眼Ｅに導光されるものとして説明する。例えば、視標光束に歪が生じると、ディスプレイ３１に点線で示す基本形状のグリッドＢＦを表示しても、被検眼Ｅには実線で示す変形形状のグリッドＴＦが投影されているようにみえる。すなわち、被検眼Ｅには、視標光束の歪によって、縦方向のサイズや横方向のサイズが変形したグリッドが投影されているようにみえる。また、被検眼Ｅには、視標の中心Ｓを軸として回転方向に移動したグリッドが投影されているようにみえる。例えば、図１１においては、基本形状のグリッドＢＦよりも縦方向のサイズが小さく、横方向のサイズが大きく、さらに視標の中心Ｓを軸として反時計回りに回転移動した変形形状のグリッドＴＦがディスプレイ３１に表示されているようにみえる。なお、被検眼Ｅに投影されるグリッド（視標）は、必ずしも縦方向、横方向、及び回転方向のすべてにおいて変形するのではなく、ディスプレイ３１から照射される視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置によって、少なくともそのいずれかが変形する。

そこで、例えば、制御部７０は、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の歪を補正する。言い換えると、例えば、制御部７０は、被検眼眼底に投影される視標光束の歪を補正する。例えば、本実施例においては、ディスプレイ３１に表示される視標を変形させることで、被検眼眼底に投影される視標光束の歪を補正することができる。より詳細には、ディスプレイ３１に表示される視標の縦方向のサイズの変更と、横方向のサイズの変更と、視標の移動と、の少なくともいずれかの処理を行うことによって視標を変形し、視標光束の歪を補正することができる。

図１２は視標光束における歪の補正について説明する図である。なお、図１２では、ディスプレイ３１に表示されたグリッド（視標）を点線で表し、被検眼Ｅに投影されるグリッド（視標）を実線で表している。例えば、図１１を用いて説明したように、ディスプレイ３１に基本形状のグリッドＢＦを表示しても、視標光束が歪むため、被検眼Ｅには変形形状のグリッドＴＦが投影される。このため、例えば、制御部７０は、このような視標光束の歪を打ち消すための視標をディスプレイ３１に表示する。例えば、本実施例においては、制御部７０が基本形状のグリッドＢＦよりも縦方向のサイズを大きく、横方向のサイズを小さく、さらに視標の中心Ｓを軸として時計回りに回転移動させた補正グリッドＲＦを予めディスプレイ３１に表示する。これによって、被検眼Ｅに向けて導光される視標光束の歪を補正することができる。つまり、ディスプレイ３１に表示した補正グリッドＲＦは、その視標光束に歪が生じるが、被検眼Ｅには基本形状のグリッドＢＦが投影されるようになる。

なお、本実施例においては説明していないが、視標の縦方向、横方向、及び回転方向に変形する歪だけでなく、糸巻き型や樽型に変形する歪を考慮した補正グリッドＲＦをディスプレイ３１に表示するようにしてもよい。

例えば、前述のように、ディスプレイ３１から照射される視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置は、被検眼Ｅの眼屈折力を矯正するための矯正度数によって異なる。また、前述のように、ディスプレイ３１から照射される視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置は、被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態によって異なる。以下、視標光束が矯正度数の変化によって歪む場合と、視標光束がアライメント状態によって歪む場合と、について順に説明する。

＜矯正度数に基づく歪の補正＞
例えば、視標光束が矯正度数の変化によって歪む場合、制御部７０は、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、被検眼眼底に投影される視標光束の歪を補正する。このとき、例えば、制御部７０は、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、視標光束の歪を補正するための補正量を設定する。すなわち、制御部７０は、被検眼Ｅの眼屈折力に応じて移動させたディスプレイ３１の位置に基づいて、視標光束の歪を補正するための補正量を設定する。

例えば、制御部７０が備えるメモリ７５には、矯正光学系６０の矯正度数を、視標光束の歪を補正するための補正量に変換するための補正テーブルが記憶されている。例えば、このような補正テーブルは、実験やシミュレーションを行うことで予め設定されていてもよい。例えば、制御部７０は、補正テーブルに基づいて、矯正光学系６０の矯正度数に対応した補正量を設定する。

また、制御部７０は、設定された補正量に基づいて、視標光束の歪を補正する。例えば、本実施例においては、制御部７０が、上述したように視標の縦方向のサイズと、横方向のサイズと、視標の移動と、の少なくともいずれかを変更する処理を行うことで、視標光束の歪を補正する。これにより、ディスプレイ３１には矯正光学系６０の矯正度数によって変化する視標光束の歪を打ち消すための補正グリッドＲＦが表示され、被検眼Ｅに基本形状のグリッドＢＦが投影される。

＜アライメント状態による歪の補正＞
例えば、視標光束がアライメント状態によって歪む場合（すなわち、被検眼Ｅに対して測定手段７が移動したことで視標光束が歪む場合）、制御部７０は、測定手段７の位置情報に基づいて、被検眼眼底に投影される視標光束の歪を補正する。例えば、アライメント状態は上述の指標像Ｍａ〜Ｍｈ（図７参照）を用いて判断され、被検眼Ｅに対する測定手段７の位置が調整される。例えば、制御部７０は、このときの測定手段７の位置情報を取得する。なお、測定手段７の位置情報は、視標光束の像の像面Ｉを補正する場合と同様に、測定手段７の移動量や位置座標を用いてもよいし、被検眼Ｅと測定手段７との相対的な位置情報を用いてもよい。また、測定手段７の位置情報は、偏向ミラー８１の位置情報を求めることにより間接的に取得されてもよい。

例えば、制御部７０は、測定手段７の位置情報を取得すると、この位置情報に基づいて、視標光束の歪を補正するための補正量を設定する。例えば、制御部７０が備えるメモリ７５には、測定手段７の位置情報を、視標光束の歪を補正するための補正量に変換するための補正テーブルが記憶されている。例えば、このような補正テーブルは、実験やシミュレーションを行うことで予め設定されていてもよい。例えば、制御部７０は、補正テーブルに基づいて、測定手段７の位置情報に対応した補正量を設定する。

また、例えば、制御部７０は、設定された補正量に基づいて、視標光束の歪を補正する。例えば、本実施例においては、制御部７０が、上述したように視標の縦方向のサイズと、横方向のサイズと、視標の移動と、の少なくともいずれかを変更する処理を行うことで、視標光束の歪を補正する。これにより、ディスプレイ３１にはアライメント状態によって変化する視標光束の歪を打ち消すための補正グリッドＲＦが表示され、被検眼Ｅに基本形状のグリッドＢＦが投影される。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０の矯正度数の変化と、被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態の変化と、のそれぞれにおいて生じた視標光束の歪を補正する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。もちろん、本実施例における自覚式検眼装置１では、矯正光学系６０の矯正度数、及び被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態の両方を考慮して、視標光束の歪を補正する構成としてもよい。

以上説明したように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段を備える。これによって、視標光束の像の像面の傾きを軽減させた状態において、被検眼の光学特性を自覚的に測定することができる。このため、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、視標光束が光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる視標光束の歪を補正する補正手段を備える。これによって、視標光束の歪を軽減させた状態において、被検眼の光学特性を自覚的に測定することができる。このため、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数に基づいて、視標光束の像の像面の傾きを補正する。これによって、被検眼の眼屈折力に応じて矯正光学系の矯正度数が変化することで生じる視標光束の像の像面の傾きを抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、矯正光学系の矯正度数に基づいて、視標光束の歪を補正する。これによって、被検眼の眼屈折力に応じて矯正光学系の矯正度数が変化することで生じる視標光束の歪を抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、視標光束の位置ずれを検出するずれ検出手段と、ずれ検出手段の検出結果に基づいて測定ユニットを移動させる移動手段と、測定ユニットの位置情報を取得する位置情報取得手段と、を備える。これによって、被検眼と測定手段との位置合わせを行った際に生じる視標光束の像の像面の傾きを抑制することができる。また、これによって、被検眼と測定手段との位置合わせを行った際に生じる視標光束の歪を抑制することができる。従って、検者は被検眼に対して自覚測定を精度よく行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、設定された補正量に基づいて光軸に対するディスプレイの面の角度を変更する。これによって、検者は、視標光束の像の像面の傾きを容易に補正することができる。
また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、設定された補正量に基づいてディスプレイに表示される視標を変形する。これによって、検者は、視標光束の歪を容易に補正することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、光学部材を用いることによって、視標光束、あるいは視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼に導光することができる。このため、視標光束の像を被検眼に実際の距離となるように導光するための余分な部材やスペースを必要とせず、装置を小型化することができる。

＜変容例＞
なお、ディスプレイ３１に表示される視標のサイズは、被検眼Ｅがディスプレイ３１を正面方向からみた場合と、被検眼Ｅがディスプレイ３１を斜め方向からみた場合と、において、わずかに異なるようにみえる場合がある。すなわち、被検眼Ｅがディスプレイ３１を斜め方向からみた場合の視標は、被検眼Ｅがディスプレイ３１を正面方向からみた場合の視標に比べて、縦長、横長にみえる場合がある。例えば、本実施例においては、光軸に対してディスプレイ３１が垂直に配置されており、被検眼Ｅはディスプレイ３１を正面方向からみることができるようになっている。しかし、例えば、視標光束における像の像面Ｉの傾きを補正する際には、光軸に対してディスプレイ３１の面の角度を変更するため、被検眼Ｅはディスプレイ３１に表示された視標を斜め方向からみることになり、視標のサイズが変化してみえる場合がある。

このため、例えば、制御部７０は、ディスプレイ３１に表示する視標のサイズを調整することによって、上述のような視標のサイズの変化を補正する構成としてもよい。例えば、この場合、制御部７０は、ディスプレイ３１が傾斜した角度に基づいて、視標のサイズの変化を補正するための補正量を取得してもよい。また、例えば、制御部７０は、取得した補正量に基づいて、ディスプレイ３１に表示する視標のサイズを調整してもよい。これによって、視標光束における像の像面Ｉの傾きを補正するためにディスプレイ３１を傾斜させても、被検眼Ｅにディスプレイ３１を正面方向からみた場合と同じサイズの視標を呈示することができる。

なお、本実施例においては、制御部７０が補正テーブルを用いて矯正光学系６０の矯正度数に対応した補正量を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、制御部７０は、演算式から矯正光学系６０の矯正度数に対応した補正量を取得する構成であってもよい。この場合、例えば、演算処理を行うための演算式は、予め実験やシミュレーションを行うことで設定され、制御部７０が備えるメモリ７５に記憶されている。例えば、制御部７０は、演算式を用いて矯正度数に対応した補正量を取得し、視標光束の像の像面Ｉを補正するための演算処理を行う構成としてもよい。また、例えば、制御部７０は、演算式を用いて矯正度数に対応した補正量を取得し、視標光束の歪を補正するための演算処理を行う構成としてもよい。

同様に、本実施例においては、制御部７０が補正テーブルを用いて測定手段７の位置情報に対応した補正量を取得する構成を例に挙げて説明したが、測定手段７の位置情報に対応した補正量を演算式から取得する構成であってもよい。この場合、例えば、制御部７０は、演算式を用いて視標光束の像の像面Ｉを補正するための演算処理を行ってもよい。また、例えば、制御部７０は、演算式を用いて視標光束の歪を補正するための演算処理を行ってもよい。

なお、本実施例においては、視標光束における像の像面Ｉの傾きを、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、あるいは被検眼Ｅのアライメント状態に応じて補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、被検眼Ｅの瞳孔間距離に基づいて、視標光束における像の像面Ｉの傾きが補正されてもよい。例えば、被検眼Ｅの瞳孔間距離は他覚測定時に測定され、制御部７０が備えるメモリ７５に記憶されている。例えば、自覚測定の開始時には、制御部７０が被検眼Ｅの瞳孔間距離をメモリ７５から呼び出して設定する。なお、被検眼Ｅの瞳孔間距離は、検者がモニタ４に瞳孔間距離を入力することで設定される構成でもよいし、別の装置が取得した瞳孔間距離を受信して設定する構成でもよいし、所定の瞳孔間距離（例えば、人間の平均的な瞳孔間距離）が自動的に設定される構成であってもよい。

例えば、制御部７０は、設定された被検眼Ｅの瞳孔間距離に合わせて、偏向ミラー８１及び測定手段７をＸ方向へ一体的に移動させるとともに、偏向ミラー８１を回転させる。例えば、これによって、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒがそれぞれ移動し、左眼用の偏向ミラー８１Ｌと右眼用の偏向ミラー８１Ｒとの間の距離が変更される。従って、左眼用光路と右眼用光路との間のＸ方向における距離を、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて変更することができる。

例えば、このように、測定手段７は被検眼Ｅの瞳孔間距離によっても移動するため、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置が変化し、視標光束の像の像面Ｉが傾斜する。そこで、例えば、制御部７０は、アライメント状態による像面Ｉの補正と同様にして、測定手段７の位置情報（例えば、測定手段７の移動量や位置座標、被検眼Ｅと測定手段７との相対的な位置情報等）に基づいて、ディスプレイ３１を傾斜させ、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するようにしてもよい。

なお、上記においては、被検眼Ｅの瞳孔間距離に基づいて視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するようにしたが、被検眼Ｅの瞳孔間距離によって測定手段７が移動すると、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置が変化して、視標光束に歪が生じる。このため、例えば、制御部７０は、アライメント状態による歪の補正と同様にして、測定手段７の位置情報に基づいて、視標の縦方向のサイズと、横方向のサイズと、視標の移動と、の少なくともいずれかを変更する処理を行い、視標光束の歪を補正するようにしてもよい。

また、本実施例においては、視標光束における像の像面Ｉの傾きを、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、あるいは被検眼Ｅのアライメント状態に応じて補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、投光光学系３０の輻輳量に基づいて、視標光束における像の像面Ｉの傾きが補正されてもよい。

例えば、本実施例では、輻輳角度に基づいて、視標光束における像の像面Ｉの傾きが補正されてもよい。例えば、制御部７０が、投光光学系３０を制御して偏向ミラー８１による輻輳角度を変更してもよい。すなわち、制御部７０は、偏向ミラー８１を回転させることによって、投光光学系３０の輻輳量（輻輳角度）を変更してもよい。

例えば、輻輳量が変更されると、上述したように偏光ミラー８１が回転するため、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置が変化して、視標光束の像の像面Ｉが傾斜する。そこで、例えば、制御部７０は、投光光学系３０の輻輳量に基づいて、視標光束における像の像面Ｉの傾きを補正するようにしてもよい。例えば、本実施例においては、制御部７０が、偏向ミラー８１の回転量（例えば、回転角度、位置情報、位置座標等）と、測定手段７の位置情報と、の双方を用いて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するための補正量を設定する。例えば、制御部７０は、偏向ミラー８１の回転量及び測定手段７の位置情報に応じた補正量をメモリ７５から取得して設定する。なお、例えば、メモリ７５は、このような補正量を取得するための補正テーブルを記憶していてもよいし、演算式を記憶していてもよい。これによって、偏向ミラー８１の回転量及び測定手段７の位置情報が補正量に変換される。また、例えば、制御部７０は、設定した補正量に基づいて、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する。例えば、本実施例においては、上述のように、制御部７０が補正量に基づいてディスプレイ３１の面の角度を変更することで、視標光束の像の像面の傾きＩを補正することができる。

なお、上記においては、投光光学系３０の輻輳量に基づいて視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正するようにしたが、輻輳量の変更に伴って偏光ミラー８１が回転すると、視標光束が凹面ミラー８５に入射する位置が変化して、視標光束に歪が生じる。このため、例えば、制御部７０は、偏向ミラー８１の回転量と、測定手段７の位置情報と、の双方を用いて、視標光束の歪を補正するための補正量を設定してもよい。例えば、このような補正量を取得するための補正テーブルや演算式がメモリ７５に記憶され、偏向ミラー８１の回転量及び測定手段７の位置情報が補正量に変換されてもよい。例えば、制御部７０は、設定した補正量に基づいて、視標の縦方向のサイズと、横方向のサイズと、視標の移動と、の少なくともいずれかを変更する処理を行い、視標光束の歪を補正することができる。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの左右方向（Ｘ方向）及び上下方向（Ｙ方向）における測定手段７のアライメント状態について述べたが、被検眼Ｅの前後方向（Ｚ方向）における測定手段７のアライメント状態が考慮されてもよい。例えば、被検眼ＥのＺ方向において測定手段７が位置合わせされた状態では、図７に示す無限遠の指標像ＭａからＭｅまでの像間隔ａと、有限遠の指標像ＭｈからＭｆまでの像間隔ｂと、がある一定の比率となるように設定されている。例えば、被検眼ＥのＺ方向において測定手段７が位置合わせされていない状態では、無限遠の指標像ＭａからＭｅまでの像間隔はほとんど変化しないが、有限遠の指標像ＭｈからＭｆまでの像間隔が変化する。例えば、制御部７０は、無限遠の指標像Ｍａ及びＭｅの像間隔ａと、有限遠の指標像Ｍｈ及びＭｆの像間隔ｂと、の像比率（つまり、ａ／ｂ）を比較することで、被検眼Ｅに対する視標光束のＺ方向における位置ずれを検出することができる。なお、上記構成の詳細については特開平６−４６９９９号公報を参照されたい。

例えば、制御部７０は、被検眼Ｅに対する視標光束のＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向における位置ずれを検出し、これに基づいて測定手段７を移動させ、被検眼Ｅと測定手段７との位置合わせを行うようにしてもよい。例えば、本実施例においては、偏光ミラー８１及び測定手段７を光軸Ｌ４方向に一体的に移動させることで、被検眼ＥのＺ方向（前後方向）におけるアライメントを行うことができる。

例えば、測定手段７がＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動した場合、凹面ミラー８５へ入射する視標光束の位置が変化するので、被検眼Ｅに導光される視標光束の像の像面Ｉに傾きが生じる。このため、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅに対する測定手段７のＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向における位置情報を利用して、視標光束の像の像面Ｉを補正する構成としてもよい。同様に、例えば、測定手段７がＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動した場合、凹面ミラー８５へ入射する視標光束の位置が変化するので、被検眼Ｅに導光される視標光束に歪が生じる。このため、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅに対する測定手段７のＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向における位置情報を利用して、視標光束の歪を補正する構成としてもよい。

なお、本実施例においては、偏向ミラー８１と測定手段７とを一体的に駆動することでＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向のアライメントを調整する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例においては、偏向ミラー８１及び測定手段７の駆動によって、被検眼Ｅと、自覚式測定手段及び他覚式測定手段と、の位置関係を調整できる構成であればよい。すなわち、投光光学系３０からの視標光束が被検眼Ｅの眼底上に形成されるように、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向を調整できる構成であればよい。例えば、この場合、顎台５に対して自覚式検眼装置１をＸＹＺ方向に移動可能な構成を設けて、自覚式検眼装置１を移動させる構成であってもよい。また、例えば、偏向ミラー８１が固定配置され、測定手段７のみが移動する構成であってもよい。また、例えば、偏向ミラー８１のみでＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向を調整できる構成としてもよい。この場合には、例えば、偏向ミラー８１が回転駆動するとともにＺ方向へと移動し、偏向ミラー８１と測定手段７との間の距離を変更する構成が挙げられる。

なお、本実施例においては、自覚式検眼装置１が備える他覚測定光学系によって被検眼Ｅの眼屈折力を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの眼屈折力は、自覚式検眼装置１が備える自覚測定光学系によって取得される構成であってもよい。この場合、矯正光学系６０の矯正度数は、本実施例で説明したように他覚眼屈折力（他覚値）を用いて取得することができるし、自覚測定において取得された自覚眼屈折力（自覚値）を用いて取得することもできる。例えば、自覚測定中に取得された自覚値は随時メモリ７５に記憶され、制御部７０が被検眼Ｅと測定手段７とのアライメント状態に応じて自覚値を呼び出す構成であってもよい。

また、本実施例においては、自覚式検眼装置１が備える他覚測定光学系によって被検眼Ｅの眼屈折力を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの眼屈折力は、別の装置によって取得した被検眼Ｅの他覚値あるいは自覚値を用いてもよい。例えば、この場合には、自覚式検眼装置１に別の装置からの眼屈折力を受信するための受信機能を設ける構成が挙げられる。また、例えば、この場合には、検者が被検眼Ｅの眼屈折力を入力する構成としてもよい。

なお、本実施例では、自覚測定の開始前に被検眼Ｅと測定手段７との位置合わせを実施する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅと測定手段７との位置合わせは、自覚測定中においても実施される構成であってもよい。例えば、この場合、制御部７０は、被検眼Ｅに対する測定手段７の位置合わせが完了した後であっても、被検眼Ｅと測定手段７とのアライメントずれを随時検出し、被検眼ＥのＸＹＺ方向における移動を常に検出する追尾制御（トラッキング）を行ってもよい。例えば、このような構成を備える自覚式検眼装置１であれば、制御部７０は被検眼Ｅの移動にともなって、被検眼に投影する視標光束の像の像面Ｉの傾きを常に補正することができる。また、このような構成を備える自覚式検眼装置１であれば、制御部７０は被検眼Ｅの移動にともなって、被検眼に投影する視標光束の歪を常に補正することができる。

なお、本実施例においては、光軸に対してディスプレイ３１の面の角度を変更することによって、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、設定された補正量に基づいて光学部材を移動させることで、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正してもよい。例えば、この場合には、投光光学系３０が備える光学部材を利用してもよいし、光学部材を別途設けてもよい。

例えば、投光光学系３０が備える光学部材を利用して視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する場合には、制御部７０が設定した補正量に基づいて、光学部材を投光光学系３０の光軸方向に傾斜させてもよい。例えば、本実施例においては、光学部材として投光レンズ３３、投光レンズ３４、対物レンズ１４等を傾斜させることができる。なお、これらの投光レンズと対物レンズは、そのいずれかを傾斜させる構成であってもよいし、複数を組み合わせて傾斜させる構成であってもよい。

また、例えば、光学部材を別途設けることによって視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する場合には、設定された補正量に基づいて、光学部材を投光光学系３０の光軸中に挿脱してもよい。例えば、光学部材は、ディスプレイ３１から被検眼Ｅへ導光される視標光束が通過する光軸上であればどこに挿脱されてもよい。言い換えると、光学部材は光軸Ｌ２上及び光軸Ｌ３上のどこに挿脱されてもよい。例えば、このような光学部材としては、レンズ（凸レンズ、凹レンズ）、プリズム、ミラー等を使用することができる。

このように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、投光光学系の光路において移動可能な移動光学部材と、移動光学部材を投光光学系の光路において移動させる駆動手段を備える。また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、補正量に基づいて移動光学部材を移動させることができる。このため、検者は、被検眼に対して光学部材を適切な位置に配置し、視標光束の像の像面の傾きを精度よく補正することができる。

なお、本実施例においては、ディスプレイ３１に表示する視標を予め変形させることによって、視標光束の歪を補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、視標光束の像の像面Ｉの傾きを補正する場合と同様に、設定された補正量に基づいて光学部材を移動させることで、視標光束の歪を補正してもよい。例えば、この場合にも、投光光学系３０が備える光学部材を利用してもよいし、光学部材を別途設けてもよい。

例えば、投光光学系３０が備える光学部材を利用して視標光束の歪を補正する場合には、投光レンズ３３、投光レンズ３４、対物レンズ１４等のいずれかを傾斜させる構成であってもよいし、複数を組み合わせて傾斜させる構成であってもよい。また、例えば、光学部材を別途設けることによって視標光束の歪を補正する場合には、視標光束が通過する光軸上に、レンズ（凸レンズ、凹レンズ）、プリズム、ミラー等を挿脱する構成としてもよい。例えば、このように設定した補正量に基づいて、制御部７０が光学部材を傾斜させたり、挿脱したりすることで、視標光束の歪が補正されてもよい。

このように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、投光光学系の光路において移動可能な移動光学部材と、移動光学部材を投光光学系の光路において移動させる駆動手段を備える。また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、補正量に基づいて移動光学部材を移動させることができる。このため、検者は、被検眼に対して光学部材を適切な位置に配置し、視標光束の歪を精度よく補正することができる。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、視標光束が光学部材（本実施例においては、凹面ミラー８５）の光軸Ｌから外れた光路を通過することによって生じる歪を補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、視標光束が光学部材の光軸Ｌから外れた光路を通過すると、非点収差、球面収差、コマ収差、色収差、歪曲収差等の様々な収差が生じる。例えば、本実施例における制御部７０は、矯正光学系６０の矯正度数に基づいて、上述のような収差を補正する構成であってもよい。

１ 自覚式検眼装置
２ 筺体
４ モニタ
５ 顎台
７ 測定手段
１０ 他覚式測定光学系
２５ 自覚式測定光学系
３０ 投光光学系
４５ 第１指標投影光学系
４６ 第２指標投影光学系
５０ 観察光学系
６０ 矯正光学系
７０ 制御部
７５ メモリ
８１ 偏向ミラー
８４ 反射ミラー
８５ 凹面ミラー
９０ 補正光学系
１００ 前眼部撮像光学系

Claims (7)

1. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、
   前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、
   前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、
   を備え、
   前記視標光束は前記光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光され、前記被検眼に導光された前記視標光束の像を用いて前記被検眼の光学特性を自覚的に測定するための自覚式検眼装置であって、
   前記視標光束が前記光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる前記視標光束の像の像面の傾きを補正する補正手段と、
   を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。
2. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、前記矯正光学系の矯正度数に基づいて、前記視標光束の像の像面の傾きを補正することを特徴とする自覚式検眼装置。
3. 請求項１又は２の自覚式検眼装置において、
   前記投光光学系を収納する測定ユニットと、
   前記被検眼に対する前記視標光束の位置ずれを検出するずれ検出手段と、
   前記補正手段は、前記ずれ検出手段によって検出された検出結果に基づいて、前記視標光束の像の像面の傾きを補正することを特徴とする自覚式検眼装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記投光光学系はディスプレイを有し、前記ディスプレイに視標が表示されることで前記視標光束が出射され、
   前記補正手段は、光軸に対する前記ディスプレイの面の角度を変更することで前記視標光束の像の像面の傾きを補正することを特徴とする自覚式検眼装置。
5. 請求項１〜３のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記投光光学系の光路において移動可能な移動光学部材と、
   前記移動光学部材を前記投光光学系の光路において移動させる駆動手段と、
   を備え、
   前記補正手段は、前記駆動手段を制御して前記移動光学部材を移動させることで前記視標光束の像の像面の傾きを補正することを特徴とする自覚式検眼装置。
6. 請求項１〜４のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記光学部材は、前記視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように前記被検眼に導光することを特徴とする自覚式検眼装置。
7. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、を備え、前記視標光束は前記光学部材の光軸から外れた光路を通過して被検眼に導光され、前記被検眼に導光された前記視標光束を用いて前記被検眼の光学特性を自覚的に測定するための自覚式検眼装置において用いられる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサによって実行されることで、
   前記視標光束が前記光学部材の光軸から外れた光路を通過することによって生じる前記視標光束の像の像面の傾きを補正する補正ステップを前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする自覚式検眼プログラム。