JP2018085725A - イベントベースのセンサー、それを含むユーザー装置、及びその動作方法 - Google Patents

イベントベースのセンサー、それを含むユーザー装置、及びその動作方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 イベントベースのセンサーから生成された光電流から飽和成分に対応するノイズを効果的に除去することによって、向上された信頼性を有するイベントベースのセンサー、その動作方法、及びそれを含む電子装置を提供する。
【解決手段】 本発明に係るイベントベースのセンサーは暗電流(dark current)である第1電流を生成するように構成されるダミーピクセル、第1電流に基づいてミラーリングされた電流(mirrored current)を出力するように構成される電流ミラー、及び入射される光の強度に基づいて第2電流を生成し、生成された第2電流から上記ミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて、入射される光の変化量の感知の有無を示す活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセルを含む。
【選択図】 図1

Description

本発明はイメージセンサーに係り、より詳細にはイベントベースのセンサー、それを含むユーザー装置、及びその動作方法に係る。
人間とコンピュータとの間の相互作用(Human−computer interaction、HCI)はユーザーインターフェイスで実現されて作動する。ユーザー入力を認識する多様なユーザーインターフェイスは人間とコンピュータとの間の自然な相互作用を提供することができる。ユーザー入力を認識するために多様なセンサーが利用されることができる。自然な相互作用を提供するために、ユーザー入力に対する応答速度が速いセンサーが必要である。また、多様なモバイル機器の場合、ユーザーインターフェイスを通じた様々なスマート機能を遂行しながら、電力消費を少なくしなければならない必要性が存在する。したがって、電力消費は低く、応答速度は速く、センシング目的に合う信頼度が高いセンサーが要求される。
米国特許第7,646,410号公報 米国特許第9,389,693号公報 韓国特許第10−1512810号公報 米国特許公開第2010/0295982号明細書 米国特許公開第2012/0177254号明細書 米国特許公開第2016/0134822号明細書
本発明の目的はイベントベースのセンサーから生成された光電流から飽和成分に対応するノイズを効果的に除去することによって、向上された信頼性を有するイベントベースのセンサー、その動作方法、及びそれを含む電子装置を提供することにある。
本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーは暗電流(dark current)である第1電流を生成するように構成されるダミーピクセル、前記第1電流に基づいてミラーリングされた電流(mirrored current)を出力するように構成される電流ミラー、及び入射される光の強度に基づいて第2電流を生成し、前記生成された第2電流から前記ミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて、前記入射される光の変化量の感知の有無を示す活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセルを含む。
本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーは暗電流である第1電流を生成し、前記生成された第1電流を第1電圧に変換して第1電圧を生成するように構成されるダミーピクセル、前記第1電圧に基づいて前記第1電流を複製して第2電流を出力するように構成される第1トランジスタ、及び入射される光の強度に基づいて第3電流を生成し、前記第2及び第3電流に基づいて前記入射される光の変化量の感知の有無を示す活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセルを含む。
本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーの動作方法は暗電流である第1電流を生成する段階、ユーザー入力に対応して変わる光に基づいて第2電流を生成する段階、前記第1電流をミラーリングすることによってミラーリングされた電流を生成する段階、前記第2電流から前記ミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて前記光の変化を感知することによって、前記ユーザー入力に関連するイベント情報を生成する段階を含む。
本発明の実施形態に係る電子装置は暗電流である第1電流を生成し、入射される光に基づいて第2電流を生成し、前記第2電流から前記第1電流のミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて前記入射される光の変化に対応するイベント信号を出力するように構成されるイベントベースのセンサー、及び前記イベント信号に基づいて前記入射される光の変化に対応する動作を遂行するプロセッサを含む。
本発明によれば、ダミーピクセルを使用して暗電流を生成し、生成された暗電流に基づいて、センシングピクセルで暗電流に対応するノイズ成分(即ち、飽和成分に対応するノイズ成分)を除去することができる。したがって、向上された信頼性を有するイベントベースのセンサー、その動作方法、及びそれを含む電子装置が提供される。
本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーを示すブロック図である。 図1のピクセルに含まれたフォトダイオードの電流−電圧特性を示すグラフである。 低照度環境での暗電流の影響を説明するためのグラフである。 高温での暗電流の影響を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態に係るセンシングピクセル、ダミーピクセル及び電流ミラーを示す図である。 図5の電流ミラーを詳細に示す図である。 本発明の実施形態に係るダミーピクセル、センシングピクセル、及び電流ミラーの構成を示す図である。 本発明の実施形態に係るダミーピクセル、センシングピクセル、及び電流ミラーの構成を示す図である。 本発明の実施形態に係るダミーピクセル、センシングピクセル、及び電流ミラーの構成を示す図である。 本発明の実施形態に係る電流ミラーの構成を示す図である。 本発明の実施形態に係るセンシングピクセルを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る電子装置を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係るイベントベースのセンシング方法を示す順序図である。 本発明の実施形態に係るダミーピクセル及びセンシングピクセルの構成を示す図である。 図14のセンシングピクセル及びダミーピクセルの構造を示すブロック図である。 図15のセンシングピクセル及びダミーピクセルの一部の構成を示す回路図である。 本発明に係るイベントベースのセンサーが適用された電子装置を例示的に示す。
本明細書で開示されている特定の構造的又は機能的説明は、単に技術的概念にしたがう実施形態を説明するための目的で例示されたものであって、実施形態は多様な他の形態に実施されることができ、本明細書に説明された実施形態に限定されない。
第1又は第2等の用語が多様な構成要素を説明するために使用されることがあるが、このような用語は1つの構成要素を他の構成要素から区別する目的のみに理解されなければならない。例えば、第1構成要素が第2構成要素と称され、同様に第2構成要素が第1構成要素と称されてもよい。
単数の表現は、文脈上明確に異なる表現がない限り、複数の表現を含む。本明細書で、“含む”等の用語は、記載された特徴、数字、段階、動作、構成要素、部分品又はこれらの組み合わせが存在することを指すものであり、1つ又はそれ以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部分品又はこれらの組み合わせの存在又は付加可能性を予め排除しないことと理解されなければならない。
異なるように定義されない限り、技術的であるか、或いは科学的な用語を含んでここで使用されるすべての用語は実施形態が属する技術分野で通常の知識を有する者によって一般的に理解されることと同一の意味を有する。一般的に使用される事前に定義されているような用語は関連技術の文脈の上に有する意味と一致する意味を有することと解釈されなければならなく、本明細書で明確に定義しない限り、理想的であるか、或いは過度に形式的な意味として解釈されない。
以下で、本発明に係る一部の実施形態が添付された図面を参照して詳細に説明される。各図面に提示された同一の参照符号は同一の部材を示すことができる。
図1は本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーを示す図である。図1を参照すれば、イベントベースのセンサー100はコントローラ110及びピクセルアレイ120を含む。
イベントベースのセンサー100はニューロモルフィック(neuromorphic)センシング技法に基づいて動作する。より具体的に、ピクセルアレイ120に含まれたセンシングピクセル121はピクセルアレイ120に入射される光の変化を感知し、ピクセルアレイ120に入射される光の変化が所定の臨界値を超過することに応じて活性化信号を出力する。光の変化は客体の動き、イベントベースのセンサー100の動き、客体に投射される光の変化及び客体によって発光される光の変化のうちの少なくとも1つによって発生する。例えば、ピクセルアレイ120はユーザーの手の動きによる光の変化を感知し、光の変化を感知したことを示す活性化信号を出力する。
コントローラ110はピクセルアレイ120によって出力された活性化信号を受信する。コントローラ110は活性化信号に基づいてイベント信号を出力する。イベント信号は活性化信号を出力したピクセルの識別情報及び活性化信号が出力された時間情報を含む。識別情報は活性化信号を出力したピクセルのアドレスを含み、時間情報は活性化信号が出力された時間のタイムスタンプを含む。複数のイベント信号に含まれた識別情報及び時間情報を通じて光の変化パターンが分析されるので、イベントベースのセンサー100は光の変化を発生させるユーザーのジェスチャー認識等に活用されることができる。イベントベースのセンサー100は時間非同期的にイベント信号を生成及び出力するので、フレーム毎にすべてのピクセルをスキャンするフレームベースのビジョンセンサーに比べて低電力、高速に動作する。
センシングピクセル121は内部にフォトダイオードを含む。フォトダイオードはフォトダイオードに入射される光の強度(light intensity)に比例する電流I_PDを生成し、センシングピクセル121は電流I_PDに基づいて活性化信号を出力する。電流I_PDに関しては図2を参照して説明する。
図2は図1のピクセルに含まれたフォトダイオードの電流−電圧特性を示した図である。図2のX軸は電圧を示し、Y軸は電流を示す。図2に図示された曲線は光の強度に応じる逆バイアスの飽和電流を示す。E0乃至E4は一定な間隔の光の強度を示し、E0は強度0を示す。E0に対応する曲線は光が無い環境でフォトダイオードによって生成される暗電流(dark current)I_SATを示す。
センシングピクセルによって生成される電流I_PDは、光が無い環境で生成される暗電流I_SAT成分と、フォトダイオードに入射される光に応じて生成される光電流I_PHOTO成分とを含む。例えば、E2に該当する強度の光が入射される場合、フォトダイオードは電流I_PD1を生成する。この時、電流I_PD1は暗電流I_SAT成分及び光電流I_PHOTO1成分を含む。
電流I_PDで実際に入射される光による成分は光電流I_PHOTOであるので、暗電流I_SATに対応する成分は雑音として作用する。光電流I_PHOTOは入射される光の強さに比例して増加され、暗電流I_SATの量は温度に比例して増加される。
一例として、フォトダイオードに入射される光の強度が十分であるか、或いはフォトダイオードの温度が高くない場合、電流I_PDのうち暗電流I_SATに対応する成分が占める比率は非常に小さい。この場合、暗電流I_SATに対応する成分はコントラスト感度(contrast sensitivity)のようなセンシング性能に大きい影響を及ぼさないとし得る。しかし、低照度環境又はフォトダイオードの温度が高い場合、暗電流I_SATに対応する成分はセンシング性能を低下させる要因になる可能性がある。具体的に、電流I_PDのうち暗電流I_SATに対応する成分が占める比率が大きくなることに応じて、臨界値を超過する光の変化がないにもかかわらず、活性化信号が出力される可能性がある。環境に応じた暗電流I_SATの影響に関しては図3及び図4を参照して説明する。
図3は低照度環境での暗電流の影響を説明するためのグラフである。図3のX軸は電圧V_PRを示し、Y軸は電流I_PDを示す。例示的に、電流I_PDはセンシングピクセル内のフォトダイオードによって生成される電流を示し、電圧V_PRはセンシングピクセルによって電流I_PDが変換された値である。例示的に、センシングピクセルは電圧V_PRの変化量に基づいて活性化信号を出力することができる。
イベントベースのセンサーは電流I_PDを電圧V_PRに変換し、電圧V_PRを利用して活性化信号を生成する。活性化信号が正常に出力されるためには、光の強度と電圧V_PRとの間に正比例関係が形成されなければならない。暗電流I_SATは低照度環境で光の強度と電圧V_PRとの関係に影響を及ぼす。図3の電流I_PD及び電圧V_PRに関する理想的な電流−電圧曲線Ideal I−V curveによれば、光の強度に応じる電流I_PDと電圧V_PRとの間に正比例関係が形成される。しかし、低照度環境での暗電流I_SATの影響が反映された曲線310によれば、電流I_PDのうち暗電流I_SATに対応する成分が占める比率が大きくなることによって、電流I_PDと電圧V_PRとの正比例関係が崩れる。したがって、低照度環境で暗電流I_SATによるノイズによって、イベントベースのセンサーの性能が低下される。
図4は高温での暗電流の影響を説明するためのグラフである。図4のX軸は電圧V_PRを示し、Y軸は電流I_PDを示す。電圧V_PR及び電流I_PDは図3を参照して説明したので、これに関する詳細な説明は省略する。
図4の理想的な電流−電圧曲線(Ideal I−V curve)を参照すれば、入射される光の変化量△Eによって電位差V_PR1が発生される。上述されたように、フォトダイオードの温度が高くなるほど、暗電流I_SATの大きさは大きくなる。高温環境での暗電流I_SATの影響が反映された曲線410を参照すれば、温度上昇によって暗電流I_SATの大きさが大きくなることによって同一の光の変化量△Eに応じて歪曲された電位差V_PR2のみが発生される。したがって、高温環境で暗電流I_SATによるノイズによって、イベントベースのセンサーの性能が低下される。
本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーはダミーピクセルを利用して暗電流I_SATの影響を除去することができる。再び図1を参照すれば、ピクセルアレイ120はダミーピクセル122を含む。ダミーピクセル122に提供される光は遮断され、ダミーピクセル122は光が無い環境で電流(即ち、暗電流)を生成する。イベントベースのセンサー100はこの電流を利用して電流I_PDのうち暗電流I_SATに対応する飽和成分を除去する。
より具体的に、イベントベースのセンサー100は電流ミラー(current mirror)を利用してダミーピクセル122に流れる電流I_Dをミラーリングし、ミラーリングされた電流を利用してセンシングピクセル121に流れる電流I_PDから暗電流I_SATに対応する飽和成分を差し引く。センシングピクセル121のフォトダイオードとダミーピクセル122のフォトダイオードとが同一の条件で電流I_PD及び電流I_Dを生成すると仮定すれば、電流I_PDに含まれた暗電流I_SATの大きさと電流I_Dの大きさとは同一である。ここで、条件は温度、p−n接合、及びドーピング濃度等を含むことができる。したがって、センシングピクセル121は電流I_PDから暗電流I_SATを差し引いた電流I_PHOTOを利用して活性化信号を出力することができる。この場合、活性化信号の出力の可否を決定する時、暗電流I_SATの影響が除去されるので、低照度環境又は高温環境でイベントベースのセンサー100のセンシング性能が向上されることができる。
一側によれば、ダミーピクセルは多様な配置を有することができ、ダミーピクセルの数は多様に調節されることができる。例えば、ダミーピクセルはピクセルアレイ120の外側に配置されるか、ピクセルアレイ120の中心に配置されるか、或いはダミーピクセルに対応するセンシングピクセルの周辺にセンシングピクセルと並べて配置されることができる。ダミーピクセルの数はセンシングピクセルの数と同一であるか、センシングピクセルの数より多いか、或いは少なくともよい。
下で詳細に説明されるが、ダミーピクセルの数又はセンシングピクセルの数は電流I_PDのうち暗電流I_SAT成分が除去されるように調節されることができる。イベントベースのセンサー100はダミーピクセル122に提供される光を遮断するための構造を有する。センシングピクセルは光に露出される部分に配置され、ダミーピクセルは光が遮断される部分に配置される。一例として、ダミーピクセルに提供される光を遮断するために、メタルシールディングレイヤー(metal shielding layer)等がダミーピクセルの上部に積層されることができる。
例示的に、ダミーピクセルはセンシングピクセルと同様の構造を有することができる。即ち、ダミーピクセルはイベントベースのセンサー100の動作モードに応じてセンシングピクセルとして使用されることができる。又はセンシングピクセルはイベントベースのセンサー100の動作モードに応じてダミーピクセルとして使用されることができる。
図5は一実施形態に係るセンシングピクセル、ダミーピクセル、及び電流ミラーを示した図である。図の簡易化及び説明を簡易にするために、ダミーピクセル又はセンシングピクセルの一部の構成のみが図5に図示される。しかし、本発明の範囲はこれに限定されるものではない。
図5を参照すれば、ダミーピクセル510はフォトダイオード515を含む。フォトダイオード515は光が無い環境で電流I1(即ち、暗電流)を生成する。電流ミラー530は、ダミーピクセル510に流れる電流I1をミラーリングして、ミラーリングされた電流IMを生成し、センシングピクセル520にミラーリングされた電流IMを出力する。センシングピクセル520はフォトダイオード521及びピクセル回路522を含む。フォトダイオード521には光が提供される。フォトダイオード521は入射された光に基づいて電流I2を生成する。ピクセル回路522には電流I2から電流IMを差し引いた電流I3が流れる。さらに詳細には、先に説明されたように、センシングピクセル520のフォトダイオード521によって生成された電流I2は暗電流成分及び光電流成分を含む。この時、光電流成分は実際にフォトダイオード521に入射される光の強さに応じて比例する大きさを有し、暗電流成分はノイズとして作用する。ミラーリングされた電流IMは暗電流成分を含む。したがって、電流I2から電流IMが差し引かれることによって、電流I3は光電流成分のみを含み、ノイズとして作用する暗電流成分が除去される。
下で詳細に説明されるが、ピクセル回路522は電流−電圧変換器、時変回路、及びイベント決定回路を含む。電流−電圧変換器は電流I3を電圧V_PRに変換し、時変回路は電圧V_PRの変化量を所定の比率で増幅し、イベント決定回路は増幅された変化量を所定の臨界値と比較して活性化信号を出力する。
電流I2は暗電流I_SAT成分と、フォトダイオード521に入射される光に応じて生成される電流I_PHOTO成分とを含む。フォトダイオード515及びフォトダイオード521の条件(例えば、温度、ドーピング濃度等)が同一であれば、電流I2に含まれた暗電流I_SATの大きさ、電流I1の大きさ、及び電流IMの大きさは実質的に互いに同一である。したがって、電流I3には電流I2のうち暗電流I_SAT成分が除去された、電流I_PHOTO成分のみが含まれ、ピクセル回路522は電流I3を利用して低照度又は高温環境でも暗電流I_SATの影響無しで光の変化を感知して活性化信号を出力する。
電流ミラー530は電流I1をミラーリングするための多様な方式に具現されることができる。下では電流ミラー530の構成に関する一部の実施形態が説明されるが、電流ミラー530の構成は後述される実施形態に限定されるものではない。
図6は一実施形態に係る電流ミラーの構成を示した図面である。図6を参照すれば、電流ミラー630はトランジスタ631及びトランジスタ632を含む。
トランジスタ631のゲート、トランジスタ631のドレーン、及びトランジスタ632のゲートはフォトダイオード615のカソードに連結される。トランジスタ632のドレーンはフォトダイオード621のカソードに連結される。トランジスタ631のソース及びトランジスタ632のソースへ電源電圧が供給される。トランジスタ631及びトランジスタ632はPMOS(p−type metal−oxide−semiconductor)トランジスタであるが、本発明はこれに限定されるものではない。ダミーピクセル610のフォトダイオード615は光が無い環境で電流I1を生成する。電流ミラー630はダミーピクセル610に流れる電流I1を複製して、ミラーリングされた電流IM(即ち、複製された電流)をトランジスタ632のドレーンに出力する。センシングピクセル620はフォトダイオード621及びピクセル回路622を含む。トランジスタ632のドレーンはピクセル回路622とフォトダイオード621との間のノードに連結される。
図7は一実施形態に係るダミーピクセル及びセンシングピクセルの構成を示した図面である。図7を参照すれば、センシングピクセル720はフォトダイオード721及び電流−電圧変換器722を含む。電流−電圧変換器722はセンシングピクセル720のピクセル回路に含まれる回路である。ダミーピクセル710はフォトダイオード711及び電流−電圧変換器712を含む。
理想的ではない実際環境で、多様な要因によって電流I1の大きさと電流I2に含まれた暗電流I_SATの大きさとが互いに変わることがあり得る。例えば、ダミーピクセル710は電流−電圧変換器712を含まなく、センシングピクセル720は電流−電圧変換器722を含む場合、電流−電圧変換器722によって暗電流I_SATの大きさが電流I1の大きさと変化することができる。一実施形態に係るダミーピクセル710は電流−電圧変換器712を含むことによって、ダミーピクセル710は、センシングピクセル720に光が入射されることを除いて、センシングピクセル720と同一な条件及び環境で動作することができる。
より具体的に、フォトダイオード711は電流I1を生成し、電流−電圧変換器712は電流I1を電圧に変換する。ここで、電流−電圧変換器712はダミーピクセル710がセンシングピクセル720と同一な条件及び環境で動作するようにするダミー回路であり、電流−電圧変換器712の出力電圧はイベントベースのセンサーによって別に利用されないこともあり得る。電流ミラーは電流I1をミラーリングして電流IMを出力する。フォトダイオード721は電流I2を生成し、電流−電圧変換器722には電流I3が流れる。電流−電圧変換器722は電流I3を電圧に変換する。電流−電圧変換器712及び電流−電圧変換器722は各々トランジスタ及び増幅器を含む。電流−電圧変換器712及び電流−電圧変換器722に含まれたトランジスタはNMOS(n−type metal−oxide−semiconductor)である。センシングピクセル720のピクセル回路は電流−電圧変換器722の他に、時変回路及びイベント決定回路をさらに含むが、説明の簡易さのためにピクセル回路に含まれた複数の回路のうち、電流I2が流れる電流−電圧変換器722のみが図示されたことと理解されるべきである。
図8は一実施形態に係るピクセルの構成を示した図である。図8を参照すれば、電流ミラー830はトランジスタ831、トランジスタ832、及びトランジスタ833を含む。
トランジスタ831のゲート、トランジスタ831のドレーン、トランジスタ832のゲート、及びトランジスタ833のゲートは互いに連結される。電流ミラー830はダミーピクセル810に流れる電流I1に基づいてミラーリングされた電流IM1及びミラーリングされた電流IM2を生成する。電流I1の量、ミラーリングされた電流IM1の量、及びミラーリングされた電流IM2の量は互いに同一である。ミラーリングされた電流IM1はセンシングピクセル821に出力され、ミラーリングされた電流IM2はセンシングピクセル825に出力される。説明を簡易にするために、ダミーピクセル810がフォトダイオードのみを含むことと図示したが、図7で説明したことのようにダミーピクセル810は電流−電圧変換器をさらに含む。
フォトダイオード822はフォトダイオード822に入射される光に基づいて電流I21を生成する。ピクセル回路823は電流I21からミラーリングされた電流IM1を差し引いた電流I31に基づいて第1活性化信号を出力する。また、フォトダイオード826はフォトダイオード826に入射される光に基づいて電流I22を生成する。ピクセル回路827は電流I22からミラーリングされた電流IM2を差し引いた電流I32に基づいて第2活性化信号を出力する。図8の実施形態によれば、ピクセルアレイはセンシングピクセルより少ない数のダミーピクセルを含む。
図9は他の実施形態に係るピクセルの構成を示した図である。図9を参照すれば、ダミーピクセル910、912、914及びセンシングピクセル920、923、926が図示されている。
フォトダイオード911は電流I11を生成し、フォトダイオード913は電流I12を生成し、フォトダイオード915は電流I13を生成する。説明を簡易にするために、ダミーピクセル910、912、914の各々がフォトダイオードのみを含むことと図示したが、図7で説明したことのようにダミーピクセル910、912、914の各々は電流−電圧変換器をさらに含む。
電流ミラー930は電流I11、電流I12及び電流I13が合算された電流I1に基づいてミラーリングされた電流IMをセンシングピクセル920、923、926に出力する。ミラーリングされた電流IMはセンシングピクセル920、923、926のインピーダンスに基づいてセンシングピクセル920、923、926に分配される。
フォトダイオード921は電流I21を生成し、フォトダイオード924は電流I22を生成し、フォトダイオード927は電流I23を生成する。ピクセル回路922は、電流I21から、ミラーリングされた電流IMのうちセンシングピクセル920に分配された電流を差し引いた電流I31に基づいて、第1活性化信号を出力する。また、ピクセル回路925は、電流I22から、ミラーリングされた電流IMのうちセンシングピクセル923に分配された電流を差し引いた電流I32に基づいて、第2活性化信号を出力し、ピクセル回路928は、電流I23から、ミラーリングされた電流IMのうちセンシングピクセル926に分配された電流を差し引いた電流I33に基づいて、第3活性化信号を出力する。
上述されたように、理想的ではない実際環境で、多様な要因によってダミーピクセルのフォトダイオードで生成された電流I_Dの大きさとセンシングピクセルのフォトダイオードで生成された電流に含まれた暗電流I_SATの大きさとは互いに異なる。この場合、ダミーピクセルの数とセンシングピクセルの数とを調節することによって、電流I_Dの大きさと暗電流I_SATの大きさとを合わせることができる。例えば、1つの電流ミラーにm個のダミーピクセル及びn個のセンシングピクセルが連結された場合、n個のセンシングピクセルの案電流の総和とm個のダミーピクセルに流れる電流の総和とが同一になるようにm及びnのうちの少なくとも1つを調節することができる。mとnとは各々1以上の整数である。
図9で、電流I21、電流I22及び電流I23が各々暗電流I_SATを含む場合、電流I1の大きさと、暗電流I_SATの和の大きさが同一になるように、ダミーピクセルの数が調節されることができる。この時、暗電流I_SATの大きさは光が無い環境で測定された暗電流に基づいて決定されることができる。
図10はその他の実施形態に係る電流ミラーの構成を示した図面である。図10を参照すれば、電流ミラー1030はトランジスタ1031、1032、1033、1034を含む。
ダミーピクセル1010はフォトダイオード1011を含み、ダミーピクセル1015はフォトダイオード1016を含む。フォトダイオード1011は電流I11を生成し、フォトダイオード1016は電流I12を生成する。説明を簡易にするために、ダミーピクセル1010、1015の各々がフォトダイオードのみを含むことと図示したが、図7で説明したようにダミーピクセル1010、1015の各々は電流−電圧変換器をさらに含む。
トランジスタ1031のゲート、トランジスタ1031のドレーン、トランジスタ1032のゲート、トランジスタ1032のドレーン、トランジスタ1033のゲート、及びトランジスタ1034のゲートは互いに連結される。トランジスタ1031、1032のゲートが互いに連結されているので、電流ミラー1030は電流I12と電流I11との平均に該当する量の電流をミラーリングする。複数のダミーピクセルの平均に該当する量の電流をミラーリングすることによって、個別ダミーピクセル毎に発生される誤差の影響が減少されることができる。一実施形態によれば、イベントベースのセンサー内のダミーピクセルが他の用途として使用されない場合、全体ダミーピクセルが全て電流ミラーリングに利用されることができる。
電流ミラー1030はミラーリングされた電流IM1及びミラーリングされた電流IM2を生成する。ここで、ミラーリングされた電流IM1及びミラーリングされた電流IM2の各々は電流I12と電流I11の平均に該当する量の電流である。電流ミラー1030はミラーリングされた電流IM1をセンシングピクセル1020に出力し、ミラーリングされた電流IM2をセンシングピクセル1025に出力する。
センシングピクセル1020、1025には図8に図示されたセンシングピクセル821、825の動作がそのまま適用されるので、より具体的な説明は省略する。多様な例示のために、電流ミラー1030が複数のセンシングピクセル1020、1025のために複数のミラーリングされた電流IM1、IM2を生成する実施形態を説明したが、電流ミラー1030は単一センシングピクセルのために単一のミラーリングされた電流のみを生成する回路構造を有することができる。
図11は一実施形態に係るセンシングピクセルを示したブロック図である。図11を参照すれば、センシングピクセル1100はフォトダイオード1110、電流−電圧変換器1120、時変回路1130、及びイベント決定回路1140を含む。
フォトダイオード1110はフォトダイオード1110に入射される光に基づいて電流I_PDを生成する。電流I_PDは暗電流I_SAT成分と、フォトダイオード1110に入射される光にしたがって生成される電流I_PHOTO成分とを含むが、上述された実施形態によれば、電流I_PDのうち暗電流I_SAT成分が除去されることができる。
電流−電圧変換器1120は暗電流I_SAT成分が除去された電流I_PDを電圧V_PRに変換する。電流−電圧変換器1120はトランジスタM_LOG及び増幅器A1を含む。電流I_PDに対応してトランジスタM_LOGに電流が流れ電圧V_PRが生成される。この時、トランジスタMLOGに流れる電流の量は感知された光の強さに線形に比例しないこともあり得る。増幅器A1は電圧V_PRの大きさがフォトダイオード1110によって感知された光の強さに線形に比例するように、電流I_PDをログスケールに増幅することができる。
時変回路1130は電圧V_PRの変化量を所定の比率に増幅することができる。時変回路1130は増幅器であると称されることができる。時変回路1130は電圧V_PRの変化量を増幅して電圧V_Cを生成する。例えば、時変回路1130はキャパシター及び増幅器を含む。キャパシターC1は増幅器A1と直列に連結される。キャパシターC1は電圧V_PRが変化されることによって電荷を充電する。増幅器A2はキャパシターC1に充電された電荷によって発生される電圧を所定の比率に増幅する。時変回路1130は増幅器A2のフィードバックキャパシターであるキャパシターC2をさらに含む。増幅器A2の増幅率はキャパシターC1、C2のキャパシタンス比率に決定される。キャパシターC1に充電された電荷は周期的に或いは必要である時点にリセットされる。キャパシターC1はリセット動作の時、電圧V_PRを基準にリセットされる。
イベント決定回路1140は電圧V_Cを所定の臨界値と比較し、比較結果に基づいて活性化信号を出力する。イベント決定回路1140は電圧V_Cを所定の臨界値と比較するための比較器を含む。比較器は電圧V_Cを所定の臨界値に対応する基準信号と比較し、電圧V_Cが基準信号より大きいことに応じて活性化信号を出力する。
図12は一実施形態に係る電子装置を示したブロック図である。図12を参照すれば、電子装置1200はプロセッサ1210及びイベントベースのセンサー1220を含む。
イベントベースのセンサー1220は光が無い環境で電流I_Dを生成し、入射される光に基づいて電流I_PDを生成し、電流I_PDから電流I_Dのミラーリングされた電流を差し引いた電流に基づいて、入射される光の変化を感知することによって、イベント信号を出力する。プロセッサ1210はイベント信号に基づいて、入射される光の変化に対応する動作を遂行する。プロセッサ1210はイベント信号に基づいて入射される光の変化に応じるユーザー入力を認識する。プロセッサ1210はイベント信号に含まれたタイムスタンプに基づいてタイムスタンプマップを生成し、イベント信号の受信に応じてタイムスタンプマップをアップデートする。プロセッサ1210はタイムスタンプマップを通じてユーザー入力を認識する。
ユーザー入力はジェスチャーを含む。例えば、ユーザーが手を利用するジェスチャーを取る場合、プロセッサ1210はイベント信号に基づいて手が動く方向、手が動く方向の変化、手が動いた距離、及び開いた指の個数等を認識することができる。プロセッサ1210は認識されたユーザー入力に対応して予め設定された動作を遂行する。例えば、ユーザーの手のひらが第1方向に動く場合、プロセッサ1210は画面に表示されたページを以前ページに転換し、ユーザーの手のひらが第2方向に動く場合、画面に表示されたページを次のページに転換する。また、ユーザーが1つの指を開いた手を上下に動かす場合、プロセッサ1210は画面に表示されたページを上下にスクロールさせることができる。
図13は一実施形態に係るイベントベースのセンシング方法を示した動作フローチャートである。図13の動作流れ図はイベントベースのセンシング装置によって遂行される。イベントベースのセンシング装置は上述された実施形態に係るイベントベースのセンサーに含まれた回路と実質的に同一な機能を遂行するモジュールを含む。イベントベースのセンシング装置に含まれたモジュールは少なくとも1つのハードウェアモジュール、少なくとも1つのソフトウェアモジュール、又はこれらの多様な組み合わせで具現されることができる。
図13を参照すれば、段階1310で、イベントベースのセンシング装置は光が無い環境で第1電流を生成する。段階1320で、イベントベースのセンシング装置は入射される光に基づいて第2電流を生成する。入射される光はユーザー入力に対応して変わる光である。段階1330で、イベントベースのセンシング装置は第1電流をミラーリングすることによってミラーリングされた電流を生成し、第2電流から第1電流のミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて光の変化を感知する。イベントベースのセンシング装置は光の変化を感知することによってユーザー入力に関連するイベント情報を生成する。その他に、イベントベースのセンシング方法に関しては上述された内容が適用されることができ、より詳細な説明は省略する。
図14は本発明の実施形態に係るダミーピクセル及びセンシングピクセルの構成を示す図面である。図14を参照すれば、ピクセルアレイ2000はセンシングピクセル2100、ダミーピクセル2200、及び伝達装置2300を含む。図の簡易化のために、1つのダミーピクセル及び1つのセンシングピクセルを図14で示したが、本発明の範囲がこれに限定されることはなく、ピクセルアレイ2000は複数のダミーピクセル及び複数のセンシングピクセルをさらに含む。また、先に説明されたように、複数のダミーピクセルからの暗電流の平均値に基づいてミラーリングされた電流を生成し、ミラーリングされた電流に基づいて複数のセンシングピクセルの各々で暗電流を除去することができる。
センシングピクセル2100はピクセル回路2101及びフォトダイオード2110を含む。ダミーピクセル2200はピクセル回路2201及びフォトダイオード2210を含む。センシングピクセル2100及びダミーピクセル2200の構成は先に説明したので、これに対する詳細な説明は省略される。
先に説明された実施形態では、少なくとも2つのトランジスタを含む別の電流ミラーがダミーピクセルからの暗電流を複製するように構成される。しかし、図14の実施形態では、先に説明された電流ミラーとは他の伝達装置2300を通じてダミーピクセル2200からの暗電流が複製される。例示的に、伝達装置2300は1つのトランジスタで具現されることができる。
例えば、ダミーピクセル2200のピクセル回路2201の全部又は一部の構成要素は伝達装置2300と結合して電流ミラーを構成することができる。即ち、先に説明された電流ミラーはピクセル回路2201の一部及び伝達装置2300を含むように構成されることができる。したがって、別の電流ミラーを追加すること無しでダミーピクセル2200の一部の構成要素を電流ミラーとして使用して、暗電流I_SATを複製することができる。したがって、イメージセンシング装置の構成が単純になることができる。
図15は図14のセンシングピクセル及びダミーピクセルの構造を示すブロック図である。説明を簡易にするために、先に説明された構成要素と類似な構成要素に対する詳細な説明は省略される。
図14及び図15を参照すれば、センシングピクセル2100はフォトダイオード2110、電流−電圧変換器2120、時変回路2130、及びイベント決定回路2140を含む。センシングピクセル2100の電流−電圧変換器2120、時変回路2130、及びイベント決定回路2140は先に説明されたピクセル回路2101である。センシングピクセル2100の構成要素は図11を参照して説明したので、これに対する詳細な説明は省略される。
ダミーピクセル2200はフォトダイオード2210、電流−電圧変換器2220、時変回路2230、及びイベント決定回路2240を含む。例示的に、ダミーピクセル2200のフォトダイオード2210、電流−電圧変換器2220、時変回路2230、及びイベント決定回路2240はセンシングピクセル2100と類似な構造又は類似な機能を遂行するように構成されることができる。ダミーピクセル2200の電流−電圧変換器2220、時変回路2230、及びイベント決定回路2240は先に説明されたピクセル回路2101である。
例示的に、ダミーピクセル2200は上述されたように暗電流I_SATを生成し、生成された暗電流I_SATを外部(例えば、電流ミラー)に提供するように構成されることができる。この時、暗電流I_SATを外部へ提供するのに不必要な構成要素は省略されるか、又は非活性化されることができる。
例えば、ダミーピクセル2200構成要素の中で一部の構成要素(例えば、電流−電圧変換器2220又は時変回路2230又はイベント決定回路2240が省略されることができる。即ち、ダミーピクセル2200はフォトダイオード2210を含むか、又はフォトダイオード2210及び電流−電圧変換器2220を含むように構成されることができる。
又はダミーピクセル2200はフォトダイオード2210、電流−電圧変換器2220、時変回路2230、及びイベント決定回路2240を含み、一部の構成要素は非活性化されることができる。例えば、電流−電圧変換器2220、時変回路2230、及びイベント決定回路2240が非活性化されるか、又は時変回路2230、及びイベント決定回路2240が非活性化されることができる。
図5乃至図7を参照して説明された実施形態は暗電流I_SATをミラーリングするための別の電流ミラーを必要とする。図14及び図15の実施形態で、ダミーピクセル2200の一部の構成要素は電流ミラーに含まれるように構成されることができる。
例えば、電流−電圧変換器2220からの電圧V_PRは伝達装置2300に提供され、伝達装置2300は受信された電圧V_PRに応答して、ダミーピクセル2200で生成された暗電流I_SATを複製して、複製された電流IMを他のセンシングピクセルに提供するように構成されることができる。例示的に、伝達装置2250は1つのトランジスタを含むことができる。伝達装置2300は先に説明された電流ミラーと異なる構成を有するか、又は電流ミラーの一部の構成を含むことができる。
即ち、ダミーピクセル1400の一部の構成要素(例えば、電流−電圧変換器1420)及び伝達装置1450は電流ミラーを構成することができる。したがって、別の電流ミラーを追加すること無しでダミーピクセル1400の一部の構成要素を使用することによって、暗電流I_SATを複製することができる。したがって、イメージセンシング装置の構成が単純になることができる。
図16は図15のセンシングピクセル及びダミーピクセルの一部の構成を示す回路図である。図の簡易化及び説明を簡易にするために本発明の実施形態を説明するために不必要な構成要素は省略される。
センシングピクセル2100はフォトダイオード2110及び電流−電圧変換器2120を含む。フォトダイオード2110のカソードは第1ノードn1に連結され、アノードは接地端に連結される。電流−電圧変換器2120は第1トランジスタTR1及び第1比較器CP1を含む。第1トランジスタTR1のソースは電源電圧に連結され、ゲートは第1比較器CP1の出力端に連結され、ドレーンは第1ノードn1に連結される。第1比較器CP1の第1入力端は第1ノードn1に連結され、第2入力端は第1基準電圧VREF1を受信する。例示的に、第1比較器CP1の出力端はセンシングピクセル2100の時変回路2130に連結される。
ダミーピクセル2200はフォトダイオード2210及び電流−電圧変換器2220を含む。フォトダイオード2210のカソードは第2ノードn2に連結され、アノードは接地端に連結される。電流−電圧変換器2220は第2トランジスタTR2及び第2比較器CP2を含む。第2トランジスタTR2のソースは電源電圧を受信し、ゲートは第3ノードn3に連結され、ドレーンは第2ノードn2に連結される。第2比較器CP2の第1入力端は第2ノードn2に連結され、第2入力端は第2基準電圧VREF2を受信し、出力端は第3ノードn3に連結される。
伝達装置2300は第3トランジスタTR3を含む。第3トランジスタTR3のソースは電源電圧を受信し、ドレーンは第1ノードn1に連結され、ゲートは第3ノードn3に連結される。
ダミーピクセル2200の一部(即ち、電流−電圧変換器2220)及び伝達装置2300は電流ミラーを構成する。例えば、ダミーピクセル2200のフォトダイオード2210は第1電流I1を生成する。この時、第1電流I1は暗電流である。ダミーピクセル2200の一部(即ち、電流−電圧変換器2220)及び伝達装置2300は第1電流I1を複製してミラーリングされた電流IMをセンシングピクセル2100に提供する。例示的に、ミラーリングされた電流IMはセンシングピクセル2100の第1ノードn1に提供される。
以後、センシングピクセル2100の動作は先に説明された暗電流によるノイズ成分除去動作と類似である。例えば、センシングピクセル2100のフォトダイオード2110は入射された光の強度に応じて第2電流I2を生成する。この時、第2電流I2は暗電流成分及び光電流成分を含む。センシングピクセル2100の第1ノードn1に第1電流(I1、即ち、暗電流ミラーリングされた電流IMが提供されることによって、電流−電圧変換器2120は第3電流I3に基づいて電圧V_PRを出力する。例示的に、電圧V_PRは時変回路2130に提供される。
上述されたように、本発明の一部の実施形態によれば、ダミーピクセルのピクセル回路のうちの一部を使用して電流ミラーを構成することができ、構成された電流ミラーを通じて暗電流によるノイズ成分除去動作が遂行されることができる。即ち、電流ミラーを構成するための追加構成要素が単純化されることができる。したがって、向上された信頼性及び低減されたコストを有するイベントベースのセンサーが提供されることができる。
例示的に、センシングピクセル2100に提供される第1基準電圧VREF1及びダミーピクセル2200に提供される第2基準電圧VREF2は互いに独立に制御されることができる。例えば、イベントベースのセンサーのプロセス、電圧、温度PVT変動に応じて第1及び第2基準電圧VREF1、VREF2が調節されるか、或いは設定されることができる。又はイベントベースのセンサーが動作する動作環境に応じて、第1及び第2基準電圧VREF1、VREF2が互いに独立に制御されることができる。
さらに詳細な例として、電流ミラーを構成する伝達装置2300の第3トランジスタTR3及びダミーピクセル2200の第2トランジスタTR2の動作特性が異なることがある。理想的な場合(即ち、第2及び第3トランジスタTR2、TR3の動作特性が同一である場合)、第1及び第2基準電圧VREF1、VREF2が互いに同一であれば、第1電流I1及びミラーリングされた電流IMの大きさは互いに同一である。
しかし、イベントベースのセンサーの製造過程で発生するPVT変動又は動作環境の変化によって、第2及び第3トランジスタTR2、TR3の動作特性が互いに異なることがある。この場合、第1及び第2基準電圧VREF1、VREF2が互いに同一であると、第1電流I1及びミラーリングされた電流IMの大きさが互いに異なり、センシングピクセル2100でノイズ成分が完璧には除去されない可能性がある。
本発明の実施形態に係るイベントベースのセンサーはセンシングピクセル2100に提供される第1基準電圧VREF1及びダミーピクセルに提供される第2基準電圧VREF2を独立に制御することによって、第1電流I1及びミラーリングされた電流IMの大きさを同一に維持することができる。
さらに詳細な例として、第1基準電圧VREF1を受信する第1比較器CP1は第1ノードn1の電圧を第1基準電圧VREF1に維持するように構成されることができる。第2基準電圧VREF2を受信する第2比較器CP2は第2ノードn2の電圧を第2基準電圧VREF2に維持するように構成されることができる。第2及び第3トランジスタTR2、TR3の異なる特性(即ち、PVT変動又は動作環境による異なる特性)によってミラーリングされた電流IMの大きさが第1電流I1の大きさより小さくなることがある。この場合、第2基準電圧VREF2を所定のレベル程度高めるか、又は第1基準電圧VREF1を所定のレベル程度下げることによって、第1電流I1の大きさ及びミラーリングされた電流IMの大きさを同一に調節することができる。これと反対に、ミラーリングされた電流IMの大きさが第1電流I1の大きさより大きい場合、第2基準電圧VREF2を所定のレベル程度下げるか、又は第1基準電圧VREF1を所定のレベル程度高めることによって、第1電流I1の大きさ及びミラーリングされた電流IMの大きさを同一に調節することができる。
上述されたように、センシングピクセル2100及びダミーピクセル2200に提供される第1及び第2基準電圧VREF1、VREF2を制御することによって、ミラーリングされた電流IMの精度を向上させることができる。
図17は本発明に係るイベントベースのセンサーが適用された電子システムを示すブロック図である。図17を参照すれば、例示的に、電子システム3000は携帯用通信端末機、PDA(Personal Digital Assistant)、PMP(Portable Media Player)、スマートフォン、又はウェアラブル(Wearable)装置形態に具現されることができる。又は電子システム3000はブラックボックス、デジタルカメラ、ビデオカムコーダーのような映像収集装置の形態に具現されることができ、マシン(machine)のような装置に適用されることができる。例示的に、マシン(machineという用語はシングルマシン、仮想マシン、又はマシン、仮想マシン又は共に動作する装置が電気的に連結されたシステムを包括的に含むことと意図される。例示的なマシンは個人用コンピュータ、ワークステーション、サーバー、携帯用コンピュータ、ポケット用コンピュータ、電話機、タブレット等のようなコンピューティング装置のみならず、個人又は大衆交通手段、例えば、自動車、汽車、タクシー等のような輸送装置を含む。
また、図17を参照して電子システム3000が説明されるが、本発明の範囲がこれに限定されることはなく、一部の構成が省略されるか、又は他の構成要素が追加されることができる。
電子システム3000はアプリケーションプロセッサ3100、ディスプレイ3220、及びイメージセンサー3230を含む。例示的に、イメージセンサー3230は図1乃至図16を参照して説明されたイベントベースのセンサーであり、アプリケーションプロセッサ3100はイメージセンサー3230からの活性化信号に基づいてユーザーの動きを感知することができる。
アプリケーションプロセッサ3100はDigRFマスター3110、DSI(Display Serial Interface)ホスト3120、CSI(Camera Serial Interface)ホスト3130、及び物理階層3140を含む。
DSIホスト3120はDSIを通じてディスプレイ3220のDSI装置3225と通信する。例示的に、DSIホスト3120には光シリアライザSERが具現されることができる。例として、DSI装置3225には光デシリアライザDESが具現されることができる。
CSIホスト3130はCSIを通じてイメージセンサー3230のCSI装置3235と通信することができる。例示的に、CSIホスト3130には光デシリアライザDESが具現されることができる。例として、CSI装置3235には光シリアライザSERが具現されることができる。
電子システム3000はアプリケーションプロセッサ3100と通信するRF(RadioFrequency)チップ3240をさらに含む。RFチップ3240は物理階層3242、DigRFスレーブ3244、及びアンテナ3246を含む。例示的に、RFチップ3240の物理階層3242とアプリケーションプロセッサ3100の物理階層3140とはMIPI Dig RFインターフェイスによって互いにデータを交換することができる。
電子システム3000はワーキングメモリ(Working Memory)3250及び埋め込み型/カードストレージ3255をさらに含む。ワーキングメモリ3250及び埋め込み型/カードストレージ3255はアプリケーションプロセッサ3100から提供されたデータを格納する。ワーキングメモリ3250及び埋め込み型/カードストレージ3255は格納されたデータをアプリケーションプロセッサ3100に提供する。
ワーキングメモリ3250はアプリケーションプロセッサ3100によって処理された又は処理されるデータを一時的に格納することができる。ワーキングメモリ3250はSRAM、DRAM、SDRAM等のような揮発性メモリ、又はフラッシュメモリ、PRAM、MRAM、ReRAM、FRAM(登録商標)等のような不揮発性メモリを含む。
埋め込み型/カードストレージ3255は電源供給の有無に関わらず、データを記憶することができる。
電子システム3000はWimax(World Interoperability for Microwave Access)3260、WLAN(Wireless Local Area Network)3262、UWB(Ultra Wideband)3264等を通じて外部システムと通信することができる。
電子システム3000は音声情報を処理するためのスピーカー3270及びマイク3275をさらに含む。例示的に、電子システム3000は位置情報を処理するためのGPS(Global Positioning System)装置3280をさらに含むことができる。電子システム3000は周辺装置との連結を管理するためのブリッジ(Bridge)チップ3290をさらに含む。
以上で説明された実施形態はハードウェア構成要素、ソフトウェア構成要素、及び/又はハードウェア構成要素及びソフトウェア構成要素の組み合わせで具現されることができる。例えば、実施形態で説明された装置及び構成要素は、例えばプロセッサ、コントローラ、ALU(Arithmetic Logic Unit)、デジタル信号プロセッサ(digital signal processor)、マイクロコンピューター、FPA(Field Programmable Array)、PLU(Programmable Logic Unit)、マイクロプロセッサ、又は命令(instruction)を実行し応答することができる他の何らかの装置のように、1つ以上の汎用コンピュータ又は特殊目的コンピュータを利用して具現されることができる。処理装置はオペレーティングシステム(OS)及びオペレーティングシステム上で遂行される1つ以上のソフトウェアアプリケーションを遂行することができる。また、処理装置はソフトウェアの実行に応答して、データを接近、格納、操作、処理及び生成することもできる。理解を容易にするために、処理装置は1つが使用されることと説明された場合もあるが、該当技術分野で通常の知識を有する者は、処理装置が複数の処理要素(processing element)及び/又は複数類型の処理要素を含むことができることが分かる。例えば、処理装置は複数個のプロセッサ又は1つのプロセッサ及び1つのコントローラを含むことができる。また、並列プロセッサ(parallel processor)の同一、又は異なる処理構成(processingconfiguration)も可能である。
ソフトウェアはコンピュータプログラム(computer program)、コード(code)、命令(instruction)、又はこれらのうちの1つ以上の組み合わせを含むことができ、望む通りに動作するように処理装置を構成するか独立的に又は結合的に(collectively)処理装置に命令することができる。ソフトウェア及び/又はデータは、処理装置によって解釈されるか、或いは処理装置に命令又はデータを提供するために、いずれの類型の機械、構成要素(component)、物理的装置、仮想装置(virtual equipment)、コンピュータ格納媒体又は装置、又は伝送される信号波(signal wave)に永久的に、又は一時的に具体化(embody)されることができる。ソフトウェアはネットワークに連結されたコンピュータシステム上に分散されて、分散された方法に格納されるか、或いは実行されることもできる。ソフトウェア及びデータは1つ以上のコンピュータ読み取り可能記録媒体に格納されることができる。
実施形態に係る方法は多様なコンピュータ手段を通じて遂行されるプログラム命令形態に具現されてコンピュータ読み取り可能媒体に記録されることができる。コンピュータ読み取り可能媒体はプログラム命令、データファイル、データ構造等を単独に又は組み合わせて含むことができる。媒体に記録されるプログラム命令は実施形態のために特別に設計され、構成されたものであるか、或いはコンピュータソフトウェア当業者に公知されて使用可能なものであってもよい。コンピュータ読み取り可能記録媒体の例としてはハードディスク、フロッピーディスク及び磁気テープのような磁気媒体(magnetic media)、CD−ROM、DVDのような光記録媒体(optical media)、フロプティカルディスク(floptical disk)のような磁気−光媒体(magneto−optical media)、及びROM(ROM)、RAM(RAM)、フラッシュメモリ等のようなプログラム命令を格納し、遂行するように特別に構成されたハードウェア装置が含まれる。プログラム命令の例としてはコンパイラによって生成されたコードのような機械語コードのみならず、インタプリタ等を使用してコンピュータによって実行されることができる高級言語コードを含む。上述されたハードウェア装置は実施形態の動作を遂行するために1つ以上のソフトウェアモジュールとして作動するように構成されることができ、その逆も同様である。
以上のように実施形態がたとえ限定された図面によって説明されたが、該当技術分野で通常の知識を有する者であれば、上述したことに基づいて多様な技術的な変更及び変形を適用することができる。例えば、説明された技術が説明された方法と異なる順序に遂行されるか、及び/又は説明されたシステム、構造、装置、回路等の構成要素が説明された方法と異なる形態に結合又は組み合わされるか、他の構成要素又は均等物によって置き換えられるか、或いは置換されても適切な結果が達成されることができる。
100 イベントベースのセンサー
110 コントローラ
120 ピクセルアレイ
121 センシングピクセル
122 ダミーピクセル
510 ダミーピクセル
515、521 フォトダイオード
520 センシングピクセル
522 ピクセル回路
530 電流ミラー

Claims (20)

  1. 暗電流である第1電流を生成するように構成されるダミーピクセルと、
    前記第1電流に基づいてミラーリングされた電流を出力するように構成される電流ミラーと、
    入射される光の強度に基づいて第2電流を生成し、前記生成された第2電流から前記ミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて、前記入射される光の変化量の感知の有無を示す活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセルと、
    を含むイベントベースのセンサー。
  2. 前記電流ミラーは、前記ダミーピクセルに流れる前記第1電流をミラーリングして前記ミラーリングされた電流を生成し、前記センシングピクセルに前記ミラーリングされた電流を出力する、請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  3. 前記ダミーピクセルは、前記第1電流を生成するように構成される第1フォトダイオードを含む、請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  4. 前記センシングピクセルは、
    前記入射される光に基づいて前記第2電流を生成する第2フォトダイオードと、
    前記第3電流に基づいて前記活性化信号を出力するセンシングピクセル回路と、を含み、
    前記電流ミラーは、前記第2フォトダイオードに前記ミラーリングされた電流を提供する、
    請求項3に記載のイベントベースのセンサー。
  5. 前記センシングピクセル回路は、
    前記第3電流を電圧に変換する電流−電圧変換器と、
    前記変換された電圧の変化量を増幅する増幅器と、
    前記増幅された変化量を所定の臨界値と比較し、比較結果に基づいて前記活性化信号を出力するイベント決定回路と、
    を含む、請求項4に記載のイベントベースのセンサー。
  6. 前記ダミーピクセルは、前記第1電流を電圧に変換する電流−電圧変換器をさらに含む、請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  7. 前記第2電流から前記ミラーリングされた電流を差し引くことによって、前記センシングピクセルに含まれた第2フォトダイオードによって生成される前記第2電流から飽和成分に関連するノイズ電流が除去される、請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  8. 第2センシングピクセルをさらに含み、
    前記電流ミラーは、前記第1電流に基づいて前記第2センシングピクセルのための第2のミラーリングされた電流をさらに出力し、
    前記第2センシングピクセルは、入射される光に基づいて生成される電流から前記第2のミラーリングされた電流を差し引いた電流に基づいて第2活性化信号を出力する、
    請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  9. 第2ダミーピクセルをさらに含み、
    前記電流ミラーは、前記第1電流及び前記第2ダミーピクセルによって光が無い環境で生成される電流の総和に基づいて、前記ミラーリングされた電流を出力する、
    請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  10. 第2センシングピクセルをさらに含み、
    前記センシングピクセルは、前記第2電流から前記ミラーリングされた電流のうち前記センシングピクセルに分配される電流を差し引いた前記第3電流に基づいて前記活性化信号を出力し、
    前記第2センシングピクセルは、入射される光に基づいて生成される電流から前記ミラーリングされた電流のうち前記第2センシングピクセルに分配される電流を差し引いた電流に基づいて第2活性化信号を出力する、
    請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  11. 第2ダミーピクセルをさらに含み、
    前記電流ミラーは、前記第1電流及び前記第2ダミーピクセルによって光が無い環境で生成される電流の平均に基づいて、前記ミラーリングされた電流を出力する、
    請求項1に記載のイベントベースのセンサー。
  12. 暗電流である第1電流を生成し、前記生成された第1電流を第1電圧に変換して第1電圧を生成するように構成されるダミーピクセルと、
    前記第1電圧に基づいて前記第1電流を複製して第2電流を出力するように構成される第1トランジスタと、
    入射される光の強度に基づいて第3電流を生成し、前記第2及び第3電流に基づいて前記入射される光の変化量の感知の有無を示す活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセルと、
    を含むイベントベースのセンサー。
  13. 前記ダミーピクセルは、
    前記第1電流を生成するように構成される第1フォトダイオードと、
    前記第1電流を前記第1電圧に変換するように構成される第1電流−電圧変換器と、を含み、
    前記センシングピクセルは、
    前記第3電流を生成するように構成される第2フォトダイオードと、
    前記第3電流から前記第2電流を差し引いた電流に基づいて前記活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセル回路と、を含む、
    請求項12に記載のイベントベースのセンサー。
  14. 前記第1トランジスタのソースは電源電圧を受信し、ドレーンは前記第2フォトダイオードのカソードに連結され、ゲートは前記第1電圧を受信するように構成される、請求項13に記載のイベントベースのセンサー。
  15. 前記センシングピクセルは、前記第2及び第3電流に基づいて第2電圧を生成するように構成される第2電流−電圧変換器を含み、
    前記第1電流−電圧変換器は、第1基準電圧を受信し、前記第2電流−電圧変換器は第2基準電圧を受信し、前記第1及び第2電流の大きさが互いに同一になるように前記第1及び第2基準電圧が調節される、
    請求項14に記載のイベントベースのセンサー。
  16. 前記ダミーピクセルは、
    前記第1電流を生成するように構成される第1フォトダイオードと、
    前記第1電流に基づいて第1活性化信号を出力するように構成されるダミーピクセル回路と、を含み、
    前記センシングピクセルは、
    前記第3電流を生成するように構成される第2フォトダイオードと、
    前記第3電流から前記第2電流を差し引いた電流に基づいて前記活性化信号を出力するように構成されるセンシングピクセル回路と、を含み、
    前記ダミーピクセル回路の一部の構成は、非活性化される、
    請求項12に記載のイベントベースのセンサー。
  17. 前記ダミーピクセル回路は、
    前記第1電流を前記第1電圧に変換する第1電流−電圧変換器と、
    前記第1電圧の変化量を出力する第1時変回路と、
    前記第1電圧の変化量に基づいて前記第1活性化信号を出力する第1イベント決定回路と、を含み、
    前記ダミーピクセルの前記第1時変回路及び前記第1イベント決定回路は、非活性化される、
    請求項16に記載のイベントベースのセンサー。
  18. イベントベースのセンサーの動作方法において、
    暗電流である第1電流を生成する段階と、
    入射される光に基づいて第2電流を生成する段階と、
    前記第1電流をミラーリングすることによってミラーリングされた電流を生成する段階と、
    前記第2電流から前記ミラーリングされた電流を差し引いた第3電流に基づいて前記光の変化を感知することによって、ユーザー入力に関連するイベント情報を生成する段階と、
    を含む動作方法。
  19. 前記第1電流を生成する段階及び前記第2電流を生成する段階は、同一の温度条件で遂行される、請求項18に記載の動作方法。
  20. 前記イベント情報は、前記光の変化を感知したセンシングピクセルの識別情報及び前記光の変化が感知された時間情報を含む、請求項18に記載の動作方法。
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Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020066432A1 (ja) * 2018-09-28 2020-04-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の制御方法および電子機器
WO2020066803A1 (ja) * 2018-09-27 2020-04-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、および、撮像装置
WO2020071268A1 (ja) 2018-10-04 2020-04-09 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、アクチュエータの制御方法およびプログラム
WO2020116416A1 (ja) 2018-12-05 2020-06-11 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 信号処理装置、電子機器、信号処理方法およびプログラム
WO2020116417A1 (ja) 2018-12-05 2020-06-11 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、補正方法およびプログラム
WO2020255399A1 (ja) 2019-06-21 2020-12-24 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 位置検出システム、画像処理装置、位置検出方法および位置検出プログラム
JPWO2020261491A1 (ja) * 2019-06-27 2020-12-30
JPWO2020261369A1 (ja) * 2019-06-25 2020-12-30
WO2020261408A1 (ja) 2019-06-26 2020-12-30 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP2021032763A (ja) * 2019-08-27 2021-03-01 ソニー株式会社 測距システム及び電子機器
WO2021095560A1 (ja) * 2019-11-15 2021-05-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 イベント検出装置
KR20210093233A (ko) 2018-10-17 2021-07-27 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 센서 보정 시스템, 디스플레이 제어 장치, 프로그램, 및 센서 보정 방법
WO2021153287A1 (ja) * 2020-01-31 2021-08-05 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子および撮像装置
KR20220050130A (ko) 2019-08-20 2022-04-22 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 화상 처리 장치, 촬상 장치, 시스템, 화상 처리 방법 및 프로그램
KR20220051336A (ko) 2019-08-20 2022-04-26 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 화상 처리 장치, 화상 처리 방법 및 프로그램
US11659286B2 (en) 2018-10-04 2023-05-23 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor module, electronic device, vision sensor calibration method, subject detection method, and program
WO2023145019A1 (ja) 2022-01-28 2023-08-03 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、情報処理方法およびプログラム
KR20230118866A (ko) 2020-11-17 2023-08-14 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 정보 처리 장치, 시스템, 정보 처리 방법, 및 정보 처리 프로그램
US11910110B2 (en) 2019-08-20 2024-02-20 Sony Interactive Entertainment Inc. Transfer control device, image processing device, transfer control method, and program
US12010448B2 (en) 2018-10-04 2024-06-11 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor module, electronic device, subject detection method, and program
WO2024147229A1 (ja) * 2023-01-05 2024-07-11 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光検出装置、撮像装置および電子機器
US12126926B2 (en) 2020-01-31 2024-10-22 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging element and imaging device

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW202408216A (zh) * 2018-01-23 2024-02-16 日商索尼半導體解決方案公司 光檢測裝置
US11416759B2 (en) * 2018-05-24 2022-08-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Event-based sensor that filters for flicker
WO2020197972A1 (en) * 2019-03-27 2020-10-01 Ocelot Laboratories Llc Hardware implementation of sensor architecture with multiple power states
TWI831962B (zh) * 2019-04-26 2024-02-11 日商索尼半導體解決方案公司 事件檢測裝置、具備事件檢測裝置之系統及事件檢測方法
WO2021189490A1 (zh) * 2020-03-27 2021-09-30 京东方科技集团股份有限公司 X射线平板探测器及其图像校正方法
US11399150B2 (en) * 2020-11-13 2022-07-26 Omnivision Technologies, Inc. Auto-zero techniques for lateral overflow integrating capacitor (LOFIC) readout image sensor
KR20220096978A (ko) 2020-12-31 2022-07-07 삼성전자주식회사 다이나믹 비전 센서 및 그 이미지 처리 장치
KR20220156327A (ko) 2021-05-18 2022-11-25 삼성전자주식회사 비전 센서 및 이의 동작 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003259228A (ja) * 2002-03-06 2003-09-12 Sony Corp 固体撮像装置およびその信号処理方法
JP2006148455A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Konica Minolta Holdings Inc 固体撮像装置
JP2007043689A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Samsung Electro Mech Co Ltd 暗電流補償機能を有するcmosイメージセンサ
JP2007059991A (ja) * 2005-08-22 2007-03-08 Sony Corp Da変換装置、ad変換装置、半導体装置
JP2007221368A (ja) * 2006-02-15 2007-08-30 Sony Corp 負荷を駆動する駆動方法および駆動装置、並びに電子機器

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5404556A (en) 1992-06-15 1995-04-04 California Institute Of Technology Apparatus for carrying out asynchronous communication among integrated circuits
US20040246354A1 (en) 2003-06-04 2004-12-09 Hongli Yang CMOS image sensor having high speed sub sampling
JP4440680B2 (ja) 2004-03-18 2010-03-24 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
KR100674963B1 (ko) 2005-03-09 2007-01-26 삼성전자주식회사 컬럼간 아날로그 신호 합을 이용하여 서브 샘플링을 지원하는 고체 촬상 소자 및 방법
JP5244587B2 (ja) 2005-06-03 2013-07-24 ウニヴェルズィテート チューリッヒ 時間依存性の画像データを検出するフォトアレイ
CN101399009B (zh) * 2007-09-30 2010-08-18 宇威光电股份有限公司 发光装置及其控制方法
JP5091695B2 (ja) 2008-01-24 2012-12-05 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置
EP2250518A2 (en) 2008-02-25 2010-11-17 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Suppression of direct detection events in x-ray detectors
WO2010110249A1 (ja) 2009-03-25 2010-09-30 ローム株式会社 照度センサと、それを用いた電子機器および半導体装置
US8250010B2 (en) 2009-05-21 2012-08-21 International Business Machines Corporation Electronic learning synapse with spike-timing dependent plasticity using unipolar memory-switching elements
US20110150271A1 (en) 2009-12-18 2011-06-23 Microsoft Corporation Motion detection using depth images
US9269042B2 (en) 2010-09-30 2016-02-23 International Business Machines Corporation Producing spike-timing dependent plasticity in a neuromorphic network utilizing phase change synaptic devices
US8856055B2 (en) 2011-04-08 2014-10-07 International Business Machines Corporation Reconfigurable and customizable general-purpose circuits for neural networks
TWI459265B (zh) * 2011-04-20 2014-11-01 Integrated Digital Tech Inc 感測顯示面板上觸碰位置的感測裝置以及感測方法
KR101888468B1 (ko) 2011-06-08 2018-08-16 삼성전자주식회사 Stdp 기능 셀을 위한 시냅스, stdp 기능 셀 및 stdp 기능 셀을 이용한 뉴로모픽 회로
KR101838560B1 (ko) 2011-07-27 2018-03-15 삼성전자주식회사 뉴로모픽 칩에서 스파이크 이벤트를 송수신하는 송수신 장치 및 방법
KR101880998B1 (ko) 2011-10-14 2018-07-24 삼성전자주식회사 이벤트 기반 비전 센서를 이용한 동작 인식 장치 및 방법
KR102070562B1 (ko) 2012-06-19 2020-01-30 삼성전자주식회사 이벤트 기반 이미지 처리 장치 및 그 장치를 이용한 방법
KR102226707B1 (ko) 2013-05-02 2021-03-11 주식회사 레이언스 이미지센서와 이의 구동방법
KR101512810B1 (ko) 2013-08-06 2015-04-20 한국전기연구원 오버샘플링을 통한 비닝을 지원하는 이미지 센서의 구동 회로 및 방법
US10728450B2 (en) * 2014-09-30 2020-07-28 Qualcomm Incorporated Event based computer vision computation
KR102426677B1 (ko) * 2015-03-09 2022-07-28 삼성전자주식회사 오프셋 및 잡음이 감소되는 차분 증폭기 및 이벤트에 기반한 비전 센서

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003259228A (ja) * 2002-03-06 2003-09-12 Sony Corp 固体撮像装置およびその信号処理方法
JP2006148455A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Konica Minolta Holdings Inc 固体撮像装置
JP2007043689A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Samsung Electro Mech Co Ltd 暗電流補償機能を有するcmosイメージセンサ
JP2007059991A (ja) * 2005-08-22 2007-03-08 Sony Corp Da変換装置、ad変換装置、半導体装置
JP2007221368A (ja) * 2006-02-15 2007-08-30 Sony Corp 負荷を駆動する駆動方法および駆動装置、並びに電子機器

Cited By (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11770629B2 (en) 2018-09-27 2023-09-26 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging element and imaging device
WO2020066803A1 (ja) * 2018-09-27 2020-04-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、および、撮像装置
US11503233B2 (en) 2018-09-27 2022-11-15 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging element and imaging device
JPWO2020066432A1 (ja) * 2018-09-28 2021-08-30 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の制御方法および電子機器
JP7374111B2 (ja) 2018-09-28 2023-11-06 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の制御方法および電子機器
WO2020066432A1 (ja) * 2018-09-28 2020-04-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の制御方法および電子機器
US11483498B2 (en) 2018-09-28 2022-10-25 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid imaging element, control method for solid imaging element, and electronic apparatus
WO2020071268A1 (ja) 2018-10-04 2020-04-09 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、アクチュエータの制御方法およびプログラム
US11659286B2 (en) 2018-10-04 2023-05-23 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor module, electronic device, vision sensor calibration method, subject detection method, and program
KR20210069646A (ko) 2018-10-04 2021-06-11 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 전자 장치, 액추에이터 제어 방법, 및 프로그램
US12010448B2 (en) 2018-10-04 2024-06-11 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor module, electronic device, subject detection method, and program
US11336850B2 (en) 2018-10-04 2022-05-17 Sony Interactive Entertainment Inc. Electronic device, actuator control method, and program
KR102513670B1 (ko) 2018-10-17 2023-03-24 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 센서 보정 시스템, 디스플레이 제어 장치, 프로그램, 및 센서 보정 방법
US12033354B2 (en) 2018-10-17 2024-07-09 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor calibration system, display control apparatus, program, and sensor calibration method
KR20210093233A (ko) 2018-10-17 2021-07-27 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 센서 보정 시스템, 디스플레이 제어 장치, 프로그램, 및 센서 보정 방법
WO2020116417A1 (ja) 2018-12-05 2020-06-11 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、補正方法およびプログラム
US11553152B2 (en) 2018-12-05 2023-01-10 Sony Interactive Entertainment Inc. Signal processing device, electronic device, signal processing method, and program
KR20210083305A (ko) 2018-12-05 2021-07-06 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 신호 처리 장치, 전자 기기, 신호 처리 방법 및 프로그램
KR20210083297A (ko) 2018-12-05 2021-07-06 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 전자 기기, 보정 방법 및 프로그램
WO2020116416A1 (ja) 2018-12-05 2020-06-11 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 信号処理装置、電子機器、信号処理方法およびプログラム
US12106507B2 (en) 2019-06-21 2024-10-01 Sony Interactive Entertainment Inc. Position detection system, image processing device, position detection method, and position detection program
KR20220023979A (ko) 2019-06-21 2022-03-03 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 위치 검출 시스템, 화상 처리 장치, 위치 검출 방법 및 위치 검출 프로그램
WO2020255399A1 (ja) 2019-06-21 2020-12-24 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 位置検出システム、画像処理装置、位置検出方法および位置検出プログラム
WO2020261369A1 (ja) 2019-06-25 2020-12-30 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
KR20220029562A (ko) 2019-06-25 2022-03-08 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 시스템, 정보 처리 장치, 정보 처리 방법 및 프로그램
JP7171919B2 (ja) 2019-06-25 2022-11-15 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JPWO2020261369A1 (ja) * 2019-06-25 2020-12-30
KR20220023989A (ko) 2019-06-26 2022-03-03 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 시스템, 정보 처리 장치, 정보 처리 방법 및 프로그램
WO2020261408A1 (ja) 2019-06-26 2020-12-30 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
US11985396B2 (en) 2019-06-26 2024-05-14 Sony Interactive Entertainment Inc. System, information processing device, information processing method, and program
JPWO2020261491A1 (ja) * 2019-06-27 2020-12-30
KR102676085B1 (ko) 2019-06-27 2024-06-19 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 센서 제어 장치, 센서 제어 방법 및 프로그램
KR20220024011A (ko) 2019-06-27 2022-03-03 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 센서 제어 장치, 센서 제어 방법 및 프로그램
JP7177934B2 (ja) 2019-06-27 2022-11-24 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント センサ制御装置、センサ制御方法およびプログラム
US11678074B2 (en) 2019-06-27 2023-06-13 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor control apparatus, sensor control method, and program
WO2020261491A1 (ja) 2019-06-27 2020-12-30 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント センサ制御装置、センサ制御方法およびプログラム
KR20220051336A (ko) 2019-08-20 2022-04-26 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 화상 처리 장치, 화상 처리 방법 및 프로그램
US11910110B2 (en) 2019-08-20 2024-02-20 Sony Interactive Entertainment Inc. Transfer control device, image processing device, transfer control method, and program
US11954866B2 (en) 2019-08-20 2024-04-09 Sony Interactive Entertainment Inc. Image processing apparatus using movement estimation, imaging apparatus, system, image processing method, and program
KR20220050130A (ko) 2019-08-20 2022-04-22 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 화상 처리 장치, 촬상 장치, 시스템, 화상 처리 방법 및 프로그램
JP7451110B2 (ja) 2019-08-27 2024-03-18 ソニーグループ株式会社 測距システム及び電子機器
JP2021032763A (ja) * 2019-08-27 2021-03-01 ソニー株式会社 測距システム及び電子機器
WO2021095560A1 (ja) * 2019-11-15 2021-05-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 イベント検出装置
WO2021153287A1 (ja) * 2020-01-31 2021-08-05 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子および撮像装置
US12126926B2 (en) 2020-01-31 2024-10-22 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging element and imaging device
KR20230118866A (ko) 2020-11-17 2023-08-14 주식회사 소니 인터랙티브 엔터테인먼트 정보 처리 장치, 시스템, 정보 처리 방법, 및 정보 처리 프로그램
WO2023145019A1 (ja) 2022-01-28 2023-08-03 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 電子機器、情報処理方法およびプログラム
WO2024147229A1 (ja) * 2023-01-05 2024-07-11 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光検出装置、撮像装置および電子機器

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