JP2018073853A - 反射鏡、垂直共振器型発光装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図3〜図5を用いて、発光装置10の製造方法について説明する。図3〜図5は、発光装置10の製造過程を示す図である。図3(a)、図3(b)及び図4(a)は、半導体基板11となる半導体ウェハ一部の領域であって発光装置10の領域及びその周辺領域を示す上面図又は断面図である。また、図5(a)〜(c)は、当該半導体ウェハの発光領域10の領域を示す断面図である。
図3(a)及び(b)は、それぞれラインマスク12が形成された半導体基板11を示す上面図及び断面図である。図3(b)は、図3(a)のY−Y線に沿った断面図である。図3(a)においては、図の明確さのため、ラインマスク12の領域にハッチングを施している。まず、六方晶系の結晶構造を有する半導体基板11のc面上に、半導体基板11の少なくともa軸方向に沿って線状に延びるラインマスク12を形成する。ラインマスク12としては、例えばSiO2などの絶縁膜を用いることができる。
図4(a)は、第1の反射鏡13及び発光構造層14が形成された半導体基板11を示す断面図である。次に、半導体基板11のラインマスク12から露出した露出領域11A上に、互いに屈折率が異なる複数の半導体膜を交互に成長させて第1の反射鏡13を形成する。本実施例においては、露出領域11A上に高屈折率半導体膜H1及び低屈折率半導体膜L1(図2参照)を交互に複数回成長させて半導体多層膜を形成することで、第1の反射鏡13を形成する。
図5(a)は、発光セグメントS1及びS2毎に発光構造層14が区画された半導体基板11を示す図である。なお、図5(a)〜(c)は、発光装置10となる領域のみを示している。本実施例においては、発光構造層14を成長した後、発光構造層14に凹部RCを形成し、発光構造層14を、発光セグメントS1及びS2を含む複数の発光セグメントに区画する。
図5(c)は、第2の反射鏡16及び電極などが形成され、発光装置10毎に個片化された半導体基板11を示す図である。次に、本実施例においては、電流狭窄層15上にp電極18を、n型半導体層14A上にn電極17を形成する。本実施例においては、電流狭窄部15Aとしての開口部を埋め込むように電流狭窄層15上にp電極18形成した。また、電流狭窄層15から露出したn型半導体層14Aの表面上にn電極17を形成した。
12、31 ラインマスク
13 半導体多層膜反射鏡(第1の反射鏡)
14 発光構造層
16 誘電体多層膜反射鏡(第2の反射鏡)
12A、12B、31A、31B、31C ライン部
Claims (11)
- 六方晶系の結晶構造を有する半導体基板と、
前記半導体基板のc面上において、少なくとも[11−20]方向及び[11−20]方向に等価な方向のいずれかに沿って線状に延びるラインマスクと、
前記半導体基板の前記c面における前記ラインマスクから露出した露出領域上に形成され、高屈折率半導体膜と前記高屈折率半導体膜よりも小さな屈折率を有する低屈折率半導体膜とが交互に積層されてなる第1の反射鏡と、
前記第1の反射鏡上に形成された発光構造層と、
前記発光構造層上において前記第1の反射鏡に対向して配置された第2の反射鏡と、を有することを特徴とする垂直共振器型発光装置。 - 前記ラインマスクは、前記[11−20]方向及び[11−20]方向に等価な方向のいずれかに沿って互いに平行に延びる一対のライン部を有し、
前記第1の反射鏡は、前記一対のライン部間における前記半導体基板の前記露出領域上に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の垂直共振器型発光装置。 - 前記第1の反射鏡及び前記発光構造層は、前記一対のライン部の各々の側辺を含む(11−22)面及び(11−22)面に等価な面によって囲まれた領域内に形成されていることを特徴とする請求項2に記載の垂直共振器型発光装置。
- 前記ラインマスクは、前記半導体基板の前記c面上において前記露出領域を取り囲むように形成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の垂直共振器型発光装置。
- 前記ラインマスクは、前記半導体基板の前記c面上において、[11−20]方向、[−12−10]方向及び[2−1−10]方向に線状に延びていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1つに記載の垂直共振器型発光装置。
- 前記半導体基板はGaN基板であり、
前記高屈折率半導体膜はGaN膜であり、前記低屈折率半導体膜はAlInN膜であり、
前記AlInN膜のIn組成は18%未満であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1つに記載の垂直共振器型発光装置。 - 六方晶系の結晶構造を有する半導体基板と、
前記半導体基板のc面上において、少なくとも[11−20]方向及び[11−20]方向に等価な方向のいずれかに沿って線状に延びるラインマスクと、
前記半導体基板の前記c面における前記ラインマスクから露出した露出領域上に成長され、高屈折率半導体膜と前記高屈折率半導体膜よりも小さな屈折率を有する低屈折率半導体膜とが交互に積層された半導体多層膜と、を有することを特徴とする反射鏡。 - 六方晶系の結晶構造を有する半導体基板のc面上に、少なくとも[11−20]方向及び[11−20]方向に等価な方向のいずれかに沿って線状に延びるラインマスクを形成するステップと、
前記半導体基板の前記c面における前記ラインマスクから露出した露出領域上に、高屈折率半導体膜と前記高屈折率半導体膜よりも小さな屈折率を有する低屈折率半導体膜とを交互に成長して第1の反射鏡を形成するステップと、
前記第1の反射鏡上に発光構造層を形成するステップと、
前記発光構造層上の前記第1の反射鏡に対向する位置に第2の反射鏡を形成する工程と、を含むことを特徴とする垂直共振器型発光装置の製造方法。 - 前記ラインマスクを形成するステップにおいて、前記半導体基板のc面上に、[11−20]方向に線状に延びかつ互いに等間隔に配置された前記ラインマスクを形成することを特徴とする請求項8に記載の垂直共振器型発光装置の製造方法。
- 前記第1の反射鏡を形成する工程において、前記第1の反射鏡を、前記ラインマスクを通る(11−22)面及び(11−22)面に等価な面によって囲まれた領域内に成長することを特徴とする請求項9に記載の垂直共振器型発光装置の製造方法。
- 前記発光構造層を形成する工程において、前記発光構造層を複数の発光セグメントに区画する凹部を形成することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1つに記載の垂直共振器型発光装置の製造方法。
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