JP2018050297A - Igbt型トランジスタの制御方法および関連する制御装置 - Google Patents

Igbt型トランジスタの制御方法および関連する制御装置 Download PDF

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Abstract

【課題】トランジスタをオフ状態とオン状態との間で切り替えるとき、トランジスタに関連する電気回路の構造を、より複雑にすることなく、中間ステップの効果的な制御を可能にする、IGBT型トランジスタの制御方法および関連する制御装置を実現する。
【解決手段】IGBT型トランジスタ(14)を制御するこの方法は、トランジスタ(14)を、オン状態とオフ状態との間で切り替えるフェーズを含む。前記フェーズは、トランジスタ(14)のゲート上の強度が異なる設定値を取る設定値電流を生成することを備える。設定値の少なくとも幾つかは、主電流の時間導関数の符号によって選択される。各設定値は、所定設定値のセットから選択される。
【選択図】図1

Description

本発明は、IGBT型トランジスタを制御する方法および関連する制御装置に関する。
それ自体で知られるように、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(Insulated Gate Bipolar Transistor;IGBT)型トランジスタは、3個の電気端子または接触子、すなわち、ゲート、コレクタ、およびエミッタを備える。
IGBTトランジスタは、電気スイッチとして特に使用可能である。実際、そのようなトランジスタは、コレクタがエミッタに電気的に接続されているオン状態と、これらが互いから電気的に隔離されているオフ状態と、を規定する。
2つの状態間の切り替えは、適切な制御手段によりゲート上に加えられる設定値電圧(une tension de consigne applique'e)により制御される。
特に、非導通状態とオン状態との間の切り替えは、トランジスタをオフ状態からオン状態に切り替えることを有する、導通(amorc,age)へ切り替えるフェーズと、トランジスタをオン状態からオフ状態に切り替えることを有する、非導通へ切り替えるフェーズと、を有する。
これらのフェーズのそれぞれは、オフ状態とオン状態との間の種々の中間状態に対応する幾つかの中間ステップを有する。
一般に、トランジスタの制御は、これらの中間ステップが正しく起こることを確実にし、一定の切り替え速度を保証するよう適応する。
その目的のため、トランジスタに関連する制御手段は、進行中の各中間ステップに基づいて、異なる電流をゲートに加える。
従って、中間ステップのそれぞれを検出できることは、トランジスタの制御を確実にするために重要である。
最先端技術において知られている方法によれば、中間ステップの検出は、コレクタとエミッタとの間の電圧とコレクタを通過する電流の強度とを測定することによりなされる。
しかし、中間ステップ間の遷移の時点を精度よく判定するためには、トランジスタを通過する電流の電圧および強度測定値を、特に精度よく制御手段に提供することが必要である。
そして、これは、トランジスタに関連する電気回路の構造を、より複雑にすることが理解できる。この問題は、特に、鉄道分野で使用され高電圧下で作動するトランジスタに関連する。
本発明は、トランジスタをオフ状態とオン状態との間で切り替えるとき、トランジスタに関連する電気回路の構造を、より複雑にすることなく、中間ステップの効果的な制御を可能にする、IGBT型トランジスタを制御する方法を提案することを目的とする。
その目的のため、本発明は、ゲート、コレクタ、およびエミッタを有し、主電流がコレクタとエミッタとの間を流れるオン状態と、コレクタがエミッタから電気的に隔離されているオフ状態と、を規定するIGBT型トランジスタを制御する方法に関する。
方法は、オン状態とオフ状態との間の切り替えフェーズを有し、このフェーズは、設定値電流を生成することを有し、設定値電流の、トランジスタのゲート上の強度は異なる設定値を取り、設定値の少なくとも幾つかは、主電流の時間導関数の符号(正負)(signe)によって(en fonction de)選択され、各設定値は、所定設定値のセットから選択される。
本発明の他の利点のある態様によれば、方法は、単独で考慮され、または、すべての技術的に可能な組み合わせに係わる、下記の、
切り替えフェーズは、ゲートとエミッタとの間の電流の電圧を測定することと、この電圧を、少なくとも1つの所定電圧閾値と比較することと、を更に有し、
少なくとも1つの設定値は、ゲートとエミッタとの間の電圧が、所定電圧閾値に到達したときに選択され、
少なくとも1つの設定値は、前の設定値が選択された時点から経過した時間によって選択され、
切り替えフェーズは、トランジスタをオフ状態からオン状態に切り替えることを有する、導通へ切り替えるフェーズ、または、トランジスタをオン状態からオフ状態に切り替えることを有する、非導通へ切り替えるフェーズであり、
導通へ切り替えるフェーズは、連続して行われる下記の、
トランジスタをオフ状態からオン状態に切り替える命令を受信することを有する初期導通ステップと、
ゲートとエミッタとの間の電流の電圧が、所定導通電圧閾値に到達するまで、または、主電流の時間導関数が正になるまで、または、第1切り替えステップの開始から経過した時間が、第1所定時間閾値に到達するまで、第1設定値に等しい強度の設定値電流を生成することを有する第1切り替えステップと、
主電流の時間導関数が負になるまで、または、第2切り替えステップの開始から経過した時間が、第2所定時間閾値に到達するまで、第2設定値に等しい強度の設定値電流を生成することを有する第2切り替えステップと、
第1切り替えステップの開始から経過した時間が、所定導通時間閾値に到達するまで、第3設定値に等しい強度の設定値電流を生成することを有する第3切り替えステップと、を有し、
非導通へ切り替えるフェーズは、連続して行われる下記の、
トランジスタをオン状態からオフ状態に切り替える命令を受信することを有する初期非導通ステップと、
ゲートとエミッタとの間の電流の電圧が、所定非導通電圧閾値に到達するまで、または、主電流の時間導関数が負になるまで、または、第4切り替えステップの開始から経過した時間が、第4所定時間閾値に到達するまで、第4設定値に等しい強度の設定値電流を生成することを有する第4切り替えステップと、
第5切り替えステップの開始から経過した時間が、第5所定時間閾値に到達するまで、第5設定値に等しい強度の設定値電流を生成することを有する第5切り替えステップと、
第4切り替えステップの開始から経過した時間が、所定非導通時間閾値に到達するまで、第6設定値に等しい強度の設定値電流を生成することを有する第6切り替えステップと、を有し、
導通へ切り替えるフェーズは、所定の長さを有する観測時間ウィンドウにおいて主電流の時間導関数の符号による短絡の検出を有する、短絡を検出するステップを更に有し、
この方法は、オン状態とオフ状態との間で切り替える少なくとも2つのフェーズであって、該2つのフェーズは導通へ切り替えるフェーズおよび非導通へ切り替えるフェーズである少なくとも2つのフェーズを有する、という特徴の1つ又は複数を有する。
また、本発明は、ゲート、コレクタ、およびエミッタを有し、主電流がコレクタとエミッタとの間を流れるオン状態と、コレクタがエミッタから電気的に隔離されているオフ状態と、を規定するIGBT型トランジスタを制御する装置に関する。
装置は、設定値電流を生成することができ、設定値電流の、トランジスタのゲート上の強度は異なる設定値を取り、設定値の少なくとも幾つかは、主電流の時間導関数の符号によって選択され、各設定値は、所定設定値のセットから選択される。
本発明に係る、特に、IGBT型トランジスタおよびこのトランジスタを制御する装置を組み込んだ電気回路網(circuit)の模式図である。 図1の制御装置により実現される、本発明に係る制御方法の、導通へ切り替えるフェーズのフローチャートである。 図2の導通へ切り替えるフェーズの異なるステップを例示する模式図である。 制御方法の非導通へ切り替えるフェーズのフローチャートである。 図4の非導通へ切り替えるフェーズの異なるステップを例示する模式図である。 図2の導通へ切り替えるフェーズの間に実現される、短絡を検出するステップのフローチャートである。 図6の短絡を検出するステップを例示する模式図である。
本発明のこれらの特徴および利点は、非制限的な例としてのみのために提供され、付随する図面を参照してなされる下記の記述を読むことにより明らかになろう。
図1の電気回路網(circuit)10は、特に2個の端子EauxおよびEpを備える電力構成要素12の動作を、少なくとも部分的には制御するために使用できる。
電気回路網10および電力構成要素12は、鉄道分野において特に使用でき、例えば、鉄道車両に搭載される。
図1を参照すると、電気回路網10は、電力構成要素12に接続され、ダイオード15と結合されるトランジスタ14と、電圧測定モジュール16と、電流変化検出モジュール18と、本発明に係る、トランジスタ14の制御装置20と、を備える。
トランジスタ14は、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(Insulated Gate Bipolar Transistor;IGBT)型トランジスタである。
トランジスタ14は、それ自体で知られており、特に、3個の電気端子または接触子、すなわち、ゲートG、コレクタC,およびエミッタEを備える。
エミッタEは、電力構成要素12の端子Eauxに特に接続される。
トランジスタ14は、以降は主電流と呼ぶ電流Icが、コレクタCとエミッタEとの間を流れるオン状態と、コレクタCがエミッタEから電気的に隔離されているオフ状態と、を規定する。
更に、ダイオード15は、トランジスタ14の状態に関わりなく、電流がエミッタEからコレクタCに向かって通過することを可能にする。
電圧測定モジュール16は、一方ではゲートGに接続され、他方ではトランジスタ14のエミッタEに接続され、ゲートGとエミッタEとの間の電圧VGEを測定することを可能にする。
電圧測定モジュール16は、例えば適切な電圧計を有する。
電流変化測定モジュール18は、電力構成要素12の端子EauxおよびEpに接続されており、従って、電力構成要素12を通過する主電流Icの強度における如何なる変化をも検出することを可能にする。
言い換えれば、モジュール18は、時間経過における、主電流Icの強度値の如何なる増加または減少をも検出することを可能にする。
また、言い換えれば、モジュール18は、主電流Icの時間導関数dIc/dtの符号を検出することを可能にする。
その目的のため、モジュール18は、電力構成要素12の端子EauxとEpとの間の電圧Uを測定することができる。主電流Icの時間導関数dIc/dtの符号は、時間導関数dIc/dtと電圧Uとが線形依存性を有するため、電圧Uの符号により判定される。実際、電圧Uは、時間導関数dIc/dtと、電力構成要素12のインダクタンスとの積に等しい。
制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに接続され、このトランジスタ14の動作を、設定値電圧および設定値電流を下記に更に詳細に記述する制御方法100を使用してゲートG上に加えることにより制御することを可能にする。
制御装置20は、電圧VGEの測定値およびdIc/dtの符号をそれぞれ取りだすモジュール16および18と、正の設定値電圧および負の設定値電圧を提供する電源(図示せず)に更に接続される。
正の設定値電圧は、例えば、+15Vに略等しい。
負の設定値電圧は、例えば、−15Vに略等しい。
制御装置20は、例えば、制御回路と、該制御回路に接続され、モジュール16および18からの測定値のデジタル処理を可能にして、制御方法100のステップの少なくとも幾つかを実行するコンピュータを備える。
最後に、制御装置20は、トランジスタ14の導通命令(un ordre d'amorc,age)および非導通命令(un ordre de blocage)を、例えば、中央コンピュータ(calculateur central)(図示せず)から受信できる。
トランジスタ14を制御する方法100を、ここで詳細に説明する。
制御方法100は、導通へ切り替えるフェーズ、導通フェーズ、非導通へ切り替えるフェーズ、および非導通フェーズを有する。
導通フェーズの間、制御装置20は、トランジスタ14を、ゲートG上に正の設定値電圧を加えることによりオン状態に保つ。
非導通フェーズの間、制御装置20は、トランジスタ14を、ゲートG上に負の設定値電圧を加えることによりオフ状態に保つ。
導通へ切り替えるフェーズは、非導通フェーズと導通フェーズとの間の遷移フェーズであり、トランジスタ14をオフ状態からオン状態に切り替えることを特に可能にする。
導通へ切り替えるこのフェーズのフローチャートが図2に例示される。
このように、この図2を参照すると、導通へ切り替えるフェーズは、制御装置20が、導通命令を受信する初期ステップ101を有する。
この場合、制御装置20は、ステップ110〜135を行う。
第1切り替えフェーズ110の間、制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに、第1設定値Ic1に等しい強度を有する設定値電流の正の設定値電圧を加える。
第1切り替えステップ110と平行に行われるステップ115の間、制御装置20は、モジュール16および18から測定値を受信し、これらの測定値を使用して、第1切り替えステップ110に対する停止条件を検証する。
特に、このステップ115の間、制御装置20は、下記の、
ゲートとエミッタとの間の電流の電圧VGEが、所定導通電圧閾値VONに到達する、
主電流Icの時間導関数dIc/dtが正になる、
第1切り替えステップ110の開始から経過した時間が、第1所定時間閾値T1に到達する、という停止条件の1つが満たされるまで、ステップ110を行い続ける。
導通電圧閾値VONは、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、1Vと20Vとの間で調整可能である。この閾値VONは、好ましくは5Vに等しい。
第1時間閾値T1は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、1μsと8μsとの間で調整可能である。
第1設定値Ic1は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.2Aと20Aとの間で調整可能である。
そして、制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに、第2設定値Ic2に等しい強度を有する設定値電流の正の設定値電圧を加える第2切り替えステップ120を行う。
第2切り替えステップ120と平行に行われるステップ125の間、制御装置20は、モジュール18から測定値を受信し、これらの測定値を使用して、第2ステップ120に対する停止条件を検証する。
特に、このステップ125の間、制御装置20は、下記の、
主電流Icの時間導関数dIc/dtが負になる、
第2切り替えステップ120の開始から経過した時間が、第2所定時間閾値T2に到達する、という停止条件の1つが満たされるまで、ステップ120を行い続ける。
第2時間閾値T2は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、1μsと4μsとの間で調整可能である。
第2設定値Ic2は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.2Aと20Aとの間で調整可能である。
そして、制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに、第3設定値Ic3に等しい強度を有する設定値電流の正の設定値電圧を加える第3切り替えステップ130を行う。
第3切り替えステップ130と平行に行われるステップ135の間、制御装置20は、第3切り替えステップ130に対する停止条件を検証する。
特に、このステップ135の間、制御装置20は、第1切り替えステップ110の開始から経過した時間が、所定導通時間閾値TONに到達するまで、ステップ130を行い続ける。
導通時間閾値TONは、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、3μsと20μsとの間で調整可能である。
第3設定値Ic3は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.2Aと20Aとの間で調整可能である。
そして、導通へ切り替えるフェーズの実現の間、各設定値Ic1〜Ic3は、所定設定値のセットから選択されることを知ることができる。これらの値は、制御方法の実現の前に予め決められる。
更に、設定値Ic1〜Ic3は、互いに異なる。
記述された例において、設定値Ic1〜Ic3は正であり、第3設定値Ic3は第1設定値Ic1より小さく、第2設定値Ic2より大きい。
図3は、主電流Icと、ゲートGとエミッタEとの間の電圧VGEと、主電流Icの時間導関数dIc/dtと、ゲートGにおける設定値電流IGの動きと、を導通へ切り替えるフェーズのステップ110〜130の実現の1つの例において例示する。
非導通へ切り替えるフェーズは、導通フェーズと非導通フェーズとの間の遷移フェーズであり、特に、トランジスタ14をオン状態からオフ状態へ切り替えることを可能にする。
非導通へ切り替えるこのフェーズのフローチャートが図4に例示される。
このように、この図4を参照すると、非導通へ切り替えるフェーズは、制御装置20が、非導通命令を受信する初期ステップ139を有する。
この場合、制御装置20は、ステップ140〜165を行う。
第4切り替えフェーズ140の間、制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに、第4設定値Ic4に等しい強度を有する設定値電流の負の設定値電圧を加える。
第4切り替えステップ140と平行に行われるステップ145の間、制御装置20は、モジュール16および18から測定値を受信し、これらの測定値を使用して、第4切り替えステップ140に対する停止条件を検証する。
特に、このステップ145の間、制御装置20は、下記の、
ゲートGとエミッタEとの間の電流の電圧VGEが、所定非導通電圧閾値VOFFに到達する、
主電流Icの時間導関数dIc/dtが負になる、
第4切り替えステップ140の開始から経過した時間が、第4所定時間閾値T4に到達する、という停止条件の1つが満たされるまで、ステップ140を行い続ける。
非導通電圧閾値VOFFは、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.5Vと20Vとの間で調整可能である。この閾値VOFFは、好ましくは2Vに等しい。
第4時間閾値T4は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、1μsと10μsとの間で調整可能である。
第4設定値Ic4の絶対値は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.2Aと20Aとの間で調整可能である。
そして、制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに、第5設定値Ic5に等しい強度を有する設定値電流の負の設定値電圧を加える第5切り替えステップ150を行う。
第5ステップ150と平行に行われるステップ155の間、制御装置20は、第5切り替えステップ150に対する停止条件を検証する。
特に、このステップ155の間、制御装置20は、第5切り替えステップ150の開始から経過した時間が、所定第5時間閾値T5に到達するまで、ステップ150を行い続ける。
第5時間閾値T5は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.5μsと2μsとの間で調整可能である。
第5設定値Ic5の絶対値は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.2Aと20Aとの間で調整可能である。
そして、制御装置20は、トランジスタ14のゲートGに、第6設定値Ic6に等しい強度を有する設定値電流の負の設定値電圧を加える第6切り替えステップ160を行う。
第6切り替えステップ160と平行に行われるステップ165の間、制御装置20は、第6切り替えステップ160に対する停止条件を検証する。
特に、このステップ165の間、制御装置20は、第4切り替えステップ140の開始から経過した時間が、所定非導通時間閾値TOFFに到達するまで、ステップ160を行い続ける。
非導通時間閾値TOFFは、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、3μsと20μsとの間で調整可能である。
第6設定値Ic6の絶対値は、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、0.2Aと20Aとの間で調整可能である。
そして、非導通へ切り替えるフェーズの実現の間、各設定値Ic4〜Ic6は、所定設定値のセットから選択されることを知ることができる。これらの値は、制御方法100の実現の前に予め決められる。
更に、設定値Ic4〜Ic6は、互いに異なる。
記述された例において、設定値Ic4〜Ic6は負であり、第6設定値Ic6は第5設定値Ic5より小さく、第4設定値Ic4より大きい。
図5は、主電流Icと、ゲートGとエミッタEとの間の電圧VGEと、主電流Icの時間導関数dIc/dtと、ゲートGにおける設定値電流IGの動きと、を非導通へ切り替えるフェーズのステップ140〜160の実現の1つの例において例示する。
追加的に、導通へ切り替えるフェーズは、電気回路網10における短絡を検出するステップ170を有する。このステップ170は、ステップ110〜135と平行に行われる。
特に、この検出ステップ170は幾つかのサブステップを有しており、そのフローチャートが図6に例示される。
サブステップ171の間、制御装置20は、時間観測ウィンドウTobsにおける主電流Icの時間導関数dIc/dtの符号を観測する。
時間観測ウィンドウTobsの開始は、導通へ切り替えるフェーズの開始に対応する。
所定テスト期間Ttの間、主電流Icの時間導関数dIc/dtが正の場合、制御装置20は、サブステップ172の間に、短絡の存在を検知する。そうでない場合は、制御装置20は、短絡は起き得ないと推測する。
有利なように、ステップ170は、装置20が、検出された短絡の存在を確認するサブステップ173を更に有する。
特に、このサブステップ173の間、制御装置20は、主電流Icの時間導関数dIc/dtが、テスト期間Ttに係る追加期間の間、ゼロ以上に留まるときは、短絡の存在を確認する。そうでない場合は、制御装置20は、短絡は起きなかったと推測する。
追加期間は、テスト期間Ttの最後に開始し、例えば、時間観測ウィンドウTobsと共に終了する。
短絡が検出されたときは、制御装置20は、該短絡を信号で通知し(signale)、トランジスタ14を、少なくとも所定非導通期間の間はオフ状態に保つ。
テスト期間Ttは、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、1μsと10μsとの間で調整可能である。
観測ウィンドウTobsの長さは、制御装置20により構成可能であり、方法100を行う前に、例えば、1μsと20μsとの間で調整可能である。
テスト期間Ttおよび追加期間は、観測ウィンドウTobsにおいて構成される。
図7は、主電流Icと、主電流Icの時間導関数dIc/dtの動きと、を導通へ切り替えるフェーズの実現の2つの例において例示する。
曲線IcおよびIc/dtの実線に対応する第1例においては、短絡は起きなかった。この場合、導関数dIc/dtの符号は、テスト期間Ttの間に変化したので、制御装置20は、如何なる短絡をも検出しなかった。
曲線IcおよびdIc/dtの破線に対応する第2例においては、短絡は起きた。この場合、導関数dIc/dtの符号は、テスト期間Ttの間、正であり、この期間外ではゼロに等しかった。従って、制御装置20は短絡を検出した。
本発明が、いくつかの利点を有することを知ることができる。
本発明に係る制御方法は、ゲートGとエミッタEとの間の電圧VGEの測定値と、主電流Icの導関数dIc/dtの符号のみを使用して、オフ状態とオン状態との間のトランジスタの切り替えの間の異なる中間ステップを制御する。
主電流Icの値、または主電流Icの導関数dIc/dtの値の測定値は、方法を行うために必要でないことに留意すべきである。このように、導関数dIc/dtの符号のみがトランジスタを制御するために重要であり、電気回路網における種々の測定手段に対する必要条件を簡素にすることを可能にする。
そしてこれは、トランジスタを組み込んだ電気回路の構造を相当に簡素にする。
更に、主電流Icの導関数dIc/dtの符号は、電力構成要素を非導通にするときの過電圧を制限する調整手段として使用される。
このため、非導通中の過電圧を制限するために、インバータフィードバック回路、特に、電力構成要素の端子間の電圧に接続される回路は必要でない。そして、これは、本発明の特別な利点を構成する。

Claims (10)

  1. IGBT型トランジスタ(14)を制御する方法(100)であって、前記トランジスタ(14)は、ゲート(G)、コレクタ(C)、およびエミッタ(E)を有し、主電流(Ic)が前記コレクタ(C)と前記エミッタ(E)との間を流れるオン状態と、前記コレクタ(C)が前記エミッタ(E)から電気的に隔離されているオフ状態と、を規定し、
    前記方法(100)は、前記オン状態と前記オフ状態との間の切り替えフェーズを有し、前記フェーズは、設定値電流を生成することを有し、前記設定値電流の、前記トランジスタ(14)の前記ゲート上の強度は、異なる設定値(Ic1、...、Ic6)を取り、前記設定値(Ic1、...、Ic6)の少なくとも幾つかは、前記主電流(Ic)の時間導関数(dIc/dt)の符号によって選択され、各設定値(Ic1、...、Ic6)は、所定設定値(Ic1、...、Ic6)のセットから選択される、方法(100)。
  2. 前記切り替えフェーズは、
    前記ゲート(G)と前記エミッタ(E)との間の電流の電圧(VGE)を測定することと、
    前記電圧を、少なくとも1つの所定電圧閾値(VON、VOFF)と比較することと、を更に有する、請求項1に記載の方法(100)。
  3. 少なくとも1つの設定値(Ic1、...、Ic6)は、前記ゲート(G)と前記エミッタ(E)との間の前記電圧(VGE)が、前記所定電圧閾値(VON、VOFF)に到達したときに選択される、請求項2に記載の方法(100)。
  4. 少なくとも1つの設定値(Ic1、...、Ic6)は、前の設定値(Ic1、...、Ic6)が選択された時点から経過した時間によって選択される、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法(100)。
  5. 前記切り替えフェーズは、前記トランジスタ(14)を、前記オフ状態から前記オン状態に切り替えることを有する、導通へ切り替えるフェーズ、または、前記トランジスタ(14)を、前記オン状態から前記オフ状態に切り替えることを有する、非導通へ切り替えるフェーズである、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法(100)。
  6. 前記導通へ切り替えるフェーズは、連続して行われる下記の、
    前記トランジスタ(14)を、前記オフ状態から前記オン状態に切り替える命令を受信することを有する初期導通ステップ(101)と、
    前記ゲート(G)と前記エミッタ(E)との間の電流の電圧(VGE)が、所定導通電圧閾値(VON)に到達するまで、または、前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)が正になるまで、または、第1切り替えステップ(110)の開始から経過した時間が、第1所定時間閾値(T1)に到達するまで、第1設定値(Ic1)に等しい強度の前記設定値電流(Ic1)を生成することを有する前記第1切り替えステップ(110)と、
    前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)が負になるまで、または、第2切り替えステップ(120)の開始から経過した時間が、第2所定時間閾値(T2)に到達するまで、第2設定値(Ic2)に等しい強度の前記設定値電流を生成することを有する前記第2切り替えステップ(120)と、
    前記第1切り替えステップ(110)の開始から経過した時間が、所定導通時間閾値(TON)に到達するまで、第3設定値(Ic3)に等しい強度の前記設定値電流を生成することを有する第3切り替えステップ(130)と、を有する、請求項5に記載の方法(100)。
  7. 前記非導通へ切り替えるフェーズは、連続して行われる下記の、
    前記トランジスタを前記オン状態から前記オフ状態に切り替える命令を受信することを有する初期非導通ステップ(139)と、
    前記ゲート(G)と前記エミッタ(E)との間の電流の電圧(VGE)が、所定非導通電圧閾値(VOFF)に到達するまで、または、前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)が負になるまで、または、第4切り替えステップ(140)の開始から経過した時間が、第4所定時間閾値(T4)に到達するまで、第4設定値(Ic4)に等しい強度の前記設定値電流を生成することを有する前記第4切り替えステップ(140)と、
    第5切り替えステップ(150)の開始から経過した時間が、第5所定時間閾値(T5)に到達するまで、第5設定値(Ic5)に等しい強度の前記設定値電流を生成することを有する前記第5切り替えステップと、
    前記第4切り替えステップ(140)の開始から経過した時間が、所定非導通時間閾値(TOFF)に到達するまで、第6設定値(Ic6)に等しい強度の前記設定値電流を生成することを有する第6切り替えステップ(160)と、を有する、請求項5または6に記載の方法(100)。
  8. 前記導通へ切り替えるフェーズは、所定の長さを有する観測時間ウィンドウ(Tobs)における前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)の符号による短絡の検出を有する、短絡を検出するステップ(170)を更に有する、請求項5〜7のいずれか一項に記載の方法(100)。
  9. 前記方法は、前記オン状態と前記オフ状態との間で切り替える少なくとも2つのフェーズであって、該2つのフェーズは前記導通へ切り替えるフェーズおよび前記非導通へ切り替えるフェーズである少なくとも2つのフェーズを有する、請求項5〜8のいずれか一項に記載の方法。
  10. IGBT型トランジスタ(14)の制御装置(20)であって、前記トランジスタ(14)は、ゲート(G)、コレクタ(C)、およびエミッタ(E)を有し、主電流(Ic)が前記コレクタ(C)と前記エミッタ(E)との間を流れるオン状態と、前記コレクタ(C)が前記エミッタ(E)から電気的に隔離されているオフ状態と、を規定し、
    前記装置は、設定値電流を生成することができ、前記設定値電流の、前記トランジスタ(14)の前記ゲート上の強度は、異なる設定値(Ic1、...、Ic6)を取り、前記設定値(Ic1、...、Ic6)の少なくとも幾つかは、前記主電流(Ic)の時間導関数(dIc/dt)の符号によって選択され、各設定値(Ic1、...、Ic6)は、所定設定値(Ic1、...、Ic6)のセットから選択される、制御装置(20)。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102229656B1 (ko) 2019-11-27 2021-03-19 현대모비스 주식회사 전력 반도체 소자의 동작 속도 제어 장치 및 전력 반도체 시스템
KR20220079260A (ko) 2020-12-04 2022-06-13 현대모비스 주식회사 전력 반도체 소자의 전류 모니터링 장치 및 전류 모니터링 방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002524010A (ja) * 1998-08-12 2002-07-30 ダイムラークライスラー・アクチェンゲゼルシャフト 電圧−チャージ制御電力半導体デバイスを制御する装置
JP2016073052A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 スイッチング制御装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19610895A1 (de) * 1996-03-20 1997-09-25 Abb Research Ltd Verfahren zur Einschaltregelung eines IGBTs und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP0926826A1 (en) * 1997-12-18 1999-06-30 ABB Research Ltd. Method and device in power transistor
US6060943A (en) * 1998-04-14 2000-05-09 Nmb (Usa) Inc. Circuit simulating a diode
GB2417149A (en) * 2004-08-12 2006-02-15 Bombardier Transp Gmbh Digital adaptive control of IGBT or MOS gate charging current in a converter for a railway traction motor
US8829949B2 (en) * 2012-01-17 2014-09-09 Franc Zajc Method and apparatus for driving a voltage controlled power switch device
DE102012207147B4 (de) * 2012-04-27 2016-01-21 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Ansteuern von Leistungshalbleiterschaltern
JP6140814B2 (ja) * 2012-05-14 2017-05-31 テュフ ラインランド(シャンハイ)カンパニー リミテッド 光起電力素子の評価方法、測定システム構成及び測定システム構成の使用方法
DE102012011755A1 (de) * 2012-06-12 2013-12-12 Tridonic Gmbh & Co. Kg Leistungsfaktorkorrekturschaltung, Betriebsgerät für ein Leuchtmittel und Verfahren zum Steuern einer Leistungsfaktorkorrekturschaltung
FR2993422B1 (fr) * 2012-07-13 2015-05-01 Valeo Sys Controle Moteur Sas Dispositif de commande d'au moins un transistor
CN102969889B (zh) * 2012-11-05 2015-08-12 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 一种自供电的源极驱动电路及应用其的开关电源
WO2014161600A1 (en) * 2013-04-05 2014-10-09 Abb Technology Ltd Rc-igbt switching pulse control
JP5907199B2 (ja) * 2014-03-12 2016-04-26 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及び半導体装置の制御方法
EP3138692A1 (en) * 2015-08-06 2017-03-08 OCE-Technologies B.V. Imaging system for processing a media

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002524010A (ja) * 1998-08-12 2002-07-30 ダイムラークライスラー・アクチェンゲゼルシャフト 電圧−チャージ制御電力半導体デバイスを制御する装置
JP2016073052A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 スイッチング制御装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102229656B1 (ko) 2019-11-27 2021-03-19 현대모비스 주식회사 전력 반도체 소자의 동작 속도 제어 장치 및 전력 반도체 시스템
KR20220079260A (ko) 2020-12-04 2022-06-13 현대모비스 주식회사 전력 반도체 소자의 전류 모니터링 장치 및 전류 모니터링 방법

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