JP2018021774A - 太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
(第1の実施形態)
第1の実施形態の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法を図1乃至図6を参照して説明する。図1は、第1の実施形態による太陽電池モジュールの含有金属成分濃度を測定する測定装置の全体構成図である。複数の太陽電池単位セル1を電気的に接続して構成された太陽電池モジュール2に対して、受光面側から蛍光X線を照射し蛍光X線分析を行なう可動式蛍光X線分析装置3と、受光面側から太陽電池モジュールの画像情報を取得するデジタルカメラ4とを設け、何れも情報端末機器5と接続する。情報端末機器5は、可動式蛍光X線分析装置3およびデジタルカメラ4の動作を制御し、各々から得た緒情報をもとに太陽電池モジュール2の含有金属成分濃度を求め、その値を表示する。
・SSi:半導体基板の単位面積
・Ai:i番目の濃度分布波形(x方向)の面積
・σxi:i番目の濃度分布波形(x方向)の分散
・uxi:i番目の濃度分布波形(x方向)の平均値
・Aj:j番目の濃度分布波形(y方向)の面積
・σyj:j番目の濃度分布波形(y方向)の分散
・uyj:j番目の濃度分布波形(y方向)の平均値
・Bg:半導体基板上におけるバスバーを除いた部分の金属成分濃度
次に、S3に示すように、デジタルカメラ4を用いて、太陽電池単位セル1を含む太陽電池モジュール2の受光面側の画像情報を取得し、太陽電位モジュール2上における半導体基板の無い部分の合計面積(SW)と、有る部分の合計面積(SW)を求める。
・h :太陽電池単位セルの半導体基板の含有金属成分濃度の平均値
・SW:太陽電池モジュール上における半導体基板の無い部分の合計面積
・SB:太陽電池モジュール上における半導体基板の有る部分の合計面積
第1の実施形態の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法によれば、太陽電池モジュール2における同一の太陽電池単位セル1の反復性、繰り返し性を利用して、蛍光X線分析の結果および太陽電池モジュールの画像情報をうまく活用することにより、含有金属成分濃度を簡単に且つ高い精度で求めることができる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法を図7および図8を参照して説明する。第1の実施形態で説明した太陽電池モジュール2の含有金属成分濃度を測定する測定装置の全体構成図(図1)、太陽電池モジュール2の上面図および断面図(図2)、および太陽電池単位セル1の上面図および断面図(図3)については、第2の実施形態でも同じであるので、説明は省略する。第2の実施形態においては、太陽電池単位セル1における電極(バスバー12、フィンガーバー13)の有無を区別して扱いながら、太陽電池モジュールの含有金属成分濃度を求めることが第1の実施形態と異なる点である。
・CD:電極の金属成分濃度
・CK:空隙部の金属成分濃度
・SD:電極の面積
・SK:空隙部の面積
・SM:モジュール面積
第2の実施形態式1の太陽電池モジュール2の含有金属成分濃度の測定方法によれば、可動式蛍光X線分析装置3を用いて分析する箇所は電極12、13と空隙部14(電極が無い部分)のみであり少ないので、蛍光X線分析を短時間で行なうことができる。
2・・・太陽電池モジュール
3・・・可動式蛍光X線分析装置
4・・・デジタルカメラ
5・・・情報端末機器
6・・・発電素子(半導体基板)
7・・・結合線
8・・・封止材
9・・・ガラス基板
10・・・バックシート
11・・・金属フレーム
12・・・バスバー(電極)
13・・・フィンガーバー(電極)
14・・・空隙部(電極でない部分)
Claims (11)
- 半導体基板上に形成された発電素子を含む複数の太陽電池単位セルを電気的に接続して構成された太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法において、
前記太陽電池単位セルの受光面の複数箇所に蛍光X線を照射し、蛍光X線分析法を用いて各々の含有金属成分濃度を測定する蛍光X線分析工程と、
前記太陽電池モジュールの受光面の画像情報を取得する画像情報取得工程と、
前記太陽電池単位セルの複数箇所各々の含有金属成分濃度の値および前記太陽電池モジュールの画像情報をもとに、前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度を求める濃度算出工程とを有することを特徴とする太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。 - 前記蛍光X線分析工程において、前記太陽電池単位セル内のX方向およびY方向に各々連続した複数箇所の各含有金属成分濃度を測定し、前記太陽電池単位セル内の金属成分濃度分布を考慮して、前記太陽電池単位セルの半導体基板の含有金属成分濃度の平均値を求め、
前記画像情報取得工程において、前記太陽電池モジュール上の半導体基板の無い部分の面積と有る部分の面積の各々の値を求め、
前記濃度算出工程において、前記太陽電池単位セルの半導体基板の含有金属成分濃度の平均値、および前記太陽電池モジュール上の半導体基板の無い部分の面積と有る部分の面積の各々の値を用いて前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度を求めることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。 - 前記蛍光X線分析工程において、前記太陽電池単位セルの半導体基板の含有金属成分濃度の平均値(h)は、
(式1)
(SSi:半導体基板の単位面積、Ai:i番目の濃度分布波形(x方向)の面積、σxi:i番目の濃度分布波形(x方向)の分散、uxi:i番目の濃度分布波形(x方向)の平均値、Aj:j番目の濃度分布波形(y方向)の面積、σyj:j番目の濃度分布波形(y方向)の分散、uyj :j番目の濃度分布波形(y方向)の平均値、Bg:半導体基板上におけるバスバーを除いた部分の金属成分濃度)
を用いて求めることを特徴とする請求項2に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。 - 前記濃度算出工程において、前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度(CA)は、
(式2)
(h:太陽電池単位セルの半導体基板の含有金属成分濃度の平均値、SW:太陽電池モジュール上における半導体基板の無い部分の合計面積、SB:太陽電池モジュール上における半導体基板の有る部分の合計面積)
を用いて求めることを特徴とする請求項2および3に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。 - 前記半導体基板上に形成された発電素子は電極を有し、
前記蛍光X線分析工程において、前記太陽電池単位セル内の前記電極と空隙部(電極が無い部分)の各含有金属成分濃度を測定し、
前記画像情報取得工程において、前記太陽電池モジュール内の前記電極の面積と空隙部(電極が無い部分)の面積を各々求め、
前記濃度算出工程において、前記太陽電池単位セル内の電極と空隙部(電極が存在しない部分)の各含有金属成分濃度、前記太陽電池モジュール内の電極の面積と空隙部(電極が存在しない部分)の各面積を用いて、前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度を求めることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。 - 前記電極はバスバーおよびフィンガーバーであることを特徴とする請求項5に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。
- 前記濃度算出工程において、前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度(CA)は、
(式3)
(CD:電極の含有金属成分濃度、CK:空隙部の含有金属成分濃度、SD:電極の面積、SK:空隙部の面積、SM:太陽電池モジュールの面積)
を用いて求めることを特徴とする請求項5および6に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。 - 前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定は、太陽電池モジュールを設置した敷地内で実施する非破壊検査であることを特徴とする請求項1乃至7に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。
- 前記太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法を用いて、前記太陽電池モジュールの資源性または有害性を判断することを特徴とする請求項1乃至7に記載の太陽電位モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。
- 前記資源性を有する金属元素とは、銀、銅、アルミニウム、シリコン、インジウムの少なく一つであること特徴とする請求項9に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。
- 前記有害性を有する金属元素とは、鉛、セレン、ガリウム、砒素、アンチモンの少なく一つであること特徴とする請求項9に記載の太陽電池モジュールの含有金属成分濃度の測定方法。
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