JP2017530352A - 三次元表面形状計測における多数のカメラ及び光源からの点群統合 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 12
- 230000010354 integration Effects 0.000 title description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 15
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 239000011449 brick Substances 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000010420 art technique Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011806 microball Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2545—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with one projection direction and several detection directions, e.g. stereo
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
- G06T7/586—Depth or shape recovery from multiple images from multiple light sources, e.g. photometric stereo
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10028—Range image; Depth image; 3D point clouds
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30141—Printed circuit board [PCB]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30152—Solder
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
Claims (24)
- 三次元表面を計測するためのコンピュータ実装方法であって、該方法は、
構造化照明を表面に投影し、且つ複数の画像セットを取得すること;
複数の点群を得るために画像セットを処理すること;
空間アキュムレータの各素子内に点群情報を受け取るように構成された空間アキュムレータを規定すること;
複数の点群の第1点群と複数の点群の第2点群とを、空間アキュムレータ内へ結合すること;
空間アキュムレータの内容に基づいて表面の空間座標を生成すること;
を包含する、
上記コンピュータ実装方法。 - 構造化照明は、異なる入射角から投影される、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 第1画像セット及び第2画像セットが異なるカメラにより取得される、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 複数の画像セットは、第1画像セット及び第2画像セットを包含し、且つ第1及び第2の画像セットは、2つの異なるパターン集合を投影することによって取得される、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 2つの異なるパターン集合が相互に対して回転される、請求項4に記載のコンピュータ実装方法。
- 構造化照明は、正弦波縞パターンである、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 複数の画像セットを取得することは、第1カメラを用いて画像の第1トリオ及び第2カメラを用いて画像の第2トリオを取得し、画像の第1トリオは、第1点群を生成するために処理され、且つ画像の第2トリオは、第2点群を生成するために処理される、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 第1及び第2点群を結合することは、空間アキュムレータ内での点群の代数的総和を包含する、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 代数的総和は、複素値の代数的総和である、請求項8に記載のコンピュータ実装方法。
- 第1及び第2点群の結合は、非線形な結合を包含する、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 非線形な結合は、空間アキュムレータの各素子について幾何学的中央値を決定することを包含する、請求項10に記載のコンピュータ実装方法。
- 非線形な結合は、投票処理を採用する、請求項10に記載のコンピュータ実装方法。
- 表面に関する情報を提供するために表面の空間座標を利用することをさらに包含する、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 表面に関する情報は、検査情報である、請求項13に記載のコンピュータ実装方法。
- 情報は、計測情報である、請求項10に記載のコンピュータ実装方法。
- 第1点群及び第2点群は、多重反射を低減するように結合される、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 三次元表面を計測するためのシステムであって、該システムは、
三次元表面に構造化照明を投影するように構成された構造化照明プロジェクタ;
構造化照明プロジェクタに結合され、複数の異なる構造化照明投影を表面へ生成するように構造化照明プロジェクタを制御するための制御器;
それぞれは制御器へ結合された複数のカメラ、ここで各カメラは、それぞれ異なる構造化照明投影が表面に存在する間に、表面の画像を取得するように構成される;
を備え、
制御器は、各カメラから画像情報を受け取り、且つ各カメラからの三次元画像データ及び品質測定に対応する複数の点群を生成するように構成され;且つ
制御器は、複数の点群を空間アキュムレータ内へ統合し、且つ空間アキュムレータの内容を用いて単一の統合された三次元点群を生成するよう構成される、
上記システム。 - 構造化照明プロジェクタは、空間光変調器を具備する、請求項17に記載のシステム。
- 空間光変調器は、各構造化照明投影を規定する制御器から信号を受信するように制御器へ結合される、請求項18に記載のシステム。
- 各構造化照明投影は、別の構造化照明投影とは異なる位相を有する正弦波縞パターンを具備する、請求項19に記載のシステム。
- 制御器は、各点を複素値として表示し且つ複素値の代数的総和を実行することによって複数の点群を結合するように構成されている、請求項17に記載のシステム。
- 制御器は、複数の点群を非線形演算で結合するように構成される、請求項17に記載のシステム。
- 非線形演算は、各点群における対応する点についての幾何学的中央値を決定することを包含する、請求項17に記載のシステム。
- 非線形演算は投票処理を包含する、請求項17に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201462048933P | 2014-09-11 | 2014-09-11 | |
US62/048,933 | 2014-09-11 | ||
PCT/US2015/049429 WO2016040634A1 (en) | 2014-09-11 | 2015-09-10 | Point cloud merging from multiple cameras and sources in three-dimensional profilometry |
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JP2017530352A true JP2017530352A (ja) | 2017-10-12 |
JP6457072B2 JP6457072B2 (ja) | 2019-01-23 |
Family
ID=55455206
Family Applications (1)
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JP2017513733A Active JP6457072B2 (ja) | 2014-09-11 | 2015-09-10 | 三次元表面形状計測における多数のカメラ及び光源からの点群統合 |
Country Status (6)
Country | Link |
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JP (1) | JP6457072B2 (ja) |
KR (2) | KR101940936B1 (ja) |
CN (1) | CN106796721B (ja) |
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- 2015-09-10 US US14/850,470 patent/US10346963B2/en active Active
- 2015-09-10 KR KR1020177009701A patent/KR101940936B1/ko active IP Right Grant
- 2015-09-10 WO PCT/US2015/049429 patent/WO2016040634A1/en active Application Filing
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---|---|
JP6457072B2 (ja) | 2019-01-23 |
KR20180117230A (ko) | 2018-10-26 |
EP3194939B1 (en) | 2021-11-03 |
KR101940936B1 (ko) | 2019-01-21 |
KR102025038B1 (ko) | 2019-09-24 |
US10346963B2 (en) | 2019-07-09 |
US20160078610A1 (en) | 2016-03-17 |
CN106796721B (zh) | 2021-05-04 |
EP3194939A1 (en) | 2017-07-26 |
WO2016040634A1 (en) | 2016-03-17 |
EP3194939A4 (en) | 2018-05-09 |
KR20170083028A (ko) | 2017-07-17 |
CN106796721A (zh) | 2017-05-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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