JP2017504797A - 標準テスト機器を使用して、様々な性能特性及び要件を有するデータパケット送受信器をテストするシステム及び方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 134
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 1
- 230000008672 reprogramming Effects 0.000 abstract description 3
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 10
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/15—Performance testing
- H04B17/17—Detection of non-compliance or faulty performance, e.g. response deviations
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
- H04B10/0731—Testing or characterisation of optical devices, e.g. amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/15—Performance testing
- H04B17/16—Test equipment located at the transmitter
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
- H04B17/29—Performance testing
Abstract
Description
Claims (18)
- 被試験デバイス(DUT)である無線データパケット信号送受信器をテストするシステムを含む装置であって、
DUTと通信して、前記DUTからの送信データパケット信号及び前記DUTへの受信データパケット信号を伝達するためのデータパケット信号路と、
前記データパケット信号路に結合され、前記送信データパケット信号を受信し、前記受信データパケット信号を提供し、1つ以上のテストコマンドに応答して、1つ以上のテスト制御信号を提供するテスタと、
前記DUTと通信して、少なくとも1つのDUT制御信号を前記DUTに伝達するDUT制御信号インターフェースと、
前記テスタと前記DUT制御信号インターフェースとの間に結合され、複数のテストプログラム動作を実行し、前記少なくとも1つのDUT制御信号を提供することにより、少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答するDUT制御回路であって、前記送信データパケット信号は、前記受信データパケット信号及び前記少なくとも1つのDUT制御信号のうちの少なくとも一方に応答する、DUT制御回路と
を備える、装置。 - 前記データパケット信号路は、導電性無線周波数(RF)信号路を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記DUT制御信号インターフェースは、複数の電気信号導電体を備える、請求項1に記載の装置。
- 前記テスタは、外部コマンド源からの1つ以上のテストコマンドに応答する、請求項1に記載の装置。
- 前記DUT制御回路は、複数のテストプログラム動作を実行し、前記少なくとも1つのDUT制御信号を提供することにより、外部コマンド源からの1つ以上の制御コマンドに更に応答する、請求項1に記載の装置。
- 前記DUT制御回路は処理回路及びメモリ回路を備え、前記処理回路及び前記メモリ回路は、
前記メモリ回路からの複数のテストプログラム命令にアクセスし、
前記処理回路を用いて前記複数のテストプログラム命令を実行することにより、前記少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答する、請求項1に記載の装置。 - 前記処理回路はマイクロコントローラ回路を備える、請求項6に記載の装置。
- 前記DUT制御回路は処理回路を備え、前記処理回路は、
外部命令源からの複数のテストプログラム命令にアクセスし、
前記処理回路を用いて前記複数のテストプログラム命令を実行することにより、前記少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答する、請求項1に記載の装置。 - 前記処理回路はマイクロコントローラ回路を備える、請求項8に記載の装置。
- 前記DUT制御信号インターフェースは更に、前記DUTと通信して、少なくとも1つのテスト応答信号を前記DUTから伝達し、
前記DUT制御回路は、前記複数のテストプログラム命令の前記実行を終了することにより、前記少なくとも1つのテスト応答信号に更に応答する、請求項1に記載の装置。 - 被試験デバイス(DUT)である無線データパケット信号送受信器をテストする方法であって、
テスタを用いて、DUTから送信データパケット信号を受信することと、
前記テスタを用いて、受信データパケット信号を前記DUTに送信することと、
前記テスタを用いて、1つ以上のテスト制御信号を提供することにより、1つ以上のテストコマンドに応答することと、
DUT制御回路を用いて、複数のテストプログラム動作を実行し、少なくとも1つのDUT制御信号を前記DUTに提供することにより、少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答することであって、前記送信データパケット信号は、前記受信データパケット信号及び前記少なくとも1つのDUT制御信号のうちの少なくとも一方に応答する、少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答することと
を含む、方法。 - 前記テスタを用いて1つ以上のテストコマンドに応答することは、外部コマンド源からの1つ以上のテストコマンドに応答することを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記DUT制御回路を用いて少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答することは、複数のテストプログラム動作を実行して、前記少なくとも1つのDUT制御信号を提供することにより、外部コマンド源からの1つ以上の制御コマンドに更に応答することを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記DUT制御回路を用いて、複数のテストプログラム動作を実行して、少なくとも1つのDUT制御信号を前記DUTに提供することにより、少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答することは、
ローカル命令源からの複数のテストプログラム命令にアクセスすることと、
前記複数のテストプログラム命令を実行することと
を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記複数のテストプログラム命令を実行することは、マイクロコントローラ回路を用いて前記複数のテストプログラム命令を実行することを含む、請求項14に記載の方法。
- 前記DUT制御回路を用いて、複数のテストプログラム動作を実行して、少なくとも1つのDUT制御信号を前記DUTに提供することにより、少なくとも前記1つ以上のテスト制御信号に応答することは、
外部命令源からの複数のテストプログラム命令にアクセスすることと、
前記複数のテストプログラム命令を実行することと
を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記複数のテストプログラム命令を実行することは、マイクロコントローラ回路を用いて前記複数のテストプログラム命令を実行することを含む、請求項16に記載の方法。
- 前記DUT制御回路を用いて、前記DUTから少なくとも1つのテスト応答信号を受信し、それに応答して、前記複数のテストプログラム命令の前記実行を終了することを更に含む、請求項11に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/147,159 US9618577B2 (en) | 2014-01-03 | 2014-01-03 | System and method for testing data packet transceivers having varied performance characteristics and requirements using standard test equipment |
US14/147,159 | 2014-01-03 | ||
PCT/US2014/070480 WO2015102878A1 (en) | 2014-01-03 | 2014-12-16 | System and method for testing data packet transceivers having varied performance characteristics and requirements using standard test equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017504797A true JP2017504797A (ja) | 2017-02-09 |
JP6503361B2 JP6503361B2 (ja) | 2019-04-17 |
Family
ID=53493884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016542187A Active JP6503361B2 (ja) | 2014-01-03 | 2014-12-16 | 標準テスト機器を使用して、様々な性能特性及び要件を有するデータパケット送受信器をテストするシステム及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9618577B2 (ja) |
JP (1) | JP6503361B2 (ja) |
KR (1) | KR102333310B1 (ja) |
CN (1) | CN105874748B (ja) |
TW (1) | TWI689211B (ja) |
WO (1) | WO2015102878A1 (ja) |
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- 2014-12-16 CN CN201480071575.0A patent/CN105874748B/zh active Active
- 2014-12-16 KR KR1020167017330A patent/KR102333310B1/ko active IP Right Grant
- 2014-12-16 WO PCT/US2014/070480 patent/WO2015102878A1/en active Application Filing
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JP6503361B2 (ja) | 2019-04-17 |
CN105874748A (zh) | 2016-08-17 |
US9618577B2 (en) | 2017-04-11 |
CN105874748B (zh) | 2019-06-18 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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