KR102333310B1 - 표준 테스트 장비를 이용하여 성능 특징 및 요구사항을 변경하는 데이터 패킷 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법 - Google Patents

표준 테스트 장비를 이용하여 성능 특징 및 요구사항을 변경하는 데이터 패킷 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

테스터로 테스트하는 동안 피시험장치(DUT)에 액세스하고 DUT를 제어하기 위한 테스트 프로그램 명령어를 실행하기 위해 테스터와 별개인 DUT 제어 회로를 이용함으로써 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 DUT를 테스트하기 위한 시스템 및 방법. 상기 테스트 프로그램 명령어는 미리 제공되어 테스터 또는 개인용 컴퓨터와 같은 외부 제어 소스의 제어 하에서 후속하는 액세스 및 실행을 위해 저장될 수 있다. 대안으로, 상기 테스트 프로그램 명령어는 새로운 또는 상이한 성능 특징 또는 요구조건을 가지고 DUT의 테스트를 시작할 때와 같이 테스트 바로 직전에 테스터 또는 외부 제어 소스에 의해 제공될 수 있다. 따라서, DUT에 의해 채용된 다양한 칩셋들 사이의 차이를 고려하면서 상이한 DUT의 전용 테스트가 테스터의 재설정 또는 재프로그래밍을 필요로 하지 않으면서 표준 테스터 설정과 협력하여 수행될 수 있다.

Description

표준 테스트 장비를 이용하여 성능 특징 및 요구사항을 변경하는 데이터 패킷 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR TESTING DATA PACKET TRANSCEIVERS HAVING VARIED PERFORMANCE CHARACTERISTICS AND REQUIREMENTS USING STANDARD TEST EQUIPMENT}
본 발명은 데이터 패킷 트랜시버 피시험장치(DUT)의 테스트에 관한 것으로, 특히 테스터의 재설정 또는 재프로그래밍을 필요로 하지 않으면서 표준 테스터 설정과 함께 DUT에 의해 채용된 다양한 칩셋들 사이에서의 차이를 고려하면서 상이한 DUT들의 전용 테스트를 수행하는 것에 관한 것이다.
오늘날의 전자 장치의 다수는 접속 및 통신 목적 모두를 위해 무선 신호 기술을 사용한다. 무선 장치가 전자기 에너지를 송수신하고, 2개 이상의 무선 장치가 자신의 신호 주파수 및 파워 스펙트럼 밀도에 의해 서로의 동작에 간섭할 가능성이 있기 때문에, 이들 장치들과 그 장치들의 무선 기술은 다양한 무선 기술 표준 규격을 준수해야 한다.
이러한 무선 장치들을 설계할 때, 엔지니어들은 장치들에 포함된 무선 기술의 상술한 표준 기반 규격 각각을 이러한 장치들이 만족시키거나 또는 그것을 능가할 것을 보장하도록 특별히 유의한다. 추가로, 이들 장치가 추후에 대량으로 제조될 때, 이들 장치는, 장치들에 포함된 무선 기술 표준 기반 규격에 대해 상기 장치들이 따르는 것을 포함하면서, 제조 결함이 부적절한 동작을 일으키지 않는 것을 보장하도록 테스트된다.
이들 장치의 제조 및 조립에 후속하는 이들 장치의 테스트에 대해, 현재 무선 장치 테스트 시스템은 각각의 장치로부터 수신된 신호를 분석하는 서브시스템을 채용한다. 이러한 서브시스템은 적어도 피시험장치에 전송될 소스 신호를 제공하는 벡터 신호 생성기(VSG) 및 피시험장치에 의해 산출된 신호들을 분석하기 위한 벡터 신호 분석기(VSA)를 포함한다. VSG에 의한 테스트 신호의 산출과 VSA에 의해 수행되는 신호 분석은 일반적으로 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성을 변하게 하면서 다양한 무선 신호 기술 표준에 따라 다양한 장치를 테스트하는 데에 각각 이용될 수 있도록 프로그래밍 가능하다.
무선 통신 장치 제조의 일부로서, 생산 비용 중 하나의 현저한 구성요소는 제조 테스트에 연관된 비용이다. 일반적으로, 테스트 비용과 테스트를 수행하는 데에 요구되는 테스트 장비의 복잡도 사이에는 직접적인 상관관계가 있다. 따라서, 장비 비용(예를 들면, 필수적인 테스트 장비 또는 테스터의 복잡도 증가에 기인한 비용 증가)을 최소화하면서, 테스트의 정확도를 유지시킬 수 있는 개선이 중요하고, 특히 대량의 이러한 장치들이 제조되고 테스트 된다는 점에서 현저한 비용 절감을 제공할 수 있다.
따라서, 유사하게 점진적으로 변하는 테스트 특성 및 요구조건을 가진 점진적으로 복잡해지는 테스터를 필요로 하지 않으면서, 점진적으로 변하는 성능 특성 및 요구조건을 가지는 점진적으로 복잡해지는 DUT를 테스트하는 기술을 가지는 것이 바람직할 것이다.
본 발명에 따르면, 테스터로 테스트하는 동안 피시험장치(DUT)에 액세스하고 DUT를 제어하기 위한 테스트 프로그램 명령어를 실행하기 위해 테스터와 별개인 DUT 제어 회로를 이용함으로써 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 DUT를 테스트하기 위한 시스템 및 방법이 제공된다. 상기 테스트 프로그램 명령어는 미리 제공되어 테스터 또는 개인용 컴퓨터와 같은 외부 제어 소스의 제어 하에서 후속하는 액세스 및 실행을 위해 저장될 수 있다. 대안으로, 상기 테스트 프로그램 명령어는 새로운 또는 상이한 성능 특징 또는 요구조건을 가지고 DUT의 테스트를 시작할 때와 같이 테스트 바로 직전에 테스터 또는 외부 제어 소스에 의해 제공될 수 있다. 따라서, DUT에 의해 채용된 다양한 칩셋들 사이의 차이를 설명하면서 상이한 DUT의 전용 테스트가 테스터의 재설정 또는 재프로그래밍을 필요로 하지 않으면서 표준 테스터 설정과 함께 수행될 수 있다.
본 발명의 하나의 실시예에 따르면, 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템은: 상기 DUT로부터의 송신 데이터 패킷 신호와 상기 DUT로의 수신 데이터 패킷 신호를 전송하기 위해 상기 DUT와 통신하는 데이터 패킷 신호 경로; 상기 송신 데이터 패킷 신호를 수신하고 상기 수신 데이터 패킷 신호를 제공하기 위해 상기 데이터 패킷 신호 경로에 결합되고, 하나 이상의 테스트 제어 신호를 제공함으로써 하나 이상의 테스트 명령에 응답하는 테스터; 적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 전송하기 위해 상기 DUT와 통신하는 DUT 제어 신호 인터페이스; 및 상기 테스터와 상기 DUT 제어 신호 인터페이스 사이에 결합되고, 상기 적어도 하나의 DUT 제어 신호를 제공하기 위해 복수의 테스트 프로그램 동작을 실행함으로써 적어도 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호에 응답하는 DUT 제어 회로;를 포함하고, 상기 송신 데이터 패킷 신호는 상기 수신 데이터 패킷 신호와 상기 적어도 하나의 DUT 제어 신호 중 적어도 하나에 응답한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따르면, 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법은: 테스터를 가지고 DUT로부터의 송신 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계; 상기 테스터를 가지고 상기 DUT로의 수신 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계; 상기 테스터를 가지고, 하나 이상의 테스트 제어 신호를 제공함으로써 하나 이상의 테스트 명령에 응답하는 단계; 및 DUT 제어 회로를 가지고, 적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 제공하기 위해 복수의 테스트 프로그램 동작을 실행함으로써 적어도 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호에 응답하는 단계;를 포함하고, 상기 송신 데이터 패킷 신호는 상기 수신 데이터 패킷 신호와 상기 적어도 하나의 DUT 제어 신호 중 적어도 하나에 응답한다.
도 1은 데이터 패킷 트랜시버를 테스트하기 위한 종래 테스트 환경을 도시한다.
도 2는 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 데이터 패킷 트랜시버를 테스트하는 테스트 환경을 도시한다.
도 3은 본 발명의 예시적인 실시예에 따라 테스트 프로그램 흐름을 도시한다.
하기의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 예시적인 실시예이다. 이러한 설명은 본 발명의 범위에 대한 예시이고 그에 대해 한정하는 것을 의도하지 않는다. 이러한 실시예들은 당업자로 하여금 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세히 기술되고, 다른 실시예들이 본 발명의 범위 또는 취지를 벗어나지 않고서 일부 변형을 하여 실시될 수 있다는 것이 이해될 것이다.
문맥으로부터 명시적으로 반대로 지시하지 않는다면 본 명세서 전체에서, 기술된 바와 같은 개별 회로 엘리먼트는 단수이거나 복수일 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, "circuit" 및 "circuitry"와 같은 용어들은 단일한 컴포넌트 또는 복수의 컴포넌트 중 어느 하나를 포함할 수 있으며, 이는 능동 및/또는 수동이고, 연결되거나 또는 그렇지 않으면 함께 결합되어(예를 들면 하나 이상의 집적회로 칩으로서) 기술된 기능을 제공한다. 추가로, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압 또는 데이터 신호를 가리킨다. 도면 내에서, 유사하거나 연관된 엘리먼트들은 유사하거나 연관된 문자, 숫자 또는 문자숫자 지시어를 가질 것이다. 추가로, 본 발명은 이산 전자 회로(바람직하게는 하나 이상의 집적회로 칩의 형태로 된)를 이용하는 실시의 측면에서 개시되었지만, 신호 주파수 또는 처리될 데이터 속도에 따라 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안적으로 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 이용하여 구현될 수 있다. 추가로, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록도의 다이어그램을 예시하는 정도로, 기능 블록은 필수적으로 하드웨어 회로 사이의 분할을 지시하지는 않는다.
하기에 더 상술된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, 테스터와 DUT 사이의 상호작용은 테스터와 DUT 사이의 통신의 지연시간(latency)과 필요한 볼륨을 감소시키기 위한 방식으로 제어되어, 테스트 시간과 그에 따른 테스트 시간에 연관된 비용을 감소시킬 수 있다. 예를 들면, 테스터로부터 DUT로 흐르는 데에 필요한 제어 명령의 수를 감소시킴으로써 통신 볼륨(communication volume)이 최소화될 수 있으면서, 테스터로 하여금 보다 빠르게 신호 전송과 신호 수신 모드의 동작 사이에서의 전이를 가능하게 함으로써 통신 지연시간이 감소될 수 있다.
테스터와 DUT 사이의 상호작용을 최소화하기 위한 하나의 기술은 미리정해진 수의 이러한 테스터 데이터 패킷이 송신될 때까지 다수의 미리정해진 테스터 데이터 패킷의 트랜잭션을 시작하기 위한 테스터로부터의 단일한 명령을 이용하는 것을 포함한다.(이는 참조에 의해 본원에 그 내용이 통합된 미국 특허출원번호 제 11/422,475, 11/422,489 및 11/696,921에 상세히 개시되어있다.) 또다른 기술은 DUT와 테스터 사이에 명령어가 교환될 필요성을 감소시키기 위해 DUT와 테스터 모두에 대해 미리정해진 순서의 공지된 테스트 단계들을 이용하는 단계를 포함한다.(이는 참조에 의해 본원에 그 내용이 통합된 미국 특허출원번호 제 11/279,778, 11/839,814, 11/839,788 및 11/839,829에 상세히 개시되어있다.) 그러나, 다수의 테스터 데이터 패킷을 포함하고 및 테스트 단계들을 시퀀싱 하는 이들 시퀀싱 기술(sequencing technique)들은 추가적인 하드웨어, 펌웨어, 또는 소프트웨어(예를 들면 테스트 명령의 추가적인 프로그래밍)와 같은 테스터 또는 DUT, 또는 양측 모두의 일부에 대한 지원을 요구한다. 예를 들면, 이들 시간 절감 테스트 기술을 지원하기 위해, DUT는 자신의 처리 서브시스템(예를 들면, 자신의 특유의 칩셋)에 고유한 펌웨어를 요구하고, 하나 이상의 집적 회로 제조사는 특정 드라이버 기능을 가지고 이들 기술들을 지원하도록 요구받을 수 있다.
그러나, 이러한 어려움은 DUT에 대해, 그리고 대부분의 경우 테스터에 대해서도 특별한 단서를 필요로 하지 않으면서 다수의 테스트 데이터 패킷 및 테스트 단계 시퀀싱 기술이 사용될 수 있도록 하는 본 발명에 따라 방지될 수 있다. 예시적인 실시예에 따르면, 외부 처리 서브시스템이 테스터와 함께 DUT를 제어하는 데에 이용된다. 이 외부 서브시스템은, DUT의 하드웨어 또는 펌웨어에 대한 변형을 요구하지 않으면서도, 다양한 DUT들과, 다수의 테스트 데이터 패킷 및 테스트 단계 시퀀싱 기술들을 지원하기 위한 DUT들의 연관된 칩셋들을 수용하도록 설계될 수 있다.
도 1을 참조하면, 무선 데이터 패킷 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 종래 테스트 환경은 테스터(12), DUT(14)(또는 대안으로 테스터 설정에 따라 동시에 또는 순차적으로 테스트되는 다수의 DUT), 및 컨트롤러(16)(예를 들면, 개인용 컴퓨터)를 포함한다. 상술한 바와 같이, 테스터는 데이터 패킷 신호 소스(12g)(일반적으로 VSG의 형태) 및 데이터 패킷 신호 수신기 및 분석기(12a)(일반적으로 VSA의 형태)를 포함한다. 테스터는 또한 내부 저장된 테스트 프로그램 또는 외부 소스(예를 들면, 컨트롤러(16))로부터 수신된 테스트 명령 또는 프로그램에 따라 다양한 제어 기능을 수행하는 제어 회로(12c)를 포함할 수 있다.
테스터(12) 및 DUT(14)는 신호 경로(13)를 통해 통신한다. 이 신호 경로(13)는 일반적으로 동축 케이블 및 커넥터와 같은 도전성 무선 주파수(RF) 신호 경로의 형태이다. 그러나, 이 신호 경로(13)는 또한 공지된 원리에 따라 전자기 신호를 방사 및 수신하기 위해 테스터(12) 및 DUT(14)의 신호 포트에 연결된 RF 안테나(도시되지 않음)를 사용하여 형성되는 것과 같이 복사 신호 경로의 형태일 수 있다.
컨트롤러(16)는 일반적으로 다수의 컨덕터 케이블의 형태인 신호 인터페이스(17t, 17d)를 통해 테스트 명령어를 제공하고 테스터(12) 및 DUT(14)로부터 테스트 데이터를 수신한다.
상술한 바와 같이, 이러한 테스트 환경은 다수의 테스트 패킷 및 테스트 단계들의 시퀀싱을 지원할 수 있다. 그러나, 또한 상술한 바와 같이, 이러한 지원은 적어도 DUT(14)의 하드웨어 또는 펌웨어에 대해, 그리고 일부 경우 테스터(12)에 대해 변조 비용을 들여 달성된다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 예시적 실시예에 따른 테스트 환경(100)은 상술한 바와 같이 테스터(12)와 함께 동작하고 DUT(14) 칩셋의 요구조건에 따라 DUT(14)의 다수의 테스트 데이터 패킷 및 테스트 단계의 시퀀싱을 지원하기 위해 필요한 임의의 필수적인 하드웨어, 펌웨어 또는 소프트웨어를 포함하는 외부 서브시스템(102, 104)을 포함한다.
DUT(14) 테스트시, 테스터(12)는 데이터 패킷 신호를 신호 경로(13)를 통해 DUT(14)로 전송하고, 수신 확인 신호("ACK") 또는 기타 유형의 데이터 패킷 신호의 형태로 DUT(14)로부터 수신된 응답들을 모니터링한다. 이들 응답 신호들은 테스터 수신기 회로(12a)에 의해 수신되고 DUT(14)가 동작하도록 설계되는 것에 따르는 신호 표준에 따라 규정된 값들을 측정하고, 그 값들에 대해 다양한 물리적 신호 특성(예를 들면, 신호 파워, 주파수, 변조 유형 또는 비트율과 같은)을 비교하는 것과 같이 분석된다.
이러한 테스트 동안, 테스터(12)와 DUT(14) 사이의 공동 작동은 필수적이고 일반적으로 테스터(12)(예를 들면 데이터 패킷 신호 인터페이스(13)를 통해)로부터의 명령을 DUT(14)에 대해 발급하거나, 또는 테스터(12)와 공동으로 작동하여 제어 신호 인터페이스(17d)를 통해 컨트롤러(16)로부터의 명령어를 DUT(14)로 제공하는 것과 같은 것에 의해 수행된다. 전체 테스트 시퀀스 동안, 따라서, 테스트 측정이 테스터(12)(예를 들면 DUT(14)로부터 수신된 데이터 패킷 신호에 대해)에 의해 수행되지 않지만 그럼에도 불구하고 시간을 소비하는 하나 이상의 시간 간격 동안에, 다수의 제어 명령이 테스터(12) 또는 컨트롤러(16)로부터 DUT(14)로 전송될 것이 요구된다. 따라서, 제어 명령에 대해 필요한 이들 시간은 듀레이션 및/또는 횟수가 감소될 수 있는 경우 전체 테스트 시간이 감소될 수 있다.
일반적으로, 제어 명령어의 숫자를 감소시키는 것은 하나 이상의 명령이 하나 이상의 테스트 이벤트를 커버하는 것을 요구한다. 예를 들면, 테스터(12)로부터 테스트 데이터 패킷 신호를 수신할 것을 준비하는 DUT(14)에 대한 일반적인 명령은 하나의 이벤트, 즉, 테스트 신호의 전송을 커버한다. 테스트 신호가 정확하게 수신되는지 여부에 대해 DUT(14)에 쿼리하는 제2 명령이 하나의 이벤트를 또한 커버한다. 그러나, 테스터(12)로부터 DUT(14)가 미리정해진 수의 테스트 패킷을 수신하고, 이러한 테스트 데이터 패킷이 정확하게 수신되었는지 자동으로 확인함으로써 단일한 명령에 응답하도록 미리프로그래밍되는 경우, 그 단일한 오리지널 명령은 잠재적으로 확장된 시퀀스의 테스트 이벤트를 커버할 수 있다.
추가적인 예시로서, DUT(14) 및 테스터(12)가 미리 동의된 실행하기 위한 테스트 단계들의 시퀀스에 따라 동작하고, 동기화시, 모든 테스트 단계들이 완료되거나, 또는 하나의 테스트 단계가 타임아웃될 때까지 이들 테스트 단계들을 실행하기 시작하는 경우, 그 동기화 신호의 최초의 교환은 미리 정해진 물리적 특성(예를 들면, 주파수, 파워, 변조 유형, 비트율 등)을 가진 테스트 신호를 가지고 수신(RX) 및 송신(TX) 테스트 모두(DUT(14) 측에서의)를 포함하는 전체 테스트 시퀀스를 커버할 수 있다. 대안으로, 그 세트의 테스트 단계들의 완료를 표시하고 송신 유닛이 다음번의 미리정해진 동작을 처리할 수 있다는 것을 알리는 수신 유닛으로부터의 각각의 제어 신호 또는 응답 신호가 송신 유닛에 의해 수신될 때까지 테스터(12) 및 DUT(14)가 서로로부터의 데이터 패킷을 송수신한다.
본 발명의 예시적 실시예에 따라, DUT(14)와 그의 칩셋에 특정하여 매칭되는 외부 서브시스템(102)이 제공되어(프로그래밍되어), DUT(14)의 고유한 특징 및 기능들이 다수의 테스트 데이터 패킷 및 테스트 단계 시퀀싱 기술들과 같은 시간 절약형 테스트 기술을 적절하게 이용하여 테스트될 수 있다. 이는 이롭게도 확장된 또는 커스터마이징된 하드웨어, 펌웨어 또는 변조 또는 추가적인 드라이버 소프트웨어를 통해서, DUT(14)의 특별한 준비 또는 전용제작(customization)을 위한 필요성을 방지한다. 따라서, 테스터(12)와 공동으로 작동하여, 테스트 시퀀싱 요구조건에 대한 액세스 및 실행을 관리하는 것을 인지하고 태스크를 부여받는 것은 DUT(14) 보다는 차라리 이 외부 처리 시스템(102)(예를 들면 마이크로컨트롤러)이 된다. 따라서, 테스트 시퀀싱의 테스트 속도 및 비용의 효익은 DUT(14) 자체에 대한 특별한 준비 또는 변조를 필요로 하지 않으면서 달성될 수 있다.
DUT 컨트롤러(102)는 제어 신호 인터페이스(103t)를 통해 테스터(12)와 통신한다(예를 들면, 트리거로서 기능하거나 명령어 또는 데이터를 포함하는 제어 신호를 교환함으로써). 유사하게, DUT 컨트롤러(102)는 또다른 제어 신호 인터페이스(103d)를 통해 DUT(104)와 통신한다(예를 들면, 명령 및 데이터 교환에 의해). 테스트 동안 DUT(14)를 제어하는 데에 필요한 프로그램을 위한 명령어는 내부적으로 또는 메모리 인터페이스(105)를 통해 액세스가능한 개별 메모리 회로(104)에 외부적으로 저장될 수 있다. 이들 프로그램(예를 들면, DUT 제어 명령어 및 신호 파라미터 값들)은 DUT 컨트롤러(102) 또는 메모리(104)로 사전 프로그래밍될 수 있거나, 또는 테스터(12)(예를 들면 테스트 컨트롤러(12c)로부터)에 의해 제공될 수 있거나, 또는 또다른 메모리 인터페이스(117m)를 통해 외부 컨트롤러(16)에 의해 메모리(104)로 직접 제공될 수 있다.
DUT(14) 테스트 시작은 일반적으로 수행될 테스트 시퀀스를 위해 DUT(14)를 설정하도록 DUT 컨트롤러(102)에 지시하는 테스터(12)를 가지고 시작한다. 응답시, DUT 컨트롤러(102)는 적절한 프로그램에 액세스하고 이러한 테스트에 필요한 명령어 및 파라미터 데이터를 제공한다. 대안으로, 외부 컨트롤러(16)가 제어 인터페이스(117c)를 통해 DUT 컨트롤러(102)에게 테스트를 위해 DUT(14)를 설정하도록 명령할 수 있다.
자신의 인터페이스(103t)를 통해 테스터(12)로부터의 시작 신호를 수신한 것에 후속하여, DUT 컨트롤러(102)는 DUT(14)에게 미리 정해진 수의 데이터 패킷이 DUT(14)에 의해 전송되거나 또는 테스터(12)가 DUT 컨트롤러(102)에게 테스트 동작이 완료되었다는 것(예를 들면, 테스터(12)가 현재 테스트를 위해 필요한 모든 데이터 패킷을 전송했다는 것)을 알려줄 때까지 데이터 패킷 송수신의 시퀀스를 시작하도록 명령한다.
예를 들면, DUT TX 신호 측정의 경우, 테스터(12)는 DUT(14)로부터 전송된 데이터 패킷을 캡처하고, 원하는 데이터 패킷이 테스터(12)에 의해 캡처된 때, 그것은 DUT 컨트롤러(102)로 하여금 DUT(14)에 의한 데이터 패킷 전송을 종료하고 다음 테스트 동작으로 진행하도록 신호를 보낸다. 유사하게, DUT RX 테스트의 경우, 테스터(12)는 DUT 컨트롤러(102)를 통해 DUT(14)로 하여금 신호 경로(13)를 통한 데이터 패킷 수신을 시작하라고 신호를 보내고, 원하는 수의 데이터 패킷이 테스터(12)에 의해 DUT(14)로 전송이 된 때, 테스터(12)는 DUT 컨트롤러(102)에게 다음 DUT 테스트 동작을 진행하도록 명령할 수 있다. 추가적으로, 필요할 때, DUT 컨트롤러(102)는 자신의 신호 인터페이스(103t)를 통해 자신의 준비를 테스터(12)로 알릴 수 있다. 따라서, 이러한 예시에 의해 보여지는 바와 같이, 다수의 데이터 패킷이 외부 컨트롤러(16)로부터의 단일한 명령 및 테스터(12)로부터의 시작 신호를 가지고 테스터(12) 및 DUT(14)에 의해 송수신될 수 있다. 그 결과, 외부 컨트롤러(16)로부터의 통신 및 테스트 흐름 제어가 방지될 수 있고, 테스터(12)는 전용 DUT 컨트롤러(102) 내에 저장되고 그에 의해 실행되는 미리 프로그래밍된 테스트 프로그램에 기초하여 테스트 동작의 흐름을 제어할 수 있다.
도 3을 참조하면, 예시적인 실시예에 따라, 도 2의 환경을 이용하여 테스트하는 프로그램 흐름은 하기와 같이 진행될 수 있다. 외부 컨트롤러(16) 또는 테스터(12)로부터의 시작 명령에 후속하여, DUT 컨트롤러(102) 및 DUT(14)가 초기화되거나 또는 "부팅"된다(204). 인터럽트가 발생하지 않는다면(209)(예를 들면, 테스터(12)로부터의 명령, 요청, 또는 기타 유형의 신호의 형태로), 프로그램 인덱스를 0으로 놓고, 프로그램 흐름(205)은 인터럽트가 발생했는지 여부를 판정하기 위해(208) 진행한다. 인터럽트가 발생한 경우(209), 인터럽트가 발생하지 않았다고 판정될 때까지 인터럽트에 대해 체크하는 이 단계(208)가 반복된다.
그런다음, 프로그램 흐름은 인덱스가 증가되는 다음 단계로 계속되고(210) 그에 후속하여 다음 테스트 명령이 인덱스 값에 따라 실행된다(212). 이에 후속하여, 테스트 흐름이 완료되었는지가 판정된다(214). 그렇지 않은 경우(215), 인터럽트에 대한 체크(208), 인덱스 증가(210), 및 다음 테스트 명령 실행(212)의 프로세스가 반복된다. 테스트 흐름이 완료된 경우, 테스트 흐름은 시작으로 되돌아가서 다음 시작 명령을 대기한다(202).
추가적인 대안으로서, 서브시스템(102, 104) 엘리먼트들은 DUT(14)의 일부로서(예를 들면, DUT(14)의 내부) 포함될 수 있다. 예를 들면, 컨트롤러(102) 및 메모리(104)는 DUT의 정상 사용동안 DUT(14)에 대한 기능을 제공하면서 상술한 바와 같이 테스트 동작에 특정되고 전용인 기능을 제공하는 DUT(14) 내의 엘리먼트가 될 수 있다. 추가적인 대안은 테스터(12)가 다수 유형의 명령을 발급하고 DUT(14)가 신호를 전송하는(예를 들면, 스스로 시작한(self-initiated) 또는 테스터(12)로부터의 신호에 응답하여) 테스트 환경을 포함한다.
본 발명의 동작의 구조 및 방법에서의 다양한 기타 변형 및 대안은 본 발명의 범위 및 취지를 벗어나지 않고 당업자에게 명확할 것이다. 본 발명이 특정한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 청구된 바와 같은 본 발명은 이러한 특정한 실시예에 과도하게 한정되지 않아야 한다는 것이 이해되어야 한다. 하기의 청구 범위는 본 발명의 범위를 정의하고, 이들 청구범위 및 그 등가물의 범위 내에서의 구조 및 방법이 그에 의해 커버되는 것으로 의도된다.

Claims (18)

  1. 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치로서:
    상기 DUT로부터의 송신 데이터 패킷 신호와 상기 DUT로의 수신 데이터 패킷 신호를 전송하기 위해 상기 DUT와 통신하는 데이터 패킷 신호 경로;
    상기 송신 데이터 패킷 신호에 관한 하나 이상의 테스트 명령을 제공하기 위한 외부 명령 소스;
    상기 DUT로부터 상기 송신 데이터 패킷 신호를 수신하고 상기 수신 데이터 패킷 신호를 상기 DUT로 제공하기 위해 상기 데이터 패킷 신호 경로와 상기 외부 명령 소스에 결합되고, 하나 이상의 테스트 제어 신호를 제공함으로써 상기 하나 이상의 테스트 명령에 응답하는 테스터;
    적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 전송하기 위해 상기 DUT와 통신하는 DUT 제어 신호 인터페이스; 및
    상기 외부 명령 소스, 상기 테스터, 및 상기 DUT 제어 신호 인터페이스 사이에 결합되고,
    상기 적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 제공하기 위해 복수의 테스트 프로그램 동작을 실행하는 단계,
    상기 DUT로부터 상기 송신 데이터 패킷 신호의 전송을 시작하게 하기 위하여 상기 DUT로 또다른 DUT 제어 신호를 제공하는 단계,
    상기 DUT로부터 상기 송신 데이터 패킷 신호의 전송을 종료하기 위하여 또다른 DUT 제어 신호를 제공하는 단계,및
    상기 DUT로 상기 수신 데이터 패킷 신호의 수신을 시작하게 하기 위하여 또다른 DUT 제어 신호를 제공하는 단계,
    중 적어도 하나를 수행함으로써, 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호와 상기 하나 이상의 테스트 명령 중 적어도 하나에 응답하는 DUT 제어 회로;
    를 포함하고,
    상기 외부 명령 소스는 상기 DUT의 테스트를 가능하게 하는 상기 하나 이상의 테스트 명령을 제공하고, 상기 외부 명령 소스의 상기 하나 이상의 테스트 명령의 제공에 이어서,
    상기 하나 이상의 테스트 명령에 응답하는 상기 테스터는 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호를 제공하고, 및
    상기 하나 이상의 테스트 제어 신호 및 상기 하나 이상의 테스트 명령 중 적어도 하나의 DUT 제어 신호에 응답하는 상기 DUT 제어 회로는 상기 실행하는 단계 및 상기 제공하는 단계 중 적어도 하나를 수행함으로써 상기 DUT의 상기 테스트를 제어하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 데이터 패킷 신호 경로는 도전성 무선 주파수(RF) 신호 경로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 DUT 제어 신호 인터페이스는 복수의 전기 신호 컨덕터를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 DUT 제어 회로는:
    메모리 회로로부터의 복수의 테스트 프로그램 명령어에 액세스하고; 및
    처리 회로를 가지고 상기 복수의 테스트 프로그램 명령어를 실행;
    함으로써 상기 적어도 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호에 응답하는 상기 처리 회로 및 상기 메모리 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  5. 제4 항에 있어서, 상기 처리 회로는 마이크로컨트롤러 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 DUT 제어 회로는:
    상기 외부 명령 소스로부터의 복수의 테스트 프로그램 명령어에 액세스하고; 및
    처리 회로를 가지고 상기 복수의 테스트 프로그램 명령어를 실행;
    함으로써 상기 적어도 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호에 응답하는 상기 처리 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 처리 회로는 마이크로컨트롤러 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  8. 제4 항 내지 제7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 DUT 제어 신호 인터페이스는 상기 DUT와 더 통신하여 상기 DUT로부터의 적어도 하나의 테스트 응답 신호를 전송하고; 및
    상기 DUT 제어 회로는 상기 복수의 테스트 프로그램 명령어의 상기 실행을 종료시킴으로써 상기 적어도 하나의 테스트 응답 신호에 더 응답;하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 시스템을 구비하는 장치.
  9. 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법으로서:
    테스터를 가지고 DUT로부터의 송신 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계;
    상기 테스터를 가지고 상기 DUT로 수신 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계;
    외부 명령 소스로부터 상기 송신 데이터 패킷 신호에 관한 하나 이상의 테스트 명령을 수신하는 단계;
    상기 테스터를 가지고, 하나 이상의 테스트 제어 신호를 제공함으로써 상기 하나 이상의 테스트 명령에 응답하는 단계; 및
    DUT 제어 회로를 가지고,
    적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 제공하기 위해 복수의 테스트 프로그램 동작을 실행하는 단계,
    상기 DUT로부터 상기 송신 데이터 패킷 신호의 전송을 시작하게 하기 위하여 또다른 DUT 제어 신호를 제공하는 단계,
    상기 DUT로부터 상기 송신 데이터 패킷 신호의 전송을 종료하기 위하여 또다른 DUT 제어 신호를 제공하는 단계, 및
    상기 DUT로 상기 수신 데이터 패킷 신호의 수신을 시작하게 하기 위하여 또다른 DUT 제어 신호를 제공하는 단계
    중 적어도 하나를 수행함으로써 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호와 상기 하나 이상의 테스트 명령 중 적어도 하나에 응답하는 단계;
    를 포함하고,
    상기 하나 이상의 테스트 명령은 상기 DUT의 테스트를 가능하게 하고, 상기 하나 이상의 테스트 명령이 상기 DUT의 테스트를 가능하게 한 후에
    상기 하나 이상의 테스트 명령에 응답하는 상기 테스터는 하나 이상의 테스트 제어 신호를 제공하고, 및
    상기 하나 이상의 테스트 제어 신호 및 상기 하나 이상의 테스트 명령 중 적어도 하나에 응답하는 상기 DUT 제어 회로는 상기 실행하는 단계 및 상기 제공하는 단계 중 적어도 하나를 수행함으로써 상기 DUT의 상기 테스트를 제어하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
  10. 제9 항에 있어서, 상기 DUT 제어 회로를 가지고, 적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 제공하기 위해 복수의 테스트 프로그램 동작을 실행함으로써 적어도 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호에 응답하는 상기 단계는
    로컬 명령어 소스로부터 복수의 테스트 프로그램 명령어에 액세스하는 단계; 및
    복수의 테스트 프로그램 명령어를 실행하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
  11. 제9 항에 있어서, 상기 DUT 제어 회로를 가지고, 적어도 하나의 DUT 제어 신호를 상기 DUT로 제공하기 위해 복수의 테스트 프로그램 동작을 실행함으로써 적어도 상기 하나 이상의 테스트 제어 신호에 응답하는 상기 단계는:
    상기 외부 명령 소스로부터의 복수의 테스트 프로그램 명령어에 액세스하는 단계; 및
    상기 복수의 테스트 프로그램 명령어를 실행하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 복수의 테스트 프로그램 명령어를 실행하는 상기 단계는 마이크로컨트롤러 회로를 가지고 상기 복수의 테스트 프로그램 명령어를 실행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
  13. 제11 항 또는 제12 항에 있어서, 상기 DUT 제어 회로를 가지고, 상기 DUT로부터의 적어도 하나의 테스트 응답 신호를 수신하는 단계 및 그에 응답하여 상기 복수의 테스트 프로그램 명령어의 상기 실행을 종료하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 방법.
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