JP6574781B2

JP6574781B2 - 誘導される割り込みを介してテストフローを制御することにより、無線周波数送受信器をテストするシステム及び方法

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Publication number: JP6574781B2
Application number: JP2016549550A
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Inventors: オルガード、クリスチャン・ヴォルフ; ワン、ルイズ; シ、グァン
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Filing date: 2015-02-05
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Description

本発明は、被テストデバイス（ＤＵＴ）であるパケットデータ信号送受信器のテストに関し、特に、そのようなＤＵＴをテストする際、割り込みを誘導することによりテストフローを制御することに関する。

今日の電子デバイスの多くは、接続及び通信の両目的で無線技術を使用している。無線デバイスは、電磁エネルギーを送受信するため、並びに２台以上の無線デバイスが、信号周波数及び電力スペクトル密度により互いの動作に干渉するおそれがあるため、これらのデバイス及び無線技術は、様々な無線技術規格仕様に準拠しなければならない。

そのような無線デバイスを設計する場合、技術者は、そのようなデバイスが、含まれる無線技術に規定された規格に基づく仕様のそれぞれを満たすか、又は超えることを保証することに格別に注意を払う。さらに、これらのデバイスが後に、大量に製造される場合、デバイスはテストされて、製造欠陥が、含まれる無線技術の規格に基づく仕様への準拠を含め、不適切な動作を生じさせないことを保証する。

製造及び組み立て後にこれらのデバイスをテストするために、現在の無線デバイステストシステムは、各デバイスから受信する信号を分析するサブシステムを利用している。そのようなサブシステムは通常、少なくとも、被テストデバイスに送信されるソース信号を提供するベクトル信号生成器（ＶＳＧ）及び被テストデバイスによって生成される信号を分析するベクトル信号分析器（ＶＳＡ）を含む。ＶＳＧによるテスト信号の生成及びＶＳＡによって実行される信号分析は一般に、それぞれが、異なる周波数範囲、帯域幅、及び信号変調特性を有する様々な無線信号技術規格への準拠について様々なデバイスのテストに使用できるように、プログラム可能である。

当分野で周知のように、デバイスのテストに必要な時間は、テストを行うことに関連付けられたコストと線形関係を有する。したがって、テストに必要な時間量を低減し、それにより、各テストシステムのスループットを増大させ、全体の製造コストを低減させることが有利である。幾つかの要因が、デバイスのテストに必要な合計時間に関係する。これらの要因は、デバイスの取り扱いにかかる時間、テストの準備にかかる時間、制御信号をテスタからデバイスに送信するためにかかる時間、デバイスによって送信された信号を捕捉するためにかかる時間、及びそれらの捕捉信号を分析するためにかかる時間を含む。取り扱い及び制御信号をデバイスに送信するためにかかる時間は、全体のテスト時間のうちの割合的に大きな量を必要とすることがある。さらに、それらの制御信号は、デバイスからの信号の捕捉、測定、又は評価に直接関わらない。したがって、これは革新の有望な分野である。

本発明によれば、オーディオ信号を伝達するベースバンド信号インターフェース等の外部信号インターフェースを有する被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストするシステム及び方法が提供される。１つ以上のＤＵＴ制御信号が、信号インターフェースの使用を介してＤＵＴに提供されるか、又はＤＵＴ内で誘導される。１つ以上のテスト制御信号もＲＦ回路に提供され、ＲＦ回路は、１つ以上のＲＦ受信信号をＤＵＴに送信することによって応答し、ＤＵＴから、１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信する。

本発明の一実施形態によれば、既存の外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストするシステムは、外部信号インターフェースに接続して、１つ以上のＤＵＴ制御信号を伝達する１つ以上の外部信号接続と、１つ以上の外部信号接続に結合される制御回路と、ここで、１つ以上のＤＵＴ制御信号及び１つ以上のテスト制御信号を提供し、制御回路に結合され、１つ以上のＲＦ受信信号をＤＵＴに送信し、ＤＵＴから、１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することにより、１つ以上のテスト制御信号に応答するＲＦ回路とを含む。

本発明の別の実施形態によれば、既存の外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストする方法は、１つ以上の外部信号接続を介して外部信号インターフェースに接続して、１つ以上のＤＵＴ制御信号を伝達することと、１つ以上のＤＵＴ制御信号及び１つ以上のテスト制御信号を提供することと、１つ以上のＲＦ受信信号をＤＵＴに送信することにより、１つ以上のテスト制御信号に応答することと、ＤＵＴから、１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することとを含む。

本発明の別の実施形態によれば、既存の外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストする方法は、上記外部信号インターフェースへの外部コネクタの接続を検出することと、外部コネクタの上記検出後、１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を提供することと、上記１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号の上記提供後、上記ＤＵＴ内に記憶された１つ以上のテストコマンドを実行することと、上記１つ以上のテストコマンドの上記実行後、外部ＲＦ信号送受信器と通信することとを含む。

図１は、本発明の例示的な実施形態によりＤＵＴをテストするテスト環境を示す。図２は、ＷｉＦｉと、オーディオ信号インターフェースとを有する典型的なＤＵＴ内のチップレベル相互接続を示す。図３は、本発明の例示的な実施形態によるＤＵＴのテストを開始するためのプラグ挿入検出及びエミュレーションを示す。図４は、本発明の例示的な実施形態によるＤＵＴのテストを開始する更なる例示的な信号インターフェースを示す。図５は、本発明の例示的な実施形態によるテストフローを表すフローチャートを示す。図６は、本発明の例示的な実施形態によるＤＵＴのテストを開始する更なる例示的な信号インターフェースを示す。

以下の詳細な説明は、添付図面を参照した、本発明の実施形態例の説明である。そのような説明は、例示であることが意図され、本発明の範囲に関して限定しない。そのような実施形態は、当業者が本発明を実施できるようにするのに十分に詳細に説明され、本発明の思想又は範囲から逸脱せずに、幾つかの変形を有する他の実施形態も実施可能なことが理解されよう。

本開示全体を通して、内容から逆のことが明確に示されない限り、説明される個々の回路要素が単数又は複数であり得ることが理解されよう。例えば、「回路」及び「電気回路」という用語は、１つ以上の構成要素を含み得、構成要素は、能動及び／又は受動であり、一緒に接続又は他の方法で結合されて（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）、記載される機能を提供する。さらに、「１つの」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指し得る。図面内で、同様又は関連する要素は、同様又は関連する英字、数字、又は英数字指示を有する。さらに、本発明は、離散した電子回路（好ましくは、１つ以上の集積回路チップの形態）を使用して実施する文脈の中で考察されたが、そのような回路の任意の部分の機能は代替的に、処理される信号周波数又はデータレートに応じて、１つ以上の適宜プログラムされたプロセッサを使用して実施してもよい。さらに、図が様々な実施形態の機能ブロックの図を示す限り、機能ブロックは、必ずしもハードウェア回路の分割を示すわけではない。

より詳細は後述するが、無線ＤＵＴのテストは、テスト機器（本明細書では「テスタ」とも呼ばれる）とＤＵＴとの間の対話の数を制限する所定のプログラムシーケンスを使用して、より効率的に実行することができることになるが、その理由は、そのような対話に充てられる全体テスト時間が低減されるためである。テスト効率の最近の改善は、ソフトウェア又はファームウェアとしてＤＵＴ内に埋め込まれるコードを使用して、所定のプログラムシーケンスを実施することにより、達成されている。（そのようなシステム及び方法の例は、２０１０年９月１日に出願された米国特許出願第１２／８７３，３９９号明細書に開示されており、その内容は参照により本明細書に組み込まれる）。代替的には、所定のプログラムシーケンスは、外部ＤＵＴ制御回路で使用され、コードは、ソフトウェア又はファームウェアとして含まれ、テスタとＤＵＴとの間の媒介として作用する。（そのようなシステム及び方法の例は、２０１４年１月３日に出願された米国特許出願第１４／１４７，１５９号明細書に開示されており、その内容は参照により本明細書に組み込まれる）。しかし、そのような実施形態は両方とも、ハードウェアを介して直接実施される制御よりも長い時間がかかることが多いソフトウェア（又はファームウェア）技術に頼る。したがって、より詳細は後述するが、本発明の例示的な実施形態によれば、テストフロー制御は、ソフトウェアではなくハードウェアを使用して更に改善することができ、更なる効率が、既存のＤＵＴ信号接続をテスト制御信号の伝達に使用する（例えば、信号接続が、回路アーキテクチャの一部であるというようにＤＵＴに統合され、ＤＵＴ正常動作中に使用される）ことにより、実現することができる。

例えば、例示的な実施形態によれば、テストフロー制御は、既存のベースバンドコネクタを含む外部信号インターフェースを使用して適用することができる。例えば、いわゆるスマートフォン等の人気のあるハンドセットデバイスは、オーディオ入力信号（例えば、マイクロホンを介して）及びオーディオ出力信号（例えば、左右オーディオ信号）を伝達することに加えて、プラグ挿入検出（例えば、非ゼロＤＣ電圧電位又は短絡回路接続等のゼロＤＣ電圧電位の形態の信号を検出することによる、外部ヘッドセットプラグとヘッドセットジャックとの嵌合の検出）を可能にするヘッドセットコネクタ等のベースバンド接続を含む。特に、そのようなプラグ挿入検出能力は、（例えば、テスタとＤＵＴとの）同期の開始、（例えば、ＤＵＴ内に記憶された予めプログラムされたテスト命令の実行を介して）テストシーケンスの開始に使用することができ、一方、（例えば、周波数偏移変調（ＦＳＫ）信号等のオーディオ信号を介して）ベースバンド信号インターフェースは、テストコマンドをＤＵＴに伝達できるようにする。

図１に示されているように、例示的な実施形態によれば、テスト環境１０は、通常、外部コントローラ３０（例えば、パーソナルコンピュータ）の形態の外部制御下でＤＵＴ４０をテストするテスタ１２を含む。そのようなコントローラ３０は、制御信号インターフェース３１ｔを介してテスタ１２と（例えば、コマンド及びデータ）通信する。同様に、より詳細は後述するが、コントローラ３０は、制御信号インターフェース３１ｂを介して１つ以上のベースバンド信号を使用してＤＵＴ４０と通信する。代替的には、そのような制御通信は、別の制御信号インターフェース３１ｂｔを介してテスタ１２とＤＵＴ４０との間で行うことができる。更に、更なる制御通信が、所望に応じて、別の制御信号インターフェース３１ｃを介してコントローラ３０とＤＵＴ４０との間で行うことができる。

テスタは、制御回路１４、無線周波数（ＲＦ）信号源１６（例えば、ＶＳＧ）、ＲＦ信号受信器／分析器１８（例えば、ＶＳＡ）、及び信号ルーティング回路２０（例えば、信号切り換え又は多重化回路）を含む。制御回路１４は、制御信号１５ｔをＶＳＧ１６に、制御信号１５ｒをＶＳＡ１８に、制御信号１５ｓをルーティング回路２０に提供する。制御回路１４は、上述したように、ベースバンド制御信号１５ｃをＤＵＴ４０に提供することもできる。周知の技術によれば、これらの制御信号１５ｔ、１５ｒ、１５ｓは、ＶＳＧ１６が必要なＲＦテスト信号１７を（例えば、ＤＵＴテストフローに従って予期される時点で）ＤＵＴ４０に提供し、ＶＳＡ１８がＤＵＴ４０からＲＦテスト信号１９を受信し、且つ／又は分析することを保証する。これらのＲＦ信号１７、１９は、信号ルーティング回路２０及びＲＦ信号路１３を介して伝達され、ＲＦ信号路１３は通常、導電性ＲＦ信号路（例えば、同軸ケーブル及びコネクタ）の形態である。

ＤＵＴ４０は、制御回路４２（より詳細は後述する）、メモリ回路４４（より詳細は後述するが、例えば、規定のテストシーケンス中、ＤＵＴ４０を制御する予めプログラムされたテストフローコマンドを記憶する）、ＲＦ信号送信回路４６、ＲＦ信号受信回路４８、及びＲＦ信号ルーティング回路５０（例えば、信号切り換え又は多重化回路等）を含む。周知の原理によれば、制御回路４２（例えば、メモリ４４内に記憶された予めプログラムされたテストシーケンスコマンドの制御下にある）は、制御信号４３ｔを送信回路４６に提供し、制御信号４３ｒを受信回路４８に提供し、制御信号４３ｓをルーティング回路５０に提供して、送信信号４７がＶＳＡ１８に伝達され（ルーティング内部テスタ信号１９として）、受信信号４９（ＶＳＧ１６からＲＦ信号１７として発せられる）が受信器４８によって受信されることを保証する。したがって、外部コントローラ３０又はテスタ制御回路１４から発せられるＤＵＴ制御信号に関連して（例えば、応答又は従って）、ＤＵＴ４０は、ＤＵＴテストフローの一環として、１つ以上のＲＦ送信信号４７を生成する制御信号４３ｔを提供する。

例示的な実施形態によれば、制御回路４２は、ベースバンドインターフェース回路５２を介して１つ以上の制御信号５３を受信し、ベースバンドインターフェース回路５２は次に、上述したように、外部コントローラ３０又はテスタ制御回路１４と通信する。したがって、テスト中又はテストを開始するためのＤＵＴ４０の制御は、様々な方法で達成することができる。例えば、外部コントローラ３０又はテスタ制御回路１４から（又は例えば、前のＤＵＴ製造ステップ若しくはプロセス中、別のソースから）の予めプログラムされたコマンドは、メモリ４４内に記憶することができ（より詳細は後述する）、その実行は、ベースバンドインターフェース回路５２からのトリガー信号若しくはイベント（例えば、プラグ挿入から生じる割り込み）により、又は外部コントローラ３０若しくはテスタ制御回路１４から発せられ、ベースバンドインターフェース回路５２を介して受信されるテスト開始若しくは制御コマンドによって開始することができる。

図２に示されているように、例示的な好ましい実施形態によれば、ＤＵＴ制御回路４２及びメモリ４４は、２つの処理ユニット４２ａ、４２ｂ及び対応するメモリ回路４４ａ、４４ｂにそれぞれ分割される。一方のプロセッサユニット４２ａ及び関連付けられたメモリ４４ａは、ＤＵＴ４０のアプリケーションプロセッサを形成する一方、他方のプロセッサユニット４２ｂ及び関連付けられたメモリ４４ｂは、ＲＦ信号送信器４６も含むＲＦ（ＷｉＦｉ）回路の周辺回路の一部を形成する。アプリケーションプロセッサ４２ａは、入力インターフェース回路５６ａを介してベースバンド信号インターフェース５２と通信し、インターフェース信号５７を使用して出力インターフェース回路５６ｂを介して、周辺プロセッサユニット４２ｂの入力インターフェース回路５６ｃと通信する。アプリケーションプロセッサメモリ４４ａは、上述したように、ＤＵＴテスト中に実行される予めプログラムされたコマンドを記憶することができる場所である。これも上述したように、これらのコマンドの実行は、オーディオプラグ５２ｐ（より詳細は後述する）の挿入により、又は外部コントローラ３０若しくはテスタ制御回路１４から開始される割り込み５３ｉにより開始することができる。

例えば、メモリ４４ａ内に記憶するテストコマンドを提供するユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）信号及び／又はコマンドの実行を開始する信号又は割り込みの形態で、追加又は代替の入力３１ｕを提供することができる。

図３に示されているように、ベースバンド信号インターフェース５２は、例示的な実施形態によれば、多導体ジャック５２ｊ、割り込み回路６２、及びバッファリング又は増幅回路６６を含む。ジャック５２ｊは外部プラグ５２ｐと嵌合し、一緒に、マイクロホン信号をハンドセットに伝達し、ステレオオーディオ信号をハンドセットから伝達する多くのハンドセットで一般に見られる物理的なオーディオ信号接続を形成する（通常、一般的な３．５ｍｍオーディオジャック及びプラグコネクタの形態）。

プラグ５２ｐは、入力マイクロホン信号５５ｍ、システム接地５５ｇ、出力右オーディオチャネル信号５５ｒ、及び出力左オーディオチャネル信号５５ｌを伝達し、相互に電気的に絶縁され、同軸に位置合わせされた導電体３１ｂｃｍ、３１ｂｃｇ、３１ｂｃｒ、３１ｂｃｌを有する円柱形コネクタ３１ｂｃである。

入力マイクロホン信号５５ｍは一般に、減結合キャパシタンス６４を通り、増幅回路６６によってバッファリングされて、オーディオ入力信号５３ｍを提供する。プラグ５２ｐがジャック５２ｊに挿入されると、接地リング３１ｂｃｇの接続が割り込み回路６２によって検出され、割り込み回路６２は対応する割り込み信号５３ｉを生成する。上述したように、この割り込み信号５３ｉを使用して、メモリ４４（図１）内に記憶されたテストフローコマンドの実行を開始して、ＤＵＴ４０によって実行されるテストシーケンス動作を制御することができる。代替的には、上述したように、制御情報（例えば、コマンド及びデータ）は、ベースバンドオーディオ信号５５ｍ（例えば、ＦＳＫ信号として符号化される）の形態で提供することができ、これは、減結合され（６４）、バッファリングされて（６６）、制御回路４２（図１）に制御信号５３ｍとして提供され、制御回路４２は復号化して（例えば、ＦＳＫ信号から）、この制御情報を使用して、所望のＤＵＴテスト動作の実行に適切な制御信号４３ｔ、４３ｒ、４３ｓを提供する。

さらに、ベースバンドインターフェース回路５２は、出力右６７ｒ及び左６７ｌオーディオチャネル信号のバッファリング又は増幅されたもの５５ｒ、５５ｌを提供する出力増幅器６８ｒ、６８ｌを含むことができる。

図４に示されているように、例示的な実施形態によれば、割り込み信号５３ｉは、結果として短絡回路検出回路６２の２つの端子６３ａ、６３ｂ間に生じる短絡回路を検出することにより、オーディオプラグ５２ｐの挿入に応答して開始することができる。周知の技法によれば、プラグ５２ｐが挿入されると、接地リング３１ｂｃｇは、短絡回路検出器６２の端子６３ａ、６３ｂと位置合わせされて接触し、そのような短絡回路を示す割り込み信号５３ｉを生成する。代替的には、短絡回路検出回路６２の端子６３ａ、６３ｂは、位置合わせされて、接地リング３１ｂｃｇ及びマイクロホン入力リング３１ｂｃｍと接触することができる。この場合、プラグ５２ｐの挿入は、短絡回路検出器端子６３ａ、６３ｂ間に短絡回路をすぐには生成しない。しかし、テスタ１２（図１）内の短絡回路生成回路１４ｃは、オーディオプラグ５２ｐの挿入から独立して、接地リング３１ｂｃｇとマイクロホン入力リング３１ｂｃｍとの間に短絡回路１５ｃを提供することができる。代替的には、短絡回路信号１５ｃは、外部コントローラ３０により、例えば、短絡回路検出回路６２の２つの端子６３ａ、６３ｂ間に非常に低いインピーダンスの電気路を提供し、それにより、接地リング３１ｂｃｇの挿入又は配置をシミュレーションすることにより、提供することもできる。

更なる代替として、割り込み信号５３ｉは、「ダミー」オーディオプラグ５２ｐ、例えば、他の回路への電気接続を有さない（必要ないかなる物理的接続も有さない）オーディオプラグ５２ｐの挿入等により、短絡回路検出回路６２の２つの端子６３ａ、６３ｂ間に提供される短絡の形態の別の形態のベースバンド信号に応答して開始することができる。接地リング３１ｂｃｇを有するそのようなプラグ５２ｐの挿入は、短絡回路検出回路６２の２つの端子６３ａ、６３ｂ間に、割り込み５３ｉの生成を開始するために必要な短絡回路を提供し、割り込み５３ｉが次に使用されて、上述したように、テストシーケンス動作を開始する。

図５に示されているように、例示的な実施形態によれば、メモリ４４内に記憶された予めプログラムされた制御情報又はインターフェース回路５２を介してリアルタイム信号５３ｍで受信される制御情報を使用して、インターフェース回路５２を介して受信された割り込み信号５３ｉに従ってテストフローを制御することは、達成することができる。テスト開始１０２は、（例えば、外部コントローラ３０又はテスタ制御回路１４からの）開始コマンド又は信号で開始され、その後、ＤＵＴ４０は、初期テストインデックス（例えば、ゼロ）を用いて初期化又は「ブート」される（１０４）。この後、割り込みが生じたか否かが判断される（１０６）。割り込みの検出に続き、上述したように、テストシーケンスインデックスはインクリメントされ（１０８）（例えば、ＤＵＴブートを示す初期インデックスからテスト開始を示す第１のインデックスに）、現在のインデックス値に対応するテストシーケンスステップ１１０の実行により、ＤＵＴテストシーケンスが開始される。（代替的には、テストは、ＤＵＴ４０のブート直後に開始することができる）。次に、テストフローが完了したか否かが判断される（１１２）。完了していない場合、テストは、割り込みが生じたか否かを判断する（１０６）ことによって再開され、割り込みが生じた場合、インデックスがインクリメントされ（１０８）、その後、次のテストステップ１１０が実行され、テストが完了するまで続く。テストシーケンスが完了した場合、テストは、現在のＤＵＴ又は交換されたＤＵＴが初期化（１０２）又はブートされるまで終了する。

上記考察は、オーディオ信号コネクタ及び関連付けられたインターフェース回路等の既存の外部信号インターフェースを使用する内容であったが、他の外部信号インターフェースも同様に使用可能であることが容易に認識され理解されよう。使用される外部信号インターフェースを介して通常伝達される信号の特性（例えば、周波数、大きさ等）は、上述したように、ＤＵＴテストに必要なコマンド及びデータが既にＤＵＴ内に記憶されている場合、重要ではない。単純なベースバンド信号、ＤＣ電圧電位、又は外部コネクタとＤＵＴの既存の外部インターフェースコネクタとの物理的接続の検出等のイベントが、ＤＵＴのテスト開始に十分である。

図６に示されているように、更なる例示的な実施形態によれば、ＤＵＴのテストを開始する割り込み信号の誘導は、回路基板組立体７０の表面等のＤＵＴの内部に配置される内部電極、接点、又は接続７３の使用を通して達成することができる。例えば、割り込み回路６２ａは通常、追加の要素又は回路要素７２ａ、７２ｂ、７２ｃと共に内部回路基板組立体７０に存在し、追加の要素又は回路要素７２ａ、７２ｂ、７２ｃの動作は、内部回路接続７３ａ、７３ｂ、７３ｃを介して信号を生成し、割り込み回路６２ａは、様々な目的で１つ以上の割り込み信号５３ｉを生成することにより、それに応答する。上述したように、この割り込み信号５３ｉは、ＤＵＴのテスト開始に使用することができる。

そのような割り込み信号５３ｉの誘導は、プローブ組立体８０等の外部導電体を使用することによって達成され、内部信号インターフェース７３ａ、７３ｂ、７３ｃのうちの１つに接触することができる。例えば、プローブ組立体８０は、接触点８３を有する電子テストプローブ８２を含み、１つ以上のテスト信号接続８６を介してテスト回路８４に接続される。プローブ接触点８３を内部信号インターフェース７３ａ、７３ｂ、７３ｃのうちの１つに電気的に接触させ、信号、例えば、ＤＣ電圧電位等のベースバンド信号又は接地電位を通知する短絡回路を適用することにより、割り込み回路６２ａに適切な割り込み信号５３ｉを生成させるために必要な電気刺激を提供することができる。

本発明の構造及び動作方法での他の様々な変更及び代替が、本発明の範囲及び思想から逸脱せずに、当業者に明らかになろう。本発明は特定の好ましい実施形態に関連して説明されたが、特許請求される本発明がそのような特定の実施形態に極度に限定されるべきではないことを理解されたい。以下の特許請求の範囲が、本発明の範囲を定義し、これらの特許請求の範囲及びそれらの均等物内の構造及び方法が本発明の範囲に包含されることが意図される。

Claims

外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストするシステムを含む装置であって、
１つ以上のＤＵＴ制御信号を伝達するべく前記外部信号インターフェースに接続される１つ以上の外部信号接続部と、
前記１つ以上の外部信号接続部に結合された制御回路と、
前記制御回路に結合されたＲＦ回路と
を含み、
前記制御回路は、前記外部信号インターフェースと前記１つ以上の外部信号接続部との接触により誘導された割り込み信号によって前記１つ以上のＤＵＴ制御信号と１つ以上のテスト制御信号との少なくとも一方を与えることを開始し、
前記ＲＦ回路は、
１つ以上のＲＦ受信信号を前記ＤＵＴに送信することと、
前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号と前記１つ以上のテスト制御信号との少なくとも一方に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することと
により、前記１つ以上のテスト制御信号に応答する、装置。
前記１つ以上の外部信号接続部は、導電性オーディオ信号インターフェースを含む、請求項１に記載の装置。
前記１つ以上のＲＦ送信信号はさらに、前記１つ以上のＲＦ受信信号に関連する、請求項１に記載の装置。
前記１つ以上のＲＦ送信信号は、前記１つ以上のＲＦ受信信号に応答する、請求項１に記載の装置。
前記１つ以上のＲＦ送信信号は、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号及び前記１つ以上のＲＦ受信信号に応答する、請求項１に記載の装置。
前記制御回路は、前記ＤＵＴに接続されて１つ以上の追加のＤＵＴ制御信号を与える１つ以上のテスト信号接続部を含み、
前記１つ以上のＲＦ送信信号はさらに、前記１つ以上の追加のＤＵＴ制御信号に関連する、請求項１に記載の装置。
外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストする方法であって、
１つ以上の外部信号接続部を介して制御回路を前記外部信号インターフェースに接続して、１つ以上のＤＵＴ制御信号を伝達することと、
前記１つ以上の外部信号接続部と前記外部信号インターフェースとの接触により誘導された割り込み信号によって、前記制御回路が前記１つ以上のＤＵＴ制御信号と１つ以上のテスト制御信号との少なくとも一方を与えることを開始することと、
テスタが１つ以上のＲＦ受信信号を前記ＤＵＴに送信することにより、前記テスタが前記１つ以上のテスト制御信号に応答することと、
前記ＤＵＴから、前記テスタが前記１つ以上のＤＵＴ制御信号と前記１つ以上のテスト制御信号との少なくとも一方に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することと
を含む、方法。
前記１つ以上の外部信号接続部を介して前記外部信号インターフェースに接続することは、導電性オーディオ信号インターフェースを介して接続することを含む、請求項７に記載の方法。
前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することは、前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号及び前記１つ以上のＲＦ受信信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することを含む、請求項７に記載の方法。
前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することは、前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信し、前記１つ以上のＲＦ受信信号に応答することを含む、請求項７に記載の方法。
前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することは、前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号及び前記１つ以上のＲＦ受信信号に応答して、１つ以上のＲＦ送信信号を受信することを含む、請求項７に記載の方法。
１つ以上のテスト信号接続部を介して前記ＤＵＴに接続して、１つ以上の追加のＤＵＴ制御信号を提供することをさらに含み、
前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することは、前記ＤＵＴから、前記１つ以上のＤＵＴ制御信号及び前記１つ以上の追加のＤＵＴ制御信号に関連する１つ以上のＲＦ送信信号を受信することを含む、請求項７に記載の方法。
外部信号インターフェースを介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストする方法であって、
前記外部信号インターフェースへの外部コネクタの接続と、前記外部信号インターフェースを介してのベースバンド信号の受信との少なくとも一方を検出することと、
前記検出することの後、１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を与えることと、
前記１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を与えた後、前記ＤＵＴを用いて、前記ＤＵＴの中に記憶された１つ以上のテストコマンドを実行することと、
前記１つ以上のテストコマンドを実行することの後、前記ＤＵＴを用いて外部ＲＦ信号送受信器と通信することと
を含み、
前記１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を与えることは、前記外部信号インターフェースと前記外部コネクタとの接触により誘導された割り込み信号によって開始される、方法。
前記検出することは、前記外部コネクタの第１の部分と第２の部分との間のＤＣ電圧電位を検出することを含む、請求項１３に記載の方法。
前記検出することは、前記外部コネクタの第１の部分と第２の部分との間の短絡回路を検出することを含む、請求項１３に記載の方法。
前記ＤＵＴを用いて外部ＲＦ信号送受信器と通信することは、ＲＦテスト信号を受信し、ＲＦ応答信号を送信することを含む、請求項１３に記載の方法。
前記外部コネクタを前記外部信号インターフェースに接続することをさらに含む、請求項１３に記載の方法。
割り込みの誘導を介してテストフローを制御することにより、被テストデバイス（ＤＵＴ）である無線周波数（ＲＦ）信号送受信器をテストする方法であって、
内部信号インターフェースへの外部導電体の接触と、前記内部信号インターフェースを介するベースバンド信号の受信との少なくとも一方を検出することと、
前記検出することの後、１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を与えることと、
前記１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を与えることの後、前記ＤＵＴを用いて、前記ＤＵＴの中に記憶された１つ以上のテストコマンドを実行することと、
前記１つ以上のテストコマンドを実行することの後、前記ＤＵＴを用いて、外部ＲＦ信号送受信器と通信することと
を含み、
前記１つ以上の内部ＤＵＴ制御信号を与えることは、前記内部信号インターフェースと前記外部導電体との接触により誘導された割り込み信号によって開始される、方法。
前記検出することは、前記外部導電体におけるＤＣ電圧電位を検出することを含む、請求項１８に記載の方法。
前記検出することは、前記外部導電体における短絡回路を検出することを含む、請求項１８に記載の方法。
前記ＤＵＴを用いて、前記外部ＲＦ信号送受信器と通信することは、ＲＦテスト信号を受信し、ＲＦ応答信号を送信することを含む、請求項１８に記載の方法。
前記内部信号インターフェースを前記外部導電体に接触させることをさらに含む、請求項１８に記載の方法。