TH151C3 - อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ i2c ที่เป็นชิปเดี่ยว - Google Patents
อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ i2c ที่เป็นชิปเดี่ยวInfo
- Publication number
- TH151C3 TH151C3 TH3000003U TH0003000003U TH151C3 TH 151 C3 TH151 C3 TH 151C3 TH 3000003 U TH3000003 U TH 3000003U TH 0003000003 U TH0003000003 U TH 0003000003U TH 151 C3 TH151 C3 TH 151C3
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- test
- connector
- signal
- chip
- aforementioned
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract 39
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract 13
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims 1
Abstract
สิ่งที่เปิดเผยไว้ก็คืออุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นซิปเดี่ยวสำหรับ การทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิก อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อม ประสานแบบ I2C ที่เป็นซิปเดี่ยวได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อม การทดสอบที่ส่งสัญญาณทดสอบออกไปยังอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกและส่งสัญญาณที่สองไปยัง อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นซิปเดี่ยวในเวลาเดียวกัน อุปกรณ์สำหรับ ทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นซิปเดี่ยวประกอบด้วยตัวเชื่อมประสานที่หนึ่ง ตัวเชื่อม ประสานที่สอง และตัวซิป ตัวเชื่อมประสานที่หนึ่งซึ่งเป็นตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ด้วยเช่นกันได้รับ การเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกสำหรับการรับ สัญญาณที่หนึ่งจากตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกโดยตอบสนองต่อสัญญาณ ทดสอบ ตัวเชื่อมประสานที่สองได้รับการเชื่อมต่อทางไฟ้ฟ้าเข้ากับระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อม การทดสอบสำหรับการรับสัญญาณที่สอง จะใช้ตัวซิปในการทำลำดับขั้นตอนการประมวลผลเพื่อ ช่วยระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อมการทดสอบในการทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ของอุปกรณ์ อิเล็กทรอนิกโดยตอบสนองต่อสัญญาณที่หนึ่งและสัญญาณที่สอง
Claims (9)
1. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นซิปเดี่ยวที่ได้รับการเชื่อมต่อทาง ไฟฟ้าเข้ากับระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อมการทดสอบที่ใช้ในการส่งสัญญาณทดสอบออกไปยัง อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกที่มีตัวเชื่อมประสานแบบ I2C และการส่งสัญญาณที่สองไปยังอุปกรณ์สำหรับ ทดสอลตัวเชื่อมประสารแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวดังกล่าวในเวลาเดียวกัน ประกอบด้วย ตัวเชื่อมประสานที่หนึ่งที่ได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่หนึ่ง ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าวสำหรับการรับสัญญาณที่หนึ่งจากตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าวโดยตอบสนองต่อสัญญาณทดสอบดังกล่าว ตัวเชื่อมประสานที่หนึ่งที่ได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อม การทดสอบดังกล่าวสำหรับการรับสัญญาณที่สองดังกล่าว และ ตัวซิปสำหรับการทำลำดับขั้นตอนการประมวลผลเพื่อช่วยระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อม การทดสอบดังกล่าวในการทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดัง กล่าวโดยตอบสนองต่อสัญญาณที่หนึ่งดังกล่าวและสัญญาณที่สองดังกล่าว
2. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นซิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่ง ตัวชิปดังกล่าวประกอบด้วย หน่วยความจำสำหรับการบันทึกกฎเกณฑ์ที่สอดคล้องกันระหว่างสัญญาณที่หนึ่งดังกล่าว และสัญญาณที่สองดังกล่าวเมื่อตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าว นั้นทำหน้าที่ได้ดี หน่วยควบคุมที่ได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับหน่วยความจำดังกล่าวสำหรับการทำให้ ลำดับขั้นตอนการประมวลผลดังกล่าวบรรลุเสร็จสิ้นตามกฎเกณฑ์ที่สอดคล้องกันดังกล่าว และ หน่วยตอบสนองที่ได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับหน่วยควบคุมดังกล่าวสำหรับการ กระทำลำดับขั้นตอนการตอบสนองหลังจากที่หน่วยควบคุมดังกล่าวกระทำลำดับขั้นตอนการ ประมวลผลดังกล่าวเสร็จสิ้นลง
3. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 2 ที่ซึ่ง หน่วยควบคุมดังกล่าวเป็นตัวเปรียบเทียบแลไมโครโพรเซสเซอร์
4. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 2 ที่ซึ่ง ลำดับขั้นตอนการประมวลผลดังกล่าวเป็นการเปรียบเทียบความสัมพันธ์ที่รับมาระหว่างสัญญาณที่ หนึ่งดังกล่าวและที่สองดังกล่าวกับกฎเกณฑ์ที่สอดคล้องกันดังกล่าวเพื่อการตรวจสอบว่าความ สัมพันธ์ที่รับมาดังกล่าวระหว่างสัญญาณที่หนึ่งดังกล่าวและที่สองดังกล่าวนั้นถูกต้องหรือไม่และเพื่อ ส่งผลการทดสอบออกไปยังหน่วยตอบสนองดังกล่าว
5. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 4 ที่ซึ่ง หน่วยตอบสนองดังกล่าวเป็นอุปกรณ์แสดงผล และลำดับขั้นตอนการตอบสนองดังกล่าวเป็นการ แสดงผลการทดสอบดังกล่าวออกมาบนอุปกรณ์แสดงผลดังกล่าว
6. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 4 ที่ซึ่ง หน่วยตอบสนองดังกล่าวเป็นวงจรตอบสนอง และลำดับขั้นตอนการตอบสนองดังกล่าวเป็นการส่งผล การทดสอบดังกล่าวออกไปยังระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อมการทดสอบดังกล่าว
7. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 2 ที่ซึ่ง หน่วยความจำดังกล่าวเป็นหน่วยความจำแบบอ่านอย่างเดียว (รอม)
8. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่ง อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าวเป็นแหล่งจ่ายกำลังเครื่องบริการ และตัวเชื่อมประสานที่หนึ่งดังกล่าว เป็นตัวเชื่อมประสานแบบ I2C
9. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวที่ได้รับการเชื่อมต่อทาง ไฟฟ้าเข้ากับระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อมการทดสอบที่ใช้ในการส่งสัญญาณทดสอบออกไปยัง อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกที่มีตัวเชื่อมประสานแบบ I2C และการส่งสัญญาณที่สองไปยังอุปกรณ์สำหรับ ทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวดังกล่าว ในเวลาเดียวกัน ประกอบด้วย ตัวเชื่อมประสานที่หนึ่งที่ได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่หนึ่ง ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าวสำหรับการรับสัญญาณที่หนึ่งจากตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าวโดยตอบสนองต่อสัญญาณทดสอบดังกล่าว ตัวเชื่อมประสานที่สองที่ได้รับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าเข้ากับระบบจัดเตรียมสภาพแวดล้อม การทดสอบดังกล่าวสำหรับการรับสัญญาณที่สองดังกล่าว และ ตัวชิปสำหรับการทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดัง กล่าวโดยการเปรียบเทียบความสัมพันธ์ที่รับมาระหว่างสัญญาณที่หนึ่งดังกล่าวและที่สองดังกล่าว กับกฎเกณฑ์ที่สอดคล้องกันระหว่างสัญญาณที่หนึ่งดังกล่าวและสัญญาณที่สองดังกล่าวเมื่อตัว เชื่อมประสานแบบ I2C ดังกล่าวของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกดังกล่าวนั้นทำหน้าที่ได้ดี เพื่อการตรวจ สอบว่าความสัมพันธ์ที่รับมาดังกล่าวระหว่างสัญญาณที่หนึ่งดัวงกล่าวและที่สองดังกล่าว นั้นถูกต้อง หรือไม่และจากนั้น ส่งผลการทดสอบออกไป 1
0. อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวตามข้อถือสิทธิ 9 ที่ซึ่ง กฎเกณฑ์ที่สอดคล้องกันดังกล่าวได้รับการบันทึกลงไปในหน่วยความจำของอุปกรณ์สำหรับทดสอบ ตัวเชื่อมประสานแบบ I2C ที่เป็นชิปเดี่ยวดังกล่าว
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH151C3 true TH151C3 (th) | 2001-01-31 |
| TH142A3 TH142A3 (th) | 2001-03-30 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109959859B (zh) | 一种电路板测试装置及方法 | |
| US7574318B2 (en) | I/O port tester | |
| CN104793069B (zh) | 一种有源线缆的数据传输性能自检系统 | |
| JPH02504190A (ja) | 通信ケーブル用ポータブル同一性確認装置 | |
| CN101452051B (zh) | 一种数据处理装置及方法 | |
| JP6574781B2 (ja) | 誘導される割り込みを介してテストフローを制御することにより、無線周波数送受信器をテストするシステム及び方法 | |
| US8024630B2 (en) | Debugging module for electronic device and method thereof | |
| WO2018201763A1 (zh) | 连接器的测试方法、装置及存储介质 | |
| JPH10221413A5 (th) | ||
| WO2006105330A3 (en) | A mobile device interface for input devices using existing mobile device connectors | |
| EP1451599A4 (en) | METHOD AND DEVICE FOR EMBEDDED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS | |
| CN113777464B (zh) | 一种电路板功能测试装置、系统及方法 | |
| CN109470974A (zh) | 一种基于无线技术的线缆测试系统和方法 | |
| CN109033891B (zh) | 用于spi接口芯片安全攻击测试的设备及其安全攻击测试方法 | |
| EP1026696A3 (en) | Test method and test circuit for electronic device | |
| CN108226692A (zh) | 一种线束快速检测装置 | |
| US7395472B2 (en) | Method and a unit for programming a memory | |
| TH142A3 (th) | อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ i2c ที่เป็นชิปเดี่ยว | |
| TH151C3 (th) | อุปกรณ์สำหรับทดสอบตัวเชื่อมประสานแบบ i2c ที่เป็นชิปเดี่ยว | |
| EP1636598B1 (en) | Apparatus and method for sensing emulator cable orientation while providing signal drive capability | |
| CN203714184U (zh) | 导航设备的测试系统 | |
| US10591528B2 (en) | System and method for using a connector at the end of a cable as a cable locating tone sensor | |
| CN221841212U (zh) | 一种导航卫星信号模拟源测试扩展装置 | |
| JPH09180085A (ja) | 試験・測定装置 | |
| KR20050030253A (ko) | 국제 공동 테스트 액션 그룹에 의한 입출력 테스트를 위한인터페이스 장치 |