JPH09180085A - 試験・測定装置 - Google Patents

試験・測定装置

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Publication number
JPH09180085A
JPH09180085A JP33352095A JP33352095A JPH09180085A JP H09180085 A JPH09180085 A JP H09180085A JP 33352095 A JP33352095 A JP 33352095A JP 33352095 A JP33352095 A JP 33352095A JP H09180085 A JPH09180085 A JP H09180085A
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JP
Japan
Prior art keywords
signal
tested
shield box
transduced
light emitting
Prior art date
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Pending
Application number
JP33352095A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Watanabe
智 渡辺
Toru Tamura
亨 田村
Hideaki Yamashita
秀明 山下
Tomokazu Ota
友和 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
Application filed by Kokusai Electric Corp filed Critical Kokusai Electric Corp
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Publication of JPH09180085A publication Critical patent/JPH09180085A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 不要な高周波信号の出入をなくし、不要な高
周波信号の影響を受けることがなく、正確な試験・測定
を行う。 【解決手段】 シールドボックス1内の被試験機2を試
験・測定する装置において、発光素子14,17、光フ
ァイバーケーブル18,19、受光素子15,16の組
み合せにより、シールドボックス1内の被試験機2と外
部の試験機9との間で信号の授受を行うことを特徴とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、無線機器の試験・
測定を行う装置に係り、特にシールドボックス内の被試
験機と外部の試験機との間で制御信号等の信号の授受を
行う試験・測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】無線機器の受信性能を試験する場合、図
2に示す様にシールドボックス1内に被試験機2を置
き、外部の測定器、例えば信号発生器3からの高周波信
号を同軸ケーブル4を通り、シールドボックス1内のア
ンテナ5,6を経由して被試験機2に供給し、被試験機
2の信号ドライブ回路7及び信号レシーブ回路8にそれ
ぞれ外部の試験機9の信号レシーブ回路10及び信号ド
ライブ回路11を信号線(電線)12,13で接続し
て、被試験機2の試験・測定結果を、該信号線12,1
3を経由して外部の試験機9へ取り出し、結果の判定を
行う。この場合、この信号線12,13を経由して不要
な高周波信号がシールドボックス1内及び被試験機2に
流入或いは外部へ流出し、正確な試験ができなくなり、
試験・測定精度が低下することになる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来例に
あっては、シールドボックス内及びこれに内設された被
試験機に不要な信号が入り込み、或いは外部に漏洩して
正確な試験・測定を行うことができないという課題があ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明装置は、上記の課
題を解決するため、図1に示すようにシールドボックス
1内の被試験機2を試験・測定する装置において、発光
素子14,17、光ファイバーケーブル18,19、受
光素子15,16の組み合せにより、シールドボックス
1内の被試験機2と外部の試験機9との間で信号の授受
を行うことを特徴とする。
【0005】
【発明の実施の形態】図1は本発明装置の実施形態の構
成を示すブロック図である。図1において1はシールド
ボックス、2はこのシールドボックス1内に設置した無
線機器等の被試験機、3は信号発生器等の測定器で、同
軸ケーブル4を経てシールドボックス1内のアンテナ5
に接続され、被試験機2はこのアンテナ5より放射され
る高周波信号を受信するアンテナ6を具備している。被
試験機2の信号ドライブ回路7及び信号レシーブ回路8
にそれぞれ発光素子14及び受光素子15を接続し、試
験機9の信号レシーブ回路10及び信号ドライブ回路1
1にそれぞれ受光素子16及び発光素子17を接続す
る。発光素子17と受光素子15との間には対向し近接
して制御信号,データ等を送るファイバーケーブル19
をシールドボックス1の孔を貫通して設置し、発光素子
14と受光素子16との間には対向し近接して試験・測
定結果を送るファイバーケーブル18をシールドボック
ス1の孔を貫通して設置する。
【0006】外部の測定器3から高周波信号を同軸ケー
ブル4を通り、シールドボックス1内のアンテナ5,6
を経て被試験機2に供給する。一方、試験機9の信号ド
ライブ回路11より制御信号,データ等を発光素子17
で光信号に変換し、この光信号をファイバーケーブル1
9を通して受光素子15で受信し、電気信号に変換して
信号レシーブ回路8に入力する。これによって被試験機
2の試験が行われ、その結果を信号ドライブ回路7より
発光素子14に入力して光信号に変換し、この光信号を
ファイバーケーブル18を通して受光素子16で受信
し、電気信号に変換して信号レシーブ回路10に入力
し、試験・測定結果を得ることができる。シールドボッ
クス1内の被試験機2と、シールドボックス1外の試験
機9とを継ぐのはファイバーケーブル18,19であ
り、電気的に不導体であるので不要な高周波信号がシー
ルドボックス1内に流入もしくは流出することがないの
で、試験・測定を妨げることがなく試験精度の低下を防
ぐことができる。
【0007】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、シールド
ボックス内に信号線を引込まないため、不要な高周波信
号の出入をなくし、不要な高周波信号の影響を受けるこ
とがなく、正確な試験・測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明装置の実施形態の構成を示すブロック図
である。
【図2】従来装置の1例の構成を示すブロック図であ
る。
【符号の説明】
1 シールドボックス 2 被試験機 3 測定器 4 同軸ケーブル 5,6 アンテナ 7 信号ドライブ回路 8 信号レシーブ回路 9 試験機 10 信号レシーブ回路 11 信号ドライブ回路 12,13 信号線 14,17 発光素子 15,16 受光素子 18,19 ファイバーケーブル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 友和 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シールドボックス内の被試験機を試験・
    測定する装置において、発光素子、光ファイバーケーブ
    ル、受光素子の組み合せにより、シールドボックス内の
    被試験機と外部の試験機との間で信号の授受を行うこと
    を特徴とする試験・測定装置。
JP33352095A 1995-12-21 1995-12-21 試験・測定装置 Pending JPH09180085A (ja)

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JP33352095A JPH09180085A (ja) 1995-12-21 1995-12-21 試験・測定装置

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JP33352095A JPH09180085A (ja) 1995-12-21 1995-12-21 試験・測定装置

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JPH09180085A true JPH09180085A (ja) 1997-07-11

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ID=18266968

Family Applications (1)

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JP33352095A Pending JPH09180085A (ja) 1995-12-21 1995-12-21 試験・測定装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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FR2772925A1 (fr) * 1997-12-23 1999-06-25 Thomson Csf Systeme optoelectronique de test d'une antenne
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JP2018169256A (ja) * 2017-03-29 2018-11-01 Kddi株式会社 電波測定装置及び電波測定方法

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