JP2017227552A - 絶縁電圧プローブ - Google Patents

絶縁電圧プローブ Download PDF

Info

Publication number
JP2017227552A
JP2017227552A JP2016124386A JP2016124386A JP2017227552A JP 2017227552 A JP2017227552 A JP 2017227552A JP 2016124386 A JP2016124386 A JP 2016124386A JP 2016124386 A JP2016124386 A JP 2016124386A JP 2017227552 A JP2017227552 A JP 2017227552A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
magnetic sensor
voltage probe
electrode lead
insulation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016124386A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6434456B2 (ja
Inventor
克規 光永
Katsunori Mitsunaga
克規 光永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa Test and Measurement Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa Test and Measurement Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp, Yokogawa Test and Measurement Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2016124386A priority Critical patent/JP6434456B2/ja
Priority to US15/588,843 priority patent/US10962572B2/en
Publication of JP2017227552A publication Critical patent/JP2017227552A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6434456B2 publication Critical patent/JP6434456B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/18Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers
    • G01R15/181Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers using coils without a magnetic core, e.g. Rogowski coils
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/07Non contact-making probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06766Input circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/18Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/20Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

【課題】絶縁モード除去比に優れた絶縁電圧プローブを提供する。
【解決手段】正極リードと負極リードとが抵抗で接続されて構成された導体と、導体を流れる電流により生じる磁界を非接触で測定する磁気センサと、磁気センサの出力に基づく信号を伝送する同軸ケーブルと、を備えた絶縁電圧プローブ。
【選択図】図1

Description

本発明は絶縁電圧プローブに関し、特に、絶縁モード除去比に優れた絶縁電圧プローブに関する。
高電圧機器等を電圧測定対象とした際の安全性を確保するための一手法として絶縁電圧測定がある。絶縁電圧測定を行なうことで、測定対象と測定器とで接地電位の異なる電圧を安全に扱うことができるようになる。すなわち、大地アースに対して絶縁状態(フローティング)におかれている測定対象が高電圧レベルであっても、接地された測定器側の安全が維持される。また、絶縁電圧測定では、測定対象と測定器とのグランドループを切ることで、グランドインピーダンスに起因するノイズを除去することができる。
絶縁性能を表すパラメータのひとつに絶縁モード除去比(IMRR:Isolation Mode Rejection Ratio)がある。IMRRは、周波数に対する絶縁の程度を示す重要な指標であり、正/負入力に同一信号を印加したときの入力振幅に対する出力振幅の割合で規定される。
正/負入力に同一信号を印加した場合、理想的には出力信号はゼロになるが、実際には、入力信号の影響が出力信号に現れる。IMRRは、その程度を示している。
絶縁電圧測定において、絶縁回路は測定器が有することが多く、絶縁回路の代表的な方式としては、フォトカプラを利用する光結合方式、トランス等を利用する磁気結合方式、コンデンサを利用する容量結合方式が挙げられる。
いずれの絶縁回路方式を採用した場合でも、絶縁電圧測定に際しては、信号をピックアップし、測定器まで伝送するために、電圧プローブが使用される。電圧プローブは、例えば、図4に示すような構成となっている。
本図に示すように、電圧プローブ400は、プローブヘッド401、同軸ケーブル402、コネクタ403を備えている。絶縁回路は内蔵していないため、絶縁電圧測定を行なう場合、絶縁回路を備えた測定器410に接続される。この場合、電圧プローブ400全体がフローティング側となる。
プローブヘッド401は、信号をピックアップする正極リードと負極リードとを備えている。正極リードには抵抗R1とコンデンサC1とが並列に接続されており、電圧プローブ400は不平衡な回路構成となっている。負荷効果低減のため、抵抗R1は数MΩの高抵抗で構成されており、電圧プローブ400の特性は容量成分の影響を受けやすい。
正極リードは、同軸ケーブル402の内部導体に接続され、負極リードは同軸ケーブル402の外部導体に接続されている。同軸ケーブル402は、コネクタ403を介して測定器410の入力端子に接続される。測定器410の入力端子間には、入力抵抗R2と入力容量Ciが存在しているものとする。
調整用にC1、Ciの少なくとも一方は可変容量となっている。電圧プローブ400の分圧比はR2/(R1+R2)で定まるが、周波数特性をフラットにするため、容量による分圧比が抵抗の分圧比と同じになるように、C1あるいはCiを調整する。具体的には、C2=Cc+Ciとすると、R2/(R1+R2)=C1/(C1+C2)、すなわち、R1・C1=R2・C2となるようにする。
C1が調整可能であるとすると、容量C2は、同軸ケーブル402の容量Ccと測定器410の入力容量Ciとで物理的に付加される容量であり、この容量C2と抵抗による分圧比によりC1が決定される。
一般的に、電圧プローブ400の分圧比は10:1以上であり、C1≪C2となるため、正極リードから見た入力容量はほぼC1となる。負荷効果は入力容量を小さくするほど削減される。このため、分圧比を大きくするか、同軸ケーブル402の容量を小さくすることで入力容量C1を小さくして負荷効果を低減することができる。
しかしながら、分圧比を大きくすると測定器410を高感度にする必要があり、容易に分圧比を大きくすることはできない。また、同軸ケーブル402の容量を減らすためには同軸ケーブル402の長さを短くする必要があり、利便性が損なわれる。
一方、特許文献1には、図5に示すような絶縁回路443を備えた電圧プローブ440が開示されている。電圧プローブ440は、プローブヘッド441、インピーダンス回路442、絶縁回路443を備えており、測定器450に接続されて使用される。この場合、絶縁回路443からプローブヘッド441側がフローティング側となる。
ここで、インピーダンス回路442は、電圧プローブ440自体の波形補償や分圧のために用いられており、正極リードにコイルと2つの抵抗が直列に接続され、抵抗の接続点と負極リードとが容量で結合された構成となっている。
実公平6−22217号公報
絶縁測定システムのIMRR特性は、最も悪い部分の特性がシステム全体の特性として現われるため、絶縁回路がいかに優れた特性を実現しても、電圧プローブの特性がそれに見合うものでなければ、絶縁測定システムのIMRR特性は、電圧プローブの特性で決まってしまうことになる。
電圧プローブ400は、図6に示すように、負極リードについては抵抗成分を含んでいないため接地容量の影響を受けないが、正極リードは抵抗R1と接地容量(信号経路と接地間の寄生容量)によりローパスフィルタを形成し、周波数特性を有する。
このため、正極リードと負極リードの伝送特性にアンバランスが生じ、正極リードと負極リードとに同じ信号を入力しても、出力に信号が現われることになる。この信号は、本来不要な成分であり、除去すべき成分である。
このようにフローティング側に不平衡回路を含むと、接地容量の影響によりIMRR特性が劣化する。図5示した絶縁回路443を備えた電圧プローブ440においても、フローティング側に配置されたインピーダンス回路442が不平衡回路となっており、接地容量の影響によりIMRR特性が劣化するという問題が生じる。
そこで、本発明は、絶縁モード除去比に優れた絶縁電圧プローブを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の絶縁電圧プローブは、正極リードと負極リードとが抵抗で接続されて構成された導体と、前記導体を流れる電流により生じる磁界を非接触で測定する磁気センサと、前記磁気センサの出力に基づく信号を伝送する同軸ケーブルと、を備えたことを特徴とする。
ここで、前記磁気センサは、磁界に応じた電流を出力し、前記磁気センサが出力する電流を電圧に変換して前記同軸ケーブルを伝送させるI/V変換回路をさらに備えていてもよい。
また、前記抵抗は、特性の等しい2本の抵抗素子で構成されていてもよい。
本発明によれば、絶縁モード除去比に優れた絶縁電圧プローブが提供される。
本実施形態に係る電圧プローブの構成を示す図である。 1本の抵抗で構成した導体を示す図である。 フラックスゲート式磁気センサを示す図である。 従来の電圧プローブの構成を示す図である。 従来の絶縁型電圧プローブの構成を示す図である。 接地容量の影響によるIMRRの劣化を説明する図である。
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る電圧プローブ100の構成を示す図である。本図に示すように、電圧プローブ400は、プローブヘッド110、同軸ケーブル120、コネクタ130を備えている。後述するようにプローブヘッド110が絶縁構造となっているため、接続される測定器200は絶縁回路を備えていなくてもよい。
プローブヘッド110は、正極リード111と負極リード112との間を直列接続する特性の等しい2本の抵抗素子Ra、磁気センサ116、I/V変換回路117を備えている。負荷効果を低減するため、抵抗素子Raは十分大きな値を用いるものとする。リード間の測定電圧をVとすると、正極リード111から負極リード112までの経路である導体113には、V/2Raの電流が流れることになる。
磁気センサ116は、導体113を流れる電流V/2Raで発生する磁界を非接触で検出する。磁気センサ116は、磁界に応じた値の電流を出力するものとし、このときの、磁気センサ116の出力電流を(V/2Ra)/Nとする。
I/V変換回路117は、磁気センサ116が出力する電流信号を電圧信号に変換し、抵抗を介して接続された同軸ケーブル120をドライブする。ここでは、オペアンプOPを用い、出力電圧を直列接続された2本の抵抗素子Rbで負帰還を行なっている。オペアンプOPの非反転入力端子は同軸ケーブル120の外部導体に接続されている。この場合I/V変換回路117の出力電圧は、(V/N)・(Rb/Ra)となる。Rb=Raとすると、出力電圧はV/Nとなる。
導体113と磁気センサ116とは非接触であり、電気的に絶縁されている。このため、正極リード111と負極リード112と2本の抵抗素子Raを含んで構成される導体113がフローティング側となっている。絶縁電圧測定を行なうフローティング側であるから接地リードは不要である。
ここで、電圧プローブ100のフローティング側は2本の抵抗素子が接続された平衡回路となっている。このため、接地容量の影響によりIMRR特性が劣化することを防ぐことができる。また、フローティング側は、抵抗素子のみで構成し、容量を用いていないため、負荷効果を低減することができる。
なお、2本の抵抗素子Raを用いたのは、平衡回路であることを強調するためであり、実装上は、図2に示すように抵抗R1(=2Ra)で構成することができる。I/V変換回路117に用いられている2本の抵抗素子Rbについても同様に抵抗R2(=2Rb)で構成することができる。
導体113と磁気センサ116との位置関係は、例えば、導体113の近傍に磁気センサ116を配置したり、導体113の周りにロゴスキーセンサ等のフレキシブルな形状の磁気センサ116を非接触で巻き付けたりすることができる。
あるいは、図3に示すように、導体113の周りを磁気コア116aで囲み、電流が発生させる磁束を集めて検出してもよい。本図では、励磁信号発生器116bと検波器116cとを備え、磁性材116dに巻き付けた励磁コイル116eで両者を接続したフラックスゲート式磁気センサ116を例にしている。
上記の例では、磁気センサ116は磁界に応じた値の電流を出力するものとしたが、磁気センサが、磁界に応じた値の電圧を出力し、さらに同軸ケーブル120をドライブする能力を持つ場合にはI/V変換回路117は省略することができる。また、磁気センサが磁界に応じた値の電流を出力する場合であっても、測定器200が電流入力であれば、I/V変換回路117は省略することができる。
100…電圧プローブ
110…プローブヘッド
111…正極リード
112…負極リード
113…導体
116…磁気センサ
117…I/V変換回路
120…同軸ケーブル
130…コネクタ
200…測定器

Claims (3)

  1. 正極リードと負極リードとが抵抗で接続されて構成された導体と、
    前記導体を流れる電流により生じる磁界を非接触で測定する磁気センサと、
    前記磁気センサの出力に基づく信号を伝送する同軸ケーブルと、
    を備えたことを特徴とする絶縁電圧プローブ。
  2. 前記磁気センサは、磁界に応じた電流を出力し、
    前記磁気センサが出力する電流を電圧に変換して前記同軸ケーブルを伝送させるI/V変換回路をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の絶縁電圧プローブ。
  3. 前記抵抗は、特性の等しい2本の抵抗素子で構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の絶縁電圧プローブ。
JP2016124386A 2016-06-23 2016-06-23 絶縁電圧プローブ Active JP6434456B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016124386A JP6434456B2 (ja) 2016-06-23 2016-06-23 絶縁電圧プローブ
US15/588,843 US10962572B2 (en) 2016-06-23 2017-05-08 Isolated voltage probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016124386A JP6434456B2 (ja) 2016-06-23 2016-06-23 絶縁電圧プローブ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017227552A true JP2017227552A (ja) 2017-12-28
JP6434456B2 JP6434456B2 (ja) 2018-12-05

Family

ID=60675500

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016124386A Active JP6434456B2 (ja) 2016-06-23 2016-06-23 絶縁電圧プローブ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10962572B2 (ja)
JP (1) JP6434456B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170370967A1 (en) * 2016-06-23 2017-12-28 Yokogawa Electric Corporation Isolated voltage probe

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0494574U (ja) * 1990-12-28 1992-08-17
JPH0622217Y2 (ja) * 1989-12-05 1994-06-08 株式会社東芝 絶縁形電圧プローブ
JPH06331657A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Yokogawa Electric Corp プローブ
JPH075201A (ja) * 1993-06-18 1995-01-10 Yokogawa Electric Corp プローブ
JPH07113822A (ja) * 1993-10-13 1995-05-02 Sony Tektronix Corp フローティング測定用プローブ
US20120074928A1 (en) * 2010-09-23 2012-03-29 Honeywell International, Inc. System and Method for Improving Accuracy of High Voltage Phasing Voltmeters
JP2015206596A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 日置電機株式会社 電流センサおよび測定装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5973501A (en) * 1993-10-18 1999-10-26 Metropolitan Industries, Inc. Current and voltage probe for measuring harmonic distortion
US6118270A (en) * 1998-02-17 2000-09-12 Singer; Jerome R. Apparatus for fast measurements of current and power with scaleable wand-like sensor
JP2003315373A (ja) * 2002-04-18 2003-11-06 Toshiba Corp 電流検出装置及び半導体装置
US7679162B2 (en) * 2005-12-19 2010-03-16 Silicon Laboratories Inc. Integrated current sensor package
CN101566642B (zh) * 2008-04-10 2013-11-20 Mks仪器有限公司 具有高动态范围的正交射频电压/电流传感器
US9304150B2 (en) * 2011-09-30 2016-04-05 Keysight Technologies, Inc. Closed core current probe
US9291649B2 (en) * 2012-08-16 2016-03-22 Mks Instruments, Inc. On the enhancements of planar based RF sensor technology
US9958480B2 (en) * 2015-02-10 2018-05-01 Qualcomm Incorporated Apparatus and method for a current sensor
US9689900B1 (en) * 2015-12-14 2017-06-27 Keysight Technologies, Inc. Current sensing circuit
JP6434456B2 (ja) * 2016-06-23 2018-12-05 横河電機株式会社 絶縁電圧プローブ
US11300588B2 (en) * 2017-04-21 2022-04-12 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Adapter for a current probe and testing system
US10539643B2 (en) * 2017-09-01 2020-01-21 Fluke Corporation Proving unit for use with electrical test tools

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0622217Y2 (ja) * 1989-12-05 1994-06-08 株式会社東芝 絶縁形電圧プローブ
JPH0494574U (ja) * 1990-12-28 1992-08-17
JPH06331657A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Yokogawa Electric Corp プローブ
JPH075201A (ja) * 1993-06-18 1995-01-10 Yokogawa Electric Corp プローブ
JPH07113822A (ja) * 1993-10-13 1995-05-02 Sony Tektronix Corp フローティング測定用プローブ
US20120074928A1 (en) * 2010-09-23 2012-03-29 Honeywell International, Inc. System and Method for Improving Accuracy of High Voltage Phasing Voltmeters
JP2015206596A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 日置電機株式会社 電流センサおよび測定装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
""電圧計で、ホール効果を用いて計測するものがあると聞いたのです..."", YAHOO!知恵袋 [ONLINE], JPN6018015166, 25 June 2010 (2010-06-25), ISSN: 0003786567 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170370967A1 (en) * 2016-06-23 2017-12-28 Yokogawa Electric Corporation Isolated voltage probe
US10962572B2 (en) * 2016-06-23 2021-03-30 Yokogawa Electric Corporation Isolated voltage probe

Also Published As

Publication number Publication date
US10962572B2 (en) 2021-03-30
JP6434456B2 (ja) 2018-12-05
US20170370967A1 (en) 2017-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10168361B2 (en) Current sensor and measuring apparatus
Devices Analog Devices
US20080303511A1 (en) Precision flexible current sensor
US10436821B2 (en) Apparatus for detecting AC components in a DC circuit and use of the apparatus
KR960011531B1 (ko) 동축 전류 감지기
EP2420849B1 (en) Rogowski coil assembly
US10295573B2 (en) Compensated rogowski coil
EP2672282A1 (en) Earth fault detection in frequency converter
CN111693748A (zh) 电流传感器以及测定装置
EP1923709B1 (en) Active linear current transducer
JP6434456B2 (ja) 絶縁電圧プローブ
US11686745B2 (en) Rogowski current sensor which is fast and immune to voltage drifts
JP2009103608A (ja) 非接触型電圧電流プローブ装置
JP2019184270A (ja) 電流検出装置および電流測定装置
WO2017213003A1 (ja) マグネトインピーダンスセンサ
JP2945015B2 (ja) 直流バイアス印加装置
CN105807117B (zh) 用于电流测量探头的电流感测电路及其电流测量探头
CN108226602B (zh) 用于测量交流电的时间导数的方法和传感器
CN108008173B (zh) 交直流叠加测试装置
US20230135229A1 (en) Very-wide-bandwidth current sensor
CN210401499U (zh) 用于变压器的套管监测装置和变压器套管装置
CN219225055U (zh) 长距离传输的磁通门传感器和测磁系统
JPS596137Y2 (ja) 回転機巻線の絶縁監視装置
CN113933576B (zh) 电子安全系统放电回路的非介入式电流测试方法
US8373068B2 (en) Precision shunt for high speed measurements

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180416

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180629

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181031

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181108

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6434456

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350