JP2017223453A - Inspection jig - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は検査用治具に係り、パワー半導体への利用に好適な検査用治具に関する。 The present invention relates to an inspection jig, and more particularly to an inspection jig suitable for use in a power semiconductor.
特許文献1には、検査治具が開示されている。検査治具は接触子を備える。接触子は、伸縮性を備え検査対象と接触するための接触部材と、接触部材の伸縮を案内する中継部材を備える。接触子は、接触子を保持する保持体に覆われている。 Patent Document 1 discloses an inspection jig. The inspection jig includes a contact. The contact includes a contact member having elasticity and a contact member for contacting the inspection target, and a relay member for guiding expansion and contraction of the contact member. The contact is covered with a holding body that holds the contact.
検査治具では、接触部材を交換することが必要となる場合がある。特許文献1に示される検査用治具では、接触部材を取り外す際に、接触子を覆う保持体を取り外し、さらに中継部材から接触部材を取り外すことが必要となる。このため、接触部材の交換に手間がかかる。 In the inspection jig, it may be necessary to replace the contact member. In the inspection jig shown in Patent Document 1, when removing the contact member, it is necessary to remove the holding body that covers the contact and further remove the contact member from the relay member. For this reason, it takes time to replace the contact member.
本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、接触部材の交換が容易な検査用治具を得ることである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to obtain an inspection jig in which the contact member can be easily replaced.
本発明に係る検査用治具は、表面と、裏面と、を備え、前記表面から前記裏面に貫通した空洞が形成された中継アダプタと、前記中継アダプタに取り付けられ、前記表面側に配置された回路接続部と前記空洞に設けられた接続部とを備えた中継端子と、前記裏面側から挿抜が可能に設けられた接触子と、を備え、前記接続部と前記接触子の一方は弾性部を有し、前記弾性部が、前記接続部と前記接触子の他方に弾性力を及ぼすことで前記接続部と前記接触子とが接続される。 The inspection jig according to the present invention includes a front surface and a back surface, a relay adapter in which a cavity penetrating from the front surface to the back surface is formed, and is attached to the relay adapter and disposed on the front surface side. A relay terminal provided with a circuit connection part and a connection part provided in the cavity, and a contact provided so as to be insertable / removable from the back side, and one of the connection part and the contact is an elastic part And the elastic portion exerts an elastic force on the other of the connecting portion and the contact, whereby the connecting portion and the contact are connected.
本発明に係る検査用治具では、中継端子と接触子は弾性力により接続されている。このため、中継端子と接触子の着脱が容易に可能になる。また、検査回路と接続するための配線は、中継端子が備える回路接続部に接続される。このため、接触子を交換する際に、配線を取り外す必要がない。さらに、中継アダプタの裏面側は、接触子の挿抜が可能なように設けられている。以上から、中継アダプタに中継端子を取り付けた状態で、裏面側から挿抜することにより接触子の交換が可能となる。従って、接触子の交換を容易に行うことができる。 In the inspection jig according to the present invention, the relay terminal and the contact are connected by elastic force. For this reason, the relay terminal and the contact can be easily attached and detached. Further, the wiring for connecting to the inspection circuit is connected to a circuit connecting portion provided in the relay terminal. For this reason, when exchanging a contact, it is not necessary to remove wiring. Furthermore, the back side of the relay adapter is provided so that the contact can be inserted and removed. From the above, it is possible to replace the contact by inserting and removing from the back side with the relay terminal attached to the relay adapter. Accordingly, the contact can be easily replaced.
本発明の実施の形態に係る検査用治具について図面を参照して説明する。同じ又は対応する構成要素には同じ符号を付し、説明の繰り返しを省略する場合がある。 An inspection jig according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same or corresponding components are denoted by the same reference numerals, and repeated description may be omitted.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係る検査用治具の斜視図である。検査用治具100は、中継アダプタ10を備える。中継アダプタ10には、中継端子20が取り付けられている。中継アダプタ10は、表面11に回路基板12を備える。回路基板12はネジにより中継アダプタ10の表面11側に取り付けられている。回路基板12は、回路パターン16を備える。また、回路基板12は受動部品18を備える。本実施の形態において、受動部品18は2つの中継端子20を接続するコンデンサである。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a perspective view of an inspection jig according to Embodiment 1 of the present invention. The
中継端子20には、検査対象を検査するための図示しない検査回路が接続される。回路パターン16は、検査内容に応じて変更される。また、受動部品18は抵抗素子であっても良い。受動部品18は検査内容に応じて種類、配置および数が変更される。本実施の形態では、回路基板12を交換することで、容易に検査内容を変更することが出来る。中継アダプタ10は、ポリアセタールを含む材質で形成される。ポリアセタールを使用することで、絶縁性を確保し、加工性を改善できる。また、中継アダプタ10は、ベーク材を含む材質で形成されるものとしても良い。ベーク材を使用する場合も、絶縁性を確保し、加工性を改善することが出来る。
An inspection circuit (not shown) for inspecting an inspection object is connected to the
図2Aは本発明の実施の形態1に係る検査用治具の斜視図である。図2Aにおいて、便宜上、回路基板12は省略されている。中継アダプタ10には、空洞15が形成されている。空洞15は、中継アダプタ10の表面11から裏面19に貫通する。
FIG. 2A is a perspective view of the inspection jig according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 2A, the
中継端子20は、一端に回路接続部21を備え、他端に接続部22を備える。回路接続部21は、表面11から露出する。中継端子20は中継アダプタ10に取り付けられている。中継端子20を中継アダプタ10に取り付ける方法は限定されない。例えば、中継端子20と中継アダプタ10を接着剤で接合しても良い。また、表面11の近傍で中継アダプタ10が中継端子20に接触し、中継端子20が中継アダプタ10に挟み込まれることで、中継端子20が固定されても良い。回路接続部21は、図示しない検査回路と配線42によって接続される。回路接続部21は、はんだにより配線42と接続される。接続部22は、空洞15の内部に設けられる。接続部22は棒状である。
The
中継端子20には、接触子30が接続される。接触子30は、一端に弾性部31を備える。弾性部31と接続部22が接触することで、中継端子20と接触子30が接続される。接触子30の他端32は、検査対象と接触する部分である。接触子30は、弾性部31と他端32との間に湾曲部34を備える。湾曲部34によって、接触子30は、弾性力を持って検査対象と接触することとなる。このため、検査対象と接触子30の接触を安定させることが出来る。
A
図2Bは本発明の実施の形態1に係る検査用治具の拡大図である。図2Bは、図2Aの破線部40を拡大した断面図である。本実施の形態では、弾性部31は、二股のフォーク形状である。二股のフォーク形状は、弾性力を有する2本の金属片で形成される。弾性部31は、棒状の接続部22を両側から挟みこむ。弾性部31は、接続部22に対して弾性力を及ぼす。弾性部31と接続部22が接続された状態では、弾性部31が備える2本の金属片の間隔を接続部22が押し広げている。このため、弾性力はフォーク形状を形成する2本の金属片が閉じる方向に働く。弾性力が働く方向は、図2Bに示すx軸方向である。本実施の形態では、弾性部31が接続部22に弾性力を及ぼすことで、接触子30と接続部22が接続される。
FIG. 2B is an enlarged view of the inspection jig according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2B is an enlarged cross-sectional view of the
また、弾性部31と接続部22の接続部分は、空洞15の内部に形成される。空洞15は、弾性部31と接続部22が接続された状態において、中継アダプタ10の側壁13と弾性部31が接触しないように設けられている。このため、裏面19側から、接触子30の挿抜をすることが可能となる。接触子30を接続部22に、裏面19側からz軸方向に圧入することで、中継端子20と接触子30は接続される。また、接触子30を裏面19側からz軸の負方向に引き抜くことで、接触子30を中継端子20から取り外すことが出来る。
Further, the connection portion between the
本実施の形態に係る検査用治具100は、中継端子20と検査回路が配線42によって接続される。これに対し、中継端子を設けずに、接触子を直接、配線と接続する構造が考えられる。図3は、比較例に係る検査用治具の正面図である。比較例に係る検査用治具600は、金属ピン630を備える。金属ピン630は絶縁性を備えた固定部660に固定される。製品670は検査対象である。金属ピン630は弾性力を持って製品670が備える製品端子672と接触する。
In the
金属ピン630は配線642を介して、検査回路と接続される。配線642と金属ピンははんだで接続される。また、検査内容に応じて検査用治具600には受動部品618が取り付けられる。受動部品618は、製品670との接触部分の近傍に取り付けられることが必要とされる場合がある。このとき、受動部品618をはんだによって金属ピン630に取り付けることが必要とされる場合がある。
The
検査用治具600の金属ピン630を交換する場合、配線642および受動部品618を取り外す必要がある。配線642および受動部品618は、金属ピン630とはんだで接続されている。従って、配線642および受動部品618の取り外しに手間がかかる。また、新しい金属ピン630を取り付けた後に、再び配線642および受動部品618を取り付ける必要がある。従って、金属ピン630の交換に手間がかかる。
When replacing the
これに対し、本実施の形態に係る検査用治具100では、配線42および受動部品18は、中継端子20に接続される。従って、接触子30を交換する際に、配線42および受動部品18を取り外す必要がない。また、接触子30と中継端子20は、圧入により接続される。従って、接触子30を裏面19側から挿抜することで、接触子30の交換が可能になる。このため、接触子30の交換が容易になる。
On the other hand, in the
図4は、本発明の実施の形態1の変形例に係る検査用治具の拡大図である。本実施の形態の変形例に係る検査用治具800では、中継端子820に弾性部が設けられる。中継端子820は一端に回路接続部821を備え、他端に接続部822を備える。接続部822には、二股のフォーク形状の弾性部が設けられる。接触子830は、接続部822と接続される一端に直線部831を備える。直線部831は棒状である。接触子830の形状は、直線部831以外は接触子30と同様である。接続部822は、直線部831を両側から挟み込む。変形例に係る検査用治具800では、接続部822が直線部831に弾性力を及ぼすことで、接触子830と接続部822が接続される。従って、変形例に係る検査用治具800においても、接触子830を裏面19側から挿抜することで、接触子830の交換が可能になる。
FIG. 4 is an enlarged view of an inspection jig according to a modification of the first embodiment of the present invention. In the
本実施の形態では、弾性部31は二股のフォーク形状であり、接続部22は棒状である。これに対し弾性部31および接続部22の形状は、圧入による接続が可能であれば別の形状でも良い。例えば、弾性部31は、弾性力を有する3つ以上の金属片を備え、金属片が接続部22を取り囲むように配置されても良い。
In the present embodiment, the
本実施の形態では、接触子30と中継端子20が接続された状態において、弾性部31の一部が中継アダプタ10に収まる。これに対し、接触子30と中継端子20が接続された状態において、弾性部31が全て空洞15に収まってもよい。また、接続部22を裏面19よりも下方に配置し、接触子30と接続部22が裏面19よりも下方で接続されるものとしても良い。
In the present embodiment, a part of the
また、本実施の形態では、1つの空洞15に1つの中継端子20が配置されている。この変形例として、空洞15を図2のy軸方向に長細く設け、1つの空洞15に複数の中継端子20を配置しても良い。また、本実施の形態では、弾性部31と接続部22が接続された状態において、側壁13と弾性部31は接触しない。この変形例として、空洞15に挿入された弾性部31が、側壁13によりx軸方向に両側から押圧されるように空洞15の幅を設定しても良い。この構成では、弾性部31が側壁13により両側から押圧されることで、弾性部31と接続部22が接触する。
In the present embodiment, one
本実施の形態では、接触子30は湾曲部34を備える。これに対し、接触子30は、一端に弾性部31を備え、他端32に検査対象と接触する部分を備えれば、別の形状でも良い。例えば、湾曲部34を備えなくても良い。また、本実施の形態では中継アダプタ10は回路基板12を備えるが、回路基板12は検査内容に応じて備えなくても良い。これらの変形は以下の実施の形態に係る検査用治具について適宜応用することができる。なお、以下の実施の形態に係る検査用治具については実施の形態1との共通点が多いので、実施の形態1との相違点を中心に説明する。
In the present embodiment, the
実施の形態2.
図5Aは本発明の実施の形態2に係る検査用治具の断面図である。図5Aは、本実施の形態に係る検査用治具200のy−z平面での断面図である。本実施の形態に係る検査用治具200は、中継端子220および接触子230を備える。中継端子220および接触子230のx−z平面視での形状は、実施の形態1の中継端子20および接触子30と同様である。また、図5Aは、接触子230が中継端子220から取り外された状態を示す。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 5A is a cross-sectional view of an inspection jig according to Embodiment 2 of the present invention. FIG. 5A is a cross-sectional view in the yz plane of the
本実施の形態に係る検査用治具200は、y軸方向における接続部222の長さが、y軸方向における接触子230の長さよりも大きい。ここで、y軸方向は、中継アダプタ210の表面211と平行であり、弾性部231が弾性力を及ぼす方向と垂直な第1方向である。なお、弾性部231が弾性力を及ぼす方向は、実施の形態1と同様にx軸方向である。
In the
本実施の形態においても、裏面219側から弾性部231を接続部222に圧入することで、接触子230と中継端子220が接続される。本実施の形態では、接続部222がy軸方向に幅が広く設けられている。従って、接触子230の接続の際に、接触子230と中継端子220の間にy軸方向の位置ズレが生じても、接続が可能となる。また、中継端子220と検査対象との間にy軸方向の位置ズレが生じた場合に、接触子230を取り付ける位置を調整することで位置ズレを補正することが可能になる。
Also in this embodiment, the
図5Bは本発明の実施の形態2の変形例に係る検査用治具の断面図である。検査用治具200では、y軸方向における接続部222の長さは、y軸方向における接触子230の長さよりも大きい。このため、図5Bに示すように、接触子230をy軸方向に複数重ねて設けることが出来る。接触子230を複数重ねることで、検査対象との接触面積が大きくなる。従って、中継端子220に1つの接触子230が接続される場合と比較して、接触子230と検査対象との間の接触抵抗を軽減することが可能になる。従って、通電能力を向上させることが可能になる。
FIG. 5B is a cross-sectional view of an inspection jig according to a modification of Embodiment 2 of the present invention. In the
本実施の形態では、実施の形態1と同様に、接触子230が弾性部231を備える。この変形例として、接続部222が弾性部を備えても良い。この場合、接続部222は、y軸方向の長さが同方向における接触子230の長さよりも大きく弾性力を備えた2枚の金属片で形成される。2枚の金属片は、x軸方向に重なって配置される。接続部222が備える金属片は、接触子230を両側から挟み込む。また、図5Bでは、接触子230を4枚重ねて設けているが、4枚でなくても良い。接触子230を重ねる枚数は、接触抵抗を考慮して変更する。
In the present embodiment, as in the first embodiment, the
実施の形態3.
図6Aは、本発明の実施の形態3に係る検査用治具のx−z平面での断面図である。本実施の形態に係る検査用治具300は、第1中継端子320と第2中継端子327を備える。第1中継端子320と第2中継端子327の構造は、実施の形態2の中継端子220と同様である。第2中継端子327は、x軸方向に第1中継端子320とずれた位置に配置される。
Embodiment 3 FIG.
FIG. 6A is a cross-sectional view in the xz plane of the inspection jig according to Embodiment 3 of the present invention. The
また、検査用治具300は、第1接触子330、第2接触子333および第3接触子336を備える。第1接触子330は、接触子230と比較して、弾性部331の位置がx軸方向にずれている。その他の構造は、接触子230と同様である。第2接触子333および第3接触子336の構造は、接触子230と同様である。
The
図6Bは、本発明の実施の形態3に係る検査用治具のy−z平面での断面図である。第1中継端子320は第1接続部322を備える。第2中継端子327は第2接続部329を備える。第1接続部322と第2接続部329のy軸方向の長さは、第1接触子330、第2接触子333および第3接触子336のy軸方向の長さよりも大きい。第1接触子330は第1中継端子320と接続される。第2接触子333および第3接触子336はy軸方向に重なった状態で、第2中継端子327と接続される。弾性部331、334、337以外の部分において、第1接触子330、第2接触子333および第3接触子336はy軸方向に重なって配置される。
FIG. 6B is a cross-sectional view in the yz plane of the inspection jig according to Embodiment 3 of the present invention. The
本実施の形態では、検査対象との接触部分である他端332、335、338において第1接触子330、第2接触子333および第3接触子336はy軸方向に重なって配置される。従って、第1接触子330、第2接触子333および第3接触子336は検査対象が備える同一の端子に接触する。一方で、第1接触子330の弾性部331は、第2接触子333および第3接触子336の弾性部334、337に対してx方向にずれて配置されている。従って、第1接触子330を、第2接触子333および第3接触子336が接続される第2中継端子327とは異なる第1中継端子320に接続することが可能になる。
In the present embodiment, the
第1中継端子320と第2中継端子327は、配線342および344を介し、別の検査回路と接続されることとなる。従って、検査用治具300では、第1接触子330、第2接触子333および第3接触子336は同一の端子に接触する一方で、中継端子側は複数の経路に分かれる。このとき、複数の電流経路から検査対象の端子に電流を流すことが可能になる。従って、検査対象に対して大電流を流すことが可能になる。本実施の形態では、検査用治具300が備える中継端子のx軸方向の位置が2箇所に分かれている。これに対し、中継端子の位置は3箇所以上に分かれても良い。
The
実施の形態4.
図7Aは、本発明の実施の形態4に係る検査用治具の斜視図である。本実施の形態に係る検査用治具400は、複数の中継端子420を備える。中継端子420は、中継アダプタ410に取り付けられている。中継アダプタ410の表面411において、複数の中継端子420はy軸に沿って直線状に設けられている。また、中継端子420の回路接続部421は、平面視で千鳥配置となるように配置されている。回路接続部421は配線442、444を介し、図示しない検査回路と接続される。
Embodiment 4 FIG.
FIG. 7A is a perspective view of an inspection jig according to Embodiment 4 of the present invention. The
図7Bは、本発明の実施の形態4に係る検査用治具の構造を説明する図である。図7Bは、検査用治具400が備える複数の中継端子420のうち、隣接する中継端子420を比較のために並べた図である。中継端子420の回路接続部421は、表面411から露出している。回路接続部421は、表面411付近で屈曲し、表面411から離れる方向に斜めに伸びる部分を備える。また、回路接続部421は、斜めに伸びる部分の上端に接続された垂直に伸びる部分を備える。この結果、回路接続部421の端部は、表面411における中継端子420の位置に対してx軸方向にずれることとなる。
FIG. 7B is a diagram for explaining the structure of an inspection jig according to Embodiment 4 of the present invention. FIG. 7B is a diagram in which
図7Bに示すように、検査用治具400が備える複数の中継端子420のうち、隣接する中継端子420の一方は、他方に対してz軸を中心に180度回転した状態で配置される。この結果、隣接する中継端子420の回路接続部421は、複数の中継端子420の配列方向に対して、反対側に屈曲する。従って、回路接続部421は、平面視で千鳥配置となる。
As shown in FIG. 7B, among the plurality of
検査対象である製品が小型化されると、中継端子の間隔が狭まる。この場合、中継端子と配線の接続が困難となる場合がある。これに対し、本実施の形態では、配線が接続される回路接続部421は千鳥配置となっている。このため、回路接続部421の間隔を広く設けることが可能になる。従って、配線作業を容易にすることが可能になる。
When the product to be inspected is downsized, the interval between the relay terminals is reduced. In this case, it may be difficult to connect the relay terminal and the wiring. On the other hand, in the present embodiment, the
本実施の形態では中継端子420は2つの屈曲部を備える。これに対し、隣接した中継端子420の回路接続部421が中継端子420の配列方向に対して反対側に屈曲していれば、回路接続部421は別の形状でも良い。例えば回路接続部421は屈曲部を1つ備えるものとしても良い。
In the present embodiment, the
実施の形態5.
図8は、本発明の実施の形態5に係る検査用治具の断面図である。本実施の形態に係る検査用治具500は、中継アダプタ510を備える。中継アダプタ510には、表面511から裏面519に貫通した空洞515が形成される。本実施の形態に係る接続部522は、空洞515によって形成された中継アダプタ510の側壁513に形成された金属層546である。また、検査用治具500は接触子30を備える。
Embodiment 5. FIG.
FIG. 8 is a cross-sectional view of an inspection jig according to Embodiment 5 of the present invention. The
本実施の形態では、接続部522に弾性部31が圧入されることで、接続部522と接触子30が接続される。接続部522と接触子30が接続された状態では、弾性部31は、接続部522に対して弾性力を及ぼす。弾性部31と接続部522が接続された状態では、弾性部31が備える2本の金属片の間隔を接続部522が縮めている。このため、弾性力は、フォーク形状の弾性部31が備える2本の金属片が開く方向に働く。接続部522のx軸方向の間隔は、弾性部31が発生させる弾性力によって、接続部522と接触子30の接続が可能となるように調整されている。
In the present embodiment, the
本実施の形態においても、接触子30を裏面519側から挿抜することで、接触子30の交換が可能になる。このため、接触子30の交換が容易になる。また、本実施の形態では、弾性部31が両側から接続部522によって挟み込まれる。このため、接続部522と接触子30の接触面積を大きくすることが出来る。従って、接触抵抗を低減することが可能になる。
Also in the present embodiment, the
本実施の形態において、金属層546の表面511に露出した部分である露出部521は、回路接続部であっても良い。この場合、露出部521に配線を接続する。また、表面511側から接続部522に金属部材を取り付けることによって回路接続部を形成しても良い。
In the present embodiment, the exposed
100、200、300、400、500、800 検査用治具、11、211、411、511 表面、19、219、519 裏面、15、515 空洞、10、210、410、510 中継アダプタ、21、421、821 回路接続部、22、222、522、822 接続部、20、220、420、820 中継端子、30、230、830 接触子、31、231、331、334、337、831 弾性部、546 金属層、320 第1中継端子、327 第2中継端子、330 第1接触子、333 第2接触子、12 回路基板、16 回路パターン、18 受動部品
100, 200, 300, 400, 500, 800 Inspection jig, 11, 211, 411, 511 Front surface, 19, 219, 519 Back surface, 15, 515 Cavity, 10, 210, 410, 510 Relay adapter, 21, 421 , 821 Circuit connection part, 22, 222, 522, 822 Connection part, 20, 220, 420, 820 Relay terminal, 30, 230, 830
Claims (14)
前記中継アダプタに取り付けられ、前記表面側に配置された回路接続部と前記空洞に設けられた接続部とを備えた中継端子と、
前記裏面側から挿抜が可能に設けられた接触子と、
を備え、
前記接続部と前記接触子の一方は弾性部を有し、
前記弾性部が、前記接続部と前記接触子の他方に弾性力を及ぼすことで前記接続部と前記接触子とが接続されることを特徴とする検査用治具。 A relay adapter comprising a front surface, a back surface, and a cavity penetrating from the front surface to the back surface;
A relay terminal that is attached to the relay adapter and includes a circuit connection portion disposed on the surface side and a connection portion provided in the cavity,
A contact provided so that it can be inserted and removed from the back side;
With
One of the connection part and the contact has an elastic part,
The inspection jig, wherein the elastic portion exerts an elastic force on the other of the connecting portion and the contact so that the connecting portion and the contact are connected.
前記接触子は、前記接続部を両側から挟み込むことを特徴とする請求項1に記載の検査用治具。 The elastic portion is provided on the contact,
The inspection jig according to claim 1, wherein the contactor sandwiches the connection portion from both sides.
前記接続部は、前記接触子を両側から挟み込む形状を備えることを特徴とする請求項1に記載の検査用治具。 The elastic part is provided in the connection part,
The inspection jig according to claim 1, wherein the connection portion has a shape that sandwiches the contact from both sides.
前記弾性部は、前記接触子に設けられることを特徴とする請求項1に記載の検査用治具。 The connection part is a metal layer formed on a side wall of the relay adapter formed by the cavity;
The inspection jig according to claim 1, wherein the elastic portion is provided on the contact.
前記複数の接触子は、前記第1方向に重なっていることを特徴とする請求項5に記載の検査用治具。 A plurality of the contacts;
The inspection jig according to claim 5, wherein the plurality of contacts overlap in the first direction.
前記接触子は、第1接触子と、第2接触子と、を備え、
前記第2中継端子は、前記弾性部が弾性力を及ぼす方向に前記第1中継端子とずれて配置され、
前記第1接触子は、前記第1中継端子と接続され、
前記第2接触子は、前記第2中継端子と接続され、
前記第1接触子と前記第2接触子は、検査対象との接触部分において前記第1方向に重なって配置されていることを特徴とする請求項5に記載の検査用治具。 The relay terminal includes a first relay terminal and a second relay terminal,
The contact includes a first contact and a second contact,
The second relay terminal is arranged to be shifted from the first relay terminal in a direction in which the elastic portion exerts an elastic force,
The first contact is connected to the first relay terminal;
The second contact is connected to the second relay terminal;
The inspection jig according to claim 5, wherein the first contact and the second contact are arranged to overlap in the first direction at a contact portion with an inspection target.
前記複数の中継端子の回路接続部は、平面視で千鳥配置となるように配置されることを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載の検査用治具。 A plurality of the relay terminals,
The inspection jig according to claim 1, wherein the circuit connection portions of the plurality of relay terminals are arranged in a zigzag arrangement in a plan view.
前記複数の中継端子の回路接続部が屈曲すること千鳥配置が形成されることを特徴とする請求項8に記載の検査用治具。 The plurality of relay terminals are arranged linearly on the surface,
The inspection jig according to claim 8, wherein a staggered arrangement is formed by bending circuit connection portions of the plurality of relay terminals.
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