JP2017212650A - 画像読取装置及びこれを備えた画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ＡＦＥ回路とイメージセンサーを含む基板の電気的な未接続を検知し、修理、メンテナンスでの問題箇所の特定に要する時間、手間を減らす。
【解決手段】画像読取装置は、イメージセンサーからの信号を基準電圧だけ底上げするバイアス部を含む読取ユニットと、アナログ信号を基準電圧よりも小さい電圧で調整するオフセット部と、オフセット部により調整されたアナログ信号を基準電圧から基準電圧よりも大きい上限値までの範囲でディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部を含むＡＦＥ部と、Ａ／Ｄ変換部の変換により得られた画像データを処理する画像データ処理部と、読取ユニットの接続判定のとき、オフセット部によるアナログ信号の調整値をゼロよりも大きい確認時調整値に設定し、得られた１ライン分の画像データの画素値に基づき、読取ユニットとＡＦＥ部が接続されているか否かを判定する制御部と、を備える。
【選択図】図６

Description

本発明は、原稿の読取を行う画像読取装置に関する。又、この画像読取装置を備えた画像形成装置に関する。

画像読取装置は、原稿に光を照射する光源や、原稿の反射光に基づき読み取りを行うイメージセンサーを含む。画像読取装置は、イメージセンサーからのアナログ信号を処理して原稿の画像データを生成する。画像信号を処理する回路として、ＡＦＥ回路（Ａｎａｌｏｇ Ｆｒｏｎｔ Ｅｎｄ回路）が搭載される。特許文献１には、ＡＦＥ回路の異常検知方法の一例が記載されている。

具体的に、特許文献１には、ＣＰＵ３１の出力ポート３１ａにＡＦＥ回路２２の画像信号入力ライン２２ａを接続し、ＦＰＧＡ３５の入力ポート３５ａにＡＦＥ回路２２のディジタル画像信号出力ライン２２ｂを接続し、画像信号に相当する検査用信号をＡＦＥ回路２２に入力し、ＡＦＥ回路２２は、正常であれば、入力された検査用信号と同じ電圧値のディジタル画像信号を出力し、ＣＰＵ３１は、ＡＦＥ回路２２に入力した検査用信号の電圧値とＡＦＥ回路２２から出力されたディジタル画像信号の電圧値の差に基づき報知を行うスキャナ装置用の制御基板の検査方法が記載されている。この構成により、制御基板、画像センサー、スキャナモーターをスキャナ装置の筐体に取り付けること無くＡＦＥ回路２２の検査を行う。（特許文献１：請求項１、要約、段落［０００９］、［００１０］）等参照）。

特開２００６−３３２７８３号公報

画像読取装置には、異常が生じているか否か、及び、異常がある場合、どのような異常が生じているかを検知する機能が搭載されることがある。例えば、ランプを点灯させているにもかかわらず、得られる画像データが暗いと認められる場合、「ランプ点灯異常」という異常の検知が行われる。

画像読取装置に設けられたイメージセンサーを含む基板（ユニット）と、イメージセンサーのアナログ出力信号を処理するＡＦＥ回路は、ケーブルにより接続される。ケーブル接続のため、イメージセンサーを含む基板とＡＦＥ回路のそれぞれにソケットが設けられる。しかし、組み立ての工程で、ソケットの一方、又は両方へのケーブルの差し忘れが生ずることがある。この場合、基板とＡＦＥ部が電気的に接続されていない。また、きちんとソケットにケーブルの差し込んでいないために、基板とＡＦＥ回路が電気的に未接続となる場合もある。

基板とＡＦＥ部の電気的な未接続の場合、形成される画像データが真っ黒となる場合があるが、イメージセンサーの故障やＡＦＥ回路の故障でも同様の症状がでることがある。従来、画像読取装置では、基板とＡＦＥ回路の電気的な未接続を検知する機能は搭載されていない。そのため、異常原因が電気的な未接続であることを直ちに特定できず、イメージセンサーの故障やＡＦＥ回路の故障の確認作業も行われる場合があり、異常原因を特定するまで、時間、手間がかかるという問題がある。

なお、特許文献１記載の画像読取装置では、ＣＰＵ３１からＡＦＥ回路２２にデータを入力し、ＡＦＥ回路２２が正常であるか否かを検査するための技術である。特許文献１記載の技術は、ＡＦＥ回路とイメージセンサーを含む基板の電気的な未接続を検知するものではないので、上記の問題を解決することはできない。

本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、ＡＦＥ回路とイメージセンサーを含む基板の電気的な未接続を検知し、問題箇所を容易に特定できるようにし、修理、メンテナンスでの問題箇所の特定に要する時間、手間を減らす。

上記目的を達成するために、請求項１に係る画像読取装置は、読取ユニット、ＡＦＥ部、画像データ処理部、制御部を含む。前記読取ユニットは、原稿に光を照射するランプと、原稿で反射された光に応じた大きさの信号を出力するイメージセンサーと、前記信号を予め定められた基準電圧の大きさだけ底上げするバイアス部と、を含み、前記バイアス部により底上げされたアナログ信号を出力する。前記ＡＦＥ部は、入力された前記アナログ信号の大きさを前記基準電圧よりも小さい電圧で調整するオフセット部と、前記基準電圧から前記基準電圧よりも大きい上限値までの範囲を予め定められた階調数でディジタル値に変換する部分であって前記オフセット部により調整された前記アナログ信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部を含む。前記画像データ処理部は、前記Ａ／Ｄ変換部の変換により得られた画像データを処理する。前記制御部は、前記読取ユニットの接続判定のとき、前記オフセット部による前記アナログ信号の調整値をゼロよりも大きい確認時調整値に設定し、得られた１ライン分の画像データの画素値に基づき、前記読取ユニットと前記ＡＦＥ部が接続されているか否かを判定する。

本発明によれば、ＡＦＥ回路と読取ユニット（イメージセンサーを含む基板）の電気的な未接続を検知することができる。また、問題の原因が読取ユニットとＡＦＥ部の電気的な未接続であることを容易に特定することができる。従って、修理、メンテナンスでの問題箇所の特定に要する時間、手間を減らすことができる。

実施形態に係る複合機の一例を示す図である。 実施形態に係る画像読取装置の一例を示す図である。 実施形態に係る原稿搬送部と画像読取部の一例を示す図である。 実施形態に係る画像読取装置での原稿の画像データの生成の説明図である。 実施形態に係る画像読取装置でのＡ／Ｄ変換の一例を説明するための図である。 実施形態に係る画像読取装置での読取ユニットの接続判定の流れの一例を示すフローチャートである。 読取ユニットの接続判定の変形例を示すフローチャートである。

以下、図１〜図７を用い、画像読取装置１を含む複合機１００（画像形成装置に相当）を例に挙げ、本発明の実施形態を説明する。本実施の形態に記載されている構成、配置等の各要素は、発明の範囲を限定せず、単なる説明例にすぎない。

（複合機１００）
次に、図１を用いて、実施形態に係る複合機１００を説明する。図１は、実施形態に係る複合機１００の一例を示す図である。

図１に示すように、複合機１００には主制御部２、印刷部３が設けられる。また、印刷部３は、給紙部３ａ、搬送部３ｂ、画像形成部３ｃ、定着部３ｄを含む。また、複合機１００は、画像読取装置１、操作パネル４を含む。画像読取装置１は、画像読取部５、原稿搬送部６を含む。

主制御部２は、複合機１００の全体制御を司る。主制御部２は、ＣＰＵ２１を含む。又、複合機１００には、ＲＯＭ、ＨＤＤやフラッシュＲＯＭのような不揮発性メモリーとＲＡＭのような揮発性のメモリーを含む記憶部２２が設けられる。記憶部２２は、制御に関するプログラムやデータを記憶する。主制御部２は、記憶部２２のプログラムやデータを利用して各部を制御する。主制御部２は、スキャンや印刷や送信や画像データの記憶のような各種ジョブを行わせる。又、主制御部２には、画像読取装置１（画像読取部５）から出力される画像データに基づき画像処理を行う画像処理部２３が設けられる。

操作パネル４は、操作パネル４の状態や各種メッセージや設定用画面を表示する。また、操作パネル４はスキャンやコピーのようなジョブに関する設定操作を受け付ける。主制御部２は、操作パネル４と通信し設定内容を認識する。

印刷部３の給紙部３ａは、用紙を供給する。搬送部３ｂは、用紙を搬送し、印刷済み用紙を機外に排出する。画像形成部３ｃは、画像データに基づきトナー像を形成し、搬送される用紙にトナー像を転写する。定着部３ｄは、転写されたトナー像を用紙に定着させる。主制御部２は印刷部３の動作を制御する。

又、複合機１００は、通信部２４を含む。通信部２４は、ＰＣやサーバーのようなコンピューター２００やＦＡＸ装置３００と、ネットワークやケーブルや公衆回線を介して通信可能に接続される。通信部２４は、原稿読み取りに基づく画像データをコンピューター２００やＦＡＸ装置３００に送信できる（スキャン送信機能）。

（画像読取装置１）
次に、図１〜図３を用いて、実施形態に係る画像読取装置１を説明する。図２は、実施形態に係る画像読取装置１の一例を示す図である。図３は、実施形態に係る原稿搬送部６と画像読取部５の一例を示す図である。

画像読取装置１は、複合機１００に含まれる。画像読取装置１は、画像読取部５、原稿搬送部６を少なくとも含む。

図２に示すように、原稿搬送部６は、画像読取部５の上方に設けられる。原稿搬送部６は、画像読取部５に対し上下方向に開閉し、セットされた原稿を搬送読取用コンタクトガラス５１（読み取り位置）に向けて搬送する。また、原稿搬送部６は原稿を上方から押さえるカバーとして機能する。また、原稿搬送部６は、原稿搬送方向上流側から順に、原稿トレイ６１、原稿供給ローラー６２、原稿搬送路６３、複数の原稿搬送ローラー対６４、原稿排出ローラー対６５、原稿排出トレイ６６を含む。

図３に示すように、原稿搬送部６は、原稿搬送部６の動作の制御を行う原稿搬送制御部６０を含む。原稿搬送制御部６０は、ＣＰＵや、制御用のプログラムやデータを記憶するメモリーを含む基板である。原稿搬送制御部６０は、主制御部２や読取制御部５０と通信可能に接続される。原稿搬送制御部６０は、主制御部２や読取制御部５０からの原稿搬送開始の指示を受け、原稿搬送部６での原稿搬送の動作制御を行う。

原稿トレイ６１に用紙が存在する否かを検知するための原稿検知センサー６７が原稿搬送部６内に設けられる（図３参照）。原稿読取を行うジョブの実行指示が操作パネル４になされたとき、主制御部２は、原稿の読取指示を原稿搬送制御部６０に送信する。原稿搬送制御部６０は、原稿検知センサー６７の出力を確認し、原稿トレイ６１に用紙が存在する否かを検知する。原稿トレイ６１に原稿があるとき、原稿搬送制御部６０は原稿搬送モーター６８を駆動させ、原稿供給ローラー６２や原稿搬送ローラー対６４を回転させる。原稿供給ローラー６２と各原稿搬送ローラー対６４は、読み取り位置に向けて原稿を搬送する。原稿は、画像読取部５の上面に設けられた搬送読取用コンタクトガラス５１の上側を通過する。この通過の際、画像読取部５の読取ユニット７が原稿の表面を読み取る。

図２に示すように、画像読取部５は箱形の筐体を有する。そして、画像読取部５の上面左側に、透明板状の搬送読取用コンタクトガラス５１が設けられる。画像読取部５の上面かつ、搬送読取用コンタクトガラス５１の右側に、透明板状の載置読取用コンタクトガラス５２が配される。画像読取部５は、原稿搬送部６により搬送され搬送読取用コンタクトガラス５１を通過する原稿、又は、載置読取用コンタクトガラス５２にセットされた原稿に光を照射し、反射に基づき原稿の表面を読み取って画像データを生成する。

画像読取部５には、画像読取部５の動作の制御を行う読取制御部５０が設けられる。読取制御部５０は、ＣＰＵ、メモリー、集積回路などを含む基板である。読取制御部５０は、主制御部２からの指示、信号を受け、原稿の読み取りを行う。なお、読取制御部５０を設けず、主制御部２が画像読取部５の制御、処理を行うようにしてもよい。

又、図２に示すように、画像読取部５は、筐体内に、読取ユニット７、ワイヤー５３、巻取ドラム５４を含む。読取ユニット７はワイヤー５３で巻取ドラム５４に接続される。巻取ドラム５４は、正逆回転する巻取モーター５５（図３参照）により回転する。載置読取用コンタクトガラス５２上の原稿を読み取る時、読取制御部５０は、巻取ドラム５４を回転させ、読取ユニット７を水平方向に移動させる。搬送原稿の読取時、読取制御部５０は、搬送読取用コンタクトガラス５１の下方に読取ユニット７を固定する。

（原稿の画像データの生成）
次に、図３〜図５に基づき、実施形態に係る画像読取装置１での原稿の画像データの生成を説明する。図４は、実施形態に係る画像読取装置１での原稿の画像データの生成の説明図である。図５は、実施形態に係る画像読取装置１でのＡ／Ｄ変換の一例を説明するための図である。

画像読取部５内には、読取ユニット７、ＡＦＥ部８、画像データ処理部９が設けられる。読取ユニット７は、ＣＩＳ方式で原稿を読み取るユニットである。読取ユニット７は、基板を含み、基板上にランプ７１、レンズ７２、イメージセンサー７３、バイアス部７４が設けられる。

ランプ７１は、ＬＥＤや冷陰極管のような光源であり、主走査方向に沿って光を原稿に照射する。読取制御部５０は、原稿読み取りのとき、ランプ７１を点灯させる。また、読取制御部５０は、原稿読み取りの終了にあわせ、ランプ７１を消灯させる。

イメージセンサー７３は、主走査方向に沿って受光素子が並べられたラインセンサーである。イメージセンサー７３は、複数色分のラインセンサーを含むカラー対応のものでもよいし、白黒読み取り用のラインセンサーのみを含むモノクロ式のものでもよい。レンズ７２は、原稿の反射光をイメージセンサー７３の各受光素子に導く。

イメージセンサー７３の各受光素子は、１ラインの読み取り期間（電荷蓄積期間）中、受光量が多いほど、大きな電圧を出力する。本実施形態のイメージセンサー７３の各受光素子は、多少のバラツキはあるものの、受光量に応じ、０Ｖ（受光量少）〜１．０Ｖ（受光量多）の範囲で電圧を出力する仕様である。

バイアス部７４は、イメージセンサー７３の各受光素子から出力される信号をバイアスする回路（信号に電圧を加算する回路）である。バイアス部７４は、イメージセンサー７３に内蔵されてもよい。具体的に、バイアス部７４は、各受光素子から出力される信号（電圧）を基準電圧Ｖｒｅｆの大きさだけ底上げする。本実施形態では、基準電圧Ｖｒｅｆは、１．０Ｖである。例えば、ある受光素子から出力された電圧が０．１Ｖのとき、１．１Ｖに底上げする。従って、バイアス部７４から出力されるアナログ信号の電圧は、基本的に１．０Ｖ〜２．０Ｖの範囲内の電圧となる。

基準電圧Ｖｒｅｆは、基準電圧生成部７０により生成される。基準電圧生成部７０にＤＡＣを用いてもよいし、抵抗を組み合わせ分圧により基準電圧Ｖｒｅｆを生成する回路でもよい。基準電圧生成部７０が生成した基準電圧Ｖｒｅｆは、バイアス部７４や後述のＡ／Ｄ変換部８３に入力される。

読取ユニット７（バイアス部７４）は、ケーブル７５によりＡＦＥ部８と電気的に接続される。ケーブル７５の接続のため、読取ユニット７には第１ソケット７６が設けられる。また、ＡＦＥ部８には第２ソケット８４が設けられる。ケーブル７５の一端を第１ソケット７６に差し込み、ケーブル７５の他端を第２ソケット８４に差し込むことにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続される。

ケーブル７５を介して、バイアス部７４が出力するアナログ信号がＡＦＥ部８に入力される。ＡＦＥ部８は、ＡＦＥ（Analog Front End）回路である。ＡＦＥ部８は、イメージセンサー７３が出力しバイアス部７４が底上げした各受光素子のアナログ信号を処理し、各受光素子のアナログ信号をディジタル値に変換する回路である。ＡＦＥ部８は、オフセット部８１、増幅部８２、Ａ／Ｄ変換部８３を含む。ＡＦＥ部８にはノイズ除去回路のような他種の信号処理用の回路を含めても良い。

オフセット部８１は、読取ユニット７から入力されたアナログ信号の大きさを調整する（大きくしたり小さくしたりする）。この調整のため、オフセット部は、電圧調整回路８１ａを含む。イメージセンサー７３に含まれる各受光素子の特性にはバラツキがある。ランプ７１を点灯していない状態でも各受光素子から出力される電圧の大きさがばらつく。例えば、ランプ７１の消灯状態で、バイアス部７４から入力される各受光素子のアナログ信号のうち、基準電圧Ｖｒｅｆ（１．０Ｖ）を下回るものがあるとき、その受光素子のアナログ信号の大きさが基準電圧Ｖｒｅｆと同じ又はほぼ同じ大きさとなるようにアナログ信号を大きくする。また、バイアス部７４から入力される各受光素子のアナログ信号の全てが基準電圧Ｖｒｅｆを上回っているとき、バイアス部７４から入力されるアナログ信号の電圧を全体的に下げる。

本実施形態のオフセット部８１の調整可能電圧範囲は、±０．２５Ｖである。オフセット部８１の調整可能電圧範囲の最大値（＋０．２５Ｖ）は基準電圧Ｖｒｅｆ（１．０Ｖ）よりも小さい。読取制御部５０は、オフセット部８１にオフセットする電圧値を示す信号を入力する。オフセット部８１は、指示されたオフセット値（電圧）でアナログ信号を調整する。

増幅部８２は、オフセット部８１により調整されたアナログ信号を増幅する。増幅部８２は、白基準を読み取って得られたアナログ信号であってオフセット部８１が調整したアナログ信号の大きさとＡ／Ｄ変換部８３の入力レンジの上限値をマッチングさせるための回路である。増幅部８２は、必要があるとき、アナログ信号を増幅する。増幅部８２は、オペアンプのような増幅回路８２ａを含む。読取制御部５０は、増幅部８２にゲインを示す信号を入力する。増幅部８２は、指示されたゲインで増幅する。

Ａ／Ｄ変換部８３は、バイアス部７４が底上げし、オフセット部８１、増幅部８２で調整された各受光素子のアナログ信号を、ディジタル値（画素値）に変換する。Ａ／Ｄ変換部８３は、アナログ信号（電圧）が大きいほど、大きなディジタル値に変換する。ここで、図５を用いて、実施形態に係る複合機１００でのＡ／Ｄ変換の流れの一例を説明する。

各受光素子の受光量に応じ、イメージセンサー７３から１．０Ｖの幅（１．０Ｖのｐｅａｋ ｔｏ ｐｅａｋ）の信号が出力される。イメージセンサー７３が出力するアナログ信号は、バイアス部７４により基準電圧Ｖｒｅｆの分だけ底上げされる。これにより、Ａ／Ｄ変換部８３に入力されるアナログ信号の電圧は、基本的に、１．０Ｖ〜２．０Ｖの間の大きさとなる。

Ａ／Ｄ変換部８３には、オフセット部８１や増幅部８２により調整されたアナログ信号が入力される。Ａ／Ｄ変換部８３の入力レンジは、１．０Ｖ〜２．０Ｖである。そして、Ａ／Ｄ変換部８３は、入力レンジの上限値（２．０Ｖ）と下限値（１．０Ｖ）の差分である１．０Ｖの幅を、所定の階調数で量子化する。図５の例では、各受光素子の出力に基づくアナログ信号を８ビット（２５６階調）のディジタル値に変換する例を示している。なお、階調数は、１０ビットのように、８ビットよりも大きくてもよい。

Ａ／Ｄ変換部８３には、基準電圧Ｖｒｅｆが入力される。そして、Ａ／Ｄ変換部８３は、入力されるアナログ信号から基準電圧Ｖｒｅｆを減じる減算回路を含む。この場合、Ａ／Ｄ変換部８３に含まれるＡ／Ｄ変換回路は、減算回路により１．０Ｖ（基準電圧Ｖｒｅｆ）減算され、０Ｖ〜１．０Ｖ（基準電圧Ｖｒｅｆ）の範囲内となったアナログ信号を所定の階調数でディジタル値に変換する。

あるいは、Ａ／Ｄ変換部８３に別途、２．０Ｖを入力してもよい。この場合、Ａ／Ｄ変換部８３に含まれるＡ／Ｄ変換回路は、１．０Ｖ〜２．０Ｖの範囲のアナログ信号を所定の階調数でディジタル値に変換する。

（読取ユニット７の接続判定の流れ）
次に、図６を用いて、実施形態に係る画像読取装置１での読取ユニット７の接続判定の流れの一例を説明する。図６は、実施形態に係る画像読取装置１での読取ユニット７の接続判定の流れの一例を示すフローチャートである。

まず、図６のスタートは、読取ユニット７の接続判定を開始する時点である。本実施形態の複合機１００では、複合機１００の主電源が投入されたときが読取ユニット７の接続判定の開始時点とされる。接続判定を実行する旨の操作が操作パネル４になされたときや、省電力モードの解除により画像読取装置１（画像読取部５）への電力供給が再開されたときのように、複合機１００の主電源投入時以外の時点に読取ユニット７の接続判定を開始してもよい。

読取ユニット７の接続判定が開始されると、読取制御部５０は、オフセット部８１によるアナログ信号の調整値をゼロよりも大きい確認時調整値に設定する（ステップ♯１１）。具体的に、読取制御部５０は、オフセット部８１の調整可能電圧範囲のうち最大値を確認時調整値に設定する。本実施形態の画像読取装置１では、確認時調整値は＋０．２５Ｖとされる。これにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されているとき、読取ユニット７が出力する各受光素子のアナログ信号は、確認時調整値分（＋０．２５Ｖ）上乗せされる。

また、読取制御部５０は、増幅部８２の増幅率を１．０倍に設定する（ゲインを０ｄＢに設定する、ステップ♯１２）。

そして、読取制御部５０は、ランプ７１の消灯状態での１ラインの読み取りを読取ユニット７に行わせ、オフセット部８１により調整されたアナログ信号のＡ／Ｄ変換をＡ／Ｄ変換部８３に行わせる（ステップ♯１３）。そして、読取制御部５０は、Ａ／Ｄ変換部８３から出力されるディジタル値に基づき、１ライン分の画像データ（確認用画像データ）の生成を行わせる（ステップ♯１４）。

ここで、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に未接続のとき、オフセット部８１が調整可能な最も大きな電圧（確認時調整値）でアナログ信号を調整しても、Ａ／Ｄ変換部８３に入力される電圧は、基準電圧Ｖｒｅｆ（１．０Ｖ）を超えない。そのため、生成される画像データの各画素の画素値は、ゼロ（真っ黒）となる。

一方、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されているとき、バイアス部７４による電圧底上げと、オフセット部８１のアナログ信号の調整と、Ａ／Ｄ変換部８３に入力される電圧は、基準電圧Ｖｒｅｆ（１．０Ｖ）を超え、１．２５Ｖ以上となる。そのため、生成される画像データの各画素の画素値は、ゼロ（真っ黒）とはならない。例えば、Ａ／Ｄ変換部８３が入力電圧２．０Ｖ〜１．０Ｖの範囲を２５６階調でＡ／Ｄ変換するとき、生成される画像データの各画素の画素値は、６４程度以上となることが想定される（２５６×０．２５Ｖ／１Ｖ）。

そこで、読取制御部５０は、１ライン分の画像データ（確認用画像データ）に基づき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されているか否かを判断する（ステップ♯１５）。

具体的に、読取制御部５０は、確認用画像データに含まれる各画素の画素値のうち、最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値（ゼロ）であるか否かに基づき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されているか否かを判断する（ステップ♯１５）。つまり、読取制御部５０は、確認用画像データに含まれる各画素の画素値のうち最も明るい画素の画素値がゼロであるとき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に未接続と判定する。また、読取制御部５０は、得られた１ライン分の画像データの画素値のうち最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値よりも明るい画素値のとき（ゼロを超えているとき）、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていると判定する。

あるいは、読取制御部５０は、得られた１ライン分の画像データのうち全画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値（ゼロ）であるか否かに基づき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されているか否かを判断してもよい（ステップ♯１５）。つまり、読取制御部５０は、確認用画像データに含まれる各画素の画素値が全てゼロのとき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に未接続であると判定し、確認用画像データに含まれる各画素の画素値にゼロより大きいものがあるとき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていると判定する。

そして、読取制御部５０は、確認結果を表示パネルに表示させる（ステップ♯１６）。読取制御部５０は読取ユニット７が接続されていないと判断したとき、読取制御部５０は、読取ユニット７とＡＦＥ部８の電気的に未接続であることの警告を表示パネルに表示させる。読取制御部５０は読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていると判断したとき、読取制御部５０は、読取ユニット７とＡＦＥ部８の接続に問題が無い旨のメッセージを表示パネルに表示させる。そして、本フローは終了する（エンド）。

このようにして、実施形態に係る画像読取装置１は、読取ユニット７、ＡＦＥ部８、画像データ処理部９、制御部（読取制御部５０）を含む。読取ユニット７は、原稿に光を照射するランプ７１と、原稿で反射された光に応じた大きさの信号を出力するイメージセンサー７３と、信号を予め定められた基準電圧Ｖｒｅｆの大きさだけ底上げするバイアス部７４と、を含み、バイアス部７４により底上げされたアナログ信号を出力する。ＡＦＥ部８は、入力されたアナログ信号の大きさを基準電圧Ｖｒｅｆよりも小さい電圧で調整するオフセット部８１と、基準電圧Ｖｒｅｆから基準電圧Ｖｒｅｆよりも大きい上限値までの範囲を予め定められた階調数でディジタル値に変換する部分であってオフセット部８１により調整されたアナログ信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部８３を含む。画像データ処理部９は、Ａ／Ｄ変換部８３の変換により得られた画像データを処理する。制御部は、読取ユニット７の接続判定のとき、オフセット部８１によるアナログ信号の調整値をゼロよりも大きい確認時調整値に設定し、得られた１ライン分の画像データの画素値に基づき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されているか否かを判定する。

まず、読取ユニット７とＡＦＥ部８が未接続のとき、ＡＦＥ部８には読取ユニット７からのアナログ信号（アナログ電圧）が入力されない。読取ユニット７からＡＦＥ部８に入力されるアナログ信号は０Ｖ（基準電圧Ｖｒｅｆよりも小さな電圧）で維持される。そして、オフセット部８１の調整可能電圧の最大値は基準電圧Ｖｒｅｆよりも小さくする。

これにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていないとき、オフセット部８１が電圧を調整しても、Ａ／Ｄ変換部８３に入力される電圧（Ａ／Ｄ変換部８３がＡ／Ｄ変換するアナログ電圧）は基準電圧Ｖｒｅｆよりも小さくなる。従って、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていないとき、Ａ／Ｄ変換により得られる画像データの各画素値は、ゼロのような最も暗い色（真っ黒）に対応する値となる。一方、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されているとき、バイアス部７４により、ＡＦＥ部８に入力される電圧は、基準電圧Ｖｒｅｆ以上となる。そして、オフセット部８１の調整により、Ａ／Ｄ変換部８３に入力される電圧は、基準電圧Ｖｒｅｆよりも大きくなる。

従って、画像データを確認することにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８の電気的な未接続を検知することができる。つまり、ＡＦＥ部８を読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されているか否か（ケーブル７５によりきちんと接続されているか否か）を確認するためのセンサーとして用いることができる。特別なセンサーの追加が不要である。また、読取ユニット７とＡＦＥ部８の電気的な未接続という不具合の原因を特定することができる。そして、修理、メンテナンスでの問題箇所の特定に要する時間、手間を減らすことができる。

また、読取ユニット７の接続判定のとき、制御部（読取制御部５０）は、得られた１ライン分の画像データのうち、最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値のとき、読取ユニット７が未接続であると判定し、得られた１ライン分の画像データのうち最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値ではないとき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されていると判定する。これにより、１ラインの画像データに含まれる各画素の画素値の最大値が真っ黒（ゼロ）であることを確認することにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８の電気的な未接続を検知することができる。

また、読取ユニット７の接続判定のとき、制御部（読取制御部５０）は、得られた１ライン分の画像データのうち全画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値のとき、読取ユニット７が未接続であると判定し、得られた１ライン分の画像データに階調における最も暗い色よりも明るい色の画素値の画素が含まれているとき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されていると判定する。これにより、１ラインの画像データに含まれる各画素の全画素値が真っ黒（ゼロ）であることを確認することにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８の電気的な未接続を検知することができる。

また、確認時調整値は、オフセット部８１の調整可能電圧範囲のうち、最大値としてもよい。これにより、１ラインの画像データに含まれる全画素の画素値を、調整可能電圧範囲の最大値に相当する分だけ底上げすることができる。従って、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていることを確実に検知することができる。

また、実施形態に係る画像形成装置（複合機１００）は、上述の画像読取装置１を含むので、読取ユニット７とＡＦＥ部８の電気的な未接続を検知できる画像形成装置を提供することができる。また、修理、メンテナンスでの問題箇所の特定に要する時間、手間の少ない画像形成装置を提供することができる。

（変形例）
次に、図７を用いて、実施形態に係る読取ユニット７の接続判定の変形例を説明する。図７は、読取ユニット７の接続判定の変形例を示すフローチャートである。

変形例のスタートは、読取ユニット７の接続判定を開始する時点である。図６と同様であるので詳細な説明は援用するものとして省略する。また、変形例でのステップ♯２１は、図６のステップ♯１１と同様であるので詳細な説明は援用するものとして省略する。

オフセット部８１により調整されたアナログ信号の増幅を増幅部８２に行わせる（ステップ♯２２）。倍率は、１よりも大きな値とする。倍率（ゲイン）は、設定可能な倍率のうち、最大値としてもよい。オフセット部８１は、＋０．２５Ｖのアナログ信号の調整（加算）を行うので、基準電圧Ｖｒｅｆ（１．０Ｖ）を超えないように、倍率は、２〜３倍程度にしてもよい。

そして、読取制御部５０は、読取制御部５０は、ランプ７１の消灯状態での１ラインの読み取りを読取ユニット７に行わせ、オフセット部８１により調整されたアナログ信号のＡ／Ｄ変換をＡ／Ｄ変換部８３に行わせる（ステップ♯２３）。読取制御部５０は、Ａ／Ｄ変換部８３から出力されるディジタル値に基づき、１ライン分の画像データ（確認用画像データ）の生成を行わせる（ステップ♯２４）。

読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されているとき、バイアス部７４の底上げ、オフセット部８１の調整、増幅部８２の増幅によって、Ａ／Ｄ変換部８３に入力されるアナログ信号は、確実に基準電圧Ｖｒｅｆを超え、ゼロよりもずっと大きな画素値（ディジタル値）への変換が行われる。従って、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていることが検出されやすくなる。

読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的な未接続のとき、オフセット部８１が調整可能な最も大きな電圧でアナログ信号を調整し、増幅部８２が増幅しても、Ａ／Ｄ変換部８３に入力される電圧は、基準電圧Ｖｒｅｆ（１．０Ｖ）を超えない。そのため、生成される画像データの各画素の画素値は、ゼロ（真っ黒）となる。

読取制御部５０は、１ライン分の画像データ（確認用画像データ）に基づき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されているか否かを判断する（ステップ♯２５）。具体的には、ステップ♯１５と同様に、読取制御部５０は、確認用画像データに含まれる各画素の画素値のうち、最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値（ゼロ）であるか否かに基づき、あるいは、得られた１ライン分の画像データのうち全画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値（ゼロ）であるか否かに基づき、読取ユニット７とＡＦＥ部８が接続されているか否かを判断する。

変形例でのステップ♯２６は、図６のステップ♯１６と同様であるので詳細な説明は援用するものとして省略する。

このようにして、変形例では、読取ユニット７の接続判定のとき、制御部（読取制御部５０）は、オフセット部８１により調整されたアナログ信号の増幅を増幅部８２に行わせる。これにより、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されているとき、Ａ／Ｄ変換部８３に入力される電圧は、基準電圧Ｖｒｅｆを十分に超える大きさとなり、得られる画像データの各画素の画素値を確実に真っ黒（ゼロ）よりも明るい画素値とすることができる。従って、読取ユニット７とＡＦＥ部８が電気的に接続されていることが検知しやすくなる。

以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明の範囲はこれに限定されず、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。

本発明は、画像読取装置やこれを備えた画像形成装置に利用可能である。

１００ 複合機（画像形成装置） １ 画像読取装置
５０ 読取制御部（制御部） ７ 読取ユニット
７１ ランプ ７３ イメージセンサー
７４ バイアス部 ８ ＡＦＥ部
８１ オフセット部 ８２ 増幅部
８３ Ａ／Ｄ変換部 ９ 画像データ処理部
Ｖｒｅｆ 基準電圧

Claims (6)

1. 原稿に光を照射するランプと、原稿で反射された光に応じた大きさの信号を出力するイメージセンサーと、前記信号を予め定められた基準電圧の大きさだけ底上げするバイアス部と、を含み、前記バイアス部により底上げされたアナログ信号を出力する読取ユニットと、
   入力された前記アナログ信号の大きさを前記基準電圧よりも小さい電圧で調整するオフセット部と、前記基準電圧から前記基準電圧よりも大きい上限値までの範囲を予め定められた階調数でディジタル値に変換する部分であって前記オフセット部により調整された前記アナログ信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部を含むＡＦＥ部と、
   前記Ａ／Ｄ変換部の変換により得られた画像データを処理する画像データ処理部と、
   前記読取ユニットの接続判定のとき、前記オフセット部による前記アナログ信号の調整値をゼロよりも大きい確認時調整値に設定し、得られた１ライン分の画像データの画素値に基づき、前記読取ユニットと前記ＡＦＥ部が接続されているか否かを判定する制御部と、を備えることを特徴とする画像読取装置。
2. 前記読取ユニットの接続判定のとき、
   前記制御部は、得られた１ライン分の画像データのうち、最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値のとき、前記読取ユニットが未接続であると判定し、得られた１ライン分の画像データのうち最も明るい画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値ではないとき、前記読取ユニットと前記ＡＦＥ部が接続されていると判定することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
3. 前記読取ユニットの接続判定のとき、
   前記制御部は、得られた１ライン分の画像データのうち全画素の画素値が階調における最も暗い色の画素値のとき、前記読取ユニットが未接続であると判定し、得られた１ライン分の画像データに階調における最も暗い色よりも明るい色の画素値の画素が含まれているとき、前記読取ユニットと前記ＡＦＥ部が接続されていると判定することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
4. 前記オフセット部により調整された前記アナログ信号を増幅する増幅部を含み、
   前記読取ユニットの接続判定のとき、
   前記制御部は、前記オフセット部により調整された前記アナログ信号の増幅を前記増幅部に行わせることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像読取装置。
5. 前記確認時調整値は、前記オフセット部の調整可能電圧範囲のうち、最大値であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像読取装置。
6. 請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像読取装置を含むことを特徴とする画像形成装置。

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