JP2017185438A

JP2017185438A - 排ガス浄化用触媒

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Publication number: JP2017185438A
Application number: JP2016075339A
Authority: JP
Inventors: 知弘糟谷; Tomohiro Kasuya; 健一滝; Kenichi Taki; 悟司松枝; Satoshi Matsueda; 俊介芳我; Shunsuke Haga; 裕幸林田; Hiroyuki Hayashida; 健太吉岡; Kenta Yoshioka
Original assignee: Daiichi Kigenso Kagaku Kogyo Co Ltd; Cataler Corp
Current assignee: Daiichi Kigenso Kagaku Kogyo Co Ltd; Cataler Corp
Priority date: 2016-04-04
Filing date: 2016-04-04
Publication date: 2017-10-12
Anticipated expiration: 2036-04-04
Also published as: JP6639309B2

Abstract

【課題】自動推進車両の排ガス温度は益々高くなる傾向にある。従って、このような使用環境下でも十分な性能を発揮する排ガス浄化用触媒を実現すべく、パラジウムのシンタリングに起因した性能の劣化を生じ難い排ガス浄化用触媒を提供する。
【解決手段】Ｐｒ6Ｏ11からなる担体と、前記担体に担持されたパラジウムとを含む排ガス浄化用触媒であって、前記排ガス浄化用触媒は、前記パラジウムの前記担体への固溶率が８０％以上である排ガス浄化用触媒。
【選択図】図５

Description

本発明は、排ガス浄化用触媒に関する。

従来から、自動車の排ガスを処理する排ガス浄化用触媒としては、セリアやアルミナ等の無機酸化物にパラジウム等の貴金属を担持させてなる三元触媒が広く使用されている。この三元触媒では、貴金属は、窒素酸化物の還元反応並びに一酸化炭素及び炭化水素の酸化反応を促進する役割を担っている。また、無機酸化物は、貴金属の比表面積を増大させると共に、反応による発熱を消散させて貴金属のシンタリングを抑制する役割を担っている。

ところで、近年、自動車等の自動推進車両は、そのエンジン性能向上に伴い、高速で走行する機会が増えている。これに加え、大気汚染を防止すべく、排ガス規制の強化が進められている。このような背景のもと、自動推進車両の排ガス温度は益々高くなる傾向にある。従って、このような使用環境下でも十分な性能を発揮する排ガス浄化用触媒を実現すべく、研究開発が盛んに行われている。

例えば、特許文献１は、パラジウム含有率が０．０５〜７重量％であり、Ｐｒ／（Ｚｒ＋Ｐｒ）原子比が０．０５〜０．６の範囲であるＺｒ_αＰｒ_βＰｄ_γＯ_2-δ固溶体（α＋β＋γ＝１．０００であり、δは電荷中性条件を満たすように定まる値である）からなる排ガス浄化用触媒を開示する。この触媒は、以下のとおり製造される。ＺｒＯ₂−Ｐｒ₆Ｏ₁₁の固溶体結晶上にＰｄＯ及び／又はＰｄＯ₂を担持させ、その後、ＰｄＯ及び／又はＰｄＯ₂の金属パラジウムへの還元が進行しない条件で熱処理する。これにより、Ｐｄ⁴⁺がＺｒＯ₂−Ｐｒ₆Ｏ₁₁の固溶体結晶中に取り込まれ、Ｚｒ_αＰｒ_βＰｄ_γＯ_2-δ固溶体が形成される。

特開２０１３−１６６１３０号公報

パラジウムなどの貴金属を含んだ排ガス浄化用触媒は、高温であり且つ燃料リッチの排ガスが供給された場合に、貴金属のシンタリングを生じ易い。

そこで、本発明は、パラジウムのシンタリングに起因した性能の劣化を生じ難い排ガス浄化用触媒を提供することを目的とする。

本発明の一側面によると、Ｐｒ₆Ｏ₁₁からなる担体と、前記担体に担持されたパラジウムとを含む排ガス浄化用触媒であって、前記排ガス浄化用触媒は、前記パラジウムの前記担体への固溶率が８０％以上である排ガス浄化用触媒が提供される。

本発明によると、パラジウムのシンタリングに起因した性能の劣化を生じ難い排ガス浄化用触媒が提供される

本発明の一態様に係る排ガス浄化用触媒を概略的に示す斜視図。図１に示す排ガス浄化用触媒の一部を拡大して示す断面図。図１に示す排ガス浄化用触媒に含まれる担持触媒が燃料リーンな高温雰囲気（酸化性雰囲気）中で呈する状態を概略的に示す断面図。図１に示す排ガス浄化用触媒に含まれる担持触媒が燃料リッチな高温雰囲気（還元性雰囲気）中で呈する状態を概略的に示す断面図。酸化性雰囲気中で熱処理した直後及び還元性雰囲気中で熱処理した直後の排ガス浄化用触媒について得られたＸ線回折スペクトルを示すグラフ。

以下、本発明の態様について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、同様又は類似した機能を発揮する構成要素には全ての図面を通じて同一の参照符号を付し、重複する説明は省略する。

図１は、本発明の一態様に係る排ガス浄化用触媒を概略的に示す斜視図である。図２は、図１に示す排ガス浄化用触媒の一部を拡大して示す断面図である。図３は、図１に示す排ガス浄化用触媒に含まれる担持触媒が燃料リーンな高温雰囲気（酸化性雰囲気）中で呈する状態を概略的に示す断面図である。図４は、図１に示す排ガス浄化用触媒に含まれる担持触媒が燃料リッチな高温雰囲気（還元性雰囲気）中で呈する状態を概略的に示す断面図である。

図１及び図２に示す排ガス浄化用触媒１は、モノリス触媒である。この排ガス浄化用触媒１は、モノリスハニカム基材などの基材２を含んでいる。基材２は、典型的には、コージェライトなどのセラミックス製である。

基材２の隔壁上には、触媒層３が形成されている。触媒層３は、担持触媒３０を含み、担持触媒３０は、図３及び図４に示す担体３１及び触媒金属３２を含んでいる。担体３１は、Ｐｒ₆Ｏ₁₁からなり、触媒金属３２は、パラジウムである。

担体３１は、例えば、粒子の形態で存在している。この場合、担体３１の平均粒径は、例えば０．５乃至１００μｍの範囲内にあり、典型的には、１乃至２０μｍの範囲内にある。なお、この「平均粒径」は、以下の方法によって得られる値を意味している。

まず、排ガス浄化用触媒１から触媒層３の一部を除去する。次に、走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いて、この試料のＳＥＭ像を、２５００倍乃至５００００倍の範囲内の倍率で撮影する。ＳＥＭ像の撮影は、２５視野について行う。次いで、各ＳＥＭ像に写っている担体３１の中から、全体が見えている粒子を無作為に４つ選択し、選択した各粒子の面積を求める。これら面積と等しい面積を有している円の直径をそれぞれ算出し、更に、これら直径の算術平均を求める。この算術平均を平均粒径とする。なお、この平均粒径の標準偏差は１５μｍ以下である。

担体３１は、触媒金属３２の比表面積を増大させると共に、反応による発熱を消散させて触媒金属３２のシンタリングを抑制する役割を担っている。なお、担体３１が果たす他の役割については、後で詳しく説明する。

排ガス浄化用触媒１は、触媒金属３２であるパラジウムの担体３１への固溶率が８０％以上であり、典型的には８０％乃至１００％であり、好ましくは９０％乃至１００％であり、更に好ましくは９５乃至１００％である。

排ガス浄化用触媒１を、酸化性雰囲気中（例えば、大気雰囲気中）において高温（例えば、１０５０℃で１時間）で加熱すると、加熱処理直後の触媒において、触媒金属３２であるパラジウムの少なくとも一部は、担体３１に固溶している（図３参照）。このとき、パラジウムの少なくとも一部は酸化されている（酸化数が増大している）可能性がある。

一方、排ガス浄化用触媒１を、還元性雰囲気中（例えば、１０体積％の一酸化炭素を含む窒素雰囲気中）において高温（例えば、１０００℃で１０時間）で加熱すると、加熱処理直後の触媒において、触媒金属３２であるパラジウムの少なくとも一部は、担体３１に担持されている（図４参照）。

パラジウムが担体３１に固溶しているとは、パラジウムが、担体３１を構成しているＰｒ₆Ｏ₁₁の結晶格子中に侵入または置換することにより、パラジウムとＰｒ₆Ｏ₁₁とが固溶体を形成していることを意味する。また、パラジウムが担体３１に担持されているとは、パラジウムが担体３１に固溶することなく、その表面に保持されていること、例えば、パラジウムが担体３１に物理的に担持されていることを意味する。なお、物理的担持とは、Ｐｒ₆Ｏ₁₁をパラジウム塩水溶液に分散させた後、分散液を加熱すること（後述の乾燥や焼成など）によりＰｒ₆Ｏ₁₁にパラジウムを保持させることである。

本明細書において、パラジウムの担体３１への固溶率は、パラジウムの総質量（すなわち、担体３１に担持されているパラジウムと担体３１に固溶しているパラジウムとの合計質量）に対する、担体３１に固溶しているパラジウムの質量％を意味する。また、本明細書において、パラジウムの担体３１への固溶率は、製造直後の排ガス浄化用触媒１について得られる値である。製造直後の排ガス浄化用触媒１は、上述のとおり、８０％以上の固溶率、好ましくは９０％以上の固溶率、更に好ましくは９５％以上の固溶率を有する。固溶率が８０％より低いと、担持されているパラジウムの凝集（シンタリング）が生じ易くなる。

パラジウムの担体３１への固溶率は、ＩＣＰ発光分光分析法（高周波誘導結合プラズマ発光分光分析法）を用いて求めることができる。具体的には、所定の質量の担持触媒３０を、触媒中の全パラジウムが可溶である溶液に浸漬し、得られた溶液をＩＣＰ発光分光分析法により測定する。これにより、触媒に含まれる全パラジウムの質量を算出する。一方、所定の質量の担持触媒３０を、パラジウムが不溶であり、かつ担体３１を構成するＰｒ₆Ｏ₁₁が可溶である溶液に浸漬し、この溶液を濾過し、濾液をＩＣＰ発光分光分析法により測定する。これにより、濾液に含有されるパラジウムの質量を算出する。得られた２つの算出値から、パラジウムの固溶率を算出する。

また、排ガス浄化用触媒１は、Ｘ線回折スペクトルについて以下の特性を有する。

排ガス浄化用触媒１を、還元性雰囲気中（即ち、１０体積％の一酸化炭素を含む窒素雰囲気中）、１０００℃で１０時間に亘って加熱し、加熱処理直後の排ガス浄化用触媒１についてＸ線回折スペクトル１を得る。また、排ガス浄化用触媒１を、酸化性雰囲気中（即ち、大気雰囲気中）、１０５０℃で１時間に亘って加熱し、加熱処理直後の排ガス浄化用触媒１についてＸ線回折スペクトル２を得る。Ｘ線回折スペクトル１では、Ｐｒ₆Ｏ₁₁に対応するピーク（２θ＝２８．２５°）が存在する。Ｘ線回折スペクトル２では、Ｐｒ₆Ｏ₁₁の結晶格子中に含まれるパラジウムの量に応じて、Ｐｒ₆Ｏ₁₁に対応するピーク（２θ＝２８．２５°）が高角度側にシフトする。典型的には、Ｘ線回折スペクトル２では、Ｐｒ₆Ｏ₁₁に対応するピーク（２θ＝２８．２５°）が高角度側に０．４°〜３．８°シフトし、結果として、２８．６５°〜３２．０５°の範囲にピークが存在する。Ｘ線回折スペクトル２で、Ｐｒ₆Ｏ₁₁に対応するピーク（２θ＝２８．２５°）が高角度側に０．４°〜３．８°シフトするということは、パラジウムが、担体３１を構成するＰｒ₆Ｏ₁₁に対して０．８８〜８質量％の量で担体３１に固溶していることを示す。

担体３１の質量と触媒金属３２の質量との合計に占める触媒金属３２の質量の割合は、例えば１乃至１０質量％の範囲内にあり、典型的には１乃至３質量％の範囲内にある。この質量比を小さくすると、高い排ガス浄化性能を達成するためには、より多量の担体３１が必要となり、それ故、排ガス浄化用触媒１の熱容量が増大する。この質量比を大きくすると、触媒金属３２のシンタリングを生じ易くなる。

触媒金属３２の質量と排ガス浄化用触媒１の容積との比は、例えば０．１乃至２０ｇ／Ｌの範囲内にあり、典型的には１乃至１０ｇ／Ｌの範囲内にある。この比が小さい場合、高い排ガス浄化性能を達成することが難しい。この比を大きくすると、排ガス浄化用触媒１の原料コストが増大する。

なお、ここで触媒金属３２について言及した数値は、酸化性雰囲気中で高温に加熱した直後の排ガス浄化用触媒１について得られる値である。

触媒層３は、他の成分を更に含むことができる。例えば、触媒層３は、酸素貯蔵材料を更に含んでいてもよい。

酸素貯蔵材料は、酸素過剰条件下で酸素を吸蔵し、酸素希薄条件下で酸素を放出して、ＨＣ及びＣＯの酸化反応並びにＮＯ_xの還元反応を最適化する。酸素貯蔵材料は、例えば粒子の形態にある。

酸素貯蔵材料は、例えば、セリア、セリアと他の金属酸化物との複合酸化物、又はそれらの混合物である。複合酸化物としては、例えば、セリアとジルコニアとの複合酸化物を使用することができる。

この排ガス浄化用触媒１は、高温条件下で以下に説明する状態変化を生じる。
図３は、高温条件下で高酸素濃度雰囲気に晒した場合、例えばエンジンへの燃料供給を停止した場合に排ガス浄化用触媒１に含まれる担持触媒３０が呈する状態を示している。他方、図４は、高温条件下で低酸素濃度雰囲気に晒した場合、例えばエンジンに多量の燃料を供給し続けている場合に排ガス浄化用触媒１に含まれる担持触媒３０が呈する状態を示している。なお、以下の説明において、触媒金属３２はパラジウムであるとする。

図３に示す状態において、パラジウムは、主に、担体３１に固溶している。なお、図３では、図示されるパラジウムの全てが担体３１に固溶しているが、パラジウムの一部が担体３１に担持されていてもよい。また、この状態において、パラジウムの少なくとも一部は酸化されている可能性がある。

高温条件下で雰囲気中の酸素濃度が低くなると、排ガス浄化用触媒１に含まれる担持触媒層３０は、図３に示す状態から図４に示す状態へと変化する。具体的には、担体３１からパラジウムが析出し、析出したパラジウムは担体３１に担持される。なお、図４では、図示されるパラジウムの全てが担体３１に担持されているが、パラジウムの一部が担体３１に固溶していてもよい。

そして、高温条件下で雰囲気中の酸素濃度が再び高くなると、排ガス浄化用触媒１に含まれる担持触媒３０は、図４に示す状態から図３に示す状態へと変化する。具体的には、担体３１に担持されているパラジウムの少なくとも一部は担体３１へと固溶する。

このように、排ガス浄化用触媒１に含まれる担持触媒３０は、高温条件下において、雰囲気中の酸素濃度の変化に伴って可逆的な変化を生じる。

このような可逆的な変化が起こることにより、触媒金属３２であるパラジウムのシンタリングを長期間に亘って抑制することができる。即ち、排ガス浄化用触媒１は、パラジウムのシンタリングに起因した性能の劣化を生じ難い。

排ガス浄化用触媒１は、例えば、以下の方法により製造する。
まず、担体３１を準備する。担体３１は、市販品を購入してもよいし、共沈法等の公知の方法により調製してもよい。

担体３１を構成するＰｒ₆Ｏ₁₁は、複合酸化物と比べて単純な組成を有している。このため、担体３１の準備に関する煩雑さがなく、担体３１の組成が原子レベルで均一であるという利点を有する。

準備された担体３１を脱イオン水中に分散させる。続いて、この分散液に、パラジウム塩溶液を添加して、担体３１にパラジウムを吸着させる。その後、これを乾燥させ、更に酸化性雰囲気中で焼成する。焼成は、例えば約１０００℃乃至約１１００℃の範囲内の温度で、例えば１〜５時間で行うことができる。焼成温度が１０００℃より低いと、製造直後におけるパラジウムの担体３１への固溶率が低下する傾向がある。また、焼成温度が１１００℃より高いと、パラジウムが、担体３１に担持されず、担体３１を構成するＰｒ₆Ｏ₁₁と複合酸化物（Ｐｒ₄ＰｄＯ₇）を形成し易くなる。以上のようにして、担体３１とこれに担持された触媒金属３２とを含んだ担持触媒３０を得る。

その後、この担持触媒３０を含んだスラリーを調製する。このスラリーには、必要に応じて、他の成分、例えば酸素貯蔵材料を添加する。次いで、このスラリーを基材２にコートし、更に塗膜の乾燥及び焼成を行う。以上のようにして、排ガス浄化用触媒１を完成する。

なお、ここで説明した排ガス浄化用触媒１において、触媒層３は単層構造を有しているが、触媒層３は多層構造を有していてもよい。また、ここでは、モノリス触媒について説明したが、上述した技術はペレット触媒に適用することも可能である。

以下に、本発明の例を記載する。
排ガス浄化用触媒を、以下の方法により製造した。

＜触媒Ａの製造＞
４８．５ｇのプラセオジム系酸化物Ｉ（Ｐｒ₆Ｏ₁₁＝１００（質量％））と、３０ｇの硝酸パラジウム水溶液（５質量％のパラジウムを含む）とを、２００ｍＬのイオン交換水に添加し、この混合液を６０分間撹拌した。次いで、この混合液を１１０℃で乾燥させ、大気雰囲気中、１０００℃で１時間に亘って焼成して、５０ｇ（パラジウム含量：１．５ｇ）の粉末を得た。このようにして得られた粉末を「触媒Ａ」と呼ぶ。

＜触媒Ｂの製造＞
焼成を１０００℃で行う代わりに８００℃で行ったこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｂ」と呼ぶ。

＜触媒Ｃの製造＞
焼成を１０００℃で行う代わりに９００℃で行ったこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｃ」と呼ぶ。

＜触媒Ｄの製造＞
焼成を１０００℃で行う代わりに１１００℃で行ったこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｄ」と呼ぶ。

＜触媒Ｅの製造＞
焼成を１０００℃で行う代わりに１２００℃で行ったこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｅ」と呼ぶ。

＜触媒Ｆの製造＞
焼成を１０００℃で行う代わりに１０５０℃で行ったこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｆ」と呼ぶ。

＜触媒Ｇの製造＞
プラセオジム系酸化物Ｉ（Ｐｒ₆Ｏ₁₁＝１００（質量％））の代わりにプラセオジム系酸化物II（Ｐｒ₆Ｏ₁₁／ＺｒＯ₂＝８０／２０（質量％））を使用したこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｇ」と呼ぶ。

＜触媒Ｈの製造＞
プラセオジム系酸化物Ｉ（Ｐｒ₆Ｏ₁₁＝１００（質量％））の代わりにプラセオジム系酸化物III（Ｐｒ₆Ｏ₁₁／Ａｌ₂Ｏ₃＝７０／３０（質量％））を使用したこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｈ」と呼ぶ。

＜触媒Ｉの製造＞
３０ｇの硝酸パラジウム溶液（５質量％のパラジウムを含む）の代わりに１０ｇの硝酸パラジウム水溶液（５質量％のパラジウムを含む）を使用したこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｉ」と呼ぶ。

＜触媒Ｊの製造＞
３０ｇの硝酸パラジウム溶液（５質量％のパラジウムを含む）の代わりに１００ｇの硝酸パラジウム水溶液（５質量％のパラジウムを含む）を使用したこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｊ」と呼ぶ。

＜触媒Ｋの製造＞
焼成を１０００℃で行う代わりに５００℃で行ったこと以外は、触媒Ａについて上述したのと同様の方法により粉末を得た。以下、この触媒を「触媒Ｋ」と呼ぶ。

＜評価１：固溶率＞
触媒Ａ乃至Ｋについて、パラジウムのプラセオジム系酸化物への固溶率を以下の方法により調べた。

製造直後の各触媒について、触媒に含まれる全パラジウムの質量を以下のとおり求めた。
触媒の一部を、フッ化水素酸、王水の混合液に溶解した。なお、この条件は、触媒（粉末）の全量が溶解する条件である。得られた溶液中のパラジウムを、高周波誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）発光分析法により定量分析した。この分析結果から触媒（粉末）に含まれる全パラジウムの質量を算出した。

また、製造直後の各触媒について、プラセオジム系酸化物に固溶しているパラジウムの質量を以下のとおり求めた。
触媒の一部を、７質量％のフッ酸水溶液に溶解し、室温で２０時間放置した。その後、得られた溶液を０．１μφのフィルターで濾過した。なお、この条件は、プラセオジム系酸化物のみが溶解する条件である。濾液に溶解したパラジウムを、高周波誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）発光分析法により定量分析した。この分析結果からプラセオジム系酸化物に固溶しているパラジウムの質量を算出した。

これらの結果から、パラジウムのプラセオジム系酸化物への固溶率を算出した。

＜評価２：パラジウム粒径＞
触媒Ａ乃至Ｋの耐久性を以下の方法により調べた。
まず、触媒Ａ乃至Ｋの各々を流通式の耐久試験装置内に設置し、触媒床に窒素を主成分としたガスを１００ｍＬ／分の流量で２０時間流通させた。この間、触媒床温度は１０００℃に維持した。また、触媒床に流通させるガスとしては、窒素に酸素を５％加えてなるリーンガスと、窒素に一酸化炭素を１０％加えてなるリッチガスとを使用し、これらガスは５分毎に切り替えた。この耐久試験は、触媒床に最後に流通させるガスがリッチガスとなるように行った。

耐久試験後の触媒（粉末）に対し、Ｘ線回折測定（Rigaku RINT-2500）を行った。得られたＸ線回折スペクトルより、２θ＝８２°付近のピークに基づいてパラジウム粒径を算出した。

＜評価３：Ｘ線回折スペクトル＞
触媒Ａの一部を、還元性雰囲気中で熱処理した。具体的には、１０体積％の一酸化炭素を含む窒素雰囲気中、１０００℃で１０時間に亘って熱処理を行った。還元性雰囲気中で熱処理した直後の触媒Ａに対し、Ｘ線回折測定（Rigaku RINT-2500）を行い、Ｘ線回折スペクトル１を得た。

また、触媒Ａの一部を、酸化性雰囲気中で熱処理した。具体的には、大気雰囲気中、１０５０℃で１時間に亘って熱処理を行った。酸化性雰囲気中で熱処理した直後の触媒Ａに対し、Ｘ線回折測定（Rigaku RINT-2500）を行い、Ｘ線回折スペクトル２を得た。

＜結果＞
評価１及び２の結果を以下の表１に示し、評価３の結果を図５に示す。

表１に示されるとおり、担体としてＰｒ₆Ｏ₁₁を使用し、かつ、パラジウムの担体への固溶率が８０％以上である場合に、耐久試験後のパラジウム粒径がとりわけ小さかった。したがって、かかる触媒（触媒Ａ、Ｄ、Ｆ、Ｉ及びＪ）は、パラジウムのシンタリングに起因した性能の劣化を生じ難いという効果を奏する。また、表１より、かかる触媒は、触媒製造時の焼成を、１０００℃〜１１００℃の温度で１時間行うことにより得られることが分かる。

図５より、Ｘ線回折スペクトル１では、Ｐｒ₆Ｏ₁₁に対応するピーク（２θ＝２８．２５°）が見られた。Ｘ線回折スペクトル２では、２９．４０°にピークが見られ、Ｘ線回折スペクトル１で見られたＰｒ₆Ｏ₁₁に対応するピーク（２θ＝２８．２５°）が、高角度側に１．１５°シフトしていた。この結果は、パラジウムが、Ｐｒ₆Ｏ₁₁に対して２．４３質量％の量でＰｒ₆Ｏ₁₁に固溶していることを示す。

１…排ガス浄化用触媒、２…基材、３…触媒層、３０…担持触媒、３１…担体、３２…触媒金属。

Claims

Ｐｒ₆Ｏ₁₁からなる担体と、前記担体に担持されたパラジウムとを含む排ガス浄化用触媒であって、前記排ガス浄化用触媒は、前記パラジウムの前記担体への固溶率が８０％以上である排ガス浄化用触媒。
前記排ガス浄化用触媒は、前記パラジウムを前記担体及び前記パラジウムの合計質量に対して１乃至１０質量％の量で含む請求項１に記載の排ガス浄化用触媒。